JPH103706A - 光磁気ディスク及びその記録再生装置 - Google Patents

光磁気ディスク及びその記録再生装置

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JPH103706A
JPH103706A JP15462396A JP15462396A JPH103706A JP H103706 A JPH103706 A JP H103706A JP 15462396 A JP15462396 A JP 15462396A JP 15462396 A JP15462396 A JP 15462396A JP H103706 A JPH103706 A JP H103706A
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magnetic field
magneto
optical disk
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JP15462396A
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Inventor
Motoyoshi Murakami
元良 村上
Norio Miyatake
範夫 宮武
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 必要な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界
強度と信号再生時の出力信号との関係を測定するための
領域及び磁界に関する情報を記録再生できる領域を光磁
気ディスク上に設けることにより、上位互換性があるデ
ィスクの記録再生装置でも簡易な方法でディスクの識別
が可能となり、さらに最適な磁界条件が設定できる。 【解決手段】 光磁気ディスク基盤11は環状の案内溝
を有し、セクターマーク17、アドレスフィールド18
により、アドレス情報を検出し、そのアドレス情報を用
いて、データフィールド19にデータを蓄積する。案内
溝の内周部には、ディスクの識別情報を記録した情報領
域20aと、磁界条件を測定するための領域20bとが
あり、この学習領域20bを利用して光磁気ディスクの
記録再生時の最適な磁界強度を設定し、情報領域20a
に記録を行う

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光等の光学
的手段を用いて情報の記録、再生または消去を行う光磁
気ディスク、および光磁気ディスクの記録再生装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子計算機、情報処理システムの
発達による処理情報量の急激な増加に伴い、低価格でし
かも大容量の補助記憶装置およびその記録媒体、とりわ
け光ディスクが注目されている。光ディスクには、光ス
ポットのトラッキングガイドのための案内溝、あるいは
プリピットが設けられており、これらによって高密度記
録及びランダムアクセスが実現される。
【0003】情報信号の書換えが可能な光磁気ディスク
は、光磁気記録膜を有し、この膜にレーザビームを照射
して加熱することにより、その部分の磁化の方向(記録
ドメイン)を、記録情報に応じたものとしてディスク上
へ情報の記録を行う。光磁気ディスクが、光磁気記録膜
のほかに反射膜を有する2層以上の膜構成の場合には、
ファラデー効果も利用される。
【0004】しかし、従来の光磁気ディスクでは、すで
に記録してある部分に再度記録する場合には、あらかじ
め記録部分を消去し、その消去部分に新たに情報を記録
するというプロセスが必要であった。このため、記録時
間の高速化には、一定の限界があった。これを解決する
には、オーバーライト方式を用いることが有効である。
これは、交換結合する2層膜を記録膜に用いたディスク
に対して、初期化磁界を印加しつつ、かつレーザ光の強
度を変調することにより、記録済みの情報の有無にかか
わらず新たな情報をダイレクトオーバーライトできると
いうものである。この方式は、特開昭62−17594
8号公報、特開昭63−117354号公報に開示され
ている。
【0005】以下、図13を参照しながら、前記の光強
度変調のオーバーライト方式による記録方式の原理につ
いて説明する。記録膜の記録再生層61の保磁力をHc
1、キュリー温度をTc1、記録補助層62の保磁力をHc
2、キュリー温度をTc2、初期化磁界64をHi、記録時
のバイアス磁界65をHbとすると、以下の関係が必要
である。
【0006】Tc1<Tc2 Hc2<Hi<Hc1 ここで、記録補助層62は新しい情報が記録される前
に、初期化磁界64を通過して初期化されている。記録
は、高パワーのレーザ光63が照射され、記録膜の温度
TがT≧Tc2の条件を満たした場合には、記録補助層6
2へのバイアス磁界により書き込みが行われ、降温過程
で記録補助層62と記録再生層61との交換結合力によ
り、バイアス磁界の方向に記録再生層61の転写が行わ
れ記録される。これに対し、記録時に低パワーのレーザ
光63が照射され、Tc1≦T<Tc2、Hb<Hc2の条件
を満たした場合には、初期化磁界64で初期化された記
録補助層62の磁化の向きはバイアス磁界により変化し
ないため、初期化磁界の方向に記録再生層61は転写す
ることにより消去される。このように、図13の構成の
光磁気ディスクではレーザ光強度を変調することにより
オーバーライトが可能となる。
【0007】しかし、前記方式によりオーバーライトは
可能になっても、光ディスクへの情報の線記録密度につ
いては、再生信号のC/Nによる限界があった。図14
を用いて、この理由を説明する。従来の一般的な光磁気
ディスクの光記録再生においては、光磁気ディスク上の
レーザビームによる光照射領域であるレーザビームスポ
ット81の領域のほぼ全てを、再生信号検出領域として
いる。例えば、図14(a)に示すように、レーザビー
ムスポット81の径dが記録ドメイン82のピッチtよ
りも小さければ、スポット81内には、記録ドメインが
1個だけ入り、2個以上の記録ドメインが入ることはな
い。この場合は、再生出力波形は図14(b)に示すよ
うになり、再生信号Sを読み取ることが可能である。と
ころが、図14(c)に示すように、高密度で記録ドメ
インが形成されていると、レーザビームスポット81の
径dが記録ドメイン82のピッチtよりも大きくなる場
合がある。この場合は、スポット81内には2個以上の
記録ドメインが同時に入り込むこととなり、再生出力波
形は図14(d)に示すように一定となってしまう。こ
れでは、スポット81内の記録ドメインをそれぞれ分離
して再生することができず、再生不能となってしまう。
したがって、光磁気ディスクの線記録密度の高密度化
は、レーザビームスポット径に依存することになり、一
定の限界があった。
【0008】レーザビームスポット径dはレーザ光の波
長λと、対物レンズの開口数NAに依存している。そこ
で、従来は波長λの短いレーザ光を使用し、あるいは対
物レンズの開口数NAを大きくすることにより、レーザ
ビームのスポット径dを小さくして、高密度記録化を図
る工夫がなされていた。しかし、レーザ光源や光学系上
の問題で、このような高記録密度にも一定の限界があっ
た。
【0009】また、トラック密度は主として隣接トラッ
クからのクロストークによって制限されている。従来、
このクロストークの量は、レーザビームスポット径dに
依存しているため、トラック密度の高密度記録化にも一
定の限界があった。これら前記の問題を解決し、さらに
高密度記録再生を行なう方法として、記録層に希土類遷
移金属合金薄膜の交換結合多層膜を利用し、レーザビー
ムスポットの一部の昇温部分からのみ再生信号を取り出
すものがある。これによれば、記録ドメイン径が0.5
μm以下の高密度記録再生を行なうことができる。これ
らは特開平3−93056号公報、特開平3−9305
8号公報に開示されている。
【0010】以下、図15を用いてFADと呼ばれる超
解像方式(以下FAD方式)による再生原理の一例につ
いて説明する。記録膜は再生層71、中間層72、記録
層73からなり、74はレーザ光ビーム、75は再生時
のバイアス磁界、76は記録ドメイン、77は超解像検
出領域である。本例では、再生はバイアス磁界75を印
加しながら、通常より高いレーザパワーで行われる。再
生時には、回転中のディスクの中で、レ−ザスポット7
4を通過する部分は、次第に再生層71の温度が上昇す
る。この場合、光スポット内の前方は、比較的低い温度
領域77となる。この領域では、中間層72の温度がキ
ュリー温度以下であり、再生層71と記録層73の交換
結合力が大きく、交換結合力と再生層の保磁力の和が、
再生時の外部磁界よりも大きくなる。このため、記録層
73の磁化が再生層71に転写されたまま保持されるこ
ととなる。これに対して、レーザスポット後方の高温領
域78では中間層72の温度がキュリー温度以上になる
ため、再生層71と記録層73との間の交換結合力が弱
くなり、保磁力の小さい再生層71の磁化は外部磁界7
5の向きに揃えられて情報は消去される。このため、再
生層71がマスクの働きをする。
【0011】したがって、再生層71での保磁力をHc
1、キュリー温度をTc1、中間層72のキュリー温度を
Tcm、記録層73の保磁力をHc2、キュリー温度をTc
2、再生時のバイアス磁界をHrとすると室温、あるい
は、再生時の最高到達温度以下の温度では常に、Hc2>
Hrであり、再生可能温度以上の高温では以下の関係が
ある。
【0012】Hc1−Hw1<Hr Hc1+Hw1>Hr ここで、Hw1は再生層71に働く有効磁界である。この
ように、FAD方式では、再生時に光スポット内の中間
層72がキュリー温度以下の比較的低い温度領域であっ
て、マスクの外れた超解像検出領域77からのみ記録層
73の情報が読み取ることができるため、実効的に光ス
ポットの大きさが小さくなる。そして、レ−ザ−光74
が通り過ぎた後は、また記録膜の温度が下がり、記録層
73の記録ドメインが再生層71に転写され元の状態に
戻る。この構造の光磁気記録媒体では、ドメイン長0.
5μm以下での記録、再生が可能となる。なお前記した
ようにこのような構成の光磁気ディスクでは、再生時の
レーザ光強度と同様、バイアス磁界強度が非常に重要で
ある。
【0013】次に、図16を用いて、高密度再生方式で
あるダブルマスク方式と呼ばれる超解像方式による再生
原理の一例について説明する。図16はダブルマスク方
式による再生時の構成図を示すものであり、図面を参照
しながら、ダブルマスク方式による再生原理について、
簡単に説明する。記録膜の再生層41と再生補助層42
の2層の膜での保磁力をHc1、キュリー温度をTc1、中
間層43のキュリー温度をTcm、記録層44の保磁力を
Hc2、キュリー温度をTc2、初期化磁石64による磁界
をHi、再生時のバイアス磁界をHrとすると、室温で
は、 Hc1+Hw1<Hi Hc2−Hw2>Hi 再生可能温度以上の高温では、 Hc1−Hw1<Hr Hc1+Hw1>Hr また、記録膜の最高到達温度以下の温度では常に、 Hc2>Hr の関係が必要である。ここで、Hw1は再生層41に働く
有効磁界、Hw2は記録層44に働く有効磁界である。
【0014】図16に示すように、ダブルマスク方式で
の再生時には、初期化磁界46をレーザスポット45の
直前に配置し、再生層41、再生補助層42の磁化の向
きを初期化磁界46の方向にそろえるため、再生層41
のレーザスポット45の前方の領域48aはマスクの働
きをする。また、ディスクを回転させレ−ザスポット4
5を通過すると、しだいに記録膜の温度が上昇し、レー
ザスポット45後方の高温領域48bでは再生補助層4
2がキュリー温度以上に達し、バイアス磁界47を加え
ることにより、保磁力の小さい再生層41はバイアス磁
界47の方向に強制的に磁化することになる。このよう
に、ダブルマスク方式ではレーザスポット45の前方の
48aと、後方の48bがマスクの働きをする。
【0015】そして、再生層41と記録層44との間の
交換結合力と再生時のバイアス磁界47の和が、再生層
41の保磁力よりも大きくなると、記録層44の磁化が
転写される。このとき再生層41のマスク48a及び4
8bの間の部分48cからのみ記録層44の情報が読み
取れる。ここで、バイアス磁界47の方向は初期化磁界
46とは反対方向である。そして、レ−ザ−光45が通
り過ぎた後は、また記録膜の温度が下がり、記録層44
の記録ドメインが再生層41に転写され元の状態に戻
る。この構造の光磁気記録媒体では、ドメイン長0.4
μmでの記録、再生が可能となる。
【0016】次に、図17、図18を用いて、光磁気記
録膜による磁気的超解像ROM方式(以下超解像ROM
方式)による再生原理の一例について簡単に説明する。
図17は、超解像ROMを用いた光磁気ディスクの構造
図を示すのものである。110はレーザ光による光スポ
ット、111は信号面に表面粗さの異なる記録ドメイン
からなるプリピットを形成した構成のポリカーボネート
の基板であり、112は表面粗さの小さい信号ピットの
形成されていない面、113は表面粗さが大きく光スポ
ット径より小さい構成の信号ピット面、114は再生信
号を得るためのTbFeCoで形成された記録膜であ
り、115はSiNの保護膜、116はCuTiの反射
膜、117はエポキシアクリレートのオーバーコート層
である。ここで、信号の無い面112と、信号ピット1
13からなる表面粗さの違いを用いた構成のプラスチッ
ク基板111は、超解像ROM方式を用いた記録密度を
大きくする方法であり、再生時のドメイン径0.5μm
以下の高密度再生の場合にも読み出し信号量を大きくす
ることができるものである。
【0017】図18は超解像ROM方式による光磁気記
録膜の保磁力の温度特性を示すものである。図18にお
いて、実線で示すのは表面粗さの大きい信号ピット内の
面113での記録膜の保磁力の温度特性、破線で示すの
は表面粗さの小さい面112での記録膜の保磁力の温度
特性である。まず、最初に超解像ROMディスクの記録
膜を初期化磁界を用いるか、あるいはディスク全面を加
熱して一括着磁する方法等により一定方向に着磁してお
く。次に、初期化磁界あるいは一括着磁とは反対方向に
再生磁界を印加しながら、再生パワーのレーザ光を照射
すると、記録膜は加熱され、図18の再生温度まで記録
膜の温度が上昇する。ここで、図に点線を示した再生磁
界を記録膜に加えると、破線で示した表面粗さの小さい
面112の記録膜の磁化の方向は再生磁界の方向に反転
するのに対して、実線で示した表面粗さの大きい信号面
113の記録膜は再生磁界の影響を受けないために磁化
の方向は変化しない。従って、表面粗さの小さい面11
2の記録膜と、表面粗さの大きい記録信号面113の記
録膜とは磁化の方向が異なるために、光磁気記録膜によ
るレーザ光の偏光面の回転角の差として信号を検出する
ことができる。また、このとき、表面粗さの小さい面1
12の記録膜は再生レーザ光の光スポット内でマスクの
働きをするために、検出される信号は信号ピットの形成
された表面粗さの大きい面113の記録膜のみとなり、
再生時に光スポットより小さい信号ピットを再生する場
合にも読み出し信号量を大きくすることができるもので
ある。
【0018】ここで、基板の表面粗さの小さい面112
での記録膜での保磁力をHc1、表面粗さの大きい面での
保磁力をHc2、記録膜のキュリー温度をTc、初期化磁
石による磁界をHi、再生時のバイアス磁界をHrとする
と、室温(あるいは初期化する時の温度)では、 Hc1<Hc2<Hi また、再生温度では、 Hc1<Hr<Hc2 の関係が必要である。
【0019】この構成により、光スポットの一部からの
信号のみを再生することにより、ドメイン長0.5μm
以下の高密度での信号の再生が可能となる。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな構成では、以下のような問題があった。
【0021】(1)高記録密度の記録再生が可能なFA
D方式等の超解像用光磁気ディスク、あるいは面粗さを
用いた超解像ROMディスクは、記録再生時の磁界に関
する情報が十分に光磁気ディスクに含まれていない。こ
のため、現在広く普及している光磁気ディスクと容易に
識別することが出来ず、上位互換性もない。
【0022】(2)前記FAD方式等の超解像用光磁気
ディスクの記録再生、あるいは超解像ROMディスクの
再生では、再生時に初期化磁界、あるいはバイアス磁界
を加えるための、磁界強度、磁界方向に関する情報が重
要である。しかし、磁界の強度がディスクの記録再生層
の交換結合力のバラツキ、あるいは分布によって変化し
易いために、最適な再生磁界の設定が困難である。な
お、光磁気記録再生装置の消費電力を考慮すれば、でき
るだけ小さいバイアス磁界での再生が適している。
【0023】(3)また、逆に再生時に初期化磁界、あ
るいはバイアス磁界を必要としない光磁気ディスクに対
して、初期化磁界、およびバイアス磁界を加え続けて再
生レーザを照射した場合には、記録膜の劣化、あるいは
すでに記録されている情報の破壊、エラーの発生の原因
になる。
【0024】(4)さらに、従来の記録再生装置では、
オーバーライト可能な光磁気ディスク、高記録密度の記
録再生が可能なFAD方式等を用いた超解像用光磁気デ
ィスク、および現在広く普及している光磁気ディスクの
それぞれを容易に識別し、記録再生時のレーザ光照射時
に、初期化磁界、あるいはバイアス磁界を磁界を変化さ
せて測定し、最適な磁界強度を設定しディスクに印加す
ることが出来なかった。すなわち、従来の記録再生装置
は上位互換がとれず、しかも再生磁界に対する学習機能
を有していなかった。
【0025】本発明は前記問題を解消し、上位互換性が
ある光磁気ディスクの記録再生装置でも、簡易な方法で
ディスクの識別が可能となり、さらに最適な磁界条件が
設定できる光磁気ディスクを提供するものである。ま
た、簡易な方法で光磁気ディスクの識別が可能で、磁界
の制御も容易にでき、適切な磁界とレーザ光をディスク
に印加することができる光磁気ディスクの記録再生装置
を提供するものである。
【0026】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決する本発
明の光磁気ディスクおよびその記録再生装置は、下記の
構成からなる。
【0027】(1)基板上にスパイラル状もしくは同心
円状の案内溝、あるいはプリピットを有し、光により情
報の記録、再生、消去を行う光磁気ディスクであって、
必要な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界強度と信号
再生時の出力信号との関係を測定するための領域を光磁
気ディスク上に設けたことを特徴とする。
【0028】(2)基板上にスパイラル状もしくは同心
円状の案内溝、あるいはプリピットを有し、光により情
報の記録、再生、消去を行い、交換結合した多層膜の記
録再生層により磁気的超解像記録再生が可能な光磁気デ
ィスクであって、必要な初期化磁界強度もしくはバイア
ス磁界強度と信号再生時の出力信号との関係を測定する
ための領域を光磁気ディスク上に設けたことを特徴とす
る。
【0029】(3)前記(1)及び(2)の光磁気ディ
スク上に、必要な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界
強度に関する情報が記録されていることを特徴とする。
【0030】前記(1)から(3)の光磁気ディスクに
よれば、光磁気ディスクの記録再生装置で、最適な磁界
条件が設定できる。
【0031】(4)前記(1)及び(2)の光磁気ディ
スク上に、初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要であ
るかどうかの識別信号、及び必要な磁界強度に関する情
報が記録されていることを特徴とする。
【0032】(5)前記(1)及び(2)の光磁気ディ
スク上に、必要な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界
強度と信号再生時の出力信号との関係を測定するための
領域において測定した磁界強度に関する情報を記録再生
できる領域を設け、初期化磁界もしくはバイアス磁界が
必要な光磁気ディスクであるかどうかの識別信号、及び
必要な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界強度に関す
る情報が記録されていることを特徴とする前記(4)、
(5)の光磁気ディスクによれば、上位互換性がある光
磁気ディスクの記録再生装置でも、簡易な方法でディス
クの識別が可能となり、さらに最適な磁界条件が設定で
きる。
【0033】(6)光により情報の記録、再生、消去を
行い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバ
イアス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光
磁気ディスクの記録再生装置であって、再生時に必要な
初期化磁界もしくはバイアス磁界条件を前記光磁気ディ
スク上の磁界条件を測定するための領域を用いて測定
し、あるいは、学習することが可能な構成を備えたこと
とを特徴とする。
【0034】(7)前記(6)の光磁気ディスクの記録
再生装置であって、前記測定領域により測定した情報を
用いて再生条件を設定することにより光磁気ディスクを
再生する構成を備えたことを特徴とする。
【0035】(8)光により情報の記録、再生、消去を
行い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバ
イアス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光
磁気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に
少なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光
磁気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁界
情報を読み取り、読み出した情報を用いて、再生時に必
要な初期化磁界条件もしくはバイアス磁界条件を設定す
ることが可能なことを特徴とする。
【0036】(9)光により情報の記録、再生、消去を
行い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバ
イアス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光
磁気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に
少なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光
磁気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁界
情報を読み取り、再生時に初期化磁界もしくはバイアス
磁界条件が必要な場合には、再生時に必要な初期化磁界
条件もしくはバイアス磁界条件を前記光磁気ディスクの
磁界条件を測定するための領域を用いて測定し、あるい
は学習することが可能な構成の記録再生装置であって、
前記測定領域により測定した再生条件を用いることによ
り光磁気ディスクを再生する構成を備えたことを特徴と
する。
【0037】(10)光により情報の記録、再生、消去
を行い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくは
バイアス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、
光磁気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時
に少なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な
光磁気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁
界情報を読み取り、再生時に初期化磁界もしくはバイア
ス磁界が必要な場合には、再生時に必要な初期化磁界も
しくはバイアス磁界条件を前記光磁気ディスクの磁界条
件を測定するための領域を用いて測定し、あるいは学習
することが可能な構成の記録再生装置であって、前記測
定領域により測定した再生条件を前記光磁気ディスクに
記録する手段を有し、さらに前記光磁気ディスクに記録
した再生条件に関する情報を用いることにより再生条件
を設定し光磁気ディスクを再生する構成を備えたことを
特徴とする。
【0038】(11)光により情報の記録、再生、消去
を行い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくは
バイアス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、
光磁気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時
に少なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な
光磁気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁
界情報を読み取り、再生時に初期化磁界条件もしくはバ
イアス磁界条件の書き換えが必要な場合には、再生時に
必要な初期化磁界条件もしくはバイアス磁界条件を前記
光磁気ディスクの磁界条件を測定するための領域を用い
て測定し、あるいは学習することが可能な構成の記録再
生装置であって、前記測定領域により測定した再生条件
を前記光磁気ディスクに書き換える手段を有し、さらに
前記光磁気ディスクに書き換えた再生条件に関する情報
を用いることにより再生条件を設定し、光磁気ディスク
を再生する構成を備えたことを特徴とする。
【0039】前記(6)から(11)の光磁気ディスク
の記録再生装置によれば、簡易な方法で光磁気ディスク
の識別が可能で、磁界の制御も容易にでき、適切な磁界
とレーザ光をディスクに印加することができる。
【0040】
【発明の実施の形態】以下本発明の光磁気ディスクの実
施形態について、図面を参照しながら説明する。図1
は、本発明の光磁気ディスクの第一の実施形態の断面図
を示し、図2は、本実施形態の光磁気ディスクのディス
クフォーマットを示す概略図である。図1において、1
は光スポットのトラッキングガイドのための案内溝を備
えたポリカーボネートの基板であり、2はZnSから成
るエンハンスのための誘電体層、3はTbFeCoから
成る記録層で形成された記録膜であり、4はZnS・S
iO2の誘電体層、5はAlCrの反射層、6はエポキ
シアクリレートのオーバーコート層である。図1に示す
ようなダイレクトオーバーライト、もしくは磁気的超解
像を用いない構成の光磁気ディスクでは、新たに情報を
記録しようとする場合には、まず一定方向の磁界を加え
ながら一定の消去パワーのレーザ光を照射することによ
り情報を消去する。その後、この消去部分に消去時とは
反対方向の磁界を加えながらレーザ光を記録情報に応じ
て変調して照射し、消去方向と反対方向の磁化をもった
記録ドメインを形成することにより、情報を記録するこ
とができる。
【0041】図2において、1は中心部に回転駆動する
ための中心穴を有する光ディスク基板である。光ディス
ク基板1は、トラッキングガイドのための環状の案内溝
を有し、セクターマーク7、およびアドレスフィールド
8によりアドレス情報を検出する。そのアドレス情報を
用いて、データフィールド9にデータを蓄積する。案内
溝の内周部には、光磁気ディスクの記録条件、再生条件
等に関するを情報を蓄積したメモリ領域10がある。こ
のメモリ領域10の情報を用いて光磁気ディスクへの情
報の記録再生を行う。本実施形態の光磁気ディスクは、
このメモリ領域10に、従来の記録再生条件に関する情
報のほかに、ISOフォーマット準拠のオーバーライト
のできない膜構成の光磁気ディスクとして識別する情
報、および初期化磁界、バイアス磁界を必要としないと
いう情報を記録してある。
【0042】このような構成により、上位互換性がある
光磁気ディスクの記録再生装置でも、簡易な方法でディ
スクの識別ができることになる。なお、従来の光磁気デ
ィスクの記録再生装置においては、この初期化磁界およ
びバイアス磁界に関する情報信号は読み出す必要はない
ために全く問題にならない。
【0043】次に、本発明の第二の実施形態について図
3、図4を用いて説明する。図3は、本発明の光磁気デ
ィスクの第二の実施形態の断面図を示し、図4は、本実
施形態の光磁気ディスクのディスクフォーマットを示す
概略図である。図3において、11は光スポットのトラ
ッキングガイドのための案内溝を備えたポリカーボネー
トの基板であり、12はZnSから成るエンハンスのた
めの誘電体層、13、14はそれぞれTbFeの記録再
生層、GdTbFeCoの記録補助層で形成された2層
構造の記録膜であり、15はZnS・SiO2の保護層、
16はエポキシウレタンのオーバーコート層である。こ
のディスク構成により、光変調オーバーライトが可能で
ある。このオーバーライトの原理については、図13を
用いて説明した従来例と同一であるため、説明は省略す
る。
【0044】本実施形態では、Hc1=18kOe、Tc1
=130℃、Hc2=2kOe、Tc2=250℃である。
また、Hi=3.8kOe、Hb=220Oeを最適な磁
界強度として設定している。このような構造の光磁気デ
ィスクでは、レーザ光強度を3mWの低パワーと6mW
の高パワーに変調することにより、ダイレクトオーバー
ライトが可能である。なお、記録時には初期化磁界とバ
イアス磁界が必要である。図4において、11は中心部
に回転駆動するための中心穴を有する光ディスク基板で
ある。光ディスク基板11は、トラッキングガイドのた
めの環状の案内溝を有し、セクターマーク17、および
アドレスフィールド18により、アドレス情報を検出す
る。そのアドレス情報を用いて、データフィールド19
にデータを蓄積する。案内溝の内周部には、光磁気ディ
スクの識別情報を記録したメモリー領域20aと、必要
な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界強度と信号再生
時の出力信号との関係を測定するための領域20bとが
ある。前記信号再生時の出力信号を得るために記録層に
は、あらかじめ磁界強度設定のための基準信号が記録さ
れている。前記学習領域20bにおいて信号を記録再生
させることにより、光磁気ディスクの記録再生時の最適
な磁界強度を設定し、メモリー領域20aに記録を行
う。具体的には、このメモリー領域20aに、3mW/
6mWの光強度変調によりダイレクトオーバーライトで
きる光磁気ディスクであることを識別する情報と再生時
には磁界を加える必要のないということに関する情報と
が記録している。さらに、学習領域20bを用いて、記
録時には3.8kOeの初期化磁界と220Oeのバイ
アス磁界が最適であるということを学習することができ
る。
【0045】このような構成により、互換が可能な光磁
気ディスクの記録再生装置でも、ディスクの識別がで
き、最適な磁界強度の条件設定が可能となる。
【0046】次に、本発明の第三の実施形態について説
明する。本実施形態は、FAD方式を用いるディスクの
製造時のバラツキ、あるいはディスクの記録再生時の位
置によるバラツキ等によりディスクによって再生磁界特
性が異なるという課題を解決するものである。まず、こ
の課題について具体的に説明する。なお、FAD方式に
よる再生原理については、図15を用いて説明した従来
例と同一であるため、説明は省略する。
【0047】図5(a)は、FAD方式での再生した時
の、バイアス磁界強度Hrに対する、CNR(C/N)
を示している。このディスクの場合には、200Oeの
再生磁界で十分特性が飽和しているが、図5(b)のよ
うに、記録層と再生層間での交換結合力の異なるディス
クでは、400Oe〜500Oe必要ということにな
る。したがって、交換結合力が変化してバラツキがある
場合には、必要なバイアス磁界の強度が変化することに
なる。さらに、図5(a)のディスクでは500Oe以
上の磁界を印加すると、逆に特性の低下する場合が生
じ、また、記録再生装置としても、必要のない電力を消
費することになる。
【0048】このような、課題を解決するための本発明
の第三の実施形態であるディスクについて図6、図7を
用いて説明する。図6において、21は光スポットのト
ラッキングガイドのための案内溝を備えたポリカーボネ
ートの基板であり、22はZnSから成るエンハンスの
ための誘電体層、23、24、25はそれぞれGdTb
Feの再生層、TbFe中間層、TbFeCoの記録層
で形成された3層構造の記録再生層であり、26はZn
S・SiO2の保護層、27はエポキシウレタンのオー
バーコート層である。
【0049】ここで、23、24、25からなる記録再
生層はFAD方式を用いた記録密度を大きくする方法で
あり、再生時のドメイン径0.5μm以下の高密度記録
再生の場合の読み出し信号量を大きくするための交換結
合多層膜の記録膜である。本実施形態では、Hc1=3k
Oe、Tc1=300℃、Tcm=140℃、Hc2=10k
Oe、Tc2=250℃としてある。また、FAD方式の
再生では、上記の関係式を満たすために、バイアス磁界
強度と信号再生時の出力信号との関係を測定した結果よ
り、バイアス磁界Hr=200Oeを印加しながら、通
常より高い1.8mWのレーザパワーで再生が行われ
る。
【0050】図7において、21は中心部に回転駆動す
るための中心穴を有する光ディスク基板である。光ディ
スク基板21は、トラッキングガイドのための環状の案
内溝を有し、セクターマーク28、およびのアドレスフ
ィールド29により、アドレス情報を検出し、そのアド
レス情報を用いて、データフィールド30にデータを蓄
積する。案内溝の内周部と外周部には、光磁気ディスク
の再生時のバイアス磁界条件等を設定するための学習領
域31aを、さらに、学習した再生磁界に関する情報を
蓄積して記録しておくメモリー領域31bがあり、この
メモリー領域31bの情報を用いて光磁気ディスクへの
情報の記録再生を行う。本実施形態の光磁気ディスク
は、このメモリー領域31bに、FAD方式により高密
度記録再生が可能な光磁気ディスクであることを識別す
る情報、および再生時に200Oeのバイアス磁界、
1.8mWのレーザ光強度により高密度再生が可能であ
りということに関する情報を記録し、さらに記録してあ
る条件を書き換える場合には、再生時のバイアス磁界強
度と信号再生時の出力信号との関係を学習し、得られた
最適な磁界強度に関する情報を新たに記録する。前記信
号再生時の出力信号を得るために記録層には、あらかじ
め磁界強度設定のための基準信号が記録されている。
【0051】このような構成により、互換が可能な光磁
気ディスクの記録再生装置でも、簡易な方法でディスク
の識別と最適な磁界条件が設定できる、優れた光磁気デ
ィスクを実現できるものである。
【0052】次に、本発明の第四の実施形態について説
明する。本実施形態は、ダブルマスク方式を用いるディ
スクの製造時のバラツキ、あるいはディスクの記録再生
時の位置によるバラツキ等によりディスクによって再生
磁界特性が異なるという課題を解決するものである。本
課題は、第三の実施形態で前記したFAD方式のものと
同様であるため、具体例の説明は省略する。また、ダブ
ルマスク方式による再生原理につては、図16を用いて
説明した従来例と同一であるため、説明は省略する。以
下、図8を用いて説明する。図8は、本発明の第四の実
施形態における光磁気ディスクの断面図を示すものであ
る。図8において、91は光スポットのトラッキングガ
イドのための案内溝を備えたポリオレフィンの基板であ
り、92はSiNから成るエンハンスのための誘電体
層、93はGdFeCoの再生層、94はTbFeCo
の再生補助層、95はGdFeCoの中間層、96はT
bFeCoの記録層で形成された4層構造の記録膜であ
り、97はSiNの保護層、98はエポキシアクリレー
トのオーバーコート層である。
【0053】ここで、93、94、95、96からなる
記録膜はダブルマスクと呼ばれる超解像方式を用いた、
再生時のドメイン径0.5μm以下の高密度記録再生の
場合の読み出し信号量を大きくするための交換結合多層
膜の記録膜である。本実施形態では、Hc1=3kOe、
Tc1=300℃、Tcm=250℃、Hc2=10kOe、
Tc2=250℃としてある。また、ダブルマスク方式の
再生では、上記の関係式を満たすために磁界強度の学習
領域を用いて、初期化磁界Hi=4kOeとバイアス磁
界Hr=200Oeを印加しながら、通常より高い2.5
mWのレーザパワーで再生が行われる。このような課題
を解決するためのディスク構成として、図9は、本発明
の第四の実施形態における光磁気ディスクのディスクフ
ォーマットを示す概略図である。
【0054】図9は、本実施形態の光ディスクのディス
クフォーマットを示す概略図である。光ディスク基板9
1は、トラッキングガイドのための環状の案内溝を有
し、セクターマーク99、およびアドレスフィールド1
00により、アドレス情報を検出し、そのアドレス情報
を用いて、データフィールド101にデータを蓄積す
る。案内溝の内周部には、光磁気ディスクの記録再生時
の磁界強度と信号再生時の出力信号との関係を測定でき
る学習領域103がある。前記信号再生時の出力信号を
得るために記録層96には、あらかじめ磁界強度設定の
ための基準信号が記録されている。本実施形態の光磁気
ディスクは、メモリー領域102に、ダブルマスク方式
により高密度記録再生可能な光磁気ディスクであること
を識別する情報、および再生時に4kOeの初期化磁
界、200Oeのバイアス磁界、および2.5mWのレ
ーザ光強度により高密度記録再生が可能であるという情
報を記録する。これらは、ディスクのフォーマット時、
あるいはROM情報として記録される。さらに、環境温
度が所定温度変化した場合には、学習領域103を利用
して再度測定し、初期化磁界、およびバイアス磁界の強
度に関する情報を新たに記録する。ここで、初期化磁
界、およびバイアス磁界の方向、レーザ光強度について
は、あらかじめメモリー領域102に記録してあり、書
き換えずに利用するものとする。
【0055】このような構成により、従来の光磁気ディ
スクとの互換が可能な光磁気ディスクの記録再生装置に
対しても、簡易な方法でディスクの識別ができ、ディス
クに印加する最適な磁界およびレーザ光強度の学習と制
御も容易となる。
【0056】また、本実施形態では、ディスク基板の内
周部あるいは外周部に、光磁気ディスクの記録時、ある
いは再生時の初期化に必要な磁界、バイアス磁界に関す
る学習領域を設けた構成を特徴とする光磁気ディスクに
ついて述べてきたが、外周部のみ、あるいは各アドレス
情報ごと磁界に関する情報を学習する、または複数のト
ラック毎に、それぞれの領域に必要な磁界に関する情報
を学習する領域を設けた構成、さらに必要な磁界に関す
る情報を異なった領域に記録した構成の光磁気ディスク
を用いれば、同様あるいはそれ以上の効果が得られる。
【0057】次に、本発明の第五の実施形態について説
明する。本実施形態は、超解像ROM方式を用いるディ
スクの製造時のバラツキ、あるいはディスクの記録再生
時の位置によるバラツキ等によりディスクによって再生
磁界特性が異なるという課題を解決するものである。本
課題は、第三の実施形態で前記したFAD方式のものと
同様であるため、具体例の説明は省略する。また、超解
像ROM方式による再生原理につては、図17、図18
を用いて説明した従来例と同一であるため、説明は省略
する。
【0058】以下、図10を用いて説明する。図10
は、本発明の第五の実施形態における光磁気ディスクの
ディスクフォーマットを示す概略図である。111は中
心部に回転駆動するための中心穴を有する光ディスク基
板である。光ディスク基板111は、トラッキングガイ
ドとアドレス信号の再生に用いるためのプリピットをデ
ータフィールド118内に有し(あるいは表面粗さの大
きい記録信号列113の一部をアドレス信号に用い)、
そのアドレス情報を用いて、データフィールド118の
蓄積データを再生する。ここで、データフィールドの内
周部及び外周部には、光磁気ディスクの記録再生時の磁
界強度と信号再生時の出力信号との関係を測定できる学
習領域119aがあり、あらかじめ面粗さの違いを用い
た超解像ROMの基準信号を記録しており、バイアス磁
界を変化させながら磁界強度と信号再生時の出力信号と
の関係を測定できる構成となっている。さらに、超解像
ROM方式により高密度再生が可能な構成の光磁気ディ
スクであるという識別情報と、再生時に必要な磁界強度
に関する情報を蓄積したメモリー領域119bがデータ
フィールドの内周部にある。
【0059】本実施形態の超解像ROMの光磁気ディス
クは、このメモリー領域119bに、超解像ROM方式
により高密度再生可能な光磁気ディスクであることを識
別する情報、および室温で初期化に必要な磁界強度が8
kOeであることが記録されている。また再生時に必要
な磁界条件を学習するために、磁界強度と信号再生時の
出力信号との関係を学習領域119aを用いて測定する
ためのレーザパワー等の条件も記録されている。所定の
環境温度、環境条件が変化した場合には、磁界強度と信
号再生時の出力信号との関係を測定する領域を利用して
再度測定し、初期化磁化、バイアス磁界の強度に関する
情報を新たに記録し、再生時の磁界条件として再度設定
することができる。このような構成により、再生時のレ
ーザパワーを2.8mWとすることができる。さらに磁
界強度と信号再生時の出力信号との関係を測定すること
により、信号量が最大となる最適なバイアス磁界強度を
設定することができる。具体的には、バイアス磁界強度
を380Oeに設定することにより、高密度再生が可能
となる。ここで、初期化磁界、および、バイアス磁界の
方向、レーザ光強度については、あらかじめメモリー領
域119bに記録してあり、書き換えずに利用するもの
とする。
【0060】このように、本実施形態の光磁気ディスク
は、8kOe初期化磁界で着磁した後に、再生時に38
0Oeのバイアス磁界が必要であることを学習可能な領
域119aを用いて測定可能であり、磁界に関する情報
と、超解像ROM方式により再生できる光磁気ディスク
を識別できる情報、および、再生時のバイアス磁界強
度、レーザ光強度に関する情報を、ディスクのフォーマ
ット時、あるいは、起動時にメモリー領域119bに記
録可能であるという構成により、光磁気記録再生装置に
対しても、簡易な方法で従来の光磁気ディスクとの識別
ができ、さらに、本実施形態の超解像ROM方式を用い
た光磁気ディスクの場合には、印加するための最適な磁
界条件の学習と制御も容易な、優れた光磁気ディスクを
実現できるものである。
【0061】なお、本実施形態では、表面粗さの小さい
基板面の中に、表面粗さの大きい信号ピットを形成し、
信号を検出する超解像ROM方式について述べてきた
が、初期化磁界、バイアス磁界の方向と大きさを考慮す
れば、表面粗さの大きい基板面の中に、表面粗さの小さ
い信号ピットを形成した構成のディスク基板であっても
よい。
【0062】なお、第一から第五の実施形態では、ポリ
カーボネートあるいはポリオレフィンのディスク基板を
用い、光スポットのトラッキングガイドのための環状の
案内溝、プリピット、あるいは表面粗さを用いた信号ピ
ットを備えた構成の光磁気ディスクについて述べてきた
が、ディスク基板上に、スパイラル状、あるいはサンプ
ルサーポ方式、DBF方式を用いたトラッキングガイド
のためのプリピットを設けた構成、あるいはそれらを組
み合わせた構成のディスク基板を用いてもよい。
【0063】また、第一から第五の実施形態では、記録
再生層には、TbFeCoを用いた記録膜あるいは複数
の記録膜を積層した構成の記録再生層からなる光磁気デ
ィスクについて述べてきたが、TbCo、GdCo、G
dTbFe、DyFeCo等の希土類遷移金属合金、あ
るいは、MnBi、PtMnSn、多結晶材料を用いた
光磁気材料、あるいはそれらを含み、かつ、材料または
組成の異なる複数の記録膜より構成された記録再生層で
あればよい。
【0064】また、第一から第五の実施形態では、交換
結合多層膜の記録膜を用いて、光変調オーバーライト方
式、FAD方式およびダブルマスク方式の超解像記録再
生、および、超解像ROM方式に利用した場合の記録再
生方式について述べてきたが、それ意外のダイレクトオ
ーバーライト方式、RAD方式もしくはそれ以外の超解
像方式、あるいはそのほかの高記録密度化を得るために
記録再生方式を用い、記録再生時の磁界の印加方式とレ
ーザ光強度の異なるディスクについても、その互換性を
保つためには、光磁気ディスクの識別信号と磁界および
レーザ光強度に関する情報を記録した構成を用いれば、
同等あるいはそれ以上の効果が得られる。
【0065】また、第二から第五の実施形態において
は、必要な磁界強度を学習するためには、記録層に基準
信号を記録した上で測定を行う必要があるが、この基準
信号がディスクの構成要素として、あらかじめ記録され
ている構成としても良い。
【0066】次に本発明の光磁気ディスクの記録再生装
置の第一の実施形態について、図面を参照しながら説明
する。図11は、本実施形態の概念図を示すものであ
る。以下、動作方法について説明する。まず、記録再生
装置に光磁気ディスク50を挿入する。次に、レーザ駆
動回路53により、再生パワーに設定レーザ光源52か
らのレーザ光をディスク識別信号部に照射する。このと
きディスクの識別情報と、記録時あるいは再生時の磁界
に関する情報信号を検出する。この信号は偏向ビームス
プリッタ51、検出器54からヘッドアンプ55を通過
し、信号処理部56aに至る。ここで、挿入されたディ
スクが従来の光磁気ディスク、あるいはオーバーライト
可能な光磁気ディスク、FAD方式、ダブルマスク方式
等の超解像方式によりドメイン長0.5μm以下での記
録再生が可能な光磁気ディスク、超解像ROMディスク
のいずれであるかの識別を行う。このディスクの識別情
報と、記録時あるいは再生時の初期化磁界もしくは再生
時のバイアス磁界およびレーザ光強度に関する情報を用
いて制御部56bにより、初期化磁界の磁界駆動回路5
7及びバイアス磁界の磁界駆動回路58の磁界の制御を
行う。また、レーザ光強度に関する情報信号を用いて、
レーザ駆動回路53によりレーザ光源52の制御を行
う。このような構成により、簡易な方法で光磁気ディス
クの識別が可能で、磁界の制御も容易にでき、適切な磁
界とレーザ光をディスクに印加することができることに
なる。
【0067】次に、本発明の光磁気ディスクの記録再生
装置の第二の実施形態について、図面を参照しながら説
明する。図12は、本実施形態の概念図を示すものであ
る。以下、動作方法について説明する。まず、記録再生
装置に光磁気ディスク120を挿入する。次に、レーザ
駆動回路123により再生パワーに設定されたレーザ光
をディスク識別信号部に照射する。このときディスクの
識別情報と、記録時あるいは再生時の磁界に関する情報
信号を検出する。この検出した信号は偏向ビームスプリ
ッタ121、検出器124からヘッドアンプ125を通
過し、信号処理部のメモリ部126に記録される。この
情報により、従来の光磁気ディスク、あるいはオーバー
ライト可能な光磁気ディスク、FAD方式、ダブルマス
ク方式等の超解像方式によりドメイン長0.5μm以下
での記録再生が可能な光磁気ディスク、、超解像ROM
ディスクのいずれであるかの識別を行う。このディスク
の識別情報と記録時、あるいは再生時の初期化磁界もし
くは再生時のバイアス磁界およびレーザ光強度に関する
情報を用いて制御部127により、初期化磁界の磁界駆
動回路128及びバイアス磁界の磁界駆動回路129の
磁界の制御を行う。また、レーザ光強度に関する情報信
号を用いて、レーザ駆動回路123によりレーザ光源1
22の制御を行う。
【0068】このように、本実施形態の光磁気ディスク
記録再生装置は、、簡易な方法で光磁気ディスクの識別
が可能で、磁界の制御も容易にでき、適切な磁界とレー
ザ光をディスクに印加することができることになる。
【0069】
【発明の効果】以上のように本発明は、下記のような効
果がある。
【0070】(1)必要な初期化磁界強度もしくはバイ
アス磁界強度と信号再生時の出力信号との関係を測定す
るための領域を光磁気ディスク上に設けることにより、
ディスクの記録再生装置で最適な磁界条件が設定でき
る。
【0071】(2)初期化磁界もしくはバイアス磁界が
必要な光磁気ディスクであるかどうかの識別信号と、前
記必要な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界強度と信
号再生時の出力信号との関係を測定するための領域と、
この測定領域において測定した情報、及び磁界に関する
情報を記録再生できる領域を光磁気ディスク上に設ける
ことにより、上位互換性がある光磁気ディスクの記録再
生装置でも、簡易な方法でディスクの識別が可能とな
り、さらに最適な磁界条件が設定できる。
【0072】(3)光磁気ディスクの記録再生装置が、
前記光磁気ディスク上の識別信号及び再生磁界情報を読
み取り、再生時に初期化磁界もしくはバイアス磁界が必
要な場合には、再生時に必要な初期化磁界条件もしくは
バイアス磁界条件を前記光磁気ディスクの磁界条件を測
定するための領域を用いて測定することが可能な、ある
いは学習することが可能な構成であって、前記測定領域
により測定した再生条件を前記光磁気ディスクに書き換
える手段を有し、さらに前記光磁気ディスクに書き換え
た再生条件に関する情報を用いることにより、簡易な方
法で光磁気ディスクの識別が可能で、磁界の制御も容易
にでき、適切な磁界とレーザ光をディスクに印加するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施形態における光磁気ディス
クの断面図
【図2】本発明の第一の実施形態における光磁気ディス
クのディスクフォーマットを示す概略図
【図3】本発明の第二の実施形態における光磁気ディス
クの断面図
【図4】本発明の第二の実施形態における光磁気ディス
クのディスクフォーマットを示す概略図
【図5】FAD方式の再生磁界に対する再生信号の特性
を示した図
【図6】本発明の第三の実施形態における光磁気ディス
クの断面図
【図7】本発明の第三の実施形態における光磁気ディス
クのディスクフォーマットを示す概略図
【図8】本発明の第四の実施形態における光磁気ディス
クの断面図
【図9】本発明の第四の実施形態における光磁気ディス
クのディスクフォーマットを示す概略図
【図10】本発明の第五の実施形態における光磁気ディ
スクのディスクフォーマットを示す概略図
【図11】本発明の光磁気ディスクの記録再生装置の第
一の実施形態における構成を示す概念図
【図12】本発明の光磁気ディスクの記録再生装置の第
二の実施形態における構成を示す概念図
【図13】光強度変調オーバーライト方式の記録時の構
成図
【図14】レーザビーム・スポット径と再生可能な記録
ドメインの記録密度との関係を説明する図
【図15】FAD方式による再生時の構成図
【図16】ダブルマスク方式による再生時の構成図
【図17】本発明の第五の実施形態における超解像RO
M方式光磁気ディスクの構造図
【図18】超解像ROM方式の再生磁界による再生原理
を示すための記録層の温度に対する保持力特性を示す図
【符号の説明】
1,11,21,91,111 基板 2,4,12,22,92 誘電体層 3 記録膜 5 反射層 6,16,27,98 オーバーコート層 7,17,28,99 セクターマーク 8,18,29,100 アドレスフィールド 9,19,30,101,118 データフィールド 10,20a,31b,102,119b メモリー領
域 13 記録再生層 14 記録補助層 15,26,97 保護層 20b,31a,103,119a 学習領域 23,93 再生層 24,95 中間層 25,96 記録層 50,120 光磁気ディスク 51,121 偏向ビームスプリッタ 52,122 レーザ光源 53,123 レーザ駆動回路 54,124 検出器 55,125 ヘッドアンプ 56a 信号処理部 56b,127 制御部 57,128 初期化磁界駆動回路 58,129 バイアス磁界駆動回路 94 再生補助層 126 メモリ部

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上にスパイラル状もしくは同心円状
    の案内溝、あるいはプリピットを有し、光により情報の
    記録、再生、消去を行う光磁気ディスクであって、必要
    な初期化磁界強度もしくはバイアス磁界強度と信号再生
    時の出力信号との関係を測定するための領域を前記基板
    上に設けたことを特徴とする光磁気ディスク。
  2. 【請求項2】 前記光磁気ディスク上に、必要な初期化
    磁界強度もしくはバイアス磁界強度に関する情報が記録
    されている請求項1記載の光磁気ディスク。
  3. 【請求項3】 前記光磁気ディスク上に、初期化磁界も
    しくはバイアス磁界が必要な光磁気ディスクであるかど
    うかの識別信号が記録されている請求項1記載の光磁気
    ディスク。
  4. 【請求項4】 前記光磁気ディスク上に、必要な初期化
    磁界強度もしくはバイアス磁界強度に関する情報、及び
    初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁気ディス
    クであるかどうかの識別信号が記録されている請求項1
    記載の光磁気ディスク。
  5. 【請求項5】 前記光磁気ディスク上に、必要な初期化
    磁界強度もしくはバイアス磁界強度と信号再生時の出力
    信号との関係を測定するための領域において測定した磁
    界強度に関する情報を記録再生できる領域を設け、初期
    化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁気ディスクで
    あるかどうかの識別信号、及び必要な初期化磁界強度も
    しくはバイアス磁界強度に関する情報が記録されている
    請求項1記載の光磁気ディスク。
  6. 【請求項6】 基板上にスパイラル状もしくは同心円状
    の案内溝、あるいはプリピットを有し、光により情報の
    記録、再生、消去を行い、交換結合した多層膜の記録再
    生層により磁気的超解像記録再生が可能な光磁気ディス
    クであって、前記光磁気ディスク上に、必要な初期化磁
    界強度もしくはバイアス磁界強度と信号再生時の出力信
    号との関係を測定するための領域を前記基板上に設けた
    ことを特徴とする光磁気ディスク。
  7. 【請求項7】 前記光磁気ディスク上に、必要な初期化
    磁界強度もしくはバイアス磁界強度に関する情報が記録
    されている請求項6記載の光磁気ディスク。
  8. 【請求項8】 前記光磁気ディスク上に、初期化磁界も
    しくはバイアス磁界が必要な光磁気ディスクであるかど
    うかの識別信号が記録されている請求項6記載の光磁気
    ディスク。
  9. 【請求項9】 前記光磁気ディスク上に、必要な初期化
    磁界強度もしくはバイアス磁界強度に関する情報、及び
    初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁気ディス
    クであるかどうかの識別信号が記録されている請求項6
    記載の光磁気ディスク。
  10. 【請求項10】 前記光磁気ディスク上に、必要な初期
    化磁界強度もしくはバイアス磁界強度と信号再生時の出
    力信号との関係を測定するための領域において測定した
    磁界強度に関する情報を記録再生できる領域を設け、初
    期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁気ディスク
    であるかどうかの識別信号、及び必要な初期化磁界強度
    もしくはバイアス磁界強度に関する情報が記録されてい
    る請求項6記載の光磁気ディスク。
  11. 【請求項11】 光により情報の記録、再生、消去を行
    い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバイ
    アス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光磁
    気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に必
    要な初期化磁界条件もしくはバイアス磁界条件を、前記
    光磁気ディスク上の磁界条件を測定するための領域を用
    いて測定することが可能な、あるいは学習することが可
    能な構成を備えたこととを特徴とする光磁気ディスクの
    記録再生装置。
  12. 【請求項12】 前記の情報の再生時に必要な初期化磁
    界条件もしくはバイアス磁界条件を測定するための領域
    により測定した情報を用いて再生条件を設定することに
    より、光磁気ディスクを再生する構成を備えた請求項1
    1記載の光磁気ディスクの記録再生装置。
  13. 【請求項13】 光により情報の記録、再生、消去を行
    い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバイ
    アス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の光磁気
    ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に少な
    くとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁気
    ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁界情報
    を読み取り、読み出した情報を用いて、再生時に必要な
    初期化磁界条件もしくはバイアス磁界条件を設定するこ
    とが可能なことを特徴とする光磁気ディスクの記録再生
    装置。
  14. 【請求項14】 光により情報の記録、再生、消去を行
    い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバイ
    アス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光磁
    気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に少
    なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁
    気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁界情
    報を読み取り、再生時に初期化磁界もしくはバイアス磁
    界が必要な場合には、再生時に必要な初期化磁界条件も
    しくはバイアス磁界条件を前記光磁気ディスクの磁界条
    件を測定するための領域を用いて測定することが可能
    な、あるいは学習することが可能な構成の記録再生装置
    であって、前記の磁界条件を測定するための領域により
    測定した再生条件を用いることにより光磁気ディスクを
    再生する構成を備えたことを特徴とする光磁気ディスク
    の記録再生装置。
  15. 【請求項15】 光により情報の記録、再生、消去を行
    い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバイ
    アス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光磁
    気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に少
    なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁
    気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁界情
    報を読み取り、再生時に初期化磁界もしくはバイアス磁
    界が必要な場合には、再生時に必要な初期化磁界条件も
    しくはバイアス磁界条件を前記光磁気ディスクの磁界条
    件を測定するための領域を用いて測定することが可能
    な、あるいは学習することが可能な構成の記録再生装置
    であって、前記の磁界条件を測定するための領域を用い
    て測定した再生条件を前記光磁気ディスクに記録する手
    段を有し、さらに前記光磁気ディスクに記録した再生条
    件に関する情報を用いることにより再生条件を設定し、
    光磁気ディスクを再生する構成を備えたことを特徴とす
    る光磁気ディスクの記録再生装置。
  16. 【請求項16】 光により情報の記録、再生、消去を行
    い、情報の再生時に少なくとも初期化磁界もしくはバイ
    アス磁界を印加する磁界発生装置を有した構成の、光磁
    気ディスクの記録再生装置であって、情報の再生時に少
    なくとも初期化磁界もしくはバイアス磁界が必要な光磁
    気ディスクであるかどうかの識別信号、及び再生磁界情
    報を読み取り、再生時に初期化磁界条件もしくはバイア
    ス磁界条件の書き換えが必要な場合には、再生時に必要
    な初期化磁界条件もしくはバイアス磁界条件を前記光磁
    気ディスクの磁界条件を測定するための領域を用いて測
    定することが可能な、あるいは学習することが可能な構
    成の記録再生装置であって、前記の磁界条件を測定する
    ための領域を用いて測定した再生条件を前記光磁気ディ
    スクに書き換える手段を有し、さらに前記光磁気ディス
    クに書き換えた再生条件に関する情報を用いることによ
    り再生条件を設定し、光磁気ディスクを再生する構成を
    備えたことを特徴とする光磁気ディスクの記録再生装
    置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6469960B1 (en) 1999-08-26 2002-10-22 Fujitsu Limited Magneto-optical storage apparatus capable of adjusting the magnetic field strength

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