JPH10335810A - Reworking equipment - Google Patents
Reworking equipmentInfo
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- JPH10335810A JPH10335810A JP9140534A JP14053497A JPH10335810A JP H10335810 A JPH10335810 A JP H10335810A JP 9140534 A JP9140534 A JP 9140534A JP 14053497 A JP14053497 A JP 14053497A JP H10335810 A JPH10335810 A JP H10335810A
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半田付けされた素
子を取り外すリワーク装置に関し、特にCSPパッケー
ジのBGA型などの半田バンプ付きのLSIのリワーク
装置の改良に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a rework apparatus for removing a soldered element, and more particularly to an improvement in a rework apparatus for an LSI having a solder bump such as a BGA type CSP package.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のリワーク装置で該当素子の不良、
基板の不良、他部品の不良、配線のチェックなどの目的
で、一旦、半田付けされた半田バンプ付きのLSI素子
を取り外す場合の動作を、図5および図6にそって説明
する。図5および図6において、11は半田バンプ付き
のLSI素子部品が取り付けられるマザー基板、12は
半田バンプ付きのLSI素子部品の一例としてのBSA
パッケージ部品、14はリワーク装置の加熱装置、15
はリワーク装置の吸着治具である。2. Description of the Related Art In a conventional rework apparatus, defective elements are
The operation of removing an LSI element with a solder bump once soldered for the purpose of checking a failure of a board, a failure of another component, a wiring, and the like will be described with reference to FIGS. 5 and 6, reference numeral 11 denotes a mother board on which an LSI element having solder bumps is mounted, and 12 denotes a BSA as an example of an LSI element having solder bumps.
Package parts, 14 is a heating device of a rework device, 15
Is a suction jig of the rework device.
【0003】従来では図5および図6に示すように、リ
ワーク装置の加熱装置14で基板11の上面と下面から
加熱し、半田が溶けた状態でCSPパッケージ部品12
のパッケージをリワーク装置の吸着治具15あるいは挟
持治具で保持して、機械的な力で取り外すようにしてい
た。Conventionally, as shown in FIGS. 5 and 6, a heating device 14 of a reworking device heats the upper and lower surfaces of a substrate 11 so that the CSP package component 12 is heated in a molten state.
Is held by the suction jig 15 or the holding jig of the rework apparatus, and is removed by mechanical force.
【0004】しかしこのような方法では、いわゆるCS
P(Chip Size Package )であるBGA(Ball Grid Ar
ray )など半田バンプ付きのLSI素子等の部品におい
てはは、バンプが取れてしまってマザー基板11側に残
ることが多く、このために取り外した部品が再利用でき
ず、ほとんど新しい部品を付け替えることになるという
不都合があった。However, in such a method, a so-called CS
PGA (Chip Size Package), BGA (Ball Grid Ar
In the case of components such as LSI devices with solder bumps such as ray), the bumps are often removed and remain on the mother board 11, so that the removed components cannot be reused and almost new components must be replaced. There was an inconvenience of becoming.
【0005】ここでCSP、BGAに付いて簡単に説明
しておく。ロジック・デバイスの端子数はチップ搭載の
ゲート数に対する指数関数で表されることが知られてい
る。これを表す関係式が次に示すRent則と呼ばれる
式である。 Np=αNgβ ここで Np:デバイスの端子数 α:デバイスの種類によって決まる係数 Ng:チップ内のゲート数 β:デバイスの種類によって決まる値でRent指数と
呼ばれる である。Here, CSP and BGA will be briefly described. It is known that the number of terminals of a logic device is represented by an exponential function with respect to the number of gates mounted on a chip. The relational expression representing this is an expression called the Rent rule shown below. Np = αNgβ where Np: number of terminals of the device α: coefficient determined by the type of device Ng: number of gates in the chip β: value determined by the type of device and is called Rent index.
【0006】ゲート・デバイスの搭載ゲート数は年々増
大して行くので、端子数も当然増えていく。2000年
までには1000端子を越えるデバイスも出現するもの
と考えられている。この増大する端子数のために既存の
パッケージではパッケージサイズが増大し、占有面積が
増えて機能を高集積化したメリットが半減してしまう。
ことに端子数が数百端子を越えるようになるとパッケー
ジのアウタ・リードの狭ピッチ化だけではとても追い付
かない。これを解決する1つの方法がBGAパッケージ
などのCSPパッケージである。As the number of gates mounted on the gate device increases year by year, the number of terminals naturally increases. It is believed that devices with more than 1000 terminals will appear by 2000. Due to the increased number of terminals, the package size of the existing package increases, the occupied area increases, and the merits of highly integrated functions are reduced by half.
In particular, when the number of terminals exceeds a few hundred, it is not possible to catch up with just narrowing the outer leads of the package. One method to solve this is a CSP package such as a BGA package.
【0007】CSPはLSIの本来のチップ寸法に近い
パッケージ形式である。例えば、160ピンのASIC
(Application Specific Integrated Circuit:特定用
途向けIC)の場合であると、一般的なパッケージであ
るQFP(QuadFlat Package )に比べてパッケージの
占有面積は1/10程度に小さくすることができ、実装
密度を高められるメリットがある。しかも、ベア・チッ
プの場合と違って通常のパッケージ品と同様にLSIメ
ーカが品質を保証して出荷できる利点がある。The CSP is a package type close to the original chip size of the LSI. For example, 160 pin ASIC
In the case of (Application Specific Integrated Circuit), the area occupied by the package can be reduced to about 1/10 compared to a general package QFP (QuadFlat Package), and the mounting density can be reduced. There are benefits that can be raised. In addition, unlike the case of the bare chip, there is an advantage that the LSI maker can assure the quality and ship the product in the same manner as a normal package product.
【0008】このようなCSPの外部端子の形態とし
て、例えば、BGAやLGA(Land Grid Array )など
がある。これらは、2次元エリア状に端子接点を設ける
ようにしたパッケージ形状で、このようにすることによ
って、パッケージ・サイズを小さく抑えながら狭ピッチ
化を避けることができ、パッケージ製造上の制約を回避
することができる。The external terminals of the CSP include, for example, BGA and LGA (Land Grid Array). These are package shapes in which terminal contacts are provided in a two-dimensional area. By doing so, it is possible to avoid narrowing the pitch while keeping the package size small, thereby avoiding restrictions on package manufacturing. be able to.
【0009】例えば、2次元エリア状の端子配置である
と、10数cm角のパッケージ形状に100×100マ
トリクスとしただけで容易に1万個のI/Oが取れるこ
とになる。CSPの内、LGAはリードがなくパッドし
か構成されていないパッケージでプリント基板への実装
はコネクタを介して接続される。For example, in the case of a two-dimensional area terminal arrangement, 10,000 I / Os can be easily obtained simply by forming a 100.times.100 matrix in a package shape of about 10 cm square. Among the CSPs, the LGA is a package having no leads and only pads, and is mounted on a printed circuit board via a connector.
【0010】一方BGAは、小さな四角いプリント基板
の上に、LSIベア・チップを載せ、下面に2次元状に
半球状または球状の端子(バンプ)を配置してある。こ
の場合端子(バンプ)には半田を使い基板に直接半田付
けを行うことが多い。すでに225〜350ピンぐらい
のパッケージが実用になっている。端子数が多いLSI
でもさほどパッケージを大きくしないで済むメリットが
ある。さらに、接続部の電気的特性が低抵抗、低容量、
低インダクタンスであるというメリットも有している。On the other hand, the BGA has an LSI bare chip mounted on a small square printed circuit board, and two-dimensionally semi-spherical or spherical terminals (bumps) are arranged on the lower surface. In this case, the terminals (bumps) are often soldered directly to the substrate using solder. A package with about 225 to 350 pins has already been put into practical use. LSI with many terminals
However, there is an advantage that the package does not need to be so large. Furthermore, the electrical characteristics of the connection are low resistance, low capacitance,
It also has the advantage of low inductance.
【0011】しかし、このようにエリア接続される素子
は、接続部が影に隠れるため、周辺だけで接続されるQ
FPなどに比べて半田付けの良/不良を目視で検査でき
ない点に問題があり、また不良チップの交換やリペア、
リワークに手間が掛かる問題がある。However, the elements connected in such an area are connected only in the periphery because the connection portion is hidden by the shadow.
There is a problem in that it is not possible to visually inspect the good / bad soldering compared to FP, etc.
There is a problem that rework takes time.
【0012】図7は、このようなBGAの断面形状を示
したものであり、図8は裏面の端子(バンプ)配置の例
を模式的に示したものである。図7で、21はICチッ
プ、22はソルダーマスク、23はエポキシ基板、24
はスルーホール・ピア、25は半田端子(バンプ)、2
6は銅配線、27は布線ワイヤー、28はモールド材で
ある。FIG. 7 shows a cross-sectional shape of such a BGA, and FIG. 8 schematically shows an example of terminal (bump) arrangement on the back surface. In FIG. 7, 21 is an IC chip, 22 is a solder mask, 23 is an epoxy substrate, 24
Is a through-hole pier, 25 is a solder terminal (bump), 2
6 is a copper wiring, 27 is a wiring wire, and 28 is a molding material.
【0013】パッケージ材料としてプリントエポキシ基
板23を用い、ICチップ21はワイヤボンディング後
モールド材28でモールドする。ICチップ21からの
布線は布線ワイヤー27やスルーホール・ピア24を介
してエポキシ基板23の裏面に設けられた半田端子(バ
ンプ)25に導かれる。この半田端子(バンプ)25を
使って基板に半田付け実装を行う。A printed epoxy board 23 is used as a package material, and the IC chip 21 is molded with a molding material 28 after wire bonding. The wiring from the IC chip 21 is guided to a solder terminal (bump) 25 provided on the back surface of the epoxy substrate 23 via a wiring 27 and a through-hole pier 24. The solder terminals (bumps) 25 are used to perform solder mounting on the substrate.
【0014】図9に、このような半田端子(バンプ)の
断面構造を示した。図9で31は半田、32はバリアメ
タル、33はシリコン酸化絶縁膜であるSiO2、34
はアルミニュウム・パッド、35はシリコン層である。
バンプの構造は、アルミニュウム・パッド34と良好な
電気的接触を得るために、また、TiやCrなどの接合
層や、金属間化合物ができるのを防ぐためのNiやPd
などの拡散防止層からなるバリアメタル32を介して半
田で構成されている。FIG. 9 shows a cross-sectional structure of such a solder terminal (bump). In FIG. 9, 31 is a solder, 32 is a barrier metal, 33 is a silicon oxide insulating film SiO2, 34
Is an aluminum pad, and 35 is a silicon layer.
The structure of the bumps is Ni or Pd to obtain good electrical contact with the aluminum pad 34, to form a bonding layer such as Ti or Cr, or to prevent the formation of intermetallic compounds.
It is made of solder via a barrier metal 32 made of a diffusion prevention layer such as a metal.
【0015】ところでこのような構成で端子(バンプ)
数が多い場合に、従来の方法で部品をリワークしようと
したときにバンプの半田が基板側にとられてしまうと、
そのままでは再度の半田付けが不可能になり、半田の補
給も事実上困難で取り外した部品の再利用は不可能にな
る。By the way, terminals (bumps) having such a configuration are used.
If there are many, if the solder of the bumps is removed on the board side when trying to rework the parts by the conventional method,
As it is, re-soldering becomes impossible, and replenishment of the solder is practically difficult, making it impossible to reuse the removed parts.
【0016】[0016]
【発明が解決しようとする課題】上述のごとく、従来の
リワーク装置を用いて、CSPパッケージのBGAなど
のバンプ付きのモデルをリワークしようとすると、バン
プが基板側にくっついて取れてしまうこと多く、そのた
めにリワークした部品は使用できないという問題があっ
た。As described above, when a conventional reworking device is used to rework a model with bumps such as a BGA of a CSP package, the bumps are often stuck to the substrate side and removed. Therefore, there is a problem that the reworked parts cannot be used.
【0017】本発明はこの点を解決して、比較的簡単な
方法でBGAなどのバンプ付きのパッケージ部品を簡単
に除去することができ、かつ除去した部品の再利用が可
能なリワーク装置の実現を課題とする。The present invention solves this problem, and realizes a rework apparatus capable of easily removing a package component having a bump such as a BGA by a relatively simple method and reusing the removed component. As an issue.
【0018】[0018]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、加熱手段と、部品保持手段とを具備し、
部品が搭載された基板を前記加熱手段で暖めて半田を溶
融し、前記部品保持手段で搭載された部品を保持して前
記基板から除去するリワーク装置において、糸状の切断
部を有する半田接続面分離手段を具備し、前記半田接続
面分離手段は半田溶融後に前記基板と前記部品との接合
面の溶融された半田の基板側を前記糸状の切断部で切断
することを特徴とする。To achieve the above object, the present invention comprises a heating means and a component holding means,
In a reworking apparatus for heating a substrate on which components are mounted by the heating means to melt the solder and holding the components mounted by the component holding means and removing the solder from the substrate, a solder connection surface separation having a thread-like cut portion is provided. The solder connection surface separating means cuts the board side of the melted solder at the joint surface between the board and the component after the solder is melted by the thread-shaped cutting portion.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかるリワーク装
置を添付図面を参照にして詳細に説明する。図1は、本
発明の一実施の形態のリワーク装置の動作の基本概念を
示す説明図である。図1において、1はマザー基板、2
はBGAパッケージ部品、2−1は端子(バンプ)、3
は糸楊子型の工具、3−1は糸楊子型工具3のストリン
グである。図1に沿ってこの実施の形態の動作を説明す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a rework apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an explanatory diagram showing the basic concept of the operation of the rework apparatus according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1 is a mother board, 2
Is a BGA package component, 2-1 is a terminal (bump), 3
Denotes a string of the goose-shaped tool 3, and 3-1 denotes a string of the goose-shaped tool 3. The operation of this embodiment will be described with reference to FIG.
【0020】今、BGAパッケージ部品2をマザー基板
1の表面から除去しようとする場合、図1に図示しない
加熱装置によって、端子(バンプ)2−1を加熱し、半
田を溶かした状態にした上で、糸楊子型工具3を動かし
て糸楊子型工具3のストリング3−1で端子(バンプ)
2−1とマザー基板1上のパターンとの間をカットする
ようにする。When the BGA package component 2 is to be removed from the surface of the motherboard 1, the terminals (bumps) 2-1 are heated by a heating device (not shown in FIG. 1) to melt the solder. Then, the needle-shaped tool 3 is moved, and the string (3-1) of the tooth-shaped tool 3 is used to make a terminal (bump).
2-1 and the pattern on the mother substrate 1 are cut.
【0021】このようにすると、このカットされた部分
で半田が切り離され、マザー基板1に搭載されていたB
GAパッケージ部品2を引き離す際に、端子(バンプ)
2−1の部分が基板側に付着するようなことがなくな
り、端子(バンプ)2−1が剥がされる虞がなくなる。
したがって、基板1から除去されたBGAパッケージ部
品2の再利用が可能になる。In this way, the solder is cut off at the cut portion, and the B mounted on the mother board 1 is removed.
When separating the GA package component 2, the terminals (bumps)
The portion 2-1 does not adhere to the substrate side, and the terminal (bump) 2-1 is not likely to be peeled off.
Therefore, the BGA package component 2 removed from the substrate 1 can be reused.
【0022】図2および図3にそって、本発明のこの実
施の形態のリワーク装置の動作をさらに詳しく説明す
る。図2および図3で、1はマザー基板、2はBGAパ
ッケージ部品、2−1は端子(バンプ)、3は糸楊子型
の工具、3−1は糸楊子型工具3のストリング、4はリ
ワーク装置の加熱装置、5はリワーク装置の吸着治具で
ある。図2および図3において、便利のために図1と同
じ機能のものには同じ番号を付けるようにした。The operation of the rework apparatus according to this embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 2 and 3, 1 is a mother board, 2 is a BGA package component, 2-1 is a terminal (bump), 3 is a goose-shaped tool, 3-1 is a string of a goose-shaped tool 3, 4 is a rework. The heating device 5 of the device is a suction jig of the rework device. In FIGS. 2 and 3, the same functions as those in FIG. 1 are given the same numbers for convenience.
【0023】図2で、搭載されているBGAパッケージ
部品2を除去しようとしているマザー基板1をリワーク
装置にセットし、従来の場合と同様に吸着治具5でその
BGAパッケージ部品2を固定する。In FIG. 2, the mother board 1 from which the mounted BGA package component 2 is to be removed is set in a rework device, and the BGA package component 2 is fixed by a suction jig 5 as in the conventional case.
【0024】次に、この状態で、加熱装置4を働かせて
熱風をマザー基板1の送り込んで半田を溶解する。使用
している半田がビスマス、錫からなる3Bi低融点半田
である場合、半田接合部の温度が175°C〜185°
Cの範囲の温度になるように加熱する。Next, in this state, the heating device 4 is operated to send hot air to the mother substrate 1 to melt the solder. When the solder used is 3Bi low melting point solder made of bismuth and tin, the temperature of the solder joint is 175 ° C. to 185 °.
Heat to a temperature in the range of C.
【0025】続いて糸楊子型の工具3をマザー基板1上
方で動かせて糸楊子型工具3のストリング3−1がマザ
ー基板1の表面上を移動し、端子(バンプ)2−1の下
面のマザー基板1側で半田をカットするようにする。半
田はこのようにいったんカットされると、その半田球の
表面に酸化膜ができるために容易に基板側と再溶着する
ことはない。Subsequently, the string 3 of the needle-shaped tool 3 is moved on the surface of the mother board 1 by moving the needle-shaped tool 3 above the mother substrate 1, and the lower surface of the terminal (bump) 2-1 is moved. The solder is cut on the mother board 1 side. Once the solder is cut in this way, an oxide film is formed on the surface of the solder ball, so that the solder is not easily re-welded to the substrate side.
【0026】その後、図3のようにリワーク装置の吸着
治具5でBGAパッケージ部品2を吸着したままで引き
上げると、端子(バンプ)2−1がBGAパッケージ部
品2側に残した状態で、BGAパッケージ部品2をマザ
ー基板1から除去することができる。Thereafter, as shown in FIG. 3, when the BGA package component 2 is pulled up by the suction jig 5 of the rework device while being sucked, the BGA package 2 is left with the terminals (bumps) 2-1 remaining on the BGA package component 2 side. The package component 2 can be removed from the mother board 1.
【0027】図4は本発明の他の実施形態である。図1
や図2および図3では糸楊子型の工具3をマザー基板1
上で移動させるように示したが、図4に示すように糸楊
子型の工具3をマザー基板1の下方で移動させてももち
ろん差支えない。糸楊子型の工具3を上方に設けるか下
方に設けるかは、リワーク装置全体の各部の配置からみ
て作業に差し障りのない方を選べばいい。FIG. 4 shows another embodiment of the present invention. FIG.
In FIGS. 2 and 3, the toothpick-shaped tool 3 is attached to the mother board 1.
Although it is shown that the tool is moved on the upper side, as shown in FIG. Whether the tool 3 is provided above or below may be selected as long as it does not hinder the work in view of the arrangement of each part of the entire reworking apparatus.
【0028】また図1や図2および図3では、糸楊子型
工具3のストリング3−1が端子(バンプ)2−1の配
列と平行な状態で移動するように示しているが、糸楊子
型工具3の幅に余裕があればストリング3−1が端子
(バンプ)2−1の配列にたいして傾斜して移動するよ
うにしたほうが、同時にストリング3−1に当たる端子
(バンプ)2−1の数が少なくなり、またストリング3
−1の長さ方向にそった各部分で半田を切るようになっ
て、ストリング3−1の負荷が少なくなるので好都合で
ある。In FIG. 1, FIG. 2 and FIG. 3, the string 3-1 of the toothpick type tool 3 is shown to move in a state parallel to the arrangement of the terminals (bumps) 2-1. If there is room in the width of the mold tool 3, it is better to move the string 3-1 at an angle to the arrangement of the terminals (bumps) 2-1. Less, and string 3
This is advantageous in that the solder is cut at each portion along the length direction of -1, and the load on the string 3-1 is reduced.
【0029】また、図2、図3では加熱装置4を熱風加
熱型の加熱装置として示したが、加熱方法もこれに限ら
れるものではなく、どのような加熱方法であっても、半
田溶融温度が保持できるような加熱装置であれば用いる
ことができることはいうまでもない。In FIGS. 2 and 3, the heating device 4 is shown as a hot-air heating type heating device, but the heating method is not limited to this. It is needless to say that any heating device that can maintain the temperature can be used.
【0030】糸楊子型工具3のストリング3−1には半
田が付着しないような金属線、例えば、ステンレススチ
ール(SUS)などの金属を糸状に形成したしたものを
使用する。The string 3-1 of the needle-shaped tool 3 is made of a metal wire to which solder does not adhere, for example, a wire formed of a metal such as stainless steel (SUS).
【0031】以上の説明では、本発明をBGAパッケー
ジを有するLSI部品に対して適用する場合について説
明したが、本発明は半田端子(バンプ)を有するすべて
の半導体部品に有効であることはいうまでもない。In the above description, the case where the present invention is applied to an LSI component having a BGA package has been described. However, it goes without saying that the present invention is effective for all semiconductor components having solder terminals (bumps). Nor.
【0032】このように、本発明では、半田端子(バン
プ)を有するCSPパッケージ部品を基板から取り外し
て再利用するためのリワーク装置において、半田を暖め
た状態で基板と半田端子(バンプ)間に糸楊子型工具の
ストリング部分をいれて半田を基板側で切断するように
した。したがって、半田の十分な量がマザー基板側では
なくCSPパッケージ部品の端子側に残るようになり、
リワークしたCSPパッケージ部品がバンプの不良で再
利用できなくなるという問題を回避することができる。As described above, according to the present invention, in a reworking apparatus for removing a CSP package component having solder terminals (bumps) from a substrate and reusing the same, the solder is heated between the substrate and the solder terminals (bumps). The string portion of the tool was inserted and the solder was cut on the board side. Therefore, a sufficient amount of solder remains on the terminal side of the CSP package component instead of the mother board side,
The problem that the reworked CSP package component cannot be reused due to defective bumps can be avoided.
【0033】[0033]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、加熱手段
と、部品保持手段とを具え、部品が搭載された基板を加
熱手段で暖めて半田を溶融し、部品保持手段で基板に搭
載された部品を保持して基板から除去するリワーク装置
において、糸状の切断部を有する半田接続面分離手段を
設け、半田溶融後に基板と部品との接合面の溶融された
半田の基板側を糸状の切断部で切断するようにした。こ
れによって、半田の十分な量をパッケージ部品の端子側
に残すことが可能になり、半田バンプ付きのCSPパッ
ケージなどの部品をリワーク後に再利用することができ
る。したがって、修理に必要な部品点数を削減すること
ができる。しかも、比較的簡単な構成で半田接続面の分
離が可能なので、リワークに要するコストを削減し経済
的に行うことができる。As described above, the present invention comprises a heating means and a component holding means. The board on which the components are mounted is heated by the heating means to melt the solder, and is mounted on the board by the component holding means. In a reworking apparatus for holding and removing a component from a substrate, a solder connection surface separating means having a thread-like cut portion is provided, and after the solder is melted, the substrate side of the molten solder at the joint surface between the substrate and the component is cut into a thread-like shape. It was cut at the part. As a result, a sufficient amount of solder can be left on the terminal side of the package component, and a component such as a CSP package with solder bumps can be reused after rework. Therefore, the number of parts required for repair can be reduced. Moreover, since the solder connection surface can be separated with a relatively simple configuration, the cost required for rework can be reduced and the work can be performed economically.
【図1】本発明の一実施の形態のリワーク装置の基本動
作を示す説明図。FIG. 1 is an explanatory diagram showing a basic operation of a rework apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示す実施の形態のリワーク装置のリワー
ク動作の説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram of a rework operation of the rework apparatus according to the embodiment shown in FIG. 1;
【図3】図1に示す実施の形態のリワーク装置のリワー
ク動作の説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram of a rework operation of the rework device according to the embodiment shown in FIG. 1;
【図4】本発明の他の実施の形態のリワーク装置のリワ
ーク動作の説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram of a rework operation of a rework device according to another embodiment of the present invention.
【図5】従来のリワーク装置のリワーク動作の説明図。FIG. 5 is an explanatory diagram of a rework operation of a conventional rework device.
【図6】従来のリワーク装置のリワーク動作の説明図。FIG. 6 is an explanatory diagram of a rework operation of a conventional rework device.
【図7】CSPパッケージ部品であるBGAの断面形状
を示した説明図。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a cross-sectional shape of a BGA which is a CSP package component.
【図8】図7に示すBGAの裏面の端子(バンプ)配置
例を示す模式図。FIG. 8 is a schematic diagram showing an example of terminal (bump) arrangement on the back surface of the BGA shown in FIG. 7;
【図9】半田端子(バンプ)の断面構造を示す説明図。FIG. 9 is an explanatory view showing a sectional structure of a solder terminal (bump).
1……マザー基板、2、12……BGAパッケージ部
品、2−1、25……端子(バンプ)、3……糸楊子型
の工具、3−1……糸楊子型工具3のストリング、4、
14……リワーク装置の加熱装置、5、15……リワー
ク装置の吸着治具、11……マザー基板、21……IC
チップ、22……ソルダーマスク、23……エポキシ基
板、24……スルーホール・ピア、26……銅配線、2
7……布線ワイヤー、28……モールド材、31……半
田、32……バリアメタル、33……シリコン酸化絶縁
膜、34……アルミニュウム・パッド、35……シリコ
ン層。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Mother board, 2, 12 ... BGA package parts, 2-1, 25 ... Terminals (bumps), 3 ... Goose-shaped tool, 3-1 ... String of goose-shaped tool 3, 4 ,
14 ... Heating device of rework device, 5, 15 ... Suction jig of rework device, 11 ... Mother board, 21 ... IC
Chip, 22 solder mask, 23 epoxy board, 24 through-hole pier, 26 copper wiring, 2
7 ... wiring wire, 28 ... molding material, 31 ... solder, 32 ... barrier metal, 33 ... silicon oxide insulating film, 34 ... aluminum pad, 35 ... silicon layer.
Claims (4)
部品が搭載された基板を前記加熱手段で暖めて半田を溶
融し、前記部品保持手段で前記基板に搭載された部品を
保持して前記基板から除去するリワーク装置において、 糸状の切断部を有する半田接続面分離手段を具備し、 前記半田接続面分離手段は半田溶融後に前記基板と前記
部品との接合面の溶融された半田の基板側を前記糸状の
切断部で切断することを特徴とするリワーク装置。1. A heating device comprising: a heating means; and a component holding means,
In a rework apparatus for heating a substrate on which components are mounted by the heating means to melt the solder and holding the components mounted on the substrate by the component holding means and removing the components from the substrate, a solder having a thread-like cut portion Reworking means comprising a connection surface separation means, wherein the solder connection surface separation means cuts the board side of the molten solder at the bonding surface between the board and the component at the thread-shaped cutting portion after the solder is melted. apparatus.
は、金属ワイヤで構成されることを特徴とする請求項1
に記載のリワーク装置。2. The thread-shaped cut portion of the solder connection surface separating means is made of a metal wire.
The rework apparatus according to item 1.
イヤであることを特徴とする請求項2に記載のリワーク
装置。3. The rework apparatus according to claim 2, wherein the metal wire is a stainless steel wire.
搭載面を所定の温度範囲に加熱保温することを特徴とす
る請求項1または請求項2または請求項3に記載のリワ
ーク装置。4. The rework apparatus according to claim 1, wherein said heating means heats and keeps the mounting surface of said component on said substrate within a predetermined temperature range.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9140534A JPH10335810A (en) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | Reworking equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9140534A JPH10335810A (en) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | Reworking equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10335810A true JPH10335810A (en) | 1998-12-18 |
Family
ID=15270915
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9140534A Pending JPH10335810A (en) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | Reworking equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10335810A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006147888A (en) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Fujitsu Ltd | Method and jig for removing circuit chip package |
CN102441865A (en) * | 2011-09-19 | 2012-05-09 | 工业和信息化部电子第五研究所 | Method and device for prizing up BGA (ball grid array) in staining test |
US12080677B2 (en) | 2021-09-21 | 2024-09-03 | Kioxia Corporation | Board unit and semiconductor device |
-
1997
- 1997-05-29 JP JP9140534A patent/JPH10335810A/en active Pending
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JP4519614B2 (en) * | 2004-11-19 | 2010-08-04 | 富士通株式会社 | Circuit chip package removal jig |
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CN102441865B (en) * | 2011-09-19 | 2016-03-23 | 工业和信息化部电子第五研究所 | Method and the device of BGA is levered up in a kind of dye test |
US12080677B2 (en) | 2021-09-21 | 2024-09-03 | Kioxia Corporation | Board unit and semiconductor device |
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