JPH10300436A - Lead frame inspection device - Google Patents

Lead frame inspection device

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Publication number
JPH10300436A
JPH10300436A JP10612397A JP10612397A JPH10300436A JP H10300436 A JPH10300436 A JP H10300436A JP 10612397 A JP10612397 A JP 10612397A JP 10612397 A JP10612397 A JP 10612397A JP H10300436 A JPH10300436 A JP H10300436A
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JP
Japan
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lead frame
lead
laser
thickness
deformation
Prior art date
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Pending
Application number
JP10612397A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Takeda
博 武田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH10300436A publication Critical patent/JPH10300436A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device capable of automatically detecting whether or not the lead of a lead frame is deformed in the direction of the Z-axis and the degree of the deformation by quantitatively measuring the deformation of the lead of the lead frame in the direction of the Z-axis. SOLUTION: This lead frame inspection device 1 includes a conveying roller 5 for conveying lead frames 3, and measures the thickness of the lead of the lead frame 3 by placing a laser dimension measuring apparatus 7, which emits a laser beam to cast a shadow on the object to be measured to detect the dimensions of the object for measurement from the shadow, in such a way that a laser beam extending the length sufficient for the lead frame 3 conveyed to cross in the direction of its thickness can be applied from the side of the lead frame 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、リードフレームの
リードの変形を検査する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting lead deformation of a lead frame.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、リードフレームの変形を検査す
るリードフレーム検査装置には、リードフレームを搬送
するための搬送手段としてコンベア或いはローラーが備
えられていると共に、搬送されるリードフレームの平面
(X−Y軸)方向に対し撮像面が垂直となるようにCC
Dカメラが設置されていて、CCDカメラにより、搬送
されるリードフレームの画像を影として捉え、この画像
をCCDカメラと接続された画像処理装置を介して画像
処理することによりリード変形の有無、メッキエリア等
を検査することができるようになっている。
2. Description of the Related Art In general, a lead frame inspection apparatus for inspecting the deformation of a lead frame is provided with a conveyor or a roller as a transport means for transporting the lead frame, and also has a plane (X) of the transported lead frame. −Y axis) so that the imaging plane is perpendicular to the direction.
A D camera is installed. The CCD camera captures the image of the lead frame being transported as a shadow, and this image is processed through an image processing device connected to the CCD camera to determine whether or not lead deformation has occurred. Areas and the like can be inspected.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の如きリ
ードフレーム検査装置は、CCDカメラで捉える画像が
2次元であるため、リードフレームのリードの平面(X
−Y軸)方向の変形の検査には有効であるが、平面から
はずれたZ軸方向のリード変形の検出については対処で
きないという欠点があった。しかも、リードフレームの
リードのX−Y平面からはずれたいわゆるZ軸方向の変
形は実際に生じることが往々にしてあり、リードフレー
ム検査装置において、リードフレームのリードのZ軸方
向の変形の有無及び変形の程度を自動的に検出可能な機
能を持たせることが課題となっていた。
However, in the lead frame inspection apparatus as described above, since the image captured by the CCD camera is two-dimensional, the plane (X
Although it is effective for the inspection of the deformation in the (−Y axis) direction, there is a drawback that the detection of the lead deformation in the Z axis direction deviating from the plane cannot be dealt with. Moreover, so-called Z-axis deformation of the lead of the lead frame deviating from the XY plane often occurs actually. It has been an issue to provide a function that can automatically detect the degree of deformation.

【0004】また、CCDカメラを、搬送されるリード
フレームの側面に対し、撮像面が垂直となるように配置
したとしても、CCDカメラへの入射光量を均一にする
べく光源からの出射光を乱反射させるようにしておく必
要があるので、リードフレームを照射したときに乱反射
の影響により影の位置にずれを生じ易い。即ち、CCD
カメラによる画像入力では、リードフレームのX−Y平
面を照射するようにした場合には、平面の寸法が大きい
為、影の位置ずれによる測定値の誤差の割合を小さく抑
えることができるが、リードフレームのリードのZ軸方
向(厚み方向)の変形等極めて寸法の小さなものを測定
する場合には、厚み方向の測定値に占める誤差の割合が
非常に大きくなってしまい、測定値の精度及び信頼性に
欠ける。このため、Z軸方向の微細な変形の検出につい
ては、上述の如きリードフレーム検査装置では対処でき
ず、測定器具を用いた目視による検査によらざるを得な
かった。しかし、目視による検査では、作業が煩雑化
し、また、検査時間を短縮することが難しく、作業能率
が抑えられてしまう。
Further, even if the CCD camera is arranged so that the imaging surface is perpendicular to the side surface of the lead frame to be conveyed, the light emitted from the light source is irregularly reflected in order to make the amount of light incident on the CCD camera uniform. Since it is necessary to keep the shadow, when the lead frame is irradiated, the position of the shadow is likely to shift due to the influence of irregular reflection. That is, CCD
In the image input by the camera, when the X-Y plane of the lead frame is illuminated, the size of the plane is large, so that the error rate of the measurement value due to the displacement of the shadow can be suppressed to a small value. When measuring very small dimensions such as deformation of the frame lead in the Z-axis direction (thickness direction), the ratio of errors in the measured values in the thickness direction becomes extremely large, and the accuracy and reliability of the measured values are high. Lack of sex. For this reason, the detection of minute deformation in the Z-axis direction cannot be dealt with by the lead frame inspection device as described above, and the inspection must be performed by visual inspection using a measuring instrument. However, in the inspection by visual inspection, the operation becomes complicated, and it is difficult to shorten the inspection time, and the operation efficiency is suppressed.

【0005】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、リードフレームのリードのZ軸方向の変形
を定量的に測定してリードフレームのリードのZ軸方向
の変形の有無及び変形の程度を自動的に検出できる検査
装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and quantitatively measures the deformation of the lead of the lead frame in the Z-axis direction to determine whether the lead of the lead frame is deformed in the Z-axis direction and whether the lead is deformed. It is an object of the present invention to provide an inspection device capable of automatically detecting the degree of the inspection.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るリードフレーム検査装置は、リードフ
レームを搬送する搬送装置を備えたリードフレーム検査
装置において、前記搬送装置により搬送されるリードフ
レームの厚みを測定しうるようにレーザ寸法測定器を配
設したことを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, a lead frame inspection apparatus according to the present invention is a lead frame inspection apparatus having a transport device for transporting a lead frame, wherein the lead transported by the transport device is provided. A laser size measuring device is provided so that the thickness of the frame can be measured.

【0007】また、本発明は、好ましくは、前記レーザ
寸法測定器は、レーザ光を照射して被測定物に影を生ぜ
しめ、該影から該被測定物の寸法を検出する手段を備え
ていると共に、前記搬送されるリードフレームを厚み方
向に縦断しうる長さに及ぶレーザ光束が該リードフレー
ムの側方から照射可能となるように配設されていること
を特徴とするものである。
In the present invention, preferably, the laser size measuring device includes means for irradiating a laser beam to form a shadow on the object to be measured, and detecting a size of the object to be measured from the shadow. And a laser beam which is long enough to traverse the conveyed lead frame in the thickness direction so as to be radiated from the side of the lead frame.

【0008】即ち、本発明のリードフレーム検査装置
は、従来の検査装置のようにCCDカメラから画像を取
り込んで画像処理を行うのではなく、レーザ寸法測定器
のレーザ放射部及びレーザ受光部が搬送されるリードフ
レームに跨がるようにレーザ寸法測定器を取り付けて、
検査対象となるリードフレームのリードの厚みを定量的
に測定しうるようにしたものであり、更に制御装置を用
いて、該測定値がリードフレームのリードの厚みの基準
値よりも大きい場合にリードがZ軸方向に変形している
ものと判定し、該測定値が許容範囲を超えた場合にリー
ドフレームを不良品と判断できるようにしている。
That is, the lead frame inspection apparatus of the present invention does not take in an image from a CCD camera and perform image processing as in a conventional inspection apparatus, but the laser emitting section and the laser receiving section of the laser size measuring device are transported. Attach a laser dimension measuring device to straddle the lead frame to be
The thickness of the lead of the lead frame to be inspected can be quantitatively measured. Further, when the measured value is larger than the reference value of the lead thickness of the lead frame using the control device, Is determined to be deformed in the Z-axis direction, and when the measured value exceeds the allowable range, the lead frame can be determined to be defective.

【0009】[0009]

【発明の実施形態】以下、本発明によるリードフレーム
検査装置の実施形態につき、図面を用いて説明する。図
1は、本発明によるリードフレーム検査装置の一実施形
態のシステム構成を示す平面図、図2は、本実施形態に
おける検査部を示す斜視図、図3は、本実施形態におけ
るレーザ寸法測定器のセンサヘッドを示す断面図であ
る。本実施形態のリードフレーム検査装置1には、ロー
ダ部2のストッカ2aに積載されたリードフレーム3を
一定間隔で搬送ローラ5の上に移送し得る移送手段(図
示省略)が備えられており、ストッカ2aに積まれたリ
ードフレーム3は、シート毎に搬送部4に自動的に送ら
れるようになっている。搬送部4には、搬送ローラ5が
リードフレーム3を矢印A方向に搬送するように備えら
れている。搬送ローラ5の上部には、一対のストッパ6
が、レーザ寸法測定器7のセンサヘッド8に向かうに従
って次第に間口が狭められるようにして配設されてお
り、ストッパ6は、レーザ寸法測定器1のセンサヘッド
8の内側を通過するように搬送されるリードフレーム3
の向きを補正し得るようになっている。更に、リードフ
レーム検査装置1には、レーザ寸法測定器7のセンサヘ
ッド8を通過後の搬送ローラ5上のリードフレーム3を
アンローダ部10の良品ストッカ10a、或いは、不良
品ストッカ10bにそれぞれ移送し得る移送手段(図示
省略)が備えられている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a lead frame inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a system configuration of an embodiment of a lead frame inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing an inspection section in this embodiment, and FIG. 3 is a laser dimension measuring device in this embodiment. FIG. 4 is a cross-sectional view showing the sensor head of FIG. The lead frame inspection device 1 according to the present embodiment includes a transfer unit (not shown) that can transfer the lead frame 3 loaded on the stocker 2a of the loader unit 2 onto the transport roller 5 at regular intervals. The lead frame 3 loaded on the stocker 2a is automatically sent to the transport unit 4 for each sheet. The transport section 4 is provided with a transport roller 5 for transporting the lead frame 3 in the direction of arrow A. A pair of stoppers 6 are provided above the transport roller 5.
The stopper 6 is disposed so that the frontage is gradually narrowed toward the sensor head 8 of the laser size measuring device 7, and the stopper 6 is conveyed so as to pass through the inside of the sensor head 8 of the laser size measuring device 1. Lead frame 3
Can be corrected. Further, the lead frame 3 on the transport roller 5 after passing through the sensor head 8 of the laser dimension measuring device 7 is transferred to the non-defective product stocker 10a or the defective product stocker 10b of the unloader section 10, respectively. There is provided a transfer means (not shown) for obtaining.

【0010】レーザ寸法測定器7は、図2に示す如く、
レーザ光による走査を行うセンサヘッド8とセンサヘッ
ド8により得られた情報に基づいて検査装置の動作を演
算制御するコントローラ9とを備えている。センサヘッ
ド8は、搬送ローラ5により搬送されるリードフレーム
3に跨がるようにして設けられている。センサヘッド8
の内側には、図3に示す如く、リードフレーム3の厚み
方向に縦断しうる長さに及ぶ平行光束としてレーザ光を
放射するレーザ放射口8aと、受光素子を有しレーザ放
射口8aより放射されたレーザ光を受光するレーザ受光
口8bとが、搬送ローラ5上のリードフレーム3の両側
に対向するように配置されていて、レーザ放射口8aよ
り出射されたレーザ光束が、リードフレーム3の搬送方
向に対し垂直方向(矢印B−B’方向)にライン走査さ
れてレーザ受光口8bに入射されるようになっており、
レーザ受光口8bは、リードフレーム3がセンサヘッド
8を通過するときに生じるリードフレーム3の影を感知
するようになっている。
[0010] As shown in FIG.
The apparatus includes a sensor head 8 that performs scanning with a laser beam, and a controller 9 that arithmetically controls the operation of the inspection apparatus based on information obtained by the sensor head 8. The sensor head 8 is provided so as to straddle the lead frame 3 transported by the transport roller 5. Sensor head 8
As shown in FIG. 3, a laser emission port 8a for emitting a laser beam as a parallel light beam extending over a length that can be traversed in the thickness direction of the lead frame 3, and a laser emission port 8a having a light receiving element and radiating from the laser emission port 8a A laser beam receiving port 8b for receiving the laser beam is disposed so as to face both sides of the lead frame 3 on the transport roller 5, and a laser beam emitted from the laser emitting port 8a Line scanning is performed in the direction perpendicular to the transport direction (the direction of arrow BB ′), and the laser beam is incident on the laser receiving port 8b.
The laser receiving port 8b is configured to sense a shadow of the lead frame 3 generated when the lead frame 3 passes through the sensor head 8.

【0011】また、センサヘッド8は、コントローラ接
続用ケーブル9aを介してコントローラ9に接続されて
いる。コントローラ9の内部には、例えば、記憶領域
に、検査対象となるリードフレームの種類に従ってリー
ドの板厚の基準値及び許容範囲を示す基準データが予め
格納されている。また、コントローラ9の内部には、レ
ーザ受光口8bのセンサにより影として感知した時間を
リードフレームのリードの板厚の寸法に変換する演算処
理装置が組み込まれ、更に、演算処理して求められたリ
ードの厚みと予め記憶装置に格納されたリードの厚みの
基準値と比較して、基準データと比較処理することによ
りリードのZ軸方向の変形の有無を検出すると共に測定
値を基準の許容範囲と比較して、リードフレームの品質
の良否を判定するようにした処理装置が組み込まれてい
る。更に、コントローラ9の内部には、リードフレーム
の品質の良否の判定結果に応じて、リードフレームをア
ンローダ部10の不良品ストッカ10b或いは良品スト
ッカ10aに区分けして送り込むようにローラー5の駆
動を制御し得るようにした処理装置が組み込まれてい
る。尚、コントローラ9は、ケーブル9b等を介してア
ンロード部10に接続されている。
The sensor head 8 is connected to the controller 9 via a controller connection cable 9a. In the controller 9, for example, a reference value indicating a lead plate thickness and a reference data indicating an allowable range are stored in advance in a storage area in accordance with a type of a lead frame to be inspected. In the controller 9, an arithmetic processing unit for converting the time detected as a shadow by the sensor of the laser light receiving port 8b as a dimension of the thickness of the lead of the lead frame is incorporated. The thickness of the lead is compared with a reference value of the thickness of the lead previously stored in a storage device, and a comparison process is performed with reference data to detect the presence or absence of deformation of the lead in the Z-axis direction and to use the measured value as a reference allowable range. And a processing device for determining whether the quality of the lead frame is good or not. Further, inside the controller 9, the drive of the roller 5 is controlled so that the lead frame is divided and sent to the defective stocker 10b or the non-defective stocker 10a of the unloader section 10 in accordance with the determination result of the quality of the lead frame. And a processing device adapted to perform the processing. Note that the controller 9 is connected to the unload unit 10 via a cable 9b or the like.

【0012】本実施形態によるリードフレーム検査装置
によれば、レーザ放射口8aよりリードフレーム3の厚
み方向に縦断しうる長さに及ぶレーザ光束が、搬送され
るリードフレーム3の側方より出射されており、リード
フレーム3がレーザ寸法測定器7のセンサヘッド8を通
過する際、レーザ光束は搬送されるリードフレーム3に
対しライン走査されてレーザ受光口8bに入射せしめら
れ、レーザ受光口8bに入射された情報は、信号として
コントローラ9に送り込まれる。この場合、リードフレ
ーム3の側面に照射されたレーザ光は、レーザ受光口8
bには入射されず、レーザ受光口8bでは、その部分が
影として感知される。
According to the lead frame inspection apparatus of the present embodiment, the laser beam that extends in the thickness direction of the lead frame 3 from the laser emission port 8a is emitted from the side of the lead frame 3 being conveyed. When the lead frame 3 passes through the sensor head 8 of the laser size measuring device 7, the laser beam is line-scanned with respect to the lead frame 3 to be conveyed and is made to enter the laser receiving port 8b. The incident information is sent to the controller 9 as a signal. In this case, the laser light applied to the side surface of the lead frame 3 is
b, the portion is sensed as a shadow at the laser receiving port 8b.

【0013】図4は、本実施形態のコントローラによる
リードのZ軸方向の変形有無の検査手順を示すフローチ
ャートである。コントローラ9の内部に設けられた制御
装置は、レーザ受光部8bにおいて影を生じた時間を演
算処理してリードフレームのリードの厚みに換算する
(ステップS1)。こうして、リードフレームのリード
の厚みが定量的に測定される。リードの厚みを測定した
後に、コントローラ9の内部記憶領域に予め格納されて
いる検査対象のリードフレームと同種のリードフレーム
のリードの基準板厚値を検索して求め(ステップS
2)、リードの厚みについて、測定値と予め定めておい
た所定の基準板厚値とを比較する(ステップS3)。
FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for inspecting whether or not the lead is deformed in the Z-axis direction by the controller according to the present embodiment. The control device provided inside the controller 9 calculates the time when the shadow is generated in the laser light receiving unit 8b and converts it into the thickness of the lead of the lead frame (step S1). Thus, the thickness of the lead of the lead frame is quantitatively measured. After measuring the lead thickness, a reference plate thickness value of a lead of a lead frame of the same type as the lead frame to be inspected stored in the internal storage area of the controller 9 in advance is obtained (step S).
2) For the lead thickness, the measured value is compared with a predetermined reference plate thickness value (step S3).

【0014】測定値が基準の板厚値よりも大きい場合に
は、リードがZ軸方向に変形しているものと判定し、更
に、測定値を許容範囲と比較する(ステップS4)。測
定値が許容範囲を超えた場合には、そのリードフレーム
を不良品と判定してアンローダ部の不良品ストッカ10
bに送り込み(ステップS5)、測定値が許容範囲を超
えない場合、及び測定値が基準の板厚値を超えていない
場合には、その他のリードフレームは良品と判定して良
品ストッカ10aに送り込む(ステップS6)ように移
送手段(図示省略)を駆動する。尚、上記リードフレー
ムのリードの変形判定の際に、リードの変形量を図示省
略した表示部により表示するように制御してもよい。
If the measured value is larger than the reference plate thickness value, it is determined that the lead is deformed in the Z-axis direction, and the measured value is compared with an allowable range (step S4). If the measured value exceeds the allowable range, the lead frame is determined to be defective and the defective stocker 10 in the unloader section is determined.
b (step S5), if the measured value does not exceed the allowable range, and if the measured value does not exceed the reference plate thickness value, the other lead frames are determined to be non-defective and sent to the non-defective stocker 10a. The transfer means (not shown) is driven as in (Step S6). When determining the lead deformation of the lead frame, the lead deformation may be controlled to be displayed on a display unit (not shown).

【0015】本実施形態によれば、搬送されるリードフ
レームの厚み方向を縦断する範囲で平行光束のレーザ光
を照射したときに生じたリードフレームの影によりリー
ドフレームのリードの厚みを測定するようにし、レーザ
光を平行光線の状態のままリードフレームを照射するよ
うにしたので、レーザ受光口8bにおいて感知される影
はリードの外形を正確に反映し、その結果、厚みの測定
精度は極めて高くなり、リードの厚み方向(Z軸方向)
の変形量を極めて微小な単位で測定することが可能とな
る。
According to this embodiment, the thickness of the lead of the lead frame is measured by the shadow of the lead frame generated when the laser beam of the parallel light beam is irradiated within a range that traverses the thickness direction of the lead frame being conveyed. Since the laser beam is irradiated on the lead frame in the state of parallel rays, the shadow sensed at the laser receiving port 8b accurately reflects the outer shape of the lead, and as a result, the thickness measurement accuracy is extremely high. And lead thickness direction (Z-axis direction)
It is possible to measure the amount of deformation in extremely small units.

【0016】[0016]

【実施例】本実施形態のリードフレーム検査装置を用い
て、板材の厚さが0.15mmのリードフレームのリー
ドのZ軸方向の変形を測定した結果、0.1μm単位で
最大2mm程度までのZ軸方向の変形を検出することが
できた。
EXAMPLE Using the lead frame inspection apparatus of the present embodiment, the deformation of the lead of a lead frame having a thickness of 0.15 mm in the Z-axis direction was measured. The deformation in the Z-axis direction could be detected.

【0017】尚、本発明によるリードフレーム検査装置
は、レーザ寸法測定器によりリードフレームのリードの
厚みを測定することができるものであれば、本実施形態
の如き配置構成に限定されるものではない。また、本発
明に従来のCCDによるリードフレーム検査装置を組み
合わせて、リードフレームおけるリードのX−Y平面の
変形検査については、CCDの画像入力によって行い、
Z軸方向の変形検査については、レーザ寸法測定器によ
るレーザ走査によって行うようにしてもよい。
The lead frame inspection apparatus according to the present invention is not limited to the arrangement of this embodiment as long as the lead thickness of the lead frame can be measured by a laser dimension measuring device. . In addition, the present invention is combined with a conventional CCD lead frame inspection apparatus, and the lead XY plane deformation inspection of the lead frame is performed by CCD image input.
The deformation inspection in the Z-axis direction may be performed by laser scanning using a laser dimension measuring device.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明の装置によれば、従来機械による
自動検査が不可能であったリードフレームのリードのZ
軸方向の変形の自動検査が可能となり、検査作業効率及
びコストを向上させることができる。
According to the apparatus of the present invention, the Z of the lead of the lead frame, which cannot be automatically inspected by a conventional machine, can be obtained.
Automatic inspection of deformation in the axial direction becomes possible, and inspection efficiency and cost can be improved.

【0019】[0019]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるリードフレーム検査装置のシステ
ム構成の一実施形態を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a system configuration of a lead frame inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本実施形態におけるレーザ寸法測定器のセンサ
ヘッドを示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a sensor head of the laser dimension measuring device according to the embodiment.

【図3】本実施形態におけるリードフレーム検査装置の
検査部を示す部分斜視図である。
FIG. 3 is a partial perspective view showing an inspection unit of the lead frame inspection device according to the embodiment.

【図4】本実施形態におけるレーザ寸法測定器のコント
ローラによるリードのZ軸方向の変形有無の検査手順を
示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for inspecting whether or not a lead is deformed in a Z-axis direction by a controller of the laser dimension measuring device according to the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム検査装置 2 ローダ部 2a ローダ部ストッカ 3 リードフレーム 4 搬送部 5 搬送ローラ 6 ストッパ 7 レーザ寸法測定器 8 レーザ寸法測定器ヘッド 8a レーザ放射口 8b レーザ受光口 9 レーザ寸法測定器コントローラ 9a コントローラ接続ケーブル 10 アンローダ部 10a アンローダ良品ストッカ 10b アンローダ不良品ストッカ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lead frame inspection apparatus 2 Loader part 2a Loader part stocker 3 Lead frame 4 Transport part 5 Transport roller 6 Stopper 7 Laser dimension measuring device 8 Laser dimension measuring head 8a Laser emission port 8b Laser light receiving port 9 Laser dimension measuring controller 9a Controller Connection cable 10 Unloader section 10a Unloader non-defective product stocker 10b Unloader defective product stocker

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】リードフレームを搬送する搬送装置を備え
たリードフレーム検査装置において、 前記搬送装置により搬送されるリードフレームの厚みを
測定しうるようにレーザ寸法測定器を配設したことを特
徴とするリードフレーム検査装置。
1. A lead frame inspection apparatus provided with a transport device for transporting a lead frame, wherein a laser dimension measuring device is provided so as to measure the thickness of the lead frame transported by the transport device. Lead frame inspection equipment.
【請求項2】前記レーザ寸法測定器は、レーザ光を照射
して被測定物に影を生ぜしめ、該影から該被測定物の寸
法を検出する手段を備えていると共に、前記搬送される
リードフレームを厚み方向に縦断しうる長さに及ぶレー
ザ光束が該リードフレームの側方から照射可能となるよ
うに配設されていることを特徴とする請求項1に記載の
リードフレーム検査装置。
2. The laser size measuring device according to claim 1, further comprising: means for irradiating a laser beam to form a shadow on the object to be measured, and detecting a size of the object to be measured from the shadow, and further comprising the means for transporting the object. 2. The lead frame inspection apparatus according to claim 1, wherein the laser beam is provided so as to be able to irradiate the laser beam from the side of the lead frame so as to be able to traverse the lead frame in the thickness direction. 3.
JP10612397A 1997-04-23 1997-04-23 Lead frame inspection device Pending JPH10300436A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100372118B1 (en) * 2001-02-09 2003-02-14 성우전자 주식회사 Lead Frame Inspection Device
CN109631780A (en) * 2019-01-10 2019-04-16 常州工学院 Lithium battery film thickness measuring method and device based on roller conveyor
CN109827968A (en) * 2019-01-10 2019-05-31 常州工学院 Lithium battery film thickness and detection method of surface flaw and device based on conveyer belt

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