JPH10289844A - 荷電粒子ビーム露光方法及びシステム - Google Patents

荷電粒子ビーム露光方法及びシステム

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JPH10289844A
JPH10289844A JP9094200A JP9420097A JPH10289844A JP H10289844 A JPH10289844 A JP H10289844A JP 9094200 A JP9094200 A JP 9094200A JP 9420097 A JP9420097 A JP 9420097A JP H10289844 A JPH10289844 A JP H10289844A
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Japan
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stage
charged particle
particle beam
scanning
beam exposure
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JP9094200A
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Nobuyuki Yasutake
信幸 安武
Yoshihisa Daikyo
義久 大饗
Kazuji Ishida
和司 石田
Hiroshi Yasuda
洋 安田
Akiyoshi Tsuda
章義 津田
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Advantest Corp
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Advantest Corp
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】連設された複数の荷電粒子ビーム露光装置の設
置スペースを低減し、かつ、ステージの振動を低減す
る。 【解決手段】複数のウェーハ16A〜16Eがそれぞれ
ウェーハホルダ20A〜20Eを介して搭載される1つ
の走査用ステージ19と、走査用ステージ19の下方に
配設されたバランス用ステージ21とを用い、複数の荷
電粒子ビーム露光装置10A〜10Eについて共通の露
光データに基づき走査用ステージ19を走査させ、走査
用ステージ19とバランス用ステージ21との重心Gが
不動点になるようにバランス用ステージ21を走査させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、連設された複数の
荷電粒子ビーム露光装置を並列的に動作させる荷電粒子
ビーム露光方法及びシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】設置スペースを狭くするために複数の荷
電粒子ビーム露光装置を連設し、各々に備えられたステ
ージ上にウェーハを搭載し、複数枚のウェーハに対し同
一露光データで同時に露光を行う荷電粒子ビーム露光シ
ステムが提案されている。しかし、各ステージが同一方
向へ移動するので、その僅かな振動が増幅される。半導
体集積回路の高集積化に伴い露光パターンが微細になる
と、ステージの僅かな振動が露光位置の誤差に大きく影
響する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この振動を防止するた
め、図4(A)に示す如く、2つの荷電粒子ビーム露光
装置1A及び1Bを並設し、各々のステージ19A及び
19Bを、両者の重心Gが動かないように走査させる方
法が提案されている。この方法では、図4(B)に示す
如く、点Qについてウェーハ16A上の露光パターンと
ウェーハ16B上の露光パターンとが対称になるように
露光される。
【0004】しかしながら、2つの荷電粒子ビーム露光
装置1A及び1Bが単に並設されているので、設置スペ
ースを両者のそれの和よりも狭くすることができない。
本発明の目的は、このような問題点に鑑み、連設された
複数の荷電粒子ビーム露光装置の設置スペースを低減す
ることができ、且つ、ステージの振動を低減することが
できる荷電粒子ビーム露光方法及びシステムを提供する
ことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段及びその作用効果】請求項
1では、連設された複数の荷電粒子ビーム露光装置で、
複数の荷電粒子ビーム及び試料を走査させながら、該複
数の試料を同時並列的に露光させる荷電粒子ビーム露光
方法において、該複数の試料が搭載される1つの走査用
ステージとバランス用ステージとを用い、該走査用ステ
ージの走査に対し、該走査用ステージと該バランス用ス
テージとの重心が不動点になるように該バランス用ステ
ージを走査させる。
【0006】この荷電粒子ビーム露光方法によれば、連
設された複数の荷電粒子ビーム露光装置に対し共通の走
査用ステージを1つ用いているので、独立な走査用ステ
ージを複数用いた場合よりもウェーハ間隔を狭くするこ
とができ、結果として、1つの荷電粒子ビーム露光装置
当たりの設置スペースを図4(A)の場合よりも狭くす
ることができるという効果を奏する。
【0007】また、走査用ステージの走査に対し走査用
ステージとバランス用ステージとの重心が不動点になる
ようにバランス用ステージを走査させるので、バランス
用ステージを用いなかった場合に生ずる走査用ステージ
の振動が低減されるという効果を奏し、露光パターンの
精度向上、回路素子の微細化及び半導体集積回路の大規
模化に寄与するところが大きい。
【0008】さらに、走査用ステージ上に複数の試料を
互いに同一方向に搭載すればよいので、この方向が異な
る場合よりも、ウェーハ搭載装置の構成が簡単になると
いう効果を奏する。請求項2の荷電粒子ビーム露光方法
では、請求項1において、上記バランス用ステージを上
記走査用ステージの下方で走査させる。
【0009】この荷電粒子ビーム露光方法によれば、上
記設置スペースをさらに狭くすることができるという効
果を奏する。請求項3の荷電粒子ビーム露光方法では、
請求項1又は2において、上記複数の荷電粒子ビーム露
光装置に共通の露光データに基づき上記走査用ステージ
の走査及び露光を行う。 この荷電粒子ビーム露光方法
によれば、荷電粒子ビーム露光装置の制御が簡単にな
る。
【0010】請求項4の荷電粒子ビーム露光方法では、
請求項1乃至3のいずれか1つにおいて、上記試料が複
数収容された1つのカセットから該試料を取り出してこ
れを上記走査用ステージの、上記複数の荷電粒子ビーム
露光装置の各々に対応した位置に搭載する。この荷電粒
子ビーム露光方法によれば、1つのカセットを用いれば
よいので、荷電粒子ビーム露光システムの構成が簡単に
なるという効果を奏する。
【0011】請求項5では、連設された複数の荷電粒子
ビーム露光装置で、複数の荷電粒子ビーム及び試料を走
査させながら、該複数の試料を同時並列的に露光させる
荷電粒子ビーム露光システムにおいて、該複数の試料が
搭載される1つの走査用ステージと、バランス用ステー
ジと、該走査用ステージの走査に対し、該走査用ステー
ジと該バランス用ステージとの重心が不動点になるよう
に該バランス用ステージを走査させるステージ制御装置
とを有する。
【0012】請求項6の荷電粒子ビーム露光システムで
は、請求項5において、上記バランス用ステージが上記
走査用ステージの下方に配置されている。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態を説明する。図1は、荷電粒子ビーム露光シス
テムの概略構成図であり、図2は、このシステムの一部
の概略右側面図であり、図3は、このシステムの試料室
内の概略平面図である。
【0014】図1に示す如く、このシステムは、互いに
同一構成の荷電粒子ビーム露光装置10A〜10Eが連
設されている。真空チャンバは、1列に等間隔で並設さ
れたコラム2A〜2Eが試料室3上に立設された形状と
なっている。図1〜3において、コラム2A〜2E内の
対応する構成要素には、同一番号を付しさらにそれぞれ
A〜Eを付加しており、また、コラム2A〜2E内の光
学系は、その一部のみ示されている。
【0015】コラム2A内では、荷電粒子銃11Aから
射出された荷電粒子ビームEBA、例えば電子ビーム
が、絞り12Aの矩形アパーチャを通って成形され、さ
らにマスク13Aを通って成形される。マスク13Aの
種類は、矩形アパーチャが1つ形成されたマスク、透過
孔のブロックパターンが複数形成されたステンシルマス
ク又はブランキングアパーチャアレイなどのいずれであ
ってもよい。マスクの種類により光学系の一部も異なる
が、図1中にはマスク13Aの種類によらない光学系の
みが示されている。
【0016】マスク13Aを通った荷電粒子ビームEB
Aは、絞り14Aの円形アパーチャ位置でビーム立体角
が制限され、次いで対物レンズ15Aを通り、試料室3
内の試料としてのウェーハ16A上に収束照射される。
これにより、マスク13Aのパターンがウェーハ16A
上に縮小投影露光される。照射位置は、荷電粒子ビーム
EBAが主偏向器17A及び副偏向器18Aを通るとき
に偏向されてウェーハ16A上で走査される。コラム2
B〜2E内についてもコラム2A内と同じである。
【0017】試料室3内には、荷電粒子ビーム露光装置
10A〜10Eに共通の試料走査用ステージ19が配設
されている。このステージ19は、コラム2A〜2Eの
列方向である図示Y方向に移動可能なYステージ191
と、Yステージ191に対しY方向と直角なX方向(紙
面垂直方向)に移動可能なXステージ192とを備えて
いる。Yステージ191は、その側部に突設された送り
バー193がパルスモータ194で軸方向に駆動される
ことにより、不図示のガイドで案内されてY方向に移動
する。Xステージ192は、その側部に紙面垂直方向へ
突設された送りバー195が不図示のパルスモータで軸
方向に駆動されることにより、不図示のガイドで案内さ
れてX方向に移動する。
【0018】図1に示す如く、ステージ19上には、コ
ラム2A〜2Eに対応してそれぞれウェーハホルダ20
A〜20Eが設置されている。ウェーハホルダ20A〜
20Eは、それぞれウェーハ16A〜16Eを固定し、
且つ、ステージ19に対しそれぞれウェーハ16A〜1
6EのX方向位置、Y方向位置及び面内回転角を微調整
するためのものである。ウェーハホルダ20A〜20E
は、ウェーハ固定具として例えば押さえ板を用い、微調
整用アクチュエータとして例えばピエゾ素子を用いてい
る。この微調整は、ウェーハホルダ20A〜20Eの上
方にそれぞれ配置された不図示のCCDカメラでウェー
ハ16A〜16Eを撮像し、ウェーハ16A〜16Eの
各々に形成された複数のマークの位置を検出し、その位
置の目標位置からのずれに基づいて行われる。
【0019】ステージ19の下方には、ステージ19と
の重心を不動にするためのバランス用ステージ21が配
設されている。バランス用ステージ21は、ステージ1
9と同様の構成であり、Y方向に移動可能なYステージ
211と、Yステージ211に対しX方向に移動可能な
Xステージ212とを備えている。Yステージ211
は、その側部に突設された送りバー213がパルスモー
タ214で軸方向に駆動されることにより、不図示のガ
イドで案内されてY方向に移動する。Xステージ212
は、その側部に紙面垂直方向へ突設された送りバー21
5が不図示のパルスモータで軸方向に駆動されることに
より、不図示のガイドで案内されてX方向に移動する。
【0020】図1のパルスモータ194及び214並び
に図2のパルスモータ196及び216はそれぞれ、図
1のステージ制御装置30から供給される駆動信号SY
1、SY2、SX1及びSX2により駆動される。駆動
信号SY1及びSX1は、記憶装置31に格納された露
光データに基づいてシステム制御装置32から供給され
る走査用ステージ19の目標位置(X1,Y1)により
定められる。駆動信号SY2及びSX2は、走査用ステ
ージ19とバランス用ステージ21との重心G(XG,
YG)が不動点になるように定められる。すなわち、走
査用ステージ19及びバランス用ステージ21の質量を
それぞれM1及びM2とすると、駆動信号SY2及びS
X2は、バランス用ステージ21の目標位置(X2,Y
2)、 X2=XG+(M2/M1)(XG−X1) Y2=YG+(M2/M1)(YG−Y1) により定められる。例えばM1=M2、XG=YG=0
の場合には、X2=−X1、Y2=−Y1となり、両目
標位置が重心Gについて点対称になる。
【0021】荷電粒子ビーム露光装置10A〜10Eの
荷電粒子ビームEBA〜EBEは、システム制御装置3
2からそれぞれビーム制御装置33A〜33Eを介して
制御される。システム制御装置32は、記憶装置31に
格納された露光データに基づいて、ビーム制御装置33
A〜33Eへ共通の信号を供給する。ビーム制御装置3
3A〜33Eは、互いに同一構成であるが、荷電粒子ビ
ーム露光装置10A〜10Eの各々の光学系の取り付け
位置や感度にばらつきがあるので、これを補正するため
のパラメータを保持するレジスタを備えている。ビーム
制御装置33A〜33Eはそれぞれ、同一の露光パター
ンが得られるようにするため、システム制御装置32か
らの共通の信号を、該レジスタに保持されたパラメータ
で補正して、光学系を介し荷電粒子ビームEBA〜EB
Eを制御する。
【0022】試料室3内には、図3に示す如く、ウェー
ハホルダ20A〜20E上のウェーハを自動交換するた
めの装置が備えられている。すなわち、ウェーハホルダ
20A〜20Eの側方にそれぞれアームロボット40A
〜40Eが設置されている。アームロボット40Aは、
紙面垂直方向の回転軸41Aを中心として回転可能なア
ーム42Aと、アーム42Aの一端部に関節43Aを介
して取り付けられたアーム44Aと、アーム42Aの他
端部に関節45Aを介して取り付けられたアーム46A
と、アーム44A及び46Aの先端部にそれぞれ取り付
けられた吸着部47A及び48Aとを備えている。ま
た、アームロボット40A〜40Eの側方に搬送装置5
0A〜50Eが、リング状のガイド51に沿って移動可
能に備えられている。
【0023】試料室3の側面には、ロード室60が取着
されている。ロード室60には、試料室3側とその反対
側とにそれぞれ気密用シャッタ61及び62が備えられ
ている。ロード室60内には、5枚以上のウェーハが収
容されるウェーハカセット63がシャッタ62側に配置
され、また、構成が不図示のローダ64がシャッタ61
側に設置されている。
【0024】次に、上記の如く構成された本実施形態の
動作を説明する。 (1)シャッタ61が閉じられた状態でシャッタ62が
開けられ、ロード室60内に、処理前のウェーハが5枚
以上収容されたウェーハカセット63が入れられ、シャ
ッタ62が閉じられる。ロード室60内が排気されて真
空にされた後、シャッタ61が開けられる。
【0025】(2)一方では、搬送装置50A〜50E
がガイド51に沿って1方向に移動され、他方では、ロ
ーダ64により、ウェーハカセット63内のウェーハが
取り出され、さらにローダ64と対向する位置に移動し
た搬送装置50A上にウェーハが搭載され、この取り出
し及び搭載の動作が5回繰り返される。搬送装置50A
〜50Eがガイド51を一周した時、このような動作に
より搬送装置50A〜50E上に処理前のウェーハが1
枚ずつ搭載されている。
【0026】(3)この状態で、搬送装置50A〜50
E上のウェーハとウェーハホルダ20A〜20E上のウ
ェーハとがそれぞれアームロボット40A〜40Eによ
り交換される。この交換は、アームロボット40A〜4
0Eにより同時並行的に行われるが、図3では、アーム
ロボット40Aの動作を、アームロボット40A〜40
Dの状態を参照して以下に説明するために、不揃いの状
態を表している。
【0027】図3において、アームロボット40Aは交
換前の状態を示しており、この状態からアーム44A及
び46Aを旋回させると、アームロボット40Aは図示
アームロボット40Bのような状態になり、処理前後の
ウェーハ56A及び16Aがそれぞれ吸着部48A及び
47Aで吸着される。次にアーム44A及び46Aをさ
らに旋回させながらアーム42Aを反時計回りに回転さ
せると、アームロボット40Aは図示アームロボット4
0Cのような状態になる。この状態からアーム42Aを
さらに回転させ、アーム44A及び46Aを逆方向に旋
回させると、アームロボット40Aは図示アームロボッ
ト40Dのような状態になる。ウェーハ56A及び16
Aがそれぞれ吸着部48A及び47Aから離脱されてそ
れぞれウェーハホルダ20A及び搬送装置50A上に搭
載される。
【0028】アームロボット40B〜40Eもアームロ
ボット40Aと同様に動作する。 (4)次に、一方では、上記(2)について時間を逆に
した動作が行われて、搬送装置50A〜50E上の処理
後のウェーハがウェーハカセット63内に収容され、シ
ャッタ61が閉じられる。他方では、ウェーハホルダ2
0A〜20E上のウェーハの位置が上述のように微調整
され、ウェーハホルダ20A〜20E上にウェーハが固
定される。
【0029】(5)次に、システム制御装置32は、記
憶装置31に格納された、荷電粒子ビーム露光装置10
A〜10Eに共通の露光データを用い、ステージ制御装
置30及びビーム制御装置33A〜33Eを介して、ウ
ェーハホルダ20A〜20E上のウェーハに対する同時
並列的露光処理を行う。ステージ制御装置30は、上述
の如く走査用ステージ19とバランス用ステージ21と
の重心Gが動かないようにバランス用ステージ21を駆
動する。
【0030】本実施形態によれば、バランス用ステージ
21のこのような駆動により、バランス用ステージ21
を用いなかった場合に生ずる走査用ステージ19の振動
が低減されて、露光パターンの精度が向上し、より微細
な素子を備えた半導体集積回路が得られる。また、連設
された荷電粒子ビーム露光装置10A〜10Eに対し共
通の走査用ステージ19を用いているので、図4(A)
のように互いに独立な荷電粒子ビーム露光装置1A及び
1Bを隙間無く並設した場合よりもウェーハ間隔を狭く
することができ、結果として、1つの荷電粒子ビーム露
光装置当たりの設置スペースを図4(A)の場合よりも
狭くすることができる。この効果は、バランス用ステー
ジ21を走査用ステージ19の下方に設置したことによ
り高められる。
【0031】さらに、ウェーハホルダ20A〜20E上
にそれぞれウェーハ16A〜16Eを互いに同一方向に
搭載すればよいので、図4(B)のようにこの方向が異
なる場合よりも、ウェーハ搭載装置の構成、例えば図3
のアームロボット40A〜40E又はローダ64の構成
が簡単になる。なお、本発明には外にも種々の変形例が
含まれる。
【0032】例えば、バランス用ステージ21は走査用
ステージ19の側方、例えば図2のアームロボット40
A〜40Eの下方に配設してもよい。また、バランス用
ステージ21は、走査用ステージ19と同一のものであ
ってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の荷電粒子ビーム露光シス
テム概略構成図である。
【図2】図1のシステムの一部の概略右側面図である。
【図3】図1のシステムの概略平面図である。
【図4】(A)は本発明と対比される荷電粒子ビーム露
光システムを示す概略構成図であり、(B)はウェーハ
の点対称露光を示す図である。
【符号の説明】
2A〜2E コラム 3 試料室 10A〜10E 荷電粒子ビーム露光装置 11A〜11E 荷電粒子銃 12A、14A 絞り 13A マスク 15A 対物レンズ 16A〜16E、56A〜56E ウェーハ 19 走査用ステージ 191、211 Yステージ 192、212 Xステージ 193、195、213、215 送りバー 194、196、214、216 パルスモータ 20A〜20E ウェーハホルダ 30 ステージ制御装置 31 記憶装置 32 システム制御装置 33A〜33E ビーム制御装置 40A〜40E アームロボット 50A〜50E 搬送装置 60 ロード室
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大饗 義久 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 石田 和司 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 安田 洋 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 津田 章義 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 連設された複数の荷電粒子ビーム露光装
    置で、複数の荷電粒子ビーム及び試料を走査させなが
    ら、該複数の試料を同時並列的に露光させる荷電粒子ビ
    ーム露光方法において、 該複数の試料が搭載される1つの走査用ステージとバラ
    ンス用ステージとを用い、 該走査用ステージの走査に対し、該走査用ステージと該
    バランス用ステージとの重心が不動点になるように該バ
    ランス用ステージを走査させることを特徴とする荷電粒
    子ビーム露光方法。
  2. 【請求項2】 上記バランス用ステージを上記走査用ス
    テージの下方で走査させることを特徴とする請求項1記
    載の荷電粒子ビーム露光方法。
  3. 【請求項3】 上記複数の荷電粒子ビーム露光装置に共
    通の露光データに基づき上記走査用ステージの走査及び
    露光を行うことを特徴とする請求項1又は2記載の荷電
    粒子ビーム露光方法。
  4. 【請求項4】 上記試料が複数収容された1つのカセッ
    トから該試料を取り出してこれを上記走査用ステージ
    の、上記複数の荷電粒子ビーム露光装置の各々に対応し
    た位置に搭載することを特徴とする請求項1乃至3のい
    ずれか1つに記載の荷電粒子ビーム露光方法。
  5. 【請求項5】 連設された複数の荷電粒子ビーム露光装
    置で、複数の荷電粒子ビーム及び試料を走査させなが
    ら、該複数の試料を同時並列的に露光させる荷電粒子ビ
    ーム露光システムにおいて、 該複数の試料が搭載される1つの走査用ステージと、 バランス用ステージと、 該走査用ステージの走査に対し、該走査用ステージと該
    バランス用ステージとの重心が不動点になるように該バ
    ランス用ステージを走査させるステージ制御装置と、 を有することを特徴とする荷電粒子ビーム露光システ
    ム。
  6. 【請求項6】 上記バランス用ステージが上記走査用ス
    テージの下方に配置されていることを特徴とする請求項
    5記載の荷電粒子ビーム露光システム。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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