JPH10289500A

JPH10289500A - 光ディスク装置およびその再生パワー設定方法

Info

Publication number: JPH10289500A
Application number: JP9762597A
Authority: JP
Inventors: Goro Fujita; 五郎藤田
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1997-04-15
Filing date: 1997-04-15
Publication date: 1998-10-27

Abstract

(57)【要約】【課題】光ディスクの再生が常に良好に行われるように
する。【解決手段】例えば、ＭＳＲ方式の光ディスク（ＺＣＡ
Ｖ方式）を使用するディスク装置である。各ゾーンのテ
ストトラック領域ＡＲｔに２Ｔパターン及び４Ｔパター
ンを書き込み（ST5）、その再生信号の振幅の比ＡＭ_2T
／ＡＭ_4Tを算出し（ST8）、ｋ＝ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tが最適
解像度データｋoに対して１％の誤差範囲に入るように
再生パワーＰ(i)を制御し（ST7,ST9）、この再生パワー
Ｐ(i)を再生パワー設定値としてメモリに書き込む（ST1
1）。また、光ディスク１１の温度を一定時間間隔で検
出し、連続する２時点の温度の差が所定値以上となると
き、再生パワー設定値を温度差に応じて修正する。そし
て、再生時には、この再生パワー設定値に基づいて再生
パワーを設定する。最適解像度データｋoに対応する再
生パワーでは、エラーレートが最低となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、例えばＭＳＲ
（Magnetic Super Resolution）方式の光ディスクを再
生する光ディスク装置等に適用して好適な光ディスク装
置およびその再生パワー設定方法に関する。詳しくは、
光ディスクに反転間隔が異なる第１および第２のパター
ンデータを書き込み、これら第１および第２のパターン
データの再生信号の振幅の比がほぼ最適解像度に対応し
たものとなるレーザビームのパワーを再生パワー設定値
とすることによって、光ディスクの再生が良好に行われ
るようにした光ディスク装置およびその再生パワー設定
方法に係るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光磁気ディスクを再生する光ディ
スク装置において、光磁気ディスクに照射されるレーザ
ビームのパワーは、Ｓ／Ｎ的に必要なパワー以上であれ
ばある程度の誤差は再生上問題なかった。

【０００３】近時、再生層と記録層とを有し、再生層の
磁化状態を変化させながら磁気光学効果により記録層に
書き込まれたデータを読み出すように構成された光ディ
スクを使用して超解像再生特性を得るようにしたＭＳＲ
方式が提案されている。このＭＳＲ方式は、基本的に
は、ＦＡＤ（Front Aperture Detection）方式、ＲＡＤ
（Rear Aperture Detection）方式、ＣＡＤ（Center Ap
erture Detection）方式の３つの方式に分類される。

【０００４】ここで、ＣＡＤ方式について、その再生原
理を説明する。図７Ａに示すように、光ディスク１００
は、再生層１０１と記録層１０２とを有している。再生
層１０１にレーザビームＬＢが照射されると、この再生
層１０１の温度は、図７Ｂに示すような分布となり、温
度が閾値Ｔh以上となるところでは、垂直磁化状態とな
り、センターアパーチャＷが形成される。この場合、再
生層１０１と記録層１０２とは静磁結合しており、記録
層１０２から発生する漏洩磁界の状態によって決定され
るセンターアパーチャＷ内の再生層１０１の磁化方向の
み検出されることとなり、超解像再生が実現される。

【０００５】このようなＭＳＲ方式によれば、レーザス
ポット径よりも小さな領域の情報を取り出すことがで
き、（１）式に示される遮断周波数ｆsによる制限を越
えた記録密度で記録されたデータの再生も可能となる。
ここで、ＮＡは光ディスク再生装置の対物レンズの開口
数、λは光ディスク再生装置が使用するレーザビームの
波長である。ｆs＝２ＮＡ／λ ・・・（１）

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、ＣＡ
Ｄ方式の場合、レーザスポットの中心部分の高温部のみ
が再生に寄与することを利用して、ＭＴＦ特性を向上さ
せている。しかし、再生パワー値やメディアの感度およ
び温度に対して敏感となり、ＭＴＦ特性が変化しやすい
系でデータ検出の安定性を欠いていた。つまり、図８に
ＭＴＦ特性を示すように、再生パワーが低くなると遮断
周波数は高くなるが信号振幅値が小さくなり、逆に再生
パワーが高くなると信号振幅値は大きくなるが遮断周波
数は低くなる。

【０００７】そこで、この発明では、光ディスクの再生
が良好に行われるようにした光ディスク装置およびその
再生パワー設定方法を提供するものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
ク装置は、光ディスクに第１のパターンデータと、この
第１のパターンデータより長い反転間隔を有する第２の
パターンデータとを書き込むテストパターン記録手段
と、光ディスクにレーザビームを照射すると共に、その
光ディスクで反射されたレーザビームより再生信号を得
る信号再生手段と、光ディスクに照射されるレーザビー
ムのパワーを変更するレーザパワー変更手段と、光ディ
スクに照射されるレーザビームのパワーが、信号再生手
段より得られる第１および第２のパターンデータの再生
信号の振幅の比がほぼ最適解像度に対応したものとなる
第１のパワーに変更されるようにレーザパワー変更手段
を制御し、この第１のパワーを再生パワー設定値とする
再生パワー決定手段とを備えるものである。

【０００９】また、この発明に係る光ディスク装置の再
生パワー設定方法は、光ディスクに第１のパターンデー
タと、この第１のパターンデータより長い反転間隔を有
する第２のパターンデータとを書き込む工程と、光ディ
スクにレーザビームを照射すると共に、その光ディスク
で反射されたレーザビームより第１および第２のパター
ンデータの再生信号を得る工程と、光ディスクに照射さ
れるレーザビームのパワーが、第１および第２のパター
ンデータの再生信号の振幅の比がほぼ最適解像度に対応
したものとなる第１のパワーとなるように制御し、第１
のパワーを再生パワー設定値とする工程とを備えるもの
である。

【００１０】この発明において、光ディスク、例えばＭ
ＳＲ方式の光ディスクには、第１のパターンデータと、
この第１のパターンデータより長い反転間隔を有する第
２のパターンデータとが書き込まれる。例えば、第１の
パターンデータは「００」および「１１」が交互に連続
する２Ｔパターンデータであり、第２のパターンデータ
は「００００」および「１１１１」が交互に連続する４
Ｔパターンデータであり、例えば光ディスクのテストト
ラック領域に書き込まれる。

【００１１】この光ディスクにレーザビームが照射さ
れ、光ディスクに書き込まれた第１および第２のパター
ンデータの再生が行われる。ここで、第１および第２の
パターンデータの再生信号の振幅はそれぞれ再生パワー
に応じて変化し、読み出しデータのエラーレートが最も
低くなる最適解像度において、第１および第２のパター
ンデータの再生信号の振幅の比は所定値となる。そのた
め、光ディスクに照射されるレーザビームのパワーが、
第１および第２のパターンデータの再生信号の振幅の比
がほぼ最適解像度に対応したものとなる第１のパワーと
なるように変更制御され、この第１のパワーが再生パワ
ー設定値とされる。

【００１２】この再生パワー設定値に対応した再生パワ
ーで光ディスクの再生を行うことにより、読み出しデー
タのエラーレートが最も低くなる最適解像度に近い状態
で光ディスクの再生が行われる。

【００１３】なお、光ディスクの温度が変化すると、閾
値Ｔｈが変化し（図７Ｂ参照）、第１および第２のパタ
ーンデータの再生信号の振幅の比がほぼ最適解像度に対
応したものとなるレーザビームのパワー（第１のパワ
ー）も変化する。そのため、光ディスクの温度を一定時
間間隔で検出する温度検出手段と、この温度検出手段で
検出される連続する２時点の温度の差が所定値以上であ
るとき、再生パワー設定値を温度差に応じて修正する再
生パワー修正手段とをさらに備えていてもよい。これに
より、光ディスクの温度が急激に変化しても、読み出し
データのエラーレートが最も低くなる最適解像度に近い
状態で光ディスクの再生を行うことが可能となる。

【００１４】また、光ディスクがＺＣＡＶ方式のもので
ある場合、一部のゾーンまたは全部のゾーンで上述した
ように再生パワー設定値を決定するようにしてもよい。
一部のゾーンの再生パワー設定値を決定する場合、その
一部のゾーンの再生パワー設定値よりその他のゾーンの
再生パワー設定値を算出するようにしてもよい。さら
に、光ディスクがＺＣＡＶ方式であるか否かに拘わら
ず、光ディスクの複数の半径位置で上述したように再生
パワー設定値を決定すると共に、その複数の半径位置の
再生パワー設定値よるその他の半径位置の再生パワー位
置を算出するようにしてもよい。これにより、光ディス
クの各ゾーンあるいは半径位置において、読み出しデー
タのエラーレートが最も低くなる最適解像度に近い状態
で光ディスクの再生を行うことが可能となる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の実施の形態について説明する。図１は、実施の形
態としての光ディスク装置１０を示している。この光デ
ィスク装置１０では、ＭＳＲ方式の光ディスクが使用さ
れ、例えばＣＡＤ方式（図７参照）による再生が行われ
る。

【００１６】この光ディスク装置１０は、ＭＳＲ方式の
光ディスク１１を回転させるためのスピンドルモータ１
２と、このモータ１２の回転軸に取りつけられ、モータ
１２の回転情報としての周波数信号Ｓ_FGを得るための周
波数発電機１３と、モータ１２を駆動するためのモータ
ドライバ１４とを有している。周波数発電機１３より出
力される周波数信号Ｓ_FGは後述するサーボコントローラ
に供給され、モータドライバ１４の動作はそのサーボコ
ントローラによって制御される。

【００１７】光ディスク１１は、ＺＣＡＶ（Zone Const
ant Angular Velocity）方式のものであって、図２に示
すように、外周側と内周側の２箇所にコントロールトラ
ック領域ＡＲｃが設けられ、これら２箇所の領域ＡＲｃ
の間にｉmax個のゾーンＺ１〜Ｚｉmaxが設けられてい
る。そして、各ゾーンＺ１〜Ｚｉmaxの外周側には、そ
れぞれテストトラック領域ＡＲｔが設けられている。領
域ＡＲｃには、最適解像度データｋoや温度補正係数Ｇ
等の制御データがピットによって予め書き込まれてい
る。

【００１８】ここで、ＺＣＡＶ方式は、ＣＡＶ方式の回
転制御が簡単であるという利点を生かし、記録容量が小
さいという欠点を改良したものである。このＺＣＡＶ方
式は、周知のように、スピンドル回転数を一定にしたま
ま、ディスクの内周から外周まで半径方向にいくつかの
ゾーンに分割し、外周側のゾーンほどデータレートを高
くしていくものである。

【００１９】また、図３Ａ〜Ｃを使用して、最適解像度
データｋoについて説明する。光ディスク１１に、例え
ば「００」および「１１」が交互に連続する２Ｔパター
ンデータと、「００００」および「１１１１」が交互に
連続する４Ｔパターンデータとが書き込まれている場合
を考える。この場合、再生時に光ディスク１１に照射さ
れるレーザビームのパワー（再生パワー）が変化する
と、２Ｔパターンデータの信号振幅ＡＭ_2Tおよび４Ｔパ
ターンデータの信号振幅ＡＭ_4Tはそれぞれ図３Ａに示す
ように変化し、その信号振幅の比ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tは図３
Ｂに示すように変化する。また、再生パワーの変化に応
じて、光ディスク１１の読み出しデータのエラーレート
は図３Ｃに示すように変化し、ある再生パワーＰ1で、
この読み出しデータのエラーレートが最も低くなる。結
局、上述した最適解像度データｋoは、再生パワーＰ1に
対応した信号振幅の比ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tとされている。

【００２０】また、光ディスク装置１０は、外部磁界発
生用の磁気ヘッド１５と、この磁気ヘッド１５の磁界発
生を制御する磁気ヘッドドライバ１６と、半導体レー
ザ、対物レンズ、光検出器等から構成される光学ヘッド
１７と、この光学ヘッド１７の半導体レーザの発光を制
御するレーザドライバ１８とを有している。磁気ヘッド
１５と光学ヘッド１７は光ディスク１１を挟むように対
向して配設されている。レーザドライバ１８には、後述
するシステムコントローラよりレーザパワー制御信号Ｓ
_PCが供給され、光学ヘッド１７の半導体レーザより出力
されるレーザビームのパワーが制御される。

【００２１】データ書き込み時（記録時）に光ディスク
１１に照射されるレーザビームのパワー（記録パワー）
を設定するとき、さらにはデータ読み出し時（再生時）
に光ディスク１１に照射されるレーザビームのパワー
（再生パワー）を設定するときには、後述するように磁
気ヘッドドライバ１６に所定のパターンデータＰＴＤが
供給され、磁気ヘッド１５よりパターンデータＰＴＤに
対応した磁界が発生され、光学ヘッド１７からのレーザ
ビームとの共働により光ディスク１１のテストトラック
領域ＡＲｔのデータ部の記録層にパターンデータが光磁
気記録される。

【００２２】また、データ書き込み時（記録時）には、
後述するように磁気ヘッドドライバ１６に記録データＤ
Ｒが供給され、磁気ヘッド１５より記録データＤＲに対
応した磁界が発生され、光学ヘッド１７からのレーザビ
ームとの共働により光ディスク１１のゾーンＺ1〜Ｚｉm
axのデータ部の記録層に記録データＤＲが光磁気記録さ
れる。

【００２３】また、光ディスク装置１０は、ＣＰＵ（ce
ntral processing unit）を備えるサーボコントローラ
１９を有している。サーボコントローラ１９には、光学
ヘッド１７より従来周知の方法で生成されたフォーカス
エラー信号Ｅ_Fおよびトラッキングエラー信号Ｅ_Tが供給
される。このサーボコントローラ１９によって、光学ヘ
ッド部１７のトラッキングやフォーカスのサーボが行わ
れる。

【００２４】また、後述するシステムコントローラの制
御の下、サーボコントローラ１９によって、スレッドモ
ータ２０を駆動するモータドライバ２１の動作が制御さ
れ、光学ヘッド１７のラジアル方向への移動制御が行わ
れる。さらに、周波数発電機１３からの周波数信号Ｓ_FG
に基づいて、サーボコントローラ１９によってモータド
ライバ１４を介してスピンドルモータ１２の回転が制御
される。これにより、記録時や再生時に光ディスク１１
が角速度一定で回転するように制御される。

【００２５】また、光ディスク装置１０は、ＣＰＵを備
えてなり、システム全体を制御するためのシステムコン
トローラ２２と、このシステムコントローラ２２に接続
され、ユーザが種々の操作を行うための操作部２３とを
有している。操作部２３には、電源のオンオフボタン、
記録操作を行うための記録ボタン、再生操作を行うため
の再生ボタン、記録再生を停止するためのストップボタ
ン、光ディスク１１のローディング（収納）やイジェク
ト（取り出し）を行うための収納／取り出しボタン等が
配置されている。

【００２６】また、光ディスク装置１０は、ローディン
グされる光ディスク１１の近傍に配設され、この光ディ
スク１１の温度を検出するための温度センサ２４を有し
ている。この温度センサ２４より出力される温度検出信
号Ｓ_Tは、システムコントローラ２２に供給される。

【００２７】また、光ディスク装置１０は、データバッ
ファ２６と、ホストコンピュータとの間でデータやコマ
ンドの送受を行うためのＳＣＳＩ（Small Computer Sys
temInterface）インタフェース２７と、ホストコンピュ
ータからＳＣＳＩインタフェース２７を通じて供給され
る書き込みデータに対して誤り訂正符号の付加処理を行
うと共に、後述するデータ復調器の出力データに対して
誤り訂正処理を行うためのＥＣＣ（error correction c
ode）回路２８と、このＥＣＣ回路２８で誤り訂正符号
が付加された書き込みデータに対してデータ変調処理を
して記録データＤＲを得ると共に、上述したパターンデ
ータＰＴＤを発生するデータ変調器２９とを有してい
る。

【００２８】また、光ディスク装置１０は、光学ヘッド
１７より出力される光ディスク１１のデータ部からの再
生信号Ｓ_MOの周波数特性を補償するイコライザ回路３１
と、このイコライザ回路３１の出力信号に対してデータ
識別の処理をして再生データＤＰを得るためのデータ識
別器３２と、この再生データＤＰに対してデータ復調処
理をして読み出しデータを得るデータ復調器３３とを有
している。データ識別器３２は、例えばコンパレータや
ビタビ復号器等を使用して構成される。データバッファ
２６、ＥＣＣ回路２８、データ変調器２９およびデータ
復調器３３は、データバス３４によって相互に接続され
ている。

【００２９】また、光ディスク装置１０は、光学ヘッド
１７より出力される再生信号Ｓ_MOの振幅を検出する振幅
検出回路３５と、光学ヘッド１７より出力される光ディ
スク１１のピットによるプリフォーマット部からの再生
信号Ｓ_RFの周波数特性を補償するイコライザ回路３６
と、このイコライザ回路３６の出力信号よりアドレスデ
ータＡＤを得るためのアドレスデコーダ３７とを有して
いる。振幅検出回路３５より出力される振幅検出信号Ｓ
_AMはシステムコントローラ２２に供給され、記録パワー
や再生パワーの設定時に使用される。アドレスデコーダ
３７より出力されるアドレスデータＡＤはシステムコン
トローラ２２に供給され、データ書き込み時やデータ読
み出し時等におけるアクセス制御に利用される。

【００３０】また、光ディスク装置１０は、後述するよ
うに光ディスク１１をローディングした直後にコントロ
ールトラック領域ＡＲｃを再生する場合、イコライザ回
路３６の出力信号より最適解像度データｋoや温度補正
係数Ｇ等の制御データＣＤを抽出してシステムコントロ
ーラ２２に供給するための制御データ抽出回路３８を有
している。

【００３１】次に、光ディスク装置１０の動作を説明す
る。ホストコンピュータよりＳＣＳＩインタフェース２
７を介してシステムコントローラ２２にデータライトコ
マンドが供給される場合には、データ書き込み処理（記
録処理）が行われる。この場合、ＳＣＳＩインタフェー
ス２７で受信されてデータバッファ２６に格納されてい
るホストコンピュータからの書き込みデータに対して、
ＥＣＣ回路２８で誤り訂正符号の付加処理が行われ、さ
らにデータ変調器２９でデータ変調処理が行われる。そ
して、データ変調器２９より磁気ヘッドドライバ１６に
記録データＤＲが供給され、光ディスク１１のターゲッ
ト位置としてのデータ部に記録データＤＲが記録され
る。

【００３２】また、ホストコンピュータよりＳＣＳＩイ
ンタフェース２７を介してシステムコントローラ２２に
データリードコマンドが供給される場合には、データ読
み出し処理（再生処理）が行われる。この場合、光ディ
スク１１のターゲット位置としてのデータ部より再生信
号Ｓ_MOが得られる。この再生信号Ｓ_MOはイコライザ回３
１で周波数特性が補償された後にデータ識別器３２に供
給され、このデータ識別器３２でデータの識別が行われ
て再生データＤＰが得られる。

【００３３】そして、この再生データＤＰに対して、デ
ータ復調器３３でデータ復調処理が行われ、さらにＥＣ
Ｃ回路２８で誤り訂正処理が行われて読み出しデータが
得られる。そして、この読み出しデータはデータバッフ
ァ２６に一旦格納され、その後に所定タイミングでＳＣ
ＳＩインタフェース２７を介してホストコンピュータに
送信される。

【００３４】また、上述したデータ読み出し時における
再生パワーの設定値は、光ディスク１１のローディング
時に決定されると共に、その後は光ディスク１１の温度
変化に応じて修正される。

【００３５】図４のフローチャートを使用して、再生パ
ワー設定値を決定するためのシステムコントローラ２２
の制御動作を説明する。

【００３６】光ディスク１１がローディングされると、
ステップＳＴ１で、光ディスク１１のコントロールトラ
ック領域ＡＲｃ（図２参照）の再生が行われる。この場
合、コントロールトラック領域ＡＲｃの再生信号Ｓ_RFよ
り制御データ抽出回路３８で最適解像度データｋoや温
度補正係数Ｇ等の制御データＣＤが抽出されてシステム
コントローラ２２に供給される。

【００３７】次に、ステップＳＴ２で、ｉ＝１に設定
し、ステップＳＴ３で、サーボコントローラ１７を通じ
てスレッドモータ２０を制御し、光学ヘッド１７および
磁気ヘッド１５を、ゾーンＺiのテストトラック領域Ａ
Ｒｔに対応した位置にシーク制御する。そして、ステッ
プＳＴ４で、最適記録パワーを設定する。この場合、例
えば、本出願人による先願である特願平９−１１８４０
号（平成９年１月８日出願）に詳述されるように、ゾー
ンＺiのテストトラック領域ＡＲｔに対して、「０」が
連続するパターンデータや「００」および「１１」が交
互に連続する２Ｔパターンデータの書き込みおよび読み
出しが適宜行われると共に、２Ｔパターンデータの再生
信号Ｓ_MOの振幅が検出され、その振幅に基づいて最適記
録パワーが設定される。

【００３８】次に、ステップＳＴ５で、ゾーンＺiのテ
ストトラック領域ＡＲｔに対して、「００」および「１
１」が交互に連続する２Ｔパターンデータと、「０００
０」および「１１１１」が交互に連続する４Ｔパターン
データとを書き込む（図５Ａ，Ｂ参照）。この場合、２
Ｔパターンや４ＴパターンのパターンデータＰＴＤがデ
ータ変調器２９で発生されて磁気ヘッドドライバ１６に
供給される。そしてこの場合、光ディスク１１に照射さ
れるレーザビームのパワー（記録パワー）は、ステップ
ＳＴ４で設定された最適記録パワーとされる。

【００３９】次に、ステップＳＴ６で、ｊ＝１に設定
し、ステップＳＴ７で、光ディスク１１に照射されるレ
ーザビームのパワー（再生パワー）Ｐ(i)を、（２）式
のように設定する。ここで、Ｐoは再生パワーＰ(i)の初
期値であり、２Ｔパターンデータおよび４Ｔパターンデ
ータの再生信号Ｓ_MOの振幅の比ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tがｋoと
なる再生パワーＰ1より小さく、かつトラッキングやフ
ォーカス等のサーボがはずれない程度のパワーに設定さ
れている（図３参照）。ΔＰは再生パワーを最適に設定
するために、再生パワーを変化させていくための変化幅
である。Ｐ(i)＝Ｐo＋ｊ＊ΔＰ・・・（２）

【００４０】次に、ステップＳＴ８で、ゾーンＺiに書
き込まれている２Ｔパターンデータおよび４Ｔパターン
データを読み出し、それぞれの再生信号Ｓ_MO（図５Ａ，
Ｂ参照）の振幅検出信号Ｓ_AMに基づいて、２Ｔパターン
データおよび４Ｔパターンデータの再生信号Ｓ_MOの振幅
の比ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tを算出する。そして、ステップＳＴ
９で、ｋ＝ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tが最適解像度データｋoに対
して、１％の誤差範囲に入っているか否かを判定する。
１％の誤差範囲に入っていないときは、ステップＳＴ１
０で、ｊの値を１だけ増加して、その後にステップＳＴ
７に戻って、上述したと同様の制御動作をする。一方、
１％の誤差範囲に入っているときは、ステップＳＴ１１
で、再生パワーＰ(i)を、ゾーンＺiの再生パワー設定値
として、システムコントローラ２２が有するメモリ３９
に書き込む。なお、１％の値は一例であって、これ以外
の値であってもよい。

【００４１】次に、ステップＳＴ１２で、ｉが光ディス
ク１１のゾーン数ｉmaxであるか否かを判定する。ｉ＝
ｉmaxでないときは、ステップＳＴ１３で、ｉの値を１
だけ増加して、その後にステップＳＴ３に戻って、上述
したと同様の制御動作をする。これにより、メモリ３９
には光ディスク１１のゾーンＺ１〜Ｚｉmaxの全ての再
生パワー設定値が書き込まれる。一方、ｉ＝ｉmaxであ
るときは、ステップＳＴ１４で、定常動作に移行する。

【００４２】また、図６のフローチャートを使用して、
再生パワー設定値の修正のためのシステムコントローラ
２２の制御動作を説明する。

【００４３】定常動作に移行すると、ステップＳＴ２１
で、一定時間、例えば１分間が経過したか否かを判定す
る。一定時間が経過したときは、ステップＳＴ２２で、
温度センサ２４より出力される温度検出信号Ｓ_Tに基づ
いて、光ディスク１１の温度Ｔを検出する。そして、ス
テップＳＴ２３で、前回検出された温度Ｔ(n-1)と今回
検出された温度Ｔ(n)との温度差が所定値Ｔthより大き
いか否かを判定する。この場合、定常動作に移って最初
は、温度Ｔ(n-1)がないため、温度差が所定値Ｔthより
大きくないと判定する。温度差が所定値Ｔthより大きく
ないときは、ステップＳＴ２１に戻る。一方、温度差が
所定値Ｔthより大きいときは、ステップＳＴ２４で、メ
モリ３９に書き込まれている各ゾーンの再生パワー設定
値Ｐ(i)を、（３）式によって修正する。Ｐ(i)＝Ｐ(i)＊｛１＋［Ｔ(n-1)−Ｔ(n)］＊Ｇ｝・・・（３）

【００４４】次に、修正された各ゾーンの再生パワー設
定値Ｐ(i)をメモリ３９に書き込み、その後にステップ
ＳＴ２１に戻って、上述したと同様の制御動作を繰り返
す。

【００４５】このように本実施の形態においては、光デ
ィスク１１のローディング時に各ゾーンの再生パワー設
定値が決定されると共に、その後に光ディスク１１の温
度変化に応じてその再生パワー設定値が修正される。そ
して、上述したデータ読み出し時（再生時）には、光デ
ィスク１１のターゲット位置（読み出し位置）のゾーン
の再生パワー設定値がメモリ３９より読み出され、その
設定値に対応したレーザパワー制御信号Ｓ_PCがレーザド
ライバ１８に供給され、光学ディスク１１に照射される
レーザビームのパワーがその設定値に対応したものとさ
れる。

【００４６】本実施の形態によれば、光ディスク１１の
各ゾーンにおいて、２Ｔパターンデータおよび４Ｔパタ
ーンデータの再生信号Ｓ_MOの振幅の比ＡＭ_2T／ＡＭ_4Tが
ほぼ最適解像度に対応したものとなるレーザビームのパ
ワーを再生パワー設定値とすると共に、その後に光ディ
スク１１の温度変化に応じてその再生パワー設定値を修
正するものであり、光ディスク１１の各ゾーンの再生を
常に良好に行うことができる。

【００４７】なお、上述実施の形態においては、全ての
ゾーンにおいてテストトラック領域ＡＲｔへの２Ｔパタ
ーンデータおよび４Ｔパターンデータの書き込み、読み
出しによって再生パワー設定値を決定するものであった
が、例えば最内周と最外周のゾーンのように一部のゾー
ンの再生パワー設定値のみを決定するようにし、その他
のゾーンに関しては補間演算によって再生パワー設定値
を求めるようにしてもよい。さらに、光ディスク１１が
ＺＣＡＶ方式のものであるか否かに拘わらず、例えば最
内周と最外周の半径位置のように、複数の半径位置で再
生パワー設定値を決定し、その他の半径位置に関しては
補間演算によって再生パワー設定値を求めるようにして
もよい。

【００４８】また、上述実施の形態においては、テスト
トラック領域ＡＲｔへの２Ｔパターンデータおよび４Ｔ
パターンデータの書き込み、読み出しによって再生パワ
ー設定値を決定するものであったが、これらのパターン
は一例であってこれに限定されるものではない。要は、
信号反転間隔が異なる２つのパターンデータを使用すれ
ばよい。

【００４９】また、上述実施の形態においては、この発
明をＭＳＲ方式の光ディスク１１を使用する光ディスク
装置１０に適用したものであるが、この発明はその他の
光ディス装置にも同様に適用できることは勿論である。

【００５０】

【発明の効果】この発明によれば、光ディスクに反転間
隔が異なる第１および第２のパターンデータを書き込
み、これら第１および第２のパターンデータの再生信号
の振幅の比がほぼ最適解像度に対応したものとなるレー
ザビームのパワーを再生パワー設定値とするものであ
り、光ディスクの再生を最適な再生パワーで良好に行う
ことができる。また、光ディスクの温度を一定時間間隔
で検出し、連続する２時点の温度の差が所定値以上であ
るとき、再生パワー設定値を温度差に応じて修正するこ
とで、光ディスクの再生を常に最適な再生パワーで良好
に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態としての光ディスク装置の構成を示
すブロック図である。

【図２】光ディスク（ＺＣＡＶ方式）の構成を説明する
ための図である。

【図３】最適解像度データ等を説明するための図であ
る。

【図４】再生パワー設定値を決定するためのシステムコ
ントローラの制御動作を示すフローチャートである。

【図５】２Ｔ，４Ｔパターンデータと、その再生信号を
示す図である。

【図６】再生パワー設定値を修正するためのシステムコ
ントローラの制御動作を示すフローチャートである。

【図７】ＣＡＤ方式の再生原理を説明するための図であ
る。

【図８】再生パワーによるＭＴＦ特性の変化を示す図で
ある。

【符号の説明】

１０・・・光ディスク装置、１１・・・ＭＳＲ方式の光
ディスク、１５・・・外部磁界発生用の磁気ヘッド、１
６・・・磁気ヘッドドライバ、１７・・・光学ヘッド、
１８・・・レーザドライバ、１９・・・サーボコントロ
ーラ、２２・・・システムコントローラ、２４・・・温
度センサ、２６・・・データバッファ、２７・・・ＳＣ
ＳＩインタフェース、２８・・・ＥＣＣ回路、２９・・
・データ変調器、３２・・・データ識別器、３３・・・
データ変調器、３５・・・振幅検出回路、３７・・・ア
ドレスデコーダ、３８・・・制御データ抽出回路、３９
・・・メモリ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクに第１のパターンデータと、
この第１のパターンデータより長い反転間隔を有する第
２のパターンデータとを書き込むテストパターン記録手
段と、上記光ディスクにレーザビームを照射すると共に、その
光ディスクで反射されたレーザビームより再生信号を得
る信号再生手段と、上記光ディスクに照射されるレーザビームのパワーを変
更するレーザパワー変更手段と、上記光ディスクに照射されるレーザビームのパワーが、
上記信号再生手段より得られる上記第１および第２のパ
ターンデータの再生信号の振幅の比がほぼ最適解像度に
対応したものとなる第１のパワーに変更されるように上
記レーザパワー変更手段を制御し、この第１のパワーを
再生パワー設定値とする再生パワー決定手段とを備える
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】上記光ディスクはＭＳＲ方式の光ディス
クであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
装置。
【請求項３】上記光ディスクの温度を一定時間間隔で
検出する温度検出手段と、上記温度検出手段で検出される連続する２時点の温度の
差が所定値以上であるとき、上記再生パワー設定値を上
記温度差に応じて修正する再生パワー修正手段とをさら
に備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
装置。
【請求項４】上記光ディスクはＺＣＡＶ方式のもので
あって、上記テストパターン記録手段は上記光ディスクの全ての
ゾーンに上記第１および第２のパターンデータを書き込
み、上記再生パワー決定手段は、上記全てのゾーンのそれぞ
れにおいて、上記光ディスクに照射されるレーザビーム
のパワーが、上記信号再生手段より得られる上記第１お
よび第２のパターンデータの再生信号の振幅の比がほぼ
最適解像度に対応したものとなる第１のパワーに変更さ
れるように上記レーザパワー変更手段を制御し、上記第
１のパワーを再生パワー設定値とすることを特徴とする
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】上記光ディスクはＺＣＡＶ方式のもので
あって、上記テストパターン記録手段は、上記光ディスクの一部
のゾーンに上記第１および第２のパターンデータを書き
込み、上記再生パワー決定手段は、上記一部のゾーンのそれぞ
れにおいて、上記光ディスクに照射されるレーザビーム
のパワーが、上記信号再生手段より得られる上記第１お
よび第２のパターンデータの再生信号の振幅の比がほぼ
最適解像度に対応したものとなる第１のパワーに変更さ
れるように上記レーザパワー変更手段を制御し、上記第
１のパワーを再生パワー設定値とすると共に、上記一部
のゾーンの再生パワー設定値に基づいて、その他のゾー
ンにおける再生パワー設定値を算出することを特徴とす
る請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】上記テストパターン記録手段は、上記光
ディスクの複数の半径位置に上記第１および第２のパタ
ーンデータを書き込み、上記再生パワー決定手段は、複数の半径位置のそれぞれにおいて、上記光ディスクに
照射されるレーザビームのパワーが、上記信号再生手段
より得られる上記第１および第２のパターンデータの再
生信号の振幅の比がほぼ最適解像度に対応したものとな
る第１のパワーに変更されるように上記レーザパワー変
更手段を制御し、上記第１のパワーを再生パワー設定値
とすると共に、上記複数の半径位置の再生パワー設定値に基づいて、そ
の他の半径位置における再生パワー設定値を算出するこ
とを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置
【請求項７】光ディスクに第１のパターンデータと、
この第１のパターンデータより長い反転間隔を有する第
２のパターンデータとを書き込む工程と、上記光ディスクにレーザビームを照射すると共に、その
光ディスクで反射されたレーザビームより上記第１およ
び第２のパターンデータの再生信号を得る工程と、上記光ディスクに照射されるレーザビームのパワーが、
上記第１および第２のパターンデータの再生信号の振幅
の比がほぼ最適解像度に対応したものとなる第１のパワ
ーとなるように制御し、上記第１のパワーを再生パワー
設定値とする工程とを備えることを特徴とする光ディス
ク装置の再生パワー設定方法。
【請求項８】上記光ディスクはＭＳＲ方式の光ディス
クであることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク
装置の再生パワー設定方法。
【請求項９】上記光ディスクの温度を一定時間間隔で
検出する工程と、上記検出される連続する２時点の温度の差が所定値以上
であるとき、上記再生パワー設定値を上記温度差に応じ
て修正する工程とをさらに備えることを特徴とする請求
項７に記載の光ディスク装置の再生パワー設定方法。