JPH10289160A - Write data guarantee method for semiconductor memory - Google Patents

Write data guarantee method for semiconductor memory

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Publication number
JPH10289160A
JPH10289160A JP9096935A JP9693597A JPH10289160A JP H10289160 A JPH10289160 A JP H10289160A JP 9096935 A JP9096935 A JP 9096935A JP 9693597 A JP9693597 A JP 9693597A JP H10289160 A JPH10289160 A JP H10289160A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
write
read
memory
semiconductor memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP9096935A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobuhiro Kawaguchi
伸洋 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP9096935A priority Critical patent/JPH10289160A/en
Publication of JPH10289160A publication Critical patent/JPH10289160A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To check the data errors in a write mode without lowering the data access speed by applying a read operation to a memory storage element that is not actually performing a write operation by interleaving and comparing this written value with that written before the said value to confirm the propriety of data. SOLUTION: A memory write/read control part 1 writes in sequence the data into the semiconductor memory parts 3 to 6. Under such conditions, the semiconductor memory part where a write operation is not actually performed is set to read the data. For instance, if the data write operations are over to the memory parts 3 and 4 while a data write operation is performed to the memory part 5, a write data check part 7 reads the data written into the parts 3 and 4 through the data read buses 11 and 12. These read data are compared with the write data which are previously fetched from a write data check data bus 8, and the coincidence is confirmed between both data.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータ用外
部記憶装置の、特に、半導体メモリを用いた、高速、大
容量の記憶装置に関するものである。
The present invention relates to an external storage device for a computer, and more particularly to a high-speed, large-capacity storage device using a semiconductor memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の半導体メモリを用いた記憶装置で
は、ソフトエラーによるデータエラー、または、アドレ
スに一時的に発生したノイズ等の要因による異なるアド
レスへのデータライト、などのエラーが発生することが
あった。データが正しくライトできたことの確認には、
ライトしたのと同じアドレスを再度リード、すなわち、
べリファイ動作を行い、比較による確認を行っていた。
2. Description of the Related Art In a conventional storage device using a semiconductor memory, an error such as a data error due to a soft error or a data write to a different address due to noise or the like temporarily occurring at an address occurs. was there. To confirm that the data was written correctly,
Read the same address as the one written again, that is,
The verify operation was performed, and the comparison was confirmed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記、従来技術のべリ
ファイ動作を行うと、メモリに対するアクセスが二回に
なり、ライト動作が済むまでに時間がかかるという問題
があった。
When the above-described verify operation of the prior art is performed, there is a problem that the memory is accessed twice and it takes time to complete the write operation.

【0004】今後、メモリ記憶装置は、アクセスの高速
化の方向に進むことは間違いなく、速度の性能低下を起
こさずに、ソフトエラー等のライト時のデータエラーの
問題を解決する方法が重要となる。本発明では、データ
アクセスの速度を低下させずに、ライト時のデータエラ
ーをチェックする機能を提供することにある。
In the future, memory storage devices will definitely move in the direction of faster access, and it is important to solve the data error problem at the time of writing, such as a soft error, without causing a decrease in speed performance. Become. An object of the present invention is to provide a function of checking a data error at the time of writing without lowering the speed of data access.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記、記憶装置の目的を
達成するために、本発明は、メモリの多重インタリーブ
アクセスを行う。さらに、メモリライト動作を行ってい
るとき、インタリーブによって実際にライト動作を行っ
ていないメモリ記憶素子に対しリード動作を行い、直前
にライトされた値と比較し、データの妥当性を確認す
る。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above-mentioned object of the storage device, the present invention provides multiple interleave accesses to a memory. Further, when a memory write operation is being performed, a read operation is performed on a memory storage element that is not actually performing a write operation by interleaving, and the validity of data is confirmed by comparing with a value written immediately before.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】図1に、本発明の一実施例を示
す。記憶装置を構成する、メモリライトリード制御部、
四重のインタリーブ制御部、四個の半導体メモリ部、ラ
イトデータチェック部、及びそれらを接続するデータバ
スから構成される。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. A memory write / read control unit that constitutes a storage device;
It comprises a quadruple interleave control unit, four semiconductor memory units, a write data check unit, and a data bus connecting them.

【0007】上位装置との接続は、メモリライトリード
制御部で行う。
The connection with the host device is made by a memory write / read control unit.

【0008】メモリライトリード制御部1は、メモリデ
ータバス10を経由して、四重のインタリーブ制御部2
に接続される。四重のインタリーブ制御部2は、インタ
リーブされたメモリデータバス11を経由して、四個の
半導体メモリ部3〜6に接続される。インタリーブ制御
部2は、メモリライトリード制御部1から送られたデー
タを、インタリーブされたメモリデータバス11を経由
して、時分割に、半導体メモリ部3〜6にライトする。
The memory write / read control unit 1 is connected to a quadruple interleave control unit 2 via a memory data bus 10.
Connected to. The quadruple interleave control unit 2 is connected to the four semiconductor memory units 3 to 6 via the interleaved memory data bus 11. The interleave control unit 2 writes the data sent from the memory write / read control unit 1 to the semiconductor memory units 3 to 6 in a time-division manner via the interleaved memory data bus 11.

【0009】ライトデータチェック部7は、ライト時の
データを、メモリデータバス10に接続するライトデー
タチェック用データバス8から取り込み、また、インタ
リーブされたメモリデータバス11に接続するデータリ
ード用データバス12から、半導体メモリ部3〜6にラ
イトされたデータをリードできる。各データバスが、ラ
イトかリードかの状態は、ライトデータチェック部用制
御信号9を通して、ライトデータチェック部7に送られ
る。また、ライトデータチェック部7で検出したエラー
等の情報も、ライトデータチェック部用制御信号9で、
メモリライトリード制御部1に送られる。
A write data check section 7 takes in data at the time of writing from a write data check data bus 8 connected to the memory data bus 10 and also reads a data read data bus connected to the interleaved memory data bus 11. From 12, the data written in the semiconductor memory units 3 to 6 can be read. The state of each data bus, write or read, is sent to the write data check unit 7 through the write data check unit control signal 9. Information such as an error detected by the write data check unit 7 is also transmitted by the write data check unit control signal 9.
It is sent to the memory write / read control unit 1.

【0010】メモリライトリード制御部1が半導体メモ
リ部3〜6にデータをライトする場合、最初のデータ
を、半導体メモリ部3に対してライトする。次のデータ
は、半導体メモリ部4に対してライトし、次のデータ
は、半導体メモリ部5に対してライトし、次のデータ
は、半導体メモリ部6に対してライトする。その次のデ
ータは、再び、半導体メモリ部3に対してライトする。
この時、実際にライトを行っていない半導体メモリ部
は、データをリードできるように設定しておく。
When the memory write / read control unit 1 writes data to the semiconductor memory units 3 to 6, the first data is written to the semiconductor memory unit 3. The next data is written to the semiconductor memory unit 4, the next data is written to the semiconductor memory unit 5, and the next data is written to the semiconductor memory unit 6. The next data is written to the semiconductor memory unit 3 again.
At this time, a setting is made so that data can be read from a semiconductor memory unit to which data is not actually written.

【0011】半導体メモリ部3、4に対しデータのライ
トが終了し、半導体メモリ部5に対してデータのライト
を行っているとき、ライトデータチェック部7は、半導
体メモリ部3にライトされたデータを、データリード用
データバス12からリードし、あらかじめライトデータ
チェック用データバス8から取り込んでおいたライトデ
ータと比較し、データが一致することを確認する。
When data writing to the semiconductor memory units 3 and 4 has been completed and data writing to the semiconductor memory unit 5 is being performed, the write data check unit 7 reads the data written to the semiconductor memory unit 3. Is read from the data read data bus 12 and is compared with the write data previously taken in from the write data check data bus 8 to confirm that the data match.

【0012】同様に、半導体メモリ部6に対してデータ
のライトを行っているとき、ライトデータチェック部7
は、半導体メモリ部4にライトされたデータを、データ
リード用データバス12からリードし、あらかじめライ
トデータチェック用データバス8から取り込んでおいた
ライトデータと比較し、データが一致することを確認す
る。
Similarly, when data is being written to the semiconductor memory section 6, the write data check section 7
Reads the data written to the semiconductor memory unit 4 from the data read data bus 12 and compares it with the write data previously taken in from the write data check data bus 8 to confirm that the data match. .

【0013】このように、ライトデータチェック部7
は、ライトの終了した半導体メモリ部から、次々とデー
タをリードし、ライトデータチェック用データバス8か
ら取り込んでおいたライトデータと比較し、データが一
致することを確認し、もし一致しなければ、エラーとし
て、ライトデータチェック部用制御信号9を通して、メ
モリライトリード制御部1に伝える。
As described above, the write data check unit 7
Is to read data one after another from the semiconductor memory unit where writing has been completed, compare it with the write data received from the write data check data bus 8, confirm that the data match, and if not, Are transmitted to the memory write / read control unit 1 through the write data check unit control signal 9 as an error.

【0014】[0014]

【発明の効果】メモリライトリード制御部は、それ自身
がライトデータのチェックを意識することなく、ライト
動作だけを行えるため、べリファイ動作によるデータ転
送性能の低下を起こさずに、メモリアクセスを行うこと
ができる。
As described above, the memory write / read controller itself can perform only the write operation without being conscious of the check of the write data. Therefore, the memory write / read controller performs memory access without lowering the data transfer performance due to the verify operation. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す全体構成図である。FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した本発明の実施例での、メモリライ
トリードタイミングを示す。
FIG. 2 shows a memory write / read timing in the embodiment of the present invention shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メモリライトリード制御部 2 四重のインタリーブ制御部 3 半導体メモリ部 4 半導体メモリ部 5 半導体メモリ部 6 半導体メモリ部 7 ライトデータチェック部 8 ライトデータチェック用データバス 9 ライトデータチェック部用制御信号 10 メモリデータバス 11 インタリーブされたメモリデータバス 12 データリード用データバス DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Memory write-read control part 2 Quadruple interleave control part 3 Semiconductor memory part 4 Semiconductor memory part 5 Semiconductor memory part 6 Semiconductor memory part 7 Write data check part 8 Write data check data bus 9 Control signal for write data check part 10 Memory data bus 11 Interleaved memory data bus 12 Data read data bus

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体メモリのインタリーブアクセスを利
用することにより、ライトアクセスしていないタイミン
グでデータをリードする方法。
1. A method of reading data at a timing when a write access is not performed by utilizing an interleave access of a semiconductor memory.
【請求項2】請求項1記載において、半導体メモリ記憶
装置にライトされたデータをリードし、ライトデータの
比較をし、ライトデータの確認を行う方法。
2. The method according to claim 1, wherein data written to the semiconductor memory storage device is read, write data is compared, and write data is confirmed.
JP9096935A 1997-04-15 1997-04-15 Write data guarantee method for semiconductor memory Pending JPH10289160A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9096935A JPH10289160A (en) 1997-04-15 1997-04-15 Write data guarantee method for semiconductor memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9096935A JPH10289160A (en) 1997-04-15 1997-04-15 Write data guarantee method for semiconductor memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10289160A true JPH10289160A (en) 1998-10-27

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ID=14178205

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JP9096935A Pending JPH10289160A (en) 1997-04-15 1997-04-15 Write data guarantee method for semiconductor memory

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