JPH10282527A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH10282527A
JPH10282527A JP9108297A JP10829797A JPH10282527A JP H10282527 A JPH10282527 A JP H10282527A JP 9108297 A JP9108297 A JP 9108297A JP 10829797 A JP10829797 A JP 10829797A JP H10282527 A JPH10282527 A JP H10282527A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate line
pixel electrode
electrode
gate
liquid crystal
Prior art date
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Pending
Application number
JP9108297A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ikuhiro Yamaguchi
郁博 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Priority to JP9108297A priority Critical patent/JPH10282527A/en
Publication of JPH10282527A publication Critical patent/JPH10282527A/en
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  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress the occurrence of parasitic capacitance between a gate line and a picture element electrode by preventing the gate line selecting the picture element electrode from being protruded on the side of the picture element electrode. SOLUTION: The gate line 12 selecting the row of the picture element electrode 11 is formed along the row of the picture element electrode 11. Also, the picture element electrode 11 within the same row is arranged so as to make an edge part 11b where a notched part 11a is not formed adjacent to the gate line 12 performing selection. Then, a gate projecting part 12A projecting along the notched part 11A of the picture element electrode 11 of a next row is formed at the gate line 12. The gate line 12 where a TFT 16 connected to the picture element electrode 11 is formed is constituted so as not to project on the side of the picture element electrode 11. Thus, an area where the parasitic capacity occurs is reduced, so that the occurrence of flicker due to jump-in voltage caused by the occurrence of the parasitic capacitance is suppressed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、液晶表示装置に
関し、さらに詳しくは、スイッチング素子として薄膜ト
ランジスタ(以下、TFTという)を備えた液晶表示装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device having a thin film transistor (hereinafter, referred to as a TFT) as a switching element.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置として、各画素ごとに薄膜
トランジスタを備えた、アクティブマトリクス駆動方式
のものがある。このアクティブマトリクス駆動の液晶表
示装置は、周知のとおり、一対の透明基板の一方に表示
領域全域に亙って共通電極(コモン電極)が形成され、
他方の透明基板(以下、TFT基板という)側に複数の
画素電極がマトリクス状に配列され、これら両透明基板
間に液晶が封止されている。この液晶表示装置では、T
FTでスイッチングを行うものであり、画素電極と共通
電極との間に電圧を印加することにより、その画素部分
に対応する液晶の光学特性が制御されて表示を行うこと
ができる。TFT基板側には、ゲートラインとデータラ
インとが互いに絶縁膜を介して交差するように、X−Y
マトリクス状に形成されている。そして、ゲートライン
とデータラインとが交差する部分に、それぞれTFTが
配置・接続されている。図6は、ゲートライン1、1と
データライン2、2とに囲まれた1つの画素電極3を示
す要部平面図である。同図中4で示したTFTは、ゲー
トライン1から画素電極3側に向けて突出するゲート電
極1A上に半導体層5が形成され、半導体層5上の一対
のソース・ドレイン領域の一方にデータラインから突出
するドレイン電極(またはソース電極)2Aが接続さ
れ、さらに半導体層5上のソース・ドレイン領域の他方
に画素電極3と一端が接続されたソース電極(またはド
レイン電極)6の他端が接続されて構成されている。な
お、TFT4が接続される画素電極3には、そのTFT
4の占有面積を確保するために矩形の切り欠きが形成さ
れている。
2. Description of the Related Art As a liquid crystal display device, there is an active matrix drive system having a thin film transistor for each pixel. As is well known, in this active matrix driven liquid crystal display device, a common electrode (common electrode) is formed on one of a pair of transparent substrates over the entire display area.
A plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix on the other transparent substrate (hereinafter, referred to as TFT substrate) side, and liquid crystal is sealed between the two transparent substrates. In this liquid crystal display device, T
Switching is performed by FT. By applying a voltage between the pixel electrode and the common electrode, the optical characteristics of the liquid crystal corresponding to the pixel portion can be controlled to perform display. On the TFT substrate side, XY such that a gate line and a data line cross each other via an insulating film.
They are formed in a matrix. The TFTs are arranged and connected at the intersections of the gate lines and the data lines. FIG. 6 is a main part plan view showing one pixel electrode 3 surrounded by gate lines 1 and 1 and data lines 2 and 2. FIG. In the TFT indicated by 4 in the figure, a semiconductor layer 5 is formed on a gate electrode 1A protruding from the gate line 1 toward the pixel electrode 3, and data is stored in one of a pair of source / drain regions on the semiconductor layer 5. A drain electrode (or source electrode) 2A protruding from the line is connected, and the other end of a source electrode (or drain electrode) 6 whose one end is connected to the pixel electrode 3 is connected to the other of the source / drain regions on the semiconductor layer 5. Connected and configured. The pixel electrode 3 to which the TFT 4 is connected is provided with the TFT
In order to secure the occupied area of No. 4, a rectangular notch is formed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た液晶表示装置においては、図7に斜線で示す領域、す
なわちゲートライン(ゲート電極1Aを含む)1と画素
電極3とが隣接する領域に、寄生容量が発生する。この
寄生容量は、ゲートライン1と画素電極3とが隣接する
領域の長さに比例する。このため、ゲート電極1Aが画
素領域内側に突出する長さが長くなればゲート側と画素
電極3との隣接する領域の長さが長くなり、その分だけ
寄生容量が増加する。この寄生容量は、ゲートライン1
の電圧がオフレベルに変わるときに発生するものであ
り、所謂飛び込み電圧を増大させるという不都合があ
る。そして、この飛び込み電圧が増大すると液晶表示装
置にフリッカが発生するという問題点があった。
However, in the above-mentioned liquid crystal display device, a parasitic area is formed in a region indicated by oblique lines in FIG. 7, that is, a region where the gate line (including the gate electrode 1A) 1 and the pixel electrode 3 are adjacent to each other. Generate capacity. This parasitic capacitance is proportional to the length of the region where the gate line 1 and the pixel electrode 3 are adjacent to each other. For this reason, if the length of the gate electrode 1A protruding inside the pixel region increases, the length of the region adjacent to the gate side and the pixel electrode 3 increases, and the parasitic capacitance increases accordingly. This parasitic capacitance is equal to gate line 1
Is generated when the voltage of the first signal changes to the off level, and there is a disadvantage that the so-called jump voltage is increased. When the jump voltage increases, flicker occurs in the liquid crystal display device.

【0004】また、図8に示すように、補助容量(C
s)電極7を用いてデータライン2と画素電極3との間
の隙間を遮光する、所謂シールドCs構造を採用する場
合に、上記したゲート電極1Aの突出が以下に説明する
ような不都合を招く。すなわち、この補助容量電極7と
ゲートライン(ゲート電極1Aを含む)1とは、同一材
料膜を同時にパターニングした結果形成されたものであ
るため、短絡しないように所定距離を隔てる必要があ
り、図8に示すように補助容量電極7で光シールドする
領域が小さくなる。Csシールド構造では、図示しない
TFT基板と対向する他方の透明基板(コモン基板)側
に形成されるブラックマスクに合わせズレが多少あって
も、補助容量電極の幅が合わせズレ以上の長さに設定す
れば画素の開口率が変わらないという利点をもつが、上
記したように補助容量電極7で光シールドする領域が小
さくなるとこの利点を十分に発揮できない。補助容量電
極7により光シールドする領域が小さくならないよう
に、図9に示すように、ゲート電極1Aを横に(ゲート
ライン1に沿って)ずらした構造も考えられているが、
このような構造にすると画素の開口率が小さくなるとい
う不都合がある。
[0006] As shown in FIG. 8, an auxiliary capacitance (C
s) In the case of employing a so-called shield Cs structure in which the gap between the data line 2 and the pixel electrode 3 is shielded from light by using the electrode 7, the above-described protrusion of the gate electrode 1A causes the following inconvenience. . That is, since the auxiliary capacitance electrode 7 and the gate line (including the gate electrode 1A) 1 are formed as a result of simultaneous patterning of the same material film, they must be separated by a predetermined distance so as not to short-circuit. As shown in FIG. 8, the area to be light-shielded by the auxiliary capacitance electrode 7 is reduced. In the Cs shield structure, the width of the auxiliary capacitance electrode is set to be equal to or longer than the misalignment even if there is some misalignment with the black mask formed on the other transparent substrate (common substrate) facing the TFT substrate (not shown). This has the advantage that the aperture ratio of the pixel does not change. However, as described above, this advantage cannot be sufficiently exhibited if the area to be light-shielded by the auxiliary capacitance electrode 7 is small. A structure in which the gate electrode 1A is shifted laterally (along the gate line 1) as shown in FIG.
Such a structure has a disadvantage that the aperture ratio of the pixel is reduced.

【0005】この発明が解決しようとする課題は、ゲー
トラインと画素電極との間の寄生容量の発生を抑制でき
る液晶表示装置を得るにはどのような手段を講じればよ
いかという点にある。また、この発明が解決しようとす
る他の課題は、データラインと画素電極との間の隙間を
補助容量電極で遮光できる領域を広くできるとともに、
ブラックマスクの合わせズレによる開口率変動の少ない
液晶表示装置を得るにはどのような手段を講じればよい
かという点にある。
[0005] The problem to be solved by the present invention lies in what kind of measures should be taken to obtain a liquid crystal display device capable of suppressing the occurrence of parasitic capacitance between a gate line and a pixel electrode. Another problem to be solved by the present invention is to increase the area in which the gap between the data line and the pixel electrode can be shielded by the auxiliary capacitance electrode,
The point is what kind of measures should be taken to obtain a liquid crystal display device in which the aperture ratio changes little due to the misalignment of the black mask.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
複数のゲートラインと複数のデータラインとが互いに絶
縁膜を介して交差するように形成され、ゲートラインと
データラインとで区分された領域にそれぞれ画素電極が
配置されるとともに、前記ゲートラインと前記データラ
インとの交差部近傍にそれぞれ対応する前記画素電極に
接続された薄膜トランジスタが配置された液晶表示装置
において、前記画素電極を選択するゲートラインが当該
画素電極側に突出しないことを特徴としている。
According to the first aspect of the present invention,
A plurality of gate lines and a plurality of data lines are formed so as to intersect with each other with an insulating film interposed therebetween, and pixel electrodes are respectively arranged in regions divided by the gate lines and the data lines. In a liquid crystal display device in which thin film transistors connected to the corresponding pixel electrodes are arranged in the vicinity of intersections with the data lines, a gate line for selecting the pixel electrodes does not protrude toward the pixel electrodes.

【0007】請求項1記載の発明においては、画素電極
をスイッチングするTFTのゲートが、この画素電極側
に突出していないようにしたため、画素電極とゲートラ
インとが互いに隣接する領域の面積が小さくなる。この
ため、この画素電極とゲートラインとの間の寄生容量は
小さくなる。なお、ゲートラインと画素電極との間の寄
生容量は、ゲートラインの電圧がオフレベルに変わると
きに生じる飛び込み電圧を増大させるが、請求項1記載
の発明によれば、寄生容量を小さくするため、この飛び
込み電圧の増大を抑制することができ、フリッカの発生
を抑制することができる。
According to the first aspect of the present invention, the area of the region where the pixel electrode and the gate line are adjacent to each other is reduced because the gate of the TFT for switching the pixel electrode does not protrude toward the pixel electrode. . Therefore, the parasitic capacitance between the pixel electrode and the gate line is reduced. In addition, the parasitic capacitance between the gate line and the pixel electrode increases the jump voltage generated when the voltage of the gate line changes to the off level. According to the first aspect of the present invention, the parasitic capacitance is reduced. Thus, the increase in the jump voltage can be suppressed, and the occurrence of flicker can be suppressed.

【0008】請求項2記載の発明は、前記ゲートライン
が、当該ゲートラインで選択される画素電極に対して当
該ゲートラインを挟んで反対側に位置する画素電極側へ
突出するゲート突出部を有することを特徴としている。
請求項2記載の発明においては、画素電極をスイッチン
グするTFTのゲートが、このTFTでスイッチングを
行わない画素電極側、すなわち隣の列の画素電極の方へ
突出して、この隣の列の画素電極とこのゲートラインと
の間の寄生容量が増加することになり、この寄生容量に
よってゲートパルス変動に伴った画素電極電位の変動を
生じるが、この電位の変動は微少でかつごく短時間であ
るため表示画質への悪影響は無視できる。また、この隣
の列の画素電極との間の寄生容量は、補助容量のような
作用を持つため、逆に、飛び込み電圧を小さくするとい
う利点がある。さらに、ゲート部が隣の列の画素電極側
に突出するため、TFTの形成領域を確保できるという
利点がある。
In the invention according to claim 2, the gate line has a gate projecting portion projecting toward a pixel electrode located on the opposite side of the pixel electrode selected by the gate line with the gate line interposed therebetween. It is characterized by:
According to the second aspect of the present invention, the gate of the TFT for switching the pixel electrode protrudes toward the pixel electrode on which the TFT is not switched, that is, toward the pixel electrode in the next column, and the pixel electrode in the next column is switched. And the parasitic capacitance between the gate line and the gate line increases, and the parasitic capacitance causes a variation in the pixel electrode potential accompanying the variation in the gate pulse. However, since the variation in the potential is minute and very short, The adverse effect on the display quality can be ignored. In addition, the parasitic capacitance between the pixel electrode in the adjacent column and the parasitic capacitance has an effect like an auxiliary capacitance, and conversely, there is an advantage that the jump voltage is reduced. Further, since the gate portion protrudes to the pixel electrode side of the adjacent column, there is an advantage that a TFT formation region can be secured.

【0009】請求項3記載の発明は、前記画素電極の、
当該画素電極の選択を行わない隣接するゲートライン側
の周縁部および前記データラインが通る画素電極どうし
の間に沿って形成され、かつ当該画素電極と絶縁膜を介
して重なる補助容量電極を備えることを特徴としてい
る。請求項3記載の発明においては、補助容量を小さく
できるため、この補助容量を抑制するための補助容量電
極の画素電極と重なる面積を小さくすることができ、開
口率を高くすることができる。このように開口率に余裕
があるため、画素電極どうしの間にデータラインが通る
領域を補助容量電極で光シールドする構造においてこの
領域に形成する補助容量電極の幅を確保することができ
る。このため、ブラックマスクの合わせズレが発生して
も、この補助容量電極の幅がズレ幅を吸収するため、開
口率が変化するという問題点を解決することができる。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the above-mentioned pixel electrode,
A storage capacitor electrode is formed along the periphery of the adjacent gate line side where the selection of the pixel electrode is not performed and between the pixel electrodes passing through the data line, and overlaps with the pixel electrode via an insulating film. It is characterized by. According to the third aspect of the present invention, since the auxiliary capacitance can be reduced, the area of the auxiliary capacitance electrode for suppressing the auxiliary capacitance that overlaps with the pixel electrode can be reduced, and the aperture ratio can be increased. Since the aperture ratio has a margin as described above, the width of the auxiliary capacitance electrode formed in this region can be secured in a structure in which the region where the data line passes between the pixel electrodes is optically shielded by the auxiliary capacitance electrode. For this reason, even if the misalignment of the black mask occurs, the problem that the aperture ratio changes because the width of the auxiliary capacitance electrode absorbs the misalignment width can be solved.

【0010】請求項4記載の発明は、前記画素電極が、
デルタ配列をなすことを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, the pixel electrode includes:
It is characterized by a delta arrangement.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、この発明に係る液晶表示装
置の詳細を図面に示す実施形態に基づいて説明する。 (実施形態1)図1〜図4は、本発明に係る液晶表示装
置の実施形態1を示している。図1は表示装置のTFT
基板側の1画素部分を示す要部平面図、図2は画素電極
とゲートラインとの関係を示す平面説明図、図3および
図4は本実施形態において補助容量電極を形成した構造
を示す要部平面図である。まず、本実施形態の液晶表示
装置では、TFT基板(図示省略する)に、1つのコー
ナ部が長方形状の切り欠き部11Aが形成された略矩形
状の、透明なITOでなる複数の画素電極11がマトリ
クス状に配置されている。本実施形態では、この切り欠
き部11Aが図中左上に位置する。この画素電極11の
列(図中横方向)に沿って、これら画素電極11の列を
選択するゲートライン12が形成されている。なお、同
列内の画素電極11は、これらの選択を行うゲートライ
ン12に対して、切り欠き部11が形成されていない縁
部11Bが隣接するように配置されている。そして、ゲ
ートライン12には、次の列の画素電極11の切り欠き
11Aに沿って図中下方向へ突出するゲート突出部12
Aが形成されている。すなわち、1本のゲートライン1
2では、列をなす画素電極11の数だけゲート突出部1
2Aが形成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The details of the liquid crystal display device according to the present invention will be described below with reference to the embodiments shown in the drawings. (Embodiment 1) FIGS. 1 to 4 show Embodiment 1 of a liquid crystal display device according to the present invention. Figure 1 shows the TFT of the display device
FIG. 2 is a plan view showing a relationship between a pixel electrode and a gate line, and FIGS. 3 and 4 are views each showing a structure in which an auxiliary capacitance electrode is formed in the present embodiment. It is a partial plan view. First, in the liquid crystal display device of the present embodiment, a plurality of pixel electrodes made of a transparent ITO having a substantially rectangular shape in which one corner portion is formed with a rectangular cutout portion 11A are formed on a TFT substrate (not shown). 11 are arranged in a matrix. In the present embodiment, the notch 11A is located at the upper left in the figure. A gate line 12 for selecting the column of the pixel electrodes 11 is formed along the column of the pixel electrodes 11 (the horizontal direction in the figure). Note that the pixel electrodes 11 in the same row are arranged such that the edge portion 11B where the notch portion 11 is not formed is adjacent to the gate line 12 for making these selections. The gate line 12 has a gate protrusion 12 protruding downward in the drawing along the notch 11A of the pixel electrode 11 in the next column.
A is formed. That is, one gate line 1
2, the number of the gate protrusions 1 is equal to the number of the pixel electrodes 11 in the column.
2A is formed.

【0012】ゲートライン12におけるゲート突出部1
2Aが形成されたそれぞれの領域上には、a−Siから
なる半導体層13がパターン形成されている。また、ゲ
ートライン12に対して直交する行方向に並ぶ画素電極
11の行どうしの間にそれぞれデータライン14が、形
成されている。このデータライン14の本数は、画素電
極11の行の数と同数である。また、各データライン1
4は、正確にはそれぞれの画素電極11の行の一側方に
(例えば本実施形態では図示するように行の左側方)に
形成されている。なお、ゲートライン12とデータライ
ン14との間には、図示しない絶縁膜が介在されてい
る。そして、データライン14には、近傍に配置された
各半導体層13の、ゲート突出部12A側に位置する一
方のソース・ドレイン領域に接続されるようにドレイン
電極14Aが突出して形成されている。また、半導体層
13における他方のソース・ドレイン領域には、スイッ
チングされる画素電極11に接続されたソース電極15
が設けられている。これらゲートライン12、半導体層
13、ソース電極15およびドレイン電極14Aで、T
FT16が構成されている。なお、本実施形態における
他の構成は、周知の液晶表示装置と同様であるため、そ
の説明を割愛する。
Gate protruding portion 1 in gate line 12
A semiconductor layer 13 made of a-Si is pattern-formed on each region where 2A is formed. The data lines 14 are formed between the rows of the pixel electrodes 11 arranged in the row direction orthogonal to the gate lines 12. The number of the data lines 14 is the same as the number of rows of the pixel electrodes 11. Also, each data line 1
4 is formed on one side of each row of the pixel electrodes 11 (for example, on the left side of the row as shown in the present embodiment). Note that an insulating film (not shown) is interposed between the gate line 12 and the data line 14. In the data line 14, a drain electrode 14A is formed so as to protrude so as to be connected to one of the source / drain regions located on the side of the gate protrusion 12A of each of the semiconductor layers 13 arranged in the vicinity. The other source / drain region in the semiconductor layer 13 has a source electrode 15 connected to the pixel electrode 11 to be switched.
Is provided. The gate line 12, the semiconductor layer 13, the source electrode 15 and the drain electrode 14A form T
The FT 16 is configured. Note that other configurations in the present embodiment are the same as those of a well-known liquid crystal display device, and a description thereof will be omitted.

【0013】上記した構成の液晶表示装置においては、
図2に斜線で示す領域、すなわち画素電極11とこの画
素電極11に接続されるTFT16が形成されたゲート
ライン12との対向する縁部周辺の領域に、寄生容量が
発生する。なお、本実施形態においては、画素電極11
とゲートライン12との対向する縁が平行をなす直線で
あるため寄生容量の発生する領域を最小にすることがで
きる。すなわち、本実施形態では、画素電極11に接続
されたTFTが形成されるゲートライン12が、その画
素電極11側へ突出していない分、寄生容量が発生する
領域を小さくすることができる。このため、本実施形態
の液晶表示装置においては、寄生容量の発生による飛び
込み電圧に起因したフリッカの発生を抑えることができ
る。なお、画素電極11をスイッチングするTFT16
のゲートライン12が、このTFT16でスイッチング
を行わない画素電極11側、すなわち次の列の画素電極
11の方へ突出して、この次の列の画素電極11とこの
ゲートライン12(ゲート突出部12Aを含む)との間
の寄生容量が発生し、この寄生容量によってゲートパル
ス変動に伴った画素電極電位の変動を生じることが考え
られるが、この電位の変動は微少でかつごく短時間であ
るため表示画質への悪影響は無視できる。また、次の列
の画素電極11との間の寄生容量は悪影響を無視できる
だけでなく、補助容量のような作用を持つため、飛び込
み電圧を小さくするという好ましい作用を有する。さら
に、ゲート突出部12Aが次の列の画素電極11側に突
出するため、TFT16の形成領域を確保することがで
きる。
In the liquid crystal display device having the above configuration,
Parasitic capacitance is generated in a region indicated by oblique lines in FIG. 2, that is, in a region around an edge of the pixel electrode 11 and the gate line 12 where the TFT 16 connected to the pixel electrode 11 is formed. In the present embodiment, the pixel electrode 11
The region where the parasitic capacitance is generated can be minimized because the opposing edges of the gate line 12 and the gate line 12 are parallel to each other. That is, in the present embodiment, since the gate line 12 in which the TFT connected to the pixel electrode 11 is formed does not protrude toward the pixel electrode 11, the region where the parasitic capacitance occurs can be reduced. For this reason, in the liquid crystal display device of the present embodiment, it is possible to suppress the occurrence of flicker caused by the jump voltage due to the occurrence of the parasitic capacitance. The TFT 16 for switching the pixel electrode 11
The gate line 12 protrudes toward the pixel electrode 11 where switching is not performed by the TFT 16, that is, toward the pixel electrode 11 in the next column, and the pixel electrode 11 in the next column and the gate line 12 (the gate protrusion 12A). ), And the potential of the pixel electrode may fluctuate due to the fluctuation of the gate pulse due to the parasitic capacitance. However, since the fluctuation of the potential is minute and very short, The adverse effect on the display quality can be ignored. Further, the parasitic capacitance between the pixel electrode 11 in the next column and the pixel electrode 11 can not only neglect the adverse effect, but also has an effect like an auxiliary capacitance. Further, since the gate protrusion 12A protrudes toward the pixel electrode 11 in the next column, a region for forming the TFT 16 can be secured.

【0014】図3は、本実施形態において画素電極11
の下に図示しない絶縁膜を介して補助容量電極17を、
画素電極11の中央を列方向に沿って形成した例を示し
ている。図4は、本実施形態において補助容量電極17
を隣接する画素電極11の列選択を行うゲートライン1
2に沿って形成した例である。本実施形態では、ゲート
ライン12と画素電極11との杆の寄生容量を小さくで
きるため、飛び込み電圧を小さくするための補助容量が
小さくてよい。よって、補助容量電極17と画素電極1
1とが重なる面積を小さくすることができ、画素の高開
口率化が可能となる。
FIG. 3 shows the pixel electrode 11 in this embodiment.
Under the storage capacitor electrode 17 via an insulating film (not shown),
An example in which the center of the pixel electrode 11 is formed along the column direction is shown. FIG. 4 shows the storage capacitor electrode 17 in the present embodiment.
A gate line 1 for selecting a column of adjacent pixel electrodes 11
This is an example formed along line 2. In the present embodiment, since the parasitic capacitance of the rod between the gate line 12 and the pixel electrode 11 can be reduced, the auxiliary capacitance for reducing the jump voltage may be small. Therefore, the auxiliary capacitance electrode 17 and the pixel electrode 1
1 can be reduced, and the aperture ratio of the pixel can be increased.

【0015】(実施形態2)図5は、本発明に係る液晶
表示装置の実施形態2を示すTFT基板側の要部平面図
である。本実施形態は、それぞれの画素電極11をR、
G、B配色のいずれかに対応させたデルタ配列に並べる
とともに、列内の画素電極11どうしの間を補助容量電
極17で光シールドした構造を有している。なお、本実
施形態の説明に当たり、上記した実施形態1と同一部分
には同一の符号を付して説明する。また、本実施形態の
液晶表示装置における、画素電極、ゲートライン、デー
タラインおよび補助容量電極以外の構成については従来
の液晶表示装置と同様であるため、その説明を省略す
る。
(Embodiment 2) FIG. 5 is a plan view of a main part of a TFT substrate side showing a liquid crystal display device according to Embodiment 2 of the present invention. In the present embodiment, each pixel electrode 11 is set to R,
It has a structure in which the pixels are arranged in a delta arrangement corresponding to one of the G and B colors, and the space between the pixel electrodes 11 in the column is light-shielded by the auxiliary capacitance electrode 17. In the description of the present embodiment, the same portions as those in the above-described first embodiment will be denoted by the same reference numerals. Further, the configuration of the liquid crystal display device of the present embodiment other than the pixel electrodes, the gate lines, the data lines, and the auxiliary capacitance electrodes is the same as that of the conventional liquid crystal display device, and thus the description thereof is omitted.

【0016】本実施形態においても、ゲートライン12
が列方向に平行に形成されている。それぞれのゲートラ
イン12の側方には、このゲートライン12に沿って画
素電極11がR、G、Bを1周期として、この周期を繰
り返してなる列をなすように配置されている。相隣接す
る画素電極11の列は、実質的に1周期の半分だけ列方
向にずれた配置となっている。列方向に並ぶ画素電極1
1どうしの間には、行方向に延びるデータライン14が
形成されている。このデータライン14は、ゲートライ
ン12上で実質的に画素幅の三分の一程度列方向に延
び、隣接する列に属する画素電極11どうしの間を行方
向に延び、次に再度画素幅の三分の一程度の寸法だけ列
方向に戻るように延びるという形状を繰り返す、所謂ジ
グザグ形状に形成されている。また、ゲートライン12
には、このゲートライン12上に形成されるTFT16
でスイッチングされない、隣接する列の画素電極11側
に向けてゲート突出部12Aが形成されている。なお、
このゲート突出部12Aの突出に応じて、このゲート突
出部12Aを受け入れる画素領域の画素電極11の縁部
の略中央には長方形状の切り欠き部11Aが形成されて
いる。このゲート突出部12Aが形成された領域のゲー
トライン12上には、それぞれ半導体層13がパターン
形成されている。さらに、半導体層13におけるゲート
突出部12A側に位置する一方のソース・ドレイン領域
には、近傍を通るデータライン14から延びるドレイン
電極14Aが実質的に画素幅の十二分の一の長さで行方
向に対し互い違いに突出して接続されている。また、半
導体層13の他方のソース・ドレイン領域には、TFT
16でスイッチングされる画素電極11に接続されたソ
ース電極15が接続されている。
Also in this embodiment, the gate line 12
Are formed parallel to the column direction. On the side of each gate line 12, the pixel electrodes 11 are arranged along the gate line 12 so as to form a row formed by repeating R, G, and B as one cycle. The columns of the pixel electrodes 11 adjacent to each other are arranged to be displaced in the column direction by substantially half of one cycle. Pixel electrodes 1 arranged in the column direction
Data lines 14 extending in the row direction are formed between the two. The data line 14 extends in the column direction substantially one third of the pixel width on the gate line 12, extends in the row direction between the pixel electrodes 11 belonging to adjacent columns, and then extends again in the pixel width. It is formed in a so-called zigzag shape that repeats a shape extending back in the column direction by about one-third of the dimension. In addition, the gate line 12
The TFT 16 formed on the gate line 12
The gate protruding portion 12A is formed toward the pixel electrode 11 side of the adjacent column, which is not switched by the above. In addition,
In accordance with the protrusion of the gate protrusion 12A, a rectangular cutout 11A is formed substantially at the center of the edge of the pixel electrode 11 in the pixel region that receives the gate protrusion 12A. A semiconductor layer 13 is pattern-formed on each of the gate lines 12 in the region where the gate protrusion 12A is formed. Further, a drain electrode 14A extending from a data line 14 passing therethrough is provided on one of the source / drain regions of the semiconductor layer 13 located on the side of the gate protrusion 12A with a length substantially equal to a half of the pixel width. They are connected alternately in the row direction. The other source / drain region of the semiconductor layer 13 has a TFT
The source electrode 15 connected to the pixel electrode 11 switched at 16 is connected.

【0017】上記したTFT基板側の構成において、ゲ
ートライン12に沿って列をなす画素電極11の切り欠
き部11Aが形成された側の縁部分に重なるように、画
素電極11の下方(TFT基板側)に図示しない絶縁膜
を介して補助容量電極17が形成されている。なお、本
実施形態においては、補助容量電極17が、遮光性をも
つ電極材料で形成されている。また、この補助容量電極
17は、図5に示すように、同一列の画素電極11どう
しの間の領域に重なるように突出する突出部17Aが形
成されている。この突出分17Aは、列内で互いに隣接
する画素電極11の縁部分とも重なるようになってい
る。
In the above-described configuration on the TFT substrate side, the lower portion of the pixel electrode 11 (the TFT substrate) is overlapped with the edge portion of the pixel electrode 11 forming a column along the gate line 12 on the side where the cutout portion 11A is formed. On the (side), an auxiliary capacitance electrode 17 is formed via an insulating film (not shown). In the present embodiment, the auxiliary capacitance electrode 17 is formed of an electrode material having a light shielding property. Further, as shown in FIG. 5, the auxiliary capacitance electrode 17 has a protruding portion 17A that protrudes so as to overlap a region between the pixel electrodes 11 in the same column. The projecting portion 17A also overlaps the edge portions of the pixel electrodes 11 adjacent to each other in the column.

【0018】本実施形態においては、画素電極11と、
この画素電極11をスイッチングするTFT16が形成
されるゲートライン12と、が互いに突出することなく
縁部が互いに平行をなすように形成されているため、こ
の領域に発生する寄生容量を最小にすることができ、フ
リッカの発生を抑制することができる。このように寄生
容量の発生を抑えた構造としたことにより、この寄生容
量の発生を抑えるための補助容量電極17と画素電極1
1とが重なる面積を小さくすることができ、よって画素
の開口率を高くすることができる。このため、同一列の
画素電極11どうしの間の領域を補助容量電極17で遮
光するように、突出部17の幅にパターンずれに対する
余裕を持たせても、十分な開口率を確保することができ
る。さらに、コモン基板(図示省略する)側に形成され
るブラックマスク(図示省略する)の合わせズレも突出
部が吸収することができるため、開口率の変化を小さく
できるという利点がある。なお、本実施形態において
も、TFT16が形成されたゲートライン12が、この
TFT16でスイッチングを行わない画素電極11側、
すなわち次の列の画素電極11の方へ突出して、この隣
の列の画素電極11とこのゲートライン12(ゲート突
出部12Aを含む)との間の寄生容量が発生し、この寄
生容量によってゲートパルス変動に伴った画素電極電位
の変動を生じることが考えられるが、この電位の変動は
微少でかつごく短時間であるため表示画質への悪影響は
無視できる。また、次の列の画素電極11との間の寄生
容量は悪影響を無視できるだけでなく、補助容量のよう
な作用を持つため、飛び込み電圧を小さくするという好
ましい作用を有する。さらに、ゲート突出部12Aが次
の列の画素電極11側に突出するため、TFT16の形
成領域を確保することができるという利点がある。
In the present embodiment, the pixel electrode 11
Since the gate line 12 on which the TFT 16 for switching the pixel electrode 11 is formed is formed so that the edges are parallel to each other without protruding from each other, it is necessary to minimize the parasitic capacitance generated in this region. And the occurrence of flicker can be suppressed. With such a structure in which the generation of the parasitic capacitance is suppressed, the auxiliary capacitance electrode 17 and the pixel electrode 1 for suppressing the generation of the parasitic capacitance are formed.
1 can be reduced, and the aperture ratio of the pixel can be increased. For this reason, a sufficient aperture ratio can be ensured even if the width of the protruding portion 17 has a margin for the pattern shift so that the region between the pixel electrodes 11 in the same column is shielded from light by the auxiliary capacitance electrode 17. it can. Further, since the protrusion can absorb the misalignment of the black mask (not shown) formed on the common substrate (not shown) side, there is an advantage that the change in the aperture ratio can be reduced. Note that, also in the present embodiment, the gate line 12 on which the TFT 16 is formed is connected to the pixel electrode 11 on which the TFT 16 does not perform switching.
That is, a parasitic capacitance is projected between the pixel electrode 11 in the next column and the gate line 12 (including the gate protrusion 12A), and the parasitic capacitance is generated between the pixel electrode 11 in the next column and the gate line 12 (including the gate protrusion 12A). It is conceivable that the potential of the pixel electrode fluctuates due to the fluctuation of the pulse, but since the fluctuation of the potential is very small and very short, the adverse effect on the display image quality can be ignored. Further, the parasitic capacitance between the pixel electrode 11 in the next column and the pixel electrode 11 can not only neglect the adverse effect, but also has an effect like an auxiliary capacitance. Further, since the gate protrusion 12A protrudes toward the pixel electrode 11 in the next column, there is an advantage that a region for forming the TFT 16 can be secured.

【0019】以上、実施形態1および実施形態2につい
て説明したが、本発明はこれらに限定されるものではな
く、構成の要旨に付随する各種の変更が可能である。例
えば、上記した実施形態1および実施形態2において
は、ゲートライン12に、このゲートライン12上に形
成されるTFT16でスイッチングされない、隣の列の
画素電極11側に突出するゲート突出部12Aを形成し
たが、TFT16の形成領域が確保できる場合にはゲー
ト突出部12Aを形成しなくともよい。また、ゲートラ
イン12、データライン14、半導体層13、ソース・
ドレイン電極などの材料も適宜採用することができる。
また、上記した実施形態1および実施形態2において
は、TFT16を逆スタガ型構造のものを適用したが、
この他の構造のTFTを用いることも勿論可能である。
さらに、上記した実施形態1および実施形態2において
は、データライン14から半導体層13にドレイン電極
14Aを、画素電極11側にソース電極15を設けた
が、TFT16の特性、液晶材料、駆動方法に応じてソ
ースとドレインは適用変更を要する。さらにまた、上記
した実施形態1においては、データライン14が形成さ
れる、画素電極11どうしの間の領域に補助容量電極を
延ばした構成として列方向に並ぶ画素電極間の光シール
ドを行うようにしても勿論よい。
Although the first and second embodiments have been described above, the present invention is not limited to these, and various changes accompanying the gist of the configuration are possible. For example, in the first and second embodiments, the gate line 12 is formed with the gate protrusion 12A that is not switched by the TFT 16 formed on the gate line 12 and protrudes toward the pixel electrode 11 in the adjacent column. However, when the formation region of the TFT 16 can be secured, the gate protrusion 12A need not be formed. Further, the gate line 12, the data line 14, the semiconductor layer 13, the source
A material such as a drain electrode can be appropriately adopted.
In the first and second embodiments, the TFT 16 has an inverted staggered structure.
Of course, it is also possible to use a TFT having another structure.
In the first and second embodiments, the drain electrode 14A is provided from the data line 14 to the semiconductor layer 13 and the source electrode 15 is provided on the pixel electrode 11 side. However, the characteristics of the TFT 16, the liquid crystal material, and the driving method are different. The source and drain will need to be changed accordingly. Furthermore, in the first embodiment, the data lines 14 are formed, and the auxiliary capacitance electrodes are extended in the regions between the pixel electrodes 11 so that light shielding between the pixel electrodes arranged in the column direction is performed. Of course, it is good.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、ゲートラインと画素電極との間の寄生容量
の発生を抑制して、フリッカなどの発生を抑制した液晶
表示装置を実現することができる。また、寄生容量の発
生を抑えたことにより、補助容量電極の画素電極との重
なり面積を小さくして画素の開口率を高くすることがで
きる。さらに、この発明によれば、高開口率としたた
め、データラインと画素電極との間の隙間を遮光する補
助容量電極の幅を広くできるため、ブラックマスクの合
わせズレによる開口率変動の少ない液晶表示装置を実現
するという効果を奏する。
As is apparent from the above description, according to the present invention, a liquid crystal display device in which the occurrence of a parasitic capacitance between a gate line and a pixel electrode is suppressed and the occurrence of flicker and the like is suppressed is realized. can do. Further, since the generation of the parasitic capacitance is suppressed, the overlapping area of the auxiliary capacitance electrode and the pixel electrode can be reduced, and the aperture ratio of the pixel can be increased. Further, according to the present invention, since the aperture ratio is high, the width of the auxiliary capacitance electrode for shielding the gap between the data line and the pixel electrode can be widened, so that the liquid crystal display with small aperture ratio fluctuation due to misalignment of the black mask. This has the effect of realizing the device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る液晶表示装置の実施形態1におけ
るTFT基板側の平面図。
FIG. 1 is a plan view of a TFT substrate side in a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】実施形態1における寄生容量が発生する領域を
示す平面説明図。
FIG. 2 is an explanatory plan view showing a region where a parasitic capacitance occurs in the first embodiment;

【図3】実施形態1において補助容量電極を形成した例
を示す平面図。
FIG. 3 is a plan view showing an example in which an auxiliary capacitance electrode is formed in the first embodiment.

【図4】実施形態1において補助容量電極を形成した例
を示す平面図。
FIG. 4 is a plan view showing an example in which an auxiliary capacitance electrode is formed in the first embodiment.

【図5】本発明に係る液晶表示装置の実施形態2におけ
るTFT基板側の平面図。
FIG. 5 is a plan view of a TFT substrate side in a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】従来の液晶表示装置のTFT基板側の要部平面
図。
FIG. 6 is a plan view of a main part of a conventional liquid crystal display device on a TFT substrate side.

【図7】従来の液晶表示装置の要部説明図。FIG. 7 is an explanatory view of a main part of a conventional liquid crystal display device.

【図8】従来の液晶表示装置において補助容量電極を形
成した例を示す平面図。
FIG. 8 is a plan view showing an example in which a storage capacitor electrode is formed in a conventional liquid crystal display device.

【図9】従来の液晶表示装置において補助容量電極を形
成した例を示す平面図。
FIG. 9 is a plan view showing an example in which a storage capacitor electrode is formed in a conventional liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 画素電極 11A 切り欠き部 12 ゲートライン 16 TFT 17 補助容量電極 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Pixel electrode 11A Notch 12 Gate line 16 TFT 17 Auxiliary capacitance electrode

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のゲートラインと複数のデータライ
ンとが互いに絶縁膜を介して交差するように形成され、
ゲートラインとデータラインとで区分された領域にそれ
ぞれ画素電極が配置されるとともに、前記ゲートライン
と前記データラインとの交差部近傍にそれぞれ対応する
前記画素電極に接続された薄膜トランジスタが配置され
た液晶表示装置において、 前記画素電極を選択するゲートラインが当該画素電極側
に突出しないことを特徴とする液晶表示装置。
A plurality of gate lines and a plurality of data lines are formed so as to intersect with each other via an insulating film;
A liquid crystal in which a pixel electrode is arranged in a region divided by a gate line and a data line, and a thin film transistor connected to the pixel electrode corresponding to an intersection between the gate line and the data line is arranged. In a display device, a gate line for selecting the pixel electrode does not protrude toward the pixel electrode.
【請求項2】 前記ゲートラインは、当該ゲートライン
で選択される画素電極に対して当該ゲートラインを挟ん
で反対側に位置する画素電極側へ突出するゲート突出部
を有することを特徴とする請求項1記載の液晶表示装
置。
2. The method according to claim 1, wherein the gate line has a gate protrusion protruding toward a pixel electrode located on a side opposite to the pixel electrode selected by the gate line with the gate line interposed therebetween. Item 2. The liquid crystal display device according to item 1.
【請求項3】 前記画素電極の、当該画素電極の選択を
行わない隣接するゲートライン側に位置する周縁部およ
び前記データラインが通る画素電極どうしの間に沿って
形成され、かつ当該画素電極と絶縁膜を介して重なる補
助容量電極を備えることを特徴とする請求項1または請
求項2に記載の液晶表示装置。
3. The pixel electrode is formed along a peripheral portion located on the side of an adjacent gate line on which the selection of the pixel electrode is not performed and between pixel electrodes passing through the data line, and The liquid crystal display device according to claim 1, further comprising an auxiliary capacitance electrode overlapping with an insulating film interposed therebetween.
【請求項4】 前記画素電極は、デルタ配列をなすこと
を特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の液
晶表示装置。
4. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the pixel electrodes form a delta arrangement.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006013524A (en) * 1999-08-31 2006-01-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and manufacturing method for it
JP2006189846A (en) * 2005-01-03 2006-07-20 Samsung Electronics Co Ltd Array substrate and display panel having same
JPWO2006038382A1 (en) * 2004-10-05 2008-05-15 シャープ株式会社 Electrode substrate and display device including the same
JP2008122972A (en) * 2006-11-15 2008-05-29 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display device and its manufacturing method
CN100397207C (en) * 2004-09-03 2008-06-25 精工爱普生株式会社 Liquid crystal display device and electronic apparatus
US7982267B2 (en) 1999-08-31 2011-07-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Projector including display device
JP2011175032A (en) * 2010-02-23 2011-09-08 Hitachi Displays Ltd Display device
JP2011242784A (en) * 2000-02-22 2011-12-01 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and electronic apparatus
JP2018045076A (en) * 2016-09-14 2018-03-22 株式会社トプコン Optical device

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006013524A (en) * 1999-08-31 2006-01-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and manufacturing method for it
US9466622B2 (en) 1999-08-31 2016-10-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device comprising a thin film transistor and a storage capacitor
US9250490B2 (en) 1999-08-31 2016-02-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device including light shielding film
US8933455B2 (en) 1999-08-31 2015-01-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device comprising pixel
US8552431B2 (en) 1999-08-31 2013-10-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising pixel portion
US8253140B2 (en) 1999-08-31 2012-08-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device having capacitor wiring
US7982267B2 (en) 1999-08-31 2011-07-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Projector including display device
JP2011242784A (en) * 2000-02-22 2011-12-01 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and electronic apparatus
US9318610B2 (en) 2000-02-22 2016-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
US9869907B2 (en) 2000-02-22 2018-01-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
CN100397207C (en) * 2004-09-03 2008-06-25 精工爱普生株式会社 Liquid crystal display device and electronic apparatus
JP4633060B2 (en) * 2004-10-05 2011-02-16 シャープ株式会社 Electrode substrate and display device including the same
JPWO2006038382A1 (en) * 2004-10-05 2008-05-15 シャープ株式会社 Electrode substrate and display device including the same
JP2006189846A (en) * 2005-01-03 2006-07-20 Samsung Electronics Co Ltd Array substrate and display panel having same
US8243244B2 (en) 2006-11-15 2012-08-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
JP2008122972A (en) * 2006-11-15 2008-05-29 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display device and its manufacturing method
JP2011175032A (en) * 2010-02-23 2011-09-08 Hitachi Displays Ltd Display device
JP2018045076A (en) * 2016-09-14 2018-03-22 株式会社トプコン Optical device

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