JPH10281984A - 分光計標準化システム - Google Patents
分光計標準化システムInfo
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- JPH10281984A JPH10281984A JP10077259A JP7725998A JPH10281984A JP H10281984 A JPH10281984 A JP H10281984A JP 10077259 A JP10077259 A JP 10077259A JP 7725998 A JP7725998 A JP 7725998A JP H10281984 A JPH10281984 A JP H10281984A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spectrometer
- sample
- standardization
- filter
- spectrometers
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 分光計の標準化手段の提供。
【解決手段】 コード化されているフィルタを分光計に
挿入し、その透過光を測定し、コード値を基にしてその
測定値を標準化する。
挿入し、その透過光を測定し、コード値を基にしてその
測定値を標準化する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、試料から
特性データを得るための分光計に関し、より具体的に
は、異なる分光計から得られる測定値を、個々の分光計
の間の測定偏りを斟酌して標準化するためのシステムに
関する。
特性データを得るための分光計に関し、より具体的に
は、異なる分光計から得られる測定値を、個々の分光計
の間の測定偏りを斟酌して標準化するためのシステムに
関する。
【０００２】
【従来の技術】分光計は通常、試料、たとえば検定にお
ける他の試験成分と混在する血液、尿又は他の生物学的
物質から特性データを得るために使用される。特性デー
タは、試料の比色測定及び／又は比濁測定によって得る
ことができる。要するに、比色測定は、試料の特定の色
の分析によって試料を評価し、一方、比濁測定は、散乱
光手法を使用して、試料中に懸濁した粒子の濃度を評価
する。比濁分析では、粒子は通常、たとえば、抗体を、
特定のタンパク質に結合させるか、水懸濁性粒子（たと
えばポリスチレン又は他のラテックス）及びタンパク質
に結合させる凝集技術により、試料に導入される。
ける他の試験成分と混在する血液、尿又は他の生物学的
物質から特性データを得るために使用される。特性デー
タは、試料の比色測定及び／又は比濁測定によって得る
ことができる。要するに、比色測定は、試料の特定の色
の分析によって試料を評価し、一方、比濁測定は、散乱
光手法を使用して、試料中に懸濁した粒子の濃度を評価
する。比濁分析では、粒子は通常、たとえば、抗体を、
特定のタンパク質に結合させるか、水懸濁性粒子（たと
えばポリスチレン又は他のラテックス）及びタンパク質
に結合させる凝集技術により、試料に導入される。
【０００３】試料から特性データを得るのに使用するこ
とができるいくつかのタイプの分光計が当該技術で公知
である。比色測定値及び比濁測定値の両方を得るのに使
用することができる一つのタイプの分光計は、試料光線
を基準光線と並行に発する光源を含むデュアルビーム分
光計である。試料を含む試料カートリッジが、分光計ハ
ウジングの中、試料光線の光路中かつ基準光線から離間
したところに取り付けられる。試料光線と整列した光検
出器及び基準光線と整列した光検出器が、それぞれ、試
料を透過する光の量及び空気を透過する光の量を検出し
て、試料の比濁測定及び比色測定を実行する。
とができるいくつかのタイプの分光計が当該技術で公知
である。比色測定値及び比濁測定値の両方を得るのに使
用することができる一つのタイプの分光計は、試料光線
を基準光線と並行に発する光源を含むデュアルビーム分
光計である。試料を含む試料カートリッジが、分光計ハ
ウジングの中、試料光線の光路中かつ基準光線から離間
したところに取り付けられる。試料光線と整列した光検
出器及び基準光線と整列した光検出器が、それぞれ、試
料を透過する光の量及び空気を透過する光の量を検出し
て、試料の比濁測定及び比色測定を実行する。
【０００４】試料の比色分析又は比濁分析を実行する際
には、分光計の光機械的アセンブリ（たとえば光線及び
光検出器）におけるわずかな並びのずれからでも、測定
誤差が出るおそれがある。これらの誤差は、精度誤差が
分光計における光機械的並びのずれの程度に対して指数
関数的に増大することが知られる比濁測定で非常に顕著
に出る。通常、いかなる所与の計器でも、並びのずれに
よって生じる精度の誤差は、その計器に特有である一貫
した「偏り」をもたらす。そのため、多数の計器が現場
で用いられる場合、計器から得られる比色又は比濁デー
タが、同一の試料を評価している最中でさえ、各計器の
個々の偏りの結果としてばらつきを見せる。一定量であ
ればそのようなばらつきは許容可能であるが、ある計器
と次の計器との間で約１０％未満の水準に抑えることが
好ましい。
には、分光計の光機械的アセンブリ（たとえば光線及び
光検出器）におけるわずかな並びのずれからでも、測定
誤差が出るおそれがある。これらの誤差は、精度誤差が
分光計における光機械的並びのずれの程度に対して指数
関数的に増大することが知られる比濁測定で非常に顕著
に出る。通常、いかなる所与の計器でも、並びのずれに
よって生じる精度の誤差は、その計器に特有である一貫
した「偏り」をもたらす。そのため、多数の計器が現場
で用いられる場合、計器から得られる比色又は比濁デー
タが、同一の試料を評価している最中でさえ、各計器の
個々の偏りの結果としてばらつきを見せる。一定量であ
ればそのようなばらつきは許容可能であるが、ある計器
と次の計器との間で約１０％未満の水準に抑えることが
好ましい。
【０００５】各計器の光機械的部品を正確に並べること
により、製造過程でそのようなばらつきを許容可能な水
準にまで減らしうることが当該技術で公知である。しか
し、多数の計器で修正が必要ならば、特にそのような計
器の多くがすでに現場に送達されている場合、この方法
は実施不可能である。もう一つの手法は、既知の濁度の
試料を使用して各計器を較正する手法である。しかし、
多数の計器の間で偏りを修正する場合、相応に多数の既
知の濁度の試料を要し、そのそれぞれを安定した形態で
正確かつ周到に顧客に送達しなければならないため、こ
の手法もまた、同様に実施不可能である。
により、製造過程でそのようなばらつきを許容可能な水
準にまで減らしうることが当該技術で公知である。しか
し、多数の計器で修正が必要ならば、特にそのような計
器の多くがすでに現場に送達されている場合、この方法
は実施不可能である。もう一つの手法は、既知の濁度の
試料を使用して各計器を較正する手法である。しかし、
多数の計器の間で偏りを修正する場合、相応に多数の既
知の濁度の試料を要し、そのそれぞれを安定した形態で
正確かつ周到に顧客に送達しなければならないため、こ
の手法もまた、同様に実施不可能である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記課題を考慮する
と、分光計から得られた特性測定値における計器間のば
らつきを減らすシステムが必要である。システムは、多
数の分光計の間の光機械的偏りを、それらの光学アセン
ブリを並べ直したり構成し直したりすることなく、現場
で修正できるべきである。システムは、操作者が、特別
な訓練を要することなく、個々の計器における偏りを修
正できるようにすべきである。本発明は、前記必要性の
それぞれに対処する。
と、分光計から得られた特性測定値における計器間のば
らつきを減らすシステムが必要である。システムは、多
数の分光計の間の光機械的偏りを、それらの光学アセン
ブリを並べ直したり構成し直したりすることなく、現場
で修正できるべきである。システムは、操作者が、特別
な訓練を要することなく、個々の計器における偏りを修
正できるようにすべきである。本発明は、前記必要性の
それぞれに対処する。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の一つの態様によ
ると、試料から特性データを得るための光学アセンブリ
を有する分光計の標準化システムが提供される。光学ア
センブリは、検出器と光学的に整列した光源を含む。光
源と検出器との間に試料が配置されると、光源が試料に
光線を透過させ、それにより、光線の少なくとも一部が
検出器によって測定されて、その試料に関連する特性デ
ータの実際の値を定義する。標準化システムは、個々の
分光計によって得られる標準化値が現場における他の分
光計から得られる標準化値から約１０％までしか相違し
ないように実際の値を標準化値に変換するように設計さ
れている。標準化係数は、光源と検出器との間の、通常
は試料によって占有される位置にホログラフィー式分散
フィルタを配置することによって得られる。このフィル
タは、フィルタを透過すると予想される光の呼称値を表
す記号でコード化されている。分光計は、フィルタを透
過する光の値を測定し、フィルタの呼称値と分光計によ
って得られた実際の値との比に基づいて標準化係数を計
算する。標準化係数は、システムメモリに記憶すること
ができ、フィルタは、試料を評価するのに分光計を使用
することができるよう、着脱可能である。試料から得ら
れた測定値は、その分光計に関連した標準化係数をそれ
らにかけることによって標準化される。
ると、試料から特性データを得るための光学アセンブリ
を有する分光計の標準化システムが提供される。光学ア
センブリは、検出器と光学的に整列した光源を含む。光
源と検出器との間に試料が配置されると、光源が試料に
光線を透過させ、それにより、光線の少なくとも一部が
検出器によって測定されて、その試料に関連する特性デ
ータの実際の値を定義する。標準化システムは、個々の
分光計によって得られる標準化値が現場における他の分
光計から得られる標準化値から約１０％までしか相違し
ないように実際の値を標準化値に変換するように設計さ
れている。標準化係数は、光源と検出器との間の、通常
は試料によって占有される位置にホログラフィー式分散
フィルタを配置することによって得られる。このフィル
タは、フィルタを透過すると予想される光の呼称値を表
す記号でコード化されている。分光計は、フィルタを透
過する光の値を測定し、フィルタの呼称値と分光計によ
って得られた実際の値との比に基づいて標準化係数を計
算する。標準化係数は、システムメモリに記憶すること
ができ、フィルタは、試料を評価するのに分光計を使用
することができるよう、着脱可能である。試料から得ら
れた測定値は、その分光計に関連した標準化係数をそれ
らにかけることによって標準化される。
【０００８】
【発明の実施の形態】図面、まず図１を参照すると、本
発明の一つの実施態様にしたがって試料の特性データを
得るために使用することができる、符号１０で指定する
従来技術のデュアルビーム分光計が示されている。しか
し、図１に示す分光計１０は、例として示すものである
ことが理解されよう。本発明は、光学アセンブリを使用
して試料から特性データを得るタイプであるならば、実
質的にいかなる分光計を用いて具現化することもでき
る。いずれにしても、図１に示す分光計１０は、同じ光
学系を使用して高精度正透過比濁測定及び高精度比色測
定を実行することができるため、これが好ましい。
発明の一つの実施態様にしたがって試料の特性データを
得るために使用することができる、符号１０で指定する
従来技術のデュアルビーム分光計が示されている。しか
し、図１に示す分光計１０は、例として示すものである
ことが理解されよう。本発明は、光学アセンブリを使用
して試料から特性データを得るタイプであるならば、実
質的にいかなる分光計を用いて具現化することもでき
る。いずれにしても、図１に示す分光計１０は、同じ光
学系を使用して高精度正透過比濁測定及び高精度比色測
定を実行することができるため、これが好ましい。
【０００９】分光計１０は、検出光学系１２と、それと
光学的に整列した光源光学系１４とを含む光学アセンブ
リを含む。光源光学系１４が光線を発し、その光線が検
出光学系１２によって検出される。試料は通常、光源光
学系１４と検出光学系１２との間に配置されて、光線
が、試料を透過したのち、検出光学系１２によって検出
されるようにしている。比濁測定では（すなわち、試料
中に懸濁した粒子の存在によって試料が曇っている場
合）、入射光の一部が粒子によって散乱し、残りの部分
が試料を透過して検出光学系１２に達する。それによ
り、検出光学系１２によって検出される光の量が試料の
濁り度に対応し、この濁り度が次に、通常は、測定する
ことを望む試料中のタンパク質又は他の物質の量に対応
する。
光学的に整列した光源光学系１４とを含む光学アセンブ
リを含む。光源光学系１４が光線を発し、その光線が検
出光学系１２によって検出される。試料は通常、光源光
学系１４と検出光学系１２との間に配置されて、光線
が、試料を透過したのち、検出光学系１２によって検出
されるようにしている。比濁測定では（すなわち、試料
中に懸濁した粒子の存在によって試料が曇っている場
合）、入射光の一部が粒子によって散乱し、残りの部分
が試料を透過して検出光学系１２に達する。それによ
り、検出光学系１２によって検出される光の量が試料の
濁り度に対応し、この濁り度が次に、通常は、測定する
ことを望む試料中のタンパク質又は他の物質の量に対応
する。
【００１０】光源光学系１４は、ランプホルダ１８に取
り付けられたランプ１６を含む。ランプ１６は、好まし
くはハロゲン光源を含むが、ランプ１６は、当該技術で
既知である適当な代替光源を含んでもよいことが察知さ
れよう。ランプ１６は、艶消しのフレーム（火炎）形成
レンズを有している。艶消しがフィラメトの像を散らし
ながらも、出力をレンズによって収束することを許す。
照準化（平行化）空間フィルタ（collimated spatial f
ilter)２２がランプ１６に隣接するところに取り付けら
れて、ランプ１６から出る光をろ波する。ろ波された光
線２４はコリメータレンズ２６に衝突し、それを透過し
たのち、スペクトル帯域フィルタ（spectral bandpass
filter) ２８に送られる。ランプ１６、空間フィルタ２
２及びコリメータレンズ２６は、光が帯域フィルタ２８
に入る前に光を照準化する簡素な光学コリメータを形成
する。照準化の量は、検出器面での呼称又は完全な照準
化光線直径に比較しての光線直径の増大率を計算するこ
とによって測定することができる。照準化は、照準化空
間フィルタ２２の直径に正比例する。フィルタ２２の直
径が増すにつれ、光線の照準化は低下するが、検出光学
系１２における信号が増大する。
り付けられたランプ１６を含む。ランプ１６は、好まし
くはハロゲン光源を含むが、ランプ１６は、当該技術で
既知である適当な代替光源を含んでもよいことが察知さ
れよう。ランプ１６は、艶消しのフレーム（火炎）形成
レンズを有している。艶消しがフィラメトの像を散らし
ながらも、出力をレンズによって収束することを許す。
照準化（平行化）空間フィルタ（collimated spatial f
ilter)２２がランプ１６に隣接するところに取り付けら
れて、ランプ１６から出る光をろ波する。ろ波された光
線２４はコリメータレンズ２６に衝突し、それを透過し
たのち、スペクトル帯域フィルタ（spectral bandpass
filter) ２８に送られる。ランプ１６、空間フィルタ２
２及びコリメータレンズ２６は、光が帯域フィルタ２８
に入る前に光を照準化する簡素な光学コリメータを形成
する。照準化の量は、検出器面での呼称又は完全な照準
化光線直径に比較しての光線直径の増大率を計算するこ
とによって測定することができる。照準化は、照準化空
間フィルタ２２の直径に正比例する。フィルタ２２の直
径が増すにつれ、光線の照準化は低下するが、検出光学
系１２における信号が増大する。
【００１１】符号３０によって示す試料区域が、分光計
１０によって測定する試料を保持するために設けられて
いる。具体的には、試料区域３０は、試料を含む試料カ
ートリッジ３４を保持するように設計された、分光計ハ
ウジング２０の中に取り付けられたカートリッジホルダ
３２を含む。分光計１０とで使用することができる試料
カートリッジの例は、引用例として本明細書に含める米
国特許第５，３８５，８４７号明細書に提供されてい
る。５３１nmの波長を有する単色光線３６が、光学系ホ
ルダ４０の中に形成された光源出口窓３８を通過する。
光源出口窓３８は、単色光線３６を試料光線４２及び基
準光線４４に形成する。この配置で、試料光線４２は、
試料カートリッジ３４に含まれる試料を透過し、基準光
線４４は、試料カートリッジ３４の下で空気中を通過す
る。
１０によって測定する試料を保持するために設けられて
いる。具体的には、試料区域３０は、試料を含む試料カ
ートリッジ３４を保持するように設計された、分光計ハ
ウジング２０の中に取り付けられたカートリッジホルダ
３２を含む。分光計１０とで使用することができる試料
カートリッジの例は、引用例として本明細書に含める米
国特許第５，３８５，８４７号明細書に提供されてい
る。５３１nmの波長を有する単色光線３６が、光学系ホ
ルダ４０の中に形成された光源出口窓３８を通過する。
光源出口窓３８は、単色光線３６を試料光線４２及び基
準光線４４に形成する。この配置で、試料光線４２は、
試料カートリッジ３４に含まれる試料を透過し、基準光
線４４は、試料カートリッジ３４の下で空気中を通過す
る。
【００１２】試料光線４２は第一の検出／増幅器４６に
よって検出され、基準光線４４は第二の検出／増幅器４
８によって検出される。一つの実施態様では、検出器４
６及び４８は、Texas Instrument社のモデルNo. 28934P
光検出器を含むが、光検出器は、当該技術に既知である
いかなる適当なタイプを含むものでもよいことが察知さ
れよう。第一の検出器４６は、光学系ホルダ４０の中
に、試料光線４２に対して垂直な位置に取り付けられて
いる。同様に、第二の検出器４８が、光学系ホルダ４０
の中に、基準光線４４に対して垂直な位置に取り付けら
れている。第一の検出器４６に達するために、試料光線
４２は検出窓５０を通過する。精度の誤差を最小限にす
るには、光源出口窓３８と検出窓５０との機械的な並び
をきわめて小さい許容差に保持しなければならない。そ
の並びは、光源出口窓３８及び検出窓５０の両方を含む
単体成形光学系ホルダ４０によって容易になる。比濁測
定の精度誤差は、光源１６、試料カートリッジ３４及び
光検出光学系１２の間の機械的並びのずれとともに指数
関数的に増大するが、これらの精度の誤差は、光源出口
窓３８と検出窓５０とを一定の位置関係に維持する単体
成形光学系ホルダ４０の一体構造によって最小限にな
る。精度の誤差は、光学系ホルダ４０の成形加工の際
に、きわめて小さな製造許容差を維持することによって
さらに減る。
よって検出され、基準光線４４は第二の検出／増幅器４
８によって検出される。一つの実施態様では、検出器４
６及び４８は、Texas Instrument社のモデルNo. 28934P
光検出器を含むが、光検出器は、当該技術に既知である
いかなる適当なタイプを含むものでもよいことが察知さ
れよう。第一の検出器４６は、光学系ホルダ４０の中
に、試料光線４２に対して垂直な位置に取り付けられて
いる。同様に、第二の検出器４８が、光学系ホルダ４０
の中に、基準光線４４に対して垂直な位置に取り付けら
れている。第一の検出器４６に達するために、試料光線
４２は検出窓５０を通過する。精度の誤差を最小限にす
るには、光源出口窓３８と検出窓５０との機械的な並び
をきわめて小さい許容差に保持しなければならない。そ
の並びは、光源出口窓３８及び検出窓５０の両方を含む
単体成形光学系ホルダ４０によって容易になる。比濁測
定の精度誤差は、光源１６、試料カートリッジ３４及び
光検出光学系１２の間の機械的並びのずれとともに指数
関数的に増大するが、これらの精度の誤差は、光源出口
窓３８と検出窓５０とを一定の位置関係に維持する単体
成形光学系ホルダ４０の一体構造によって最小限にな
る。精度の誤差は、光学系ホルダ４０の成形加工の際
に、きわめて小さな製造許容差を維持することによって
さらに減る。
【００１３】比濁測定に関する場合、分光計は、好まし
くは、主に光の透過成分（たとえば、試料を直接透過す
る成分）を検出し、光の散乱又は拡散成分を排除するこ
とにより、高濁り度の試料どうしの間でも信頼できる透
過分解能を提供する。図１に示す分光計１０において、
これは、試料光線検出窓管５２及び基準光線検出窓管５
４によって達成される。検出窓管５２及び５４は、光学
系ホルダ４０の中で試料カートリッジ３４と検出器４６
及び４８それぞれとの間に取り付けられる黒いＡＢＳ管
を含む。各検出窓管５２及び５４は長さ１．５２cm
（０．６００インチ）であり、４／４０のめねじ付きの
黒い壁を有する。各管５２及び５４の内径は０．１６５
cm（０．０６５インチ）である。ねじ５６が、濁り試料
を測定する際に存在する軸外れ光（拡散成分）の大部分
をそらす。
くは、主に光の透過成分（たとえば、試料を直接透過す
る成分）を検出し、光の散乱又は拡散成分を排除するこ
とにより、高濁り度の試料どうしの間でも信頼できる透
過分解能を提供する。図１に示す分光計１０において、
これは、試料光線検出窓管５２及び基準光線検出窓管５
４によって達成される。検出窓管５２及び５４は、光学
系ホルダ４０の中で試料カートリッジ３４と検出器４６
及び４８それぞれとの間に取り付けられる黒いＡＢＳ管
を含む。各検出窓管５２及び５４は長さ１．５２cm
（０．６００インチ）であり、４／４０のめねじ付きの
黒い壁を有する。各管５２及び５４の内径は０．１６５
cm（０．０６５インチ）である。ねじ５６が、濁り試料
を測定する際に存在する軸外れ光（拡散成分）の大部分
をそらす。
【００１４】検出窓管５２及び５４の長さ及び直径の組
み合わせが、試料区域に限定される検出器視野をもたら
す。５°を超える角度で管５２及び５４に入る散乱光
は、管５２及び５４の中を通ってそれぞれの検出器４６
及び４８に達することを妨げられる。その結果、高度に
凝集した試料の相対吸光度の増大が、分光計１０の精度
に寄与する要因である吸光分解能の増大をもたらす。
み合わせが、試料区域に限定される検出器視野をもたら
す。５°を超える角度で管５２及び５４に入る散乱光
は、管５２及び５４の中を通ってそれぞれの検出器４６
及び４８に達することを妨げられる。その結果、高度に
凝集した試料の相対吸光度の増大が、分光計１０の精度
に寄与する要因である吸光分解能の増大をもたらす。
【００１５】上記に概説したように、分光計１０は、血
液、尿又は他の生物学的物質のような試料から医療診断
データを得るのに使用することができる。たとえば、当
該技術で既知のように、分光計１０は、尿タンパク、た
とえばヒト血清アルブミン（ミクロアルブミン）を比濁
的に測定し、クレアチニンを比色的に測定することによ
り、尿試料を評価するのに使用することができる。この
手法は、本発明と譲受人が同じであり、引用例として本
明細書に含める、米国特許第５，３８５，８４７号明細
書に記載されている。第５，３８５，８４７号特許に記
載されているように、尿中のミクロアルブミン濃度を測
定する目的の一つは、治療されないならば様々な腎臓疾
患をまねくおそれのある、尿中の過剰なミクロアルブミ
ンを特徴とする「ミクロアルブミン尿症」を検出するこ
とにある。尿流量の高い患者において、尿試料中のタン
パク質の量は、尿試料の希釈により、人為的に下げられ
る可能性がある。この問題を正すため、通常はクレアチ
ニン濃度を測定して、試料中の希釈の量を示したのち、
クレアチニン濃度と関連したタンパク質濃度の比率を考
慮することにより、測定したタンパク質濃度を標準化す
る。今日の臨床実験室で一般的な実施方法は、タンパク
質検定とクレアチニン検定とを別々に実施したのち、そ
れらの検定から得られた数値を合わせてタンパク質−ク
レアチニン比を出す方法である。
液、尿又は他の生物学的物質のような試料から医療診断
データを得るのに使用することができる。たとえば、当
該技術で既知のように、分光計１０は、尿タンパク、た
とえばヒト血清アルブミン（ミクロアルブミン）を比濁
的に測定し、クレアチニンを比色的に測定することによ
り、尿試料を評価するのに使用することができる。この
手法は、本発明と譲受人が同じであり、引用例として本
明細書に含める、米国特許第５，３８５，８４７号明細
書に記載されている。第５，３８５，８４７号特許に記
載されているように、尿中のミクロアルブミン濃度を測
定する目的の一つは、治療されないならば様々な腎臓疾
患をまねくおそれのある、尿中の過剰なミクロアルブミ
ンを特徴とする「ミクロアルブミン尿症」を検出するこ
とにある。尿流量の高い患者において、尿試料中のタン
パク質の量は、尿試料の希釈により、人為的に下げられ
る可能性がある。この問題を正すため、通常はクレアチ
ニン濃度を測定して、試料中の希釈の量を示したのち、
クレアチニン濃度と関連したタンパク質濃度の比率を考
慮することにより、測定したタンパク質濃度を標準化す
る。今日の臨床実験室で一般的な実施方法は、タンパク
質検定とクレアチニン検定とを別々に実施したのち、そ
れらの検定から得られた数値を合わせてタンパク質−ク
レアチニン比を出す方法である。
【００１６】タンパク質濃度を比濁的に測定するために
は、抗体試薬を尿試料に導入することによって濁りを生
じさせる。抗体試薬がタンパク質と反応して、試料中の
タンパク質濃度に対応する量の凝集物質を生成する。こ
の物質を、分光計１０又は適当な同等物によって測定す
ることができる。あるいはまた、当該技術で既知のよう
に、凝集検定は、タンパク質の特定のエピトープに特異
的な抗体又はそのフラグメントを水懸濁性粒子（たとえ
ばポリスチレン又は他のラテックス）及びタンパク質に
結合させるラテックス結合抗体タイプであってもよい。
抗体又は抗体−ラテックス及びタンパク質上の複数のエ
ピトープの多数のエピトープ結合サイトを合わせること
により、抗体又は抗体−ラテックスとタンパク質との間
で大きな凝集体を形成することができる。この凝集体
が、分光計によって測定することができる濁りを生じさ
せる。
は、抗体試薬を尿試料に導入することによって濁りを生
じさせる。抗体試薬がタンパク質と反応して、試料中の
タンパク質濃度に対応する量の凝集物質を生成する。こ
の物質を、分光計１０又は適当な同等物によって測定す
ることができる。あるいはまた、当該技術で既知のよう
に、凝集検定は、タンパク質の特定のエピトープに特異
的な抗体又はそのフラグメントを水懸濁性粒子（たとえ
ばポリスチレン又は他のラテックス）及びタンパク質に
結合させるラテックス結合抗体タイプであってもよい。
抗体又は抗体−ラテックス及びタンパク質上の複数のエ
ピトープの多数のエピトープ結合サイトを合わせること
により、抗体又は抗体−ラテックスとタンパク質との間
で大きな凝集体を形成することができる。この凝集体
が、分光計によって測定することができる濁りを生じさ
せる。
【００１７】クレアチニン濃度を比色的に測定するため
には、アルカリ試薬及びクレアチニン指示薬を試料に導
入して、分光光度的に測定することができる色を出させ
る。たとえば、Jaffe 法として知られる方法では、アル
カリ溶液中のピクリン酸とクレアチニンとの反応によ
り、試料中に赤黄褐色の応答を生じさせる。あるいはま
た、Benedict-Behre法として知られる方法では、アルカ
リ溶液中での３，５−ジニトロ安息香酸とクレアチニン
との反応により、試料中に有色の応答を生じさせる。し
かし、クレアチニンと反応すると有色の応答を生じさせ
るものであれば、いかなる方法を使用してもよいことが
察知されよう。
には、アルカリ試薬及びクレアチニン指示薬を試料に導
入して、分光光度的に測定することができる色を出させ
る。たとえば、Jaffe 法として知られる方法では、アル
カリ溶液中のピクリン酸とクレアチニンとの反応によ
り、試料中に赤黄褐色の応答を生じさせる。あるいはま
た、Benedict-Behre法として知られる方法では、アルカ
リ溶液中での３，５−ジニトロ安息香酸とクレアチニン
との反応により、試料中に有色の応答を生じさせる。し
かし、クレアチニンと反応すると有色の応答を生じさせ
るものであれば、いかなる方法を使用してもよいことが
察知されよう。
【００１８】分光光度測定を使用して試料を分析するた
めには、いずれかの個々の分光計から得られる結果がこ
の分野の他の分光計から得られる結果といくぶん相違す
ることが一般に予想される。ある程度の量であればその
ようなばらつきは許容可能であるが、そのようなばらつ
きは、計器間で約１０％以下に抑えることが好ましい。
通常、試料の比濁測定を実行するとき、特に、試料の凝
集体粒子サイズが比較的大きい場合、そのようなばらつ
きは非常に顕著に出る。たとえば、比濁ミクロアルブミ
ン測定値（約１１００nm〜１００，０００nmの範囲の粒
子サイズを有する場合）は、計器間で最大２５％のばら
つきがある。同様に、ヘモグロビンＨｂＡｌc 検定の比
濁測定値（粒子サイズは約１６９〜４８６nm）は、計器
間で最大約１２％までのばらつきがある。対照的に、比
色測定値、たとえば試料中のクレアチニンの測定値は、
通常、計器間で１０％未満のばらつきしかない。いずれ
の場合でも、これらのばらつきは、一部には、各計器の
光機械的並びのわずかなばらつきのせいであることがで
き、各計器に、この分野における他の計器の偏りとは一
般に異なる一定の偏りを生じさせる。本発明の態様の一
つは、個々の計器から得られた結果を標準化することに
より、これらのばらつきを許容可能な水準に減らすこと
にある。
めには、いずれかの個々の分光計から得られる結果がこ
の分野の他の分光計から得られる結果といくぶん相違す
ることが一般に予想される。ある程度の量であればその
ようなばらつきは許容可能であるが、そのようなばらつ
きは、計器間で約１０％以下に抑えることが好ましい。
通常、試料の比濁測定を実行するとき、特に、試料の凝
集体粒子サイズが比較的大きい場合、そのようなばらつ
きは非常に顕著に出る。たとえば、比濁ミクロアルブミ
ン測定値（約１１００nm〜１００，０００nmの範囲の粒
子サイズを有する場合）は、計器間で最大２５％のばら
つきがある。同様に、ヘモグロビンＨｂＡｌc 検定の比
濁測定値（粒子サイズは約１６９〜４８６nm）は、計器
間で最大約１２％までのばらつきがある。対照的に、比
色測定値、たとえば試料中のクレアチニンの測定値は、
通常、計器間で１０％未満のばらつきしかない。いずれ
の場合でも、これらのばらつきは、一部には、各計器の
光機械的並びのわずかなばらつきのせいであることがで
き、各計器に、この分野における他の計器の偏りとは一
般に異なる一定の偏りを生じさせる。本発明の態様の一
つは、個々の計器から得られた結果を標準化することに
より、これらのばらつきを許容可能な水準に減らすこと
にある。
【００１９】本発明の原理によると、特定の計器の標準
化は、操作者が、分光計１０の光路中にホログラフィー
式分散フィルタ（図示せず）を配置することによって簡
単に達成することができる。フィルタは、評価する試料
カートリッジと同様にして分光計１０のカートリッジホ
ルダ３２の中にはまるフィルタホルダに装填される。好
ましくは、ホログラフィー式分散フィルタは、カリフォ
ルニア州TorranceのPhysical Optics 社によって市販さ
れている２０°circular Light Shaping Diffuser （商
標）（ＬＳＤ）フィルタを含む。２０°ＬＳＤフィルタ
は、アルブミンの偏りの修正に利用できる最良のフィル
タであることがわかった。本発明の一つの実施態様で
は、フィルタは、いわゆる‘呼称’分光計においてフィ
ルタを透過することが予想される光の量に対応する‘呼
称値’を割り当てられる。ある特定のフィルタの光透過
性は一般に他のフィルタのそれとは異なるため、各フィ
ルタは通常、他のフィルタのそれとはまったく異なる呼
称値を有する。
化は、操作者が、分光計１０の光路中にホログラフィー
式分散フィルタ（図示せず）を配置することによって簡
単に達成することができる。フィルタは、評価する試料
カートリッジと同様にして分光計１０のカートリッジホ
ルダ３２の中にはまるフィルタホルダに装填される。好
ましくは、ホログラフィー式分散フィルタは、カリフォ
ルニア州TorranceのPhysical Optics 社によって市販さ
れている２０°circular Light Shaping Diffuser （商
標）（ＬＳＤ）フィルタを含む。２０°ＬＳＤフィルタ
は、アルブミンの偏りの修正に利用できる最良のフィル
タであることがわかった。本発明の一つの実施態様で
は、フィルタは、いわゆる‘呼称’分光計においてフィ
ルタを透過することが予想される光の量に対応する‘呼
称値’を割り当てられる。ある特定のフィルタの光透過
性は一般に他のフィルタのそれとは異なるため、各フィ
ルタは通常、他のフィルタのそれとはまったく異なる呼
称値を有する。
【００２０】呼称分光計は、光機械的偏りがほとんど又
はまったくないか、そうでなければ、この分野における
他すべての計器の平均に近い偏りを有することが知られ
る計器を含む。各フィルタの呼称値の割り当ては、フィ
ルタを呼称分光計の光路中に配置し、フィルタを透過
し、呼称分光計によって検出された光の量を測定するこ
とによって達成される。一つの実施態様では、各フィル
タに割り当てられる呼称値は、フィルタによって吸収さ
れる光の量に対応する数値を含む。
はまったくないか、そうでなければ、この分野における
他すべての計器の平均に近い偏りを有することが知られ
る計器を含む。各フィルタの呼称値の割り当ては、フィ
ルタを呼称分光計の光路中に配置し、フィルタを透過
し、呼称分光計によって検出された光の量を測定するこ
とによって達成される。一つの実施態様では、各フィル
タに割り当てられる呼称値は、フィルタによって吸収さ
れる光の量に対応する数値を含む。
【００２１】呼称値が呼称分光計によって割り当てられ
たのち、その呼称値をさらに別の呼称分光計によって立
証することもできる。呼称値は、たとえばバーコード、
数値コード又は当該技術で既知の他の適当な手段の形態
でフィルタ又はフィルタホルダにコード化することがで
きる。
たのち、その呼称値をさらに別の呼称分光計によって立
証することもできる。呼称値は、たとえばバーコード、
数値コード又は当該技術で既知の他の適当な手段の形態
でフィルタ又はフィルタホルダにコード化することがで
きる。
【００２２】フィルタが個々の計器のカートリッジホル
ダ３２に配置されると、マイクロプロセッサ（図示せ
ず）が、フィルタの存在を検出し、たとえば、フィルタ
上のバーコードを読み取ることにより、そのフィルタと
関連した呼称値を確認する。分光計１０と一体であって
もよいし、離れていてもよいマイクロプロセッサが、分
光計の動作及びフィルタの評価を制御する制御ソフトウ
ェアを実行する。フィルタの評価は、個々の計器の光路
中にフィルタを配置し、フィルタを透過し、計器によっ
て検出された光の量を測定することによって達成され
る。修正係数、すなわち標準化係数は、マイクロプロセ
ッサにより、フィルタの呼称値と個々の計器によって検
出される光の量との比に基づいて計算される。マイクロ
プロセッサが標準化係数をメモリに記憶したのちには、
フィルタを分光計１０から取り外し、破棄するか、標準
化を要する他の分光計に挿入することができる。
ダ３２に配置されると、マイクロプロセッサ（図示せ
ず）が、フィルタの存在を検出し、たとえば、フィルタ
上のバーコードを読み取ることにより、そのフィルタと
関連した呼称値を確認する。分光計１０と一体であって
もよいし、離れていてもよいマイクロプロセッサが、分
光計の動作及びフィルタの評価を制御する制御ソフトウ
ェアを実行する。フィルタの評価は、個々の計器の光路
中にフィルタを配置し、フィルタを透過し、計器によっ
て検出された光の量を測定することによって達成され
る。修正係数、すなわち標準化係数は、マイクロプロセ
ッサにより、フィルタの呼称値と個々の計器によって検
出される光の量との比に基づいて計算される。マイクロ
プロセッサが標準化係数をメモリに記憶したのちには、
フィルタを分光計１０から取り外し、破棄するか、標準
化を要する他の分光計に挿入することができる。
【００２３】その後で試料の評価を実行する際、マイク
ロプロセッサが、試料に関連した実際の値にメモリに記
憶された標準化係数をかけることにより、実際の値を標
準化値に自動的に変換する。好ましくは、フィルタの検
出から実際の値の標準化までの全過程を自動化して、操
作者がフィルタをカートリッジホルダ３２の中の、通常
は試料によって占有されている位置に配置するだけで、
標準化処理を達成することができるようにする。これに
より、特別な訓練を受けていない操作者が標準化手法を
達成することができる。本発明の一つの実施態様では、
分光計１０の制御ソフトウェア１０は、フィルタに関連
した標準化係数がマイクロプロセッサによって得られる
まで、分光計１０による試料の評価を防止又は抑止する
ように設計されている。これは、試料の評価において分
光計１０によって得られた結果が、機器間でひどく相違
しない標準化値を含むことを保証する。
ロプロセッサが、試料に関連した実際の値にメモリに記
憶された標準化係数をかけることにより、実際の値を標
準化値に自動的に変換する。好ましくは、フィルタの検
出から実際の値の標準化までの全過程を自動化して、操
作者がフィルタをカートリッジホルダ３２の中の、通常
は試料によって占有されている位置に配置するだけで、
標準化処理を達成することができるようにする。これに
より、特別な訓練を受けていない操作者が標準化手法を
達成することができる。本発明の一つの実施態様では、
分光計１０の制御ソフトウェア１０は、フィルタに関連
した標準化係数がマイクロプロセッサによって得られる
まで、分光計１０による試料の評価を防止又は抑止する
ように設計されている。これは、試料の評価において分
光計１０によって得られた結果が、機器間でひどく相違
しない標準化値を含むことを保証する。
【００２４】上述の標準化手法が、比濁アルブミン検定
をはじめとする試料測定における機器間のばらつきを有
意に減らすということを実験が証明した。この改良は、
計器２８個において、標準化の前後でそれぞれ１００mg
/Lミクロアルブミン試料から得られたデータ（１ＳＤ誤
差バー付き）をプロットする図２と図３との比較によっ
て確認することができる。図２では、標準化されていな
いアルブミン濃度結果は、すべての計器の平均から±約
１２％でばらつくが、図３では、標準化されたアルブミ
ン濃度結果は平均の±約５％の範囲である。
をはじめとする試料測定における機器間のばらつきを有
意に減らすということを実験が証明した。この改良は、
計器２８個において、標準化の前後でそれぞれ１００mg
/Lミクロアルブミン試料から得られたデータ（１ＳＤ誤
差バー付き）をプロットする図２と図３との比較によっ
て確認することができる。図２では、標準化されていな
いアルブミン濃度結果は、すべての計器の平均から±約
１２％でばらつくが、図３では、標準化されたアルブミ
ン濃度結果は平均の±約５％の範囲である。
【００２５】得られたままのアルブミン値及び標準化さ
れたアルブミン値の偏り分布を以下の表１に示す。２０
°ＬＳＤフィルタを用いる標準化が、試験した計器の間
のアブルミン検定の偏りを有意に改善した。
れたアルブミン値の偏り分布を以下の表１に示す。２０
°ＬＳＤフィルタを用いる標準化が、試験した計器の間
のアブルミン検定の偏りを有意に改善した。
【００２６】
【表１】
【００２７】一つ以上の具体的な実施態様を参照して本
発明を説明したが、当業者であれば、本発明の真髄及び
範囲を逸することなく、本発明に対して多くの変更を成
しうることを認識するであろう。これらの実施態様及び
その明白な変形は、いずれも、請求の範囲に定義する請
求項に係る発明の真髄及び範囲に該当するものとみなさ
れる。
発明を説明したが、当業者であれば、本発明の真髄及び
範囲を逸することなく、本発明に対して多くの変更を成
しうることを認識するであろう。これらの実施態様及び
その明白な変形は、いずれも、請求の範囲に定義する請
求項に係る発明の真髄及び範囲に該当するものとみなさ
れる。
【図１】本発明の原理にしたがって標準化される、試料
から特性データを得るために使用することができる従来
技術のデュアルビーム分光計の部分断面側面図である。
から特性データを得るために使用することができる従来
技術のデュアルビーム分光計の部分断面側面図である。
【図２】標準化されていない２８個の計器におけるミク
ロアルブミン比濁測定から得られたデータをプロットし
た図である。
ロアルブミン比濁測定から得られたデータをプロットし
た図である。
【図３】本発明の原理にしたがって標準化された２８個
の計器におけるミクロアルブミン比濁測定から得られた
データをプロットした図である。
の計器におけるミクロアルブミン比濁測定から得られた
データをプロットした図である。
【符号の説明】 １０ 分光計 １２ 検出光学系 １４ 光源光学系 １９ ランプ ２２ 空間フィルタ ２６ コリメータレンズ ２８ 帯域フィルタ ３０ 試料区域
Claims (22)
- 【請求項１】 試料から特性データを得るための光学ア
センブリと、前記特性データを得る際に初期ソフトウェ
アコードを実行するためのマイクロプロセッサとを有す
る分光計の標準化（normalization)システムにおいて、 前記光学アセンブリが、検出器と光学的に整列した光源
を含み、前記試料が、前記光源と前記検出器との間に着
脱自在に配置され、前記光源が前記試料に光線を透過さ
せ、それにより、前記光線の少なくとも一部が前記検出
器によって測定されて、前記試料に対応する、前記分光
計によって得られた特性データの実際の値を定義するも
のであり、前記標準化システムが、 前記試料と同様にして前記光源と前記検出器との間に着
脱自在に配置された、透過すると予想される光の呼称値
を表す記号でコード化されているフィルタ（前記光源
は、前記試料と同様にして前記フィルタに光線を透過さ
せ、それにより、前記光線の少なくとも一部が前記検出
器によって測定されて、前記フィルタに対応する、前記
分光計によって得られたフィルタチェック値を定義する
ものである）と、 前記記号を読み取り、前記呼称値を決定するための、前
記マイクロプロセッサと連動した手段（前記マイクロプ
ロセッサは、前記呼称値を前記フィルタチェック値で割
って、前記分光計に関連した標準化係数を定義するもの
である）と、 前記試料に対応する特性データの前記実際の値に前記標
準化係数をかけることによって前記実際の値を標準化す
るための、前記マイクロプロセッサと連動した手段と、
を含むことを特徴とする標準化システム。 - 【請求項２】 前記呼称値が、呼称分光計（nominal sp
ectrometer）によって前記フィルタを通して検出された
光の量に対応する、請求項１記載の標準化システム。 - 【請求項３】 前記標準化係数が前記マイクロプロセッ
サによって得られるまで前記分光計の動作が抑止され
る、請求項１記載の標準化システム。 - 【請求項４】 前記呼称値を表す前記記号がバーコード
を含み、前記試料と同様にして前記光源と前記検出器と
の間に配置される前記フィルタに応答して、前記バーコ
ードが前記分光計によって自動的に読み取られる、請求
項１記載の標準化システム。 - 【請求項５】 前記マイクロプロセッサが、前記標準化
係数を記憶するためのシステムメモリを含み、前記マイ
クロプロセッサが、複数のさらなる試料を標準化するた
めに、前記標準化係数を前記システムメモリから呼び出
すようになっている、請求項１記載の標準化システム。 - 【請求項６】 試料から特性データを得るための光学ア
センブリと、前記特性データを得る際に初期ソフトウェ
アコードを実行するためのマイクロプロセッサとをそれ
ぞれ有する複数の分光計の標準化システムにおいて、 前記光学アセンブリそれぞれが、検出器と光学的に整列
した光源を含み、前記試料が、前記分光計それぞれにお
いて前記光源と前記検出器との間に着脱自在に配置さ
れ、前記光源が、前記分光計それぞれにおいて前記試料
に光線を透過させ、それにより、前記光線の少なくとも
一部が前記検出器によって測定されて、各分光計によっ
て評価される試料に対応する、各分光計によって得られ
た特性データの実際の値を定義するものであり、前記標
準化システムが、 前記分光計それぞれにおいて前記試料と同様にして前記
光源と前記検出器との間に着脱自在に配置された、それ
ぞれが、透過すると予想される光の呼称値を表す記号で
コード化されている複数のフィルタ（各分光計は、前記
試料と同様にして前記フィルタの１個に光線を透過さ
せ、それにより、前記光線の少なくとも一部が前記検出
器によって測定されて、各分光計に使用されるフィルタ
に対応する、各分光計によって得られたフィルタチェッ
ク値を定義するものである）と、 前記分光計それぞれにおいて前記記号を読み取り、前記
記号に対応する前記呼称値を決定するための、前記マイ
クロプロセッサと連動した手段（前記マイクロプロセッ
サそれぞれは、前記呼称値を前記フィルタチェック値で
割って、各分光計に対応する標準化係数を定義するもの
である）と、 各分光計によって得られた特性データの前記実際の値に
各分光計に対応する標準化係数をかけることによって前
記実際の値を標準化するための、前記マイクロプロセッ
サと連動した手段と、を含むことを特徴とする標準化シ
ステム。 - 【請求項７】 前記呼称値が、呼称分光計によって前記
フィルタを通して検出された光の量に対応する、請求項
６記載の標準化システム。 - 【請求項８】 前記標準化係数が各マイクロプロセッサ
によって得られるまで前記分光計それぞれの動作が抑止
される、請求項６記載の標準化システム。 - 【請求項９】 各フィルタにおける前記呼称値を表す前
記記号がバーコードを含み、前記試料と同様にして前記
光源と前記検出器との間に配置される前記フィルタの１
個に応答して、前記分光計それぞれが前記バーコードを
自動的に読み取る、請求項６記載の標準化システム。 - 【請求項１０】 前記分光計それぞれにおける前記マイ
クロプロセッサが、前記標準化係数を各分光計に記憶す
るためのシステムメモリを含み、各マイクロプロセッサ
が、複数のさらなる試料を標準化するために、前記標準
化係数を前記システムメモリから呼び出すようにした、
請求項６記載の標準化システム。 - 【請求項１１】 複数の前記分光計において評価される
前記試料がミクロアルブミンを含み、前記試料に関連し
た前記特性データが比濁データを含み、前記特性データ
の前記標準化値が複数の前記分光計の個々の間で約１０
％以下しか相違しない、請求項６記載の標準化システ
ム。 - 【請求項１２】 試料から特性データを得るための光学
アセンブリと、前記特性データを得る際に初期ソフトウ
ェアコードを実行するためのマイクロプロセッサとを有
する分光計の標準化方法において、 前記光学アセンブリが、検出器と光学的に整列した光源
を含み、前記試料が、前記光源と前記検出器との間に着
脱自在に配置され、前記光源が前記試料に光線を透過さ
せ、それにより、前記光線の少なくとも一部が前記検出
器によって測定されて、前記試料に対応する、前記分光
計によって得られた特性データの実際の値を定義するも
のであり、前記標準化方法が、 透過すると予想される光の呼称値を表す記号でコード化
されているフィルタを前記試料と同様にして前記光源と
前記検出器との間に着脱自在に配置する工程と、 前記試料と同様にして前記フィルタに光線を透過させ、
それにより、前記光線の少なくとも一部を前記検出器に
よって測定して、前記フィルタに対応する、前記分光計
によって得られたフィルタチェック値を定義する工程
と、 前記記号を読み取ることによって前記呼称値を決定する
工程と、 前記呼称値を前記フィルタチェック値で割って、前記分
光計に関連した標準化係数を定義する工程と、 特性データの前記実際の値に前記標準化係数をかけるこ
とによって前記実際の値を標準化して前記特性データの
標準化値を定義する工程と、を含むことを特徴とする標
準化方法。 - 【請求項１３】 前記呼称値が、呼称分光計によって前
記フィルタを通して検出された光の量に対応する、請求
項１２記載の標準化方法。 - 【請求項１４】 前記標準化係数が前記分光計によって
得られるまで前記分光計の動作を抑止する工程をさらに
含む、請求項１２記載の標準化方法。 - 【請求項１５】 前記呼称値を表す前記記号がバーコー
ドを含み、前記試料と同様にして前記光源と前記検出器
との間に配置される前記フィルタに応答して、前記呼称
値を決定する前記工程を前記分光計によって自動的に達
成する、請求項１２記載の標準化方法。 - 【請求項１６】 前記標準化係数をシステムメモリに記
憶する工程と、前記標準化係数をシステムメモリから定
期的に呼び出す工程とをさらに含み、前記標準化係数を
システムメモリから呼び出す前記工程を、特性データの
前記実際の値を標準化する前記工程の前に達成する、請
求項１２記載の標準化方法。 - 【請求項１７】 試料から特性データを得るための光学
アセンブリと、前記特性データを得る際に初期ソフトウ
ェアコードを実行するためのマイクロプロセッサとをそ
れぞれ有する複数の分光計の標準化方法において、 前記光学アセンブリそれぞれが、検出器と光学的に整列
した光源を含み、前記試料が前記分光計それぞれにおい
て前記光源と前記検出器との間に着脱自在に配置され、
前記光源が、前記分光計それぞれにおいて前記試料に光
線を透過させ、それにより、前記光線の少なくとも一部
が前記検出器によって測定されて、各分光計によって評
価される試料に対応する、各分光計によって得られた特
性データの実際の値を定義するものであり、前記標準化
方法が、 透過すると予想される光の呼称値を表す記号でコード化
されているフィルタを前記分光計それぞれにおいて前記
試料と同様にして前記光源と前記検出器との間に着脱自
在に配置する工程と、 前記試料と同様にして前記分光計それぞれにおいて前記
フィルタに光線を透過させ、それにより、前記光線の少
なくとも一部を前記検出器によって測定して、各分光計
に使用されるフィルタに対応する、各分光計によって得
られたフィルタチェック値を定義する工程と、 前記分光計それぞれにおいて前記記号を読み取ることに
よって前記呼称値を決定する工程と、 前記呼称値を前記分光計それぞれにおけるフィルタチェ
ック値で割って、前記分光計それぞれに関連した標準化
係数を定義する工程と、 前記分光計によって得られた前記実際の値に前記分光計
それぞれに関連した各標準化係数をかけることによって
前記実際の値を標準化する工程と、を含むことを特徴と
する標準化方法。 - 【請求項１８】 前記呼称値が、呼称分光計によって前
記フィルタを通して検出された光の量に対応する、請求
項１７記載の標準化方法。 - 【請求項１９】 前記標準化係数が各分光計によって得
られるまで各分光計の動作を抑止する工程をさらに含
む、請求項１７記載の標準化方法。 - 【請求項２０】 各フィルタにおける前記呼称値を表す
前記記号がバーコードを含み、前記フィルタの１個が前
記試料と同様にして前記光源と前記検出器との間に配置
されるのに応答して、前記呼称値を決定する前記工程を
各分光計によって自動的に実施する、請求項１７記載の
標準化方法。 - 【請求項２１】 前記標準化係数を前記分光計それぞれ
のシステムメモリに記憶する工程と、前記標準化係数を
前記分光計それぞれの前記システムメモリから定期的に
呼び出す工程とをさらに含み、前記標準化係数をシステ
ムメモリから呼び出す前記工程を、前記分光計それぞれ
における特性データの前記実際の値を標準化する前記工
程の前に達成する、請求項１７記載の標準化方法。 - 【請求項２２】 複数の前記分光計において評価される
前記試料がミクロアルブミンを含み、前記試料に関連し
た前記特性データが比濁データを含み、前記特性データ
の前記標準化値が複数の前記分光計の個々の間で約１０
％以下しか相違しない、請求項１７記載の標準化方法。
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