JPH1027630A - バツテリパツク及び電子機器並びに充電器 - Google Patents
バツテリパツク及び電子機器並びに充電器Info
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- JPH1027630A JPH1027630A JP8201267A JP20126796A JPH1027630A JP H1027630 A JPH1027630 A JP H1027630A JP 8201267 A JP8201267 A JP 8201267A JP 20126796 A JP20126796 A JP 20126796A JP H1027630 A JPH1027630 A JP H1027630A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、バツテリパツク及び電子機器並びに
充電器について、バツテリセルの保護に対する信頼性を
向上し得るようにする。 【解決手段】本発明は、電圧検出制御手段において各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値を電子機器又は充電器の保護処理手段に出力
し、当該保護処理手段において各バツテリセルの出力電
圧値、又は各バツテリセルバンクの出力電圧値を監視さ
せて異常があると判断したときに所定の保護処理を実行
させることにより、バツテリパツク内におけるバツテリ
セルの保護のみならず、電子機器又は充電器においても
バツテリセルを保護することができ、かくしてバツテリ
セルの保護に対する信頼性を向上し得るバツテリパツク
及び電子機器並びに充電器を実現することができる。
充電器について、バツテリセルの保護に対する信頼性を
向上し得るようにする。 【解決手段】本発明は、電圧検出制御手段において各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値を電子機器又は充電器の保護処理手段に出力
し、当該保護処理手段において各バツテリセルの出力電
圧値、又は各バツテリセルバンクの出力電圧値を監視さ
せて異常があると判断したときに所定の保護処理を実行
させることにより、バツテリパツク内におけるバツテリ
セルの保護のみならず、電子機器又は充電器においても
バツテリセルを保護することができ、かくしてバツテリ
セルの保護に対する信頼性を向上し得るバツテリパツク
及び電子機器並びに充電器を実現することができる。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１及び図２） 発明の実施の形態（図１及び図２） 発明の効果
【０００２】
【発明の属する技術分野】本発明はバツテリパツク及び
電子機器並びに充電器に関し、例えば２次電池として充
電式のリチウムイオン電池でなるバツテリセルが収納さ
れたバツテリパツク及び当該バツテリパツクから直流電
流が供給されることにより駆動する電子機器並びに当該
バツテリパツクのバツテリセルを充電する充電器に適用
して好適なものである。
電子機器並びに充電器に関し、例えば２次電池として充
電式のリチウムイオン電池でなるバツテリセルが収納さ
れたバツテリパツク及び当該バツテリパツクから直流電
流が供給されることにより駆動する電子機器並びに当該
バツテリパツクのバツテリセルを充電する充電器に適用
して好適なものである。
【０００３】
【従来の技術】従来、この種のバツテリパツクにおいて
は、その内部にバツテリセルが複数直列に接続されてな
るバツテリセル群が収納されると共に、ＣＰＵ（Centra
l Proccesser Unit ）、電圧検出回路、電流検出回路、
温度センサ及び充放電切替え回路からなる保護回路が収
納されて構成されている。
は、その内部にバツテリセルが複数直列に接続されてな
るバツテリセル群が収納されると共に、ＣＰＵ（Centra
l Proccesser Unit ）、電圧検出回路、電流検出回路、
温度センサ及び充放電切替え回路からなる保護回路が収
納されて構成されている。
【０００４】この場合保護回路においては、ＣＰＵにお
いて電圧検出回路、電流検出回路及び温度センサを制御
することにより各バツテリセルの出力電圧値（以下、こ
れをセル電圧値と呼ぶ）をそれぞれ個別に検出すると共
に、バツテリセル群の出力電圧値（以下、これをトータ
ル電圧値と呼ぶ）、充放電電流値及び温度を検出する。
いて電圧検出回路、電流検出回路及び温度センサを制御
することにより各バツテリセルの出力電圧値（以下、こ
れをセル電圧値と呼ぶ）をそれぞれ個別に検出すると共
に、バツテリセル群の出力電圧値（以下、これをトータ
ル電圧値と呼ぶ）、充放電電流値及び温度を検出する。
【０００５】またこの保護回路においては、ＣＰＵにお
いてバツテリセル群のトータル電圧値、充放電電流値及
び温度に基づいて当該バツテリセル群の残存容量を測定
し、当該残存容量と共にトータル電圧値等を電子機器に
送出するようになされている。
いてバツテリセル群のトータル電圧値、充放電電流値及
び温度に基づいて当該バツテリセル群の残存容量を測定
し、当該残存容量と共にトータル電圧値等を電子機器に
送出するようになされている。
【０００６】このようにしてこのバツテリパツクにおい
ては、バツテリセル群の充電時及び放電時に、それぞれ
保護回路においてＣＰＵにより各バツテリセルのセル電
圧値を監視し、少なくとも１つのバツテリセルのセル電
圧値が所定の充電終止電圧値又は所定の放電終止電圧値
に達したときに充放電切替え回路を制御するようにして
バツテリセル群の充電又は放電を停止させ、かくして各
バツテリセルの過充電及び過放電を防止し得るようにな
されている。
ては、バツテリセル群の充電時及び放電時に、それぞれ
保護回路においてＣＰＵにより各バツテリセルのセル電
圧値を監視し、少なくとも１つのバツテリセルのセル電
圧値が所定の充電終止電圧値又は所定の放電終止電圧値
に達したときに充放電切替え回路を制御するようにして
バツテリセル群の充電又は放電を停止させ、かくして各
バツテリセルの過充電及び過放電を防止し得るようにな
されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのようなバ
ツテリパツクに用いられるバツテリセル（リチウムイオ
ン電池）においては、充電終止電圧値以上まで充電され
ると（すなわち、過充電）、その性能が低下すると共
に、電解液の液漏れや、破損等を生じる。またバツテリ
パツク内における充電時、例えば１つのバツテリセルの
内部において何らかの原因により両電極間が導通する、
いわゆる内部シヨートが生じると、その他の各バツテリ
セルがそれぞれ過電圧の状態となり、この結果過充電に
なることがある。
ツテリパツクに用いられるバツテリセル（リチウムイオ
ン電池）においては、充電終止電圧値以上まで充電され
ると（すなわち、過充電）、その性能が低下すると共
に、電解液の液漏れや、破損等を生じる。またバツテリ
パツク内における充電時、例えば１つのバツテリセルの
内部において何らかの原因により両電極間が導通する、
いわゆる内部シヨートが生じると、その他の各バツテリ
セルがそれぞれ過電圧の状態となり、この結果過充電に
なることがある。
【０００８】このためバツテリセル群の充電時には、各
バツテリセルのセル電圧値及び各セル電圧値間の差分
（以下、これをセルバランスと呼ぶ）の監視と、その監
視結果に基づく所定の保護処理（充電の停止等）が重要
となる。
バツテリセルのセル電圧値及び各セル電圧値間の差分
（以下、これをセルバランスと呼ぶ）の監視と、その監
視結果に基づく所定の保護処理（充電の停止等）が重要
となる。
【０００９】ところが、従来、各バツテリセル毎のセル
電圧値及びセルバランスは、バツテリパツク内だけで監
視されており、各バツテリセルの過充電に対する保護
は、その監視に頼らなければならない状況にあつた。
電圧値及びセルバランスは、バツテリパツク内だけで監
視されており、各バツテリセルの過充電に対する保護
は、その監視に頼らなければならない状況にあつた。
【００１０】このような状況のもと、ユーザによるバツ
テリパツクの取り扱いに不備（例えば、落下）があり、
当該バツテリパツクに衝撃が加えられたり又は静電気が
帯電する等のような何らかの原因によりＣＰＵが故障し
た場合には、当該ＣＰＵによる各バツテリセルのセル電
圧値及びセルバランスの監視が困難となり、各バツテリ
セルを過充電から保護し難くなる。すなわち、従来、バ
ツテリセルの保護に対する信頼性が著しく低い問題があ
つた。
テリパツクの取り扱いに不備（例えば、落下）があり、
当該バツテリパツクに衝撃が加えられたり又は静電気が
帯電する等のような何らかの原因によりＣＰＵが故障し
た場合には、当該ＣＰＵによる各バツテリセルのセル電
圧値及びセルバランスの監視が困難となり、各バツテリ
セルを過充電から保護し難くなる。すなわち、従来、バ
ツテリセルの保護に対する信頼性が著しく低い問題があ
つた。
【００１１】このため、従来、バツテリパツク内におけ
る各バツテリセルのセル電圧値及びセルバランスの監視
に加えて、電子機器においても各バツテリセルのセル電
圧値及びセルバランスを監視させることが考えられてい
た。ところが上述したように電子機器には、バツテリパ
ツクのＣＰＵから各バツテリセルのセル電圧値が送出さ
れていないために当該電子機器において各バツテリセル
のセル電圧値及びセルバランスが監視し難くバツテリセ
ルの保護に対する信頼性を向上し難い問題があつた。
る各バツテリセルのセル電圧値及びセルバランスの監視
に加えて、電子機器においても各バツテリセルのセル電
圧値及びセルバランスを監視させることが考えられてい
た。ところが上述したように電子機器には、バツテリパ
ツクのＣＰＵから各バツテリセルのセル電圧値が送出さ
れていないために当該電子機器において各バツテリセル
のセル電圧値及びセルバランスが監視し難くバツテリセ
ルの保護に対する信頼性を向上し難い問題があつた。
【００１２】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、バツテリセルの保護に対する信頼性を向上し得るバ
ツテリパツク及び電子機器並びに充電器を提案しようと
するものである。
で、バツテリセルの保護に対する信頼性を向上し得るバ
ツテリパツク及び電子機器並びに充電器を提案しようと
するものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、複数のバツテリセルからなるバツ
テリセル群が収納されたバツテリパツクにおいて、各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値をそれぞれ個別に検出し、当該検出した各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値を外部に出力する電圧検出制御手段を設ける
ようにする。
め本発明においては、複数のバツテリセルからなるバツ
テリセル群が収納されたバツテリパツクにおいて、各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値をそれぞれ個別に検出し、当該検出した各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値を外部に出力する電圧検出制御手段を設ける
ようにする。
【００１４】また本発明においては、バツテリパツクに
収納された複数のバツテリセルからなるバツテリセル群
から電流が供給されることにより駆動する電子機器にお
いて、当該バツテリパツクの制御手段から得られる各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバツテ
リセルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧
値が所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護
処理を実行する保護処理手段を設けるようにする。
収納された複数のバツテリセルからなるバツテリセル群
から電流が供給されることにより駆動する電子機器にお
いて、当該バツテリパツクの制御手段から得られる各バ
ツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの
出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバツテ
リセルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧
値が所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護
処理を実行する保護処理手段を設けるようにする。
【００１５】さらに本発明においては、バツテリパツク
に収納された複数のバツテリセルからなるバツテリセル
群を充電する充電器において、バツテリパツクの制御手
段から得られる各バツテリセルの出力電圧値、又は各バ
ツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ監視し、少な
くとも１つのバツテリセルの出力電圧値又はバツテリセ
ルバンクの出力電圧値が所定の電圧値以上になつたと
き、及び又は各バツテリセルの出力電圧値間若しくは各
バツテリセルバンクの出力電圧値間の差分が所定の差分
値よりも大きくなつたときに所定の保護処理を実行する
保護処理手段を設けるようにする。
に収納された複数のバツテリセルからなるバツテリセル
群を充電する充電器において、バツテリパツクの制御手
段から得られる各バツテリセルの出力電圧値、又は各バ
ツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ監視し、少な
くとも１つのバツテリセルの出力電圧値又はバツテリセ
ルバンクの出力電圧値が所定の電圧値以上になつたと
き、及び又は各バツテリセルの出力電圧値間若しくは各
バツテリセルバンクの出力電圧値間の差分が所定の差分
値よりも大きくなつたときに所定の保護処理を実行する
保護処理手段を設けるようにする。
【００１６】従つて本発明のバツテリパツクでは、電圧
検出制御手段において各バツテリセルの出力電圧値、又
は各バツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ個別に
検出し、当該検出した各バツテリセルの出力電圧値、又
は各バツテリセルバンクの出力電圧値を外部に出力する
ようにしたことにより、外部から各バツテリセルの出力
電圧値、又は各バツテリセルバンクの出力電圧値をそれ
ぞれ監視させるようにして少なくとも１つのバツテリセ
ルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が
所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護処理
を実行させると共に、少なくとも１つのバツテリセルの
出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が所定
の第２の電圧値以上になつたとき、及び又は各バツテリ
セルの出力電圧値間若しくは各バツテリセルバンクの出
力電圧値間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたと
きに所定の保護処理を実行させることにより、バツテリ
パツク内におけるバツテリセルの保護のみならず、外部
からもバツテリセルを過放電及び過充電から保護するこ
とができる。
検出制御手段において各バツテリセルの出力電圧値、又
は各バツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ個別に
検出し、当該検出した各バツテリセルの出力電圧値、又
は各バツテリセルバンクの出力電圧値を外部に出力する
ようにしたことにより、外部から各バツテリセルの出力
電圧値、又は各バツテリセルバンクの出力電圧値をそれ
ぞれ監視させるようにして少なくとも１つのバツテリセ
ルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が
所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護処理
を実行させると共に、少なくとも１つのバツテリセルの
出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が所定
の第２の電圧値以上になつたとき、及び又は各バツテリ
セルの出力電圧値間若しくは各バツテリセルバンクの出
力電圧値間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたと
きに所定の保護処理を実行させることにより、バツテリ
パツク内におけるバツテリセルの保護のみならず、外部
からもバツテリセルを過放電及び過充電から保護するこ
とができる。
【００１７】また本発明の電子機器では、保護処理手段
においてバツテリパツクの制御手段から得られる各バツ
テリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの出
力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバツテリ
セルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値
が所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護処
理を実行するようにしたことにより、バツテリパツク内
におけるバツテリセルの保護のみならず、電子機器にお
いてもバツテリセルを過放電から保護することができ
る。
においてバツテリパツクの制御手段から得られる各バツ
テリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの出
力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバツテリ
セルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値
が所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護処
理を実行するようにしたことにより、バツテリパツク内
におけるバツテリセルの保護のみならず、電子機器にお
いてもバツテリセルを過放電から保護することができ
る。
【００１８】さらに本発明の充電器では、保護処理手段
においてバツテリパツクの制御手段から得られる各バツ
テリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの出
力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバツテリ
セルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値
が所定の電圧値以上になつたとき、及び又は各バツテリ
セルの出力電圧値間若しくは各バツテリセルバンクの出
力電圧値間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたと
きに所定の保護処理を実行するようにしたことにより、
バツテリパツク内におけるバツテリセルの保護のみなら
ず、充電器においてもバツテリセルを過充電から保護す
ることができる。
においてバツテリパツクの制御手段から得られる各バツ
テリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバンクの出
力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバツテリ
セルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値
が所定の電圧値以上になつたとき、及び又は各バツテリ
セルの出力電圧値間若しくは各バツテリセルバンクの出
力電圧値間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたと
きに所定の保護処理を実行するようにしたことにより、
バツテリパツク内におけるバツテリセルの保護のみなら
ず、充電器においてもバツテリセルを過充電から保護す
ることができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
施例を詳述する。
【００２０】図１において、１は実施例によるバツテリ
パツクを示し、２本のバツテリセル２Ａ及び２Ｂが直列
に接続されてなるバツテリセル群２が収納されていると
共に、ＣＰＵ、電圧検出回路、電流検出回路、温度セン
サ及び充放電切替え回路等が基板上のそれぞれ所定位置
に配置されてなる保護回路３と、電圧検出制御回路５と
が収納されて構成されている。
パツクを示し、２本のバツテリセル２Ａ及び２Ｂが直列
に接続されてなるバツテリセル群２が収納されていると
共に、ＣＰＵ、電圧検出回路、電流検出回路、温度セン
サ及び充放電切替え回路等が基板上のそれぞれ所定位置
に配置されてなる保護回路３と、電圧検出制御回路５と
が収納されて構成されている。
【００２１】この場合バツテリパツク１においては、バ
ツテリセル群２のプラス側及びマイナス側がそれぞれ外
部接続用の図示しないプラス端子又はマイナス端子に接
続されている。これによりこのバツテリパツク１におい
ては、バツテリセル群２からプラス端子及びマイナス端
子をそれぞれ介して外部に直流電流を供給すると共に外
部からプラス端子及びマイナス端子を介してバツテリセ
ル群２に直流電流が供給されて充電される。
ツテリセル群２のプラス側及びマイナス側がそれぞれ外
部接続用の図示しないプラス端子又はマイナス端子に接
続されている。これによりこのバツテリパツク１におい
ては、バツテリセル群２からプラス端子及びマイナス端
子をそれぞれ介して外部に直流電流を供給すると共に外
部からプラス端子及びマイナス端子を介してバツテリセ
ル群２に直流電流が供給されて充電される。
【００２２】これに加えてこのバツテリセル群２のプラ
ス側及びマイナス側には、保護回路３のＣＰＵが接続さ
れており、当該ＣＰＵをバツテリセル群２から直流電流
を通電させて動作させる。
ス側及びマイナス側には、保護回路３のＣＰＵが接続さ
れており、当該ＣＰＵをバツテリセル群２から直流電流
を通電させて動作させる。
【００２３】これにより保護回路３においては、ＣＰＵ
が電圧検出回路、電流検出回路及び温度センサをそれぞ
れ制御するようにして各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセ
ル電圧値をそれぞれ個別に検出すると共に、バツテリセ
ル群２のトータル電圧値、充放電電流値及び温度を検出
する。
が電圧検出回路、電流検出回路及び温度センサをそれぞ
れ制御するようにして各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセ
ル電圧値をそれぞれ個別に検出すると共に、バツテリセ
ル群２のトータル電圧値、充放電電流値及び温度を検出
する。
【００２４】このようにして保護回路３においては、バ
ツテリセル群２の充電時、ＣＰＵにおいて各バツテリセ
ル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値及びセルバランスを監視
し、少なくとも１つのバツテリセル２Ａ又は２Ｂのセル
電圧値が充電終止電圧値まで達したときに充放電切替え
回路を制御するようにしてバツテリセル群２の充電を停
止させる。
ツテリセル群２の充電時、ＣＰＵにおいて各バツテリセ
ル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値及びセルバランスを監視
し、少なくとも１つのバツテリセル２Ａ又は２Ｂのセル
電圧値が充電終止電圧値まで達したときに充放電切替え
回路を制御するようにしてバツテリセル群２の充電を停
止させる。
【００２５】またバツテリセル群２の放電時には、ＣＰ
Ｕにおいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値を
監視し、少なくとも１つのバツテリセル２Ａ又は２Ｂの
セル電圧値が放電終止電圧値に達したときに充放電切替
え回路を制御するようにしてバツテリセル群２の放電を
停止させる。
Ｕにおいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値を
監視し、少なくとも１つのバツテリセル２Ａ又は２Ｂの
セル電圧値が放電終止電圧値に達したときに充放電切替
え回路を制御するようにしてバツテリセル群２の放電を
停止させる。
【００２６】かくしてこの保護回路３においては、各バ
ツテリセル２Ａ及び２Ｂに対して上述した充放電の停止
等のような保護処理を実行し、各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂを過充電及び過放電から保護するようになされてい
る。
ツテリセル２Ａ及び２Ｂに対して上述した充放電の停止
等のような保護処理を実行し、各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂを過充電及び過放電から保護するようになされてい
る。
【００２７】これに加えてこの保護回路３においては、
ＣＰＵにおいてトータル電圧値、充放電電流値及び温度
に基づいてバツテリセル群２の残存容量を測定し、当該
測定した残存容量と共にトータル電圧値等を外部に出力
するようになされている。またバツテリセル群２の充電
時、例えばバツテリセル２Ａ（又はバツテリセル２Ｂ）
において内部シヨート等の何らかの異常が発生し、バツ
テリセル２Ｂ（又はバツテリセル２Ａ）のセル電圧値が
充電終止電圧値以上になつたとき、及び又はバツテリセ
ル２Ａ及び２Ｂのセルバランスが所定の差分値よりも大
きくなつたときに、異常が発生したことを表す信号を外
部に出力するようになされている。
ＣＰＵにおいてトータル電圧値、充放電電流値及び温度
に基づいてバツテリセル群２の残存容量を測定し、当該
測定した残存容量と共にトータル電圧値等を外部に出力
するようになされている。またバツテリセル群２の充電
時、例えばバツテリセル２Ａ（又はバツテリセル２Ｂ）
において内部シヨート等の何らかの異常が発生し、バツ
テリセル２Ｂ（又はバツテリセル２Ａ）のセル電圧値が
充電終止電圧値以上になつたとき、及び又はバツテリセ
ル２Ａ及び２Ｂのセルバランスが所定の差分値よりも大
きくなつたときに、異常が発生したことを表す信号を外
部に出力するようになされている。
【００２８】このようにしてこのバツテリパツク１にお
いては、保護回路３により外部と通信するようになされ
ている。
いては、保護回路３により外部と通信するようになされ
ている。
【００２９】電圧検出制御回路５においては、アナログ
デジタルコンバータ等でなり、各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂのセル電圧値をそれぞれ個別に検出すると共に、当
該検出したセル電圧値を必要に応じて外部に出力するよ
うになされている。これによりこのバツテリパツク１に
おいては、その内部における各バツテリセル２Ａ及び２
Ｂのセル電圧値及びセルバランスの監視のみならず、外
部からも各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値及び
セルバランスを監視させることができるようになされて
いる。
デジタルコンバータ等でなり、各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂのセル電圧値をそれぞれ個別に検出すると共に、当
該検出したセル電圧値を必要に応じて外部に出力するよ
うになされている。これによりこのバツテリパツク１に
おいては、その内部における各バツテリセル２Ａ及び２
Ｂのセル電圧値及びセルバランスの監視のみならず、外
部からも各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値及び
セルバランスを監視させることができるようになされて
いる。
【００３０】ここでかかる構成のバツテリパツク１は、
図１に示す携帯型のコンピユータ等でなる電子機器１０
に用いられる。この電子機器１０においては、機器本体
１２と、商用交流電源を所定の直流安定化電源に変換す
るＡＣパワーアダプタ１３とから構成されている。
図１に示す携帯型のコンピユータ等でなる電子機器１０
に用いられる。この電子機器１０においては、機器本体
１２と、商用交流電源を所定の直流安定化電源に変換す
るＡＣパワーアダプタ１３とから構成されている。
【００３１】この場合機器本体１２においては、図示し
ない装填部を有し、当該装填部内にバツテリパツク１が
装填されることにより、当該バツテリパツク１のプラス
端子及びマイナス端子がそれぞれ機器本体１２に設けら
れた対応するプラス側入出力ライン１５又はマイナス側
入出力ライン１６に接続される。
ない装填部を有し、当該装填部内にバツテリパツク１が
装填されることにより、当該バツテリパツク１のプラス
端子及びマイナス端子がそれぞれ機器本体１２に設けら
れた対応するプラス側入出力ライン１５又はマイナス側
入出力ライン１６に接続される。
【００３２】これによりこの機器本体１２においては、
バツテリパツク１のバツテリセル群２からプラス側入出
力ライン１５及びマイナス側入出力ライン１６を介して
直流電流が供給されて駆動するようになされている。
バツテリパツク１のバツテリセル群２からプラス側入出
力ライン１５及びマイナス側入出力ライン１６を介して
直流電流が供給されて駆動するようになされている。
【００３３】またこの機器本体１２には、ＡＣパワーア
ダプタ１３がプラス側入力ライン２０及びマイナス側入
力ライン２１を介して接続されている。ＡＣパワーアダ
プタ１３においては、コンセント用プラグ２２が設けら
れており、当該コンセント用プラグ２２が図示しない商
用交流電源（コンセント）に接続されることにより、機
器本体１２に直流電流を供給して駆動させると共に、当
該機器本体１２に供給した直流電流をプラス側入出力ラ
イン１５及びマイナス側入出力ライン１６を介して必要
に応じてバツテリパツク１のバツテリセル群２に供給す
ることにより当該バツテリセル群２を充電するようにな
されている。
ダプタ１３がプラス側入力ライン２０及びマイナス側入
力ライン２１を介して接続されている。ＡＣパワーアダ
プタ１３においては、コンセント用プラグ２２が設けら
れており、当該コンセント用プラグ２２が図示しない商
用交流電源（コンセント）に接続されることにより、機
器本体１２に直流電流を供給して駆動させると共に、当
該機器本体１２に供給した直流電流をプラス側入出力ラ
イン１５及びマイナス側入出力ライン１６を介して必要
に応じてバツテリパツク１のバツテリセル群２に供給す
ることにより当該バツテリセル群２を充電するようにな
されている。
【００３４】ここで機器本体１２においては、その内部
にパワーマネジメントユニツト等でなる保護処理回路２
５が内蔵されている。この保護処理回路２５は、バツテ
リパツク１の保護回路３（ＣＰＵ）及び電圧検出制御回
路５と、それぞれRS-232C 等でなる第１又は第２のシリ
アル通信ライン２６又は２７を介して接続されており、
これにより保護回路３及び電圧検出制御回路５とそれぞ
れ通信し得るようになされている。
にパワーマネジメントユニツト等でなる保護処理回路２
５が内蔵されている。この保護処理回路２５は、バツテ
リパツク１の保護回路３（ＣＰＵ）及び電圧検出制御回
路５と、それぞれRS-232C 等でなる第１又は第２のシリ
アル通信ライン２６又は２７を介して接続されており、
これにより保護回路３及び電圧検出制御回路５とそれぞ
れ通信し得るようになされている。
【００３５】この場合保護処理回路２５は、ＢＩＯＳ
（Basic Input-Output System ）を有するオペレーテイ
ングシステム等のシステムソフトウエアによつて制御さ
れて動作し、バツテリパツク１の保護回路３（ＣＰＵ）
から第１のシリアル通信ライン２６を介して得られるバ
ツテリセル群２の残存容量及びトータル電圧値等に基づ
いてバツテリセル群２を監視するようになされている。
（Basic Input-Output System ）を有するオペレーテイ
ングシステム等のシステムソフトウエアによつて制御さ
れて動作し、バツテリパツク１の保護回路３（ＣＰＵ）
から第１のシリアル通信ライン２６を介して得られるバ
ツテリセル群２の残存容量及びトータル電圧値等に基づ
いてバツテリセル群２を監視するようになされている。
【００３６】またこの保護処理回路２５では、バツテリ
セル群２の充電時に何らかの異常が発生してバツテリパ
ツク１の保護回路３（ＣＰＵ）から当該異常を表す異常
発生信号Ｓ１が第１のシリアル通信ライン２６を介して
入力されると、この異常発生信号Ｓ１に応じて各バツテ
リセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値を要求する要求信号Ｓ
２を第２のシリアル通信ライン２７を介してバツテリパ
ツク１の電圧検出制御回路５に送出する。
セル群２の充電時に何らかの異常が発生してバツテリパ
ツク１の保護回路３（ＣＰＵ）から当該異常を表す異常
発生信号Ｓ１が第１のシリアル通信ライン２６を介して
入力されると、この異常発生信号Ｓ１に応じて各バツテ
リセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値を要求する要求信号Ｓ
２を第２のシリアル通信ライン２７を介してバツテリパ
ツク１の電圧検出制御回路５に送出する。
【００３７】電圧検出制御回路５は、各バツテリセル２
Ａ及び２Ｂのセル電圧値を第２のシリアル通信ライン２
７を介して保護処理回路２５に送出する。これにより保
護処理回路２５は、電圧検出制御回路５から得られる各
バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値を監視し、必要
に応じて所定の保護処理を実行することにより各バツテ
リセル２Ａ及び２Ｂを保護するようになされている。
Ａ及び２Ｂのセル電圧値を第２のシリアル通信ライン２
７を介して保護処理回路２５に送出する。これにより保
護処理回路２５は、電圧検出制御回路５から得られる各
バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値を監視し、必要
に応じて所定の保護処理を実行することにより各バツテ
リセル２Ａ及び２Ｂを保護するようになされている。
【００３８】かくして実施例によるバツテリパツク１及
び電子機器１０においては、当該バツテリパツクの保護
回路３による各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理の
みならず、電子機器１０の保護処理回路２５においても
各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理を実行し得るよ
うになされている。
び電子機器１０においては、当該バツテリパツクの保護
回路３による各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理の
みならず、電子機器１０の保護処理回路２５においても
各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理を実行し得るよ
うになされている。
【００３９】ここで実際上電子機器１０においては、バ
ツテリパツク１のバツテリセル群２の充電時、ＡＣパワ
ーアダプタ１３から直流電流が供給されることにより保
護処理回路２５が動作する（このとき機器本体１２は見
かけ上停止している）と共に、プラス側入出力ライン１
５及びマイナス側入出力ライン１６を介して当該バツテ
リセル群２に直流電流を供給して充電する。
ツテリパツク１のバツテリセル群２の充電時、ＡＣパワ
ーアダプタ１３から直流電流が供給されることにより保
護処理回路２５が動作する（このとき機器本体１２は見
かけ上停止している）と共に、プラス側入出力ライン１
５及びマイナス側入出力ライン１６を介して当該バツテ
リセル群２に直流電流を供給して充電する。
【００４０】このときバツテリパツク１においては、保
護回路３のＣＰＵにおいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂ
のセル電圧値及びバツテリセル群２のトータル電圧値、
充電電流値及び温度を検出するようにして、各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値及びセルバランスを監視
する。これに加えてこのＣＰＵは、バツテリセル群２の
トータル電圧値に応じたトータル電圧値信号Ｓ５を保護
処理回路２５に送出し、これにより当該保護処理回路２
５は、入力されたトータル電圧値信号Ｓ５に基づいてバ
ツテリセル群２のトータル電圧値を監視する。
護回路３のＣＰＵにおいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂ
のセル電圧値及びバツテリセル群２のトータル電圧値、
充電電流値及び温度を検出するようにして、各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値及びセルバランスを監視
する。これに加えてこのＣＰＵは、バツテリセル群２の
トータル電圧値に応じたトータル電圧値信号Ｓ５を保護
処理回路２５に送出し、これにより当該保護処理回路２
５は、入力されたトータル電圧値信号Ｓ５に基づいてバ
ツテリセル群２のトータル電圧値を監視する。
【００４１】また電圧検出回路５は、各バツテリセル２
Ａ及び２Ｂのセル電圧値をそれぞれ個別に検出する。こ
の状態においてバツテリパツク１では、バツテリセル２
Ａ及び又は２Ｂにおいて何らかの異常が発生すると、保
護回路３のＣＰＵにより当該異常が発生したことを表す
異常発生信号Ｓ１を保護処理回路２５に送出する。
Ａ及び２Ｂのセル電圧値をそれぞれ個別に検出する。こ
の状態においてバツテリパツク１では、バツテリセル２
Ａ及び又は２Ｂにおいて何らかの異常が発生すると、保
護回路３のＣＰＵにより当該異常が発生したことを表す
異常発生信号Ｓ１を保護処理回路２５に送出する。
【００４２】ここで保護処理回路２５は、異常発生信号
Ｓ１が入力されると図２に示す保護処理手順ＲＴ１を開
始してステツプＳＰ１からステツプＳＰ２に進み、電圧
検出制御回路５に要求信号Ｓ２を送出する。電圧検出制
御回路５は、入力された要求信号Ｓ２に基づいて各バツ
テリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２にそれ
ぞれ応じたセル電圧値信号Ｓ７及びＳ８を保護処理回路
２５に送出する。
Ｓ１が入力されると図２に示す保護処理手順ＲＴ１を開
始してステツプＳＰ１からステツプＳＰ２に進み、電圧
検出制御回路５に要求信号Ｓ２を送出する。電圧検出制
御回路５は、入力された要求信号Ｓ２に基づいて各バツ
テリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２にそれ
ぞれ応じたセル電圧値信号Ｓ７及びＳ８を保護処理回路
２５に送出する。
【００４３】これにより保護処理回路２５は、続くステ
ツプＳＰ３において入力された各セル電圧値信号Ｓ７及
びＳ８にそれぞれ基づいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂ
のセル電圧値Ｖ１及びＶ２を監視する。
ツプＳＰ３において入力された各セル電圧値信号Ｓ７及
びＳ８にそれぞれ基づいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂ
のセル電圧値Ｖ１及びＶ２を監視する。
【００４４】この後保護処理回路２５は、ステツプＳＰ
４に進み、バツテリセル２Ａのセル電圧値Ｖ１が放電終
止電圧値（例えば５〔Ｖ〕程度）よりも大きいか否かを
判断する。これにより保護処理回路２５は、否定結果
（正常な充電状態にあること）を得ると、この後ステツ
プＳＰ５に進み、バツテリセル２Ｂのセル電圧値Ｖ２が
放電終止電圧値（例えば５〔Ｖ〕程度）よりも大きいか
否かを判断する。これにより保護処理回路２５は、否定
結果（正常な充電状態にあること）を得ると、この後ス
テツプＳＰ６に進み、バツテリセル２Ａのセル電圧値Ｖ
１の絶対値と、バツテリセル２Ｂのセル電圧値Ｖ２の絶
対値との差分を算出して当該差分が異常を示す所定の差
分値（例えば 0.5〔Ｖ〕程度）よりも大きいか否かを判
断する。
４に進み、バツテリセル２Ａのセル電圧値Ｖ１が放電終
止電圧値（例えば５〔Ｖ〕程度）よりも大きいか否かを
判断する。これにより保護処理回路２５は、否定結果
（正常な充電状態にあること）を得ると、この後ステツ
プＳＰ５に進み、バツテリセル２Ｂのセル電圧値Ｖ２が
放電終止電圧値（例えば５〔Ｖ〕程度）よりも大きいか
否かを判断する。これにより保護処理回路２５は、否定
結果（正常な充電状態にあること）を得ると、この後ス
テツプＳＰ６に進み、バツテリセル２Ａのセル電圧値Ｖ
１の絶対値と、バツテリセル２Ｂのセル電圧値Ｖ２の絶
対値との差分を算出して当該差分が異常を示す所定の差
分値（例えば 0.5〔Ｖ〕程度）よりも大きいか否かを判
断する。
【００４５】これにより保護処理回路２５は、否定結果
を得るとステツプＳＰ２に戻り、この後ステツプＳＰ４
からステツプＳＰ６までの間において少なくとも１つの
肯定結果を得るまでステツプＳＰ２−ＳＰ３−ＳＰ４−
ＳＰ５−ＳＰ６のループを繰り返す。
を得るとステツプＳＰ２に戻り、この後ステツプＳＰ４
からステツプＳＰ６までの間において少なくとも１つの
肯定結果を得るまでステツプＳＰ２−ＳＰ３−ＳＰ４−
ＳＰ５−ＳＰ６のループを繰り返す。
【００４６】この後保護処理回路２５は、ステツプＳＰ
４からステツプＳＰ６までの間において少なくとも１つ
の肯定結果を得ると（異常があると判断する）、続くス
テツプＳＰ７に進み、各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保
護処理を実行して、まず機器本体１２のプラス側入出力
ライン１５及び又はマイナス側入出力ライン１６に設け
られたＦＥＴ（Field Effect Transistor ）等でなる図
示しない遮断回路を動作させることにより、バツテリパ
ツク１への直流電流の供給を停止させる（すなわち、バ
ツテリセル群２の充電を停止させる）。
４からステツプＳＰ６までの間において少なくとも１つ
の肯定結果を得ると（異常があると判断する）、続くス
テツプＳＰ７に進み、各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保
護処理を実行して、まず機器本体１２のプラス側入出力
ライン１５及び又はマイナス側入出力ライン１６に設け
られたＦＥＴ（Field Effect Transistor ）等でなる図
示しない遮断回路を動作させることにより、バツテリパ
ツク１への直流電流の供給を停止させる（すなわち、バ
ツテリセル群２の充電を停止させる）。
【００４７】次いで保護処理回路２５は、ステツプＳＰ
８に進み、バツテリパツク１の保護回路３のＣＰＵに異
常内容を確認する異常内容確認信号Ｓ９を送出する。Ｃ
ＰＵは、保護処理回路２５に異常内容に基づく異常内容
信号Ｓ１０を送出し、これにより保護処理回路２５は異
常内容を確認する。
８に進み、バツテリパツク１の保護回路３のＣＰＵに異
常内容を確認する異常内容確認信号Ｓ９を送出する。Ｃ
ＰＵは、保護処理回路２５に異常内容に基づく異常内容
信号Ｓ１０を送出し、これにより保護処理回路２５は異
常内容を確認する。
【００４８】続いて保護処理回路２５は、ステツプＳＰ
９に進み、機器本体１２に設けられている表示部にバツ
テリパツク１内で発生した異常内容を表示すると共に、
当該機器本体１２に設けられている警告ブザを鳴らすこ
とにより、ユーザに警告を促す。次いで保護処理回路２
５は、この後ステツプＳＰ１０に進むことにより各種保
護処理を終了するようにして保護処理手順ＲＴ１を終了
する。
９に進み、機器本体１２に設けられている表示部にバツ
テリパツク１内で発生した異常内容を表示すると共に、
当該機器本体１２に設けられている警告ブザを鳴らすこ
とにより、ユーザに警告を促す。次いで保護処理回路２
５は、この後ステツプＳＰ１０に進むことにより各種保
護処理を終了するようにして保護処理手順ＲＴ１を終了
する。
【００４９】これによりユーザは、電子機器１０からバ
ツテリパツク１を取り外す等のように当該バツテリパツ
ク内の異常に対して対処し得るようになされている。
ツテリパツク１を取り外す等のように当該バツテリパツ
ク内の異常に対して対処し得るようになされている。
【００５０】かくしてこのバツテリパツク１及び電子機
器１０においては、バツテリセル群２の充電時に、各バ
ツテリセル２Ａ及び２Ｂに何らかの異常が発生すると、
バツテリパツク１内においての保護処理を実行すると共
に、電子機器１０においても保護処理を実行するように
して２重の保護処理を実行することにより、各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂをほぼ確実に保護し得るようになされ
ている。
器１０においては、バツテリセル群２の充電時に、各バ
ツテリセル２Ａ及び２Ｂに何らかの異常が発生すると、
バツテリパツク１内においての保護処理を実行すると共
に、電子機器１０においても保護処理を実行するように
して２重の保護処理を実行することにより、各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂをほぼ確実に保護し得るようになされ
ている。
【００５１】以上の構成において、このバツテリパツク
１及び電子機器１０では、バツテリセル群２の充電時
に、保護回路３のＣＰＵが何らかの異常を検出すると異
常発生信号Ｓ１を保護処理回路２５に送出する。これに
より保護処理回路２５は、要求信号Ｓ２を電圧検出制御
回路５に送出し（ステツプＳＰ１及びステツプＳＰ
２）、当該電圧検出制御回路５から得られる各セル電圧
値信号Ｓ７及びＳ８に基づいて各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２を監視する（ステツプＳ
Ｐ３）。
１及び電子機器１０では、バツテリセル群２の充電時
に、保護回路３のＣＰＵが何らかの異常を検出すると異
常発生信号Ｓ１を保護処理回路２５に送出する。これに
より保護処理回路２５は、要求信号Ｓ２を電圧検出制御
回路５に送出し（ステツプＳＰ１及びステツプＳＰ
２）、当該電圧検出制御回路５から得られる各セル電圧
値信号Ｓ７及びＳ８に基づいて各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２を監視する（ステツプＳ
Ｐ３）。
【００５２】このようにして保護処理回路２５は、少な
くとも１つのバツテリセル２Ａ又は２Ｂのセル電圧値Ｖ
１又はＶ２が放電終止電圧値以上になつたとき、及び又
はセルバランスが異常を示す差分値以上になつたときに
（ステツプＳＰ４〜ステツプＳＰ６）保護処理を実行す
る。
くとも１つのバツテリセル２Ａ又は２Ｂのセル電圧値Ｖ
１又はＶ２が放電終止電圧値以上になつたとき、及び又
はセルバランスが異常を示す差分値以上になつたときに
（ステツプＳＰ４〜ステツプＳＰ６）保護処理を実行す
る。
【００５３】すなわちバツテリセル群２の充電を停止さ
せ（ステツプＳＰ７）、保護回路３のＣＰＵに異常内容
確認信号Ｓ９を送出することにより当該ＣＰＵから得ら
れる異常内容信号Ｓ１０に基づいて異常内容を確認し
（ステツプＳＰ８）、この後表示部に異常内容を表示す
ると共に、警告ブザを鳴らすようにしてユーザに警告を
促す（ステツプＳＰ９及びステツプＳＰ１０）。
せ（ステツプＳＰ７）、保護回路３のＣＰＵに異常内容
確認信号Ｓ９を送出することにより当該ＣＰＵから得ら
れる異常内容信号Ｓ１０に基づいて異常内容を確認し
（ステツプＳＰ８）、この後表示部に異常内容を表示す
ると共に、警告ブザを鳴らすようにしてユーザに警告を
促す（ステツプＳＰ９及びステツプＳＰ１０）。
【００５４】従つてこのバツテリパツク１及び電子機器
１０においては、各バツテリセル２Ａ及び２Ｂにおいて
何らかの異常が発生したときに、バツテリパツク１の保
護回路３による各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理
のみならず、電子機器１０の保護処理回路２５において
も各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理を実行するよ
うにしたことにより、バツテリパツク１の保護回路３が
何らかの原因により故障して各バツテリセル２Ａ及び２
Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２の検出結果に誤差が生じて
いる場合や、検出が困難な場合等においても各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂが過充電の状態になることをほぼ確実
に防止して、容易かつ確実に保護することができる。
１０においては、各バツテリセル２Ａ及び２Ｂにおいて
何らかの異常が発生したときに、バツテリパツク１の保
護回路３による各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理
のみならず、電子機器１０の保護処理回路２５において
も各バツテリセル２Ａ及び２Ｂの保護処理を実行するよ
うにしたことにより、バツテリパツク１の保護回路３が
何らかの原因により故障して各バツテリセル２Ａ及び２
Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２の検出結果に誤差が生じて
いる場合や、検出が困難な場合等においても各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂが過充電の状態になることをほぼ確実
に防止して、容易かつ確実に保護することができる。
【００５５】またこのバツテリパツク１及び電子機器１
０においては、それぞれ電圧検出制御回路５又は保護処
理回路２５を設けるようにして、当該保護処理回路２５
において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１
及びＶ２を監視するようにしたことにより、バツテリセ
ル群２の充電時のみならず、当該バツテリセル群２の放
電時にも各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１
及びＶ２を監視することができる。これにより保護処理
回路２５においては、放電時に各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂに何らかの異常が発生した場合や、少なくとも１つ
のバツテリセル２Ａ又は２Ｂのセル電圧値Ｖ１又はＶ２
が放電終止電圧値まで低下したときに何らかの保護処理
を実行するようにして各バツテリセル２Ａ及び２Ｂを過
放電から容易かつ確実に保護することができる。
０においては、それぞれ電圧検出制御回路５又は保護処
理回路２５を設けるようにして、当該保護処理回路２５
において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１
及びＶ２を監視するようにしたことにより、バツテリセ
ル群２の充電時のみならず、当該バツテリセル群２の放
電時にも各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１
及びＶ２を監視することができる。これにより保護処理
回路２５においては、放電時に各バツテリセル２Ａ及び
２Ｂに何らかの異常が発生した場合や、少なくとも１つ
のバツテリセル２Ａ又は２Ｂのセル電圧値Ｖ１又はＶ２
が放電終止電圧値まで低下したときに何らかの保護処理
を実行するようにして各バツテリセル２Ａ及び２Ｂを過
放電から容易かつ確実に保護することができる。
【００５６】以上の構成によれば、バツテリパツク１に
おいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及
びＶ２をそれぞれ個別に検出し、当該検出した各セル電
圧値Ｖ１及びＶ２を電子機器１０の保護処理回路２５に
送出する電圧検出制御回路５を設けるようにしたことに
より、バツテリパツク１の保護回路３における保護処理
のみならず、電子機器１０においても各バツテリセル２
Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２及びセルバランス
を監視し、少なくとも１つのセル電圧値Ｖ１又はＶ２が
充電終止電圧値以上になつたとき、及び又はセルバラン
スが異常を示す差分値よりも大きくなつたときに保護処
理を実行させることができ、かくしてバツテリセルの保
護に対する信頼性を向上し得るバツテリパツクを実現す
ることができる。
おいて各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及
びＶ２をそれぞれ個別に検出し、当該検出した各セル電
圧値Ｖ１及びＶ２を電子機器１０の保護処理回路２５に
送出する電圧検出制御回路５を設けるようにしたことに
より、バツテリパツク１の保護回路３における保護処理
のみならず、電子機器１０においても各バツテリセル２
Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及びＶ２及びセルバランス
を監視し、少なくとも１つのセル電圧値Ｖ１又はＶ２が
充電終止電圧値以上になつたとき、及び又はセルバラン
スが異常を示す差分値よりも大きくなつたときに保護処
理を実行させることができ、かくしてバツテリセルの保
護に対する信頼性を向上し得るバツテリパツクを実現す
ることができる。
【００５７】また以上の構成によれば、電子機器１０に
おいてバツテリパツク１の電圧検出制御回路５から得ら
れる各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及び
Ｖ２を監視し、少なくとも１つのセル電圧値Ｖ１又はＶ
２が放電終止電圧値以上になつたとき、及び又はセルバ
ランスが異常を示す差分値よりも大きくなつたときに保
護処理を実行する保護処理回路２５を設けるようにした
ことにより、バツテリパツク内１における保護処理のみ
ならず、電子機器１０においても各バツテリセル２Ａ及
び２Ｂを過充電から保護することができ、かくしてバツ
テリセルの保護に対する信頼性を向上し得る電子機器を
実現することができる。
おいてバツテリパツク１の電圧検出制御回路５から得ら
れる各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及び
Ｖ２を監視し、少なくとも１つのセル電圧値Ｖ１又はＶ
２が放電終止電圧値以上になつたとき、及び又はセルバ
ランスが異常を示す差分値よりも大きくなつたときに保
護処理を実行する保護処理回路２５を設けるようにした
ことにより、バツテリパツク内１における保護処理のみ
ならず、電子機器１０においても各バツテリセル２Ａ及
び２Ｂを過充電から保護することができ、かくしてバツ
テリセルの保護に対する信頼性を向上し得る電子機器を
実現することができる。
【００５８】なお上述の実施例においては、各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂにおいて異常が発生したときに、バツ
テリパツク１の保護回路３（ＣＰＵ）から保護処理回路
２５に異常発生信号Ｓ１が入力されることにより図２に
示す保護処理手順ＲＴ１を開始するようにした場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、バツテリパツク
１の保護回路３が何らかの理由により故障して当該保護
回路３（ＣＰＵ）から保護処理回路２５に故障を表す信
号が入力されたとき、又は保護回路３（ＣＰＵ）と保護
処理回路２５との間の通信が所定時間以上途切れたとき
に、上述した保護処理手順ＲＴ１を開始するようにして
も良く、この場合も実施例と同様の効果を得ることがで
きる。
セル２Ａ及び２Ｂにおいて異常が発生したときに、バツ
テリパツク１の保護回路３（ＣＰＵ）から保護処理回路
２５に異常発生信号Ｓ１が入力されることにより図２に
示す保護処理手順ＲＴ１を開始するようにした場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、バツテリパツク
１の保護回路３が何らかの理由により故障して当該保護
回路３（ＣＰＵ）から保護処理回路２５に故障を表す信
号が入力されたとき、又は保護回路３（ＣＰＵ）と保護
処理回路２５との間の通信が所定時間以上途切れたとき
に、上述した保護処理手順ＲＴ１を開始するようにして
も良く、この場合も実施例と同様の効果を得ることがで
きる。
【００５９】また上述の実施例においては、各バツテリ
セル２Ａ及び２Ｂにおいて異常が発生したときに、保護
処理回路２５により各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル
電圧値Ｖ１及びＶ２を監視するようにして保護処理を実
行するようにした場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、保護処理回路２５により常時（充放電時を含
む）各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及び
Ｖ２を監視するようにして必要に応じて何らかの保護処
理を実行するようにしても良い。
セル２Ａ及び２Ｂにおいて異常が発生したときに、保護
処理回路２５により各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル
電圧値Ｖ１及びＶ２を監視するようにして保護処理を実
行するようにした場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、保護処理回路２５により常時（充放電時を含
む）各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値Ｖ１及び
Ｖ２を監視するようにして必要に応じて何らかの保護処
理を実行するようにしても良い。
【００６０】さらに上述の実施例においては、本発明を
バツテリパツク１及びＡＣパワーアダプタ１３（充電
器）を有する電子機器１０に適用するようにした場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、充電器単体に
上述した保護処理回路２５とほぼ同じ機能を有する保護
処理回路を設けるようにして、当該充電器とバツテリパ
ツク１に適用するようにしても良い。
バツテリパツク１及びＡＣパワーアダプタ１３（充電
器）を有する電子機器１０に適用するようにした場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、充電器単体に
上述した保護処理回路２５とほぼ同じ機能を有する保護
処理回路を設けるようにして、当該充電器とバツテリパ
ツク１に適用するようにしても良い。
【００６１】この場合、充電器及びバツテリパツク１に
おいては、当該バツテリパツク１内における保護処理の
みならず、充電器においても各バツテリセル２Ａ及び２
Ｂを過充電から容易かつ確実に保護することができ、か
くしてバツテリセルの保護に対する信頼性を向上し得る
充電器を実現することができる。
おいては、当該バツテリパツク１内における保護処理の
みならず、充電器においても各バツテリセル２Ａ及び２
Ｂを過充電から容易かつ確実に保護することができ、か
くしてバツテリセルの保護に対する信頼性を向上し得る
充電器を実現することができる。
【００６２】さらに上述の実施例においては、本発明を
バツテリパツク１及びＡＣパワーアダプタ１３（充電
器）を有する電子機器１０に適用するようにした場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、バツテリパツ
ク１及び電子機器単体（実施例による機器本体１２）に
適用するようにしても良い。
バツテリパツク１及びＡＣパワーアダプタ１３（充電
器）を有する電子機器１０に適用するようにした場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、バツテリパツ
ク１及び電子機器単体（実施例による機器本体１２）に
適用するようにしても良い。
【００６３】さらに上述の実施例においては、本発明を
２本のバツテリセル２Ａ及び２Ｂが直列に接続されてな
るバツテリセル群２が収納されたバツテリパツク１に適
用するようにした場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、バツテリセル又は複数のバツテリセルが並列
に接続されたバツテリセルバンクが複数直列に接続され
てなるバツテリセル群が収納されたバツテリパツクに適
用するようにしても良い。
２本のバツテリセル２Ａ及び２Ｂが直列に接続されてな
るバツテリセル群２が収納されたバツテリパツク１に適
用するようにした場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、バツテリセル又は複数のバツテリセルが並列
に接続されたバツテリセルバンクが複数直列に接続され
てなるバツテリセル群が収納されたバツテリパツクに適
用するようにしても良い。
【００６４】この場合このバツテリパツクにおいては、
保護回路３のＣＰＵ及び電圧検出制御回路５において各
バツテリセルのセル電圧値、又は各バツテリセルバンク
の出力電圧値をそれぞれ個別に検出し、当該検出した各
バツテリセルのセル電圧値又はバツテリセルバンクの出
力電圧値を保護処理回路２５に送出し、これにより保護
処理回路２５において各バツテリセルのセル電圧値、又
は各バツテリセルバンクの出力電圧値を監視させるよう
にしても良い。
保護回路３のＣＰＵ及び電圧検出制御回路５において各
バツテリセルのセル電圧値、又は各バツテリセルバンク
の出力電圧値をそれぞれ個別に検出し、当該検出した各
バツテリセルのセル電圧値又はバツテリセルバンクの出
力電圧値を保護処理回路２５に送出し、これにより保護
処理回路２５において各バツテリセルのセル電圧値、又
は各バツテリセルバンクの出力電圧値を監視させるよう
にしても良い。
【００６５】さらに上述の実施例においては、保護処理
回路２５において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電
圧値Ｖ１及びＶ２並びにセルバランスを監視するように
した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、電
圧検出制御回路５において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂ
のセル電圧値Ｖ１及びＶ２と共に、バツテリセル群２の
充放電電流値及び温度等も検出して保護処理回路２５に
送出し、これにより保護処理回路２５において各バツテ
リセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値並びにセルバランスに
加えてバツテリセル群２の充放電電流値及び温度等を監
視するようにしても良い。かくして各バツテリセル２Ａ
及び２Ｂを上述した実施例よりもさらに広範囲に亘る種
々の異常状態から保護することができる。
回路２５において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル電
圧値Ｖ１及びＶ２並びにセルバランスを監視するように
した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、電
圧検出制御回路５において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂ
のセル電圧値Ｖ１及びＶ２と共に、バツテリセル群２の
充放電電流値及び温度等も検出して保護処理回路２５に
送出し、これにより保護処理回路２５において各バツテ
リセル２Ａ及び２Ｂのセル電圧値並びにセルバランスに
加えてバツテリセル群２の充放電電流値及び温度等を監
視するようにしても良い。かくして各バツテリセル２Ａ
及び２Ｂを上述した実施例よりもさらに広範囲に亘る種
々の異常状態から保護することができる。
【００６６】さらに上述の実施例においては、実施例に
よる電子機器として携帯型のパーソナルコンピユータを
適用するようにした場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、マルチバツテリセルを収納したバツテリパ
ツクが装填され、かつ実施例の保護処理回路２５と同様
の機能を有するものであれば、カムコーダ、セルラーホ
ン、無線機等のこの他種々のバツテリパツク応用機器に
適用するようにしても良い。
よる電子機器として携帯型のパーソナルコンピユータを
適用するようにした場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、マルチバツテリセルを収納したバツテリパ
ツクが装填され、かつ実施例の保護処理回路２５と同様
の機能を有するものであれば、カムコーダ、セルラーホ
ン、無線機等のこの他種々のバツテリパツク応用機器に
適用するようにしても良い。
【００６７】さらに上述の実施例においては、保護処理
手順ＲＴ１においてステツプＳＰ４〜ステツプＳＰ６に
よりそれぞれ肯定結果が得られたときに１つのプログラ
ムのステツプＳＰ７に進むようにした場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、予めステツプＳＰ７〜ス
テツプＳＰ１０のプログラムを３つ用意して、ステツプ
ＳＰ４〜ステツプＳＰ６においてそれぞれ肯定結果を得
たときに当該ステツプＳＰ４〜ステツプＳＰ６からそれ
ぞれ別々のプログラムのステツプＳＰ７に進むようにし
ても良い。
手順ＲＴ１においてステツプＳＰ４〜ステツプＳＰ６に
よりそれぞれ肯定結果が得られたときに１つのプログラ
ムのステツプＳＰ７に進むようにした場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、予めステツプＳＰ７〜ス
テツプＳＰ１０のプログラムを３つ用意して、ステツプ
ＳＰ４〜ステツプＳＰ６においてそれぞれ肯定結果を得
たときに当該ステツプＳＰ４〜ステツプＳＰ６からそれ
ぞれ別々のプログラムのステツプＳＰ７に進むようにし
ても良い。
【００６８】これに加えてこのように予めステツプＳＰ
７〜ステツプＳＰ１０のプログラムを３つ用意した場合
には、各ステツプＳＰ７にそれぞれどのステツプＳＰ４
〜、又はステツプＳＰ６からプログラムが進んできたか
により３つ用意したステツプＳＰ７〜ステツプＳＰ１０
毎に異常内容を把握するようにしてそれぞれステツプＳ
Ｐ８のプログラムを除くようにしても良い。
７〜ステツプＳＰ１０のプログラムを３つ用意した場合
には、各ステツプＳＰ７にそれぞれどのステツプＳＰ４
〜、又はステツプＳＰ６からプログラムが進んできたか
により３つ用意したステツプＳＰ７〜ステツプＳＰ１０
毎に異常内容を把握するようにしてそれぞれステツプＳ
Ｐ８のプログラムを除くようにしても良い。
【００６９】さらに上述の実施例においては、電子機器
１０の保護処理回路２５と、それぞれバツテリパツク１
の保護回路３（ＣＰＵ）及び電圧検出制御回路５とを接
続するシリアル通信ライン２６及び２７としてRS-232C
を適用するようにした場合について述べたが、本発明は
これに限らず、Dallas、 I2C（SM Bus）等のこの他種々
の汎用インターフエイスを適用するようにしても良い。
１０の保護処理回路２５と、それぞれバツテリパツク１
の保護回路３（ＣＰＵ）及び電圧検出制御回路５とを接
続するシリアル通信ライン２６及び２７としてRS-232C
を適用するようにした場合について述べたが、本発明は
これに限らず、Dallas、 I2C（SM Bus）等のこの他種々
の汎用インターフエイスを適用するようにしても良い。
【００７０】さらに上述の実施例においては、電子機器
１０の保護処理回路２５としてパワーマネジメントユニ
ツトを適用するようにした場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、キーボードコントローラ等のこの他
種々のインターフエイス装置を適用するようにしても良
い。
１０の保護処理回路２５としてパワーマネジメントユニ
ツトを適用するようにした場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、キーボードコントローラ等のこの他
種々のインターフエイス装置を適用するようにしても良
い。
【００７１】さらに上述の実施例においては、保護処理
手順ＲＴ１において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル
電圧値Ｖ１及びＶ２を比較する充電終止電圧値を５
〔Ｖ〕程度に設定し、またセルバランスにおける異常を
示す差分値を 0.5〔Ｖ〕程度に設定するようにした場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々
の値でなる充電終止電圧値及び差分値を設定するように
しても良い。
手順ＲＴ１において各バツテリセル２Ａ及び２Ｂのセル
電圧値Ｖ１及びＶ２を比較する充電終止電圧値を５
〔Ｖ〕程度に設定し、またセルバランスにおける異常を
示す差分値を 0.5〔Ｖ〕程度に設定するようにした場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々
の値でなる充電終止電圧値及び差分値を設定するように
しても良い。
【００７２】さらに上述の実施例においては、保護処理
手段２５において実行する所定の保護処理として保護処
理手順ＲＴ１におけるステツプＳＰ７〜ステツプＳＰ９
の保護処理を適用するようにした場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、バツテリセルを各種異常状
態から保護することができれば、この他種々の内容の保
護処理を実行するようにしても良い。
手段２５において実行する所定の保護処理として保護処
理手順ＲＴ１におけるステツプＳＰ７〜ステツプＳＰ９
の保護処理を適用するようにした場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、バツテリセルを各種異常状
態から保護することができれば、この他種々の内容の保
護処理を実行するようにしても良い。
【００７３】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、電圧検出
制御手段において各バツテリセルの出力電圧値、又は各
バツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ個別に検出
し、当該検出した各バツテリセルの出力電圧値、又は各
バツテリセルバンクの出力電圧値を外部に出力するよう
にしたことにより、外部から各バツテリセルの出力電圧
値、又は各バツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ
監視させるようにして少なくとも１つのバツテリセルの
出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が所定
の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護処理を実
行させると共に、少なくとも１つのバツテリセルの出力
電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が所定の第
２の電圧値以上になつたとき、及び又は各バツテリセル
の出力電圧値間若しくは各バツテリセルバンクの出力電
圧値間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたときに
所定の保護処理を実行させることにより、バツテリパツ
ク内におけるバツテリセルの保護のみならず、外部から
もバツテリセルを過放電及び過充電から保護することが
でき、かくしてバツテリセルの保護に対する信頼性を向
上し得るバツテリパツクを実現することができる。
制御手段において各バツテリセルの出力電圧値、又は各
バツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ個別に検出
し、当該検出した各バツテリセルの出力電圧値、又は各
バツテリセルバンクの出力電圧値を外部に出力するよう
にしたことにより、外部から各バツテリセルの出力電圧
値、又は各バツテリセルバンクの出力電圧値をそれぞれ
監視させるようにして少なくとも１つのバツテリセルの
出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が所定
の第１の電圧値まで低下したときに所定の保護処理を実
行させると共に、少なくとも１つのバツテリセルの出力
電圧値又はバツテリセルバンクの出力電圧値が所定の第
２の電圧値以上になつたとき、及び又は各バツテリセル
の出力電圧値間若しくは各バツテリセルバンクの出力電
圧値間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたときに
所定の保護処理を実行させることにより、バツテリパツ
ク内におけるバツテリセルの保護のみならず、外部から
もバツテリセルを過放電及び過充電から保護することが
でき、かくしてバツテリセルの保護に対する信頼性を向
上し得るバツテリパツクを実現することができる。
【００７４】また上述のように本発明によれば、保護処
理手段においてバツテリパツクの制御手段から得られる
各バツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバン
クの出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバ
ツテリセルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力
電圧値が所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の
保護処理を実行するようにしたことにより、バツテリパ
ツク内におけるバツテリセルの保護のみならず、電子機
器においてもバツテリセルを過放電から保護することが
でき、かくしてバツテリセルの保護に対する信頼性を向
上し得る電子機器を実現することができる。
理手段においてバツテリパツクの制御手段から得られる
各バツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバン
クの出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つのバ
ツテリセルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出力
電圧値が所定の第１の電圧値まで低下したときに所定の
保護処理を実行するようにしたことにより、バツテリパ
ツク内におけるバツテリセルの保護のみならず、電子機
器においてもバツテリセルを過放電から保護することが
でき、かくしてバツテリセルの保護に対する信頼性を向
上し得る電子機器を実現することができる。
【００７５】さらに上述のように本発明によれば、保護
処理手段においてバツテリパツクの制御手段から得られ
る各バツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバ
ンクの出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つの
バツテリセルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出
力電圧値が所定の電圧値以上になつたとき、及び又は各
バツテリセルの出力電圧値間若しくは各バツテリセルバ
ンクの出力電圧値間の差分が所定の差分値よりも大きく
なつたときに所定の保護処理を実行するようにしたこと
により、バツテリパツク内におけるバツテリセルの保護
のみならず、充電器においてもバツテリセルを過充電か
ら保護することができ、かくしてバツテリセルの保護に
対する信頼性を向上し得る充電器を実現することができ
る。
処理手段においてバツテリパツクの制御手段から得られ
る各バツテリセルの出力電圧値、又は各バツテリセルバ
ンクの出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つの
バツテリセルの出力電圧値又はバツテリセルバンクの出
力電圧値が所定の電圧値以上になつたとき、及び又は各
バツテリセルの出力電圧値間若しくは各バツテリセルバ
ンクの出力電圧値間の差分が所定の差分値よりも大きく
なつたときに所定の保護処理を実行するようにしたこと
により、バツテリパツク内におけるバツテリセルの保護
のみならず、充電器においてもバツテリセルを過充電か
ら保護することができ、かくしてバツテリセルの保護に
対する信頼性を向上し得る充電器を実現することができ
る。
【図１】本発明の一実施例によるバツテリパツク及び電
子機器の構成を示す概略図である。
子機器の構成を示す概略図である。
【図２】本発明の一実施例による電子機器の保護処理回
路における保護処理手順を示すフローチヤートである。
路における保護処理手順を示すフローチヤートである。
１……バツテリパツク、２……バツテリセル群、２Ａ、
２Ｂ……バツテリセル ３……保護回路、５……電圧検出制御回路、１０……電
子機器、１２……機器本体、１３……ＡＣパワーアダプ
タ、２５……保護処理回路。
２Ｂ……バツテリセル ３……保護回路、５……電圧検出制御回路、１０……電
子機器、１２……機器本体、１３……ＡＣパワーアダプ
タ、２５……保護処理回路。
Claims (7)
- 【請求項１】バツテリセル又は複数の上記バツテリセル
が並列に接続されたバツテリセルバンクが複数直列に接
続されてなるバツテリセル群が収納されたバツテリパツ
クにおいて、 各上記バツテリセルの出力電圧値、又は各上記バツテリ
セルバンクの出力電圧値をそれぞれ個別に検出し、当該
検出した各上記バツテリセルの上記出力電圧値、又は各
上記バツテリセルバンクの上記出力電圧値を外部に出力
する電圧検出制御手段を具えることを特徴とするバツテ
リパツク。 - 【請求項２】上記電圧検出制御手段は、 上記バツテリセル群の充放電電流値及び又は温度を検出
し、当該検出した上記充放電電流値及び又は上記温度を
外部に出力することを特徴とする請求項１に記載のバツ
テリパツク。 - 【請求項３】バツテリセル又は複数の上記バツテリセル
が並列に接続されたバツテリセルバンクが複数直列に接
続されてなるバツテリセル群が収納されたバツテリパツ
クの上記バツテリセル群から電流が供給されることによ
り駆動する電子機器において、 上記バツテリパツクの制御手段から得られる各上記バツ
テリセルの出力電圧値、又は各上記バツテリセルバンク
の出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つの上記
バツテリセルの上記出力電圧値又は上記バツテリセルバ
ンクの上記出力電圧値が所定の第１の電圧値まで低下し
たときに所定の保護処理を実行する保護処理手段を具え
ることを特徴とする電子機器。 - 【請求項４】上記保護処理手段は、 上記バツテリパツクの上記制御手段から得られる上記バ
ツテリセル群の放電電流値及び又は温度に基づいて上記
バツテリパツク内に異常が発生したと判断したときに上
記保護処理を実行することを特徴とする請求項３に記載
の電子機器。 - 【請求項５】上記バツテリパツクの上記バツテリセル群
を充電する充電器を有し、 上記保護処理手段は、 上記バツテリパツクの制御手段から得られる各上記バツ
テリセルの出力電圧値、又は各上記バツテリセルバンク
の出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つの上記
バツテリセルの上記出力電圧値又は上記バツテリセルバ
ンクの上記出力電圧値が所定の第２の電圧値以上になつ
たとき、及び又は各上記バツテリセルの上記出力電圧値
間若しくは各上記バツテリセルバンクの上記出力電圧値
間の差分が所定の差分値よりも大きくなつたときに所定
の保護処理を実行することを特徴とする請求項３に記載
の電子機器。 - 【請求項６】バツテリセル又は複数の上記バツテリセル
が並列に接続されたバツテリセルバンクが複数直列に接
続されてなるバツテリセル群が収納されたバツテリパツ
クの上記バツテリセル群を充電する充電器において、 上記バツテリパツクの制御手段から得られる各上記バツ
テリセルの出力電圧値、又は各上記バツテリセルバンク
の出力電圧値をそれぞれ監視し、少なくとも１つの上記
バツテリセルの上記出力電圧値又は上記バツテリセルバ
ンクの上記出力電圧値が所定の電圧値以上になつたと
き、及び又は各上記バツテリセルの上記出力電圧値間若
しくは各上記バツテリセルバンクの上記出力電圧値間の
差分が所定の差分値よりも大きくなつたときに所定の保
護処理を実行する保護処理手段を具えることを特徴とす
る充電器。 - 【請求項７】上記保護処理手段は、 上記バツテリパツクの上記制御手段から得られる上記バ
ツテリセル群の充電電流値及び又は温度に基づいて上記
バツテリパツク内に異常が発生したと判断したときに上
記保護処理を実行することを特徴とする請求項６に記載
の充電器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8201267A JPH1027630A (ja) | 1996-07-10 | 1996-07-10 | バツテリパツク及び電子機器並びに充電器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8201267A JPH1027630A (ja) | 1996-07-10 | 1996-07-10 | バツテリパツク及び電子機器並びに充電器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1027630A true JPH1027630A (ja) | 1998-01-27 |
Family
ID=16438126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8201267A Pending JPH1027630A (ja) | 1996-07-10 | 1996-07-10 | バツテリパツク及び電子機器並びに充電器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1027630A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP1708335A2 (en) | 2005-03-28 | 2006-10-04 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Electrical apparatus with a rechargeable battery |
| JP2007109660A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Hilti Ag | 電池群を有するバッテリパックの過放電防止方法および装置 |
| JP2010200485A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Sanyo Electric Co Ltd | パック電池の保護システム |
| WO2011118475A1 (ja) * | 2010-03-26 | 2011-09-29 | パナソニック電工パワーツール株式会社 | 電動工具 |
| JP2013110876A (ja) * | 2011-11-22 | 2013-06-06 | Panasonic Eco Solutions Power Tools Co Ltd | 放電システム |
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| US8901888B1 (en) | 2013-07-16 | 2014-12-02 | Christopher V. Beckman | Batteries for optimizing output and charge balance with adjustable, exportable and addressable characteristics |
| JP2017506489A (ja) * | 2014-01-28 | 2017-03-02 | 広東欧珀移動通信有限公司 | 電源アダプター、端末及び充電回路の異常の処理方法 |
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-
1996
- 1996-07-10 JP JP8201267A patent/JPH1027630A/ja active Pending
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