JPH10270612A - 放熱板接合用基板 - Google Patents

放熱板接合用基板

Info

Publication number
JPH10270612A
JPH10270612A JP6876797A JP6876797A JPH10270612A JP H10270612 A JPH10270612 A JP H10270612A JP 6876797 A JP6876797 A JP 6876797A JP 6876797 A JP6876797 A JP 6876797A JP H10270612 A JPH10270612 A JP H10270612A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
heat
bonding
plate
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6876797A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3505950B2 (ja
Inventor
Yoichiro Baba
陽一郎 馬場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP06876797A priority Critical patent/JP3505950B2/ja
Publication of JPH10270612A publication Critical patent/JPH10270612A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3505950B2 publication Critical patent/JP3505950B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/05Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0058Laminating printed circuit boards onto other substrates, e.g. metallic substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で放熱板と放熱板接合用基板との
間の接合層に存在する気泡を低減することができなかっ
た。 【解決手段】 セラミック基台12の上面側に固着した
銅板14より下面側に固着した銅板16の厚みを厚くし
た3層構造の放熱板接合用基板10を作成し、はんだ箔
22を介して放熱板20の上に載置する。放熱板接合用
基板10と放熱板20との接合のため加熱すると発生す
る熱応力の違いから銅板14より銅板16が多く延び、
放熱板接合用基板10全体が下側が凸状湾曲して、凸状
曲面を形成する。放熱板接合用基板10と放熱板20と
の接合層に存在する気泡28は自らの浮力によって凸状
曲面に沿って移動し、排出除去される。放熱板接合用基
板10の除冷後は凸状曲面は平坦に復帰して放熱板接合
用基板10と放熱板20との接合が終了する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放熱板接合用基
板、特に、放熱板接合用基板と放熱板との接合層に存在
する気泡(ボイド)を低減することのできる放熱板接合
用基板に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、パワーモジュール等のように動作
時に発熱する電子部品を搭載する基板は、当該電子部品
を使用温度内に維持するために放熱対策が講じられてい
る。例えば、基板の裏面側に熱伝導率の高い大型金属を
放熱板として貼り付け、基板上で発生した熱を拡散し放
熱している。
【0003】このような放熱板と基板との接合は、強固
な接合が可能であり、かつ熱伝達性が良好なはんだ付け
によって行われことが一般的である。また、効率的な接
合作業を行うためにはんだ付け装置を用いたフローはん
だ付け方式や連続加熱炉を用いたリフローはんだ付け方
式が利用されている。ところで、部品同士のはんだ付け
を行う場合、両者間に形成される接合層(はんだ層)に
気泡(ボイド)が残留することがある。はんだ付けが行
われるプロセス中では、はんだを構成する酸化鉛、酸化
スズ、酸化ニッケル等がH2で還元され濡れ性を確保し
ながらはんだ付けが進む。この時の還元作用によって発
生するH2Oが残留して気泡を形成する場合がある。ま
た、接合面の凹凸によって形成された空間がそのまま残
って気泡を形成する場合もある。さらに、はんだ付け時
に使用するフラックスの気化により発生するガスによっ
て気泡が形成される場合やはんだ材の溶融が周囲部から
始まることによって発生する空間(空気層)をトラップ
した結果、その部分が残留し気泡となる場合等がある。
このような気泡が発生した場合、基板と放熱板との接合
力が極端に低減する。また、気泡によって熱伝導率が低
下し、十分な放熱が行えなくなる場合もある。
【0004】このような気泡対策として、例えば、特開
昭59−33897号公報には、フローはんだ付け方式
において、水平面に対して所定角度傾いた噴流はんだ路
を形成し、この噴流はんだ路に対して基板を平行に投入
するはんだ付け装置が示されている。この装置によれ
ば、はんだ層内に存在する気泡が自らの浮力によって傾
いた基板面に沿って上昇しはんだ層から排出され気泡の
ないはんだ接合層を形成している。また、同様な考え方
をリフローはんだ付け方式に適用した場合、水平面に対
して所定角度傾いた搬送具に基板を載置して連続加熱炉
中を搬送すれば、前述と同様な浮力による気泡の排出を
行うことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した対策
は、いずれも生産設備の大がかりな改善を必要としてい
るため、生産のためのトータルコストが増加してしまう
という問題がある。
【0006】また、基板を斜めにする方法では、大型基
板では基板を斜めにした時に下端側にトラップされた気
泡は上端側まで移動する必要があり、移動距離が長く完
全に排出できないとう問題がある。
【0007】さらに、基板を斜めにすると、当該基板に
実装はんだ付けされる部品も傾いてしまい正規の実装位
置を維持できないと共に、はんだ付け部に付着するはん
だ量も下端側に偏ってしまう。その結果、放熱板と基板
との接合強度や放熱効率に偏りが発生するという問題が
ある。
【0008】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
で、簡単な構成で放熱板と基板との間の接合層に存在す
る気泡(ボイド)を低減することのできる放熱板接合用
基板を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記のような目的を達成
するために、本発明の構成は、一方面に発熱部品を搭載
し、他方面が放熱板に接合可能な放熱板接合用基板であ
って、前記放熱板接合用基板の放熱板接合側面に発生す
る熱応力が発熱部品搭載側面に発生する熱応力より相対
的に大きい熱膨張層を有し、前記放熱板接合用基板の加
熱時に放熱板接合側に凸状曲面を形成することを特徴と
する。
【0010】ここで、前記放熱板接合側面の凸状曲面は
円筒曲面の他、球曲面も含む。また、発生する熱応力の
違いは、基板の一方側と他方側とで熱膨張率の異なる材
質を用いたり、同じ材質でもその厚みを変えることで得
ることができる。
【0011】この構成によれば、放熱板と放熱板接合用
基板との接合時に当該基板を加熱することによって、基
板上下面に発生する熱応力の違いから放熱板接合側面が
他方より延び、放熱板接合側面に凸状に湾曲する。その
結果、放熱板と放熱板接合用基板との接合時に接合層に
存在する気泡は、前記基板の凸部頂部近傍から周辺部に
向かって凸状曲面に沿って自らの浮力によって移動する
ので、気泡の排出を簡単な構成で容易に行うことができ
る。また、気泡の移動距離は凸部頂部近傍から周辺部に
至る比較的短い距離になるので、十分な気泡排出を行う
ことができる。さらに、前記放熱板接合用基板の除冷
後、凸状曲面は元の形状に復帰するので、当該放熱板接
合用基板に搭載する発熱部品を安定保持することができ
る。また、放熱板と放熱板接合用基板との接合層の厚み
も均一になるので安定して接合状態を得ることができ
る。
【0012】上記のような目的を達成するために、本発
明の構成は、一方面に発熱部品を搭載し、他方面が放熱
板に接合可能な放熱板接合用基板であって、前記放熱板
接合用基板の放熱板接合側面が凸状曲面であることを特
徴とする。
【0013】この構成によれば、放熱板と放熱板接合用
基板との接合時に接合層に存在する気泡は、前記基板の
凸部頂部近傍から周辺部に向かって凸状曲面に沿って自
らの浮力によって移動するので、気泡の排出を簡単な構
成で容易に行うことができる。また、気泡の移動距離は
凸部頂部近傍から周辺部に至る比較的短い距離になるの
で、十分な気泡排出を行うことができる。
【0014】上記のような目的を達成するために、本発
明の構成は、当該基板と放熱板との接合をはんだ付けに
て行うことを特徴とする。
【0015】この構成によれば、放熱板と放熱板接合用
基板の接触位置、すなわち凸状曲面の頂部近傍が最初に
加熱され、その位置からはんだの溶融が始まり、徐々に
周囲に溶融が広がるため、はんだ層に存在する気泡を周
囲に順次押し出すことができる。また、はんだ溶融中に
凸状曲面の形成を行うことができるので、気泡の浮力を
利用した排出を行うことができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
(以下、実施形態という)を図面に基づき説明する。
【0017】図1(a),(b)には、本実施形態の放
熱板接合用基板(以下、単に基板という)の概略図が示
されている。図1(a)に示すように、基板10はセラ
ミック基台12の上面及び下面に金属層として銅板
(箔)14,16が固着された平板状の3層構造を呈
し、図1(b)に示すように、銅板14の上面には電子
部品18(本実施形態の場合、動作時に発熱する発熱部
品とする)が実装されている。前記銅板14,16は、
電子部品18とのはんだ付け接合や図2に示す放熱板2
0との接合のために設けられている。なお、図1は各電
子部品18が並列回路を形成している例であり、銅板1
4はシート状の共通薄膜で形成しているが、必要に応じ
て銅板14を加工した電極パターンとしてもよい。銅板
16も同様である。前記セラミック基台12は、例えば
AlNやAl23等で構成され、当該セラミック基台1
2と銅板14及び銅板16との接合は、活性金属法(A
gを主成分とするロー材による接合)や直接圧着法によ
って行われる。そして、3層構造を有する基板10が、
図2に示すように放熱板20に接合される。前記放熱板
20はCu−Mo、SiC−Al、Cu−W等熱伝導率
が高く線膨張率の低いものが使用される。
【0018】本実施形態の特徴的事項は、セラミック基
台10の放熱板接合側面に配置された銅板16に発生す
る熱応力(セラミック基台10に対する曲げモーメン
ト)を電子部品18の載置側面に配置された銅板14に
発生する熱応力より相対的に大きく設定することによ
り、全体としてセラミック基台10を一方に曲げて、凸
面を形成するところにある。本実施形態では、熱応力の
違いを生じさせるために、銅板16を銅板14よりも厚
く形成した例を示している。
【0019】図2を用いて、本実施形態の基板10と放
熱板20との接合手順を説明する。まず、図1に示すよ
うなセラミック基台12の上面に厚みt1の銅板14を
固着し、前記銅板14より厚みの厚い銅板16(厚さt
2)をセラミック基台12の下面に固着する。なお、銅
板14と銅板16の厚みの比は、個々の銅板の大きさや
その形態が図1(b)に示すようなシート状か或いは電
極パターン状か等によって異なるが、例えば0.15:
0.35である。この基板10をはんだ箔22を介して
放熱板20の上面に載置する(図2上段)。なお、放熱
板20の表面及び銅板16の表面には電解Niが施さ
れ、十分なはんだ濡れ性が確保されている。また、前記
はんだ箔22は、例えばPb50−Sn50の中温はん
だで、フラックスは含有されていないものとする。
【0020】このようにセットされた基板10と放熱板
20は図示しない搬送装置によって、連続加熱炉(還元
炉)24に投入される(図2中段)。この連続加熱炉2
4は、はんだ箔22、基板10、放熱板20等に形成さ
れている酸化膜の還元除去を行い良好な状態ではんだ付
けを行うために、内部にH2ガス及びN2ガス(H2ガス
構成比30%)が満たされたトンネルタイプの加熱炉
で、加熱ピーク温度は例えば350℃に設定されてい
る。そして、前記基板10と放熱板20とが連続加熱炉
24を通過する間に加熱され前記はんだ箔22の溶融が
行われ、両者のはんだ付けが行われることになる。
【0021】基板10の加熱に伴い、当該基板10の熱
膨張が始まる。基板10を構成するセラミック基台12
は、例えばAlNで構成され、その線膨張率は4.5p
pm/Kであるのに対して、銅板14,16を構成する
Cuの線膨張率は16.5ppm/Kである。また、セ
ラミック基台12の下面側に固着された銅板16は、上
面側に固着された銅板14より厚みが厚いため相対的な
曲げモーメントが銅板14より多くなる。すなわち、セ
ラミック基台12の下面側に固着された銅板16が上面
側に固着された銅板14より多く延びようとする。銅板
16はセラミック基台12に固着されているので、セラ
ミック基台12は銅板16側に凸状に湾曲して、基板1
0全体として放熱板20側に凸状に円筒曲面を形成する
(図2中段参照)。なお、この時の曲面の凸状頂部26
の突出量は、例えば、幅17mmの基板で200〜50
0μm、好ましくは230μm程度である。
【0022】連続加熱炉24内部において、基板10や
放熱板20に対して炉の熱は輻射よりも伝熱で伝わる分
が多いため、基板10が湾曲した場合、はんだ箔22と
接触している基板10(実際は銅板16)の凸状頂部2
6付近から温度上昇が始まり、はんだ箔22の溶融もこ
の凸状頂部26付近から始まり、徐々に周囲部に広がっ
ていく。
【0023】この時、はんだ箔22の変形(凹凸等)に
よって、銅板16とはんだ箔22との間、または、はん
だ箔22と放熱板20との間にトラップされていた気泡
(気体)28及び、はんだ箔22その他銅板16や放熱
板20の表面に付着していた水分や還元作用によって発
生した水分等の不純物が気化して発生した気泡(気体)
28は、前記凸状頂部26付近から基板10の凸状曲面
に沿って、自らの浮力によって図中矢印A方向に移動し
はんだ層22a内部から排出される。つまり、はんだ箔
22の溶融と共に気泡28の排出が始まり、溶融の完了
と共に気泡28の排除が完了する。
【0024】この後、連続加熱炉24内部で徐々に除冷
することによって、図2下段に示すように銅板14、1
6及びセラミック基台12、すなわち基板10は元の平
板状態に復元し、はんだ22aの冷却と共に復元した基
板10が放熱板20に平坦に固着される。
【0025】このように、熱膨張を利用し、加熱時のみ
基板10が凸状曲面を形成し、中央部から気泡28の排
出を行うので、はんだ付け関連設備の改善を行うことな
くはんだ層から気泡の排除を行うことができる。また、
除冷が行われると基板10の凸状曲面は平坦面に復帰す
るので、基板10が載置する電子部品18を平坦面で安
定して保持すると共に、基板10と放熱板20との接合
層であるはんだ層22aの接合量は均一化され安定した
基板10と放熱板20との接合固定を行うことができ
る。
【0026】図3(a)には、他の実施形態の基板30
が示されている。当該基板30も図1に示す基板10と
同様に、AlNやAl23等で構成されたセラミック基
台32の上面と下面に銅板34,36が固着された3層
構造を呈しいる。本実施形態の特徴的事項は、前記セラ
ミック基台32の放熱板側(図3では下面側)が予め凸
状曲面を呈しているところである。なお、この時の曲面
の凸状頂部の突出量は、例えば、幅17mmの基板で2
00〜500μm程度である。これ以上突出量が増加す
ると端部における熱伝導性が低下し、放熱効果に障害が
生じる恐れがある。従って、この例の場合も突出量は、
好ましくは230μm程度である。なお、基板30の場
合、セラミック基台32に固着された銅板34,36に
よる湾曲操作を必要としないため銅板34,36の厚み
(熱応力の大きさ)は同じに設定される。なお、本実施
形態の場合、銅板36は比較的柔らかいため、加圧処理
等によって容易にセラミック基台32の曲面に沿って固
着させることができる。
【0027】前記基板30と放熱板20との接合を行う
場合、図2(b)に示すように図1の実施形態と同様
に、基板30をはんだ箔22を介して放熱板20に載置
する。この時、予め湾曲した基板30をはんだ箔22に
対して安定して載置するために、図3(b)に示すよう
な基板固定用工具38を使用することが望ましい。
【0028】基板30と放熱板22との固着を行う場
合、図3(b)の状態で前述した実施形態と同様に連続
加熱炉に投入する。加熱が開始されると、図2の場合と
同様に、凸状頂部40付近からはんだ箔22の溶融が始
まり、トラップされたり発生した気泡が図2の場合と同
様にスムーズに排出除去される。なお、図2に示す例の
場合、連続加熱炉の温度プロファイルを設定する場合、
基板加熱時の各部材の熱膨張の状態とはんだ溶融・凝固
状態の2項目を考慮して行う必要があるが、図3に示す
例の場合、セラミック基台32の放熱板側を予め凸状曲
面で形成しているので、通常通りはんだの溶融・凝固状
態のみを考慮して容易な温度プロファイル設定を行うこ
とができる。また、同じ厚さの銅板34,36を使用す
ることができるので、部品の共通化を行うことができ
る。
【0029】図4には、図3に示した基板30の変形例
である基板42の構成が示されている。基板42も予め
放熱板接合側(図4では下面側)に凸状曲面が形成され
ている。基板42の場合、セラミック基台44及び上面
に固着される銅板46は図1に示す基板10と同様に平
坦な板状形状を呈し、前記セラミック基台44の下面に
固着される銅板48が予め凸状曲面を呈している。この
場合も、図3の例と同様に、はんだの溶融、気泡の排出
をスムーズに行い、基板42と放熱板20との接合を行
うことができる。また、材料として加工し易い銅板に凸
状曲面を設けることによって、部品コストの低減を行う
ことができる。
【0030】なお、銅板48に凸状曲面を予め形成する
ことによって、実質的に銅板46より銅板48の方が厚
くなる。このため、図1、図2で説明したような熱膨張
による湾曲変形作用も加わる。この結果、銅板48に形
成する凸状曲面の突出量を図3の例より少なくすること
が可能になり、銅板48の加工コストの低減をさらに行
うことができる。また、基板42は予め凸状曲面を有す
るため、連続加熱炉に投入する際には、基本的には図3
の例と同様に基板固定用工具38を使用することが望ま
しいが、前述したように基板42は、銅板46,48の
熱膨張の違いによる湾曲変形作用も行うので、予め形成
する凸状曲面の突出量を少なくできる。従って、基板固
定用工具38の使用は、必要に応じて行えばよい。な
お、基板固定用工具38を使用する場合、当該基板固定
用工具38の基板保持部に熱膨張による湾曲変形(上方
への移動)を考慮して、変形分を吸収するダンパ機能を
有する構成としてもよい。
【0031】図5に示す基板50の構造は、図1に示す
熱膨張を利用した例の変形例である。基板50もセラミ
ック基台52を中心に上面及び下面に金属板を固着した
3層構造である点は他の例と同様である。基板50の場
合、セラミック基台52の上面に固着した金属板54は
下面に固着した金属板56より小さな線膨張率を有する
材料で形成されている。例えば、下面側に固着する金属
板56を他の例と同様にCu(線膨張率:16.5pp
m/K)で構成した場合、上面側金属板54はCuより
線膨張率の小さい材質、例えばモリブデン(Mo)(線
膨張率:5.1ppm/K)を使用する。この場合、基
板50を加熱した場合、図2で示した例と同様に、放熱
板接合側(図5では下面側)の金属板(銅板)56の方
がより多く膨張し延びるため下側凸状に湾曲し、凸状曲
面を形成する。この結果、連続加熱炉内における加熱時
のはんだ箔の溶融や気泡の移動、排出除去等の効果は図
2で説明した場合と同様である。なお、下面側の金属板
56にCuを使用した場合、上面側の金属板54に使用
したMoの代替材としては、例えば、ニッケルやタング
ステン、アルミニウムがあげられる。
【0032】このように、材質毎の線膨張率の違いを利
用することによって、基板を制作する場合の材料選択範
囲が広がり設計の自由度を向上することができる。
【0033】なお、上述した各実施形態においては、セ
ラミック基台の放熱板側に固着する金属として銅を使用
した例を説明したが、電気伝導度が高い材質であれば任
意であり、さらに、熱膨張を利用した例の場合は、電気
伝導度及びヤング率の高い材質の中から適宜選択するこ
とができる。
【0034】また、上述した各基板10,30,42,
50は、放熱板との接合時にはんだを使用しない場合で
も接合層に存在する気泡を排除することができる。
【0035】例えば、主として熱膨張を利用する基板1
0,50等の場合、まず、基板10(50)を所定温度
まで加熱して放熱板接合側に凸状曲面を形成し、シリコ
ングリスや接着剤が塗布された放熱板の上に載置する。
そして、基板10(50)の除冷を行うと、曲面形状が
元の平坦な形状に復帰する。この時、凸状頂部から放熱
板に対する密着が始まるので、シリコングリスや接着剤
の内部にトラップされていた気泡は徐々に周辺部に向か
って追い出され、良好な気泡は移出排除を行うことがで
きる。
【0036】また、基板30,42等のように予め放熱
板接合側に凸状曲面が形成されている場合は、図6に示
すように、シリコングリスや接着剤58が塗布された放
熱板上で基板42を曲面に沿って転がせば、シリコング
リスや接着剤58の内部にトラップされていた気泡の排
出除去を容易に行うことができる。
【0037】なお、上述した実施形態のうち熱膨張を利
用する基板の場合、基板の上面側より下面側の曲げモー
メントが相対的に多く働けば、同様の効果を得ることが
可能で、上面側に配線パターンを固着し、下面側にシー
ト状の金属板を固着した場合でもよい。
【0038】なお、上述した各実施形態においては、放
熱板との接合面が円筒曲面である場合を例にとって説明
しているが、球面で形成される曲面でも同様な効果を得
ることができる。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば、生産設備等の改善を行
うことなく、簡単な構成で放熱板と基板との間の接合層
に存在する気泡(ボイド)を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態に係る放熱板接合用基板の
概略図である。
【図2】 図1の放熱板接合用基板と放熱板との接合手
順を説明する説明図である。
【図3】 本発明の実施形態に係る他の放熱板接合用基
板の概略図と当該放熱板接合用基板と放熱板の接合方法
を説明する説明図である。
【図4】 本発明の実施形態に係る他の放熱板接合用基
板の概略図である。
【図5】 本発明の実施形態に係るさらに他の放熱板接
合用基板の概略図である。
【図6】 本発明の実施形態に係る放熱板接合用基板を
シリコングリスを介して放熱板に接合する場合の気泡排
除を説明する説明図である。
【符号の説明】
10,30,42,50 放熱板接合用基板(基板)、
12,32,44,52 セラミック基台、14,1
6,34,36,46,48 銅板、20 放熱板、2
2 はんだ箔、26,40 凸状頂部、28 気泡、5
4,56 金属板。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方面に発熱部品を搭載し、他方面が放
    熱板に接合可能な放熱板接合用基板であって、 前記放熱板接合用基板の放熱板接合側面に発生する熱応
    力が発熱部品搭載側面に発生する熱応力より相対的に大
    きい熱膨張層を有し、 前記放熱板接合用基板の加熱時に放熱板接合側に凸状曲
    面を形成することを特徴とする放熱板接合用基板。
  2. 【請求項2】 一方面に発熱部品を搭載し、他方面が放
    熱板に接合可能な放熱板接合用基板であって、 前記放熱板接合用基板の放熱板接合側面が凸状曲面であ
    ることを特徴とする放熱板接合用基板。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の基板であ
    って、 当該基板と放熱板との接合をはんだ付けにて行うことを
    特徴とする放熱板接合用基板。
JP06876797A 1997-03-21 1997-03-21 放熱板接合用基板 Expired - Fee Related JP3505950B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06876797A JP3505950B2 (ja) 1997-03-21 1997-03-21 放熱板接合用基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06876797A JP3505950B2 (ja) 1997-03-21 1997-03-21 放熱板接合用基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10270612A true JPH10270612A (ja) 1998-10-09
JP3505950B2 JP3505950B2 (ja) 2004-03-15

Family

ID=13383225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06876797A Expired - Fee Related JP3505950B2 (ja) 1997-03-21 1997-03-21 放熱板接合用基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3505950B2 (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6844621B2 (en) 2002-08-13 2005-01-18 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor device and method of relaxing thermal stress
US7180176B2 (en) * 2001-08-23 2007-02-20 Dowa Mining Co., Ltd. Radiation plate and power semiconductor module IC package
CN100346474C (zh) * 2003-09-09 2007-10-31 丰田自动车株式会社 功率模块的连接方法
US7632716B2 (en) 2003-06-09 2009-12-15 Sumitomo Metal (Smi) Electronics Devices, Inc. Package for high frequency usages and its manufacturing method
JP2010040881A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Fuji Electric Systems Co Ltd 位置決め治具および半導体装置の製造方法
JP2013030358A (ja) * 2011-07-28 2013-02-07 Kyocera Corp セルスタックおよび燃料電池モジュール
JP2015050347A (ja) * 2013-09-02 2015-03-16 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP2015149295A (ja) * 2015-04-10 2015-08-20 京セラ株式会社 セルスタックおよび燃料電池モジュール
WO2016017260A1 (ja) * 2014-07-30 2016-02-04 富士電機株式会社 半導体モジュール
JP2016076619A (ja) * 2014-10-07 2016-05-12 昭和電工株式会社 電子モジュール用基板の製造方法及び電子モジュール用基板
CN108417501A (zh) * 2018-03-05 2018-08-17 台达电子企业管理(上海)有限公司 功率模块及其制备方法
WO2020031482A1 (ja) * 2018-08-09 2020-02-13 東京ロボティクス株式会社 ロボットアーム及びロボット

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7180176B2 (en) * 2001-08-23 2007-02-20 Dowa Mining Co., Ltd. Radiation plate and power semiconductor module IC package
US6844621B2 (en) 2002-08-13 2005-01-18 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor device and method of relaxing thermal stress
US7632716B2 (en) 2003-06-09 2009-12-15 Sumitomo Metal (Smi) Electronics Devices, Inc. Package for high frequency usages and its manufacturing method
CN100346474C (zh) * 2003-09-09 2007-10-31 丰田自动车株式会社 功率模块的连接方法
JP2010040881A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Fuji Electric Systems Co Ltd 位置決め治具および半導体装置の製造方法
JP2013030358A (ja) * 2011-07-28 2013-02-07 Kyocera Corp セルスタックおよび燃料電池モジュール
JP2015050347A (ja) * 2013-09-02 2015-03-16 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及びその製造方法
WO2016017260A1 (ja) * 2014-07-30 2016-02-04 富士電機株式会社 半導体モジュール
JPWO2016017260A1 (ja) * 2014-07-30 2017-04-27 富士電機株式会社 半導体モジュール
US9865529B2 (en) 2014-07-30 2018-01-09 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor module with conductive pin
JP2016076619A (ja) * 2014-10-07 2016-05-12 昭和電工株式会社 電子モジュール用基板の製造方法及び電子モジュール用基板
JP2015149295A (ja) * 2015-04-10 2015-08-20 京セラ株式会社 セルスタックおよび燃料電池モジュール
CN108417501A (zh) * 2018-03-05 2018-08-17 台达电子企业管理(上海)有限公司 功率模块及其制备方法
CN108417501B (zh) * 2018-03-05 2020-03-24 台达电子企业管理(上海)有限公司 功率模块及其制备方法
US10825759B2 (en) 2018-03-05 2020-11-03 Delta Electronics (Shanghai) Co., Ltd. Power module and production method of the same
WO2020031482A1 (ja) * 2018-08-09 2020-02-13 東京ロボティクス株式会社 ロボットアーム及びロボット
JP2020025999A (ja) * 2018-08-09 2020-02-20 東京ロボティクス株式会社 ロボットアーム及びロボット

Also Published As

Publication number Publication date
JP3505950B2 (ja) 2004-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101188150B1 (ko) 냉각 장치
EP2541594A1 (en) Semiconductor module manufacturing method, semiconductor module, and manufacturing device
JP2006245437A (ja) セラミックス回路基板およびパワーモジュール並びにパワーモジュールの製造方法
JP3505950B2 (ja) 放熱板接合用基板
JP2008235852A (ja) セラミックス基板及びこれを用いた半導体モジュール
JP2005191502A (ja) 電子部品冷却装置
JP5884291B2 (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板ユニット
JP5665355B2 (ja) セラミック部材とフィン付き放熱部材との接合体の製造方法
US5796049A (en) Electronics mounting plate with heat exchanger and method for manufacturing same
JP2005011922A (ja) ヒートシンクを備えた両面銅貼り基板、およびこれを用いた半導体装置
JP2009081246A (ja) 半導体実装基板及びその製造方法
JP2010199251A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2006059859A (ja) パワーモジュール用基板の製造方法
JP3308883B2 (ja) 基 板
JP6790945B2 (ja) 絶縁回路基板の製造方法、及び、ヒートシンク付き絶縁回路基板の製造方法
CN202363444U (zh) 无金属底板功率模块
JP2004327711A (ja) 半導体モジュール
JP2015185612A (ja) 接合構造体およびその製造方法
JP2004096034A (ja) モジュール構造体の製造方法並びに回路基板の固定方法及び回路基板
JP2001298136A (ja) ヒートシンク及び該ヒートシンク付き配線基板
JP2006286897A (ja) 金属−セラミックス接合基板
JP2004022964A (ja) Al−SiC系複合体およびそれを用いた放熱部品、半導体モジュール装置
KR101281043B1 (ko) 히트 싱크
JPH0760953B2 (ja) 誘電体基板の接着方法
CN113906553A (zh) 金属基座板的翘曲控制构造、半导体模块及逆变器装置

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20031208

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081226

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081226

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091226

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101226

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101226

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 8

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 9

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121226

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees