JPH1026650A - ガス絶縁機器の部分放電診断方法 - Google Patents
ガス絶縁機器の部分放電診断方法Info
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- JPH1026650A JPH1026650A JP8183221A JP18322196A JPH1026650A JP H1026650 A JPH1026650 A JP H1026650A JP 8183221 A JP8183221 A JP 8183221A JP 18322196 A JP18322196 A JP 18322196A JP H1026650 A JPH1026650 A JP H1026650A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガス絶縁機器内部で発生した部分放電から導
電性異物がファイアフライ状態にあるかどうかを判断す
る。 【解決手段】 ガス絶縁機器内部の部分放電を検出する
ための検出器が設置されているガス絶縁機器の部分放電
診断方法において、部分放電パルスの時間間隔及び部分
放電パルスの振幅のうちの少なくとも一方の発生パター
ンが２つに分類されるような部分放電を検出した場合に
導電性異物がファイアフライを起こしていると判断す
る。また、部分放電パルスの包絡線が導電性異物の運動
と対応した周期を有する場合や、部分放電パルスの時間
間隔の頻度分布に２つのピークが生じる場合や、部分放
電パルスの振幅強度と時間間隔との間に正の相関がある
場合に導電性異物がファイアフライを起こしていると判
断する。
電性異物がファイアフライ状態にあるかどうかを判断す
る。 【解決手段】 ガス絶縁機器内部の部分放電を検出する
ための検出器が設置されているガス絶縁機器の部分放電
診断方法において、部分放電パルスの時間間隔及び部分
放電パルスの振幅のうちの少なくとも一方の発生パター
ンが２つに分類されるような部分放電を検出した場合に
導電性異物がファイアフライを起こしていると判断す
る。また、部分放電パルスの包絡線が導電性異物の運動
と対応した周期を有する場合や、部分放電パルスの時間
間隔の頻度分布に２つのピークが生じる場合や、部分放
電パルスの振幅強度と時間間隔との間に正の相関がある
場合に導電性異物がファイアフライを起こしていると判
断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガス絶縁機器（例
えばガス絶縁開閉装置、ガス絶縁ＤＣ変圧器、ガス絶縁
リアクトル等）の内部で発生する部分放電の診断方法に
関し、特にファイアフライ状態になっている導電性異物
を検出できる部分放電診断方法に関する。
えばガス絶縁開閉装置、ガス絶縁ＤＣ変圧器、ガス絶縁
リアクトル等）の内部で発生する部分放電の診断方法に
関し、特にファイアフライ状態になっている導電性異物
を検出できる部分放電診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ガス絶縁機器には運転時の事故を防止す
るために、内部で発生する部分放電を検出して診断する
部分放電診断が行われている。このようなガス絶縁機器
の部分放電診断の多くは導電性異物に起因した部分放電
や、スペーサクラックで起きる部分放電を検出すること
を目的としており、部分放電信号の特性を捉えて、放電
の位置や放電の種類を特定することができる。例えば特
開平３−２６９２７４号公報には部分放電の周波数スペ
クトルを６００ＭＨｚを境として比較した場合、６００
ＭＨｚ未満のスぺクトル包絡のスペクトル強度の最高値
と山裾の幅両方が６００ＭＨｚ以上の部分よりも大きい
とガス絶縁機器内部のスペーサクラックによる部分放電
であるとし、小さいとガス絶縁内部に存在している導電
性異物による部分放電であると判断する方法が記載され
ており、導電性異物とスペーサクラックの放電を区別可
能とした部分放電診断方法が示されている。
るために、内部で発生する部分放電を検出して診断する
部分放電診断が行われている。このようなガス絶縁機器
の部分放電診断の多くは導電性異物に起因した部分放電
や、スペーサクラックで起きる部分放電を検出すること
を目的としており、部分放電信号の特性を捉えて、放電
の位置や放電の種類を特定することができる。例えば特
開平３−２６９２７４号公報には部分放電の周波数スペ
クトルを６００ＭＨｚを境として比較した場合、６００
ＭＨｚ未満のスぺクトル包絡のスペクトル強度の最高値
と山裾の幅両方が６００ＭＨｚ以上の部分よりも大きい
とガス絶縁機器内部のスペーサクラックによる部分放電
であるとし、小さいとガス絶縁内部に存在している導電
性異物による部分放電であると判断する方法が記載され
ており、導電性異物とスペーサクラックの放電を区別可
能とした部分放電診断方法が示されている。
【０００３】また、特開平３−４１３７２号公報には、
部分放電電荷量の違いにより、導電性異物の状態が、高
圧導体に固定しているか、ガス絶縁機器内部を飛び跳ね
ているか、スペーサ沿面に付着しているか、もしくは接
地タンク底面に固定しているかを区別する部分放電診断
方法が記載されている。
部分放電電荷量の違いにより、導電性異物の状態が、高
圧導体に固定しているか、ガス絶縁機器内部を飛び跳ね
ているか、スペーサ沿面に付着しているか、もしくは接
地タンク底面に固定しているかを区別する部分放電診断
方法が記載されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ガス絶縁機器の運転中
の絶縁破壊は導電性異物が原因となることが多いため、
部分放電を検出し、導電性異物がどのような状態にある
のかを判断することが重要である。電圧課電中の導電性
異物の状態は、上述のように多岐にわたり、導電性異物
の状態の違いで絶縁破壊への危険度も変わってくる。
の絶縁破壊は導電性異物が原因となることが多いため、
部分放電を検出し、導電性異物がどのような状態にある
のかを判断することが重要である。電圧課電中の導電性
異物の状態は、上述のように多岐にわたり、導電性異物
の状態の違いで絶縁破壊への危険度も変わってくる。
【０００５】特に直流課電下では上記の状態に加え、導
電性異物が高圧導体に垂直に突き立つような状態で運動
するファイアフライ現象が起こることがある。導電性異
物がファイアフライ状態中は絶縁破壊の危険度が他の状
態に比べ非常に高いので、ガス絶縁機器の絶縁診断にお
いて、試験や運転中に発生したこの現象を検出すること
は極めて重要である。しかし、従来の診断技術では部分
放電の発生から導電性異物がファイアフライ状態にある
ということを識別することはできなかった。
電性異物が高圧導体に垂直に突き立つような状態で運動
するファイアフライ現象が起こることがある。導電性異
物がファイアフライ状態中は絶縁破壊の危険度が他の状
態に比べ非常に高いので、ガス絶縁機器の絶縁診断にお
いて、試験や運転中に発生したこの現象を検出すること
は極めて重要である。しかし、従来の診断技術では部分
放電の発生から導電性異物がファイアフライ状態にある
ということを識別することはできなかった。
【０００６】本発明の目的はガス絶縁機器内部で発生し
た部分放電から導電性異物がファイアフライ状態にある
かどうかを判断することにある。
た部分放電から導電性異物がファイアフライ状態にある
かどうかを判断することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】第１の発明に係るガス絶
縁機器の部分放電診断方法は、部分放電パルスの時間間
隔及び部分放電パルスの振幅のうちの少なくとも一方の
発生パターンが２つに分類されるような部分放電を検出
した場合に導電性異物がファイアフライを起こしている
と判断するものである。
縁機器の部分放電診断方法は、部分放電パルスの時間間
隔及び部分放電パルスの振幅のうちの少なくとも一方の
発生パターンが２つに分類されるような部分放電を検出
した場合に導電性異物がファイアフライを起こしている
と判断するものである。
【０００８】第２の発明に係るガス絶縁機器の部分放電
診断方法は、上記部分放電パルスの包絡線が導電性異物
の運動と対応した周期を有する場合に導電性異物がファ
イアフライを起こしていると判断するものである。
診断方法は、上記部分放電パルスの包絡線が導電性異物
の運動と対応した周期を有する場合に導電性異物がファ
イアフライを起こしていると判断するものである。
【０００９】第３の発明に係るガス絶縁機器の部分放電
診断方法は、上記包絡線の周期が数１０μｓ以上になる
場合に導電性異物がファイアフライを起こしていると判
断するものである。
診断方法は、上記包絡線の周期が数１０μｓ以上になる
場合に導電性異物がファイアフライを起こしていると判
断するものである。
【００１０】第４の発明に係るガス絶縁機器の部分放電
診断方法は、上記部分放電パルスの時間間隔の頻度分布
に２つのピークが生じる場合に導電性異物がファイアフ
ライを起こしていると判断するものである。
診断方法は、上記部分放電パルスの時間間隔の頻度分布
に２つのピークが生じる場合に導電性異物がファイアフ
ライを起こしていると判断するものである。
【００１１】第５の発明に係るガス絶縁機器の部分放電
診断方法は、上記部分放電パルスの振幅強度と時間間隔
との間に正の相関がある場合に導電性異物がファイアフ
ライを起こしていると判断するものである。
診断方法は、上記部分放電パルスの振幅強度と時間間隔
との間に正の相関がある場合に導電性異物がファイアフ
ライを起こしていると判断するものである。
【００１２】
実施の形態１．図１はガス絶縁機器の内部に混入した導
電性異物がファイアフライを起こしている様子と部分放
電の診断装置の断面図を示す。ガス絶縁機器の母線内部
は高圧導体１０が接地タンク２０の中心に絶縁スペーサ
３０によって支持されている構成である。また高圧導体
１０と接地タンク２０の間の空間にはＳＦ6ガス４０が
封入されている。そして高圧導体１０には負極性の直流
電圧が印加されている。機器の内部に混入した導電性異
物８０の状態として、高圧導体に垂直に突き立つような
状態で運動するファイアフライ現象を起こしている様子
を示している。
電性異物がファイアフライを起こしている様子と部分放
電の診断装置の断面図を示す。ガス絶縁機器の母線内部
は高圧導体１０が接地タンク２０の中心に絶縁スペーサ
３０によって支持されている構成である。また高圧導体
１０と接地タンク２０の間の空間にはＳＦ6ガス４０が
封入されている。そして高圧導体１０には負極性の直流
電圧が印加されている。機器の内部に混入した導電性異
物８０の状態として、高圧導体に垂直に突き立つような
状態で運動するファイアフライ現象を起こしている様子
を示している。
【００１３】機器内部の部分放電診断装置として、接地
タンク２０に部分放電検出器５０が設置されている。こ
の検出器２０としてはＵＨＦカプラーやループアンテ
ナ、超音波センサ、加速度センサ、光センサ等部分放電
信号を計測できるものすべてに適用可能である。部分放
電検出器５０で検出された信号は測定器のオシロスコー
プ６０に取り込まれて、放電パルス信号に変換される。
その情報はコンピュータ７０に入り、演算、判断され導
電性異物がファイアフライを起こしているかどうかを表
示させるようになっている。
タンク２０に部分放電検出器５０が設置されている。こ
の検出器２０としてはＵＨＦカプラーやループアンテ
ナ、超音波センサ、加速度センサ、光センサ等部分放電
信号を計測できるものすべてに適用可能である。部分放
電検出器５０で検出された信号は測定器のオシロスコー
プ６０に取り込まれて、放電パルス信号に変換される。
その情報はコンピュータ７０に入り、演算、判断され導
電性異物がファイアフライを起こしているかどうかを表
示させるようになっている。
【００１４】図２はファイアフライ時の部分放電パルス
信号である。これは導電性異物８０として長さ３ｍｍ、
直径０．２ｍｍのアルミニウムの細線を用いた場合の実
験結果である。図２の部分放電パルスの振幅強度および
時間間隔を見ると、振幅強度が大きくかつ時間間隔が長
い部分Ａと、振幅強度が小さくかつ時間間隔が短い部分
Ｂの二つのパターンにわかれる。このような特徴から以
下に述べる理由によりファイアフライによる部分放電信
号であると判断することができる。
信号である。これは導電性異物８０として長さ３ｍｍ、
直径０．２ｍｍのアルミニウムの細線を用いた場合の実
験結果である。図２の部分放電パルスの振幅強度および
時間間隔を見ると、振幅強度が大きくかつ時間間隔が長
い部分Ａと、振幅強度が小さくかつ時間間隔が短い部分
Ｂの二つのパターンにわかれる。このような特徴から以
下に述べる理由によりファイアフライによる部分放電信
号であると判断することができる。
【００１５】ファイアフライ現象は導電性異物に起因す
る部分放電を伴う。通常、導電性異物に起因する部分放
電は現象としては１種類である。例えば、高圧導体１０
に固定している導電性異物８０から発生する部分放電は
導電性異物８０先端でのみ発生する。また、スペーサ３
０沿面やタンク２０底面に付着している導電性異物８０
では、絶縁物と導電性異物の接触点近傍でできる微小ギ
ャップでのみ起こる。これに対して、ファイアフライ現
象は２種類の放電現象を伴う。１つは図１において導電
性異物８０が高圧導体１０に到達したときに導電性異物
８０の接地タンク２０側の先端で起きる部分放電であ
り、もう１つは導電性異物８０と高圧導体１０のギャッ
プでおきる部分放電である。したがって部分放電の発生
パターンもそれぞれの現象を表わしたものになり、図２
のようにＡ，Ｂの２つのパターンが現れる。Ａの範囲の
放電はギャップ間で起きる放電のパターンを示してお
り、ギャップ間の電界が強いためにＢの範囲の放電であ
る導電性異物８０先端の放電と比べ大きな部分放電が起
きる。また浮遊金属なので充電するのに時間が必要なた
め、時間間隔がＢの範囲の放電より長い。このように、
ファイアフライ時は放電時間間隔が長く振幅強度が大き
い放電（Ａの範囲）と、放電時間間隔が短く放電振幅強
度が小さい放電（Ｂの範囲）との２種類の放電パターン
が現れる。なお、部分放電検出器５０の種類等により振
幅強度および時間間隔のいずれか一方しか検出できない
場合は、一方の発生パターンが２つに分類されるような
部分放電を検出した場合に導電性異物がファイアフライ
を起こしていると判断してもよい。
る部分放電を伴う。通常、導電性異物に起因する部分放
電は現象としては１種類である。例えば、高圧導体１０
に固定している導電性異物８０から発生する部分放電は
導電性異物８０先端でのみ発生する。また、スペーサ３
０沿面やタンク２０底面に付着している導電性異物８０
では、絶縁物と導電性異物の接触点近傍でできる微小ギ
ャップでのみ起こる。これに対して、ファイアフライ現
象は２種類の放電現象を伴う。１つは図１において導電
性異物８０が高圧導体１０に到達したときに導電性異物
８０の接地タンク２０側の先端で起きる部分放電であ
り、もう１つは導電性異物８０と高圧導体１０のギャッ
プでおきる部分放電である。したがって部分放電の発生
パターンもそれぞれの現象を表わしたものになり、図２
のようにＡ，Ｂの２つのパターンが現れる。Ａの範囲の
放電はギャップ間で起きる放電のパターンを示してお
り、ギャップ間の電界が強いためにＢの範囲の放電であ
る導電性異物８０先端の放電と比べ大きな部分放電が起
きる。また浮遊金属なので充電するのに時間が必要なた
め、時間間隔がＢの範囲の放電より長い。このように、
ファイアフライ時は放電時間間隔が長く振幅強度が大き
い放電（Ａの範囲）と、放電時間間隔が短く放電振幅強
度が小さい放電（Ｂの範囲）との２種類の放電パターン
が現れる。なお、部分放電検出器５０の種類等により振
幅強度および時間間隔のいずれか一方しか検出できない
場合は、一方の発生パターンが２つに分類されるような
部分放電を検出した場合に導電性異物がファイアフライ
を起こしていると判断してもよい。
【００１６】実施の形態２．図３（ａ）は図２の部分放
電パルスの包絡線を引いたものである。また（ｂ）はそ
の時の導電性異物の位置を観察した様子を模式的に示
す。導電性異物８０の位置関係から上記図２のＢの部分
では導電性異物８０が高圧導体１０に接触しているので
導電性異物８０の接地タンク２０側先端から出る部分放
電が発生し、Ａの部分では高圧導体１０から離れている
ので導電性異物８０と高圧導体１０の間のギャップで部
分放電が発生していることが分かる。このように導電性
異物８０の運動時の位置で部分放電の発生形態が決まる
ので、包絡線の周期は運動周期と同じ１〜２ｍｓにな
る。このように、部分放電パルスの包絡線が導電性異物
８０の運動と対応した周期を有する場合にファイアフラ
イによる部分放電信号と判断することができる。ただ
し、この周期は導電性異物８０の形状や重さや材質によ
り変化する。しかし、少なくとも部分放電の発生間隔よ
り大きな周期、数１０μｓ以上の周期を持つことにな
る。
電パルスの包絡線を引いたものである。また（ｂ）はそ
の時の導電性異物の位置を観察した様子を模式的に示
す。導電性異物８０の位置関係から上記図２のＢの部分
では導電性異物８０が高圧導体１０に接触しているので
導電性異物８０の接地タンク２０側先端から出る部分放
電が発生し、Ａの部分では高圧導体１０から離れている
ので導電性異物８０と高圧導体１０の間のギャップで部
分放電が発生していることが分かる。このように導電性
異物８０の運動時の位置で部分放電の発生形態が決まる
ので、包絡線の周期は運動周期と同じ１〜２ｍｓにな
る。このように、部分放電パルスの包絡線が導電性異物
８０の運動と対応した周期を有する場合にファイアフラ
イによる部分放電信号と判断することができる。ただ
し、この周期は導電性異物８０の形状や重さや材質によ
り変化する。しかし、少なくとも部分放電の発生間隔よ
り大きな周期、数１０μｓ以上の周期を持つことにな
る。
【００１７】実施の形態３．図４は図２の実験結果を放
電時間間隔の頻度分布で表した図である。図２中のＡの
範囲すなわち高圧導体１０と導電性異物８０の微小ギャ
ップで起こる部分放電の時間間隔の４０μｓ以上と、Ｂ
の範囲すなわち導電性異物８０の設置電極側先端で起こ
る部分放電の時間間隔の０〜４０μｓの二つの領域でピ
ークが現れる。よってこのような部分放電パルスの時間
間隔の頻度分布に２つのピークが生じる場合に、ファイ
アフライによる部分放電信号と判断することができ、放
電パルスの振幅強度は検出しなくてもファイアフライか
どうか判断できる。
電時間間隔の頻度分布で表した図である。図２中のＡの
範囲すなわち高圧導体１０と導電性異物８０の微小ギャ
ップで起こる部分放電の時間間隔の４０μｓ以上と、Ｂ
の範囲すなわち導電性異物８０の設置電極側先端で起こ
る部分放電の時間間隔の０〜４０μｓの二つの領域でピ
ークが現れる。よってこのような部分放電パルスの時間
間隔の頻度分布に２つのピークが生じる場合に、ファイ
アフライによる部分放電信号と判断することができ、放
電パルスの振幅強度は検出しなくてもファイアフライか
どうか判断できる。
【００１８】実施の形態４．図５は図２の放電時間間隔
と放電振幅強度の関係を示したものである。この図から
これらの関係が正の相関関係にあることがわかる。上述
のように、図２中のＡの範囲においては高圧導体１０と
導電性異物８０とのギャップ間の電界が強いためにＢの
範囲の放電である導電性異物８０先端の放電と比べ大き
な部分放電が起きる。また浮遊金属なので充電するのに
時間が必要なため、時間間隔がＢの範囲の放電より長
い。従って、ファイアフライ時は放電時間間隔が長く振
幅強度が大きい放電と、放電時間間隔が短く放電振幅強
度が小さい放電との２種類の放電があり、図５のように
正の相関関係となる。したがって、部分放電パルスの振
幅強度と時間間隔との間に正の相関がある場合にファイ
アフライによる部分放電信号と判断することができる。
と放電振幅強度の関係を示したものである。この図から
これらの関係が正の相関関係にあることがわかる。上述
のように、図２中のＡの範囲においては高圧導体１０と
導電性異物８０とのギャップ間の電界が強いためにＢの
範囲の放電である導電性異物８０先端の放電と比べ大き
な部分放電が起きる。また浮遊金属なので充電するのに
時間が必要なため、時間間隔がＢの範囲の放電より長
い。従って、ファイアフライ時は放電時間間隔が長く振
幅強度が大きい放電と、放電時間間隔が短く放電振幅強
度が小さい放電との２種類の放電があり、図５のように
正の相関関係となる。したがって、部分放電パルスの振
幅強度と時間間隔との間に正の相関がある場合にファイ
アフライによる部分放電信号と判断することができる。
【００１９】以上、上記の各実施の形態のような部分放
電診断方法により導電性異物８０の状態がファイアフラ
イかどうか判断できるので、導電性異物８０による最も
危険な状態であるファイアフライを察知して、直流印加
中の絶縁破壊事故を未然に防ぐことができる。
電診断方法により導電性異物８０の状態がファイアフラ
イかどうか判断できるので、導電性異物８０による最も
危険な状態であるファイアフライを察知して、直流印加
中の絶縁破壊事故を未然に防ぐことができる。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、部分放電
パルスの時間間隔及び部分放電パルスの振幅のうちの少
なくとも一方の発生パターンが２つに分類されるような
部分放電を検出した場合に、また、部分放電パルスの包
絡線が導電性異物の運動と対応した周期を有する場合
や、部分放電パルスの時間間隔の頻度分布に２つのピー
クが生じる場合や、部分放電パルスの振幅強度と時間間
隔との間に正の相関がある場合に導電性異物がファイア
フライを起こしていると判断するので、導電性異物のフ
ァイアフライ状態を正確に判断でき、絶縁破壊事故を未
然に防ぐことができる。
パルスの時間間隔及び部分放電パルスの振幅のうちの少
なくとも一方の発生パターンが２つに分類されるような
部分放電を検出した場合に、また、部分放電パルスの包
絡線が導電性異物の運動と対応した周期を有する場合
や、部分放電パルスの時間間隔の頻度分布に２つのピー
クが生じる場合や、部分放電パルスの振幅強度と時間間
隔との間に正の相関がある場合に導電性異物がファイア
フライを起こしていると判断するので、導電性異物のフ
ァイアフライ状態を正確に判断でき、絶縁破壊事故を未
然に防ぐことができる。
【図１】 本発明の実施の形態１に係わり導電性異物の
ファイアフライ状態の様子を示すガス絶縁母線の断面図
である。
ファイアフライ状態の様子を示すガス絶縁母線の断面図
である。
【図２】 本発明の実施の形態１に係わり導電性異物の
ファイアフライ時の部分放電パルス信号を示す図であ
る。
ファイアフライ時の部分放電パルス信号を示す図であ
る。
【図３】 本発明の実施の形態２に係わり図２の部分放
電パルス信号の包絡線と導電性異物の位置との関連を説
明する図である。
電パルス信号の包絡線と導電性異物の位置との関連を説
明する図である。
【図４】 本発明の実施の形態３に係わり部分放電パル
ス信号の時間間隔の頻度分布を示す図である。
ス信号の時間間隔の頻度分布を示す図である。
【図５】 本発明の実施の形態４に係わり部分放電パル
ス信号の振幅強度と放電時間間隔の相関関係を示す図で
ある。
ス信号の振幅強度と放電時間間隔の相関関係を示す図で
ある。
１０ 高圧導体、 ２０ 接地タンク、 ３０ 絶縁ス
ペーサ、 ４０ ＳＦ6ガス、 ５０ 部分放電検出
器、 ６０ オシロスコープ、 ７０ コンピュータ、
８０ 導電性異物。
ペーサ、 ４０ ＳＦ6ガス、 ５０ 部分放電検出
器、 ６０ オシロスコープ、 ７０ コンピュータ、
８０ 導電性異物。
Claims (5)
- 【請求項１】 ガス絶縁機器内部の部分放電を検出する
ための検出器が設置されているガス絶縁機器の部分放電
診断方法において、部分放電パルスの時間間隔及び部分
放電パルスの振幅のうちの少なくとも一方の発生パター
ンが２つに分類されるような部分放電を検出した場合に
導電性異物がファイアフライを起こしていると判断する
ことを特徴とするガス絶縁機器の部分放電診断方法。 - 【請求項２】 上記部分放電パルスの包絡線が導電性異
物の運動と対応した周期を有する場合に導電性異物がフ
ァイアフライを起こしていると判断する請求項１記載の
ガス絶縁機器の部分放電診断方法。 - 【請求項３】 上記包絡線の周期が数１０μｓ以上にな
る場合に導電性異物がファイアフライを起こしていると
判断する請求項２記載のガス絶縁機器の部分放電診断方
法。 - 【請求項４】 上記部分放電パルスの時間間隔の頻度分
布に２つのピークが生じる場合に導電性異物がファイア
フライを起こしていると判断する請求項１記載のガス絶
縁機器の部分放電診断方法。 - 【請求項５】 上記部分放電パルスの振幅強度と時間間
隔との間に正の相関がある場合に導電性異物がファイア
フライを起こしていると判断する請求項１記載のガス絶
縁機器の部分放電診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8183221A JPH1026650A (ja) | 1996-07-12 | 1996-07-12 | ガス絶縁機器の部分放電診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8183221A JPH1026650A (ja) | 1996-07-12 | 1996-07-12 | ガス絶縁機器の部分放電診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1026650A true JPH1026650A (ja) | 1998-01-27 |
Family
ID=16131917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8183221A Pending JPH1026650A (ja) | 1996-07-12 | 1996-07-12 | ガス絶縁機器の部分放電診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1026650A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011045232A (ja) * | 2009-01-15 | 2011-03-03 | Hamilton Sundstrand Corp | 電気機器の標的回路内の部分コロナ放電を検出する方法 |
| WO2014174713A1 (ja) * | 2013-04-22 | 2014-10-30 | 三菱電機株式会社 | 電力機器の部分放電検出方法および部分放電検出装置 |
-
1996
- 1996-07-12 JP JP8183221A patent/JPH1026650A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011045232A (ja) * | 2009-01-15 | 2011-03-03 | Hamilton Sundstrand Corp | 電気機器の標的回路内の部分コロナ放電を検出する方法 |
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| JP2018017741A (ja) * | 2013-04-22 | 2018-02-01 | 三菱電機株式会社 | 電力機器の部分放電検出方法および部分放電検出装置 |
| US10317451B2 (en) | 2013-04-22 | 2019-06-11 | Mitsubishi Electric Corporation | Method and apparatus for detecting partial discharge within electrical equipment |
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