JPH10260219A - 高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びその装置 - Google Patents
高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH10260219A JPH10260219A JP8455297A JP8455297A JPH10260219A JP H10260219 A JPH10260219 A JP H10260219A JP 8455297 A JP8455297 A JP 8455297A JP 8455297 A JP8455297 A JP 8455297A JP H10260219 A JPH10260219 A JP H10260219A
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- Japan
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- voltage
- stator
- slot
- insulation
- insulation performance
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- Pending
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- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高電圧回転機の絶縁性能をいかなる場合でも
誘電正接法で診断し得ること。 【解決手段】 固定子１のスロット２に嵌め込まれ、絶
縁被覆された巻線３の誘電正接を、所定の低電圧及び高
電圧印加時に測定することにより絶縁性能を診断するよ
うにした高電圧回転機の絶縁性能診断方法において、前
記高電圧印加時の誘電正接が前記低電圧印加時の誘電正
接より小である場合に、前記巻線３の前記固定子１のス
ロット２からの導出部分を前記固定子１と低抵抗Ｐで接
続して、絶縁性能を診断するようにした。
誘電正接法で診断し得ること。 【解決手段】 固定子１のスロット２に嵌め込まれ、絶
縁被覆された巻線３の誘電正接を、所定の低電圧及び高
電圧印加時に測定することにより絶縁性能を診断するよ
うにした高電圧回転機の絶縁性能診断方法において、前
記高電圧印加時の誘電正接が前記低電圧印加時の誘電正
接より小である場合に、前記巻線３の前記固定子１のス
ロット２からの導出部分を前記固定子１と低抵抗Ｐで接
続して、絶縁性能を診断するようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高電圧回転機の絶縁
性能診断方法及びその装置に関する。
性能診断方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】高電圧回転機もしくは高電圧電動機は絶
縁劣化による事故を防ぐために定期的に、いわゆる絶縁
診断を行なっている。この絶縁劣化の度合を試験する方
法としては（１）誘電正接試験、（２）直流試験、
（３）交流電流試験や（４）部分放電試験などがある
が、（１）誘電正接試験は「ｔａｎδ試験」とも言われ
るが、平均的な絶縁劣化の度合を知ることができるため
に、特に広く行なわれている。
縁劣化による事故を防ぐために定期的に、いわゆる絶縁
診断を行なっている。この絶縁劣化の度合を試験する方
法としては（１）誘電正接試験、（２）直流試験、
（３）交流電流試験や（４）部分放電試験などがある
が、（１）誘電正接試験は「ｔａｎδ試験」とも言われ
るが、平均的な絶縁劣化の度合を知ることができるため
に、特に広く行なわれている。
【０００３】図３〜図５を参照して、この方法を説明す
ると、図４及び図５において固定子又はコア１には複数
のスロット２もしくは溝が形成されているが、これには
それぞれコイル（３）が装着されている。本従来例では
コイル３は上層３ａと下層３ｂとから成るがこれらは同
一構成であり、銅線Ｃｕのまわりには公知の絶縁被覆４
が形成されている。スロット２の内壁面とコイル３の表
面との間のコロナ放電を防止するために低抵抗塗料５が
塗布されており、更にコイル３のスロット２からの導出
端近傍には固定子１の外壁面と、この部分のコイル表面
とのコロナ放電を防止するために高抵抗塗料６が塗布さ
れている。
ると、図４及び図５において固定子又はコア１には複数
のスロット２もしくは溝が形成されているが、これには
それぞれコイル（３）が装着されている。本従来例では
コイル３は上層３ａと下層３ｂとから成るがこれらは同
一構成であり、銅線Ｃｕのまわりには公知の絶縁被覆４
が形成されている。スロット２の内壁面とコイル３の表
面との間のコロナ放電を防止するために低抵抗塗料５が
塗布されており、更にコイル３のスロット２からの導出
端近傍には固定子１の外壁面と、この部分のコイル表面
とのコロナ放電を防止するために高抵抗塗料６が塗布さ
れている。
【０００４】このようなコイル３の銅線Ｃｕと固定子１
との間に電圧を印加し、これを増大して行くと、一般に
は図６においてＡで示すようなｔａｎδ（誘電正接）の
変化曲線が得られる。約２ＫＶの低電圧ではｔａｎδは
ほゞ一定であるが所定の高電圧Ｖn では増大してｔａｎ
δ’となる。この差分Δｔａｎδ＝ｔａｎδ’−ｔａｎ
δ0 の大きさによって絶縁劣化の度合を判定している。
との間に電圧を印加し、これを増大して行くと、一般に
は図６においてＡで示すようなｔａｎδ（誘電正接）の
変化曲線が得られる。約２ＫＶの低電圧ではｔａｎδは
ほゞ一定であるが所定の高電圧Ｖn では増大してｔａｎ
δ’となる。この差分Δｔａｎδ＝ｔａｎδ’−ｔａｎ
δ0 の大きさによって絶縁劣化の度合を判定している。
【０００５】然るに、稀にはＢで示すような変化曲線が
得られる場合がある。これは高電圧回転機は大型である
ためにコイル３は図４及び図５に示すようにスロット２
に装着したまゝで試験した結果であるが印加電圧の低い
ところでは通常の場合よりはｔａｎδは高く、印加電圧
の上昇と共に低下する現象が見られる。これではｔａｎ
δの変化による絶縁劣化の度合を判定することができな
い。
得られる場合がある。これは高電圧回転機は大型である
ためにコイル３は図４及び図５に示すようにスロット２
に装着したまゝで試験した結果であるが印加電圧の低い
ところでは通常の場合よりはｔａｎδは高く、印加電圧
の上昇と共に低下する現象が見られる。これではｔａｎ
δの変化による絶縁劣化の度合を判定することができな
い。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の問題に
鑑みてなされ、上述のような異常現象が見られた場合で
も、確実にｔａｎδによって絶縁劣化の度合いを判定す
ることができる高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びそ
の装置を提供することを課題とする。
鑑みてなされ、上述のような異常現象が見られた場合で
も、確実にｔａｎδによって絶縁劣化の度合いを判定す
ることができる高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びそ
の装置を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】以上の目的は、固定子の
スロットに嵌め込まれ、絶縁被覆された巻線の誘電正接
を、所定の低電圧及び高電圧印加時に測定することによ
り絶縁性能を診断するようにした高電圧回転機の絶縁性
能診断方法において、前記高電圧印加時の誘電正接が前
記低電圧印加時の誘電正接より小である場合に、前記巻
線の前記固定子のスロットからの導出部分を前記固定子
と低抵抗で接続して、絶縁性能を診断するようにしたこ
とを特徴とする高電圧回転機の絶縁性能診断方法によっ
て解決される。
スロットに嵌め込まれ、絶縁被覆された巻線の誘電正接
を、所定の低電圧及び高電圧印加時に測定することによ
り絶縁性能を診断するようにした高電圧回転機の絶縁性
能診断方法において、前記高電圧印加時の誘電正接が前
記低電圧印加時の誘電正接より小である場合に、前記巻
線の前記固定子のスロットからの導出部分を前記固定子
と低抵抗で接続して、絶縁性能を診断するようにしたこ
とを特徴とする高電圧回転機の絶縁性能診断方法によっ
て解決される。
【０００８】又は、固定子のスロットに嵌め込まれ、絶
縁被覆された巻線の誘電正接を、所定の低電圧及び高電
圧印加時に測定することにより絶縁性能を診断するよう
にした高電圧回転機の絶縁性能診断装置において、前記
高電圧印加時の誘電正接が前記低電圧印加時の誘電正接
より小である場合に、前記巻線の前記固定子のスロット
からの導出部分と前記固定子とを接続するように低抵抗
ペイントを塗布するようにしたことを特徴とする高電圧
回転機の絶縁性能診断装置、によって解決される。
縁被覆された巻線の誘電正接を、所定の低電圧及び高電
圧印加時に測定することにより絶縁性能を診断するよう
にした高電圧回転機の絶縁性能診断装置において、前記
高電圧印加時の誘電正接が前記低電圧印加時の誘電正接
より小である場合に、前記巻線の前記固定子のスロット
からの導出部分と前記固定子とを接続するように低抵抗
ペイントを塗布するようにしたことを特徴とする高電圧
回転機の絶縁性能診断装置、によって解決される。
【０００９】以上の構成により、スロットとコイル表面
との抵触抵抗を小として印加電圧を増大して行なったと
きに、所定の高い印加電圧では、高いｔａｎδが得ら
れ、Δｔａｎδを測定して絶縁劣化の度合いを判定する
ことができる。
との抵触抵抗を小として印加電圧を増大して行なったと
きに、所定の高い印加電圧では、高いｔａｎδが得ら
れ、Δｔａｎδを測定して絶縁劣化の度合いを判定する
ことができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明者は、まず図６のＢで示す
ような現象が何故起こるかを研究した。その結果（１）
ｔａｎδの値そのものが大きいときに生ずる（２）コイ
ルが実機のまゝでスロットに装着されている場合にのみ
生ずる（３）ｔａｎδの値が不安定で再現性が悪いとき
に生ずることなどから、コイルとスロットとの間の接触
抵抗が関与しているのではないかと判断した。
ような現象が何故起こるかを研究した。その結果（１）
ｔａｎδの値そのものが大きいときに生ずる（２）コイ
ルが実機のまゝでスロットに装着されている場合にのみ
生ずる（３）ｔａｎδの値が不安定で再現性が悪いとき
に生ずることなどから、コイルとスロットとの間の接触
抵抗が関与しているのではないかと判断した。
【００１１】以上を検証するために図７に示すような装
置１０を作成して、接触抵抗を模擬した抵抗Ｒ2 を種
々、変えてｔａｎδを測定した。図７においては、装置
１０の半分を示し、Ｃ−Ｃが中心線であるが、銅線１２
は公知の絶縁膜１３（電線皮膜と対地絶縁「マイカ絶
縁」を含めた概念）で被覆され、この上にアルミ箔電極
１４が巻かれ、この上にポリイミドフィルムテープ１５
（絶縁材）が巻かれ、更にこの上にスロットを模擬した
アルミ箔電極１６が巻つけている。すなわち、ホリイミ
ドフィルムテープ１５はアルミ箔電極１４、１６相互間
を絶縁するために介装されている。
置１０を作成して、接触抵抗を模擬した抵抗Ｒ2 を種
々、変えてｔａｎδを測定した。図７においては、装置
１０の半分を示し、Ｃ−Ｃが中心線であるが、銅線１２
は公知の絶縁膜１３（電線皮膜と対地絶縁「マイカ絶
縁」を含めた概念）で被覆され、この上にアルミ箔電極
１４が巻かれ、この上にポリイミドフィルムテープ１５
（絶縁材）が巻かれ、更にこの上にスロットを模擬した
アルミ箔電極１６が巻つけている。すなわち、ホリイミ
ドフィルムテープ１５はアルミ箔電極１４、１６相互間
を絶縁するために介装されている。
【００１２】このような装置１０は図８で示す等価回路
で表される。すなわち、Ｃ1 はコイルの静電容量、Ｒ1
はコイルの絶縁抵抗、Ｃ2 はコイル表面とスロット間の
静電容量であり、Ｒ2 はコイル表面とスロット間の抵触
抵抗を模擬したものである。
で表される。すなわち、Ｃ1 はコイルの静電容量、Ｒ1
はコイルの絶縁抵抗、Ｃ2 はコイル表面とスロット間の
静電容量であり、Ｒ2 はコイル表面とスロット間の抵触
抵抗を模擬したものである。
【００１３】この等価回路の端子間のｔａｎδは理論的
に求められるが、抵抗Ｒ2 を種々変えて実験した結果と
ほゞ一致した。すなわち、図３に示すように抵抗Ｒ2 が
ある抵抗値、例えば２ＭΩでｔａｎδの最大値が得られ
た。また、この抵抗値の近傍で印加電圧の増大と共にｔ
ａｎδが減少することも発見した。
に求められるが、抵抗Ｒ2 を種々変えて実験した結果と
ほゞ一致した。すなわち、図３に示すように抵抗Ｒ2 が
ある抵抗値、例えば２ＭΩでｔａｎδの最大値が得られ
た。また、この抵抗値の近傍で印加電圧の増大と共にｔ
ａｎδが減少することも発見した。
【００１４】本発明者はこの発見を基にして図１及び図
２で示すように固定子１とコイル３の表面でスロット２
からの導出端部に１０2 〜１０4 Ω程度の低抵抗塗料Ｐ
を塗布し、コイル３の表面とスロット２の表面との接触
抵抗を小とした。これにより、通常のｔａｎδ試験法で
Δｔａｎδを判定し、絶縁劣化の度合を判定することが
できる。
２で示すように固定子１とコイル３の表面でスロット２
からの導出端部に１０2 〜１０4 Ω程度の低抵抗塗料Ｐ
を塗布し、コイル３の表面とスロット２の表面との接触
抵抗を小とした。これにより、通常のｔａｎδ試験法で
Δｔａｎδを判定し、絶縁劣化の度合を判定することが
できる。
【００１５】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが勿論、本発明はこれに限定されることなく本発明の
技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。
たが勿論、本発明はこれに限定されることなく本発明の
技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。
【００１６】例えば、以上の実施例ではコイル２の導出
端部とスロット２の壁面との間に低抵抗塗料を塗布した
が、これに代えて、他の低抵抗材料、例えばアルミ箔を
これらに接続すべく貼着してもよい。
端部とスロット２の壁面との間に低抵抗塗料を塗布した
が、これに代えて、他の低抵抗材料、例えばアルミ箔を
これらに接続すべく貼着してもよい。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたように本発明の高電圧回転機
の絶縁性能診断方法及びその装置によれば高電圧回転機
の絶縁性能を、実機のまゝで正確に測定することができ
る。
の絶縁性能診断方法及びその装置によれば高電圧回転機
の絶縁性能を、実機のまゝで正確に測定することができ
る。
【図１】本発明の実施の形態による固定子の一部をコイ
ルの一部と共に示す部分拡大側面図である。
ルの一部と共に示す部分拡大側面図である。
【図２】同側面図である。
【図３】本発明の作用原理を示すグラフである。
【図４】従来例の固定子とコアとの関係を示す部分拡大
断面図である。
断面図である。
【図５】同拡大側断面図である。
【図６】従来例の作用を示すグラフである。
【図７】本発明の作用を説明するための実験装置の半部
断面図である。
断面図である。
【図８】図７に示す装置の等価回路図である。
１ 固定子 ２ スロット ３ コイル Ｐ 低抵抗塗料
Claims (2)
- 【請求項１】 固定子のスロットに嵌め込まれ、絶縁被
覆された巻線の誘電正接を、所定の低電圧及び高電圧印
加時に測定することにより絶縁性能を診断するようにし
た高電圧回転機の絶縁性能診断方法において、前記高電
圧印加時の誘電正接が前記低電圧印加時の誘電正接より
小である場合に、前記巻線の前記固定子のスロットから
の導出部分を前記固定子と低抵抗で接続して、絶縁性能
を診断するようにしたことを特徴とする高電圧回転機の
絶縁性能診断方法。 - 【請求項２】 固定子のスロットに嵌め込まれ、絶縁被
覆された巻線の誘電正接を、所定の低電圧及び高電圧印
加時に測定することにより絶縁性能を診断するようにし
た高電圧回転機の絶縁性能診断装置において、前記高電
圧印加時の誘電正接が前記低電圧印加時の誘電正接より
小である場合に、前記巻線の前記固定子のスロットから
の導出部分と前記固定子とを接続するように低抵抗ペイ
ントを塗布するようにしたことを特徴とする高電圧回転
機の絶縁性能診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8455297A JPH10260219A (ja) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | 高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8455297A JPH10260219A (ja) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | 高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10260219A true JPH10260219A (ja) | 1998-09-29 |
Family
ID=13833818
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8455297A Pending JPH10260219A (ja) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | 高電圧回転機の絶縁性能診断方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10260219A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7602194B2 (en) * | 2006-06-30 | 2009-10-13 | Korea Electric Power Corporation | Apparatus and method of water absorption test for generator stator winding insulator using cross capacitance |
-
1997
- 1997-03-17 JP JP8455297A patent/JPH10260219A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7602194B2 (en) * | 2006-06-30 | 2009-10-13 | Korea Electric Power Corporation | Apparatus and method of water absorption test for generator stator winding insulator using cross capacitance |
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