JPH10256116A - Treatment liquid supplying nozzle for substrate treating device - Google Patents

Treatment liquid supplying nozzle for substrate treating device

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Publication number
JPH10256116A
JPH10256116A JP5442797A JP5442797A JPH10256116A JP H10256116 A JPH10256116 A JP H10256116A JP 5442797 A JP5442797 A JP 5442797A JP 5442797 A JP5442797 A JP 5442797A JP H10256116 A JPH10256116 A JP H10256116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing liquid
substrate
tip
cleaning
developer
Prior art date
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Pending
Application number
JP5442797A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Yoshii
弘至 吉井
Shigeru Sasada
滋 笹田
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP5442797A priority Critical patent/JPH10256116A/en
Publication of JPH10256116A publication Critical patent/JPH10256116A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Nozzles (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent continuous drip and to wash a tip in a short time by making the tip ultrahydrophilic. SOLUTION: A treatment liquid supplying nozzle of a substrate treating device ejects developer onto the surface of a substrate. A tip 7 in which an ejecting orifice 7b for ejecting developer is formed is made of an ultrahydrophilic material. That is to say, the outer regions and the underside of the tip 7 is made of an ultrahydrophilic layer S. Accordingly, the contact angle of these parts is almost 0 deg. and a portion D of developer adhered to the parts spreads as a thin film instead of forming spherical drops and the problem of continuous drip is prevented. Also, since the cleaning liquid is conformable to the tip 7, the adhered developer can be easily removed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に基板と称す
る)に対して現像液、フォトレジスト液、ポリイミド樹
脂、シリカ系被膜形成材とも呼ばれるSOG(Spin On Glas
s )液などの処理液を供給して基板に処理を施す基板処
理装置の処理液供給ノズルに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a developing solution and a photoresist for a semiconductor wafer, a glass substrate for a photomask, a glass substrate for a liquid crystal display, and a substrate for an optical disk (hereinafter simply referred to as a substrate). Liquid, polyimide resin, SOG (Spin On Glas
s) The present invention relates to a processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus for supplying a processing liquid such as a liquid and performing processing on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の基板処理装置の処理液供給ノズル
として、例えば、先端部の下面に形成された吐出孔か
ら、その下方に位置する基板に対して現像液を吐出する
ものが挙げられる。上記の処理液供給ノズルの先端部
は、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)や PTCFE(ポ
リクロロトリフルオロエチレン)などのフッ素樹脂で一
体的に形成されているのが一般的である。このような基
板処理装置では、処理液供給ノズルの先端部を基板の回
転中心上方に移動し、露光済みのフォトレジスト被膜を
有する基板を回転させつつ、吐出孔から所定量の現像液
を供給して現像処理を施すようになっている。
2. Description of the Related Art As a processing liquid supply nozzle of a conventional substrate processing apparatus, for example, a processing liquid supply nozzle which discharges a developing liquid from a discharge hole formed in a lower surface of a tip portion to a substrate located therebelow is exemplified. The tip of the above-mentioned processing liquid supply nozzle is generally integrally formed of a fluororesin such as PTFE (polytetrafluoroethylene) or PTCFE (polychlorotrifluoroethylene). In such a substrate processing apparatus, the tip of the processing liquid supply nozzle is moved above the rotation center of the substrate, and while rotating the substrate having the exposed photoresist film, a predetermined amount of the developer is supplied from the discharge holes. To perform a development process.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、現像液は吐出孔から吐出されるが、基
板面で飛散した現像液の一部(液滴)が跳ね返って先端
部の外周面などに付着したり、吐出孔から先端部の外周
面に表面張力で回り込むなどして付着する。このように
液滴が先端部に付着すると、処理液供給ノズルを基板の
上方に移動した際に、基板の表面にその液滴が不意に落
下(いわゆる『ぼた落ち』)して現像ムラを生じる原因
となる。
However, the prior art having such a structure has the following problems. That is, the developing solution is discharged from the discharge hole, but a part (droplet) of the developing solution scattered on the substrate surface rebounds and adheres to the outer peripheral surface of the leading end portion, or from the discharging hole to the outer peripheral surface of the leading end portion. Adheres by wrapping around due to surface tension. When the droplets adhere to the leading end in this way, when the processing liquid supply nozzle is moved above the substrate, the droplets suddenly fall on the surface of the substrate (so-called “falling”), causing uneven development. Cause it to occur.

【0004】また、先端部に付着した液滴をそのまま放
置すると、乾燥してパーティクルを発生し、基板を汚染
するという不都合が生じる。そこで、例えば、1枚の基
板に対して現像液を供給し終えるごとに処理液供給ノズ
ルの先端部を吸引して液滴を除去する液滴吸引機構を設
けたり、先端部に気体を吹き付けて液滴を吹き飛ばして
除去する液滴除去機構を設けることが一般的に行われて
いる。しかしながら、液滴は先端部に強固に付着してい
る場合が多いため、残渣が生じることのないようにそれ
らの機構によって完全に液滴を除去するためには処理に
長時間を要するという問題点がある。このように液滴の
除去に時間がかかると、装置の稼働率が低下することに
なる。
In addition, if the liquid droplets attached to the tip are left as they are, they are dried and generate particles, which causes a problem that the substrate is contaminated. Therefore, for example, a droplet suction mechanism that removes liquid droplets by suctioning the tip of the processing liquid supply nozzle every time the supply of the developing solution to one substrate is completed, or by blowing gas to the tip portion It is common practice to provide a droplet removal mechanism for blowing and removing droplets. However, since the droplets are often firmly attached to the tip, it takes a long time to completely remove the droplets by using such a mechanism so that no residue is generated. There is. If it takes a long time to remove the droplets, the operation rate of the device will decrease.

【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、先端部を超親水化することによって、
ぼた落ちが防止できるとともに先端部の洗浄を短時間で
行うことができる基板処理装置の処理液供給ノズルを提
供することを目的とする。
[0005] The present invention has been made in view of such circumstances, and by making the tip portion super-hydrophilic,
It is an object of the present invention to provide a processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus, which can prevent drips and can clean a tip portion in a short time.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の基板処理装置の処理液供給ノズル
は、基板の表面に処理液を吐出する基板処理装置の処理
液供給ノズルにおいて、前記処理液を吐出する吐出孔が
形成された先端部を超親水性材料で形成したことを特徴
とするものである。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. In other words, the processing liquid supply nozzle of the substrate processing apparatus according to claim 1 is a processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus that discharges a processing liquid onto a surface of a substrate, and has a discharge hole for discharging the processing liquid. The part is formed of a superhydrophilic material.

【0007】また、請求項2に記載の基板処理装置の処
理液供給ノズルは、請求項1に記載の基板処理装置の処
理液供給ノズルにおいて、前記吐出孔は、前記先端部の
側面に形成されていることを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the processing liquid supply nozzle of the substrate processing apparatus according to the first aspect, the discharge hole is formed on a side surface of the tip. It is characterized by having.

【0008】また、請求項3に記載の基板処理装置の処
理液供給ノズルは、請求項1に記載の基板処理装置の処
理液供給ノズルにおいて、前記先端部は、前記吐出孔が
下面に開口した基部と、この基部の下面から下方に突出
形成されて、前記吐出孔から吐出された処理液が裾拡が
りの傾斜面を流下する流下部材とから構成されているこ
とを特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, in the processing liquid supply nozzle of the substrate processing apparatus according to the first aspect, the discharge hole is formed at a lower surface of the tip portion. It is characterized by comprising a base, and a flow-down member formed so as to protrude downward from the lower surface of the base, and through which the processing liquid discharged from the discharge hole flows down the flared slope.

【0009】また、請求項4に記載の基板処理装置の処
理液供給ノズルは、請求項1ないし請求項3に記載の基
板処理装置の処理液供給ノズルにおいて、前記超親水性
材料は、接触角が10°以下のものであることを特徴と
するものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the substrate processing apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the superhydrophilic material has a contact angle. Is 10 ° or less.

【0010】[0010]

【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。処理液供給ノズルの先端部を超親水性材料で形成し
たので、先端部の表面は接触角が極めて小さくなり、付
着した処理液の液滴が表面で球状になることなく薄膜状
に拡がる。したがって、球状の液滴のように振動や自重
などにより次第に先端部の表面を流下してゆくことが防
止できる。また、親水化によって先端部の表面が処理液
よりも水溶液に極めて馴染みやすくなっているので、先
端部の洗浄時に、処理液と先端部表面との界面に洗浄液
が入り込みやすくなる。したがって、先端部に付着した
処理液を容易に離脱させることができる。
The operation of the first aspect of the invention is as follows. Since the tip of the processing liquid supply nozzle is formed of a superhydrophilic material, the surface of the tip has a very small contact angle, and the attached droplets of the processing liquid spread in a thin film without becoming spherical on the surface. Therefore, it is possible to prevent the tip portion from gradually flowing down due to vibration, own weight, or the like like a spherical droplet. In addition, since the surface of the tip portion is much more easily adapted to the aqueous solution than the treatment liquid due to the hydrophilicity, the cleaning liquid easily enters the interface between the processing liquid and the tip surface when the tip portion is washed. Therefore, the processing liquid adhering to the tip can be easily separated.

【0011】また、請求項2に記載の発明によれば、吐
出孔を先端部の側面に形成しておき、この吐出孔から処
理液を基板に対して供給すると、処理液は側方から弧を
描くように基板に吐出されるので、先端部の下面に吐出
孔を有するノズルに比較して、処理液が基板に到達した
際の衝撃を和らげることができる。したがって、例え
ば、露光済みのフォトレジスト被膜に現像液を供給する
際に、フォトレジスト被膜にダメージが加わる不都合を
回避できる。その一方、先端部の側面の吐出孔付近には
処理液が付着残留しやすくなるが、先端部の表面は接触
角が極めて小さくなっているので、処理液は薄膜状に拡
がり、処理液が先端部表面を流下することが防止でき
る。また、先端部表面は処理液よりも水溶液に極めて馴
染みやすくなっているので、洗浄時に処理液の付着面に
洗浄液が入り込みやすく処理液を容易に離脱させること
ができる。
According to the second aspect of the present invention, when the discharge hole is formed on the side surface of the tip portion and the processing liquid is supplied to the substrate from the discharge hole, the processing liquid is arced from the side. Is discharged onto the substrate in such a manner as to draw, so that the impact when the processing liquid reaches the substrate can be reduced as compared with a nozzle having a discharge hole on the lower surface of the tip. Therefore, for example, when supplying the developing solution to the exposed photoresist film, it is possible to avoid a disadvantage that the photoresist film is damaged. On the other hand, the processing liquid tends to adhere and remain in the vicinity of the discharge hole on the side surface of the front end, but since the contact angle is extremely small on the surface of the front end, the processing liquid spreads in a thin film shape, and the processing liquid spreads at the front end. It is possible to prevent the surface from flowing down. In addition, since the surface of the tip portion is much more easily adapted to the aqueous solution than the processing liquid, the cleaning liquid can easily enter the surface to which the processing liquid is attached during cleaning, and the processing liquid can be easily separated.

【0012】また、請求項3に記載の発明によれば、基
部の下面に形成された吐出孔から吐出された処理液は、
その下面から下方に突出形成された流下部材の裾拡がり
の傾斜面を流下して基板に吐出される。したがって、先
端部下面に吐出孔を有するノズルに比較して、処理液が
基板に到達した際の衝撃をより和らげることができ、処
理液の吐出時の不都合を回避できる。その一方、処理液
を一旦受け止める流下部材には特に処理液が付着残留し
やすくなるが、流下部材を含む先端部の表面は接触角が
極めて小さくなっているので、処理液は薄膜状に拡が
り、先端部表面を処理液が流下することを防止できる。
また、先端部表面は親水化によって水溶液に極めて馴染
みやすくなっているので、先端部の洗浄時に、処理液と
流下部材表面との界面に洗浄液が入り込みやすくなる。
したがって、流下部材に付着した処理液を容易に離脱さ
せることができる。
According to the third aspect of the present invention, the processing liquid discharged from the discharge hole formed on the lower surface of the base is:
The liquid is discharged onto the substrate by flowing down the slope of the skirt of the flow-down member which is formed to project downward from the lower surface. Therefore, as compared with a nozzle having a discharge hole on the lower surface of the distal end portion, the impact when the processing liquid reaches the substrate can be further reduced, and inconvenience at the time of discharging the processing liquid can be avoided. On the other hand, the processing liquid is particularly likely to adhere and remain on the falling member that once receives the processing liquid, but since the contact angle of the surface of the tip including the falling member is extremely small, the processing liquid spreads in a thin film form, It is possible to prevent the treatment liquid from flowing down the surface of the tip.
In addition, since the surface of the distal end portion is extremely easily adapted to the aqueous solution due to the hydrophilicity, the cleaning liquid easily enters the interface between the processing liquid and the surface of the falling member when cleaning the distal end portion.
Therefore, the processing liquid attached to the falling member can be easily separated.

【0013】また、請求項4に記載の発明によれば、先
端部を形成する材料として一般的に使用されているPTFE
(ポリテトラフルオロエチレン)や PTCFE(ポリクロロ
トリフルオロエチレン)などのフッ素樹脂は、その接触
角が約110°と非常に大きく親水性の低いものであ
る。接触角が10°以下になると水が全く弾かなくなる
ので、超親水性材料として接触角が10°以下のものを
採用することにより、親水性を極めて高くすることがで
きる。よって、付着した処理液が非常に薄い膜状に拡が
り、処理液が先端部表面をほとんど流下しなくなるとと
もに、処理液と先端部表面との界面に非常に洗浄液が入
り込みやすくなる。
According to the fourth aspect of the present invention, PTFE generally used as a material for forming the tip portion is used.
Fluororesins such as (polytetrafluoroethylene) and PTCFE (polychlorotrifluoroethylene) have a very large contact angle of about 110 ° and low hydrophilicity. When the contact angle is 10 ° or less, water does not repel at all. Therefore, by using a superhydrophilic material having a contact angle of 10 ° or less, the hydrophilicity can be extremely increased. Therefore, the attached processing liquid spreads in a very thin film shape, the processing liquid hardly flows down the front end surface, and the cleaning liquid easily enters the interface between the processing liquid and the front end surface.

【0014】なお、このように接触角が10°以下の超
親水性材料としては、酸化チタン(TiO2)光触媒に特殊な
組成を組み合わせた薄膜(以下、単に酸化チタン光触媒
薄膜と称する)が例示され、この被膜を先端部に形成し
た後に、紫外線を照射すると上記のような極めて小さな
接触角を有する先端部を得ることができる。
As the superhydrophilic material having a contact angle of 10 ° or less, a thin film obtained by combining a titanium oxide (TiO 2 ) photocatalyst with a special composition (hereinafter, simply referred to as a titanium oxide photocatalyst thin film) is exemplified. Then, when this coating is formed on the tip portion and then irradiated with ultraviolet rays, the tip portion having an extremely small contact angle as described above can be obtained.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。 <第1実施例>図1は、本発明に係る基板処理装置の処
理液供給ノズルを採用した回転式基板現像装置の概略構
成を示す縦断面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. <First Embodiment> FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a rotary substrate developing apparatus employing a processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【0016】図中、符号Wは、所定のパターンが露光さ
れたフォトレジスト被膜を表面に有する基板である。こ
の基板Wは、その裏面をスピンチャック1によって真空
吸引されて水平姿勢で吸着支持される。スピンチャック
1は、電動モータ2の回転軸にその下面が連動連結され
ており、基板Wを水平面内で回転駆動する。スピンチャ
ック1の周囲には、基板Wの表面に吐出された現像液が
周囲に飛散することを防止するとともに、飛散した現像
液を回収するための飛散防止カップ3が配設されてい
る。なお、スピンチャック1と飛散防止カップ3は、未
処理の基板Wを搬入する際や処理済の基板Wを搬出する
際に、図示しない基板搬送機構とスピンチャック1との
間で基板Wの受け渡しができるように上下方向に相対昇
降するようになっている。つまり、現像処理を行う際に
は、図中に実線で示すようにスピンチャック1が飛散防
止カップ3内に移動し、基板Wの搬送時には、図中に二
点鎖線で示すようにスピンチャック1が飛散防止カップ
3の上方に突出するようになっている。
In FIG. 1, reference numeral W denotes a substrate having a photoresist film on the surface of which a predetermined pattern has been exposed. The back surface of the substrate W is vacuum-sucked by the spin chuck 1 and is suction-supported in a horizontal posture. The lower surface of the spin chuck 1 is operatively connected to the rotating shaft of the electric motor 2, and drives the substrate W to rotate in a horizontal plane. Around the spin chuck 1, a scattering prevention cup 3 for preventing the developer discharged on the surface of the substrate W from scattering around and collecting the scattering developer is arranged. The spin chuck 1 and the scattering prevention cup 3 transfer the substrate W between a substrate transport mechanism (not shown) and the spin chuck 1 when loading an unprocessed substrate W or unloading a processed substrate W. It is designed to move up and down relative to each other so that it can move. That is, when performing the development process, the spin chuck 1 moves into the scattering prevention cup 3 as shown by a solid line in the figure, and when the substrate W is transported, the spin chuck 1 moves as shown by a two-dot chain line in the figure. Are projected above the scattering prevention cup 3.

【0017】飛散防止カップ3の上部中央に形成された
開口付近には、現像液を基板Wに吐出する処理液供給ノ
ズル5が配備されている。この処理液供給ノズル5は、
下方に向けられた部分に先端部7を備え、ここから基板
Wに現像液を吐出するようになっている。移動機構9
は、基板Wの上方にあたる供給位置(図中の実線)と、
基板Wの側方に離れた待機位置(図中の点線)とにわた
って処理液供給ノズル5を移動するとともに、さらに待
機位置では後述する洗浄位置と照射位置とにわたって移
動する。待機位置には処理液供給ノズル5の先端部7を
収納する待機ポット11が配備されており、水銀ランプ
などの光源を含む紫外線照射部20からの紫外線が光フ
ァイバ21を介して導かれるとともに、洗浄液供給部2
2から洗浄液が供給されるようになっている。
In the vicinity of an opening formed in the upper center of the scattering prevention cup 3, a processing liquid supply nozzle 5 for discharging a developing liquid to the substrate W is provided. This processing liquid supply nozzle 5
A tip portion 7 is provided at a portion directed downward, from which the developer is discharged onto the substrate W. Moving mechanism 9
Is a supply position (solid line in the figure) above the substrate W;
The processing liquid supply nozzle 5 moves over a standby position (dotted line in the drawing) that is separated to the side of the substrate W, and further moves over a cleaning position and an irradiation position described later in the standby position. At the standby position, a standby pot 11 for storing the distal end portion 7 of the processing liquid supply nozzle 5 is provided, and ultraviolet rays from an ultraviolet irradiation unit 20 including a light source such as a mercury lamp are guided through an optical fiber 21. Cleaning liquid supply unit 2
The cleaning liquid is supplied from 2.

【0018】上述した電動モータ2によるスピンチャッ
ク1の回転数と、移動機構9による処理液供給ノズル5
の移動と、紫外線照射部20からの紫外線照射と、洗浄
液供給部22からの洗浄液の供給などは、制御部25に
よって統括的に制御されるように構成されている。ま
た、この制御部25は、処理液供給ノズル5を照射位置
にて紫外線照射処理した時点からの経過時間をタイマ2
7により参照できるようになっており、経過時間が予め
設定されている再親水化処理時間(後述する)に一致し
た場合には後述する紫外線照射処理を行うようになって
いる。
The number of rotations of the spin chuck 1 by the electric motor 2 and the processing liquid supply nozzle 5 by the moving mechanism 9
, The ultraviolet irradiation from the ultraviolet irradiation unit 20, the supply of the cleaning liquid from the cleaning liquid supply unit 22, and the like are controlled by the control unit 25 as a whole. Further, the control unit 25 uses a timer 2 to determine the elapsed time from the time when the processing liquid supply nozzle 5 performs the ultraviolet irradiation processing at the irradiation position.
Reference numeral 7 indicates that when the elapsed time matches a preset re-hydrophilization treatment time (described later), an ultraviolet irradiation treatment described later is performed.

【0019】次に図2および図3を参照して、処理液供
給ノズル5の先端部7について説明する。なお、図2は
その一部破断縦断面図であり、図3は図2を下方から見
た図である。
Next, the tip 7 of the processing liquid supply nozzle 5 will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a partially cutaway longitudinal sectional view, and FIG. 3 is a view of FIG. 2 viewed from below.

【0020】下向き先細り形状を呈する先端部7は、現
像液が流通する1つの処理液流通路7aをその内部に形
成され、この処理液流通路7aに連通した1つの吐出孔
7bをその下面に形成されている。現像液が付着する恐
れのある先端部7の外周面は、超親水性層Sで形成され
ている。この例では、超親水性層Sを形成するために、
先端部の外周面に超親水性材料を被着してある。なお、
接触角が10°以下になると水が全く弾かなくなるの
で、超親水性材料としては接触角が10°以下のものが
好ましい。このような材料としては、例えば、酸化チタ
ン(TiO2)光触媒薄膜があり、この被膜を先端部7に被着
した後に、紫外線を照射することによって接触角がほぼ
0°の超親水性層Sを得ることができる。
The tip portion 7 having a downward tapering shape has a processing liquid flow passage 7a through which the developer flows, and a discharge hole 7b communicating with the processing liquid flow passage 7a formed on the lower surface thereof. Is formed. The outer peripheral surface of the tip 7 to which the developer may adhere is formed of the superhydrophilic layer S. In this example, in order to form the superhydrophilic layer S,
A superhydrophilic material is adhered to the outer peripheral surface of the tip. In addition,
When the contact angle is 10 ° or less, water is not repelled at all. Therefore, a super hydrophilic material having a contact angle of 10 ° or less is preferable. As such a material, for example, a titanium oxide (TiO 2 ) photocatalytic thin film is used. Can be obtained.

【0021】次に、図4を参照して待機ポット11につ
いて説明する。待機ポット11は、先端部7に付着した
現像液を洗浄除去するためのすり鉢状の洗浄カップ12
と、先端部7に形成された超親水性層Sに紫外線を照射
して超親水化するための照射カップ16とを備え、これ
らが縦断面コの字状の外容器19に収納されて構成され
ている。なお、洗浄カップ12が配備された位置は上述
した洗浄位置CPに、照射カップ16が配備された位置
は上述した照射位置EPに対応する。
Next, the standby pot 11 will be described with reference to FIG. The standby pot 11 includes a mortar-shaped cleaning cup 12 for cleaning and removing the developer adhering to the tip 7.
And an irradiation cup 16 for irradiating the superhydrophilic layer S formed on the distal end portion 7 with ultraviolet light to make the superhydrophilic layer superhydrophilic, and these are housed in an outer container 19 having a U-shaped vertical cross section. Have been. The position where the cleaning cup 12 is provided corresponds to the above-described cleaning position CP, and the position where the irradiation cup 16 is provided corresponds to the above-described irradiation position EP.

【0022】上記の洗浄カップ12は、先端部7を収納
してその上部外周面から洗浄液を供給するとともに、現
像液を溶解した洗浄液を案内して回収するための収納部
12aが形成されており、その上部に環状の供給路12
bが形成されている。供給路12bの内周側には、収納
部12aの全周にわたって開口し、かつ、斜め上方に向
けられた洗浄ノズル12cが形成されている。供給路1
2bには供給管12dを介して洗浄液供給部22から洗
浄液が供給され、この洗浄液は洗浄ノズル12cから噴
射される。そして噴出された洗浄液は、収納部12aの
底面に案内されて排液口12eを通して排出回収される
ようになっている。
The above-mentioned cleaning cup 12 has a receiving portion 12a for receiving the leading end portion 7, supplying the cleaning liquid from the upper outer peripheral surface thereof, and guiding and collecting the cleaning liquid in which the developer is dissolved. And an annular supply path 12
b is formed. On the inner peripheral side of the supply path 12b, a cleaning nozzle 12c that opens over the entire periphery of the storage section 12a and is directed obliquely upward is formed. Supply path 1
A cleaning liquid is supplied to 2b from a cleaning liquid supply unit 22 via a supply pipe 12d, and the cleaning liquid is jetted from a cleaning nozzle 12c. The jetted cleaning liquid is guided by the bottom surface of the storage section 12a, and is discharged and collected through the drainage port 12e.

【0023】上記の照射カップ16は、先端部7を収容
する凹面鏡部16aが形成されている。その上部内周面
にはゴムなどの弾性体でドーナツ状に形成された遮光部
材16bが上下方向に間隔をおいて二重に配設され、そ
の底部には紫外線照射部20からの紫外線を導くための
光ファイバ21の端面が固着されている。光ファイバ2
1の端面上方には、先端部7の吐出孔7bを上面で当接
支持するとともに、下面で光ファイバ21からの紫外線
を凹面鏡部16aに向けて反射散乱させる凸面鏡部16
cが紫外線を透過する樹脂16dによって固着されてい
る。
The above-mentioned irradiation cup 16 has a concave mirror portion 16a for accommodating the distal end portion 7. A donut-shaped light-shielding member 16b made of an elastic material such as rubber is provided on the upper inner peripheral surface at an interval in the up-down direction, and the bottom is guided by ultraviolet rays from the ultraviolet irradiation section 20. The end face of the optical fiber 21 is fixed. Optical fiber 2
Above one end face, the convex mirror section 16 supports and contacts the discharge hole 7b of the tip section 7 on the upper surface, and reflects and scatters ultraviolet rays from the optical fiber 21 toward the concave mirror section 16a on the lower surface.
c is fixed by a resin 16d that transmits ultraviolet light.

【0024】照射位置EPに配設されているこの照射カ
ップ16は、先端部7を収納してその超親水性層Sに対
して一定量の紫外線を照射するものである。上述したよ
うに本実施例における超親水性層Sは、酸化チタン光触
媒薄膜に紫外線を照射して形成されているが、時間が経
過するにつれて次第に接触角が大きくなって親水性が低
下してゆく。そこで、例えば、数十時間ごとに定期的に
先端部7を照射位置EPに移動して紫外線を照射し、接
触角を再びほぼ0°にして超親水化するための紫外線照
射処理を行うようになっている。なお、紫外線照射処理
は、制御部25がタイマ27を参照し、その経過時間が
予め設定されている再親水化処理時間に一致した場合に
行われる。
The irradiation cup 16 arranged at the irradiation position EP accommodates the distal end portion 7 and irradiates a certain amount of ultraviolet rays to the superhydrophilic layer S. As described above, the superhydrophilic layer S in the present embodiment is formed by irradiating the titanium oxide photocatalytic thin film with ultraviolet rays, but as the time elapses, the contact angle gradually increases and the hydrophilicity decreases. . Therefore, for example, the tip portion 7 is periodically moved to the irradiation position EP every several tens of hours to irradiate ultraviolet rays, and the ultraviolet ray irradiation treatment is performed so that the contact angle becomes almost 0 ° again and the surface becomes superhydrophilic. Has become. The ultraviolet irradiation processing is performed when the control unit 25 refers to the timer 27 and the elapsed time coincides with a preset re-hydrophilization processing time.

【0025】次いで、上記のように構成されている回転
式基板現像装置の動作について説明する。なお、スピン
チャック1には所定パターンが露光されたフォトレジス
ト被膜を表面に有する基板Wが吸着支持されており、処
理液供給ノズル5は洗浄位置CPにあるものとする。
Next, the operation of the rotary substrate developing apparatus having the above-described configuration will be described. A substrate W having a photoresist film on which a predetermined pattern has been exposed is adsorbed and supported on the spin chuck 1, and the processing liquid supply nozzle 5 is at a cleaning position CP.

【0026】「現像処理」制御部25は、移動機構9に
よって処理液供給ノズル5を洗浄位置CPから移動し、
図1の実線で示す供給位置にまで移動する。次いで、電
動モータ2を制御して一定の速度で基板Wを回転させつ
つ処理液供給ノズル5の先端部7から一定温度の現像液
を供給する。所定量の現像液を供給し終えた後、図示し
ない供給ノズルからリンス液を供給してリンス処理を行
い、電動モータ2の回転を高速回転に切り換えて基板W
を振り切り乾燥させる。その後、上記のようにして処理
された基板Wを搬出して未処理の基板Wを搬入するが、
現像液の供給を完了した時点から未処理の基板Wを搬入
するまでの間、以下のようにして先端部7の洗浄処理を
行う。
The "development processing" control section 25 moves the processing liquid supply nozzle 5 from the cleaning position CP by the moving mechanism 9,
It moves to the supply position shown by the solid line in FIG. Next, while the electric motor 2 is controlled to rotate the substrate W at a constant speed, a developing solution of a constant temperature is supplied from the tip 7 of the processing liquid supply nozzle 5. After the supply of the predetermined amount of the developing solution is completed, a rinsing process is performed by supplying a rinsing solution from a supply nozzle (not shown), and the rotation of the electric motor 2 is switched to a high-speed rotation so that the substrate W
Shake off and dry. After that, the unprocessed substrate W is carried in while the substrate W processed as described above is carried out,
From the time when the supply of the developing solution is completed to the time when the unprocessed substrate W is carried in, the cleaning process of the distal end portion 7 is performed as follows.

【0027】制御部25は、現像液の供給を完了した時
点で、移動機構9によって処理液供給ノズル5を洗浄位
置CPに移動する。なお、この状態では供給時における
基板W面での飛散や表面張力などにより、処理液流通路
7aを通して吐出孔7bから供給された現像液の一部
が、図5に示すように先端部7の吐出孔7b周辺部に付
着している。しかし、先端部7の外周面は超親水性層S
が形成されている関係上、接触角がほぼ0°になってお
り、現像液Dは球状の液滴とならず薄い膜状の液滴にな
って拡がって付着している。したがって、移動などによ
り生じる振動や自重によって、付着している現像液Dが
先端部7を次第に流下することが抑制でき、基板W面に
落下する『ぼた落ち』が防止できる。
When the supply of the developing solution is completed, the control unit 25 moves the processing solution supply nozzle 5 to the cleaning position CP by the moving mechanism 9. In this state, a part of the developing solution supplied from the discharge hole 7b through the processing liquid flow path 7a due to scattering on the surface of the substrate W during supply and surface tension and the like, as shown in FIG. It adheres to the periphery of the discharge hole 7b. However, the outer peripheral surface of the tip portion 7 has a super hydrophilic layer S
Is formed, the contact angle is almost 0 °, and the developer D spreads and adheres as a thin film-shaped droplet instead of a spherical droplet. Therefore, the attached developer D can be prevented from gradually flowing down the front end portion 7 due to vibrations and own weight caused by movement or the like, and "dropping" falling on the surface of the substrate W can be prevented.

【0028】因みに、超親水性層Sが形成されていない
従来例の場合には、図6に示すように現像液Dの液滴が
球状となって吐出孔7b周辺部に付着する。このように
球状の状態で付着している現像液Dは、自重や振動によ
って下向きに先細りの外周面を流下しやすく不意に落下
する『ぼた落ち』の原因となる。
By the way, in the case of the conventional example in which the superhydrophilic layer S is not formed, as shown in FIG. 6, the droplet of the developer D becomes spherical and adheres to the periphery of the discharge hole 7b. The developer D that adheres in a spherical state as described above easily flows downward on the outer peripheral surface tapered downward due to its own weight or vibration, and causes “dropping” which suddenly falls.

【0029】「洗浄処理」図7に示すように、洗浄位置
CPでは処理液供給ノズル5の先端部7が洗浄カップ1
2の収納部12aに収納される。制御部25は、洗浄液
供給部22から洗浄液を圧送し、洗浄ノズル12cから
洗浄液Cを先端部7の外周面に向けて噴出させる。これ
により先端部7の外周面には洗浄液Cが供給されるが、
超親水性層Sが形成されているので、付着している現像
液Dよりも洗浄液Cの方が先端部7の外周面に馴染みや
すくなっている。したがって、付着している現像液Dと
先端部7の外周面との界面に洗浄液Cが容易に入り込
み、付着している現像液Dを先端部7から容易に離脱さ
せることができる。したがって、先端部7の洗浄に要す
る時間が短縮化でき、次なる基板Wへの現像液供給を迅
速に行うことができて装置の稼働率を向上させることが
できる。
[Cleaning Process] As shown in FIG. 7, at the cleaning position CP, the tip 7 of the processing liquid supply nozzle 5 is connected to the cleaning cup 1.
It is stored in the second storage section 12a. The control unit 25 feeds the cleaning liquid from the cleaning liquid supply unit 22 under pressure, and causes the cleaning nozzle 12c to jet the cleaning liquid C toward the outer peripheral surface of the distal end portion 7. As a result, the cleaning liquid C is supplied to the outer peripheral surface of the tip portion 7,
Since the superhydrophilic layer S is formed, the cleaning liquid C is more easily adapted to the outer peripheral surface of the front end portion 7 than the developing liquid D adhered thereto. Therefore, the cleaning liquid C easily enters the interface between the attached developer D and the outer peripheral surface of the tip 7, and the attached developer D can be easily separated from the tip 7. Therefore, the time required for cleaning the front end portion 7 can be reduced, the developer can be quickly supplied to the next substrate W, and the operation rate of the apparatus can be improved.

【0030】また、噴出された洗浄液Cは超親水性層S
の作用により均一に先端部7の外周面に拡がるので、残
渣を生じることなく付着した現像液Dを完全に除去する
ことができる。なお、現像液Dを溶解した洗浄液Cは、
排液口12eから排出されて回収される。
Further, the jetted cleaning liquid C contains the superhydrophilic layer S
, The developer D is uniformly spread on the outer peripheral surface of the front end portion 7, so that the attached developer D can be completely removed without generating a residue. The cleaning solution C in which the developer D is dissolved is:
It is discharged from the drain port 12e and collected.

【0031】以上のようにして先端部7の「洗浄処理」
を行った後、未処理の基板Wに対する「現像処理」を
「洗浄処理」と交互に順次行ってゆく。このようにして
「現像処理」を順次に行っていく際に、制御部25はタ
イマ27を参照して経過時間を読み出し、その時間が
『再親水化処理時間』に達している場合には、移動機構
9を制御して処理液供給ノズル5を照射位置EPに移動
し、「紫外線照射処理」を行う。
As described above, the "cleaning process" of the tip portion 7 is performed.
After that, the “development process” for the unprocessed substrate W is sequentially performed alternately with the “cleaning process”. When sequentially performing the “development processing” in this manner, the control unit 25 reads the elapsed time with reference to the timer 27, and when the time reaches the “re-hydrophilic processing time”, By controlling the moving mechanism 9, the processing liquid supply nozzle 5 is moved to the irradiation position EP, and "ultraviolet irradiation processing" is performed.

【0032】「紫外線照射処理」図8に示すように先端
部7が照射位置EPに移動した後、制御部25は紫外線
照射部20に内蔵された図示しないシャッターを開放し
て、光ファイバ21を介して照射カップ16に紫外線を
導く。光ファイバ21から放射された紫外線Vは、その
一部が樹脂16dを透過して直接的に超親水性層Sに到
達し、大部分が樹脂16dを透過して凸面鏡部16cで
反射散乱された後に凹面鏡部16aで反射されて超親水
性層Sに到達する。このようにして紫外線Vの照射を一
定時間行って十分な量の紫外線Vを超親水性層Sに当て
ることによって、接触角を0°に回復させて再び超親水
化を図ることができる。なお、上方に向けて照射された
紫外線Vは、凹面鏡部16aの上部に配設された二重の
遮光部材16bによって外部に漏れることが防止されて
いるので、露光後現像前の基板Wに対して悪影響を与え
ることはない。
[Ultraviolet Irradiation Processing] As shown in FIG. 8, after the tip 7 has moved to the irradiation position EP, the control unit 25 opens a shutter (not shown) built in the ultraviolet irradiation unit 20 to disconnect the optical fiber 21. The ultraviolet rays are guided to the irradiation cup 16 through the irradiating cup. A part of the ultraviolet ray V emitted from the optical fiber 21 passes through the resin 16d and directly reaches the superhydrophilic layer S, and most of the ultraviolet ray V passes through the resin 16d and is reflected and scattered by the convex mirror portion 16c. Later, the light is reflected by the concave mirror portion 16a and reaches the superhydrophilic layer S. In this manner, by irradiating the ultraviolet ray V for a certain period of time and applying a sufficient amount of the ultraviolet ray V to the superhydrophilic layer S, the contact angle can be restored to 0 ° and the superhydrophilic state can be achieved again. The ultraviolet rays V irradiated upward are prevented from leaking to the outside by the double light shielding member 16b disposed above the concave mirror portion 16a. No negative effects.

【0033】上記のようにして「紫外線照射処理」を定
期的に行いつつ、基板Wに対する「現像処理」および
「洗浄処理」を継続的に行ってゆくことにより、『ぼた
落ち』の防止および洗浄時間の短縮化を長期間にわたっ
て維持することができる。
By continuously performing the “development processing” and the “cleaning processing” on the substrate W while periodically performing the “ultraviolet irradiation processing” as described above, it is possible to prevent “drips” from occurring. Shortening of the cleaning time can be maintained for a long time.

【0034】<第2実施例>次に、処理液供給ノズル5
に図9および図10に示すような先端部7を備えた実施
例について説明する。なお、図9は先端部7の一部破断
縦断面図であり、図10はそのA−A矢視断面図であ
る。また、先端部7および待機ポット11を除くその他
の構成は、上述した第1実施例と同一であるので、説明
については省略する。
<Second Embodiment> Next, the processing liquid supply nozzle 5
Next, an embodiment having a tip portion 7 as shown in FIGS. 9 and 10 will be described. 9 is a partially broken longitudinal sectional view of the distal end portion 7, and FIG. 10 is a sectional view taken along the line AA of FIG. The other configuration except for the distal end portion 7 and the standby pot 11 is the same as that of the above-described first embodiment, and thus the description is omitted.

【0035】先端部7は円柱状の外観を呈しており、鉛
直方向に沿った1つの処理液流通路7aと、この処理液
流通路7aの下端部から側方に、平面視にて放射状に分
岐した5つの分岐流通路7a1 をその内部に形成されて
いるとともに、これらの分岐流通路7a1 に連通した5
つの吐出孔7bをその下方側面に形成されている。ま
た、現像液が付着する恐れのある先端部7の外周面およ
び円弧状の下面は、上記第1実施例と同様に超親水性層
Sが形成されている。
The distal end portion 7 has a columnar appearance, and has one processing liquid flow passage 7a extending in the vertical direction and radially as viewed in plan from the lower end of the processing liquid flow passage 7a to the side. together they are formed branched five branch flow paths 7a 1 therein, communicating with these branch flow paths 7a 1 5
One discharge hole 7b is formed on the lower side surface. Further, a superhydrophilic layer S is formed on the outer peripheral surface and the arc-shaped lower surface of the tip portion 7 where the developer may adhere, as in the first embodiment.

【0036】図11に示すように、待機ポット11の洗
浄カップ12は、円柱状の凹部に形成された収納部12
aを有し、その側面の一部位には先端部7の下面の形状
に類似の上部外形を有する下面ノズル部材12fが突設
されている。下面ノズル部材12fの頂部には、先端部
7の下面に洗浄液を噴射する下面ノズル12f1 が形成
されており、ここには供給管12d1 を介して洗浄液供
給部22から洗浄液が供給される。したがって、先端部
7の上部には洗浄ノズル12cから洗浄液が供給される
とともに、下面には下面ノズル12f1 から洗浄液が供
給され、先端部7の全体に洗浄液が供給されるようにな
っている。
As shown in FIG. 11, the washing cup 12 of the standby pot 11 has a storage portion 12 formed in a cylindrical recess.
a, a lower surface nozzle member 12f having an upper outer shape similar to the shape of the lower surface of the distal end portion 7 is protruded from one portion of the side surface. On top of the lower surface nozzle member 12f, is formed with a lower surface nozzle 12f 1 for injecting a cleaning liquid to the lower surface of the front end portion 7, here the cleaning liquid is supplied from the cleaning liquid supply section 22 via a supply tube 12d 1. Accordingly, the cleaning liquid is supplied from the cleaning nozzle 12c on the upper portion of the distal end portion 7, the cleaning liquid is supplied from the lower surface nozzle 12f 1 on the lower surface, the cleaning solution on the entire distal end portion 7 are supplied.

【0037】照射カップ16は、先端部7を収納する凹
面鏡部16aを有し、その底面に、光ファイバ21から
の紫外線を反射散乱させる凸面鏡部16cが先端部7の
下面から離間して樹脂16dにより固着されている。光
ファイバ21から照射された紫外線は、凸面鏡部16c
と凹面鏡部16aを経て先端部7の外周面に照射される
とともに、先端部7の円弧状の下面と凸面鏡部16cの
上面との間で反射散乱して先端部7の全体にわたって均
一に照射されるようになっている。
The irradiation cup 16 has a concave mirror portion 16a for accommodating the distal end portion 7, and a convex mirror portion 16c for reflecting and scattering ultraviolet rays from the optical fiber 21 is separated from the lower surface of the distal end portion 7 by a resin 16d. Is fixed. The ultraviolet light emitted from the optical fiber 21 is reflected by the convex mirror 16c.
The light is radiated to the outer peripheral surface of the distal end portion 7 through the concave mirror portion 16a, and is reflected and scattered between the arc-shaped lower surface of the distal end portion 7 and the upper surface of the convex mirror portion 16c to be uniformly irradiated over the entire distal end portion 7. It has become so.

【0038】上述したような先端部7を備える洗浄液供
給ノズル5から基板Wに対して現像液を供給すると、処
理液流通路7aおよび分岐流通路7a1 を経て5つの吐
出孔7bから現像液が吐出される。現像液は、吐出孔7
bから側方に向けて吐出され、弧を描くようにして基板
Wの表面に到達する。したがって、上述した第1実施例
のように真上から現像液を供給するノズルに比較して、
基板Wの表面における衝撃を和らげることができる。よ
って、基板Wの表面に形成されている露光済みのフォト
レジスト被膜にダメージを与えることなく、適切に現像
処理を施すことができる。
[0038] When supplying a developing solution from the cleaning solution supply nozzle 5 having a distal end portion 7 as described above for the substrate W, the developer of five discharge holes 7b through the process liquid passage 7a and the branch flow path 7a 1 is Discharged. The developer is supplied to the discharge holes 7
The liquid is discharged from b toward the side and reaches the surface of the substrate W in an arc. Therefore, as compared with the nozzle for supplying the developer from directly above as in the first embodiment described above,
The impact on the surface of the substrate W can be reduced. Therefore, the developing process can be appropriately performed without damaging the exposed photoresist film formed on the surface of the substrate W.

【0039】現像液の供給を停止した状態では、図12
に示すように、5つの吐出孔7b周辺部およびその直下
付近の下面に現像液Dの一部が付着する。しかし、先端
部7の外周面および下面には、超親水性層Sが形成され
ているので、現像液Dは薄い膜状の液滴となって拡がっ
て付着している。したがって、振動や自重により先端部
7の外周面や下面を次第に流下することが抑制でき、
『ぼた落ち』を防止することができる。
In a state where the supply of the developing solution is stopped, FIG.
As shown in (5), a part of the developing solution D adheres to the periphery of the five discharge holes 7b and the lower surface immediately below. However, since the superhydrophilic layer S is formed on the outer peripheral surface and the lower surface of the tip portion 7, the developer D spreads and adheres as a thin film-shaped droplet. Therefore, it is possible to prevent the outer peripheral surface and the lower surface of the distal end portion 7 from gradually flowing down due to vibration and own weight,
It is possible to prevent "dropping".

【0040】因みに、超親水性層Sが形成されていない
従来例の場合には、図13に示すように現像液Dの液滴
が球状となって吐出孔7b周辺部および吐出孔7b付近
の下面に著しく付着する。このように球状の状態で付着
している現像液Dは、自重や振動によって流下しやすく
『ぼた落ち』の原因となり、現像液の衝撃のダメージを
和らげることができる一方で現像不良を生じることにな
る。
Incidentally, in the case of the conventional example in which the superhydrophilic layer S is not formed, as shown in FIG. 13, the droplet of the developing solution D becomes spherical, and the peripheral portion of the discharge hole 7b and the vicinity of the discharge hole 7b are formed. Remarkably adheres to the lower surface. The developer D that adheres in a spherical state as described above tends to flow down due to its own weight or vibration, causing “dropping”, and can reduce the damage of the impact of the developer while causing poor development. become.

【0041】「洗浄処理」(図11) 先端部7を洗浄処理するには、まず、先端部7を洗浄位
置CPに移動し、次いで洗浄液供給部22から洗浄液を
供給して、洗浄ノズル12cおよび下面ノズル12f1
から洗浄液を噴出させる。先端部7の外周面および下面
には超親水性層Sが形成されているので、付着している
現像液Dよりも洗浄液Cの方が馴染みやすく付着してい
る現像液Dを先端部7から容易に離脱させることができ
る。したがって、洗浄に要する時間を短縮化でき、装置
の稼働率を向上させることができる。また、洗浄液Cは
超親水性層Sの作用により先端部7の全体にわたって均
一に拡がるので、残渣を生じることなく付着した現像液
Dを完全に除去することができる。
"Cleaning Process" (FIG. 11) To clean the tip 7, first move the tip 7 to the cleaning position CP, and then supply the cleaning liquid from the cleaning liquid supply unit 22 to the cleaning nozzle 12c and the cleaning nozzle 12c. Bottom nozzle 12f 1
Spray the cleaning liquid from Since the superhydrophilic layer S is formed on the outer peripheral surface and the lower surface of the tip portion 7, the cleaning solution C is more easily adapted to the cleaning solution D than the attached developer solution D, and the attached developer solution D is removed from the tip portion 7. It can be easily removed. Therefore, the time required for cleaning can be reduced, and the operation rate of the apparatus can be improved. Further, since the cleaning liquid C is uniformly spread over the entire front end portion 7 by the action of the superhydrophilic layer S, the developer D attached thereto can be completely removed without generating a residue.

【0042】「紫外線照射処理」(図11) 上記構成の先端部7から現像液を供給して「現像処理」
を行い、再親水化処理時間に達した場合には、先端部7
を照射位置EPに移動して紫外線照射処理を行う。つま
り、光ファイバ21から紫外線を照射して、凹面鏡部1
6a、凸面鏡部16c、先端部7の下面の反射散乱によ
り先端部7の全体に一定量の紫外線を照射する。これに
より接触角を0°に回復させて再び超親水化を図ること
ができ、長期間にわたって『ぼた落ち』防止および洗浄
時間の短縮化が維持できることは上述した第1実施例と
同じである。
"Ultraviolet irradiation treatment" (FIG. 11) "Development treatment"
When the re-hydrophilization treatment time is reached, the tip 7
Is moved to an irradiation position EP to perform an ultraviolet irradiation process. That is, ultraviolet light is irradiated from the optical fiber 21 and the concave mirror portion 1 is irradiated.
6a, the convex mirror portion 16c, and a predetermined amount of ultraviolet rays are radiated to the entire tip portion 7 by reflection and scattering of the lower surface of the tip portion 7. As a result, the contact angle can be restored to 0 ° and superhydrophilization can be achieved again, and the prevention of “drips” and the reduction of the cleaning time can be maintained for a long period of time, as in the first embodiment described above. .

【0043】<第3実施例>次に、処理液供給ノズル5
に図14および図15に示すような先端部7を備えた実
施例について説明する。なお、図14は図15を下方か
ら見た図である。また、先端部7を除く構成は上述した
第2実施例と同一である。
Third Embodiment Next, the processing liquid supply nozzle 5
Next, an embodiment provided with a tip portion 7 as shown in FIGS. 14 and 15 will be described. FIG. 14 is a view of FIG. 15 viewed from below. The configuration excluding the tip 7 is the same as that of the above-described second embodiment.

【0044】先端部7は、現像液が流通する5つの処理
液流通路7aを内部に形成され、これらの処理液流通路
7aのそれぞれに連通した吐出孔7bを下面に形成され
ている基部7cと、この基部7cの下面から下方に突設
された裾拡がりの傾斜面を有する流下部材7dとから構
成されている。流下部材7dは、5つの吐出孔7bから
吐出された現像液を一旦傾斜面で受け止めて、基板Wの
表面における現像液の衝撃を和らげるように作用する。
したがって、上述した第1実施例のように真上から現像
液を供給するノズルに比較して、基板W表面での衝撃を
和らげることができるとともに、上記の第2実施例に比
較して大量の現像液を基板Wに供給することができる。
よって、基板W表面のフォトレジスト被膜にダメージを
与えることなく、より適切に現像処理を施すことができ
る。
The front end portion 7 has five processing solution flow passages 7a through which the developing solution flows, and a base portion 7c formed on the lower surface with discharge holes 7b communicating with the respective processing solution flow passages 7a. And a flow-down member 7d having a flared slope that protrudes downward from the lower surface of the base 7c. The flow-down member 7d acts to temporarily receive the developer discharged from the five discharge holes 7b on the inclined surface and to reduce the impact of the developer on the surface of the substrate W.
Therefore, the impact on the surface of the substrate W can be reduced as compared with the nozzle for supplying the developing solution from directly above as in the first embodiment described above, and a large amount of the impact can be achieved as compared with the second embodiment. The developer can be supplied to the substrate W.
Therefore, development processing can be performed more appropriately without damaging the photoresist film on the surface of the substrate W.

【0045】なお、上述した各実施例と同様に、現像液
が付着する恐れのある部分は、超親水性層Sで形成され
ている。具体的には、先端部7の基部7cの外周面およ
び下面と、流下部材7dの外周面および下面が超親水性
層Sで形成されている。
As in the above-described embodiments, the portion where the developer may adhere is formed of the superhydrophilic layer S. Specifically, the outer peripheral surface and lower surface of the base 7c of the distal end portion 7 and the outer peripheral surface and lower surface of the flow-down member 7d are formed of the superhydrophilic layer S.

【0046】現像液の供給を停止した状態では、図16
に示すように、5つの吐出孔7b周辺部および流下部材
7dに現像液Dの一部が付着する。しかし、これらには
超親水性層Sが形成されているので、現像液Dは薄い膜
状の液滴となって拡がって付着している。したがって、
振動や自重により先端部7を次第に流下することが抑制
でき、『ぼた落ち』を防止することができる。
In a state where the supply of the developing solution is stopped, FIG.
As shown in (5), a part of the developer D adheres to the periphery of the five discharge holes 7b and the flow-down member 7d. However, since the superhydrophilic layer S is formed on these, the developer D spreads and adheres as thin film-shaped droplets. Therefore,
It is possible to suppress the tip portion 7 from gradually flowing down due to vibration or own weight, and it is possible to prevent “dropping”.

【0047】因みに、超親水性層Sが形成されていない
従来例の場合には、図17に示すように現像液Dの液滴
が球状となって吐出孔7b周辺部および流下部材7dの
傾斜面/周縁/下面に顕著に付着する。このように球状
の状態で付着している現像液Dは、自重や振動によって
それらを流下しやすく『ぼた落ち』の原因となり、現像
液の衝撃のダメージを和らげることができる一方で現像
不良を生じることになる。
Incidentally, in the case of the conventional example in which the superhydrophilic layer S is not formed, the droplet of the developing solution D becomes spherical as shown in FIG. Notably adheres to surface / periphery / lower surface. The developer D that adheres in a spherical state as described above tends to flow down due to its own weight or vibration, causing “dropping”, and can alleviate the damage caused by the impact of the developer while reducing the development failure. Will happen.

【0048】上記のように構成された先端部7の「洗浄
処理」および「紫外線照射処理」は、上述した第2実施
例の待機ポット11によって行うことができ、第2実施
例と同一の効果を奏することができる。
The "cleaning process" and the "ultraviolet irradiation process" of the end portion 7 configured as described above can be performed by the standby pot 11 of the above-described second embodiment, and have the same effects as those of the second embodiment. Can be played.

【0049】なお、上述した各実施例では、現像液を供
給して現像処理を行う回転式基板現像装置の処理液供給
ノズルを例に採って説明したが、本発明は塗布液を供給
して被膜を形成する回転式基板塗布装置の処理液供給ノ
ズルであっても適用できることは言うまでもない。この
場合、上述した待機ポット11の照射カップ16におけ
る紫外線照射処理時に処理液流通路7a内に貯留してい
る塗布液が感光しないように、吐出孔7bから紫外線が
入射することを防止する遮光部材などを配設しておく必
要がある。
In each of the above-described embodiments, the processing liquid supply nozzle of the rotary type substrate developing apparatus for supplying the developing liquid and performing the developing processing has been described as an example. It goes without saying that the present invention can be applied to a processing liquid supply nozzle of a rotary substrate coating apparatus for forming a coating. In this case, a light-shielding member that prevents ultraviolet rays from entering from the discharge holes 7b so that the coating liquid stored in the processing liquid flow path 7a is not exposed to light during the ultraviolet irradiation processing in the irradiation cup 16 of the standby pot 11 described above. It is necessary to arrange such.

【0050】また、上述した各実施例では、現像液が付
着する恐れのある部分に超親水性層Sを形成するように
したが、先端部7を超親水性材料で一体的に形成するよ
うにしてもよい。
Further, in each of the above-described embodiments, the superhydrophilic layer S is formed in a portion where the developing solution may adhere, but the tip 7 is formed integrally with the superhydrophilic material. It may be.

【0051】なお、上記各実施例では、制御部25がタ
イマ27により再親水化処理時間に到達したことを検出
し、移動機構9および紫外線照射部20を制御して紫外
線照射処理を自動的に行うようにしたが、オペレータの
手作業により行うようにしてもよい。例えば、制御部2
5が再親水化処理時間に到達したことを検出した時点で
そのことを報知するとともに処理液供給ノズル5を待機
位置に移動して装置を一時的に停止する。そして、オペ
レータが先端部7を処理液供給ノズル5から取り外して
適宜の手法によって紫外線を照射する。
In each of the above embodiments, the control unit 25 detects that the re-hydrophilization processing time has been reached by the timer 27 and controls the moving mechanism 9 and the ultraviolet irradiation unit 20 to automatically execute the ultraviolet irradiation processing. Although performed, it may be performed manually by an operator. For example, the control unit 2
When it is detected that the time 5 has reached the re-hydrophilization treatment time, this is notified and the processing liquid supply nozzle 5 is moved to the standby position to temporarily stop the apparatus. Then, the operator removes the distal end portion 7 from the processing liquid supply nozzle 5 and irradiates ultraviolet rays by an appropriate method.

【0052】また、上記の実施例装置では待機ポット1
1に照射カップ16を設けて、再親水化処理時間が経過
した時点で紫外線照射処理を施すようにしたが、超親水
性層Sが経時変化を伴わない場合および上述した手作業
によりその処理を行う場合には、当然のことながら上記
構成は不要である。
In the above embodiment, the standby pot 1
1, the irradiation cup 16 was provided, and the ultraviolet irradiation treatment was performed when the re-hydrophilization treatment time passed. However, when the superhydrophilic layer S did not change with time, the treatment was performed manually as described above. In the case of performing the above, the above-described configuration is obviously unnecessary.

【0053】また、上記実施例では、先端部7の外周面
にのみ超親水性層Sを形成したが、処理液流通路7a
(または分岐流通路7a1 )内面にも超親水性層Sを形
成するようにしてもよい。これにより処理液がその内面
に極めて馴染みやすくなるので、処理液が内面に均一に
拡がって流下することになる。よって、処理液が内面の
一部位に付着して固化し、その固まりが基板面に落下し
て処理を不均一にしたり基板を汚染するような不都合を
回避することができる。また、例え、処理液が内面の一
部位に付着固化したとしても、ブラシなどを用いて物理
的に洗浄することなく先端部7を水溶液に漬けるなどす
るだけで処理液流通路7aの内面を容易に洗浄すること
ができる。
Further, in the above embodiment, the superhydrophilic layer S is formed only on the outer peripheral surface of the front end portion 7;
The superhydrophilic layer S may be formed also on the inner surface of the branch flow path 7a 1 . As a result, the processing liquid becomes extremely easy to be adapted to the inner surface, so that the processing liquid spreads uniformly on the inner surface and flows down. Therefore, it is possible to avoid such a problem that the processing liquid adheres to one part of the inner surface and solidifies, and the solidified liquid drops on the substrate surface to make the processing uneven or contaminate the substrate. Further, even if the processing liquid adheres and solidifies on one part of the inner surface, the inner surface of the processing liquid flow passage 7a can be easily formed by merely immersing the tip portion 7 in an aqueous solution without physically cleaning with a brush or the like. Can be washed.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、処理液供給ノズルの先端部を
超親水化することにより、付着した処理液が次第に流下
してゆくことを防止でき、『ぼた落ち』を防止すること
ができる。さらに、先端部の表面と処理液との界面に洗
浄液が入り込みやすく、先端部に付着した処理液を容易
に離脱させることができるので、短時間の洗浄で残渣を
生じることなく付着した処理液を完全に除去することが
できる。したがって、付着した液滴に起因するパーティ
クルの発生を防止できるとともに、洗浄に要する時間が
短縮化できて装置の稼働率を高めることができる。
As is apparent from the above description, according to the first aspect of the present invention, the tip of the processing liquid supply nozzle is made super-hydrophilic so that the attached processing liquid gradually flows down. Can be prevented, and "falls" can be prevented. Furthermore, the cleaning liquid easily enters the interface between the surface of the tip and the processing liquid, and the processing liquid attached to the tip can be easily separated, so that the processing liquid that has adhered to the cleaning liquid in a short time without generating a residue can be removed. It can be completely removed. Therefore, generation of particles due to the attached droplets can be prevented, and the time required for cleaning can be shortened, so that the operation rate of the apparatus can be increased.

【0055】また、請求項2に記載の発明によれば、処
理液吐出時の衝撃を和らげつつも、『ぼた落ち』を防止
することができ、短時間の洗浄で残渣を生じることなく
付着した処理液を完全に除去することができる。したが
って、処理液吐出時の不都合を回避することができると
ともに、液滴に起因するパーティクルの発生を防止で
き、洗浄時間を短縮化できる。
According to the second aspect of the present invention, it is possible to reduce the impact at the time of discharging the processing liquid, to prevent "dropping", and to adhere without causing a residue by a short-time cleaning. The treated solution can be completely removed. Therefore, it is possible to avoid inconvenience at the time of discharging the processing liquid, prevent generation of particles due to liquid droplets, and shorten the cleaning time.

【0056】また、請求項3に記載の発明によれば、処
理液吐出時の衝撃をさらに和らげつつも、請求項2に記
載の発明と同様の効果を奏する。
According to the third aspect of the invention, the same effect as the second aspect of the invention can be obtained while further reducing the impact at the time of discharging the processing liquid.

【0057】また、請求項4に記載の発明によれば、接
触角が10°以下の超親水性材料を採用することで先端
部の親水性を極めて高くできるので、付着した処理液の
流下をほぼ完全に防止することができるとともに、付着
した処理液と先端部との界面に洗浄液が非常に入りやす
くなる。したがって、より効果的に『ぼた落ち』を防止
できるとともに、より短時間の洗浄で残渣を生じること
なく付着した処理液をほぼ完全に除去することができ
る。したがって、液滴に起因するパーティクルの発生を
さらに防止できるとともに、洗浄に要する時間がより短
縮化できて装置の稼働率をさらに高めることができる。
According to the fourth aspect of the present invention, the use of a super-hydrophilic material having a contact angle of 10 ° or less makes it possible to extremely increase the hydrophilicity of the tip portion. This can be almost completely prevented, and the cleaning liquid can easily enter the interface between the attached processing liquid and the tip. Therefore, it is possible to more effectively prevent the "dropping", and it is possible to almost completely remove the attached processing solution without generating a residue by washing in a shorter time. Therefore, generation of particles due to liquid droplets can be further prevented, and the time required for cleaning can be further shortened, so that the operation rate of the apparatus can be further increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る基板処理装置の処理液供給ノズル
を採用した回転式基板現像装置の概略構成を示す縦断面
図である。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a rotary substrate developing apparatus employing a processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】第1実施例に係る処理液供給ノズルを示す一部
破断縦断面図である。
FIG. 2 is a partially broken longitudinal sectional view showing a processing liquid supply nozzle according to a first embodiment.

【図3】図2を下方から見た図である。FIG. 3 is a view of FIG. 2 as viewed from below.

【図4】待機ポットの構成を示す縦断面図である。FIG. 4 is a vertical sectional view showing a configuration of a standby pot.

【図5】液滴が付着した状態を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a state where droplets are attached.

【図6】液滴が付着した状態の従来例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a conventional example in a state where droplets are attached.

【図7】処理液供給ノズルの洗浄処理を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a cleaning process of a processing liquid supply nozzle.

【図8】処理液供給ノズルの紫外線照射処理を示す図で
ある。
FIG. 8 is a view showing an ultraviolet irradiation process of a processing liquid supply nozzle.

【図9】第2実施例に係る処理液供給ノズルを示す一部
破断縦断面図である。
FIG. 9 is a partially broken longitudinal sectional view showing a processing liquid supply nozzle according to a second embodiment.

【図10】図9のA−A矢視断面図である。FIG. 10 is a sectional view taken along the line AA of FIG. 9;

【図11】待機ポットの構成を示す縦断面図である。FIG. 11 is a longitudinal sectional view showing a configuration of a standby pot.

【図12】液滴が付着した状態を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a state where droplets are attached.

【図13】液滴が付着した状態の従来例を示す図であ
る。
FIG. 13 is a diagram showing a conventional example in a state where droplets are attached.

【図14】第2実施例に係る処理液供給ノズルを示す一
部破断縦断面図である。
FIG. 14 is a partially broken longitudinal sectional view showing a processing liquid supply nozzle according to a second embodiment.

【図15】図14を下方から見た図である。FIG. 15 is a view of FIG. 14 as viewed from below.

【図16】液滴が付着した状態を示す図である。FIG. 16 is a diagram showing a state where droplets are attached.

【図17】液滴が付着した状態の従来例を示す図であ
る。
FIG. 17 is a diagram showing a conventional example in a state where droplets are attached.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

W … 基板 S … 超撥水性層 D … 現像液 1 … スピンチャック 2 … 電動モータ 3 … 飛散防止カップ 5 … 処理液供給ノズル 7 … 先端部 7a … 処理液流通路 7a1 … 分岐流通路 7b … 吐出孔 7c … 基部 7d … 流下部材 11 … 待機ポット 12 … 洗浄カップ C … 洗浄液 16 … 照射カップ V … 紫外線 20 … 紫外線照射部 22 … 洗浄液供給部 CP … 洗浄位置 EP … 照射位置W ... Substrate S ... Super water-repellent layer D ... Developer 1 ... Spin chuck 2 ... Electric motor 3 ... Scatter prevention cup 5 ... Treatment liquid supply nozzle 7 ... Tip 7a ... Treatment liquid flow path 7a 1 ... Branch flow path 7b ... Discharge hole 7c ... Base 7d ... Downflow member 11 ... Stand-by pot 12 ... Cleaning cup C ... Cleaning liquid 16 ... Irradiation cup V ... Ultraviolet 20 ... Ultraviolet irradiation part 22 ... Cleaning liquid supply part CP ... Cleaning position EP ... Irradiation position

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の表面に処理液を吐出する基板処理
装置の処理液供給ノズルにおいて、 前記処理液を吐出する吐出孔が形成された先端部を超親
水性材料で形成したことを特徴とする基板処理装置の処
理液供給ノズル。
1. A processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus for discharging a processing liquid onto a surface of a substrate, wherein a tip portion having a discharge hole for discharging the processing liquid is formed of a superhydrophilic material. Processing liquid supply nozzle of the substrate processing apparatus.
【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置の処理液
供給ノズルにおいて、前記吐出孔は、前記ノズル先端部
の側面に形成されていることを特徴とする基板処理装置
の処理液供給ノズル。
2. The processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the discharge hole is formed on a side surface of the tip of the nozzle. .
【請求項3】 請求項1に記載の基板処理装置の処理液
供給ノズルにおいて、前記先端部は、前記吐出孔が下面
に開口した基部と、この基部の下面から下方に突出形成
されて、前記吐出孔から吐出された処理液が裾拡がりの
傾斜面を流下する流下部材とから構成されていることを
特徴とする基板処理装置の処理液供給ノズル。
3. The processing liquid supply nozzle of the substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the tip portion is formed so as to protrude downward from a lower surface of the base portion, the lower surface of the base portion having the discharge hole opened on the lower surface. A processing liquid supply nozzle for a substrate processing apparatus, comprising: a flow-down member through which a processing liquid discharged from a discharge hole flows down an inclined surface having a skirt.
【請求項4】 請求項1ないし請求項3に記載の基板処
理装置の処理液供給ノズルにおいて、前記超親水性材料
は、接触角が10°以下のものであることを特徴とする
基板処理装置の処理液供給ノズル。
4. The processing liquid supply nozzle according to claim 1, wherein the superhydrophilic material has a contact angle of 10 ° or less. Processing liquid supply nozzle.
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