JPH10255999A - マイクロ波励起プラズマ装置 - Google Patents
マイクロ波励起プラズマ装置Info
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- JPH10255999A JPH10255999A JP9058677A JP5867797A JPH10255999A JP H10255999 A JPH10255999 A JP H10255999A JP 9058677 A JP9058677 A JP 9058677A JP 5867797 A JP5867797 A JP 5867797A JP H10255999 A JPH10255999 A JP H10255999A
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Abstract
したプラズマをプラズマ生成室内に均一に発生すること
が可能なマイクロ波励起プラズマ処理装置を提供するも
のである。 【解決手段】 上部にプラズマ生成室、およびこのプラ
ズマ生成室の下方に形成され、被処理部材が配置される
処理室を有するチャンバと、プラズマ生成室内に処理ガ
スを供給するためのガス供給管と、チャンバの上壁部の
開口に配置された誘電体窓と、誘電体窓を含むチャンバ
の上壁部に配置され、マイクロ波の電界方向に垂直な面
(H面)が誘電体窓に対向し、マイクロ波の電界方向に
平行な面(E面)がH面に対して垂直方向に伸び、かつ
マイクロ波導入側と反対側にH面およびE面に対して垂
直に設けられたマイクロ波を反射する反射面を有する矩
形状の導波管とを具備し、誘電体窓は、その厚みをマイ
クロ波の波長の半波長のn/2倍(nは整数)としたこ
とを特徴とする。
Description
用ガラス基板等の製造におけるエッチングやアッシング
に用いられるマイクロ波励起プラズマ処理装置に関す
る。
としては、特開昭61ー131454号公報に記載され
た構造のものが知られている。このプラズマ処理装置
は、円筒状の開口部が多数形成された金属製の拡散板に
より上部にプラズマ生成室、およびこのプラズマ生成室
の下方に形成され、被処理部材が配置される処理室を有
するチャンバと、チャンバの上壁部の開口に配置された
誘電体窓と、誘電体窓を含むチャンバの上壁部に配置さ
れ、マイクロ波の電界方向に垂直な面(H面)が誘電体
窓に対向し、マイクロ波の電界方向と平行な面(E面)
がH面に対して垂直方向に伸び、かつマイクロ波導入側
と反対側にH面およびE面に対して垂直に設けられたマ
イクロ波を反射する反射面を有する矩形状の導波管とを
備え、誘電体窓に対向する導波管のH面部分にマイクロ
波を誘電体窓を通してプラズマ生成室に導入するための
開口部を設けた構造を有する。
において、マイクロ波をプラズマ生成室内に導入してプ
ラズマを発生させる場合は、チャンバ内の気体を真空ポ
ンプ等により真空引きし、処理ガスを供給してチャンバ
内を一定圧力に保つ必要がある。従って、誘電体窓の厚
みは、チャンバ内の気体を真空引きした際に支えきれる
だけの強度が必要であり、その厚みは機械的強度から決
定されていた。
口が垂直な2つのスリットがE面に沿って平行もしくは
ほぼ平行にそれぞれ開口され、且つスリットは反射面側
ほど狭い幅を有している。
みを機械的強度から決定しており、マイクロ波の透過性
に関しては考慮されていなかった。このため、誘電体窓
の厚さが透過するマイクロ波の波長の1/4の奇数倍付
近の厚みであると、誘電体窓内部でのマイクロ波の反射
率が大きくなり、結果としてマイクロ波の透過率が低下
してしまう。従って、プラズマ生成室内に導入された処
理ガスを電離させる効率が低下し、エッチングやアッシ
ングなどの処理速度が遅くなるという問題があった。
衝突を繰り返しながらプラズマ生成室から処理室へ輸送
される活性ガスの衝突が、開口部内でさらに激しくな
り、活性ガスが再結合により失活し、加工速度が低下す
るという問題があった。
ど、マイクロ波がプラズマに全て吸収されずに処理室ま
で達してしまい、被処理物に対してダメージを与えてし
まうという不具合もあった。
垂直であると導波管を構成する板厚によりマイクロ波に
乱れが生じ、安定したプラズマ処理を行うことができな
かった。
効率よくプラズマ生成室内に導入して、処理ガスも効率
よく電離させることができ、かつ均一なプラズマを発生
することが可能なマイクロ波励起プラズマ処理装置を提
供しようとするものである。
処理装置は、マイクロ波を発振するマイクロ波発振器
と、上部にプラズマ生成室、及びこのプラズマ生成室の
下方に形成され、被処理部材が配置される処理室を有す
るチャンバと、プラズマ生成室内に処理ガスを供給する
ためのガス供給管と、チャンバの上壁部の開口に配置さ
れた誘電体窓と、誘電体窓を含むチャンバの上壁部に配
置され、マイクロ波の電界方向に垂直な面(H面)が誘
電体窓に対向し、マイクロ波の電界方向に平行な面(E
面)が前記H面に対して垂直方向に伸び、かつマイクロ
波導入側と反対側にH面およびE面に対して垂直に設け
られたマイクロ波を反射する反射面を有する矩形状の導
波管とを具備し、誘電体窓は、その厚みをマイクロ波の
波長の半波長のn/2倍(nは整数)としたことを特徴
とするものである。
生成室内に導入して、処理ガスも効率よく電離させるこ
とができ、かつ均一なプラズマを発生することが可能な
マイクロ波励起プラズマ処理装置を提供しようとするも
のである。
ラズマ処理装置では、チャンバ内をプラズマ生成室と処
理室に分ける金属製の拡散板を設け、この拡散板の厚み
方向の開口を、プラズマ生成室側より反応室側で大きく
した。
ラズマ処理装置では、処理室内にマイクロ波検知手段を
設け、このマイクロ波検知手段からの信号を基にマイク
ロ波発振器から発振されるマイクロ波出力を制御する制
御手段を設けた。
るマイクロ波の波長の半波長のn/2倍(nは整数)と
することで、マイクロ波の透過率を向上でき、処理ガス
を効率よく電離させて均一なプラズマを発生させること
で、処理室内に設置された被処理部材のエッチングやア
ッシングなどの処理を良好に行うことができる。
ラズマ処理装置では、導波管のE面近傍のH面に2つの
スリットをE面に沿って平行もしくはほぼ平行に設け、
その切り口を、導波管内側のスリット面積と導波管外側
のスリット面積が異なるように傾斜させている。
乱れを軽減し、広いマイクロ波出力範囲及び圧力範囲で
安定したプラズマ処理を行うことができる。さらに、請
求項5に記載のマイクロ波励起プラズマ処理装置では、
導波管のチャンバ上に位置する部分を、マイクロ波入射
側から反射面側に向かうにしたがって厚く形成した。
室内へ導入されるっマイクロ波の電界強度を均一化し、
プラズマの分布を均一にする。また、請求項6に記載の
マイクロ波励起プラズマ処理装置では、チャンバ内部を
表面処理している。このような本発明によれば、活性な
ガスが内壁と反応して腐食することを抑え、さらに活性
なガスを失活させず、処理の経時変化が起きない。
を参照しながら説明する。図1は、ウエハ上のレジスト
のアッシングに適用されるダウンフロー型のマイクロ波
励起プラズマ処理装置を示す該略図である。チャンバ1
内は、水平方向に配置したメッシュ状の金属プレートか
らなる拡散板2によりプラズマ生成室3と処理室4とに
上下に区画されている。さらに、チャンバ1内部はフッ
素樹脂で表面処理を施してある。フッ素樹脂による表面
処理の他には、アルマイト処理やダイヤモンドコーティ
ングを施しても良い。拡散板2につき詳述すると、図6
に示すように、従来は円筒状の開口部であったのに対し
て、本実施の形態においては、図7に示すように、プラ
ズマ生成室3側の開口より処理室4側の開口を大きくな
る円錐形状にし、断面がテーパ状をなすように形成して
いる。ガス供給管5は、チャンバ1上部のプラズマ生成
室3の側壁を貫通する形で設けられている。被処理物ホ
ルダ7は、図示しないRF(ラジオ波)バイアスやHe
冷却機構を備えており、それぞれRF発振器、チラーに
接続されている。排気管6は、処理室4が形成されたチ
ャンバ1底部に設けられ、他端は図示しない真空ポンプ
のような排気系が連結されている。
バ1の上壁部に形成された開口部10に設けられてお
り、開口部10と誘電体窓9との間は図示しないOリン
グなどによりシールされる構造となっている。マイクロ
波が導入される矩形波状の導波管8は、誘電体窓9を含
むチャンバ1の上壁部上に配置されている。導波管8
は、図2および図3に示すように誘電体窓9に対向し、
マイクロ波の電界方向に垂直な面(H面)と、H面に対
して垂直方向に伸びるマイクロ波の電界方向に平行な面
(E面)と、マイクロ波導入側と反対側にH面およびE
面に対して垂直に設けられたマイクロ波を反射する反射
面(短絡面;R面)とを有する。誘電体窓9と接する側
のH面には、2つのスロット12a、12bがE面に沿
ってそれぞれ開口されている。
の波長(λ:160mm)の半波長(λ/2)のn/2
倍(n:1)に相当する40mmとしている。次に、前
述したマイクロ波励起プラズマ処理装置によりレジスト
パターンが表面に形成されたウエハをアッシングする方
法を説明する。
レジストパターンが表面に形成された液晶用ガラス基板
11を設置する。図示しない真空ポンプを作動してチャ
ンバ1内のガスを排気管6を通して排気する。同時に、
処理ガス例えば酸素ガスと四フッ化炭素との混合ガスを
ガス供給管5を通してチャンバ1上部のプラズマ生成室
3に供給する。チャンバ1内が所定圧力になった時点で
マイクロ波を導波管8内に導入することによって、プラ
ズマ生成室3にプラズマが発生する。発生したプラズマ
は拡散板2によりイオンが除去され、活性種が拡散板2
の開口を通して処理室4に導入される。そして、プラズ
マ中の活性な酸素原子を、処理室4内の被処理物ホルダ
7上に設置された液晶用ガラス基板11表面のレジスト
パターンと反応させ、レジストパターンを剥離するいわ
ゆるアッシングがなされる。
プラズマ中に存在する電子、イオンにより電気的なダメ
ージが発生したり、液晶用ガラス基板11が200度以
上に加熱され、下地がエッチングされやすくなってしま
うなどの不具合が生じる。このような不具合を防止する
ためにも拡散板2を設け、電子やイオンをカットし、さ
らに熱を遮断する必要があるが、図6に示すような従来
の円筒状の開口部を有する拡散板であると、活性種を失
活させてアッシング速度が遅くなってしまう。そこで本
実施の形態では、プラズマ生成室3側の開口より処理室
4側の開口が大きくなるような円錐状の開口2a(断面
テーパ状)とすることで、処理室4側の開口を広げるこ
とで、開口部2a中での活性種の失活を極力抑えること
ができるので、アッシング速度を高めることができる。
実際、実用的に用いている3mmの厚みを有する拡散板
2の場合、開口部2aを円錐状にすることで、アッシン
グ速度を20%ほど高めることができる。
て、図2および図3に示すように、図示しないマイクロ
波発振器に接続された導波管8のH面には、幅を反射面
(R面)に向かって狭くなるように階段状に変化した形
状を有する2つのスリット12a、12bが開口されて
おり、各スリット12a、12bにおいては、導波管8
の反射面(R面)で反射される反射波と入射波との合成
波が均一化されマイクロ波の電力を均一にしている。
ズマ生成室3内において供給されたガスを活性化してプ
ラズマを発生するが、マイクロ波出力が強いと全てのマ
イクロ波がプラズマが吸収されず、処理室4へ供給され
液晶用ガラス基板11に対してダメージを与えてしまう
ことがある。そこで、処理室4内の例えば被処理物ホル
ダ7にマイクロ波検知手段を設け(図示せず)、検知し
たマイクロ波が所定値以上に達した場合は、接続された
マイクロ波制御手段(図示せず)を介してマイクロ波発
振器の出力を制御するようにしている。こうすること
で、液晶用ガラス基板11へのダメージを極力抑えるこ
とができる。
は以下のようにして決定している。まず、導波管8のH
面に設けられたスリット12a、12bから放射された
マイクロ波の波長をλgとすると、誘電体窓9中のマイ
クロ波の波長λは
そして、誘電体窓9の厚みは誘電体窓9中のマイクロ波
波長λの半波長λ/2のn/2倍(nは整数)付近の厚
み、例えば石英ガラスであれば約40mm、アルミナセ
ラミックスであれば約25mmに設定している。このよ
うに、誘電体窓9の厚みを誘電体窓9中のマイクロ波波
長λの半波長(λ/2)のn/2倍(nは整数)とする
と、マイクロ波を効率よく透過させることができ、プラ
ズマへの吸収を効率よく行え、広い圧力範囲に亘って安
定したプラズマを発生させることができる。
クロ波励起プラズマ処理装置が従来のマイクロ波励起プ
ラズマ処理装置に比べて広い圧力範囲に亘って安定した
プラズマを発生し、かつ均一なプラズマをプラズマ生成
室内に発生できることを確認した。
を用い、圧力が14Pa,20Pa、40Pa,60P
aの場合それぞれに対して、石英ガラスの厚みを波長λ
の1/4(λ/4:20mm)と波長λの1/2(λ/
2:40mm)とした場合で、マイクロ波反射電力をマ
イクロ波入射電力を変化させて測定した。その結果を図
4に示す。厚み20mmの場合(図4(a))はどの圧
力においても反射波が大きく発生するが、厚み40mm
の場合(図4(b))はどの圧力においても反射波がほ
とんど発生しておらず、広い圧力範囲において安定した
放電状態を得ることができることが分かる。
用い、圧力が35Pa、50Pa,65Paの場合それ
ぞれに対して、負荷反射係数とアルミナ窓厚との関係を
調べ、その結果を図5に示す。この図5を見て明らかな
ように、アルミナの厚みを波長λの1/2にほぼ相当す
る25mmの場合に負荷反射係数が小さくなっており、
安定した放電を得ることができることが分かる。
装置においては、広い圧力範囲において安定した放電状
態を得ることができる。上記実施の形態では、マイクロ
波検知手段を被処理物ホルダ7に設けたが、処理室内で
あれば良い。
7を参照しながら説明する。本実施の形態と上記第1の
実施の形態で異なるところはスリットである。本実施の
形態では、図7に示すようにスリット21の導波管8内
側の面積が導波管8外側の面積より小さくなるようにス
リット21の切り口に傾斜を設けた点である。
管8内側から外側に向けて広がるような傾斜を設けるこ
とで、放射されるマイクロ波に乱れを生じさせることを
極力抑え、広い出力範囲及び圧力範囲において安定した
プラズマ処理を行うことが可能となる。
を参照しながら説明する。本実施の形態と上記第1の実
施例の形態とで異なるところは導波管である。本実施の
形態では、図8に示すように、チャンバ1上に位置する
導波管8aの厚みを、マイクロ波導入側(図中左側)か
ら反射面側(図中右側)に向かって厚くしている点であ
る。このような形状にすることで、放射されるマイクロ
波の量をプラズマ生成室4内で均一にすることができ
る。
マイクロ波励起プラズマ処理装置によれば、マイクロ波
出力および圧力共に広い範囲で安定したプラズマをプラ
ズマ生成室内に発生でき、かつ均一なプラズマを前記プ
ラズマ生成室内に発生でき、ひいてはアッシングやエッ
チングを効率よく行うことができるなど顕著な効果を奏
する。
の失活を極力抑え、処理速度を高めることが可能とな
る。また、請求項3に係わる発明では、マイクロ波の透
過率を向上でき、処理ガスを効率よく電離させて均一な
プラズマを発生させ、エッチングやアッシングなどの処
理を良好に行うことが可能となる。
ロ波の乱れを軽減し、広いマイクロ波出力範囲及び圧力
範囲で安定したプラズマ処理を行うことができる。さら
に、請求項5に係わる発明では、プラズマ生成室内へ導
入されるマイクロ波の電界強度を均一化し、プラズマの
分布を均一にする。また、請求項6にかかる発明では、
活性なガスが内壁と反応して腐食することを抑え、さら
に活性なガスを失活させず、処理の経時変化が起きな
い。
マイクロ波励起プラズマ処理装置を示す該略図。
mとした場合の結果を示す図で、(b)は40mmの場
合の結果を示す図。
(b)は本発明における拡散板を示す図。
起プラズマ処理装置の一部拡大断面図。
起プラズマ処理装置の該略図。
室、4・・処理室、5・・ガス供給管、6・・排気管、
7・・被処理物ホルダ、8・・導波管、9・・誘電体
窓、10・・開口部、11・・液晶用ガラス基板。
Claims (6)
- 【請求項1】マイクロ波を発振するマイクロ波発振器
と、 上部にプラズマ生成室、およびこのプラズマ生成室の下
方に形成され、被処理部材が配置される処理室を有する
チャンバと、 前記プラズマ生成室内に処理ガスを供給するためのガス
供給管と、 前記チャンバの上壁部の開口に配置された誘電体窓と、 前記誘電体窓を含む前記チャンバの上壁部に配置され、
マイクロ波の電界方向に垂直な面(H面)が前記誘電体
窓に対向し、マイクロ波の電界方向に平行な面(E面)
が前記H面に対して垂直方向に伸び、かつマイクロ波導
入側と反対側に前記H面およびE面に対して垂直に設け
られたマイクロ波を反射する反射面を有する矩形状の導
波管と、を具備し、 前記誘電体窓は、その厚みをマイクロ波の波長の半波長
のn/2倍(nは整数)としたことを特徴とするマイク
ロ波励起プラズマ処理装置。 - 【請求項2】前記チャンバ内を前記プラズマ生成室と前
記処理室に分ける金属製の拡散板を設け、この拡散板の
厚み方向の開口を、プラズマ生成室側より反応室側で大
きくすることを特徴とする請求項1記載のマイクロ波励
起プラズマ処理装置。 - 【請求項3】前記処理室内に設けられたマイクロ波を検
知するためのマイクロ波検知手段と、 このマイクロ波検知手段からの信号を基に前記マイクロ
波発振器から発するマイクロ波を制御するマイクロ波制
御手段を有することを特徴とする請求項1乃至2のいず
れかに記載のマイクロ波励起プラズマ処理装置。 - 【請求項4】マイクロ波を発振するマイクロ波発振器
と、 上部にプラズマ生成室、およびこのプラズマ生成室の下
方に形成され、被処理部材が配置される処理室を有する
チャンバと、 前記プラズマ生成室内に処理ガスを供給するためのガス
供給管と、 前記チャンバの上壁部の開口に配置された誘電体窓と、 前記誘電体窓を含む前記チャンバの上壁部に配置され、
マイクロ波の電界方向に垂直な面(H面)が前記誘電体
窓に対向し、マイクロ波の電界方向に平行な面(E面)
が前記H面に対して垂直方向に伸び、かつマイクロ波導
入側と反対側に前記H面およびE面に対して垂直に設け
られたマイクロ波を反射する反射面を有する矩形状の導
波管と、を具備し、 前記導波管は、前記E面近傍の前記H面に2つのスリッ
トが前記E面に沿って平行もしくはほぼ平行にそれぞれ
開口し、前記導波管内側のスリット面積と前記導波管外
側のスリット面積が異なるように切り口を傾斜させるこ
とを特徴とするマイクロ波励起プラズマ処理装置。 - 【請求項5】マイクロ波を発振するマイクロ波発振器
と、 上部にプラズマ生成室、およびこのプラズマ生成室の下
方に形成され、被処理部材が配置される処理室を有する
チャンバと、 前記プラズマ生成室内に処理ガスを供給するためのガス
供給管と、 前記チャンバの上壁部の開口に配置された誘電体窓と、 前記誘電体窓を含む前記チャンバの上壁部に配置され、
マイクロ波の電界方向に垂直な面(H面)が前記誘電体
窓に対向し、マイクロ波の電界方向に平行な面(E面)
が前記H面に対して垂直方向に伸び、かつマイクロ波導
入側と反対側に前記H面およびE面に対して垂直に設け
られたマイクロ波を反射する反射面を有する矩形状の導
波管と、を具備し、 前記導波管の前記チャンバ上に位置する部分は、マイク
ロ波入射側から前記反射面側に向かうにしたがって厚く
形成したことを特徴とするマイクロ波励起プラズマ処理
装置。 - 【請求項6】上記チャンバ内部を表面処理したことを特
徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のマイクロ波
励起プラズマ処理装置。
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JP05867797A JP3784912B2 (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | マイクロ波励起プラズマ装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
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JPH10255999A true JPH10255999A (ja) | 1998-09-25 |
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- 1997-03-13 JP JP05867797A patent/JP3784912B2/ja not_active Expired - Fee Related
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