JPH10253334A - 真円度測定機および真円度測定機の被測定物位置決め方法 - Google Patents
真円度測定機および真円度測定機の被測定物位置決め方法Info
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- JPH10253334A JPH10253334A JP5920597A JP5920597A JPH10253334A JP H10253334 A JPH10253334 A JP H10253334A JP 5920597 A JP5920597 A JP 5920597A JP 5920597 A JP5920597 A JP 5920597A JP H10253334 A JPH10253334 A JP H10253334A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】検出器を回転させる必要なく簡単に被測定物の
位置決めを行うことができかつ正確に被測定物の位置決
めを行うことのできる真円度測定機および真円度測定機
の被測定物位置決め方法を提供することを目的とする。 【解決手段】所定の回転軸Ａから被測定物３の周面まで
の距離を測定する検出器１４を有し、当該回転軸Ａを中
心に検出器１４が回動する検出器回転型の真円度測定機
１は、その回転軸Ａ上に配置されかつ被測定物３の端面
３１を照らす光束手段と、この光束手段による光束１７
１の径Ｄを変更する可変手段１８とを備えている。光束
手段によって真円度測定機１の回転軸Ａの位置を被測定
物３の端面３１上に明示することができるので、一定角
度ごとに検出器１４と被測定物３との隙間寸法を確認す
る必要がなく、位置決め作業の簡単化が図られる。
位置決めを行うことができかつ正確に被測定物の位置決
めを行うことのできる真円度測定機および真円度測定機
の被測定物位置決め方法を提供することを目的とする。 【解決手段】所定の回転軸Ａから被測定物３の周面まで
の距離を測定する検出器１４を有し、当該回転軸Ａを中
心に検出器１４が回動する検出器回転型の真円度測定機
１は、その回転軸Ａ上に配置されかつ被測定物３の端面
３１を照らす光束手段と、この光束手段による光束１７
１の径Ｄを変更する可変手段１８とを備えている。光束
手段によって真円度測定機１の回転軸Ａの位置を被測定
物３の端面３１上に明示することができるので、一定角
度ごとに検出器１４と被測定物３との隙間寸法を確認す
る必要がなく、位置決め作業の簡単化が図られる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の真円度
を測定する真円度測定機および真円度測定機の被測定物
位置決め方法に関し、例えば、検出器回転型の真円度測
定機およびその被測定物位置決め方法として利用するこ
とができる。
を測定する真円度測定機および真円度測定機の被測定物
位置決め方法に関し、例えば、検出器回転型の真円度測
定機およびその被測定物位置決め方法として利用するこ
とができる。
【０００２】
【背景技術】従来より、切削加工等によって形成された
円柱形または円筒形の被測定物の真円度を測定するため
に、被測定物の軸心に沿って設定される回転軸と、この
回転軸を中心に被測定物と相対移動しかつ回転軸から被
測定物の周面までの距離を測定する検出器とを備え、半
径法により真円度を測定する真円度測定機が利用されて
いる。真円度測定機によれば、被測定物の断面が等径歪
円状に形成されていた場合であっても、その歪みを検出
することができるので、直径法による真円度測定よりも
正確な測定結果を得ることができる。このような真円度
測定機には、被測定物が載置されるテーブルが回転する
テーブル回転型の真円度測定機と、被測定物の周りを検
出器が回転する検出器回転型の真円度測定機がある。
円柱形または円筒形の被測定物の真円度を測定するため
に、被測定物の軸心に沿って設定される回転軸と、この
回転軸を中心に被測定物と相対移動しかつ回転軸から被
測定物の周面までの距離を測定する検出器とを備え、半
径法により真円度を測定する真円度測定機が利用されて
いる。真円度測定機によれば、被測定物の断面が等径歪
円状に形成されていた場合であっても、その歪みを検出
することができるので、直径法による真円度測定よりも
正確な測定結果を得ることができる。このような真円度
測定機には、被測定物が載置されるテーブルが回転する
テーブル回転型の真円度測定機と、被測定物の周りを検
出器が回転する検出器回転型の真円度測定機がある。
【０００３】前者のテーブル回転型の真円度測定機４
は、図４に示すように、基台４１上に立設されるスタン
ド４２と、このスタンド４２に上下にスライド自在に支
持される検出器４４とを備え、検出器４４には、被測定
物３と接触するプローブ４４１が設けられている。基台
４１上には、回動自在に支持される回転テーブル４５
と、この回転テーブル４５上に設けられるとともに、被
測定物３が載置されるＸＹテーブル４６と、このＸＹテ
ーブル４６を被測定物３と検出器４４との相対位置を回
転軸Ａに直交する方向、すなわち水平方向に移動するた
めの２個の調整つまみ５１１からなる調整手段５１とが
配置されている。
は、図４に示すように、基台４１上に立設されるスタン
ド４２と、このスタンド４２に上下にスライド自在に支
持される検出器４４とを備え、検出器４４には、被測定
物３と接触するプローブ４４１が設けられている。基台
４１上には、回動自在に支持される回転テーブル４５
と、この回転テーブル４５上に設けられるとともに、被
測定物３が載置されるＸＹテーブル４６と、このＸＹテ
ーブル４６を被測定物３と検出器４４との相対位置を回
転軸Ａに直交する方向、すなわち水平方向に移動するた
めの２個の調整つまみ５１１からなる調整手段５１とが
配置されている。
【０００４】後者の検出器回転型の真円度測定機５は、
図５に示すように、基台１１上に立設されるスタンド１
２と、このスタンド１２に取り付けられる本体１３と、
この本体１３の下部に回転軸Ａを中心として回動可能に
軸支される検出器１４とを備え、この検出器１４には、
被測定物３に接触するプローブ１４１が設けられてい
る。この検出器１４の下方には、被測定物３が載置され
るＸＹテーブル１６と、このＸＹテーブル１６を水平方
向に移動するための調整手段２１が設けられ、ＸＹテー
ブル１６は、調整手段２１を構成する２個の調整つまみ
２１１によって移動する。このような真円度測定機４、
５によって被測定物３の真円度を測定する場合、被測定
物３の軸心と真円度測定機４、５の回転軸Ａとが一致す
るように、検出器１４、４４と被測定物３との相対位置
を、調整手段２１、５１によって調整する必要がある。
図５に示すように、基台１１上に立設されるスタンド１
２と、このスタンド１２に取り付けられる本体１３と、
この本体１３の下部に回転軸Ａを中心として回動可能に
軸支される検出器１４とを備え、この検出器１４には、
被測定物３に接触するプローブ１４１が設けられてい
る。この検出器１４の下方には、被測定物３が載置され
るＸＹテーブル１６と、このＸＹテーブル１６を水平方
向に移動するための調整手段２１が設けられ、ＸＹテー
ブル１６は、調整手段２１を構成する２個の調整つまみ
２１１によって移動する。このような真円度測定機４、
５によって被測定物３の真円度を測定する場合、被測定
物３の軸心と真円度測定機４、５の回転軸Ａとが一致す
るように、検出器１４、４４と被測定物３との相対位置
を、調整手段２１、５１によって調整する必要がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このため、従来の真円
度測定機では、テーブル回転型（４）、検出器回転型
（５）のいずれも、被測定物３および検出器１４、４４
を相対回転させながら、一定角度ごとに被測定物３とプ
ローブ１４１、４４１との間の隙間を確認しなければな
らないので、被測定物３の位置決め作業が煩雑になるう
え、当該隙間を同時に比較することができないので、正
確な位置決めが困難であるという問題がある。また、被
測定物３および検出器１４を相対移動させながら被測定
物３の位置決めを行わなければならないので、被測定物
３の初期位置によっては、その回転とともに、プローブ
１４１、４４１に接触し、その揺動範囲を超えて検出器
１４、４４が壊れてしまう可能性があるという問題があ
る。
度測定機では、テーブル回転型（４）、検出器回転型
（５）のいずれも、被測定物３および検出器１４、４４
を相対回転させながら、一定角度ごとに被測定物３とプ
ローブ１４１、４４１との間の隙間を確認しなければな
らないので、被測定物３の位置決め作業が煩雑になるう
え、当該隙間を同時に比較することができないので、正
確な位置決めが困難であるという問題がある。また、被
測定物３および検出器１４を相対移動させながら被測定
物３の位置決めを行わなければならないので、被測定物
３の初期位置によっては、その回転とともに、プローブ
１４１、４４１に接触し、その揺動範囲を超えて検出器
１４、４４が壊れてしまう可能性があるという問題があ
る。
【０００６】さらに、検出器回転型の真円度測定機５で
は、図６に示すように、検出器１４の下部に設けられる
プローブ１４１と被測定物３の周面との隙間Ｔ１、Ｔ
２、Ｔ３を測定し、これらの寸法Ｔ１〜Ｔ３が等しくな
るように被測定物３の位置を調整しなければならない。
従って、図６（Ｂ）中下方から測定者が確認している場
合、検出器１４が測定者の正面に位置すると（図６中下
側）、そのままでは隙間Ｔ３を確認しにくく、被測定物
３の位置決め作業が一層煩雑化してしまうという問題が
ある。
は、図６に示すように、検出器１４の下部に設けられる
プローブ１４１と被測定物３の周面との隙間Ｔ１、Ｔ
２、Ｔ３を測定し、これらの寸法Ｔ１〜Ｔ３が等しくな
るように被測定物３の位置を調整しなければならない。
従って、図６（Ｂ）中下方から測定者が確認している場
合、検出器１４が測定者の正面に位置すると（図６中下
側）、そのままでは隙間Ｔ３を確認しにくく、被測定物
３の位置決め作業が一層煩雑化してしまうという問題が
ある。
【０００７】本発明の目的は、検出器を回転させる必要
なく簡単に被測定物の位置決めを行うことができかつ正
確に被測定物の位置決めを行うことのできる真円度測定
機および真円度測定機の被測定物位置決め方法を提供す
ることにある。
なく簡単に被測定物の位置決めを行うことができかつ正
確に被測定物の位置決めを行うことのできる真円度測定
機および真円度測定機の被測定物位置決め方法を提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明に係る真円度測定
機は、被測定物が載置されるテーブルと、前記被測定物
の軸心に沿って前記テーブル上に設定される回転軸と、
この回転軸を中心として前記被測定物と相対移動しかつ
前記回転軸から前記被測定物の周面までの距離を測定す
る検出器と、前記被測定物と前記検出器との相対位置を
前記回転軸に直交しかつ互いに直交する方向に移動する
調整手段と、前記回転軸上に配置されかつ前記被測定物
の端面を照らす光束手段と、この光束手段による光束の
径を変更する可変手段とを備えていることを特徴とす
る。
機は、被測定物が載置されるテーブルと、前記被測定物
の軸心に沿って前記テーブル上に設定される回転軸と、
この回転軸を中心として前記被測定物と相対移動しかつ
前記回転軸から前記被測定物の周面までの距離を測定す
る検出器と、前記被測定物と前記検出器との相対位置を
前記回転軸に直交しかつ互いに直交する方向に移動する
調整手段と、前記回転軸上に配置されかつ前記被測定物
の端面を照らす光束手段と、この光束手段による光束の
径を変更する可変手段とを備えていることを特徴とす
る。
【０００９】このような本発明によれば、光束手段によ
って真円度測定機の回転軸の位置を被測定物の端面上に
明示することができるので、一定角度ごとに隙間寸法を
確認する必要がなく、位置決め作業の簡単化が図られる
うえ、光束の径を変更する可変手段が設けられているの
で、光束の径に応じて正確に位置決め作業を行うことが
可能となる。また、被測定物の位置決めに際して、被測
定物および検出器を相対移動する必要がないので、検出
器が壊れることもない。
って真円度測定機の回転軸の位置を被測定物の端面上に
明示することができるので、一定角度ごとに隙間寸法を
確認する必要がなく、位置決め作業の簡単化が図られる
うえ、光束の径を変更する可変手段が設けられているの
で、光束の径に応じて正確に位置決め作業を行うことが
可能となる。また、被測定物の位置決めに際して、被測
定物および検出器を相対移動する必要がないので、検出
器が壊れることもない。
【００１０】以上において、検出器が回転軸を中心に回
動する検出器回転型の真円度測定機に本発明を採用する
のが好ましい。すなわち、検出器を回転させることなく
被測定物の位置決め作業を行えるので、上述したように
検出器の位置によって位置決め作業が困難になることも
なく、被測定物の位置決め作業の一層の簡単化が図られ
る。
動する検出器回転型の真円度測定機に本発明を採用する
のが好ましい。すなわち、検出器を回転させることなく
被測定物の位置決め作業を行えるので、上述したように
検出器の位置によって位置決め作業が困難になることも
なく、被測定物の位置決め作業の一層の簡単化が図られ
る。
【００１１】また、本発明に係る真円度測定機の被測定
物位置決め方法は、被測定物が載置されるテーブルと、
前記被測定物の軸心に沿って前記テーブル上に設定され
る回転軸と、この回転軸を中心として前記被測定物と相
対移動しかつ前記回転軸から前記被測定物の周面までの
距離を測定する検出器と、前記被測定物と前記検出器と
の相対位置を前記回転軸に直交しかつ互いに直交する方
向に移動する調整手段と、前記回転軸上に配置されかつ
前記被測定物の端面を照らす光束手段と、この光束手段
による光束の径を変更する可変手段とを備えた真円度測
定機の被測定物位置決め方法であって、前記テーブルに
載置された前記被測定物の端面に小径の光束を照らすと
ともに、この光束と当該被測定物の軸心とが一致するよ
うに前記調整手段によって前記被測定物と前記検出器と
の相対位置を調整した後、前記可変手段によって前記光
束の径を拡大するとともに、この拡大された光束の外周
と前記被測定物の端面外周とが一致するように前記調整
手段によって前記被測定物と前記検出器との相対位置を
微調整することを特徴とする。このような本発明によれ
ば、可変手段と調整手段とを交互に使用することによ
り、被測定物の位置に応じて光束の径を変更して調整精
度を変化させられるので、被測定物の位置決め作業の合
理化が図られるうえ、極めて精度の高い被測定物の位置
決めを行うことが可能となる。
物位置決め方法は、被測定物が載置されるテーブルと、
前記被測定物の軸心に沿って前記テーブル上に設定され
る回転軸と、この回転軸を中心として前記被測定物と相
対移動しかつ前記回転軸から前記被測定物の周面までの
距離を測定する検出器と、前記被測定物と前記検出器と
の相対位置を前記回転軸に直交しかつ互いに直交する方
向に移動する調整手段と、前記回転軸上に配置されかつ
前記被測定物の端面を照らす光束手段と、この光束手段
による光束の径を変更する可変手段とを備えた真円度測
定機の被測定物位置決め方法であって、前記テーブルに
載置された前記被測定物の端面に小径の光束を照らすと
ともに、この光束と当該被測定物の軸心とが一致するよ
うに前記調整手段によって前記被測定物と前記検出器と
の相対位置を調整した後、前記可変手段によって前記光
束の径を拡大するとともに、この拡大された光束の外周
と前記被測定物の端面外周とが一致するように前記調整
手段によって前記被測定物と前記検出器との相対位置を
微調整することを特徴とする。このような本発明によれ
ば、可変手段と調整手段とを交互に使用することによ
り、被測定物の位置に応じて光束の径を変更して調整精
度を変化させられるので、被測定物の位置決め作業の合
理化が図られるうえ、極めて精度の高い被測定物の位置
決めを行うことが可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態を図面
に基づいて説明する。尚、既に説明した部材または部分
と同一または類似の部材または部分についてはその説明
を省略または簡略にする。図１には、本発明に係る真円
度測定機が示されており、この真円度測定機１は、背景
技術で説明した検出器回転型真円度測定機５に光束手段
１７と可変手段１８とが設けられたものである。
に基づいて説明する。尚、既に説明した部材または部分
と同一または類似の部材または部分についてはその説明
を省略または簡略にする。図１には、本発明に係る真円
度測定機が示されており、この真円度測定機１は、背景
技術で説明した検出器回転型真円度測定機５に光束手段
１７と可変手段１８とが設けられたものである。
【００１３】本体１３は内部に回転軸Ａを中心として水
平方向に回動する後述する回動機構１９を有し、その下
部には、下方に延びるスピンドル１３１が設けられ、こ
のスピンドル１３１には、その下端を基端として水平方
向に延びるスタイラスアーム１３２が設けられている。
尚、本体１３は、スタンド１２の上下方向に延びるレー
ル１２１に接続され、上下にスライド自在となってい
て、本体１３のレール１２１との嵌合部分には、本体１
３をスタンド１２の上下方向の任意位置で固定できるよ
うに、上下動ハンドル１２２が設けられている。また、
光束手段１７および可変手段１８は、上述したスタイラ
スアーム１３２の下部の回転軸Ａに対応する位置に設け
られている。
平方向に回動する後述する回動機構１９を有し、その下
部には、下方に延びるスピンドル１３１が設けられ、こ
のスピンドル１３１には、その下端を基端として水平方
向に延びるスタイラスアーム１３２が設けられている。
尚、本体１３は、スタンド１２の上下方向に延びるレー
ル１２１に接続され、上下にスライド自在となってい
て、本体１３のレール１２１との嵌合部分には、本体１
３をスタンド１２の上下方向の任意位置で固定できるよ
うに、上下動ハンドル１２２が設けられている。また、
光束手段１７および可変手段１８は、上述したスタイラ
スアーム１３２の下部の回転軸Ａに対応する位置に設け
られている。
【００１４】このような光束手段１７および可変手段１
８は、図２に示すように、回動機構１９の内部に組み込
まれている。回動機構１９は、回転軸Ａ上に配置される
金属円筒形材料からなる回転軸部材１９１と、この回転
軸部材１９１から所定距離離間配置されるモータ１９２
と、回転軸部材１９１およびモータ１９２の軸に設けら
れる一対のプーリ１９３と、この一対のプーリ１９３を
連結し、モータ１９２の軸の回動を回転軸部材１９１に
伝達するベルト１９４とを含んで形成される。尚、この
ように回転軸部材１９１の回動をベルトプーリ１９３に
よって行うこととしたのは、モータ１９２による回転軸
部材１９１の振動発生を防止するとともに、一対のプー
リ１９３の組み合わせを変更することにより、検出器１
４の回動速度を変化させるためである。
８は、図２に示すように、回動機構１９の内部に組み込
まれている。回動機構１９は、回転軸Ａ上に配置される
金属円筒形材料からなる回転軸部材１９１と、この回転
軸部材１９１から所定距離離間配置されるモータ１９２
と、回転軸部材１９１およびモータ１９２の軸に設けら
れる一対のプーリ１９３と、この一対のプーリ１９３を
連結し、モータ１９２の軸の回動を回転軸部材１９１に
伝達するベルト１９４とを含んで形成される。尚、この
ように回転軸部材１９１の回動をベルトプーリ１９３に
よって行うこととしたのは、モータ１９２による回転軸
部材１９１の振動発生を防止するとともに、一対のプー
リ１９３の組み合わせを変更することにより、検出器１
４の回動速度を変化させるためである。
【００１５】回転軸部材１９１は、上述したスピンドル
１３１の内部を貫通するとともに、その下端には、スタ
イラスアーム１３２が接合されており、この接合部分が
検出器１４の回動中心となる。スタイラスアーム１３２
の下面には、可変手段１８の可変用のつまみ１８１が設
けられているとともに、その下部には、図２では図示を
略したが、上述した光束手段１７が設けられている。光
束手段１７への光束の導入は、回転軸部材１９１の円筒
内部に配設される光ファイバ１７２によって行われ、光
束手段１７の内部に設けられる複数のレンズを介して被
測定物３の上部端面３１上に光束１７１が照射される。
１３１の内部を貫通するとともに、その下端には、スタ
イラスアーム１３２が接合されており、この接合部分が
検出器１４の回動中心となる。スタイラスアーム１３２
の下面には、可変手段１８の可変用のつまみ１８１が設
けられているとともに、その下部には、図２では図示を
略したが、上述した光束手段１７が設けられている。光
束手段１７への光束の導入は、回転軸部材１９１の円筒
内部に配設される光ファイバ１７２によって行われ、光
束手段１７の内部に設けられる複数のレンズを介して被
測定物３の上部端面３１上に光束１７１が照射される。
【００１６】可変手段１８による光束１７１の可変は、
図２では図示を略したが、カメラ等の光学機器で採用さ
れる絞りの機構と略同一のものであり、可変用のつまみ
１８１を最小に絞り込んだ状態では、回転軸部材１９１
の径と略同一の平行光となり被測定物３の上部端面３１
にはポイント状の光束が照射される。そして、可変用の
つまみ１８１を拡大するにつれて光束１７１の径Ｄが大
きくなっていき、被測定物３の上部端面３１の外周３Ｂ
に略等しくなるまで光束１７１の径Ｄを拡大することが
可能となっている。尚、光束１７１は、真円度測定機１
の本体１３と被測定物３との間の隙間から目視によって
確認することができる。
図２では図示を略したが、カメラ等の光学機器で採用さ
れる絞りの機構と略同一のものであり、可変用のつまみ
１８１を最小に絞り込んだ状態では、回転軸部材１９１
の径と略同一の平行光となり被測定物３の上部端面３１
にはポイント状の光束が照射される。そして、可変用の
つまみ１８１を拡大するにつれて光束１７１の径Ｄが大
きくなっていき、被測定物３の上部端面３１の外周３Ｂ
に略等しくなるまで光束１７１の径Ｄを拡大することが
可能となっている。尚、光束１７１は、真円度測定機１
の本体１３と被測定物３との間の隙間から目視によって
確認することができる。
【００１７】一方、被測定物３が載置されるＸＹテーブ
ル１６は、２枚の鉄板１６１Ｕ、１６１Ｄを重ねて形成
され、上部に配置される鉄板１６１Ｕに設けられる調整
つまみ２１１を回転すると、鉄板１６１ＵがＢ方向に移
動するとともに、下部に配置される鉄板１６１Ｄに設け
られた調整つまみ２１１を回転すると、鉄板１６１Ｄが
Ｃ方向に移動する。これにより、被測定物３を水平方向
の任意位置に移動しかつセットすることが可能となる。
ル１６は、２枚の鉄板１６１Ｕ、１６１Ｄを重ねて形成
され、上部に配置される鉄板１６１Ｕに設けられる調整
つまみ２１１を回転すると、鉄板１６１ＵがＢ方向に移
動するとともに、下部に配置される鉄板１６１Ｄに設け
られた調整つまみ２１１を回転すると、鉄板１６１Ｄが
Ｃ方向に移動する。これにより、被測定物３を水平方向
の任意位置に移動しかつセットすることが可能となる。
【００１８】次に上述した真円度測定機１による被測定
物位置決め方法について、図３に基づいて説明する。 被測定物３をＸＹテーブル１５上に載置する。 被測定物３の上部端面３１に、図３（Ａ）に示される
ように、適当な径の光束１７１を照射し、この光束１７
１が被測定物３の軸心３Ａの近傍に配置されるように、
調整つまみ２１１によって被測定物３の位置調整を行
う。尚、この場合、予めスケール等の測長器等によっ
て、被測定物３の軸心３Ａ近傍にマーキングしておき、
光束１７１の径Ｄを最小限に絞って位置調整を行うと被
測定物３の位置決めを一層迅速に行うことができる。
物位置決め方法について、図３に基づいて説明する。 被測定物３をＸＹテーブル１５上に載置する。 被測定物３の上部端面３１に、図３（Ａ）に示される
ように、適当な径の光束１７１を照射し、この光束１７
１が被測定物３の軸心３Ａの近傍に配置されるように、
調整つまみ２１１によって被測定物３の位置調整を行
う。尚、この場合、予めスケール等の測長器等によっ
て、被測定物３の軸心３Ａ近傍にマーキングしておき、
光束１７１の径Ｄを最小限に絞って位置調整を行うと被
測定物３の位置決めを一層迅速に行うことができる。
【００１９】次に、図３（Ｂ）に示されるように、可
変手段１８の可変用のつまみ１８１を回転して光束１７
１の径Ｄを徐々に拡大して、被測定物３の上部端面３１
の外周３Ｂと光束１７１の外周１７１Ａを比較し、位置
のずれがある場合には、調整つまみ２１１によって被測
定物３の水平方向位置を適宜調整する。 最後に、可変用のつまみ１８１を調節して光束１７１
の外周１７１Ａを被測定物３の外周３Ｂと重ね合わされ
るようにするとともに、光束１７１の外周１７１Ａと被
測定物３の外周３Ｂが一致するように、調整つまみ２１
１によって被測定物３の水平方向位置を微調整する。
変手段１８の可変用のつまみ１８１を回転して光束１７
１の径Ｄを徐々に拡大して、被測定物３の上部端面３１
の外周３Ｂと光束１７１の外周１７１Ａを比較し、位置
のずれがある場合には、調整つまみ２１１によって被測
定物３の水平方向位置を適宜調整する。 最後に、可変用のつまみ１８１を調節して光束１７１
の外周１７１Ａを被測定物３の外周３Ｂと重ね合わされ
るようにするとともに、光束１７１の外周１７１Ａと被
測定物３の外周３Ｂが一致するように、調整つまみ２１
１によって被測定物３の水平方向位置を微調整する。
【００２０】前述のような本実施形態によれば、次のよ
うな効果がある。すなわち、光束手段１７によって真円
度測定機１の回転軸Ａの位置を被測定物の端面３上に明
示することができるので、一定角度ごとに隙間寸法を確
認する必要がなく、被測定物３の位置決め作業を簡単に
行うことができる。また、光束１７１の径Ｄを変更する
可変手段１８が設けられているので、光束１７１の径Ｄ
に応じて正確に被測定物３の位置決めを行うことができ
る
うな効果がある。すなわち、光束手段１７によって真円
度測定機１の回転軸Ａの位置を被測定物の端面３上に明
示することができるので、一定角度ごとに隙間寸法を確
認する必要がなく、被測定物３の位置決め作業を簡単に
行うことができる。また、光束１７１の径Ｄを変更する
可変手段１８が設けられているので、光束１７１の径Ｄ
に応じて正確に被測定物３の位置決めを行うことができ
る
【００２１】さらに、被測定物３の位置決めに際して、
検出器１４を回動する必要がないので、背景技術で説明
したように、プローブ１４１が被測定物３に接触して検
出器１４がオーバースケールして壊れることがないう
え、被測定物３の位置の確認に際しても検出器１４が邪
魔になることもないので、被測定物の位置決め作業の一
層の簡単化を図ることができる。そして、可変手段１８
と調整手段２１とを交互に使用することにより、被測定
物３の位置に応じて光束１７１の径Ｄを変更して調整精
度を変化させられるので、被測定物３の位置決め作業の
合理化を図ることができるうえ、極めて精度の高い被測
定物３の位置決めを行うことができる。
検出器１４を回動する必要がないので、背景技術で説明
したように、プローブ１４１が被測定物３に接触して検
出器１４がオーバースケールして壊れることがないう
え、被測定物３の位置の確認に際しても検出器１４が邪
魔になることもないので、被測定物の位置決め作業の一
層の簡単化を図ることができる。そして、可変手段１８
と調整手段２１とを交互に使用することにより、被測定
物３の位置に応じて光束１７１の径Ｄを変更して調整精
度を変化させられるので、被測定物３の位置決め作業の
合理化を図ることができるうえ、極めて精度の高い被測
定物３の位置決めを行うことができる。
【００２２】尚、本発明は、前述の実施形態に限定され
るものではなく、次に示すような変形をも含むものであ
る。すなわち、前述の実施形態では、真円度測定機１は
検出器回転型であったが、これに限らず、背景技術で説
明したテーブル回転型の真円度測定機４であっても本発
明を利用することができ、上述した効果と同様の効果を
享受することができる。尚、この場合は、回転テーブル
４５上の回転軸Ａに対応する位置にに光束手段および可
変手段を組み込んだ光源ユニットを別途設ければよい。
るものではなく、次に示すような変形をも含むものであ
る。すなわち、前述の実施形態では、真円度測定機１は
検出器回転型であったが、これに限らず、背景技術で説
明したテーブル回転型の真円度測定機４であっても本発
明を利用することができ、上述した効果と同様の効果を
享受することができる。尚、この場合は、回転テーブル
４５上の回転軸Ａに対応する位置にに光束手段および可
変手段を組み込んだ光源ユニットを別途設ければよい。
【００２３】さらに、前述の実施形態では、被測定物３
は円柱形状をなしていたが、これに限らず、円筒形材料
の被測定物であっても本発明を利用することができ、さ
らには、当該円筒の内側面測定においても利用すること
ができ、上述と同様の効果を享受することができる。
尚、円筒形材料からなる被測定物にマーキングする場合
は、円筒の上部端面を透明シートで覆い、このシートに
マーキングすればよい。そして、前述の実施形態では、
光束手段１７は通常光を照射するものであったが、これ
に限らず、被測定物３の端面上の光束を確認できるので
あれば、レーザ光を照射する光束手段であってもよい。
その他、本発明の実施の際の具体的な構造および形状等
は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造等として
もよい。
は円柱形状をなしていたが、これに限らず、円筒形材料
の被測定物であっても本発明を利用することができ、さ
らには、当該円筒の内側面測定においても利用すること
ができ、上述と同様の効果を享受することができる。
尚、円筒形材料からなる被測定物にマーキングする場合
は、円筒の上部端面を透明シートで覆い、このシートに
マーキングすればよい。そして、前述の実施形態では、
光束手段１７は通常光を照射するものであったが、これ
に限らず、被測定物３の端面上の光束を確認できるので
あれば、レーザ光を照射する光束手段であってもよい。
その他、本発明の実施の際の具体的な構造および形状等
は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造等として
もよい。
【００２４】
【発明の効果】前述のように、本発明の真円度測定機お
よび真円度測定機の被測定物によれば、光束手段によっ
て真円度測定機の回転軸の位置を被測定物の端面上に明
示することができるので、検出器を回転させる必要なく
簡単に被測定物の位置決めを行うことができるうえ、光
束の径を変更する可変手段が設けられているので、光束
の径に応じて正確に被測定物の位置決めを行うことがで
きる。
よび真円度測定機の被測定物によれば、光束手段によっ
て真円度測定機の回転軸の位置を被測定物の端面上に明
示することができるので、検出器を回転させる必要なく
簡単に被測定物の位置決めを行うことができるうえ、光
束の径を変更する可変手段が設けられているので、光束
の径に応じて正確に被測定物の位置決めを行うことがで
きる。
【図１】本発明の実施形態に係る真円度測定機を表す側
面図である。
面図である。
【図２】前述の実施形態における真円度測定機の内部機
構を表す概要斜視図である。
構を表す概要斜視図である。
【図３】前述の実施形態における真円度測定機による被
測定物の位置決め方法を表す被測定物の上面図である。
測定物の位置決め方法を表す被測定物の上面図である。
【図４】従来のテーブル回転型の真円度測定機を表す側
面図である。
面図である。
【図５】従来の検出器回転型の真円度測定機を表す側面
図である。
図である。
【図６】従来の検出器回転型の真円度測定機による被測
定物の位置決め方法を表す部分側面図である。
定物の位置決め方法を表す部分側面図である。
１ 真円度測定機 ３ 被測定物 ３Ａ 被測定物の軸心 ３Ｂ 被測定物の端面外周 １４ 検出器 １６ テーブル（ＸＹテーブル） １７ 光束手段 １８ 可変手段 ２１ 調整手段 １７１ 光束 １７１Ａ 光束の外周 Ａ 回転軸
Claims (4)
- 【請求項１】被測定物が載置されるテーブルと、 前記被測定物の軸心に沿って前記テーブル上に設定され
る回転軸と、 この回転軸を中心として前記被測定物と相対移動しかつ
前記回転軸から前記被測定物の周面までの距離を測定す
る検出器と、 前記被測定物と前記検出器との相対位置を前記回転軸に
直交しかつ互いに直交する方向に移動する調整手段と、 前記回転軸上に配置されかつ前記被測定物の端面を照ら
す光束手段と、 この光束手段による光束の径を変更する可変手段とを備
えていることを特徴とする真円度測定機。 - 【請求項２】請求項１に記載の真円度測定機において、 前記検出器が前記回転軸を中心に回動することを特徴と
する真円度測定機。 - 【請求項３】被測定物が載置されるテーブルと、 前記被測定物の軸心に沿って前記テーブル上に設定され
る回転軸と、 この回転軸を中心として前記被測定物と相対移動しかつ
前記回転軸から前記被測定物の周面までの距離を測定す
る検出器と、 前記被測定物と前記検出器との相対位置を前記回転軸に
直交しかつ互いに直交する方向に移動する調整手段と、 前記回転軸上に配置されかつ前記被測定物の端面を照ら
す光束手段と、 この光束手段による光束の径を変更する可変手段とを備
えた真円度測定機の被測定物位置決め方法であって、 前記テーブルに載置された前記被測定物の端面に小径の
光束を照らすとともに、この光束と当該被測定物の軸心
とが一致するように前記調整手段によって前記被測定物
と前記検出器との相対位置を調整した後、 前記可変手段によって前記光束の径を拡大するととも
に、この拡大された光束の外周と前記被測定物の端面外
周とが一致するように前記調整手段によって前記被測定
物と前記検出器との相対位置を微調整することを特徴と
する真円度測定機の被測定物位置決め方法。 - 【請求項４】請求項３に記載の真円度測定機の被測定物
位置決め方法において、前記真円度測定機は、前記検出
器が前記回転軸を中心に回動する検出器回転型の真円度
測定機であることを特徴とする真円度測定機の被測定物
位置決め方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5920597A JPH10253334A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 真円度測定機および真円度測定機の被測定物位置決め方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5920597A JPH10253334A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 真円度測定機および真円度測定機の被測定物位置決め方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10253334A true JPH10253334A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=13106689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5920597A Withdrawn JPH10253334A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 真円度測定機および真円度測定機の被測定物位置決め方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10253334A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109737907A (zh) * | 2019-02-15 | 2019-05-10 | 扬州精善达伺服成形装备有限公司 | 一种高精度等径凸轮检修尺 |
| CN111156953A (zh) * | 2020-03-19 | 2020-05-15 | 岭南师范学院 | 一种轴承智能制造加工用表面光滑度检测装置 |
| CN115255306A (zh) * | 2022-08-25 | 2022-11-01 | 中冶赛迪工程技术股份有限公司 | 一种自适应板坯连铸坯在线连续温度检测装置及方法 |
-
1997
- 1997-03-13 JP JP5920597A patent/JPH10253334A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109737907A (zh) * | 2019-02-15 | 2019-05-10 | 扬州精善达伺服成形装备有限公司 | 一种高精度等径凸轮检修尺 |
| CN109737907B (zh) * | 2019-02-15 | 2024-04-09 | 宁波精达成形装备股份有限公司 | 一种高精度等径凸轮检修尺 |
| CN111156953A (zh) * | 2020-03-19 | 2020-05-15 | 岭南师范学院 | 一种轴承智能制造加工用表面光滑度检测装置 |
| CN115255306A (zh) * | 2022-08-25 | 2022-11-01 | 中冶赛迪工程技术股份有限公司 | 一种自适应板坯连铸坯在线连续温度检测装置及方法 |
| CN115255306B (zh) * | 2022-08-25 | 2023-12-15 | 中冶赛迪工程技术股份有限公司 | 一种自适应板坯连铸坯在线连续温度检测装置及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040601 |