JPH10246740A - コンデンサ形計器用変圧器による高調波測定方法および測定装置 - Google Patents
コンデンサ形計器用変圧器による高調波測定方法および測定装置Info
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- JPH10246740A JPH10246740A JP4918597A JP4918597A JPH10246740A JP H10246740 A JPH10246740 A JP H10246740A JP 4918597 A JP4918597 A JP 4918597A JP 4918597 A JP4918597 A JP 4918597A JP H10246740 A JPH10246740 A JP H10246740A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】コンデンサ形計器用変圧器の各高調波次数ごと
の四端子定数を予め求めておき、この定数を用いること
により、任意の時点での一次側の高調波を演算によって
高精度に算出する。 【解決手段】コンデンサ形計器用変圧器を四端子回路網
とした時の四端子定数のうちＡ(n) ＊、Ｂ(n) ＊を予め
求めておき、このＡ(n) ＊、Ｂ(n) ＊と測定時のＶ2(n)
＊およびＩ2(n)＊とから、 Ｖ1(n)＊＝Ａ(n) ＊ Ｖ2(n)＊ ＋ Ｂ(n) ＊ Ｉ2(n)
＊ を演算することにより、Ｖ1(n)＊を求める。
の四端子定数を予め求めておき、この定数を用いること
により、任意の時点での一次側の高調波を演算によって
高精度に算出する。 【解決手段】コンデンサ形計器用変圧器を四端子回路網
とした時の四端子定数のうちＡ(n) ＊、Ｂ(n) ＊を予め
求めておき、このＡ(n) ＊、Ｂ(n) ＊と測定時のＶ2(n)
＊およびＩ2(n)＊とから、 Ｖ1(n)＊＝Ａ(n) ＊ Ｖ2(n)＊ ＋ Ｂ(n) ＊ Ｉ2(n)
＊ を演算することにより、Ｖ1(n)＊を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、コンデンサ形計
器用変圧器を用いて電力系統、特に特別高圧系統に含ま
れる高調波を測定する方法および装置に関する。
器用変圧器を用いて電力系統、特に特別高圧系統に含ま
れる高調波を測定する方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】昨今のパワーエレクトロニクス機器の普
及に伴い、電力系統、特に特高系統における高調波の問
題が指摘されるようになってきており、電力系統での高
調波測定の高精度化のニーズが高まっている。
及に伴い、電力系統、特に特高系統における高調波の問
題が指摘されるようになってきており、電力系統での高
調波測定の高精度化のニーズが高まっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一般に、特高以上の高
電圧系統での高調波測定については、その測定部位の大
半がＰＤ（コンデンサ形計器用変圧器）となるが、ＰＤ
は原理的に基本波に対して共振する回路を形成している
ために、ＰＤを用いて高調波測定を行おうとすると、Ｐ
Ｄ自体の周波数、位相特性、または負担の影響によっ
て、測定誤差が大きくなり、高精度の測定が困難になる
問題がある。
電圧系統での高調波測定については、その測定部位の大
半がＰＤ（コンデンサ形計器用変圧器）となるが、ＰＤ
は原理的に基本波に対して共振する回路を形成している
ために、ＰＤを用いて高調波測定を行おうとすると、Ｐ
Ｄ自体の周波数、位相特性、または負担の影響によっ
て、測定誤差が大きくなり、高精度の測定が困難になる
問題がある。
【０００４】この発明の目的は、コンデンサ形計器用変
圧器の各高調波次数ごとの四端子定数を予め求めてお
き、この定数を用いることにより、任意の時点での一次
側の高調波を演算によって高精度に算出することのでき
る高調波測定方法および装置を提供することにある。
圧器の各高調波次数ごとの四端子定数を予め求めてお
き、この定数を用いることにより、任意の時点での一次
側の高調波を演算によって高精度に算出することのでき
る高調波測定方法および装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、ＰＤを一次
側から二次側への信号伝達特性を持つ四端子回路網と考
えた時、その四端子定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊、Ｃ
(n) ＊、およびＤ(n) ＊は、四端子回路網であるＰＤ自
体が持つ、一義的に決まる固有の値であることに着目し
てなされたものであり、この発明の請求項１に係るコン
デンサ形計器用変圧器の高調波測定方法は、コンデンサ
形計器用変圧器を、この計器用変圧器の２次側に外部か
ら電流を流入させるかまたはフィルタ等のインピーダン
スを挿入することなどにより２次負担に変動を与え、式
（６）（＊はベクトルを表す）、
側から二次側への信号伝達特性を持つ四端子回路網と考
えた時、その四端子定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊、Ｃ
(n) ＊、およびＤ(n) ＊は、四端子回路網であるＰＤ自
体が持つ、一義的に決まる固有の値であることに着目し
てなされたものであり、この発明の請求項１に係るコン
デンサ形計器用変圧器の高調波測定方法は、コンデンサ
形計器用変圧器を、この計器用変圧器の２次側に外部か
ら電流を流入させるかまたはフィルタ等のインピーダン
スを挿入することなどにより２次負担に変動を与え、式
（６）（＊はベクトルを表す）、
【０００６】
【数６】
【０００７】で表される四端子回路網とした時の四端子
定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊を、式（６）に基づく、下記式
（７）（８）
定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊を、式（６）に基づく、下記式
（７）（８）
【０００８】
【数７】
【０００９】
【数８】
【００１０】の連立方程式から求めて予め記憶してお
き、任意の時点のＶ1(n)＊をその時点の測定値Ｖ
2(n)＊、Ｉ2(n)＊を用い、上記（７）式から求めること
を特徴とするものである。
き、任意の時点のＶ1(n)＊をその時点の測定値Ｖ
2(n)＊、Ｉ2(n)＊を用い、上記（７）式から求めること
を特徴とするものである。
【００１１】また、この発明の請求項２に係るコンデン
サ形計器用変圧器による高調波測定装置は、ＰＤ自体の
四端子定数が負担の状態に依存しないことに着目し、予
め測定によって求めた四端子定数をメモリに記憶してお
き、任意の時点に、この四端子定数と二次側の測定電圧
および測定電流とから一次側の高調波を求めるようにし
たものである。
サ形計器用変圧器による高調波測定装置は、ＰＤ自体の
四端子定数が負担の状態に依存しないことに着目し、予
め測定によって求めた四端子定数をメモリに記憶してお
き、任意の時点に、この四端子定数と二次側の測定電圧
および測定電流とから一次側の高調波を求めるようにし
たものである。
【００１２】すなわち、コンデンサ形計器用変圧器を、
式（９）（＊はベクトルを表す）、
式（９）（＊はベクトルを表す）、
【００１３】
【数９】
【００１４】で表される四端子回路網とした時のＡ(n)
＊、Ｂ(n) ＊を予め記憶する手段と、任意の時点のＶ
1(n)＊を、その時点の測定値Ｖ2(n)＊、Ｉ2(n)＊を用
い、
＊、Ｂ(n) ＊を予め記憶する手段と、任意の時点のＶ
1(n)＊を、その時点の測定値Ｖ2(n)＊、Ｉ2(n)＊を用
い、
【００１５】
【数１０】
【００１６】により求める手段と、を備えてなることを
特徴とする。
特徴とする。
【００１７】図１は、系統に接続されたＰＤの状態を示
している。なお、各図においては、ベクトル表示をドッ
ト（・）で示しているが、本明細書では＊で示す。
している。なお、各図においては、ベクトル表示をドッ
ト（・）で示しているが、本明細書では＊で示す。
【００１８】ＰＤは、図示のように、系統の電圧である
一次側電圧Ｖ1(n)＊に対して直列に接続されるコンデン
サＣ１とＣ２、コンデンサＣ２に接続されるインダクタ
Ｌおよび変圧器Ｔｒで構成されている。負担は変圧器Ｔ
ｒの二次側に接続される。なお、サフイックス（ｎ）は
高調波次数を表している。
一次側電圧Ｖ1(n)＊に対して直列に接続されるコンデン
サＣ１とＣ２、コンデンサＣ２に接続されるインダクタ
Ｌおよび変圧器Ｔｒで構成されている。負担は変圧器Ｔ
ｒの二次側に接続される。なお、サフイックス（ｎ）は
高調波次数を表している。
【００１９】図２は、図１のＰＤをブラックボックスと
して扱った場合の四端子回路網を示す。この回路網の特
性を四端子定数（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）で表現すると、
して扱った場合の四端子回路網を示す。この回路網の特
性を四端子定数（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）で表現すると、
【００２０】
【数１１】
【００２１】が成立する。式（１１）は第ｎ次調波ごと
にそれぞれ異なる複素ベクトルであるから、サフイック
ス（ｎ）と＊（ベクトルを表す）を用いている。これを
展開してたときのＶ1(n)＊は、
にそれぞれ異なる複素ベクトルであるから、サフイック
ス（ｎ）と＊（ベクトルを表す）を用いている。これを
展開してたときのＶ1(n)＊は、
【００２２】
【数１２】
【００２３】となる。ここで、Ｖ1(n)＊、Ｖ2(n)＊、Ｉ
2(n)＊が変化した場合を考えると、
2(n)＊が変化した場合を考えると、
【００２４】
【数１３】
【００２５】が設立する。
【００２６】上記式（１２）および（１３）から、ある
高調波次数ｎに関してＰＤの内部回路のみによって定ま
る定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊が求まり、これを今後の測定
の補正係数として用いる。すなわち、任意の時点のＶ
1(n)＊を、上記のようにして求めた補正係数であるＡ
(n) ＊とＢ(n) ＊およびその時点の二次側測定値Ｖ2(n)
＊およびＩ2(n)＊を上記式（１２）に代入して求める。
高調波次数ｎに関してＰＤの内部回路のみによって定ま
る定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊が求まり、これを今後の測定
の補正係数として用いる。すなわち、任意の時点のＶ
1(n)＊を、上記のようにして求めた補正係数であるＡ
(n) ＊とＢ(n) ＊およびその時点の二次側測定値Ｖ2(n)
＊およびＩ2(n)＊を上記式（１２）に代入して求める。
【００２７】このように、予め補正係数である定数Ａ
(n) ＊、Ｂ(n) ＊を決定しておくと、定数Ａ(n) ＊、Ｂ
(n) ＊は、一次側、二次側の条件によっては変動するこ
とのないＰＤ固有の値であるから、任意の時点にＶ2(n)
＊およびＩ2(n)＊を測定し演算処理することで、特高側
系統電圧の高調波を高精度に測定することが可能とな
る。
(n) ＊、Ｂ(n) ＊を決定しておくと、定数Ａ(n) ＊、Ｂ
(n) ＊は、一次側、二次側の条件によっては変動するこ
とのないＰＤ固有の値であるから、任意の時点にＶ2(n)
＊およびＩ2(n)＊を測定し演算処理することで、特高側
系統電圧の高調波を高精度に測定することが可能とな
る。
【００２８】
【発明の実施の形態】この発明に係る高調波測定方法を
実施するには、ＰＤの二次側に負担として高調波測定器
を接続する構成となるが、その測定を行う前に、事前に
ＰＤの四端子定数のうち必要な定数（上述のようにこの
定数は、Ａ(n) ＊とＢ(n) ＊である）を求めておく必要
がある。
実施するには、ＰＤの二次側に負担として高調波測定器
を接続する構成となるが、その測定を行う前に、事前に
ＰＤの四端子定数のうち必要な定数（上述のようにこの
定数は、Ａ(n) ＊とＢ(n) ＊である）を求めておく必要
がある。
【００２９】定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊は次のように
して求める。
して求める。
【００３０】図３は、ＰＤの上記定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n)
＊を求めるための試験回路系を示している。
＊を求めるための試験回路系を示している。
【００３１】ＩＶＲで変圧された４００Ｖ程度の電圧
を、歪み波発生回路１により歪ませて高調波を重畳す
る。この場合の歪み率は可変抵抗Ｒによって変化する。
高調波の重畳された電圧は昇圧用の変圧器によって３０
０ｋＶ程度の高電圧に変圧され一次側電圧としてＰＤの
一次側に入力する。この一次側高電圧はＰＤによって直
接検出されるようになっている。すなわち、昇圧用の変
圧器の二次側に接続されたＰＴの二次側には一次側高調
波測定器２が接続されており、これにより、上記一次側
高電圧の各次数ごとの高調波電圧Ｖ1(n)＊が測定され
る。なお、ＰＴは、ＰＤに比して、その負担の状態や周
波数によって受ける影響はかなり小さい。このため、一
次側高調波測定器２で測定される一次側電圧の高調波測
定精度は比較的高いものとなる。ＰＤの二次側には二次
側高調波測定器３が接続され、ここで、ＰＤの二次側に
表れる各次数ごとの高調波電圧Ｖ2(n)＊および高周波電
流Ｉ2(n)＊が測定される。Ｖ1(n)＊、Ｖ2(n)＊、Ｉ2(n)
＊の各値を、測定条件を変えて最低二回測定することに
より、それらの値を上記式（１２）に代入して連立方程
式を解くことで次数（ｎ）の定数Ａ(n) ＊およびＢ(n)
＊を求めることができる。
を、歪み波発生回路１により歪ませて高調波を重畳す
る。この場合の歪み率は可変抵抗Ｒによって変化する。
高調波の重畳された電圧は昇圧用の変圧器によって３０
０ｋＶ程度の高電圧に変圧され一次側電圧としてＰＤの
一次側に入力する。この一次側高電圧はＰＤによって直
接検出されるようになっている。すなわち、昇圧用の変
圧器の二次側に接続されたＰＴの二次側には一次側高調
波測定器２が接続されており、これにより、上記一次側
高電圧の各次数ごとの高調波電圧Ｖ1(n)＊が測定され
る。なお、ＰＴは、ＰＤに比して、その負担の状態や周
波数によって受ける影響はかなり小さい。このため、一
次側高調波測定器２で測定される一次側電圧の高調波測
定精度は比較的高いものとなる。ＰＤの二次側には二次
側高調波測定器３が接続され、ここで、ＰＤの二次側に
表れる各次数ごとの高調波電圧Ｖ2(n)＊および高周波電
流Ｉ2(n)＊が測定される。Ｖ1(n)＊、Ｖ2(n)＊、Ｉ2(n)
＊の各値を、測定条件を変えて最低二回測定することに
より、それらの値を上記式（１２）に代入して連立方程
式を解くことで次数（ｎ）の定数Ａ(n) ＊およびＢ(n)
＊を求めることができる。
【００３２】測定条件を変える方法としては、図３に示
すように、測定毎に歪み波発生回路１の可変抵抗Ｒを適
当に変化させてＰＤの一次側の条件を変える方法があ
る。また、図４に示すようにＰＤの二次側にインピーダ
ンスＺとスイッチＳの直列回路を接続し、スイッチＳを
開閉することによりＰＤの二次側負担を変化させる方法
がある。また、求めた定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊の誤
差を少なくするために、ＰＤの一次側または二次側負担
の条件を数多く変化させ、これによって得られる多数の
Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊を平均あるいは最小二乗法等の
平均化処理によって求めることもできる。
すように、測定毎に歪み波発生回路１の可変抵抗Ｒを適
当に変化させてＰＤの一次側の条件を変える方法があ
る。また、図４に示すようにＰＤの二次側にインピーダ
ンスＺとスイッチＳの直列回路を接続し、スイッチＳを
開閉することによりＰＤの二次側負担を変化させる方法
がある。また、求めた定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊の誤
差を少なくするために、ＰＤの一次側または二次側負担
の条件を数多く変化させ、これによって得られる多数の
Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊を平均あるいは最小二乗法等の
平均化処理によって求めることもできる。
【００３３】また、図３ではＰＤを試験回路系に接続す
ることによってそのＰＤの定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊
を測定しているが、実際の系統に配置されているＰＤの
定数を求めるには現実的でない。そこで、このようなＰ
Ｄに対しては、図５に示すように一次側電流Ｉ1(n)＊を
電流検出器４で検出し、これを電流積分回路５で積分す
ることによってＶ1(n)＊を測定することが可能である。
また、一次側にＰＴが配置されている場合には、このＰ
Ｔの二次側出力でＶ1(n)＊を測定することもできる。
ることによってそのＰＤの定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊
を測定しているが、実際の系統に配置されているＰＤの
定数を求めるには現実的でない。そこで、このようなＰ
Ｄに対しては、図５に示すように一次側電流Ｉ1(n)＊を
電流検出器４で検出し、これを電流積分回路５で積分す
ることによってＶ1(n)＊を測定することが可能である。
また、一次側にＰＴが配置されている場合には、このＰ
Ｔの二次側出力でＶ1(n)＊を測定することもできる。
【００３４】次に、上記のようにして求められた四端子
定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊を用いて、任意の時点の系統の
Ｖ1(n)＊を測定する装置について説明する。
定数Ａ(n) ＊、Ｂ(n) ＊を用いて、任意の時点の系統の
Ｖ1(n)＊を測定する装置について説明する。
【００３５】図６は、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊が既知の
ＰＤの二次側に高調波測定器６を接続した状態を示して
いる。図７は、この高調波測定器６の構成図を示す。Ｐ
Ｄの二次側電圧、電流は、それぞれＰＴ（計器用変圧
器）およびＣＴ（計器用変成器）を介してレベル調整回
路１０ａ、１０ｂに入力され、適当な電圧レベルに変換
されたのちローパスフィルタ１１ａ、１１ｂに入力され
る。ここでは、後のディジタル処理による折り返し誤差
によって影響を受けるのを避けるた めに、所定周波数
以上の周波数成分を阻止する低域濾過を行う。サンプル
ホールド回路１２ａ、１２ｂは入力信号を所定周期でサ
ンプリングしホールドする。ＡＤコンバータ１３ａ、１
３ｂは、ホールドされた信号をディジタルデータに変換
する。ＣＰＵ１４は、メモリ１５に予め記憶されている
四端子定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊と測定データＶ2(n)
＊およびＩ2(n)＊を用いてＶ1(n)＊を求める動作を行
う。なお、各ｎ次調波の高調波Ｖ2(n)＊およびＩ2(n)＊
は、測定された二次電圧および二次電流をＦＦＴ処理す
ることによって求められる。さらに、ＣＰＵ１４は、イ
ンターフェイス１６を介してプリンタ１７に対し所定次
数までのＶ1(n)＊を印字し、必要に応じてそのスペクト
ル強度をグラフィック出力する。時計回路１８は、現在
の日付および時刻を計時する。ＣＰＵ１４は、この時計
回路１８の計時に応じて、所定のタイミングで一定数の
サンプリングを行い、順次自動的に高調波分析を行って
いく。
ＰＤの二次側に高調波測定器６を接続した状態を示して
いる。図７は、この高調波測定器６の構成図を示す。Ｐ
Ｄの二次側電圧、電流は、それぞれＰＴ（計器用変圧
器）およびＣＴ（計器用変成器）を介してレベル調整回
路１０ａ、１０ｂに入力され、適当な電圧レベルに変換
されたのちローパスフィルタ１１ａ、１１ｂに入力され
る。ここでは、後のディジタル処理による折り返し誤差
によって影響を受けるのを避けるた めに、所定周波数
以上の周波数成分を阻止する低域濾過を行う。サンプル
ホールド回路１２ａ、１２ｂは入力信号を所定周期でサ
ンプリングしホールドする。ＡＤコンバータ１３ａ、１
３ｂは、ホールドされた信号をディジタルデータに変換
する。ＣＰＵ１４は、メモリ１５に予め記憶されている
四端子定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊と測定データＶ2(n)
＊およびＩ2(n)＊を用いてＶ1(n)＊を求める動作を行
う。なお、各ｎ次調波の高調波Ｖ2(n)＊およびＩ2(n)＊
は、測定された二次電圧および二次電流をＦＦＴ処理す
ることによって求められる。さらに、ＣＰＵ１４は、イ
ンターフェイス１６を介してプリンタ１７に対し所定次
数までのＶ1(n)＊を印字し、必要に応じてそのスペクト
ル強度をグラフィック出力する。時計回路１８は、現在
の日付および時刻を計時する。ＣＰＵ１４は、この時計
回路１８の計時に応じて、所定のタイミングで一定数の
サンプリングを行い、順次自動的に高調波分析を行って
いく。
【００３６】図８は、上記高調波測定器６の概略の動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【００３７】測定タイミングになると（ｎ１）二次電圧
ｅと二次電流ｉを一定数サンプリングし（たとえば基本
波１周期分）、ＦＦＴにより二次側の高調波成分Ｖ2(n)
＊２およびＩ2(n)＊を抽出する（ｎ３）。次に、この抽
出した高調波成分とメモリに予め記憶しているＡ(n) ＊
およびＢ(n) ＊を上記式（１２）に代入することにより
所定次数までのＶ1(n)＊を算出して（ｎ４）印字出力す
る（ｎ５）。
ｅと二次電流ｉを一定数サンプリングし（たとえば基本
波１周期分）、ＦＦＴにより二次側の高調波成分Ｖ2(n)
＊２およびＩ2(n)＊を抽出する（ｎ３）。次に、この抽
出した高調波成分とメモリに予め記憶しているＡ(n) ＊
およびＢ(n) ＊を上記式（１２）に代入することにより
所定次数までのＶ1(n)＊を算出して（ｎ４）印字出力す
る（ｎ５）。
【００３８】なお、メモリ１５にＡ(n) ＊およびＢ(n)
＊を記憶するには、入力キーを用いることができる。す
なわち、ＰＤのＡ(n) ＊およびＢ(n) ＊は予め測定され
ているから、そのＰＤに高調波測定器６を接続した状態
でＡ(n) ＊Ｂ(n) ＊を入力してメモリ１５に記憶させ
る。
＊を記憶するには、入力キーを用いることができる。す
なわち、ＰＤのＡ(n) ＊およびＢ(n) ＊は予め測定され
ているから、そのＰＤに高調波測定器６を接続した状態
でＡ(n) ＊Ｂ(n) ＊を入力してメモリ１５に記憶させ
る。
【００３９】図９は、図３に示す試験回路系によって、
あるＰＤの四端子定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊を演算に
よって求めた結果を示している。図において各実測値は
基本波に対する第３次調波の含有率および位相をそれぞ
れ示している。１０個の実測値において、それぞれ試験
条件の組み合わせを変えて定数Ａ(n) ＊およびＢ(n)＊
を求める。たとえば、１回目の実測値と７回目の実測値
を試験条件として用いた場合（図３の表の上から５番目
の試験条件）、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊として、それぞ
れ、６６５．３８＋ｊ１５．０４６および１５１．８６
＋ｊ８１１３．７が上記式（１２）および式（１３）か
ら求められる。なお、試験条件として複数の組を用いた
場合は、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊について各試験条件で
求められたものが平均処理される。
あるＰＤの四端子定数Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊を演算に
よって求めた結果を示している。図において各実測値は
基本波に対する第３次調波の含有率および位相をそれぞ
れ示している。１０個の実測値において、それぞれ試験
条件の組み合わせを変えて定数Ａ(n) ＊およびＢ(n)＊
を求める。たとえば、１回目の実測値と７回目の実測値
を試験条件として用いた場合（図３の表の上から５番目
の試験条件）、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊として、それぞ
れ、６６５．３８＋ｊ１５．０４６および１５１．８６
＋ｊ８１１３．７が上記式（１２）および式（１３）か
ら求められる。なお、試験条件として複数の組を用いた
場合は、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊について各試験条件で
求められたものが平均処理される。
【００４０】上記の演算結果に示すように、求めたＡ
(n) ＊およびＢ(n) ＊を用いて式（１２）により演算し
た一次電圧の演算値と実測値との差である誤差は、二次
電圧と一次電圧の差が大きくない場合（実測値１から６
は両者の差がそれほど大きくない）１％を超えていない
ことがわかる。通常、実測値９や１０のように一次電圧
と二次電圧の実測値が大きく違うケースはそれほどない
と考えられるために、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊は負担の
変化にほとんど依存することがないといえる。第５次調
波や第７次調波などの他の高調波についても同様であ
る。このため、このようにして求めた四端子定数Ａ(n)
＊およびＢ(n) ＊を補正係数として求めて式（１２）に
代入することにより任意の時点のＶ1(n)＊を高精度に測
定することができる。
(n) ＊およびＢ(n) ＊を用いて式（１２）により演算し
た一次電圧の演算値と実測値との差である誤差は、二次
電圧と一次電圧の差が大きくない場合（実測値１から６
は両者の差がそれほど大きくない）１％を超えていない
ことがわかる。通常、実測値９や１０のように一次電圧
と二次電圧の実測値が大きく違うケースはそれほどない
と考えられるために、Ａ(n) ＊およびＢ(n) ＊は負担の
変化にほとんど依存することがないといえる。第５次調
波や第７次調波などの他の高調波についても同様であ
る。このため、このようにして求めた四端子定数Ａ(n)
＊およびＢ(n) ＊を補正係数として求めて式（１２）に
代入することにより任意の時点のＶ1(n)＊を高精度に測
定することができる。
【００４１】
【発明の効果】この発明によれば、系統の変化や負担の
変化があっても一次側の高調波を簡単に正確に測定でき
るという効果がある。
変化があっても一次側の高調波を簡単に正確に測定でき
るという効果がある。
【図１】系統に接続されたＰＤを示す図
【図２】上記ＰＤを四端子回路網として表した図
【図３】ＰＤの４端子定数を求めるための試験回路系を
示す図
示す図
【図４】図３の試験回路系において測定条件を変える他
の例を示す図
の例を示す図
【図５】系統の一次側電圧を測定する他の例を示す図
【図６】ＰＤを用いた高調波測定装置の構成図
【図７】高調波測定器のブロック図
【図８】高調波測定器の概略の動作を示すフローチャー
ト
ト
【図９】各実測値に基づいて求めた定数Ａ(n) ＊および
Ｂ(n) ＊と、その定数を用いた演算値、および実測値と
演算値との誤差を示す表を示す図
Ｂ(n) ＊と、その定数を用いた演算値、および実測値と
演算値との誤差を示す表を示す図
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松浦 芳彦 香川県高松市屋島西町2109番地８ 株式会 社四国総合研究所内 (72)発明者 石山 宏 香川県高松市屋島西町2109番地８ 株式会 社四国総合研究所内 (72)発明者 角田 孝典 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地 日 新電機株式会社内 (72)発明者 加村 勉 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地 日 新電機株式会社内 (72)発明者 宮田 泰之 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地 日 新電機株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】コンデンサ形計器用変圧器を、式（１）
（＊はベクトルを表す）、 【数１】 で表される四端子回路網とした時の四端子定数Ａ
(n) ＊、Ｂ(n) ＊を、式（１）に基づく、下記式（２）
（３）、 【数２】 【数３】 の連立方程式から求めて予め記憶しておき、任意の時点
のＶ1(n)＊をその時点の測定値Ｖ2(n)＊、Ｉ2(n)＊を用
い、上記（２）式から求めることを特徴とする、コンデ
ンサ形計器用変圧器による高調波測定方法。 - 【請求項２】コンデンサ形計器用変圧器を、式（４）
（＊はベクトルを表す）、 【数４】 で表される四端子回路網とした時のＡ(n) ＊、Ｂ(n) ＊
を予め記憶する手段と、 任意の時点のＶ1(n)＊を、その時点の測定値Ｖ2(n)＊、
Ｉ2(n)＊を用い、 【数５】 により求める手段と、を備えてなるコンデンサ形計器用
変圧器による高調波測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4918597A JPH10246740A (ja) | 1997-03-04 | 1997-03-04 | コンデンサ形計器用変圧器による高調波測定方法および測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4918597A JPH10246740A (ja) | 1997-03-04 | 1997-03-04 | コンデンサ形計器用変圧器による高調波測定方法および測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10246740A true JPH10246740A (ja) | 1998-09-14 |
Family
ID=12823987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4918597A Pending JPH10246740A (ja) | 1997-03-04 | 1997-03-04 | コンデンサ形計器用変圧器による高調波測定方法および測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10246740A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109856585A (zh) * | 2019-02-28 | 2019-06-07 | 国网福建省电力有限公司莆田供电公司 | 一种电压互感器串联谐振升压过程中谐振状态判断方法 |
| CN113671245A (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-19 | 国网陕西省电力公司电力科学研究院 | 内置时域积分功能的数字接口及时域下一次电压采集方法 |
| CN115219975A (zh) * | 2022-07-07 | 2022-10-21 | 中广核新能源安徽有限公司 | 一种电容式电压互感器谐波误差测量修正装置及修正方法 |
-
1997
- 1997-03-04 JP JP4918597A patent/JPH10246740A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109856585A (zh) * | 2019-02-28 | 2019-06-07 | 国网福建省电力有限公司莆田供电公司 | 一种电压互感器串联谐振升压过程中谐振状态判断方法 |
| CN109856585B (zh) * | 2019-02-28 | 2020-12-18 | 国网福建省电力有限公司莆田供电公司 | 一种电压互感器串联谐振升压过程中谐振状态判断方法 |
| CN113671245A (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-19 | 国网陕西省电力公司电力科学研究院 | 内置时域积分功能的数字接口及时域下一次电压采集方法 |
| CN115219975A (zh) * | 2022-07-07 | 2022-10-21 | 中广核新能源安徽有限公司 | 一种电容式电压互感器谐波误差测量修正装置及修正方法 |
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