JPH10239298A

JPH10239298A - 液体クロマトグラフ質量分析装置

Info

Publication number: JPH10239298A
Application number: JP9059988A
Authority: JP
Inventors: Yasufumi Tanaka; 靖文田中
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1997-02-26
Filing date: 1997-02-26
Publication date: 1998-09-11

Abstract

(57)【要約】【課題】イオン化及び質量分析器へのイオンの導入を
最適に行なう。【解決手段】試料溶液が供給されるノズル１１先端に
印加する高電圧の電流値を第１電流測定部１４で、ヒー
テッドキャピラリ１２に印加する電圧を第２電流測定部
１６で検出する。イオン噴霧の状態が良好であるときに
は単位時間当たりに液滴に与える電荷量が大きくなるの
で、電流値Ｉnは大きい。一方、ヒーテッドキャピラリ
１２に捕捉されずに通り抜けるイオンが多いほど、電流
値Ｉhは小さい。そこで、制御部５０は、Ｉnが最大、Ｉ
hが最小となるように第１及び第２電圧発生部１３、１
５の電圧を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フ質量分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図３は、液体クロマトグラフ質量分析装
置（ＬＣ／ＭＳ）の一例を示す概略構成図である。液体
クロマトグラフ部（ＬＣ部）７０の分離カラム７１内か
ら時間的に分離して溶出する試料溶液はインタフェイス
部８０に導入され、ニードル８１先端のノズルから噴霧
されイオン化される。発生したイオンは、インタフェイ
ス部８０と質量分析部（ＭＳ部）９０との間に設けられ
たヒーテッドキャピラリ８２を通ってＭＳ部９０へと送
り込まれる。そして、イオンレンズ９１により収束及び
加速されて四重極フィルタ９２に送られ、特定の質量数
（質量ｍ／電荷ｚ）を有する目的イオンのみが四重極フ
ィルタ９２を通り抜けて検出器９３により検出される。

【０００３】インタフェイス部８０は、試料溶液を加
熱、高速気流、高電界等によって霧化させることで気体
イオンを生成するものであって、大気圧化学イオン化法
（ＡＰＣＩ）やエレクトロスプレイイオン化法（ＥＳ
Ｉ）が最も広く使用されている。ＡＰＣＩでは、ニード
ル８１先端の前方に針電極を配置しておき、ニードル８
１において加熱により霧化した試料溶液の液滴に、針電
極からのコロナ放電により生成したキャリアガスイオン
（バッファイオン）を化学反応させてイオン化を行な
う。一方、ＥＳＩでは、ニードル８１に数ｋＶ程度の高
電圧を印加し、ニードル８１先端付近に強い不平等電界
を発生させる。試料溶液はこの電界により電荷分離し、
クーロン引力により引きちぎられて霧化する。周囲の空
気に触れて液滴中の溶媒は蒸発し、気体イオンが発生す
る。

【０００４】上記ＡＰＣＩ又はＥＳＩのいずれの方法で
も、生成したイオンを含む液滴は加熱されているヒーテ
ッドキャピラリ８２の中に飛び込み、ヒーテッドキャピ
ラリ８２を通ってＭＳ部９０へ輸送される間に、液滴中
の溶媒の蒸発が進む。液滴のサイズが小さくなるとクー
ロン反発による自発的な液滴破壊が一層進行するので、
目的イオンの発生も促進される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記構成のＬＣ／ＭＳ
において分析感度を向上するためには、インタフェイス
部８０で試料溶液を効率的にイオン化すること、及び、
生成したイオンを無駄なく四重極フィルタ９２（又は他
の質量分析器）へ導入することが重要である。このため
には、インタフェイス部８０及びＭＳ部９０における各
種パラメータ（例えば、ＥＳＩを使用する際のニードル
８１への印加電圧、ヒーテッドキャピラリ８２の加熱温
度等）を適正に設定する必要がある。従来、実際に検出
器９３の出力にてイオン量を測定しながら、測定者が上
記パラメータの幾つかをそれぞれ調整するようなことは
行なわれていた。しかしながら、これらのパラメータは
互いに関連することが多いため、それぞれのパラメータ
を適切に設定することは難しく、特に初心者にとっては
殆ど不可能であった。

【０００６】本発明は上記課題を解決するために成され
たものであり、その目的とするところは、インタフェイ
ス部及び質量分析部の前段における各種パラメータを適
正に自動設定することにより、イオン化及び質量分析器
へのイオンの導入を最適に行なって分析感度を向上する
ことができる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供す
ることにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、液体クロマトグラフ部から与えら
れる試料溶液を霧化及びイオン化するイオン化部と、該
イオン化部で生成したイオンを質量分析部へ輸送するた
めのキャピラリとを備える液体クロマトグラフ質量分析
装置において、 a)試料溶液を噴霧するためのニードルと、 b)該ニードル又は該ニードル先端の外側近傍に配置され
た放電電極に高電圧を印加する第１電圧印加手段と、 c)該第１電圧印加手段からの電圧により流れる電流を検
出する第１電流検出手段と、 d)前記キャピラリに電圧を印加する第２電圧印加手段
と、 e)該第２電圧印加手段からの電圧により流れる電流を検
出する第２電流検出手段と、 f)前記キャピラリを加熱する加熱手段と、 g)前記第１及び第２電流検出手段の検出値に基づいて前
記第１及び第２電圧印加手段並びに加熱手段を制御する
制御手段と、を備えることを特徴としている。

【０００８】

【発明の実施の形態】第１電流検出手段は、ＡＰＣＩの
構成又は配置では第１電圧印加手段から放電電極に供給
される電流を検出し、ＥＳＩの構成又は配置では第１電
圧印加手段からニードルに供給される電流を検出する。
ＡＰＣＩでは、放電電極からのコロナ放電により生成さ
れるバッファイオンと噴霧された液滴中の試料との化学
反応により目的イオンが発生し、一方、ＥＳＩでは、ニ
ードルに印加された電圧により霧化して帯電液滴とな
り、溶媒が蒸発して目的イオンが取り出される。従っ
て、いずれの場合にも、第１電流検出手段により検出さ
れる電流が大きいほど、ニードルからの液滴の噴霧の状
態が良好であると推測できる。

【０００９】一方、キャピラリには、生成したイオンを
集めるために目的イオンと逆極性の電圧が第２電圧印加
手段により加えられる。この電圧によって生じる電流は
キャピラリに誘引され捕捉されたイオンに起因するか
ら、キャピラリに捕捉されずに通り抜けるイオンが多い
ほど第２電流検出手段の検出電流は小さくなる。また、
キャピラリは、その内部に飛び込んだ液滴を乾燥してイ
オン化を一層促進するために、加熱手段により適度な温
度に加熱される。ニードルからの噴霧の状態が良好であ
って飛び込む液滴の量が多いと、キャピラリの熱容量が
大きくなるから、加熱電力が変わらないとすると、キャ
ピラリの温度が低下して適正な液滴の乾燥が行なえなく
なる。

【００１０】そこで、制御手段は、第１電流検出手段の
検出結果によりイオンの発生量を推定すると共に、第２
電流検出手段の検出結果によりキャピラリに捕捉される
イオンの量を推定する。そして、イオンの発生量が最大
となる一方キャピラリでのイオンの捕捉量が最小となる
ように印加電圧を調整すべく、第１及び第２電圧印加手
段を制御する。更に、第１電流検出手段の検出結果を基
に液滴量の増減に応じたキャピラリの熱容量の増減を考
慮し、加熱電力を調整するように加熱手段を制御する。

【００１１】キャピラリには、通常、温度センサが設け
られており、制御手段は温度センサによる検出温度が所
定値となるように加熱電力を制御している。しかしなが
ら、このような加熱制御は既に発生した温度変動を修正
するものであり、液滴量の急激な増減による急峻な温度
変動を抑えることはできない。これに対し、上記のよう
に、第１電流検出手段の検出結果を用いて加熱制御を行
なうことにより、実際に温度変動が生じる以前に加熱電
力を調整することができるので、急峻な温度変動を抑制
することができる。

【００１２】

【発明の効果】以上のように、本発明の液体クロマトグ
ラフ質量分析装置によれば、インタフェイス部及び質量
分析部の前段においてイオンの発生及びイオンの輸送が
最適な状態となるようにパラメータが自動的に調整され
る。これにより、測定者自身が面倒なパラメータの調整
を行なわずとも、より多くのイオンが四重極フィルタ等
の質量分析器に導入されるので、分析感度を向上させる
ことができる。

【００１３】

【実施例】以下、本発明に係る液体クロマトグラフ質量
分析装置の一実施例を図１により説明する。本実施例で
はイオン化インタフェイスとしてＥＳＩを利用してい
る。このＬＣ／ＭＳでは、ノズル１１が配設された大気
圧下の霧化室１０と質量分析器４１（図１では四重極フ
ィルタを示したが、磁場型質量分析器等、他の質量分析
器であってもよい）が配設された高真空の質量分析室４
０との間に、第１及び第２中間真空室２０、３０が設け
られている。霧化室１０と第１中間真空室２０との間に
はヒーテッドキャピラリ１２が、第１中間真空室２０と
第２中間真空室３０との間には極小径の通過孔を有する
スキマー２２が設けられている。また、ヒーテッドキャ
ピラリ１２とスキマー２２との間にはイオンビームの通
過方向を挟んで対向する４面にそれぞれ偏向電極２１ａ
〜２１ｄが配置され、第２中間真空室３０内にはイオン
ビームの通過方向に沿って５枚のレンズ電極３１ａ〜３
１ｅが配置されている。第１中間真空室２０はロータリ
ーポンプ（ＲＰ）によって約１Torr程度まで排気され、
第２中間真空室３０はターボ分子ポンプ（ＴＭＰ１）に
よって約１０^-3〜１０^-4Torr程度まで排気される。ま
た、質量分析室４０はターボ分子ポンプ（ＴＭＰ２）に
よって約１０^-5〜１０^-6Torr程度まで排気される。

【００１４】前段のＬＣ部のカラムに連結されているノ
ズル１１には第１電圧発生部１３から数ｋＶ程度の高電
圧が印加され、第１電流測定部１４はこの印加電圧によ
って流れる電流を検出してその検出値Ｉnを制御部５０
に送る。ヒーテッドキャピラリ１２には第２電圧発生部
１５から電圧が印加され、第２電流測定部１６はこの印
加電圧によって流れる電流を検出してその検出値Ｉhを
制御部５０に送る。また、ヒーテッドキャピラリ１２
は、加熱電力発生部１８から供給される加熱電力によっ
て発熱するヒータ１７により加熱され、密着して取り付
けられた白金センサ等の温度センサ１９により検出され
た温度Ｔrが制御部５０へ送られる。

【００１５】第１中間真空室２０内の４枚の偏向電極２
１ａ〜２１ｄにはそれぞれ第８〜第１１電圧発生部２３
ａ〜２３ｄ（第９及び第１０電圧発生部２３ｂ、２３ｃ
は図中では省略している）から電圧が印加される。ま
た、第２中間真空室３０内の５枚のレンズ電極３１ａ〜
３１ｅ（レンズ電極３１ｂ〜３１ｄの符号は図中には記
載していない）には、それぞれ第３〜第７電圧発生部３
２ａ〜３２ｅ（第４〜第６電圧発生部３２ｂ〜３２ｄは
図中では省略している）から電圧が印加され、第３〜第
７電流測定部３３ａ〜３３ｅ（第４〜第６電流測定部３
３ｂ〜３３ｄは図中では省略している）はこれらの印加
電圧によって流れる電流を検出して各検出値ＩL1〜ＩL5
を制御部５０に送る。

【００１６】制御部５０は、例えばＣＰＵを中心とした
マイクロコンピュータから構成されており、ノズル１１
に供給された試料溶液を最適にイオン化すると共に発生
した目的イオンを無駄なく質量分析器４１へ導入するた
めに、第１〜第１１電圧発生部１３、１５、２３ａ〜２
３ｄ、３２ａ〜３２ｅ及び加熱電力発生部１８を以下の
ように制御する。

【００１７】まず、試料溶液をイオン化する前に、第１
〜第１１電圧発生部１３、１５、２３ａ〜２３ｄ、３２
ａ〜３２ｅがそれぞれ予め定めた初期電圧を発生するよ
うに制御し、このとき第１〜第７電流測定部１４、１
６、３３ａ〜３３ｅにて検出された電流値をそれぞれ暗
電流として記憶しておく。ここで、電流値Ｉn、Ｉh、Ｉ
L1〜ＩL5に対する暗電流を、それぞれＩnd、Ｉhd、ＩLd
1〜ＩLd5として表わす。

【００１８】（１）ノズル及びヒーテッドキャピラリ
のパラメータ調整ＥＳＩでは、ノズル１１に印加された高電圧により生じ
る試料溶液の電荷の偏りによって帯電液滴が噴霧され、
液滴中の溶媒が蒸発したり液滴が分裂したりする過程で
イオンが発生する。従って、液滴の有する電荷は第１電
圧発生部１３から印加される電圧によって与えられるも
のであり、ノズル１１からの液滴の噴霧の状態は電流値
Ｉnと関連している。すなわち、液滴の噴霧の状態が良
好であってイオンの発生量が多いときには、電流値Ｉn
は大きな値となる。

【００１９】一方、ヒーテッドキャピラリ１２には、イ
オンを含む帯電液滴を誘引するために、目的イオンと逆
極性の電圧（通常、数〜数十Ｖ程度）が第２電圧発生部
１５により印加される。ヒーテッドキャピラリ１２内に
飛び込んだ液滴は、ヒータ１７により数百℃に加熱され
ているヒーテッドキャピラリ１２を通り抜ける間に、溶
媒が蒸発しイオンの生成が促進される。しかしながら、
一部の帯電液滴（又はイオン）は、ヒーテッドキャピラ
リ１２に接触し電荷を放出する。これが、第２電圧発生
部１５からの印加電圧により流れる電流となる。従っ
て、ヒーテッドキャピラリ１２に捕捉されずに通り抜け
るイオンの度合が高いほど、電流値Ｉhは小さな値とな
る。

【００２０】そこで、イオン化の際に、制御部５０は電
流値Ｉn、Ｉhを取得すると、それぞれ暗電流Ｉnd、Ｉhd
を減じた、イオンによる電流の増加分（Ｉn−Ｉnd）、
（Ｉh−Ｉhd）を算出する。そして、（Ｉn−Ｉnd）が最
大となり、（Ｉh−Ｉhd）が最小となるように、第１電
圧発生部１３の印加電圧、第２電圧発生部１５の印加電
圧及び加熱電力発生部１８の加熱電力をそれぞれ決定す
る。

【００２１】具体的には、例えば、次のような手順で各
パラメータを決定する。まず、第２電圧発生部１５の印
加電圧を所定の基準電圧（上記初期電圧と同じでよい）
に設定すると共に、温度センサ１９で検出する温度Ｔr
が所定温度となるように加熱電力発生部１８の加熱電力
を設定する。そして、その状態で第１電圧発生部１３の
印加電圧を所定の範囲内で走査し、（Ｉn−Ｉnd）が最
大となる電圧を探して、第１電圧発生部１３の印加電圧
をその値に設定する。次に、第２電圧発生部１５の印加
電圧を基準電圧を中心とした所定範囲内で走査し、（Ｉ
h−Ｉhd）が最小となる電圧を探して、第２電圧発生部
１５の印加電圧をその値に設定する。更に、再度、第１
電圧発生部１３の電圧を先に設定した電圧を中心に所定
範囲で走査し、（Ｉn−Ｉnd）が所定値以上増加する電
圧がその範囲内で存在するか否かを調べ、そのような電
圧が存在しないときには、第１及び第２電圧発生部１
３、１５の電圧を先の設定電圧に決定する。もし、（Ｉ
n−Ｉnd）が所定値以上増加するような電圧が存在する
場合には、その電圧を第１電圧発生部１３の新しい設定
電圧とし、再び第２電圧発生部１５の印加電圧を走査し
て（Ｉh−Ｉhd）が最小となる電圧を探す。そして、こ
のような処理を繰り返すことにより最適な設定電圧を決
定する。

【００２２】第１及び第２電圧発生部１３、１５の設定
電圧が決定したならば、次に加熱電力を決定する。制御
部５０は、温度センサ１９による現時点での検出温度Ｔ
r、制御目標温度及びヒーテッドキャピラリ１２の熱容
量をパラメータとする所定の計算式に基づいてヒータ１
７に供給すべき電力を算出し、加熱電力発生部１８を制
御する。ヒーテッドキャピラリ１２の熱容量は、ノズル
１１からの液滴の噴霧状態に依存している。すなわち、
噴霧量が多くヒーテッドキャピラリ１２内に飛び込む液
滴量が多いと、熱がより多く奪われるため熱容量が増加
する。逆に、噴霧量が少なくヒーテッドキャピラリ１２
に飛び込む液滴量が少ないと、熱が奪われ難いため熱容
量は低下する。上述のように、（Ｉn−Ｉnd）に基づい
て液滴の噴霧状態は推定できるから、制御部５０は（Ｉ
n−Ｉnd）に応じて熱容量のパラメータを修正する。こ
れにより、温度センサ１９により実際の温度変化を検知
する以前に、液滴量に応じてヒータ１７に供給する加熱
電力が調整される。このため、ヒーテッドキャピラリ１
２の温度が安定し、液滴中の溶媒の蒸発が適切に行なわ
れる。

【００２３】（２）偏向電極及びレンズ電極のパラメー
タ調整ヒーテッドキャピラリ１２を通過してきたイオンは第１
中間真空室２０に導入され、４枚の偏向電極２１ａ〜２
１ｄで囲まれる空間に入る。通常、４枚の偏向電極２１
ａ〜２１ｄには目的イオンと同極性の直流電圧（通常、
数十Ｖ程度）が印加される。このため、目的イオンは各
偏向電極２１ａ〜２１ｄにより反発され、中央側に収束
される。また、４枚の偏向電極２１ａ〜２１ｄに印加す
る電圧の大きさを後述のようにそれぞれ適当に設定する
ことにより、収束されたイオン及び荷電粒子のビームを
偏向させることができる。従って、例えば、ヒーテッド
キャピラリ１２から出射するビームの方向とスキマー２
２の微小孔との位置がずれていても、ビームをスキマー
２２の微小孔に正しく導くことができる。また、意図的
にスキマー２２の微小孔の位置をずらすことにより、質
量数の大きな荷電粒子を排除した上で目的イオンから成
るビームをスキマー２２の微小孔に通過させるようにす
ることもできる。

【００２４】スキマー２２の微小孔を通過してきたイオ
ンは第２中間真空室３０に導入され、中央が円形状に開
口した円板形状のレンズ電極３１ａ〜３１ｅによって加
速される。各レンズ電極３１ａ〜３１ｅには目的イオン
と逆極性の電圧を印加し、各電圧を適当に調整すること
によりイオンに与える運動エネルギーを制御することが
できる。各レンズ電極３１ａ〜３１ｅに流れる電流は、
ヒーテッドキャピラリ１２と同様に、各レンズ電極３１
ａ〜３１ｅに捕捉されるイオン（又は荷電粒子）に起因
する。従って、途中で捕捉されずに通過するイオン量が
多いほど電流値ＩL1〜ＩL5は小さな値となる。

【００２５】さて、第１中間真空室２０内の偏向電極２
１ａ〜２１ｄによりイオンビームの収束のみを行なって
（偏向は行なわない）スキマー２２を通過するように制
御する場合、最適な収束を行なう電圧は次のように決定
することができる。すなわち、偏向電極２１ａ〜２１ｄ
にて最適の収束が行なわれたとき、スキマー２２を通過
して初段のレンズ電極３１ａに達したイオンビームの広
がりは最小となる。イオンビームが広がらずにレンズ電
極３１ａの開口に入射すると、レンズ電極３１ａに捕捉
されるイオンは極めて少なくなり電流値ＩL1は小さくな
る。そこで、制御部５０は、電流値ＩL1が最小となるよ
うに第８〜第１１電圧発生部２３ａ〜２３ｄから偏向電
極２１ａ〜２１ｄに印加する電圧をそれぞれ調整する。

【００２６】具体的には、例えば、次のような手順で各
電圧を決定する。まず、第８〜第１１電圧発生部２３ａ
〜２３ｄの印加電圧を所定の基準電圧に設定しておく。
そして、第８電圧発生部２３ａの印加電圧のみをその基
準電圧を中心とする所定範囲内で走査し、電流値ＩL1が
所定値以上減少する電圧がその範囲内に存在するか否か
を調べる。そのような電圧が存在しないときには、第８
電圧発生部２３ａの印加電圧をその基準電圧として、次
に第９電圧発生部２３ｂの印加電圧を基準電圧を中心と
する所定範囲内で走査し、電流値ＩL1が所定値以上減少
する電圧がその範囲内に存在するか否かを調べる。この
ようにして、順次、各偏向電極２１ａ〜２１ｅに印加す
る電圧を独立に走査して電流値ＩL1が最小となる電圧を
探し、偏向電極２１ａ〜２１ｅへの印加電圧を決定す
る。

【００２７】続いて、レンズ電極３１ａ〜３１ｅへの印
加電圧を、スキマー２２に近接した側から順番に、各レ
ンズ電極３１ａ〜３１ｅに流れる電流が最小となるよう
に調整する。すなわち、第３電流測定部３３ａで検出し
た電流値ＩL1から暗電流ＩLd1を減じた（ＩL1−ＩLd1）
が最小となるように第３電圧発生部３２ａの印加電圧を
調整する。次に、第４電流測定部３３ｂの電流値ＩL2か
ら暗電流ＩLd2を減じた（ＩL2−ＩLd2）が最小となるよ
うに第４電圧発生部３２ｂの印加電圧を調整する。同様
に、第５〜第７電圧発生部３２ｃ〜３２ｅの印加電圧を
調整する。

【００２８】次いで、第３〜第７電流測定部３３ａ〜３
３ｅの電流値の総和（ＩL1＋ＩL2＋ＩL3＋ＩL4＋ＩL5）
からそれらの暗電流の総和（ＩLd1＋ＩLd2＋ＩLd3＋ＩL
d4＋ＩLd5）を減じた総和電流値が最小となるように、
第３〜第７電圧発生部３２ａ〜３２ｅの印加電圧を調整
する。例えば、第３電圧発生部３２ａから順に、先に設
定された印加電圧を中心とした所定範囲内で電圧を走査
し、総和電流値が所定値以上減少する電圧がその範囲内
に存在するか否かを調べる。そして、第７電圧発生部３
２ｅまで順次、それぞれ電圧の走査を行ない、総和電流
値がより小さくなる電圧が存在したならば印加電圧を設
定し直す。

【００２９】なお、スキマー２２とレンズ電極３１ａと
の間に引き出し電極が存在する場合には、同様の方法に
より引き出し電極に印加する電圧も決定することができ
る。また、各段においてパラメータを決定する際には、
質量分析器４１の後段の検出器により測定されるイオン
量等の他の検出値を併用するようにしてもよい。

【００３０】以上のように、本実施例のＬＣ／ＭＳで
は、霧化室１０におけるイオンの生成及びヒーテッドキ
ャピラリ１２を通したイオンの輸送に関連するパラメー
タを最適に設定することができると共に、更にその後段
の第１及び第２中間真空室２０、３０におけるイオンの
収束及び加速に関連するパラメータも最適に設定するこ
とができる。従って、最適なイオン化を行なうと共に発
生したイオンを無駄なく質量分析室４０に導入すること
ができるので、より多くの目的イオンが後段に配置され
たＭＳ部の検出器に到達する。

【００３１】なお、図１の構成では、イオン化のために
ネブライザガスを用いていないが、ノズル１１の周囲か
ら噴霧と同軸状にネブライザガスを噴出し、電離した試
料溶液を強制的に噴霧する構成としてもよい。このよう
な構成とすることにより、特に試料溶液の流入量が多い
場合でもイオン化を安定的に行なうことができる。

【００３２】次に、本発明に係るＬＣ／ＭＳの他の実施
例を図２に示す。この実施例はＡＰＣＩによりイオン化
を行なうものであって、霧化室１０内のノズル１１周辺
の構成が上記実施例とは異なるので、その部分のみを図
２に示している。本実施例によるＬＣ／ＭＳでは、ノズ
ル１１とヒーテッドキャピラリ１２との間には針状の放
電電極６１が配置され、放電電極６１には第１電圧発生
部１３から数ｋＶ程度の高電圧が印加される。また、ノ
ズル１１には高電圧が印加される代わりにヒータ６２が
密着して設けられ、第２加熱電力発生部６３から供給さ
れる加熱電力により適度に加熱されるようになってい
る。

【００３３】上記構成の動作は次の通りである。ＬＣ部
のカラムから供給される試料溶液は、適度に（例えば２
００〜４００℃）に加熱された細径のノズル１１を通っ
て大気圧下に噴霧される。噴出した液滴は大気圧のガス
分子と衝突し、更に微細な液滴に粉砕され、速やかに乾
燥して（脱溶媒化されて）試料分子が気化する。この気
体微粒子は放電電極６１からのコロナ放電により生成さ
れるバッファイオンと接触し、化学反応を生じてイオン
化される。

【００３４】このとき、イオンの有する電荷は放電電極
６１からのコロナ放電により与えられるから、ノズル１
１からの噴霧の状態が良好であって液滴が多く発生して
いるときには、放電電極６１に流れる電流も増加する。
このときの電流は、定常的に流れる定常電流成分と放電
した瞬間に流れる非定常電流成分とを加算したものとな
っているので、第１電流測定部１４では、検出した電流
値のうちの非定常電流成分のみを抽出し電流値Ｉnとし
て制御部５０へ送る。

【００３５】この場合にも、イオン噴霧の状態が良好で
あるときに電流値Ｉnは大きくなるから、上記実施例と
同様に、電流値Ｉn及びＩhに基づき第１及び第２電圧発
生部１３、１５の印加電圧を調整することができる。

【００３６】更には、上記実施例は一例であって、本発
明の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行なえることは明ら
かである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置の
実施例の構成図。

【図２】本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置の
他の実施例におけるイオン化部の構成図。

【図３】液体クロマトグラフ質量分析装置の概略構成
図。

【符号の説明】

１１…ノズル１２…ヒーテッドキャピラリ１３、１５、２３ａ〜２３ｄ、３２ａ〜３２ｅ…電圧発
生部１４、１６、３３ａ〜３３ｅ…電流測定部１７…ヒータ１８…加熱電力発生部２１ａ〜２１ｄ…偏向電極３１ａ〜３１ｅ…レンズ電極５０…制御部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】液体クロマトグラフ部から与えられる試
料溶液を霧化及びイオン化するイオン化部と、該イオン
化部で生成したイオンを質量分析部へ輸送するためのキ
ャピラリとを備える液体クロマトグラフ質量分析装置に
おいて、 a)試料溶液を噴霧するためのニードルと、 b)該ニードル又は該ニードル先端の外側近傍に配置され
た放電電極に高電圧を印加する第１電圧印加手段と、 c)該第１電圧印加手段からの電圧により流れる電流を検
出する第１電流検出手段と、 d)前記キャピラリに電圧を印加する第２電圧印加手段
と、 e)該第２電圧印加手段からの電圧により流れる電流を検
出する第２電流検出手段と、 f)前記キャピラリを加熱する加熱手段と、 g)前記第１及び第２電流検出手段の検出値に基づいて前
記第１及び第２電圧印加手段並びに加熱手段を制御する
制御手段と、を備えることを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析
装置。