JPH10233070A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置Info
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- JPH10233070A JPH10233070A JP3647297A JP3647297A JPH10233070A JP H10233070 A JPH10233070 A JP H10233070A JP 3647297 A JP3647297 A JP 3647297A JP 3647297 A JP3647297 A JP 3647297A JP H10233070 A JPH10233070 A JP H10233070A
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- magnetic
- head
- magnetic head
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気的スペーシングを低減させることができ
る磁気ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 磁気ディスク3上を浮上するヘッドスラ
イダ6に搭載された磁気ヘッドにより情報を記録再生す
る磁気ディスク装置1にて、前記磁気ヘッドからの信号
に基づいて前記磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔を検
出する。
る磁気ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 磁気ディスク3上を浮上するヘッドスラ
イダ6に搭載された磁気ヘッドにより情報を記録再生す
る磁気ディスク装置1にて、前記磁気ヘッドからの信号
に基づいて前記磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔を検
出する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁気ディスク上
を浮上するヘッドスライダに搭載された磁気ヘッドによ
り情報を記録再生する磁気ディスク装置に関するもので
ある。
を浮上するヘッドスライダに搭載された磁気ヘッドによ
り情報を記録再生する磁気ディスク装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来の磁気ディスク装置では、磁気ディ
スクと磁気ヘッドとの間隔を一定に保つため、磁気ディ
スクの回転によって発生する空気の流れを用いて磁気ヘ
ッドが搭載されたヘッドスライダを浮上させている。こ
のヘッドスライダの浮上量は、空気の流れによって発生
するヘッドスライダを押し上げる圧力とヘッドスライダ
を上方から押さえつけるバネ力とのバランスによって決
まる。このバランスにより磁気ディスクと磁気ヘッドと
の間隔が自動的に一定になるように動作する。
スクと磁気ヘッドとの間隔を一定に保つため、磁気ディ
スクの回転によって発生する空気の流れを用いて磁気ヘ
ッドが搭載されたヘッドスライダを浮上させている。こ
のヘッドスライダの浮上量は、空気の流れによって発生
するヘッドスライダを押し上げる圧力とヘッドスライダ
を上方から押さえつけるバネ力とのバランスによって決
まる。このバランスにより磁気ディスクと磁気ヘッドと
の間隔が自動的に一定になるように動作する。
【0003】
【発明が解決しょうとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置における浮上型のヘッド・ディスクインター
フェースでは、ヘッドスライダを低浮上で安定に浮上さ
せる技術と、低浮上に対応するために磁気ディスクのグ
ライドハイトを低くする技術が必要になる。このためヘ
ッドスライダや磁気ディスク等の設計、加工の精度を高
めなければならない。ところが、この設計、加工の精度
をいくら高めても、空気の潤滑を利用したヘッドスライ
ダの浮上技術では、ヘッドスライダの浮上量は数十nm
程度が実現できる限界であり、磁気的スペーシングを小
さくすることにも限界があった。
ィスク装置における浮上型のヘッド・ディスクインター
フェースでは、ヘッドスライダを低浮上で安定に浮上さ
せる技術と、低浮上に対応するために磁気ディスクのグ
ライドハイトを低くする技術が必要になる。このためヘ
ッドスライダや磁気ディスク等の設計、加工の精度を高
めなければならない。ところが、この設計、加工の精度
をいくら高めても、空気の潤滑を利用したヘッドスライ
ダの浮上技術では、ヘッドスライダの浮上量は数十nm
程度が実現できる限界であり、磁気的スペーシングを小
さくすることにも限界があった。
【0004】そこで、磁気的スペーシングをさらに小さ
くするために、接触型のヘッド・ディスクインターフェ
ースが検討され実用化されつつある。この接触型のヘッ
ド・ディスクインターフェースでは、接触に起因する磁
気ヘッド等の摩耗の発生の問題があるが、この問題は磁
気ディスクの表面に潤滑膜を形成することにより解消可
能である。ところが、潤滑膜は通常10nm以上の厚み
があるので、接触型と言えどもこれ以下の磁気的スペー
シングを実現することはできないという問題があった。
くするために、接触型のヘッド・ディスクインターフェ
ースが検討され実用化されつつある。この接触型のヘッ
ド・ディスクインターフェースでは、接触に起因する磁
気ヘッド等の摩耗の発生の問題があるが、この問題は磁
気ディスクの表面に潤滑膜を形成することにより解消可
能である。ところが、潤滑膜は通常10nm以上の厚み
があるので、接触型と言えどもこれ以下の磁気的スペー
シングを実現することはできないという問題があった。
【0005】この発明は、上記課題を解消するために成
されたものであり、磁気的スペーシングを低減させるこ
とができる磁気ディスク装置を提供することを目的とす
る。
されたものであり、磁気的スペーシングを低減させるこ
とができる磁気ディスク装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、この発明に
よれば、磁気ディスク上を浮上するヘッドスライダに搭
載された磁気ヘッドにより情報を記録再生する磁気ディ
スク装置において、前記磁気ヘッドからの信号に基づい
て前記磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔を検出するこ
とにより達成される。
よれば、磁気ディスク上を浮上するヘッドスライダに搭
載された磁気ヘッドにより情報を記録再生する磁気ディ
スク装置において、前記磁気ヘッドからの信号に基づい
て前記磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔を検出するこ
とにより達成される。
【0007】上記構成によれば、磁気ディスクと磁気ヘ
ッドとの間隔を磁気ヘッド自体で得られる信号から検出
するようにしているので、その間隔を極低に制御するこ
とができる。
ッドとの間隔を磁気ヘッド自体で得られる信号から検出
するようにしているので、その間隔を極低に制御するこ
とができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施の形
態を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に
述べる実施形態は、この発明の好適な形態であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、この発
明の範囲は、以下の説明において特にこの発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもので
はない。
態を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に
述べる実施形態は、この発明の好適な形態であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、この発
明の範囲は、以下の説明において特にこの発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもので
はない。
【0009】図1は、この発明の磁気ディスク装置の実
施形態であるハードディスク装置の構成例を示す斜視図
である。このハードディスク装置1は、アルミニウム合
金等により形成された筐体2の平面部の裏側にスピンド
ルモータ9が配設されていると共に、このスピンドルモ
ータ9によって角速度一定で回転駆動される磁気ディス
ク3が備えられている。さらに、この筐体2には、アー
ム4がピボット4aの周りに揺動可能に取り付けられて
いる。このアーム4の一端には、ボイスコイル5aが取
り付けられ、またこのアーム4の他端には、ヘッドスラ
イダ6が取り付けられている。
施形態であるハードディスク装置の構成例を示す斜視図
である。このハードディスク装置1は、アルミニウム合
金等により形成された筐体2の平面部の裏側にスピンド
ルモータ9が配設されていると共に、このスピンドルモ
ータ9によって角速度一定で回転駆動される磁気ディス
ク3が備えられている。さらに、この筐体2には、アー
ム4がピボット4aの周りに揺動可能に取り付けられて
いる。このアーム4の一端には、ボイスコイル5aが取
り付けられ、またこのアーム4の他端には、ヘッドスラ
イダ6が取り付けられている。
【0010】ヘッドスライダ6はその下面の磁気ディス
ク3に対する旋回方向の両側に、エアベアリングサーフ
ェイスとして作用するレールが形成されている。そし
て、一方のレールの側面部には、ピエゾ素子7及び磁気
ヘッド8が搭載されている。筐体2上には、ボイスコイ
ル5aを挟持するように、マグネット5b、5cが取り
付けられている。ボイスコイル5a及びマグネット5
b、5cにより、ボイスコイルモータ5が形成されてい
る。
ク3に対する旋回方向の両側に、エアベアリングサーフ
ェイスとして作用するレールが形成されている。そし
て、一方のレールの側面部には、ピエゾ素子7及び磁気
ヘッド8が搭載されている。筐体2上には、ボイスコイ
ル5aを挟持するように、マグネット5b、5cが取り
付けられている。ボイスコイル5a及びマグネット5
b、5cにより、ボイスコイルモータ5が形成されてい
る。
【0011】このような構成において、ヘッドスライダ
6は、回転する磁気ディスク3の表面に接近したとき、
磁気ディスク3の回転に伴ってレールと磁気ディスク3
の表面との間に流入する空気流により浮揚力を受ける。
この浮揚力によって、ヘッドスライダ6は、磁気ディス
ク3の表面から微小間隔(浮上量)をもって浮上走行す
る。そして、ボイスコイル5aに外部から電流が供給さ
れると、アーム4は、マグネット5b、5cの磁界と、
このボイスコイル5aに流れる電流とによって生ずる力
に基づいて、垂直軸4aの周りを回動する。これによ
り、ヘッドスライダ6は、磁気ディスク3に対してシー
ク動作し、ヘッドスライダ6に搭載された磁気ヘッド8
は、磁気ディスク3の所定のトラック等に対してデータ
等の記録再生を非接触で行なう。
6は、回転する磁気ディスク3の表面に接近したとき、
磁気ディスク3の回転に伴ってレールと磁気ディスク3
の表面との間に流入する空気流により浮揚力を受ける。
この浮揚力によって、ヘッドスライダ6は、磁気ディス
ク3の表面から微小間隔(浮上量)をもって浮上走行す
る。そして、ボイスコイル5aに外部から電流が供給さ
れると、アーム4は、マグネット5b、5cの磁界と、
このボイスコイル5aに流れる電流とによって生ずる力
に基づいて、垂直軸4aの周りを回動する。これによ
り、ヘッドスライダ6は、磁気ディスク3に対してシー
ク動作し、ヘッドスライダ6に搭載された磁気ヘッド8
は、磁気ディスク3の所定のトラック等に対してデータ
等の記録再生を非接触で行なう。
【0012】ここで、磁気ディスク3上を浮上する磁気
ヘッド8は、磁気的スペーシングを直接計測しており、
これを用いて磁気ヘッド8自体の浮上量が制御されてい
る。磁気的スペーシングを直接計測するには、磁気ヘッ
ド8としてMRヘッドを用い、このMRヘッドのサーマ
ルアスペリティと呼ばれる現象を応用する。MRヘッド
のサーマルアスペリティは、MR素子の抵抗変化に起因
するものであり、図2(A)に示すように、ヘッドスラ
イダ6が磁気ディスク3上に存在する突起に衝突した
り、磁気ディスク3の面のうねりに接触したりしたとき
などに発生する現象である。
ヘッド8は、磁気的スペーシングを直接計測しており、
これを用いて磁気ヘッド8自体の浮上量が制御されてい
る。磁気的スペーシングを直接計測するには、磁気ヘッ
ド8としてMRヘッドを用い、このMRヘッドのサーマ
ルアスペリティと呼ばれる現象を応用する。MRヘッド
のサーマルアスペリティは、MR素子の抵抗変化に起因
するものであり、図2(A)に示すように、ヘッドスラ
イダ6が磁気ディスク3上に存在する突起に衝突した
り、磁気ディスク3の面のうねりに接触したりしたとき
などに発生する現象である。
【0013】MRヘッドは、外部磁界によって生じる抵
抗変化をMR素子に流れる電流の変化によって電圧とし
て検出するものである。従って、何かの理由によってM
R素子の抵抗値が変化すれば、それによって信号が発生
する。以上より、MR素子と磁気ディスク3とが接触す
ると熱の移動が発生し、これに伴いMR素子の抵抗の温
度係数に起因する抵抗変化が起こり、サーマルアスペリ
ティによる信号が発生する。この信号は図2(B)に示
すような波形であるが、これはMR素子に流れる電流に
よってMR素子が一定の温度になっているときに検出さ
れている電位と、磁気ディスク3との接触によってMR
素子に温度変化が発生した後の電位との間に生じる温度
差によって出力されているものである。
抗変化をMR素子に流れる電流の変化によって電圧とし
て検出するものである。従って、何かの理由によってM
R素子の抵抗値が変化すれば、それによって信号が発生
する。以上より、MR素子と磁気ディスク3とが接触す
ると熱の移動が発生し、これに伴いMR素子の抵抗の温
度係数に起因する抵抗変化が起こり、サーマルアスペリ
ティによる信号が発生する。この信号は図2(B)に示
すような波形であるが、これはMR素子に流れる電流に
よってMR素子が一定の温度になっているときに検出さ
れている電位と、磁気ディスク3との接触によってMR
素子に温度変化が発生した後の電位との間に生じる温度
差によって出力されているものである。
【0014】図2(B)に示すような波形になるのは、
信号を得るための回路系に含まれるカップリングコンデ
ンサ11の特性、即ち図2(C)に示すカップリングコ
ンデンサ11の両端A、Bの電圧波形によるものである
と考えられる。このような考え方から、MR素子から発
生する信号は、外部磁界によって発生する抵抗変化に起
因するものと、温度変化に起因するものとがあることが
わかる。
信号を得るための回路系に含まれるカップリングコンデ
ンサ11の特性、即ち図2(C)に示すカップリングコ
ンデンサ11の両端A、Bの電圧波形によるものである
と考えられる。このような考え方から、MR素子から発
生する信号は、外部磁界によって発生する抵抗変化に起
因するものと、温度変化に起因するものとがあることが
わかる。
【0015】また、一般的な磁気ディスク装置では、外
部磁界にあたる信号周波数と、温度変化によって発生す
る信号の周波数とは大きく異なるものである。温度変化
に起因する信号は磁気ディスク表面に接触する/しない
にかかわらず温度変化が起きたときに発生すると考えら
れる。従って、MR素子と磁気ディスク表面の間の距離
が変化すると放熱によって温度変化が起き、これに対応
する出力が得られる。基本的にこの変化は常に起きてお
り、信号は常に変動している。しかし、図2(A)に示
したように、MR素子と増幅器12とはAC結合されて
おり、このため振幅が小さく、周波数の低い成分の変動
は増幅器12に到達することはない。これにより、通常
のデータの読み書きには支障はない。
部磁界にあたる信号周波数と、温度変化によって発生す
る信号の周波数とは大きく異なるものである。温度変化
に起因する信号は磁気ディスク表面に接触する/しない
にかかわらず温度変化が起きたときに発生すると考えら
れる。従って、MR素子と磁気ディスク表面の間の距離
が変化すると放熱によって温度変化が起き、これに対応
する出力が得られる。基本的にこの変化は常に起きてお
り、信号は常に変動している。しかし、図2(A)に示
したように、MR素子と増幅器12とはAC結合されて
おり、このため振幅が小さく、周波数の低い成分の変動
は増幅器12に到達することはない。これにより、通常
のデータの読み書きには支障はない。
【0016】以上のような理由から、図3に示すよう
に、磁気ヘッド8からの信号をカップリングコンデンサ
11を介すること無しに直結した増幅器14で増幅する
ことにより、磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔の
変動をDC電位の変動として間隔検出回路15で直接検
出することができる。そして、検出した間隔に相当する
DC電位を一定値に保つように、間隔制御回路16で磁
気ヘッド8の位置(高さ)、即ち磁気ディスク3と磁気
ヘッド8との間隔を制御すれば、一定の磁気的スペーシ
ングを保つことができることになる。尚、磁気ヘッド8
からの信号はカップリングコンデンサ11を介して増幅
器12及び信号処理回路13にも出力されるようになっ
ている。
に、磁気ヘッド8からの信号をカップリングコンデンサ
11を介すること無しに直結した増幅器14で増幅する
ことにより、磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔の
変動をDC電位の変動として間隔検出回路15で直接検
出することができる。そして、検出した間隔に相当する
DC電位を一定値に保つように、間隔制御回路16で磁
気ヘッド8の位置(高さ)、即ち磁気ディスク3と磁気
ヘッド8との間隔を制御すれば、一定の磁気的スペーシ
ングを保つことができることになる。尚、磁気ヘッド8
からの信号はカップリングコンデンサ11を介して増幅
器12及び信号処理回路13にも出力されるようになっ
ている。
【0017】磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔を
制御するためのアクチュエータとしては、応答したい間
隔変動の周波数成分に合わせて適切なものを選べばよ
い。低い周波数のうねり等に追従するだけであれば、ピ
エゾ素子7を組み込んだ従来型のものでも実現可能であ
る。細かい変動に追従する場合や、突起との衝突を避け
たい場合などでは、さらに広帯域のマイクロマシン技術
を用いたアクチュエータが必要である。
制御するためのアクチュエータとしては、応答したい間
隔変動の周波数成分に合わせて適切なものを選べばよ
い。低い周波数のうねり等に追従するだけであれば、ピ
エゾ素子7を組み込んだ従来型のものでも実現可能であ
る。細かい変動に追従する場合や、突起との衝突を避け
たい場合などでは、さらに広帯域のマイクロマシン技術
を用いたアクチュエータが必要である。
【0018】このように、適切なアクチュエータで制御
することができれば、磁気ヘッド8は浮上する必要はな
く、しかも接触することもないため、磁性膜上の潤滑剤
も原理的には不要になる。従って、接触型のヘッド・デ
ィスクインターフェースよりも、磁気的スペーシングを
低減させることが可能である。但し、従来のヘッドスラ
イダのなかに磁気ヘッドが組み込まれているような構造
の場合は、磁気ヘッド部分での磁気的スペーシングは一
定値を保っても、ヘッドスライダの別な部分は磁気ディ
スクに接触したり突起に衝突したりする可能性があるの
で、磁気ヘッド本体の寸法を充分小さくしなければなら
ない。
することができれば、磁気ヘッド8は浮上する必要はな
く、しかも接触することもないため、磁性膜上の潤滑剤
も原理的には不要になる。従って、接触型のヘッド・デ
ィスクインターフェースよりも、磁気的スペーシングを
低減させることが可能である。但し、従来のヘッドスラ
イダのなかに磁気ヘッドが組み込まれているような構造
の場合は、磁気ヘッド部分での磁気的スペーシングは一
定値を保っても、ヘッドスライダの別な部分は磁気ディ
スクに接触したり突起に衝突したりする可能性があるの
で、磁気ヘッド本体の寸法を充分小さくしなければなら
ない。
【0019】図4は、この発明の磁気ディスク装置の実
施形態であるハードディスク装置の制御回路例を示すブ
ロック図であり、図1と同一構成箇所は同符号を付して
ある。この制御回路20は、磁気ヘッド8の半径位置を
制御するための位置制御用アクチュエータ29と、磁気
ディスク3と磁気ヘッド8との間隔を制御するための間
隔制御用アクチュエータ30と、それらの制御を行うた
めの回路系から成る。ここで、位置制御用アクチュエー
タ29としては、例えばボイスコイルモ−タ5があり、
間隔制御用アクチュエータ30としては、例えばピエゾ
素子7がある。
施形態であるハードディスク装置の制御回路例を示すブ
ロック図であり、図1と同一構成箇所は同符号を付して
ある。この制御回路20は、磁気ヘッド8の半径位置を
制御するための位置制御用アクチュエータ29と、磁気
ディスク3と磁気ヘッド8との間隔を制御するための間
隔制御用アクチュエータ30と、それらの制御を行うた
めの回路系から成る。ここで、位置制御用アクチュエー
タ29としては、例えばボイスコイルモ−タ5があり、
間隔制御用アクチュエータ30としては、例えばピエゾ
素子7がある。
【0020】回路系は、磁気ヘッド8に直結された再生
増幅器22及び間隔検出処理部23、磁気ヘッド8にカ
ップリングコンデンサ21を介して接続された再生増幅
器24及び位置信号検出処理部25、間隔検出処理部2
3及び位置信号検出処理部25に接続されたDSP26
並びにDSP26に接続され、位置制御用アクチュエー
タ29を制御する位置制御部27及び間隔制御用アクチ
ュエータ30を制御する間隔制御部28で構成されてい
る。尚、データを読み/書きするための回路等は省略さ
れている。
増幅器22及び間隔検出処理部23、磁気ヘッド8にカ
ップリングコンデンサ21を介して接続された再生増幅
器24及び位置信号検出処理部25、間隔検出処理部2
3及び位置信号検出処理部25に接続されたDSP26
並びにDSP26に接続され、位置制御用アクチュエー
タ29を制御する位置制御部27及び間隔制御用アクチ
ュエータ30を制御する間隔制御部28で構成されてい
る。尚、データを読み/書きするための回路等は省略さ
れている。
【0021】図5は、磁気ディスクと磁気ヘッドとの間
隔を制御するための回路の別の例を示すブロック図であ
る。磁気ヘッド8から得られた信号をもとにLPFによ
り磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔を検出する。
このLPFの出力と間隔基準値(目標値)を与える基準
電位Vrefとの差を減算器により取ることにより間隔
に関しての誤差信号を得る。そして、この誤差信号がゼ
ロになるように磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔
を制御するモータドライバにコントロール電圧を与え、
間隔制御モ−タを駆動する。尚、用いるデバイスによっ
ては図に示すようにV−I変換部でV−I変換を行なう
必要もある。
隔を制御するための回路の別の例を示すブロック図であ
る。磁気ヘッド8から得られた信号をもとにLPFによ
り磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔を検出する。
このLPFの出力と間隔基準値(目標値)を与える基準
電位Vrefとの差を減算器により取ることにより間隔
に関しての誤差信号を得る。そして、この誤差信号がゼ
ロになるように磁気ディスク3と磁気ヘッド8との間隔
を制御するモータドライバにコントロール電圧を与え、
間隔制御モ−タを駆動する。尚、用いるデバイスによっ
ては図に示すようにV−I変換部でV−I変換を行なう
必要もある。
【0022】この発明の磁気ディスク装置の実施形態で
あるハードディスク装置の制御回路系では、2つのアク
チュエータを同時に制御することになるが、各々のアク
チュエータの制御対象は全く独立なものであるので、2
つの回路系を同時に独立に動作させることによって容易
に実現できる。このような制御を行う場合、一方の動作
の結果が他方に影響を及ぽす事が考えられる。この制御
回路系の場合には、間隔制御を行う際に過渡的に磁気デ
ィスク3と磁気ヘッド8との磁気的スペーシングが変動
し、これによって位置制御を行うための位置誤差信号の
品質が変化することが考えられる。
あるハードディスク装置の制御回路系では、2つのアク
チュエータを同時に制御することになるが、各々のアク
チュエータの制御対象は全く独立なものであるので、2
つの回路系を同時に独立に動作させることによって容易
に実現できる。このような制御を行う場合、一方の動作
の結果が他方に影響を及ぽす事が考えられる。この制御
回路系の場合には、間隔制御を行う際に過渡的に磁気デ
ィスク3と磁気ヘッド8との磁気的スペーシングが変動
し、これによって位置制御を行うための位置誤差信号の
品質が変化することが考えられる。
【0023】このような場合には、位置誤差信号の電圧
を規格化し、振幅の絶対値には左右されないようにする
必要がある。実際にはAGC(Auto Gain C
ontrol)によって、振幅の変動を無くしたり、サ
ーボゾーン内の信号を用いて規格化することなどが考え
られる。そこで、サーボゾーン内の信号を用いて規格化
を行う場合の例を図6乃至図8を参照して説明する。図
6は、サーボパターンの一例を示す平面図である。但
し、この例は原理について述べるためのものであるの
で、サーボゾーン内に必要な全ての信号を示している訳
ではない。
を規格化し、振幅の絶対値には左右されないようにする
必要がある。実際にはAGC(Auto Gain C
ontrol)によって、振幅の変動を無くしたり、サ
ーボゾーン内の信号を用いて規格化することなどが考え
られる。そこで、サーボゾーン内の信号を用いて規格化
を行う場合の例を図6乃至図8を参照して説明する。図
6は、サーボパターンの一例を示す平面図である。但
し、この例は原理について述べるためのものであるの
で、サーボゾーン内に必要な全ての信号を示している訳
ではない。
【0024】図7は、磁気的スペーシングが大きい場合
の信号の波形図を示し、図8は、磁気的スペーシングが
小さい場合の信号の波形図を示す。これらの図から明ら
かなように、磁気的スペーシングが小さい場合は、スペ
ーシングロスが低減し信号出力が増加する。また、トラ
ック位置情報は、AパターンとBパターンの出力差から
求められる。従って、図7の場合には、トラック位置ず
れはVa−Vbとして求められる。しかし、図8の場合
には、トラック位置ずれはVa’−Vb' となり、これ
はスペーシングロスによる出力増加を考慮すると、p・
Va−p・Vbと書ける。ここで、pはスペーシング低
下による出力増加を表す係数である。この値は信号の波
長に依存するものであるが、通常それぞれのパターンは
ほぼ同じ波長の信号が用いられるので、どのパターンに
ついてもこの係数は変わらない。
の信号の波形図を示し、図8は、磁気的スペーシングが
小さい場合の信号の波形図を示す。これらの図から明ら
かなように、磁気的スペーシングが小さい場合は、スペ
ーシングロスが低減し信号出力が増加する。また、トラ
ック位置情報は、AパターンとBパターンの出力差から
求められる。従って、図7の場合には、トラック位置ず
れはVa−Vbとして求められる。しかし、図8の場合
には、トラック位置ずれはVa’−Vb' となり、これ
はスペーシングロスによる出力増加を考慮すると、p・
Va−p・Vbと書ける。ここで、pはスペーシング低
下による出力増加を表す係数である。この値は信号の波
長に依存するものであるが、通常それぞれのパターンは
ほぼ同じ波長の信号が用いられるので、どのパターンに
ついてもこの係数は変わらない。
【0025】一方、AパターンとBパターンの和は常に
一定値となるはずである。従って、この値を元に比を取
れば位置誤差信号が得られる。図7の場合には、この信
号はVa+Vb=Vtとして表わされる。また、図8の
場合には、この信号はVa'+Vb’=Vt' として表
わされる。このVt' は、p・Va+p・Vbとなるこ
とは明らかである。従って、基準信号のレベルと位置誤
差信号の比を求めると、いずれの場合も(Va−Vb)
/(Va+Vb)になり、変化はない。このようにして
浮上量の変化による位置誤差信号の変化を補償すること
ができる。以上のようにすれば2つの制御回路系はそれ
ぞれ影響を及ぼしあうことがなく、独立に動作させるこ
とが可能である。
一定値となるはずである。従って、この値を元に比を取
れば位置誤差信号が得られる。図7の場合には、この信
号はVa+Vb=Vtとして表わされる。また、図8の
場合には、この信号はVa'+Vb’=Vt' として表
わされる。このVt' は、p・Va+p・Vbとなるこ
とは明らかである。従って、基準信号のレベルと位置誤
差信号の比を求めると、いずれの場合も(Va−Vb)
/(Va+Vb)になり、変化はない。このようにして
浮上量の変化による位置誤差信号の変化を補償すること
ができる。以上のようにすれば2つの制御回路系はそれ
ぞれ影響を及ぼしあうことがなく、独立に動作させるこ
とが可能である。
【0026】従って、この後は磁気ディスク3と磁気ヘ
ッド8との間隔制御についてのみ説明する。磁気ヘッド
8を磁気ディスク3に追従させる必要の有る周波数帯域
については、以下のように考えることができる。 (1)磁気ディスク3の表面の大きなうねりに追従する
場合 磁気ディスク3の表面は、通常はクランプの影響や磁気
ディスク3のランナウト等によって数回から十数回程度
のうねりが存在する。磁気ディスク3の回転数は60H
z〜90Hz程度が普通であるので、この場合に必要な
周波数帯域は1kHz以下である。このような周波数帯
域であれば、通常のピエゾ素子7や電磁アクチュエータ
を小型化して用いればよい。従来の気体潤滑方式のヘッ
ド・ディスクインターフェースでは、磁気ディスク3の
ランナウトのために浮上量変動が生じている。
ッド8との間隔制御についてのみ説明する。磁気ヘッド
8を磁気ディスク3に追従させる必要の有る周波数帯域
については、以下のように考えることができる。 (1)磁気ディスク3の表面の大きなうねりに追従する
場合 磁気ディスク3の表面は、通常はクランプの影響や磁気
ディスク3のランナウト等によって数回から十数回程度
のうねりが存在する。磁気ディスク3の回転数は60H
z〜90Hz程度が普通であるので、この場合に必要な
周波数帯域は1kHz以下である。このような周波数帯
域であれば、通常のピエゾ素子7や電磁アクチュエータ
を小型化して用いればよい。従来の気体潤滑方式のヘッ
ド・ディスクインターフェースでは、磁気ディスク3の
ランナウトのために浮上量変動が生じている。
【0027】(2)磁気ディスク3上に存在する突起に
追従する場合 磁気ディスク3の表面には、数十nm程度の高さの突起
が存在することが多い。この突起に磁気ヘッド8が衝突
することにより、ヘッドクラッシュが引き起こされるの
で、磁気ディスク装置の故障の要因の1つとなってい
る。この突起は通常数μm程度の径のものが多い。従っ
て、(1)と同程度の回転数を仮定すれば数MHz程度
の周波数帯域が必要になる。しかしながら、磁気ヘッド
8のコントロール量としては数十nm程度でよいので、
この様な場合でもピエゾ素子7が適用できる。もちろ
ん、マイクロマシンの技術を適用したアクチュエータ等
でもよい。
追従する場合 磁気ディスク3の表面には、数十nm程度の高さの突起
が存在することが多い。この突起に磁気ヘッド8が衝突
することにより、ヘッドクラッシュが引き起こされるの
で、磁気ディスク装置の故障の要因の1つとなってい
る。この突起は通常数μm程度の径のものが多い。従っ
て、(1)と同程度の回転数を仮定すれば数MHz程度
の周波数帯域が必要になる。しかしながら、磁気ヘッド
8のコントロール量としては数十nm程度でよいので、
この様な場合でもピエゾ素子7が適用できる。もちろ
ん、マイクロマシンの技術を適用したアクチュエータ等
でもよい。
【0028】上述したように、磁気ディスク3と磁気ヘ
ッド8との間隔を一定に保つことができ、しかも従来の
浮上型のヘッドスライダではなく、また接触型のヘッド
スライダでもないヘッド・ディスクインターフェースを
実現することができる。さらに、アクチュエータの性能
に依存するが、従来の浮上型のヘッドスライダよりも、
さらに接触型のヘッドスライダよりも磁気的スペーシン
グ量を小さくすることが可能になり、線記録密度を高め
ることができる。
ッド8との間隔を一定に保つことができ、しかも従来の
浮上型のヘッドスライダではなく、また接触型のヘッド
スライダでもないヘッド・ディスクインターフェースを
実現することができる。さらに、アクチュエータの性能
に依存するが、従来の浮上型のヘッドスライダよりも、
さらに接触型のヘッドスライダよりも磁気的スペーシン
グ量を小さくすることが可能になり、線記録密度を高め
ることができる。
【0029】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
磁気的スペーシングを低減させることができる。
磁気的スペーシングを低減させることができる。
【図1】この発明の磁気ディスク装置の実施形態である
ハードディスク装置の一例を示す概略斜視図。
ハードディスク装置の一例を示す概略斜視図。
【図2】磁気ディスク上を浮上するヘッドスライダに搭
載された磁気ヘッドからの信号が変化する場合の例を示
す図。
載された磁気ヘッドからの信号が変化する場合の例を示
す図。
【図3】磁気ディスク上を浮上するヘッドスライダに搭
載された磁気ヘッドからの信号を利用して磁気ディスク
と磁気ヘッドとの間隔を制御するための回路例を示す概
略ブロック図。
載された磁気ヘッドからの信号を利用して磁気ディスク
と磁気ヘッドとの間隔を制御するための回路例を示す概
略ブロック図。
【図4】この発明の磁気ディスク装置の実施形態である
ハードディスク装置の制御回路例を示すブロック図。
ハードディスク装置の制御回路例を示すブロック図。
【図5】磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔を制御する
ための回路の別の例を示すブロック図。
ための回路の別の例を示すブロック図。
【図6】一般的な磁気ディスクの表面構成を示す平面
図。
図。
【図7】図6に示す磁気ディスクを用いたときの図4に
示す制御回路における信号波形の一例を示す図。
示す制御回路における信号波形の一例を示す図。
【図8】図6に示す磁気ディスクを用いたときの図4に
示す制御回路における信号波形の別の一例を示す図。
示す制御回路における信号波形の別の一例を示す図。
1・・・ハードディスク装置、2・・・筐体、3・・・
磁気ディスク、4・・・アーム、4a・・・ピボット、
5・・・ボイスコイルモータ、5a・・・ボイスコイ
ル、5b、5c・・・マグネット、6・・・ヘッドスラ
イダ、7・・・ピエゾ素子、8・・・磁気ヘッド、9・
・・モータ、11、21・・・カップリングコンデン
サ、12、14、22、24・・・増幅器、13・・・
信号処理回路、15・・・間隔検出回路、16・・・間
隔制御回路、20・・・制御回路、23・・・間隔検出
処理部、25・・・位置信号処理部、26・・・DS
P、27・・・位置制御部、28・・・間隔制御部、2
9・・・位置制御用アクチュエータ、30・・・間隔制
御用アクチュエータ
磁気ディスク、4・・・アーム、4a・・・ピボット、
5・・・ボイスコイルモータ、5a・・・ボイスコイ
ル、5b、5c・・・マグネット、6・・・ヘッドスラ
イダ、7・・・ピエゾ素子、8・・・磁気ヘッド、9・
・・モータ、11、21・・・カップリングコンデン
サ、12、14、22、24・・・増幅器、13・・・
信号処理回路、15・・・間隔検出回路、16・・・間
隔制御回路、20・・・制御回路、23・・・間隔検出
処理部、25・・・位置信号処理部、26・・・DS
P、27・・・位置制御部、28・・・間隔制御部、2
9・・・位置制御用アクチュエータ、30・・・間隔制
御用アクチュエータ
Claims (2)
- 【請求項1】 磁気ディスク上を浮上するヘッドスライ
ダに搭載された磁気ヘッドにより情報を記録再生する磁
気ディスク装置において、 前記磁気ヘッドからの信号に基づいて前記磁気ディスク
と磁気ヘッドとの間隔を検出することを特徴とする磁気
ディスク装置。 - 【請求項2】 検出した前記磁気ディスクと磁気ヘッド
との間隔を一定に保つように制御する請求項1に記載の
磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3647297A JPH10233070A (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-20 | 磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3647297A JPH10233070A (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-20 | 磁気ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10233070A true JPH10233070A (ja) | 1998-09-02 |
Family
ID=12470766
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3647297A Pending JPH10233070A (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-20 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10233070A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7457069B2 (en) | 2005-03-08 | 2008-11-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk drive with flying height control, control method, and manufacturing method |
US7684138B2 (en) | 2005-12-01 | 2010-03-23 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk drive, method for registering defective sector, and method for controlling flying height |
JP2014179159A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Hgst Netherlands B V | 浮上高さ制御およびタッチダウン検出 |
-
1997
- 1997-02-20 JP JP3647297A patent/JPH10233070A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7457069B2 (en) | 2005-03-08 | 2008-11-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk drive with flying height control, control method, and manufacturing method |
US7684138B2 (en) | 2005-12-01 | 2010-03-23 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk drive, method for registering defective sector, and method for controlling flying height |
JP2014179159A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Hgst Netherlands B V | 浮上高さ制御およびタッチダウン検出 |
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