JPH10212574A - Coating forming device - Google Patents

Coating forming device

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Publication number
JPH10212574A
JPH10212574A JP1499697A JP1499697A JPH10212574A JP H10212574 A JPH10212574 A JP H10212574A JP 1499697 A JP1499697 A JP 1499697A JP 1499697 A JP1499697 A JP 1499697A JP H10212574 A JPH10212574 A JP H10212574A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
target
vacuum chamber
film forming
flange portion
Prior art date
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Pending
Application number
JP1499697A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Yamabe
真一 山辺
Fumio Tani
二三夫 谷
Jiro Kawashima
二郎 川島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinmaywa Industries Ltd
Original Assignee
Shin Meiva Industry Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Meiva Industry Ltd filed Critical Shin Meiva Industry Ltd
Priority to JP1499697A priority Critical patent/JPH10212574A/en
Publication of JPH10212574A publication Critical patent/JPH10212574A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the short circuit of an electrode and an earth shield while effective utilization in a vacuum is attained and to enable stable continuous coating formation for a long time by providing the side face of the outer circumference on the side of the surface of a target with a flange and arranging an earth shield on the back face side in the flange part oppositely at intervals with the target. SOLUTION: A target 8 provided with a cathode electrode 5 on the lower part is sputtered by discharge from the electrode 5 in a vacuum chamber 1 to form coating of a target material on a substrate S. In this case, the side of the surface 8a of the target in the outer circumferential side face of the target 8 is projectingly provided with a flange part 9, and an earth shield 14 limiting the discharging region of the electrode 5 is arranged on the back face side 8b thereof. While effective utilization in the vacuum chamber is attained in such a manner that the height of the target 8 is held to be low, the peeled coating forming material and dust are hard to be deposited on the earth shield 14, and the interruption of the discharge caused by the short-circuit of the electrode 5 and the earth shield 14 is prevented, by which stable continuous coating formation can be executed for a long time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電極からの放電を
利用して真空室内で基板に成膜する成膜装置に関し、特
に、電極の放電域を制限するアースシールドの構造に関
する技術分野に属する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming apparatus for forming a film on a substrate in a vacuum chamber using discharge from an electrode, and more particularly to a technical field related to a structure of an earth shield for limiting a discharge area of the electrode. .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、この種の成膜装置の一例であ
るスパッタリング装置は広く一般に知られている。この
スパッタリング装置は、例えば図5に示すように、真空
室aのアース電位とされた壁部a1にカソード電極bを
貫通させて両者を気密状態でかつ絶縁部材gにより電気
絶縁状態で結合し、その電極bの真空室a内側に成膜材
料からなるターゲットcを設置する一方、電極bのマグ
ネットdによる彎曲磁場によってターゲットc表面にマ
グネトロン放電による高密度プラズマを生成し、このプ
ラズマのイオンによってターゲットc表面をスパッタリ
ングし、真空室a内の基板f表面に成膜するようになっ
ている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a sputtering apparatus which is an example of this kind of film forming apparatus is widely and generally known. In this sputtering apparatus, for example, as shown in FIG. 5, a cathode electrode b is pierced through a wall portion a1 at a ground potential of a vacuum chamber a, and both are joined in an airtight state and in an electrically insulating state by an insulating member g. A target c made of a film-forming material is placed inside the vacuum chamber a of the electrode b, and a high-density plasma by magnetron discharge is generated on the surface of the target c by the curved magnetic field generated by the magnet d of the electrode b. The surface c is sputtered to form a film on the surface of the substrate f in the vacuum chamber a.

【0003】そして、カソード電極bの放電域を制限す
るために、真空室aの壁部a1に導通されたアースシー
ルドeを、ターゲットcの外周側面に所定の間隔をあけ
て配置することが行われている。
[0003] In order to limit the discharge area of the cathode electrode b, an earth shield e conducted to the wall a1 of the vacuum chamber a is arranged at a predetermined interval on the outer peripheral side surface of the target c. Have been done.

【0004】しかし、このようなアースシールドeの構
造であると、アースシールドeの先端部(内周縁部)
に、スパッタリングされた成膜材料が積層し易いばかり
でなく、そのアースシールドe先端部とターゲットcと
の間を通ってアースシールドeと電極bとの間に、例え
ば積層後に剥離した成膜材料等のダストも溜まり易く、
その成膜材料やダストの成長によりアースシールドe及
び電極b間が短絡して放電が中断することがあり、基板
fに対し長時間に亘り安定した連続成膜を行うことが困
難になるという問題があった。
However, with such a structure of the earth shield e, the front end portion (inner peripheral portion) of the earth shield e is provided.
The sputtered film material is not only easy to be laminated, but also between the ground shield e and the electrode b passing between the tip of the ground shield e and the target c. Dust easily accumulates,
The short-circuit between the earth shield e and the electrode b may occur due to the growth of the film-forming material and dust, and the discharge may be interrupted, making it difficult to form a stable and continuous film on the substrate f for a long time. was there.

【0005】一方、特開平6―93441号公報に示さ
れるように、上記ターゲットの大きさをバッキングプレ
ート(電極)よりも大きくして、ターゲットの外周縁部
がバッキングプレートからはみ出すようにし、このはみ
出したターゲットの下側にアースシールドを配置するよ
うにしたものが提案されている。このものでは、アース
シールドがターゲットの外周側面の陰に位置するので、
上記問題を解決することができる。
On the other hand, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-93441, the size of the target is made larger than the backing plate (electrode) so that the outer peripheral edge of the target protrudes from the backing plate. There is proposed a device in which an earth shield is arranged below a target. In this one, the earth shield is located behind the outer peripheral side of the target,
The above problem can be solved.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、その反面、上
記提案のものでは、ターゲットの外周縁部の下側にアー
スシールドが配置されているので、そのアースシールド
の高さ分だけ真空チャンバでのターゲットの位置が高く
なって真空室に突出せざるを得ず、限られた容積の真空
室内を有効利用することができず、例えば基板を真空室
内に対し出入れし難くなるという問題があった。
However, on the other hand, in the above-mentioned proposal, since the earth shield is arranged below the outer peripheral portion of the target, the height of the earth shield in the vacuum chamber is reduced by the height of the earth shield. There was a problem that the position of the target was raised and the target had to protrude into the vacuum chamber, so that the vacuum chamber with a limited volume could not be used effectively, for example, it was difficult to move the substrate into and out of the vacuum chamber. .

【0007】尚、ターゲットの利用範囲(スパッタリン
グ範囲)はマグネットの磁場エリアに限られるので、上
記提案例のようにターゲットの大きさをバッキングプレ
ートよりも大きくすると、ターゲットの外周縁部は上記
磁場エリアを外れることになる。このため、ターゲット
外周縁部はスパッタリングに利用されない無駄部分とな
って、ターゲットの利用効率が低くなるとともに、その
ターゲットの面積の広がった外周部分に放電パワーを取
られ、ロスが大きくなる。
Since the range of use of the target (sputtering range) is limited to the magnetic field area of the magnet, if the size of the target is made larger than the backing plate as in the above proposed example, the outer peripheral edge of the target becomes the magnetic field area. Will come off. For this reason, the outer peripheral portion of the target becomes a waste portion that is not used for sputtering, so that the use efficiency of the target is lowered, and discharge power is taken to the outer peripheral portion where the area of the target is widened, resulting in a large loss.

【0008】本発明は斯かる点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、上記のように電極の放電域を制限する
ためアースシールドを備えたスパッタリング装置やその
他の成膜装置において、そのアースシールドの構造を改
良することにより、アースシールドの真空室内への突出
高さを低くして真空室内の有効利用を図りながら、電極
とアースシールドとの成膜材料やダスト等による短絡を
防止して、長時間に亘り安定した連続成膜を行い得るよ
うにすることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a sputtering apparatus or other film forming apparatus having an earth shield for limiting a discharge area of an electrode as described above. By improving the structure of the shield, the height of the earth shield protruding into the vacuum chamber is reduced and effective use in the vacuum chamber is prevented. Another object of the present invention is to make it possible to perform stable continuous film formation for a long time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべ
く、請求項1の発明では、ターゲットの外周側面におけ
るターゲット裏面側を切り欠くことで、その側面のター
ゲット表面側にフランジ部を設け、このフランジ部の裏
面側にアースシールドを配置するようにした。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a flange portion is provided on the outer surface of the target by cutting out the back surface of the target. An earth shield is arranged on the back side of the flange.

【0010】すなわち、この発明では、真空室に、成膜
材料からなるターゲットが裏面にて固定された電極を設
置し、該電極からの放電により上記ターゲットの表面を
スパッタリングして、真空室内に配置した基板に成膜を
行うようにした成膜装置が前提である。
That is, according to the present invention, an electrode having a target made of a film-forming material fixed on the back surface is installed in a vacuum chamber, and the surface of the target is sputtered by discharge from the electrode, and placed in the vacuum chamber. A film forming apparatus for forming a film on a formed substrate is premised.

【0011】そして、上記ターゲットの外周側面におけ
るターゲット表面側(スパッタリング面側)に、他の部
分よりもターゲット外側に突出するフランジ部を設け
る。また、上記電極の放電域を制限するアースシールド
を、上記ターゲットのフランジ部裏面側にターゲットと
所定の間隔をあけて対向配置する。
[0011] A flange portion is provided on the outer peripheral side surface of the target on the target surface side (sputtering surface side) so as to protrude outside the target from other portions. In addition, an earth shield for limiting a discharge area of the electrode is disposed on the back side of the flange portion of the target at a predetermined distance from the target.

【0012】上記の構成により、ターゲットの外周側面
にフランジ部が設けられ、このフランジ部の裏面側にア
ースシールドが配置されているので、このアースシール
ドは真空室から見てターゲットのフランジ部の陰にな
り、真空室内にある成膜材料やダストはターゲットのフ
ランジ部には堆積するものの、そのフランジ部裏面側の
アースシールドには堆積し難くなり、よって電極とアー
スシールドとの短絡による放電の中断を抑制して、長時
間に亘り安定して連続成膜を行うことができる。
With the above configuration, the flange portion is provided on the outer peripheral side surface of the target, and the ground shield is disposed on the back side of the flange portion. Therefore, the ground shield is hidden behind the flange portion of the target when viewed from the vacuum chamber. The deposition material and dust in the vacuum chamber accumulate on the flange of the target, but hardly accumulate on the ground shield on the back side of the flange, so that the discharge is interrupted due to a short circuit between the electrode and the ground shield. And a continuous film formation can be stably performed over a long period of time.

【0013】そのとき、アースシールドがフランジ部裏
面側のスペースに配置されているので、ターゲットとア
ースシールドとの各高さ位置は略同じとなり、ターゲッ
トの真空室への突出高さを低く保って、真空室の内部を
有効に利用することができる。
At this time, since the ground shield is arranged in the space on the back side of the flange portion, the respective height positions of the target and the ground shield are substantially the same, and the projecting height of the target into the vacuum chamber is kept low. The inside of the vacuum chamber can be effectively used.

【0014】さらに、ターゲットの外周側面におけるフ
ランジ部の裏面側にアースシールドが配置され、従来の
ようにターゲットの外周縁部がマグネットの磁場エリア
から大きく広がっていないので、ターゲットの利用効率
を高めるとともに、ターゲット外周部の放電パワーの増
大によるロスを低減することができる。
Further, an earth shield is disposed on the back side of the flange portion on the outer peripheral side surface of the target, and since the outer peripheral edge of the target does not greatly extend from the magnetic field area of the magnet as in the related art, the utilization efficiency of the target is improved. In addition, it is possible to reduce a loss due to an increase in the discharge power of the outer peripheral portion of the target.

【0015】請求項2の発明では、上記ターゲットの表
面のうちスパッタリングされる部分は一定の部分に限定
されることに着目し、そのターゲットを、表面がスパッ
タリングされるターゲット本体と、該ターゲット本体に
その表面外周縁部でかつ電極内のマグネットに対応しな
い位置を覆うように取外し可能に組み付けられ、外周縁
部が上記フランジ部を構成するカバー部とに分割する。
In the invention of claim 2, it is noted that a portion to be sputtered is limited to a certain portion of the surface of the target, and the target is attached to a target main body having a sputtered surface and a target main body. The outer peripheral edge is detachably assembled so as to cover a position that does not correspond to the magnet in the electrode, and the outer peripheral edge is divided into a cover part that forms the flange part.

【0016】こうすると、ターゲットにおいてスパッタ
リングされる部分はターゲット本体のみとなり、該ター
ゲット本体の表面外周縁部に組み付けられているカバー
部ではスパッタリングが行われない。従って、ターゲッ
トの消耗に伴う交換時、ターゲット本体のみを交換し
て、スパッタリングされないカバー部はそのまま次のス
パッタリング成膜に再利用することができる。よって、
ターゲットにおけるフランジ部の構造を旨く利用しつ
つ、ターゲット全体を交換する場合に比べ、その利用効
率を高めることができる。
In this case, the portion of the target to be sputtered is only the target main body, and the sputtering is not performed on the cover attached to the outer peripheral portion of the surface of the target main body. Therefore, at the time of replacement due to exhaustion of the target, only the target body is replaced, and the cover portion that is not sputtered can be reused for the next sputtering film formation. Therefore,
The utilization efficiency can be improved as compared with the case where the entire target is replaced, while using the structure of the flange portion of the target successfully.

【0017】一方、請求項3の発明では、真空室に電極
を設置し、真空室内に成膜材料ガスを導入した状態で、
電極表面からの放電による成膜材料ガスの化学気相成長
により、真空室内に配置した基板に成膜を行うようにし
た成膜装置が前提である。
On the other hand, according to the third aspect of the present invention, an electrode is installed in a vacuum chamber, and a film forming material gas is introduced into the vacuum chamber.
It is premised on a film forming apparatus that forms a film on a substrate placed in a vacuum chamber by chemical vapor deposition of a film forming material gas by discharge from an electrode surface.

【0018】そして、上記電極の外周側面における電極
表面側(放電面側)に、他の部分よりも電極外側に突出
するフランジ部を設け、上記電極の放電域を制限するア
ースシールドを、上記電極のフランジ部裏面側に電極と
所定の間隔をあけて対向配置する。
Further, a flange portion is provided on the outer peripheral side surface of the electrode on the electrode surface side (discharge surface side) so as to protrude outside the electrode from other portions, and an earth shield for limiting a discharge area of the electrode is provided on the electrode. Are arranged opposite to the electrodes at a predetermined interval on the back side of the flange portion.

【0019】この構成によれば、電極の外周側面にフラ
ンジ部が設けられ、このフランジ部の裏面側にアースシ
ールドが配置されているので、そのアースシールドは真
空室から見て電極のフランジ部の陰になって、このアー
スシールドに真空室内の成膜やダストが堆積し難くな
り、化学気相成長法による基板に対する連続成膜を、電
極とアースシールドとの短絡による放電の中断を招くこ
となく長時間に亘り安定して行うことができる。
According to this configuration, since the flange portion is provided on the outer peripheral side surface of the electrode, and the ground shield is disposed on the back surface side of the flange portion, the ground shield is provided on the flange portion of the electrode when viewed from the vacuum chamber. This makes it difficult for film deposition and dust to accumulate in the vacuum chamber on this earth shield, and enables continuous film formation on the substrate by chemical vapor deposition without interrupting the discharge due to a short circuit between the electrode and the earth shield. It can be performed stably for a long time.

【0020】また、アースシールドが電極のフランジ部
裏面側のスペースに配置されているので、電極の位置を
アースシールドと略同じ高さ位置とすることができ、真
空室の内部を有効に利用することができる。
Further, since the earth shield is arranged in the space on the back surface side of the flange portion of the electrode, the position of the electrode can be set at substantially the same height as the earth shield, and the inside of the vacuum chamber is effectively used. be able to.

【0021】請求項4の発明では、上記請求項3の成膜
装置において、電極を電極本体と、該電極本体にその表
面全体を覆うように取外し可能に組み付けられ、外周縁
部が上記フランジ部を構成するカバー部とに分割する。
このことで、電極の表面に堆積した成膜やダスト等を除
去して清浄にするとき、そのカバー部を清掃の容易な材
料として、電極の清掃が容易となる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the film forming apparatus of the third aspect, the electrode is detachably assembled to the electrode main body so as to cover the entire surface of the electrode main body, and the outer peripheral edge is formed of the flange portion. And a cover part.
Thus, when removing the film or dust deposited on the surface of the electrode and cleaning the electrode, the cover is made easy to clean and the electrode is easily cleaned.

【0022】請求項5の発明では、上記電極本体をアル
ミニウム系材料で構成する一方、カバー部はステンレス
鋼で構成する。こうすれば、電極の軽量化を図りつつ、
その清掃の容易化を図ることができる。
In the fifth aspect of the present invention, the electrode body is made of an aluminum-based material, while the cover is made of stainless steel. In this way, while reducing the weight of the electrode,
The cleaning can be facilitated.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(実施形態1)図1は本発明の実施形態1に係るスパッ
タリング成膜装置を示し、1は真空室で、その壁部2は
アース電位とされている。真空室1の内部は図外の真空
吸引ポンプに接続されており、この真空吸引ポンプの吸
引排気によって真空室1内が真空状態に保たれる。上記
真空室1内には成膜しようとするワークとしての基板S
が真空室1の壁部2と同じアース電位とされて配置さ
れ、この基板Sは真空室1の壁部2に開口した出入口
(図示せず)を経て真空室1内へ供給され又は真空室1
から取り出される。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows a sputtering film forming apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, wherein 1 is a vacuum chamber, and a wall portion 2 thereof is set to the ground potential. The inside of the vacuum chamber 1 is connected to a vacuum suction pump (not shown), and the inside of the vacuum chamber 1 is maintained in a vacuum state by suction and exhaust of the vacuum suction pump. In the vacuum chamber 1, a substrate S as a work to be formed into a film is formed.
Is placed at the same ground potential as the wall 2 of the vacuum chamber 1, and the substrate S is supplied into the vacuum chamber 1 through an entrance (not shown) opened to the wall 2 of the vacuum chamber 1 or 1
Taken out of

【0024】上記真空室1の壁部2のうちの底壁部2a
(下壁部)には例えば矩形状(円形状やその他の形状で
あってもよい)の電極取付孔3が貫通形成され、この電
極取付孔3はカソード電極5によって閉塞されている。
このカソード電極5は上方に開口された断面略コ字状の
もので、その下端外周には水平方向外側に延びる電極フ
ランジ部5aが一体に形成されている。そして、電極5
は電極フランジ部5aが真空室1の底壁部2a外側に位
置しかつ開口が上側(真空室1の内側)に向いた状態で
電極取付孔3内に嵌挿されており、電極フランジ部5a
上面と底壁部2a外面(下面)との間は枠状の絶縁部材
18が介在されて気密シールされている。
The bottom wall 2a of the wall 2 of the vacuum chamber 1
In the (lower wall portion), for example, a rectangular (or circular or other) electrode mounting hole 3 is formed so as to penetrate therethrough, and the electrode mounting hole 3 is closed by the cathode electrode 5.
The cathode electrode 5 has a substantially U-shaped cross section opened upward, and an electrode flange portion 5a extending outward in the horizontal direction is integrally formed on the outer periphery of the lower end thereof. And the electrode 5
The electrode flange portion 5a is inserted into the electrode mounting hole 3 with the electrode flange portion 5a positioned outside the bottom wall portion 2a of the vacuum chamber 1 and the opening facing upward (inside the vacuum chamber 1).
A frame-shaped insulating member 18 is interposed between the upper surface and the outer surface (lower surface) of the bottom wall portion 2a to be hermetically sealed.

【0025】上記電極5の開口は電極5に取付固定した
バッキングプレート6により覆われ、このバッキングプ
レート6の上面には、成膜材料からなるターゲット8が
その表面8a(上面)を真空室1内に臨ませて裏面8b
にてビス等により一体的に取り付けられている。さら
に、上記電極5の内部には永久磁石からなるマグネット
16が収容されており、このマグネット16による彎曲
磁場によってターゲット8表面にマグネトロン放電によ
る高密度プラズマを生成し、このプラズマのイオンによ
ってターゲット8表面をスパッタリングして、そのスパ
ッタリングにより得られた成膜材料を基板Sの表面に沈
着させるようになっている。
The opening of the electrode 5 is covered by a backing plate 6 attached to and fixed to the electrode 5. On the upper surface of the backing plate 6, a target 8 made of a film forming material has its surface 8 a (upper surface) in the vacuum chamber 1. Face 8b
Are integrally attached by screws or the like. Further, a magnet 16 made of a permanent magnet is housed inside the electrode 5, and a high-density plasma is generated on the surface of the target 8 by magnetron discharge by a curved magnetic field generated by the magnet 16, and ions of the plasma generate ions on the surface of the target 8. Is sputtered, and the film-forming material obtained by the sputtering is deposited on the surface of the substrate S.

【0026】さらに、この発明の特徴として、図2にも
拡大詳示するように、上記ターゲット8の外周側面に
は、そのターゲット裏面8b側の端部からターゲット表
面8a側の端部近くまでを段差状に切り欠いてなる切欠
段部10が形成され、ターゲット8の外周側面における
上記切欠段部10以外の部分がフランジ部9とされてい
る。つまり、ターゲット8の外周側面におけるターゲッ
ト表面8a側(上面側)には、ターゲット8の外周全体
に亘って他の部分よりもターゲット8外側に突出するフ
ランジ部9が設けられている。
Further, as a feature of the present invention, as shown in detail in FIG. 2, the outer peripheral side surface of the target 8 extends from the end on the target back surface 8b side to the vicinity of the end on the target front surface 8a side. A notch step 10 which is cut out in a step shape is formed, and a portion other than the notch step 10 on the outer peripheral side surface of the target 8 is a flange 9. That is, on the target surface 8a side (upper surface side) on the outer peripheral side surface of the target 8, the flange portion 9 is provided over the entire outer periphery of the target 8 so as to protrude outside the target 8 from other portions.

【0027】一方、上記真空室1の底壁部2a内面(上
面)には上記電極取付孔3の周囲に、上記カソード電極
5の放電域を制限するためのアースシールド14が底壁
部2aとの導通によりアース電位とされた状態で取付固
定されている。このアースシールド14は略枠板形状の
もので、その外周縁部下面が底壁部2a内面に固定され
ている。アースシールド14の内周縁部14aは上下方
向に起立しており、この起立状の内周縁部14aは、上
記ターゲット8の外周側面のフランジ部9裏面側(切欠
段部10の内部)にターゲット8におけるフランジ部9
下面ないし切欠段部10外周面と所定の間隔をあけて対
向配置されている。
On the other hand, on the inner surface (upper surface) of the bottom wall 2a of the vacuum chamber 1, an earth shield 14 for limiting the discharge area of the cathode electrode 5 is provided around the electrode mounting hole 3 on the bottom wall 2a. And is fixed at the ground potential by the conduction of. The earth shield 14 has a substantially frame plate shape, and the lower surface of the outer peripheral edge is fixed to the inner surface of the bottom wall 2a. The inner peripheral edge portion 14a of the ground shield 14 stands up and down. The upright inner peripheral edge portion 14a is formed on the rear surface side of the flange 9 on the outer peripheral side surface of the target 8 (inside the notch step portion 10). Flange part 9
The lower surface or the outer peripheral surface of the notch step portion 10 is disposed facing the outer peripheral surface at a predetermined interval.

【0028】したがって、この実施形態においては、真
空室1内に基板Sを収容配置して壁部2との導通により
アース電位とし、真空吸引ポンプの吸引排気により真空
室1を真空状態にしてその内部にスパッタガスを供給
し、カソード電極5にマイナスの電圧を印加することに
より、電極5内のマグネット16による彎曲磁場によっ
てターゲット8の表面8aにマグネトロン放電による高
密度プラズマが生成され、このプラズマのイオンによっ
てターゲット表面8aがスパッタリングされ、そのスパ
ッタリングにより蒸発した成膜材料が基板Sの表面上に
付着して、その基板Sの成膜が行われる。
Therefore, in this embodiment, the substrate S is housed and arranged in the vacuum chamber 1 and brought to the ground potential by conduction with the wall portion 2, and the vacuum chamber 1 is evacuated by suction and exhaust of a vacuum suction pump. By supplying a sputtering gas to the inside and applying a negative voltage to the cathode electrode 5, a high-density plasma is generated on the surface 8 a of the target 8 by magnetron discharge due to a curved magnetic field generated by the magnet 16 in the electrode 5. The target surface 8a is sputtered by the ions, and the film-forming material evaporated by the sputtering adheres to the surface of the substrate S, thereby forming the film on the substrate S.

【0029】そのとき、上記ターゲット8の外周側面に
おけるターゲット表面8a側にフランジ部9が設けら
れ、このフランジ部9の裏面側にアースシールド14の
内周縁部14aが配置されているので、そのアースシー
ルド14の内周縁部14aは真空室1の中央部から見て
ターゲット8におけるフランジ部9の陰に位置すること
となる。このため、真空室1内にある成膜材料やダスト
はターゲット8のフランジ部9には堆積するが、そのフ
ランジ部9の裏面側に位置するアースシールド14の内
周縁部14aには堆積し難くなる。その結果、電極5と
アースシールド14との短絡による放電の中断を抑制し
て、上記基板Sに対する連続成膜を長時間に亘り安定し
て行うことができる。
At this time, a flange portion 9 is provided on the outer peripheral side surface of the target 8 on the side of the target surface 8a, and the inner peripheral edge portion 14a of the earth shield 14 is disposed on the back surface side of the flange portion 9, so that the ground is provided. The inner peripheral edge 14 a of the shield 14 is located behind the flange 9 of the target 8 when viewed from the center of the vacuum chamber 1. For this reason, the film forming material and dust in the vacuum chamber 1 accumulate on the flange 9 of the target 8, but hardly accumulate on the inner peripheral edge 14 a of the earth shield 14 located on the back side of the flange 9. Become. As a result, the interruption of the discharge due to the short circuit between the electrode 5 and the earth shield 14 is suppressed, and the continuous film formation on the substrate S can be stably performed for a long time.

【0030】また、上記アースシールド14がフランジ
部9の裏面側のスペースに配置されているので、ターゲ
ット8とアースシールド14との高さ位置は略同じとな
り、真空室1でのターゲット8の突出高さを低く保つこ
とができ、その分、真空室1の内部スペースを有効に利
用して、基板Sの真空室1に対する出入れ等を容易に行
うことができる。
Since the ground shield 14 is arranged in the space on the back side of the flange portion 9, the height of the target 8 and the ground shield 14 are substantially the same, and the target 8 projects in the vacuum chamber 1. The height can be kept low, and the inside space of the vacuum chamber 1 can be effectively used and the substrate S can be easily moved in and out of the vacuum chamber 1.

【0031】さらに、ターゲット8の外周側面における
フランジ部9の裏面側にアースシールド14が配置され
ているので、ターゲット8の外周縁部はマグネット16
の磁場エリアから大きく広がらず、ターゲット8の利用
効率を高めることができるとともに、ターゲット8外周
部の放電パワーの増大を抑えてロスを低減することがで
きる。
Further, since the earth shield 14 is arranged on the outer peripheral side surface of the target 8 on the back side of the flange portion 9, the outer peripheral edge of the target 8 is magnet 16
The magnetic field does not greatly expand from the magnetic field area of the target 8, the utilization efficiency of the target 8 can be improved, and the increase in the discharge power at the outer peripheral portion of the target 8 can be suppressed to reduce loss.

【0032】(実施形態2)図3は本発明の実施形態2
を示し(尚、以下の各実施形態では図1及び図2と同じ
部分については同じ符号を付してその詳細な説明は省略
する)、ターゲット8を本体とフランジ部9の部分とに
分割したものである。
(Embodiment 2) FIG. 3 shows Embodiment 2 of the present invention.
(Note that in the following embodiments, the same portions as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted), and the target 8 is divided into a main body and a flange portion 9. Things.

【0033】すなわち、この実施形態では、ターゲット
8はターゲット本体11と枠状のカバー部12とに分割
され、上記ターゲット本体11の表面がスパッタリング
されるようになっている。また、カバー部12はターゲ
ット本体11と同じ材料からなっていて、ターゲット本
体11にその表面外周縁部でかつ電極5のマグネット1
6に対応しない位置を覆うように取外し可能に、具体的
にはターゲット本体11上面の外周縁部を例えば段状に
切り欠いて、その段部に単に嵌合した状態で組み付けら
れ、このカバー部12の外周縁部でフランジ部9が構成
されている。尚、カバー部12の上面とターゲット本体
11の上面とは面一であることが望ましいが、必ずしも
面一でなくてもよい。
That is, in this embodiment, the target 8 is divided into a target body 11 and a frame-shaped cover portion 12, and the surface of the target body 11 is sputtered. The cover 12 is made of the same material as the target main body 11, and is provided on the target main body 11 at the outer peripheral edge of the surface thereof and the magnet 1
6, the outer peripheral edge of the upper surface of the target main body 11 is cut out, for example, in a step-like manner, and the target body 11 is assembled in a state where it is simply fitted to the step. A flange portion 9 is formed by an outer peripheral portion of the flange 12. Note that the upper surface of the cover 12 and the upper surface of the target main body 11 are desirably flush with each other, but need not be flush.

【0034】したがって、この実施形態の場合、ターゲ
ット8においてスパッタリングされる部分はターゲット
本体11の表面のみで、ターゲット本体11の表面外周
縁部に組み付けられているカバー部12はスパッタリン
グされない。それ故、ターゲット8の消耗に伴う交換
時、ターゲット本体11のみを交換すれば済み、スパッ
タリングされないカバー部12はそのまま再利用するこ
とができる。よって、フランジ部9の構造を利用しつ
つ、ターゲット8の全体を交換する場合に比べ、その利
用効率を高めることができる。
Therefore, in the case of this embodiment, the portion of the target 8 to be sputtered is only the surface of the target main body 11, and the cover portion 12 attached to the outer peripheral edge of the surface of the target main body 11 is not sputtered. Therefore, at the time of replacement due to consumption of the target 8, only the target body 11 needs to be replaced, and the cover portion 12 that is not sputtered can be reused as it is. Therefore, the use efficiency of the target 8 can be increased as compared with the case where the entire target 8 is replaced while using the structure of the flange portion 9.

【0035】(実施形態3)図4は実施形態3を示し、
プラズマCVD成膜装置に適用したものである。すなわ
ち、この実施形態では、真空室1の底壁部2aに電極取
付孔3が形成され、この電極取付孔3は放電電極20に
よって閉塞されている。この放電電極20は例えば断面
矩形状のもので、その表面20a(上面)が真空室1に
臨んでいる。電極20の下端外周には水平方向外側に延
びる外側フランジ部21が一体に形成されており、電極
20は、外側フランジ部21が真空室1の底壁部2a外
側に位置した状態で電極取付孔3内に嵌挿されている。
そして、真空室1内に成膜材料ガス(反応ガス)を導入
した状態で、電極20の表面20aからの放電により成
膜材料ガスをプラズマ励起させる化学気相成長により、
真空室1内の基板S表面に成膜を行うようになってい
る。
(Embodiment 3) FIG. 4 shows Embodiment 3.
This is applied to a plasma CVD film forming apparatus. That is, in this embodiment, the electrode mounting hole 3 is formed in the bottom wall 2 a of the vacuum chamber 1, and the electrode mounting hole 3 is closed by the discharge electrode 20. The discharge electrode 20 has, for example, a rectangular cross section, and its surface 20 a (upper surface) faces the vacuum chamber 1. An outer flange portion 21 extending horizontally outward is integrally formed on the outer periphery of the lower end of the electrode 20. The electrode 20 has an electrode mounting hole with the outer flange portion 21 positioned outside the bottom wall 2 a of the vacuum chamber 1. 3 is inserted.
Then, in a state where the film forming material gas (reactive gas) is introduced into the vacuum chamber 1, chemical vapor deposition is performed by plasma-exciting the film forming material gas by discharge from the surface 20a of the electrode 20.
A film is formed on the surface of the substrate S in the vacuum chamber 1.

【0036】上記放電電極20の外周側面における電極
表面20a側(上側)には、電極20の外周全体に亘っ
て他の部分よりも電極20外側に突出する内側フランジ
部22が形成されている。具体的には、電極20は例え
ばアルミニウム系の材料からなる電極本体23と、該電
極本体23にその上面を覆うようにビス(図示せず)に
より取外し可能に組み付けられた板状のステンレス鋼か
らなるカバー部24とに分割され、このカバー部24の
上面が上記電極表面20aとされている。さして、上記
カバー部24は、電極本体23の上面よりも大きくて、
該電極本体23上面から水平外方向に所定寸法だけはみ
出すように取り付けられており、このカバー部24外周
縁のはみ出し部分により上記内側フランジ部22が構成
されている。
On the electrode surface 20a side (upper side) of the outer peripheral side surface of the discharge electrode 20, an inner flange portion 22 is formed over the entire outer periphery of the electrode 20 so as to protrude outside the electrode 20 from other portions. Specifically, the electrode 20 is made of, for example, an electrode body 23 made of an aluminum-based material and a plate-like stainless steel detachably assembled to the electrode body 23 with screws (not shown) so as to cover the upper surface thereof. And the upper surface of the cover portion 24 is the electrode surface 20a. Now, the cover portion 24 is larger than the upper surface of the electrode body 23,
The inner flange portion 22 is mounted so as to protrude from the upper surface of the electrode main body 23 in a horizontal direction by a predetermined dimension, and the protruding portion of the outer peripheral edge of the cover portion 24 is formed.

【0037】さらに、真空室1の底壁部2a内面(上
面)における電極取付孔3の周囲に、放電電極20の放
電域を制限するアースシールド14′が真空室1の底壁
部2aに導通された状態で取付固定されている。このア
ースシールド14′は断面略L字状の枠形状のもので、
その外周縁部下面が真空室1の底壁部2a内面に固定さ
れている一方、内周縁部14a′は上下方向に起立して
いて、上記電極20の内側フランジ部22(カバー部2
4外周の電極本体23からのはみ出し部分)の裏面側に
電極20における内側フランジ部22下面ないし電極本
体23の外周側面上部と所定の間隔をあけて対向配置さ
れている。
Further, an earth shield 14 ′ for limiting the discharge area of the discharge electrode 20 is connected to the bottom wall 2 a of the vacuum chamber 1 around the electrode mounting hole 3 on the inner surface (upper surface) of the bottom wall 2 a of the vacuum chamber 1. It is attached and fixed in the state where it was done. This earth shield 14 'has a frame shape with a substantially L-shaped cross section.
The lower surface of the outer peripheral edge portion is fixed to the inner surface of the bottom wall portion 2a of the vacuum chamber 1, while the inner peripheral edge portion 14a 'stands up and down, and the inner flange portion 22 of the electrode 20 (the cover portion 2)
On the back side of the four outer peripheral portions (protruding portions from the electrode body 23), the lower surface of the inner flange portion 22 of the electrode 20 or the upper part of the outer peripheral side surface of the electrode body 23 is opposed to the electrode 20 at a predetermined interval.

【0038】したがって、この実施形態の場合、真空室
1内に基板Sを収容配置し、真空室1を真空状態にして
その内部に成膜材料からなる反応ガスを供給し、放電電
極20に電圧を印加することにより、電極20からの放
電により反応ガスがプラズマ状態とされて基板S表面に
化学気相成長により付着され、その基板Sでの成膜が行
われる。
Therefore, in the case of this embodiment, the substrate S is accommodated and arranged in the vacuum chamber 1, the vacuum chamber 1 is evacuated, a reaction gas composed of a film forming material is supplied therein, and a voltage is applied to the discharge electrode 20. Is applied, the reaction gas is turned into a plasma state by the discharge from the electrode 20 and is attached to the surface of the substrate S by chemical vapor deposition, whereby the film is formed on the substrate S.

【0039】そのとき、電極20の外周側面に内側フラ
ンジ部22が設けられ、この内側フランジ部22の裏面
側にアースシールド14′の内周縁部14a′が配置さ
れているので、このアースシールド14′の内周縁部1
4a′は真空室1の中央部から見れば内側フランジ部2
2の陰になり、該内周縁部14a′に真空室1の成膜や
ダストは堆積し難くなる。よって、プラズマCVDによ
る連続成膜を電極20とアースシールド14′との短絡
による放電の中断なく長時間に亘り安定して行うことが
できる。
At this time, the inner flange portion 22 is provided on the outer peripheral side surface of the electrode 20, and the inner peripheral edge portion 14a 'of the earth shield 14' is disposed on the back surface side of the inner flange portion 22. ′ Inner peripheral edge 1
4a 'is the inner flange 2 when viewed from the center of the vacuum chamber 1.
2 and the film and dust in the vacuum chamber 1 hardly deposit on the inner peripheral edge portion 14a '. Therefore, continuous film formation by plasma CVD can be stably performed for a long time without interruption of discharge due to short circuit between the electrode 20 and the earth shield 14 '.

【0040】また、アースシールド14′が電極20の
内側フランジ部22裏面側のスペースに配置されている
ので、電極20の上端部をアースシールド14′と略同
じ高さ位置とすることができ、真空室1の内部を有効に
利用することができる。
Further, since the earth shield 14 'is arranged in the space on the back side of the inner flange portion 22 of the electrode 20, the upper end of the electrode 20 can be located at substantially the same height as the earth shield 14'. The inside of the vacuum chamber 1 can be used effectively.

【0041】さらに、上記電極20は電極本体23と、
その上面に取外し可能に組み付けられ、外周縁部が内側
フランジ部22とされたカバー部24とに分割され、カ
バー部24はステンレス鋼からなるので、電極20の表
面20aに堆積した成膜やダスト等を除去して清浄にす
るとき、そのステンレス鋼からなるカバー部24の上面
を清掃するだけで電極表面20aを清浄にでき、その電
極20の清掃を容易に行うことができる。
Further, the electrode 20 comprises an electrode body 23,
The cover is detachably assembled on the upper surface thereof and is divided into a cover portion 24 having an outer peripheral edge portion formed as an inner flange portion 22. Since the cover portion 24 is made of stainless steel, film deposition or dust deposited on the surface 20a of the electrode 20 is performed. When cleaning by removing the like, the electrode surface 20a can be cleaned simply by cleaning the upper surface of the stainless steel cover portion 24, and the electrode 20 can be easily cleaned.

【0042】また、電極20がアルミニウム系材料から
なる電極本体23と、ステンレス鋼からなるカバー部2
4とに分割されているので、電極全体を清掃し易いステ
ンレス鋼で構成する場合に比べ、電極20を軽くするこ
とができる。
The electrode body 23 is made of an aluminum-based material, and the cover 2 is made of stainless steel.
4, the electrode 20 can be made lighter than when the entire electrode is made of stainless steel, which is easy to clean.

【0043】尚、上記実施形態3では、電極20を電極
本体23とカバー部24とに分割し、カバー部24のは
み出し部分を内側フランジ部22としているが、上記実
施形態1のように電極20の外周側面の下部を切り欠く
ことで、内側フランジ部22を一体に形成するようにし
てもよい。
In the third embodiment, the electrode 20 is divided into the electrode main body 23 and the cover portion 24, and the protruding portion of the cover portion 24 is used as the inner flange portion 22. The inner flange portion 22 may be formed integrally by cutting out the lower portion of the outer peripheral side surface of the inner flange portion.

【0044】また、上記各実施形態では、電極5,20
を真空室1の壁部2のうちの底壁部2aに配置している
が、その他の部分に配置できるのは勿論である。
In each of the above embodiments, the electrodes 5, 20
Is arranged on the bottom wall 2 a of the wall 2 of the vacuum chamber 1, but it can be of course arranged on other parts.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上説明のように、請求項1の発明によ
ると、真空室内に、成膜材料からなるターゲットが付設
された電極を設置し、その電極からの放電によりターゲ
ットの表面をスパッタリングして、真空室内の基板に成
膜を行う場合に、ターゲットの外周側面におけるターゲ
ット表面側にフランジ部を突設し、このフランジ部の裏
面側に、電極の放電域を制限するアースシールドをター
ゲットと間隔をあけて配置するようにしたことにより、
ターゲットの高さを低く保って真空室内の有効利用を図
りながら、真空室内にある成膜材料やダストをアースシ
ールドに堆積し難くし、電極とアースシールドとの短絡
による放電の中断を防いで、長時間に亘り安定した連続
成膜を行うことができる。また、ターゲットの外周縁部
をマグネットの磁場エリアから広げる必要がないので、
ターゲットの利用効率を高めるとともに、ターゲット外
周部の放電パワーの増大によるロスを低減することがで
きる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, an electrode provided with a target made of a film-forming material is installed in a vacuum chamber, and the surface of the target is sputtered by discharge from the electrode. When forming a film on a substrate in a vacuum chamber, a flange is protruded from the outer surface of the target on the surface of the target, and an earth shield for limiting the discharge area of the electrode is formed on the back of the flange. By arranging them at intervals,
While keeping the target height low and making effective use of the vacuum chamber, it is difficult to deposit film-forming materials and dust in the vacuum chamber on the earth shield, preventing interruption of discharge due to short circuit between the electrode and the earth shield, Stable continuous film formation can be performed for a long time. Also, since there is no need to extend the outer edge of the target from the magnetic field area of the magnet,
The utilization efficiency of the target can be increased, and the loss due to an increase in the discharge power at the outer peripheral portion of the target can be reduced.

【0046】請求項2の発明によると、ターゲットを、
スパッタリングされるターゲット本体と、このターゲッ
ト本体にその表面外周縁部でかつ電極のマグネットを外
れる位置を覆うように取外し可能に組み付けられ、外周
縁部がフランジ部を構成するカバー部とに分割するよう
にしたことにより、ターゲットの交換時、カバー部を廃
棄することなくそのまま再利用でき、フランジ部の構造
を旨く利用しつつ、ターゲットの利用効率を高めること
ができる。
According to the second aspect of the present invention, the target is
The target main body to be sputtered and the target main body are detachably assembled so as to cover the outer peripheral edge of the target surface and the position where the magnet of the electrode is removed, and the outer peripheral edge is divided into a cover part forming a flange part. With this configuration, when replacing the target, the cover can be reused without discarding the cover, and the utilization efficiency of the target can be increased while using the structure of the flange portion successfully.

【0047】請求項3の発明によると、真空室内に電極
を設置し、真空室内に成膜材料ガスを導入した状態で、
電極表面からの放電による成膜材料ガスの化学気相成長
により、真空室内の基板に成膜を行う場合に、電極の外
周側面における電極表面側にフランジ部を突設し、この
フランジ部の裏面側にアースシールドを電極と間隔をあ
けて配置するようにしたことにより、化学気相成長法に
よる成膜装置での真空室内部の有効利用を図りつつ、連
続成膜を電極とアースシールドとの短絡による放電の中
断なく長時間に亘り安定して行うことができる。
According to the third aspect of the present invention, the electrode is installed in the vacuum chamber, and the film forming material gas is introduced into the vacuum chamber.
When a film is formed on a substrate in a vacuum chamber by chemical vapor deposition of a film material gas by discharge from an electrode surface, a flange portion is protruded from an electrode surface on an outer peripheral side surface of the electrode, and a back surface of the flange portion is provided. By placing an earth shield on the side with an interval between the electrode and the electrode, continuous deposition can be performed between the electrode and the earth shield while effectively utilizing the inside of the vacuum chamber in the deposition apparatus by chemical vapor deposition. It can be performed stably for a long time without interruption of discharge due to short circuit.

【0048】請求項4の発明によると、上記電極を電極
本体と、電極本体にその表面全体を覆うように取外し可
能に組み付けられ、外周縁部がフランジ部を構成するカ
バー部とに分割するようにしたことにより、電極の表面
に堆積した成膜材料やダスト等を除去する際の電極清掃
の容易化を図ることができるまた、請求項5の発明によ
れば、電極本体をアルミニウム系材料で、またカバー部
はステンレス鋼でそれぞれ構成したことにより、電極の
軽量化を図りつつ、その清掃の容易化を図ることができ
る。
According to the fourth aspect of the present invention, the electrode is divided into the electrode body and the electrode body so as to be detachably assembled so as to cover the entire surface thereof, and the outer peripheral edge portion is divided into the cover portion forming the flange portion. With this configuration, it is possible to easily clean the electrode when removing film-forming materials, dust, and the like deposited on the surface of the electrode. According to the invention of claim 5, the electrode body is made of an aluminum-based material. In addition, since the cover portion is made of stainless steel, the electrode can be reduced in weight and can be easily cleaned.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態1に係るスパッタリング成膜
装置を概略的に示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a sputtering film forming apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】実施形態1の成膜装置の要部を拡大して示す断
面図である。
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view illustrating a main part of the film forming apparatus according to the first embodiment.

【図3】実施形態2を示す図1相当図である。FIG. 3 is a diagram corresponding to FIG. 1, showing a second embodiment.

【図4】実施形態3を示す図1相当図である。FIG. 4 is a view corresponding to FIG. 1 showing a third embodiment.

【図5】従来例を示す図1相当図である。FIG. 5 is a diagram corresponding to FIG. 1 showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 真空室 2 壁部 2a 底壁部 5 カソード電極 8 ターゲット 8a 表面 8b 裏面 9 フランジ部 11 ターゲット本体 12 カバー部 14,14′ アースシールド 14a,14a′ 内周縁部 16 マグネット 20 放電電極 20a 表面 22 内側フランジ部(フランジ部) 23 電極本体 24 カバー部 S 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum chamber 2 Wall part 2a Bottom wall part 5 Cathode electrode 8 Target 8a Surface 8b Back surface 9 Flange part 11 Target main body 12 Cover part 14, 14 'Earth shield 14a, 14a' Inner peripheral part 16 Magnet 20 Discharge electrode 20a Surface 22 Inside Flange (flange) 23 Electrode body 24 Cover S board

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空室に、成膜材料からなるターゲット
が裏面にて固定された電極を設置し、該電極からの放電
により上記ターゲットの表面をスパッタリングして、真
空室内に配置した基板に成膜を行うようにした成膜装置
において、 上記ターゲットの外周側面におけるターゲット表面側
に、他の部分よりもターゲット外側に突出するフランジ
部を設け、 上記電極の放電域を制限するアースシールドを、上記タ
ーゲットのフランジ部裏面側にターゲットと所定の間隔
をあけて対向配置したことを特徴とする成膜装置。
An electrode in which a target made of a film-forming material is fixed on the back surface is placed in a vacuum chamber, and the surface of the target is sputtered by discharge from the electrode to form a substrate disposed in the vacuum chamber. In the film forming apparatus configured to perform film formation, on the target surface side on the outer peripheral side surface of the target, a flange portion that protrudes outside the target from other portions is provided, and an earth shield that restricts a discharge area of the electrode is provided with the ground shield. A film forming apparatus characterized by being disposed on the back side of a flange portion of a target so as to face the target at a predetermined interval.
【請求項2】 請求項1の成膜装置において、 ターゲットを、表面がスパッタリングされるターゲット
本体と、該ターゲット本体にその表面外周縁部でかつ電
極内のマグネットに対応しない位置を覆うように取外し
可能に組み付けられ、外周縁部がフランジ部を構成する
カバー部とに分割したことを特徴とする成膜装置。
2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the target is detached so as to cover the target body on which the surface is to be sputtered, and the outer periphery of the target body and a position which does not correspond to the magnet in the electrode. A film forming apparatus which is assembled so as to be capable of being divided into an outer peripheral edge portion and a cover portion constituting a flange portion.
【請求項3】 真空室に電極を設置し、真空室内に成膜
材料ガスを導入した状態で、電極表面からの放電による
成膜材料ガスの化学気相成長により、真空室内に配置し
た基板に成膜を行うようにした成膜装置において、 上記電極の外周側面における電極表面側に、他の部分よ
りも電極外側に突出するフランジ部を設け、 上記電極の放電域を制限するアースシールドを、上記電
極のフランジ部裏面側に電極と所定の間隔をあけて対向
配置したことを特徴とする成膜装置。
3. An electrode is placed in a vacuum chamber, and a film forming material gas is introduced into the vacuum chamber, and a chemical vapor deposition of the film forming material gas by discharge from the electrode surface is performed on a substrate disposed in the vacuum chamber. In a film forming apparatus configured to perform film formation, on the electrode surface side on the outer peripheral side surface of the electrode, a flange portion that protrudes outside the electrode from other portions is provided, and an earth shield that limits a discharge area of the electrode is provided. A film forming apparatus characterized in that the electrode is disposed on the back side of the flange portion of the electrode so as to face the electrode at a predetermined interval.
【請求項4】 請求項3の成膜装置において、 電極を、電極本体と、該電極本体にその表面全体を覆う
ように取外し可能に組み付けられ、外周縁部がフランジ
部を構成するカバー部とに分割したことを特徴とする成
膜装置。
4. The film forming apparatus according to claim 3, wherein the electrode is detachably assembled to the electrode main body so as to cover the entire surface of the electrode main body, and the outer peripheral edge portion forms a flange portion. A film forming apparatus characterized by being divided into:
【請求項5】 請求項4の成膜装置において、 電極本体をアルミニウム系材料で構成する一方、 カバー部をステンレス鋼で構成したことを特徴とする成
膜装置。
5. The film forming apparatus according to claim 4, wherein the electrode body is made of an aluminum-based material and the cover is made of stainless steel.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013007109A (en) * 2011-06-27 2013-01-10 Ulvac Japan Ltd Target for sputtering, and method for sputtering using the same
CN103469158A (en) * 2013-09-24 2013-12-25 辽宁北宇真空科技有限公司 Horizontal multi-arc coating chamber

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013007109A (en) * 2011-06-27 2013-01-10 Ulvac Japan Ltd Target for sputtering, and method for sputtering using the same
CN103469158A (en) * 2013-09-24 2013-12-25 辽宁北宇真空科技有限公司 Horizontal multi-arc coating chamber

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