JPH10197495A - ピンホール検出装置 - Google Patents
ピンホール検出装置Info
- Publication number
- JPH10197495A JPH10197495A JP1343397A JP1343397A JPH10197495A JP H10197495 A JPH10197495 A JP H10197495A JP 1343397 A JP1343397 A JP 1343397A JP 1343397 A JP1343397 A JP 1343397A JP H10197495 A JPH10197495 A JP H10197495A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pinhole
- container
- frequency
- circuit
- high voltage
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- Pending
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 各種の材質や形状の容器のピンホール検査が
可能であり、しかも内容物にも影響を与えずに正確にピ
ンホールを検出することを課題とする。 【解決手段】 このピンホール検出装置は、高周波数の
高電圧を断続的に容器に印加してピンホールを検出する
ものである。高電圧出力回路２は高周波数の高電圧を断
続的に出力する。また、電極部１２は、高電圧出力回路
２が出力する高周波数の高電圧を絶縁性材料からなる容
器に印加する。そして、検出回路１８は、電極部１２に
流れる放電電流または周波数の変化からピンホールの有
無を検出する。
可能であり、しかも内容物にも影響を与えずに正確にピ
ンホールを検出することを課題とする。 【解決手段】 このピンホール検出装置は、高周波数の
高電圧を断続的に容器に印加してピンホールを検出する
ものである。高電圧出力回路２は高周波数の高電圧を断
続的に出力する。また、電極部１２は、高電圧出力回路
２が出力する高周波数の高電圧を絶縁性材料からなる容
器に印加する。そして、検出回路１８は、電極部１２に
流れる放電電流または周波数の変化からピンホールの有
無を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、薬剤、薬品、飲料
水、食品等の容器に生じるピンホールの有無を検出する
ピンホール検出装置に関するものである。
水、食品等の容器に生じるピンホールの有無を検出する
ピンホール検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、アンプル等に生じるピンホー
ルの有無が問題とされていたが、これを検査する方法と
しては主に目視による検査が行われているに過ぎなかっ
た。近年になって、アンプル等の容器に直流あるいは１
ＫＨｚ以下の低周波数の高電圧を連続的に印加して、ピ
ンホール部分に集中する短絡電流を検出したり、あるい
は２０ＫＨｚ程度のコロナ放電を連続して放電し、ピン
ホールによる短絡電流を検出する装置が使用されるに至
っている。
ルの有無が問題とされていたが、これを検査する方法と
しては主に目視による検査が行われているに過ぎなかっ
た。近年になって、アンプル等の容器に直流あるいは１
ＫＨｚ以下の低周波数の高電圧を連続的に印加して、ピ
ンホール部分に集中する短絡電流を検出したり、あるい
は２０ＫＨｚ程度のコロナ放電を連続して放電し、ピン
ホールによる短絡電流を検出する装置が使用されるに至
っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の検出装置に
おいては、高電圧を連続的に印加して連続放電していた
ため、検出対象物である容器の発熱は避けられず、容器
が変形することがあった。また、内容物を入れてからの
ピンホール検査では、内容物も発熱し、内容物の変質の
原因ともなっていた。
おいては、高電圧を連続的に印加して連続放電していた
ため、検出対象物である容器の発熱は避けられず、容器
が変形することがあった。また、内容物を入れてからの
ピンホール検査では、内容物も発熱し、内容物の変質の
原因ともなっていた。
【０００４】また、上記従来の検出装置のように、高電
圧を連続的に容器に印加した場合、放電が容器の角の部
分等に集中し易く、このためプラスチック製の容器のよ
うに薄く耐熱性の低い容器では穴があいてしまうことが
あった。特に、プラスチック製の容器には、容器の成形
時に型の合わせ目の所等に形勢される凸部が容器の内外
にあり、この凸部に放電が集中して溶解し、穴があいて
しまうため、ピンホール検査をすることができなかっ
た。このように、従来の検出装置においては、容器の材
質や形状により、ピンホール検査を行うことができない
ものがあった。
圧を連続的に容器に印加した場合、放電が容器の角の部
分等に集中し易く、このためプラスチック製の容器のよ
うに薄く耐熱性の低い容器では穴があいてしまうことが
あった。特に、プラスチック製の容器には、容器の成形
時に型の合わせ目の所等に形勢される凸部が容器の内外
にあり、この凸部に放電が集中して溶解し、穴があいて
しまうため、ピンホール検査をすることができなかっ
た。このように、従来の検出装置においては、容器の材
質や形状により、ピンホール検査を行うことができない
ものがあった。
【０００５】本発明は、上記従来例の課題に鑑みなされ
たもので、その目的は、各種の材質や形状の容器のピン
ホール検査が可能であり、しかも内容物にも影響を与え
ずに正確にピンホールを検出することができるピンホー
ル検出装置を提供することにある。
たもので、その目的は、各種の材質や形状の容器のピン
ホール検査が可能であり、しかも内容物にも影響を与え
ずに正確にピンホールを検出することができるピンホー
ル検出装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のピンホール検出
装置は、絶縁性材料からなる容器に高周波数の高電圧を
断続的に印加し、このときのコロナ放電電流または周波
数の変化からピンホールを検出するものである。
装置は、絶縁性材料からなる容器に高周波数の高電圧を
断続的に印加し、このときのコロナ放電電流または周波
数の変化からピンホールを検出するものである。
【０００７】また、このピンホール検出装置は、更に好
ましくは、高周波数の高電圧を断続的に出力する高電圧
出力回路と、絶縁性材料からなる容器に前記高電圧出力
回路が出力する高周波数の高電圧を印加する電極部と、
該電極部に流れる放電電流または周波数の変化からピン
ホールの有無を検出する検出回路と、からなるものであ
る。
ましくは、高周波数の高電圧を断続的に出力する高電圧
出力回路と、絶縁性材料からなる容器に前記高電圧出力
回路が出力する高周波数の高電圧を印加する電極部と、
該電極部に流れる放電電流または周波数の変化からピン
ホールの有無を検出する検出回路と、からなるものであ
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明のピンホール検出装置は、
高周波数の高電圧を断続的に容器に印加してピンホール
を検出するものである。このように高周波数の高電圧を
断続的に印加することにより、電極部と容器との間で断
続的にコロナ放電を生じさせる。そして、ピンホール部
分で放電が行われると、ピンホール部分が短絡し、この
ときのコロナ放電電流及び周波数の変化からピンホール
を検出するものである。このような断続的な放電を行う
ことにより、プラスチック製の容器のように薄く且つ耐
熱性の低い容器であっても穴があくことがなく、ピンホ
ールの検出をすることが可能となる。
高周波数の高電圧を断続的に容器に印加してピンホール
を検出するものである。このように高周波数の高電圧を
断続的に印加することにより、電極部と容器との間で断
続的にコロナ放電を生じさせる。そして、ピンホール部
分で放電が行われると、ピンホール部分が短絡し、この
ときのコロナ放電電流及び周波数の変化からピンホール
を検出するものである。このような断続的な放電を行う
ことにより、プラスチック製の容器のように薄く且つ耐
熱性の低い容器であっても穴があくことがなく、ピンホ
ールの検出をすることが可能となる。
【０００９】
【実施例】図１は本発明の一実施例に係るピンホール検
出装置の構成を示すブロック図、図２は図１に示す信号
のタイムチャートである。２は高周波数の高電圧を断続
的に出力する高電圧出力回路である。この高電圧出力回
路２は、周波数１０〜５０ＫＨｚの高周波数電圧信号Ｃ
を出力する発振回路４と、その信号Ｃを５〜４０ＫＶの
高電圧に変換して出力する高電圧変圧回路６と、から構
成されている。この高電圧変圧回路６は、信号Ｃを入力
して後述する電極部に高周波数高電圧を印加する変圧器
８と、後述する電極部に出力する電圧及び電流をモニタ
ーしてピンホールの検出用信号を出力すると共に後述す
る制御回路からの信号に基づいて０．５〜１ｍｓのパル
ス幅のパルスが５〜２０ｍｓの間隔で発生する断続信号
Ｂを発振回路４に出力するパルス形成回路１０と、から
構成されている。発振回路４は、このパルス形成回路１
０からの断続信号Ｂに基づいて高周波数電圧信号Ｃを断
続的に出力している。このため、高電圧変圧回路６から
後述する電極部に印加される信号は、１０〜５０ＫＨｚ
の周波数で、５〜４０ＫＶの電圧を有し、更に５〜２０
ｍｓの間隔で且つ０．１〜５ｍｓの出力時間で出力され
ることになる。
出装置の構成を示すブロック図、図２は図１に示す信号
のタイムチャートである。２は高周波数の高電圧を断続
的に出力する高電圧出力回路である。この高電圧出力回
路２は、周波数１０〜５０ＫＨｚの高周波数電圧信号Ｃ
を出力する発振回路４と、その信号Ｃを５〜４０ＫＶの
高電圧に変換して出力する高電圧変圧回路６と、から構
成されている。この高電圧変圧回路６は、信号Ｃを入力
して後述する電極部に高周波数高電圧を印加する変圧器
８と、後述する電極部に出力する電圧及び電流をモニタ
ーしてピンホールの検出用信号を出力すると共に後述す
る制御回路からの信号に基づいて０．５〜１ｍｓのパル
ス幅のパルスが５〜２０ｍｓの間隔で発生する断続信号
Ｂを発振回路４に出力するパルス形成回路１０と、から
構成されている。発振回路４は、このパルス形成回路１
０からの断続信号Ｂに基づいて高周波数電圧信号Ｃを断
続的に出力している。このため、高電圧変圧回路６から
後述する電極部に印加される信号は、１０〜５０ＫＨｚ
の周波数で、５〜４０ＫＶの電圧を有し、更に５〜２０
ｍｓの間隔で且つ０．１〜５ｍｓの出力時間で出力され
ることになる。
【００１０】１２は電極部であり、容器の表面に高電圧
出力回路２からの高電圧を印加する高電圧電極１２ａ
と、容器に接触して接地する対向電極１２ｂと、放電チ
ェック用電極１２ｃと、から構成されている。
出力回路２からの高電圧を印加する高電圧電極１２ａ
と、容器に接触して接地する対向電極１２ｂと、放電チ
ェック用電極１２ｃと、から構成されている。
【００１１】１４は対向電極１２ｂと放電チェック用電
極１２ｃからの電流を入力して放電が実際に行われたか
否かをチェックするための放電チェック信号を出力する
放電検出回路である。
極１２ｃからの電流を入力して放電が実際に行われたか
否かをチェックするための放電チェック信号を出力する
放電検出回路である。
【００１２】１６は対向電極１２ｂ上に載置された容器
を対向電極１２ｂと共に回転させたり、あるいは高電圧
電極１２ａが検査位置に達したことの検出等を行う電極
操作部である。
を対向電極１２ｂと共に回転させたり、あるいは高電圧
電極１２ａが検査位置に達したことの検出等を行う電極
操作部である。
【００１３】１８はパルス形成回路１０に検査開始信号
Ａを印加して断続信号Ｂを出力させると共にそのパルス
形成回路１０から検出用信号を入力してピンホールの有
無を検出する検出回路としての制御回路である。本実施
例における制御回路１８は、電流検出回路１４からのチ
ェック信号を入力して放電が実際に行われなかった場合
に容器等の製造ライン等を停止させたり、電極操作部１
６に駆動信号を出力してその動作等を制御するものでも
ある。
Ａを印加して断続信号Ｂを出力させると共にそのパルス
形成回路１０から検出用信号を入力してピンホールの有
無を検出する検出回路としての制御回路である。本実施
例における制御回路１８は、電流検出回路１４からのチ
ェック信号を入力して放電が実際に行われなかった場合
に容器等の製造ライン等を停止させたり、電極操作部１
６に駆動信号を出力してその動作等を制御するものでも
ある。
【００１４】次に、上記構成からなるピンホール検出装
置を用いたピンホールの検出を図３乃至図８を用いて説
明する。検査を行う絶縁材料からなる容器２０は、図３
及び図４に示すように、対向電極１２ｂ上に載置されて
その壁部２０ｂが対向電極１２ｂに接触し、高電圧電極
１２ａが検査箇所である容器２０の壁部２０ａに近接配
置される。この状態における等価回路は、図５に示すよ
うに、容器２０の壁部２０ａ、内容物２２及び壁部２０
ｂがそれぞれ介在することにより形成される直列のコン
デンサＣ１〜Ｃ３となる。この状態において、高電圧出
力回路２から高周波数の高電圧が断続的に印加される
と、高電圧電極１２ａから容器２０の壁部２０ａにコロ
ナ放電が生じる。このときに電極１２ａ、１２ｂに流れ
る電流は、図８に示す波形２４のように、設定された周
波数及び値となり、これが断続して発生することにな
る。
置を用いたピンホールの検出を図３乃至図８を用いて説
明する。検査を行う絶縁材料からなる容器２０は、図３
及び図４に示すように、対向電極１２ｂ上に載置されて
その壁部２０ｂが対向電極１２ｂに接触し、高電圧電極
１２ａが検査箇所である容器２０の壁部２０ａに近接配
置される。この状態における等価回路は、図５に示すよ
うに、容器２０の壁部２０ａ、内容物２２及び壁部２０
ｂがそれぞれ介在することにより形成される直列のコン
デンサＣ１〜Ｃ３となる。この状態において、高電圧出
力回路２から高周波数の高電圧が断続的に印加される
と、高電圧電極１２ａから容器２０の壁部２０ａにコロ
ナ放電が生じる。このときに電極１２ａ、１２ｂに流れ
る電流は、図８に示す波形２４のように、設定された周
波数及び値となり、これが断続して発生することにな
る。
【００１５】一方、図６に示すように、容器２０の壁部
２０ａにピンホール２０ｃがあると、図７に示すよう
に、コンデンサＣ１に対して並列に抵抗Ｒが接続された
回路と同じ状態になり、回路の共振状態が変化し、電極
１２ａ、１２ｂに流れる電流も変化して図８に示す波形
２６のように周波数が低くなり、電流値も変わることに
なる。この電流の変化は、パルス形成回路１０からの検
出用信号に発生し、制御回路１８はこの変化を検出して
ピンホールを検出する。
２０ａにピンホール２０ｃがあると、図７に示すよう
に、コンデンサＣ１に対して並列に抵抗Ｒが接続された
回路と同じ状態になり、回路の共振状態が変化し、電極
１２ａ、１２ｂに流れる電流も変化して図８に示す波形
２６のように周波数が低くなり、電流値も変わることに
なる。この電流の変化は、パルス形成回路１０からの検
出用信号に発生し、制御回路１８はこの変化を検出して
ピンホールを検出する。
【００１６】上記のようなピンホールの検出は、前述し
たような印加される高電圧に対応して、放電時間０．１
〜５ｍｓ、停止時間２〜５０ｍｓの間隔で断続的に行わ
れる。そして、信号Ａの出力が停止すると検査は終了す
る。
たような印加される高電圧に対応して、放電時間０．１
〜５ｍｓ、停止時間２〜５０ｍｓの間隔で断続的に行わ
れる。そして、信号Ａの出力が停止すると検査は終了す
る。
【００１７】
【発明の効果】本発明によれば、高周波数の高電圧を断
続的に印加することにより、容器への放電を断続的に行
っているので、放電集中により容器局部の発熱を防止す
ることができ、容器の破損を防止することができると共
に、容器や内容物の発熱も防止することができる。この
ため、飲料水を入れるプラスチック製のボトル等の容器
や、薬剤が入っている目薬あるいは点滴用のプラスチッ
ク製容器等もピンホール検査することができる。
続的に印加することにより、容器への放電を断続的に行
っているので、放電集中により容器局部の発熱を防止す
ることができ、容器の破損を防止することができると共
に、容器や内容物の発熱も防止することができる。この
ため、飲料水を入れるプラスチック製のボトル等の容器
や、薬剤が入っている目薬あるいは点滴用のプラスチッ
ク製容器等もピンホール検査することができる。
【図１】本発明の一実施例に係るピンホール検出装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す信号のタイムチャートである。
【図３】図１に示すピンホール検出装置において容器を
セットした状態を示す説明図である。
セットした状態を示す説明図である。
【図４】図３に示す電極と容器の状態を拡大して図示し
た断面図である。
た断面図である。
【図５】図４に示す電極と容器の等価回路を示す回路図
である。
である。
【図６】ピンホールがある場合の図３に示す電極と容器
の状態を拡大して図示した断面図である。
の状態を拡大して図示した断面図である。
【図７】図６に示す電極と容器の等価回路を示す回路図
である。
である。
【図８】放電電流の変化を示す波形図である。
２ 高電圧出力回路 １２ 電極部 １８ 制御回路 ２０ 容器
Claims (2)
- 【請求項１】 絶縁性材料からなる容器に高周波数の高
電圧を断続的に印加し、このときのコロナ放電電流また
は周波数の変化からピンホールを検出することを特徴と
するピンホール検出装置。 - 【請求項２】 高周波数の高電圧を断続的に出力する高
電圧出力回路と、 絶縁性材料からなる容器に前記高電圧出力回路が出力す
る高周波数の高電圧を印加する電極部と、 該電極部に流れる放電電流または周波数の変化からピン
ホールの有無を検出する検出回路と、 からなることを特徴とするピンホール検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1343397A JPH10197495A (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | ピンホール検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1343397A JPH10197495A (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | ピンホール検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10197495A true JPH10197495A (ja) | 1998-07-31 |
Family
ID=11833009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1343397A Pending JPH10197495A (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | ピンホール検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10197495A (ja) |
-
1997
- 1997-01-09 JP JP1343397A patent/JPH10197495A/ja active Pending
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