JPH10177977A - Brush cleaning device - Google Patents

Brush cleaning device

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JPH10177977A
JPH10177977A JP8336831A JP33683196A JPH10177977A JP H10177977 A JPH10177977 A JP H10177977A JP 8336831 A JP8336831 A JP 8336831A JP 33683196 A JP33683196 A JP 33683196A JP H10177977 A JPH10177977 A JP H10177977A
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brush
cleaning
shaft
cleaned
slide
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JP8336831A
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Satoshi Doi
敏 土井
Shizuo Kabaya
静雄 蒲谷
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Shibaura Mechatronics Corp
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Shibaura Engineering Works Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable the contact pressure of a cleaning brush imposed on a cleaning object to be mechanically set without using a servo motor by a method wherein a first sliding body is made to slide downward through the intermediary of a first regulating mechanism, and a second sliding body is made to slide upward through the intermediary of a second sliding body. SOLUTION: When a rod 106 of a cylinder 105 is driven in the direction of projection, a link 101 is made to pivot in a counterclockwise direction, whereby a first regulating mechanism 91 is made to descend, and a second regulating mechanism 92 is made to ascend. By this setup, a first and a second sliding body 62, and 63, interlock with the movements o the regulating mechanisms 91 and 92. That is, when the rod 106 of the cylinder 105 is driven up to a forward limit in the direction of projection, an upper cleaning brush 51 is made to descend, and a lower cleaning brush 52 is made to ascend, whereby the cleaning brushes 51 and 52 are positioned so as to come into contact with the upside and underside of a semiconductor wafer respectively. Moreover, the descent of the upper brush 51 and the ascent of the lower brush 52 by the operation of the cylinder 105 are balanced in weight.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は被洗浄物を回転さ
せながらその上下面をロ−ル状の洗浄ブラシで洗浄する
ブラシ洗浄装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a brush cleaning apparatus for cleaning the upper and lower surfaces of a cleaning object with a roll-shaped cleaning brush while rotating the object.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工程においては、被洗
浄物としての半導体ウエハを高い清浄度で洗浄すること
が要求される工程がある。上記半導体ウエハを洗浄する
方式としては、洗浄液中に複数枚の半導体ウエハを浸漬
するデイップ方式や半導体ウエハに向けて洗浄液を噴射
して一枚づつ洗浄する枚葉方式があり、最近では高い清
浄度が得られるとともに、コスト的に有利な枚葉方式が
採用されることが多くなってきている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process, there is a process that requires a semiconductor wafer as an object to be cleaned to be cleaned with high cleanliness. As a method of cleaning the semiconductor wafer, there are a dip method in which a plurality of semiconductor wafers are immersed in a cleaning liquid, and a single-wafer method in which a cleaning liquid is sprayed onto the semiconductor wafer to wash one by one. And the cost-effective single-wafer method is often adopted.

【0003】枚葉方式の1つとして洗浄ブラシを用いた
ブラシ洗浄装置が知られている。このブラシ洗浄装置は
半導体ウエハをほぼ水平な状態で回転駆動できるように
保持するとともに、その上下両面側にロ−ル状の一対の
洗浄ブラシを上下駆動できるように配置し、これら洗浄
ブラシを上記半導体ウエハの上下面にそれぞれ接触さ
せ、その接触部分に洗浄液を供給しながら上記半導体ウ
エハと洗浄ブラシとを回転させることで、上記半導体ウ
エハの上下両面を洗浄するようになっている。
A brush cleaning apparatus using a cleaning brush is known as one of the single-wafer systems. This brush cleaning device holds a semiconductor wafer so that it can be driven to rotate in a substantially horizontal state, and arranges a pair of roll-shaped cleaning brushes on both upper and lower surfaces so that the cleaning brush can be driven up and down. The upper and lower surfaces of the semiconductor wafer are cleaned by rotating the semiconductor wafer and the cleaning brush while contacting the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer and supplying a cleaning liquid to the contact portions.

【0004】上記半導体ウエハの上下面を所定の清浄度
で洗浄するためには、上記半導体ウエハの上下両面に対
して一対の洗浄ブラシが接触する圧力を調整できるよう
にすることが要求される。
In order to clean the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer with a predetermined degree of cleanliness, it is required that the pressure at which the pair of cleaning brushes contact the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer can be adjusted.

【0005】従来、半導体ウエハの上下面に対して一対
の洗浄ブラシが接触する圧力を調整できるようにするに
は、図8に示すブラシ駆動機構が用いられていた。この
ブラシ駆動機構は、それぞれガイド部1a、1bによっ
て軸線を垂直方向に沿わせてスライド自在に設けられた
第1のスライド体2と第2のスライド体3とを有する。
Conventionally, a brush driving mechanism shown in FIG. 8 has been used to adjust the pressure at which a pair of cleaning brushes contact the upper and lower surfaces of a semiconductor wafer. This brush drive mechanism has a first slide body 2 and a second slide body 3 that are slidably provided by guide portions 1a and 1b, respectively, so that their axes are vertically slidable.

【0006】上記第1のスライド体2の上端には上部洗
浄ブラシ4が軸線を水平方向に沿わせて回転駆動される
ように設けられ、第2のスライド体3の上端には下部洗
浄ブラシ5が軸線を水平方向に沿わせて回転駆動される
ように設けられている。上部洗浄ブラシ4は被洗浄物と
しての半導体ウエハUの上面を洗浄し、下部洗浄ブラシ
5は下面を洗浄するようになっている。上記半導体ウエ
ハUは図示しない回転体に保持され、回転駆動されるよ
うになっている。
An upper cleaning brush 4 is provided at the upper end of the first slide body 2 so as to be driven to rotate with its axis being horizontal, and a lower cleaning brush 5 is provided at the upper end of the second slide body 3. Are provided so as to be rotationally driven with the axis lined along the horizontal direction. The upper cleaning brush 4 cleans the upper surface of the semiconductor wafer U as an object to be cleaned, and the lower cleaning brush 5 cleans the lower surface. The semiconductor wafer U is held by a rotating body (not shown) and is driven to rotate.

【0007】各スライド体2、3の下端には第1のナッ
ト体2a、3aが螺合され、各第1のナット体2a、3
aには係合ピン6a、6bが設けられている。各係合ピ
ン6a、6bにはリンク7の両端部に形成された係合溝
7aがスライド自在に係合している。このリンク7の中
途部は支軸8によって回動自在に支持されている。
[0007] First nut bodies 2a, 3a are screwed to lower ends of the slide bodies 2, 3, respectively.
a is provided with engaging pins 6a and 6b. Engaging grooves 7a formed at both ends of the link 7 are slidably engaged with the engaging pins 6a and 6b. An intermediate portion of the link 7 is rotatably supported by a support shaft 8.

【0008】上記リンク7の一端部には第2のナット体
9が回動自在に設けられている。この第2のナット体9
には駆動ねじ軸11が固着されている。この駆動ねじ軸
11はサ−ボモ−タ12の回転軸12aに連結されてい
る。このサ−ボモ−タ12は制御装置13によって駆動
制御されるようになっている。
At one end of the link 7, a second nut body 9 is rotatably provided. This second nut body 9
, A drive screw shaft 11 is fixed. The drive screw shaft 11 is connected to a rotation shaft 12a of a servo motor 12. The servo motor 12 is driven and controlled by a control device 13.

【0009】したがって、上記サ−ボモ−タ12が作動
して駆動ねじ軸11が回転駆動されることで、上記リン
ク7が支軸8を支点として矢印で示す反時計方向に回動
させられるから、上部洗浄ブラシ4が下降して半導体ウ
エハUの上面に接触し、下部洗浄ブラシ5が上昇して下
面に接触するようになっている。
Therefore, when the servomotor 12 is operated and the drive screw shaft 11 is driven to rotate, the link 7 is rotated counterclockwise as indicated by an arrow with the support shaft 8 as a fulcrum. The upper cleaning brush 4 is lowered to contact the upper surface of the semiconductor wafer U, and the lower cleaning brush 5 is raised to contact the lower surface.

【0010】上記構成において、各洗浄ブラシ4、5の
半導体ウエハUの上下面に対する接触圧力を調整する場
合、つぎのように行われていた。まず、サ−ボモ−タ1
2を作動させてリンク7を反時計方向へ回動させ、上部
洗浄ブラシ4と下部洗浄ブラシ5とを半導体ウエハUの
上面と下面とに接触させ、その位置を0点して制御装置
13に記憶させる。
In the above arrangement, the contact pressure of the cleaning brushes 4, 5 with respect to the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U is adjusted as follows. First, Servomotor 1
2 to rotate the link 7 counterclockwise to bring the upper cleaning brush 4 and the lower cleaning brush 5 into contact with the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U. Remember.

【0011】その際、各スライド体2、3の下端に設け
られたナット体2a、3aを回転させて係合ピン6a、
6bを移動させることで、上記0点において上部洗浄ブ
ラシ4と下部洗浄ブラシ5とが半導体ウエハUの上面と
下面とに同じ圧力で接触するよう調整できる。
At this time, the nuts 2a, 3a provided at the lower ends of the slides 2, 3 are rotated to engage the engaging pins 6a,
By moving 6b, the upper cleaning brush 4 and the lower cleaning brush 5 can be adjusted so as to contact the upper surface and the lower surface of the semiconductor wafer U with the same pressure at the zero point.

【0012】ついで、上記0点を基準にして接触圧力を
設定する。つまり、所定の接触圧力を得るための上記各
洗浄ブラシ4、5の0点からの移動量を算出し、その算
出値に応じてサ−ボモ−タ12による駆動ねじ11の回
転数を上記制御装置13によって設定する。さらに、制
御装置13により、洗浄終了後にリンク7を時計方向に
所定角度回動させて各洗浄ブラシ4、5を退避させるよ
う設定する。
Next, the contact pressure is set based on the zero point. That is, the amount of movement of each of the cleaning brushes 4 and 5 from the zero point to obtain a predetermined contact pressure is calculated, and the number of rotations of the drive screw 11 by the servo motor 12 is controlled according to the calculated value. It is set by the device 13. Further, the control device 13 sets the link 7 to be rotated clockwise by a predetermined angle after the cleaning is completed so that the cleaning brushes 4 and 5 are retracted.

【0013】以上の設定により、制御装置13により、
洗浄ブラシ4、5は半導体ウエハUの上下面に所定の圧
力で接触して洗浄し、洗浄が終了したならばその半導体
ウエハUを取り出し新たな半導体ウエハUを供給するた
めに退避させられることになる。
With the above setting, the control device 13
The cleaning brushes 4 and 5 are brought into contact with the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U at a predetermined pressure for cleaning, and when the cleaning is completed, the semiconductor wafer U is taken out and retracted to supply a new semiconductor wafer U. Become.

【0014】しかしながら、半導体ウエハUに対する洗
浄ブラシ4、5の接触圧力をサ−ボモ−タ12により制
御するようにすると、高価な部品であるサ−ボモ−タ1
2やそれを制御する制御装置13が必要となるから、コ
ストアップや構成の複雑化を招くということがあるばか
りか、その設定作業が容易でないなどのことがあった。
However, if the contact pressure of the cleaning brushes 4 and 5 against the semiconductor wafer U is controlled by the servo motor 12, the servo motor 1 which is an expensive component is used.
2 and a control device 13 for controlling the control device 2 are required, which not only increases the cost and complicates the configuration, but also makes the setting work difficult.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来は被
洗浄物に対する洗浄ブラシの接触圧力を設定するために
サ−ボモ−タを用いていたので、コストアップや構成の
複雑化を招いたり、設定作業に手間が掛かるなどのこと
があった。
As described above, since a servomotor is conventionally used to set the contact pressure of the cleaning brush with the object to be cleaned, the cost is increased and the configuration is complicated. , And the setting work was troublesome.

【0016】この発明は上記事情に基づきなされたもの
で、その目的とするところは、サ−ボモ−タを用いずに
被洗浄物に対する洗浄ブラシの接触圧力を機械的に設定
できるようにしたブラシ洗浄装置を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a brush capable of mechanically setting the contact pressure of a cleaning brush on an object to be cleaned without using a servomotor. A cleaning device is provided.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、回転
駆動される被洗浄物の上面と下面とをそれぞれ上部洗浄
ブラシと下部洗浄ブラシとを接触させて洗浄するブラシ
洗浄装置において、上記被洗浄物の板面に対してほぼ垂
直な上下方向に沿って立設された取付け部材と、この取
付け部材に上記上下方向と交差する方向に所定の間隔で
離間しかつ上下方向に沿って設けられた一対のガイド体
と、この一対のガイド体の一方にスライド自在に設けら
れた第1のスライド体および他方にスライド自在に設け
られた第2のスライド体と、上記第1のスライド体の上
端部に設けられ上記上部洗浄ブラシを上記被洗浄物の上
面側で軸線を被洗浄物の上面に対してほぼ平行にして回
転自在に保持した上部保持手段と、上記第2のスライド
体の上端部に設けられ上記下部洗浄ブラシを上記被洗浄
物の下面側で軸線を被洗浄物の下面に対してほぼ平行に
して回転自在に保持した下部保持手段と、上記第1のス
ライド体の下端側で上記ガイド体の一方にスライド自在
に設けられ上記第1のスライド体の上下方向に沿うスラ
イド位置を調整する第1の調整機構と、上記第2のスラ
イド体の下端側で上記ガイド体の他方にスライド自在に
設けられ上記第2のスライド体の上下方向に沿うスライ
ド位置を調整する第2の調整機構と、中途部が上記取付
け部材に回動自在に取付けられ一端が上記第1の調整機
構に回動自在に連結され他端が上記第2の調整機構に回
動自在に連結されたリンクと、このリンクを回動駆動し
上記第1のスライド体を上記第1の調整機構を介して下
降方向へスライドさせ上記上部洗浄ブラシを被洗浄物の
上面に接触させると同時に、上記第2のスライド体を上
記第2の調整機構を介して上昇方向へスライドさせ上記
下部洗浄ブラシを上記被洗浄物の下面に接触させる駆動
手段とを具備したことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a brush cleaning apparatus for cleaning an upper surface and a lower surface of an object to be cleaned which is rotationally driven by bringing an upper cleaning brush and a lower cleaning brush into contact with each other. A mounting member erected along a vertical direction substantially perpendicular to the plate surface of the object to be cleaned, and provided on the mounting member at predetermined intervals in a direction intersecting the vertical direction and along the vertical direction. A pair of guide bodies, a first slide body slidably provided on one of the pair of guide bodies, a second slide body slidably provided on the other of the pair of guide bodies, and a first slide body. Upper holding means provided at an upper end portion of the upper cleaning brush for rotatably holding the upper cleaning brush on the upper surface side of the object to be cleaned with the axis substantially parallel to the upper surface of the object to be cleaned, and an upper end of the second slide body Provided in the department A lower holding means for rotatably holding the lower cleaning brush with the axis thereof being substantially parallel to the lower surface of the object to be cleaned on the lower surface side of the object to be cleaned, and the guide at the lower end side of the first slide body; A first adjusting mechanism slidably provided on one side of the body for adjusting a sliding position of the first sliding body along a vertical direction; and a lower end of the second sliding body slidably on the other side of the guide body. A second adjusting mechanism for adjusting a sliding position of the second sliding body along the vertical direction, and an intermediate part is rotatably mounted on the mounting member and one end is rotated by the first adjusting mechanism. A link that is freely connected and the other end of which is rotatably connected to the second adjustment mechanism; and that the link is rotationally driven to move the first slide body in a downward direction via the first adjustment mechanism. Slide and wash above Drive means for bringing the brush into contact with the upper surface of the object to be cleaned, and simultaneously sliding the second slide body in the ascending direction via the second adjusting mechanism to bring the lower cleaning brush into contact with the lower surface of the object to be cleaned; And characterized in that:

【0018】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、上記取付け部材は、上下方向と交差する方向に沿う
軸線を中心にして回動角度の調整自在に設けられている
ことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the mounting member is provided so as to be capable of adjusting a rotation angle about an axis along a direction intersecting the vertical direction. I do.

【0019】請求項3の発明は、請求項1の発明におい
て、上記第1および第2の調整機構は、上記ガイド体に
スライド自在に設けられ上記リンクの端部が回動自在に
連結される基体と、この基体に上記ガイド体と交差する
方向に沿ってスライド自在に設けられ上面が上記第1お
よび第2のスライド体の下端にスライド自在に当接する
テ−パ面に形成された調整体と、この調整体を上記ガイ
ド体と交差する方向に駆動することで上記各スライド体
を上記ガイド体の上下方向に沿ってスライドさせる調整
ねじとからなることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the first and second adjusting mechanisms are slidably provided on the guide body, and the ends of the links are rotatably connected. An adjusting body formed on a base and a taper surface slidably provided on the base along a direction intersecting the guide body and having an upper surface slidably in contact with lower ends of the first and second slide bodies; And an adjustment screw that drives each of the slides along the vertical direction of the guide by driving the adjuster in a direction intersecting with the guide.

【0020】請求項4の発明は、請求項1の発明におい
て、上記上部および下部保持手段は、一対の支持部と、
各支持部に回転自在に設けられ先端部に第1の係合部が
形成された支持軸と、上記支持軸に螺合され先端部がテ
−パ凸部に形成されたナット体とを具備し、上記上部お
よび下部洗浄ブラシは、外周面にブラシ部材が設けられ
たブラシ軸と、このブラシ軸の両端部に形成され上記第
1の係合部にそれぞれ着脱自在に係合し上記ブラシ軸を
上記支持軸と一体的に回転させる第2の係合部と、上記
ブラシ軸の端面に形成され上記第1の係合部と第2の係
合部との係合状態を保持するために上記ナット体をブラ
シ軸の端面方向へ移動させることで上記テ−パ凸部が係
合するテ−パ凹部とを具備したことを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the upper and lower holding means include a pair of supporting portions,
A support shaft rotatably provided on each support portion and having a first engagement portion formed at a distal end portion, and a nut body screwed to the support shaft and having a distal end portion formed at a tapered convex portion. The upper and lower cleaning brushes include a brush shaft having a brush member provided on an outer peripheral surface thereof, and the brush shaft formed at both ends of the brush shaft and detachably engaged with the first engagement portions. A second engaging portion for rotating the shaft integrally with the support shaft; and a second engaging portion formed on an end face of the brush shaft for maintaining an engaged state between the first engaging portion and the second engaging portion. A taper recess is provided, in which the taper projection engages by moving the nut body toward the end face of the brush shaft.

【0021】請求項5の発明は、請求項1の発明におい
て、上記被洗浄物は回転駆動される支持ピンによって周
辺部が支持され、この支持ピンが回転することで上記被
洗浄物を回転させるようになっていて、上記支持ピン
は、回転駆動される駆動軸に取付けられる基軸部と、こ
の基軸部の上端に着脱自在に取付けられた押え部材と、
上記基軸部の上端に上記押え部材によって着脱自在に保
持され上記被洗浄物の周辺部を支持する支持部材とから
なることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the object to be cleaned is supported at its peripheral portion by a rotationally driven support pin, and the support pin rotates to rotate the object to be cleaned. The support pin is configured such that the support pin is mounted on a drive shaft that is driven to rotate, and a pressing member detachably mounted on an upper end of the base shaft.
A support member is detachably held at an upper end of the base shaft portion by the pressing member and supports a peripheral portion of the object to be cleaned.

【0022】請求項1の発明によれば、上部洗浄ブラシ
と下部洗浄ブラシとの被洗浄物に対する接触圧力の調整
は第1の調整機構と第2の調整機構とによって機械的に
行うようにし、各洗浄ブラシの駆動は駆動手段によって
行うようにした。各洗浄ブラシの接触圧力の調整と、駆
動とを分離して行えることで、複雑な制御を行わずにす
み、しかも高価な部品を使わずにすむ。
According to the first aspect of the present invention, the adjustment of the contact pressure between the upper cleaning brush and the lower cleaning brush with respect to the object to be cleaned is mechanically performed by the first adjusting mechanism and the second adjusting mechanism. Each cleaning brush was driven by a driving unit. Since the adjustment of the contact pressure of each cleaning brush and the driving can be performed separately, complicated control is not required, and expensive components are not required.

【0023】請求項2の発明によれば、洗浄ブラシや調
整機構などが設けられた取付け部材を被洗浄物に対して
角度調整できるため、被洗浄物に対して洗浄ブラシを平
行に位置決めすることができる。
According to the second aspect of the present invention, since the angle of the mounting member provided with the cleaning brush and the adjusting mechanism can be adjusted with respect to the object to be cleaned, the cleaning brush is positioned parallel to the object to be cleaned. Can be.

【0024】請求項3の発明によれば、第1、第2の調
整機構を上面がテ−パ面に形成された調整体およびこの
調整体を駆動する調整ねじとから構成したことで、簡単
な構成で確実に洗浄ブラシが設けられたスライド体を位
置決め調整することができる。
According to the third aspect of the present invention, the first and second adjusting mechanisms are composed of the adjusting body having the upper surface formed on the tapered surface and the adjusting screw for driving the adjusting body. With such a configuration, the position of the slide body provided with the cleaning brush can be surely adjusted.

【0025】請求項4の発明によれば、洗浄ブラシを保
持する保持手段として洗浄ブラシを支持軸に保持固定す
る際、ナット体のテ−パ凸部を、洗浄ブラシのブラシ軸
に形成されたテ−パ凹部に係合させるようにしたから、
上記支持軸の軸心に上記洗浄ブラシのブラシ軸心を精度
よく一致させることができる。
According to the fourth aspect of the present invention, when the cleaning brush is held and fixed to the support shaft as holding means for holding the cleaning brush, the tapered projection of the nut body is formed on the brush shaft of the cleaning brush. Because it was made to engage with the tapered recess,
The brush axis of the cleaning brush can be accurately matched with the axis of the support shaft.

【0026】請求項5の発明によれば、被洗浄物を支持
する支持ピンを基軸部、押え部材および支持部材とから
構成し、被洗浄物を支持する支持部材を使用に伴い摩耗
したならば交換することができる。
According to the fifth aspect of the present invention, the support pin for supporting the object to be cleaned is constituted by the base shaft, the pressing member and the support member, and if the support member for supporting the object to be cleaned is worn due to its use. Can be exchanged.

【0027】[0027]

【発明の実施形態】以下、この発明の一実施形態を図1
乃至図7を参照して説明する。図2に示すブラシ洗浄装
置は筐体21を備えている。この筐体21の内部には仕
切板22が設けられ、この内部を上部室23と下部室2
4とに隔別している。上部室23には被洗浄物としての
半導体ウエハUを保持して回転させる保持機構25が設
けられている。この保持機構25はそれぞれ4本の内側
支持ピン26と外側支持ピン27とが周方向に90度間
隔で配置されている。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG.
This will be described with reference to FIGS. The brush cleaning device shown in FIG. A partition plate 22 is provided inside the housing 21, and the partition plate 22 is formed between the upper chamber 23 and the lower chamber 2.
4 The upper chamber 23 is provided with a holding mechanism 25 for holding and rotating a semiconductor wafer U as an object to be cleaned. In the holding mechanism 25, four inner support pins 26 and outer support pins 27 are arranged at 90-degree intervals in the circumferential direction.

【0028】各支持ピン26、27は図7に示すように
駆動軸28の上端のねじ部28aに着脱自在にねじ込ま
れた基軸部29aを有する。この基軸部29aはピ−ク
材などの合成樹脂によって形成されていて、その上端面
には弗素樹脂などによって形成された押え部材29bが
ねじ31によって着脱自在に取付けられている。この押
え部材29bの外周面下端側には段部32が形成され、
この段部32にはゴムなどの摩擦係数の高い材料によっ
てリング状に形成された支持部材29cが設けられ、上
記基軸部29aの上端面とで挟持固定されている。
As shown in FIG. 7, each of the support pins 26 and 27 has a base shaft portion 29a detachably screwed into a screw portion 28a at the upper end of the drive shaft 28. The base shaft portion 29a is formed of a synthetic resin such as a peak material, and a pressing member 29b formed of a fluorine resin or the like is detachably attached to the upper end surface thereof with a screw 31. A step 32 is formed at the lower end of the outer peripheral surface of the pressing member 29b,
The step portion 32 is provided with a ring-shaped support member 29c made of a material having a high coefficient of friction such as rubber, and is held and fixed between the upper end surface of the base shaft portion 29a.

【0029】4本の内側支持ピン26の支持部材29c
には図4に鎖線で示すように所定径の半導体ウエハU1
が周辺部を係合載置して保持される。したがって、内側
支持ピン26が図中矢印で示す反時計方向に回転駆動さ
れれば、上記半導体ウエハU1 は上記支持部材29cと
の接触摩擦によって逆方向である時計方向に回転駆動さ
れるようになっている。
The support members 29c of the four inner support pins 26
A semiconductor wafer U1 having a predetermined diameter as shown by a chain line in FIG.
Are held with their peripheral portions engaged and mounted. Therefore, if the inner support pin 26 is driven to rotate in the counterclockwise direction indicated by the arrow in the drawing, the semiconductor wafer U1 is driven to rotate in the opposite clockwise direction by the contact friction with the support member 29c. ing.

【0030】4本の外側支持ピン27には内側支持ピン
26に支持される半導体ウエハU1よりも大径な半導体
ウエハU2 が周辺部を係合させて保持される。外側支持
ピン27が矢印で示す反時計方向に回転駆動されれば、
上記半導体ウエハU2 は支持部材29cとの接触摩擦に
よって時計方向に回転駆動されることになる。つまり、
内側支持ピン26と外側支持ピン27とを設けること
で、サイズの異なる半導体ウエハU1 、U2 を保持でき
るようになっている。
A semiconductor wafer U2, which is larger in diameter than the semiconductor wafer U1 supported by the inner support pins 26, is held by the four outer support pins 27 by engaging the peripheral portions thereof. If the outer support pin 27 is driven to rotate counterclockwise as indicated by the arrow,
The semiconductor wafer U2 is rotated clockwise by contact friction with the support member 29c. That is,
By providing the inner support pins 26 and the outer support pins 27, semiconductor wafers U1 and U2 of different sizes can be held.

【0031】なお、外側支持ピン27に半導体ウエハU
2 を保持する場合、内側支持ピン26は駆動軸28のね
じ部28aから取り外される。上記各支持ピン26、2
7が取付られた駆動軸28は図3に示すようにそれぞれ
軸受筒体32によって上部と下部とが軸受32aにより
回転自在に支持されている。各軸受筒体32は上記仕切
板22に形成された通孔33に挿通され、下部室24に
水平に配置された取付板34に立設されている。
The semiconductor wafer U is connected to the outer support pins 27.
When holding 2, the inner support pin 26 is removed from the threaded portion 28 a of the drive shaft 28. Each of the support pins 26, 2
As shown in FIG. 3, the drive shaft 28 to which the shaft 7 is mounted is rotatably supported at its upper and lower portions by bearings 32a. Each of the bearing cylinders 32 is inserted into a through hole 33 formed in the partition plate 22 and stands upright on a mounting plate 34 horizontally disposed in the lower chamber 24.

【0032】上記軸受筒体32の上部室23に位置する
部分は上部カバ−35によって覆われている。この上部
カバ−35は上記通孔33よりも大径に形成され、図4
に示すように2組の内側支持ピン26と外側支持ピン2
7とを覆う大きさに設定されている。
The portion of the bearing cylinder 32 located in the upper chamber 23 is covered by an upper cover 35. The upper cover 35 is formed to have a diameter larger than that of the through hole 33.
As shown in the figure, two sets of inner support pins 26 and outer support pins 2
7 is set to be large enough to cover.

【0033】上記通孔33の周辺部には上記上部カバ−
35の内部に入り込む下部カバ−36が立設されてい
る。それによって、上記半導体ウエハUを洗浄するとき
に使用される洗浄液が上記通孔33から仕切板22の下
面側へ侵入するのを阻止するラビリンス構造になってい
る。
The upper cover is provided around the through hole 33.
A lower cover 36 that penetrates into the inside of 35 is provided upright. Accordingly, a labyrinth structure is provided to prevent the cleaning liquid used for cleaning the semiconductor wafer U from entering the lower surface of the partition plate 22 from the through holes 33.

【0034】上記各支持ピン26、27を回転駆動する
駆動軸28は取付板34の下面側に突出し、各突出端部
には従動歯車38が嵌着されている。内側支持ピン26
の駆動軸28に嵌着された従動歯車38は外側支持ピン
27の駆動軸28に嵌着された従動歯車38よりも上方
に位置している。
A drive shaft 28 for rotating and driving the support pins 26 and 27 protrudes from the lower surface of the mounting plate 34, and a driven gear 38 is fitted to each protruding end. Inner support pin 26
The driven gear 38 fitted on the drive shaft 28 of the outer support pin 27 is located above the driven gear 38 fitted on the drive shaft 28 of the outer support pin 27.

【0035】各従動歯車38は駆動歯車39に噛合して
いる。この駆動歯車39は上部歯車部39aと下部歯車
部39bとが一体的に形成されていて、上部歯車部39
aに上記内側支持ピン26の従動歯車38が噛合し、下
部歯車部39bに外側支持ピン26の従動歯車38が噛
合している。
Each driven gear 38 meshes with a driving gear 39. The drive gear 39 has an upper gear portion 39a and a lower gear portion 39b formed integrally with each other.
The driven gear 38 of the inner support pin 26 meshes with a, and the driven gear 38 of the outer support pin 26 meshes with the lower gear portion 39b.

【0036】上記駆動歯車39は駆動モ−タ41の回転
軸41aに取付けられている。この駆動モ−タ41は上
記取付板34にブラケット42を介して取付けられてい
る。したがって、上記駆動モ−タ41が作動して駆動歯
車39が回転されると、この回転に連動する従動歯車3
8を介して駆動軸28、つまり内側支持ピン26と外側
支持ピン27とが回転駆動されるようになっている。
The drive gear 39 is mounted on a rotating shaft 41a of a drive motor 41. The drive motor 41 is mounted on the mounting plate 34 via a bracket 42. Therefore, when the drive motor 41 is operated and the drive gear 39 is rotated, the driven gear 3 linked with this rotation is driven.
The drive shaft 28, that is, the inner support pin 26 and the outer support pin 27 are rotatably driven via 8.

【0037】なお、図7に示すように各支持ピン26、
27の基軸部29aの下端部には凹部43が形成され、
上記上部カバ−35には上記凹部43に入り込むフラン
ジ44が突設されている。それによって、上記上部カバ
−35の駆動軸28が挿通された部分からその内部へ洗
浄液が侵入するのを防止するラビリンス構造となってい
る。
As shown in FIG. 7, each support pin 26,
A recess 43 is formed at the lower end of the base shaft portion 29a of the base member 27,
The upper cover 35 is provided with a flange 44 projecting into the recess 43. Thus, the upper cover 35 has a labyrinth structure for preventing the cleaning liquid from entering the portion of the upper cover 35 through which the drive shaft 28 is inserted.

【0038】上記仕切板22の下面側には上面側に連通
する複数の排出管45が接続されている。各排出管45
は図2に示すようにチュ−ブ46を介して気液分離器4
7に接続されている。この気液分離器47は上記排出管
45から排出される気体と液体とを分離する。分離され
た液体は排液管48によって排液され、気体は排気管4
9によって排気されるようになっている。
A plurality of discharge pipes 45 communicating with the upper surface are connected to the lower surface of the partition plate 22. Each discharge pipe 45
Is connected to the gas-liquid separator 4 via a tube 46 as shown in FIG.
7 is connected. The gas-liquid separator 47 separates gas and liquid discharged from the discharge pipe 45. The separated liquid is drained by a drain pipe 48, and the gas is discharged by an exhaust pipe 4.
9 to exhaust.

【0039】上記内側支持ピン26あるいは外側支持ピ
ン27に保持された半導体ウエハUの上下面は上部洗浄
ブラシ51と下部洗浄ブラシ52とによってブラシ洗浄
されるようになっている。各洗浄ブラシ51、52は駆
動機構53によって上記半導体ウエハUの上下面に接触
する洗浄状態と、半導体ウエハUの上下面から所定距離
離間する位置に退避する退避状態とに駆動されるように
なっている。
The upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U held by the inner support pins 26 or the outer support pins 27 are brush-cleaned by an upper cleaning brush 51 and a lower cleaning brush 52. Each of the cleaning brushes 51 and 52 is driven by a drive mechanism 53 into a cleaning state in which the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U are brought into contact with each other and a retracted state in which the cleaning brushes are retracted to a position separated from the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U by a predetermined distance. ing.

【0040】上記駆動機構53は図2に示すように上記
取付板34の下面に上端を固定して垂設されたベ−ス板
54を有する。このベ−ス板54の一方の板面側には図
6に示すように平板状の取付け部材55の一方の板面が
接合され、支軸56によって回動自在に保持されてい
る。
As shown in FIG. 2, the drive mechanism 53 has a base plate 54 vertically fixed to the lower surface of the mounting plate 34 with its upper end fixed. As shown in FIG. 6, one plate surface of a flat mounting member 55 is joined to one plate surface side of the base plate 54, and is rotatably held by a support shaft 56.

【0041】上記取付け部材55には図1に示すように
上記支軸56を中心として所定の半径で4つの長孔57
が形成され、各長孔57から上記ベ−ス板54にねじ5
8が螺合されている。したがって、上記ねじ58を緩め
ることで、上記取付け部材55は支軸56を中心として
長孔57の範囲内で左右方向へ回動させることができる
ようになっている。
As shown in FIG. 1, the mounting member 55 has four long holes 57 with a predetermined radius around the support shaft 56.
Are formed in the base plate 54 through the long holes 57.
8 is screwed. Therefore, by loosening the screw 58, the mounting member 55 can be rotated left and right around the support shaft 56 within the range of the elongated hole 57.

【0042】上記取付け部材55の他方の板面にはレ−
ル状の一対のガイド体61(図6に示す)が所定の間隔
で、かつ上下方向に沿って設けられている。一方のガイ
ド体61には第1のスライド体62がスライド自在に設
けられ、他方のガイド体61には第2のスライド体63
がスライド自在に設けられている。
The other plate surface of the mounting member 55
A pair of guide members 61 (shown in FIG. 6) are provided at predetermined intervals and along the vertical direction. A first slide body 62 is slidably provided on one guide body 61, and a second slide body 63 is provided on the other guide body 61.
Are slidably provided.

【0043】各スライド体62、63は図1に示すよう
に上記ガイド体61にスライド自在に係合するスライダ
64が設けられた基部65と、この基部65の上端面に
立設された支柱部66とからなる。
As shown in FIG. 1, each of the slides 62 and 63 has a base 65 provided with a slider 64 which is slidably engaged with the guide 61, and a column standing upright on the upper end surface of the base 65. 66.

【0044】各スライド体62、63の支柱部66は、
仕切板22に形成された通孔67を貫通して上部室23
に突出ている。この貫通部は、図1に示すように上部カ
バ−70aと下部カバ−70bとによって洗浄液が侵入
するのを阻止するラビリンス構造となっている。
The support 66 of each of the slides 62 and 63 is
The upper chamber 23 passes through a through hole 67 formed in the partition plate 22.
Protruding. As shown in FIG. 1, the penetrating portion has a labyrinth structure in which the upper cover 70a and the lower cover 70b prevent the cleaning liquid from entering.

【0045】上記第1のスライド体62の支柱部66の
上端には上部支持板68が水平に取付けられ、第2のス
ライド体63の支柱部66の上端には下部支持板69が
水平に取付けられている。
An upper support plate 68 is horizontally mounted on the upper end of the support 66 of the first slide body 62, and a lower support plate 69 is horizontally mounted on the upper end of the support 66 of the second slide 63. Have been.

【0046】各支持板68、69には図4と図5に示す
ようにコ字状の凹部71aによって一対の支持部71が
所定の間隔で形成されている。各支持部71にはそれぞ
れ支持軸72が軸線を一致させるとともに軸受73によ
って回転自在に支持されている。各支持軸72の上記凹
部71a側に突出した一端部にはねじ74が形成され、
そのねじ74にはナット体75およびこのナット体75
の移動を阻止するために固定ナット76が螺合されてい
る。上記ナット体75の先端部は外周面を傾斜させたテ
−パ凸部77に形成されている。さらに支持軸72の先
端面には第1の係合部としての係合凹部78が径方向に
貫通して形成されている。
As shown in FIGS. 4 and 5, a pair of support portions 71 are formed on each of the support plates 68 and 69 at predetermined intervals by U-shaped concave portions 71a. A support shaft 72 is rotatably supported by bearings 73 on each of the support portions 71 so that their axes coincide with each other. A screw 74 is formed at one end of each support shaft 72 protruding toward the concave portion 71a,
The screw 74 has a nut body 75 and this nut body 75
A fixing nut 76 is screwed in to prevent the movement of the nut. The tip end of the nut body 75 is formed as a tapered projection 77 whose outer peripheral surface is inclined. Further, an engagement recess 78 as a first engagement portion is formed in the distal end surface of the support shaft 72 so as to penetrate in the radial direction.

【0047】一方の支持軸72の後端部は軸受73から
突出し、その突出端には従動プ−リ79が嵌着されてい
る。上部支持板68の上面の幅方向一端側には上部駆動
モ−タ81が配置され、下部支持板69の上面の幅方向
他端側には下部駆動モ−タ82が配置されている。各駆
動モ−タ81、82の回転軸81a、82aには駆動プ
−リ83が嵌着されている。
The rear end of one support shaft 72 protrudes from the bearing 73, and a driven pulley 79 is fitted to the protruding end. An upper drive motor 81 is arranged on one end of the upper surface of the upper support plate 68 in the width direction, and a lower drive motor 82 is arranged on the other end of the upper surface of the lower support plate 69 in the width direction. A drive pulley 83 is fitted to the rotation shafts 81a and 82a of the respective drive motors 81 and 82.

【0048】上部駆動モ−タ81の駆動プ−リ83と上
部支持板68の一方の支持軸72に設けられた従動プ−
リ79とには第1の駆動ベルト84が張設され、下部駆
動モ−タ82の駆動プ−リ83と下部支持板69の一方
の支持軸72に設けられた従動プ−リ79とには第2の
駆動ベルト85が張設されている。
A drive pulley 83 of the upper drive motor 81 and a driven pulley provided on one of the support shafts 72 of the upper support plate 68.
A first drive belt 84 is stretched over the wheel 79, and is connected to a drive pulley 83 of the lower drive motor 82 and a driven pulley 79 provided on one support shaft 72 of the lower support plate 69. Has a second drive belt 85 stretched.

【0049】上部支持板68の一対の支持軸72には上
記上部洗浄ブラシ51が保持され、下部支持板69の一
対の支持軸72には上記下部洗浄ブラシ52が支持され
る。したがって、上記各駆動モ−タ81、82が作動す
ることで、上記各洗浄ブラシ51、52が回転駆動され
るようになっている。
The pair of support shafts 72 of the upper support plate 68 hold the upper cleaning brush 51, and the pair of support shafts 72 of the lower support plate 69 support the lower cleaning brush 52. Therefore, when the drive motors 81 and 82 operate, the cleaning brushes 51 and 52 are driven to rotate.

【0050】上記支持軸72による各洗浄ブラシ51、
52の支持構造は図5に示すようになっている。つま
り、洗浄ブラシ51、52はブラシ軸86を有する。ブ
ラシ軸86の外周面にはたとえばスポンジなどの筒状の
ブラシ部材87が装着されている。ブラシ軸86の両端
部はブラシ部材87から突出し、その突出端部には上記
支持軸72の係合凹部78に係合する係合凸部88が径
方向全長にわたって形成されている。さらに、ブラシ軸
86の端面には上記ナット体75の先端部に形成された
テ−パ凸部77が係合する環状のテ−パ凹部89が形成
されている。
Each of the cleaning brushes 51 using the support shaft 72,
The support structure of 52 is as shown in FIG. That is, the cleaning brushes 51 and 52 have the brush shaft 86. A cylindrical brush member 87 such as a sponge is mounted on the outer peripheral surface of the brush shaft 86. Both ends of the brush shaft 86 protrude from the brush member 87, and at its protruding end, an engaging projection 88 engaging with the engaging recess 78 of the support shaft 72 is formed over the entire length in the radial direction. Further, an annular tapered concave portion 89 is formed on the end surface of the brush shaft 86 so that a tapered convex portion 77 formed at the tip of the nut body 75 is engaged.

【0051】したがって、各洗浄ブラシ51、52は、
各支持軸72に螺合されたナット体75を図5に鎖線で
示すように後退させた状態で、そのブラシ軸86の両端
部に形成された係合凸部88を一対の支持軸72の係合
凹部78に係合させる。
Therefore, each of the cleaning brushes 51, 52
In a state where the nut bodies 75 screwed to the respective support shafts 72 are retracted as shown by a chain line in FIG. 5, the engagement protrusions 88 formed at both ends of the brush shaft 86 are connected to the pair of support shafts 72. The engaging concave portion 78 is engaged.

【0052】ついで、上記ナット体75を図5に実線で
示す前進方向へ回転させることで、このナット体75が
上記係合凹部78と係合凸部88の係合部分を覆ってそ
の係合状態を保持し、さらに先端部のテ−パ凸部77が
テ−パ凹部89に係合することで、ブラシ軸86の軸心
が支持軸72の軸心に一致されることになる。
Next, the nut body 75 is rotated in the forward direction indicated by a solid line in FIG. 5 so that the nut body 75 covers the engaging portion between the engaging concave portion 78 and the engaging convex portion 88, and The state is maintained, and the taper projection 77 at the distal end engages with the taper recess 89, so that the axis of the brush shaft 86 coincides with the axis of the support shaft 72.

【0053】つまり、各洗浄ブラシ51、52はナット
体75を後退位置から前進方向へ回転させることで、支
持軸72に対して軸心を一致させた状態で連結固定され
ることになる。
That is, each of the cleaning brushes 51 and 52 is connected and fixed in a state where the axis thereof is aligned with the support shaft 72 by rotating the nut body 75 from the retracted position in the forward direction.

【0054】図1に示すように、上記取付け部材55に
は、上記第1のスライド体62と第2のスライド体63
の下方にそれぞれ第1の調整機構91と第2の調整機構
92とが設けられている。
As shown in FIG. 1, the first slide body 62 and the second slide body 63 are attached to the mounting member 55.
A first adjustment mechanism 91 and a second adjustment mechanism 92 are provided below the first and second adjustment mechanisms, respectively.

【0055】各調整機構91、92はそれぞれのガイド
体61にスライダ93aを介してスライド自在に設けら
れたほぼ三角形の板状の基体93を有する。この基体9
3の上端面はほぼ水平になっていて、その水平部にはL
字状のテ−ブル94が設けられている。このテ−ブル9
4の上には上面がテ−パ面95aに形成された調整体9
5が上記テ−ブル94に沿う水平方向にスライド自在に
設けられている。
Each of the adjusting mechanisms 91 and 92 has a substantially triangular plate-shaped base 93 slidably provided on each guide body 61 via a slider 93a. This base 9
3 has a substantially horizontal upper surface, and L
A letter-shaped table 94 is provided. This table 9
An adjusting body 9 having an upper surface formed on a tapered surface 95a is provided on the upper surface 4.
5 is slidably provided in the horizontal direction along the table 94.

【0056】上記調整体95の一端部には調整ねじ96
が螺合されている。この調整ねじ96は上記基体93の
幅方向一端部に設けられた支持部97に回転自在に支持
され、他端部にはハンドル98が設けられている。した
がって、上記調整ねじ96を回転させることで、上記調
整体95を上記テ−ブル94に沿ってスライドさせるこ
とができるようになっている。
An adjusting screw 96 is provided at one end of the adjusting body 95.
Is screwed. The adjusting screw 96 is rotatably supported by a support portion 97 provided at one end in the width direction of the base 93, and a handle 98 is provided at the other end. Therefore, by rotating the adjusting screw 96, the adjusting body 95 can be slid along the table 94.

【0057】上記調整体95のテ−パ面95aには上記
各スライド体61、62の下端に設けられたカムフォロ
ア99が当接している。したがって、上記調整体95が
スライドすると、上記各スライド体61、62は取付け
部材55に設けられたガイド体61に沿って上下動する
ようになっている。なお、上記調整ねじ96は図2に示
すストッパ96aによって回転不能に固定される。それ
によって、調整体95がスライドするのが阻止される。
A cam follower 99 provided at the lower end of each of the slide bodies 61 and 62 is in contact with the taper surface 95a of the adjusting body 95. Therefore, when the adjustment body 95 slides, the slide bodies 61 and 62 move up and down along the guide body 61 provided on the mounting member 55. The adjusting screw 96 is non-rotatably fixed by a stopper 96a shown in FIG. Thereby, the adjusting body 95 is prevented from sliding.

【0058】図1に示すように、上記取付け部材55の
下端部で、一対のスライド体61、62の中間部にはリ
ンク101の中途部が支軸102によって回動自在に支
持されている。このリンク101の両端部にはそれぞれ
長孔103が形成されている。
As shown in FIG. 1, an intermediate portion of a link 101 is rotatably supported by a support shaft 102 at a lower end of the mounting member 55 and at an intermediate portion between the pair of slide bodies 61 and 62. Long holes 103 are formed at both ends of the link 101, respectively.

【0059】上記各調整機構91、92の基体93の板
面の下端部にはそれぞれ係止軸104が突設されてい
る。各係止軸104は上記リンク101の長孔103に
係合している。
At the lower end of the plate surface of the base 93 of each of the adjusting mechanisms 91 and 92, a locking shaft 104 is protruded. Each locking shaft 104 is engaged with the long hole 103 of the link 101.

【0060】上記リンク101には駆動手段としてのシ
リンダ105のロッド106が回動自在に連結されてい
る。図2に示すように、上記シリンダ105は下部室2
4に上記ベ−ス板54と一体的に設けられた支持部材1
07にスタッド107aによって揺動自在に連結されて
いる。
A rod 106 of a cylinder 105 as a driving means is rotatably connected to the link 101. As shown in FIG. 2, the cylinder 105 is
4, a support member 1 provided integrally with the base plate 54.
07 are swingably connected to each other by a stud 107a.

【0061】図1は上部洗浄ブラシ51と下部洗浄ブラ
シ52とが半導体ウエハUの上下面から退避した状態を
示しており、この退避状態においてリンク101は第1
の調整機構91に連結された一端部が上方に位置する状
態で傾斜し、下方となる他端部側に上記シリンダ105
のロッド106が連結されている。この退避状態におい
て、上記シリンダ105のロッド106は没入方向の後
退限にある。
FIG. 1 shows a state in which the upper cleaning brush 51 and the lower cleaning brush 52 are retracted from the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U. In this retracted state, the link 101 is in the first position.
The one end connected to the adjusting mechanism 91 is inclined in a state where it is located at the upper side, and the cylinder 105
Are connected. In this retracted state, the rod 106 of the cylinder 105 is at the retreat limit in the retracting direction.

【0062】上記シリンダ105のロッド106が突出
方向に駆動されると、上記リンク101が図1に矢印で
示す反時計方向に回動する。それによって、第1の調整
機構91が下降し、第2の調整機構92が上昇するか
ら、これら調整機構91、92の動きに第1のスライド
体62と第2のスライド体63とが連動する。つまり、
上記シリンダ105のロッド106が突出方向の前進限
まで駆動されると、上部洗浄ブラシ51が下降し、下部
洗浄ブラシ52が上昇し、これら洗浄ブラシが半導体ウ
エハUの上下面にそれぞれ接触する洗浄状態に後述する
ごとく位置決めされることになる。
When the rod 106 of the cylinder 105 is driven in the projecting direction, the link 101 rotates counterclockwise as indicated by an arrow in FIG. As a result, the first adjusting mechanism 91 is lowered and the second adjusting mechanism 92 is raised, so that the movement of the adjusting mechanisms 91 and 92 causes the first slide body 62 and the second slide body 63 to interlock. . That is,
When the rod 106 of the cylinder 105 is driven to the forward limit in the protruding direction, the upper cleaning brush 51 is lowered, the lower cleaning brush 52 is raised, and these cleaning brushes contact the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U, respectively. Will be positioned as described later.

【0063】上記シリンダ105による上部洗浄ブラシ
51の下降と、下部洗浄ブラシ52の上昇とは重量的に
バランスがとれている。そのため、上記各洗浄ブラシ5
1、52の上下駆動を小型のシリンダ105によって行
うことができる。
The lowering of the upper cleaning brush 51 by the cylinder 105 and the raising of the lower cleaning brush 52 are balanced in weight. Therefore, each of the cleaning brushes 5
Up and down driving of the first and the second 52 can be performed by the small cylinder 105.

【0064】上記第1、第2のスライド体62、63の
基部65の一側にはそれぞれダイヤルゲ−ジ108が設
けられている。各ダイヤルゲ−ジ108のスピンドル1
08aは、各洗浄ブラシ51、52を洗浄状態に変位さ
せたときに、取付け部材55の両側に設けられた当接体
109に当接するようになっている。
A dial gage 108 is provided on one side of the base 65 of the first and second slide bodies 62 and 63, respectively. Spindle 1 of each dial gauge 108
08a comes into contact with the contact members 109 provided on both sides of the mounting member 55 when the cleaning brushes 51 and 52 are displaced to the cleaning state.

【0065】なお、洗浄状態においては、図示せぬ洗浄
液の供給ノズルから上記半導体ウエハUの上面と下面と
に洗浄液が供給されるようになっている。つぎに、上記
構成のブラシ洗浄装置において、半導体ウエハUを洗浄
する前に、上部洗浄ブラシ51と下部洗浄ブラシ52と
を上記半導体ウエハUに接触する圧力、つまり押付け量
を設定する作業について説明する。
In the cleaning state, the cleaning liquid is supplied to the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U from a cleaning liquid supply nozzle (not shown). Next, in the brush cleaning apparatus having the above-described configuration, an operation of setting the pressure at which the upper cleaning brush 51 and the lower cleaning brush 52 are brought into contact with the semiconductor wafer U, that is, the pressing amount before cleaning the semiconductor wafer U will be described. .

【0066】まず、最初にシリンダ105のロッド10
6を図1に示す後退限から前進限へ突出させる。それに
よって、リンク101が図1に矢印で示す反時計方向へ
回動するから、上部洗浄ブラシ51が下降し、下部洗浄
ブラシ52が上昇する。
First, the rod 10 of the cylinder 105 is
6 is projected from the retreat limit shown in FIG. 1 to the forward limit. As a result, the link 101 rotates counterclockwise as indicated by the arrow in FIG. 1, so that the upper cleaning brush 51 moves down and the lower cleaning brush 52 moves up.

【0067】つぎに、第1の調整機構91の調整ねじ9
6をハンドル98によって回転させて調整体95をスラ
イドさせ、上部洗浄ブラシ51を上昇あるいは下降させ
ることで、そのブラシ部材87が半導体ウエハUの上面
に変形することなく接触する状態に位置決めする。その
状態でダイヤルゲ−ジ108の目盛り盤を回転させ、そ
の0点に指針を合わせる。つまり、上部洗浄ブラシ51
が半導体ウエハUの上面に圧力を加えることなく接触す
る0点を設定する。
Next, the adjusting screw 9 of the first adjusting mechanism 91
By rotating the adjustment body 95 by rotating the handle 6 by the handle 98 and raising or lowering the upper cleaning brush 51, the brush member 87 is positioned so as to be in contact with the upper surface of the semiconductor wafer U without being deformed. In this state, the dial of the dial gauge 108 is rotated, and the pointer is adjusted to the zero point. That is, the upper cleaning brush 51
Is set at a point where the upper surface contacts the upper surface of the semiconductor wafer U without applying pressure.

【0068】上部洗浄ブラシ51の0点を設定したなら
ば、調整ねじ96を回転させて調整体95を後退方向へ
スライドさせ、上部洗浄ブラシ51を下降させることで
半導体ウエハUの上面に所定の圧力で圧接させる。その
際、上部洗浄ブラシ51のブラシ部材87が弾性変形
し、その変形量はダイヤスゲ−ジ108によって分かる
から、上部洗浄ブラシ51の半導体ウエハUに対する押
圧力を所定の値に設定できる。
After the zero point of the upper cleaning brush 51 has been set, the adjusting screw 96 is rotated to slide the adjusting body 95 in the retreating direction, and the upper cleaning brush 51 is lowered, so that a predetermined surface is formed on the upper surface of the semiconductor wafer U. Pressure contact with pressure. At this time, the brush member 87 of the upper cleaning brush 51 is elastically deformed, and the amount of the deformation can be recognized by the diamond gauge 108. Therefore, the pressing force of the upper cleaning brush 51 against the semiconductor wafer U can be set to a predetermined value.

【0069】同様に、下部洗浄ブラシ52を半導体ウエ
ハUの下面に対して所定の押圧力で接触させる。つま
り、下部洗浄ブラシ52が半導体ウエハUの下面に弾性
変形することなく接触する状態の0点を設定したなら
ば、その状態をダイヤルゲ−ジ108の目盛り盤の0に
合わせ、その位置から第2の調整機構92の調整体95
を前進方向へ駆動することで、第2のスライド体63を
介して下部洗浄ブラシ52を所定寸法上昇させる。それ
によって、下部洗浄ブラシ52の半導体ウエハUに対す
る押圧力を所定の値に設定できる。
Similarly, the lower cleaning brush 52 is brought into contact with the lower surface of the semiconductor wafer U with a predetermined pressing force. That is, if the zero point at which the lower cleaning brush 52 comes into contact with the lower surface of the semiconductor wafer U without being elastically deformed is set, the state is adjusted to 0 on the dial of the dial gauge 108, and the second position is set from that position. Adjusting body 95 of the adjusting mechanism 92
Is driven in the forward direction to raise the lower cleaning brush 52 through the second slide body 63 by a predetermined dimension. Thereby, the pressing force of the lower cleaning brush 52 against the semiconductor wafer U can be set to a predetermined value.

【0070】このようにして、半導体ウエハUの上下面
に対する各洗浄ブラシ51、52の押圧力を設定したな
らば、その状態で各調整機構91、92の調整ねじ96
をストッパ96aによって回転不能に固定することで、
その設定状態を維持することができる。つまり、各洗浄
ブラシ51、52のブラシ部材87が所定量摩耗するま
では、半導体ウエハUに対する各洗浄ブラシ51、52
の押圧力を所定の範囲に維持することができる。
When the pressing force of each of the cleaning brushes 51 and 52 on the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U is set in this manner, the adjusting screw 96 of each of the adjusting mechanisms 91 and 92 is set in that state.
Is fixed non-rotatably by the stopper 96a,
The setting state can be maintained. That is, until the brush member 87 of each of the cleaning brushes 51 and 52 is worn by a predetermined amount, the cleaning brushes 51 and 52 on the semiconductor wafer U are removed.
Can be maintained in a predetermined range.

【0071】すなわち、上記構成のブラシ洗浄装置によ
れば、上下駆動される各洗浄ブラシ51、52と、これ
ら洗浄ブラシを上下駆動するシリンダ105との間に、
それぞれ調整機構91、92を介在させたことで、洗浄
状態における半導体ウエハUの上下面に対する各洗浄ブ
ラシ51、52の接触圧力を上記調整機構91、92に
よって機械的に設定することができる。
That is, according to the brush cleaning apparatus having the above-described structure, the cleaning brushes 51 and 52 which are driven up and down and the cylinder 105 which drives these cleaning brushes up and down are provided.
With the adjustment mechanisms 91 and 92 interposed therebetween, the contact pressures of the cleaning brushes 51 and 52 on the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer U in the cleaning state can be mechanically set by the adjustment mechanisms 91 and 92.

【0072】しかも、各洗浄ブラシ51、52の退避状
態は、シリンダ105のロッド106を前進限まで駆動
させることで行われるから、各洗浄ブラシ51、52を
洗浄状態から退避状態へ駆動させる場合にも、機械的に
行うことができる。
In addition, since the retracted state of each of the cleaning brushes 51 and 52 is performed by driving the rod 106 of the cylinder 105 to the limit of the forward movement, when the respective cleaning brushes 51 and 52 are driven from the cleaning state to the retracted state. Can also be performed mechanically.

【0073】すなわち、サ−ボモ−タを用いた従来のよ
うに、制御装置によって駆動を制御するということをせ
ずに、一対の洗浄ブラシ51、52を機械的に洗浄状態
と退避状態とに移動させることができるから、複雑な制
御構造を採用せずにすむばかりか、各洗浄ブラシ51、
52の接触力の設定を精度の低下を招くこともない。
That is, a pair of cleaning brushes 51 and 52 are mechanically brought into a cleaning state and a retracted state without controlling the driving by a control device as in the conventional case using a servomotor. Since it can be moved, not only does not need to adopt a complicated control structure, but also each cleaning brush 51,
The setting of the contact force of 52 does not cause a decrease in accuracy.

【0074】各洗浄ブラシ51、52は、ブラシ軸86
の両端面に形成されたテ−パ凹部89に、支持軸72に
螺合されたナット体75の先端部のテ−パ凸部77を係
合させることで、上記支持軸72に連結固定されてい
る。そのため、上記テ−パ凸部77と上記テ−パ凹部8
9との係合によって支持軸72の軸心にブラシ軸86の
軸心を一致させることができるから、各洗浄ブラシ5
1、52の取付け精度を一定にすることができる。
Each of the cleaning brushes 51 and 52 has a brush shaft 86.
By engaging the taper projections 77 at the distal end of the nut body 75 screwed to the support shaft 72 with the taper recesses 89 formed on both end surfaces of the support shaft 72, the taper recesses 89 are connected and fixed to the support shaft 72. ing. Therefore, the taper convex portion 77 and the taper concave portion 8 are formed.
9 can make the axis of the brush shaft 86 coincide with the axis of the support shaft 72.
It is possible to make the mounting accuracy of 1, 52 constant.

【0075】第1のスライド体62と第2のスライド体
63とを介して各洗浄ブラシ51、52がスライド自在
に保持された取付部材55はベ−ス板54に対して支軸
56によって回動方向の角度調整自在に設けられてい
る。そのため、各洗浄ブラシ51、52の軸線を半導体
ウエハUの板面に対して平行になるよう設定することが
できるから、洗浄時に各洗浄ブラシ51、52の軸方向
全長を半導体ウエハUの板面に対して均一に当接させる
ことができる。
The mounting member 55 in which the cleaning brushes 51 and 52 are slidably held via the first slide body 62 and the second slide body 63 is rotated by a support shaft 56 with respect to the base plate 54. It is provided so that the angle of the moving direction can be freely adjusted. Therefore, the axis of each of the cleaning brushes 51 and 52 can be set to be parallel to the plate surface of the semiconductor wafer U. Can be uniformly contacted.

【0076】半導体ウエハUを支持して回転駆動する内
側支持ピン26あるいは外側支持ピン27は、図7に示
すように基軸部29aに対して上記半導体ウエハUの周
辺部が係合する支持部材29cを着脱できる構造にし
た。そのため、長期の使用によって上記支持部材29c
が摩耗したならば、その支持部材29cだけを新たなも
のに交換することができるから、支持ピン26、27全
体を交換する場合に比べてコストの大幅な低減が計れ
る。
As shown in FIG. 7, the inner support pin 26 or the outer support pin 27 which supports and rotates the semiconductor wafer U is supported by a support member 29c with which the peripheral portion of the semiconductor wafer U engages with the base shaft portion 29a. Has a removable structure. Therefore, the support member 29c can be used for a long time.
Is worn out, only the support member 29c can be replaced with a new one, so that the cost can be greatly reduced as compared with the case where the entire support pins 26 and 27 are replaced.

【0077】この発明は上記一実施形態に限定されず、
発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能である。た
とえば、各洗浄ブラシが半導体ウエハを押圧する押圧力
を設定するのに、ダイヤルゲ−ジを用いたが、ダイヤル
ゲ−ジを用いずに、調整ねじの回転数によって押圧力を
設定するようにしてもよいこと勿論である。
The present invention is not limited to the above embodiment,
Various modifications can be made without departing from the spirit of the invention. For example, although a dial gage is used to set the pressing force of each cleaning brush against the semiconductor wafer, the pressing force may be set by the number of rotations of the adjusting screw without using the dial gage. Of course it is good.

【0078】また、被洗浄物としては半導体ウエハに限
らず、液晶用ガラス基板であってもよく、要は精度よく
洗浄する必要のあるものであれば、この発明を適用する
ことができる。
The object to be cleaned is not limited to a semiconductor wafer, but may be a glass substrate for liquid crystal. In other words, the present invention can be applied to any object that needs to be accurately cleaned.

【0079】また、上下の洗浄ブラシを駆動するための
駆動手段としてシリンダを用いたが、シリンダに代わり
リニアモ−タを用いてもよく、要はコンピュ−タ制御せ
ずにリンクを所定の範囲で回動させることができるもの
であればよい。
Although a cylinder is used as a driving means for driving the upper and lower cleaning brushes, a linear motor may be used instead of the cylinder. In short, the link is controlled within a predetermined range without computer control. Anything that can be rotated may be used.

【0080】[0080]

【発明の効果】請求項1の発明によれば、上部洗浄ブラ
シと下部洗浄ブラシとの被洗浄物に対する接触圧力の調
整は第1の調整機構と第2の調整機構とによって機械的
に行うようにし、各洗浄ブラシの駆動は駆動手段によっ
て行うようにした。
According to the first aspect of the present invention, the adjustment of the contact pressure between the upper cleaning brush and the lower cleaning brush with respect to the object to be cleaned is mechanically performed by the first adjusting mechanism and the second adjusting mechanism. The cleaning brushes were driven by driving means.

【0081】そのため、各洗浄ブラシの接触圧力の調整
と、駆動とを分離して行えるから、従来のようにサ−ボ
モ−タなどの高価な部品を用いて複雑な制御をせずにす
むため、構成が簡単となるばかりか、コストの低減を計
ることもできる。
Therefore, the adjustment of the contact pressure of each cleaning brush and the driving can be performed separately, so that complicated control using expensive parts such as a servomotor as in the prior art is not required. In addition to simplifying the configuration, the cost can be reduced.

【0082】請求項2の発明によれば、洗浄ブラシや調
整機構などが設けられた取付け部材を被洗浄物に対して
角度調整できるため、被洗浄物に対して洗浄ブラシを平
行に位置決めすることができる。
According to the second aspect of the present invention, the angle of the mounting member provided with the cleaning brush and the adjusting mechanism can be adjusted with respect to the object to be cleaned, so that the cleaning brush is positioned parallel to the object to be cleaned. Can be.

【0083】そのため、洗浄ブラシの軸線方向を全長に
わたって均一に被洗浄物に圧接させることができるか
ら、被洗浄物の全面を均一に洗浄することができる。請
求項3の発明によれば、第1、第2の調整機構を上面が
テ−パ面に形成された調整体およびこの調整体を駆動す
る調整ねじとから構成した。
Therefore, the axial direction of the cleaning brush can be uniformly pressed against the object to be cleaned over the entire length, so that the entire surface of the object to be cleaned can be uniformly cleaned. According to the third aspect of the present invention, the first and second adjusting mechanisms include the adjusting body having the upper surface formed on the tapered surface and the adjusting screw for driving the adjusting body.

【0084】そのため、簡単な構成で確実に洗浄ブラシ
が設けられたスライド体を位置決め調整することができ
る。請求項4の発明によれば、洗浄ブラシを支持軸に保
持固定する際、ナット体のテ−パ凸部を、洗浄ブラシの
ブラシ軸に形成されたテ−パ凹部に係合させるようにし
た。
Therefore, the positioning of the slide member provided with the cleaning brush can be reliably adjusted with a simple structure. According to the fourth aspect of the invention, when the cleaning brush is held and fixed to the support shaft, the tapered projection of the nut body is engaged with the tapered recess formed on the brush shaft of the cleaning brush. .

【0085】そのため、上記支持軸の軸心に上記洗浄ブ
ラシの軸心を精度よく一致させることができるから、上
記洗浄ブラシを芯ずれが生じるようなことなく高精度に
取付けることができる。
Therefore, the axis of the cleaning brush can be accurately matched with the axis of the support shaft, so that the cleaning brush can be mounted with high precision without causing misalignment.

【0086】請求項5の発明によれば、被洗浄物を支持
する支持ピンを基軸部、押え部材および支持部材とから
構成し、被洗浄物を支持する支持部材を使用に伴い摩耗
したならば交換することができるようにしたから、支持
ピン全体を交換しなければならなかった従来に比べてコ
ストの低減を計ることができる。
According to the fifth aspect of the present invention, the support pin for supporting the object to be cleaned is composed of the base shaft, the pressing member and the support member, and if the support member for supporting the object to be cleaned is worn due to its use. Since the support pins can be replaced, the cost can be reduced as compared with the related art in which the entire support pin has to be replaced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施形態の一対の洗浄ブラシを上
下駆動する機構を示す正面図。
FIG. 1 is a front view showing a mechanism for vertically driving a pair of cleaning brushes according to an embodiment of the present invention.

【図2】同じく側面図。FIG. 2 is a side view of the same.

【図3】同じく半導体ウエハを回転駆動する機構の断面
図。
FIG. 3 is a sectional view of a mechanism for rotating and driving the semiconductor wafer.

【図4】同じく洗浄ブラシの配置状態の平面図。FIG. 4 is a plan view of the arrangement state of the cleaning brush.

【図5】同じく洗浄ブラシの支持構造の断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view of the cleaning brush supporting structure.

【図6】同じくスライド体の支持構造の断面図。FIG. 6 is a sectional view of a supporting structure of the slide body.

【図7】同じく支持ピンの構造を示す断面図。FIG. 7 is a sectional view showing the structure of the support pin.

【図8】従来の構造を示す説明図。FIG. 8 is an explanatory view showing a conventional structure.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

26、27…支持ピン 29a…基部 29b…押え部材 29c…支持部材 51…下部洗浄ブラシ 52…上部洗浄ブラシ 55…取付け部材 61…ガイド体 62…第1のスライド体 63…第2のスライド体 68、69…支持板(保持手段) 71…支持部 72…支持軸 75…ナット体 77…テ−パ凸部 78…第1の係合部 86…ブラシ軸 87…ブラシ部材 88…第2の係合部 89…テ−パ凹部 91…第1の調整機構 92…第2の調整機構 93…基体 95…調整体 95a…テ−パ面 96…調整ねじ 101…リンク 105…シリンダ(駆動手段) U…半導体ウエハ(被洗浄部材) 26, 27: Support pin 29a: Base 29b: Holding member 29c: Support member 51: Lower cleaning brush 52: Upper cleaning brush 55: Mounting member 61: Guide body 62: First slide body 63: Second slide body 68 69, a support plate (holding means) 71, a support portion 72, a support shaft 75, a nut body 77, a taper projection 78, a first engagement portion 86, a brush shaft 87, a brush member 88, a second engagement member Joining part 89 ... Taper recess 91 ... First adjusting mechanism 92 ... Second adjusting mechanism 93 ... Base body 95 ... Adjusting body 95a ... Taper surface 96 ... Adjusting screw 101 ... Link 105 ... Cylinder (driving means) U ... Semiconductor wafer (member to be cleaned)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回転駆動される被洗浄物の上面と下面と
をそれぞれ上部洗浄ブラシと下部洗浄ブラシとを接触さ
せて洗浄するブラシ洗浄装置において、 上記被洗浄物の板面に対してほぼ垂直な上下方向に沿っ
て立設された取付け部材と、 この取付け部材に上記上下方向と交差する方向に所定の
間隔で離間しかつ上下方向に沿って設けられた一対のガ
イド体と、 この一対のガイド体の一方にスライド自在に設けられた
第1のスライド体および他方にスライド自在に設けられ
た第2のスライド体と、 上記第1のスライド体の上端部に設けられ上記上部洗浄
ブラシを上記被洗浄物の上面側で軸線を被洗浄物の上面
に対してほぼ平行にして回転自在に保持した上部保持手
段と、 上記第2のスライド体の上端部に設けられ上記下部洗浄
ブラシを上記被洗浄物の下面側で軸線を被洗浄物の下面
に対してほぼ平行にして回転自在に保持した下部保持手
段と、 上記第1のスライド体の下端側で上記ガイド体の一方に
スライド自在に設けられ上記第1のスライド体の上下方
向に沿うスライド位置を調整する第1の調整機構と、 上記第2のスライド体の下端側で上記ガイド体の他方に
スライド自在に設けられ上記第2のスライド体の上下方
向に沿うスライド位置を調整する第2の調整機構と、 中途部が上記取付け部材に回動自在に取付けられ一端が
上記第1の調整機構に回動自在に連結され他端が上記第
2の調整機構に回動自在に連結されたリンクと、 このリンクを回動駆動し上記第1のスライド体を上記第
1の調整機構を介して下降方向へスライドさせ上記上部
洗浄ブラシを被洗浄物の上面に接触させると同時に、上
記第2のスライド体を上記第2の調整機構を介して上昇
方向へスライドさせ上記下部洗浄ブラシを上記被洗浄物
の下面に接触させる駆動手段とを具備したことを特徴と
するブラシ洗浄装置。
1. A brush cleaning apparatus for cleaning an upper surface and a lower surface of an object to be rotated which is rotationally driven by bringing an upper cleaning brush and a lower cleaning brush into contact with each other, wherein the brush is substantially perpendicular to a plate surface of the object to be cleaned. A pair of guide members provided at a predetermined interval in a direction intersecting with the above-mentioned vertical direction and provided along the vertical direction; A first slide body slidably provided on one of the guide bodies, a second slide body slidably provided on the other side, and the upper cleaning brush provided on an upper end of the first slide body. An upper holding means rotatably holding an axis substantially parallel to an upper surface of the object to be cleaned on an upper surface side of the object to be cleaned, and the lower cleaning brush provided at an upper end of the second slide body; Lower holding means rotatably holding an axis substantially parallel to the lower surface of the object to be cleaned on the lower surface side of the object to be cleaned, and slidably provided on one of the guide members at the lower end side of the first slide member; A first adjusting mechanism for adjusting a sliding position of the first slide body along a vertical direction; and a second slide slidably provided on the other end of the guide body at a lower end side of the second slide body. A second adjusting mechanism for adjusting a sliding position along a vertical direction of the body, an intermediate portion rotatably mounted on the mounting member, one end of which is rotatably connected to the first adjusting mechanism, and the other end of which is rotatable. A link rotatably connected to the second adjusting mechanism; and a link rotatably driven to slide the first slide body in the downward direction via the first adjusting mechanism to cover the upper cleaning brush. Touch the top of the cleaning object At the same time, driving means for sliding the second slide body in the ascending direction via the second adjusting mechanism to contact the lower cleaning brush with the lower surface of the object to be cleaned. Brush cleaning equipment.
【請求項2】 上記取付け部材は、上下方向と交差する
方向に沿う軸線を中心にして回動角度の調整自在に設け
られていることを特徴とする請求項1記載のブラシ洗浄
装置。
2. The brush cleaning device according to claim 1, wherein the attachment member is provided so as to be capable of adjusting a rotation angle about an axis along a direction intersecting the vertical direction.
【請求項3】 上記第1および第2の調整機構は、上記
ガイド体にスライド自在に設けられ上記リンクの端部が
回動自在に連結される基体と、この基体に上記ガイド体
と交差する方向に沿ってスライド自在に設けられ上面が
上記第1および第2のスライド体の下端にスライド自在
に当接するテ−パ面に形成された調整体と、この調整体
を上記ガイド体と交差する方向に駆動することで上記各
スライド体を上記ガイド体の上下方向に沿ってスライド
させる調整ねじとからなることを特徴とする請求項1記
載のブラシ洗浄装置。
3. The first and second adjustment mechanisms are provided on the guide body so as to be slidable, and an end of the link is rotatably connected to the base body, and intersect the guide body with the base body. An adjusting body formed on a taper surface slidably provided along the direction and having an upper surface slidably in contact with the lower ends of the first and second sliding bodies, and intersecting the adjusting body with the guide body; 2. The brush cleaning device according to claim 1, further comprising an adjusting screw that slides each of the slide members along a vertical direction of the guide member by driving the slide members in a vertical direction.
【請求項4】 上記上部および下部保持手段は、一対の
支持部と、各支持部に回転自在に設けられ先端部に第1
の係合部が形成された支持軸と、上記支持軸に螺合され
先端部がテ−パ凸部に形成されたナット体とを具備し、 上記上部および下部洗浄ブラシは、外周面にブラシ部材
が設けられたブラシ軸と、このブラシ軸の両端部に形成
され上記第1の係合部にそれぞれ着脱自在に係合し上記
ブラシ軸を上記支持軸と一体的に回転させる第2の係合
部と、 上記ブラシ軸の端面に形成され上記第1の係合部と第2
の係合部との係合状態を保持するために上記ナット体を
ブラシ軸の端面方向へ移動させることで上記テ−パ凸部
が係合するテ−パ凹部とを具備したことを特徴とする請
求項1記載のブラシ洗浄装置。
4. The upper and lower holding means are provided rotatably on a pair of support portions and each support portion, and a first end is provided at a tip end portion.
And a nut body screwed to the support shaft and having a tip formed in a tapered projection. The upper and lower cleaning brushes have brushes on the outer peripheral surface. A brush shaft provided with a member, and a second engagement member formed at both ends of the brush shaft and detachably engaged with the first engagement portions to rotate the brush shaft integrally with the support shaft. A mating portion; and a first engagement portion formed on an end face of the brush shaft and a second engagement portion.
And a taper concave portion with which the taper convex portion engages by moving the nut body toward the end face of the brush shaft in order to maintain the engagement state with the engaging portion. The brush cleaning device according to claim 1, wherein
【請求項5】 上記被洗浄物は回転駆動される支持ピン
によって周辺部が支持され、この支持ピンが回転するこ
とで上記被洗浄物を回転させるようになっていて、 上記支持ピンは、回転駆動される駆動軸に取付けられる
基軸部と、この基軸部の上端に着脱自在に取付けられた
押え部材と、上記基軸部の上端に上記押え部材によって
着脱自在に保持され上記被洗浄物の周辺部を支持する支
持部材とからなることを特徴とする請求項1記載のブラ
シ洗浄装置。
5. The object to be cleaned is supported at its periphery by a support pin that is driven to rotate, and the support pin is rotated to rotate the object to be cleaned. A base shaft portion attached to a driven shaft to be driven; a pressing member detachably mounted on an upper end of the base shaft portion; and a peripheral portion of the object to be cleaned held removably on the upper end of the base shaft portion by the pressing member. The brush cleaning device according to claim 1, further comprising a support member for supporting the brush.
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