JPH10176997A - Method and apparatus for detecting cyclic flaw - Google Patents

Method and apparatus for detecting cyclic flaw

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JPH10176997A
JPH10176997A JP33988496A JP33988496A JPH10176997A JP H10176997 A JPH10176997 A JP H10176997A JP 33988496 A JP33988496 A JP 33988496A JP 33988496 A JP33988496 A JP 33988496A JP H10176997 A JPH10176997 A JP H10176997A
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image
periodic
flaw
roll
defect
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JP33988496A
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Akira Kazama
彰 風間
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NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely detect a cyclic flaw by processing a screen of an image picked up from a surface of an object to be inspected and converting to an image pattern of a specific shape. SOLUTION: At a first step, an original image is equally divided and sliced with a cycle slightly longer than a roll pitch. A longitudinal position of a defect within a first sliced screen shifts in an up-down direction from a longitudinal position of the defect in a next screen. At a second step, an image is sliced from the original image with the same length as the roll pitch in the longitudinal direction while a start position of a slice frame is shifted in a lateral direction. At a third step, images obtained at the first and second steps are overlapped. As a result, cyclic defects from an L-shaped pattern starting from the defect of a first sheet of the original image to defects of a second sheet and afterwards in the longitudinal and lateral directions. An image-processing apparatus 8 processes to slice and overlap images from an image memory 7 from the first to third steps, and a pattern-matching apparatus 9 searches for the L-shaped pattern.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、フィルム、紙、鉄
鋼の圧延プロセスなど、帯状の製品を作る生産工程にお
ける表面検査技術、特に周期疵検出の方法及び装置に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface inspection technique in a production process for producing a strip-shaped product such as a film, paper and steel rolling process, and more particularly to a method and an apparatus for detecting periodic flaws.

【0002】[0002]

【従来の技術】鉄鋼の圧延工程や、樹脂フィルム製造工
程など、帯状の製品を作る工程では、圧延や製品の支持
などに必ずロールが用いられる。ロール表面の一部に突
起、へこみ、あるいは付着物などの異常があると、製品
に転写されて周期疵を生じる。鉄鋼では、圧延工程でロ
ールより転写される欠陥が多く見られ、ロール疵あるい
はロールマークなどと呼ばれて製品不良の要因となって
いる。
2. Description of the Related Art In a process for producing a strip-shaped product such as a steel rolling process and a resin film manufacturing process, a roll is always used for rolling and supporting the product. If there is an abnormality such as a protrusion, a dent, or a deposit on a part of the roll surface, it is transferred to a product and a periodic flaw is generated. In iron and steel, many defects are transferred from a roll in a rolling process, and are referred to as roll flaws or roll marks, which cause product defects.

【0003】従来このような周期疵を検出する方法とし
ては、1次元の電気信号における周期性を求める問題に
対する回答と類似の方法が提案されている。例えば特開
平1−136054号公報(以下文献1という)には、
採取した画像の自己相関を計算してロール疵を検出する
装置と方法が示されている。図8は上記文献1の発明の
一実施例を示す構成図であり、図の20はストリップ、
21は光学的検出ヘッド、22は2値化回路、23はス
トアレジスタ、24は雑音量計測回路、25は同期信号
発生器、26は画像メモリ、27は自己相関演算手段、
28は乗算器、29は加算器、30は演算値レジスタ、
31はデータバス、32は自己相関プロフィールメモ
リ、33はプロフィール平滑化回路、34は疵判定レベ
ル作成回路、35は比較器、36はチャンネルセレク
ト、37はCRTインタフェース、38はCRT表示装
置、R1 ,R2 はロールである。
Conventionally, as a method for detecting such a periodic flaw, a method similar to the answer to the problem of obtaining the periodicity in a one-dimensional electric signal has been proposed. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-136054 (hereinafter referred to as Document 1) discloses that
An apparatus and method for calculating the autocorrelation of a taken image to detect roll flaws is shown. FIG. 8 is a block diagram showing an embodiment of the invention of the above-mentioned Document 1, and FIG.
21 is an optical detection head, 22 is a binarization circuit, 23 is a store register, 24 is a noise amount measurement circuit, 25 is a synchronization signal generator, 26 is an image memory, 27 is autocorrelation calculation means,
28 is a multiplier, 29 is an adder, 30 is an operation value register,
31 is a data bus, 32 is an autocorrelation profile memory, 33 is a profile smoothing circuit, 34 is a flaw determination level creation circuit, 35 is a comparator, 36 is a channel select, 37 is a CRT interface, 38 is a CRT display device, and R 1. , R 2 is a roll.

【0004】文献1のロール疵検出方法は、図8の如き
装置構成にて、検査対象の画像を画像メモリ26に採取
して、乗算器28、加算器29及び演算値レジスタ30
よりなる自己相関演算手段27を用いて画像上の自己相
関計算を行い、相関関数のピーク位置より周期欠陥を見
つける方法である。この文献1の方法は、検査対象の正
常部のノイズが少ない場合は有効であるが、ノイズが大
きい場合、S/Nを向上させるため、より長い領域に渡
って大量の画像間自己相関計算を必要とする。
According to the roll flaw detection method disclosed in Document 1, an image to be inspected is collected in an image memory 26 in a device configuration as shown in FIG.
In this method, an autocorrelation calculation on an image is performed using an autocorrelation calculating means 27, and a periodic defect is found from a peak position of a correlation function. The method of Document 1 is effective when the noise of the normal part to be inspected is small, but when the noise is large, in order to improve S / N, a large amount of autocorrelation between images is performed over a longer area. I need.

【0005】特に鉄鋼プロセスの熱間圧延工程のよう
に、製品表面に酸化膜のムラによる模様や水滴が乗って
いる状況では、大量のメモリと演算時間が必要である。
また、ロールのスリップや横方向の蛇行などで、本来同
じ横方向位置に、同じ長さ方向周期で現れるはずのロー
ル疵の位置が、次第にずれていくこともあり、長い領域
を自己相関計算すると、こうしたずれに遭遇する可能性
が高くなって、自己相関が良好に保たれず、かえって検
出性能は低下する。
[0005] Particularly, in a situation where a pattern or water droplets are present on the product surface due to unevenness of an oxide film as in a hot rolling step of a steel process, a large amount of memory and a large amount of calculation time are required.
In addition, due to roll slip or lateral meandering, the position of roll flaws that should appear at the same horizontal position at the same length direction cycle may gradually shift, so if a long area is subjected to autocorrelation calculation, However, the possibility of encountering such a deviation increases, and the autocorrelation is not maintained well, and the detection performance is rather deteriorated.

【0006】また、自己相関計算を行わずに簡易に周期
欠陥を検出する装置も提案されている。例えば特開昭5
8−165042号公報(以下文献2という)には、ラ
インセンサの出力を流れ方向に積算してヒストグラムを
作り、このヒストグラムのピークより周期欠陥を検出す
る装置が示されている。図9は上記文献2の発明の内部
の処理を示す概念図であり、図の41は帯状体、42は
光学的検出ヘッド、44はロール疵、45はヘゲ、46
はスリバ、47はスケールである。
There has also been proposed an apparatus for easily detecting a periodic defect without performing an autocorrelation calculation. For example, JP
Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-165042 (hereinafter referred to as Document 2) discloses an apparatus that integrates the output of a line sensor in the flow direction to form a histogram, and detects a periodic defect from the peak of the histogram. FIG. 9 is a conceptual diagram showing the internal processing of the invention of the above-mentioned Document 2, in which 41 is a strip, 42 is an optical detection head, 44 is a roll flaw, 45 is a scab, 46
Is a sliver, and 47 is a scale.

【0007】文献2の疵検出方法では、圧延ロールを1
回、2回、3回…と回転させた場合、図9の“1”,
“2”,“3”…に示すように各帯状体41のほぼ同一
箇所に同じような性質のロール疵44が現れ、その他散
在的にヘゲ45、スリバ46、スケール47等の疵が現
れる。そこで圧延ロールの回転順にこれらの疵の検出出
力を重ね合せると、ロール疵44がある場合には、図9
の(A)のようなヒストグラムにピーク44′が現れる
ので、このピーク44′を検出してロール疵と判断す
る。しかし単純にロール周期で画像を重ね合わせたヒス
トグラムのピークから周期的欠陥を検出すると、突発性
の深い欠陥があってもピークが現れるので、この単純な
ヒストグラム作成では過剰検出になるおそれがある。
[0007] In the flaw detection method of Document 2, the rolling roll is set to 1
, Twice, three times,..., "1" in FIG.
As shown by “2”, “3”,..., Roll flaws 44 having similar properties appear at substantially the same location of each strip 41, and other flaws such as scabs 45, slivers 46, and scales 47 appear sporadically. . Then, when the detection outputs of these flaws are superimposed in the order of rotation of the rolling roll, if there is a roll flaw 44, FIG.
(A), a peak 44 'appears in the histogram, and this peak 44' is detected to determine a roll flaw. However, when a periodic defect is detected from the peak of a histogram obtained by simply superimposing images in a roll cycle, a peak appears even if there is a suddenly deep defect.

【0008】図10はロール周期での画像重ね合せによ
る輝度ヒストグラムの概念図であり、図の左側に示すロ
ールピッチLの間隔で切り出された複数枚の画像を重ね
合せた輝度ヒストグラムには、図の右側に示すように、
周期疵のほかに突発疵もピークとして現れるので、これ
らのピークをすべて周期疵として検出すると過剰検出に
なる。そこで上記文献2の提案では、過剰検出を抑制す
るため、ヒストグラムを作成する前段階として、欠陥候
補部分の特徴を求め、仕分けして、周期欠陥らしいと認
められたもののみをヒストグラムに加える工夫がなされ
ている。
FIG. 10 is a conceptual diagram of a luminance histogram obtained by superimposing images in a roll cycle. A luminance histogram obtained by superimposing a plurality of images cut at intervals of a roll pitch L shown on the left side of FIG. As shown on the right side of
In addition to periodic flaws, sudden flaws also appear as peaks, so if all these peaks are detected as periodic flaws, excessive detection will result. Therefore, in the proposal of Document 2 described above, in order to suppress overdetection, as a pre-stage for creating a histogram, a feature of finding a defect candidate portion, sorting it, and adding only those which are recognized to be periodic defects to the histogram are added. It has been done.

【0009】上記文献2では、周期性欠陥の特徴として
「分散性がなく、孤立疵であること」を重要な指標とし
ているが、実際は斑点状に分散した周期欠陥も多く見受
けられる。従って文献2のように前段階の処理を行って
も、ロール周期での画像重ね合せによる輝度ヒストグラ
ムから、周期欠陥と他の突発性欠陥、あるいは単なるノ
イズを特徴のみから仕分けることは極めて困難である。
[0009] In the above-mentioned Document 2, "a lack of dispersibility and an isolated flaw" is used as an important index as a characteristic of a periodic defect. However, in practice, many periodic defects are dispersed in a spot-like manner. Therefore, it is extremely difficult to sort out periodic defects and other sudden defects or mere noise based on only features from the luminance histogram obtained by superimposing images in the roll cycle even if the processing at the previous stage is performed as in Reference 2. .

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来技術
における帯状体の周期欠陥の検出方法では、簡易なヒス
トグラム方式の場合には、斑点状の周期欠陥には十分な
検出性能が得られないという問題があり、また厳密に相
関演算を行う方式の場合には、大規模なメモリと画像演
算装置が必要で装置コストが大きくなる上に、背景ノイ
ズが大きい場合には、より多くの画像を採取する必要が
あるため、個々の欠陥が位置ずれの影響を受けやすく、
かえって相関演算の精度が低下して十分な検出性能が得
られないという問題があった。本発明は、こうした状況
に鑑みて、簡素な処理方法と装置構成によって、背景ノ
イズが多い場合でも、従来よりも少ない採取画像で、精
度よく周期欠陥を検出することができる周期疵検出方法
及び装置を提供するものである。
In the above-described conventional method for detecting a periodic defect in a band-like body, in the case of a simple histogram method, sufficient detection performance cannot be obtained for a spot-like periodic defect. In the case of the method of strictly performing the correlation operation, a large-scale memory and an image calculation device are required, which increases the cost of the device. In addition, when the background noise is large, more images are required. Each defect is susceptible to misalignment because it needs to be sampled.
On the contrary, there is a problem that the accuracy of the correlation calculation is lowered and sufficient detection performance cannot be obtained. In view of such circumstances, the present invention provides a method and apparatus for detecting a periodic flaw that can detect a periodic defect with high accuracy using a smaller number of images than in the past, even when background noise is large, with a simple processing method and apparatus configuration. Is provided.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明に係る周期疵検出
方法は、連続的に搬送される帯状体の表面に生ずる周期
疵を検出する方法において、前記搬送される帯状体の表
面の画像を継ぎ目なく光学的に撮像して、この撮像画像
を一旦記憶装置に記憶し、前記記憶装置に記憶された撮
像画像から搬送方向に周期疵の発生間隔と異なる間隔で
複数枚切り出した画像と、前記記憶された撮像画像から
帯状体の幅方向に切り出し位置をずらせながら周期疵の
発生間隔と同一間隔で複数枚切り出した画像とをすべて
重ね合せた合成画像を生成し、前記生成された合成画像
内に形成された特定形状の画像パターンを認識して周期
疵を検出するものである。
A periodic flaw detection method according to the present invention is a method for detecting periodic flaws generated on the surface of a continuously conveyed strip, comprising the steps of: An image that is optically captured without a seam, the captured image is temporarily stored in a storage device, and an image obtained by cutting out a plurality of images from the captured image stored in the storage device at an interval different from a periodic flaw occurrence interval in the transport direction, While shifting the cutout position in the width direction of the band from the stored captured image, a composite image is generated by superimposing all the images obtained by cutting out a plurality of images at the same interval as the periodic flaw occurrence interval. In this case, the periodic flaw is detected by recognizing an image pattern of a specific shape formed on the image.

【0012】本発明に係る周期疵検出装置は、連続的に
搬送される帯状体の表面に生じる周期疵を検出する装置
において、前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目
なく光学的に撮像する撮像手段と、前記撮像手段により
撮像された画像を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に
記憶された撮像画像から搬送方向に周期疵の発生間隔と
異なる間隔で複数枚切り出した画像と、前記記憶された
撮像画像から帯状体の幅方向に切り出し位置をずらせな
がら周期疵の発生間隔と同一間隔で複数枚切り出した画
像とをすべて重ね合せた合成画像を生成する画像処理手
段と、前記画像処理手段の生成した合成画像内に形成さ
れた特定形状の画像パターンを認識して周期疵を検出す
る検出手段とを備えたものである。
A periodic flaw detection device according to the present invention is a device for detecting periodic flaws generated on the surface of a continuously conveyed band, and optically captures an image of the surface of the conveyed band without a seam. Imaging means for performing, a storage means for storing an image captured by the imaging means, and a plurality of images cut out from the captured image stored in the storage means at intervals different from the periodic flaw occurrence interval in the transport direction, Image processing means for generating a composite image in which all the images cut out at the same interval as the periodic flaw generation interval are superimposed on all the images cut out from the stored captured image in the width direction of the belt-shaped body while shifting the cutout position; Detecting means for recognizing an image pattern of a specific shape formed in the composite image generated by the means and detecting periodic flaws.

【0013】本発明は上記のように検査対象の周期疵
を、その表面から撮像した画像を処理して特定形状の画
像パターンに変換することにより、周期疵を確実に検出
できると共に、背景ノイズが多い場合にも過剰検出はほ
とんど生じないので信頼性の高い検査が可能になる。ま
た本発明では、検査対象の表面を撮像して採取する画像
の量は少なく、また撮像画像を処理する装置も簡単であ
るので、低コストで高速処理できる検査システムを実現
できる。
According to the present invention, the periodic flaws to be inspected are processed into an image pattern of a specific shape by processing an image picked up from the surface thereof, so that the periodic flaws can be reliably detected and the background noise is reduced. Even in the case where the number is large, overdetection hardly occurs, so that highly reliable inspection can be performed. Further, according to the present invention, the amount of an image to be taken by imaging the surface of the inspection target is small and the apparatus for processing the captured image is simple, so that an inspection system that can perform high-speed processing at low cost can be realized.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】図1は本発明に係る周期疵検出装
置の構成例を示す図であり、鉄鋼熱延プロセスに本装置
を適用した場合の例である。図1の1は検査対象の鋼
板、2は圧延ロール、3は光源装置、4はラインセンサ
カメラ、5はロータリエンコーダ、6はカメラコントロ
ーラ、7は画像メモリ、8は画像処理装置、9はパター
ンマッチング装置、10はマイクロコンピュータ、11
は表示・出力装置である。本発明では、検査対象の撮像
画像を特定の規則で切り出し、重ね合わせて、周期欠陥
像を特定のパターンに変換することで検出を行う方法を
採用しており、この方法を用いる装置は概ね撮像系と画
像メモリ及び画像処理系で構成される。
FIG. 1 is a view showing an example of the configuration of a periodic flaw detection device according to the present invention, in which the present device is applied to a steel hot rolling process. 1 is a steel plate to be inspected, 2 is a roll, 3 is a light source device, 4 is a line sensor camera, 5 is a rotary encoder, 6 is a camera controller, 7 is an image memory, 8 is an image processing device, and 9 is a pattern. Matching device, 10 is a microcomputer, 11
Is a display / output device. In the present invention, a method is employed in which a captured image of an inspection target is cut out according to a specific rule, superimposed, and a periodic defect image is detected by converting it into a specific pattern, and detection is performed. System, an image memory and an image processing system.

【0015】図1の構成例では、検査対象の鋼板1は所
定板幅(例えば1000mm)の帯状体で、矢印方向に
連続的に搬送されている。そしてライセンサカメラ4
が、搬送中の鋼板1の板幅方向(上記搬送方向と直角方
向)の一定長(例えば前記板幅と同じ長さ)である1ラ
イン分の表面画像を撮像できるように、光源装置3、ラ
イセンサカメラ4及びカメラコントロール6よりなる撮
像系が構成される。また検査対象の製造プロセス(この
例ではNo.7ロール2)に設置されたエンコーダ5よ
り、検査対象が一定長さ進むごとにトリガ信号が出力さ
れ、撮像系はこのトリガ信号が入力される毎に、検査対
象表面の1ライン分の撮像画像を取り込み、順次画像メ
モリ7に格納する。このようにして検査対象の表面画像
は、継ぎ目なく2次元的に配列された画像メモリ7内に
連続的に記憶される。
In the configuration example shown in FIG. 1, the steel sheet 1 to be inspected is a strip having a predetermined width (for example, 1000 mm) and is continuously conveyed in the direction of the arrow. And licensor camera 4
The light source device 3 and the light source device 3 are configured to capture a surface image of one line having a fixed length (for example, the same length as the plate width) in a plate width direction (a direction perpendicular to the transfer direction) of the steel plate 1 being transferred. An imaging system including the licensor camera 4 and the camera control 6 is configured. A trigger signal is output from the encoder 5 installed in the manufacturing process of the inspection target (No. 7 roll 2 in this example) every time the inspection target advances by a certain length. Then, one line of the picked-up image of the surface to be inspected is fetched and sequentially stored in the image memory 7. In this way, the surface images to be inspected are continuously stored in the image memory 7 arranged two-dimensionally without seams.

【0016】即ち、2次元配列の画像メモリ7内の横1
ラインのデータ量は常に実際の検査対象の板幅方向の一
定の長さに対応しており、検査対象の搬送速度が変化し
ても、これは1ライン分の撮像画像の取込速度が変化す
るのみであるから、画像メモリ7内の縦方向データ量
は、検査対象の搬送方向の一定の長さに対応している。
従って検査対象のある2次元領域と画像メモリ7内の縦
横データ量との対応は不変である。いまNo.7ロール
2が1回転する間に画像メモリ7が格納するデータ量を
1周期分のデータ量とすると、周期的欠陥を検出するた
めには、画像メモリ7は少くとも2周期分以上のデータ
量を記憶する容量が必要である。例えば欠陥を発生する
恐れのあるロールの周長が2mであって、5周期分のデ
ータ量を記憶すれば、搬送距離10m分の画像データを
記憶したことになる。
That is, the horizontal 1 in the two-dimensional array image memory 7
The data amount of a line always corresponds to a constant length in the plate width direction of the actual inspection target. Even if the transport speed of the inspection target changes, this does not mean that the capture speed of the captured image for one line changes. Therefore, the amount of data in the vertical direction in the image memory 7 corresponds to a certain length in the transport direction of the inspection target.
Therefore, the correspondence between the two-dimensional area having the inspection target and the amount of vertical and horizontal data in the image memory 7 remains unchanged. No. Assuming that the amount of data stored in the image memory 7 during one rotation of the 7 roll 2 is the data amount for one cycle, the image memory 7 must be at least two cycles or more in order to detect a periodic defect. Storage capacity is required. For example, if the circumference of a roll that may cause a defect is 2 m and a data amount of 5 cycles is stored, image data for a transport distance of 10 m is stored.

【0017】図2は周期欠陥のある画像メモリ内のイメ
ージを示す図である。前記撮像系によって採取した画像
に周期欠陥があると、画像メモリのイメージは図2のよ
うになり、欠陥周期は欠陥を発生しているロールの周長
(以下ロールピッチLという)と同じである。この画像
にはシェーディング(shading 、画像における濃淡)補
正をかけて、輝度レベルを正規化しておき、これを元画
像と呼ぶことにする。
FIG. 2 is a diagram showing an image in an image memory having a periodic defect. If there is a periodic defect in the image taken by the imaging system, the image in the image memory is as shown in FIG. 2, and the defect period is the same as the circumference of the roll having the defect (hereinafter referred to as roll pitch L). . This image is subjected to shading (shading, shading in the image) correction to normalize the luminance level, and this is referred to as an original image.

【0018】図3,4,5は本発明に係る同期疵検出方
法の説明図(1),(2),(3)であり、これらの図
面を用いて本発明の周期疵検出方法を先に説明する。ま
ず第1段階として、元画像をロールピッチLよりやや長
い周期hで縦に等分割して切り出す(L<h)。すると
最初の切り出し画面内における欠陥の縦方向位置と、次
の画面内における欠陥の縦方向位置は上下にずれる。こ
の様子を図3に示した。これは切り出しをロールピッチ
と同じ長さで行った時に、各画面内での欠陥の縦方向位
置が変わらないことと対照的である。この切り出す長さ
hは、例えばロールピッチLに対し、目標とするロール
疵の縦方向の大きさdV を加算した程度に設定する。そ
してこのhの間隔で、5枚から10枚程度を等分割で切
り出した画像をすべて重ね合わせると、図3の右側の画
像Aのように、周期性の欠陥は縦に線状に並んだパター
ンを形成する。
FIGS. 3, 4 and 5 are explanatory diagrams (1), (2) and (3) of the synchronous flaw detection method according to the present invention. The periodic flaw detection method of the present invention will be described with reference to these drawings. Will be described. First, as a first stage, the original image is cut out by equally dividing it vertically with a period h slightly longer than the roll pitch L (L <h). Then, the vertical position of the defect in the first cutout screen and the vertical position of the defect in the next screen are shifted up and down. This is shown in FIG. This is in contrast to the fact that when cutting is performed with the same length as the roll pitch, the vertical position of the defect in each screen does not change. The cut length h is set, for example, to the extent that the vertical size d V of the target roll flaw is added to the roll pitch L. Then, at intervals of h, when all the images obtained by cutting out about 5 to 10 pieces by equal division are superimposed, the periodic defect becomes a pattern linearly arranged in a line as shown in an image A on the right side of FIG. To form

【0019】次に第2段階として、第1段階と同じ元画
像に対し、今度は縦方向にはロールピッチLと同じ長さ
で、横方向に切り出し枠(図4の破線で示される)の開
始位置をずらしながら画像を切り出す。画像範囲からは
み出す領域は反対側の端から切り出し開始位置までを循
環的に切り出すことで、個々の切り出し画像は常に検査
対象全幅を捕らえている。この様子を図4に示した。ま
た横方向に切り出し枠の開始位置をずらせる大きさは、
目標とするロール疵の横方向の大きさdH 程度に設定す
る。そして第1段階と同様に、切り出した画像をすべて
重ね合わせると、図4の右側の画像Bのように、周期欠
陥は横に線状に並んだパターンを形成する。
Next, as a second step, a cut-out frame (indicated by a broken line in FIG. 4), which has the same length as the roll pitch L in the vertical direction and a horizontal direction, with respect to the same original image as the first step. Cut out the image while shifting the start position. The region outside the image range is cyclically cut out from the opposite end to the cutout start position, so that each cutout image always captures the entire width of the inspection target. This situation is shown in FIG. Also, the size to shift the start position of the cropping frame in the horizontal direction is
Set to about lateral extent d H of the roll flaws target. Then, as in the first stage, when all the cut images are superimposed, the periodic defect forms a pattern arranged in a horizontal line as shown in an image B on the right side of FIG.

【0020】次に第3段階として、第1段階で得られた
重ね合わせ画像Aと、第2段階で得られた重ね合わせ画
像Bとを重ね合わせる。こうすることで図5の右側の画
像Cを示す如く、周期欠陥は元画像の1枚目における位
置を起点として、縦と横に2枚目以降の欠陥が並んだ、
アルファベット大文字のL型パターンを形成する。即ち
本実施形態の周期疵検出方法によると、元画像に周期性
の欠陥があれば必ずL字型のパターンが形成され、他の
突発性欠陥やノイズの多くが点状であることに対し、明
らかに異なる幾何学的特徴をもつパターンで現れるの
で、このパターン検出は容易になる。
Next, as a third stage, the superimposed image A obtained in the first stage and the superimposed image B obtained in the second stage are superimposed. In this way, as shown in the image C on the right side of FIG. 5, the periodic defect has the second and subsequent defects arranged vertically and horizontally starting from the position on the first image of the original image.
Form an L-shaped pattern of uppercase letters. That is, according to the periodic flaw detection method of the present embodiment, if there is a periodic defect in the original image, an L-shaped pattern is always formed, and most of the other sudden defects and noises are point-like. This pattern detection is facilitated because it appears in patterns with distinctly different geometric features.

【0021】次に第4段階として、第3段階で得られた
画像からL字パターンを検出する。これには、既に市販
されている文字読取装置(OCR)等の多くの画像処理
装置が有するパターンマッチング機能を用いるのが最も
簡単である。即ち「L」という形を画像内から探せばよ
い。このパターンマッチング機能は市販の画像処理装置
ではほとんどハードウェア化されており、その処理は高
速で、且つ製品は安価である。
Next, as a fourth step, an L-shaped pattern is detected from the image obtained in the third step. For this, it is easiest to use the pattern matching function of many image processing devices such as a character reading device (OCR) that is already commercially available. That is, the shape "L" may be searched for in the image. This pattern matching function is almost implemented in hardware in a commercially available image processing apparatus, and the processing is fast and the product is inexpensive.

【0022】図1の装置構成において、画像処理装置8
は第1段階から第3段階までの、画像メモリ7から画像
の切り出し、重ね合わせの処理を行い、パターンマッチ
ング装置9は、第3段階で生成された画像に対してL字
パターンを探す処理を行う。そして最終段階として、判
定装置(この例ではマイクロコンピュータ10)は、パ
ターンマッチング装置9により検出されたL字パター
ン、即ち周期欠陥の位置に基づき、元画像にアクセスし
て、周期欠陥の形状、濃度等の特徴情報から、欠陥の種
別と程度の判定を行う。あるいはL字パターンそのもの
の特徴情報から、種別、程度を求めてもよい。なお実際
の装置では、上記画像処理装置8、パターンマッチング
装置9、マイクロコンピュータ10の一部または全体が
一体となっている場合もある。
In the configuration of the apparatus shown in FIG.
Performs a process of cutting out and superimposing images from the image memory 7 from the first stage to the third stage, and the pattern matching device 9 performs a process of searching for an L-shaped pattern on the image generated in the third stage. Do. As a final stage, the determination device (the microcomputer 10 in this example) accesses the original image based on the L-shaped pattern detected by the pattern matching device 9, that is, the position of the periodic defect, and determines the shape and density of the periodic defect. Then, the type and degree of the defect are determined from the characteristic information such as. Alternatively, the type and degree may be obtained from the characteristic information of the L-shaped pattern itself. In an actual device, the image processing device 8, the pattern matching device 9, and the microcomputer 10 may be partially or entirely integrated.

【0023】本発明の周期疵検出方法の重要な工程は、
第1段階から第3段階まであるが、第1段階あるいは第
2段階のみでは、周期欠陥は縦か横に並ぶ線状のパター
ンとなり、これだけでは、例えば、線状の深い突発性欠
陥と区別が不可能である。しかしながら、第3段階で得
られるL字パターンは、L字型の突発性欠陥がほとんど
無いことから、第4階段でのL字パターンによる周期欠
陥の検出は非常に確実性が高いものとなる。
The important steps of the periodic flaw detection method of the present invention are as follows:
Although there are first to third stages, in only the first or second stage, the periodic defects have a linear pattern arranged vertically or horizontally. Impossible. However, since the L-shaped pattern obtained in the third step has almost no L-shaped sudden defects, the detection of the periodic defect by the L-shaped pattern in the fourth step is very reliable.

【0024】なお本発明における画像の取り込み、切り
出し方法等は、図1〜図5で説明した実施形態に限定さ
れるものではない。例えばライセンサカメラ4を用いて
単位搬送距離毎のラインデータを逐次画像メモリ7内に
格納して2次元画像を生成し、その後画像メモリ7内の
2次元画像を特定の規則で切り出す代りに、通常の2次
元TVカメラなどを用いて、2次元画像を取り込み、こ
の画像の取り込み時に上記特定の規則での画像の分割を
並列的に行う等の方法により本発明を実施するようにし
てもよい。
It should be noted that the method of capturing and cutting out an image in the present invention is not limited to the embodiment described with reference to FIGS. For example, instead of using the licensor camera 4 to sequentially store line data for each unit transport distance in the image memory 7 to generate a two-dimensional image, and then cutting out the two-dimensional image in the image memory 7 according to a specific rule, The present invention may be implemented by a method in which a two-dimensional image is captured using a two-dimensional TV camera or the like, and the image is divided in parallel with the above specific rule at the time of capturing the image.

【0025】図1は前記本発明の周期疵検出方法を、鉄
鋼分野の熱間圧延プロセス(一般に熱延と呼ぶ)に適用
した場合の周期疵検出装置の構成例を示している。以下
図1の各装置の動作を詳細に説明する。圧延ロール2は
7段になっており、入り側最初のロールをNo.1、最
終ロールをNo.7ロールとする。入り側より1300
℃程度の温度のスラブ鋼材1が挿入され、次第に圧延さ
れて、No.7ロール出口で厚さ1mm程度にまで圧延
される。ここでの鋼板移動速度は20m毎秒程度、鋼板
の幅は1000mmである。熱延工程では鋼板表面に、
スケールと呼ばれる硬い鉄酸化物層が急速に生成し、剥
離する。通常は、この剥離されたスケールを水のジェッ
トなどで吹き飛ばして、上下ロール間や鋼板とロール間
に噛み込まれないようにしているが、時折噛み込みが生
じて、ロール表面に凹み等の損傷を与える。圧延時にこ
の損傷が鋼板に転写されて、ロール疵と呼ばれる周期欠
陥になる。本実施形態では、製品歩留まりへの影響の最
も大きいNo.7ロール2で発生するロール疵の検出を
行っており、このNo.7ロール2の周長は2700m
mである。
FIG. 1 shows an example of the structure of a periodic flaw detecting apparatus when the above-mentioned periodic flaw detection method of the present invention is applied to a hot rolling process (generally called hot rolling) in the steel field. Hereinafter, the operation of each device in FIG. 1 will be described in detail. The rolling roll 2 has seven stages, and the first roll on the entrance side is No. 1. 1, the last roll is No. 7 rolls. 1300 from entrance
The slab steel material 1 at a temperature of about 0 ° C. is inserted and gradually rolled. Rolled to a thickness of about 1 mm at the exit of 7 rolls. Here, the moving speed of the steel sheet is about 20 m per second, and the width of the steel sheet is 1000 mm. In the hot rolling process,
A hard iron oxide layer called scale rapidly forms and delaminates. Normally, the peeled scale is blown off with a jet of water, etc., so that it does not get caught between the upper and lower rolls or between the steel plate and the rolls. give. This damage is transferred to the steel sheet during rolling, and becomes a periodic defect called a roll flaw. In the present embodiment, the No. 1 having the greatest effect on the product yield. No. 7 roll 2 is detected, and this roll No. 7 is detected. The circumference of 7 roll 2 is 2700m
m.

【0026】また、撮像のための光源としては、メタル
ハライド250Wランプの光をバンドルファイバーで線
状に形成し、シリンドリカルレンズで集光して鋼板1の
表面を照らす。反射光の受光はラインセンサカメラ4を
用いる。鋼板の温度は、No.7ロール2の出口で、ま
だ900℃程度あり、赤熱しているので、600nm以
上の可視光と熱線をカットして、光源装置3からの反射
光のみを受光するようにする。この実施形態において、
ラインセンサカメラ4の画素数は1024であり、10
00mmの板幅を見るので、横方向の画素分解能は1m
mである。またカメラ駆動クロックを20MHzとして
いるので、1024画素のデータを直列に読み出すスキ
ャン時間は50マイクロ秒となる。従って鋼板が20m
毎秒で搬送されている時、50マイクロ秒の走行距離は
1mmであるから、長さ方向の分解能は1mmである。
As a light source for imaging, the light of a 250 W metal halide lamp is linearly formed with bundle fibers and condensed by a cylindrical lens to illuminate the surface of the steel plate 1. The line sensor camera 4 is used to receive the reflected light. The temperature of the steel sheet is no. At the exit of the roll 7, the temperature is still about 900 ° C., and it is red-hot. Therefore, visible light and heat rays of 600 nm or more are cut to receive only the reflected light from the light source device 3. In this embodiment,
The number of pixels of the line sensor camera 4 is 1024, and
Since the board width is 00 mm, the pixel resolution in the horizontal direction is 1 m
m. In addition, since the camera driving clock is set to 20 MHz, the scan time for serially reading out data of 1024 pixels is 50 microseconds. Therefore, the steel plate is 20m
When transported every second, the travel distance in 50 microseconds is 1 mm, and the resolution in the length direction is 1 mm.

【0027】カメラコントローラ6は、ロール2に設け
られたロータリエンコーダ5より信号を受け取って、鋼
板が1mm進むごとにカメラにトリガ信号を送る。カメ
ラはトリガ信号が入った時のみ、画像メモリ7に1ライ
ン分1024画素の画像信号を出力するので、鋼板の運
転速度が変化しても、画像メモリ7内では常に1画素が
実際の鋼板での縦横1mmの像に相当している。マイク
ロコンピュータ10は、ロータリエンコーダ5からの信
号で鋼板の進んだ長さを測定しており、指定された時刻
から指定された距離の画面を取り込むように画像処理装
置8を制御する。
The camera controller 6 receives a signal from the rotary encoder 5 provided on the roll 2 and sends a trigger signal to the camera every time the steel plate advances by 1 mm. The camera outputs an image signal of 1024 pixels for one line to the image memory 7 only when a trigger signal is input. Therefore, even if the operating speed of the steel sheet changes, one pixel always remains in the image memory 7 with the actual steel plate. Corresponds to an image of 1 mm vertically and horizontally. The microcomputer 10 measures the advanced length of the steel plate based on a signal from the rotary encoder 5 and controls the image processing device 8 to capture a screen at a specified distance from a specified time.

【0028】マイクロコンピュータ10の指令により、
画像処理装置8は画像メモリ7に、No.7ロール2の
周長の5〜6倍程度の長さ分の画像を取り込む。画像処
理装置8は、採取された画像に対し、必要に応じてシェ
ーデイング補正、2値化、フィルタなど、欠陥検出で一
般的に行われる処理を施すことがある。本実施形態で
は、シェーデイング補正と、輝度の正規化を行い、経験
的に求められた閾値を用いて2値化を行っている。
According to a command from the microcomputer 10,
The image processing device 8 stores the No. An image corresponding to a length about 5 to 6 times the circumference of the seven rolls 2 is captured. The image processing device 8 may perform processing generally performed in defect detection, such as shading correction, binarization, and filtering, on the collected image as needed. In the present embodiment, shading correction and normalization of luminance are performed, and binarization is performed using a threshold value empirically obtained.

【0029】こうした前処理の後、画像処理装置8は、
周期疵検出方法で説明した第1〜第3段階の手順に沿っ
て画像の切り出し、合成の処理を行う。図6は、図1の
構成の装置により、実際に撮像した鋼板表面の画像を縦
に切り出した例を示す図であり、図の(a)〜(e)は
ロール周長よりやや長い周期で元画像を切り出した画面
である。そしてこれらの元画像には中央右上寄りに周期
欠陥であるロール疵が含まれている。
After such preprocessing, the image processing device 8
An image is cut out and combined according to the first to third steps described in the periodic flaw detection method. FIG. 6 is a diagram showing an example in which an image of the surface of a steel plate actually taken by the apparatus having the configuration shown in FIG. 1 is vertically cut out, and (a) to (e) of the drawing have a cycle slightly longer than the roll circumference. It is the screen which cut out the original image. These original images include a roll defect which is a periodic defect near the upper right of the center.

【0030】図7は図6の画像の処理結果を示す図であ
る。図7の(a)は、図6の(a)〜(e)の画像を、
最小輝度画像合成法などによって縦合成した結果の画像
であり、この段階でロール疵は縦に並んで現れる。図7
の(b)は、元画像を横にずらしながらロールピッチで
切り出した画像の合成結果であり、ロール疵は横に並ん
で現れている。また図の(a),(b)には突発性の欠
陥か、ノイズと思われるものも点在しており、これらの
画面では周期欠陥のみを抽出するのはまだ困難である。
FIG. 7 is a diagram showing the processing result of the image of FIG. (A) of FIG. 7 shows the images of (a) to (e) of FIG.
This is an image obtained as a result of vertical synthesis by a minimum luminance image synthesis method or the like. At this stage, roll flaws appear vertically. FIG.
(B) is a result of synthesizing an image obtained by cutting out the original image at a roll pitch while shifting the original image horizontally, and roll flaws appear side by side. In addition, in FIG. 4A and FIG. 4B, there are scattered defects or noises which seem to be noises, and it is still difficult to extract only the periodic defects on these screens.

【0031】図7の(c)が、同図の(a)と(b)の
画像を合成して得られた最終画面であり、ロール疵はL
字パターンを示していて、本発明の特徴がよく現われて
いる。画像メモリ7内の一部に生成された図7の(c)
の画像に対して、パターンマッチング装置9は、L字パ
ターンの長さ、幅、形状、太さ、発生位置に、ある程度
の冗長を許容した設定範囲でパターンを探す。結果とし
て、図7の(d)のように、設定枠内にL字パターンす
なわちロール疵を捕らえることができた。
FIG. 7C shows a final screen obtained by synthesizing the images shown in FIGS. 7A and 7B.
FIG. 4 shows a character pattern, which clearly shows the features of the present invention. FIG. 7C generated in a part of the image memory 7.
The pattern matching device 9 searches for an L-shaped pattern in a set range that allows a certain degree of redundancy in the length, width, shape, thickness, and occurrence position of the L-shaped pattern. As a result, as shown in FIG. 7D, an L-shaped pattern, that is, a roll flaw was captured in the setting frame.

【0032】パターンマッチング装置9は、L字パター
ンの、画面内における位置と、その形状の情報をマイク
ロコンピュータ10に知らせる。マイクロコンピュータ
10はこれらの情報からロール疵の種別と程度を判定す
る。本実施形態では、判定の精度を向上させるため、再
度、2値化されていない元画像にアクセスしてロール疵
の輝度、輝度分布、形状などを精密に分析し、この分析
結果の表示及び出力を表示・出力装置11(CRT、フ
ロッピ、ディスク、プリンタ等の表示・出力装置)によ
って行っている。
The pattern matching device 9 informs the microcomputer 10 of the position of the L-shaped pattern on the screen and the shape information. The microcomputer 10 determines the type and degree of the roll flaw from these pieces of information. In the present embodiment, in order to improve the accuracy of the determination, the original image that has not been binarized is again accessed to accurately analyze the luminance, luminance distribution, shape, and the like of the roll flaw, and display and output of the analysis result Is performed by the display / output device 11 (display / output device such as a CRT, a floppy disk, a disk, and a printer).

【0033】また画像処理装置8が、元画像に対して別
なロール周期に基づいた処理を行うことで、同一の画像
から別なロールで発生した周期欠陥をも検出が可能であ
る。本実施形態におけるNo.6ロールはNo.7ロー
ルより直径が大きいので、画像の縦方向の切り出しピッ
チをNo.6ロールの周長とNo.7ロールの周長の中
間の長さに設定して本発明の方法を適用すると、No.
6ロールで発生した周期欠陥は最終的な合成画面におい
て、L字型パターンの上下に逆にした逆L型パターンを
示すので、このパターンも容易に検出できる。
Further, the image processing apparatus 8 performs processing on the original image based on another roll cycle, so that it is possible to detect a periodic defect caused by another roll from the same image. No. in the present embodiment. No. 6 roll is No. Since the diameter is larger than that of 7 rolls, the vertical cutout pitch of the image No. 6 roll circumference and No. When the method of the present invention is applied by setting the length to the middle of the circumference of the seven rolls,
The periodic defect generated by six rolls shows an inverted L-shaped pattern which is inverted upside down from the L-shaped pattern on the final composite screen, so that this pattern can also be easily detected.

【0034】このように周期欠陥から変換される特定形
状パターンが、L字型か逆L字型かによって、発生原因
がNo.7ロールによるものか、No.6ロールによる
ものかを判別することができる。なお上記の特定形状パ
ターンは、L字型と逆L字型に限定されるものではな
く、縦方向パターンと横方向パターンとを組み合わせた
「+」や「T」等が形成されるように、画像の切り出し
を行ってもよい。また画像切り出しを斜めに行って、
「/」型を抽出すれば切り出しの手間をさらに省くこと
ができる。斜め疵が発生しにくい対象の場合は有効であ
る。
The cause of occurrence depends on whether the specific shape pattern converted from the periodic defect is L-shaped or inverted L-shaped. No. 7 rolls. It can be determined whether the roll is based on six rolls. Note that the specific shape pattern is not limited to the L-shape and the inverted L-shape, and “+” or “T”, which is a combination of a vertical pattern and a horizontal pattern, is formed. The image may be cut out. Also, cut out the image diagonally,
If the “/” type is extracted, the time and effort for cutting out can be further reduced. This is effective for a target in which oblique flaws hardly occur.

【0035】上記のように、本発明の実施によって、ロ
ール疵を見逃すことがなく確実に検出できるようになる
と共に、検査対象がノイズの多い鋼板の場合でも過剰検
出はほとんど生じないので、信頼性の高い検査が可能に
なった。また本発明の画像処理方法は、単純であるの
で、特別な演算装置を必要とせず、低コストで且つ高速
処理できる検査システムを実現できる。
As described above, by implementing the present invention, it is possible to reliably detect roll flaws without overlooking them. In addition, even when the inspection target is a noisy steel sheet, excessive detection hardly occurs, so that reliability is improved. Inspection of high quality became possible. Further, since the image processing method of the present invention is simple, a special calculation device is not required, and a low-cost and high-speed inspection system can be realized.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、検査対象
の周期疵を、その表面から撮像した画像を処理して特定
形状の画像パターンに変換することにより、周期疵を確
実に検出できると共に、背景ノイズが多い場合にも過剰
検出はほとんど生じないので信頼性の高い検査が可能に
なる。
As described above, according to the present invention, a periodic flaw can be reliably detected by processing an image taken from the surface of the periodic flaw to be inspected and converting it into an image pattern of a specific shape. At the same time, even when there is a lot of background noise, excessive detection hardly occurs, so that highly reliable inspection can be performed.

【0037】また本発明によれば、検査対象の表面を撮
像して採取する画像の量は少なく、また撮像画像を処理
する装置も簡単であるので、低コストで高速処理できる
検査システムを実現できる。
Further, according to the present invention, the amount of images to be picked up by imaging the surface of the inspection object is small, and the apparatus for processing the picked-up images is simple, so that an inspection system which can be processed at low cost and at high speed can be realized. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る周期疵検出装置の構成例を示す図
である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a periodic flaw detection device according to the present invention.

【図2】周期欠陥のある画像メモリ内のイメージを示す
図である。
FIG. 2 is a diagram showing an image in an image memory having a periodic defect.

【図3】本発明に係る周期疵検出方法の説明図(1)で
ある。
FIG. 3 is an explanatory view (1) of a periodic flaw detection method according to the present invention.

【図4】本発明に係る周期疵検出方法の説明図(2)で
ある。
FIG. 4 is an explanatory view (2) of the periodic flaw detection method according to the present invention.

【図5】本発明に係る周期疵検出方法の説明図(3)で
ある。
FIG. 5 is an explanatory view (3) of the periodic flaw detection method according to the present invention.

【図6】実際に撮像した鋼板表面の画像を縦に切り出し
た例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example in which an image of the surface of a steel plate actually taken is cut out vertically.

【図7】図6の画像の処理結果を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a processing result of the image of FIG. 6;

【図8】文献1の発明の一実施例を示す構成図である。FIG. 8 is a configuration diagram showing an embodiment of the invention of Document 1.

【図9】文献2の発明の内部の処理を示す概念図であ
る。
FIG. 9 is a conceptual diagram showing an internal process of the invention of Literature 2.

【図10】ロール周期での画像重ね合せによる輝度ヒス
トグラムの概念図である。
FIG. 10 is a conceptual diagram of a luminance histogram obtained by superimposing images in a roll cycle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 鋼板 2 圧延ロール 3 光源装置 4 ラインセンサカメラ 5 ロータリエンコーダ 6 カメラコントローラ 7 画像メモリ 8 画像処理装置 9 パターンマッチング装置 10 マイクロコンピュータ 11 表示・出力装置 REFERENCE SIGNS LIST 1 steel plate 2 rolling roll 3 light source device 4 line sensor camera 5 rotary encoder 6 camera controller 7 image memory 8 image processing device 9 pattern matching device 10 microcomputer 11 display / output device

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 連続的に搬送される帯状体の表面に生ず
る周期疵を検出する方法において、 前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的
に撮像して、この撮像画像を一旦記憶装置に記憶し、 前記記憶装置に記憶された撮像画像から搬送方向に周期
疵の発生間隔と異なる間隔で複数枚切り出した画像と、
前記記憶された撮像画像から帯状体の幅方向に切り出し
位置をずらせながら周期疵の発生間隔と同一間隔で複数
枚切り出した画像とをすべて重ね合せた合成画像を生成
し、 前記生成された合成画像内に形成された特定形状の画像
パターンを認識して周期疵を検出することを特徴とする
周期疵検出方法。
1. A method for detecting a periodic flaw generated on the surface of a continuously conveyed strip, comprising: a step of optically picking up an image of the surface of the conveyed strip; An image which is stored in a storage device and is obtained by cutting out a plurality of images from the captured image stored in the storage device at intervals different from the interval at which periodic flaws are generated in the transport direction,
While shifting the cutout position in the width direction of the band from the stored captured image, a composite image is generated by superimposing all of the images cut out at the same interval as the generation interval of the periodic flaws, and the generated composite image is generated. A periodic flaw detection method characterized in that a periodic flaw is detected by recognizing an image pattern of a specific shape formed in the inside.
【請求項2】 連続的に搬送される帯状体の表面に生じ
る周期疵を検出する装置において、 前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的
に撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像された画像を記憶する記憶手段
と、 前記記憶手段に記憶された撮像画像から搬送方向に周期
疵の発生間隔と異なる間隔で複数枚切り出した画像と、
前記記憶された撮像画像から帯状体の幅方向に切り出し
位置をずらせながら周期疵の発生間隔と同一間隔で複数
枚切り出した画像とをすべて重ね合せた合成画像を生成
する画像処理手段と、 前記画像処理手段の生成した合成画像内に形成された特
定形状の画像パターンを認識して周期疵を検出する検出
手段とを備えたことを特徴とする周期疵検出装置。
2. An apparatus for detecting periodic flaws generated on the surface of a continuously conveyed strip, comprising: an imaging unit for optically imaging an image of the surface of the conveyed strip without a seam; and the imaging unit. Storage means for storing an image captured by, an image obtained by cutting out a plurality of images at intervals different from the periodic flaw occurrence interval in the transport direction from the captured image stored in the storage means,
Image processing means for generating a composite image in which all the images cut out at the same interval as the periodic flaw occurrence interval are all superimposed while shifting the cutout position in the width direction of the band from the stored captured image; and A periodic flaw detecting device, comprising: a detecting means for recognizing an image pattern of a specific shape formed in the composite image generated by the processing means and detecting a periodic flaw.
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