JPH10173208A - Manufacture of solar cell - Google Patents

Manufacture of solar cell

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JPH10173208A
JPH10173208A JP8329468A JP32946896A JPH10173208A JP H10173208 A JPH10173208 A JP H10173208A JP 8329468 A JP8329468 A JP 8329468A JP 32946896 A JP32946896 A JP 32946896A JP H10173208 A JPH10173208 A JP H10173208A
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solar cell
dopant
boat
diffusion
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method capable of manufacturing a solar cell simply and at low cost, which reduces a dark current in the cell and can raise the low-illuminance characteristics and photoelectric conversion efficiency of the cell. SOLUTION: A method of manufacturing a solar cell comprises a process, wherein a dopant agent is applied on the light-receiving surfaces of semiconductor substrates 1 by a spin coating method, the dopant-coated rears 20 of the substrates 1 are superposed 6n each other to heat-treat the rears 20, whereby while the dopant agent 3 is prevented from being diffused in the rears, diffused layers are respectively formed in the light-receiving surfaces 19 only.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は太陽電池セルの製造
方法に関し、特に、スピン塗布法を利用して太陽電池用
半導体基板の受光面に拡散層を形成する方法において、
簡略な工程で半導体基板の裏面へのドーパント剤の拡散
を防止することができる太陽電池セルの製造方法に関す
るものである。
The present invention relates to a method for manufacturing a solar cell, and more particularly to a method for forming a diffusion layer on a light-receiving surface of a semiconductor substrate for a solar cell by using a spin coating method.
The present invention relates to a method for manufacturing a solar cell capable of preventing diffusion of a dopant agent to the back surface of a semiconductor substrate by a simple process.

【0002】[0002]

【従来の技術】図15から図25を参照して、従来の単
結晶基板型太陽電池セルの製造工程の一例を説明する。
2. Description of the Related Art With reference to FIGS. 15 to 25, an example of a manufacturing process of a conventional single crystal substrate type solar cell will be described.

【0003】まず、図15において、(100)の結晶
面からなる主面を有するp型単結晶Si基板1が用意さ
れる。
First, in FIG. 15, a p-type single-crystal Si substrate 1 having a main surface composed of a (100) crystal plane is prepared.

【0004】図16において、異方性エッチングによっ
て基板1の両主面が微細なピラミッド状の凹凸を含むテ
クスチャ表面2に変換される。このテクスチャ表面2
は、基板1内に入射した光を基板1内に閉じ込めるよう
に作用する。
In FIG. 16, both principal surfaces of a substrate 1 are converted into a textured surface 2 including fine pyramid-shaped irregularities by anisotropic etching. This texture surface 2
Acts to confine the light incident on the substrate 1 within the substrate 1.

【0005】図17において、リン等の拡散源およびチ
タン等の反射防止膜源を含むドーパント剤3が、基板1
の受光面側からスピン塗布法によって塗布される。この
スピン塗布法においては、まず、図21に示されている
ように静止した基板1の中央部にドーパントノズル5か
ら一定量のドーパント剤3が吐出される。そして、図2
2で示されているように、ドーパントノズル5を退避さ
せた後に基板1を約5000rpmで高速回転させ、表
面テクスチャ2が形成された基板1の受光面上全体にド
ーパント剤3を均一に広げかつ溶剤成分を乾燥させる。
このとき、図23に示されているように、余分なドーパ
ント剤が瞬間的に基板1の周辺7に集まり、特にコーナ
部7a近傍においては高速回転によって基板の裏面に巻
き込まれたドーパント剤の回り込み部分6が発生する。
In FIG. 17, a dopant agent 3 including a diffusion source such as phosphorus and an antireflection film source such as titanium is applied to a substrate 1.
Is applied from the light-receiving surface side by a spin coating method. In this spin coating method, first, as shown in FIG. 21, a certain amount of the dopant agent 3 is discharged from the dopant nozzle 5 to the center of the stationary substrate 1. And FIG.
As shown by 2, after retracting the dopant nozzle 5, the substrate 1 is rotated at a high speed of about 5000 rpm to uniformly spread the dopant agent 3 over the entire light receiving surface of the substrate 1 on which the surface texture 2 is formed. The solvent component is dried.
At this time, as shown in FIG. 23, the excess dopant agent instantaneously collects in the periphery 7 of the substrate 1, and especially around the corner 7a, the dopant agent wrapped around the back surface of the substrate by high-speed rotation. Part 6 occurs.

【0006】このようにしてドーパント剤が塗布された
複数の半導体基板は図24に示されているように、石英
ボート16上で一定の方向に整列して配置され、約90
0℃の高温の炉内で数十分間熱処理される。このとき、
炉内では矢印15で示されているようにN2 ,O2 等の
雰囲気ガスが流されており、たとえば第1の基板の受光
面19は第2の基板の裏面20と近接して対面してい
る。高温の炉内では拡散源は雰囲気中にも拡散して、矢
印18で示されているように隣のセルの裏面20に到達
したり、矢印17で示されているようにガスの流れに含
まれて基板の間に流入したりする。
As shown in FIG. 24, the plurality of semiconductor substrates on which the dopant agent has been applied are arranged in a predetermined direction on the quartz boat 16 so that about 90
Heat treatment is performed in a furnace at a high temperature of 0 ° C. for several tens minutes. At this time,
Atmosphere gases such as N 2 and O 2 are flowing in the furnace as indicated by arrows 15. For example, the light receiving surface 19 of the first substrate is close to the back surface 20 of the second substrate. ing. In a high-temperature furnace, the diffusion source also diffuses into the atmosphere and reaches the back surface 20 of the adjacent cell as indicated by arrow 18 or is included in the gas flow as indicated by arrow 17 And flow between the substrates.

【0007】その結果、図18に示されているように、
熱処理の終えた半導体基板1の受光面にはn+ 拡散層1
1およびチタン等を含む反射防止膜12が形成されるの
みならず、ドーパント剤の回り込みによって基板1の裏
面の周縁部にn+ 拡散層部分11aと熱処理炉内で雰囲
気拡散されたドーパント剤による裏面の薄いn型拡散層
14が形成される。
As a result, as shown in FIG.
An n + diffusion layer 1 is formed on the light receiving surface of the semiconductor substrate 1 after the heat treatment.
In addition to the formation of the anti-reflection film 12 containing titanium and titanium, the n + diffusion layer portion 11a and the back surface of the dopant material diffused in the atmosphere in the heat treatment furnace are formed on the periphery of the back surface of the substrate 1 due to the wraparound of the dopant material. The n-type diffusion layer 14 having a small thickness is formed.

【0008】図19において、印刷法によって基板1の
裏面にアルミ電極21と銀電極22が形成され、基板1
の受光面上には銀電極23が形成される。このとき、基
板1の裏面におけるn+ 拡散層部分11aとn型拡散層
14が基板1の裏面のアルミ電極21と接触する。
In FIG. 19, an aluminum electrode 21 and a silver electrode 22 are formed on the back surface of the substrate 1 by a printing method.
The silver electrode 23 is formed on the light receiving surface of the. At this time, the n + diffusion layer portion 11a and the n-type diffusion layer 14 on the back surface of the substrate 1 are in contact with the aluminum electrode 21 on the back surface of the substrate 1.

【0009】その後、図20に示されているように、高
温の熱処理によって金属電極21,22および23とS
i基板1との電気的コンタクトが形成される。すなわ
ち、この熱処理の間に受光面上の銀電極23は反射防止
膜12を貫通してn+ 拡散層11と接合する電極とな
る。他方、裏面上のアルミ電極からはAl原子がSi基
板内に拡散しp+ 拡散層25を形成するが、このときに
裏面のn+ 層領域11aおよびn型拡散層14とp+
散層25とが接触している部分でp/nショート部分2
6が生じる。
Thereafter, as shown in FIG. 20, the metal electrodes 21, 22 and 23 and S
An electrical contact with the i-substrate 1 is formed. That is, during this heat treatment, the silver electrode 23 on the light receiving surface becomes an electrode that penetrates the antireflection film 12 and is bonded to the n + diffusion layer 11. On the other hand, Al atoms diffuse from the aluminum electrode on the back surface into the Si substrate to form ap + diffusion layer 25. At this time, the n + layer region 11a on the back surface, the n type diffusion layer 14 and the p + diffusion layer 25 are formed. P / n short part 2 at the part where
6 results.

【0010】図23からわかるように、丸型インゴット
から切出した擬似四辺形単結晶Si基板(たとえば直径
が約150mmの丸型インゴットから切出されて約12
5mmの1辺を有する四辺形の基板)の周縁部7には少
しの円弧部分7aが残っているが、その近傍でドーパン
ト剤の回り込み6が存在し、アルミ電極21と接触す
る。
As can be seen from FIG. 23, a pseudo-quadrilateral single crystal Si substrate cut from a round ingot (for example, about 12 mm cut from a round ingot having a diameter of about 150 mm).
Although a small arc portion 7a remains at the peripheral portion 7 of the quadrilateral substrate having one side of 5 mm), the wraparound 6 of the dopant agent exists near the peripheral portion 7a and comes into contact with the aluminum electrode 21.

【0011】最後に、図20に示されているように、銀
電極22および23のそれぞれにはんだ被覆22aおよ
び23aを施すことによって太陽電池セルが完成する。
Finally, as shown in FIG. 20, the solar cells are completed by applying solder coatings 22a and 23a to silver electrodes 22 and 23, respectively.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上述のような従来の製
造方法による太陽電池セルにおいては、セルの裏面にお
けるp/nショート部分によって太陽電池セルの暗電流
が増加し、曲線因子が悪くなって最大出力が少し低くな
るという課題がある。
In the solar cell according to the conventional manufacturing method as described above, the dark current of the solar cell increases due to the p / n short portion on the back surface of the cell, and the fill factor deteriorates. There is a problem that the maximum output is slightly lower.

【0013】また、光が低照度の場合は、さらに開放電
圧VOCが暗電流による並列抵抗の影響を受け、暗電流が
大きい太陽電池セルは低照度における発電量が多少低く
なる。
When the light has a low illuminance, the open-circuit voltage V OC is further affected by the parallel resistance due to the dark current, and the amount of power generation at a low illuminance in a solar cell having a large dark current is slightly reduced.

【0014】さらに、セルの裏面におけるp/nショー
ト部分は、たとえば拡散処理後に受光面にレジストや耐
酸性テープ等でカバーを形成した後に硝酸とフッ酸の混
酸等で裏面のSiをエッチングし、その後に受光面側の
カバーを剥離する工程を採用すればかなり完全にp/n
接合を分離することができるが、そのような付加的な工
程は今日の住宅用太陽電池セルの大量生産には向かず、
製造コストも高くなる。
Further, for the p / n short portion on the back surface of the cell, for example, after the diffusion process, the light receiving surface is covered with a resist or an acid-resistant tape or the like, and then the back surface Si is etched with a mixed acid of nitric acid and hydrofluoric acid. After that, if a step of peeling off the cover on the light receiving surface side is adopted, p / n is quite completely achieved.
The junctions can be separated, but such additional steps are not suitable for mass production of today's residential solar cells,
Manufacturing costs also increase.

【0015】このような先行技術における課題に鑑み、
本発明は、比較的簡易にかつ低コストで十分な光電変換
特性を有する太陽電池セルを製造することができる方法
を提供することを目的としている。
In view of such problems in the prior art,
An object of the present invention is to provide a method capable of manufacturing a solar battery cell having sufficient photoelectric conversion characteristics relatively easily and at low cost.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明の1つの態様によ
る結晶質半導体基板を含む太陽電池セルの製造方法は、
半導体基板の受光面上にスピン塗布法によってドーパン
ト剤を塗布し、ドーパント剤が塗布された2つの半導体
基板の裏面同士を重ね合わせて熱処理することによって
ドーパント剤が裏面に拡散することを防止しつつ受光面
のみに拡散層を形成する工程を含み、これによって、太
陽電池セルの暗電流が低減されて光電変換効率が改善さ
れ得ることを特徴としている。
According to one aspect of the present invention, a method for manufacturing a solar cell including a crystalline semiconductor substrate is provided.
A dopant agent is applied on the light receiving surface of the semiconductor substrate by a spin coating method, and the back surfaces of the two semiconductor substrates coated with the dopant agent are overlapped and heat-treated to prevent the dopant agent from diffusing to the back surface. The method includes a step of forming a diffusion layer only on the light receiving surface, whereby the dark current of the solar cell can be reduced and the photoelectric conversion efficiency can be improved.

【0017】本発明のさらに好ましい太陽電池セルの製
造方法においては、半導体基板の受光面にドーパント剤
が塗布された後にその裏面にドーパントリンス液を吹き
付ける工程をさらに含み、これによって、スピン塗布法
において基板の裏面に回り込んだドーパント剤を除去す
ることを特徴としている。
In a still further preferred method of manufacturing a solar cell according to the present invention, the method further comprises a step of spraying a dopant rinsing liquid on the back surface after the dopant agent is applied to the light-receiving surface of the semiconductor substrate. The method is characterized in that the dopant agent that has reached the back surface of the substrate is removed.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下において、図面を参照しつ
つ、本発明における太陽電池セルの製造方法に関する種
々の実施の形態が説明される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, various embodiments of a method for manufacturing a solar cell according to the present invention will be described with reference to the drawings.

【0019】まず図1において、先行技術における場合
と同様に(100)の主面を有する半導体基板1が用意
され、その両主面にテクスチャ構造2が形成される。そ
して、リン等の拡散源およびチタン等の反射防止膜源を
含むドーパント剤3が基板1の受光面上にスピン法によ
って塗布される。このとき、図21の場合と同様に静止
した基板の受光面の中央にドーパントノズルから所定量
のドーパント剤が吐出され、そのドーパントノズルが退
避させられた後に図22の場合と同様に約5000rp
mの回転数で基板1が回転させられ、ドーパント剤3は
基板1の受光表面上に均一に薄く広げられて溶剤成分が
乾燥させられる。
First, in FIG. 1, a semiconductor substrate 1 having a (100) main surface is prepared as in the prior art, and a texture structure 2 is formed on both main surfaces. Then, a dopant agent 3 including a diffusion source such as phosphorus and an anti-reflection film source such as titanium is applied on the light receiving surface of the substrate 1 by a spin method. At this time, a predetermined amount of the dopant agent is discharged from the dopant nozzle to the center of the light receiving surface of the stationary substrate as in the case of FIG. 21, and after the dopant nozzle is retracted, about 5000 rpm as in the case of FIG.
The substrate 1 is rotated at a rotation speed of m, the dopant agent 3 is spread uniformly and thinly on the light receiving surface of the substrate 1, and the solvent component is dried.

【0020】その後、基板1の回転数が約1000rp
mに下げられて、図5に示されているようにノズル31
からドーパントリンス液30が基板の裏面に吹き付けら
れ、その裏面に発生したドーパント剤の回り込みが除去
される。そして、基板1は再度約5000rpmの高速
で回転させられて、ドーパントリンス液が乾燥させられ
る。なお、ドーパントリンス液30の吹き付けは受光面
上のドーパント剤が乾燥された後に行なわれるので、受
光面上のドーパント剤の固化等の変質が発生することは
ない。また、ドーパントリンス液30は基板の周縁から
約1cmだけ内側に入った位置29から吹き付けられる
ので、ドーパントリンス液が受光面上のドーパント剤に
悪影響を与えることがなく、短時間で裏面上のドーパン
ト剤を除去し得る効果を発揮し得る。
Thereafter, the number of rotations of the substrate 1 is about 1000 rpm
m, as shown in FIG.
, The dopant rinse liquid 30 is sprayed on the back surface of the substrate, and the wraparound of the dopant agent generated on the back surface is removed. Then, the substrate 1 is again rotated at a high speed of about 5000 rpm, and the dopant rinse liquid is dried. Since the dopant rinsing liquid 30 is sprayed after the dopant on the light-receiving surface is dried, the dopant such as solidification of the dopant on the light-receiving surface does not deteriorate. Further, since the dopant rinsing liquid 30 is sprayed from the position 29 which is about 1 cm inside from the periphery of the substrate, the dopant rinsing liquid does not adversely affect the dopant agent on the light receiving surface, and the dopant rinsing liquid 30 An effect capable of removing the agent can be exerted.

【0021】こうして受光面上にドーパント剤が塗布さ
れた半導体基板は図6に示されているように石英ボート
16上で基板の裏面20同士が重ね合わせられて配列さ
れ、約900℃の高温の炉内で数十分間熱処理される。
この場合、隣接する半導体基板の受光面19上のドーパ
ント剤が裏面に向けて雰囲気拡散されることを防ぐこと
ができる。
As shown in FIG. 6, the semiconductor substrate having the light-receiving surface coated with the dopant agent is arranged such that the back surfaces 20 of the substrate are superimposed on the quartz boat 16 at a high temperature of about 900.degree. Heat treatment is performed for several tens minutes in the furnace.
In this case, it is possible to prevent the dopant agent on the light receiving surface 19 of the adjacent semiconductor substrate from being diffused in the atmosphere toward the rear surface.

【0022】したがって、図2に示されているように熱
処理の終えた半導体基板においては、n+ 拡散層11お
よびチタン等を含む反射防止膜12が受光面上のみに形
成される。
Therefore, as shown in FIG. 2, in the semiconductor substrate subjected to the heat treatment, n + diffusion layer 11 and antireflection film 12 containing titanium or the like are formed only on the light receiving surface.

【0023】図3においては、印刷法によって、基板の
裏面にアルミ電極21と銀電極22が形成され、受光面
上に銀電極23が形成される。このとき、ドーパント剤
の回り込みによる基板の裏面におけるn+ 拡散層部分お
よび熱処理炉内で雰囲気拡散された裏面のn型拡散層が
存在しないので、図7に示されているようにアルミ電極
21は半導体基板の周縁7に対して0.5mm以内まで
工程精度の限界28まで近接するように広げて形成され
得る。
In FIG. 3, an aluminum electrode 21 and a silver electrode 22 are formed on the back surface of the substrate by a printing method, and a silver electrode 23 is formed on the light receiving surface. At this time, since there is no n + diffusion layer portion on the back surface of the substrate due to the wraparound of the dopant agent and the n-type diffusion layer on the back surface diffused in the atmosphere in the heat treatment furnace, as shown in FIG. It can be formed so as to be spread close to the peripheral edge 7 of the semiconductor substrate up to the limit 28 of the process accuracy within 0.5 mm.

【0024】図4においては、高温で熱処理することに
よって、金属電極21,22および23がSi基板1と
電気的にコンタクトさせられる。このとき、基板1の裏
面におけるアルミ電極からAl原子がSi基板内に拡散
し、p+ 拡散層25が形成される。このp+ 拡散層25
は、BSF(バックサーフェスフィールド)効果を生じ
るように作用する。その後、図4に示されているように
銀電極22と23のそれぞれにはんだ被覆22aと23
aが施されて太陽電池セルが完成する。
In FIG. 4, metal electrodes 21, 22 and 23 are brought into electrical contact with Si substrate 1 by heat treatment at a high temperature. At this time, Al atoms diffuse from the aluminum electrode on the back surface of the substrate 1 into the Si substrate, and the p + diffusion layer 25 is formed. This p + diffusion layer 25
Acts to produce a BSF (Back Surface Field) effect. Thereafter, as shown in FIG. 4, the solder coatings 22a and 23 are applied to the silver electrodes 22 and 23, respectively.
is applied to complete the solar cell.

【0025】図8において、以上のようにして作製され
た本発明による図4の太陽電池セルと従来の方法により
作成された図20の太陽電池セルの開放電圧特性が示さ
れている。図8のグラフにおける横軸は太陽電池セルに
照射された光の放射照度(W/m2 )を表わし、縦軸は
放射照度が500W/m2 のときの開放電圧を100%
とした場合の開放電圧の放射照度依存性を表わしてい
る。実線の曲線8Aと破線の曲線8Bは、それぞれ本発
明の作製方法による太陽電池セルと従来の作製方法によ
る太陽電池セルの開放電圧を表わしている。このグラフ
から明らかなように、本発明の作製方法による太陽電池
セルは従来の作製方法による太陽電池セルに比べて、低
照度領域において開放電圧特性が優れていることがわか
る。
FIG. 8 shows the open-circuit voltage characteristics of the solar cell of FIG. 4 according to the present invention manufactured as described above and the solar cell of FIG. 20 manufactured by the conventional method. The horizontal axis in the graph of FIG. 8 represents the irradiance (W / m 2 ) of the light applied to the solar cell, and the vertical axis represents the open-circuit voltage when the irradiance is 500 W / m 2 by 100%.
Represents the irradiance dependence of the open-circuit voltage when Solid line curve 8A and broken line curve 8B represent the open-circuit voltage of the solar cell according to the manufacturing method of the present invention and the solar cell according to the conventional manufacturing method, respectively. As is clear from this graph, the solar cell manufactured by the method of the present invention has better open-circuit voltage characteristics in the low illuminance region than the solar cell manufactured by the conventional method.

【0026】以上のように、本発明の太陽電池セルの製
造方法によれば、簡略な工程で半導体基板の受光面側か
ら裏面へのドーパント剤の拡散を防止して、裏面におけ
るp/nショート部分の形成を防止することができる。
その結果、暗電流を低減することができ、太陽電池セル
の変換効率および低照度特性を改善することができる。
As described above, according to the solar cell manufacturing method of the present invention, the diffusion of the dopant agent from the light-receiving surface side of the semiconductor substrate to the back surface is prevented by a simple process, and the p / n short-circuit on the back surface is achieved. Part formation can be prevented.
As a result, the dark current can be reduced, and the conversion efficiency and low illuminance characteristics of the solar cell can be improved.

【0027】また、半導体基板の裏面にドーパント剤の
回り込みによるn+ 拡散層部分や熱処理炉内での雰囲気
拡散によるn型拡散層が形成されないので、アルミ電極
を半導体基板の周縁に工程精度の限界まで広げて形成す
ることができる。その結果、暗電流を増加させることな
くBSF効果を大きくすることができ、特に短絡電流が
改善されて変換効率の向上した太陽電池セルを提供する
ことができる。
Further, since the n + diffusion layer portion due to the wraparound of the dopant agent and the n-type diffusion layer due to the atmosphere diffusion in the heat treatment furnace are not formed on the back surface of the semiconductor substrate, the aluminum electrode is placed on the periphery of the semiconductor substrate due to the limit of the process accuracy. It can be spread out and formed. As a result, the BSF effect can be increased without increasing the dark current, and in particular, a solar cell with improved short-circuit current and improved conversion efficiency can be provided.

【0028】さらに、本発明の太陽電池セルの製造方法
によれば、実質的に四角形状の半導体基板を用いても暗
電流が低減され、低照度特性および変換効率の改善され
た太陽電池セルを提供することができる。
Further, according to the method for manufacturing a solar cell of the present invention, even when a substantially rectangular semiconductor substrate is used, a dark current is reduced, and a solar cell having low illuminance characteristics and improved conversion efficiency is obtained. Can be provided.

【0029】さらにまた、ドーパントリンス液としてド
ーパント剤の希釈剤、好ましくはイソプロピルアルコー
ルを用いることによって半導体基板の裏面に回り込んだ
ドーパント剤を効果的に除去することができる。
Further, by using a diluent of the dopant agent, preferably isopropyl alcohol, as the dopant rinsing liquid, the dopant agent wrapped around the back surface of the semiconductor substrate can be effectively removed.

【0030】次に、図9を参照して、受光面上にドーパ
ント剤が塗布された半導体基板を拡散ボート上にセット
する方法を説明する。まず、最終ステージ34上のドー
パント剤が塗布された半導体基板29の裏面を第1の搬
送アーム30で吸着し、矢印A1で示されているように
上方向に持上げる。その後、搬送アーム30は矢印A2
に示されているように水平移動させられ、矢印A3で示
されているようにアームが水平から下向へ90°たおさ
れる。そして、矢印A4およびA5で示されているよう
なアーム30の水平移動の後に、矢印A7で示されてい
るようなアームの降下運動によって半導体基板29がボ
ート16の溝内にセットされる。このとき、ボート16
はたとえば楔31によって傾斜させられているので、半
導体基板29はその受光面が少し下を向くように傾斜さ
せられる。
Next, with reference to FIG. 9, a method of setting a semiconductor substrate having a light-receiving surface coated with a dopant agent on a diffusion boat will be described. First, the back surface of the semiconductor substrate 29 on which the dopant agent has been applied on the final stage 34 is sucked by the first transfer arm 30 and lifted upward as indicated by an arrow A1. Thereafter, the transfer arm 30 is moved to the arrow A2.
Is moved horizontally as shown in (1), and the arm is lowered by 90 ° from horizontal as shown by arrow A3. After the horizontal movement of the arm 30 as indicated by arrows A4 and A5, the semiconductor substrate 29 is set in the groove of the boat 16 by the downward movement of the arm as indicated by arrow A7. At this time, the boat 16
Is tilted by, for example, a wedge 31, so that the semiconductor substrate 29 is tilted so that its light receiving surface faces slightly downward.

【0031】次に、ドーパント剤が塗布された第2の半
導体基板32を第2の搬送アーム33で吸着し、矢印A
8で示されているようにアームの先端部を180°回転
させることによって第2の半導体基板の受光面と裏面を
反転させ、その後に矢印A9とA10で示されているよ
うな第2のアームの水平移動と垂直移動によって第2の
半導体基板32がステージ34上に置かれる。その後、
第1の半導体基板29をボート16にセットしたときと
同様に第1の搬送アーム30によって第2の半導体基板
32がボート16上において第1の半導体基板29がセ
ットされているのと同じ溝内へ挿入される。ただし、第
2の半導体基板32はアームの回転A6によって裏面が
右向される。
Next, the second semiconductor substrate 32 to which the dopant agent has been applied is sucked by the second transfer arm 33, and the arrow A
The light receiving surface and the back surface of the second semiconductor substrate are inverted by rotating the tip of the arm by 180 ° as shown by 8, and then the second arm as shown by arrows A9 and A10 The second semiconductor substrate 32 is placed on the stage 34 by the horizontal movement and the vertical movement. afterwards,
As in the case where the first semiconductor substrate 29 is set in the boat 16, the second semiconductor substrate 32 is moved by the first transfer arm 30 in the same groove as the first semiconductor substrate 29 is set on the boat 16. Inserted into However, the back surface of the second semiconductor substrate 32 is turned rightward by the rotation A6 of the arm.

【0032】このとき、既にボート内にセットされてい
る第1の半導体基板29の受光面が少し下向くように傾
斜されているので、第1と第2の半導体基板の端面同士
が突き当たることがなく、容易に第2の半導体基板32
を第1の半導体基板29が挿入されているのと同じ溝内
へ挿入することができる。これによって、第1と第2の
半導体基板の裏面同士が重ねられてボート16の1つの
溝内にセットされる。このような操作を繰返すことによ
って、拡散ボートのすべての溝の各々において裏面同士
が重ね合わせられた一対の半導体基板がセットされ得
る。
At this time, since the light receiving surface of the first semiconductor substrate 29 already set in the boat is slightly inclined downward, the end surfaces of the first and second semiconductor substrates may abut each other. Without the second semiconductor substrate 32
Can be inserted into the same groove in which the first semiconductor substrate 29 is inserted. As a result, the back surfaces of the first and second semiconductor substrates are overlapped and set in one groove of the boat 16. By repeating such an operation, a pair of semiconductor substrates whose back surfaces are overlaid on each of all the grooves of the diffusion boat can be set.

【0033】図10を参照して、太陽電池セル用半導体
基板を拡散ボート16にセットするもう1つの方法を説
明する。最終ステージ34上にドーパント剤が塗布され
た第1の半導体基板29の受光面を第1の搬送アーム3
0で吸着して矢印B1で示されているように上方向へ搬
送する。そして、矢印B2で示されているようにアーム
30が水平移動させられた後に、矢印B3に示されてい
るようにアームが水平から下向へ90°たおされる。そ
の後、矢印B4とB5で示されているようにアーム30
の水平移動の後に、矢印B7で示されているような垂直
運動によって第1の半導体基板29がボート16の溝内
にセットされる。このとき、ボート16は図9の場合と
同様に楔31によって水平面に対して少し傾斜されて置
かれている。したがって、ボート16にセットされた第
1の半導体基板29の受光面は少し下向きに傾斜させら
れることになる。
Referring to FIG. 10, another method of setting the semiconductor substrate for a solar cell in the diffusion boat 16 will be described. The light receiving surface of the first semiconductor substrate 29 on which the dopant agent is applied on the final stage 34 is moved to the first transfer arm 3.
At 0, it is conveyed upward as shown by arrow B1. Then, after the arm 30 is moved horizontally as indicated by an arrow B2, the arm is moved downward by 90 ° from the horizontal as indicated by an arrow B3. Then, as shown by arrows B4 and B5, the arm 30
After the horizontal movement, the first semiconductor substrate 29 is set in the groove of the boat 16 by vertical movement as indicated by an arrow B7. At this time, the boat 16 is placed slightly inclined with respect to the horizontal plane by the wedge 31 as in the case of FIG. Therefore, the light receiving surface of the first semiconductor substrate 29 set on the boat 16 is slightly inclined downward.

【0034】次に、ドーパント剤が塗布された第2の半
導体基板32が最終ステージ34上に搬送された後に、
第1の半導体基板の場合と同様に搬送アーム30によっ
て矢印B1,B2,B3,B4,およびB5で示されて
いるように搬送される。そして、矢印B6で示されてい
るようなアームの軸回転によって第2の半導体基板32
の受光面が左向きにさせられ、その後に矢印B7で示さ
れているような垂直運動によって第2の半導体基板32
はボート16内において第1の半導体基板29がセット
されているのと同じ溝内へ挿入される。
Next, after the second semiconductor substrate 32 on which the dopant agent is applied is transported onto the final stage 34,
As in the case of the first semiconductor substrate, the transfer is performed by the transfer arm 30 as indicated by arrows B1, B2, B3, B4, and B5. Then, the second semiconductor substrate 32 is rotated by the rotation of the arm as shown by the arrow B6.
Of the second semiconductor substrate 32 by vertical movement as shown by arrow B7.
Is inserted into the same groove in which the first semiconductor substrate 29 is set in the boat 16.

【0035】このとき、第1の半導体基板29は受光面
が少し下向むように傾斜させられているので、第1と第
2の半導体層の端面同士が突き当たることがなく、容易
に第2の半導体基板を第1の半導体基板と重なるように
同一の溝内へセットすることができる。こうして、図9
の場合と同様に、第1と第2の半導体基板29,32の
裏面同士が重ね合わせられてボート16の1つの溝内に
セットされる。このような操作を繰返すことによって、
拡散ボート16のすべての溝の各々において裏面同士が
重ね合わせられた一対の半導体基板がセットされ得る。
At this time, since the first semiconductor substrate 29 is inclined so that the light receiving surface is slightly downward, the end surfaces of the first and second semiconductor layers do not abut each other, and the second semiconductor substrate 29 is easily formed. The substrate can be set in the same groove so as to overlap the first semiconductor substrate. Thus, FIG.
As in the case of (1), the back surfaces of the first and second semiconductor substrates 29 and 32 are overlapped and set in one groove of the boat 16. By repeating such operations,
In each of the grooves of the diffusion boat 16, a pair of semiconductor substrates whose back surfaces are overlapped can be set.

【0036】次に、図11から図13を参照しつつ、ボ
ート16から半導体基板を取出す方法が説明される。ま
ず、ボート16の同一の溝内で裏面同士が重ね合わせら
れてセットされた第1の半導体基板35と第2の半導体
基板36の受光面を挟むように第1の搬送アーム37で
吸着して、それら2枚の半導体基板を同時にボート16
から矢印C1で示されているように引上げる。そして、
矢印C2で示されているようにアーム37の軸が水平に
されて、矢印C3,C4で示されているように水平移動
させられる。その後に矢印C5で示されているように、
アームの向きが水平面内で180°回転させられ、さら
に矢印C6で示されているような水平移動の後に、矢印
C7で示されているような垂直移動によって2枚の半導
体基板35,36がステージ38上に置かれる。
Next, a method for removing a semiconductor substrate from the boat 16 will be described with reference to FIGS. First, the light is sucked by the first transfer arm 37 so as to sandwich the light receiving surfaces of the first semiconductor substrate 35 and the second semiconductor substrate 36, which are set with their back surfaces superposed in the same groove of the boat 16. , The two semiconductor substrates are simultaneously transferred to the boat 16.
Is pulled up as shown by the arrow C1. And
The axis of the arm 37 is made horizontal as indicated by an arrow C2, and is horizontally moved as indicated by arrows C3 and C4. Then, as shown by arrow C5,
The direction of the arm is rotated by 180 ° in the horizontal plane, and after the horizontal movement as shown by arrow C6, the two semiconductor substrates 35 and 36 are moved by the vertical movement as shown by arrow C7. 38.

【0037】ステージ38に接している第2の半導体基
板36は図12に示されているように吸着固定され、第
2の搬送アーム39によって図13中の矢印C8で示さ
れているように第1の半導体基板35をスライドさせて
2枚の半導体基板を互いに分離し、第1の半導体基板3
5を次の処理ステーションに送る。その後、第3のアー
ム40によって第2の半導体基板を吸着して矢印C9に
示されているように持ち上げて、さらに矢印C10で示
されているように第2半導体基板36の受光面と裏面を
反転させ、その後に第2半導体基板36を次の処理ステ
ーションに送る。
The second semiconductor substrate 36 in contact with the stage 38 is fixed by suction as shown in FIG. 12, and is moved by the second transfer arm 39 to the second semiconductor substrate 36 as shown by an arrow C8 in FIG. The first semiconductor substrate 35 is slid to separate the two semiconductor substrates from each other.
5 to the next processing station. Thereafter, the second semiconductor substrate is sucked by the third arm 40 and lifted as shown by the arrow C9, and the light receiving surface and the back surface of the second semiconductor substrate 36 are further drawn as shown by the arrow C10. After inversion, the second semiconductor substrate 36 is sent to the next processing station.

【0038】このように、図10から図13に示されて
いるような方法によって、拡散ボートのすべての溝の各
々において裏面が互いに重ね合わせられてセットされた
1対の半導体基板を自由に取出して互いに分離した後に
それぞれを次の処理ステーションへ送ることができる。
As described above, by the method as shown in FIGS. 10 to 13, a pair of semiconductor substrates whose back surfaces are overlapped and set in each groove of the diffusion boat are freely taken out. After being separated from each other, each can be sent to the next processing station.

【0039】最後に、図14を参照して、2枚の半導体
基板の裏面同士を重ね合わせることなくそれぞれの半導
体基板を個別の溝にセットしても受光面上のドーパント
剤によって裏面が汚染されることのない拡散ボートが示
されている。この拡散ボート16aは、各溝ごとに半導
体基板の裏面全体を覆い得る大きさの仕切壁41を備え
ている。すなわち、太陽電池セル用半導体基板の裏面を
この仕切壁41に接するようにボートの溝内へセットす
ることによって、半導体基板の受光面上のドーパント剤
によって裏面が汚染されることを防止しつつ半導体基板
の熱処理を行なうことができる。
Finally, referring to FIG. 14, even if each semiconductor substrate is set in an individual groove without overlapping the back surfaces of the two semiconductor substrates, the back surface is contaminated by the dopant agent on the light receiving surface. Spread boats are shown that do not. The diffusion boat 16a has a partition wall 41 of a size that can cover the entire back surface of the semiconductor substrate for each groove. That is, by setting the back surface of the solar cell semiconductor substrate in the groove of the boat so as to be in contact with the partition wall 41, the semiconductor substrate can be prevented from being contaminated by the dopant on the light receiving surface of the semiconductor substrate. Heat treatment of the substrate can be performed.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、暗電流
が低減されて低照度特性および光電変換効率の改善され
た太陽電池セルを簡易な工程でかつ低コストで提供する
ことができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a solar cell with reduced dark current, improved illuminance characteristics and improved photoelectric conversion efficiency in a simple process and at low cost. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による太陽電池セルの製造工程を説明す
るための概略的な断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining a manufacturing process of a solar cell according to the present invention.

【図2】本発明による太陽電池セルの製造工程を説明す
るための概略的な断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view for explaining a manufacturing process of a solar cell according to the present invention.

【図3】本発明による太陽電池セルの製造工程を説明す
るための概略的な断面図である。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view for explaining a manufacturing process of a solar cell according to the present invention.

【図4】本発明による太陽電池セルの製造工程を説明す
るための概略的な断面図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view for explaining a manufacturing process of a solar cell according to the present invention.

【図5】半導体基板の背面にドーパントリンス液を付与
する方法を説明するための概略的な図である。
FIG. 5 is a schematic diagram for explaining a method of applying a dopant rinsing liquid to the back surface of the semiconductor substrate.

【図6】本発明による太陽電池セルの製造方法における
拡散処理を説明するための概略的な図である。
FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a diffusion process in the method for manufacturing a solar cell according to the present invention.

【図7】本発明による太陽電池セルの製造方法において
半導体基板の裏面の周縁近傍まで裏面電極が形成される
ことを示す概略的な平面部分図である。
FIG. 7 is a schematic plan partial view showing that a back electrode is formed up to near the periphery of the back surface of the semiconductor substrate in the method for manufacturing a solar cell according to the present invention.

【図8】本発明による製造方法によって製造された太陽
電池セルの開放電圧特性を従来の製造方法による太陽電
池セルと比較して示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing an open-circuit voltage characteristic of a solar cell manufactured by a manufacturing method according to the present invention, in comparison with a solar cell manufactured by a conventional manufacturing method.

【図9】2枚の半導体基板の裏面同士を重ね合わせて拡
散ボートの各溝内へセットする方法の一例を説明するた
めの図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a method of setting the back surfaces of two semiconductor substrates so as to be superimposed on each other and set in each groove of a diffusion boat.

【図10】2枚の半導体基板の背面同士を重ね合わせて
拡散ボートの各溝内へセットする方法の他の例を説明す
るための図である。
FIG. 10 is a view for explaining another example of a method of superposing the back surfaces of two semiconductor substrates on each other and setting them in each groove of the diffusion boat.

【図11】拡散ボートの各溝内に裏面同士が重ね合わさ
れてセットされた1対の半導体基板を取出して、それぞ
れの基板を分離して次の処理ステーションへ送る方法の
一例を説明するための図である。
FIG. 11 is a view for explaining an example of a method of taking out a pair of semiconductor substrates set with their back surfaces superimposed on each other in each groove of the diffusion boat, separating each substrate, and sending the separated substrate to the next processing station; FIG.

【図12】拡散ボートの各溝内に裏面同士が重ね合わさ
れてセットされた1対の半導体基板を取出して、それぞ
れの基板を分離して次の処理ステーションへ送る方法の
一例を説明するための図である。
FIG. 12 is a view for explaining an example of a method of taking out a pair of semiconductor substrates set with their back surfaces superimposed on each other in each groove of the diffusion boat, separating each substrate, and sending the separated substrate to the next processing station; FIG.

【図13】拡散ボートの各溝内に裏面同士が重ね合わさ
れてセットされた1対の半導体基板を取出して、それぞ
れの基板を分離して次の処理ステーションへ送る方法の
一例を説明するための図である。
FIG. 13 is a view for explaining an example of a method of taking out a pair of semiconductor substrates set with their back surfaces superimposed on each other in each groove of the diffusion boat, separating each substrate, and sending the separated substrate to the next processing station. FIG.

【図14】半導体基板の裏面を覆う仕切板を各溝ごとに
備えた拡散ボートの概略的な斜視図である。
FIG. 14 is a schematic perspective view of a diffusion boat provided with a partition plate covering the back surface of the semiconductor substrate for each groove.

【図15】従来の太陽電池セルの製造方法を説明するた
めの概略的な断面図である。
FIG. 15 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図16】従来の太陽電池セルの製造方法を説明するた
めの概略的な断面図である。
FIG. 16 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図17】従来の太陽電池セルの製造方法を説明するた
めの概略的な断面図である。
FIG. 17 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図18】従来の太陽電池セルの製造方法を説明するた
めの概略的な断面図である。
FIG. 18 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図19】従来の太陽電池セルの製造方法を説明するた
めの概略的な断面図である。
FIG. 19 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図20】従来の太陽電池セルの製造方法を説明するた
めの概略的な断面図である。
FIG. 20 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図21】半導体基板の受光面上にスピン塗布法によっ
てドーパント剤を塗布する方法を説明するための斜視図
である。
FIG. 21 is a perspective view for explaining a method of applying a dopant agent on a light receiving surface of a semiconductor substrate by a spin coating method.

【図22】スピン塗布法における図21の次のステップ
を示す概略的な斜視図である。
FIG. 22 is a schematic perspective view showing a step subsequent to FIG. 21 in the spin coating method.

【図23】半導体基板の周縁部において受光面側から裏
面へのドーパント剤の回り込みを示す概略的な平面部分
図である。
FIG. 23 is a schematic plan partial view showing the wraparound of the dopant agent from the light receiving surface side to the back surface at the periphery of the semiconductor substrate.

【図24】半導体基板を熱処理する従来の方法を説明す
るための概略的な図である。
FIG. 24 is a schematic diagram for explaining a conventional method of heat-treating a semiconductor substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体基板 2 表面テクスチャ構造 3 ドーパント剤 11 半導体基板の受光面上におけるn+ 型拡散層 11b 半導体基板の裏面上に形成されたn+ 型領域 12 反射防止膜 21 裏面アルミ電極 22 裏面銀電極 22a はんだ被覆層 23 受光面銀電極 23a はんだ被覆層 25 p+ 型拡散層 30 ドーパントリンス液 31 ノズル 16,16a 拡散ボート 19 半導体基板の受光面 20 半導体基板の裏面REFERENCE SIGNS LIST 1 semiconductor substrate 2 surface texture structure 3 dopant agent 11 n + -type diffusion layer 11b on light receiving surface of semiconductor substrate 11b n + -type region formed on back surface of semiconductor substrate 12 antireflection film 21 back surface aluminum electrode 22 back surface silver electrode 22a Solder coating layer 23 Light receiving surface silver electrode 23a Solder coating layer 25 p + type diffusion layer 30 Dopant rinse liquid 31 Nozzle 16, 16a Diffusion boat 19 Light receiving surface of semiconductor substrate 20 Back surface of semiconductor substrate

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 結晶質半導体基板を含む太陽電池セルの
製造方法であって、 前記半導体基板の受光面上にスピン塗布法によってドー
パント剤を塗布し、 前記ドーパント剤が塗布された2つの半導体基板の裏面
同士を重ね合わせて熱処理することによって、前記ドー
パント剤が前記裏面に拡散することを防止しつつ前記受
光面のみに拡散層を形成する工程を含み、 これによって、太陽電池セルの暗電流が低減されて光電
変換効率が改善され得ることを特徴とする太陽電池セル
の製造方法。
1. A method for manufacturing a solar cell including a crystalline semiconductor substrate, comprising: applying a dopant to a light receiving surface of the semiconductor substrate by a spin coating method; and applying the dopant to the two semiconductor substrates. By performing heat treatment with the back surfaces of the photovoltaic cells overlapped with each other, a step of forming a diffusion layer only on the light receiving surface while preventing the dopant agent from diffusing to the back surface is performed, whereby the dark current of the solar cell is reduced. A method for producing a solar cell, wherein the photoelectric conversion efficiency can be reduced and the photoelectric conversion efficiency can be improved.
【請求項2】 前記ドーパント剤が塗布された後に、前
記半導体基板の裏面にドーパントリンス液を吹き付ける
工程をさらに含み、これによって、前記スピン塗布法に
おいて前記基板の裏面に回り込んだドーパント剤を除去
することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池セルの
製造方法。
2. The method according to claim 1, further comprising the step of spraying a dopant rinsing liquid on the back surface of the semiconductor substrate after the dopant agent is applied, thereby removing the dopant agent wrapped around the back surface of the substrate in the spin coating method. The method for manufacturing a solar cell according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記受光面に拡散層を形成した後に、前
記半導体基板の前記裏面において、その周縁へ0.5m
m以内に近接するまで裏面電極が広く形成される工程を
さらに含み、これによって太陽電池セルの短絡電流が改
善され得ることを特徴とする請求項2に記載の太陽電池
セルの製造方法。
3. After the diffusion layer is formed on the light receiving surface, a 0.5 m
The method according to claim 2, further comprising the step of forming the back electrode widely until the distance is within about m, thereby improving the short-circuit current of the solar cell.
【請求項4】 前記半導体基板は概略的に四角形の形状
を有していることを特徴とする請求項1から3のいずれ
かの項に記載の太陽電池セルの製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein the semiconductor substrate has a substantially rectangular shape.
【請求項5】 前記ドーパントリンス液として、ドーパ
ント剤の希釈剤を用いることを特徴とする請求項1から
4のいずれかの項に記載の太陽電池セルの製造方法。
5. The method for manufacturing a solar cell according to claim 1, wherein a diluent of a dopant agent is used as the dopant rinsing liquid.
【請求項6】 前記ドーパントリンス液として、イソプ
ロピルアルコールを用いることを特徴とする請求項5に
記載の太陽電池セルの製造方法。
6. The method according to claim 5, wherein isopropyl alcohol is used as the dopant rinsing liquid.
【請求項7】 拡散ボートに太陽電池用半導体基板をセ
ットする方法であって、 水平方向に対して少し傾斜を付けて置かれた拡散ボート
の1つの溝に関して、 (a) 第1の主面にドーパント剤が塗布された第1の
半導体基板を第1の搬送アームで吸着搬送してステージ
上に置き、 (b) 前記第1半導体基板を第2の搬送アームで吸着
搬送して、前記第1主面が少し下を向くように傾斜させ
て前記拡散ボートの溝に前記第1半導体基板をセット
し、 (c) 第1の主面にドーパント剤が塗布された第2の
半導体基板を前記第1搬送アームで吸着搬送して、その
アームの先端部を180°回転させることによって前記
第2半導体基板の第1と第2の主面を反転させて前記ス
テージ上に置き、 (d) 前記第2半導体基板を前記第2搬送アームで吸
着搬送し、前記第1半導体基板が傾斜してセットされて
いるので、前記第1と第2の半導体基板の端面同士が突
き当たることなく、前記第1と第2の半導体基板の第2
の主面同士が隣接して重なるように前記第2半導体基板
を前記拡散ボートの溝にセットし、 前記拡散ボートの順次の溝の各々に関して前記ステップ
(a)から(d)を繰返すことを特徴とする半導体基板
を拡散ボートにセットする方法。
7. A method of setting a semiconductor substrate for a solar cell on a diffusion boat, comprising: a groove of the diffusion boat placed at a slight angle with respect to a horizontal direction; (B) adsorbing and transporting the first semiconductor substrate coated with the dopant agent on the stage using a first transport arm and placing it on a stage; and (b) adsorbing and transporting the first semiconductor substrate with a second transport arm, (C) setting the first semiconductor substrate in the groove of the diffusion boat so that the first main surface is slightly inclined downward; (1) the first and second main surfaces of the second semiconductor substrate are inverted and placed on the stage by suction-transporting the first transport arm and rotating the distal end of the arm by 180 °; A second semiconductor substrate is sucked by the second transfer arm. Conveyed, since the first semiconductor substrate is set to be inclined, the first and the second without end faces of the semiconductor substrate abuts the second of said first and second semiconductor substrates
Setting the second semiconductor substrate in the groove of the diffusion boat so that the main surfaces of the diffusion boat are adjacent to each other, and repeating the steps (a) to (d) for each of the sequential grooves of the diffusion boat. A semiconductor substrate to be set in a diffusion boat.
【請求項8】 拡散ボートに太陽電池用半導体基板をセ
ットする方法であって、 水平方向に対して少し傾斜を付けて置かれた拡散ボート
の1つの溝に関して、 (a) 第1の主面にドーパント剤が塗布された第1の
半導体基板を搬送アームで吸着搬送して前記第1主面が
少し下を向くように傾斜させて前記拡散ボートの溝に前
記第1半導体基板をセットし、 (b) 第1の主面にドーパント剤が塗布された第2の
半導体基板を前記搬送アームで吸着搬送するとともに、
そのアームの先端部を回転させて前記第2半導体基板の
第1主面を前記ボート中の前記第1半導体基板の第1主
面と反対方向に向け、その後に、前記第1半導体基板が
傾斜してセットされているので前記第1と第2の半導体
基板の端面同士が突き当たることなく、前記第1と第2
の半導体基板の第2の主面同士が隣接して重なるように
前記第2半導体基板を前記拡散ボートの溝にセットし、 前記拡散ボートの順次の溝の各々に関して前記ステップ
(a)と(b)を繰返すことを特徴とする太陽電池用半
導体基板を拡散ボートにセットする方法。
8. A method for setting a semiconductor substrate for a solar cell in a diffusion boat, comprising: a groove of the diffusion boat placed at a slight angle to a horizontal direction; The first semiconductor substrate coated with the dopant agent is suctioned and transferred by a transfer arm, and the first semiconductor substrate is set in the groove of the diffusion boat by inclining so that the first main surface is slightly downward, (B) a second semiconductor substrate having a first main surface coated with a dopant agent is sucked and transferred by the transfer arm;
By rotating the tip of the arm, the first main surface of the second semiconductor substrate is oriented in a direction opposite to the first main surface of the first semiconductor substrate in the boat, and thereafter, the first semiconductor substrate is tilted. So that the end faces of the first and second semiconductor substrates do not abut each other,
Setting the second semiconductor substrate in the groove of the diffusion boat so that the second main surfaces of the semiconductor substrate are adjacent to each other and overlap with each other; A method of setting a semiconductor substrate for a solar cell in a diffusion boat, wherein the method is repeated.
【請求項9】 拡散ボートから太陽電池用半導体基板を
移送する方法であって、 拡散ボートの1つの溝内で裏面同士が接して重なるよう
にセットされた第1と第2の半導体基板の受光面を挟む
ように第1の搬送アームで吸着して前記ボートから前記
第1と第2の半導体基板を同時に取出してステージ上に
置き、 前記ステージに接している前記第2の半導体基板を吸着
固定して第2の搬送アームで前記第1の半導体基板を吸
着スライドさせて前記第2半導体基板から分離させると
ともに次の処理ステーションに送り、 第3の搬送アームで前記第2半導体基板を吸着してその
受光面と裏面を反転させるとともに前記次の処理ステー
ションへ送ることを特徴とする太陽電池用半導体基板の
移送方法。
9. A method of transferring a semiconductor substrate for a solar cell from a diffusion boat, comprising: receiving light of first and second semiconductor substrates set such that their back surfaces are in contact with each other and overlap each other in one groove of the diffusion boat; The first and second semiconductor substrates are simultaneously taken out of the boat by suction with the first transfer arm so as to sandwich the surface, placed on a stage, and the second semiconductor substrate in contact with the stage is suction-fixed. Then, the first semiconductor substrate is sucked and slid by the second transfer arm to be separated from the second semiconductor substrate and sent to the next processing station, and the third transfer arm sucks the second semiconductor substrate. A method of transferring a semiconductor substrate for a solar cell, wherein the light receiving surface and the back surface are inverted and sent to the next processing station.
【請求項10】 太陽電池用半導体基板を熱処理するた
めの拡散ボートであって、 各々が1つの半導体基板を受入れるための複数の溝と、 前記溝の各々にセットされた前記半導体の裏面全体と接
するシールド板とを備え、 前記シールド板は前記半導体基板の受光面に拡散処理が
施される間に前記裏面にドーパントが拡散されることを
防止するように働くことを特徴とする太陽電池基板用拡
散ボート。
10. A diffusion boat for heat-treating a semiconductor substrate for a solar cell, comprising: a plurality of grooves each for receiving one semiconductor substrate; and an entire back surface of the semiconductor set in each of the grooves. A shield plate in contact with the solar cell substrate, wherein the shield plate acts to prevent the dopant from being diffused to the back surface while the light receiving surface of the semiconductor substrate is subjected to diffusion processing. Spread boat.
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