JP2001135834A - Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof - Google Patents

Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof

Info

Publication number
JP2001135834A
JP2001135834A JP31681799A JP31681799A JP2001135834A JP 2001135834 A JP2001135834 A JP 2001135834A JP 31681799 A JP31681799 A JP 31681799A JP 31681799 A JP31681799 A JP 31681799A JP 2001135834 A JP2001135834 A JP 2001135834A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
junction
photoelectric conversion
conversion element
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31681799A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3676954B2 (en
Inventor
Nobuyuki Kato
伸幸 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP31681799A priority Critical patent/JP3676954B2/en
Publication of JP2001135834A publication Critical patent/JP2001135834A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3676954B2 publication Critical patent/JP3676954B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photoelectric conversion element having a high conversion efficiency and a method capable of manufacturing the element in a simple process. SOLUTION: In a photoelectric conversion element which has PN junctions in a semiconductor substrate 1 and a P side current collecting electrode 9 and an N side current collecting electrode 10 on the rear of the substrate 1, the peripheral part of the substrate 1 has the PN junction deeper than that in the center part of the substrate 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光電変換素子およ
びその製造方法に関するものであり、特に、電極の取出
方法を改良した光電変換素子およびその製造方法に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photoelectric conversion element and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a photoelectric conversion element having an improved method for extracting an electrode and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】図18〜図26は、従来の太陽電池の製
造方法の一例を示す断面図である。
2. Description of the Related Art FIGS. 18 to 26 are sectional views showing an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【0003】図18を参照して、基板101として、不
純物濃度が3×1015〜4×1016cm-3で、結晶軸が
(100)の主面を持つ、シリコン基板からなるP型半
導体基板が用いられている。まず、この基板101の受
光面に、光の反射を低減するテクスチャ表面を形成す
る。すなわち、数%の水酸化ナトリウムを含む水溶液中
にイソプロピルアルコールを添加して、80℃〜90℃
の温度でシリコン基板101を20〜30分間処理す
る。これにより、基板101の受光面に、多くの微細な
凹凸が形成される。
Referring to FIG. 18, as a substrate 101, a P-type semiconductor made of a silicon substrate having an impurity concentration of 3 × 10 15 to 4 × 10 16 cm -3 and a main surface having a crystal axis of (100) is used. A substrate is used. First, a texture surface for reducing light reflection is formed on the light receiving surface of the substrate 101. That is, isopropyl alcohol is added to an aqueous solution containing several percent of sodium hydroxide,
The silicon substrate 101 is processed at a temperature of 20 to 30 minutes. Thus, many fine irregularities are formed on the light receiving surface of the substrate 101.

【0004】次に、図19を参照して、リン化合物等の
拡散源102を、P型半導体基板101の主面にスピン
法で塗布する。
Next, referring to FIG. 19, a diffusion source 102 such as a phosphorus compound is applied to the main surface of P-type semiconductor substrate 101 by a spin method.

【0005】次に、図20を参照して、基板101の裏
面に、チタン酸アルキルを溶媒中に含むマスク材103
を塗布する。
Next, referring to FIG. 20, a mask material 103 containing alkyl titanate in a solvent is provided on the back surface of substrate 101.
Is applied.

【0006】次に、図21を参照して、900℃前後の
温度で数10分間熱処理を行ない、約0.4μmの厚さ
のn+層を形成する。これにより、基板101の主面
上、および基板101の側面に、n+層104、105
がそれぞれ形成される。
Referring to FIG. 21, heat treatment is performed at a temperature of about 900 ° C. for several tens of minutes to form an n + layer having a thickness of about 0.4 μm. Thereby, the n + layers 104 and 105 are formed on the main surface of the substrate 101 and on the side surfaces of the substrate 101.
Are respectively formed.

【0007】このn+層105は、P型半導体基板10
1との間にPN接合を形成する。そこで、次に図22を
参照して、半導体基板101の主面上のリンガラス10
2と基板101の裏面に形成された二酸化チタンの膜
を、フッ酸でエッチングすることによって、除去する。
The n + layer 105 is formed on the P-type semiconductor substrate 10.
1 and a PN junction is formed. Then, referring to FIG. 22, phosphor glass 10 on the main surface of semiconductor substrate 101 is next referred to.
2 and the titanium dioxide film formed on the back surface of the substrate 101 are removed by etching with hydrofluoric acid.

【0008】次いで、図23を参照して、半導体基板1
01の主面上に、反射防止膜106を形成する。
[0008] Next, referring to FIG.
An anti-reflection film 106 is formed on the main surface of No. 01.

【0009】次に、図24を参照して、アルミニウムを
含むペースト107aと銀を含むペースト109aと
を、それぞれ所定のパターンで印刷して乾燥した後、7
00〜800℃で熱処理する。このとき、アルミニウム
とシリコンが合金化して、アルミニウム電極(P型電流
収集電極、正電極)107および裏面銀電極109が形
成されるとともに、アルミニウム電極107の裏側に、
+層108が形成される。このp+層108は、約5μ
mの厚みを有し、BSF構造を形成する。
Next, referring to FIG. 24, after paste 107a containing aluminum and paste 109a containing silver are printed in a predetermined pattern and dried,
Heat treatment at 00 to 800 ° C. At this time, aluminum and silicon are alloyed to form an aluminum electrode (P-type current collecting electrode, positive electrode) 107 and a back surface silver electrode 109, and on the back side of the aluminum electrode 107,
A p + layer 108 is formed. This p + layer 108 has a thickness of about 5 μm.
m, forming a BSF structure.

【0010】次に、図25を参照して、反射防止膜10
6上に、銀を含むペースト110aを所定のパターンで
印刷して乾燥する。
[0010] Next, referring to FIG.
6, a paste 110a containing silver is printed in a predetermined pattern and dried.

【0011】次に、図26を参照して、基板を700〜
800℃で熱処理して、表面銀電極(N側電流収集電
極、負電極)110を形成する。このとき、表面銀電極
110は、反射防止膜106を貫通してn+層とオーミ
ック接続を形成する。
Next, referring to FIG.
Heat treatment is performed at 800 ° C. to form a surface silver electrode (N-side current collecting electrode, negative electrode) 110. At this time, the surface silver electrode 110 penetrates the antireflection film 106 to form an ohmic connection with the n + layer.

【0012】以上のような工程を経て、太陽電池セルが
完成する。
Through the above steps, a solar cell is completed.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の太陽電池では、負電極は表側、正電極は裏側に
あるために、太陽電池モジュールを製造するために直列
接続する際、インターコネクタ等で表と裏を接続する必
要があり、その作業が困難であるという問題があった。
However, in the above-mentioned conventional solar cell, the negative electrode is on the front side and the positive electrode is on the back side. There was a problem that the front and back had to be connected, making the work difficult.

【0014】このため、特開平4−7879号公報、ま
たは特開平9−18043号公報では、正電極および負
電極が同一面上に形成された太陽電池セルが開示されて
いる。しかしながら、このような太陽電池セルは、製造
工程が複雑で、また、変換効率が低いという問題があっ
た。
For this reason, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 4-7879 and 9-18043 disclose a solar cell in which a positive electrode and a negative electrode are formed on the same surface. However, such a solar cell has a problem that the manufacturing process is complicated and the conversion efficiency is low.

【0015】この発明の目的は、上述の問題点を解決
し、変換効率の高い光電変換素子およびそれを簡単な工
程で製造することができる方法を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a photoelectric conversion element having high conversion efficiency and a method for manufacturing the photoelectric conversion element with a simple process.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明による光電変換素
子は、半導体基板にPN接合が形成され、基板の裏面に
P側電流収集電極およびN側電流収集電極が形成された
光電変換素子において、半導体基板の中心部より周辺部
の方が深いPN接合を有することを特徴としている。
A photoelectric conversion element according to the present invention is a photoelectric conversion element in which a PN junction is formed on a semiconductor substrate, and a P-side current collecting electrode and an N-side current collecting electrode are formed on the back surface of the substrate. The semiconductor device is characterized in that a peripheral portion has a deeper PN junction than a central portion of the semiconductor substrate.

【0017】好ましくは、半導体基板の受光面にPN接
合が形成され、半導体基板の少なくとも2辺に沿った側
面および裏面周辺部に、PN接合が形成されるとよい。
Preferably, a PN junction is formed on the light receiving surface of the semiconductor substrate, and a PN junction is formed on at least a side surface along at least two sides and a peripheral portion of the back surface of the semiconductor substrate.

【0018】本発明による光電変換素子は、半導体基板
の受光面にPN接合が形成され、基板の裏面にP側電流
収集電極およびN側電流収集電極が形成された光電変換
素子において、半導体基板の少なくとも2辺に沿った側
面および裏面周辺部に、PN接合が形成されたことを特
徴としている。
The photoelectric conversion element according to the present invention is a photoelectric conversion element in which a PN junction is formed on a light receiving surface of a semiconductor substrate and a P-side current collecting electrode and an N-side current collecting electrode are formed on the back surface of the substrate. A PN junction is formed on at least the side surface and the back surface peripheral portion along two sides.

【0019】好ましくは、受光面の電流収集電極のパタ
ーンが、基板の中心部から周辺部に向かって放射状に広
がっているとよい。
Preferably, the pattern of the current collecting electrodes on the light-receiving surface is radially spread from the center of the substrate to the periphery.

【0020】本発明による光電変換素子の製造方法は、
上述した本発明の光電変換素子を製造する方法におい
て、基板の中心部から外側にずれた位置に拡散源を滴下
して、基板の周辺部に拡散源を塗布し、熱拡散によって
基板にPN接合を形成することを特徴としている。
The method for manufacturing a photoelectric conversion element according to the present invention comprises:
In the above-described method for manufacturing a photoelectric conversion element of the present invention, a diffusion source is dropped at a position shifted outward from the center of the substrate, the diffusion source is applied to the periphery of the substrate, and a PN junction is formed on the substrate by thermal diffusion. Is formed.

【0021】好ましくは、基板にPN接合を塗布拡散に
より形成し、裏面の少なくとも2辺に沿って接合が形成
されるように、裏面の他の部分に拡散のマスクを形成す
るとよい。
Preferably, a PN junction is formed on the substrate by coating and diffusion, and a diffusion mask is formed on another portion of the rear surface so that the junction is formed along at least two sides of the rear surface.

【0022】また、好ましくは、基板に拡散源を塗布す
る際に、基板を回転させながら拡散源を滴下するとよ
い。
Preferably, when applying the diffusion source to the substrate, the diffusion source is dropped while rotating the substrate.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】図1および図2は、本発明による
光電変換素子の一例としての太陽電池の構成を示すそれ
ぞれ断面図および平面図である。
1 and 2 are a sectional view and a plan view, respectively, showing the structure of a solar cell as an example of a photoelectric conversion element according to the present invention.

【0024】図1および図2を参照して、この太陽電池
は、P型半導体基板1と、基板1の1主面に形成された
+層4、5bおよび反射防止膜6と、基板1の側面お
よび裏面に形成されたn+層5aと、基板1の裏面に形
成された裏面銀電極(正電極)9と、基板1の裏面のP
N接合部(n+層部)上に形成された裏面銀電極(負電
極)10と、アルミニウム電極7と、基板1中にアルミ
ニウム電極7のアルミニウムが拡散して形成されたp+
層8とを備えている。
Referring to FIGS. 1 and 2, this solar cell comprises a P-type semiconductor substrate 1, n + layers 4 and 5b formed on one main surface of substrate 1, an antireflection film 6, and a substrate 1 P side and the n + layer 5a formed and on the rear surface, the rear surface silver electrode (positive electrode) 9 formed on the back surface of the substrate 1, the back surface of the substrate 1
A back surface silver electrode (negative electrode) 10 formed on the N junction (n + layer portion), an aluminum electrode 7, and a p + formed by diffusing aluminum of aluminum electrode 7 into substrate 1.
And a layer 8.

【0025】P型半導体基板1は、シリコン基板であ
り、基板1の表面は、光の反射を低減するため微細な凹
凸を有する。また、裏面電極9、10、および7は、基
板またはアルミニウムを材料として、スクリーン印刷法
を用いて形成される。
The P-type semiconductor substrate 1 is a silicon substrate, and the surface of the substrate 1 has fine irregularities to reduce light reflection. The back electrodes 9, 10, and 7 are formed using a substrate or aluminum as a material by a screen printing method.

【0026】以下、このように構成される太陽電池の製
造方法の一例を、図3〜図10を参照して説明する。
Hereinafter, an example of a method of manufacturing the solar cell configured as described above will be described with reference to FIGS.

【0027】まず、図3を参照して、P型半導体基板1
を酸溶液あるいはアルミニウム溶液で処理して、表面の
ダメージ層を除去する。基板1が結晶軸(100)の単
結晶であれば、そのP型半導体基板1を80〜90℃の
水酸化ナトリウム水溶液(数%の濃度)に浸漬して、2
0〜30分間処理し、P型半導体基板1の表面に微細な
テクスチャを形成する。
First, referring to FIG. 3, a P-type semiconductor substrate 1
Is treated with an acid solution or an aluminum solution to remove a damaged layer on the surface. If the substrate 1 is a single crystal having a crystal axis (100), the P-type semiconductor substrate 1 is immersed in a sodium hydroxide aqueous solution (concentration of several%) at 80 to 90 ° C.
The treatment is performed for 0 to 30 minutes to form a fine texture on the surface of the P-type semiconductor substrate 1.

【0028】次に、図4を参照して、この基板1の表面
に、ノズルを介して五酸化リンを含むドーパント液2を
スピンコーターによって塗布する。このとき、中心から
外れたところに液2を滴下して、基板1の周囲のみにド
ーパント液2を塗布する。これは、後述するように、中
心には浅い接合を形成し、一方、周囲には深い接合を形
成するためである。
Next, referring to FIG. 4, a dopant solution 2 containing phosphorus pentoxide is applied to the surface of the substrate 1 through a nozzle by a spin coater. At this time, the liquid 2 is dropped at a position off the center, and the dopant liquid 2 is applied only around the substrate 1. This is because a shallow junction is formed at the center and a deep junction is formed at the periphery, as described later.

【0029】次に、図5を参照して、P型半導体基板1
の裏面に、チタン酸アルキルを溶剤で希釈したマスク材
3を、印刷法等によって形成する。
Next, referring to FIG. 5, a P-type semiconductor substrate 1 will be described.
A mask material 3 obtained by diluting an alkyl titanate with a solvent is formed by a printing method or the like.

【0030】このとき、図2に示すように、基板1の少
なくとも2辺に沿った側面および裏面周辺部にPN接合
が形成されるように、その部分にはマスク材3を形成し
ない。このように、PN接合が形成される部分を少なく
とも2辺とするのは、電流が表面から裏面に流れるとき
の直列抵抗を少なくするため、側面のPN接合部は長い
方が有利であり、さらに、裏面銀電極(負電極)10も
長い方がインターコネクタ接続がしやすいためである。
図2に示すように、本実施の形態では、基板1の3辺に
沿ってPN接合を形成しているため、2辺の場合に比べ
てさらに直列抵抗を減少させることができる。
At this time, as shown in FIG. 2, the mask material 3 is not formed on the side surface and the back surface peripheral portion along at least two sides of the substrate 1 so as to form a PN junction. As described above, the portion where the PN junction is formed has at least two sides. In order to reduce the series resistance when a current flows from the front surface to the rear surface, it is advantageous that the side PN junction is longer. This is because the longer the back silver electrode (negative electrode) 10 is, the easier it is to connect the interconnector.
As shown in FIG. 2, in the present embodiment, the PN junction is formed along three sides of the substrate 1, so that the series resistance can be further reduced as compared with the case of two sides.

【0031】次に、図6を参照して、900℃前後の温
度で数10分間熱処理を行なうことにより、ドーパント
液2が塗布された領域に、約0.4μmの厚さのn+
4が形成される。ドーパント液2が塗布されなかった領
域には、アウトディフュージョンにより約0.2μmの
厚さのn+層5a、5bが形成される。一方、マスク材
3の下には、n+層は形成されない。
Next, referring to FIG. 6, by performing a heat treatment at a temperature of about 900 ° C. for several tens of minutes, an n + layer 4 having a thickness of about 0.4 μm is formed in a region where dopant solution 2 is applied. Is formed. In the region where the dopant liquid 2 is not applied, n + layers 5a and 5b having a thickness of about 0.2 μm are formed by out diffusion. On the other hand, no n + layer is formed below the mask material 3.

【0032】次に、図7を参照して、フッ酸処理によ
り、基板1の主面のリンガラス層2と裏面のマスク材3
とを除去する。
Next, referring to FIG. 7, the phosphor glass layer 2 on the main surface of the substrate 1 and the mask material 3 on the back surface are subjected to hydrofluoric acid treatment.
And remove.

【0033】次に、図8を参照して、基板1の主面に、
反射防止膜6を形成する。反射防止膜6としては、AP
CVD法による二酸化チタン膜あるいはPCVD法によ
るシリコン窒化膜等がある。
Next, referring to FIG. 8, on the main surface of the substrate 1,
An anti-reflection film 6 is formed. As the antireflection film 6, AP
There is a titanium dioxide film formed by a CVD method or a silicon nitride film formed by a PCVD method.

【0034】次に、図9を参照して、基板1の裏面に、
アルミニウムを含むペースト7を所定のパターンで印刷
乾燥する。
Next, referring to FIG.
The paste 7 containing aluminum is printed and dried in a predetermined pattern.

【0035】次に、図10を参照して、銀を含むペース
ト9a、10aを所定のパターンで印刷乾燥した後、7
00〜800℃で熱処理する。このとき、アルミニウム
とシリコンが合金化してアルミニウム電極7が形成され
るとともに、アルミニウム電極7の裏側にp+層8が形
成される。これは、約5μmの厚みを有し、BSF構造
を形成する。また、裏面n+層5a上に形成された銀電
極10は、裏面負電極10となる。
Next, referring to FIG. 10, after printing and drying silver-containing pastes 9a and 10a in a predetermined pattern,
Heat treatment at 00 to 800 ° C. At this time, aluminum and silicon are alloyed to form aluminum electrode 7, and p + layer 8 is formed on the back side of aluminum electrode 7. It has a thickness of about 5 μm and forms a BSF structure. Further, the silver electrode 10 formed on the back surface n + layer 5a becomes the back surface negative electrode 10.

【0036】図11および図12は、基板にドーパント
液を塗布する方法の一例を説明するための図である。
FIGS. 11 and 12 are diagrams for explaining an example of a method of applying a dopant liquid to a substrate.

【0037】図11に示すように、基板1を回転させな
がら、ドーパント液2を塗布すると、図12に示すよう
に、基板1の裏面の4隅および対応する基板1の側面
に、ドーパント液2が回り込み、より高濃度のn+層5
aが基板1の裏面および側面に形成できる。その結果、
基板1の裏面でn+層5aと電極とをコンタクトする
際、より抵抗の少ないコンタクトが達成できる。さら
に、基板1の表面から裏面に電流が流れる際、低抵抗の
+層5aを通るため、直列抵抗が小さくなる。
As shown in FIG. 11, when the dopant liquid 2 is applied while rotating the substrate 1, the dopant liquid 2 is applied to the four corners on the back surface of the substrate 1 and the corresponding side surfaces of the substrate 1 as shown in FIG. Wrap around and the higher concentration n + layer 5
a can be formed on the back and side surfaces of the substrate 1. as a result,
When the n + layer 5a is brought into contact with the electrode on the back surface of the substrate 1, a contact with lower resistance can be achieved. Further, when a current flows from the front surface to the rear surface of the substrate 1, the current flows through the low resistance n + layer 5a, so that the series resistance is reduced.

【0038】本実施の形態において、ドーパント液2を
基板1主面の周囲に塗布し、基板1の中心には浅い接合
(シート抵抗50〜60Ω/□)を形成し、基板の周囲
には深い接合(シート抵抗20〜40Ω/□)を形成す
るのは、発生した電流が中心から周囲に向かって流れる
ため、直列抵抗を少なくして電流を流すためである。
In this embodiment, the dopant liquid 2 is applied around the main surface of the substrate 1 to form a shallow junction (sheet resistance 50-60 Ω / □) at the center of the substrate 1 and a deep junction around the substrate. The junction (sheet resistance: 20 to 40Ω / □) is formed because the generated current flows from the center to the periphery, so that the series resistance is reduced and the current flows.

【0039】また、直列抵抗をさらに小さくするには、
表電極を形成するのが有効な手段である。このとき、電
流の流れに沿って、しかもn+層の濃度に応じて、濃度
の低い個所は電極を密に、一方、濃度の高い個所は電極
を粗くした方がよい。
To further reduce the series resistance,
Forming a front electrode is an effective means. At this time, it is better to make the electrode denser at a portion with a lower concentration and rougher the electrode at a portion with a higher concentration along the current flow and according to the concentration of the n + layer.

【0040】図13〜図16は、表電極の形成方法の例
を示す平面図である。図13〜図16に示すように、中
心から周囲に向かって広がる放射状の電極50を形成す
ることが望ましい。
FIGS. 13 to 16 are plan views showing an example of a method of forming a front electrode. As shown in FIGS. 13 to 16, it is desirable to form a radial electrode 50 extending from the center to the periphery.

【0041】図17は、上述した図1に示す太陽電池を
直列接続した状態を示す平面図である。
FIG. 17 is a plan view showing a state in which the solar cells shown in FIG. 1 are connected in series.

【0042】図17を参照して、この太陽電池は、基板
1の裏面の3辺に沿って負電極10が形成されているた
め、容易に直列接続をすることができる。
Referring to FIG. 17, in this solar cell, since negative electrodes 10 are formed along three sides on the back surface of substrate 1, serial connection can be easily performed.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
正電極と負電極とが同じ面に形成される太陽電池を、容
易なプロセスで製造することが可能となる。
As described above, according to the present invention,
A solar cell in which a positive electrode and a negative electrode are formed on the same surface can be manufactured by an easy process.

【0044】また、直列抵抗が小さいため、変換効率を
高くすることができる。
Also, since the series resistance is small, the conversion efficiency can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明による光電変換素子の一例としての太
陽電池の構成を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a solar cell as an example of a photoelectric conversion element according to the present invention.

【図2】 本発明による光電変換素子の一例としての太
陽電池の構成を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a solar cell as an example of a photoelectric conversion element according to the present invention.

【図3】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図4】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図5】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図6】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図7】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図8】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
FIG. 8 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図9】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示す
断面図である。
9 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing the solar cell illustrated in FIG.

【図10】 図1に示す太陽電池の製造方法の一例を示
す断面図である。
FIG. 10 is a sectional view showing an example of a method for manufacturing the solar cell shown in FIG.

【図11】 基板にドーパント液を塗布する方法の一例
を説明するための図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a method of applying a dopant liquid to a substrate.

【図12】 基板にドーパント液を塗布する方法の一例
を説明するための図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a method of applying a dopant liquid to a substrate.

【図13】 表電極の形成方法の例を示す平面図であ
る。
FIG. 13 is a plan view illustrating an example of a method for forming a front electrode.

【図14】 表電極の形成方法の例を示す平面図であ
る。
FIG. 14 is a plan view illustrating an example of a method for forming a front electrode.

【図15】 表電極の形成方法の例を示す平面図であ
る。
FIG. 15 is a plan view illustrating an example of a method for forming a front electrode.

【図16】 表電極の形成方法の例を示す平面図であ
る。
FIG. 16 is a plan view illustrating an example of a method for forming a front electrode.

【図17】 図1に示す太陽電池を直列接続した状態を
示す平面図である。
FIG. 17 is a plan view showing a state in which the solar cells shown in FIG. 1 are connected in series.

【図18】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図19】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 19 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図20】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 20 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図21】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 21 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図22】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 22 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図23】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 23 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図24】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 24 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図25】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 25 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【図26】 従来の太陽電池の製造方法の一例を示す断
面図である。
FIG. 26 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional method for manufacturing a solar cell.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板、2 ドーパント液、3 マスク材、4 n+
層(深い拡散)、5an+層(浅い拡散)、5b n+
(浅い拡散)、6 反射防止膜、7 アルミニウム電
極、8 p+層、9a 銀ペースト、9 裏面銀電極
(正電極)、10a 銀ペースト、10 裏面銀電極
(負電極)、50 表電極。各図中、同一符号または同
一または相当部分を示す。
1 substrate, 2 dopant solution, 3 mask material, 4 n +
Layer (deep diffusion), 5an + layer (shallow diffusion), 5b n + layer (shallow diffusion), 6 antireflection film 7 of aluminum electrodes, 8 p + layer, 9a silver paste, 9 back surface silver electrode (positive electrode), 10a silver paste, 10 back silver electrode (negative electrode), 50 front electrode. In each drawing, the same reference numerals or the same or corresponding parts are shown.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体基板にPN接合が形成され、前記
基板の裏面にP側電流収集電極およびN側電流収集電極
が形成された光電変換素子において、 前記半導体基板の中心部より周辺部の方が深いPN接合
を有することを特徴とする、光電変換素子。
1. A photoelectric conversion element in which a PN junction is formed in a semiconductor substrate and a P-side current collecting electrode and an N-side current collecting electrode are formed on a back surface of the substrate, wherein a peripheral part is located closer to a peripheral part than to a central part of the semiconductor substrate. Having a deep PN junction.
【請求項2】 半導体基板の受光面にPN接合が形成さ
れ、前記基板の裏面にP側電流収集電極およびN側電流
収集電極が形成された光電変換素子において、 前記半導体基板の少なくとも2辺に沿った側面、および
裏面周辺部に、PN接合が形成されたことを特徴とす
る、光電変換素子。
2. A photoelectric conversion element in which a PN junction is formed on a light receiving surface of a semiconductor substrate and a P-side current collecting electrode and an N-side current collecting electrode are formed on a back surface of the substrate, wherein at least two sides of the semiconductor substrate are provided. A photoelectric conversion element, wherein a PN junction is formed at a side surface along the rear surface and a peripheral portion of the rear surface.
【請求項3】 前記半導体基板の受光面にPN接合が形
成され、 前記半導体基板の少なくとも2辺に沿った側面、および
裏面周辺部に、前記PN接合が形成されたことを特徴と
する、請求項1記載の光電変換素子。
3. A PN junction is formed on a light receiving surface of the semiconductor substrate, and the PN junction is formed on a side surface along at least two sides of the semiconductor substrate and on a peripheral portion of a back surface. Item 7. The photoelectric conversion element according to Item 1.
【請求項4】 前記受光面の電流収集電極のパターン
が、前記基板の中心部から周辺部に向かって放射状に広
がっていることを特徴とする、請求項2または請求項3
に記載の光電変換素子。
4. The pattern of the current collecting electrode on the light receiving surface radially spreads from a central portion to a peripheral portion of the substrate.
3. The photoelectric conversion element according to item 1.
【請求項5】 請求項1〜請求項4のいずれかに記載の
光電変換素子の製造方法において、 前記基板の中心部から外側にずれた位置に拡散源を滴下
して、前記基板の周辺部に拡散源を塗布し、熱拡散によ
って前記基板に前記PN接合を形成することを特徴とす
る、光電変換素子の製造方法。
5. The method for manufacturing a photoelectric conversion element according to claim 1, wherein a diffusion source is dropped at a position shifted outward from a center of the substrate to form a peripheral portion of the substrate. A method of manufacturing a photoelectric conversion element, comprising: applying a diffusion source to the substrate; and forming the PN junction on the substrate by thermal diffusion.
【請求項6】 前記基板に前記PN接合を塗布拡散によ
り形成し、裏面の少なくとも2辺に沿って接合が形成さ
れるように、裏面の他の部分に拡散のマスクを形成する
ことを特徴とする、請求項5に記載の光電変換素子の製
造方法。
6. The method according to claim 6, wherein the PN junction is formed on the substrate by coating and diffusion, and a diffusion mask is formed on another portion of the rear surface so that the junction is formed along at least two sides of the rear surface. The method for producing a photoelectric conversion element according to claim 5.
【請求項7】 前記基板に拡散源を塗布する際に、前記
基板を回転させながら拡散源を滴下することを特徴とす
る、請求項5または請求項6に記載の光電変換素子の製
造方法。
7. The method according to claim 5, wherein, when applying the diffusion source to the substrate, the diffusion source is dropped while rotating the substrate.
JP31681799A 1999-11-08 1999-11-08 Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof Expired - Fee Related JP3676954B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31681799A JP3676954B2 (en) 1999-11-08 1999-11-08 Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31681799A JP3676954B2 (en) 1999-11-08 1999-11-08 Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001135834A true JP2001135834A (en) 2001-05-18
JP3676954B2 JP3676954B2 (en) 2005-07-27

Family

ID=18081257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31681799A Expired - Fee Related JP3676954B2 (en) 1999-11-08 1999-11-08 Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3676954B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005011869A (en) * 2003-06-17 2005-01-13 Sekisui Jushi Co Ltd Solar cell module and its manufacturing method
JP2008034609A (en) * 2006-07-28 2008-02-14 Kyocera Corp Solar battery element, solar battery module using same, and manufacturing methods of both
WO2009125628A1 (en) * 2008-04-08 2009-10-15 シャープ株式会社 Solar battery cell manufacturing method, solar battery module manufacturing method, and solar battery module
JP2012231166A (en) * 2006-12-26 2012-11-22 Kyocera Corp Solar cell module
JP2013008983A (en) * 2004-06-04 2013-01-10 Sunpower Corp Interconnection of solar cells in solar cell module
JP2015053302A (en) * 2013-09-05 2015-03-19 シャープ株式会社 Solar battery module and wiring sheet
WO2016158299A1 (en) * 2015-03-31 2016-10-06 株式会社カネカ Solar cell, method for manufacturing same, solar cell module and wiring sheet
WO2017018300A1 (en) * 2015-07-30 2017-02-02 三菱電機株式会社 Solar cell and method for manufacturing solar cell

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005011869A (en) * 2003-06-17 2005-01-13 Sekisui Jushi Co Ltd Solar cell module and its manufacturing method
JP2013008983A (en) * 2004-06-04 2013-01-10 Sunpower Corp Interconnection of solar cells in solar cell module
JP2008034609A (en) * 2006-07-28 2008-02-14 Kyocera Corp Solar battery element, solar battery module using same, and manufacturing methods of both
US8575475B2 (en) 2006-12-26 2013-11-05 Kyocera Corporation Solar cell module with rear contacts
US9076910B2 (en) 2006-12-26 2015-07-07 Kyocera Corporation Solar cell module
JP2012231166A (en) * 2006-12-26 2012-11-22 Kyocera Corp Solar cell module
JP2009253096A (en) * 2008-04-08 2009-10-29 Sharp Corp Solar battery cell manufacturing method, solar battery module manufacturing method, and solar battery module
WO2009125628A1 (en) * 2008-04-08 2009-10-15 シャープ株式会社 Solar battery cell manufacturing method, solar battery module manufacturing method, and solar battery module
JP2015053302A (en) * 2013-09-05 2015-03-19 シャープ株式会社 Solar battery module and wiring sheet
WO2016158299A1 (en) * 2015-03-31 2016-10-06 株式会社カネカ Solar cell, method for manufacturing same, solar cell module and wiring sheet
US10008622B2 (en) 2015-03-31 2018-06-26 Kaneka Corporation Solar cell, method for manufacturing same, solar cell module and wiring sheet
US10205040B2 (en) 2015-03-31 2019-02-12 Kaneka Corporation Solar cell, method for manufacturing same, solar cell module and wiring sheet
WO2017018300A1 (en) * 2015-07-30 2017-02-02 三菱電機株式会社 Solar cell and method for manufacturing solar cell
JPWO2017018300A1 (en) * 2015-07-30 2017-07-27 三菱電機株式会社 Solar cell and method for manufacturing solar cell

Also Published As

Publication number Publication date
JP3676954B2 (en) 2005-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3032422B2 (en) Solar cell and method of manufacturing the same
JP2022501837A (en) Crystalline silicon solar cell and its manufacturing method
US20150027522A1 (en) All-black-contact solar cell and fabrication method
JP2000183379A (en) Method for manufacturing solar cell
JP2955167B2 (en) Solar cell manufacturing method
JPH02177569A (en) Manufacture of solar cell
JP5139502B2 (en) Back electrode type solar cell
JP3430068B2 (en) Solar cell electrodes
JP2989373B2 (en) Method for manufacturing photoelectric conversion device
JP3676954B2 (en) Photoelectric conversion element and manufacturing method thereof
JP2951061B2 (en) Solar cell manufacturing method
JP2016051767A (en) Method of manufacturing solar battery element
JP4712073B2 (en) Method for producing diffusion layer for solar cell and method for producing solar cell
JP2928433B2 (en) Method for manufacturing photoelectric conversion element
JP2006210385A (en) Method for manufacturing solar battery
JP3448098B2 (en) Crystalline silicon solar cells
JP4646584B2 (en) Manufacturing method of solar cell
JP3741565B2 (en) Solar cell and method for manufacturing the same
JPH11135812A (en) Formation method for solar cell element
JP3045917B2 (en) Solar cell manufacturing method
JP4212292B2 (en) Solar cell and manufacturing method thereof
JPH0233980A (en) Manufacture of solar cell
JP2015167260A (en) Back surface electrode type solar battery and manufacturing method for the same
JP2014127567A (en) Method of manufacturing solar cell
JPH0945945A (en) Solar cell element and fabrication thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050118

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050318

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050412

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050502

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080513

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090513

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100513

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110513

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110513

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120513

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120513

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130513

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees