JPH10172110A - Manufacture of thin film magnetic head - Google Patents

Manufacture of thin film magnetic head

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JPH10172110A
JPH10172110A JP32567696A JP32567696A JPH10172110A JP H10172110 A JPH10172110 A JP H10172110A JP 32567696 A JP32567696 A JP 32567696A JP 32567696 A JP32567696 A JP 32567696A JP H10172110 A JPH10172110 A JP H10172110A
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JP
Japan
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magnetic pole
pole layer
layer
film
hole
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JP32567696A
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Japanese (ja)
Inventor
Satoji Murakami
諭二 村上
Kaoru Yamakawa
薫 山川
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FDK Corp
Original Assignee
FDK Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To manufacture a magnetic thin film head with excellent yield by digging a hole with etching after a resist is applied to a protection film on a substrate to be exposed/developed and film forming magnetic material becoming a lower part magnetic pole layer from the upper part of the hole. SOLUTION: The hole is dug on a substrate protection film 2 on the substrate, and the magnetic material is film-formed into this hole, and planing is performed so as to become prescribed thickness, and the lower part magnetic pole layer 4 is formed. Then, a gap 5, coil layers of the number of required layers and an insulation layer are formed on the planed lower part magnetic pole layer 4. Then, an upper part magnetic pole layer 6 is formed on it, and the thin film magnetic head is manufactured. Thus, the lower part magnetic pole layer 4 is formed in the hole of the substrate protection film 2 to plane its surface, and the gap layer 5 and upper part magnetic pole layer 6 are formed on it, and the size of the gap 5 between the lower part magnetic pole layer 4 and the upper magnetic pole layer 6 is fixed, and moreover, a core short circuiting with the lower part magnetic pole layer due to the positional deviation of the upper part magnetic pole layer 6 is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜磁気ヘッドの
下部磁極層、ギャップ層および上部磁極層の製造方法に
関するものである。
The present invention relates to a method for manufacturing a lower magnetic pole layer, a gap layer and an upper magnetic pole layer of a thin-film magnetic head.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、薄膜磁気ヘッドは、図4の(a)
に示すように、平面の基板上に下部磁極層を形成し、そ
の上にギャップ層を形成し、絶縁層とコイル層を必要層
数形成した後、上部磁極層を形成するという工程であっ
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, a thin-film magnetic head is shown in FIG.
As shown in the figure, a lower magnetic pole layer was formed on a flat substrate, a gap layer was formed thereon, the required number of insulating layers and coil layers were formed, and then an upper magnetic pole layer was formed. .

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した図4の(a)
に示すように、下部磁極層上にギャップ層を形成する
と、それ以降の各工程におけるイオンミルなどによって
図4の(b)に示すように、下部磁極層のエッジ部のギ
ャップ層が削られてしまい、図4の(c)に示すよう
に、当該エッジ部のギャップ層がなくなって上部磁極層
のズレのマージンがなく、上部磁極層と下部磁極層とが
ショートしたり、コア落ちが発生したりしてしまうとい
う問題があった。
SUMMARY OF THE INVENTION FIG.
As shown in FIG. 4, when a gap layer is formed on the lower pole layer, as shown in FIG. 4B, the gap layer at the edge of the lower pole layer is cut by an ion mill or the like in each of the subsequent steps. As shown in FIG. 4 (c), the gap layer at the edge portion disappears and there is no margin for displacement of the upper magnetic pole layer, and the upper magnetic pole layer and the lower magnetic pole layer may be short-circuited or core drop may occur. There was a problem of doing it.

【0004】本発明は、これらの問題を解決するため、
薄膜磁気ヘッドの下部磁極層と上部磁極層との間のギャ
ップ層の寸法を一定にし、しかも上部磁極層の位置ズレ
による下部磁極層とのコアショートを防止して安定した
ギャップ寸法の薄膜磁気ヘッドを製造することを目的と
している。
[0004] The present invention solves these problems,
A thin-film magnetic head with a stable gap size by keeping the dimension of the gap layer between the lower magnetic pole layer and the upper magnetic pole layer of the thin-film magnetic head constant, and preventing core short-circuit with the lower magnetic pole layer due to displacement of the upper magnetic pole layer It is intended to manufacture.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】図1および図2を参照し
て課題を解決するための手段を説明する。図1および図
2において、基板1は、薄膜磁気ヘッドを成膜する基板
である。
Means for solving the problem will be described with reference to FIGS. 1 and 2. 1 and 2, a substrate 1 is a substrate on which a thin-film magnetic head is formed.

【0006】レジスト3は、基板1上などに塗布して露
光・現像して穴を開け、膜を成膜したり、エッチングし
たりなどするためのものである。下部磁極層4は、薄膜
磁気ヘッドを構成する下部磁極層である。
The resist 3 is applied on the substrate 1 or the like, and is exposed and developed to form a hole, thereby forming a film, etching, and the like. The lower magnetic pole layer 4 is a lower magnetic pole layer constituting the thin-film magnetic head.

【0007】ギャップ層5は、下部磁極層4と上部磁極
層6との間に設けるギャップ層である。上部磁極層6
は、薄膜磁気ヘッドを構成する上部磁極層である。
[0007] The gap layer 5 is a gap layer provided between the lower pole layer 4 and the upper pole layer 6. Upper magnetic pole layer 6
Is an upper magnetic pole layer constituting a thin film magnetic head.

【0008】次に、製造方法を説明する。基板1上の保
護膜にレジスト3を塗布して露光・現像した後にエッチ
ングにより下部磁極層4を形成する穴を堀り、当該穴の
上部から下部磁極層4となる磁性材料を成膜した後、平
面化を行って所望の下部磁極層4を形成し、平面化した
上にギャップ層5を成膜し、当該ギャップ層5およびギ
ャップ層5上にコイルと絶縁層とを必要層数形成した両
者の上に上部磁極層6を成膜するようにしている。
Next, a manufacturing method will be described. After a resist 3 is applied to the protective film on the substrate 1 and exposed and developed, a hole for forming the lower magnetic pole layer 4 is formed by etching, and a magnetic material to be the lower magnetic pole layer 4 is formed from above the hole. A desired lower magnetic pole layer 4 was formed by flattening, a gap layer 5 was formed on the flattened lower magnetic pole layer 4, and the necessary number of coils and insulating layers were formed on the gap layer 5 and the gap layer 5. The upper magnetic pole layer 6 is formed on both of them.

【0009】この際、基板1上の保護膜にレジスト3を
塗布して露光・現像した後にエッチングにより下部磁極
層4を形成する穴を掘る際に、下部磁極層4に段差を設
けて太らすようにしている。
At this time, when digging a hole for forming the lower magnetic pole layer 4 by etching after coating and exposing and developing the resist 3 on the protective film on the substrate 1, a step is provided in the lower magnetic pole layer 4 to make it thicker. Like that.

【0010】また、下部磁極層4のポール部とギャップ
層5に対向する上部磁極層6のポール部との幅をいずれ
かを広く他方を狭くし、狭い方を広い方に対向させて位
置ズレの影響を無くすようにしている。
Further, the width of the pole portion of the lower magnetic pole layer 4 and the width of the pole portion of the upper magnetic pole layer 6 opposed to the gap layer 5 are set to be wider and narrower, and the narrower one is opposed to the wider one. I try to eliminate the effect of.

【0011】従って、薄膜磁気ヘッドの下部磁極層4と
上部磁極層6との間のギャップ層5の寸法を一定にし、
しかも上部磁極層6の位置ズレによる下部磁極層4との
コアショートを防止して安定したギャップ寸法の薄膜磁
気ヘッドを製造することが可能となる。
Therefore, the dimension of the gap layer 5 between the lower pole layer 4 and the upper pole layer 6 of the thin-film magnetic head is made constant,
In addition, it is possible to manufacture a thin-film magnetic head having a stable gap size by preventing a core short-circuit with the lower magnetic pole layer 4 due to displacement of the upper magnetic pole layer 6.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】次に、図1から図3を用いて本発
明の実施の形態および動作を順次詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment and operation of the present invention will be sequentially described in detail with reference to FIGS.

【0013】図1は、本発明の製造方法フローチャート
を示す。図1において、S1は、基板1上にレジスト3
を塗布する。これは、後述する図2の(a)に示すレジ
スト3を基板1上に形成した基板保護膜2の上に全面に
塗布する。
FIG. 1 shows a flow chart of the manufacturing method of the present invention. In FIG. 1, S1 is a resist 3 on a substrate 1.
Is applied. In this method, a resist 3 shown in FIG. 2A to be described later is applied over the entire surface of the substrate protective film 2 formed on the substrate 1.

【0014】S2は、露光・現像する。これは、S1で
図2の(a)のレジスト3を基板保護膜2の上に全面に
塗布した後、下部磁極層4を形成するパターンのマスク
で露光・現像し、図2の(a)に示すように、レジスト
3に下部磁極層4を形成する部分のみに穴を開ける。
In step S2, exposure and development are performed. This is because, in S1, the resist 3 of FIG. 2A is applied to the entire surface of the substrate protective film 2 and then exposed and developed with a mask having a pattern for forming the lower magnetic pole layer 4, and is exposed to light. As shown in (1), holes are formed in the resist 3 only at the portions where the lower magnetic pole layer 4 is to be formed.

【0015】S3は、ウェットエッチングする。S2の
状態でウェットエッチングを行い、図2の(a)に示す
ように、穴(下部磁極層4を形成する穴)を形成する。
S4は、レジストを除去する。
In step S3, wet etching is performed. Wet etching is performed in the state of S2 to form a hole (a hole for forming the lower magnetic pole layer 4) as shown in FIG.
In step S4, the resist is removed.

【0016】S5は、導体下地膜を形成する。これは、
図2の(a)の状態で上から全面に薄く蒸着法などで電
気メッキするときの導体下地膜(例えばNiFe膜)を
形成する。
In step S5, a conductive base film is formed. this is,
In the state shown in FIG. 2A, a conductive underlayer film (for example, a NiFe film) is formed on the entire surface from above by electroplating thinly by vapor deposition or the like.

【0017】S6は、湿式メッキする。これは、導体下
地膜との間に電流を流して湿式メッキ(電気メッキ)に
より所望の厚さの下部磁極層(NiFe膜の下部磁極
層)を図2の(b)に示すように形成する。
In step S6, wet plating is performed. In this method, a lower magnetic pole layer (a lower magnetic pole layer of a NiFe film) having a desired thickness is formed by wet plating (electroplating) by flowing a current between the conductive magnetic film and the conductive base film as shown in FIG. 2B. .

【0018】S7は、平面化を行う。これは、後述する
図2の(c)に示すように、平面研削により平面化を行
い、所望の厚さの下部磁極層4を穴の中に形成する。S
8は、ギャップ層を形成する。これは、S7で平面化し
た上にギャップ層を全面に図2の(d)に示すように形
成する。
In step S7, planarization is performed. In this step, as shown in FIG. 2C described later, the lower magnetic pole layer 4 having a desired thickness is formed in the hole by flattening by surface grinding. S
8 forms a gap layer. This is done by flattening in S7 and forming a gap layer on the entire surface as shown in FIG.

【0019】S9は、絶縁層及びコイル層を必要層数を
形成する。これは、図2の(f)に示すように、ギャッ
プ層5の上にコイル層、第1絶縁層などを順次必要層数
だけ積層する。
In step S9, the required number of insulating layers and coil layers is formed. In this case, as shown in FIG. 2F, a required number of coil layers, first insulating layers, and the like are sequentially stacked on the gap layer 5.

【0020】S10は、絶縁層を形成する。S9で必要
なコイル層と絶縁層を完了した後、上から絶縁層を形成
する。S11は、上部磁極層を形成する。これは、図2
の(e)に示すように、ギャップ層5の上、およびコイ
ル層と絶縁層を積層した上に上部磁極層6を形成する。
In step S10, an insulating layer is formed. After completing necessary coil layers and insulating layers in S9, an insulating layer is formed from above. S11 forms an upper pole layer. This is shown in FIG.
(E), the upper magnetic pole layer 6 is formed on the gap layer 5 and on the laminated layer of the coil layer and the insulating layer.

【0021】以上によって、後述する図2の(a)ない
し(f)に示すように、基板1上の基板保護膜2に穴を
堀り、この中に磁性材料を成膜して所定の厚さとなるよ
うに平面化を行い下部磁極層4を形成する。そして、平
面化された下部磁極層4の上にギャップ層5、必要層数
のコイル層と絶縁層を形成し、その上から上部磁極層6
を形成し、薄膜磁気ヘッドを製造する。これにより、下
部磁極層4が基板保護膜2の穴の中に形成して表面を平
面化してその上にギャップ層5、上部磁極層6を形成
し、薄膜磁気ヘッドの下部磁極層4と上部磁極層6との
間のギャップ層5の寸法を一定にし、しかも上部磁極層
6の位置ズレによる下部磁極層4とのコアショートを防
止することが可能となる。
As described above, as shown in FIGS. 2A to 2F to be described later, a hole is formed in the substrate protective film 2 on the substrate 1 and a magnetic material is formed therein to form a predetermined thickness. The lower magnetic pole layer 4 is formed by flattening such that Then, a gap layer 5, a required number of coil layers and insulating layers are formed on the flattened lower magnetic pole layer 4, and the upper magnetic pole layer 6 is formed thereon.
To manufacture a thin-film magnetic head. As a result, the lower magnetic pole layer 4 is formed in the hole of the substrate protective film 2 to planarize the surface, and the gap layer 5 and the upper magnetic pole layer 6 are formed thereon. It is possible to make the dimension of the gap layer 5 between the magnetic pole layer 6 constant and to prevent a core short circuit with the lower magnetic pole layer 4 due to a displacement of the upper magnetic pole layer 6.

【0022】図2は、本発明の製造例(その1)を示
す。図2の(a)は、基板保護膜2に穴を開けた状態を
示す。これは、既述した図1のS3の状態であって、基
板1上に形成した基板保護膜2の上にレジスト2を塗
布、露光、現像、更にウェットエッチングして下部磁極
層5を形成する穴を開けた状態である。
FIG. 2 shows a production example (part 1) of the present invention. FIG. 2A shows a state in which a hole is formed in the substrate protection film 2. This is the state of S3 in FIG. 1 described above. A resist 2 is applied on a substrate protective film 2 formed on a substrate 1, exposed, developed, and further wet-etched to form a lower magnetic pole layer 5. The hole has been drilled.

【0023】図2の(b)は、下部磁極層4を成膜した
状態を示す。これは、既述した図1のS6の状態であっ
て、下部磁極層4を電気メッキ(湿式メッキ)で成膜し
た状態である。
FIG. 2B shows a state in which the lower magnetic pole layer 4 is formed. This is the state of S6 in FIG. 1 described above, in which the lower magnetic pole layer 4 is formed by electroplating (wet plating).

【0024】図2の(c)は、下部磁極層4を所定の厚
さに平面化した状態を示す。これは、図2の(b)の状
態で平面研削して少し厚めの下部磁極層4とその周囲を
平面研削して平らにしたものであって、下部磁極層4が
所望の厚さに仕上がるまで平面化を行う(ポリッシン
グ)。この時に、凹部の深さは所望のポール長寸法より
も少し深めの寸法とし必ず周囲の基板保護膜も一緒に平
面化されるようにする。これは、既述した図1のS7の
状態である。
FIG. 2C shows a state where the lower magnetic pole layer 4 is planarized to a predetermined thickness. This is obtained by grinding the surface of the lower magnetic pole layer 4 slightly thicker by grinding the surface in the state shown in FIG. 2B and flattening the periphery of the lower magnetic pole layer 4 by flat grinding. The lower magnetic pole layer 4 is finished to a desired thickness. Planarization is performed until (polishing). At this time, the depth of the recess is set slightly larger than the desired pole length so that the surrounding substrate protective film is always planarized together. This is the state of S7 in FIG. 1 described above.

【0025】図2の(d)は、図2の(c)の上に全面
にアルミナなどのギャップ層を形成した状態を示す。こ
れは、図1のS8の状態である。図2の(e)は、上部
磁極層6を形成した状態を示す。これは、図2の(d)
のギャップ層5の上にコイル層と絶縁層を必要な層数形
成した後、最上部に上部磁極層6を形成した状態であ
る。図1のS11の状態である。
FIG. 2D shows a state in which a gap layer such as alumina is formed on the entire surface of FIG. 2C. This is the state of S8 in FIG. FIG. 2E shows a state in which the upper magnetic pole layer 6 is formed. This is shown in FIG.
After forming the required number of coil layers and insulating layers on the gap layer 5, the upper magnetic pole layer 6 is formed on the uppermost part. This is the state of S11 in FIG.

【0026】図2の(f)は、上部磁極層6を形成した
横断面図を示す。図示のように、下部磁極層4が保護基
板膜2の穴の中に形成され、平面を平らにしている様子
が判明する。
FIG. 2F is a cross-sectional view showing the upper magnetic pole layer 6 formed. As shown in the figure, it can be seen that the lower magnetic pole layer 4 is formed in the hole of the protective substrate film 2 and has a flat surface.

【0027】以上のように、基板保護膜2に穴を開けて
その中に下部磁極層4を形成して表面を平面研削し、そ
の上にギャップ層5、コイル層と絶縁層の必要な層数、
および上部磁極層6を成膜し、薄膜磁気ヘッドの下部磁
極層4と上部磁極層6との間のギャップ層5の寸法を一
定にし、しかも上部磁極層6の位置ズレによる下部磁極
層4とのコアショートを防止することが可能となる。
As described above, holes are formed in the substrate protective film 2, the lower magnetic pole layer 4 is formed therein, the surface is ground, and the gap layer 5, the coil layer and the necessary layers of the insulating layer are formed thereon. number,
And the upper magnetic pole layer 6 is formed, and the dimension of the gap layer 5 between the lower magnetic pole layer 4 and the upper magnetic pole layer 6 of the thin-film magnetic head is made constant. Core short-circuit can be prevented.

【0028】図3は、本発明の製造例(その2)を示
す。これは、下部磁極層4を2段掘込した様子を示す。
図3の(a)は上面図を示し、図3の(b)はB−B’
断面図を示し、図3の(c)はC−C’断面図を示す。
FIG. 3 shows a production example (part 2) of the present invention. This shows a state where the lower magnetic pole layer 4 is dug in two steps.
FIG. 3A shows a top view, and FIG. 3B shows BB ′.
FIG. 3C shows a cross-sectional view, and FIG.

【0029】これら各図から判明するように、コイルを
積層した部分について1段掘込、更に2段掘込を行いい
わゆる磁路の太らしを行っている。この際の製造方法
は、(c)に示したように、例えば1段掘込はウェット
(電界研磨)による掘り込みを行い、2段掘込はイオン
ミルによって堀り込みを行う。これらの際、それぞれレ
ジストを塗布、露光・現像した後にそれぞれ掘り込みを
行う。
As can be seen from these drawings, the portion where the coils are stacked is dug in one step and then two steps to perform the so-called thickening of the magnetic path. As shown in (c), the manufacturing method at this time is, for example, one-stage digging is performed by wet (electric field polishing), and two-stage digging is performed by an ion mill. At this time, after coating, exposing and developing a resist, digging is performed.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板1上の保護膜にレジストを塗布して露光・現像した
後にエッチングにより下部磁極層4を形成する穴を堀
り、当該穴の上部から下部磁極層4となる磁性材料を成
膜した後、平面化を行って所望の下部磁極層4を形成
し、平面化した上にギャップ層5を成膜し、ギャップ層
5およびギャップ層5上にコイルと絶縁層とを必要層数
形成した両者の上に上部磁極層6を成膜する構成を採用
しているため、薄膜磁気ヘッドの下部磁極層4と上部磁
極層6との間のギャップ層5の寸法を一定にし、しかも
上部磁極層6の位置ズレによる下部磁極層4とのコアシ
ョートを防止して安定したギャップ寸法の薄膜磁気ヘッ
ドを製造できる。これらにより、(1) 下部磁極層と
上部磁極層との間のギャップ層の寸法を一定にでき、し
かも位置ずれなどによる両磁極層間のショートがなく、
歩留り良く磁性薄膜ヘッドを製造することが可能とな
る。
As described above, according to the present invention,
After a resist is applied to the protective film on the substrate 1, exposed and developed, a hole for forming the lower magnetic pole layer 4 is formed by etching, and a magnetic material to be the lower magnetic pole layer 4 is formed from above the hole. The desired lower magnetic pole layer 4 is formed by flattening, the gap layer 5 is formed on the flattened lower magnetic pole layer 4, and the gap layer 5 and the coils and the insulating layers formed on the gap layer 5 in the required number of layers are formed. Since the configuration in which the upper magnetic pole layer 6 is formed on the upper magnetic pole layer 6 is adopted, the dimension of the gap layer 5 between the lower magnetic pole layer 4 and the upper magnetic pole layer 6 of the thin-film magnetic head is made constant. It is possible to manufacture a thin-film magnetic head having a stable gap size by preventing a core short-circuit with the lower magnetic pole layer 4 due to misalignment. As a result, (1) the dimension of the gap layer between the lower magnetic pole layer and the upper magnetic pole layer can be made constant, and there is no short circuit between the two magnetic pole layers due to displacement or the like.
It is possible to manufacture a magnetic thin film head with good yield.

【0031】(2) 下部磁極層を堀り込んで埋め込み
平面化したため、素子の全体の高さが低くなり露光など
が行い易くなるため、磁極層のコア幅を極力小さくする
ことが可能となる。
(2) Since the lower magnetic pole layer is dug and buried to make it buried and planarized, the overall height of the element is reduced and exposure and the like are facilitated, so that the core width of the magnetic pole layer can be made as small as possible. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の製造方法フローチャートである。FIG. 1 is a manufacturing method flowchart of the present invention.

【図2】本発明の製造方法(その1)である。FIG. 2 shows a manufacturing method (No. 1) of the present invention.

【図3】本発明の製造方法(その2)である。FIG. 3 is a manufacturing method (part 2) of the present invention.

【図4】従来技術の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:基板 2:基板保護膜 3:レジスト 4:下部磁極層 5:ギャップ 6:上部磁極層 1: Substrate 2: Substrate protective film 3: Resist 4: Lower magnetic pole layer 5: Gap 6: Upper magnetic pole layer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】薄膜磁気ヘッドの下部磁極層、ギャップ層
および上部磁極層の製造方法において、 基板上の保護膜にレジストを塗布して露光・現像した後
にエッチングにより下部磁極層を形成する穴を堀り、当
該穴の上部から下部磁極層となる磁性材料を成膜した
後、平面化を行って所望の下部磁極層を形成し、当該平
面化した上にギャップ層を成膜し、当該ギャップ層上に
コイルと絶縁層とを必要層数形成した後、上部磁極層を
成膜したことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
In a method of manufacturing a lower magnetic pole layer, a gap layer and an upper magnetic pole layer of a thin-film magnetic head, a resist is applied to a protective film on a substrate, exposed and developed, and then a hole for forming a lower magnetic pole layer by etching is formed. After digging, forming a magnetic material to be a lower magnetic pole layer from above the hole, flattening to form a desired lower magnetic pole layer, forming a gap layer on the flattened material, A method for manufacturing a thin-film magnetic head, comprising forming a required number of coils and insulating layers on a layer, and then forming an upper magnetic pole layer.
【請求項2】上記基板上の保護膜にレジストを塗布して
露光・現像した後にエッチングにより下部磁極層を形成
する穴を掘る際に、当該下部磁極層に段差を設けて太ら
したことを特徴とする請求項1記載の薄膜磁気ヘッドの
製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein a step is formed in the lower magnetic pole layer when a hole for forming a lower magnetic pole layer is formed by etching after applying a resist to the protective film on the substrate and exposing and developing the resist. The method for manufacturing a thin-film magnetic head according to claim 1.
【請求項3】上記下部磁極層のポール部と上記ギャップ
層に対向する上記上部磁極層のポール部との幅をいずれ
かを広く他方を狭くし、狭い方を広い方に対向させて位
置ズレの影響を無くしたことを特徴とする請求項1ある
いは請求項2記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
3. The position of the pole portion of the lower magnetic pole layer and the pole portion of the upper magnetic pole layer facing the gap layer are widened, and the other is narrowed, and the narrower width is opposed to the wider one. 3. The method of manufacturing a thin-film magnetic head according to claim 1, wherein the effect of the thin film magnetic head is eliminated.
JP32567696A 1996-12-05 1996-12-05 Manufacture of thin film magnetic head Pending JPH10172110A (en)

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