JPH10170582A - Inspection jig for printed wiring board and inspection device therefor - Google Patents

Inspection jig for printed wiring board and inspection device therefor

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JPH10170582A
JPH10170582A JP8329796A JP32979696A JPH10170582A JP H10170582 A JPH10170582 A JP H10170582A JP 8329796 A JP8329796 A JP 8329796A JP 32979696 A JP32979696 A JP 32979696A JP H10170582 A JPH10170582 A JP H10170582A
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substrate
inspection
wiring board
printed wiring
conductive wires
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Yoshihisa Yoshida
美久 吉田
Takahiro Shibayama
孝寛 柴山
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Toppan Printing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To attain high reliability of inspection of printed wiring board with a high wiring density. SOLUTION: If a second insulation substrate 27A is pushed to a printed wiring board side in the state that a penetration hole 38A of the first insulation substrate 29A and the inspection point of a printed wiring board 21 overlap each other, both insulation substrates approach to each other, tip ends of each probe 34A in each penetration hole 38A of the first insulation substrate approach the inspection points and spring member 33A shrinks. After the tip ends of each probe touch the inspection points, as each probe 34A bends between the second insulation substrate and the printed wiring board, it gives pushing pressure to each inspection point. When the gap between the first and the second insulation substrates 29A and 27A becomes minimum, a ring member 33A touches the both substrates to terminate the approach and each probe stops increase of the pushing pressure given to the inspection points to optimize the pushing pressure and forms a state capable of inspection.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板の
検査治具及びそれを用いた検査装置に係わり、特に高い
配線密度を有するプリント配線板の検査に適するプリン
ト配線板の検査治具及びそれを用いた検査装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board inspection jig and an inspection apparatus using the same, and more particularly to a printed wiring board inspection jig suitable for inspecting a printed wiring board having a high wiring density. The present invention relates to an inspection device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、電子機器を製造する際には、抵
抗、コンデンサ、ダイオード及びCPUなどの各部品を
搭載可能であって、任意の配線パターンを有するプリン
ト配線板が広く用いられている。
2. Description of the Related Art Generally, when manufacturing electronic equipment, printed wiring boards on which components such as a resistor, a capacitor, a diode, and a CPU can be mounted and which have an arbitrary wiring pattern are widely used.

【0003】この種のプリント配線板では、各部品が所
定の位置に搭載され、所定の電子回路が構成される。こ
こで、プリント配線板の配線パターンに異常があると、
回路が正常に動作せず、電子機器を不良品にしてしま
う。
In this type of printed wiring board, each component is mounted at a predetermined position to form a predetermined electronic circuit. Here, if there is an abnormality in the wiring pattern of the printed wiring board,
The circuit does not operate properly, and the electronic device becomes defective.

【0004】従って、通常、各部品の搭載前に、各部品
の特性が検査されると共に、プリント配線板の配線パタ
ーンについても導通及び絶縁の適否が検査されている。
この種のプリント配線板の検査装置は、例えば特開昭5
9−119279号公報に開示されている。
Therefore, usually, before mounting each component, the characteristics of each component are inspected, and the wiring pattern of the printed wiring board is also inspected for the suitability of conduction and insulation.
This type of printed wiring board inspection apparatus is disclosed in, for example,
It is disclosed in JP-A-9-1119279.

【0005】図11は係るプリント配線板の検査装置の
構成を示す模式図である。この検査装置は、絶縁性の端
子保持板1における、検査すべきプリント基板2のスル
ーホール部3に対応した位置において、プローブ(検査
用端子)4を各々進退自在に挿通して設けると共にその
先端部5が端子保持板1の表面より相当の距離突出され
た状態となるよう、プローブ4の各々にスプリング6が
設けられている。
FIG. 11 is a schematic diagram showing the configuration of such a printed wiring board inspection apparatus. In this inspection apparatus, probes (inspection terminals) 4 are provided at positions corresponding to the through-hole portions 3 of a printed circuit board 2 to be inspected in an insulating terminal holding plate 1 so as to be able to freely advance and retreat, and the tip thereof is provided. Each of the probes 4 is provided with a spring 6 so that the portion 5 projects from the surface of the terminal holding plate 1 by a considerable distance.

【0006】また、各プローブ4をコンピュータを有す
る測定器7に接続し、端子保持板1をプリント基板2に
重ねて押圧することにより、スプリング6の適切な圧力
で各プローブ4をスルーホール部3に当接せしめて電気
的に接続させ、この状態でスルーホール部3の相互間の
導通状態の有無を調べるようにしている。
[0006] Each probe 4 is connected to a measuring instrument 7 having a computer, and the terminal holding plate 1 is overlapped on the printed circuit board 2 and pressed. , And electrically connected to each other, and in this state, the presence or absence of a conduction state between the through-hole portions 3 is checked.

【0007】しかしながら、最近の電子機器は、携帯電
話や電子手帳に代表されるように、微細な配線パターン
のプリント配線板が用いられる傾向にある。よって、図
11に示す検査装置では、大型のプローブ4を用いるた
め、微細な配線パターンを検査する際に、隣接するプロ
ーブ4同士が接触して検査できないという問題がある。
However, recent electronic devices tend to use printed wiring boards having fine wiring patterns, as typified by mobile phones and electronic organizers. Therefore, in the inspection device shown in FIG. 11, since the large probe 4 is used, there is a problem in that when inspecting a fine wiring pattern, adjacent probes 4 are in contact with each other and cannot be inspected.

【0008】さらに、プローブ4から測定器7までの配
線を行なう際に、プローブ4と配線との接続部が必然的
に太い構造になり、この接続部にて、隣接するプローブ
4同士が接触するために、検査ができない問題もある。
Further, when wiring from the probe 4 to the measuring instrument 7 is performed, the connecting portion between the probe 4 and the wiring necessarily has a thick structure, and the adjacent probes 4 come into contact with each other at this connecting portion. Therefore, there is a problem that inspection cannot be performed.

【0009】この問題を解決する観点から、プローブに
代えて、位置変換基板と異方導電性部材を用いることに
より、高精度の検査を可能とし、且つ、位置変換基板と
被検査プリント配線板との間の電気的な接続の信頼性を
確保する検査装置が特開平3−183974号公報に開
示されている。
From the viewpoint of solving this problem, by using a position conversion board and an anisotropic conductive member instead of the probe, high-precision inspection can be performed. An inspection apparatus for ensuring the reliability of electrical connection between the two is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-183974.

【0010】図12は係る検査装置の構成を示す模式図
である。この検査装置は、多数の検査電極10を備えた
検査ヘッド11、仲介ピンシステム12、位置変換基板
(オフグリッドアダプタ)13、プリント回路基板14
及び裏面アダプタ15を備えている。
FIG. 12 is a schematic diagram showing the configuration of such an inspection apparatus. The inspection apparatus includes an inspection head 11 having a large number of inspection electrodes 10, an intermediate pin system 12, a position conversion board (off-grid adapter) 13, a printed circuit board 14,
And a back adapter 15.

【0011】仲介ピンシステム12は、一方の異方導電
性シート12aと、仲介ピン12bと、他方の異方導電
性シート12cとからなり、プリント配線板14の被検
査面に対して垂直方向の寸法の誤差を吸収する機能と、
仲介ピン12b自身によって異方導電性シート12a,
12cの内部における電流の横方向への広がりを防止し
て検査電極11と被検査部との間の一対一対応を維持す
る機能とを有している。
The mediating pin system 12 includes one anisotropic conductive sheet 12a, mediating pins 12b, and the other anisotropic conductive sheet 12c, and extends in a direction perpendicular to the surface of the printed wiring board 14 to be inspected. A function to absorb dimensional errors,
The anisotropic conductive sheet 12a,
It has a function of preventing a current from spreading in the horizontal direction inside 12c and maintaining a one-to-one correspondence between the inspection electrode 11 and the inspection target.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら以上のよ
うな検査装置は、異方導電性シート12a,12cの絶
縁方向(横方向)の信頼性に限界があるため、高い配線
密度のプリント配線板の検査に限界があるという問題が
ある。例えば250μm以下の間隔の検査ポイントに対
応するには、信頼性が不十分である。
However, such an inspection apparatus as described above has a limit in the reliability of the anisotropic conductive sheets 12a and 12c in the insulating direction (lateral direction). There is a problem that inspection is limited. For example, the reliability is insufficient to support inspection points at intervals of 250 μm or less.

【0013】また、プリント配線板14と異方導電性シ
ート12a,12c、異方導電性シート12a,12c
と位置変換基板13、位置変換基板13と検査機までの
配線等、接触のポイントが多く、検査に誤差が入り易
く、検査の信頼性が低いという問題がある。
The printed wiring board 14 and the anisotropic conductive sheets 12a and 12c, and the anisotropic conductive sheets 12a and 12c
In addition, there are many points of contact, such as wiring between the position conversion board 13 and the wiring between the position conversion board 13 and the inspection machine, so that there is a problem that an error easily occurs in the inspection and the reliability of the inspection is low.

【0014】さらに、高い配線密度のプリント配線板を
検査する場合、密集した被検査点を位置変換するため、
位置変換基板13の多層化を要し、検査コストを上昇さ
せてしまう。
Further, when inspecting a printed wiring board having a high wiring density, since the positions of densely inspected points are changed,
Since the position conversion board 13 needs to be multilayered, the inspection cost increases.

【0015】本発明は上記実情を考慮してなされたもの
で、高い配線密度のプリント配線板の検査を高い信頼性
で実現し得るプリント配線板の検査治具及びそれを用い
た検査装置を提供することを目的とする。また、本発明
の第2の目的は、検査コストの上昇を阻止でき、低廉に
実現し得るプリント配線板の検査治具及びそれを用いた
検査装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a printed wiring board inspection jig and an inspection apparatus using the same that are capable of highly reliably inspecting a printed wiring board having a high wiring density. The purpose is to do. A second object of the present invention is to provide an inspection jig for a printed wiring board which can prevent an increase in inspection cost and can be realized at low cost, and an inspection apparatus using the same.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】請求項1に対応する発明
は、プリント配線板の配線パターンに関し、導通異常及
び/又は絶縁異常の有無を検査するためのプリント配線
板の検査治具において、前記プリント配線板に接触する
接触面を有し、予め前記配線パターンの複数の被検査点
に個別に対応させて複数の第一貫通孔が形成された第一
基板と、前記各第一貫通孔よりも細い径を有し、先端が
前記接触面とは反対側の面から前記各第一貫通孔に遊挿
される複数の導電性線材と、前記第一基板における接触
面とは反対側の面に対向配置され、前記導電性線材を個
別に挿通させるための複数の第二貫通孔を有し、前記各
第二貫通孔に挿通される各導電性線材が固着される第二
基板と、前記第一基板と前記第二基板とが互いに接近す
るとき、前記両基板を互いに離間させるように少なくと
も前記第一基板を付勢する弾性部材と、前記第一基板と
前記第二基板とが互いに接近するとき、前記両基板間の
最小間隙を決定するように少なくとも前記第一基板に接
触する間隙決定機構と、前記各導電性線材における基端
から前記第二基板までの間の一部を前記各第二貫通孔相
互間の間隔よりも広い間隔で個別に保持する線材受容治
具とを備えたプリント配線板の検査治具である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an inspection jig for a printed wiring board for inspecting the presence or absence of a conduction abnormality and / or an insulation abnormality with respect to a wiring pattern of the printed wiring board. A first substrate having a contact surface in contact with a printed wiring board, a plurality of first through holes formed in advance corresponding to a plurality of inspection points of the wiring pattern individually, Also has a small diameter, a plurality of conductive wires whose tip is loosely inserted into each of the first through holes from the surface opposite to the contact surface, the contact surface in the first substrate on the surface opposite to the contact surface A second substrate having a plurality of second through holes that are arranged to face each other and individually penetrate the conductive wires, to which the conductive wires inserted into the second through holes are fixed; and When one substrate and the second substrate approach each other, the two substrates An elastic member that biases at least the first substrate so as to separate them from each other, and when the first substrate and the second substrate approach each other, at least the first member so as to determine a minimum gap between the two substrates. A gap determining mechanism that contacts one substrate, and a wire that individually holds a portion from a base end of each of the conductive wires to the second substrate at an interval wider than an interval between the second through holes. This is an inspection jig for a printed wiring board provided with a receiving jig.

【0017】また、請求項2に対応する発明は、請求項
1に対応するプリント配線板の検査治具において、前記
第二基板としては、前記各導電性線材を固着するための
熱可塑性接着剤が塗布されたプリント配線板の検査治具
である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the inspection jig for a printed wiring board according to the first aspect, wherein the second substrate includes a thermoplastic adhesive for fixing the conductive wires. This is an inspection jig for a printed wiring board to which is applied.

【0018】さらに、請求項3に対応する発明は、請求
項1に対応するプリント配線板の検査治具において、前
記第一基板及び/又は前記第二基板としては、部分的に
補強部材が接合されてなるプリント配線板の検査治具で
ある。
According to a third aspect of the present invention, in the printed wiring board inspection jig according to the first aspect, a reinforcing member is partially bonded to the first substrate and / or the second substrate. This is an inspection jig for a printed wiring board.

【0019】また、請求項4に対応する発明は、請求項
1に対応する検査治具を用いたプリント配線板の検査装
置において、前記第一基板と前記第二基板との間の距離
が前記最小間隙であるとき、前記各導電性線材のうちの
複数の導電性線材に選択的に通電し、前記通電した各導
電性線材の間の通電状態を測定する通電状態測定手段
と、前記通電状態測定手段による測定結果と所定の検査
基準値とに基づいて、異常の有無を判定する異常判定手
段と、前記異常判定手段による判定結果を出力する判定
結果出力手段とを備えたプリント配線板の検査装置であ
る。
According to a fourth aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a printed wiring board using the inspection jig according to the first aspect, the distance between the first substrate and the second substrate is equal to or less than the distance. An energization state measuring means for selectively energizing a plurality of conductive wires among the conductive wires when the minimum gap is present, and measuring an energization state between the energized conductive wires; and Inspection of a printed wiring board, comprising: abnormality determination means for determining the presence or absence of an abnormality based on a measurement result by the measurement means and a predetermined inspection reference value; and a determination result output means for outputting a determination result by the abnormality determination means. Device.

【0020】さらに、請求項5に対応する発明は、請求
項4に対応するプリント配線板の検査装置において、前
記第二基板としては、前記各導電性線材を固着するため
の熱可塑性接着剤が塗布されたプリント配線板の検査装
置である。
According to a fifth aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a printed wiring board according to the fourth aspect, a thermoplastic adhesive for fixing the conductive wires is used as the second substrate. This is an inspection device for the printed wiring board to which the coating is applied.

【0021】また、請求項6に対応する発明は、請求項
4に対応するプリント配線板の検査装置において、前記
第一基板及び/又は前記第二基板としては、部分的に補
強部材が接合されてなるプリント配線板の検査装置であ
る。 (補足説明)次に、以上のような本発明について補足的
に説明する。
According to a sixth aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a printed wiring board according to the fourth aspect, a reinforcing member is partially joined as the first substrate and / or the second substrate. This is a printed wiring board inspection device. (Supplementary Explanation) Next, the present invention as described above will be supplementarily described.

【0022】第一基板は、第一貫通孔内で導電性線材が
可動状態にあるため、導電性線材の先端を確実に案内す
る観点から、ある程度の厚みと剛性を有することが望ま
しい。また、第一基板は、高精度に第一貫通孔を形成す
る観点から、高度な孔加工性を有することが要求され、
さらに、伸縮等を生じにくい高度な寸法安定性が要求さ
れる。
Since the conductive wire is movable in the first through hole, the first substrate desirably has a certain thickness and rigidity from the viewpoint of reliably guiding the tip of the conductive wire. In addition, the first substrate is required to have high hole workability from the viewpoint of forming the first through hole with high accuracy,
Furthermore, a high degree of dimensional stability that does not easily cause expansion and contraction is required.

【0023】またさらに、第一基板は、検査時に、プリ
ント配線板に接触し、プリント配線板に反り等がある場
合の矯正機能をもつため、高い平坦性が要求される。第
一基板の材料としては、ポリエーテル・エーテル・ケト
ン、ポリフィニレン・サルファイド、ポリイミド等のエ
ンジニアリングプラスチックやセラミック、サファイア
ガラス等が適用可能である。
Furthermore, the first substrate is required to have high flatness because it has a function of correcting the warpage of the printed wiring board when the first substrate comes into contact with the printed wiring board during inspection. As a material for the first substrate, engineering plastics such as polyether ether ketone, polyphenylene sulfide, and polyimide, ceramics, and sapphire glass can be used.

【0024】なお、第一基板は材料の厚さに比例して高
精度の孔あけ加工が困難となる。そのため、孔あけ加工
をする近傍だけ彫り込むことにより薄く加工したり、あ
るいは第一基板は補強部材を接合してなるものとしても
よい。すなわち、第一基板は、剛性を多少犠牲にして
も、高精度な孔あけが可能な材料と厚みのもので基板本
体を形成し、補強部材で剛性を補強するという構成とし
てもよく、この場合、剛性と、高精度孔あけという両方
の要求を満足できる。
It is to be noted that it is difficult to form a highly accurate hole in the first substrate in proportion to the thickness of the material. Therefore, it may be thinned by engraving only in the vicinity of the hole making process, or the first substrate may be formed by joining a reinforcing member. In other words, the first substrate may be configured so that the rigidity is reinforced with a reinforcing member by forming the substrate main body with a material and a thickness capable of highly accurate drilling, even if the rigidity is somewhat sacrificed. Satisfies both requirements of rigidity and high precision drilling.

【0025】補強部材としては、枠状のもの、第一基板
の基板本体より大径の貫通孔が形成された基板等が例示
可能である。なお、以上の第一基板に関する補足説明は
第二基板にも適用される。
Examples of the reinforcing member include a frame-like member, a substrate having a through hole having a diameter larger than that of the substrate body of the first substrate, and the like. In addition, the above supplementary description regarding the first substrate is also applied to the second substrate.

【0026】導電性線材は、被検査点の数に相当する本
数が用いられる。導電性線材の材質は適度な剛性を有す
ることが望ましく、また、検査誤差を低減させる観点か
ら、高い電気伝導度を有することが好ましい。具体的に
は、例えば高速度鋼が好適である。
The number of conductive wires corresponding to the number of points to be inspected is used. It is desirable that the material of the conductive wire has appropriate rigidity, and from the viewpoint of reducing inspection errors, it is preferable that the material has high electrical conductivity. Specifically, for example, high-speed steel is suitable.

【0027】また、隣接する導電性線材が互いに接触す
る可能性があるため、両端以外の部分にテフロンコート
等の絶縁処理を施すことが好ましい。本発明では導電性
線材の先端がプリント配線板に接触し、導電性線材が撓
んで復元しようとする力により、導電性線材とプリント
配線板との間に適切な押圧力を得るので、導電性線材の
剛性が非常に重要である。剛性が低いと、押圧力が不十
分となり、検査の際に接触抵抗値を増大させてしまう。
剛性が高いと、押圧力が過度となり、プリント配線板の
被検査点の表面を傷つかせることになる。
Further, since there is a possibility that adjacent conductive wires may come into contact with each other, it is preferable to perform insulation treatment such as Teflon coating on portions other than both ends. In the present invention, the leading end of the conductive wire comes into contact with the printed wiring board, and the conductive wire bends and attempts to recover, thereby obtaining an appropriate pressing force between the conductive wire and the printed wiring board. The rigidity of the wire is very important. When the rigidity is low, the pressing force becomes insufficient, and the contact resistance value increases during the inspection.
When the rigidity is high, the pressing force becomes excessive, and the surface of the printed wiring board at the point to be inspected is damaged.

【0028】第二基板は、第一基板に対向配置したと
き、第一基板における第一貫通孔に略同一となる位置に
第二貫通孔を有していればよい。理由は、第一基板の位
置と大きな位置の相違があると、第一基板と第二基板と
の間で、導電性線材が傾き、第一貫通孔と第二貫通孔と
の各々の側壁に導電性線材が強く押しつけられるからで
ある。すなわち、押圧された際に導電性線材が円滑に移
動せず、プリント配線板への押圧力が不適切となる問題
を回避するためである。
The second substrate only needs to have the second through hole at a position substantially identical to the first through hole in the first substrate when the second substrate is opposed to the first substrate. The reason is, if there is a large difference between the position of the first substrate and the large position, the conductive wire is inclined between the first substrate and the second substrate, and the side wall of each of the first through hole and the second through hole is formed. This is because the conductive wire is pressed strongly. That is, this is to avoid a problem that the conductive wire does not move smoothly when pressed, and the pressing force on the printed wiring board becomes inappropriate.

【0029】貫通孔の形成位置が、第一基板と第二基板
とで大きく異なると、上述のような問題があるが、プロ
ーブの動作に支障ない程度であれば、第一貫通孔と第二
貫通孔とで互いに形成位置を異ならせることは好まし
い。導電性線材は、高密度で配置されており、検査時に
は撓むが、撓む方向が不定であると、隣接する導電性線
材同士が接触する場合があり、動作に支障を生じる。
If the formation positions of the through holes are significantly different between the first substrate and the second substrate, the above-described problem occurs. However, as long as the operation of the probe is not hindered, the first through holes and the second It is preferable that the formation position is different from that of the through hole. The conductive wires are arranged at a high density and bend at the time of inspection. However, if the direction of bending is undefined, adjacent conductive wires may come into contact with each other, which hinders the operation.

【0030】よって、各導電性線材の撓む方向を揃える
場合、第一及び第二基板間で孔位置を異ならせることが
有効である。例えば第一基板、第二基板の略同一位置に
孔を形成し、第一基板をその中心を軸として若干回転さ
せた状態、あるいは第一基板全体をずらした状態、とい
った状態にすることが挙げられる。孔位置を異ならせる
量は、導電性線材の撓み量によって異なるが、大きくと
も2mm程度である。
Therefore, when aligning the bending directions of the conductive wires, it is effective to make the hole positions different between the first and second substrates. For example, a hole is formed at substantially the same position on the first substrate and the second substrate, and a state in which the first substrate is slightly rotated about the center thereof or a state in which the entire first substrate is shifted is mentioned. Can be The amount by which the hole positions are varied depends on the amount of deflection of the conductive wire, but is at most about 2 mm.

【0031】第二基板は、各導電性線材の撓みに対する
復元力で変形しない強度が要求される。詳しくは、プリ
ント配線板は、導電性線材の撓みに対する復元力に対応
して導電性線材先端から押圧力が加えられる。一方、こ
の押圧力は第二基板における導電性線材の固着部にも加
わる。具体的にはこの押圧力は、導電性線材の一本当り
で1〜10g程度であるが、数千本の導電性線材がある
ため、1〜10gの数千倍となって第二基板に加わる。
よって、第二基板はこの押圧力を受けても変形しない強
度を要する。
The second substrate is required to have such a strength that it is not deformed by a restoring force against the bending of each conductive wire. Specifically, a pressing force is applied to the printed wiring board from the end of the conductive wire corresponding to the restoring force against the bending of the conductive wire. On the other hand, this pressing force is also applied to the fixed portion of the conductive wire on the second substrate. Specifically, this pressing force is about 1 to 10 g per one conductive wire, but since there are several thousand conductive wires, it becomes several thousand times 1 to 10 g and becomes a second substrate. Join.
Therefore, the second substrate needs to have such strength that it does not deform even if it receives this pressing force.

【0032】弾性部材は、所望のストロークを容易に得
られ、繰り返しの検査にも耐えることが可能な点から、
バネが好ましい。間隙決定機構は、押圧した際の第一基
板と第二基板との最小間隙を決定する機能を有し、例え
ば、片端を自由端とした棒状部材や、棒状部材に通した
リング部材等が使用可能である。両基板間の最小間隙
は、導電性線材が第二基板に固着されるために、導電性
線材がプリント配線板を押す圧力を実質的に決定するの
で、重要である。間隙決定機構は、両基板間の最小間隙
を確実に決定すると共に、検査期間中、最小間隙を一定
とする必要がある。
The elastic member can easily obtain a desired stroke and can withstand repeated inspections.
Springs are preferred. The gap determining mechanism has a function of determining a minimum gap between the first substrate and the second substrate when pressed, for example, a rod-shaped member having one end as a free end, a ring member passed through the rod-shaped member, or the like is used. It is possible. The minimum gap between the two substrates is important because the conductive wire is fixed to the second substrate and thus substantially determines the pressure at which the conductive wire pushes the printed wiring board. The gap determining mechanism needs to reliably determine the minimum gap between the two substrates and to keep the minimum gap constant during the inspection period.

【0033】線材受容治具は、導電性線材の間隔を第二
基板に固着された間隔よりも拡大して保持し、検査装置
への配線を容易化するための治具である。例えば、各第
二貫通孔よりも広い間隔の各接続端子を有するコネク
タ、あるいは各第二貫通孔よりも広い間隔の各貫通孔を
有する基板が適用可能となっている。
The wire receiving jig is a jig for keeping the interval between the conductive wires larger than the interval fixed to the second substrate and facilitating wiring to the inspection device. For example, a connector having connection terminals wider than the second through holes or a board having through holes wider than the second through holes can be applied.

【0034】各導電性線材間の間隔の拡大により、検査
装置への配線の際に、他の導電性線材との短絡を阻止し
ている。また、各導電性線材間の間隔を十分に拡大可能
なため、各導電性線材と線材受容治具との間の接続に関
し、クリップ状の受容治具で挟持したり、受容治具でか
しめたり、はんだづけをしたり、という如き、種々の方
法が選択可能となる。
By increasing the distance between the conductive wires, a short circuit with another conductive wire is prevented when wiring to the inspection device. Also, since the distance between the conductive wires can be sufficiently enlarged, the connection between each conductive wire and the wire receiving jig may be clamped with a clip-shaped receiving jig or swaged with the receiving jig. Various methods such as soldering can be selected.

【0035】また、電気的に高信頼性をもつ接続方法が
選択可能なため、電気的に確実に接続可能である。同様
にして、線材受容治具と検査装置へのケーブルとの間の
接続も高い信頼性を得られる。
Further, since a connection method having high electrical reliability can be selected, it is possible to reliably connect electrically. Similarly, the connection between the wire receiving jig and the cable to the inspection device can be obtained with high reliability.

【0036】なお、各導電性線材は第二基板に固定され
るので、第二基板と線材受容治具との間で各導電性線材
相互の間隔を広げても、第一基板と第二基板との間の導
電性線材の状態には影響しない。
Since the conductive wires are fixed to the second substrate, even if the distance between the conductive wires between the second substrate and the wire receiving jig is increased, the first substrate and the second substrate are not fixed. It does not affect the state of the conductive wire between the two.

【0037】通電測定手段は、導電性線材に電気的に接
続され、各導電性線材間の抵抗値(電流値又は電圧(降
下)値等でもよい)を測定可能なように、二本の導電性
線材を選択するスイッチング手段を有する。このスイッ
チングを順次行ない、各プローブ間の抵抗値を測定す
る。
The conduction measuring means is electrically connected to the conductive wires, and measures the resistance (may be a current value or a voltage (drop) value) between the conductive wires so that the two conductive wires can be measured. A switching means for selecting a conductive wire. This switching is performed sequentially, and the resistance value between each probe is measured.

【0038】異常判定手段は、予め導通/絶縁を判定す
るための基準抵抗値が設定され、基準抵抗値と通電測定
手段による抵抗の測定値とを比較し、導通又は絶縁を判
定する。この場合、ある一つの抵抗値を記憶させてお
き、その抵抗値以上の測定値では「絶縁」、その抵抗値
を越えない測定値では「導通」とする判定方法がある。
しかしながら、プリント配線板の検査では、本来要求さ
れるプリント配線板の性能を確実に満足するか否かを確
認するために、次の方法が広く用いられる。
The abnormality judging means sets a reference resistance value for judging conduction / insulation in advance, compares the reference resistance value with a measured value of the resistance by the conduction measuring means, and judges conduction or insulation. In this case, there is a determination method in which a certain resistance value is stored, and a measurement value equal to or higher than the resistance value is set to “insulated”, and a measurement value not exceeding the resistance value is set to “continuity”.
However, in the inspection of a printed wiring board, the following method is widely used in order to confirm whether or not the originally required performance of the printed wiring board is satisfied.

【0039】すなわち、本来、プリント配線板の各被検
査点間は、導通状態又は絶縁状態に二値化されるため、
導通状態のときに例えばXΩ以下、絶縁状態のときに例
えばYΩ以上、というように全く異なる抵抗値を有して
いる。
That is, since the points to be inspected on the printed wiring board are originally binarized into a conductive state or an insulated state,
They have completely different resistance values, for example, XΩ or less when in a conductive state and YΩ or more in an insulated state.

【0040】このため、このXΩ、YΩという数値を予
め異常判定手段に記憶させ、測定結果がXΩとYΩとの
間にある場合にも不良と判定する方式が用いられる。こ
れにより、測定結果がXΩとYΩとの間にあるとき、導
通が不十分である導通不良状態か、絶縁が不十分である
絶縁不良状態として異常を検出できる。
For this reason, a method is used in which the numerical values of XΩ and YΩ are stored in advance in the abnormality judging means, and when the measurement result is between XΩ and YΩ, it is judged to be defective. Accordingly, when the measurement result is between XΩ and YΩ, an abnormality can be detected as a poor conduction state where conduction is insufficient or a poor insulation state where insulation is insufficient.

【0041】さらに、導通/絶縁を示す判定結果が正当
か否かを設計時の接続情報を用いて判定し、二重に異常
の有無が検査される。続いて、熱可塑性接着剤の利点を
説明する。
Furthermore, it is determined whether or not the determination result indicating the conduction / insulation is valid using the connection information at the time of design, and the presence or absence of an abnormality is double inspected. Subsequently, advantages of the thermoplastic adhesive will be described.

【0042】本発明は第二基板に導電性線材を固定する
ので、検査の繰り返しに起因して導電性線材の先端に曲
がりや摩耗が生じ、接触抵抗を上昇させる可能性があ
る。この場合、導電性線材の先端のカット又は適正な位
置への矯正といった修理をすればよい。ここで、予め第
二基板への導電性線材の固着に熱可塑性接着剤を用いる
ことにより、修理の際に、固着部に熱を加えるだけで容
易に導電性線材を開放できる利点を有する。
According to the present invention, since the conductive wire is fixed to the second substrate, the tip of the conductive wire may be bent or worn due to repetition of the inspection, and the contact resistance may be increased. In this case, repairs such as cutting the end of the conductive wire or correcting it to an appropriate position may be performed. Here, by using a thermoplastic adhesive to fix the conductive wire to the second substrate in advance, there is an advantage that the conductive wire can be easily opened only by applying heat to the fixing portion at the time of repair.

【0043】なお、熱可塑性接着剤は、熱の印加により
融解可能であるが、融解時における他への悪影響を阻止
する観点から、第二基板及び導電性線材(又は導電性線
材の被覆材料)の融点よりも低い融点を有することが好
ましい。また、周囲温度よりも高い融点を有することは
言うまでもない。具体的には熱可塑性接着剤は、融点が
約100℃〜120℃程度の範囲内にあるものが市販さ
れている。例えばホットメルト用の接着剤やEVA系の
接着剤が使用可能である。 (作用)従って、請求項1に対応する発明は以上のよう
な手段を講じたことにより、第一基板の第一貫通孔とプ
リント配線板の被検査点とを重ねるように第一基板がプ
リント配線板に接触した状態で第二基板がプリント配線
板側に押されると、第一基板と第二基板とが互いに接近
し、第一基板の各第一貫通孔内における各導電性線材の
先端がプリント配線板の被検査点に接近し、弾性部材が
縮み、各導電性線材の先端がプリント配線板の被検査点
に接触してからは、各導電性線材が第二基板とプリント
配線板との間で撓むに連れてプリント配線板の各被検査
点に押圧力を与えていき、両基板間が所定の最小間隙に
なると、間隙決定機構が両基板の少なくとも一方に接触
して両基板の接近を停止させ、各導電性線材が被検査点
に与える押圧力の増加を停止させて押圧力を適切化し、
検査可能な状態を形成するので、所望の各導電性線材間
に線材受容治具を介して通電することにより、高い配線
密度のプリント配線板の検査を高い信頼性で実現させる
ことができ、また、検査コストの上昇を阻止でき、低廉
に実現させることができる。
Although the thermoplastic adhesive can be melted by applying heat, the second substrate and the conductive wire (or the coating material of the conductive wire) are used from the viewpoint of preventing adverse effects on others at the time of melting. Has a melting point lower than the melting point. Needless to say, it has a melting point higher than the ambient temperature. Specifically, a thermoplastic adhesive having a melting point in the range of about 100 ° C. to 120 ° C. is commercially available. For example, an adhesive for hot melt or an EVA adhesive can be used. (Operation) Therefore, according to the invention corresponding to claim 1, the first substrate is printed such that the first through hole of the first substrate and the inspection point of the printed wiring board overlap with each other. When the second substrate is pushed toward the printed wiring board while in contact with the wiring board, the first substrate and the second substrate approach each other, and the leading end of each conductive wire in each first through hole of the first substrate. Approaching the point to be inspected on the printed wiring board, the elastic member shrinks, and the tip of each conductive wire comes into contact with the point to be inspected on the printed wiring board. A pressure is applied to each point to be inspected on the printed wiring board as it bends between the two substrates. When a predetermined minimum gap is formed between the two substrates, the gap determining mechanism contacts at least one of the two substrates and Stop the approach of the substrate and reduce the pressing force applied to the point to be inspected by each conductive wire. Pressurized stops properly the pressing force,
Since a testable state is formed, a test for a printed wiring board having a high wiring density can be realized with high reliability by applying a current between the respective conductive wires through a wire receiving jig. In addition, an increase in inspection cost can be prevented, and the cost can be reduced.

【0044】また、請求項2に対応する発明は、熱可塑
性接着剤により、各導電性線材を第二基板に固着したの
で、請求項1に対応する作用に加え、熱を与えることに
より、各導電性線材を容易に第二基板から開放できるの
で、各導電性線材が傷んだとしても、容易にかつ低コス
トで修理することができる。
According to a second aspect of the present invention, each conductive wire is fixed to the second substrate by a thermoplastic adhesive. Since the conductive wire can be easily released from the second substrate, even if each conductive wire is damaged, it can be repaired easily and at low cost.

【0045】さらに、請求項3に対応する発明は、第一
基板及び/又は第二基板としては部分的に補強部材が接
合されてなるので、請求項1に対応する作用に加え、補
強部材で基板本体の剛性を補強する構成にすることによ
り、基板本体をより高精度な孔あけ加工が可能な材料及
び厚さで形成でき、もって、より高密度な配線パターン
をもつプリント配線板を検査することができる。
According to a third aspect of the present invention, a reinforcing member is partially joined as the first substrate and / or the second substrate. By adopting a configuration that reinforces the rigidity of the substrate main body, the substrate main body can be formed of a material and a thickness that can be drilled with higher precision, and thus a printed wiring board having a higher density wiring pattern can be inspected. be able to.

【0046】また、請求項4に対応する発明は、請求項
1に対応する検査治具を用い、通電状態測定手段が、第
一基板と第二基板との間の距離が最小間隙であるとき、
各導電性線材のうちの複数の導電性線材に選択的に通電
し、通電した各導電性線材の間の通電状態を測定し、異
常判定手段が、通電状態測定手段による測定結果と所定
の検査基準値とに基づいて、異常の有無を判定し、判定
結果出力手段が、異常判定手段による判定結果を出力す
るので、請求項1に対応する作用に加え、異常検出した
ときの迅速な対応を期待することができる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the inspection jig according to the first aspect, wherein the energization state measuring means determines that the distance between the first substrate and the second substrate is a minimum gap. ,
A plurality of conductive wires of each conductive wire are selectively energized, the energized state between the energized conductive wires is measured, and the abnormality determination unit performs a predetermined test with a measurement result obtained by the energized state measurement unit. The presence / absence of an abnormality is determined based on the reference value, and the determination result output means outputs the determination result by the abnormality determination means. You can expect.

【0047】さらに、請求項5に対応する発明は、熱可
塑性接着剤により、各導電性線材を第二基板に固着した
ので、請求項4及び請求項2の双方に対応する作用を同
時に奏することができる。
Further, in the invention corresponding to claim 5, since each conductive wire is fixed to the second substrate by the thermoplastic adhesive, the functions corresponding to both claim 4 and claim 2 are simultaneously exhibited. Can be.

【0048】さらに、請求項6に対応する発明は、第一
基板及び/又は第二基板としては部分的に補強部材が接
合されてなるので、請求項4及び請求項3の双方に対応
する作用を同時に奏することができる。
Further, in the invention corresponding to claim 6, since the reinforcing member is partially joined as the first substrate and / or the second substrate, the operation corresponding to both claim 4 and claim 3 is achieved. Can be performed simultaneously.

【0049】[0049]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。 (第1の実施の形態)図1は本発明の第1の実施の形態
に係る検査治具の構成を示す模式図であり、図2はこの
検査治具の構成を示す外観図である。この検査治具は、
上下方向に沿って互いに対向配置された2つの検査ヘッ
ド20A,20Bからなり、両検査ヘッド20A,20
Bにて上下方向からプリント配線板21を挟むことによ
り、プリント配線板21の配線パターンを検査可能とす
る構成である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an inspection jig according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an external view showing a configuration of the inspection jig. This inspection jig
It consists of two inspection heads 20A and 20B that are arranged facing each other along the vertical direction.
By sandwiching the printed wiring board 21 from above and below at B, the wiring pattern of the printed wiring board 21 can be inspected.

【0050】なお、各検査ヘッド20A,20Bは互い
に同一構成であるため、下方の検査ヘッドにAの添字を
付すと共に、上方の検査ヘッドにBの添字を付し、両検
査ヘッド20A,20Bの構成を下方の検査ヘッド20
Aに代表させて説明する。
Since each of the inspection heads 20A and 20B has the same structure, the lower inspection head is given the suffix “A” and the upper inspection head is given the suffix “B”. Inspection head 20 with lower configuration
A will be described as a representative.

【0051】図2に示すように、この検査ヘッド20A
は、八角形状の底板22A、4つのスタンド板23A、
複数の導電性線材24A、コネクタ25A、第二補強部
材26A、第二絶縁基板27A、第一補強部材28A、
第一絶縁基板29A、外周側シャフト30A、内周側シ
ャフト31A、リング部材32A、バネ部材33Aを備
えている。
As shown in FIG. 2, this inspection head 20A
Is an octagonal bottom plate 22A, four stand plates 23A,
A plurality of conductive wires 24A, a connector 25A, a second reinforcing member 26A, a second insulating substrate 27A, a first reinforcing member 28A,
It includes a first insulating substrate 29A, an outer shaft 30A, an inner shaft 31A, a ring member 32A, and a spring member 33A.

【0052】底板22Aは、4つの長辺と4つの短辺と
からなる八角形状を有し、長辺と短辺とを交互に有する
ように形成されている。各スタンド板23Aは、夫々上
部及び下部の幅に比べて中央部に狭い幅を有するよう
に、90度回転させた略H字形状に形成され、夫々底板
22A上にその長辺に沿って立設されている。なお、ス
タンド板23Aには、各導電性線材24Aの夫々の導電
性線材24Aの基端を個別に固定する線材受容治具とし
てのコネクタ25Aが取付けられている。
The bottom plate 22A has an octagonal shape composed of four long sides and four short sides, and is formed so as to have long sides and short sides alternately. Each stand plate 23A is formed in a substantially H-shape rotated by 90 degrees so as to have a narrower width at the center portion than the upper and lower widths, and stands on the bottom plate 22A along its long side. Has been established. A connector 25A as a wire receiving jig for individually fixing the base end of each conductive wire 24A of each conductive wire 24A is attached to the stand plate 23A.

【0053】また、各導電性線材24Aは、例えば長さ
約20cmでかつ0.1mm径の高速度鋼が用いられ、
酸化防止の観点からニッケルめっきを下地めっきとして
ロジウムめっきが施されている。さらに各導電性線材2
4Aは、両端の約5mmづつ以外はテフロンで被覆され
ている。また、本実施の形態では導電性線材24Aを5
本とし、第一及び第二絶縁基板29A,27Aの透孔も
夫々5つとしているが、実際には数千本の導電性線材2
4Aが使用されると共に、数千個の透孔が形成される。
Each conductive wire 24A is made of, for example, high-speed steel having a length of about 20 cm and a diameter of 0.1 mm.
Rhodium plating is performed using nickel plating as a base plating from the viewpoint of preventing oxidation. Further, each conductive wire 2
4A is covered with Teflon except for about 5 mm at each end. In this embodiment, the conductive wire 24A is 5
Although each of the first and second insulating substrates 29A and 27A has five through holes, thousands of conductive wires 2 are actually used.
4A is used and thousands of through holes are formed.

【0054】またさらに、導電性線材24Aは、検査の
ためのプローブ機能と、プローブ領域からコネクタ25
Aまでの間で電気信号を伝送するためのワイヤ機能とが
連続的に一本化されている。プローブ機能は、導電性線
材24Aのうち、先端(第一絶縁基板29A内)と第二
絶縁基板27Aとの間の領域に相当し、ワイヤ機能は、
導電性線材24Aのうち、第二絶縁基板27Aとコネク
タ25Aとの間の領域に相当する。よって、以下の明細
書中では、導電性線材24Aのうち、先端から第二絶縁
基板27Aまでの間をプローブ34Aとも称する。
Further, the conductive wire 24A has a probe function for inspection and a connector 25 from the probe area.
A and a wire function for transmitting an electric signal until A are continuously unified. The probe function corresponds to a region between the tip (inside the first insulating substrate 29A) and the second insulating substrate 27A in the conductive wire 24A, and the wire function is:
In the conductive wire 24A, it corresponds to a region between the second insulating substrate 27A and the connector 25A. Therefore, in the following description, the portion between the tip and the second insulating substrate 27A of the conductive wire 24A is also referred to as a probe 34A.

【0055】コネクタ25Aは、スタンド板23Aを貫
通するようにスタンド板23Aに取付けられ、内面側で
は、例えば各導電性線材24Aの基端が1.27mmの
間隔にてハンダづけで固定されている。また、コネクタ
25Aの外面側は、内面側に固定された各導電性線材2
4Aに電気的に導通し、かつ検査装置へのケーブルを着
脱自在に保持する通常の多ピン部を有している。
The connector 25A is attached to the stand plate 23A so as to penetrate the stand plate 23A. On the inner surface side, for example, the base ends of the conductive wires 24A are fixed by soldering at an interval of 1.27 mm. . The outer surface of the connector 25A is connected to each conductive wire 2 fixed to the inner surface.
It has a normal multi-pin portion that electrically connects to the 4A and that detachably holds a cable to the inspection device.

【0056】第二補強部材26Aは、4つの長辺からな
る四角形の枠形状を有し、各長辺の下部が夫々スタンド
板23Aの上部に取付けられている。また、第二補強部
材26Aの材料としては、軽量、高強度、加工の容易性
及び低費用等の観点から、例えばアルミニウムが好まし
い。
The second reinforcing member 26A has a rectangular frame shape having four long sides, and the lower part of each long side is attached to the upper part of the stand plate 23A. The material of the second reinforcing member 26A is preferably, for example, aluminum from the viewpoint of light weight, high strength, ease of processing, low cost, and the like.

【0057】第二絶縁基板27Aは、2.5mm厚の樹
脂基板が四角形状に形成され、中央部に導電性線材24
Aを通して熱可塑性接着剤35Aで固定するための0.
15mm径の5つの透孔36Aが形成されてなり、第二
補強部材26A上に固着されている。
As the second insulating substrate 27A, a resin substrate having a thickness of 2.5 mm is formed in a square shape, and the conductive wire 24
A for fixing with thermoplastic adhesive 35A through A.
Five through holes 36A having a diameter of 15 mm are formed and fixed on the second reinforcing member 26A.

【0058】また、これら第二絶縁基板27A及び第二
補強部材26Aは、四隅に対角線に沿って夫々2つずつ
透孔37Aが形成されている。一方、第一補強部材28
Aは、同様にアルミニウム製で四角形の枠形状を有し、
上部に第一絶縁基板29Aが固着されている。
The second insulating substrate 27A and the second reinforcing member 26A are each formed with two through holes 37A at four corners along a diagonal line. On the other hand, the first reinforcing member 28
A is also made of aluminum and has a square frame shape,
The first insulating substrate 29A is fixed on the upper part.

【0059】第一絶縁基板29Aは、2.5mm厚の樹
脂基板が四角形状に形成され、中央部に導電性線材24
Aにおけるプローブ34Aの先端を出入自在に案内する
0.11mm径の5つの透孔38Aが形成されている。
すなわち、各導電性線材24Aは、第二絶縁基板27A
には熱可塑性接着剤35Aで固定されるが、第一絶縁基
板29Aには固定されない。
As the first insulating substrate 29A, a resin substrate having a thickness of 2.5 mm is formed in a square shape, and the conductive wire 24
5A, five through holes 38A having a diameter of 0.11 mm for guiding the tip of the probe 34A in and out freely.
That is, each conductive wire 24A is formed on the second insulating substrate 27A.
Is fixed with a thermoplastic adhesive 35A, but is not fixed to the first insulating substrate 29A.

【0060】また、第一補強部材28Aの四隅の下部に
は対角線に沿って夫々2本のシャフト30A,31Aが
立設されている。各シャフト30A,31Aの下端は、
前述した第二絶縁基板27A及び第二補強部材26Aの
四隅にある各透孔37Aに上部から遊挿されている。
Further, two shafts 30A and 31A are erected along the diagonal lines below four corners of the first reinforcing member 28A. The lower end of each shaft 30A, 31A is
The through holes 37A at the four corners of the second insulating substrate 27A and the second reinforcing member 26A are loosely inserted from above.

【0061】ここで、外周側シャフト30Aは、第二絶
縁基板27Aと第一補強部材28Aとの間の最小の間隙
を決定するため、各透孔37Aよりも大径でかつ高さを
最小の間隙に一致させてなるステンレス製のリング部材
32Aが通され、さらにリング部材32Aの外側には、
第二絶縁基板27Aと第一補強部材28Aとを離間させ
るようにバネ部材33Aが通されている。なお、リング
部材32Aは、最小間隙を微調整可能とする観点から、
複数のリングを用いて構成することが好ましい。また、
複数のリングを用いる場合、各リングの高さは、例えば
粗調整用や微調整用などの機能に従い、互いに異なって
もよい。
Here, in order to determine the minimum gap between the second insulating substrate 27A and the first reinforcing member 28A, the outer peripheral side shaft 30A has a larger diameter and a minimum height than each through hole 37A. A stainless steel ring member 32A that matches the gap is passed through, and further outside the ring member 32A,
A spring member 33A is passed so as to separate the second insulating substrate 27A from the first reinforcing member 28A. In addition, the ring member 32A is provided from the viewpoint that the minimum gap can be finely adjusted.
It is preferable to use a plurality of rings. Also,
When a plurality of rings are used, the heights of the rings may be different from each other, for example, according to functions for coarse adjustment and fine adjustment.

【0062】また、内周側シャフト31Aは、このバネ
部材33Aによる離間の限界点を設けるため、内周側の
透孔37Aに遊挿された後、透孔37Aから突出した下
端部に透孔37Aよりも大径の頭部39Aが取付けられ
ている。なお、離間の限界点は、第二絶縁基板27Aと
第一補強部材28Aとの間の最大の間隙に対応してい
る。
Further, the inner peripheral shaft 31A is provided with a limit point for separation by the spring member 33A. Therefore, after being loosely inserted into the inner peripheral through hole 37A, a lower end protruding from the through hole 37A has a through hole. A head 39A larger in diameter than 37A is attached. Note that the separation point corresponds to the maximum gap between the second insulating substrate 27A and the first reinforcing member 28A.

【0063】また、第二絶縁基板27Aと第一絶縁基板
29Aとの間は、最大の間隙と最小の間隙との差(スト
ロークギャップ)が1mmになるように調整されてい
る。すなわち、第一補強部材28Aの下部とリング部材
32Aの上部との距離が1mmとなるように、リング部
材32Aの高さが調整されている。また、プローブ34
A先端は、非検査時(最大間隙時)に第一絶縁基板29
Aの表面と略同一平面となっており、検査時(最小間隙
時)にはプリント配線板21に接して約1mm分だけ撓
むと共に、この撓み量に対応してプリント配線板21を
付勢することになる。但し、これらストロークギャップ
やプローブ34A,34B等に関する数値は一例であ
り、種々変形可能なことは言うまでもない。
The difference between the maximum gap and the minimum gap (stroke gap) between the second insulating substrate 27A and the first insulating substrate 29A is adjusted to 1 mm. That is, the height of the ring member 32A is adjusted so that the distance between the lower part of the first reinforcing member 28A and the upper part of the ring member 32A is 1 mm. In addition, the probe 34
A tip is the first insulating substrate 29 at the time of non-inspection (at the time of the maximum gap).
A is substantially flush with the surface of A, and at the time of inspection (at the time of the minimum gap), it bends by about 1 mm in contact with the printed wiring board 21 and urges the printed wiring board 21 in accordance with the amount of bending. Will do. However, the numerical values relating to the stroke gap and the probes 34A and 34B are merely examples, and it goes without saying that various modifications can be made.

【0064】以上のような検査治具は、図3に示すよう
に、コネクタ25Aに接続されたケーブル40を介して
検査装置に接続されている。この検査装置は、平圧部4
1、切替器42、電源S、検流計G、入力部43、動作
制御部44、メモリ45、比較判定部46及び出力表示
部47を備えている。
The inspection jig as described above is connected to the inspection device via a cable 40 connected to the connector 25A, as shown in FIG. This inspection device has a flat pressure unit 4
1, a switch 42, a power supply S, a galvanometer G, an input unit 43, an operation control unit 44, a memory 45, a comparison determination unit 46, and an output display unit 47.

【0065】平圧部41は、上側にプレス板48、下側
に定盤49を備え、プレス板48又は定盤が油圧もしく
は空気圧シリンダの作動ロッドに取付けられて、油圧も
しくは空気圧により、相対的に上下方向に移動して、互
いに押圧動作するものである。なお、上側のプレス板4
8には検査ヘッド20Bが取付けられ、下側の定盤49
には検査ヘッド20Aが取付けられており、平圧部41
の押圧動作により、検査ヘッド20A上のプリント配線
板21を両検査ヘッド20A,20Bにて挟み込む構成
となっている。
The flat pressure section 41 has a press plate 48 on the upper side and a platen 49 on the lower side. The press plate 48 or the platen is attached to an operating rod of a hydraulic or pneumatic cylinder, and is relatively moved by hydraulic or pneumatic pressure. In the vertical direction and press each other. The upper press plate 4
8 has an inspection head 20B attached thereto, and a lower surface plate 49.
The inspection head 20A is attached to the
, The printed wiring board 21 on the inspection head 20A is sandwiched between the inspection heads 20A and 20B.

【0066】切替器42は、例えばマルチプレクサが適
用可能であり、動作制御部44の制御に従って入力端子
と出力端子との接続を切替可能なものであって、検査治
具のコネクタ25A,25Bに接続されたケーブル40
内の配線が個別に10個の出力端子に接続されている。
また切替器42は、2個の入力端子の一方が電源Sの正
極端子及び検流計Gの正極端子に接続され、他方の入力
端子が電源Sの負極端子及び検流計Gの負極端子に接続
されている。
The switch 42 can be, for example, a multiplexer, and can switch the connection between the input terminal and the output terminal under the control of the operation control unit 44, and is connected to the connectors 25A and 25B of the inspection jig. Cable 40
Are individually connected to the ten output terminals.
The switch 42 has one of two input terminals connected to the positive terminal of the power source S and the positive terminal of the galvanometer G, and the other input terminal connected to the negative terminal of the power source S and the negative terminal of the galvanometer G. It is connected.

【0067】入力部43は、操作者の入力操作により、
動作制御部44を制御する機能を有し、例えば、制御信
号入力用スイッチ、ダイヤル、ボタンなど、又はキーボ
ード及びこれらの組合せが使用可能となっている。
The input unit 43 is operated by an input operation of the operator.
It has a function of controlling the operation control unit 44. For example, a control signal input switch, dial, button, or the like, or a keyboard and a combination thereof can be used.

【0068】動作制御部44は、入力部43の制御によ
り、電源Sのオン/オフを制御する機能と、メモリ45
内の接続情報に基づいて、切替器42内の接続状態を制
御すると共に、比較判定部46の比較判定の開始を制御
する機能と、比較判定部46から受ける判定信号を出力
表示部47に与える機能とをもっている。
The operation control section 44 has a function of controlling on / off of the power supply S under the control of the input section 43 and a memory 45.
The function of controlling the connection state in the switch 42 based on the connection information in the switch and the function of controlling the start of the comparison judgment of the comparison judgment section 46 and the judgment signal received from the comparison judgment section 46 are given to the output display section 47. It has a function.

【0069】メモリ45は、比較判定部46及び動作制
御部44から読出/書込可能であり、プリント配線板2
1の設計時の配線パターンにおける各ランド間の導通又
は絶縁を示す接続情報と、測定結果に関して導通又は絶
縁の別を判定するための検査基準値とが記憶されてい
る。なお、検査基準値としては、例えば電流値、抵抗値
又は電圧降下量が使用可能である。但し、ここでは検査
基準値として、導通判定抵抗値Rlo及び絶縁判定抵抗値
Rhiを用いる。
The memory 45 is readable / writable from the comparison / determination unit 46 and the operation control unit 44, and
The connection information indicating the continuity or insulation between the lands in the wiring pattern at the time of design 1 and the inspection reference value for judging the continuity or insulation with respect to the measurement result are stored. As the inspection reference value, for example, a current value, a resistance value, or a voltage drop amount can be used. However, here, the conduction determination resistance value Rlo and the insulation determination resistance value Rhi are used as the inspection reference values.

【0070】比較判定部46は、検流計Gにより測定さ
れた測定値と、メモリ45内の検査基準値とを比較して
異常の有無を判定するものである。具体的には比較判定
部46は、動作制御部44の制御により、メモリ45内
の検査基準値を参照して、測定値の示す状態を導通/絶
縁、導通不良/絶縁不良のいずれかに判定する機能と、
この判定結果及びメモリ45内の接続情報に基づいて、
異常の有無を示す判定信号を動作制御部44を介して出
力表示部47に与える機能をもっている。
The comparing / determining section 46 compares the measured value measured by the galvanometer G with the inspection reference value in the memory 45 to determine the presence or absence of an abnormality. Specifically, under the control of the operation control unit 44, the comparison determination unit 46 refers to the inspection reference value in the memory 45 and determines the state indicated by the measured value as one of conduction / insulation, conduction failure / insulation failure. Function and
Based on this determination result and the connection information in the memory 45,
It has a function of giving a determination signal indicating the presence or absence of an abnormality to the output display unit 47 via the operation control unit 44.

【0071】出力表示部47は、比較判定部46から動
作制御部45を介して与えられる判定信号に基づいて、
異常の有無を出力/表示するためのものであり、例え
ば、ブザー並びにランプなどの警報機器、CRTディス
プレイなどの画像表示機器又はプリンタ等が使用可能と
なっている。
The output display section 47 receives a determination signal given from the comparison / determination section 46 via the operation control section 45,
This is for outputting / displaying the presence / absence of an abnormality. For example, an alarm device such as a buzzer and a lamp, an image display device such as a CRT display, a printer, and the like can be used.

【0072】次に、以上のように構成された検査装置の
動作を説明する。なお、説明の便宜上、符号A,Bを並
列に記載するが、符号Aの要素は他の符号Aの要素に対
して作用し、符号Bの要素は他の符号Bの要素に対して
作用することは言うまでもない。 (検査対象の設置)いま、下方の検査ヘッド20Aにお
いては、検査対象のプリント配線板21が下側の配線パ
ターン内の各ランドと各透孔38Aとを重ねるように第
一絶縁基板29A上に戴置される。ここで、両検査ヘッ
ド20A,20Bは、第二絶縁基板27A,27Bと第
一補強部材28A,28Bとの間隙が最大値となってお
り、各プローブ34A,34Bの先端は、図4に示すよ
うに、第一絶縁基板29A,29Bの各透孔38A,3
8B内にて第一絶縁基板29A,29B表面と略同一平
面になっている。また、各リング部材32A,32B
は、上方の第一補強部材28Aや第二絶縁基板27Bか
ら1mm離れている。
Next, the operation of the inspection apparatus configured as described above will be described. Note that, for convenience of description, reference numerals A and B are described in parallel, but an element of reference A acts on another element of reference A, and an element of reference B acts on another element of reference B. Needless to say. (Installation of Inspection Object) Now, in the lower inspection head 20A, the printed wiring board 21 to be inspected is placed on the first insulating substrate 29A such that each land in the lower wiring pattern and each through hole 38A overlap. Will be laid. Here, in each of the inspection heads 20A and 20B, the gap between the second insulating substrates 27A and 27B and the first reinforcing members 28A and 28B has a maximum value, and the tips of the probes 34A and 34B are shown in FIG. Thus, the through holes 38A, 3A of the first insulating substrates 29A, 29B
Within 8B, it is substantially flush with the surfaces of the first insulating substrates 29A and 29B. In addition, each ring member 32A, 32B
Is 1 mm away from the upper first reinforcing member 28A and the upper second insulating substrate 27B.

【0073】続いて、平圧部41の押圧動作により、図
5に示すように、上方の検査ヘッド20Bは下降して第
一絶縁基板29Bがプリント配線板21上に接触する。
ここで、前述同様に検査ヘッド20Bの各透孔38Bと
プリント配線板21の上側の各ランドとは互いに重な
る。
Subsequently, due to the pressing operation of the flat pressure portion 41, the upper inspection head 20B descends and the first insulating substrate 29B comes into contact with the printed wiring board 21, as shown in FIG.
Here, the through holes 38B of the inspection head 20B and the lands on the upper side of the printed wiring board 21 overlap each other as described above.

【0074】さらに検査ヘッド20Bが下降すると、プ
リント配線板21に反りや歪み等がある場合には反り等
が平坦に矯正され、両検査ヘッド20A,20B間にプ
リント配線板21が密着して挟まれる。
When the inspection head 20B further descends, if the printed wiring board 21 has warpage or distortion, the warp or the like is corrected to be flat, and the printed wiring board 21 is tightly sandwiched between the inspection heads 20A and 20B. It is.

【0075】またさらに、検査ヘッド20Bが下降する
と、両検査ヘッド20A,20Bの各バネ部材33A,
33Bが縮むに連れて、第一補強部材28A,28Bと
第二絶縁基板27A,27Bとの間隙が小さくなると共
に、各プローブ34A,34B先端が第一絶縁基板29
A,29B表面に徐々に近づく。各バネ部材33A,3
3Bが若干縮むと、図6に示すように、各プローブ34
A,34B先端が第一絶縁基板29A,29B表面に到
達してプリント配線板21の各ランドに接触する。
Further, when the inspection head 20B descends, each spring member 33A,
As 33B shrinks, the gap between the first reinforcing members 28A, 28B and the second insulating substrates 27A, 27B becomes smaller, and the tips of the probes 34A, 34B are attached to the first insulating substrate 29.
A, 29B gradually approaches the surface. Each spring member 33A, 3
When 3B shrinks slightly, as shown in FIG.
The tips of A and 34B reach the surfaces of the first insulating substrates 29A and 29B and come into contact with the lands of the printed wiring board 21.

【0076】このため、さらに検査ヘッド20Bが下降
すると、図7に示すように、プローブ34A,34B
は、第二絶縁基板27A,27Bとプリント配線板21
との間で撓んでいき、撓み量に対応してプリント配線板
21を付勢する。すなわち、各プローブ34A先端がプ
リント配線板21の各ランドに押圧的に接触する。
When the inspection head 20B further descends, as shown in FIG. 7, the probes 34A and 34B
Are the second insulating substrates 27A and 27B and the printed wiring board 21.
, And urges the printed wiring board 21 in accordance with the amount of bending. That is, the tip of each probe 34 </ b> A presses and contacts each land of the printed wiring board 21.

【0077】またさらに、検査ヘッド20Bの下降が進
んで、図8に示すように、各バネ部材33A,33Bの
縮みが各リング部材32A,32Bにより阻止される
と、第二絶縁基板27A,27Bと第一補強部材28
A,28Bとの間隙が最小値となり、平圧部41の押圧
動作が終了する。これにより、プリント配線板21は検
査可能な状態となる。
Further, as the inspection head 20B descends and the spring members 33A and 33B are prevented from contracting by the ring members 32A and 32B, as shown in FIG. 8, the second insulating substrates 27A and 27B. And the first reinforcing member 28
The gap between A and 28B becomes the minimum value, and the pressing operation of the flat pressure portion 41 ends. As a result, the printed wiring board 21 is ready for inspection.

【0078】なお、この検査可能な状態は、各バネ部材
33A,33Bが1mm縮んだときに相当する。また、
プローブ34A,34B先端が各ランドに接触した後の
約1mm分はプローブ34A,34Bの撓み量又は押圧
力に対応している。すなわち、検査は同一の押圧条件で
実行される。 (検査)入力部43は、操作者の入力操作により、動作
制御部44を制御する。
Note that this testable state corresponds to a time when each of the spring members 33A and 33B is contracted by 1 mm. Also,
About 1 mm after the tips of the probes 34A and 34B come into contact with the lands correspond to the amount of bending or the pressing force of the probes 34A and 34B. That is, the inspection is performed under the same pressing condition. The (inspection) input unit 43 controls the operation control unit 44 by an input operation of the operator.

【0079】動作制御部44は、入力部43の制御によ
り、電源Sをオンさせ、メモリ45内の接続情報に基づ
いて、切替器42における入力端子と出力端子との接続
状態を制御することにより、各プローブ34A,34B
を介して所定の各ランド間に電圧を印加させる。しかる
後、動作制御部44は比較判定部46に比較判定を開始
させる。
The operation control section 44 turns on the power supply S under the control of the input section 43, and controls the connection state between the input terminal and the output terminal of the switch 42 based on the connection information in the memory 45. , Each probe 34A, 34B
A voltage is applied between predetermined lands via. Thereafter, the operation control unit 44 causes the comparison determination unit 46 to start the comparison determination.

【0080】比較判定部46は、メモリ45の検査基準
値を参照して、検流計Gの測定値の示す状態を導通/絶
縁、導通不良/絶縁不良のいずれかに判定する。例えば
検流計Gにより測定された電流値から抵抗値R1を求
め、その抵抗値R1と、メモリ45内の導通判定抵抗値
Rlo、絶縁判定抵抗値Rhiとを比較する。
The comparison / determination section 46 refers to the inspection reference value in the memory 45 and determines the state indicated by the measured value of the galvanometer G as conduction / insulation or conduction failure / insulation failure. For example, the resistance value R1 is obtained from the current value measured by the galvanometer G, and the resistance value R1 is compared with the conduction determination resistance value Rlo and the insulation determination resistance value Rhi in the memory 45.

【0081】ここでR1≦Rloのとき、現在測定中の各
ランド間を導通状態と判定する。Rlo<R1<Rhiのと
き、各ランド間を導通不良状態又は絶縁不良状態と判定
する。
Here, when R1 ≦ Rlo, it is determined that the lands being measured are in a conductive state. When Rlo <R1 <Rhi, it is determined that the continuity between the lands is poor or the insulation is poor.

【0082】Rhi≦R1のとき、各ランド間を絶縁状態
と判定する。また、比較判定部46は、この判定結果及
びメモリ45内の接続情報に基づいて、異常の有無を示
す判定信号を作成し、この判定信号を動作制御部44を
介して出力表示部47に送出する。
When Rhi ≦ R1, it is determined that each land is in an insulated state. The comparison / determination unit 46 creates a determination signal indicating the presence or absence of an abnormality based on the determination result and the connection information in the memory 45, and sends the determination signal to the output display unit 47 via the operation control unit 44. I do.

【0083】具体的には、この判定結果と、メモリ45
内の設計時の接続情報とが一致するとき、異常無を示す
判定信号が送出される。一方、判定結果と、メモリ45
内の設計時の接続情報とが不一致であるとき、異常有を
示す判定信号が送出される。なお、判定信号には、導通
不良状態や絶縁状態等の如き、異常の程度を示す情報を
付加してもよい。
More specifically, the determination result is stored in the memory 45
When the connection information at the time of design matches, a determination signal indicating that there is no abnormality is transmitted. On the other hand, the judgment result and the memory 45
When the connection information does not match the connection information at the time of design, a determination signal indicating that there is an abnormality is transmitted. Note that information indicating the degree of abnormality, such as a conduction failure state or an insulation state, may be added to the determination signal.

【0084】出力表示部47は、この判定信号に基づい
て、異常の有無を出力/表示する。上述したように第1
の実施の形態によれば、第一絶縁基板29A,29Bの
透孔38A,38Bとプリント配線板21の被検査点と
を重ねるように第一絶縁基板29A,29Bがプリント
配線板21に接触した状態で第二絶縁基板27A,27
Bがプリント配線板21側に押されると、第一絶縁基板
29A,29Bと第二絶縁基板27A,27Bとが互い
に接近し、第一絶縁基板29A,29Bの各透孔38
A,38B内における各プローブ34A,34Bの先端
がプリント配線板21の被検査点に接近し、バネ部材3
3A,33Bが縮み、各プローブ34A,34Bの先端
がプリント配線板21の被検査点に接触してからは、各
プローブ34A,34Bが第二絶縁基板27A,27B
とプリント配線板21との間で撓むに連れてプリント配
線板21の各被検査点に押圧力を与えていき、第一及び
第二絶縁基板29A,27A間と29B,27B間が所
定の最小間隙になると、リング部材33A,33Bが接
触して両基板29A,27Aの接近と両基板の29B,
27Bの接近を停止させ、各プローブ34A,34Bが
被検査点に与える押圧力の増加を停止させて押圧力を適
切化し、検査可能な状態を形成するので、所望の各導電
性線材24A,24B間にコネクタ25A,25Bを介
して通電することにより、高い配線密度のプリント配線
板の検査を高い信頼性で実現させることができる。
The output display section 47 outputs / displays the presence or absence of an abnormality based on the determination signal. As mentioned above, the first
According to the embodiment, the first insulating boards 29A and 29B contact the printed wiring board 21 so that the through holes 38A and 38B of the first insulating boards 29A and 29B overlap the inspection points of the printed wiring board 21. In the state, the second insulating substrates 27A, 27
When B is pushed toward the printed wiring board 21, the first insulating substrates 29A and 29B and the second insulating substrates 27A and 27B approach each other, and the through holes 38 of the first insulating substrates 29A and 29B.
A, the tip of each probe 34A, 34B in 38B approaches the inspection point of the printed wiring board 21, and the spring member 3
After the ends of the probes 34A and 34B have contracted and the tips of the probes 34A and 34B have come into contact with the points to be inspected on the printed wiring board 21, the probes 34A and 34B are connected to the second insulating substrates 27A and 27B.
Pressing force is applied to each point to be inspected on the printed wiring board 21 as it bends between the first and second insulating boards 29A, 27A and between the first and second insulating boards 29B, 27B. When the minimum gap is reached, the ring members 33A and 33B come into contact with each other and approach the two substrates 29A and 27A, as well as the two substrates 29B and 29B.
Since the approach of the probe 27B is stopped and the increase of the pressing force applied to the point to be inspected by each of the probes 34A and 34B is stopped, the pressing force is optimized and the inspection can be performed, so that the desired conductive wires 24A and 24B can be formed. By energizing through the connectors 25A and 25B in between, the inspection of the printed wiring board with high wiring density can be realized with high reliability.

【0085】また、プローブ機能とワイヤ機能(配線)
とを連続的に一本化させてなる導電性線材24A,24
Bを用いた構成としたことにより、プローブ34A,3
4Bとワイヤとの接続スペースを特に設ける必要がない
ため、高密度な配線パターンにも容易に対応でき、例え
ば従来不十分な信頼性であった250μm以下の間隔の
被検査点であっても、高い信頼性で検査することができ
る。
The probe function and the wire function (wiring)
And conductive wires 24A, 24
B, the probe 34A, 3
Since it is not necessary to provide a connection space between the 4B and the wire, it is possible to easily cope with a high-density wiring pattern. Inspection can be performed with high reliability.

【0086】また、従来とは異なり位置変換基板を用い
ないため、検査コストの上昇を阻止でき、低廉に実現さ
せることができる。また、プローブ34A,34Bから
検査装置まで接続点が少なく、例えばプローブ領域とワ
イヤ領域とは1本の導電性線材24A,24Bにて連続
的に実現されており、導電性線材24A,24Bとコネ
クタ25A,25B、及びコネクタ25A,25Bと検
査装置へのケーブル40との接続は夫々高い確実性を有
するため、従来とは異なり検査に誤差が入りにくく、検
査の信頼性を向上させることができる。
Further, unlike the related art, since no position conversion board is used, an increase in inspection cost can be prevented, and the cost can be reduced. Further, the number of connection points from the probes 34A and 34B to the inspection device is small. For example, the probe area and the wire area are continuously realized by one conductive wire 24A and 24B, and the conductive wires 24A and 24B and the connector are connected. Since the connections between the cables 25A and 25B and the connectors 25A and 25B and the cable 40 to the inspection device have high reliability, unlike the conventional case, errors are less likely to occur in the inspection, and the reliability of the inspection can be improved.

【0087】さらに、熱可塑性接着剤35A,35Bに
より、各導電性線材24A,24Bを第二絶縁基板27
A,27Bに固着したので、熱を与えることにより、所
望の導電性線材24A,24Bを容易に第二絶縁基板2
7A,27Bから開放できるため、各導電性線材24
A,24Bが傷んだとしても、容易にかつ低コストで修
理することができる。
Further, the conductive wires 24A, 24B are connected to the second insulating substrate 27 by the thermoplastic adhesives 35A, 35B.
A and 27B, the desired conductive wires 24A and 24B can be easily applied to the second insulating substrate 2 by applying heat.
7A and 27B, each conductive wire 24
Even if A and 24B are damaged, it can be easily and inexpensively repaired.

【0088】また、底板22A,22Bが八角形状であ
るので、各シャフト30A,31A,30B,31Bを
抜き易く、もって、リング部材32A,32Bの交換等
による最小間隙の値の変更が容易となっている。
Further, since the bottom plates 22A and 22B are octagonal, the shafts 30A, 31A, 30B and 31B can be easily pulled out, so that the value of the minimum gap can be easily changed by replacing the ring members 32A and 32B. ing.

【0089】また、第一絶縁基板29A,29B及び第
二絶縁基板27A,27Bは枠状の補強部材26A,2
8A,26B,28Bが接合されているので、仮に補強
部材26A,28A,26B,28B無しで本発明を実
施する場合に比べ、補強部材26A,28A,26B,
28Bで絶縁基板29A,29B及び第二絶縁基板27
A,27B本体の剛性を補強することにより、絶縁基板
をより高精度な孔あけ加工が可能な材料及び厚さで形成
できるので、もって、より高密度な配線パターンをもつ
プリント配線板を検査することができる。
The first insulating substrates 29A, 29B and the second insulating substrates 27A, 27B are formed by frame-shaped reinforcing members 26A, 2B.
8A, 26B, and 28B are joined, so that the reinforcing members 26A, 28A, 26B, and 28B are compared with the case where the present invention is implemented without the reinforcing members 26A, 28A, 26B, and 28B.
28B, the insulating substrates 29A and 29B and the second insulating substrate 27
By reinforcing the rigidity of the A and 27B main bodies, the insulating substrate can be formed of a material and a thickness capable of more accurate drilling, so that a printed wiring board having a higher density wiring pattern is inspected. be able to.

【0090】実際の検査の際には、第一補強部材28
A,28Bと第二絶縁基板27A,27Bとの間の距離
が最小間隙であるとき、動作制御部44が、各導電性線
材24A,24Bのうちの2本に選択的に通電し、比較
判定部46が、通電した各導電性線材24A,24Bの
間の通電状態を測定し、この測定結果と所定の検査基準
値とに基づいて、異常の有無を判定し、判定結果を出力
表示部47に送出するので、異常検出したときの迅速な
対応を期待することができる。 (第2の実施の形態)次に、本発明の第2の実施の形態
に係る検査装置について説明する。
At the time of actual inspection, the first reinforcing member 28
When the distance between A, 28B and the second insulating substrates 27A, 27B is the minimum gap, the operation control unit 44 selectively energizes two of the conductive wires 24A, 24B, and makes a comparison judgment. The unit 46 measures the energized state between the conductive wires 24A and 24B that are energized, determines whether there is an abnormality based on the measurement result and a predetermined inspection reference value, and outputs the determination result to the output display unit 47. , It is possible to expect a quick response when an abnormality is detected. (Second Embodiment) Next, an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described.

【0091】図9はこの検査装置における検査治具の構
成を示す模式図であり、図10はこの検査治具の構成を
示す外観図であって、図1乃至図3に対応する部分には
同一符号を付してその詳しい説明を省略し、ここでは異
なる部分についてのみ述べる。
FIG. 9 is a schematic diagram showing the configuration of an inspection jig in this inspection apparatus. FIG. 10 is an external view showing the configuration of this inspection jig. Parts corresponding to FIG. 1 to FIG. The same reference numerals are given and the detailed description is omitted, and only different portions are described here.

【0092】すなわち、本実施の形態は、第1の実施形
態の変形構成であり、線材受容治具を変えたものであっ
て、具体的には図9及び図10に示すように、コネクタ
25A,25B、スタンド板23A,23B及び底板2
2A,22Bに代えて、第二補強部材26A,26Bの
内周側の四隅に立設された4本の支柱51A,51B、
及びこれら各支柱51A,51Bの先端部に四隅が固着
された四角形状の樹脂基板52A,52Bを備えてい
る。
That is, the present embodiment is a modified configuration of the first embodiment, in which the wire receiving jig is changed. Specifically, as shown in FIGS. , 25B, stand plates 23A, 23B and bottom plate 2
Instead of 2A, 22B, four columns 51A, 51B erected at the four inner corners of the second reinforcing members 26A, 26B,
And rectangular resin substrates 52A and 52B having four corners fixed to the tips of the columns 51A and 51B.

【0093】ここで、樹脂基板52A,52Bは、線材
受容治具として機能し、各導電性線材24A,24Bを
通すための透孔53A,53Bが形成されている。樹脂
基板52A,52Bの材質としては、第一及び第二絶縁
基板29A,27A,29B,27Bと同様のものが使
用可能となっている。
Here, the resin substrates 52A and 52B function as wire receiving jigs, and are formed with through holes 53A and 53B for passing the conductive wires 24A and 24B. As the material of the resin substrates 52A and 52B, the same materials as the first and second insulating substrates 29A, 27A, 29B and 27B can be used.

【0094】また、各導電性線材24A,24Bは、樹
脂基板52A,52Bを貫通した後、一部の被覆が除去
される。この被覆の除去部分は、検査装置に至るケーブ
ル40内の配線に個別にはんだづけされる。
Further, after penetrating the resin substrates 52A and 52B, a part of the conductive wires 24A and 24B is removed. The stripped portions are individually soldered to the wiring in the cable 40 leading to the inspection device.

【0095】以上のような構成としても、第1の実施の
形態と同様の効果を得ることができる。 (他の実施の形態)なお、上記第1の実施の形態では、
2つの検査ヘッド20A,20Bを用い、プリント配線
板21を上下から挟んで検査する場合について説明した
が、これに限らず、片面しか被検査点のないプリント配
線板を検査対象とし、1つの検査ヘッドのみを用いてプ
リント配線板の配線パターンを検査する構成としても、
本発明を同様に実施して同様の効果を得ることができ
る。
With the above configuration, the same effects as those of the first embodiment can be obtained. (Other Embodiments) In the first embodiment,
The case where the inspection is performed by sandwiching the printed wiring board 21 from above and below using the two inspection heads 20A and 20B has been described. However, the present invention is not limited to this. Even with a configuration that inspects the wiring pattern of the printed wiring board using only the head,
The present invention can be implemented in a similar manner to obtain similar effects.

【0096】また、上記第1の実施の形態では、第二補
強部材26A,26Bと第二絶縁基板27A,27Bと
の位置関係において、第二補強部材26A,26Bの方
がスタンド板23A,23B側に位置する場合を説明し
たが、これに限らず、第二補強部材26A,26Bと第
二絶縁基板27A,27Bとの位置関係を逆にし、第二
絶縁基板27A,27Bの方がスタンド板23A,23
B側に位置する構成としても、本発明を同様に実施して
同様の効果を得ることができる。
In the first embodiment, in the positional relationship between the second reinforcing members 26A, 26B and the second insulating substrates 27A, 27B, the second reinforcing members 26A, 26B are more closely connected to the stand plates 23A, 23B. However, the position of the second reinforcing members 26A, 26B and the second insulating substrates 27A, 27B is reversed, and the second insulating substrates 27A, 27B are positioned on the stand plate. 23A, 23
Even with the configuration located on the B side, the present invention can be implemented in the same manner and the same effect can be obtained.

【0097】また、上記第1の実施の形態では、スタン
ド板23A,23Bの形状を略H字状に規定した場合を
説明したが、これに限らず、コネクタ25A,25Bを
取付可能であれば任意の形状に変更しても、本発明を同
様に実施して同様の効果を得ることができる。同様に、
底板22A,22B、第一絶縁基板29A,29B、第
一補強部材28A,28B、第二絶縁基板27A,27
B又は第二補強部材26A,26Bのいずれであって
も、任意の形状に変更できると共に、形状を変更しても
本発明を同様に実施して同様の効果を得ることができ
る。
Further, in the first embodiment, the case where the shape of the stand plates 23A and 23B is defined to be substantially H-shaped has been described. However, the present invention is not limited to this, and if the connectors 25A and 25B can be attached. Even if the shape is changed to an arbitrary shape, the present invention can be similarly implemented and the same effect can be obtained. Similarly,
Bottom plates 22A, 22B, first insulating substrates 29A, 29B, first reinforcing members 28A, 28B, second insulating substrates 27A, 27
Either B or the second reinforcing members 26A, 26B can be changed to an arbitrary shape, and even if the shape is changed, the present invention can be implemented in the same manner and the same effect can be obtained.

【0098】さらに詳しくは、スタンド板23A,23
B及び底板22A,22Bは、検査ヘッドの設置環境に
よっては、省略してもよい。例えば、第二補強部材26
A,26Bを保持する手段(スタンド板23A,23B
及び底板22A,22B)やコネクタ25A,25Bを
保持する手段(スタンド板23A,23B)は、少なく
とも上下方向に移動可能なアーム又は作業台に代用させ
てもよい。
More specifically, the stand plates 23A, 23
B and the bottom plates 22A and 22B may be omitted depending on the installation environment of the inspection head. For example, the second reinforcing member 26
A, 26B holding means (stand plates 23A, 23B
The means (stand plates 23A, 23B) for holding the connectors 25A, 25B and the connectors 25A, 25B may be replaced by at least a vertically movable arm or a worktable.

【0099】さらに、上記第1の実施の形態では、略円
形状のリング部材32A,32Bを外周側シャフト30
A,30Bに通す場合を説明したが、これに限らず、リ
ング部材32A,32Bを略C字形状に形成し、シャフ
ト30A,30Bの外周側から着脱自在にした構成とし
ても、本発明を同様に実施して同様の効果を得ることが
できる。
Further, in the first embodiment, the substantially circular ring members 32A, 32B are connected to the outer shaft 30.
The case where the ring members 32A and 30B are passed has been described. However, the present invention is not limited to this case. And the same effect can be obtained.

【0100】同様に変形例としては、第二絶縁基板27
A,27B近傍で、シャフト30A,30B(又は31
A,31B)を軸方向とは直交する方向に貫通する孔を
設け、この孔にシャフト30A,30B(又は31A,
31B)の径よりも長いピンを差込むことにより、第一
絶縁基板29A,29Bと第二絶縁基板27A,27B
との間の最小間隙を決定する構成としても、本発明を同
様に実施して同様の効果を得ることができる。この場
合、孔にピンを差し込む構成に代えて、爪部材を設けて
もよい。また、シャフト30A,30B(又は31A,
31B)の径を、第二絶縁基板27A,27B及び第二
補強部材26A,26Bの箇所と所望の可動範囲分だけ
細くし、第二絶縁基板27A,27B及び第二補強部材
26A,26Bの可動範囲を決定する構成としてもよ
い。
Similarly, as a modification, the second insulating substrate 27
A, near the shaft 27B, the shaft 30A, 30B (or 31)
A, 31B) in the direction perpendicular to the axial direction is provided, and the shafts 30A, 30B (or 31A,
31B), the first insulating substrates 29A and 29B and the second insulating substrates 27A and 27B are inserted.
The present invention can be implemented in the same manner and the same effect can be obtained even when the minimum gap between the two is determined. In this case, a claw member may be provided instead of inserting the pin into the hole. Also, the shafts 30A, 30B (or 31A,
31B) is narrowed by a desired movable range with respect to the locations of the second insulating substrates 27A and 27B and the second reinforcing members 26A and 26B, and the movable portions of the second insulating substrates 27A and 27B and the second reinforcing members 26A and 26B are moved. The range may be determined.

【0101】また、上記第1の実施の形態では、外周側
シャフト30A,30Bにリング部材32A,32Bと
バネ部材33A,33Bとを設ける場合を説明したが、
これに限らず、内周側シャフト31A,31Bにリング
部材32A,32B及び/又はバネ部材33A,33B
を設けた構成としても、本発明を同様に実施して同様の
効果を得るのは言うまでもない。
In the first embodiment, the case where the ring members 32A and 32B and the spring members 33A and 33B are provided on the outer peripheral shafts 30A and 30B has been described.
The invention is not limited thereto, and the ring members 32A, 32B and / or the spring members 33A, 33B
It is needless to say that the present invention can be implemented in the same manner and the same effect can be obtained even in the configuration provided with.

【0102】また、上記第1の実施の形態では、バネ部
材33A,33Bを第一補強部材28A,28Bと第二
絶縁基板27A,27Bとの間に介在させ、第一補強部
材28A,28B(第一絶縁基板29A,29B)及び
第二絶縁基板27A,27Bの双方を付勢する場合につ
いて説明したが、これに限らず、バネ部材33A,33
Bを(第二絶縁基板27A,27B及び第二補強部材2
6A,26Bには接触させずに)第一補強部材28A,
28Bと底板22A,22Bとの間に介在させ、第一及
び第二絶縁基板のうち、第一絶縁基板29A,29B
(第一補強部材28A,28B)のみを付勢する構成と
しても、本発明を同様に実施して同様の効果を得ること
ができる。
In the first embodiment, the spring members 33A and 33B are interposed between the first reinforcing members 28A and 28B and the second insulating substrates 27A and 27B, and the first reinforcing members 28A and 28B ( Although the case where both the first insulating substrates 29A and 29B) and the second insulating substrates 27A and 27B are urged has been described, the present invention is not limited to this, and the spring members 33A and 33B are not limited thereto.
B (the second insulating substrates 27A and 27B and the second reinforcing member 2).
6A, 26B) without contacting the first reinforcing members 28A,
28B and the bottom plates 22A, 22B, and among the first and second insulating substrates, the first insulating substrates 29A, 29B
Even when only the first reinforcing members 28A and 28B are urged, the same effect can be obtained by implementing the present invention in the same manner.

【0103】同様に、上記第1の実施の形態では、リン
グ部材32A,32Bを第一補強部材28A,28Bと
第二絶縁基板27A,27Bとの間に介在させ、第一補
強部材28A,28B(第一絶縁基板29A,29B)
及び第二絶縁基板27A,27Bの双方に接触して最小
間隙を決定する場合について説明したが、これに限ら
ず、リング部材(間隙決定機構;つっかえ棒などでもよ
い)32A,32Bを(第二絶縁基板27A,27B及
び第二補強部材26A,26Bには接触させずに)第一
補強部材28A,28Bと底板22A,22Bとの間に
介在させ、第一及び第二絶縁基板のうち、第一絶縁基板
29A,29B(第一補強部材28A,28B)のみに
接触して最小間隙を決定する構成としても、本発明を同
様に実施して同様の効果を得ることができる。
Similarly, in the first embodiment, the ring members 32A, 32B are interposed between the first reinforcing members 28A, 28B and the second insulating substrates 27A, 27B, and the first reinforcing members 28A, 28B (First insulating substrate 29A, 29B)
The case where the minimum gap is determined by contacting both the second insulating substrate 27A and the second insulating substrate 27B has been described. However, the present invention is not limited to this, and the ring members (gap determining mechanism; The first and second insulating substrates are interposed between the first reinforcing members 28A and 28B and the bottom plates 22A and 22B (without contact with the insulating substrates 27A and 27B and the second reinforcing members 26A and 26B). Even if the minimum gap is determined by contacting only one of the insulating substrates 29A and 29B (first reinforcing members 28A and 28B), the same effect can be obtained by implementing the present invention in the same manner.

【0104】また、上記第1の実施の形態では、導電性
線材24A,24Bの固定に熱可塑性接着剤35A,3
5Bを用いたが、これに限らず、熱可塑性接着剤35
A,35Bに代えて、熱可塑性をもたない接着剤あるい
は止め具等を用いて導電性線材24A,24Bを固定す
る構成としても、本発明を同様に実施して同様の効果を
得ることができる。
In the first embodiment, the thermoplastic adhesives 35A, 35A are used for fixing the conductive wires 24A, 24B.
5B was used, but is not limited to this.
Instead of A and 35B, a configuration in which the conductive wires 24A and 24B are fixed using a non-thermoplastic adhesive or a stopper, etc., can also implement the present invention in the same manner and obtain the same effects. it can.

【0105】また、上記第1の実施の形態では、各第一
及び第二補強部材28A,28B及び26A,26Bを
用いたが、これに限らず、第一補強部材28A,28B
及び/又は第二補強部材28A,28Bを省略した構成
としても、適宜、材料や寸法等を変更する設計変更の範
囲で各検査ヘッド20A,20Bを改変することによ
り、本発明を同様に実施して同様の効果を得ることがで
きる。
In the first embodiment, the first and second reinforcing members 28A, 28B and 26A, 26B are used. However, the present invention is not limited to this, and the first reinforcing members 28A, 28B
Even if the second reinforcing members 28A, 28B are omitted and / or the inspection heads 20A, 20B are appropriately modified within a range of a design change in which materials, dimensions, and the like are changed, the present invention can be similarly implemented. The same effect can be obtained.

【0106】また、上記第1の実施の形態では、プリン
ト配線板21の位置合わせ方式については述べなかった
が、これに限らず、プリント配線板21の映像を観察す
るため、例えば第一絶縁基板29Bの対角線上に2つの
透孔を形成し、2つのファイバカメラ(又は2つの光フ
ァイバスコープ)における各イメージファイバの先端を
第一絶縁基板の当該各透孔に入れて固着し、各イメージ
ファイバから得られる映像に基づいてプリント配線板を
位置合せする構成としても、本発明を同様に実施して同
様の効果を得ることができる。
In the first embodiment, the method of positioning the printed wiring board 21 has not been described. However, the present invention is not limited to this. Two through holes are formed on the diagonal line of 29B, and the tip of each image fiber in two fiber cameras (or two optical fiber scopes) is inserted into each through hole of the first insulating substrate and fixed, and each image fiber is fixed. The present invention can be implemented in the same manner and the same effect can be obtained even in a configuration in which the printed wiring board is aligned based on the video obtained from the above.

【0107】さらにまた、この種の位置合せ方式の変形
構成としては、例えば、第一絶縁基板29Bに透孔を形
成し、この透孔内に棒状の光学アクリル先端を入れて光
学アクリルを第一絶縁基板29B又は他の補強部材等に
固定し、この光学アクリルから得られる映像に基づいて
プリント配線板を位置合わせする構成が適用可能であ
る。なお、光学アクリルは、光学プラスチック又は光学
ガラス等としてもよいのは言うまでもない。その他、本
発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施で
きる。
Further, as a modified configuration of this type of alignment method, for example, a through hole is formed in the first insulating substrate 29B, and a rod-shaped optical acrylic tip is inserted into the through hole to make the optical acrylic first. A configuration in which the printed wiring board is fixed to the insulating substrate 29B or another reinforcing member or the like and the printed wiring board is aligned based on an image obtained from the optical acrylic can be applied. It is needless to say that the optical acrylic may be optical plastic or optical glass. In addition, the present invention can be implemented with various modifications without departing from the scope of the invention.

【0108】[0108]

【発明の効果】以上説明したように請求項1の発明によ
れば、第一基板の第一貫通孔とプリント配線板の被検査
点とを重ねるように第一基板がプリント配線板に接触し
た状態で第二基板がプリント配線板側に押されると、第
一基板と第二基板とが互いに接近し、第一基板の各第一
貫通孔内における各導電性線材の先端がプリント配線板
の被検査点に接近し、弾性部材が縮み、各導電性線材の
先端がプリント配線板の被検査点に接触してからは、各
導電性線材が第二基板とプリント配線板との間で撓むに
連れてプリント配線板の各被検査点に押圧力を与えてい
き、両基板間が所定の最小間隙になると、間隙決定機構
が両基板の少なくとも一方に接触して両基板の接近を停
止させ、各導電性線材が被検査点に与える押圧力の増加
を停止させて押圧力を適切化し、検査可能な状態を形成
するので、所望の各導電性線材間に線材受容治具を介し
て通電することにより、高い配線密度のプリント配線板
の検査を高い信頼性で実現させることができ、また、検
査コストの上昇を阻止でき、低廉に実現できるプリント
配線板の検査治具を提供できる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the first substrate contacts the printed wiring board so that the first through hole of the first substrate and the inspection point of the printed wiring board overlap. When the second substrate is pushed toward the printed wiring board in the state, the first substrate and the second substrate approach each other, and the leading end of each conductive wire in each first through hole of the first substrate is formed on the printed wiring board. After approaching the point to be inspected, the elastic member shrinks, and the tip of each conductive wire comes into contact with the point to be inspected on the printed wiring board, each conductive wire is bent between the second substrate and the printed wiring board. Along with this, a pressing force is applied to each point to be inspected on the printed wiring board, and when a predetermined minimum gap is formed between the two boards, the gap determining mechanism contacts at least one of the two boards and stops approaching the two boards. To stop the increase in the pressing force that each conductive wire exerts on the point to be inspected. And a testable state is formed. By applying a current between the desired conductive wires through a wire receiving jig, a high-density printed wiring board can be inspected with high reliability. In addition, it is possible to provide an inspection jig for a printed wiring board, which can prevent an increase in inspection cost and can be realized at low cost.

【0109】また、請求項2の発明によれば、熱可塑性
接着剤により、各導電性線材を第二基板に固着したの
で、請求項1の効果に加え、熱を与えることにより、各
導電性線材を容易に第二基板から開放できるので、各導
電性線材が傷んだとしても、容易にかつ低コストで修理
できるプリント配線板の検査治具を提供できる。
According to the second aspect of the present invention, since each conductive wire is fixed to the second substrate by the thermoplastic adhesive, in addition to the effect of the first aspect, by applying heat, each conductive wire is fixed. Since the wire can be easily released from the second substrate, it is possible to provide a printed wiring board inspection jig that can be easily and inexpensively repaired even if each conductive wire is damaged.

【0110】さらに、請求項3の発明によれば、第一基
板及び/又は第二基板としては部分的に補強部材が接合
されてなるので、請求項1の効果に加え、補強部材で基
板本体の剛性を補強することにより、基板本体をより高
精度な孔あけ加工が可能な材料及び厚さで形成でき、も
って、より高密度な配線パターンをもつプリント配線板
を検査できるプリント配線板の検査治具を提供できる。
Further, according to the third aspect of the present invention, the first substrate and / or the second substrate are partially joined to the reinforcing member. Inspection of a printed wiring board that can form a board body with a material and thickness that enables more accurate drilling by reinforcing the rigidity of the printed wiring board, and thus can inspect a printed wiring board with a higher-density wiring pattern Jig can be provided.

【0111】また、請求項4の発明によれば、請求項1
の検査治具を用い、通電状態測定手段が、第一基板と第
二基板との間の距離が最小間隙であるとき、各導電性線
材のうちの複数の導電性線材に選択的に通電し、通電し
た各導電性線材の間の通電状態を測定し、異常判定手段
が、通電状態測定手段による測定結果と所定の検査基準
値とに基づいて、異常の有無を判定し、判定結果出力手
段が、異常判定手段による判定結果を出力するので、請
求項1の効果に加え、異常検出したときの迅速な対応を
期待できるプリント配線板の検査装置を提供できる。
According to the invention of claim 4, according to claim 1,
When the distance between the first substrate and the second substrate is the minimum gap, the current is selectively supplied to a plurality of conductive wires among the conductive wires. Measuring the energized state between the energized conductive wires, the abnormality determining means determines the presence or absence of an abnormality based on the measurement result by the energized state measuring means and a predetermined inspection reference value, and a determination result output means However, since the result of the judgment by the abnormality judging means is output, it is possible to provide a printed wiring board inspection apparatus which can expect a quick response when an abnormality is detected, in addition to the effect of the first aspect.

【0112】さらに、請求項5の発明によれば、熱可塑
性接着剤により、各導電性線材を第二基板に固着したの
で、請求項4及び請求項2の双方の効果を同時に奏する
プリント配線板の検査装置を提供できる。
According to the fifth aspect of the present invention, since each conductive wire is fixed to the second substrate by the thermoplastic adhesive, the printed wiring board having the advantages of both the fourth and second aspects simultaneously. Can be provided.

【0113】さらに、請求項6の発明によれば、第一基
板及び/又は第二基板としては部分的に補強部材が接合
されてなるので、請求項4及び請求項3の双方の効果を
同時に奏するプリント配線板の検査装置を提供できる。
Furthermore, according to the invention of claim 6, since the reinforcing member is partially joined as the first substrate and / or the second substrate, the effects of both claim 4 and claim 3 can be simultaneously achieved. It is possible to provide a printed wiring board inspection device that plays.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態に係る検査治具の構
成を示す模式図
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an inspection jig according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態における検査治具の構成を示す外
観図
FIG. 2 is an external view showing a configuration of an inspection jig in the embodiment.

【図3】同実施の形態における検査治具を用いた検査装
置の構成を示す模式図
FIG. 3 is a schematic diagram showing a configuration of an inspection apparatus using the inspection jig in the embodiment.

【図4】同実施の形態における動作を説明するための模
式図
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining an operation in the embodiment.

【図5】同実施の形態における動作を説明するための模
式図
FIG. 5 is a schematic diagram for explaining an operation in the embodiment.

【図6】同実施の形態における動作を説明するための模
式図
FIG. 6 is a schematic diagram for explaining an operation in the embodiment.

【図7】同実施の形態における動作を説明するための模
式図
FIG. 7 is a schematic diagram for explaining an operation in the embodiment.

【図8】同実施の形態における動作を説明するための模
式図
FIG. 8 is a schematic diagram for explaining an operation in the embodiment.

【図9】本発明の第2の実施の形態に係る検査治具の構
成を示す模式図
FIG. 9 is a schematic diagram showing a configuration of an inspection jig according to a second embodiment of the present invention.

【図10】同実施の形態における検査治具の構成を示す
外観図
FIG. 10 is an external view showing a configuration of an inspection jig according to the embodiment.

【図11】従来のプリント配線板の検査装置の構成を示
す模式図
FIG. 11 is a schematic view showing a configuration of a conventional printed wiring board inspection apparatus.

【図12】従来のプリント配線板の検査装置の構成を示
す模式図
FIG. 12 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional printed wiring board inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20A,20B…検査ヘッド 21…プリント配線板 22A,22B…底板 23A,23B…スタンド板 24A,24B…導電性線材 25A,25B…コネクタ 26A,26B…第二補強部材 27A,27B…第二絶縁基板 28A,28B…第一補強部材 29A,29B…第一絶縁基板 30A,30B…外周側シャフト 31A,31B…内周側シャフト 32A,32B…リング部材 33A,33B…バネ部材 34A,34B…プローブ 35A,35B…熱可塑性接着剤 36A〜38A,36B〜38B,53A,53B…透
孔 39A,39B…頭部 40…ケーブル 41…平圧部 42…切替器 43…入力部 44…動作制御部 45…メモリ 46…比較判定部 47…出力表示部 51A,51B…支柱 52A,52B…樹脂基板 S…電源 G…検流計
20A, 20B ... inspection head 21 ... printed wiring board 22A, 22B ... bottom plate 23A, 23B ... stand plate 24A, 24B ... conductive wire 25A, 25B ... connector 26A, 26B ... second reinforcing member 27A, 27B ... second insulating substrate 28A, 28B ... first reinforcing member 29A, 29B ... first insulating substrate 30A, 30B ... outer peripheral shaft 31A, 31B ... inner peripheral shaft 32A, 32B ... ring member 33A, 33B ... spring member 34A, 34B ... probe 35A, 35B: Thermoplastic adhesive 36A-38A, 36B-38B, 53A, 53B ... Through-hole 39A, 39B ... Head 40 ... Cable 41 ... Flat pressure unit 42 ... Switch 43 ... Input unit 44 ... Operation control unit 45 ... Memory 46: comparison / determination unit 47: output display unit 51A, 51B: column 52A, 52B: resin substrate S: Power supply G ... galvanometer

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線板の配線パターンに関し、
導通異常及び/又は絶縁異常の有無を検査するためのプ
リント配線板の検査治具において、 前記プリント配線板に接触する接触面を有し、予め前記
配線パターンの複数の被検査点に個別に対応させて複数
の第一貫通孔が形成された第一基板と、 前記各第一貫通孔よりも細い径を有し、先端が前記接触
面とは反対側の面から前記各第一貫通孔に遊挿される複
数の導電性線材と、 前記第一基板における接触面とは反対側の面に対向配置
され、前記導電性線材を個別に挿通させるための複数の
第二貫通孔を有し、前記各第二貫通孔に挿通される各導
電性線材が固着される第二基板と、 前記第一基板と前記第二基板とが互いに接近するとき、
前記両基板を互いに離間させるように少なくとも前記第
一基板を付勢する弾性部材と、 前記第一基板と前記第二基板とが互いに接近するとき、
前記両基板間の最小間隙を決定するように少なくとも前
記第一基板に接触する間隙決定機構と、 前記各導電性線材における基端から前記第二基板までの
間の一部を前記各第二貫通孔相互間の間隔よりも広い間
隔で個別に保持する線材受容治具とを備えたことを特徴
とするプリント配線板の検査治具。
1. A wiring pattern of a printed wiring board,
An inspection jig for a printed wiring board for inspecting the presence or absence of a conduction abnormality and / or an insulation abnormality. A first substrate having a plurality of first through holes formed therein, having a smaller diameter than each of the first through holes, and having a tip from the surface opposite to the contact surface to each of the first through holes. A plurality of conductive wires to be loosely inserted, and a plurality of second through-holes arranged to face each other on a surface opposite to the contact surface of the first substrate, so that the conductive wires can be individually inserted, A second substrate to which each conductive wire inserted into each second through hole is fixed, and when the first substrate and the second substrate approach each other,
An elastic member that biases at least the first substrate so as to separate the two substrates from each other, when the first substrate and the second substrate approach each other,
A gap determining mechanism that contacts at least the first substrate so as to determine a minimum gap between the two substrates; and a part between the base end of each of the conductive wires and the second substrate through each of the second through holes. An inspection jig for a printed wiring board, comprising: a wire receiving jig which is individually held at an interval wider than an interval between holes.
【請求項2】 請求項1に記載のプリント配線板の検査
治具において、 前記第二基板は、前記各導電性線材を固着するための熱
可塑性接着剤が塗布されたことを特徴とするプリント配
線板の検査治具。
2. The printed circuit board inspection jig according to claim 1, wherein said second substrate is coated with a thermoplastic adhesive for fixing said conductive wires. Inspection jig for wiring board.
【請求項3】 請求項1に記載のプリント配線板の検査
治具において、 前記第一基板及び/又は前記第二基板は、部分的に補強
部材が接合されてなることを特徴とするプリント配線板
の検査治具。
3. The printed wiring board inspection jig according to claim 1, wherein the first substrate and / or the second substrate are partially joined with a reinforcing member. Plate inspection jig.
【請求項4】 請求項1に記載の検査治具を用いたプリ
ント配線板の検査装置において、 前記第一基板と前記第二基板との間の距離が前記最小間
隙であるとき、前記各導電性線材のうちの複数の導電性
線材に選択的に通電し、前記通電した各導電性線材の間
の通電状態を測定する通電状態測定手段と、 前記通電状態測定手段による測定結果と所定の検査基準
値とに基づいて、異常の有無を判定する異常判定手段
と、 前記異常判定手段による判定結果を出力する判定結果出
力手段とを備えたことを特徴とするプリント配線板の検
査装置。
4. The inspection apparatus for a printed wiring board using the inspection jig according to claim 1, wherein when the distance between the first substrate and the second substrate is the minimum gap, Conducting state measuring means for selectively energizing a plurality of conductive wires among the conducting wires and measuring an energizing state between the energized conductive wires, a measurement result obtained by the conducting state measuring means and a predetermined inspection An inspection apparatus for a printed wiring board, comprising: an abnormality determination unit that determines the presence or absence of an abnormality based on a reference value; and a determination result output unit that outputs a determination result by the abnormality determination unit.
【請求項5】 請求項4に記載のプリント配線板の検査
装置において、 前記第二基板は、前記各導電性線材を固着するための熱
可塑性接着剤が塗布されたことを特徴とするプリント配
線板の検査装置。
5. The printed wiring board inspection apparatus according to claim 4, wherein the second substrate is coated with a thermoplastic adhesive for fixing the conductive wires. Board inspection equipment.
【請求項6】 請求項4に記載のプリント配線板の検査
装置において、 前記第一基板及び/又は前記第二基板は、部分的に補強
部材が接合されてなることを特徴とするプリント配線板
の検査装置。
6. The printed wiring board inspection apparatus according to claim 4, wherein the first substrate and / or the second substrate are partially joined with a reinforcing member. Inspection equipment.
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JP2012078230A (en) * 2010-10-04 2012-04-19 Hioki Ee Corp Probing device, inspection apparatus, and connection switching method
WO2019181458A1 (en) * 2018-03-23 2019-09-26 日本電産リード株式会社 Resistance measuring device, and resistance measuring jig

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007026877A1 (en) * 2005-09-02 2007-03-08 Jsr Corporation Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method
JP2012078230A (en) * 2010-10-04 2012-04-19 Hioki Ee Corp Probing device, inspection apparatus, and connection switching method
WO2019181458A1 (en) * 2018-03-23 2019-09-26 日本電産リード株式会社 Resistance measuring device, and resistance measuring jig
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