JPH10168557A - V溝付基板の蒸着方法 - Google Patents

V溝付基板の蒸着方法

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JPH10168557A
JPH10168557A JP32819796A JP32819796A JPH10168557A JP H10168557 A JPH10168557 A JP H10168557A JP 32819796 A JP32819796 A JP 32819796A JP 32819796 A JP32819796 A JP 32819796A JP H10168557 A JPH10168557 A JP H10168557A
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JP
Japan
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resist
groove
metal
substrate
state
Prior art date
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Pending
Application number
JP32819796A
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English (en)
Inventor
Hideaki Takemori
英昭 竹盛
Norihiko Okochi
敬彦 大河内
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】V溝付基板の蒸着において、金属の蒸着された
V溝部と金属の蒸着されないV溝部を形成する。 【解決手段】V溝付基板1に液体状のレジスト2を塗布
し、ホトリソグラフィー技術によりパターンを形成した
後に、フィルム状のレジスト3をラミネートし、ホトリ
ソグラフィー技術によりパターンを形成し、V溝付基板
を真空蒸着し、V溝付基板に金属の蒸着されたV溝部と
金属の蒸着されないV溝部を形成させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はV溝付基板の蒸着方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】基板にホトリソグラフィー技術によりパ
ターンを形成した後に金属を蒸着する方法として、従来
は主に、基板に液体状のレジストを塗布し、ホトリソグ
ラフィー技術によりパターンを形成した後に、電子ビー
ム蒸着,抵抗加熱蒸着などの真空蒸着を行っていた。
【0003】しかし、この手法をV溝付基板に適用する
と、図3に示すようにV溝端部付近6の平坦部にレジス
トを塗布出来ないため、基板の平坦部にも金属が蒸着さ
れてしまう。
【0004】基板にホトリソグラフィー技術によりパタ
ーンを形成した後に金属を蒸着する方法として、基板に
フィルム状のレジストをラミネートし、ホトリソグラフ
ィー技術によりパターンを形成した後に、電子ビーム蒸
着,抵抗加熱蒸着などの真空蒸着を行う方法もあるが、
この方法を用いると、真空にした際に図6に示す金属を
蒸着したくないV溝部5の上にあるフィルムの中心部7
が破れてしまうために、金属を蒸着したくないV溝部5
に金属が蒸着されてしまう。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、V溝
付基板に液体状のレジストを塗布し、ホトリソグラフィ
ー技術によりパターンを形成した後に、フィルム状のレ
ジストをラミネートし、ホトリソグラフィー技術により
パターンを形成し、V溝付基板を真空蒸着することによ
り、金属の蒸着されたV溝部と金属の蒸着されないV溝
部を形成することができ、シリコンやガラスなどあらゆ
るV溝付基板の蒸着方法に適用できる蒸着方法を提供す
ることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のV溝付基板の蒸着方法は、V溝付基板に液
体状のレジストを塗布し、ホトリソグラフィー技術によ
りパターンを形成した後に、フィルム状のレジストをラ
ミネートし、ホトリソグラフィー技術によりパターンを
形成し、V溝付基板を真空蒸着することにより、金属の
蒸着されたV溝部と金属の蒸着されないV溝部を形成す
る。
【0007】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施例の形態を
示す。ここでは、基板として直径100mm,厚さ800
μm,金属を蒸着したいV溝部4の深さ400μm,金
属を蒸着したくないV溝部5の深さ100μmのシリコ
ン基板1,液体状のレジスト2として粘度35cpのネガ
型レジスト,フィルム状のレジスト3として厚さ15μ
mのネガ型レジストを用いた例を示す。この状態で電子
ビーム蒸着,抵抗加熱蒸着などの真空蒸着を行った後
に、レジスト上の金属をテープ等で剥がし、レジストを
レジスト剥離液等で除去することにより、図2に示すよ
うに金属の蒸着されたV溝部8と金属の蒸着されないV
溝部9を形成することが出来る。ここで、金属を蒸着す
る際には基板温度をレジストの耐熱温度(150℃程
度)以上に上げてはいけない。
【0008】ここで、V溝付基板を図1の状態にする方
法を説明する。V溝付基板に粘度35cpの液体状のネガ
型レジスト2を塗布すると、図3に示すようなレジスト
の状態となりV溝端部付近6の平坦部にレジストを塗布
することが出来ない。この状態でホトリソグラフィー技
術によりパターンを形成すると、図4に示すようなレジ
ストの状態となる。この状態で厚さ15μmのフィルム
状のネガ型レジスト3をラミネートすると、図5に示す
ようなレジストの状態となり、この状態でホトリソグラ
フィー技術によりパターンを形成すると、図1に示すよ
うなレジストの状態となる。図1に示す状態で真空蒸着
を行うと、金属を蒸着したくないV溝部5の上にあるフ
ィルムの中心部7は破れてしまうが、金属を蒸着したく
ないV溝部5には液体状のレジスト2が存在するため、
この部分に金属は蒸着されない。
【0009】
【発明の効果】本発明によれば、V溝付基板に金属の蒸
着されたV溝部と金属の蒸着されないV溝部を形成する
ことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】液体状のレジストとフィルム状のレジストを用
いた本発明の蒸着方法の一実施例の説明図。
【図2】本発明の蒸着方法を実施した後にレジストを除
去した状態を示した説明図。
【図3】V溝付基板に液体状のレジストを塗布した形態
を示す説明図。
【図4】V溝付基板に液体状のレジストを塗布した後、
パターンを形成した形態を示す説明図。
【図5】V溝付基板に液体状のレジストを塗布し、パタ
ーンを形成した後に、フィルム状のレジストをラミネー
トした形態を示す説明図。
【図6】V溝付基板にフィルム状のレジストをラミネー
トした後に、パターンを形成した形態を示す説明図。
【符号の説明】 1…V溝付基板、2…液体状のレジスト、3…フィルム
状のレジスト、4…金属を蒸着したいV溝部、5…V溝
部、6…V溝端部付近、7…フィルムの中心部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】V溝付基板に金属の蒸着されたV溝部と金
    属の蒸着されないV溝部を形成させる金属の蒸着する方
    法において、上記V溝付基板の液体状のレジストを塗布
    し、ホトリソグラフィー技術によりパターンを形成した
    後に、フィルム状のレジストをラミネートし、ホトリソ
    グラフィー技術によりパターンを形成し、上記V溝付基
    板を真空蒸着することを特徴とするV溝付基板の蒸着方
    法。
JP32819796A 1996-12-09 1996-12-09 V溝付基板の蒸着方法 Pending JPH10168557A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004025726A3 (en) * 2002-09-12 2005-04-28 Olivetti I Jet Spa Method for selectively covering a micro machined surface

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