JPH10163262A - Jig and method for exchanging surface mounted semiconductor package, circuit module having surface mounted semiconductor package, and electronic apparatus having the circuit module - Google Patents

Jig and method for exchanging surface mounted semiconductor package, circuit module having surface mounted semiconductor package, and electronic apparatus having the circuit module

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JPH10163262A
JPH10163262A JP8319420A JP31942096A JPH10163262A JP H10163262 A JPH10163262 A JP H10163262A JP 8319420 A JP8319420 A JP 8319420A JP 31942096 A JP31942096 A JP 31942096A JP H10163262 A JPH10163262 A JP H10163262A
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an exchanging jig capable of suppressing the thermal effect on the periphery of a semiconductor package extremely to a low level, not having the necessity of secoring a space for exclusive use around this semiconductor package either as well, capable of performing the removing work of the semiconductor package easily, and making high-density packaging possible. SOLUTION: An exchanging jig 31 on the occasion of removing surface mounted semiconductor package 11 from a circuit board 10 has a flay jig body 32. The jig body 32 is supported by the package body 20 of the semiconductor package, is put between the package body and the circuit board, and generates heat and raises its temperature, or is heated to a temperature high enough to melt solder for joining a solder bump with a pad. And this jig body 32 has a plurality of openings 34 for letting the above-mentioned solder bumps to be inserted.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ボールグリッドア
レイのような多数の半田ボールを有する面実装形の半導
体パッケージを交換する際に用いる治具およびこの半導
体パッケージの交換方法、ならびに半導体パッケージを
回路基板に面実装してなる回路モジュール、さらにはこ
の回路モジュールを搭載したポータブルコンピュータの
ような電子機器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig used for exchanging a surface-mounted semiconductor package having a large number of solder balls such as a ball grid array, a method for exchanging the semiconductor package, and a method for exchanging a semiconductor package. The present invention relates to a circuit module surface-mounted on a substrate, and further to an electronic device such as a portable computer equipped with the circuit module.

【0002】[0002]

【従来の技術】面実装形の半導体パッケージとして、ボ
ールグリッドアレイ形(以下BGAと称す)の半導体パ
ッケージが知られている。この種の半導体パッケージに
は、パッケージ基材としてプリント基板を用いたプラス
チックBGA、パッケージ基材にセラミックを用いたセ
ラミックBGAおよびパッケージ基材にフィルムを用い
たテープBGA等の種類があり、これらBGAは用途に
応じて使い分けられている。
2. Description of the Related Art A ball grid array type (hereinafter referred to as BGA) semiconductor package is known as a surface mount type semiconductor package. This type of semiconductor package includes a plastic BGA using a printed circuit board as a package base, a ceramic BGA using a ceramic for the package base, and a tape BGA using a film for the package base. They are used properly according to the purpose.

【0003】このようなBGAのうち、上記プラスチッ
クBGAは、プリント基板にボンディングされたICチ
ップと、このICチップをモールドする合成樹脂製のモ
ールド材とを有し、これらモールド材とプリント基板と
によって偏平な箱状をなすパッケージ本体が構成されて
いる。
[0003] Among such BGAs, the plastic BGA has an IC chip bonded to a printed board, and a synthetic resin mold material for molding the IC chip. A flat box-shaped package body is formed.

【0004】プリント基板の裏面には、ボール状の多数
の半田バンプがマトリックス状に並べて配置されてい
る。半田バンプは、半導体パッケージの外部端子として
機能するものであり、上記プリント基板の裏面に半田付
けされている。
A large number of ball-shaped solder bumps are arranged in a matrix on the back surface of a printed circuit board. The solder bump functions as an external terminal of the semiconductor package, and is soldered to the back surface of the printed circuit board.

【0005】このBGA形の半導体パッケージは、回路
基板に実装されている。この回路基板は、半導体パッケ
ージが実装される実装面を有している。この実装面に
は、多数のパッドがマトリックス状に並べて配置されて
いる。パッドは、回路基板に形成された導体パターンに
電気的に接続されており、これらパッドに半導体パッケ
ージの半田バンプが半田付けされている。
[0005] The BGA type semiconductor package is mounted on a circuit board. This circuit board has a mounting surface on which a semiconductor package is mounted. A large number of pads are arranged on the mounting surface in a matrix. The pads are electrically connected to conductor patterns formed on the circuit board, and solder bumps of a semiconductor package are soldered to these pads.

【0006】ところで、この種の半導体パッケージで
は、半田バンプとパッドとの半田付け部が、パッケージ
本体と回路基板との間の微小な隙間に位置されるため
に、周辺部だけが半田付けされたQFP(quad flat pa
ckage )のように、上記半田付け部を直接外方に露出さ
せることができない。
By the way, in this type of semiconductor package, only a peripheral portion is soldered because a soldering portion between a solder bump and a pad is located in a minute gap between a package body and a circuit board. QFP (quad flat pa
As in the case of (ckage), the soldered portion cannot be directly exposed to the outside.

【0007】このため、ICチップの不良等により、半
導体パッケージを交換する必要が生じた場合、従来で
は、エアーリフローのような専用の設備で半導体パッケ
ージの実装部分に熱を加え、半田バンプとパッドとを接
合している半田を溶融させることで、半導体パッケージ
を回路基板の実装面から取り外している。
For this reason, when it is necessary to replace a semiconductor package due to a defect of an IC chip or the like, conventionally, heat is applied to a mounting portion of the semiconductor package by a dedicated facility such as air reflow, and solder bumps and pads are applied. The semiconductor package is removed from the mounting surface of the circuit board by melting the solder joining the semiconductor package and the semiconductor package.

【0008】ところが、この構成によると、交換すべき
半導体パッケージばかりでなく、この半導体パッケージ
の周囲に位置する他の回路部品や半導体パッケージも高
温に加熱されるために、これら回路部品や半導体パッケ
ージに対する熱影響が極めて大きくなり、不良発生の原
因となる。
However, according to this configuration, not only the semiconductor package to be replaced but also other circuit components and semiconductor packages located around the semiconductor package are heated to a high temperature. The heat effect becomes extremely large, which causes failure.

【0009】また、交換すべき半導体パッケージの周囲
に、耐熱性の低い回路部品が位置するような場合には、
半導体パッケージの実装部分を加熱する以前に、予め耐
熱性の低い回路部品を一時的に回路基板から取り外し、
熱による回路部品の損傷を防止する必要がある。そのた
め、作業工数が多くなり、半導体パッケージの取り外し
作業に多大な手間と労力を要するといった問題が生じて
くる。
In the case where a circuit component having low heat resistance is located around a semiconductor package to be replaced,
Before heating the mounting part of the semiconductor package, temporarily remove the low heat-resistant circuit components from the circuit board in advance,
It is necessary to prevent circuit components from being damaged by heat. For this reason, the number of work steps increases, and a problem arises in that the work of removing the semiconductor package requires a great deal of labor and labor.

【0010】このような問題に対処するため、従来、上
記半田バンプとパッドとの半田付け部を直接加熱し得る
ようにした交換用治具が考案されている。この交換用治
具は、櫛歯状をなす複数の偏平な加熱部を含む治具本体
を有している。治具本体は、熱伝導性を有する材料にて
構成され、この治具本体の一端には、半田ごてやヒータ
のような熱源が挿入される接続口が形成されている。
In order to cope with such a problem, a replacement jig which can directly heat a soldered portion between the solder bump and the pad has been devised. This replacement jig has a jig main body including a plurality of flat heating portions in a comb shape. The jig main body is made of a material having thermal conductivity, and a connection port into which a heat source such as a soldering iron or a heater is inserted is formed at one end of the jig main body.

【0011】このような交換用治具を用いて半導体パッ
ケージを回路基板から取り外すには、まず、治具本体の
加熱部を回路基板とパッケージ本体との間の隙間に差し
込み、この加熱部を隣り合う半田バンプの間に位置させ
る。加熱部は、熱源からの熱伝達により加熱されるの
で、この加熱部の熱が半田バンプとパッドとの半田付け
部に集中して伝わり、半田バンプとパッドとを接合して
いる半田が溶融する。
In order to remove a semiconductor package from a circuit board using such a replacement jig, first insert a heating section of the jig body into a gap between the circuit board and the package body, and place the heating section adjacent to the heating section. It is located between matching solder bumps. Since the heating unit is heated by heat transfer from the heat source, the heat of the heating unit is intensively transmitted to the soldering portion between the solder bump and the pad, and the solder joining the solder bump and the pad melts. .

【0012】そのため、交換すべき半導体パッケージの
周囲の回路部品に対する熱影響を抑えつつ、半田バンプ
とパッドとの半田付けを容易に解除することができ、半
導体パッケージの取り外しが可能となる。
Therefore, the soldering between the solder bumps and the pads can be easily released while suppressing the thermal effect on the circuit components around the semiconductor package to be replaced, and the semiconductor package can be removed.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
交換用治具は、櫛歯状の治具本体を半導体パッケージと
回路基板との間の隙間に挿入する必要があるため、この
半導体パッケージの周囲に他の回路部品が配置されてい
ると、この回路部品が邪魔となって、上記隙間への治具
本体の挿入が不可能となる。
However, in the above-mentioned conventional replacement jig, it is necessary to insert a comb-shaped jig body into a gap between the semiconductor package and the circuit board. If another circuit component is disposed around the jig, the circuit component hinders the insertion of the jig body into the gap.

【0014】そのため、交換用治具を使用するには、ま
ず最初に、交換すべき半導体パッケージの周囲に位置す
る回路部品を一旦回路基板から取り外して、この半導体
パッケージの周囲に治具本体を収めるスペースを確保し
なくてはならない。したがって、作業工数が多くなり、
半導体パッケージの取り外し作業に多大な手間と労力を
要するといった問題がある。
Therefore, in order to use the replacement jig, first, the circuit components located around the semiconductor package to be replaced are temporarily removed from the circuit board, and the jig body is placed around the semiconductor package. Space must be secured. Therefore, the number of work steps increases,
There is a problem that a great deal of labor and labor are required for the work of removing the semiconductor package.

【0015】しかも、上記交換用治具は、半導体パッケ
ージの周囲にスペースがないと使用できないために、回
路基板の実装面に多数の回路部品を高密度に実装するこ
とができなくなる。この結果、回路基板上にデッドスペ
ースが生じてしまい、半導体パッケージを含む回路部品
の配置に無理が生じたり、回路基板の大型化を招くとと
いった不具合が生じてくる。
In addition, since the replacement jig cannot be used unless there is a space around the semiconductor package, it is impossible to mount a large number of circuit components on the mounting surface of the circuit board at a high density. As a result, a dead space is generated on the circuit board, and the arrangement of the circuit components including the semiconductor package becomes unreasonable, and the circuit board becomes large in size.

【0016】本発明は、このような事情にもとづいてな
されたもので、取り外すべき半導体パッケージの周囲へ
の熱影響を極力少なく抑えることができ、しかも、この
半導体パッケージの周囲に専用のスペースを確保する必
要もなく、半導体パッケージの取り外し作業を容易に行
なえるとともに、高密度な実装が可能となる交換用治具
および交換方法、ならびに回路モジュールさらにはこの
回路モジュールを搭載した電子機器を得ることにある。
The present invention has been made in view of such circumstances, and it is possible to minimize the influence of heat on the periphery of a semiconductor package to be removed, and to secure a dedicated space around the semiconductor package. It is possible to easily perform the work of removing the semiconductor package without having to perform the work, and to obtain a replacement jig and a replacement method that enable high-density mounting, and a circuit module, and furthermore, an electronic device equipped with the circuit module. is there.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載された発明は、パッケージ本体の裏
面に多数の半田バンプがマトリックス状に並べて配置さ
れた半導体パッケージを、上記半田バンプが半田付けさ
れた多数のパッドを有する回路基板から取り外す際に用
いる交換用治具であって、この交換用治具は、上記パッ
ケージ本体に支持され、このパッケージ本体と上記回路
基板との間に介在されるとともに、上記半田バンプとパ
ッドとを接合する半田を溶融させるに足りる温度に発熱
又は加熱される平坦な治具本体と;この治具本体に形成
され、上記半田バンプが入り込む複数の開口部と;を備
えている。
In order to achieve the above object, according to the present invention, a semiconductor package having a large number of solder bumps arranged in a matrix on a back surface of a package body is provided. Is a replacement jig used when detached from a circuit board having a large number of soldered pads, the replacement jig is supported by the package body, and is provided between the package body and the circuit board. A flat jig body that is interposed and heats or heats to a temperature sufficient to melt the solder that joins the solder bump and the pad; and a plurality of openings formed in the jig body and into which the solder bump enters. Part;

【0018】このような構成において、半導体パッケー
ジを回路基板から取り外すには、まず最初に、交換用治
具の治具本体を発熱又は加熱させる。すると、治具本体
の開口部の内側には、半田バンプが位置されているの
で、治具本体の熱は、開口部の開口周縁を通じて半田バ
ンプとパッドとを接合している半田に直接伝えられ、こ
の半田が溶融する。半田が溶融したならば、交換用治具
を半導体パッケージと共に回路基板に沿うようにスライ
ドさせる。このスライドにより、開口部の開口周縁が溶
融状態にある半田に接触し、この半田を分断する。この
結果、半田バンプとパッドとの半田付けが解除され、半
導体パッケージを回路基板から取り外すことができる。
In such a configuration, to remove the semiconductor package from the circuit board, first, the jig body of the replacement jig is heated or heated. Then, since the solder bump is located inside the opening of the jig body, the heat of the jig body is directly transmitted to the solder joining the solder bump and the pad through the opening periphery of the opening. This solder melts. When the solder is melted, the replacement jig is slid along with the semiconductor package along the circuit board. By this slide, the opening periphery of the opening comes into contact with the solder in a molten state, and the solder is divided. As a result, the soldering between the solder bumps and the pads is released, and the semiconductor package can be removed from the circuit board.

【0019】このような交換用治具は、予め半導体パッ
ケージと共に回路基板に実装されているので、半田バン
プとパッドとの半田付け部を直接かつ集中的に加熱する
ことができ、半導体パッケージの周囲への熱影響が少な
くなる。
Since such a replacement jig is mounted on the circuit board together with the semiconductor package in advance, the soldering portion between the solder bump and the pad can be directly and intensively heated, and the periphery of the semiconductor package can be heated. The thermal effect on the surface is reduced.

【0020】しかも、治具本体を半導体パッケージと回
路基板との間の微小な隙間に差し込む必要もないので、
この半導体パッケージの周囲に他の回路部品が配置され
ていても何等支障はない。そのため、半導体パッケージ
の周囲の回路部品を一旦取り外すといった面倒で手間の
かかる作業が不要となり、その分、作業工数が少なくな
って、半導体パッケージの取り外し作業を容易に行なう
ことができる。
Moreover, it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board.
There is no problem even if other circuit components are arranged around the semiconductor package. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package is not required, and the number of work steps is reduced, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed.

【0021】それとともに、取り外すべき半導体パッケ
ージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確保
する必要もなくなるので、回路基板上からデッドスペー
スを排除することができ、高密度な実装が可能となる。
At the same time, there is no need to secure a space around the semiconductor package to be removed for the replacement jig to be taken in and out, so that a dead space can be eliminated from the circuit board, and high-density mounting is possible. .

【0022】請求項2によれば、上記請求項1に記載さ
れた半導体パッケージは、複数の半田バンプが一列に並
べられた複数のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互
いに間隔を存して平行に配置されているとともに、上記
治具本体の開口部は、バンプ列の方向に沿って延びるス
リット状をなしており、これら開口部の数は、上記バン
プ列の数に対応している。
According to a second aspect, the semiconductor package according to the first aspect has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and the bump rows are spaced from each other. And the openings of the jig main body are in the form of slits extending in the direction of the bump rows, and the number of these openings corresponds to the number of the bump rows. .

【0023】この構成において、交換用治具をバンプ列
の配列方向に沿ってスライドさせると、バンプ列上の複
数の半田バンプとパッドとを接合している半田が一度に
分断される。そのため、交換用治具は、バンプ列の配置
間隔に略対応する量だけスライドさせれば良く、この交
換用治具のスライド量が少なくて済む。
In this configuration, when the replacement jig is slid along the direction in which the bump rows are arranged, the solder bonding the plurality of solder bumps and pads on the bump rows is cut at a time. Therefore, the replacement jig need only be slid by an amount substantially corresponding to the arrangement interval of the bump rows, and the sliding amount of the replacement jig can be reduced.

【0024】この結果、半導体パッケージの周囲に交換
用治具のスライドを許容する広いスペースを必要とせ
ず、高密度な実装を実現する上で好都合となるととも
に、多数の半田バンプとパッドとの分離作業を短時間の
うちに効率良く行なうことができる。
As a result, a large space is not required around the semiconductor package to allow the replacement jig to slide, which is convenient for realizing high-density mounting, and a large number of solder bumps and pads are separated. Work can be performed efficiently in a short time.

【0025】請求項3によれば、上記請求項1に記載さ
れた治具本体は、熱伝導性を有する材料にて構成され、
この治具本体は、熱源が取り外し可能に接続される受熱
部を備えている。
According to a third aspect, the jig body according to the first aspect is made of a material having thermal conductivity.
The jig body includes a heat receiving unit to which a heat source is detachably connected.

【0026】この構成において、半導体パッケージが動
作中に発熱すると、治具本体に半導体パッケージの熱が
伝わり、この熱は、治具本体に拡散されるとともに、こ
の拡散による自然空冷により空気中に放熱される。その
ため、半導体パッケージを交換する必要がない時は、交
換用治具を半導体パッケージのヒートシンクとして活用
することができる。
In this configuration, when the semiconductor package generates heat during operation, the heat of the semiconductor package is transmitted to the jig main body, and this heat is diffused to the jig main body and radiated into the air by natural air cooling due to the diffusion. Is done. Therefore, when there is no need to replace the semiconductor package, the replacement jig can be used as a heat sink for the semiconductor package.

【0027】また、治具本体の加熱は、受熱部に接続さ
れた熱源からの熱伝達により行なわれるので、治具本体
に熱源を内蔵する必要はない。そのため、交換用治具の
構成を簡略化でき、安価に提供することができる。
Further, since the jig body is heated by heat transfer from a heat source connected to the heat receiving portion, it is not necessary to incorporate a heat source in the jig body. Therefore, the configuration of the replacement jig can be simplified and provided at a low cost.

【0028】上記目的を達成するため、請求項4に記載
された発明は、パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジを、上記半田バンプが半田付けされた多数のパッドを
有する回路基板から取り外す際に用いる交換用治具であ
って、この交換用治具は、上記パッケージ本体に支持さ
れ、上記半田バンプとパッドとを接合する半田を溶融さ
せるに足りる温度に発熱又は加熱される治具本体と;こ
の治具本体に形成され、隣り合う半田バンプの間に介在
される複数の半田切断部と;を備えている。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor package in which a large number of solder bumps are arranged in a matrix on a back surface of a package body. A replacement jig used when detaching from the circuit board having the pads, the replacement jig is supported by the package body, and has a temperature sufficient to melt the solder for joining the solder bumps and the pads. A jig body to be heated or heated; and a plurality of solder cutting portions formed on the jig body and interposed between adjacent solder bumps.

【0029】この構成において、半導体パッケージを回
路基板から取り外すには、まず最初に、交換用治具の治
具本体を発熱又は加熱させる。すると、治具本体の半田
切断部は、半田バンプに隣接されているので、この治具
本体の熱は、半田切断部を通じて半田バンプとパッドと
を接合している半田に直接伝えられ、この半田が溶融す
る。半田が溶融したならば、交換用治具を半導体パッケ
ージと共に回路基板に沿うようにスライドさせる。この
スライドにより、半田切断部の縁部が溶融状態にある半
田に接触し、この半田を分断する。この結果、半田バン
プとパッドとの半田付けが解除され、半導体パッケージ
を回路基板から取り外すことができる。
In this configuration, to remove the semiconductor package from the circuit board, first, the jig body of the replacement jig is heated or heated. Then, since the solder cutting portion of the jig main body is adjacent to the solder bump, the heat of the jig main body is directly transmitted to the solder joining the solder bump and the pad through the solder cutting portion, and this solder Melts. When the solder is melted, the replacement jig is slid along with the semiconductor package along the circuit board. With this slide, the edge of the solder cutting portion comes into contact with the molten solder, and the solder is cut. As a result, the soldering between the solder bumps and the pads is released, and the semiconductor package can be removed from the circuit board.

【0030】このような交換用治具は、予め半導体パッ
ケージと共に回路基板に実装されているので、半田バン
プとパッドとの半田付け部を直接かつ集中的に加熱する
ことができ、半導体パッケージの周囲への熱影響が少な
くなる。
Since such a replacement jig is mounted on the circuit board together with the semiconductor package in advance, the soldering portion between the solder bump and the pad can be directly and intensively heated. The thermal effect on the surface is reduced.

【0031】しかも、治具本体を半導体パッケージと回
路基板との間の微小な隙間に差し込む必要もないので、
この半導体パッケージの周囲に他の回路部品が配置され
ていても何等支障はない。そのため、半導体パッケージ
の周囲の回路部品を一旦取り外すといった面倒で手間の
かかる作業が不要となり、その分、作業工数が少なくな
って、半導体パッケージの取り外し作業を容易に行なう
ことができる。
Moreover, it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board.
There is no problem even if other circuit components are arranged around the semiconductor package. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package is not required, and the number of work steps is reduced, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed.

【0032】それとともに、取り外すべき半導体パッケ
ージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確保
する必要もないので、回路基板上からデッドスペースを
排除することができ、高密度な実装が可能となる。
At the same time, there is no need to secure a space around the semiconductor package to be removed for the replacement jig, so that a dead space can be eliminated from the circuit board, and high-density mounting is possible. .

【0033】請求項5によれば、上記請求項4に記載さ
れた半導体パッケージは、複数の半田バンプが一列に並
べられた複数のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互
いに間隔を存して平行に配置されているとともに、上記
治具本体の半田切断部は、夫々上記バンプ列の方向に沿
って延びるバー状をなしており、これら半田切断部の間
に上記バンプ列が配置されている。
According to a fifth aspect, the semiconductor package according to the fourth aspect has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and the bump rows are spaced from each other. Are arranged in parallel with each other, and the solder cutting portions of the jig body each have a bar shape extending along the direction of the bump rows, and the bump rows are arranged between these solder cutting sections. I have.

【0034】この構成において、交換用治具をバンプ列
の配列方向に沿ってスライドさせると、バンプ列上の複
数の半田バンプとパッドとを接合している半田が半田切
断部によって一度に分断される。そのため、交換用治具
は、バンプ列の配置間隔に略対応する量だけスライドさ
せれば良く、この交換用治具のスライド量が少なくて済
む。
In this configuration, when the replacement jig is slid along the direction in which the bump rows are arranged, the solder joining the plurality of solder bumps and pads on the bump rows is cut at once by the solder cutting section. You. Therefore, the replacement jig need only be slid by an amount substantially corresponding to the arrangement interval of the bump rows, and the sliding amount of the replacement jig can be reduced.

【0035】この結果、半導体パッケージの周囲に交換
用治具のスライドを許容する広いスペースを必要とせ
ず、高密度な実装を実現する上で好都合となるととも
に、多数の半田バンプとパッドとの分離作業を短時間の
うちに効率良く行なうことができる。
As a result, it is not necessary to provide a large space around the semiconductor package to allow the replacement jig to slide, which is convenient for realizing high-density mounting, and is effective in separating a large number of solder bumps and pads. Work can be performed efficiently in a short time.

【0036】上記目的を達成するため、請求項6に記載
された発明は、多数の半田バンプがマトリックス状に並
べて配置された半導体パッケージを、上記半田バンプが
半田付けされた多数のパッドを有する回路基板から取り
外して交換する方法であって、上記半田バンプの間に介
在される複数の半田切断部を有する交換用治具を用意
し、この交換用治具を上記半導体パッケージに取り付け
るとともに、この交換用治具の半田切断部を上記半導体
パッケージの隣り合う半田バンプの間に介在させる第1
の工程と;上記半導体パッケージの半田バンプを回路基
板上のパッドに半田付けし、上記交換用治具の半田切断
部を上記半導体パッケージと回路基板との間に位置させ
る第2の工程と;上記交換治具を発熱又は加熱すること
により、上記半田バンプとパッドとを接合している半田
を溶融させる第3の工程と;上記半田が溶融された状態
で上記交換用治具を半導体パッケージと共に回路基板に
沿ってスライドさせ、この交換用治具の半田切断部で上
記半田を切断することにより半田バンプとパッドとを互
いに分離させる第4の工程と;上記交換用治具を回路基
板から遠ざかる方向に移動させることにより、上記半導
体パッケージを回路基板から取り出す第5の工程と;を
備えている。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor package having a large number of solder bumps arranged in a matrix and a circuit having a large number of pads to which the solder bumps are soldered. A method of detaching from a substrate and exchanging, comprising preparing an exchange jig having a plurality of solder cutting portions interposed between the solder bumps, attaching the exchange jig to the semiconductor package, and A first step of interposing a solder cutting portion of the jig between adjacent solder bumps of the semiconductor package;
The second step of soldering the solder bumps of the semiconductor package to the pads on the circuit board and positioning the solder cutting portion of the replacement jig between the semiconductor package and the circuit board; A third step of melting the solder joining the solder bumps and pads by heating or heating the replacement jig; and connecting the replacement jig with the semiconductor package in a state where the solder is melted. A fourth step of sliding along the board and cutting the solder at the solder cutting portion of the replacement jig to separate the solder bumps and the pads from each other; a direction in which the replacement jig is moved away from the circuit board And removing the semiconductor package from the circuit board by moving the semiconductor package to the circuit board.

【0037】この方法によれば、交換用治具は、予め半
導体パッケージと共に回路基板に実装されているので、
半田バンプとパッドとの半田付け部を直接かつ集中的に
加熱することができ、半導体パッケージの周囲への熱影
響が少なくなる。しかも、半田を溶融させる際に、治具
本体を半導体パッケージと回路基板との間の微小な隙間
に差し込む必要もなく、この半導体パッケージの周囲に
他の回路部品が配置されていても何等支障はない。その
ため、従来のように半導体パッケージの周囲の回路部品
を一旦取り外すといった面倒で手間のかかる作業が一切
不要となり、その分、作業工数が少なくなって、半導体
パッケージの取り外し作業を容易に行なうことができ
る。
According to this method, the replacement jig is previously mounted on the circuit board together with the semiconductor package.
The soldered portion between the solder bump and the pad can be directly and intensively heated, and the influence of heat on the periphery of the semiconductor package is reduced. Moreover, when the solder is melted, it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board. Even if other circuit components are arranged around the semiconductor package, no trouble occurs. Absent. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package as in the related art is not required at all, and the work man-hour is reduced accordingly, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed. .

【0038】それとともに、取り外すべき半導体パッケ
ージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確保
する必要もないので、回路基板上からデッドスペースを
排除することができ、高密度な実装が可能となる。
At the same time, there is no need to secure a space around the semiconductor package to be removed for inserting and removing the replacement jig, so that a dead space can be eliminated from the circuit board, and high-density mounting becomes possible. .

【0039】上記目的を達成するため、請求項7に記載
された発明は、パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジと;この半導体パッケージが実装される実装面を有
し、この実装面に上記半田バンプに対応する多数のパッ
ドがマトリックス状に並べて配置された回路基板と;を
備えており、上記半導体パッケージの半田バンプを上記
回路基板のパッドに半田付けしてなる回路モジュールを
前提としている。そして、上記半導体パッケージと上記
回路基板との間に、この半導体パッケージを交換する際
に用いる治具を配置し、この治具は、熱伝導性を有し、
しかも、上記半田バンプとパッドとを接合する半田を溶
融させるに足りる温度に発熱又は加熱される平坦な板状
をなす治具本体を有し、この治具本体は、上記パッケー
ジ本体に支持されているとともに、上記半田バンプが入
り込む複数の開口部を備えている。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a semiconductor package in which a large number of solder bumps are arranged in a matrix on a back surface of a package body; and a mounting surface on which the semiconductor package is mounted. A circuit board having a large number of pads corresponding to the solder bumps arranged in a matrix on the mounting surface; and soldering the solder bumps of the semiconductor package to the pads of the circuit board. It is assumed that the circuit module consists of And, a jig used when exchanging the semiconductor package is arranged between the semiconductor package and the circuit board, and the jig has thermal conductivity,
In addition, there is provided a flat plate-shaped jig body which is heated or heated to a temperature sufficient to melt the solder for bonding the solder bump and the pad, and the jig body is supported by the package body. And a plurality of openings into which the solder bumps enter.

【0040】この構成において、半導体パッケージを回
路基板から取り外すには、まず最初に、交換用治具の治
具本体を発熱又は加熱させる。すると、治具本体の開口
部の内側には、半田バンプが位置されているので、治具
本体の熱は、開口部の開口周縁を通じて半田バンプとパ
ッドとを接合している半田に直接伝えられ、この半田が
溶融する。半田が溶融したならば、交換用治具を半導体
パッケージと共に回路基板に沿うようにスライドさせ
る。このスライドにより、開口部の開口周縁が溶融状態
にある半田に接触し、この半田を分断する。この結果、
半田バンプとパッドとの半田付けが解除され、半導体パ
ッケージを回路基板から取り外すことができる。
In this configuration, to remove the semiconductor package from the circuit board, first, the jig body of the replacement jig is heated or heated. Then, since the solder bump is located inside the opening of the jig body, the heat of the jig body is directly transmitted to the solder joining the solder bump and the pad through the opening periphery of the opening. This solder melts. When the solder is melted, the replacement jig is slid along with the semiconductor package along the circuit board. By this slide, the opening periphery of the opening comes into contact with the solder in a molten state, and the solder is divided. As a result,
The soldering between the solder bumps and the pads is released, and the semiconductor package can be removed from the circuit board.

【0041】このような交換用治具は、予め半導体パッ
ケージと共に回路基板に実装されているので、半田バン
プとパッドとの半田付け部を直接かつ集中的に加熱する
ことができ、半導体パッケージの周囲への熱影響が少な
くなる。しかも、半田を溶融させる際に、治具本体を半
導体パッケージと回路基板との間の微小な隙間に差し込
む必要はなく、この半導体パッケージの周囲に他の回路
部品が配置されていても何等支障はない。そのため、従
来のように、半導体パッケージの周囲の回路部品を一旦
取り外すといった面倒で手間のかかる作業が不要とな
り、その分、作業工数が少なくなって、半導体パッケー
ジの取り外し作業を容易に行なうことができる。
Since such a replacement jig is mounted on the circuit board together with the semiconductor package in advance, the soldering portion between the solder bump and the pad can be directly and intensively heated, and the periphery of the semiconductor package can be heated. The thermal effect on the surface is reduced. Moreover, when melting the solder, it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board. Even if other circuit components are arranged around the semiconductor package, no trouble is caused. Absent. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package as in the related art is not required, and accordingly, the number of work steps is reduced, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed. .

【0042】それとともに、取り外すべき半導体パッケ
ージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確保
する必要もなくなるので、回路基板上からデッドスペー
スを排除することができ、高密度な実装が可能となる。
At the same time, there is no need to secure a space for inserting and removing the replacement jig around the semiconductor package to be removed, so that a dead space can be eliminated from the circuit board, and high-density mounting is possible. .

【0043】請求項8によれば、上記請求項7に記載さ
れた半導体パッケージは、複数の半田バンプが一列に並
べられた複数のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互
いに間隔を存して平行に配置されているとともに、上記
治具本体の開口部は、バンプ列の方向に沿って延びるス
リット状をなしており、これら開口部の数は、上記バン
プ列の数に対応している。
According to claim 8, the semiconductor package according to claim 7 has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and these bump rows are spaced apart from each other. And the openings of the jig main body are in the form of slits extending in the direction of the bump rows, and the number of these openings corresponds to the number of the bump rows. .

【0044】この構成において、交換用治具をバンプ列
の配列方向に沿ってスライドさせると、バンプ列上の複
数の半田バンプとパッドとを接合している半田が一度に
分断される。そのため、交換用治具は、バンプ列の配置
間隔に略対応する量だけスライドさせれば良く、この交
換用治具のスライド量が少なくて済む。
In this configuration, when the replacement jig is slid in the direction in which the bump rows are arranged, the solder joining the plurality of solder bumps and pads on the bump rows is cut at a time. Therefore, the replacement jig need only be slid by an amount substantially corresponding to the arrangement interval of the bump rows, and the sliding amount of the replacement jig can be reduced.

【0045】この結果、半導体パッケージの周囲に交換
用治具のスライドを許容する広いスペースを必要とせ
ず、高密度な実装を実現する上で好都合となるととも
に、多数の半田バンプとパッドとの分離作業を短時間の
うちに効率良く行なうことができる。
As a result, there is no need for a large space around the semiconductor package to allow the replacement jig to slide, which is convenient for realizing high-density mounting, and is effective in separating a large number of solder bumps and pads. Work can be performed efficiently in a short time.

【0046】上記目的を達成するため、請求項9に記載
された発明は、パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジと;この半導体パッケージが実装される実装面を有
し、この実装面に上記半田バンプに対応する多数のパッ
ドがマトリックス状に並べて配置された回路基板と;を
備えており、上記半導体パッケージの半田バンプを上記
回路基板のパッドに半田付けしてなる回路モジュールを
前提としている。そして、上記半導体パッケージと上記
回路基板との間に、この半導体パッケージを交換する際
に用いる治具を配置し、この治具は、熱伝導性を有し、
しかも、上記半田バンプとパッドとを接合する半田を溶
融させるに足りる温度に発熱又は加熱される治具本体を
有し、この治具本体は、上記パッケージ本体に支持され
ているとともに、上記隣り合う半田バンプの間に介在さ
れる複数の半田切断部を備えている。
In order to achieve the above object, an invention according to claim 9 is a semiconductor package in which a large number of solder bumps are arranged in a matrix on the back surface of a package body; a mounting surface on which the semiconductor package is mounted. A circuit board having a large number of pads corresponding to the solder bumps arranged in a matrix on the mounting surface; and soldering the solder bumps of the semiconductor package to the pads of the circuit board. It is assumed that the circuit module consists of And, a jig used when exchanging the semiconductor package is arranged between the semiconductor package and the circuit board, and the jig has thermal conductivity,
In addition, it has a jig body that is heated or heated to a temperature sufficient to melt the solder that joins the solder bump and the pad. The jig body is supported by the package body and is adjacent to the jig body. It has a plurality of solder cutting portions interposed between the solder bumps.

【0047】この構成において、半導体パッケージを回
路基板から取り外すには、まず最初に、交換用治具の治
具本体を発熱又は加熱させる。すると、治具本体の半田
切断部は、半田バンプに隣接されているので、この治具
本体の熱は、半田切断部を通じて半田バンプとパッドと
を接合している半田に直接伝えられ、この半田が溶融す
る。半田が溶融したならば、交換用治具を半導体パッケ
ージと共に回路基板に沿うようにスライドさせる。この
スライドにより、半田切断部の縁部が溶融状態にある半
田に接触し、この半田を分断する。この結果、半田バン
プとパッドとの半田付けが解除され、半導体パッケージ
を回路基板から取り外すことができる。
In this configuration, to remove the semiconductor package from the circuit board, first, the jig body of the replacement jig is heated or heated. Then, since the solder cutting portion of the jig main body is adjacent to the solder bump, the heat of the jig main body is directly transmitted to the solder joining the solder bump and the pad through the solder cutting portion, and this solder Melts. When the solder is melted, the replacement jig is slid along with the semiconductor package along the circuit board. With this slide, the edge of the solder cutting portion comes into contact with the molten solder, and the solder is cut. As a result, the soldering between the solder bumps and the pads is released, and the semiconductor package can be removed from the circuit board.

【0048】このような交換用治具は、予め半導体パッ
ケージと共に回路基板に実装されているので、半田バン
プとパッドとの半田付け部を直接かつ集中的に加熱する
ことができ、半導体パッケージの周囲への熱影響が少な
くなる。
Since such a replacement jig is mounted on the circuit board together with the semiconductor package in advance, the soldering portion between the solder bump and the pad can be directly and intensively heated, and the periphery of the semiconductor package can be heated. The thermal effect on the surface is reduced.

【0049】しかも、治具本体を半導体パッケージと回
路基板との間の微小な隙間に差し込む必要もないので、
この半導体パッケージの周囲に他の回路部品が配置され
ていても何等支障はない。そのため、半導体パッケージ
の周囲の回路部品を一旦取り外すといった面倒で手間の
かかる作業が不要となり、その分、作業工数が少なくな
って、半導体パッケージの取り外し作業を容易に行なう
ことができる。
Further, it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board.
There is no problem even if other circuit components are arranged around the semiconductor package. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package is not required, and the number of work steps is reduced, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed.

【0050】それとともに、取り外すべき半導体パッケ
ージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確保
する必要もないので、回路基板上からデッドスペースを
排除することができ、高密度な実装が可能となる。
At the same time, there is no need to secure a space around the semiconductor package to be removed for the replacement jig, so that a dead space can be eliminated from the circuit board, and high-density mounting is possible. .

【0051】請求項10によれば、上記請求項9に記載
された半導体パッケージは、複数の半田バンプが一列に
並べられた複数のバンプ列を有し、これらバンプ列は、
互いに間隔を存して平行に配置されているとともに、上
記治具本体の半田切断部は、夫々上記バンプ列の方向に
沿って延びるバー状をなしており、これら半田切断部の
間に上記バンプ列が配置されている。
According to a tenth aspect, the semiconductor package according to the ninth aspect has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row.
The solder cutting portions of the jig body are formed in a bar shape extending along the direction of the bump rows, and are arranged in parallel with an interval therebetween. Columns are arranged.

【0052】この構成において、交換用治具をバンプ列
の配列方向に沿ってスライドさせると、バンプ列上の複
数の半田バンプとパッドとを接合している半田が半田切
断部によって一度に分断される。そのため、交換用治具
は、バンプ列の配置間隔に略対応する量だけスライドさ
せれば良く、この交換用治具のスライド量が少なくて済
む。
In this configuration, when the replacement jig is slid along the direction in which the bump rows are arranged, the solder joining the plurality of solder bumps and pads on the bump rows is separated at a time by the solder cutting section. You. Therefore, the replacement jig need only be slid by an amount substantially corresponding to the arrangement interval of the bump rows, and the sliding amount of the replacement jig can be reduced.

【0053】この結果、半導体パッケージの周囲に交換
用治具のスライドを許容する広いスペースを必要とせ
ず、高密度な実装を実現する上で好都合となるととも
に、多数の半田バンプとパッドとの分離作業を短時間の
うちに効率良く行なうことができる。
As a result, it is not necessary to provide a large space around the semiconductor package to allow the replacement jig to slide, which is convenient for realizing high-density mounting. In addition, a large number of solder bumps and pads can be separated. Work can be performed efficiently in a short time.

【0054】請求項11によれば、上記請求項9に記載
された治具本体は、熱源が取り外し可能に接続される受
熱部を備えている。この構成において、半導体パッケー
ジが動作中に発熱すると、治具本体に半導体パッケージ
の熱が伝わり、この熱は、治具本体に拡散されるととも
に、この拡散による自然空冷により空気中に放熱され
る。そのため、半導体パッケージを交換する必要がない
時は、交換用治具を半導体パッケージのヒートシンクと
して活用することができる。
According to the eleventh aspect, the jig body according to the ninth aspect includes a heat receiving portion to which a heat source is detachably connected. In this configuration, when the semiconductor package generates heat during operation, the heat of the semiconductor package is transmitted to the jig main body, and the heat is diffused to the jig main body and is radiated into the air by natural air cooling due to the diffusion. Therefore, when there is no need to replace the semiconductor package, the replacement jig can be used as a heat sink for the semiconductor package.

【0055】また、治具本体の加熱は、受熱部に接続さ
れた熱源からの熱伝達により行なわれるので、治具本体
に熱源を内蔵する必要はない。そのため、交換用治具の
構成を簡略化でき、安価に提供することができる。
Further, since the jig body is heated by heat transfer from a heat source connected to the heat receiving portion, it is not necessary to incorporate a heat source in the jig body. Therefore, the configuration of the replacement jig can be simplified and provided at a low cost.

【0056】上記目的を達成するため、請求項12に記
載された電子機器は、箱状をなす筐体と;上記筐体の上
面に配置され、情報を入力するための入力手段と;上記
筐体の内部に取り出し可能に収容され、多数のパッドが
マトリックス状に並べて配置された実装面を有する回路
基板と;上記回路基板の実装面に面実装され、この実装
面と向かい合う裏面を有するとともに、この裏面に上記
パッドに半田付けされた多数の半田バンプを有する半導
体パッケージと;上記半導体パッケージに支持され、こ
の半導体パッケージと一体的に上記回路基板に実装され
る交換用治具と;を備えている。そして、上記交換用治
具は、熱伝導性を有するとともに、上記半導体パッケー
ジと回路基板との間に介在される治具本体を有し、この
治具本体は、上記半田バンプとパッドとを接合する半田
を溶融させるに足りる温度に発熱又は加熱されるととも
に、上記隣り合う半田バンプの間に介在される複数の半
田切断部を備えている。
In order to achieve the above object, an electronic device according to the twelfth aspect is provided with a box-shaped housing; an input means arranged on an upper surface of the housing for inputting information; A circuit board that is removably housed inside the body and has a mounting surface on which a number of pads are arranged in a matrix; and a surface that is surface-mounted on the mounting surface of the circuit board and has a back surface facing the mounting surface, A semiconductor package having a large number of solder bumps soldered to the pads on the back surface; and a replacement jig supported by the semiconductor package and mounted on the circuit board integrally with the semiconductor package. I have. The replacement jig has thermal conductivity and has a jig body interposed between the semiconductor package and the circuit board, and the jig body joins the solder bumps and the pads. It is heated or heated to a temperature sufficient to melt the solder to be soldered, and includes a plurality of solder cutting portions interposed between the adjacent solder bumps.

【0057】この構成において、半導体パッケージを回
路基板から取り外すには、回路基板を筐体から取り出
し、交換用治具の治具本体を発熱又は加熱させる。する
と、治具本体の半田切断部は、半田バンプに隣接されて
いるので、この治具本体の熱は、半田切断部を通じて半
田バンプとパッドとを接合している半田に直接伝えら
れ、この半田が溶融する。半田が溶融したならば、交換
用治具を半導体パッケージと共に回路基板に沿うように
スライドさせる。このスライドにより、半田切断部の縁
部が溶融状態にある半田に接触し、この半田を分断す
る。この結果、半田バンプとパッドとが互いに分離さ
れ、半導体パッケージを回路基板から取り外すことがで
きる。
In this configuration, to remove the semiconductor package from the circuit board, the circuit board is taken out of the housing and the jig body of the replacement jig is heated or heated. Then, since the solder cutting portion of the jig main body is adjacent to the solder bump, the heat of the jig main body is directly transmitted to the solder joining the solder bump and the pad through the solder cutting portion, and this solder Melts. When the solder is melted, the replacement jig is slid along with the semiconductor package along the circuit board. With this slide, the edge of the solder cutting portion comes into contact with the molten solder, and the solder is cut. As a result, the solder bump and the pad are separated from each other, and the semiconductor package can be removed from the circuit board.

【0058】このような交換用治具は、予め半導体パッ
ケージと共に回路基板に実装されているので、半田バン
プとパッドとの半田付け部を直接かつ集中的に加熱する
ことができ、半導体パッケージの周囲への熱影響が少な
くなる。
Since such a replacement jig is mounted on the circuit board together with the semiconductor package in advance, the soldering portion between the solder bump and the pad can be directly and intensively heated, and the periphery of the semiconductor package can be heated. The thermal effect on the surface is reduced.

【0059】しかも、治具本体を半導体パッケージと回
路基板との間の微小な隙間に差し込む必要もないので、
この半導体パッケージの周囲に他の回路部品が配置され
ていても何等支障はない。そのため、半導体パッケージ
の周囲の回路部品を一旦取り外すといった面倒で手間の
かかる作業が不要となり、その分、作業工数が少なくな
って、半導体パッケージの取り外し作業を容易に行なう
ことができる。
Further, it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board.
There is no problem even if other circuit components are arranged around the semiconductor package. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package is not required, and the number of work steps is reduced, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed.

【0060】それとともに、取り外すべき半導体パッケ
ージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確保
する必要もないので、回路基板上からデッドスペースを
排除することができ、高密度な実装が可能となる。
At the same time, it is not necessary to secure a space around the semiconductor package to be removed for the replacement jig, so that a dead space can be eliminated from the circuit board, and high-density mounting is possible. .

【0061】また、治具本体は熱伝導性を有するので、
半導体パッケージが動作中に発熱すると、上記治具本体
に半導体パッケージの熱が伝わる。この熱は、治具本体
に拡散されるとともに、この拡散による自然空冷により
筐体の内部に放熱され、この筐体を通じて外方に逃がさ
れる。そのため、半導体パッケージを交換する必要がな
い時は、交換用治具を半導体パッケージのヒートシンク
として活用することができる。
Since the jig body has thermal conductivity,
When the semiconductor package generates heat during operation, the heat of the semiconductor package is transmitted to the jig body. This heat is diffused into the jig main body, and is radiated to the inside of the housing by natural air cooling due to the diffusion, and is released outside through the housing. Therefore, when there is no need to replace the semiconductor package, the replacement jig can be used as a heat sink for the semiconductor package.

【0062】[0062]

【発明の実施の形態】以下本発明の第1の実施の形態
を、図1ないし図8にもとづいて説明する。図1は、電
子機器としてのポータブルコンピュータ1を示してい
る。このコンピュータ1は、偏平な箱状をなす筐体2
と、この筐体2に支持されたフラットなディスプレイユ
ニット3とを備えている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows a portable computer 1 as an electronic device. This computer 1 has a flat box-shaped housing 2
And a flat display unit 3 supported by the housing 2.

【0063】筐体2は、ベース4と、このベース4に取
り外し可能に連結されたアッパカバー5とに分割されて
いる。ベース4は、平坦な底壁4aを有している。アッ
パカバー5は、底壁4aと向かい合う上壁5aを有して
いる。上壁5aの前部は、平坦なアームレスト6となっ
ており、このアームレスト6の後方には、情報を入力す
る手段としてのキーボード7が配置されている。
The housing 2 is divided into a base 4 and an upper cover 5 detachably connected to the base 4. The base 4 has a flat bottom wall 4a. The upper cover 5 has an upper wall 5a facing the bottom wall 4a. A front portion of the upper wall 5a is a flat armrest 6, and a keyboard 7 as a means for inputting information is disposed behind the armrest 6.

【0064】ディスプレイユニット3は、上記筐体2の
後端部にヒンジ軸8を介して支持されている。そのた
め、ディスプレイユニット3は、アームレスト6やキー
ボード7を上方から覆う閉じ位置と、キーボード7の後
方において起立する開き位置とに亘って回動可能となっ
ている。
The display unit 3 is supported at the rear end of the housing 2 via a hinge shaft 8. Therefore, the display unit 3 is rotatable between a closed position that covers the armrest 6 and the keyboard 7 from above and an open position that stands up behind the keyboard 7.

【0065】筐体2の内部には、回路モジュール9が収
容されている。回路モジュール9は、回路基板10と、
この回路基板10に実装されたBGA形の半導体パッケ
ージ11およびこの半導体パッケージ11に隣接して配
置されたその他の回路部品12とを備えている。
A circuit module 9 is housed inside the housing 2. The circuit module 9 includes a circuit board 10 and
The semiconductor device includes a BGA type semiconductor package 11 mounted on the circuit board 10 and other circuit components 12 disposed adjacent to the semiconductor package 11.

【0066】上記回路基板10は、筐体2の底壁4aに
取り外し可能に支持されている。この回路基板10は、
図6の(A)に示すように、例えばガラスエポキシある
いはポリミイド等により形成された絶縁基板13を有
し、この絶縁基板13上には、導体パターン14が形成
されている。
The circuit board 10 is detachably supported on the bottom wall 4 a of the housing 2. This circuit board 10
As shown in FIG. 6A, an insulating substrate 13 made of, for example, glass epoxy or polyimide is provided. On the insulating substrate 13, a conductor pattern 14 is formed.

【0067】絶縁基板13の表面は、平坦な実装面13
aをなしている。実装面13aには、図7に示すよう
に、多数のパッド15がマトリックス状に並べて配置さ
れている。これらパッド15は、上記導体パターン14
に電気的に接続されている。パッド15は、夫々円形の
平面形状を有し、夫々のパッド15の表面は、半田層1
6によって覆われている。半田層16は、パッド15の
表面に半田ペーストを印刷することにより構成されてい
る。
The surface of the insulating substrate 13 has a flat mounting surface 13.
a. As shown in FIG. 7, a large number of pads 15 are arranged in a matrix on the mounting surface 13a. These pads 15 are connected to the conductive patterns 14.
Is electrically connected to Each pad 15 has a circular planar shape, and the surface of each pad 15 is
6. The solder layer 16 is formed by printing a solder paste on the surface of the pad 15.

【0068】また、絶縁基板13は、ソルダレジスト層
18によって覆われている。このソルダレジスト層18
は、上記パッド15に対応した部分において除去されて
いる。
The insulating substrate 13 is covered with a solder resist layer 18. This solder resist layer 18
Is removed at the portion corresponding to the pad 15.

【0069】図2に示すように、上記半導体パッケージ
11は、パッケージ本体20を有している。パッケージ
本体20は、偏平な四角形箱状をなしている。このパッ
ケージ本体20は、パッケージ基材としてのプリント基
板21と、このプリント基板21の表面21aに実装さ
れ、動作中に発熱するICチップ22と、このICチッ
プ22をプリント基板21にモールドする合成樹脂ある
いはセラミック製のモールド材23とを備えている。プ
リント基板21の表面21aには、配線パターン24が
形成されており、この配線パターン24に上記ICチッ
プ22がワイヤーボンディングされている。
As shown in FIG. 2, the semiconductor package 11 has a package body 20. The package body 20 has a flat rectangular box shape. The package body 20 includes a printed circuit board 21 as a package base material, an IC chip 22 mounted on the surface 21 a of the printed circuit board 21 and generating heat during operation, and a synthetic resin for molding the IC chip 22 on the printed circuit board 21. Alternatively, a mold member 23 made of ceramic is provided. A wiring pattern 24 is formed on the front surface 21a of the printed circuit board 21, and the IC chip 22 is wire-bonded to the wiring pattern 24.

【0070】プリント基板21の裏面21bは、モール
ド材23によって覆われておらず、この裏面21bに
は、図6の(A)に示すような多数の接続パッド26が
マトリックス状に並べて配置されている。接続パッド2
6は、上記配線パターン24に導通されている。プリン
ト基板21の裏面21bは、ソルダレジスト層25によ
って覆われている。このソルダレジスト層25は、上記
接続パッド26に対応した位置において除去されてい
る。
The back surface 21b of the printed circuit board 21 is not covered with the molding material 23. On the back surface 21b, a large number of connection pads 26 as shown in FIG. I have. Connection pad 2
6 is electrically connected to the wiring pattern 24. The back surface 21b of the printed board 21 is covered with a solder resist layer 25. The solder resist layer 25 is removed at a position corresponding to the connection pad 26.

【0071】プリント基板21の接続パッド26には、
夫々球形の半田バンプ27が接合されている。半田バン
プ27の外周面は、夫々半田層28によって覆われてお
り、この半田層28によって半田バンプ27と接続パッ
ド26とが互いに接合されている。
The connection pads 26 of the printed circuit board 21
The spherical solder bumps 27 are respectively joined. The outer peripheral surfaces of the solder bumps 27 are each covered with a solder layer 28, and the solder bumps 27 and the connection pads 26 are joined to each other by the solder layer 28.

【0072】半田バンプ27は、半導体パッケージ11
の外部端子として機能するものであり、上記回路基板1
0のパッド15と対応するように、上記プリント基板2
1の裏面21bにマトリックス状に並べて配置されてい
る。すなわち、図5に示すように、多数の半田バンプ2
7は、上記プリント基板21の裏面21bに、複数のバ
ンプ列29を構成している。各バンプ列29において
は、複数の半田バンプ27が互いに間隔を存して一列に
並べられており、これらバンプ列29は、互いに間隔を
存して平行に配置されている。そのため、隣り合う半田
バンプ27の間には、隙間30が形成されている。
The solder bump 27 is connected to the semiconductor package 11
Of the circuit board 1
0 so as to correspond to the pad 15 of the printed circuit board 2.
They are arranged in a matrix on one back surface 21b. That is, as shown in FIG.
Reference numeral 7 denotes a plurality of bump arrays 29 on the back surface 21b of the printed circuit board 21. In each of the bump rows 29, a plurality of solder bumps 27 are arranged in a row with an interval therebetween, and the bump rows 29 are arranged in parallel with an interval between each other. Therefore, a gap 30 is formed between the adjacent solder bumps 27.

【0073】なお、上記半田バンプ27は、上記半田層
16および28よりも高融点の半田にて構成されてい
る。このような構成の半導体パッケージ11は、リフロ
ー・半田付け方式により回路基板10に実装される。こ
の実装手順について説明すると、まず、半導体パッケー
ジ11を回路基板10の実装面13aに供給し、半田バ
ンプ27を所望のパッド15に対応させる。次に、回路
基板10を半導体パッケージ11と共にリフロー炉に収
容し、これら回路基板10および半導体パッケージ11
を加熱する。この加熱により、半田層16,28が溶融
して互いに一体化され、これら半田層16,28を介し
て半田バンプ27とパッド15とが接合される。この結
果、半導体パッケージ11がパッド15に電気的に接続
されるとともに、回路基板10に固着される。
The solder bump 27 is made of solder having a higher melting point than the solder layers 16 and 28. The semiconductor package 11 having such a configuration is mounted on the circuit board 10 by a reflow soldering method. Describing this mounting procedure, first, the semiconductor package 11 is supplied to the mounting surface 13a of the circuit board 10, and the solder bumps 27 are made to correspond to the desired pads 15. Next, the circuit board 10 and the semiconductor package 11 are housed in a reflow furnace, and the circuit board 10 and the semiconductor package 11 are stored.
Heat. By this heating, the solder layers 16 and 28 are melted and integrated with each other, and the solder bump 27 and the pad 15 are joined via the solder layers 16 and 28. As a result, the semiconductor package 11 is electrically connected to the pads 15 and is fixed to the circuit board 10.

【0074】ところで、上記回路モジュール9における
半導体パッケージ11の実装部分には、図8に示すよう
な交換用治具31が一体的に実装されている。この交換
用治具31は、半導体パッケージ11を回路基板10か
ら取り外す際に使用するものであり、以下この交換用治
具31について説明する。
Incidentally, a replacement jig 31 as shown in FIG. 8 is integrally mounted on a mounting portion of the semiconductor package 11 in the circuit module 9. The replacement jig 31 is used when removing the semiconductor package 11 from the circuit board 10. The replacement jig 31 will be described below.

【0075】図2および図8に示すように、交換用治具
31は、治具本体32を備えている。治具本体32は、
熱伝導性に優れ、しかも、軽量なアルミニウム合金材料
にて構成されている。治具本体32は、上記半導体パッ
ケージ11のパッケージ本体20よりも僅かに大きな平
面形状を有する平坦な板状をなしている。この治具本体
32の肉厚は、上記半田バンプ27の直径よりも小さく
定められている。
As shown in FIGS. 2 and 8, the replacement jig 31 includes a jig main body 32. The jig body 32
It is made of a lightweight aluminum alloy material with excellent thermal conductivity. The jig main body 32 has a flat plate shape having a slightly larger planar shape than the package main body 20 of the semiconductor package 11. The thickness of the jig body 32 is set to be smaller than the diameter of the solder bump 27.

【0076】治具本体32には、複数の開口部34が形
成されている。開口部34は、上記半導体パッケージ1
1のバンプ列29に対応するものであり、夫々バンプ列
29の長手方向に延びるスリット状をなしている。開口
部34の長軸方向の長さL1は、バンプ列29の全長よ
りも大きく定められているとともに、開口部34の端軸
方向の長さL2 は、半田バンプ27の直径よりも大きく
定められている。そして、開口部34は、互いに間隔を
存して平行に配置されており、これら開口部34の数
は、上記バンプ列29に数と一致している。
A plurality of openings 34 are formed in the jig body 32. The opening 34 is provided in the semiconductor package 1.
Each of the bump rows 29 corresponds to one of the bump rows 29, and has a slit shape extending in the longitudinal direction of the bump row 29. The length L1 of the opening 34 in the long axis direction is set larger than the entire length of the bump row 29, and the length L2 of the opening 34 in the end axis direction is set larger than the diameter of the solder bump 27. ing. The openings 34 are arranged in parallel with an interval therebetween, and the number of the openings 34 matches the number of the bump rows 29.

【0077】隣り合う開口部34の間には、複数の半田
切断部35が形成されている。半田切断部35は、バン
プ列29の方向に延びるバー状をなしており、これら半
田切断部35は、開口部34の開口周縁34aに連なっ
ている。
A plurality of solder cutting portions 35 are formed between adjacent openings 34. The solder cutting portion 35 has a bar shape extending in the direction of the bump row 29, and these solder cutting portions 35 are connected to the opening periphery 34 a of the opening 34.

【0078】治具本体32は、半導体パッケージ11の
プリント基板21の裏面21bに重ねられている。この
場合、半導体パッケージ11のバンプ列29は、夫々治
具本体32の開口部34の内側に入り込んでおり、隣り
合うバンプ列29の間の隙間30に上記半田切断部35
が配置されている。そして、図6の(A)に示すよう
に、半田切断部35に連なる開口周縁34aと半田バン
プ27とは、互いに向かい合っている。この開口周縁3
4aや半田切断部35を含む治具本体32の外表面は、
耐熱性と電気絶縁性とを兼ね備えた絶縁被膜36により
覆われている。そのため、治具本体32と半田バンプ2
7およびプリント基板21とは、電気的に絶縁された状
態に保たれている。
The jig body 32 is overlaid on the back surface 21 b of the printed circuit board 21 of the semiconductor package 11. In this case, the bump rows 29 of the semiconductor package 11 enter the insides of the openings 34 of the jig main body 32, and the solder cutting sections 35 are inserted into the gaps 30 between the adjacent bump rows 29.
Is arranged. Then, as shown in FIG. 6A, the opening edge 34a connected to the solder cutting portion 35 and the solder bump 27 face each other. This opening edge 3
4a and the outer surface of the jig main body 32 including the solder cutting portion 35,
It is covered with an insulating film 36 having both heat resistance and electric insulation. Therefore, the jig body 32 and the solder bump 2
7 and the printed circuit board 21 are kept electrically insulated.

【0079】治具本体32は、一対の受熱部37a,3
7bを一体に備えている。受熱部37a,37bは、治
具本体32の外周部において、上記開口部34の長軸方
向に互いに離間して配置されている。そのため、受熱部
37a,37bは、開口部34を挾んで互いに向かい合
っている。
The jig body 32 includes a pair of heat receiving portions 37a, 37a.
7b are integrally provided. The heat receiving portions 37 a and 37 b are arranged on the outer peripheral portion of the jig main body 32 so as to be separated from each other in the longitudinal direction of the opening 34. Therefore, the heat receiving portions 37a and 37b face each other with the opening 34 interposed therebetween.

【0080】受熱部37a,37bの下端部と治具本体
32の上面とで規定される角部には、係合溝38a,3
8bが形成されており、これら係合溝38a,38bに
上記半導体パッケージ11のプリント基板21が取り外
し可能に係合されている。この係合により、治具本体3
2と半導体パッケージ11とが一体化され、治具本体3
2がプリント基板21の裏面21bに重ねられている。
At the corners defined by the lower ends of the heat receiving portions 37a and 37b and the upper surface of the jig body 32, engagement grooves 38a and 3 are formed.
8b are formed, and the printed board 21 of the semiconductor package 11 is detachably engaged with the engagement grooves 38a and 38b. By this engagement, the jig body 3
2 and the semiconductor package 11 are integrated, and the jig body 3
2 is superimposed on the back surface 21b of the printed circuit board 21.

【0081】そのため、半導体パッケージ11を回路基
板10に実装すると、これら半導体パッケージ11と回
路基板10との間に治具本体32が介在されるようにな
っている。
Therefore, when the semiconductor package 11 is mounted on the circuit board 10, the jig main body 32 is interposed between the semiconductor package 11 and the circuit board 10.

【0082】受熱部37a,37bは、夫々挿入口40
を備えている。挿入口40の終端は、上記治具本体32
の外周部にまで達しており、これら挿入口40には、熱
源としてのシーズヒータ41が取り外し可能に挿入され
るようになっている。
The heat receiving portions 37a and 37b are respectively
It has. The end of the insertion port 40 is connected to the jig main body 32.
The sheath heater 41 as a heat source is removably inserted into these insertion ports 40.

【0083】したがって、挿入口40にシーズヒータ4
1を挿入すると、このシーズヒータ41の熱が受熱部3
7a,37bを介して治具本体32に伝わり、この治具
本体32が上記半田バンプ27とパッド15とを接合し
ている半田層16,28を溶融させるに足りる温度に加
熱されるようになっている。
Therefore, the sheath heater 4 is
1 is inserted, the heat of the sheath heater 41 is
The heat is transmitted to the jig main body 32 through 7a and 37b, and the jig main body 32 is heated to a temperature sufficient to melt the solder layers 16 and 28 joining the solder bump 27 and the pad 15. ing.

【0084】このような構成において、半導体パッケー
ジ11のICチップ22に不良が発生した場合に、この
半導体パッケージ11を交換する手順について説明す
る。まず最初に、回路基板10を筐体2から取り出し、
半導体パッケージ11と共に回路基板10に実装されて
いる交換用治具31の挿入口40にシーズヒータ41を
挿入する。
A procedure for replacing the semiconductor package 11 when a defect occurs in the IC chip 22 of the semiconductor package 11 in such a configuration will be described. First, the circuit board 10 is taken out of the housing 2 and
The sheath heater 41 is inserted into the insertion opening 40 of the replacement jig 31 mounted on the circuit board 10 together with the semiconductor package 11.

【0085】このシーズヒータ41の熱は、受熱部37
a,37bを通じて治具本体32に伝えられ、その開口
周縁34aを含む半田切断部35がパッド15と半田バ
ンプ27とを接合している半田層16,28を溶融させ
るに足りる温度に加熱される。
The heat of the sheath heater 41 is transferred to the heat receiving section 37.
a, 37b, and is transmitted to the jig body 32, and the solder cutting portion 35 including the opening peripheral edge 34a is heated to a temperature sufficient to melt the solder layers 16, 28 joining the pad 15 and the solder bump 27. .

【0086】すると、治具本体32の開口周縁34a
は、半田バンプ27に隣接されているので、この治具本
体32の熱が半田層16,28に直接伝えられ、半田層
16,28が溶融する。半田層16,28が溶融した
ら、図6の(B)や図7のの矢印に示すように、交換用
治具31を半導体パッケージ11と共に回路基板10の
実装面13aに沿ってバンプ列29の配列方向にスライ
ドさせる。
Then, the opening peripheral edge 34a of the jig body 32
Is adjacent to the solder bump 27, the heat of the jig body 32 is directly transmitted to the solder layers 16, 28, and the solder layers 16, 28 are melted. When the solder layers 16 and 28 are melted, the replacement jig 31 is moved together with the semiconductor package 11 along the mounting surface 13a of the circuit board 10 into the bump row 29, as shown by arrows in FIG. 6B and FIG. Slide in the array direction.

【0087】このスライドにより、開口部34の開口周
縁34a、つまり半田切断部35が上記溶融状態にある
半田層16,28に接触し、バンプ列29上の複数の半
田バンプ27とパッド15とを接合している半田層1
6,28を一度に分断する。この結果、半田バンプ27
とパッド15とが分離され、半導体パッケージ11の半
田付けが解除される。
By this slide, the opening periphery 34 a of the opening 34, that is, the solder cutting portion 35 comes into contact with the solder layers 16 and 28 in the molten state, and the plurality of solder bumps 27 and the pads 15 on the bump row 29 are connected. Solder layer 1 joined
Cut 6,28 at a time. As a result, the solder bump 27
And the pad 15 are separated, and the soldering of the semiconductor package 11 is released.

【0088】最後に、半導体パッケージ11を回路基板
10の実装面13aから遠ざかる方向に引き上げ、この
半導体パッケージ11を回路基板10から取り外すこと
で、一連の作業が終了する。
Finally, the semiconductor package 11 is pulled up in a direction away from the mounting surface 13a of the circuit board 10, and the semiconductor package 11 is removed from the circuit board 10, thereby completing a series of operations.

【0089】このような構成によれば、加熱される交換
用治具31は、予め半導体パッケージ11と共に回路基
板10に実装され、その治具本体32の半田切断部35
が半田バンプ27とパッド15とを接合している半田層
16,28に隣接しているので、この半田層16,28
を直接かつ集中的に加熱することができる。したがっ
て、半導体パッケージ11の周囲に位置する他の回路部
品12への熱影響を少なく抑えることができる。
According to such a configuration, the replacement jig 31 to be heated is mounted on the circuit board 10 together with the semiconductor package 11 in advance, and the solder cutting portion 35 of the jig body 32 is provided.
Are adjacent to the solder layers 16 and 28 joining the solder bumps 27 and the pads 15, so that the solder layers 16 and 28
Can be directly and intensively heated. Therefore, the influence of heat on other circuit components 12 located around the semiconductor package 11 can be reduced.

【0090】しかも、交換用治具31を半導体パッケー
ジ11と回路基板10との間の微小な隙間に差し込む必
要はなく、この半導体パッケージ11の周囲に他の回路
部品12が配置されていても何等支障は生じない。その
ため、従来のように半導体パッケージ11の周囲に位置
する回路部品12を一旦取り外すといった面倒で手間の
かかる作業は一切不要となり、その分、作業工数が少な
くなって、半導体パッケージ11の取り外し作業を容易
に行なうことができる。
Further, it is not necessary to insert the replacement jig 31 into a minute gap between the semiconductor package 11 and the circuit board 10, and even if another circuit component 12 is arranged around the semiconductor package 11, No problem occurs. Therefore, the troublesome and troublesome work of once removing the circuit component 12 located around the semiconductor package 11 as in the related art becomes unnecessary, and the work man-hour is reduced by that much, and the work of removing the semiconductor package 11 becomes easy. Can be performed.

【0091】特に、交換用治具31は、バンプ列29の
配列方向にスライドされるとともに、交換用治具31の
半田切断部35は、隣り合うバンプ列29の間に介在さ
れているので、交換用治具31をバンプ列29の配置間
隔に対応した量だけスライドさせるだけの作業で、全て
の半田バンプ27とパッド15とを接合している半田層
16,28を分断することができる。
In particular, the replacement jig 31 is slid in the direction in which the bump rows 29 are arranged, and the solder cutting portion 35 of the replacement jig 31 is interposed between the adjacent bump rows 29. By simply sliding the replacement jig 31 by an amount corresponding to the arrangement interval of the bump rows 29, the solder layers 16, 28 joining all the solder bumps 27 and the pads 15 can be separated.

【0092】そのため、交換用治具31のスライド量が
少なくて済み、半導体パッケージ11の周囲に交換用治
具31のスライドを許容する広いスペースを必要としな
い。よって、高密度な実装を実現する上で好都合となる
とともに、多数の半田バンプ27とパッド15との分離
作業を短時間のうちに効率良く行なうことができる。
Therefore, the sliding amount of the replacement jig 31 is small, and a large space for allowing the replacement jig 31 to slide around the semiconductor package 11 is not required. Therefore, it is convenient for realizing high-density mounting, and the work of separating a large number of solder bumps 27 and pads 15 can be efficiently performed in a short time.

【0093】それとともに、上記構成によると、交換用
治具31は、予め半導体パッケージ11と一体的に回路
基板10に実装されているので、取り外すべき半導体パ
ッケージ11の周囲に交換用治具31を出し入れするス
ペースを確保する必要はない。そのため、回路基板10
上からデッドスペースを排除することができ、高密度な
実装が可能となる。
At the same time, according to the above configuration, the replacement jig 31 is mounted on the circuit board 10 integrally with the semiconductor package 11 in advance, so that the replacement jig 31 is placed around the semiconductor package 11 to be removed. There is no need to secure space for access. Therefore, the circuit board 10
Dead space can be eliminated from above, and high-density mounting is possible.

【0094】また、交換用治具31は、その受熱部37
a,37bにシーズヒータ41を差し込むことにより所
望の温度に加熱されるので、交換用治具31に熱源を内
蔵する必要はなく、この交換用治具31の構成を簡略化
することができる。そのため、交換用治具31のコスト
を低減することができる。
The replacement jig 31 has a heat receiving portion 37.
Since the sheath is heated to a desired temperature by inserting the sheath heater 41 into the a and 37b, it is not necessary to incorporate a heat source in the replacement jig 31, and the configuration of the replacement jig 31 can be simplified. Therefore, the cost of the replacement jig 31 can be reduced.

【0095】さらに、熱伝導性を有する治具本体32
は、半導体パッケージ11に接しているので、コンピュ
ータ1の動作に伴って半導体パッケージ11が発熱する
と、この半導体パッケージ11の熱が上記治具本体32
に伝わる。この半導体パッケージ11の熱は、治具本体
32に拡散されるとともに、この拡散による自然空冷に
より筐体2の内部に放熱され、この筐体2を通じて空気
中に逃がされる。
Further, a jig body 32 having thermal conductivity is provided.
Is in contact with the semiconductor package 11, and when the semiconductor package 11 generates heat with the operation of the computer 1, the heat of the semiconductor package 11 is transferred to the jig main body 32.
Transmitted to. The heat of the semiconductor package 11 is diffused to the jig main body 32, is radiated to the inside of the housing 2 by natural air cooling by the diffusion, and is released into the air through the housing 2.

【0096】このため、半導体パッケージ11を交換す
る必要がない時は、交換用治具31を半導体パッケージ
11のヒートシンクとして活用することができる。した
がって、筐体2の内部に専用のヒートシンクを収容する
必要はなく、限られた大きさの筐体2の内部を有効に活
用することができる。
Therefore, when there is no need to replace the semiconductor package 11, the replacement jig 31 can be used as a heat sink for the semiconductor package 11. Therefore, it is not necessary to house a dedicated heat sink inside the housing 2, and the inside of the housing 2 having a limited size can be effectively used.

【0097】なお、本発明は、上記第1の実施の形態に
特定されるものではなく、図9に本発明の第2の実施の
形態を示す。この第2の実施の形態は、交換用治具31
を加熱する構成が上記第1の実施の形態と相違してお
り、それ以外の構成は、上記第1の実施の形態と同様で
ある。そのため、第2の実施の形態において、第1の実
施の形態と同一の構成部分には、同一の参照符号を付し
てその説明を省略する。
Note that the present invention is not limited to the first embodiment, and FIG. 9 shows a second embodiment of the present invention. In the second embodiment, a replacement jig 31 is used.
Is different from that of the first embodiment, and the other configuration is the same as that of the first embodiment. Therefore, in the second embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0098】図9に示すように、交換用治具31の治具
本体32には、リード線50を介してパルス電源51が
取り外し可能に接続されている。このパルス電源51
は、治具本体32に瞬間的に大電流を流すことで、この
治具本体32を加熱するものであり、この電流値を変化
させることで、治具本体32の加熱温度を複数のステッ
プに自由に変えられるようになっている。
As shown in FIG. 9, a pulse power source 51 is detachably connected to the jig main body 32 of the replacement jig 31 via a lead wire 50. This pulse power supply 51
Is to heat the jig body 32 by instantaneously applying a large current to the jig body 32. By changing the current value, the heating temperature of the jig body 32 can be set in a plurality of steps. It can be changed freely.

【0099】このような構成によると、治具本体32の
温度を複数のステップに自由に設定できるために、例え
ば交換用治具31を回路基板11に沿ってスライドさせ
る以前に、予め交換用治具31そのものを半田層16,
28の溶融温度付近にまで加熱しておき、この交換用治
具31の半田切断部35が半田層16,28に接した瞬
間に、上記溶融温度よりも高い温度に交換用治具31を
昇温させるといった制御が可能となる。
According to such a configuration, the temperature of the jig main body 32 can be freely set in a plurality of steps. Therefore, for example, before the jig for replacement 31 is slid along the circuit board 11, the jig for replacement is The tool 31 itself is connected to the solder layer 16,
28, and when the solder cutting portion 35 of the replacement jig 31 contacts the solder layers 16 and 28, the replacement jig 31 is raised to a temperature higher than the melting temperature. Control such as heating can be performed.

【0100】そのため、パッド15と半田バンプ27と
を接合している半田層16,28を確実に分断すること
ができ、半導体パッケージ11の半田付けを解除する際
の信頼性がより向上する。
Therefore, the solder layers 16 and 28 joining the pad 15 and the solder bump 27 can be reliably separated, and the reliability when the soldering of the semiconductor package 11 is released is further improved.

【0101】また、図10ないし図12は、本発明の第
3の実施の形態を開示している。この第3の実施の形態
は、交換用治具31を加熱する構成が上記第1の実施の
形態と相違しており、それ以外の構成は、上記第1の実
施の形態と同様である。したがって、この第3の実施の
形態においても、第1の実施の形態と同一の構成部分に
は、同一の参照符号を付してその説明を省略する。
FIG. 10 to FIG. 12 disclose a third embodiment of the present invention. The third embodiment is different from the first embodiment in the configuration for heating the replacement jig 31, and the other configurations are the same as the first embodiment. Therefore, also in the third embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0102】この第3の実施の形態は、交換用治具31
を熱風あるいは蒸気のような加熱媒体を利用して加熱す
るようにしたものである。図10および図11に示すよ
うに、治具本体31の一方の受熱部37aの内部には、
媒体供給室61が形成され、他方の受熱部37bの内部
には、媒体排出室62が形成されている。
In the third embodiment, a replacement jig 31 is used.
Is heated using a heating medium such as hot air or steam. As shown in FIGS. 10 and 11, inside one heat receiving portion 37 a of the jig body 31,
A medium supply chamber 61 is formed, and a medium discharge chamber 62 is formed inside the other heat receiving section 37b.

【0103】また、受熱部37a,37bに連なる治具
本体32の両側部には、第1および第2の媒体通路63
a,63bが形成されている。第1の媒体通路63a
は、上記媒体供給室61に連なっている。第2の媒体通
路63bは、上記媒体排出室62に連なっている。
The first and second medium passages 63 are provided on both sides of the jig main body 32 connected to the heat receiving portions 37a and 37b.
a, 63b are formed. First medium passage 63a
Is connected to the medium supply chamber 61. The second medium passage 63b is connected to the medium discharge chamber 62.

【0104】これら第1および第2の媒体通路63a,
63bは、上記開口部34を挾んで互いに向かい合うと
ともに、開口部34の配列方向に沿って直線状に延びて
いる。そして、第1および第2の媒体通路63a,63
bは、複数の連通路64を介して互いに連通されてい
る。連通路64は、治具本体32の半田切断部35に対
応して配置されており、これら半田切断部35の内部を
貫通して延びている。
The first and second medium passages 63a, 63a,
63b face each other with the opening 34 interposed therebetween, and extend linearly along the arrangement direction of the openings 34. Then, the first and second medium passages 63a, 63
b communicate with each other via a plurality of communication paths 64. The communication passage 64 is arranged corresponding to the solder cutting portion 35 of the jig main body 32, and extends through the inside of the solder cutting portion 35.

【0105】受熱部37aの媒体供給室61には、媒体
供給管65が取り外し可能に接続されている。この媒体
供給管65は、図示しない媒体供給源に連なっている。
また、受熱部37bの媒体排出室62には、媒体排出管
66が取り外し可能に接続されている。
A medium supply pipe 65 is detachably connected to the medium supply chamber 61 of the heat receiving section 37a. The medium supply pipe 65 is connected to a medium supply source (not shown).
Further, a medium discharge pipe 66 is detachably connected to the medium discharge chamber 62 of the heat receiving section 37b.

【0106】このような構成の交換用治具31を加熱す
るには、回路基板10を筐体2から取り出した後、治具
本体32の媒体供給室61に媒体供給管65を接続する
とともに、媒体排出室62に媒体排出管66を接続す
る。媒体供給管65から供給される加熱媒体は、媒体供
給室61を通じて第1の媒体通路63aに導かれ、ここ
から連通路64に流れ込む。この加熱媒体の流通によ
り、主に治具本体32の半田切断部35が半田層16,
28を溶融させるに足りる温度に加熱される。そして、
この連通路64を流れる加熱媒体は、第2の媒体通路6
3bを介して媒体排出室62に導かれ、ここから媒体排
出管66を介して治具本体32の外方に排出される。
In order to heat the replacement jig 31 having such a configuration, the circuit board 10 is taken out of the housing 2, and the medium supply pipe 65 is connected to the medium supply chamber 61 of the jig main body 32. The medium discharge pipe 66 is connected to the medium discharge chamber 62. The heating medium supplied from the medium supply pipe 65 is guided to the first medium passage 63 a through the medium supply chamber 61, and flows into the communication passage 64 from here. Due to the circulation of the heating medium, the solder cutting portion 35 of the jig main body 32 mainly
28 is heated to a temperature sufficient to melt. And
The heating medium flowing through the communication passage 64 is supplied to the second medium passage 6.
It is guided to the medium discharge chamber 62 through 3b, and is discharged from the jig body 32 through the medium discharge pipe 66 from here.

【0107】したがって、この第3の実施の形態による
と、治具本体32の半田切断部35を、連通路64を流
れる加熱媒体によって加熱することができる。そのた
め、上記第1の実施の形態と同様に、交換用治具11を
回路基板10に沿ってスライドさせれば、加熱された半
田切断部35によってパッド15と半田バンプ27とを
接合している半田層16,28を分断することができ、
半導体パッケージ11の半田付けを解除することができ
る。
Therefore, according to the third embodiment, the solder cutting portion 35 of the jig main body 32 can be heated by the heating medium flowing through the communication path 64. Therefore, as in the first embodiment, when the replacement jig 11 is slid along the circuit board 10, the pad 15 and the solder bump 27 are joined by the heated solder cutting portion 35. The solder layers 16 and 28 can be separated,
The soldering of the semiconductor package 11 can be released.

【0108】なお、上記第1の実施の形態では、治具本
体に複数のバンプ列に対応した数の開口部を形成した
が、本発明はこれに限らず、一つの開口部を二つのバン
プ列が入り込めるような大きさに形成しても良い。
In the first embodiment, the jig body is formed with a number of openings corresponding to a plurality of bump rows. However, the present invention is not limited to this. It may be formed in such a size that a row can be inserted.

【0109】また、治具本体の開口部をバンプ列の長さ
方向に沿って区分けすることにより、半田切断部を格子
状に形成するようにしても良い。さらに、交換用治具の
材質は、アルミニウム合金に特定されるものではなく、
例えば真鍮、モリブデン、マグネシウムあるいはステン
レスのような他の金属材料にて構成しても良い。
Further, by dividing the opening of the jig main body along the length direction of the bump row, the solder cut portion may be formed in a lattice shape. Furthermore, the material of the replacement jig is not limited to aluminum alloy,
For example, it may be made of another metal material such as brass, molybdenum, magnesium or stainless steel.

【0110】[0110]

【発明の効果】以上詳述した本発明によれば、交換用治
具は、予め半導体パッケージと共に回路基板に実装され
ているので、半田バンプとパッドとの半田付け部を直接
かつ集中的に加熱することができ、半導体パッケージの
周囲への熱影響が少なくなる。
According to the present invention described in detail above, since the replacement jig is mounted on the circuit board together with the semiconductor package in advance, the soldering portion between the solder bump and the pad is directly and intensively heated. And the influence of heat on the periphery of the semiconductor package is reduced.

【0111】しかも、治具本体を半導体パッケージと回
路基板との間の微小な隙間に差し込む必要もないので、
この半導体パッケージの周囲に他の回路部品が配置され
ていても何等支障はない。そのため、半導体パッケージ
の周囲の回路部品を一旦取り外すといった面倒で手間の
かかる作業が不要となり、その分、作業工数が少なくな
って、半導体パッケージの取り外し作業を容易に行なう
ことができる。それとともに、取り外すべき半導体パッ
ケージの周囲に交換用治具を出し入れするスペースを確
保する必要もなくなるので、回路基板上からデッドスペ
ースを排除することができ、高密度な実装が可能となる
といった利点がある。
In addition, since it is not necessary to insert the jig body into a minute gap between the semiconductor package and the circuit board,
There is no problem even if other circuit components are arranged around the semiconductor package. Therefore, the troublesome and troublesome work of temporarily removing the circuit components around the semiconductor package is not required, and the number of work steps is reduced, and the work of removing the semiconductor package can be easily performed. At the same time, there is no need to secure a space for inserting and removing the replacement jig around the semiconductor package to be removed, so that dead space can be eliminated from the circuit board and high-density mounting is possible. is there.

【0112】また、特に請求項12の発明によれば、半
導体パッケージを交換する必要がない時は、交換用治具
を半導体パッケージのヒートシンクとして活用すること
ができる。そのため、筐体の内部に半導体パッケージの
放熱を促進させる専用のヒートシンクを配置する必要は
なく、筐体の内部の実装効率を高めることができる。
According to the twelfth aspect of the present invention, when there is no need to replace the semiconductor package, the replacement jig can be used as a heat sink for the semiconductor package. Therefore, it is not necessary to arrange a dedicated heat sink for promoting heat radiation of the semiconductor package inside the housing, and the mounting efficiency inside the housing can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態において、面実装形
半導体パッケージが実装された回路基板を有するポータ
ブルコンピュータの断面図。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a portable computer having a circuit board on which a surface-mount type semiconductor package is mounted according to a first embodiment of the present invention.

【図2】面実装形半導体パッケージと交換用治具とを互
いに分離させた状態を示す断面図。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where a surface-mount type semiconductor package and a replacement jig are separated from each other.

【図3】交換用治具を一体化した面実装形半導体パッケ
ージと回路基板との関係を示す断面図。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing the relationship between a surface-mount type semiconductor package in which a replacement jig is integrated and a circuit board.

【図4】交換用治具および面実装形半導体パッケージを
回路基板に半田付けした状態を示す断面図。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state where the replacement jig and the surface-mount type semiconductor package are soldered to a circuit board.

【図5】図3のA−A線に沿う矢視図。FIG. 5 is an arrow view along the line AA in FIG. 3;

【図6】(A)は、図5のB−B線に断面図。(B)
は、交換用治具をスライドさせることにより、回路基板
のパッドと半導体パッケージの半田バンプとの半田付け
を解除した状態を示す断面図。
FIG. 6A is a sectional view taken along line BB of FIG. 5; (B)
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state in which soldering between a pad of a circuit board and a solder bump of a semiconductor package is released by sliding a replacement jig.

【図7】交換用治具をスライドさせた時の治具本体の開
口部とパッドとの位置関係を示す平面図。
FIG. 7 is a plan view showing the positional relationship between the opening of the jig main body and the pad when the replacement jig is slid.

【図8】交換用治具の斜視図。FIG. 8 is a perspective view of a replacement jig.

【図9】本発明の第2の実施の形態において、交換用治
具および面実装形半導体パッケージを回路基板に半田付
けした状態を示す断面図。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state in which a replacement jig and a surface-mount type semiconductor package are soldered to a circuit board according to the second embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第3の実施の形態において、交換用
治具および面実装形半導体パッケージを回路基板に半田
付けした状態を示す断面図。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state where a replacement jig and a surface-mount type semiconductor package are soldered to a circuit board in the third embodiment of the present invention.

【図11】交換用治具の断面図。FIG. 11 is a sectional view of a replacement jig.

【図12】図11のC−C線に沿う断面図。FIG. 12 is a sectional view taken along the line CC of FIG. 11;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…筐体 7…入力手段(キーボード) 9…回路モジュール 10…回路基板 11…半導体パッケージ 13a…実装面 15…パッド 20…パッケージ本体 27…半田バンプ 31…交換用治具 32…治具本体 34…開口部 35…半田切断部 Reference Signs List 2 housing 7 input means (keyboard) 9 circuit module 10 circuit board 11 semiconductor package 13a mounting surface 15 pad 20 package body 27 solder bump 31 replacement jig 32 jig body 34 … Opening part 35… Solder cutting part

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジを、上記半田バンプが半田付けされた多数のパッドを
有する回路基板から取り外す際に用いる交換用治具であ
って、 上記パッケージ本体に支持され、このパッケージ本体と
上記回路基板との間に介在されるとともに、上記半田バ
ンプとパッドとを接合する半田を溶融させるに足りる温
度に発熱又は加熱される平坦な治具本体と;この治具本
体に形成され、上記半田バンプが入り込む複数の開口部
と;を備えていることを特徴とする交換用治具。
1. A replacement jig for removing a semiconductor package having a large number of solder bumps arranged in a matrix on the back surface of a package body from a circuit board having a large number of pads to which the solder bumps are soldered. A flat plate supported by the package body, interposed between the package body and the circuit board, and heated or heated to a temperature sufficient to melt the solder for joining the solder bump and the pad. A jig body; and a plurality of openings formed in the jig body and into which the solder bumps enter.
【請求項2】 請求項1の記載において、上記半導体パ
ッケージは、複数の半田バンプが一列に並べられた複数
のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互いに間隔を存
して平行に配置されているとともに、上記治具本体の開
口部は、上記バンプ列の方向に沿って延びるスリット状
をなしており、これら開口部の数は、上記バンプ列の数
に対応していることを特徴とする交換用治具。
2. The semiconductor package according to claim 1, wherein the semiconductor package has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and the bump rows are arranged in parallel with an interval therebetween. In addition, the opening of the jig main body has a slit shape extending along the direction of the bump rows, and the number of these openings corresponds to the number of the bump rows. Replacement jig.
【請求項3】 請求項1の記載において、上記治具本体
は、熱伝導性を有する材料にて構成され、この治具本体
は、熱源が取り外し可能に接続される受熱部を備えてい
ることを特徴とする交換用治具。
3. The jig body according to claim 1, wherein the jig body is made of a material having thermal conductivity, and the jig body includes a heat receiving portion to which a heat source is detachably connected. A replacement jig.
【請求項4】 パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジを、上記半田バンプが半田付けされた多数のパッドを
有する回路基板から取り外す際に用いる交換用治具であ
って、 上記パッケージ本体に支持され、上記半田バンプとパッ
ドとを接合する半田を溶融させるに足りる温度に発熱又
は加熱される治具本体と;この治具本体に形成され、隣
り合う半田バンプの間に介在される複数の半田切断部
と;を備えていることを特徴とする交換用治具。
4. A replacement jig used when a semiconductor package having a large number of solder bumps arranged in a matrix on the back surface of a package body is removed from a circuit board having a large number of pads to which the solder bumps are soldered. A jig body supported by the package body and heated or heated to a temperature sufficient to melt the solder for joining the solder bump and the pad; and an adjacent solder bump formed on the jig body. A plurality of solder cutting portions interposed therebetween.
【請求項5】 請求項4の記載において、上記半導体パ
ッケージは、複数の半田バンプが一列に並べられた複数
のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互いに間隔を存
して平行に配置されているとともに、上記治具本体の半
田切断部は、夫々上記バンプ列の方向に沿って延びるバ
ー状をなしており、これら半田切断部の間に上記バンプ
列が配置されていることを特徴とする交換用治具。
5. The semiconductor package according to claim 4, wherein the semiconductor package has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and the bump rows are arranged in parallel with an interval therebetween. In addition, the solder cutting portion of the jig body has a bar shape extending along the direction of the bump row, and the bump row is arranged between these solder cutting sections. Replacement jig.
【請求項6】 多数の半田バンプがマトリックス状に並
べて配置された半導体パッケージを、上記半田バンプが
半田付けされた回路基板から取り外して交換する方法で
あって、 上記半田バンプの間に介在される複数の半田切断部を有
する交換用治具を用意し、この交換用治具を上記半導体
パッケージに取り付けるとともに、この交換用治具の半
田切断部を上記半導体パッケージの隣り合う半田バンプ
の間に介在させる第1の工程と;上記半導体パッケージ
の半田バンプを上記回路基板上のパッドに半田付けし、
上記交換用治具の半田切断部を上記半導体パッケージと
回路基板との間に位置させる第2の工程と;上記交換用
治具を発熱又は加熱することにより、上記半田バンプと
パッドとを接合している半田を溶融させる第3の工程
と;上記半田が溶融された状態で上記交換用治具を半導
体パッケージと共に回路基板に沿ってスライドさせ、こ
の交換用治具の半田切断部で上記半田を切断することに
より、上記半田バンプとパッドとを互いに分離させる第
4の工程と;上記交換用治具を回路基板から遠ざかる方
向に移動させ、上記半導体パッケージを回路基板から取
り出す第5の工程と;を備えていることを特徴とする半
導体パッケージの交換方法。
6. A method for removing and replacing a semiconductor package having a large number of solder bumps arranged in a matrix from a circuit board to which the solder bumps are soldered, wherein the semiconductor package is interposed between the solder bumps. A replacement jig having a plurality of solder cutting portions is prepared, and the replacement jig is attached to the semiconductor package, and the solder cutting portion of the replacement jig is interposed between adjacent solder bumps of the semiconductor package. A first step of soldering; soldering the solder bumps of the semiconductor package to pads on the circuit board;
A second step of positioning the solder cutting portion of the replacement jig between the semiconductor package and the circuit board; and bonding the solder bumps and pads by heating or heating the replacement jig. A third step of melting the solder that has been melted; sliding the replacement jig along with the semiconductor package along with the circuit board in a state where the solder is melted; A fourth step of separating the solder bumps and pads from each other by cutting; a fifth step of moving the replacement jig in a direction away from the circuit board and removing the semiconductor package from the circuit board; A method of exchanging a semiconductor package, comprising:
【請求項7】 パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジと;この半導体パッケージが実装される実装面を有
し、この実装面に上記半田バンプに対応する多数のパッ
ドがマトリックス状に並べて配置された回路基板と;を
備え、上記半導体パッケージの半田バンプを上記回路基
板のパッドに半田付けしてなる回路モジュールにおい
て、 上記半導体パッケージと上記回路基板との間に、この半
導体パッケージを交換する際に用いる治具を配置し、こ
の治具は、熱伝導性を有し、しかも、上記半田バンプと
パッドとを接合する半田を溶融させるに足りる温度に発
熱又は加熱される平坦な治具本体を有し、この治具本体
は、上記パッケージ本体に支持されているとともに、上
記半田バンプが入り込む複数の開口部を備えていること
を特徴とする回路モジュール。
7. A semiconductor package in which a large number of solder bumps are arranged in a matrix on the back surface of a package body; and a mounting surface on which the semiconductor package is mounted, the mounting surface having a number corresponding to the solder bumps. A circuit board on which pads of the semiconductor package are arranged in a matrix, and wherein solder bumps of the semiconductor package are soldered to the pads of the circuit board, between the semiconductor package and the circuit board. A jig used when exchanging the semiconductor package is disposed, and the jig has heat conductivity and generates or heats to a temperature sufficient to melt the solder for joining the solder bump and the pad. The jig body is supported by the package body and receives the solder bumps. Circuit module, characterized in that it comprises a plurality of openings writing.
【請求項8】 請求項7の記載において、上記半導体パ
ッケージは、複数の半田バンプが一列に並べられた複数
のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互いに間隔を存
して平行に配置されているとともに、上記治具本体の開
口部は、バンプ列の方向に沿って延びるスリット状をな
しており、これら開口部の数は、上記バンプ列の数に対
応していることを特徴とする回路モジュール。
8. The semiconductor package according to claim 7, wherein the semiconductor package has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and the bump rows are arranged in parallel with a space therebetween. The openings of the jig main body have a slit shape extending along the direction of the bump rows, and the number of these openings corresponds to the number of the bump rows. Circuit module.
【請求項9】 パッケージ本体の裏面に多数の半田バン
プがマトリックス状に並べて配置された半導体パッケー
ジと;この半導体パッケージが実装される実装面を有
し、この実装面に上記半田バンプに対応する多数のパッ
ドがマトリックス状に並べて配置された回路基板と;を
備え、上記半導体パッケージの半田バンプを上記回路基
板のパッドに半田付けしてなる回路モジュールにおい
て、 上記半導体パッケージと上記回路基板との間に、この半
導体パッケージを交換する際に用いる治具を配置し、こ
の治具は、熱伝導性を有し、しかも、上記半田バンプと
パッドとを接合する半田を溶融させるに足りる温度に発
熱又は加熱される治具本体を有し、この治具本体は、上
記パッケージ本体に支持されているとともに、上記隣り
合う半田バンプの間に介在される複数の半田切断部を備
えていることを特徴とする回路モジュール。
9. A semiconductor package in which a large number of solder bumps are arranged in a matrix on the back surface of a package body; and a mounting surface on which the semiconductor package is mounted. A circuit board on which pads of the semiconductor package are arranged in a matrix, and wherein solder bumps of the semiconductor package are soldered to the pads of the circuit board, between the semiconductor package and the circuit board. A jig used when exchanging the semiconductor package is disposed, and the jig has heat conductivity and generates or heats to a temperature sufficient to melt the solder for joining the solder bump and the pad. The jig body is supported by the package body, and the adjacent solder bumps Circuit module, characterized in that it comprises a plurality of solder cuts interposed.
【請求項10】 請求項9の記載において、上記半導体
パッケージは、複数の半田バンプが一列に並べられた複
数のバンプ列を有し、これらバンプ列は、互いに間隔を
存して平行に配置されているとともに、上記治具本体の
半田切断部は、夫々上記バンプ列の方向に沿って延びる
バー状をなしており、これら半田切断部の間に上記バン
プ列が配置されていることを特徴とする回路モジュー
ル。
10. The semiconductor package according to claim 9, wherein the semiconductor package has a plurality of bump rows in which a plurality of solder bumps are arranged in a row, and the bump rows are arranged in parallel with an interval therebetween. In addition, the solder cutting portion of the jig body has a bar shape extending along the direction of the bump row, and the bump row is arranged between these solder cutting sections. Circuit module to do.
【請求項11】 請求項9の記載において、上記治具本
体は、熱源が取り外し可能に接続される受熱部を備えて
いることを特徴とする回路モジュール。
11. The circuit module according to claim 9, wherein the jig body includes a heat receiving portion to which a heat source is detachably connected.
【請求項12】 箱状をなす筐体と;上記筐体の上面に
配置され、情報を入力するための入力手段と;上記筐体
の内部に取り出し可能に収容され、多数のパッドがマト
リックス状に並べて配置された実装面を有する回路基板
と;上記回路基板の実装面に面実装され、この実装面と
向かい合う裏面を有するとともに、この裏面に上記パッ
ドに半田付けされた多数の半田バンプを有する半導体パ
ッケージと;上記半導体パッケージに支持され、この半
導体パッケージと一体的に上記回路基板に実装された交
換用治具と;を備えており、 上記交換用治具は、熱伝導性を有するとともに、上記半
導体パッケージと回路基板との間に介在される治具本体
を有し、この治具本体は、上記半田バンプとパッドとを
接合する半田を溶融させるに足りる温度に発熱又は加熱
されるとともに、上記隣り合う半田バンプの間に介在さ
れる複数の半田切断部を備えていることを特徴とする電
子機器。
12. A box-shaped housing; input means for inputting information, which is disposed on the upper surface of the housing; and a plurality of pads which are removably accommodated inside the housing and are arranged in a matrix. A circuit board having a mounting surface arranged side by side; a surface mounted on the mounting surface of the circuit board, having a back surface facing the mounting surface, and having on the back surface a number of solder bumps soldered to the pads. A semiconductor package; and a replacement jig supported by the semiconductor package and integrally mounted on the circuit board together with the semiconductor package. The replacement jig has thermal conductivity, A jig body interposed between the semiconductor package and the circuit board, the jig body being heated to a temperature sufficient to melt the solder joining the solder bump and the pad; Or while being heated, an electronic apparatus, characterized in that it comprises a plurality of solder cutting part interposed between the solder bump adjacent the.
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JP2012195452A (en) * 2011-03-16 2012-10-11 Fujitsu Ltd Electronic component and electronic component assembly apparatus

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