JPH10158479A - Semiconductor-sealing resin composition - Google Patents
Semiconductor-sealing resin compositionInfo
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- JPH10158479A JPH10158479A JP31896496A JP31896496A JPH10158479A JP H10158479 A JPH10158479 A JP H10158479A JP 31896496 A JP31896496 A JP 31896496A JP 31896496 A JP31896496 A JP 31896496A JP H10158479 A JPH10158479 A JP H10158479A
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- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Epoxy Resins (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、YAGレーザーマ
ーキング性に優れた半導体封止用樹脂組成物に関するも
のである。The present invention relates to a resin composition for encapsulating a semiconductor having excellent YAG laser marking properties.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、主にエポキシ樹脂組成物で封止さ
れた半導体デバイスは、熱硬化型もしくはUV硬化型の
特殊なインクで品名やロット番号などをマーキングされ
ていたが、マーキングやその硬化に時間がかかり、更に
インクの取り扱いも容易でないため、最近はレーザーマ
ークを採用する電子部品メーカーが増加している。YA
G、又は炭酸ガスのレーザー光の短時間照射によるエポ
キシ樹脂組成物の成形品表面へのマーキングは、インク
によるマーキングよりも作業性に優れ、しかも短時間で
終了するために、電子部品メーカーにとっては利点の多
い方法である。2. Description of the Related Art Conventionally, semiconductor devices mainly sealed with an epoxy resin composition are marked with a product name or a lot number using a special thermosetting or UV curing type ink. It takes a lot of time and the handling of ink is not easy. YA
Since the marking of the epoxy resin composition on the surface of the molded article by short-time irradiation of a laser beam of G or carbon dioxide is more excellent in workability than the marking by ink and is completed in a short time, it is difficult for an electronic component maker. This is a method with many advantages.
【0003】しかし、従来のエポキシ樹脂組成物(以
下、樹脂組成物という)を用いて封止した半導体の封止
成形品の表面にレーザーマークした場合、マーキングし
た部分とマーキングしていない部分とのコントラストが
不鮮明であり、しかも印字が黄色であるために、印字の
読みとりが困難であった。炭酸ガスレーザーマークに関
しては、既に効果的な着色剤が開発され、鮮明な印字が
得られる半導体封止用樹脂組成物が上市されている。一
方、YAGレーザーマークに関しては、例えば特開平2
−127449号公報によると、「カーボン含有量が9
9.5重量%以上、水素含有量が0.3重量%以下であ
るカーボンブラック」が同目的に効果的であると記載さ
れており、又その他の種々の研究がなされているが、カ
ーボンブラックが揮散した後のマーキングコントラスト
が未だ不充分で、鮮明な印字は得られておらず、優れた
レーザーマーク性を有する半導体封止用樹脂組成物が要
求されている。However, when laser marking is performed on the surface of a semiconductor molded article sealed with a conventional epoxy resin composition (hereinafter, referred to as a resin composition), a marked portion and a non-marked portion are formed. Since the contrast was unclear and the print was yellow, it was difficult to read the print. Regarding the carbon dioxide laser mark, an effective coloring agent has already been developed, and a resin composition for semiconductor encapsulation capable of obtaining clear printing has been put on the market. On the other hand, regarding the YAG laser mark, for example,
According to JP-A-127449, "the carbon content is 9
Carbon black having a content of not less than 9.5% by weight and a content of hydrogen of not more than 0.3% by weight "is described as being effective for the same purpose, and various other studies have been conducted. The marking contrast after volatilization is still insufficient, clear printing has not been obtained, and a resin composition for semiconductor encapsulation having excellent laser mark properties has been required.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、優れたレー
ザーマーク性を有する半導体封止用樹脂組成物を提供す
るものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a resin composition for semiconductor encapsulation having excellent laser mark properties.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)結晶性
エポキシ化合物、(B)フェノール樹脂硬化剤、(C)
粒径5μm以下の粒子を15重量%以上含む球状溶融シ
リカ、(D)硬化促進剤及び(E)平均粒径が15〜1
00nmであるカーボンブラックを必須成分とする樹脂
組成物において、全樹脂組成物中に球状溶融シリカ
(C)を84〜92重量%、カーボンブラック(E)を
0.2〜0.6重量%含むことを特徴とする半導体封止
用エポキシ樹脂組成物であり、これを用いた成形品は優
れたレーザーマーキング性を示し、鮮明なマーキングを
得ることができる。The present invention comprises (A) a crystalline epoxy compound, (B) a phenolic resin curing agent, and (C)
Spherical fused silica containing 15% by weight or more of particles having a particle size of 5 μm or less, (D) a curing accelerator, and (E) an average particle size of 15 to 1
In a resin composition containing carbon black of an essential component of 00 nm, spherical fused silica (C) is contained in the entire resin composition in an amount of 84 to 92% by weight and carbon black (E) in an amount of 0.2 to 0.6% by weight. This is an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, and a molded article using the same exhibits excellent laser marking properties and can obtain clear marking.
【0006】以下、各成分について説明する。本発明に
用いる結晶性エポキシ化合物は、分子中に2個以上のエ
ポキシ基を有し、結晶性で常温で固形であれば特に構造
を限定するものではない。結晶性エポキシ化合物として
は、ビフェニル型エポキシ化合物、ビスフェノール型エ
ポキシ化合物、スチルベン型エポキシ化合物等が挙げら
れる。半導体封止用樹脂組成物としての耐湿信頼性を考
慮すると、イオン性不純物であるNaイオンやClイオ
ンが極力少ない方が好ましく、硬化性の点からエポキシ
当量としては150〜300g/eqが好ましい。更
に、結晶性エポキシ化合物の特性を損なわない範囲で、
オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂等の他のエ
ポキシ樹脂と併用してもよい。本発明に用いるフェノー
ル樹脂硬化剤は、分子中にフェノール性水酸基を有する
ものならば、特に限定するものではないが、例えばフェ
ノールノボラック樹脂、キシレン変性フェノール樹脂、
トリフェノールメタン型樹脂及びこれらの変性樹脂等が
挙げられ、硬化性の点から水酸基当量は80〜250g
/eqが好ましい。Hereinafter, each component will be described. The structure of the crystalline epoxy compound used in the present invention is not particularly limited as long as it has two or more epoxy groups in a molecule and is crystalline and solid at normal temperature. Examples of the crystalline epoxy compound include a biphenyl type epoxy compound, a bisphenol type epoxy compound, a stilbene type epoxy compound, and the like. In consideration of the moisture resistance reliability of the resin composition for semiconductor encapsulation, it is preferable that the amount of ionic impurities such as Na ions and Cl ions is as small as possible. From the viewpoint of curability, the epoxy equivalent is preferably 150 to 300 g / eq. Furthermore, as long as the properties of the crystalline epoxy compound are not impaired,
You may use together with other epoxy resins, such as an orthocresol novolak type epoxy resin. The phenolic resin curing agent used in the present invention is not particularly limited as long as it has a phenolic hydroxyl group in the molecule, for example, a phenol novolak resin, a xylene-modified phenol resin,
Triphenolmethane-type resins and their modified resins, and the like. From the viewpoint of curability, the hydroxyl equivalent is 80 to 250 g.
/ Eq is preferred.
【0007】本発明に用いる球状溶融シリカは、粒径5
μm以下の粒子を15重量%以上含むものであり、本発
明の第一のポイントである。粒径5μm以下の粒子の割
合は、レーザー回折式粒度分布測定機(シーラス社・
製、モデル715)で測定することができる。この球状
溶融シリカを用いることにより、樹脂組成物の成形品の
表面に、レーザーマキングをする際に、充填材が脱落し
て生じる深い陥没部分が減少し、印字表面にできる蔭が
減少する。更に、微粒子による光の乱反射が効果的に得
られ、印字のコントラストが向上するため、鮮明なマー
キングを得ることができる。又、粒径5μm以下の微粒
子が15重量%以上存在することにより、マーキングさ
れた字のエッジ部のギザギザが滑らかになり、字体がき
れいで認識しやすくなる効果を付与すると共に、エッジ
部分のギザギザに起因する字のカケやボヤケを抑えるこ
とができ、優れたマーキング性を実現することが可能と
なる。この球状溶融シリカの添加量は、全樹脂組成物中
に84〜92重量%であり、84重量%未満だと樹脂に
よる印字の着色の影響が大きく、充分なレーザーマーキ
ング性を得るためには、樹脂の熱変色防止などの別の手
段が必要となってくる。又、92重量%を越えると樹脂
の流動性に支障をきたし、樹脂組成物として充分な流動
性が得られなくなる。又、粒径5μm以下の粒子が15
重量%未満となると、効果的な光の乱反射が得られず、
エッジ部のギザギザ、カケ、ボヤケ等を抑えることがで
きなくなるため、充分なマーキング性を得ることができ
ない。この球状溶融シリカの製法や粒度分布等について
は、特に限定するものではないが、成形時の金型の細部
への充填性の点から、最大粒径は150μm以下のもの
が好ましい。The spherical fused silica used in the present invention has a particle size of 5
This is a first point of the present invention, in which particles containing not more than 15 μm of particles of not more than μm are contained. The ratio of particles having a particle size of 5 μm or less is determined by a laser diffraction particle size distribution analyzer (Cirrus Co., Ltd.).
Manufactured by Model 715). By using this spherical fused silica, when laser masking is performed on the surface of the molded article of the resin composition, the deep depressions caused by the falling off of the filler are reduced, and the shade formed on the printing surface is reduced. Further, irregular reflection of light by the fine particles is effectively obtained, and the contrast of printing is improved, so that clear marking can be obtained. In addition, the presence of 15% by weight or more of fine particles having a particle size of 5 μm or less provides an effect that the jagged edges of the marked characters are smooth, and that the characters are clear and easy to recognize. In this way, it is possible to suppress chipping and blurring of characters caused by the above, and it is possible to realize excellent marking properties. The addition amount of the spherical fused silica is 84 to 92% by weight in the whole resin composition, and if it is less than 84% by weight, the influence of coloring of the print by the resin is large, and in order to obtain a sufficient laser marking property, Another means such as prevention of thermal discoloration of the resin is required. On the other hand, if the content exceeds 92% by weight, the fluidity of the resin is impaired, and sufficient fluidity cannot be obtained as a resin composition. Further, particles having a particle size of 5 μm or less
When the content is less than the weight%, diffused light cannot be effectively obtained,
Since it becomes impossible to suppress the jaggedness, chipping, blurring, and the like of the edge portion, sufficient marking properties cannot be obtained. The production method and particle size distribution of the spherical fused silica are not particularly limited, but the maximum particle size is preferably 150 μm or less from the viewpoint of filling in the details of a mold at the time of molding.
【0008】本発明に用いる硬化促進剤は、エポキシ基
と水酸基の反応を促進するものであればよく、一般に封
止樹脂組成物に使用されているものを利用することがで
きる。例えば1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウ
ンデセン−7、トリフェニルホスフィン、ベンジルジメ
チルアミン、2−メチルイミダゾール等があり、これら
は単独でも混合して用いてもよい。本発明で用いる平均
粒径15〜100nmのカーボンブラックは、全樹脂組
成物中に0.2〜0.6重量%含まれ、この添加量と平
均粒径が本発明の技術上の第二のポイントである。この
カーボンの平均粒径は、顕微鏡観察により測定すること
ができる。カーボンの添加量が0.2重量%未満だと成
形品の着色力が不足し、成形品自体の色が淡灰色になっ
てしまうため、充分な印字と白黒コントラストが得られ
ない。又、0.6重量%を越えると、カーボンを焼き飛
ばした後に印字表面に残るススが増加し、印字が灰色に
なってしまうため、印字と周囲のコントラスト低下につ
ながる。用いるカーボンブラックの凝集形態等は、特に
限定するものではなく、不純物等のレベルが封止樹脂組
成物に適用できるものであればよい。しかし、平均粒径
が15nm未満になると、YAGレーザー光を受けた時
の揮散力が弱くなり、充分なマーキング性が得られな
い。又、平均粒径が100nmを越えると着色剤として
の着色力の低下につながり、印字との白黒コントラスト
が悪化し、充分なマーキング性を得ることができなくな
る。The curing accelerator used in the present invention may be any one which promotes the reaction between an epoxy group and a hydroxyl group, and may be any of those generally used in a sealing resin composition. For example, there are 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene-7, triphenylphosphine, benzyldimethylamine, 2-methylimidazole and the like, and these may be used alone or as a mixture. The carbon black having an average particle size of 15 to 100 nm used in the present invention is contained in the entire resin composition in an amount of 0.2 to 0.6% by weight. Is the point. The average particle size of the carbon can be measured by microscopic observation. If the added amount of carbon is less than 0.2% by weight, the coloring power of the molded article becomes insufficient, and the color of the molded article itself becomes light gray, so that sufficient printing and black-and-white contrast cannot be obtained. On the other hand, if the content exceeds 0.6% by weight, soot remaining on the printing surface after burning off the carbon increases and the printing becomes gray, which leads to a decrease in the contrast between the printing and the surroundings. The form of aggregation of the carbon black to be used is not particularly limited as long as the level of impurities and the like can be applied to the sealing resin composition. However, when the average particle size is less than 15 nm, the volatilizing power when receiving a YAG laser beam becomes weak, and sufficient marking properties cannot be obtained. On the other hand, when the average particle size exceeds 100 nm, the coloring power as a coloring agent is reduced, the black-and-white contrast with printing deteriorates, and sufficient marking properties cannot be obtained.
【0009】本発明は、(A)〜(E)成分を必須成分
とするが、これ以外に必要に応じてカップリング剤、難
燃剤、離型剤、低応力添加剤等の添加剤を適宜配合して
もよい。又、本発明の封止用樹脂組成物は、各構成成分
の所定の配合量をミキサー等で均一に混合した後、加熱
ロールまたはニーダー、押出機等で溶融混練し、冷却後
粉砕して製造することができる。In the present invention, the components (A) to (E) are essential components. In addition, additives such as a coupling agent, a flame retardant, a mold release agent, and a low stress additive are appropriately added as necessary. You may mix. In addition, the sealing resin composition of the present invention is manufactured by uniformly mixing predetermined amounts of the respective components with a mixer or the like, melt-kneading with a heating roll or a kneader, an extruder, or the like, cooling, and then pulverizing. can do.
【0010】以下、本発明を実施例にて具体的に説明す
る。 実施例1 結晶性エポキシ化合物(YX4000H、油化シェルエポキシ(株)・製、融 点105℃) 9.1重量部 フェノールノボラック樹脂(軟化点65℃、水酸基当量104) 4.9重量部 球状溶融シリカ(シリカ中の15μm以下の粒子の割合:20重量%) 84重量部 カーボンブラック(平均粒径22nm、比表面積110m2/g) 0.2重量部 トリフェニルホスフィン 0.2重量部 カルナバワックス 0.4重量部 シリコーンオイル 0.2重量部 三酸化アンチモン 1.0重量部 をミキサーにて常温混合し、80〜100℃の加熱ロー
ルで溶融混練し、冷却後粉砕し、樹脂組成物を得た。Hereinafter, the present invention will be described specifically with reference to examples. Example 1 Crystalline epoxy compound (YX4000H, Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., melting point 105 ° C) 9.1 parts by weight Phenol novolak resin (softening point 65 ° C, hydroxyl equivalent 104) 4.9 parts by weight Spherical melting Silica (Ratio of particles having a size of 15 μm or less in silica: 20% by weight) 84 parts by weight Carbon black (average particle size: 22 nm, specific surface area: 110 m 2 / g) 0.2 part by weight Triphenylphosphine 0.2 part by weight Carnauba wax 0 0.4 parts by weight Silicone oil 0.2 parts by weight Antimony trioxide 1.0 part by weight was mixed at room temperature with a mixer, melt-kneaded with a heating roll at 80 to 100 ° C., cooled and pulverized to obtain a resin composition. .
【0011】スパイラルフロー:EMMI−I−66に
準じた金型を用い、前記樹脂組成物を低圧トランスファ
ー成形機にて175℃、射出圧70kgf/cm2、保
圧時間120秒の条件で成形し、スパイラルフローを測
定。スパイラルフロー判定基準は70cm未満を不合
格、70cm以上を合格。 マーキング性:タブレット化した樹脂組成物を用い、8
0pQFP(2.7mm厚)を低圧トランスファー成形
機にて、175℃、射出圧70kgf/cm2、保圧時
間120秒の条件で成形し、得られた成形品を更に17
5℃で8時間ポストキュアし捺印用サンプルとした。得
られたサンプルを日本電気(株)・製のマスクタイプの
YAGレーザー捺印機(印加電圧2.4kV、パルス幅
120μsの条件)で捺印し、印字の視認性(マーキン
グ性)を評価した。評価結果を表1に示す。 実施例2〜7、比較例1〜7 実施例1と同様にして、樹脂組成物を製造し、同様にし
て評価した。評価結果を表1、表2に示す。Spiral flow: The resin composition was molded by a low-pressure transfer molding machine using a mold conforming to EMMI-I-66 under the conditions of 175 ° C., injection pressure of 70 kgf / cm 2 , and holding time of 120 seconds. , Measure spiral flow. The spiral flow criterion was rejected if it was less than 70 cm and passed if it was 70 cm or more. Marking property: Using a tableted resin composition, 8
0pQFP (2.7 mm thickness) was molded with a low-pressure transfer molding machine under the conditions of 175 ° C., injection pressure of 70 kgf / cm 2 , and dwelling time of 120 seconds.
Post-curing was performed at 5 ° C. for 8 hours to obtain a sample for imprinting. The obtained sample was stamped with a mask type YAG laser stamping machine manufactured by NEC Corporation (applied voltage: 2.4 kV, pulse width: 120 μs), and the visibility (marking property) of printing was evaluated. Table 1 shows the evaluation results. Examples 2 to 7, Comparative Examples 1 to 7 Resin compositions were produced in the same manner as in Example 1, and evaluated in the same manner. The evaluation results are shown in Tables 1 and 2.
【0012】 表1 実施例 1 2 3 4 5 6 7 エポキシ化合物 8.5 6.8 5.9 6.8 6.8 6.6 6.8 フェノールノボラック樹脂 4.5 3.7 3.1 3.7 3.7 3.5 3.7 球状溶融シリカ 85 88 90 88 88 88 88 (15μm以下の粒子の重量割合) (20)(20)(20)(15)(35)(20)( 20) カーボンブラック(22nm) 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.6 カーボンブラック(85nm) 0.2 トリフェニルホスフィン 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 カルナバワックス 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 シリコーンオイル 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 三酸化アンチモン 1 0.5 0 0.5 0.5 0.5 0.5 スパイラルフロー 150 115 85 105 125 110 115 マーキング性 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ 総合判定 合 合 合 合 合 合 合Table 1 Example 1 2 3 4 5 6 7 Epoxy compound 8.5 6.8 5.9 6.8 6.8 6.6 6.8 Phenol novolak resin 4.5 3.7 3.1 3.7 3.7 3.5 3.7 Spherical fused silica 85 88 90 88 88 88 88 (weight of particles of 15 μm or less) (Ratio) (20) (20) (20) (15) (35) (20) (20) Carbon black (22 nm) 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.6 Carbon black (85 nm) 0.2 Triphenylphosphine 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 Carnauba wax 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 Silicone oil 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 Antimony trioxide 1 0.5 0 0.5 0.5 0.5 0.5 Spiral flow 150 115 85 105 125 110 115 Marking ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ Joint joint joint
【0013】 表2 比較例 1 2 3 4 5 6 7 エポキシ化合物 10.4 3.9 6.8 6.9 6.5 6.7 6.7 フェノールノボラック樹脂 5.6 2.1 3.7 3.7 3.4 3.6 3.6 球状溶融シリカ 82 93 88 88 88 88 88 (15μm以下の粒子の重量割合) (20)(20)(10)(20)(20) (20) (20) カーボンブラック(22nm) 0.2 0.2 0.2 0.1 0.8 カーボンブラック(10nm) 0.4 カーボンブラック(120nm) 0.4 トリフェニルホスフィン 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 カルナバワックス 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 シリコーンオイル 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 三酸化アンチモン 1 0 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 スパイラルフロー 170 45 110 115 110 110 110 マーキング性 △ ○ △ × × × × 総合判定 否 否 否 否 否 否 否Table 2 Comparative Example 1 2 3 4 5 6 7 Epoxy compound 10.4 3.9 6.8 6.9 6.5 6.7 6.7 Phenol novolak resin 5.6 2.1 3.7 3.7 3.4 3.6 3.6 Spherical fused silica 82 93 88 88 88 88 88 (weight of particles of 15 μm or less) (Ratio) (20) (20) (10) (20) (20) (20) (20) Carbon black (22 nm) 0.2 0.2 0.2 0.1 0.8 Carbon black (10 nm) 0.4 Carbon black (120 nm) 0.4 Triphenylphosphine 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 Carnauba wax 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 0.4 Silicone oil 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 Antimony trioxide 1 0 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 Spiral flow 170 45 110 115 110 110 110 Markability △ ○ △ × × × × Comprehensive judgment No No No No No
【0014】[0014]
【発明の効果】本発明に従うと、従来技術では得られな
かった、印字が白く、かつコントラストの良好なYAG
レーザーマキング性に優れた樹脂組成物を得ることがで
きる。従って、電気、電子部品の封止用に用いた場合、
YAGレーザーによる良好な印字が高速かつ低電圧で得
られる。According to the present invention, YAG having a white print and good contrast, which cannot be obtained by the prior art, can be obtained.
A resin composition having excellent laser masking properties can be obtained. Therefore, when used for sealing electric and electronic components,
Good printing with a YAG laser can be obtained at high speed and at low voltage.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI C08L 61/06 C08L 61/06 H01L 23/29 H01L 23/30 R 23/31 //(C08K 13/04 7:18 3:36 3:04) ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI C08L 61/06 C08L 61/06 H01L 23/29 H01L 23/30 R 23/31 // (C08K 13/04 7:18 3: 36 3:04)
Claims (1)
ェノール樹脂硬化剤、(C)粒径5μm以下の粒子を1
5重量%以上含む球状溶融シリカ、(D)硬化促進剤及
び(E)平均粒径が15〜100nmであるカーボンブ
ラックを必須成分とする樹脂組成物において、全樹脂組
成物中に球状溶融シリカ(C)を84〜92重量%、カ
ーボンブラック(E)を0.2〜0.6重量%含むこと
を特徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組成物。(A) a crystalline epoxy compound, (B) a phenol resin curing agent, and (C) particles having a particle size of 5 μm or less.
In a resin composition containing 5% by weight or more of spherical fused silica, (D) a curing accelerator and (E) carbon black having an average particle size of 15 to 100 nm as essential components, spherical fused silica ( An epoxy resin composition for semiconductor encapsulation comprising 84 to 92% by weight of C) and 0.2 to 0.6% by weight of carbon black (E).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31896496A JPH10158479A (en) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Semiconductor-sealing resin composition |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31896496A JPH10158479A (en) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Semiconductor-sealing resin composition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH10158479A true JPH10158479A (en) | 1998-06-16 |
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ID=18104968
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JP31896496A Pending JPH10158479A (en) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Semiconductor-sealing resin composition |
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JP (1) | JPH10158479A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001261941A (en) * | 2000-03-14 | 2001-09-26 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Tablet and semiconductor device |
US10696840B2 (en) | 2014-11-26 | 2020-06-30 | Kyocera Corporation | Resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor device |
-
1996
- 1996-11-29 JP JP31896496A patent/JPH10158479A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001261941A (en) * | 2000-03-14 | 2001-09-26 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Tablet and semiconductor device |
US10696840B2 (en) | 2014-11-26 | 2020-06-30 | Kyocera Corporation | Resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor device |
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