JPH10153747A - ビームホモジナイザ - Google Patents

ビームホモジナイザ

Info

Publication number
JPH10153747A
JPH10153747A JP31403996A JP31403996A JPH10153747A JP H10153747 A JPH10153747 A JP H10153747A JP 31403996 A JP31403996 A JP 31403996A JP 31403996 A JP31403996 A JP 31403996A JP H10153747 A JPH10153747 A JP H10153747A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cylindrical
optical axis
parallel
cylinder array
cylindrical lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31403996A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3234513B2 (ja
Inventor
Kazunori Yamazaki
和則 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP31403996A priority Critical patent/JP3234513B2/ja
Publication of JPH10153747A publication Critical patent/JPH10153747A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3234513B2 publication Critical patent/JP3234513B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Recrystallisation Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光強度分布のトップフラット率を大きくする
ことができるビームホモジナイザを提供する。 【解決手段】 複数のシリンドリカルレンズが、各々の
円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に平行にし、か
つ光軸面に対して垂直な仮想平面に沿って配列した第1
のシリンダアレイと、複数のシリンドリカルレンズが同
様に配列した第2のシリンダアレイとを有する。対応す
るシリンドリカルレンズ同士は、光軸面を共通にする。
収束光学系が、第2のシリンダアレイを透過した光線束
を収束する。第1のシリンダアレイの入射側にフィルタ
光学系が配置されている。フィルタ光学系は、仮想平面
に垂直な光軸を有する平行光線束が入射するとき、第1
のシリンドリカルレンズの円柱面の母線に垂直な平面内
に関して、平行光線束の平行度を高める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光線束の断面内強
度分布の均一化を行うビームホモジナイザに関する。
【0002】
【従来の技術】シリンダアレイ型のビームホモジナイザ
は、前段のシリンダアレイと後段のシリンダアレイ、及
びフォーカスレンズにより構成される。各シリンダアレ
イは、複数の等価なシリンドリカルレンズをその光軸面
に垂直な方向に配列して構成される。前段のシリンダア
レイの各シリンドリカルレンズの光軸面が、後段のシリ
ンダアレイの対応するシリンドリカルレンズの光軸面に
一致するように配置される。ここで、光軸面は、シリン
ドリカルレンズの面対称な結像系の対称面を意味する。
【0003】前段のシリンダアレイに光線束が入射する
と、各シリンドリカルレンズにより収束される。収束さ
れた各光線束が、後段のシリンダアレイの各シリンドリ
カルレンズにより再度収束される。このようにして、2
つのシリンダアレイにより、入射光線束がシリンドリカ
ルレンズの個数分の小光線束に分割される。
【0004】得られた小光線束は、2つのシリンダアレ
イの相対位置によって、発散光、平行光、または収束光
になる。各小光線束をフォーカスレンズ群を用いてある
面上に重ね合わせることにより、シリンドリカルレンズ
の光軸面に垂直な方向に関して、照射領域の光強度分布
を均一に近づけることができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】小光線束が重ね合わさ
れた(ホモジナイズされた)照射領域の光強度の均一性
は、トップフラット率で評価される。ここで、トップフ
ラット率RTFは、光強度分布の最高値の90%以上の強
度を有する部分の幅をW0.9 、半値幅をW0.5 としたと
き、
【0006】
【数1】RTF=W0.9 /W0.5 で定義される。ホモジナイズされた照射領域の幅が1m
m以上であれば、比較的高いトップフラット率が得られ
るが、1mm以下になると、高いトップフラット率を得
ることが困難になる。
【0007】本発明の目的は、光強度分布のトップフラ
ット率を大きくすることができるビームホモジナイザを
提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の一観点による
と、複数の第1のシリンドリカルレンズが、各々の円柱
面の母線同士及び光軸面同士を相互に平行にし、かつ光
軸面に対して垂直な第1の仮想平面に沿って配列した第
1のシリンダアレイと、複数の第2のシリンドリカルレ
ンズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互
に平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第2の仮
想平面に沿って配列した第2のシリンダアレイであっ
て、各第2のシリンドリカルレンズが、対応する前記第
1のシリンドリカルレンズと光軸面を共通にし、前記第
1のシリンドリカルレンズを透過した光線束が、対応す
る第2のシリンドリカルレンズに入射する前記第2のシ
リンダアレイと、前記第2のシリンダアレイを透過した
光線束を収束する収束光学系と、前記第1のシリンダア
レイの入射側に配置された第1のフィルタ光学系であっ
て、前記第1の仮想平面に垂直な光軸を有する平行光線
束が入射するとき、前記第1のシリンドリカルレンズの
円柱面の母線に垂直な平面内に関して、該平行光線束の
平行度を高める第1のフィルタ光学系とを有するビーム
ホモジナイザが提供される。
【0009】2つのシリンダアレイにより、1つの平行
光線束が複数の光線束に分割される。分割された複数の
光線束が、収束光学系によりホモジナイズ面上で重ね合
わされる。種々の光強度分布を有する光線束が重ね合わ
されるため、ホモジナイズ面上における光照射領域の光
強度分布を均一に近づけることができる。
【0010】フィルタ光学系により、第1のシリンドリ
カルレンズの円柱面の母線に垂直な平面内に関して平行
光線束の平行度が高められることにより、第1のシリン
ドリカルレンズの円柱面の母線に垂直な方向に関する光
強度分布のトップフラット率を向上させることができ
る。
【0011】本発明の他の観点によると、複数の第1の
シリンドリカルレンズが、各々の円柱面の母線同士及び
光軸面同士を相互に平行にし、かつ光軸面に対して垂直
な第1の仮想平面に沿って配列した第1のシリンダアレ
イと、複数の第2のシリンドリカルレンズが、各々の円
柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に平行にし、かつ
前記第1の仮想平面に平行な第2の仮想平面に沿って配
列した第2のシリンダアレイであって、各第2のシリン
ドリカルレンズが、対応する前記第1のシリンドリカル
レンズと光軸面を共通にし、前記第1のシリンドリカル
レンズを透過した光線束が、対応する第2のシリンドリ
カルレンズに入射する前記第2のシリンダアレイと、前
記第2のシリンダアレイを透過した光線束を収束する収
束光学系と、前記第1のシリンダアレイと第2のシリン
ダアレイとの間に配置され、前記第1のシリンダアレイ
を構成する第1のシリンドリカルレンズの各々の光軸面
との交線に沿ってスリットが形成された第1の遮光板と
を有するビームホモジナイザが提供される。
【0012】第1のシリンダアレイに入射する平行光線
束のうち、その光軸面とある角度以上ずれた方向に伝搬
するノイズ成分が、遮光板により遮光される。このた
め、入射光線束の平行度を高めたのと同等の効果が得ら
れ、ホモジナイズ面における光強度分布のトップフラッ
ト率の低下を抑制することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】シリンダアレイ型のビームホモジ
ナイザによりホモジナイズされた照射領域の幅が1mm
以下になると、高いトップフラット率を得ることが困難
になる。本願発明者による評価実験により、ビームホモ
ジナイザに入射する平行光線束のノイズ成分、すなわち
光軸に平行な方向以外の方向に伝搬する成分が、トップ
フラット率を低下させている原因の一つであることがわ
かった。以下、入射光線束のノイズ成分によるトップフ
ラット率の低下を防止するための実施例について説明す
る。
【0014】図1は、本発明の実施例によるビームホモ
ジナイザの断面図を示す。ビームホモジナイザに入射す
る光線束の光軸に平行なz軸を有するxyz直交座標系
を考える。図1(A)は、yz面に平行な断面図、図1
(B)は、xz面に平行な断面図を示す。実施例による
ビームホモジナイザは、空間フィルタ部SFとホモジナ
イズ部HNにより構成される。空間フィルタ部SFは、
シリンドリカルレンズ5A、5B及びスリットを有する
遮光板6を含んで構成される。ホモジナイズ部HNは、
シリンダアレイ1A、1B、2A、2B、及び収束レン
ズ3を含んで構成される。
【0015】図1(A)に示すように、シリンダアレイ
1A及び1Bの各々は、等価な7本のシリンドリカルレ
ンズにより構成される。各シリンドリカルレンズの光軸
面はxz面に平行であり、円柱面の母線はx軸に平行で
ある。ここで、光軸面とは、シリンドリカルレンズの面
対称な結像系の対称面のことを意味する。このように配
置されたシリンドリカルレンズが、コバ面同士を密着さ
せてy軸に平行に(xy面に沿って)配列している。シ
リンダアレイ1Aは光の入射側(図の左方)に配置さ
れ、シリンダアレイ1Bは出射側(図の右方)に配置さ
れている。また、シリンダアレイ1Aの各シリンドリカ
ルレンズは、シリンダアレイ1Bの対応するシリンドリ
カルレンズと光軸面を共有するように配置されている。
【0016】図1(B)に示すように、シリンダアレイ
2A及び2Bの各々は、等価な7本のシリンドリカルレ
ンズにより構成される。各シリンドリカルレンズの光軸
面はyz面に平行であり、円柱面の母線はy軸に平行で
ある。このように配置されたシリンドリカルレンズが、
コバ面同士を密着させてx軸に平行に(xy面に沿っ
て)配列している。シリンダアレイ2Aはシリンダアレ
イ1Aの入射側(図の左方)に配置され、シリンダアレ
イ2Bはシリンダアレイ1Aと1Bとの間に配置されて
いる。また、シリンダアレイ2Aの各シリンドリカルレ
ンズは、シリンダアレイ2Bの対応するシリンドリカル
レンズと光軸面を共有するように配置されている。
【0017】シリンダアレイ1Bの出射側に、収束レン
ズ3が配置されている。収束レンズ3の光軸は、z軸に
平行である。
【0018】ホモジナイズ部HNの前方に空間フィルタ
部SFが配置されている。空間フィルタ部SFは、等価
なシリンドリカルレンズ5Aと5Bとの間に遮光板6が
配置された構成とされている。シリンドリカルレンズ5
Aと5Bの円柱面の母線はy軸に平行であり、光軸面は
yz面に平行である。また、シリンドリカルレンズ5A
と5Bの光軸面は、シリンダアレイ2A及び2Bの中央
のシリンドリカルレンズの光軸面に一致する。
【0019】シリンドリカルレンズ5Aと5Bとの間隔
は、その焦点距離の2倍であり、焦点位置に遮光板6が
配置されている。遮光板6には、シリンドリカルレンズ
5A及び5Bの光軸面との交線に沿ってスリット6aが
設けられている。
【0020】図1(A)を参照して、yz面内に関する
光線束の伝搬の様子を説明する。yz面内においては、
シリンドリカルレンズ5A、5B、及びシリンダアレイ
2A、2Bは単なる平板と等価であるため、光線束の収
束、発散に影響を与えない。z軸に平行な光軸を有する
平行光線束10が空間フィルタSFに入射する。入射光
線束10は、例えば曲線21yで示すように、中央部分
で強く周辺部分で弱い光強度分布を有する。
【0021】空間フィルタSFを透過した平行光線束1
1がシリンダアレイ2Aを透過し、シリンダアレイ1A
に入射する。入射光線束は、シリンダアレイ1Aにより
各シリンドリカルレンズに対応した7つの収束光線束に
分割される。図1(A)では、中央と両端の光線束のみ
を代表して示している。7つの収束光線束は、それぞれ
曲線21ya〜21ygで示す光強度分布を有する。シ
リンダアレイ1Aによって収束された光線束は、シリン
ダアレイ1Bにより再度収束される。
【0022】シリンダアレイ1Bにより収束した7つの
収束光線束12は、それぞれ収束レンズ3の前方で集光
する。この集光位置は、収束レンズ3の入射側焦点より
もレンズに近い。このため、収束レンズ3を透過した7
つの光線束はそれぞれ発散光線束となり、ホモジナイズ
面4上において重なる。ホモジナイズ面4を照射する7
つの光線束のy軸方向の光強度分布は、それぞれ光強度
分布21ya〜21ygをy軸方向に引き伸ばした分布
に等しい。光強度分布21yaと21yg、21ybと
21yd、21ycと21yeは、それぞれy軸方向に
関して反転させた関係を有するため、これらの光線束を
重ね合わせた光強度分布は、実線22yで示すように均
一な分布に近づく。
【0023】図1(B)を参照して、xz面内に関する
光線束の伝搬の様子を説明する。入射光線束10がシリ
ンドリカルレンズ5Aに入射する。入射光線束10は、
例えば曲線21xで示すように、x軸方向に関して中央
部分で強く周辺部分で弱い光強度分布を有する。シリン
ドリカルレンズ5Aにより収束された光線束は、理想的
には、光軸面上の焦点(実際にはシリンドリカルレンズ
の円柱面の母線に平行な一直線)を通過し、シリンドリ
カルレンズ5Bに入射する。
【0024】シリンドリカルレンズ5Bにより収束さ
れ、平行光線束11となる。平行光線束11は、x軸方
向に関して曲線21xを反転させた光強度分布を有す
る。
【0025】入射光線束10は、通常その光軸に平行な
成分以外のノイズ成分を含む。ノイズ成分は、光源が有
限の大きさを有すること、及び空気中のゴミによる散乱
等により発生する。入射光線束10のノイズ成分は、シ
リンドリカルレンズ5Aにより収束されても、その焦点
を通過しない。光軸からある角度以上ずれて進行するノ
イズ成分は、遮光板6により遮光され、シリンドリカル
レンズ5Bに到達しない。このため、シリンドリカルレ
ンズ5Bにより収束された平行光線束11は、入射光線
束10よりもノイズ成分の少ない光線束になる。
【0026】平行光線束11がシリンダアレイ2Aに入
射する。平行光線束11がシリンダアレイ2Aにより各
シリンドリカルレンズに対応した7つの収束光線束に分
割される。図1(B)では、中央と両端の光線束のみを
代表して示している。7つの収束光線束は、それぞれ曲
線21xa〜21xgをx軸方向に関して反転させた光
強度分布を有する。xz面内においては、シリンダアレ
イ1A及び1Bは単なる平板と等価であるため、光線束
の収束、発散に影響を与えない。
【0027】各光線束は、シリンダアレイ2Bの前方で
集光し、発散光線束となってシリンダアレイ2Bに入射
する。シリンダアレイ2Bに入射した各光線束は、それ
ぞれ相互に等しいある出射角を持って出射し、収束レン
ズ3に入射する。
【0028】収束レンズ3を透過した7つの光線束はそ
れぞれ収束光線束となり、ホモジナイズ面4上において
重なる。ホモジナイズ面4を照射する7つの光線束のx
軸方向の光強度分布は、図1(A)の場合と同様に実線
22xで示すように均一な分布に近づく。ホモジナイズ
部HNに入射する平行光線束11のノイズ成分は入射光
線束10のノイズ成分よりも少ないため、ホモジナイズ
面4上のx軸方向に関する光強度分布のトップフラット
率を向上することができる。
【0029】ホモジナイズ面4上の光照射領域は、y軸
方向に長く、x軸方向に短い線状の形状を有する。ビー
ムホモジナイザを用いることにより、y軸方向に長い軸
状の領域を、ほぼ均一に照射することができる。
【0030】次に、空間フィルタSFを設けた場合の効
果について説明する。図2は、ホモジナイズ面上のx軸
(短軸)方向に関する光強度分布を示す。図2(A)
は、空間フィルタSFを設けない場合、図2(B)は、
空間フィルタSFを設けた場合を表す。空間フィルタS
Fを設けない場合には、トップフラット率が0.66で
あったのに対し、空間フィルタSFを設けた場合には、
0.79であった。
【0031】なお、用いたシリンドリカルレンズ5A及
び5Bの円柱面の曲率は138mm、焦点距離は285
mm、遮光板6のスリット幅は0.5mmである。ま
た、空間フィルタSFを設けた場合には、設けない場合
に較べて光強度の積分値が91%に低下した。これは、
入射光のノイズ成分が遮光板により遮光され、ホモジナ
イズ面まで到達しなかったためである。
【0032】スリット6aの幅を細くすると、トップフ
ラット率は向上するが光強度は低下する。スリット6a
の幅を変化させて、好適なトップフラット率及び光強度
を得ることができる。
【0033】図1では、xz面内に関するノイズ成分の
みを低減する場合を説明したが、空間フィルタをもう一
つ配置し、yz面内に関するノイズ成分をも低減しても
よい。ただし、ホモジナイズ面における照射領域が一方
向に長い形状を有する場合、その長軸方向の光強度分布
のトップフラット率は入射光線束のノイズ成分の影響を
受けにくい。このため、光照射領域の短軸方向と入射光
線束の光軸とを含む平面内に関するノイズ成分を低減さ
せる空間フィルタを設けることが効果的である。
【0034】また、図1に示したシリンドリカルレンズ
5A及び5Bの代わりに球面レンズを用い、スリット6
aを有する遮光板6の代わりにピンホールを有する遮光
板を用いてもよい。この場合、1つの空間フィルタでx
z面内及びyz面内の双方に関するノイズ成分を低減す
ることができる。
【0035】ただし、入射光線束の強度が強く、空間フ
ィルタの集光点における強度が空気中におけるイオン化
しきい値を超えてしまう場合には、図1で説明したよう
に、シリンドリカルレンズとスリット型遮光板とを組み
合わせた空間フィルタを用いることが好ましい。
【0036】図1では、空間フィルタSFの2つのシリ
ンドリカルレンズ5Aと5Bとが等価な場合、すなわち
等しい焦点距離を有する場合を説明したが、焦点距離の
異なる2つのシリンドリカルレンズを用いてもよい。こ
の場合、シリンドリカルレンズ間の距離は、2つのシリ
ンドリカルレンズの各々の焦点距離を合計した距離と
し、遮光板6を2つのシリンドリカルレンズの共通の焦
点位置に配置する。
【0037】次に、図3を参照して本発明の他の実施例
によるビームホモジナイザについて説明する。図1で
は、空間フィルタSFをホモジナイズ部の入射側に配置
する場合を説明したが、図3では空間フィルタSFの代
わりにシリンダアレイ2Aと2Bとの間に遮光板7を配
置している。その他の構成は、図1の場合と同様であ
る。
【0038】遮光板7とシリンダアレイ2Aとの間隔
は、シリンダアレイ2Aを構成する各シリンドリカルレ
ンズの焦点距離に等しい。遮光板7には、各シリンドリ
カルレンズの光軸面との交線に沿った7本のスリット7
aが形成されている。
【0039】入射光線束10の光軸に平行に進行する光
は、スリット7aを通過するが、入射光線束10の光軸
に対して所定の角度以上ずれた方向に進行するノイズ成
分は、遮光板7によって遮光される。すなわち、遮光板
7を通過した光は、入射光線束10のノイズ成分を低減
した光線束になる。従って、図1の場合と同様に、x軸
方向に関するトップフラット率を改善することができ
る。
【0040】また、ホモジナイズ部の外側に空間フィル
タを配置する必要がないため、装置を小型化することが
可能になる。また、シリンダアレイ2Aのシリンドリカ
ルレンズのコバ面同士の間に隙間がある場合には、入射
光線束の一部が、この隙間を通って直進する。直進した
光は、光強度分布の均一化を妨げる。また、コバ面で散
乱した光もノイズ成分となり、光強度の均一化を妨げ
る。遮光板7は、このような光を遮光する作用も有す
る。
【0041】図4(A)は、図3の遮光板7の正面図を
示す。ステンレス製の矩形状の板に7本のスリット7a
が等間隔に形成されている。
【0042】図4(B)は、図4(A)の一点鎖線B4
−B4における断面図を示す。遮光板7は、各々7本の
スリットを有する2枚のステンレス板7Aと7Bとを、
スリット同士が対応するように密着させて構成されてい
る。ステンレス板7A及び7Bに設けられたスリット幅
は、図4(A)のスリット7aの幅よりも広い。ステン
レス板7Aと7Bとを、スリットの長手方向に直交する
方向にずらすことにより、スリット7aの幅を変化させ
ることができる。スリット7aの幅を変化させることに
より、トップフラット率と光強度分布を調節することが
できる。
【0043】図3では、y軸に平行なスリットを有する
遮光板7のみをシリンダアレイ2Aと2Bとの間に配置
する場合を説明した。図1(A)に示すように、yz面
内に関してシリンダアレイ1Aと1Bとの間で光線束が
集光しない場合には、この間に遮光板を配置することは
できないが、集光する場合には、その集光位置に他の遮
光板を配置してもよい。
【0044】図5は、シリンダアレイ1Aと1Bとの間
にも他の遮光板8を配置した場合を示す。遮光板8は遮
光板7と同様の構成を有し、シリンダアレイ1Aによる
集光位置に各スリットがx軸に平行になるように配置さ
れている。なお、図3では、遮光板7がシリンダアレイ
1Aと1Bの組の外側に配置されていたが、図5では、
シリンダアレイ1Aと1Bとの間に配置される。ただ
し、遮光板7の位置はシリンダアレイ2Aとの相対関係
で決まり、シリンダアレイ1Aとの相対位置関係は本質
的なものではない。
【0045】遮光板7及び8を配置することにより、光
線束のyz面内及びxz面内に関するノイズ成分が低減
されるため、照射領域の光強度分布を均一に近づけるこ
とができる。
【0046】次に、図1もしくは図3に示すビームホモ
ジナイザを使用したレーザアニーリング装置について説
明する。
【0047】図6は、レーザアニーリング装置の概略平
面図を示す。筐体50に、処理チャンバ51、搬送チャ
ンバ52、搬入チャンバ53、搬出チャンバ54、ホモ
ジナイザ42、CCDカメラ58、及びビデオモニタ5
9が取り付けられている。
【0048】処理チャンバ51と搬送チャンバ52がゲ
ートバルブ55を介して結合され、搬送チャンバ52と
搬入チャンバ53、及び搬送チャンバ52と搬出チャン
バ54が、それぞれゲートバルブ56及び57を介して
結合されている。処理チャンバ51、搬入チャンバ53
及び搬出チャンバ54には、それぞれ真空ポンプ61、
62及び63が取り付けられ、各チャンバの内部を真空
排気することができる。
【0049】搬送チャンバ52内には、搬送用ロボット
64が収容されている。搬送用ロボット64は、処理チ
ャンバ51、搬入チャンバ53及び搬出チャンバ54の
相互間で処理基板を移送する。
【0050】処理チャンバ51の上面に、レーザ光透過
用の窓60が設けられている。パルス発振したエキシマ
レーザ装置41から出力されたレーザビームがアッテネ
ータ46を通って図1もしくは図3に示すビームホモジ
ナイザ42に入射する。ホモジナイザ42は、レーザビ
ームの断面形状を細長い形状にする。ホモジナイザ42
を通過したレーザビームは、レーザ光の断面形状に対応
した細長い窓60を透過して処理チャンバ51内の処理
基板を照射する。処理基板の表面がホモジナイズ面に一
致するように、ホモジナイザ42と処理基板との相対位
置が調節されている。
【0051】処理基板は、窓60の長軸方向に直交する
向きに平行移動する。1ショット分の照射領域の一部が
前回のショットにおける照射領域の一部と重なるような
速さで処理基板を移動することにより、処理基板表面の
広い領域を照射することができる。処理基板表面はCC
Dカメラ58により撮影され、処理中の基板表面をビデ
オモニタ59で観察することができる。
【0052】エキシマレーザ装置41、ホモジナイザ4
2、搬送用ロボット64、ゲートバルブ55〜57の動
作は、制御装置65によって制御される。
【0053】図7は、図6のレーザアニーリング装置の
光学系の概略図を示す。エキシマレーザ装置41から出
力したレーザビームは、アッテネータ46を通過し、タ
ーンミラー47及び48で反射し、ホモジナイザ42に
入射する。ホモジナイザ42を通過したレーザビーム
は、ターンミラー49で反射し、ガラス窓60を透過し
て処理チャンバ51内に導入される。
【0054】ホモジナイザ42とターンミラー49は、
相互の相対位置関係を保った状態で、入射レーザ光の光
軸に沿って平行移動することができる。ターンミラー4
9で反射した後のレーザビームが図中の位置cにあると
き、処理チャンバ51内の処理基板上にレーザ光が照射
される。
【0055】処理チャンバ51内には、パワーメータ7
2が配置されている。レーザビームを位置dに移動させ
たとき、レーザ光がパワーメータ72に照射され、レー
ザ光の強度を測定することができる。また、処理チャン
バ51の外にもパワーメータ73が配置されており、レ
ーザビームを位置bに移動させることにより、処理チャ
ンバ51内に導入される前のレーザ光の強度を測定する
ことができる。
【0056】また、処理チャンバ51の外に、光センサ
を直線状に配列したビームプロファイラ74が配置され
ている。レーザビームを位置aに移動させてビームプロ
ファイラ74にレーザ光を照射することにより、線状の
断面形状を有するレーザビームの断面内の長軸方向に関
する強度分布を測定することができる。
【0057】アッテネータ46とターンミラー47との
間にパワーメータ70が配置され、ターンミラー48と
ホモジナイザ42との間にパワーメータ71が配置され
ている。パワーメータ70及び71により、その位置に
おけるレーザ光の強度を測定することができる。
【0058】パワーメータ70〜73で検出されたレー
ザ光の強度をそれぞれの位置における正常値と比較する
ことにより、各光学部品の劣化状態を知ることができ
る。また、ビームプロファイラ74からの検出信号を解
析することにより、レーザビームの断面の長軸方向に関
する強度分布の正常性を確認することができる。
【0059】図1もしくは図3の実施例で説明したよう
に、ホモジナイザ42に空間フィルタを設けることによ
り、線状の光照射領域の幅を1mm以下としても、光強
度分布のトップフラット率を比較的高く維持することが
できる。トップフラット率を高くすることにより、基板
全面に、より均一にレーザ光を照射することができる。
【0060】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種
々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に
自明であろう。
【0061】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビームホモジナイザを透過した光線束のホモジナイズ面
における光強度分布を、より均一に近づけることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例によるビームホモジナイザの断
面図である。
【図2】図2(A)は、従来のビームホモジナイザによ
りホモジナイズされた光照射領域の光強度分布を示すグ
ラフであり、図2(B)は、図1に示すビームホモジナ
イザによりホモジナイズされた光照射領域の光強度分布
を示すグラフである。
【図3】本発明の他の実施例によるビームホモジナイザ
の断面図である。
【図4】図3に示すビームホモジナイザの遮光板の正面
図及び断面図である。
【図5】本発明の他の実施例によるビームホモジナイザ
の断面図である。
【図6】図1もしくは図3に示すビームホモジナイザを
使用したレーザアニーリング装置の概略を示す平面図で
ある。
【図7】図6に示すレーザアニーリング装置の光学系を
示す図である。
【符号の説明】
1A、1B、2A、2B シリンダアレイ 3 収束レンズ 4 ホモジナイズ面 5A、5B シリンドリカルレンズ 6、7、8 スリットを有する遮光板 10 入射光線束 11 平行光線束 12 分割された光線束 21x、21y、22x、22y 光強度分布 41 エキシマレーザ装置 42 ホモジナイザ 46 アッテネータ 47、48、49 ターンミラー 50 筐体 51 処理チャンバ 52 搬送チャンバ 53、54 搬出入チャンバ 55〜57 ゲートバルブ 58 CCDカメラ 59 ビデオモニタ 60 窓 61、62、63 真空ポンプ 64 搬送ロボット 65 制御装置 70、71、72、73 パワーメータ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の第1のシリンドリカルレンズが、
    各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に平行に
    し、かつ光軸面に対して垂直な第1の仮想平面に沿って
    配列した第1のシリンダアレイと、 複数の第2のシリンドリカルレンズが、各々の円柱面の
    母線同士及び光軸面同士を相互に平行にし、かつ前記第
    1の仮想平面に平行な第2の仮想平面に沿って配列した
    第2のシリンダアレイであって、各第2のシリンドリカ
    ルレンズが、対応する前記第1のシリンドリカルレンズ
    と光軸面を共通にし、前記第1のシリンドリカルレンズ
    を透過した光線束が、対応する第2のシリンドリカルレ
    ンズに入射する前記第2のシリンダアレイと、 前記第2のシリンダアレイを透過した光線束を収束する
    収束光学系と、 前記第1のシリンダアレイの入射側に配置された第1の
    フィルタ光学系であって、前記第1の仮想平面に垂直な
    光軸を有する平行光線束が入射するとき、前記第1のシ
    リンドリカルレンズの円柱面の母線に垂直な平面内に関
    して、該平行光線束の平行度を高める第1のフィルタ光
    学系とを有するビームホモジナイザ。
  2. 【請求項2】 さらに、 前記第1のフィルタ光学系の出射側かつ前記収束光学系
    の入射側に配置され、複数の第3のシリンドリカルレン
    ズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に
    平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第3の仮想
    平面に沿って配列した第3のシリンダアレイであって、
    第3のシリンドリカルレンズの各々の光軸面が、前記第
    1及び第2のシリンダアレイの光軸面と直交する前記第
    3のシリンダアレイと、 前記第3のシリンダアレイの出射側かつ前記収束光学系
    の入射側に配置され、複数の第4のシリンドリカルレン
    ズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に
    平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第4の仮想
    平面に沿って配列した第4のシリンダアレイであって、
    各第4のシリンドリカルレンズが、対応する前記第3の
    シリンドリカルレンズと光軸面を共通にする前記第4の
    シリンダアレイとを有する請求項1に記載のビームホモ
    ジナイザ。
  3. 【請求項3】 前記第1のフィルタ光学系が、 前記第1のシリンドリカルレンズの光軸面と平行な光軸
    面を有する第5のシリンドリカルレンズであって、円柱
    面の母線が前記第1のシリンドリカルレンズの円柱面の
    母線と平行になるように配置された前記第5のシリンド
    リカルレンズと、 前記第5のシリンドリカルレンズと光軸面を共通にする
    第6のシリンドリカルレンズであって、円柱面の母線が
    前記第5のシリンドリカルレンズの円柱面の母線と平行
    になり、かつ前記第5のシリンドリカルレンズから、前
    記第5及び第6のシリンドリカルレンズの各々の焦点距
    離を合計した距離に等しい間隔をおいて配置された前記
    第6のシリンドリカルレンズと、 前記第5のシリンドリカルレンズと第6のシリンドリカ
    ルレンズとの間の中央両シリンドリカルレンズ焦点位置
    に配置され、前記第5のシリンドリカルレンズの光軸面
    との交線に沿ってスリットが形成された遮光板とを有す
    る請求項1または2に記載のビームホモジナイザ。
  4. 【請求項4】 さらに、前記第3のシリンダアレイの入
    射側に配置された第2のフィルタ光学系であって、前記
    第1の仮想平面に垂直な光軸を有する平行光線束が入射
    するとき、前記第3のシリンドリカルレンズの円柱面の
    母線に垂直な平面内に関して、平行光線束の平行度を高
    める前記第2のフィルタ光学系を有する請求項2に記載
    のビームホモジナイザ。
  5. 【請求項5】 さらに、 前記第1のフィルタ光学系の出射側かつ前記収束光学系
    の入射側に配置され、複数の第3のシリンドリカルレン
    ズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に
    平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第3の仮想
    平面に沿って配列した第3のシリンダアレイであって、
    第3のシリンドリカルレンズの各々の光軸面が、前記第
    1及び第2のシリンダアレイの光軸面と直交する前記第
    3のシリンダアレイと、 前記第3のシリンダアレイの出射側かつ前記収束光学系
    の入射側に配置され、複数の第4のシリンドリカルレン
    ズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に
    平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第4の仮想
    平面に沿って配列した第4のシリンダアレイであって、
    各第4のシリンドリカルレンズが、対応する前記第3の
    シリンドリカルレンズと光軸面を共通にする前記第4の
    シリンダアレイとを有し、 前記第1のフィルタ光学系が、該第1のフィルタ光学系
    に、前記第1の仮想平面に垂直な光軸を有する平行光線
    束が入射するとき、前記第1及び第3のシリンドリカル
    レンズの円柱面の母線の各々に垂直な2つの平面内に関
    して平行光線束の平行度を高める請求項1に記載のビー
    ムホモジナイザ。
  6. 【請求項6】 複数の第1のシリンドリカルレンズが、
    各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に平行に
    し、かつ光軸面に対して垂直な第1の仮想平面に沿って
    配列した第1のシリンダアレイと、 複数の第2のシリンドリカルレンズが、各々の円柱面の
    母線同士及び光軸面同士を相互に平行にし、かつ前記第
    1の仮想平面に平行な第2の仮想平面に沿って配列した
    第2のシリンダアレイであって、各第2のシリンドリカ
    ルレンズが、対応する前記第1のシリンドリカルレンズ
    と光軸面を共通にし、前記第1のシリンドリカルレンズ
    を透過した光線束が、対応する第2のシリンドリカルレ
    ンズに入射する前記第2のシリンダアレイと、 前記第2のシリンダアレイを透過した光線束を収束する
    収束光学系と、 前記第1のシリンダアレイと第2のシリンダアレイとの
    間に配置され、前記第1のシリンダアレイを構成する第
    1のシリンドリカルレンズの各々の光軸面との交線に沿
    ってスリットが形成された第1の遮光板とを有するビー
    ムホモジナイザ。
  7. 【請求項7】 さらに、 前記第1のフィルタ光学系の出射側かつ前記収束光学系
    の入射側に配置され、複数の第3のシリンドリカルレン
    ズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に
    平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第3の仮想
    平面に沿って配列した第3のシリンダアレイであって、
    第3のシリンドリカルレンズの各々の光軸面が、前記第
    1及び第2のシリンダアレイの光軸面と直交する前記第
    3のシリンダアレイと、 前記第3のシリンダアレイの出射側かつ前記収束光学系
    の入射側に配置され、複数の第4のシリンドリカルレン
    ズが、各々の円柱面の母線同士及び光軸面同士を相互に
    平行にし、かつ前記第1の仮想平面に平行な第4の仮想
    平面に沿って配列した第4のシリンダアレイであって、
    各第4のシリンドリカルレンズが、対応する前記第3の
    シリンドリカルレンズと光軸面を共通にする前記第4の
    シリンダアレイと、 前記第3のシリンダアレイと第4のシリンダアレイとの
    間に配置され、前記第3のシリンダアレイを構成する第
    3のシリンドリカルレンズの各々の光軸面との交線に沿
    ってスリットが形成された第2の遮光板とを有する請求
    項6に記載のビームホモジナイザ。
JP31403996A 1996-11-25 1996-11-25 ビームホモジナイザ Expired - Fee Related JP3234513B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31403996A JP3234513B2 (ja) 1996-11-25 1996-11-25 ビームホモジナイザ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31403996A JP3234513B2 (ja) 1996-11-25 1996-11-25 ビームホモジナイザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10153747A true JPH10153747A (ja) 1998-06-09
JP3234513B2 JP3234513B2 (ja) 2001-12-04

Family

ID=18048484

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31403996A Expired - Fee Related JP3234513B2 (ja) 1996-11-25 1996-11-25 ビームホモジナイザ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3234513B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000091264A (ja) * 1998-07-13 2000-03-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd レ―ザ―照射装置
CN100416411C (zh) * 2001-02-22 2008-09-03 石川岛播磨重工业株式会社 照明光学系统及配备该光学系统的激光器处理装置
US7621225B2 (en) 2002-06-26 2009-11-24 International Environmental Solutions Corporation Method and apparatus for treatment of waste
US7832343B2 (en) 2002-06-26 2010-11-16 International Environmental Solutions Corporation Pyrolyzer with dual processing shafts
JP4808780B2 (ja) * 2005-09-30 2011-11-02 リモ パテントフェルヴァルトゥング ゲーエムベーハー ウント コー.カーゲー 光を均質化するための装置
WO2022019012A1 (ja) * 2020-07-21 2022-01-27 浜松ホトニクス株式会社 光学装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000091264A (ja) * 1998-07-13 2000-03-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd レ―ザ―照射装置
CN100416411C (zh) * 2001-02-22 2008-09-03 石川岛播磨重工业株式会社 照明光学系统及配备该光学系统的激光器处理装置
US7621225B2 (en) 2002-06-26 2009-11-24 International Environmental Solutions Corporation Method and apparatus for treatment of waste
US7832343B2 (en) 2002-06-26 2010-11-16 International Environmental Solutions Corporation Pyrolyzer with dual processing shafts
JP4808780B2 (ja) * 2005-09-30 2011-11-02 リモ パテントフェルヴァルトゥング ゲーエムベーハー ウント コー.カーゲー 光を均質化するための装置
WO2022019012A1 (ja) * 2020-07-21 2022-01-27 浜松ホトニクス株式会社 光学装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3234513B2 (ja) 2001-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3936756B2 (ja) レーザビームから鮮鋭な照射線を生成する光学装置
US11536979B2 (en) Optical arrangement and laser system
US6471372B1 (en) Assembly and device for optical beam transformation
JPH1082971A (ja) レーザ放射光の均質化および複数の照明フィールドの生成のための光学装置
JP3191702B2 (ja) ビームホモジナイザ
US20240069252A1 (en) Device for homogenizing laser light and arrangement of a plurality of such devices
JP3234513B2 (ja) ビームホモジナイザ
KR101415918B1 (ko) 레이저 멀티 스캔 장치
TWI431321B (zh) 形塑雷射光束的輪廓的光學系統及方法
JP2002529776A (ja) 陰極線管用のレーザ照射装置。
JP4073592B2 (ja) レーザ光ビームの整形方法および整形装置ならびにレーザ光薄膜結晶化装置
JP3402124B2 (ja) ビームホモジナイザ及び半導体薄膜作製方法
JP3349371B2 (ja) ビームホモジナイザ
JPH08227606A (ja) 二つの多重配列ミラ−による平行光光源装置
US11409117B2 (en) Device for generating a linear intensity distribution in a working plane
JP2004093837A (ja) 均一化レーザビーム照射装置
JPH10104545A (ja) ビームホモジナイザ
JP2007007683A (ja) ビーム重ね合わせ装置及びレーザ加工方法
KR102018613B1 (ko) 음향 광학 편향 시스템, 이를 포함하는 레이저 가공 장치 및 빔 차단 방법
JPH1197340A (ja) 露光光学系、光加工装置、露光装置及び光結合装置
JP4073591B2 (ja) レーザ光ビームの整形方法およびレーザ光薄膜結晶化装置
JP5416707B2 (ja) 均質化された光線を形成するための装置及び方法
JP3406946B2 (ja) 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法
SU1675827A1 (ru) Микроскоп
JPH02232618A (ja) レーザ加工用光ファイバー集光光学系

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20010417

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010911

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees