JPH10138670A - 非接触icカード - Google Patents

非接触icカード

Info

Publication number
JPH10138670A
JPH10138670A JP8296099A JP29609996A JPH10138670A JP H10138670 A JPH10138670 A JP H10138670A JP 8296099 A JP8296099 A JP 8296099A JP 29609996 A JP29609996 A JP 29609996A JP H10138670 A JPH10138670 A JP H10138670A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
card
mounting
circuit board
electronic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8296099A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Noda
隆司 埜田
Keiichi Iiyama
恵市 飯山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP8296099A priority Critical patent/JPH10138670A/ja
Publication of JPH10138670A publication Critical patent/JPH10138670A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]

Abstract

(57)【要約】 【課題】非接触ICカードの部品実装段階において、実
装設備の簡略化と実装工数の低減を図ることを目的とす
る。また、カードを動作させるために必要な電子部品の
最適値を自由に得ることを目的とする。 【解決手段】電子回路を構成するICチップ1と、電子
部品を構成するシリコンチップ2を同一実装工法にて回
路基板3へ実装する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサ等の電
子部品およびICチップが実装された非接触ICカード
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICカードは、高度なセキュリティ機能
を有しているため、金融、流通分野をはじめとした多岐
の分野にわたって使用されている。このICカードは、
内部に端末装置から送出された各種情報を記憶、処理す
る集積回路を有しており、従来の磁気カードと同等の形
状に構成されている。
【0003】近年、カード利用者の利便性の向上やカー
ド本体の傷や汚れに対する信頼性の向上のため、ICカ
ードと、このカードに記憶された情報の読出し、書込み
を行う端末装置とを接続させることなく、電波を媒体と
して情報の授受を行う非接触ICカードの需要が高まっ
ている。
【0004】以下、従来の非接触ICカードについて図
4を参照して説明する。図4に示すように非接触ICカ
ードの内部には、受信した情報の処理を行うためのIC
チップ1、コンデンサおよび抵抗等の電子部品5が実装
され、これら部品を電気的に接続する銅箔パターン(図
示せず)がプリントされた回路基板3と、この回路基板
3に接続され、非接触ICカードを駆動するエネルギー
を受け取るとともに、端末装置との間で電波を媒体とし
て情報を送受信するためのアンテナ4とから構成されて
おり、これら回路基板3およびアンテナ4を樹脂により
パッケージし、所定の形状に形成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記構成を有する従来
の非接触ICカードでは、電子回路を構成するICチッ
プの実装にはワイヤボンディング方式が一般的に採用さ
れているのに対して、コンデンサ等の電子部品はクリー
ム半田等により回路基板上に実装する方法が用いられて
いた。このため、従来の非接触ICカードはその製造工
程において、ICチップの実装工法とコンデンサ等の電
子部品の実装工法が異なるため、それぞれの部品に対応
した専用の実装設備が必要となるだけでなく、実装工数
も増えてしまうという課題を有していた。
【0006】また、回路基板に実装されるコンデンサ等
の電子部品には、チップ部品が用いられている。しかし
ながら、これらチップ部品の容量や抵抗値等の固有値に
は規格が存在するため、非接触ICカードを構成する際
に必要となる値に応じて、この値を有するチップ部品を
選択することが難しいという課題がある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の非接触ICカー
ドは、電子回路を構成するICチップおよびコンデン
サ、抵抗等の電子部品が形成されたシリコンチップが実
装された回路基板と、この回路基板に接続され、端末装
置との間で電波を媒体として情報を送受信するアンテナ
とからなるものであり、ICチップおよび電子部品を、
同一工法を用いて回路基板上に実装する構成としたもの
である。
【0008】さらに、電子部品をICチップと同一工法
により実装を行うためには、両者の部品形状を同等にす
る必要がある。このため、本発明では一般的に用いられ
ているチップ部品に代えて、シリコンチップ上に電子部
品を構成した電子部品を採用するものである。
【0009】上記構成により、本発明の非接触ICカー
ドは、端末装置との通信周波数等のカードの特性および
回路に応じてコンデンサ、抵抗等の値を定め、これらの
値に応じた電子部品が形成されたシリコンチップを用い
たものである。このため、必要となる電子部品の最適値
を得ることが可能となるが、単にチップ部品を用いた従
来の非接触ICカードに比較して、部品コストが上昇す
ることは明らかである。
【0010】しかしながら、ICチップおよび電子部品
を有するシリコンチップを同一工法にて実装することに
より、それぞれの部品形状および実装方法に対応した実
装設備を用いることなく、設備の簡略化が可能となり、
非接触ICカード製造時における大幅な実装工数の削減
を実現することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の非接触ICカード
の実施形態についてを図面を参照し説明する。
【0012】図1に本発明による非接触ICカードの内
部構成を示す斜視図を示す。この非接触ICカードは、
端末装置から送出された情報の処理を行うため電子回路
が構成されたICチップ1、コンデンサ等の電子部品が
構成され、シリコンチップ上に形成されたシリコンチッ
プ2がそれぞれ実装された回路基板3と、この回路基板
3に接続され、非接触ICカードを駆動するエネルギー
の受信、および端末装置との間で電波を介して情報の授
受を行うためのアンテナコイル4とから構成されてい
る。このアンテナコイル4は非接触ICカードの外周部
内側に沿って配設されており、回路基板3はICカード
の中央部分から短辺に対して大きく偏心した位置に内蔵
されており、前記アンテナの短辺の中央部から導出され
た接続線により当該アンテナと接続されるものである。
【0013】回路基板3に実装されるシリコンチップ2
には、端末装置との情報の送受信時の周波数特性に応じ
てコンデンサ容量および抵抗値等が定められた複数のコ
ンデンサ、抵抗等が形成される。
【0014】上記シリコンチップに、例えば、コンデン
サをアレー状に構成した場合、パラレルあるいはシリア
ルにコンデンサを接続することにより、容易且つ確実に
最適な値を得ることができる。これにより、同調周波数
が異なるカードに対しても同一のシリコンチップをコン
デンサとして使用することで、シリコンチップの汎用性
が大きく拡がるものであり、シリコンチップの部品コス
トの低減化を図ることが可能となる。さらに、このアレ
ー状に配置する構成を抵抗に適用した場合も同様の効果
を奏するものである。
【0015】また、電子回路を構成するICチップ1お
よびコンデンサ等の電子部品を構成するシリコンチップ
2の製造にあたって、強誘電体の材料を使用すれば、さ
らにチップサイズの小型化が実現でき携帯時に生じる折
り曲げ等に起因するカード本体への外的なストレスにす
る信頼性が向上する。
【0016】さらにまた、回路基板3に柔軟性を有する
ポリイミド樹脂を使用した。このような柔軟性を有する
回路基板3を使用することにより、折り曲げ等による非
接触ICカードの破損を抑制することができ、信頼性の
向上が図れる。
【0017】次に、図2にICチップ1およびシリコン
チップ2が実装された回路基板3の外観図を、図3にこ
の回路基板3の断面図を示す。
【0018】ICチップ1およびシリコンチップ2は、
回路基板3上に接着された後、金ワイヤ6によるワイヤ
ボンディング方式で実装される。さらに、これら回路基
板3に実装された各部品は、エポキシ樹脂等の封止樹脂
7を用いて封止される。この際、ICチップ1およびシ
リコンチップ2はいづれもワイヤボンディング方式によ
り実装される。このため、同一の実装設備により各チッ
プの対応が可能となる。また、ワイヤボンディング方式
では、従来の実装方法において必要としていたコンデン
サ等の電子部品を実装するクリーム半田の塗布工程やリ
フローの工程および洗浄工程などが不必要となり、実装
設備の簡略化とともに工数の削減も併せて実現できるも
のである。
【0019】なお、本実施の形態ではワイヤボンディン
グ方式による実装について説明を行ってきたが、各チッ
プの実装方式としてTAB方式、あるいはフリップチッ
プ方式等の他の実装方式でも、ICチップ1とシリコン
チップ2が同一方式による実装されれば良い。
【0020】さらに、本実施の形態では、ICチップと
1つのシリコンチップを回路基板上に実装した場合につ
いて説明した。すなわち、コンデンサや抵抗等の電子部
品をシリコンチップ上に構成したが、これらを電子回路
を構成しているICチップと同一チップ上に形成する構
成を採用することも可能である。しかしながら、同一チ
ップ上に構成する場合、特に電子部品の容量あるいは抵
抗が大きいには、ICチップの製造工数が増加し、部品
コストが上昇するだけでなく、ICチップの面積も極め
て大きくなるため、カード使用時のストレスによるIC
チップ割れの不良が発生しやすくなってしまう。このI
Cチップ割れの不良を低減するには、その大きさを4m
m角以下のサイズにすることが望ましい。
【0021】
【発明の効果】本発明の非接触ICカードによれば、I
Cチップとコンデンサ等の電子部品が同一実装工法にて
回路基板に実装でき、実装設備の簡略化とともに工数の
削減が実現できる。
【0022】また、前記電子部品をシリコンチップ上に
構成することで、必要な電子部品の最適値を自由に得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の非接触ICカードの内部構成を示す斜
視図
【図2】本発明の非接触ICカードの回路基板部分にお
ける斜視図
【図3】同回路基板部分における断面図
【図4】従来の非接触ICカードの構成図
【符号の説明】
1 ICチップ 2 シリコンチップ 3 回路基板 4 アンテナ 5 電子部品

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】情報の処理、記憶を行う電子回路を構成す
    るICチップ、電子部品が実装される回路基板と、この
    回路基板に接続され、前記情報を電波を媒体として端末
    装置へ送受信するアンテナを備えた非接触ICカードで
    あって、 少なくともコンデンサ、抵抗の電子部品をシリコンチッ
    プ上に形成し、このシリコンチップとICチップとを同
    一の実装工法により実装された前記回路基板を用いるこ
    とを特徴とする非接触ICカード。
JP8296099A 1996-11-08 1996-11-08 非接触icカード Pending JPH10138670A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8296099A JPH10138670A (ja) 1996-11-08 1996-11-08 非接触icカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8296099A JPH10138670A (ja) 1996-11-08 1996-11-08 非接触icカード

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10138670A true JPH10138670A (ja) 1998-05-26

Family

ID=17829126

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8296099A Pending JPH10138670A (ja) 1996-11-08 1996-11-08 非接触icカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10138670A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6557767B1 (en) * 1999-03-01 2003-05-06 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Antenna frame for IC card and process for manufacturing the same or IC card using the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6557767B1 (en) * 1999-03-01 2003-05-06 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Antenna frame for IC card and process for manufacturing the same or IC card using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7471260B2 (en) Semiconductor memory module having built-in antenna
US7078304B2 (en) Method for producing an electrical circuit
US6268796B1 (en) Radio frequency identification transponder having integrated antenna
US6974909B2 (en) IC module, and wireless information-storage medium and wireless information-transmitting/receiving apparatus including the IC module
US10396429B2 (en) Wireless communication device
EP1073009B1 (en) IC card
JP2002207987A (ja) カードまたはラベル用の非接触電子モジュール
WO2002013135A2 (en) Structures and assembly methods for radio-frequency-identification modules
AU2003243162A2 (en) Method for producing an electrical circuit
CN204179231U (zh) 天线模块
US7994995B2 (en) Transponder tuning method and a transponder
US20160275391A1 (en) Miniature rfid tag with coil on ic package
JPH1131784A (ja) 非接触icカード
US9336475B2 (en) Radio IC device and radio communication terminal
CN108370087B (zh) 具有cms器件的单面天线模块
JPH10138670A (ja) 非接触icカード
EP2278533A1 (en) RFID tag
JP2002016171A (ja) 半導体装置
JPH1111058A (ja) Icモジュールおよびこれを用いたicカード
JPH06344692A (ja) 薄型モジュール
JP2004355442A (ja) 非接触データキャリア
JPH09109580A (ja) 非接触icカード
JP2001167974A (ja) 回路基板およびそれを用いた回路モジュールおよびそれを用いた電子装置
JP2623235B2 (ja) 非接触idカード
JPS634662A (ja) 電子回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060322

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20090106

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20090212

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090402

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20090402

A02 Decision of refusal

Effective date: 20090526

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

A521 Written amendment

Effective date: 20090902

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20091002

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20091110

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Effective date: 20091222

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20100115

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250