JPH10137561A - 分離膜破損検出方法および分離膜装置 - Google Patents

分離膜破損検出方法および分離膜装置

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JPH10137561A
JPH10137561A JP8300311A JP30031196A JPH10137561A JP H10137561 A JPH10137561 A JP H10137561A JP 8300311 A JP8300311 A JP 8300311A JP 30031196 A JP30031196 A JP 30031196A JP H10137561 A JPH10137561 A JP H10137561A
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separation membrane
separation
substance
radioactive
detecting
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JP8300311A
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Shohei Fukada
尚平 深田
Torataro Minegishi
寅太郎 峯岸
Tatsuo Takechi
辰夫 武智
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NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 分離膜装置の分離膜の破損箇所が微小であっ
ても、確実に分離膜の破損箇所を検知することができる
分離膜破損検出方法および分離膜装置を提供することを
目的とするものである。 【解決手段】 放射性物質供給装置10から放射性物質
を混合物質中に混合して、分離膜装置6a〜6dに供給
し、透過物質排出ライン8a〜8dで放射性物質による
放射線を検出して、分離膜装置6a〜6dに損傷が発生
したことを検出する分離膜破損検出方法および分離膜装
置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、分離膜で混合物質
を分離する分離膜の破損検出方法および分離膜装置に関
し、詳しくは、精密ろ過、限外ろ過、ナノフィルトレー
ション、逆浸透、イオン交換あるいは気体分離のための
分離膜の品質管理、分離膜を具備する分離膜装置の保守
管理あるいは分離膜装置の施工時の点検に適した分離膜
破損検出方法および分離膜装置に係るものである。
【0002】
【従来の技術】浄水処理、下水処理、産業排水処理、海
水淡水化、超純粋製造等の水処理分野では、精密ろ過
膜、限外ろ過膜、ナノフィルトレーション膜、逆浸透
膜、イオン交換膜などの分離膜が利用されている。ま
た、水素、酸素、窒素、水蒸気、炭酸ガス、オレフィン
ガス等の気体分離には、ガス分離膜が利用されている。
これらの分離膜では、混合物質が供給側へ供給され、混
合物質内の透過しやすい物質が分離膜の透過側へ移動さ
せて分離、濃縮される。このように分離膜を組み込んだ
分離膜装置では、混合物質の供給側と、分離膜を透過し
やすい物質が移動する透過側とから構成されている。
【0003】このような分離膜装置では、欠陥、破断、
亀裂等の破損が生じた場合、正常な状態では分離膜を透
過しない物質、あるいは非常に微量しか透過しない物質
が透過側へ漏洩することになる。分離膜装置に漏洩が生
じることにより分離操作の目的が損なわれるため、漏洩
をもたらす分離膜の破損および分離膜装置における破損
箇所を検知することが重要であり、常時または定期的に
保守点検を行う必要がある。
【0004】従来、この種の分離膜の破損および分離膜
における破損箇所の検知方法には、以下に列挙する方法
がある。
【0005】加圧気体を分離膜に供給し、分離膜の透
過側への加圧気体の漏洩を呈色反応で検出して検知する
方法(特公昭57−18923号)、加圧気体を分離
膜に供給し、分離膜の透過側の光学システムで加圧気体
の漏洩による屈折現象の変化を検出して検知する方法
(特公昭56ー39921号)、加圧気体を分離膜に
供給し、膜透過側の圧力測定でもって検出する方法(特
開平5ー157654号)、通常では透過しない微小
粒子を含む空気を用い、分離膜の透過側でパーティクル
カウンターにより該微小粒子を検出して検知する方法
(特公平2−14084号)、および通常では透過し
ない懸濁物質を、分離膜の透過側で検出して検知する方
法(特公平8−2407号)などがある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、加圧気体を用いた呈色反応や加圧気体を用いて
光学システムによって検知する方法は、分離膜装置の外
装が不透明の場合などでは色波長や光学システムの波長
が非透過性となり、分離膜装置に手を加えることなく漏
洩を検知することはできなかった。
【0007】また、加圧気体を用いて、分離膜の透過側
で圧力変化を検出する方法や、微小粒子をパーティクル
カウンターで検出する方法は、分離膜装置の規模に対し
て破損箇所が微小な場合には、検出量が少ないため破損
による漏洩と判断することが困難であるという欠点があ
った。
【0008】また、膜透過側の懸濁物質による濁度の判
定も、漏洩が微量の場合や、濁度計の精度が必ずしも高
くない場合には、漏洩と判断することが困難であるとい
う欠点があった。
【0009】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたものであり、分離膜装置の分離膜の破損箇所が微
小である場合であっても、確実に分離膜の破損箇所を検
知することができる分離膜破損検出方法および分離膜装
置を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、下記の手段に
よって、上記課題を解決したものである。請求項1の発
明は、混合物質を分離する分離膜の分離膜破損検出方法
において、放射性物質を分離前の混合物質に添加し、分
離後の分離膜透過物質における前記放射性物質の発する
放射線を検出することによって、前記分離膜の破損を検
出することを特徴とする分離膜破損検出方法である。
【0011】また、請求項2の発明は、混合物質を分離
する分離膜の分離膜破損検出方法において、複数の分離
膜で分離する際に、分離前の混合物質に放射性物質を添
加し、各々の分離膜による分離後の分離膜透過物質にお
ける前記放射性物質の発する放射線を検出することによ
って、前記複数の分離膜のうちの特定箇所の分離膜の破
損を検出することを特徴とする分離膜破損検出方法であ
る。
【0012】また、請求項3の発明は、請求項1,2に
記載の分離膜破損検出方法において、前記放射性物質が
放射性同位元素、または放射性同位元素で標識した分
子、または放射性同位元素で標識したイオンであること
を特徴とする分離膜破損検出方法である。
【0013】また、請求項4の発明は、請求項1,2ま
たは3に記載の分離膜破損検出方法において、前記分離
膜が精密ろ過、限外ろ過、ナノフィルトレーション、逆
浸透、イオン交換あるいは気体分離のための分離膜であ
ることを特徴とする分離膜破損検出方法である。
【0014】また、請求項5の発明は、混合物質を分離
する複数の分離膜装置と、放射性物質を分離前の混合物
質に添加する供給装置と、前記分離膜装置による分離後
の分離膜透過物質における前記放射性物質による放射線
を検出する放射線検出器と、を具備することを特徴とす
る分離膜装置である。
【0015】本発明は、精密ろ過、限外ろ過、ナノフィ
ルトレーション、逆浸透、イオン交換あるいは気体分離
のための分離膜を用いて混合物質を分離する分離装置に
おいて、分離膜が破損していない状態では分離膜を透過
しない大きさ、形状の放射性同位元素、または放射性同
位元素で標織した分子、または放射性同位元素で標織し
たイオンを、混合物質に添加して分離操作を実施し、放
射線検出装置で分離膜透過物質を検査して放射線の漏れ
を検出することによって、分離膜の破損および分離膜装
置における破損箇所を検知する分離膜の破損および分離
膜装置の破損箇所検知方法である。
【0016】トレーサとして用いられる放射性同位元素
から発せられる放射線は、極めて微量であっても非常に
強い検出感度を得ることができる。従って、分離膜が破
損していない状態では、分離膜を透過しない大きさ、形
状の放射性同位元素、または放射性同位元素で標識した
分子、または放射性同位元素で標識したイオンを、分離
膜の供給側の混合物質に少量を添加することにより、わ
ずかでも破損箇所から分離膜の透過側に漏洩があった場
合には、確実に分離膜の破損および分離膜装置における
破損箇所の検知を行うことができる。放射線は物質の透
過性が極めて高いために、分離膜装置の外装の如何を問
わず容易に破損箇所を検知することができる。
【0017】また、トレーサとして使用する放射性同位
元素、または放射性同位元素で標織した分子、または放
射性同位元素で標織したイオンは、膜を透過しないもの
であればどのような物質でも利用し得るが、検出のし易
さからすればβ線またはγ線を放射する物質が望まし
く、更に人体や環境への影響を考慮すると、半減期が1
分〜数日と短めの物質を利用することが望ましい。
【0018】また、この方法による破損検知の対象とな
る分離膜および分離膜装置は、分離膜が破損していない
状態では分離膜を透過しない大きさ、形状の放射性物質
を使用する限り、精密ろ過、限外ろ過、ナノフィルトレ
ーション、逆浸透、イオン交換あるいは気体分離の分離
膜の種類および素材や、それらの分離膜装置の形態には
特に限定されるものではない。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。本発明の実施形態に基づい
て、分離膜および分離膜装置の分離膜破損検出方法と、
分離膜破損検出装置を具備する分離膜装置について説明
する。
【0020】(実施形態1)本発明に係る分離膜装置の
分離膜破損検出方法および分離膜破損検出装置を具備す
る分離膜装置について、図1を参照して説明する。図1
は、本実施形態の分離膜破損検出装置を具備する分離膜
装置を適用した実施形態を示す概略系統図である。
【0021】図1において、混合物質供給ライン1より
導入された混合物質は、混合物質貯槽2に送られる。こ
の混合物質貯槽2には、放射性物質供給装置10から放
射性物質(トレーサー)として、放射性物質供給ライン
3を通し、放射性同位元素、または放射性同位元素で標
織した分子、または放射性同位元素で標識したイオンが
供給される。
【0022】混合物質貯槽2に貯留された混合物質は、
分離膜装置供給ポンプ4により分離膜装置供給ライン5
を通して分離膜装置6へ供給される。分離膜装置6で
は、混合物質中の分離膜を透過しないか、または透過し
にくい物質は、分離膜装置6a〜6dの各供給側から集
合して非透過物質排出ライン7を介して、排出される。
また、混合物質中の分離膜を透過しやすい物質は、分離
膜装置6a〜6dの各透過側からそれぞれ透過物質排出
ライン8a〜8dを通して排出される。分離膜装置6
は、分離膜装置6a〜6dに破損が生じない状態で機能
する。
【0023】分離膜または分離膜装置に微小であっても
欠陥、破断、亀裂等の破損が生じると、本来透過しない
か、または透過しにくい物質が分離膜の透過側に漏れ、
透過物質排出ライン8へと漏洩してくる。そこで、それ
ぞれの透過物質排出ライン8または分離膜装置6自体を
放射線検出装置9でそれぞれスキャンしてやることによ
って、破損箇所から僅かであっても漏洩してくる放射性
同位元素、または放射性同位元素で標織した分子、また
は放射性同位元素で標織したイオンを検出することが可
能であり、分離膜が破損していることを確実に検知する
ことができる。放射線検出装置9の出力は、分離破損検
知装置11に入力され、分離膜装置6a〜6dにおける
破損箇所を特定することができる。
【0024】なお、分離膜破損検出装置11による制御
装置で、破損箇所を検出する場合は、透過物質排出ライ
ン8a〜8dの集合管に沿って放射線検出装置9が摺動
するようにし、放射線検出装置9をその集合管の中央に
配置し、透過物質排出ライン8a〜8dを流れる透過物
質中の放射性物質を監視する。放射線を検出した場合
は、集合管を一方向に摺動機構によって移動させて、放
射線を検出できない場合は、反対方向に引き返して、放
射線の検出を行う。例えば、集合管の中央で放射線を検
出し、透過物質排出ライン8bを通過した時点で、放射
線が検出できない場合は、分離膜の破損を分離膜装置6
bに破損が発生したことを検出することができる。この
ようにして、放射線検出装置9をスキャンさせながら分
離膜の破損箇所を検出することができる。
【0025】無論、放射線検出装置9で、その都度、分
離膜装置8a〜8dの透過物質排出ライン8a〜8dを
監視することで、その破損箇所を特定することができる
ことは明らかである。また、分離膜が破損しているか否
かを検知することのみを目的とするならば、透過物質排
出ライン8を集合させた後の一箇所に放射線検出装置9
を設置するのみでも良い。
【0026】(実施形態2)図2は、本発明に係る分離
膜破損検出方法および分離膜装置の他の実施形態を示す
概略系統図である。同図では、トレーサとしての放射性
物質は、分離膜装置6a〜6dの分離膜装置の分離側か
ら引き出される各透過物質排出ライン8a〜8dに放射
線検出装置9a〜9dが配置されている。放射線検出装
置9a〜9dからの検出信号は分離膜破損検出装置11
に接続されている。無論、各透過物質排出ライン8a〜
8dを放射線検出装置で点検して、放射線の漏れを確認
して分離膜の破損を検出してもよい。このように、放射
性物質供給装置10から分離膜装置6の供給側に放射性
物質を供給して、放射性物質を検出できるので、汚染を
最小限に設定できる。
【0027】(実施形態3)図3は、本発明に係る分離
膜破損検出方法および分離膜装置の他の実施形態を示す
概略系統図である。同図では、トレーサとしての放射性
物質が、放射性物質供給装置10を介して分離膜装置6
a〜6cの供給側に供給され、分離膜装置6a〜6cの
透過側に放射線検出装置9が設けられている。
【0028】無論、分離膜装置6a〜6cの供給側の配
管に、放射性物質供給装置10からの放射性物質を供給
してもよい。このように、放射性物質供給装置10を分
離膜装置6の供給側に放射性物質を直接供給して、放射
線の検出を分離側で行うようにして、放射性物質による
汚染部分を分離膜装置6のみとして、最小限に抑えるよ
うに設定するとよい。
【0029】上記実施形態では、トレーサとして用いら
れる放射性物質は、例えば、下記の表中などの公知の核
種から選択すればよい。トレーサとしての放射性物質の
選択には、混合物質に影響を与えることがなく、しかも
人体や環境への影響を考慮して、半減期が1分〜数日と
短めの物質が望ましい。また、分離装置で分離される物
質がガス状あるいは液体状であれば、その態様に応じた
放射性物質を選択すればよい。
【0030】
【表1】 (但し、sは秒,mは分,hは時間を表す。)
【0031】また、本実施形態は、設置された水処理設
備等の保守点検に用いられるのは、勿論、分離膜や分離
膜装置の製品段階での検査工程や、分離膜装置の施工時
の点検時に適応することができることは明らかである。
【0032】
【発明の効果】上記説明したように、本発明によれば、
分離膜の破損を微量の放射性同位元素によって、極めて
効率よく検出し得るので、分離膜に発生した微小の破損
箇所も確実に検出できる利点があり、分離膜や分離膜装
置の生産工程や施工時に、この検出方法を用いることが
可能であり、極めて微小の破損箇所を検出することがで
きる効果を有する。
【0033】また、本発明によれば、分離膜または分離
膜装置の操業条件や分離膜または分離膜装置自体に手を
加える必要が無く、放射線検出装置を外部より近づける
のみで破損箇所の検出が可能であり、作業も簡便である
利点がある。また、トレーサーとしての放射性物質は、
半減期として数日で減衰する放射性物質が用いられるの
で、環境や作業者に対する安全は保持される。
【0034】また、本発明によれば、分離膜の破損およ
び分離膜装慣における破損箇所を確実に検知できること
から、浄水設備等での安全性向上や、混合液体や混合気
体の分離の信頼性を向上させることができる利点があ
る。
【0035】また、本発明によれば、分離膜装置が大規
模になるほど従来技術の検知方法では困難であった破損
箇所を検知し得るとともに、既存の分離膜装置に破損箇
所の検知設備を取り付ける空間的余裕が無い場合に特に
効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す概略図である。
【図2】本発明の他の実施形態を示す概略図である。
【図3】本発明の他の実施形態を示す概略図である。
【符号の説明】
1 混合物質供給ライン 2 混合物質貯槽 3 放射性物質供給ライン 4 分離膜装置供給ポンプ 5 分離膜供給ライン 6,6a〜6d 分離膜装置 7 非透過物質排出ライン 8,8a〜8d 透過物質排出ライン 9,9a〜9d 放射線検出装置 10 放射性物質供給装置 11 分離膜破損検出装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G01M 3/20 G01M 3/20 Q G21H 5/02 G21H 5/02 C

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 混合物質を分離する分離膜の分離膜破損
    検出方法において、 放射性物質を分離前の混合物質に添加し、分離後の分離
    膜透過物質における前記放射性物質の発する放射線を検
    出することによって、前記分離膜の破損を検出すること
    を特徴とする分離膜破損検出方法。
  2. 【請求項2】 混合物質を分離する分離膜の分離膜破損
    検出方法において、 複数の分離膜で分離する際に、分離前の混合物質に放射
    性物質を添加し、各々の分離膜による分離後の分離膜透
    過物質における前記放射性物質の発する放射線を検出す
    ることによって、前記複数の分離膜のうちの特定箇所の
    分離膜の破損を検出することを特徴とする分離膜破損検
    出方法。
  3. 【請求項3】 請求項1,2に記載の分離膜破損検出方
    法において、 前記放射性物質が放射性同位元素、または放射性同位元
    素で標識した分子、または放射性同位元素で標識したイ
    オンのいずれかであることを特徴とする分離膜破損検出
    方法。
  4. 【請求項4】 請求項1,2または3に記載の分離膜破
    損検出方法において、 前記分離膜が精密ろ過、限外ろ過、ナノフィルトレーシ
    ョン、逆浸透、イオン交換あるいは気体分離のための分
    離膜であることを特徴とする分離膜破損検出方法。
  5. 【請求項5】 混合物質を分離する複数の分離膜装置
    と、 放射性物質を分離前の混合物質に添加する供給装置と、 前記分離膜装置による分離後の分離膜透過物質中の前記
    放射性物質による放射線を検出する放射線検出器と、 を具備することを特徴とする分離膜装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004507340A (ja) * 2000-06-02 2004-03-11 ビバンデイ・ユニベルサル ナノ濾過モジュールまたは逆浸透モジュール、あるいはそのようなモジュールのシステムの完全性をチェックする方法
CN104977139A (zh) * 2015-07-07 2015-10-14 国网上海市电力公司 用于换流站换流阀内冷水泄露的检测方法及系统
CN105758594A (zh) * 2016-04-19 2016-07-13 常熟理工学院 一种组合式塑料薄膜测漏装置

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