JPH10123250A - Electronic distance measuring system and method - Google Patents
Electronic distance measuring system and methodInfo
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- JPH10123250A JPH10123250A JP28208796A JP28208796A JPH10123250A JP H10123250 A JPH10123250 A JP H10123250A JP 28208796 A JP28208796 A JP 28208796A JP 28208796 A JP28208796 A JP 28208796A JP H10123250 A JPH10123250 A JP H10123250A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は光波測距システムお
よび光波測距方法に係り、特に回路のバイアス誤差を補
正する光波測距システムおよび光波測距方法に関するも
のである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light wave distance measuring system and a light wave distance measuring method, and more particularly to a light wave distance measuring system and a light wave distance measuring method for correcting a bias error of a circuit.
【０００２】[0002]
【従来の技術】光波測距システムは、測定対象物からの
反射光と基準信号との時間差を測定することにより、測
定対象物と測定器との間の距離を測定するものである。
この測定の精度を上げるために、例えば特開昭６０−２
５１０９３号公報のように、減光しない反射光と減光し
た反射光とを両方とも測定することにより、複数の変調
波による干渉を除去し、精度を上げている。2. Description of the Related Art A lightwave distance measuring system measures the distance between a measuring object and a measuring instrument by measuring the time difference between the reflected light from the measuring object and a reference signal.
In order to increase the accuracy of this measurement, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 60-2
As disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 51093, by measuring both reflected light that is not dimmed and reflected light that has dimmed, interference due to a plurality of modulated waves is removed, and the accuracy is increased.
【０００３】また特開平７−３５８５９号公報に記載さ
れているように、反射光の強度による測定誤差を補正す
ることにより、測定精度の向上が図れる。As described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-35859, the measurement accuracy can be improved by correcting a measurement error caused by the intensity of reflected light.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これま
での光波測距システムは、電子回路部分で使われるアン
プやロジックなどのＩＣがそれぞれ特有の温度特性を有
しているため、遅延時間や位相特性が変化し、測定系の
電子回路部分においてバイアス誤差が生じることがある
という問題がある。However, in the conventional lightwave distance measuring system, since the ICs such as an amplifier and a logic used in the electronic circuit have their own temperature characteristics, the delay time and the phase characteristics are not improved. Change, and a bias error may occur in the electronic circuit portion of the measurement system.
【０００５】本発明の目的は、温度などによる電気的な
ゆらぎを受けずに、高精度な測定を可能にする光波測距
システムおよび光波測距方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide a lightwave distance measuring system and a lightwave distance measuring method which enable high-precision measurement without receiving electric fluctuation due to temperature or the like.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、光送信装置と
光受信装置を用いた光波測距システムにおいて、光送信
装置からの出力に基づいて測定対象物からの反射光を測
定する第１の測定手段と、光送信装置からの出力光に基
づいて自己補正光を測定する第２の測定手段と、第１お
よび第２の測定手段において測定した２つの測距値の差
を取ることにより、電子回路系のバイアス誤差を除去す
るバイアス誤差除去手段と、反射光と前記自己補正光を
同じゲイン範囲に入るように光レベルの調整をする減光
フィルタ手段とを備える。According to the present invention, there is provided a lightwave distance measuring system using an optical transmitting device and an optical receiving device, wherein a reflected light from a measuring object is measured based on an output from the optical transmitting device. Measuring means, a second measuring means for measuring self-correction light based on the output light from the optical transmitter, and a difference between the two distance values measured by the first and second measuring means. A bias error removing unit for removing a bias error of the electronic circuit system; and a dimming filter unit for adjusting a light level so that the reflected light and the self-correcting light fall within the same gain range.
【０００７】本発明では、測定対象物からの反射光を先
ず測定し、次に、自己補正光を測定し、これらの測定し
た２つの測距値の差を取ることにより、電子回路系のバ
イアス誤差を除去する。また減光フイルタ手段を用いる
ことにより、反射光と自己補正光とを同じゲイン範囲に
入るように光レベルの調整をする。According to the present invention, the reflected light from the object to be measured is measured first, then the self-correcting light is measured, and the difference between these two measured distance values is taken to obtain the bias of the electronic circuit system. Eliminate errors. Further, by using the dimming filter means, the light level is adjusted so that the reflected light and the self-correcting light fall within the same gain range.
【０００８】電子回路部分によるバイアス誤差は、測距
対象物からの反射光を測定した測距離値にも自己補正光
を測定した測距値にも同じだけ含まれる。このため、反
射光と自己補正光のそれぞれの測定した値の差をとるこ
とにより、バイアス誤差を完全に除去することができ
る。[0008] The bias error caused by the electronic circuit portion is included in the distance measurement value obtained by measuring the reflected light from the object to be measured and the distance measurement value obtained by measuring the self-correction light. Therefore, a bias error can be completely removed by calculating the difference between the measured values of the reflected light and the self-correction light.
【０００９】ただし、減光フイルタにより、受信系のゲ
インを反射光測定時と同じになるように自己補正光のレ
ベルを調整する必要がある。However, it is necessary to adjust the level of the self-correction light by using a dimming filter so that the gain of the receiving system becomes the same as that at the time of measuring the reflected light.
【００１０】[0010]
【発明の実施の形態】次に、本発明の光波測距システム
および光波測距方法の実施例について図面を参照して詳
細に説明する。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a lightwave distance measuring system and a lightwave distance measuring method according to the present invention;
【００１１】図１は、本発明の実施例の光波測距システ
ムにおける構成を示すブロック図である。図１におい
て、光波測距システムには、光送信装置１０、分波装置
１１、測距対象物１２、光レベル調整装置１３、出力選
択装置１４、光受信装置１５および距離算出装置１６か
ら構成される。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a lightwave distance measuring system according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the lightwave distance measuring system includes an optical transmitter 10, a demultiplexer 11, a distance measuring object 12, an optical level adjuster 13, an output selector 14, an optical receiver 15, and a distance calculator 16. You.
【００１２】光送信装置１０は、光信号を送信するため
の装置である。分波装置１１は、送信装置１０からの出
力光を測距対象物１２への光路と補正光用の光路として
分岐する。光レベル調整装置１３は、反射光と補正光と
が同じレベルの範囲に入るように調整する。出力選択装
置１４は、反射光と補正光のどちらか一方が光受信装置
１５に入るように選択する。距離算出装置１５は、反射
光と補正光のそれぞれの測距値から測距対象物との距離
を算出する。The optical transmitter 10 is a device for transmitting an optical signal. The demultiplexing device 11 splits the output light from the transmission device 10 into an optical path to the distance measurement target 12 and an optical path for correction light. The light level adjusting device 13 adjusts the reflected light and the correction light so that they are in the same level range. The output selection device 14 selects one of the reflected light and the correction light so as to enter the optical receiving device 15. The distance calculation device 15 calculates the distance to the distance measurement target from the respective distance measurement values of the reflected light and the correction light.
【００１３】次に、本発明の実施例の動作について図１
および図２を参照して説明する。図２において、図２
（Ａ）は送信光、図２（Ｂ）は反射光および図２（Ｃ）
が補正光におけるタイミングである。図２（Ｂ）におい
て、時間ｔが送信光と反射光との時間差であり、時間ｔ
0 が補正光との時間差である。また以下の式において、
距離Ｒが測距対象物１２との間の距離、距離Ｒ0 が補正
光の光路長、Ｃが光速、αが電子回路部分によるバイア
ス誤差を表すものである。Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. In FIG.
(A) is the transmitted light, FIG. 2 (B) is the reflected light and FIG. 2 (C)
Is the timing in the correction light. In FIG. 2B, the time t is the time difference between the transmitted light and the reflected light, and the time t
0 is the time difference from the correction light. In the following equation,
The distance R is the distance from the distance measurement target 12, the distance R0 is the optical path length of the correction light, C is the speed of light, and α is the bias error due to the electronic circuit portion.
【００１４】[0014]
【数１】 (Equation 1)
【００１５】光送信装置１０から出力した光は、分波装
置１１によって測距対象物１２への光路と自己補正光の
光路とに分岐する。分波装置１１において分岐された光
は、光レベル調整装置１３において、反射光と補正光と
が同じレベルの範囲に入るように調整する。光レベル調
整装置１３において調整された光信号を出力選択装置１
４に入力する。出力選択装置１４では、光レベル調整装
置１３から補正光のみを光受信装置１５に入力してその
測距値を測定する。図２（Ｂ）と図２（Ｃ）の２つの測
距時間ｔ，ｔ0 の差から測距対象物との距離を求める。
これにより、測距対象物１２との距離を精度よく求める
ことができる。The light output from the optical transmitter 10 is split by the demultiplexer 11 into an optical path to the distance measuring object 12 and an optical path of the self-correcting light. The light split by the demultiplexer 11 is adjusted by the light level adjuster 13 so that the reflected light and the correction light fall within the same level range. The optical signal adjusted by the optical level adjusting device 13 is output to the output selecting device 1
Enter 4 The output selection device 14 inputs only the correction light from the light level adjustment device 13 to the optical reception device 15 and measures the distance measurement value. Figure 2 (B) and two distance measuring time of FIG. 2 (C) t, determining the distance to the measuring object from the difference in t 0.
As a result, the distance to the distance measurement target 12 can be accurately obtained.
【００１６】次に、本発明の実施例をより具体的に図３
〜図６を参照して説明する。図３の実施例の構成におい
ては、光送信装置１０として光送信器３０、分波装置１
１としてハーフミラー３１、光レベル調整装置１３とし
てシャッタ３３，３６、ミラー３５，３７および減光フ
イルタ３８、出力選択装置１４としてハーフミラー３４
を用いるとともに、光受信装置１５として光受信器３９
を用いる。Next, the embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to FIG.
This will be described with reference to FIGS. In the configuration of the embodiment of FIG. 3, the optical transmitter 30 and the demultiplexer 1 are used as the optical transmitter 10.
1, a half mirror 31, a light level adjusting device 13, shutters 33, 36, mirrors 35, 37, and a dimming filter 38, and an output selecting device 14, a half mirror 34.
And an optical receiver 39 as the optical receiver 15.
Is used.
【００１７】図４は反射光を測定するときの動作を説明
するためのブロック図、図５は自己補正光測定時のブロ
ック図、図６は本発明の実施例の測定動作を説明するフ
ローチャートである。なお、図３〜図５において、実線
で示す光路が送信光、点線で示す光路が測距受信光、一
転鎖線で示す光路が自己補正光である。FIG. 4 is a block diagram for explaining the operation when measuring the reflected light, FIG. 5 is a block diagram for measuring the self-correcting light, and FIG. 6 is a flowchart for explaining the measuring operation of the embodiment of the present invention. is there. 3 to 5, an optical path indicated by a solid line is transmission light, an optical path indicated by a dotted line is distance measurement reception light, and an optical path indicated by a chain line is self-correction light.
【００１８】図３〜図５において、光送信器３０はレー
ザダイオードを用いて高速変調光を送信する。ハーフミ
ラー３１は、測距対象物３２への送信光（図２（Ａ））
と自己補正光に分岐する。またハーフミラー３４は、図
２（Ｂ），図２（Ｃ）における反射光と補正光の両方の
光を光受信器３９に入力するためのものである。その光
受信器３９には、アバランシェフォトダイオードが備え
られ、高速応答が可能になっている。またシャッタ３３
は反射光を遮断するためのもので、シャッタ３６は補正
光を遮断するためのものである。またミラー３５，３７
は、補正光の光路を変更し、減光フイルタ３８が光レベ
ルを調整するためのものである。3 to 5, the optical transmitter 30 transmits high-speed modulated light using a laser diode. The half mirror 31 transmits light to the distance measurement target 32 (FIG. 2A).
And self-correction light. The half mirror 34 is for inputting both the reflected light and the correction light in FIGS. 2B and 2C to the optical receiver 39. The optical receiver 39 is provided with an avalanche photodiode to enable high-speed response. Shutter 33
Is for blocking the reflected light, and the shutter 36 is for blocking the correction light. Mirrors 35 and 37
Is for changing the optical path of the correction light, and for the dimming filter 38 to adjust the light level.
【００１９】この実施例では、図６のフローに基づいて
距離の算出を行う。先ず、Ｓ６００において、シャッタ
３６を閉じて自己補正光を遮断して減光フイルタ３８を
用いて光レベルを調整して行う。このときには、Ｓ６２
０に進み、測距値を測定する。In this embodiment, the distance is calculated based on the flow shown in FIG. First, in S600, the self-correction light is shut off by closing the shutter 36, and the light level is adjusted using the dimming filter 38. At this time, S62
Go to 0 and measure the distance measurement value.
【００２０】またＳ６１０においては、シャッタ３３を
閉じて、反射光を遮断して行う。このときには、Ｓ６３
０において、測距値を測定する。次に、Ｓ６４０に進
み、２つの測距値の差をとる。この２つの測距値の時間
差から、Ｓ６５０において、距離を算出する。In step S610, the shutter 33 is closed to block the reflected light. At this time, S63
At 0, the distance measurement is measured. Next, the process proceeds to S640, in which a difference between the two distance measurement values is calculated. From the time difference between the two distance measurement values, the distance is calculated in S650.
【００２１】このため、図４に示す反射光の測定時に
は、光送信器３０から出射した光がハーフミラー３１で
反射して送信光として測距離対象３２に入射する。また
測距対象から出射する光がハーフミラー３１、シャッタ
３３、ハーフミラー３４を経て光受信器３９に入り、光
電変換により光信号から電気信号に変換される。さら
に、光送信器３０から出射した光が、ハーフミラー３
１、ミラー３５を経てシャッタ３６により自己補正光が
遮断される。このときには、反射光の測定が行われ、自
己補正光の測定が行われない。Therefore, when measuring the reflected light shown in FIG. 4, the light emitted from the optical transmitter 30 is reflected by the half mirror 31 and is incident on the distance measurement object 32 as the transmitted light. Light emitted from the object to be measured enters the optical receiver 39 via the half mirror 31, the shutter 33, and the half mirror 34, and is converted from an optical signal into an electric signal by photoelectric conversion. Further, the light emitted from the optical transmitter 30 is transmitted to the half mirror 3.
1. The self-correction light is blocked by the shutter 36 via the mirror 35. At this time, the measurement of the reflected light is performed, and the measurement of the self-correction light is not performed.
【００２２】また図５に示す自己補正光の測定時には、
光送信器３０から出射した光がハーフミラー３１で反射
して送信光として測距離対象３２に入射する。また測距
対象から出射する光がハーフミラー３１を経てシャッタ
３３で遮断される。さらに、光送信器３０から出た光
が、ハーフミラー３１、ミラー３５、シャッタ３６、ミ
ラー３７、減光フィルタ３８、ハーフミラー３４を経て
光受信器３９に入る。このときには、自己補正光の測定
が行われ、反射光の測定が行なわれない。When measuring the self-correcting light shown in FIG.
Light emitted from the optical transmitter 30 is reflected by the half mirror 31 and is incident on the distance measurement target 32 as transmission light. Light emitted from the object to be measured is blocked by the shutter 33 via the half mirror 31. Further, light emitted from the optical transmitter 30 enters the optical receiver 39 via the half mirror 31, the mirror 35, the shutter 36, the mirror 37, the neutral density filter 38, and the half mirror 34. At this time, the measurement of the self-correction light is performed, and the measurement of the reflected light is not performed.
【００２３】次に、本発明の変形実施例について図７を
参照して説明する。図３〜図５の実施例と同一の構成か
ら成るものについては、同一の符号を付し、ここでは詳
しい説明を省略する。この変形実施例は、光送信器３０
からの光を可動ハーフミラー７０によって測距対象物３
２に光を出力するか、自己補正光として光受信器へ出力
するかを選択できる。この変形実施例では、可動ミラー
７０を動かして、２度の測定をすることにより、高精度
な距離測定を行うことが可能になる。Next, a modified embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. Components having the same configuration as the embodiment of FIGS. 3 to 5 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. This modified embodiment uses the optical transmitter 30
From the object 3 is measured by the movable half mirror 70
2 to output the light to the optical receiver or self-correcting light to the optical receiver. In this modified embodiment, highly accurate distance measurement can be performed by moving the movable mirror 70 and performing measurement twice.
【００２４】したがって、以上に説明した実施例および
変形実施例では、測距離対象物３２からの反射光を先ず
測定し、次に、自己補正光を測定し、これらの測定した
２つの測距値の差を取ることにより、電子回路系のバイ
アス誤差を除去する。また減光フイルタ３８を用いるこ
とにより、反射光と自己補正光とを同じゲイン範囲に入
るように光レベルの調整をする。Therefore, in the embodiment and the modified embodiment described above, the reflected light from the distance measuring object 32 is measured first, then the self-correcting light is measured, and these two measured distance measuring values are measured. By taking the difference, the bias error of the electronic circuit system is removed. Further, by using the dimming filter 38, the light level is adjusted so that the reflected light and the self-correction light fall within the same gain range.
【００２５】電子回路部分によるバイアス誤差は、測距
対象物からの反射光を測定した測距離値にも自己補正光
を測定した測距値にも同じだけ含まれる。このため、反
射光と自己補正光のそれぞれの測定した値の差をとるこ
とにより、バイアス誤差を完全に除去することができ
る。ただし、減光フイルタにより、受信系のゲインを反
射光測定時と同じになるように自己補正光のレベルを調
整する必要がある。The bias error caused by the electronic circuit portion is included in the distance measurement value obtained by measuring the reflected light from the object to be measured and the distance measurement value obtained by measuring the self-correction light. Therefore, a bias error can be completely removed by calculating the difference between the measured values of the reflected light and the self-correction light. However, it is necessary to adjust the level of the self-correction light by using a dimming filter so that the gain of the receiving system becomes the same as that at the time of measuring the reflected light.
【００２６】[0026]
【発明の効果】以上に説明したように本発明は、反射光
および自己補正光の２度の測定により、電気的なゆらぎ
を完全に取り除くことができるため、温度などによる電
気的なゆらぎを考慮することなく、高精度の測定が可能
になるという効果などを奏することができる。As described above, according to the present invention, electrical fluctuations due to temperature and the like can be taken into account, since electrical fluctuations can be completely removed by measuring reflected light and self-correcting light twice. Without performing, it is possible to provide an effect that high-precision measurement becomes possible.
【図１】本発明の光波測距システムおよび光波測距方法
の実施例の構成を説明するブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an embodiment of a lightwave distance measuring system and a lightwave distance measuring method according to the present invention.
【図２】本発明の実施例の光波測距システムにおける動
作を説明するタイミングチャートである。FIG. 2 is a timing chart illustrating an operation of the lightwave distance measuring system according to the embodiment of the present invention.
【図３】本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.
【図４】反射光測定時における動作を説明する図であ
る。FIG. 4 is a diagram illustrating an operation when measuring reflected light.
【図５】自己補正光測定時における動作を説明する図で
ある。FIG. 5 is a diagram illustrating an operation at the time of self-correction light measurement.
【図６】本発明の実施例の測定動作を説明する図であ
る。FIG. 6 is a diagram illustrating a measurement operation according to the embodiment of the present invention.
【図７】本発明の変形実施例の構成を示すブロック図で
ある。FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a modified example of the present invention.
１０ 光送信装置 １１ 分波装置 １２ 測距対象物 １３ 光レベル調整装置 １４ 出力選択装置 １５ 光受信装置 １６ 距離算出装置 ３０ 光送信器 ３１，３４ ハーフミラー ３３，３６ シャッタ ３５，３７ ミラー ３８ 減光フィルタ ７０ 可動ハーフミラー REFERENCE SIGNS LIST 10 optical transmission device 11 demultiplexing device 12 object to be measured 13 optical level adjustment device 14 output selection device 15 optical reception device 16 distance calculation device 30 optical transmitter 31, 34 half mirror 33, 36 shutter 35, 37 mirror 38 Filter 70 Movable half mirror
Claims (10)
システムにおいて、 前記光送信装置からの光出力に基づいて測定対象物から
の反射光を測定する第１の測定手段と、 前記光送信装置からの光出力に基づいて自己補正光を測
定する第２の測定手段と、 前記第１および第２の測定手段において測定した２つの
測距値の差を取ることにより、電子回路系のバイアス誤
差を除去するバイアス誤差除去手段と、 前記反射光と前記自己補正光を同じゲイン範囲に入るよ
うに光レベルの調整をする減光フィルタ手段と、を備え
たことを特徴とする光波測距システム。1. An optical distance measuring system using an optical transmitting device and an optical receiving device, wherein: first measuring means for measuring reflected light from an object to be measured based on an optical output from the optical transmitting device; A second measuring means for measuring self-correction light based on an optical output from the optical transmitting device; and an electronic circuit system by taking a difference between the two distance values measured by the first and second measuring means. A bias error removing unit for removing a bias error of the above, and a dimming filter unit for adjusting a light level so that the reflected light and the self-correcting light fall within the same gain range. Distance system.
の光路と、自己補正光用の光とに分岐する分波装置と、 前記反射光と前記自己補正光とが同じレベルの範囲に入
る調整をする光レベル調整装置と、 前記反射光と前記自己補正光のいずれか一方を前記受信
装置に入力する出力選択装置と、 前記反射光と前記自己補正光のそれぞれの測距値から測
距対象物との間の距離を算出する距離算出装置と、を備
えたことを特徴とする請求項１に記載の光波測距システ
ム。2. A demultiplexer for splitting an optical output from the transmitting device into an optical path to a distance measuring object and light for self-correction light, wherein the reflected light and the self-correction light have the same level. A light level adjusting device that performs adjustment within a range, an output selecting device that inputs one of the reflected light and the self-correcting light to the receiving device, and a ranging value of each of the reflected light and the self-correcting light. The distance measuring apparatus for calculating a distance from the object to the object to be measured, and a distance measuring apparatus according to claim 1, further comprising:
システムにおいて、 第１の半導体素子を用いて高速変調光を送信する送信手
段と、 前記光送信装置からの出力光に基づいて測定対象物から
の反射光と自己補正光に分岐する第１のハーフミラー
と、 前記反射光と前記自己補正光の両方を前記光受信装置に
入力するための第２のハーフミラーと、 前記反射光と前記自己補正光を同じゲイン範囲に入るよ
うに光レベルの調整をする減光フィルタ手段と、 第２の半導体素子を用いた高速応答が可能な受信手段
と、を備えたことを特徴とする光波測距システム。3. A lightwave distance measuring system using an optical transmitting device and an optical receiving device, wherein: a transmitting means for transmitting high-speed modulated light using a first semiconductor element; and an output light from the optical transmitting device. A first half mirror that splits the reflected light from the measurement object and the self-correcting light, a second half mirror for inputting both the reflected light and the self-correcting light to the optical receiver, and the reflection Light-reducing filter means for adjusting the light level so that the light and the self-correcting light fall within the same gain range; and receiving means capable of high-speed response using a second semiconductor element. Lightwave ranging system.
とを特徴とする請求項３に記載の光波測距システム。4. The apparatus according to claim 1, further comprising: a first shutter that blocks the reflected light; a second shutter that blocks the self-correcting light; and a mirror that changes an optical path of the self-correcting light. 3. The lightwave distance measuring system according to 3.
き、前記第２のシャッタを閉じて行い、前記自己補正光
の測定は、前記第１のシャッタを閉じ、前記第２のシャ
ッタを開いて、前記減光フイルタ手段において光レベル
を調整し、前記反射光と前記自己補正光のそれぞれの測
距値から前記測定対象物との間の距離を算出することを
特徴とする請求項３または４に記載の光波測距システ
ム。5. The measurement of the reflected light is performed by opening a first shutter and closing the second shutter, and the measurement of the self-correction light is performed by closing the first shutter and closing the second shutter. And adjusting a light level in the dimming filter means, and calculating a distance between the reflected light and the self-correction light and the object to be measured from respective distance measurement values. The lightwave distance measuring system according to 3 or 4.
のハーフミラーによって、前記測定対象物へ出力する
か、前記自己補正光として第２のハーフミラーを動かす
ことを特徴とする請求項３〜５のいずれかに記載の光波
測距システム。6. The light output from the optical transmission device is transmitted to the first
The lightwave distance measuring system according to any one of claims 3 to 5, wherein the light beam is output to the object to be measured by the half mirror, or a second half mirror is moved as the self-correction light.
ドであり、前記第２の半導体素子は、アバランシェフォ
トダイオードであることを特徴とする請求項３〜６のい
ずれかに記載の光波測距システム。7. The lightwave ranging according to claim 3, wherein said first semiconductor element is a laser diode, and said second semiconductor element is an avalanche photodiode. system.
システムにおいて、 前記光送信装置からの出力に基づいて測定対象物からの
反射光を測定するステップと、 前記光送信装置からの出力光に基づいて自己補正光を測
定するステップと、 前記測定した２つの測距値の差を取ることにより、バイ
アス誤差を除去するステップと、 前記反射光と前記自己補正光を同じゲイン範囲に入るよ
うに光レベルの調整をするステップと、を含むことを特
徴とする光波測距方法。8. A lightwave distance measuring system using an optical transmitting device and an optical receiving device, wherein a step of measuring reflected light from an object to be measured based on an output from the optical transmitting device; Measuring the self-correcting light based on the output light; removing the bias error by taking the difference between the two measured distance values; and setting the reflected light and the self-correcting light in the same gain range. Adjusting the light level to enter.
の光路と、補正光用の光とに分岐するステップと、 前記反射光と前記自己補正光とが同じレベルの範囲に入
る調整をするステップと、 前記反射光と前記自己補正光のいずれか一方を前記受信
装置に入力するステップと、 前記反射光と前記自己補正光のそれぞれの測距値から前
記測距対象物との間の距離を算出するステップと、を含
むことを特徴とする請求項８に記載の光波測距方法。9. A step of splitting output light from the transmitting device into an optical path to a distance measuring object and light for correction light, wherein the reflected light and the self-correction light fall within the same level range. Adjusting; and inputting any one of the reflected light and the self-correcting light to the receiving device; and The method according to claim 8, further comprising: calculating a distance between the two.
距システムにおいて、 高速変調光を送信するステップと、 前記光送信装置からの出力光に基づいて測定対象物から
の反射光と自己補正光に分岐するステップと、 前記反射光と前記自己補正光の両方を前記光受信装置に
入力するためのステップと、 前記反射光と前記自己補正光を同じゲイン範囲に入るよ
うに光レベルの調整をするステップと、 高速応答しながら受信をするステップと、を含むことを
特徴とする光波測距方法。10. A lightwave distance measuring system using an optical transmitting device and an optical receiving device, wherein a step of transmitting high-speed modulated light, and a method of reflecting reflected light from an object to be measured based on output light from the optical transmitting device, and Branching into the correction light, inputting both the reflected light and the self-correcting light to the optical receiver, and adjusting the light level so that the reflected light and the self-correcting light fall within the same gain range. A lightwave distance measuring method, comprising: adjusting; and receiving while responding at high speed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28208796A JPH10123250A (en) | 1996-10-24 | 1996-10-24 | Electronic distance measuring system and method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28208796A JPH10123250A (en) | 1996-10-24 | 1996-10-24 | Electronic distance measuring system and method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10123250A true JPH10123250A (en) | 1998-05-15 |
Family
ID=17647962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28208796A Pending JPH10123250A (en) | 1996-10-24 | 1996-10-24 | Electronic distance measuring system and method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10123250A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8699023B2 (en) | 2010-09-17 | 2014-04-15 | Hamamatsu Photonics K.K. | Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method |
| JP2015152485A (en) * | 2014-02-17 | 2015-08-24 | 株式会社デンソー | Distance measuring apparatus |
-
1996
- 1996-10-24 JP JP28208796A patent/JPH10123250A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8699023B2 (en) | 2010-09-17 | 2014-04-15 | Hamamatsu Photonics K.K. | Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method |
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