JPH10117139A - Semiconductor logic circuit - Google Patents

Semiconductor logic circuit

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JPH10117139A
JPH10117139A JP8268692A JP26869296A JPH10117139A JP H10117139 A JPH10117139 A JP H10117139A JP 8268692 A JP8268692 A JP 8268692A JP 26869296 A JP26869296 A JP 26869296A JP H10117139 A JPH10117139 A JP H10117139A
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JP
Japan
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type
fet
hemt
power supply
logic circuit
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JP8268692A
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Japanese (ja)
Inventor
Naoki Harada
直樹 原田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH10117139A publication Critical patent/JPH10117139A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize the semiconductor logic circuit whose load charging (drive) capability is enhanced and circuit operating is quickened that realizes low power consumption by suppressing reduction in a current when the circuit is not in operation. SOLUTION: An n-type HEMT (T3) and an n-type HEMT (T2) are connected in series between a high level power supply VDD and a low level power supply (ground level GND), an output terminal OUT is placed to the connecting point of them, a p-type HEMT (T1) is connected between the high level power supply VDD and a gate of the n-type HEMT T3 and gates of the p-type HEMT T1 and the n-type HEMT T2 are connected in common to an input terminal IN. Thus, the circuit acts like an inverter that provides an output of an inverted level from the output terminal OUT with respect to an input level VIN applied to the input terminal IN.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電界効果トランジ
スタ(FET)を用いた半導体論理回路に関し、詳しく
は集積規模の増大に伴うチップ当たりの消費電力の増加
と回路動作速度の悪化の両者を改善した半導体論理回路
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor logic circuit using a field effect transistor (FET), and more particularly, to improving both power consumption per chip and deterioration of circuit operation speed due to increase in integration scale. Semiconductor logic circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、コンピュータや情報通信機器の急
激な普及に伴い、それらに搭載される集積回路(IC)
に対し、消費電力の抑制と、動作速度の高速化を両立し
た技術への要望が高まっている。しかしながら、一般に
回路動作の高速化は消費電力の増加を招き、両者を改善
した技術の確立は難しい。
2. Description of the Related Art In recent years, with the rapid spread of computers and information communication devices, integrated circuits (ICs) mounted on them have been developed.
On the other hand, there is an increasing demand for a technology that achieves both a reduction in power consumption and an increase in operating speed. However, generally, an increase in the speed of the circuit operation causes an increase in power consumption, and it is difficult to establish a technique in which both are improved.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】たとえば、高速動作が
可能な半導体論理回路としては、ヘテロ接合バイポーラ
トランジスタHBT(Heterojunction Bipolar Transis
itor)や高電子移動度トランジスタHEMT(High Ele
ctron Mobility Transisitor)といった化合物半導体素
子を用いたものが知られている。HEMTを用いた基本
論理回路としては、DCFL(Direct Coupled FET Log
ic)回路があり、その動作速度は数十ps程度と高速動作
が可能であるが、負荷トランジスタとしてディプリショ
ンモードD−HEMT、駆動トランジスタとしてエンハ
ンストモードE−HEMTを用いて構成され、負荷トラ
ンジスタが常にオン状態にあるため、駆動トランジスタ
がオン状態になると、高電位電源(VDD)から低電位電
源(VSS、たとえば接地電位GND)へ常に電流が流下
して、数mW/gate程度の大きな電力を消費する問題があ
る。
For example, a semiconductor logic circuit capable of operating at high speed includes a heterojunction bipolar transistor HBT.
itor) and high electron mobility transistor HEMT (High Ele
A device using a compound semiconductor device such as a Ctron Mobility Transisitor is known. As a basic logic circuit using HEMT, DCFL (Direct Coupled FET Log)
ic) There is a circuit that can operate at high speed of about several tens of ps, but is configured using a depletion mode D-HEMT as a load transistor and an enhanced mode E-HEMT as a drive transistor. Is always in the on state, so that when the drive transistor is turned on, a current always flows from the high potential power supply (V DD ) to the low potential power supply (V SS , for example, the ground potential GND), and is about several mW / gate. There is a problem of consuming large power.

【0004】一方、低消費電力の半導体論理回路として
は、相補型のHEMT論理回路(C−HEMT)が知ら
れている。C−HEMTは、図7に示すように、高電位
電源(VDD)と低電位電源(GND)との間に、p型H
EMT(T51)とn型HEMT(T52)が直列に接
続され、その接続点に出力端子OUTが、また各々のH
EMT(T51、T52)のゲートを共通接続して入力
端子INが設けられている。このようなCMOS回路の
構成に類似したC−HEMT論理回路は、入力電位に応
じて必ずHEMT(T51、T52)の一方がオン状
態、他方がオフ状態となるため、高電位電源(VDD)か
ら低電位電源(GND)への電流の流下経路が遮断され
るため、動作時の消費電力を極めて小さく抑えることが
できるが、動作速度は数百psと遅い問題がある。このよ
うな問題は、負荷に電流を供給するために高電位電源
(VDD)側に接続されたp型HEMT(T51)の正孔
の移動度が200cm2/Vs程度であり、低電位電源
(VSS)側に接続されたn型HEMT(T52)に比べ
て1/10〜1/20程度と極めて低いため、相互コン
ダクタンスgmが50ms/mm程度しか得られず、負荷の充
電に要する時間が増大し、ターンオン時の高速動作が妨
げられることに起因している。そのため、p型HEMT
において、このような問題を解決するためには、ゲート
幅を拡大して相互コンダクタンスgmを大きくする必要
があるが、ゲート幅の拡大は、入力容量の増加を招き、
充電時間の改善を図ることができなかった。
On the other hand, as a low power consumption semiconductor logic circuit, a complementary HEMT logic circuit (C-HEMT) is known. As shown in FIG. 7, the C-HEMT has a p-type H between a high-potential power supply (V DD ) and a low-potential power supply (GND).
The EMT (T51) and the n-type HEMT (T52) are connected in series.
An input terminal IN is provided by commonly connecting the gates of the EMTs (T51, T52). In a C-HEMT logic circuit similar to the configuration of such a CMOS circuit, one of the HEMTs (T51, T52) is always turned on and the other is turned off in accordance with the input potential, so that the high potential power supply (V DD ) Since the current flowing path from the power supply to the low-potential power supply (GND) is cut off, power consumption during operation can be extremely reduced, but there is a problem that the operation speed is as slow as several hundred ps. Such a problem is caused by the fact that the hole mobility of the p-type HEMT (T51) connected to the high potential power supply (V DD ) side to supply current to the load is about 200 cm 2 / Vs, (V SS) for extremely low as about 1 / 10-1 / 20 compared to a connected n-type HEMT (T52) to the side, the transconductance g m can not be obtained only about 50 ms / mm, required for charging the load This is because time is increased and high-speed operation at the time of turn-on is hindered. Therefore, p-type HEMT
In order to solve such a problem, it is necessary to increase the mutual conductance g m expanding the gate width, enlargement of the gate width causes an increase of the input capacitance,
The charging time could not be improved.

【0005】本発明は、上述したような問題を解決し、
負荷を充電(駆動)する能力を高め、回路動作の高速化
を図るとともに、回路動作静止時の電流の流下を抑制
し、低消費電力化を図った半導体論理回路を提供するこ
とを目的とする。
[0005] The present invention solves the above-mentioned problems,
It is an object of the present invention to provide a semiconductor logic circuit in which the ability to charge (drive) a load is increased, the circuit operation is speeded up, the current flow when the circuit operation is stopped is suppressed, and the power consumption is reduced. .

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1記載の発明は、高電位電源と低電位電源
との間に、ドレイン電極およびソース電極を各々接続し
て、直列接続した第1および第2のn型FETと、前記
高電位電源と前記第1のn型FETのゲート電極との間
に、ソース電極およびドレイン電極を各々接続したp型
FETと、前記p型FETのゲート電極および前記第2
のn型FETのゲート電極とに共通に接続された入力端
子と、前記第1および第2のn型FETの接続点に設け
られた出力端子とを有することを特徴としている。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a drain electrode and a source electrode are connected between a high potential power supply and a low potential power supply, respectively. First and second n-type FETs connected to each other; a p-type FET having a source electrode and a drain electrode connected between the high potential power supply and a gate electrode of the first n-type FET; FET gate electrode and the second
And an output terminal provided at a connection point between the first and second n-type FETs.

【0007】また、請求項2記載の発明は、前記請求項
1記載の半導体論理回路において、前記第1のp型FE
Tのドレイン電極と所定の低電位電源との間に第4のF
ETが接続されていることを特徴としている。さらに、
請求項3記載の発明は、前記請求項2記載の半導体論理
回路において、前記第4のFETがp型FETであり、
かつ前記第4のFETのソース電極が前記第1のp型F
ETのドレイン電極に、また前記第4のFETのドレイ
ン電極が前記第2のn型FETのドレイン電極に接続さ
れていることを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the semiconductor logic circuit according to the first aspect, the first p-type FE is provided.
Between the drain electrode of T and a predetermined low potential power supply.
ET is connected. further,
The invention according to claim 3 is the semiconductor logic circuit according to claim 2, wherein the fourth FET is a p-type FET,
And the source electrode of the fourth FET is the first p-type F
The drain electrode of the ET and the drain electrode of the fourth FET are connected to the drain electrode of the second n-type FET.

【0008】そして、請求項4記載の発明は、前記請求
項2記載の半導体論理回路において、前記第4のFET
がn型FETであり、かつ前記第4のFETのドレイン
電極が前記第1のp型FETのドレイン電極に、また前
記第4のFETのソース電極が低電位電源に接続され、
さらに前記第4のFETのゲート電極が前記入力端子に
接続されていることを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the semiconductor logic circuit according to the second aspect, the fourth FET is provided.
Is an n-type FET, and the drain electrode of the fourth FET is connected to the drain electrode of the first p-type FET, and the source electrode of the fourth FET is connected to a low potential power supply;
Furthermore, a gate electrode of the fourth FET is connected to the input terminal.

【0009】そして、請求項5記載の発明は、前記請求
項1、2、3、または4記載の半導体論理回路におい
て、前記第1のp型FETが並列に接続された複数のp
型FETにより、前記第2のn型FETが直列に接続さ
れた複数のn型FETにより、また前記入力端子が複数
の個別の端子群により構成され、かつ前記複数の第1の
p型FETの各々が、前記複数の第2のn型FETの各
々と個別に対を形成し、該各対毎の前記p型FETおよ
び前記n型FETのゲート電極が前記入力端子の端子群
に個別に接続されていることを特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, in the semiconductor logic circuit according to the first, second, third or fourth aspect, the plurality of p-type FETs in which the first p-type FETs are connected in parallel are provided.
A plurality of n-type FETs in which the second n-type FETs are connected in series, and the input terminal is formed by a plurality of individual terminal groups. Each individually forms a pair with each of the plurality of second n-type FETs, and the gate electrodes of the p-type FET and the n-type FET of each pair are individually connected to a terminal group of the input terminal. It is characterized by being.

【0010】そして、請求項6記載の発明は、前記請求
項1、2、3、または4記載の半導体論理回路におい
て、前記第1のp型FETが直列に接続された複数のp
型FETにより、前記第2のn型FETが並列に接続さ
れた複数のn型FETにより、また前記入力端子が複数
の個別の端子群により構成され、かつ前記複数の第1の
p型FETの各々が、前記複数の第2のn型FETの各
々と個別に対を形成し、該各対毎の前記p型FETおよ
び前記n型FETのゲート電極が前記入力端子の端子群
に個別に接続されていることを特徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, in the semiconductor logic circuit according to the first, second, third, or fourth aspect, a plurality of p-type FETs in which the first p-type FETs are connected in series are provided.
A plurality of n-type FETs in which the second n-type FETs are connected in parallel with each other, and the input terminal is constituted by a plurality of individual terminal groups. Each individually forms a pair with each of the plurality of second n-type FETs, and the gate electrodes of the p-type FET and the n-type FET of each pair are individually connected to a terminal group of the input terminal. It is characterized by being.

【0011】すなわち、本発明の特徴は、高電位電源と
低電位電源との間に、負荷に電流を供給する第1のn型
素子および電荷を引き抜く第2のn型素子を直列接続
し、また高電位電源と第1のn型素子との間に、第1の
n型素子の動作を制御するp型素子を接続し、さらに第
2のn型素子およびp型素子に共通の入力電位を印加す
る入力端子と第1および第2のn型素子の接続点から出
力電位を取り出す出力端子とを設け、入力端子に印加さ
れる入力電位に応じて、第1および第2のn型素子を反
転動作させて、出力端子から入力電位の反転電位を取り
出すものである。
That is, a feature of the present invention is that a first n-type element for supplying a current to a load and a second n-type element for extracting a charge are connected in series between a high potential power supply and a low potential power supply, A p-type element for controlling the operation of the first n-type element is connected between the high-potential power supply and the first n-type element, and an input potential common to the second n-type element and the p-type element. And an output terminal for extracting an output potential from a connection point between the first and second n-type elements. The first and second n-type elements are provided in accordance with the input potential applied to the input terminal. Are inverted to take out the inverted potential of the input potential from the output terminal.

【0012】このような本発明の構成によれば、入力側
に従来のC−HEMT同様の回路動作を行なうp型素子
およびn型素子を用いることにより、静止時に電流が流
下する経路を構成しないようにして低消費電力化を図る
とともに、負荷に電流を供給するFETとして高電子移
動度を有するn型素子を用いることにより、負荷駆動能
力を向上させるものである。さらに、負荷に電流を供給
するn型素子を入力側のp型素子により制御することに
より、p型HEMT素子の動作特性に何等制約を与える
ことなく、占有面積を抑制するものである。
According to such a configuration of the present invention, a path through which a current flows during a stationary state is not formed by using a p-type element and an n-type element performing the same circuit operation as the conventional C-HEMT on the input side. In addition to reducing power consumption, the load driving capability is improved by using an n-type element having high electron mobility as an FET for supplying current to a load. Furthermore, the occupied area is suppressed without any restriction on the operating characteristics of the p-type HEMT element by controlling the n-type element that supplies current to the load with the p-type element on the input side.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】まず、本発明に係る半導体論理回
路の基本回路構成と動作について説明する。図1に請求
項1記載の半導体論理回路の基本回路構成を、また図2
にその動作レベルの変化を示す。図1に示すように、高
電位電源(VDD)と低電位電源(接地電位GND)との
間に、n型HEMT(T3)とn型HEMT(T2)が
直列に接続され、その接続点に出力端子OUTが設置さ
れている。また、高電位電源(VDD)とn型HEMT
(T3)のゲートとの間にはp型HEMT(T1)が接
続されている。p型HEMT(T1)およびn型HEM
T(T2)のゲートは入力端子INに共通に接続されて
いる。ここで、説明を簡単にするために、p型HEMT
(T1)としてゲート幅10μm、しきい値電圧−0.
2Vとし、またn型HEMT(T2)および(T3)と
してゲート幅20μm、しきい値電圧+0.2Vとす
る。なお、通常のp型HEMT(T1)のしきい値電圧
は0〜−0.5V程度、n型HEMT(T2)および
(T3)のしきい値電圧は0〜+0.5V程度の範囲に
設定される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the basic circuit configuration and operation of a semiconductor logic circuit according to the present invention will be described. FIG. 1 shows a basic circuit configuration of the semiconductor logic circuit according to claim 1;
The change of the operation level is shown in FIG. As shown in FIG. 1, an n-type HEMT (T3) and an n-type HEMT (T2) are connected in series between a high-potential power supply (V DD ) and a low-potential power supply (ground potential GND). Is provided with an output terminal OUT. Also, a high potential power supply (V DD ) and n-type HEMT
A p-type HEMT (T1) is connected between the gate of (T3). p-type HEMT (T1) and n-type HEM
The gate of T (T2) is commonly connected to the input terminal IN. Here, in order to simplify the explanation, the p-type HEMT is used.
As (T1), the gate width is 10 μm, and the threshold voltage is −0.
2V, and the n-type HEMTs (T2) and (T3) have a gate width of 20 μm and a threshold voltage of +0.2 V. The threshold voltage of a normal p-type HEMT (T1) is set in a range of about 0 to -0.5V, and the threshold voltage of an n-type HEMT (T2) and (T3) is set in a range of about 0 to + 0.5V. Is done.

【0014】次に、このような回路構成における論理動
作を説明する。入力電位VINがLレベル(〜0V)のと
き、p型HEMT(T1)はオン状態、n型HEMT
(T2)はオフ状態にあるため、n型HEMT(T3)
のゲートには高電位電源(VDD)と同程度のHレベルが
印加され、n型HEMT(T3)はオン状態になる。こ
のときの出力電位VOUTは図2にA点として示すよう
に、Hレベル(1V)となり、またn型HEMT(T
2)がオフ状態であるため、高電位電源側(VDD)から
低電位電源(GND)へは電流は流れない。次いで、入
力電位VINが上昇すると、n型HEMT(T2)はオン
し、p型HEMT(T1)はオフする。このときp型H
EMT(T1)に蓄積されていた電荷はn型HEMT
(T3)のゲートからソース、n型HEMT(T2)を
介して低電位電源(GND)に抜けるので、n型HEM
T(T3)のゲート電位は降下する。その結果、n型H
EMT(T3)はオフ状態となり、図2にB点として示
すように出力電位VOUTはLレベル(≒0V)となる。
Next, a logical operation in such a circuit configuration will be described. When the input potential V IN is at the L level (〜0 V), the p-type HEMT (T1) is in the on state, and the n-type HEMT
Since (T2) is in the off state, the n-type HEMT (T3)
Of the high potential power supply (V DD ), and the n-type HEMT (T3) is turned on. At this time, the output potential V OUT becomes H level (1 V) as shown as point A in FIG. 2, and the n-type HEMT (T
Since 2) is in the off state, no current flows from the high potential power supply (V DD ) to the low potential power supply (GND). Next, when the input potential V IN rises, the n-type HEMT (T2) turns on and the p-type HEMT (T1) turns off. At this time, p-type H
The charge stored in the EMT (T1) is an n-type HEMT
Since the gate of (T3) passes through the source and the low potential power supply (GND) via the n-type HEMT (T2), the n-type HEM
The gate potential of T (T3) drops. As a result, n-type H
The EMT (T3) is turned off, and the output potential V OUT is at the L level (≒ 0 V) as shown as a point B in FIG.

【0015】このように、本基本回路は、入力端子IN
に印加される入力電位VINに対して、出力端子OUTか
ら反転電位が出力されるインバータとしての機能を有し
ている。特に、入力電位VINがLレベルのときにはn型
HEMT(T2)がオフ状態となり、また入力電位VIN
がHレベルのときにはn型HEMT(T3)がオフ状態
となるため、回路動作の静止時には高電位電源(VDD
から低電位電源(GND)への電流流下経路(VDD−T
3−T2−GND)が必ず遮断された状態となり、CM
OSインバータ同様、消費電力を極めて小さく抑えるこ
とができる第1の特徴を有している。本基本回路におい
て、電流流下経路に電流IAが流下するのは、図2に示
すように入出力電位VIN、VOUTの過渡期間、すなわち
負荷に電流を供給しているか、あるいは負荷から電荷を
引き抜いている時のみである。
As described above, the basic circuit includes the input terminal IN
Has a function as an inverter that outputs an inverted potential from the output terminal OUT with respect to the input potential V IN applied to. In particular, when the input potential V IN is at the L level, the n-type HEMT (T2) is turned off, and the input potential V IN
Is at the H level, the n-type HEMT (T3) is turned off, so that the high potential power supply (V DD )
Flow path (V DD −T) from the power supply to the low-potential power supply (GND)
3-T2-GND) is always shut off and CM
Like the OS inverter, it has a first feature that power consumption can be extremely reduced. In this basic circuit, the current is the current I A flows down the flow-down path, input and output voltage V IN, the transition period of the V OUT as shown in FIG. 2, i.e. whether the current is supplied to the load, or the charge from the load Only when you are pulling out.

【0016】また、従来技術に示したC−HEMTでは
p型素子であるトランジスタT51を用いて負荷に電流
を供給する構成を有していたため、駆動能力を大きく設
定するためにゲート幅を大きくする設計する必要がある
が、本基本回路においては、負荷に電流を供給するトラ
ンジスタT3にn型素子を用い、p型素子のトランジス
タT1を単にトランジスタT3のゲート電位を設定する
ためだけに用いればよい。そのため、本基本回路は、負
荷駆動能力を大きく設定することができる第2の特徴を
有しているとともに、トランジスタT1に大きな駆動能
力を設定する必要がないため、ゲート幅を小さくでき、
よって入力容量を小さくできるとともに、回路面積を小
さくすることができる第3の特徴を有している。
Further, the C-HEMT shown in the prior art has a structure in which a current is supplied to a load by using a transistor T51 which is a p-type element. Therefore, the gate width is increased in order to set a large driving capability. Although it is necessary to design, in this basic circuit, an n-type element is used as the transistor T3 for supplying a current to the load, and the transistor T1 of the p-type element may be used merely for setting the gate potential of the transistor T3. . Therefore, this basic circuit has the second feature that the load driving capability can be set large, and the gate width can be reduced because there is no need to set a large driving capability for the transistor T1.
Therefore, the third feature is that the input capacitance can be reduced and the circuit area can be reduced.

【0017】なお、本基本回路においては、トランジス
タT1、T2、T3としてHEMTを用いたが、本発明
はHEMTに限定されるものではなく、GaAsMES
FET等他の半導体素子を用いて構成してもよい。次
に、請求項2、3および4記載の半導体論理回路に係る
他の形態の基本回路構成を図3および図4に示して説明
する。なお、図1の基本回路と同等の構成についてはそ
の説明を省略する。
In this basic circuit, HEMTs are used as the transistors T1, T2 and T3. However, the present invention is not limited to HEMTs, and the present invention is not limited to HEMTs.
You may comprise using another semiconductor element, such as FET. Next, another basic circuit configuration of the semiconductor logic circuit according to the second, third and fourth aspects will be described with reference to FIGS. The description of the same configuration as that of the basic circuit in FIG. 1 is omitted.

【0018】図3の基本回路においては、負荷に電流を
供給するn型HEMT(T3)のゲート電位を設定する
p型HEMT(T1)のドレインと、n型HEMT(T
2)および(T3)との接続点とに、ソースおよびドレ
インが各々接続され、低電位電源(GND)にゲートが
接続されたp型HEMT(T4)が設置されている。こ
のような回路構成における論理動作を説明すると、入力
電位VINがLレベルのとき、p型HEMT(T1)はオ
ン状態、n型HEMT(T2)はオフ状態にあり、また
p型HEMT(T4)はオン状態にあるため、n型HE
MT(T3)のゲートにはHレベルが印加されて、n型
HEMT(T3)はオン状態になり、出力電位VOUT
Hレベルとなる。次いで、入力電位VINが上昇すると、
n型HEMT(T2)はオンし、p型HEMT(T1)
がオフするが、このときp型HEMT(T1)に蓄積さ
れていた電荷はオン状態にあるp型HEMT(T4)お
よびn型HEMT(T2)を介して速やかに低電位電源
(GND)に抜けるので、n型HEMT(T3)のゲー
ト電位は急激に降下して、n型HEMT(T3)はオフ
状態となり、出力電位VOUTはLレベルとなる。
In the basic circuit shown in FIG. 3, a drain of a p-type HEMT (T1) for setting a gate potential of an n-type HEMT (T3) for supplying a current to a load, and an n-type HEMT (T
A p-type HEMT (T4) having a source and a drain connected to a connection point with 2) and (T3), respectively, and a gate connected to a low potential power supply (GND) is provided. Explaining the logical operation in such a circuit configuration, when the input potential V IN is at the L level, the p-type HEMT (T1) is on, the n-type HEMT (T2) is off, and the p-type HEMT (T4) is off. ) Is in the ON state, so that the n-type HE
The H level is applied to the gate of the MT (T3), the n-type HEMT (T3) is turned on, and the output potential V OUT becomes the H level. Next, when the input potential V IN rises,
The n-type HEMT (T2) turns on and the p-type HEMT (T1)
Is turned off, but at this time, the electric charge stored in the p-type HEMT (T1) is quickly discharged to the low potential power supply (GND) via the p-type HEMT (T4) and the n-type HEMT (T2) in the on state. Therefore, the gate potential of the n-type HEMT (T3) drops sharply, the n-type HEMT (T3) is turned off, and the output potential V OUT becomes L level.

【0019】また、図4の基本回路においては、p型H
EMT(T1)のドレインと、低電位電源(GND)と
に、ソースおよびドレインが各々接続され、入力端子I
Nにゲートが接続されたn型HEMT(T5)が設置さ
れている。このような回路構成における論理動作は、入
力電位VINがLレベルのとき、p型HEMT(T1)は
オン状態、n型HEMT(T2)および(T5)はオフ
状態にあるため、n型HEMT(T3)のゲートにはH
レベルが印加されて、n型HEMT(T3)はオン状態
になり、出力電位VOUTはHレベルとなる。次いで、入
力電位VINが上昇すると、n型HEMT(T2)および
(T5)はオンし、p型HEMT(T1)がオフする
が、このときp型HEMT(T1)に蓄積されていた電
荷はn型HEMT(T5)を介して速やかに低電位電源
(GND)に抜けるので、n型HEMT(T3)のゲー
ト電位は急激に降下して、n型HEMT(T3)はオフ
状態となり、出力電位VOUTはLレベルとなる。
Further, in the basic circuit shown in FIG.
A source and a drain are connected to a drain of the EMT (T1) and a low-potential power supply (GND), respectively.
An n-type HEMT (T5) having a gate connected to N is provided. The logic operation in such a circuit configuration is such that when the input potential V IN is at the L level, the p-type HEMT (T1) is in the on state, and the n-type HEMTs (T2) and (T5) are in the off state. H at the gate of (T3)
The level is applied, the n-type HEMT (T3) is turned on, and the output potential V OUT goes to the H level. Next, when the input potential V IN rises, the n-type HEMTs (T2) and (T5) are turned on and the p-type HEMT (T1) is turned off. At this time, the electric charge accumulated in the p-type HEMT (T1) is Since the power quickly goes to the low potential power supply (GND) via the n-type HEMT (T5), the gate potential of the n-type HEMT (T3) drops sharply, the n-type HEMT (T3) is turned off, and the output potential V OUT becomes L level.

【0020】すなわち、図1の基本回路では、入力電位
INがLレベルから上昇すると、p型HEMT(T1)
に蓄積されていた電荷は、ゲートリーク電流としてn型
HEMT(T3)のゲートからソースへ抜ける構成を有
していたが、図3および図4に示した他の形態の基本回
路では、n型HEMT(T3)のゲート電位をLレベル
に降下させる時間(ターンオフ)を短縮するために、p
型HEMT(T4)あるいはn型HEMT(T5)を設
けて、n型HEMT(T3)のゲート電位を設定するp
型HEMT(T1)に蓄積された電荷を積極的に引き抜
く構成を有していることを特徴としている。そのため、
このような回路構成を用いることにより、回路動作の高
速化およびインバータ利得の向上を図ることができる。
また、これらの回路構成によれば、n型HEMT(T
3)はゲート電位の変化のみで動作し、ゲート電流を流
す必要がないため、MOSFETのような絶縁ゲート型
のFETであっても同様の特性および回路動作を実現す
ることができる。
That is, in the basic circuit of FIG. 1, when the input potential V IN rises from the L level, the p-type HEMT (T1)
Has been configured to escape from the gate of the n-type HEMT (T3) to the source as a gate leakage current. However, in the basic circuit of another embodiment shown in FIG. 3 and FIG. To reduce the time (turn-off) for lowering the gate potential of the HEMT (T3) to the L level, p
Providing a type HEMT (T4) or an n-type HEMT (T5) to set the gate potential of the n-type HEMT (T3)
It is characterized in that it has a configuration in which charges accumulated in the type HEMT (T1) are positively extracted. for that reason,
By using such a circuit configuration, it is possible to increase the speed of the circuit operation and improve the inverter gain.
According to these circuit configurations, the n-type HEMT (T
3) operates only by a change in the gate potential and does not require a gate current to flow, so that the same characteristics and circuit operation can be realized even with an insulated gate FET such as a MOSFET.

【0021】以下に、請求項5および6記載の半導体論
理回路に係る論理回路への適用実施例について説明す
る。図5は、上述した基本回路を2入力NAND回路に
適用した第1の実施例である。図5において、高電位電
源(VDD)と低電位電源(GND)との間に、n型HE
MT(T31)、(T21)および(T22)が直列に
接続され、n型HEMT(T31)と(T21)との接
続点に出力端子OUTが設置されている。また、高電位
電源(VDD)とn型HEMT(T31)のゲートとの間
にはp型HEMT(T11)および(T12)が並列に
接続されている。p型HEMT(T11)およびn型H
EMT(T22)のゲートは入力端子IN1に共通に接
続され、p型HEMT(T12)およびn型HEMT
(T21)のゲートは入力端子IN2に共通に接続され
ている。
An embodiment applied to a logic circuit according to a semiconductor logic circuit according to claims 5 and 6 will be described below. FIG. 5 shows a first embodiment in which the above-described basic circuit is applied to a two-input NAND circuit. In FIG. 5, an n-type HE is connected between a high potential power supply (V DD ) and a low potential power supply (GND).
MTs (T31), (T21) and (T22) are connected in series, and an output terminal OUT is provided at a connection point between the n-type HEMTs (T31) and (T21). Further, p-type HEMTs (T11) and (T12) are connected in parallel between the high potential power supply (V DD ) and the gate of the n-type HEMT (T31). p-type HEMT (T11) and n-type H
The gate of the EMT (T22) is commonly connected to the input terminal IN1, and the p-type HEMT (T12) and the n-type HEMT
The gate of (T21) is commonly connected to the input terminal IN2.

【0022】このような回路構成における論理動作を表
1を参照して説明すると、入力端子IN1およびIN2
の双方にLレベルが印加されると、p型HEMT(T1
1)および(T12)はオン状態となり、n型HEMT
(T21)および(T22)はオフ状態となるため、n
型HEMT(T31)のゲートにはp型HEMT(T1
1)および(T12)を介してHレベルが印加され、n
型HEMT(T31)はオン状態になり、出力端子OU
TにはHレベルが出力される。また、入力端子IN1お
よびIN2の一方にLレベル、他方にHレベルが印加さ
れると、p型HEMT(T11)および(T12)のい
ずれかがオン状態となり、n型HEMT(T21)およ
び(T22)のいずれかがオフ状態となるため、n型H
EMT(T31)のゲートにはp型HEMT(T11)
および(T12)のいずれかを介してHレベルが印加さ
れ、n型HEMT(T31)はオン状態になり、出力端
子OUTにはHレベルが出力される。さらに、入力端子
IN1およびIN2の双方にLレベルが印加されると、
p型HEMT(T11)および(T12)はオフ状態と
なり、n型HEMT(T21)および(T22)はオン
状態となるため、p型HEMT(T11)および(T1
2)に蓄積されていた電荷はn型HEMT(T31)を
介してゲートリーク電流として低電位電源(GND)に
抜け、n型HEMT(T31)のゲート電位は降下し
て、n型HEMT(T31)はオフ状態となり、出力端
子OUTにはLレベルが出力される。
The logic operation in such a circuit configuration will be described with reference to Table 1. Input terminals IN1 and IN2
, When the L level is applied to both, the p-type HEMT (T1
1) and (T12) are turned on, and the n-type HEMT
Since (T21) and (T22) are turned off, n
The gate of the p-type HEMT (T1) is connected to the p-type HEMT (T1).
H level is applied via 1) and (T12), and n level
The type HEMT (T31) is turned on, and the output terminal OU
H level is output to T. When the L level is applied to one of the input terminals IN1 and IN2 and the H level is applied to the other, one of the p-type HEMTs (T11) and (T12) is turned on, and the n-type HEMTs (T21) and (T22) are turned on. ) Is turned off, so that n-type H
P-type HEMT (T11) for the gate of EMT (T31)
And (T12), the H level is applied, the n-type HEMT (T31) is turned on, and the H level is output to the output terminal OUT. Further, when an L level is applied to both the input terminals IN1 and IN2,
Since the p-type HEMTs (T11) and (T12) are turned off and the n-type HEMTs (T21) and (T22) are turned on, the p-type HEMTs (T11) and (T1) are turned on.
The charge stored in 2) flows to the low-potential power supply (GND) as a gate leak current via the n-type HEMT (T31), and the gate potential of the n-type HEMT (T31) drops, and the n-type HEMT (T31) ) Is turned off, and an L level is output to the output terminal OUT.

【0023】すなわち、2入力のいずれか一方あるいは
双方ともLレベルの場合には、T11およびT12の少
なくともいずれか一方がオン状態となってT31をオン
状態とし、T21およびT22の少なくとも一方がオフ
状態となるため、出力端子OUTにはT31を介してH
レベル(VDD)が印加される。また、2入力がともにH
レベルの場合、T11およびT12はオフ状態となって
T31のゲート電極への電圧の印加が止まり、T21お
よびT22はいずれもオン状態となるため、出力端子O
UTにはLレベル(GND)が印加される。
That is, when one or both of the two inputs are at the L level, at least one of T11 and T12 is turned on to turn on T31 and at least one of T21 and T22 is turned off. Therefore, the output terminal OUT is set to H through T31.
The level (V DD ) is applied. Also, both inputs are H
In the case of the level, T11 and T12 are turned off, the application of the voltage to the gate electrode of T31 is stopped, and both T21 and T22 are turned on.
An L level (GND) is applied to the UT.

【0024】[0024]

【表1】 [Table 1]

【0025】図6は、上述した基本回路を2入力NOR
回路に適用した第2の実施例である。図6において、高
電位電源(VDD)と低電位電源(GND)との間に、n
型HEMT(T32)および(T24)が直列に接続さ
れ、その接続点に出力端子OUTが設置されている。こ
こで、n型HEMT(T32)および(T24)の接続
点と低電位電源(GND)との間には、n型HEMT
(T24)と並列にn型HEMT(T23)が接続され
ている。また、高電位電源(VDD)とn型HEMT(T
32)のゲートとの間にはp型HEMT(T13)およ
び(T14)が直列に接続されている。p型HEMT
(T13)およびn型HEMT(T24)のゲートは入
力端子IN1に共通に接続され、p型HEMT(T1
4)およびn型HEMT(T23)のゲートは入力端子
IN2に共通に接続されている。
FIG. 6 shows the basic circuit described above in which a two-input NOR
This is a second embodiment applied to a circuit. In FIG. 6, n is connected between a high potential power supply (V DD ) and a low potential power supply (GND).
The HEMTs (T32) and (T24) are connected in series, and an output terminal OUT is provided at the connection point. Here, an n-type HEMT is provided between the connection point of the n-type HEMTs (T32) and (T24) and the low potential power supply (GND).
An n-type HEMT (T23) is connected in parallel with (T24). In addition, a high potential power supply (V DD ) and an n-type HEMT (T
P-type HEMTs (T13) and (T14) are connected in series with the gate of (32). p-type HEMT
(T13) and the gate of the n-type HEMT (T24) are commonly connected to the input terminal IN1, and the p-type HEMT (T1)
4) and the gate of the n-type HEMT (T23) are commonly connected to the input terminal IN2.

【0026】このような回路構成における論理動作を表
2を参照して説明すると、入力端子IN1およびIN2
の双方にLレベルが印加されると、p型HEMT(T1
3)および(T14)はオン状態となり、n型HEMT
(T23)および(T24)はオフ状態となるため、n
型HEMT(T32)のゲートにはp型HEMT(T1
3)および(T14)を介してHレベルが印加され、n
型HEMT(T32)はオン状態になり、出力端子OU
TにはHレベルが出力される。また、入力端子IN1お
よびIN2の一方にLレベル、他方にHレベルが印加さ
れると、p型HEMT(T13)および(T14)のい
ずれかがオフ状態となり、n型HEMT(T23)およ
び(T24)のいずれかがオン状態となるため、n型H
EMT(T32)のゲート電位は降下して、n型HEM
T(T32)はオフ状態となり、出力端子OUTにはL
レベルが出力される。さらに、入力端子IN1およびI
N2の双方にLレベルが印加されると、p型HEMT
(T13)および(T14)はオフ状態となり、n型H
EMT(T23)および(T24)はオン状態となるた
め、p型HEMT(T13)および(T14)に蓄積さ
れていた電荷はn型HEMT(T32)を介してゲート
リーク電流として低電位電源(GND)に抜け、n型H
EMT(T32)のゲート電位は降下して、n型HEM
T(T32)はオフ状態となり、出力端子OUTにはL
レベルが出力される。
The logic operation in such a circuit configuration will be described with reference to Table 2. Input terminals IN1 and IN2
, When the L level is applied to both, the p-type HEMT (T1
3) and (T14) are turned on, and the n-type HEMT
Since (T23) and (T24) are turned off, n
The gate of the type HEMT (T32) has a p-type HEMT (T1
H level is applied through 3) and (T14), and n level
The type HEMT (T32) is turned on, and the output terminal OU
H level is output to T. When an L level is applied to one of the input terminals IN1 and IN2 and an H level is applied to the other, one of the p-type HEMTs (T13) and (T14) is turned off, and the n-type HEMTs (T23) and (T24) are turned off. ) Is turned on, the n-type H
The gate potential of the EMT (T32) drops and the n-type HEM
T (T32) is turned off, and L is output to the output terminal OUT.
The level is output. Further, input terminals IN1 and I
When the L level is applied to both N2, the p-type HEMT
(T13) and (T14) are turned off, and n-type H
Since the EMTs (T23) and (T24) are turned on, the charges accumulated in the p-type HEMTs (T13) and (T14) are converted into a low potential power supply (GND) as a gate leak current via the n-type HEMT (T32). ), N-type H
The gate potential of the EMT (T32) drops and the n-type HEM
T (T32) is turned off, and L is output to the output terminal OUT.
The level is output.

【0027】すなわち、2入力がともにLレベルの場
合、T13およびT14はオン状態となってT32をオ
ン状態とし、T23およびT24はいずれもオフ状態と
なるため、出力端子OUTにはT32を介してHレベル
(VDD)が印加される。また、2入力のいずれか一方あ
るいは双方ともHレベルの場合には、T13およびT1
4の少なくともいずれか一方がオフ状態となってT32
のゲート電極への電圧の印加が止まり、T23およびT
24の少なくとも一方がオン状態となるため、出力端子
OUTにはLレベル(GND)が印加される。
That is, when both inputs are at the L level, T13 and T14 are turned on to turn on T32, and both T23 and T24 are turned off. Therefore, the output terminal OUT is connected to the output terminal OUT via T32. H level (V DD ) is applied. When one or both of the two inputs are at the H level, T13 and T1
4 is turned off and T32
Stops applying voltage to the gate electrode of T23 and T23 and T
Since at least one of the switches 24 is turned on, an L level (GND) is applied to the output terminal OUT.

【0028】[0028]

【表2】 [Table 2]

【0029】これら第1および第2の実施例に示した論
理回路によれば、負荷への電流の供給動作を制御するp
型トランジスタ群および電荷の引き抜き動作を行なうn
型トランジスタ群のトランジスタを1個ずつの対となる
ように構成して、各対毎に共通の入力端子を設けた多入
力回路構成とし、各入力端子に印加される電位に応じて
負荷への電流供給動作を行なうn型トランジスタと電荷
の引き抜き動作を行なうn型トランジスタとを反転動作
させることにより、NANDおよびNOR論理出力を得
ることができる。特に、これらの論理回路における静止
時には、入力電位に応じて、負荷への電流供給を行なう
n型トランジスタ、あるいは電荷の引き抜きを行なうn
型トランジスタのいずれか一方がオフ状態となるため、
高電位電源(VDD)から低電位電源(GND)への電流
流下経路が必ず遮断された状態となり、消費電力を小さ
く抑えることができる。また、負荷に電流を供給するト
ランジスタとしてn型素子を用いているため、動作速度
を高め、負荷駆動能力を大きく設定することができると
ともに、p型トランジスタによりゲート電位を設定する
だけで、このn型トランジスタの動作を制御することが
できるため、p型トランジスタの駆動特性は何等制約さ
れず(すなわち、駆動能力を大きく設定する必要はな
く)、ゲート幅を小さくして、回路面積を増加を抑制す
ることができる。さらに、本発明の半導体論理回路は、
CMOSと同様の設計手法で構成することができるた
め、上述したNANDおよびNOR回路以外の種々の論
理回路に対しても手法の追加や変更を伴うことなく良好
に適用することができる。
According to the logic circuits shown in the first and second embodiments, p controls the operation of supplying a current to a load.
N for performing a type of transistor group and charge extracting operation
The transistors of the type transistor group are configured so as to form a pair, and a common input terminal is provided for each pair to form a multi-input circuit configuration. NAND and NOR logic outputs can be obtained by inverting the n-type transistor performing the current supply operation and the n-type transistor performing the charge extracting operation. In particular, when these logic circuits are at rest, an n-type transistor for supplying a current to a load or an n-type transistor for extracting a charge according to the input potential.
Type transistor is turned off,
The current flow path from the high-potential power supply (V DD ) to the low-potential power supply (GND) is always shut off, and power consumption can be reduced. Further, since an n-type element is used as a transistor for supplying a current to the load, the operation speed can be increased and the load driving capability can be set large. In addition, only by setting the gate potential with a p-type transistor, this n-type element can be used. Since the operation of the p-type transistor can be controlled, the driving characteristics of the p-type transistor are not restricted at all (that is, there is no need to set a large driving capability), and the gate width is reduced to suppress an increase in the circuit area. can do. Furthermore, the semiconductor logic circuit of the present invention
Since it can be configured by the same design method as that of the CMOS, it can be suitably applied to various logic circuits other than the above-described NAND and NOR circuits without adding or changing the method.

【0030】なお、上述した実施例ではディジタル論理
回路への適用例を示したが、HEMTの小信号特性を利
用し、本発明の半導体論理回路を小信号動作させれば、
たとえばアナログ増幅器等のアナログ回路として動作さ
せることができることはいうまでもない。
In the above embodiment, an example of application to a digital logic circuit has been described. However, if the semiconductor logic circuit of the present invention is operated with a small signal by utilizing the small signal characteristics of the HEMT,
Needless to say, the circuit can be operated as an analog circuit such as an analog amplifier.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体論
理回路によれば、C−HEMT同様の回路動作を行なう
p型素子およびn型素子を入力段に用いることにより、
静止時に電流が流下する経路を遮断することができるた
め、低消費電力化を図ることができるとともに、負荷に
電流を供給するFETとして高電子移動度を有するn型
素子を用いることにより、動作速度および負荷駆動能力
を向上させることができる。さらに、負荷に電流を供給
するn型素子を入力側のp型素子により制御することに
より、p型HEMT素子の動作特性に何等制約を与える
ことがないため、ゲート幅を小さく設定でき、回路面積
の増加を抑制することができる。
As described above, according to the semiconductor logic circuit of the present invention, the p-type element and the n-type element which perform the same circuit operation as the C-HEMT are used in the input stage.
Since the path through which current flows when stationary can be cut off, power consumption can be reduced, and the operating speed can be increased by using an n-type element having high electron mobility as the FET that supplies current to the load. In addition, the load driving capability can be improved. Further, by controlling the n-type element for supplying current to the load with the p-type element on the input side, there is no restriction on the operating characteristics of the p-type HEMT element, so that the gate width can be set small and the circuit area can be reduced. Increase can be suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る半導体論理回路の基本回路構成
(その1)を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a basic circuit configuration (No. 1) of a semiconductor logic circuit according to the present invention.

【図2】本発明に係る半導体論理回路の基本回路構成
(その1)の動作レベルを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing operation levels of a basic circuit configuration (part 1) of a semiconductor logic circuit according to the present invention.

【図3】本発明に係る半導体論理回路の基本回路構成
(その2)を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a basic circuit configuration (part 2) of the semiconductor logic circuit according to the present invention.

【図4】本発明に係る半導体論理回路の基本回路構成
(その3)を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a basic circuit configuration (3) of a semiconductor logic circuit according to the present invention.

【図5】本発明に係る半導体論理回路を論理回路(2入
力NAND回路)に適用した第1の実施例示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing a first embodiment in which the semiconductor logic circuit according to the present invention is applied to a logic circuit (two-input NAND circuit).

【図6】本発明に係る半導体論理回路を論理回路(2入
力NOR回路)に適用した第2の実施例示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a second embodiment in which the semiconductor logic circuit according to the present invention is applied to a logic circuit (2-input NOR circuit).

【図7】従来の相補型HEMTの回路構成を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a circuit configuration of a conventional complementary HEMT.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

T1、T4、T11〜T14、T51
p型HEMT T2、T3、T21〜T24、T31、T32、T52
n型HEMT IN、IN1、IN2 入力端子 OUT 出力端子 VDD 高電位電源 VSS(GND) 低電位電源
T1, T4, T11 to T14, T51
p-type HEMT T2, T3, T21 to T24, T31, T32, T52
n-type HEMT IN, IN1, IN2 Input terminal OUT Output terminal V DD High-potential power supply V SS (GND) Low-potential power supply

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】高電位電源と低電位電源との間に、ドレイ
ン電極およびソース電極を各々接続して、直列接続した
第1および第2のn型FETと、前記高電位電源と前記
第1のn型FETのゲート電極との間に、ソース電極お
よびドレイン電極を各々接続したp型FETと、前記p
型FETのゲート電極および前記第2のn型FETのゲ
ート電極とに共通に接続された入力端子と、前記第1お
よび第2のn型FETの接続点に設けられた出力端子と
を有することを特徴とする半導体論理回路。
A first and second n-type FETs connected in series with a drain electrode and a source electrode respectively connected between a high-potential power supply and a low-potential power supply; A p-type FET having a source electrode and a drain electrode respectively connected between the gate electrode of the n-type FET and
Having an input terminal commonly connected to the gate electrode of the n-type FET and the gate electrode of the second n-type FET, and an output terminal provided at a connection point between the first and second n-type FETs A semiconductor logic circuit characterized by the above-mentioned.
【請求項2】前記請求項1記載の半導体論理回路におい
て、前記第1のp型FETのドレイン電極と所定の低電
位電源との間に第4のFETが接続されていることを特
徴とする半導体論理回路。
2. The semiconductor logic circuit according to claim 1, wherein a fourth FET is connected between a drain electrode of said first p-type FET and a predetermined low potential power supply. Semiconductor logic circuit.
【請求項3】前記請求項2記載の半導体論理回路におい
て、前記第4のFETがp型FETであり、かつ前記第
4のFETのソース電極が前記第1のp型FETのドレ
イン電極に、また前記第4のFETのドレイン電極が前
記第2のn型FETのドレイン電極に接続されているこ
とを特徴とする半導体論理回路。
3. The semiconductor logic circuit according to claim 2, wherein said fourth FET is a p-type FET, and a source electrode of said fourth FET is connected to a drain electrode of said first p-type FET. A semiconductor logic circuit, wherein a drain electrode of the fourth FET is connected to a drain electrode of the second n-type FET.
【請求項4】前記請求項2記載の半導体論理回路におい
て、前記第4のFETがn型FETであり、かつ前記第
4のFETのドレイン電極が前記第1のp型FETのド
レイン電極に、また前記第4のFETのソース電極が低
電位電源に接続され、さらに前記第4のFETのゲート
電極が前記入力端子に接続されていることを特徴とする
半導体論理回路。
4. The semiconductor logic circuit according to claim 2, wherein said fourth FET is an n-type FET, and a drain electrode of said fourth FET is connected to a drain electrode of said first p-type FET. A semiconductor logic circuit, wherein a source electrode of the fourth FET is connected to a low potential power supply, and a gate electrode of the fourth FET is connected to the input terminal.
【請求項5】前記請求項1、2、3、または4記載の半
導体論理回路において、前記第1のp型FETが並列に
接続された複数のp型FETにより、前記第2のn型F
ETが直列に接続された複数のn型FETにより、また
前記入力端子が複数の個別の端子群により構成され、か
つ前記複数の第1のp型FETの各々が、前記複数の第
2のn型FETの各々と個別に対を形成し、該各対毎の
前記p型FETおよび前記n型FETのゲート電極が前
記入力端子の端子群に個別に接続されていることを特徴
とする半導体論理回路。
5. The semiconductor logic circuit according to claim 1, wherein the second n-type FET is formed by a plurality of p-type FETs connected in parallel with the first p-type FET.
ET is constituted by a plurality of n-type FETs connected in series, the input terminal is constituted by a plurality of individual terminal groups, and each of the plurality of first p-type FETs is connected to the plurality of second n-type FETs. Wherein each of the paired FETs is individually formed with a pair, and the gate electrodes of the p-type FET and the n-type FET for each pair are individually connected to a terminal group of the input terminals. circuit.
【請求項6】前記請求項1、2、3、または4記載の半
導体論理回路において、前記第1のp型FETが直列に
接続された複数のp型FETにより、前記第2のn型F
ETが並列に接続された複数のn型FETにより、また
前記入力端子が複数の個別の端子群により構成され、か
つ前記複数の第1のp型FETの各々が、前記複数の第
2のn型FETの各々と個別に対を形成し、該各対毎の
前記p型FETおよび前記n型FETのゲート電極が前
記入力端子の端子群に個別に接続されていることを特徴
とする半導体論理回路。
6. The semiconductor logic circuit according to claim 1, wherein said second n-type FET is formed by a plurality of p-type FETs connected in series with said first p-type FET.
ET is constituted by a plurality of n-type FETs connected in parallel, the input terminal is constituted by a plurality of individual terminal groups, and each of the plurality of first p-type FETs is connected to the plurality of second n-type FETs. Wherein each of the paired FETs is individually formed with a pair, and the gate electrodes of the p-type FET and the n-type FET for each pair are individually connected to a terminal group of the input terminals. circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009512999A (en) * 2005-09-21 2009-03-26 インターナショナル レクティファイアー コーポレイション Semiconductor package

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