JPH10112453A - Substrate processor - Google Patents

Substrate processor

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JPH10112453A
JPH10112453A JP26643696A JP26643696A JPH10112453A JP H10112453 A JPH10112453 A JP H10112453A JP 26643696 A JP26643696 A JP 26643696A JP 26643696 A JP26643696 A JP 26643696A JP H10112453 A JPH10112453 A JP H10112453A
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JP
Japan
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substrate
rotor
stator
rotary motor
hollow portion
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JP26643696A
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Tsutomu Kamiyama
勉 上山
Akira Izumi
昭 泉
Hideki Adachi
秀喜 足立
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To treat both sides of a substrate properly without occupying much space in a vertical direction by providing a rotary motor provided with a rotator having a hollow part whose central part is opened and a stator having a hollow part whose central part is opened concentrically with the rotator and a substrate holding means which holds a substrate to a rotator. SOLUTION: A hollow part 2a of a rotator in formed in a central part of a rotary motor 1 provided with a ring-like rotator 2 with the hollow part 2a in which an opening is shaped in a central part thereof and a ring-like stator 3 which is provided concentrically with the rotator 2 and has a hollow part in which an opening is shaped in a central part thereof. The rotator 2 is provided with three or more substrate holding members 10 and an outer circumferential end part of a substrate W is held by the substrate holding member at three or more places. Both sides of the substrate W are cleaned by rotating the held substrate W around a rotation center J and jetting and supplying cleaning solution to both sides of the susstrate W from nozzles 21, 22.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板を回転させて
その基板に洗浄処理やレジスト塗布処理などの所定の処
理を施す基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for rotating a substrate and performing a predetermined process such as a cleaning process or a resist coating process on the substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のこの種の基板処理装置は、一般的
に、鉛直方向に回転可能に立設された回転軸にモーター
が伝動連結され、回転軸の上端部に基板保持機構が設け
られて構成されている。基板保持機構は、スピンベース
に真空吸着孔が設けられていて基板の下面(通常は裏
面)を真空吸着するものや、スピンベースの周端部付近
に3個以上の基板保持ピンが設けられていて基板の外周
端部を3箇所以上で保持するものなどがある。
2. Description of the Related Art In a conventional substrate processing apparatus of this type, generally, a motor is operatively connected to a rotating shaft that is vertically rotatable and provided with a substrate holding mechanism at an upper end of the rotating shaft. It is configured. The substrate holding mechanism is provided with a vacuum suction hole in the spin base to vacuum suction the lower surface (usually the back surface) of the substrate, or provided with three or more substrate holding pins near the peripheral end of the spin base. There is one that holds the outer peripheral end of the substrate at three or more places.

【0003】この従来装置では、基板保持機構に基板が
保持され、モーターの回転力が回転軸に伝動されること
で、回転軸の中心軸回りに、回転軸、基板保持機構とと
もに基板が回転される。そして、この基板に対して洗浄
処理やレジスト塗布処理などの所定の処理が施される。
In this conventional apparatus, a substrate is held by a substrate holding mechanism, and the rotational force of a motor is transmitted to a rotating shaft, whereby the substrate is rotated together with the rotating shaft and the substrate holding mechanism around the central axis of the rotating shaft. You. Then, a predetermined process such as a cleaning process or a resist coating process is performed on the substrate.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。従来装置の構成では、基板の下面側にモーターや
回転軸などが配置され、鉛直方向に場所をとるという問
題があった。また、モーターなどの基板の下面側の部材
が障害物となって基板の下面に対する処理が行えないか
行い難かった。すなわち、従来装置では、基板の片面に
対する処理が可能で、両面に対する処理が行えないか行
い難いという問題があった。
However, the prior art having such a structure has the following problems. In the configuration of the conventional apparatus, there is a problem that a motor, a rotating shaft, and the like are arranged on the lower surface side of the substrate, and a space is taken in a vertical direction. Also, a member on the lower surface side of the substrate such as a motor becomes an obstacle, and it is difficult or impossible to perform processing on the lower surface of the substrate. That is, the conventional apparatus has a problem that processing can be performed on one side of the substrate, and processing on both sides cannot be performed or is difficult.

【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、鉛直方向に場所をとらず、かつ、基板
の両面に対する処理を好適に行える基板処理装置を提供
することを目的とする。
[0005] The present invention has been made in view of such circumstances, and has as its object to provide a substrate processing apparatus which does not take up space in the vertical direction and which can suitably perform processing on both surfaces of a substrate. I do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の発明は、基板を回転させてその基
板に所定の処理を施す基板処理装置において、中央部が
開口された中空部を有する回転子と、前記回転子と同芯
状に設けられ、中央部が開口された中空部を有するステ
ータとを備えた回転モーターと、前記回転子に設けら
れ、基板を保持する基板保持手段と、を備えたものであ
る。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. That is, an invention according to claim 1 is a substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a substrate by rotating the substrate, wherein the rotor has a hollow portion having an open central portion, and the rotor is concentric with the rotor. And a rotating motor provided with a stator having a hollow portion with an open central portion, and substrate holding means provided on the rotor for holding a substrate.

【0007】また、請求項2に記載の発明は、上記請求
項1に記載の基板処理装置において、前記回転モーター
のステータに対して前記回転子を静圧気体軸受けで軸受
けしたことを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of the first aspect, the rotor is supported by a static pressure gas bearing with respect to a stator of the rotary motor. Things.

【0008】また、請求項3に記載の発明は、上記請求
項1または2に記載の基板処理装置において、前記回転
モーターの中央部に形成される中空部の大きさが、前記
基板保持手段に保持された基板を回転させたときの基板
の回転中心から最も離れた基板の端部が描く円と同等ま
たはそれより大きくなるように前記回転モーターを構成
したことを特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first or second aspect, the size of the hollow portion formed at the center of the rotary motor is equal to the size of the substrate holding means. The rotating motor is characterized in that the rotating motor is configured to be equal to or larger than a circle drawn by the end of the substrate farthest from the rotation center of the substrate when the held substrate is rotated.

【0009】[0009]

【作用】本発明の作用は次のとおりである。請求項1に
記載の発明によれば、基板は、回転モーターの回転子に
設けられた基板保持手段に保持され、回転子と同芯状に
設けられたステータに対して回転子が回転されること
で、基板保持手段とともに基板が回転される。そして、
この基板に対して所定の処理が施される。
The operation of the present invention is as follows. According to the first aspect of the present invention, the substrate is held by the substrate holding means provided on the rotor of the rotary motor, and the rotor is rotated with respect to the stator provided concentrically with the rotor. Thus, the substrate is rotated together with the substrate holding means. And
A predetermined process is performed on this substrate.

【0010】回転モーターの回転子は中央部が開口され
た中空部を有し、ステータも中央部が開口された中空部
を有する。従って、例えば、回転子をステータの内側に
配設して回転モーターを構成すると、回転モーターの中
央部には(回転子の)中空部が形成され、一方、ステー
タを回転子の内側に配設して回転モーターを構成する
と、回転モーターの中央部には(ステータの)中空部が
形成される。すなわち、この回転モーターには中央部が
開口された中空部が形成される。
[0010] The rotor of the rotary motor has a hollow portion with an open central portion, and the stator also has a hollow portion with an open central portion. Thus, for example, if the rotor is arranged inside the stator to form a rotation motor, a hollow portion (of the rotor) is formed in the center of the rotation motor, while the stator is arranged inside the rotor. When the rotary motor is configured as described above, a hollow portion (of the stator) is formed at the center of the rotary motor. That is, the rotary motor has a hollow portion with an open central portion.

【0011】また、基板保持手段は、中空部を有する回
転モーターの回転子に設けられ、基板を保持するので、
従来装置のように基板の下面側にモーターなどが配置さ
れて、鉛直方向に場所をとるということもない。
The substrate holding means is provided on a rotor of a rotary motor having a hollow portion and holds the substrate.
A motor and the like are arranged on the lower surface side of the substrate unlike the conventional device, and the space is not taken up in the vertical direction.

【0012】従って、例えば、基板を回転モーターの上
方で保持する場合、基板保持手段に保持された基板の下
面側(回転モーター側)には、モーターなどの障害物が
なく、また、回転モーターには中空部が形成されている
ので、その面に対して回転モーターの中空部から処理を
施すことが可能となる。もちろん、基板保持手段に保持
された基板の上面側(回転モーターと反対側)には障害
物はないので、その面に対して自由に処理を施すことが
できる。すなわち、請求項1に記載の発明によれば、基
板の両面に対して好適に処理を施すことが可能となる。
また、基板を回転モーターの下方で保持する場合にも、
同様に基板の両面に対して好適に処理を施すことが可能
となる。
Therefore, for example, when the substrate is held above the rotary motor, there is no obstacle such as a motor on the lower surface side (rotary motor side) of the substrate held by the substrate holding means. Since a hollow portion is formed, the surface can be processed from the hollow portion of the rotary motor. Of course, there is no obstacle on the upper surface side (opposite to the rotary motor) of the substrate held by the substrate holding means, so that the surface can be processed freely. That is, according to the first aspect of the present invention, it is possible to preferably perform processing on both surfaces of the substrate.
Also, when holding the substrate under the rotating motor,
Similarly, it is possible to suitably perform processing on both surfaces of the substrate.

【0013】請求項2に記載の発明によれば、ステータ
に対する回転子の軸受けを静圧気体軸受けにすること
で、回転子の回転時のステータに対する摩擦抵抗を低く
でき、回転子を高速に回転させることができる。また、
基板に対する処理が薬液を用いたものであるとき、薬液
がステータと回転子との間の隙間に流れ込み、ステータ
や回転子が薬液によって腐食されることなどが懸念され
るが、ステータに対する回転子の軸受けを静圧気体軸受
けにすると、ステータと回転子との間の隙間に供給され
る気体がその隙間から外側に吹き出すことになるので、
その隙間に薬液が流れ込むのを防止することができる。
According to the second aspect of the present invention, since the bearing of the rotor with respect to the stator is a static pressure gas bearing, the frictional resistance with respect to the stator during rotation of the rotor can be reduced, and the rotor can be rotated at high speed. Can be done. Also,
When the processing on the substrate is performed using a chemical, there is a concern that the chemical flows into the gap between the stator and the rotor, and the stator and the rotor are corroded by the chemical. If the bearing is a static pressure gas bearing, the gas supplied to the gap between the stator and the rotor will blow out from the gap,
It is possible to prevent the chemical solution from flowing into the gap.

【0014】請求項3に記載の発明は、回転モーターの
中央部に形成される中空部の大きさが、基板保持手段に
保持された基板を回転させたときの基板の回転中心から
最も離れた基板の端部が描く円と同等またはそれより大
きくなるように回転モーターを構成している。基板保持
手段に保持された基板は、基板の回転中心と回転中心か
ら最も離れた基板の端部との間の長さを半径とした回転
円内で回転される。従って、回転モーターの中央部に形
成される中空部の大きさを、回転円と同等またはそれよ
り大きくすることで、基板の回転モーター側の面に対し
て処理を施すとき、その面全面に対して処理を施す易く
なる。従って、例えば、基板の両面に対してブラシ洗浄
することなども可能になる。
According to a third aspect of the present invention, the size of the hollow portion formed at the center of the rotary motor is the farthest from the center of rotation of the substrate when the substrate held by the substrate holding means is rotated. The rotary motor is configured so that the edge of the substrate is equal to or larger than the circle drawn. The substrate held by the substrate holding means is rotated within a rotation circle having a radius between a rotation center of the substrate and an end of the substrate farthest from the rotation center. Therefore, by making the size of the hollow portion formed at the center of the rotating motor equal to or larger than the rotating circle, when processing is performed on the surface of the substrate on the rotating motor side, the entire surface thereof is treated. Process. Therefore, for example, brush cleaning can be performed on both surfaces of the substrate.

【0015】また、回転モーターの中空部が回転円より
大きければ、基板を回転モーターの中空部内で保持する
ことも可能となる。例えば、ステータの内側に回転子を
配置させ、この回転子の中空部の内周面から回転子の中
空部の中心に向けて基板保持手段を設ければ、回転モー
ター(回転子)の中空部内で基板を保持することが可能
になる。このように基板を回転モーターの中空部内で保
持すれば、回転モーターの上方または下方で基板を保持
する場合に比べて基板処理装置の高さを低くすることが
できる。なお、このように基板を回転モーターの中空部
内に保持した場合にも基板の上面側および下面側は開口
されているので、基板の両面に対する処理を施す上で何
ら支障はない。
If the hollow portion of the rotary motor is larger than the rotary circle, the substrate can be held in the hollow portion of the rotary motor. For example, if the rotor is arranged inside the stator and the substrate holding means is provided from the inner peripheral surface of the hollow part of the rotor toward the center of the hollow part of the rotor, the inside of the hollow part of the rotary motor (rotor) is provided. Can hold the substrate. When the substrate is held in the hollow portion of the rotary motor in this manner, the height of the substrate processing apparatus can be reduced as compared with the case where the substrate is held above or below the rotary motor. Even when the substrate is held in the hollow portion of the rotary motor, the upper and lower sides of the substrate are opened, so that there is no problem in performing the processing on both surfaces of the substrate.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は、本発明の一実施例に係る
基板処理装置の構成を示す縦断面図であり、図2は、そ
の平面図である。なお、この実施例では、基板(半導体
ウエハ)に対して洗浄処理を施す基板洗浄装置を例に採
っている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a configuration of a substrate processing apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view thereof. In this embodiment, a substrate cleaning apparatus for performing a cleaning process on a substrate (semiconductor wafer) is taken as an example.

【0017】図中の符号1は、保持した基板Wを回転さ
せるための回転モーターを示す。この回転モーター1
は、中央部が開口された中空部2aを有するリング状の
回転子2と、回転子2の外側に、回転子2と同芯状に中
央部が開口された中空部(回転子2の中空部2aと回転
子2を含む中空部)を有するリング状のステータ3が固
設されて構成されている。回転子2の外周面にはリング
状に凸部2bが形成され、一方、ステータ3の内周面に
はリング状に凹部3aが形成されていて、回転子2の凸
部2bがステータ3の凹部3aに嵌め込まれている。回
転子2の凸部2bには、永久磁石4がリング状に内設さ
れている。ステータ3には、コイル5が前記永久磁石4
に対向するようにリング状に内設されている。
Reference numeral 1 in the drawing denotes a rotation motor for rotating the held substrate W. This rotary motor 1
A ring-shaped rotor 2 having a hollow portion 2a having an open central portion, and a hollow portion having a central portion opened outside the rotor 2 concentrically with the rotor 2 (the hollow portion of the rotor 2) A ring-shaped stator 3 having a portion 2a and a hollow portion including the rotor 2) is fixedly provided. A ring-shaped convex portion 2b is formed on the outer peripheral surface of the rotor 2, while a ring-shaped concave portion 3a is formed on the inner peripheral surface of the stator 3, and the convex portion 2 b of the rotor 2 It is fitted in the recess 3a. A permanent magnet 4 is provided inside the protrusion 2 b of the rotor 2 in a ring shape. The stator 3 includes a coil 5 having the permanent magnet 4
And is provided in a ring shape so as to face the.

【0018】永久磁石4とコイル5とは、例えば、図3
に示すように構成される。永久磁石4は、回転中心Jを
中心として所定角度(図では90°)ごとに極性が反転
するようにリング状に設けられている。この永久磁石4
の周囲に複数個のコイル5がリング状に配置されてい
る。各コイル5は、個々に電流を流す方向を切り換えて
極性を反転可能に構成されている。各コイル5は、回転
中心Jを中心として所定角度(図では90°)ごとに複
数個(図では4個)のコイルブロック5aに分けられ、
このコイルブロック5a単位で制御される。各コイルブ
ロック5aを構成するコイル5は電流を流す方向を同じ
にして極性を同じにし、隣接するコイルブロック5a同
士は極性を反転させる。そして、例えば、図3(b)に
示すように、コイルブロック5aが時計周りに移動する
ように各コイル5の極性を順次切り換えることにより、
永久磁石4は時計周りに回転される。逆に、コイルブロ
ック5aが反時計周りに移動するように各コイル5の極
性を順次切り換えることにより、永久磁石4は反時計周
りに回転される。このように各コイル5を制御すること
により、ステータ3に対して回転子2を回転中心J周り
に回転させることができる。
The permanent magnet 4 and the coil 5 are, for example, as shown in FIG.
It is configured as shown in FIG. The permanent magnet 4 is provided in a ring shape such that the polarity is inverted at predetermined angles (90 ° in the drawing) around the rotation center J. This permanent magnet 4
, A plurality of coils 5 are arranged in a ring shape. Each coil 5 is configured to be able to reverse the polarity by individually switching the direction in which current flows. Each coil 5 is divided into a plurality (four in the figure) of coil blocks 5a at predetermined angles (90 ° in the figure) about the rotation center J, and
The control is performed in units of the coil block 5a. The coil 5 constituting each coil block 5a has the same polarity by making the direction of current flow the same, and the adjacent coil blocks 5a have opposite polarities. Then, for example, as shown in FIG. 3B, by sequentially switching the polarity of each coil 5 so that the coil block 5a moves clockwise,
The permanent magnet 4 is rotated clockwise. Conversely, by sequentially switching the polarity of each coil 5 so that the coil block 5a moves counterclockwise, the permanent magnet 4 is rotated counterclockwise. By controlling each coil 5 in this manner, the rotor 2 can be rotated around the rotation center J with respect to the stator 3.

【0019】上述のように、中央部に開口が形成された
中空部を有するリング状の回転子2と、回転子2と同芯
状に設けられ、中央部に開口が形成された中空部を有す
るリング状のステータ3とを備えて回転モーター1を構
成することにより、回転モーター1の中央部に中空部
(回転子の中空部2a)が形成される。
As described above, the ring-shaped rotor 2 having a hollow portion having an opening at the center and the hollow portion provided concentrically with the rotor 2 and having an opening at the center are provided. When the rotary motor 1 is configured to include the ring-shaped stator 3, a hollow portion (the hollow portion 2 a of the rotor) is formed in the center of the rotary motor 1.

【0020】ステータ3には、空気や不活性ガス(窒素
ガス等)などの気体の供給源(図示せず)に連通接続さ
れた気体バッファ6が内設されていて、この気体バッフ
ァ6から気体供給路7を経て、回転子2とステータ3と
の間の隙間8に気体を供給してステータ3に対して回転
子2を静圧気体軸受けで軸受けするように構成されてい
る。
The stator 3 is provided with a gas buffer 6 connected to a supply source (not shown) of a gas such as air or an inert gas (nitrogen gas or the like). A gas is supplied to a gap 8 between the rotor 2 and the stator 3 via a supply path 7, and the rotor 2 is supported on the stator 3 by a static pressure gas bearing.

【0021】ステータ3に対する回転子2の軸受けとし
ては、ベアリングなどを用いた動圧軸受けで構成しても
よいが、動圧軸受けの場合、静圧気体軸受けに比べてス
テータ3に対する回転子2の回転時の摩擦抵抗が高くな
るので、それだけ高速回転が実現し難い。また、基板W
に対する処理に薬液を用いる場合には、ステータ3と回
転子2との間の隙間8に薬液が流れ込むことがあるの
で、動圧軸受けの場合は、隙間8に設けられるベアリン
グなどに対して耐薬処置を施さなければならないなど製
作上面倒になる。これに対して、静圧気体軸受けの場合
は、ベアリングなどの部材が不要であるし、隙間8に供
給された気体が、隙間8から外部に吹き出すので、その
気体の吹き出しによって隙間8に薬液が流れ込むことを
防止することもできる。従って、高速回転にする場合
や、基板Wに対する処理に薬液を用いる場合などには、
ステータ3に対する回転子2の軸受けとして、動圧軸受
けよりも静圧気体軸受けで構成する方が好ましい。
The bearing of the rotor 2 with respect to the stator 3 may be constituted by a dynamic pressure bearing using a bearing or the like. In the case of a dynamic pressure bearing, however, the bearing of the rotor 2 with respect to the stator 3 is compared with a hydrostatic gas bearing. Since the frictional resistance during rotation increases, it is difficult to realize high-speed rotation. Also, the substrate W
When a chemical solution is used for the treatment of the hydrodynamic bearing, the chemical solution may flow into the gap 8 between the stator 3 and the rotor 2. Must be applied, and the top of the production will be overturned. On the other hand, in the case of the static pressure gas bearing, members such as bearings are not necessary, and the gas supplied to the gap 8 blows out from the gap 8 to the outside. Inflow can also be prevented. Therefore, in the case of rotating at a high speed or in the case of using a chemical solution for processing the substrate W,
It is preferable that the bearing of the rotor 2 with respect to the stator 3 be constituted by a static pressure gas bearing rather than a dynamic pressure bearing.

【0022】また、ステータ3には、永久磁石4の下面
に対向してホール素子9が内設されている。このホール
素子9は、磁力線の強弱や極性の判別が可能であるの
で、ホール素子9からの出力電圧に基づき、永久磁石4
の位置検出が可能となる。従って、このホール素子9を
位置センサとして用いて、回転中の回転子2を所定の停
止位置で停止させることができる。ホール素子9を複数
箇所に設ければ、回転中の回転子2を複数の停止位置で
停止させることもできる。
Further, a Hall element 9 is provided in the stator 3 so as to face the lower surface of the permanent magnet 4. Since the Hall element 9 can determine the strength and polarity of the magnetic force lines, the permanent magnet 4 can be determined based on the output voltage from the Hall element 9.
Can be detected. Therefore, by using the Hall element 9 as a position sensor, the rotating rotor 2 can be stopped at a predetermined stop position. If the Hall elements 9 are provided at a plurality of positions, the rotating rotor 2 can be stopped at a plurality of stop positions.

【0023】回転子2には、3個以上(図では3個)の
基板保持部材10が設けられている。これら基板保持部
材10により基板Wの外周端部が3箇所以上で保持さ
れ、ステータ3に対する回転子2の回転により、基板W
が回転中心J周りに回転される。
The rotor 2 is provided with three or more (three in the figure) substrate holding members 10. The outer peripheral edge of the substrate W is held at three or more positions by these substrate holding members 10, and the rotation of the rotor 2 with respect to the stator 3 causes the substrate W
Is rotated around the rotation center J.

【0024】なお、基板保持部材10は、基板Wを保持
する状態と保持を解除する状態とを採り得るように構成
されている。この切り換えは、例えば、以下のような構
成で実現することができる。
The substrate holding member 10 is configured to take a state of holding the substrate W and a state of releasing the holding. This switching can be realized by, for example, the following configuration.

【0025】図4、図5は、基板保持部材による基板の
保持とその解除を行う機構の一例の構成を示す図であ
る。
FIGS. 4 and 5 are views showing the structure of an example of a mechanism for holding and releasing the substrate by the substrate holding member.

【0026】各基板保持部材10は、それぞれ基端部が
揺動アーム11の先端部に連結されている。この揺動ア
ーム11が図4(a)に示す実線と二点鎖線とに間で揺
動されることで、基板Wを保持する状態と保持を解除す
る状態とが切り換えられる。すなわち、図の実線の状態
で、各基板保持部材10の先端部のくびれ部10aで基
板Wの外周端部を3箇所で保持する。一方、図の二点鎖
線の状態で、各基板保持部材10が基板Wから離れて基
板Wの保持を解除する。
Each of the substrate holding members 10 has a base end connected to a tip end of the swing arm 11. By swinging the swing arm 11 between the solid line and the two-dot chain line shown in FIG. 4A, the state of holding the substrate W and the state of canceling the holding are switched. That is, in the state of the solid line in the figure, the outer peripheral end of the substrate W is held at three places by the constricted portion 10a at the distal end of each substrate holding member 10. On the other hand, in the state of the two-dot chain line in the figure, each substrate holding member 10 separates from the substrate W and releases the holding of the substrate W.

【0027】上記揺動アーム11の揺動は以下のような
構成で実現されている。図4(a)、図5に示すよう
に、各揺動アーム11は、それぞれ基端部に筒状部材1
2が連結されている。各筒状部材12は回動自在に回転
子2に支持されている。各筒状部材12の中空部にはロ
ータ13が昇降自在に挿嵌されている。各ロータ13の
上端部には下降を規制するストッパー13aが設けられ
ている。また、各ロータ13の下端部は、1個のリング
状部材14に固定されていてリング状部材14の昇降に
よって各ロータ13が同期して昇降されるようになって
いる。リング状部材14の下方には、揺動部材15の先
端部15aが配置されている。この揺動部材15の基端
部15bには、エアシリンダ16のロッド16aの先端
が連結されていて、エアシリンダ16のロッド16aを
収縮・伸長させることで、揺動部材15の基端部15b
が上昇・下降され、揺動部材15の先端部15aが下降
・上昇される。揺動部材15の先端部15aが下降され
ている状態では、リング状部材14、各ロータ13の自
重で、図5の実線で示すように、各ロータ13は各筒状
部材12に対して下降されている。一方、揺動部材15
の先端部15aが上昇されると、リング状部材14が揺
動部材15の先端部15aに押し上げられて、各ロータ
13が各筒状部材12に対して同期して上昇される。
The swing of the swing arm 11 is realized by the following configuration. As shown in FIGS. 4A and 5, each swing arm 11 has a cylindrical member 1 at its base end.
2 are connected. Each tubular member 12 is rotatably supported by the rotor 2. A rotor 13 is inserted into a hollow portion of each tubular member 12 so as to be able to move up and down. At the upper end of each rotor 13 is provided a stopper 13a for restricting the lowering. The lower end of each rotor 13 is fixed to one ring-shaped member 14 so that each rotor 13 is moved up and down in synchronization with the elevating and lowering of the ring-shaped member 14. Below the ring-shaped member 14, a tip 15a of the swinging member 15 is arranged. The distal end of the rod 16a of the air cylinder 16 is connected to the proximal end 15b of the swing member 15, and the proximal end 15b of the swing member 15
Is raised and lowered, and the tip 15a of the swinging member 15 is lowered and raised. When the distal end 15a of the swinging member 15 is lowered, the rotor 13 is lowered with respect to each cylindrical member 12 by the weight of the ring-shaped member 14 and each rotor 13 as shown by a solid line in FIG. Have been. On the other hand, the swing member 15
Is raised, the ring-shaped member 14 is pushed up by the distal end 15a of the swinging member 15, and each rotor 13 is raised in synchronization with each cylindrical member 12.

【0028】各ロータ13には図4(b)に示すような
溝カム13bが刻設されている。図15に示すように、
各筒状部材12は内側にピン12aを突出させていて、
このピン12aがロータ13の溝カム13bに係合され
ている。エアシリンダ16のロッド16aが収縮され、
各筒状部材12に対して各ロータ13が下降されている
状態では、図4、図5の実線で示すように、各基板保持
部材10は基板Wの外周端部を3箇所で保持している。
そして、エアシリンダ16のロッド16aが伸長され
て、各ロータ13が各筒状部材12に対して上昇されて
いくと、各筒状部材12のピン12aが各ロータ13の
溝カム13bをなぞる結果、各筒状部材12は、各ロー
タ13に対して鉛直軸回りに回転され、この回転によっ
て各揺動アーム11が揺動され、図4(a)の二点鎖線
に示すように基板Wの保持が解除される。なお、各ロー
タ13は、リング状部材14に固定されているので、回
転せずに昇降動作のみ行われる。
Each rotor 13 is provided with a groove cam 13b as shown in FIG. As shown in FIG.
Each cylindrical member 12 has a pin 12a protruding inward,
The pin 12a is engaged with the groove cam 13b of the rotor 13. The rod 16a of the air cylinder 16 is contracted,
In a state where each rotor 13 is lowered with respect to each cylindrical member 12, each substrate holding member 10 holds the outer peripheral end of the substrate W at three places as shown by solid lines in FIGS. I have.
When the rod 16a of the air cylinder 16 is extended and each rotor 13 is raised with respect to each cylindrical member 12, the pin 12a of each cylindrical member 12 traces the groove cam 13b of each rotor 13. Each of the cylindrical members 12 is rotated about a vertical axis with respect to each of the rotors 13, whereby each of the swing arms 11 is swung by the rotation, and as shown by a two-dot chain line in FIG. The hold is released. In addition, since each rotor 13 is fixed to the ring-shaped member 14, only the elevating operation is performed without rotating.

【0029】また、図4、図5は、各基板保持部材10
による基板Wの保持とその解除の機構の一例を示すもの
で、上記以外の構成で各基板保持部材10による基板W
の保持とその解除を実現してもよい。また、基板保持部
材10の構成も実施例のものに限定されるものではな
い。
FIGS. 4 and 5 show each substrate holding member 10.
FIG. 3 shows an example of a mechanism for holding and releasing the substrate W by the substrate holding member 10 in a configuration other than the above.
And release thereof. Further, the configuration of the substrate holding member 10 is not limited to that of the embodiment.

【0030】回転モーター1は、回転モーター1の中央
部に形成される中空部(回転子2の中空部2a)の大き
さが、各基板保持部材10に保持された基板Wを回転さ
せたときの基板Wの回転中心Jから最も離れた基板Wの
端部が描く円と同等またはそれより大きくなるように構
成している。保持された基板Wは、基板Wの回転中心J
と回転中心Jから最も離れた基板Wの端部との間の長さ
を半径とした回転円内で回転される。例えば、図6
(a)に示すように、半導体ウエハのような円形基板W
を基板Wの中心CJ周りに回転させるときには回転円は
円形基板Wの外周になる。また、図6(b)に示すよう
に、液晶表示器用のガラス基板のような角形基板Wを基
板Wの中心CJ周りに回転させるときには回転円は図の
一点鎖線で示す円になる。この実施例では、回転モータ
ー1の中央部に形成される中空部の大きさが回転円と同
等またはそれより大きくなるように、回転子2、ステー
タ3を構成している。
The size of the hollow portion (the hollow portion 2a of the rotor 2) formed at the center of the rotary motor 1 is such that when the substrate W held by each substrate holding member 10 is rotated. Is configured to be equal to or larger than the circle drawn by the end of the substrate W farthest from the rotation center J of the substrate W. The held substrate W is the rotation center J of the substrate W.
And the end of the substrate W farthest from the rotation center J. For example, FIG.
As shown in (a), a circular substrate W such as a semiconductor wafer
Is rotated around the center CJ of the substrate W, the rotation circle becomes the outer periphery of the circular substrate W. As shown in FIG. 6B, when a rectangular substrate W such as a glass substrate for a liquid crystal display is rotated around the center CJ of the substrate W, the rotation circle becomes a circle indicated by a chain line in the figure. In this embodiment, the rotor 2 and the stator 3 are configured such that the size of the hollow portion formed at the center of the rotary motor 1 is equal to or larger than the rotating circle.

【0031】上記回転子2の表面(凸部2bの表面を含
む)や、ステータ3の表面(凹部3aの表面を含む)、
基板保持部材10の表面などは、炭化珪素(SiC)や
フッ素樹脂などの耐薬品性の素材で被覆されていて、基
板Wに対する洗浄処理の際に用いられる薬液による腐食
などを防止するように構成している。
The surface of the rotor 2 (including the surface of the convex portion 2b), the surface of the stator 3 (including the surface of the concave portion 3a),
The surface and the like of the substrate holding member 10 are coated with a chemical resistant material such as silicon carbide (SiC) or a fluororesin, and are configured to prevent corrosion by a chemical solution used in a cleaning process on the substrate W. doing.

【0032】各基板保持部材10に保持された基板Wの
上方と下方には、薬液や純水などの洗浄液を基板Wの上
面と下面に向けて噴射供給するノズル21、22が設け
られている。
Nozzles 21 and 22 are provided above and below the substrate W held by each substrate holding member 10 to supply a cleaning liquid such as a chemical solution or pure water toward the upper and lower surfaces of the substrate W. .

【0033】基板Wの上方のノズル21は、図示しない
移動機構により、基板Wの上面(通常は表面)の中心
(回転中心J)の上方の処理位置(図の実線で示す位
置)と、基板Wの外周外側の退避位置(図の二点鎖線で
示す位置)との間で移動可能に構成されている。
The nozzle 21 above the substrate W is moved by a moving mechanism (not shown) to a processing position above the center (rotation center J) of the upper surface (usually the front surface) of the substrate W (a position indicated by a solid line in FIG. It is configured to be movable between a retracted position (a position indicated by a two-dot chain line in the figure) on the outer periphery of W.

【0034】また、基板Wの下方のノズル22は、基板
Wの下面(通常は裏面)の中央部に向けて洗浄液を噴射
供給するように固定設置されている。
The nozzle 22 below the substrate W is fixedly installed so as to spray and supply the cleaning liquid toward the center of the lower surface (usually, the rear surface) of the substrate W.

【0035】次に、上記構成の装置の動作を説明する。
処理前の基板Wが各基板保持部材10に外周端部が保持
されると、ノズル21を退避位置から処理位置に移動さ
せる。そして、ステータ3と回転子2との間の隙間8に
気体を供給し、ステータ3に対して回転子2を回転させ
て、保持している基板Wを回転中心J周りに回転させ、
ノズル21、22から基板Wの両面に対して洗浄液を噴
射供給して、基板Wの両面に対して洗浄処理を施す。な
お、薬液洗浄を行う装置では、最初にノズル21、22
から薬液が基板Wの両面に噴射供給されて薬液洗浄が行
われ、次いで、ノズル21、22から純水が基板Wの両
面に噴射供給されて薬液の洗い流しなどのリンス洗浄が
行われる。また、単に純水洗浄を行う装置では、ノズル
21、22から純水が基板Wの両面に噴射供給されて純
水による基板洗浄が行われる。
Next, the operation of the apparatus having the above configuration will be described.
When the outer peripheral edge of the substrate W before processing is held by each substrate holding member 10, the nozzle 21 is moved from the retracted position to the processing position. Then, gas is supplied to the gap 8 between the stator 3 and the rotor 2, the rotor 2 is rotated with respect to the stator 3, and the held substrate W is rotated around the rotation center J,
The cleaning liquid is jetted and supplied to both surfaces of the substrate W from the nozzles 21 and 22 to perform the cleaning process on both surfaces of the substrate W. In an apparatus for cleaning a chemical solution, first, the nozzles 21 and 22 are used.
Then, a chemical solution is sprayed and supplied to both surfaces of the substrate W to perform chemical cleaning, and then, pure water is sprayed and supplied to both surfaces of the substrate W from the nozzles 21 and 22 to perform rinsing cleaning such as washing away the chemical solution. In an apparatus that simply performs pure water cleaning, pure water is jetted and supplied to both surfaces of the substrate W from the nozzles 21 and 22 to perform substrate cleaning with pure water.

【0036】所定の洗浄時間が経過すると、ノズル2
1、22からの洗浄液の噴射供給を停止し、基板Wの回
転を継続して、基板Wに付着している洗浄液を振り切
り、基板Wを乾燥させる。
When a predetermined cleaning time has elapsed, the nozzle 2
The supply of the cleaning liquid from the nozzles 1 and 22 is stopped, the rotation of the substrate W is continued, the cleaning liquid adhering to the substrate W is shaken off, and the substrate W is dried.

【0037】ノズル21、22からの洗浄液の噴射供給
を停止してから所定の乾燥時間が経過して基板Wが乾燥
すると、ステータ3に対する回転子2の回転を停止させ
て、基板Wの回転を停止させる。そして、ノズル21を
処理位置から退避位置に移動させ、各基板保持部材10
による基板Wの保持を解除して、処理済の基板Wが搬出
される。
When the substrate W is dried after a predetermined drying time has elapsed since the supply of the cleaning liquid from the nozzles 21 and 22 is stopped, the rotation of the rotor 2 with respect to the stator 3 is stopped, and the rotation of the substrate W is stopped. Stop. Then, the nozzle 21 is moved from the processing position to the retreat position, and each substrate holding member 10 is moved.
Is released, and the processed substrate W is carried out.

【0038】上記実施例装置によれば、保持された基板
Wの上方には障害物がないので、基板Wの上面(通常は
表面)に対する洗浄処理は支障なく行える。そして、回
転モーター1の中央部には中空部(回転子2の中空部2
a)が形成され、また、従来装置の回転軸やスピンベー
スなどを基板Wの下方に備えていないので、図1に示す
ように、回転モーター1の中空部を介して基板Wの下面
(通常は裏面)に対する洗浄処理を支障なく行える。
According to the above-described apparatus, since there is no obstacle above the held substrate W, the upper surface (usually the front surface) of the substrate W can be cleaned without any trouble. The hollow portion (the hollow portion 2 of the rotor 2)
a) is formed, and since the rotation axis and the spin base of the conventional device are not provided below the substrate W, as shown in FIG. Can be cleaned without any trouble.

【0039】また、上記実施例装置のように、回転モー
ター1の中空部の大きさを、基板Wの前記回転円(図6
参照)と同等またはそれより大きくすることで、基板W
の下面に対する処理をその面全面に対して施し易くな
る。
Further, as in the above-described embodiment, the size of the hollow portion of the rotary motor 1 is adjusted by the rotation circle of the substrate W (FIG. 6).
The same or larger than that of the substrate W
Can be easily applied to the entire lower surface.

【0040】例えば、ブラシを用いた洗浄は、通常、基
板Wを回転させながら、基板Wの面に洗浄液を供給し、
回転中の基板Wの面にブラシの毛を当接または若干浮か
せた状態でブラシ(ブラシ自身も自転されている)を基
板Wの回転中心と外周との間で基板Wの半径方向に往復
移動させて基板Wの面全面をブラシで洗浄する。上記実
施例装置によれば、このようなブラシ洗浄を、基板Wの
上面はもちろんのこと、基板Wの下面に対しても支障な
く施すことができる。
For example, in cleaning using a brush, a cleaning liquid is usually supplied to the surface of the substrate W while rotating the substrate W,
The brush (the brush itself is also rotated) is reciprocated in the radial direction of the substrate W between the rotation center and the outer periphery of the substrate W while the brush bristles abut or slightly float on the surface of the rotating substrate W. Then, the entire surface of the substrate W is cleaned with a brush. According to the above embodiment, such a brush cleaning can be performed on the lower surface of the substrate W as well as the upper surface of the substrate W without any trouble.

【0041】また、基板Wを回転させながら超音波ノズ
ルを基板Wの回転中心と外周との間で基板Wの半径方向
に往復移動させながら超音波が付加された洗浄液を回転
中の基板Wに噴射して基板Wの面全面に超音波洗浄を施
す場合にも、上記実施例装置によれば、基板Wの両面に
対して前記超音波洗浄を施すことができる。
Further, while the substrate W is being rotated, the ultrasonic nozzle is reciprocated in the radial direction of the substrate W between the rotation center and the outer periphery of the substrate W, and the cleaning liquid to which the ultrasonic wave is added is applied to the rotating substrate W. In the case where the ultrasonic cleaning is performed on the entire surface of the substrate W by spraying, the ultrasonic cleaning can be performed on both surfaces of the substrate W according to the above-described apparatus.

【0042】なお、図7に示すように、回転モーター1
の中空部の大きさは、基板Wの前記回転円(図6参照)
より小さくてもよい。このような場合には、図7の実線
に示すように、ノズル22から噴射供給される洗浄液が
回転子2に干渉しないように、ノズル22の配置位置を
調節したり、あるいは、図7の二点鎖線に示すように、
基板Wの下面の回転中心に向けて鉛直方向に洗浄液を噴
射供給するようにノズル22を配置すればよい。
Note that, as shown in FIG.
The size of the hollow portion is determined by the rotation circle of the substrate W (see FIG. 6).
It may be smaller. In such a case, as shown by the solid line in FIG. 7, the arrangement position of the nozzle 22 is adjusted so that the cleaning liquid jetted and supplied from the nozzle 22 does not interfere with the rotor 2, or as shown in FIG. As shown by the dotted line,
The nozzle 22 may be arranged so as to jet and supply the cleaning liquid in the vertical direction toward the rotation center on the lower surface of the substrate W.

【0043】また、上記実施例の回転モーター1は、回
転子2の外側にステータ3を同芯状に配設して構成した
が、それとは逆に、ステータ3の外側に回転子2を同芯
状に配設して回転モーター1を構成してもよい。ただ
し、ステータ3の外側に回転子2を配設する構成では、
一般的に、ステータ3に対して回転子2が大きくなり、
回転子2を回転するトルクが十分に得られず、そのた
め、回転子2(基板W)を高速に回転させ難くなる。従
って、回転モーター1は上記実施例のように回転子2の
外側にステータ3を同芯状に配設して構成する方が好ま
しい。
The rotary motor 1 of the above embodiment has the stator 3 arranged concentrically outside the rotor 2. Conversely, the rotor 2 is mounted outside the stator 3. The rotary motor 1 may be configured by being arranged in a core shape. However, in a configuration in which the rotor 2 is disposed outside the stator 3,
Generally, the rotor 2 is larger than the stator 3,
A sufficient torque for rotating the rotor 2 cannot be obtained, so that it is difficult to rotate the rotor 2 (substrate W) at high speed. Therefore, it is preferable that the rotary motor 1 is configured by arranging the stator 3 concentrically outside the rotor 2 as in the above embodiment.

【0044】また、上記実施例では、回転モーター1の
上方で基板Wを保持するように構成したが、図8に示す
ように、回転モーター1の下方で基板Wを保持するよう
に構成してもよい。
Further, in the above embodiment, the substrate W is held above the rotary motor 1, but as shown in FIG. 8, the substrate W is held below the rotary motor 1. Is also good.

【0045】さらに、回転モーター1の回転子2やステ
ータ3は、中央部が開口された中空部を有していればよ
いので、回転子2やステータ3は円筒状であってもよい
が、円筒状の回転子2やステータ3で回転モーター1を
構成すれば、回転モーター1の中央部に形成される中空
部を介して施す、回転モーター1側の基板Wの面に対す
る洗浄液を噴射供給しての洗浄処理などの処理が行い難
くなる。従って、上記実施例のように、回転子2やステ
ータ3は薄型のリング状であることが好ましい。また、
このように、薄型のリング状の回転子2やステータ3で
回転モーター1を構成すると、回転モーター1が薄型に
なり、そのような薄型の回転モーター1を用いて基板処
理装置を構成すれば、装置の高さを低くすることがで
き、例えば、装置を鉛直方向に積層し易くなるなど、装
置の高さ方向の自由度が高くなる。
Furthermore, since the rotor 2 and the stator 3 of the rotary motor 1 only need to have a hollow portion having an open central portion, the rotor 2 and the stator 3 may be cylindrical. When the rotary motor 1 is composed of the cylindrical rotor 2 and the stator 3, the cleaning liquid is injected and supplied to the surface of the substrate W on the rotary motor 1 side through a hollow portion formed at the center of the rotary motor 1. It becomes difficult to perform processing such as cleaning processing. Therefore, as in the above embodiment, it is preferable that the rotor 2 and the stator 3 have a thin ring shape. Also,
As described above, when the rotating motor 1 is configured by the thin ring-shaped rotor 2 and the stator 3, the rotating motor 1 is reduced in thickness. If a substrate processing apparatus is configured using such a thin rotating motor 1, The height of the device can be reduced, and the degree of freedom in the height direction of the device increases, for example, the devices can be easily stacked in the vertical direction.

【0046】また、図9に示すように、ステータ3の内
側に回転子2を配設して回転モーター1を構成し、この
回転モーター1の中空部の大きさを、基板Wの回転円
(図6参照)よりも大きくし、各基板保持部材10を回
転子2の内周面に設ければ、基板Wを回転モーター1の
中空部(回転子2の中空部2a)内で保持することが可
能となる。このような構成でも、保持された基板Wの上
面側および下面側は開口されているので、保持された基
板Wの上面および下面に処理を施すことができる。そし
て、このように構成した基板処理装置は、基板Wを回転
モーター1の上方または下方で保持するように構成した
基板処理装置に比べて装置の高さを一層低くすることが
できる。
Further, as shown in FIG. 9, the rotor 2 is disposed inside the stator 3 to constitute the rotary motor 1, and the size of the hollow portion of the rotary motor 1 is determined by the rotation circle ( If each substrate holding member 10 is provided on the inner peripheral surface of the rotor 2, the substrate W can be held in the hollow portion of the rotary motor 1 (the hollow portion 2 a of the rotor 2). Becomes possible. Even in such a configuration, the upper and lower sides of the held substrate W are open, so that the upper and lower surfaces of the held substrate W can be processed. The height of the substrate processing apparatus thus configured can be further reduced as compared with a substrate processing apparatus configured to hold the substrate W above or below the rotary motor 1.

【0047】なお、上記実施例では、基板Wに洗浄処理
を施す場合を例に採り説明したが、例えば、基板Wを回
転させながら基板Wの表面にレジスト液を吐出して、い
わよるスピンコート法で基板Wの表面にレジスト膜を形
成するレジスト塗布処理を基板Wの表面に施すととも
に、基板Wの裏面に純水などを供給してレジスト液のミ
ストが基板Wの裏面側に回り込んで基板Wの裏面に付着
するのを防止する、いわよるバックリンス処理を基板W
の裏面に施す場合にも、本発明によれば簡単な構成で実
現することができる。
In the above embodiment, the case where the substrate W is subjected to the cleaning process has been described as an example. However, for example, a resist solution is discharged onto the surface of the substrate W while the substrate W is being rotated, so-called spin coating is performed. A resist coating process for forming a resist film on the surface of the substrate W by the method is performed on the surface of the substrate W, and pure water or the like is supplied to the back surface of the substrate W so that the mist of the resist liquid flows around the back surface of the substrate W A so-called back rinsing process for preventing the substrate W from adhering to the back surface of the substrate W is performed.
The present invention can also be realized with a simple configuration when applied to the back surface of the device.

【0048】また、本発明は、その他の基板処理を施す
装置にも適用実施することができる。
Further, the present invention can be applied to an apparatus for performing other substrate processing.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、基板を回転するための回転モ
ーターを、中央部に開口が形成された中空部を有する回
転子とステータとを同芯状に設けて構成したので、回転
モーターの中央部には中空部が形成される。また、基板
を保持する基板保持手段を、回転モーターの回転子に設
け、基板を保持するように構成したので、従来装置のよ
うに基板の下面側にモーターなどが配置されて鉛直方向
に場所をとるということもない。また、保持された基板
の回転モーター側と反対側の面に対しては何ら障害物が
ないので自由に処理を施すことができ、保持された基板
の回転モーター側の面に対しては、モーターなどの障害
物がなく、回転モーターの中空部から処理を施すことが
でき、基板の両面に対して好適に処理を施すことができ
る。
As is apparent from the above description, according to the first aspect of the present invention, a rotating motor for rotating a substrate is provided with a rotor having a hollow portion having an opening at a central portion. Since the stator and the stator are provided concentrically, a hollow portion is formed at the center of the rotary motor. In addition, since the substrate holding means for holding the substrate is provided on the rotor of the rotary motor and configured to hold the substrate, a motor or the like is arranged on the lower surface side of the substrate as in the conventional device, so that the space is vertically set. I do not take it. Also, since there is no obstacle on the surface of the held substrate opposite to the rotation motor side, the processing can be performed freely, and the surface of the held substrate on the rotation motor side can be processed by the motor. The processing can be performed from the hollow portion of the rotary motor without any obstacle such as the above, and the processing can be suitably performed on both surfaces of the substrate.

【0050】請求項2に記載の発明によれば、ステータ
に対する回転子の軸受けを静圧気体軸受けで構成したの
で、ベアリングなどの動圧軸受けで構成するよりも、ス
テータに対する回転子の回転時の摩擦抵抗を低くでき、
回転子(基板)をより高速に回転させることができる。
また、基板に対する処理で薬液を用いる場合には、ステ
ータと回転子との隙間への薬液の流れ込みを防止するこ
ともできる。
According to the second aspect of the present invention, since the bearing of the rotor with respect to the stator is constituted by the hydrostatic gas bearing, the rotation of the rotor with respect to the stator can be reduced rather than by the dynamic pressure bearing such as a bearing. Friction resistance can be reduced,
The rotor (substrate) can be rotated at a higher speed.
In addition, when a chemical is used in the processing for the substrate, it is possible to prevent the chemical from flowing into the gap between the stator and the rotor.

【0051】請求項3に記載の発明によれば、回転モー
ターの中央部に形成される中空部の大きさが、基板保持
手段に保持された基板を回転させたときの基板の回転中
心から最も離れた基板の端部が描く円と同等またはそれ
より大きくなるように回転モーターを構成したので、保
持した基板の両面全面に対して好適に処理を施すことが
できる。また、基板を回転子の中空部内で保持すること
も可能となり、回転モーターの上方または下方で基板を
保持する場合に比べて基板処理装置の高さを低くするこ
とができる。
According to the third aspect of the present invention, the size of the hollow portion formed at the center of the rotary motor is the smallest from the center of rotation of the substrate when the substrate held by the substrate holding means is rotated. Since the rotary motor is configured so as to be equal to or larger than the circle drawn by the edge of the distant substrate, it is possible to suitably perform processing on both surfaces of the held substrate. Further, the substrate can be held in the hollow portion of the rotor, and the height of the substrate processing apparatus can be reduced as compared with the case where the substrate is held above or below the rotary motor.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る基板処理装置の構成を
示す縦断面図である。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view illustrating a configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施例装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the embodiment device of FIG. 1;

【図3】回転子に内設される永久磁石とステータに内設
されるコイルの一例の構成を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of an example of a permanent magnet provided in a rotor and a coil provided in a stator;

【図4】基板保持部材による基板の保持とその解除を行
う機構の一例の構成を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of an example of a mechanism for holding and releasing a substrate by a substrate holding member.

【図5】同じく、基板保持部材による基板の保持とその
解除を行う機構の一例の構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an example of a mechanism for holding and releasing a substrate by a substrate holding member.

【図6】基板が回転されるときの回転円を説明するため
の図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining a rotating circle when a substrate is rotated.

【図7】回転モーターの中空部を小さくした変形例の構
成を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a modification in which the hollow portion of the rotary motor is reduced.

【図8】基板を回転モーターの下方で保持する変形例の
構成を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a modification in which a substrate is held below a rotary motor.

【図9】基板を回転モーターの中空部内で保持する変形
例の構成を示す図である。
FIG. 9 is a view showing a configuration of a modification in which a substrate is held in a hollow portion of a rotary motor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回転モーター 2 回転子 3 ステータ 7 気体供給路 8 回転子とステータとの間の隙間 10 基板保持部材 21、22 洗浄液供給用のノズル W 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Rotary motor 2 Rotor 3 Stator 7 Gas supply path 8 Gap between rotor and stator 10 Substrate holding members 21 and 22 Cleaning liquid supply nozzle W Substrate

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を回転させてその基板に所定の処理
を施す基板処理装置において、 中央部が開口された中空部を有する回転子と、前記回転
子と同芯状に設けられ、中央部が開口された中空部を有
するステータとを備えた回転モーターと、 前記回転子に設けられ、基板を保持する基板保持手段
と、 を備えたことを特徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for rotating a substrate to perform a predetermined process on the substrate, comprising: a rotor having a hollow portion having an open central portion; A substrate processing apparatus, comprising: a rotation motor including a stator having a hollow portion with an opening; and substrate holding means provided on the rotor and holding a substrate.
【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置におい
て、 前記回転モーターのステータに対して前記回転子を静圧
気体軸受けで軸受けしたことを特徴とする基板処理装
置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the rotor is supported by a static pressure gas bearing with respect to a stator of the rotary motor.
【請求項3】 請求項1または2に記載の基板処理装置
において、 前記回転モーターの中央部に形成される中空部の大きさ
が、前記基板保持手段に保持された基板を回転させたと
きの基板の回転中心から最も離れた基板の端部が描く円
と同等またはそれより大きくなるように前記回転モータ
ーを構成したことを特徴とする基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the size of the hollow formed in the center of the rotary motor is such that the size of the hollow held in the substrate holding means is increased. A substrate processing apparatus, wherein the rotation motor is configured to be equal to or larger than a circle drawn by an end of the substrate farthest from the rotation center of the substrate.
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