JPH0993116A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JPH0993116A
JPH0993116A JP7242669A JP24266995A JPH0993116A JP H0993116 A JPH0993116 A JP H0993116A JP 7242669 A JP7242669 A JP 7242669A JP 24266995 A JP24266995 A JP 24266995A JP H0993116 A JPH0993116 A JP H0993116A
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inverter
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transistor
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate the need for timing adjustment accompanying the adjustment of a slew rate by revising a power supply voltage for a pre-stage inverter gate and a post-stage inverter gate in opposite directions with the same quantity. SOLUTION: A 1st inverter gate 5 is provided in a 1st path 2 and a 2nd inverter gate 6 is provided in a 2nd path 3. A 3rd inverter gate 8 is provided in the post stage of the 1st inverter gate 5 and a 4th inverter gate 9 is provided in a post stage of the 2nd inverter gate 6. That is, two stages of the inverter gates of the same configuration are provided in each path. A control signal is provided reversely in the 1st inverter gate 5 and the 2nd inverter gate 6 with each other and a control signal is provided reversely in the 2nd inverter gate 6 and the 4th inverter gate 9 with each other. That is, the delay in the pre-stage and the post-stage inverter gates is set complementarily.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路に
関し、特に、出力信号のスルーレート調節機能を搭載し
た半導体集積回路に関する。近年、半導体集積回路の動
作速度向上が著しく、例えば、100MHz(クロック
速度)を超えるCPUも珍しくないが、かかる高速タイ
プの半導体集積回路をプリント基板に搭載した場合、プ
リント基板の設計によっては、システム動作が不安定に
なることがあった。高速タイプの半導体集積回路からの
出力信号の多くは、当該半導体集積回路のクロックスピ
ードに同期しており、同信号の立ち上がりや立ち下がり
がきわめて急峻になっている。一般に、急激に変化する
信号波形(典型的には方形波)は、信号の繰り返し周波
数を中心にそのn倍(nは整数)の高調波を含むことが
知られており、nの最大値は、波形が急激に変化するほ
ど大きくなる。このため、高速タイプの半導体集積回路
を実装したプリント基板の伝送線路から電磁的な放射波
が発生し、例えば、隣接する伝送線路等にノイズを誘起
する結果、システム動作が不安定になることがあった。
したがって、高速タイプの半導体集積回路を実装するプ
リント基板には、伝送線路の間隔を広げたり、電磁的な
遮へいを施したりして有効な周波数対策を行ったほぼ専
用品に近いものを選択する必要があり、汎用のプリント
基板を使用できないため、システムコストがアップした
り、システム構成の自由度が失われるという不都合があ
った。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a semiconductor integrated circuit equipped with a slew rate adjusting function for output signals. In recent years, the operating speed of semiconductor integrated circuits has been remarkably improved, and for example, CPUs exceeding 100 MHz (clock speed) are not uncommon, but when such a high-speed type semiconductor integrated circuit is mounted on a printed circuit board, the system may depend on the design of the printed circuit board. The operation sometimes became unstable. Most of the output signals from the high-speed type semiconductor integrated circuit are synchronized with the clock speed of the semiconductor integrated circuit, and the rising and falling edges of the signal are extremely sharp. In general, it is known that a signal waveform that changes abruptly (typically, a square wave) includes n times (n is an integer) higher harmonics around the repetition frequency of the signal, and the maximum value of n is , The larger the waveform changes, the larger it becomes. Therefore, an electromagnetic radiation wave is generated from the transmission line of the printed circuit board on which the high-speed type semiconductor integrated circuit is mounted, and for example, noise may be induced in the adjacent transmission line, resulting in unstable system operation. there were.
Therefore, it is necessary to select a printed circuit board on which a high-speed type semiconductor integrated circuit is mounted, which is close to a dedicated product that has effective frequency countermeasures by widening the transmission line intervals and providing electromagnetic shielding. However, since a general-purpose printed circuit board cannot be used, there are inconveniences such as an increase in system cost and a loss of flexibility in system configuration.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は上記不都合を解決するために考案
された公知の、いわゆる「スルーレート調節回路」であ
る。図3において、INは半導体集積回路内部で作られ
た信号であり、上述のとおり、立ち上がりや立ち下がり
がきわめて急峻な波形を有する信号である。信号IN
は、バッファ1で反転された後、二つの経路(便宜的に
第1の経路2、第2の経路3と言う)に分かれて進み、
最終的に、バッファ4から出力信号OUTとして取り出
される。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a known so-called "slew rate adjusting circuit" devised to solve the above-mentioned inconvenience. In FIG. 3, IN is a signal created inside the semiconductor integrated circuit, and as described above, IN is a signal having an extremely steep rise and fall waveform. Signal IN
Is inverted in the buffer 1 and then divided into two paths (referred to as a first path 2 and a second path 3 for convenience),
Finally, it is taken out from the buffer 4 as the output signal OUT.

【0003】第1の経路2には、第1のインバータゲー
ト5が設けられている。また、第2の経路3には、第2
のインバータゲート6が設けられている。これら二つの
インバータゲート5、6は同一の構成を有しており、一
体としてスルーレート調節手段を構成する。代表して第
1のインバータゲート5でその構成を説明すると、5a
はPチャネルMOSトランジスタTP51 とNチャネルM
OSトランジスタTN5 1 からなる一般的なCMOSイン
バータゲート部であり、TP51 と高電位電源Vccとの
間には高電位側の可変抵抗負荷部5bが、また、TN51
と低電位電源(典型的にはグランド)との間には低電位
側の可変抵抗負荷部5cがそれぞれ接続されている。な
お、トランジスタの添え字の1番目は第1又は第2のイ
ンバータゲートの符号を表している。例えば、TN51
添え字の1番目は「5」であるから、このTN51 は第1
のインバータゲート5のCMOSインバータゲート部5
aのNチャネルMOSトランジスタであることを示して
いる。二つの可変抵抗負荷部5b、5cは、並列接続さ
れた複数(特に限定しないが3個)のMOSトランジス
タで構成されており、トランジスタのチャネルタイプ
(導電型)は、高電位側にあってはPチャネル(T
P52 、TP53 、TP54 )に、また、低電位側にあっては
Nチャネル(TN52 、TN53 、TN54 )に統一されてい
る。
A first inverter gate 5 is provided on the first path 2. In addition, the second route 3 has a second
Inverter gate 6 is provided. These two inverter gates 5 and 6 have the same structure and integrally form a slew rate adjusting means. The structure of the first inverter gate 5 will be described as a representative.
Is a P channel MOS transistor T P51 and an N channel M
A general CMOS inverter gate portion consisting OS transistor T N5 1, the variable resistive load unit 5b of the high potential side between the T P51 the high potential power supply Vcc is, also, T N51
The variable resistance load unit 5c on the low potential side is connected between the low potential power supply (typically ground) and the low potential power supply. The first subscript of the transistor represents the code of the first or second inverter gate. For example, the first subscript of T N51 is "5", so this T N51 is the first
Inverter gate 5 CMOS inverter gate unit 5
It is shown to be an N-channel MOS transistor of a. The two variable resistance load units 5b and 5c are composed of a plurality (three, although not particularly limited) of MOS transistors connected in parallel, and the channel type (conductivity type) of the transistors is not on the high potential side. P channel (T
P52 , TP53 , TP54 ) and, on the low potential side, N channels ( TN52 , TN53 , TN54 ).

【0004】ここで、各可変抵抗負荷部5b、5cの一
つのトランジスタ(図では左端のトランジスタ)は、C
MOSインバータゲート部5aの同一導電型のトランジ
スタと同時にオンするようになっており、すなわち、T
P52 のゲートが低電位電源に接続されるとともにTN52
のゲートがVccに接続されており、さらに、他のトラ
ンジスタ(図では中央と右端のトランジスタ;TP53
P54 、TN53 、TN5 4 、TP63 、TP64 、TN63 、T
N64 )は、所定の制御信号TC1、TC2及びその反転信号
C1バー、TC2バーの論理に従ってオンオフするように
なっている。具体的には、TP53 とTP63 がTC1バーの
論理に従ってオンオフし、TP54 とTP6 4 がTC2バーの
論理に従ってオンオフし、TN53 とTN63 がTC1の論理
に従ってオンオフし、TN54 とTN64 がTC2の論理に従
ってオンオフするようになっている。なお、図4は所定
の制御信号TC1、TC2及びその反転信号TC1バー、TC2
バーを生成するための回路図である。制御信号TC1、T
C2をそのまま取り出すと共に、インバータゲート7a、
7bを介してその逆論理の信号TC1バー、TC2バーを取
り出している。
Here, one transistor (the transistor at the left end in the figure) of each variable resistance load section 5b, 5c is C
It is designed to turn on at the same time as the transistors of the same conductivity type of the MOS inverter gate section 5a, that is, T
The gate of P52 is connected to the low potential power supply and T N52
Has its gate connected to Vcc, and further other transistors (in the figure, the center and rightmost transistors; T P53 ,
T P54 , T N53 , T N5 4 , T P63 , T P64 , T N63 , T
N64 ) is turned on / off according to the logic of predetermined control signals T C1 , T C2 and its inverted signals T C1 bar, T C2 bar. Specifically, T P53 and T P63 are turned on and off according to the logic of T C1 bar, T P54 and T P6 4 are turned on and off according to the logic of T C2 bar, and T N53 and T N63 are turned on and off according to the logic of T C1 , T N54 and T N64 are turned on and off according to the logic of T C2 . Note that FIG. 4 shows the predetermined control signals T C1 and T C2 and their inverted signals T C1 and T C2.
It is a circuit diagram for generating a bar. Control signals T C1 , T
C2 is taken out as it is, and the inverter gate 7a,
The inverse logic signals T C1 and T C2 are taken out via 7b.

【0005】次表1、2は、制御信号TC1、TC2の論理
と、可変抵抗負荷部5a、5b、6a、6bのトランジ
スタ(TP53 、TP54 、TN53 、TN54 、TP63 、T
P64 、TN63 、TN64 )のオンオフ動作との対応表であ
る。 但し、ON はオン状態、−はオフ状態を表す。
The following Tables 1 and 2 show the logics of the control signals T C1 and T C2 and the transistors (T P53 , T P54 , T N53 , T N54 and T P63) of the variable resistance load units 5a, 5b, 6a and 6b. T
P64 , TN63 , TN64 ) on / off operation. However, ON represents an ON state and − represents an OFF state.

【0006】表1、2において、制御No. =0(TC1
C2が共に“L”論理)のときは、いずれのトランジス
タもオフ状態にある。したがって、このときには、第1
及び第2のインバータゲート5、6の各可変抵抗負荷部
5b、5c、6b、6cの左端の一つのトランジスタ
(TP52 、TN52 、TP62 、TN62 )しかオン状態にな
らないから、各可変抵抗負荷部5b、5c、6b、6c
の抵抗値は、一つのトランジスタのチャネルオン抵抗の
値(便宜的にR0 で表す)によって与えられる。
In Tables 1 and 2, control No. = 0 (T C1 ,
When both T C2 are "L" logic, all the transistors are off. Therefore, at this time, the first
And only one transistor (T P52 , T N52 , T P62 , T N62 ) at the left end of each variable resistance load section 5b, 5c, 6b, 6c of the second inverter gates 5, 6 is turned on. Resistive load parts 5b, 5c, 6b, 6c
The resistance value of 1 is given by the value of the channel on resistance of one transistor (represented by R 0 for convenience).

【0007】次に、制御No. =1のときは、上記の一つ
のトランジスタ(TP52 、TN52 、TP62 、TN62 )に
加え、中央のトランジスタ(TP53 、TN53 、TP63
N6 3 )もオン状態になる。したがって、このときの各
可変抵抗負荷部5b、5c、6b、6cの抵抗値は、一
つのトランジスタのチャネルオン抵抗と、中央のトラン
ジスタのチャネルオン抵抗との並列合成値(便宜的にR
1 で表す)によって与えられる。
Next, when the control No. = 1, in addition to the above-mentioned one transistor (T P52 , T N52 , T P62 , T N62 ), the central transistor (T P53 , T N53 , T P63 ,
T N6 3 ) is also turned on. Therefore, the resistance value of each variable resistance load unit 5b, 5c, 6b, 6c at this time is a parallel combined value of the channel on resistance of one transistor and the channel on resistance of the central transistor (for convenience, R
Represented by 1 ).

【0008】次に、制御No. =2のときは、上記の一つ
のトランジスタ(TP52 、TN52 、TP62 、TN62 )に
加え、右端のトランジスタ(TP54 、TN54 、TP64
N6 4 )もオン状態になる。したがって、このときの各
可変抵抗負荷部5b、5c、6b、6cの抵抗値は、一
つのトランジスタのチャネルオン抵抗と、右端のトラン
ジスタのチャネルオン抵抗との並列合成値(便宜的にR
2 で表す)によって与えられる。
Next, when the control No. = 2, in addition to the above-mentioned one transistor (T P52 , T N52 , T P62 , T N62 ), the rightmost transistor (T P54 , T N54 , T P64 ,
T N6 4 ) is also turned on. Therefore, the resistance value of each variable resistance load unit 5b, 5c, 6b, 6c at this time is a parallel combined value of the channel on resistance of one transistor and the channel on resistance of the transistor at the right end (for convenience, R
Represented by 2 ).

【0009】最後に、制御No. =3のときは、上記の一
つのトランジスタ(TP52 、TN52、TP62 、T
N62 )、中央のトランジスタ(TP53 、TN53 、T
P63 、TN63 )、及び右端のトランジスタ(TP54 、T
N54 、TP64 、TN64 )のすべてがオン状態になる。し
たがって、このときの各可変抵抗負荷部5b、5c、6
b、6cの抵抗値は、一つのトランジスタのチャネルオ
ン抵抗と、中央のトランジスタのチャネルオン抵抗と、
右端のトランジスタのチャネルオン抵抗との並列合成値
(便宜的にR3 で表す)によって与えられる。
Finally, when the control No. = 3, the above-mentioned one transistor (T P52 , T N52 , T P62 , T
N62 ), central transistor (T P53 , T N53 , T
P63 , T N63 ) and the rightmost transistor (T P54 , T
N54 , T P64 , T N64 ) are all turned on. Therefore, at this time, the variable resistance load units 5b, 5c, 6
The resistance values of b and 6c are the channel on resistance of one transistor and the channel on resistance of the central transistor,
It is given by a parallel combined value (represented by R 3 for convenience) with the channel on resistance of the transistor at the right end.

【0010】以上のことから、各トランジスタのチャネ
ルオン抵抗が略等しいとすると、次式が成立する。 R0 >R1 (=R2 )、かつ、R1 (=R2 )>R3 ……… したがって、式によれば、第1及び第2のインバータ
ゲート5、6のCMOSインバータゲート部5a、6a
に加わる電源電圧を、大(R3 )、中(R2 又はR
1 )、小(R0 )の3段階に切り換えることができるか
ら、同電源電圧の大きさに対応して、入力信号INの立
ち上がり立ち下がりの傾斜を3段階に変化させることが
でき、スルーレートを調節した出力信号OUTを得るこ
とができる。
From the above, assuming that the channel on resistances of the respective transistors are substantially equal to each other, the following equation holds. R 0 > R 1 (= R 2 ), and R 1 (= R 2 )> R 3 ...... Therefore, according to the equation, the CMOS inverter gate section 5 a of the first and second inverter gates 5 and 6 is obtained. , 6a
The power supply voltage applied to the high (R 3 ), medium (R 2 or R
1 ) and small (R 0 ) can be switched to three stages, so the slope of rising and falling of the input signal IN can be changed in three stages according to the magnitude of the power supply voltage, and the slew rate can be changed. It is possible to obtain the output signal OUT which is adjusted.

【0011】図5は入力信号INと出力信号OUTの対
応図であり、出力信号OUTとして三つの波形A、B、
Cが示されている。波形Aは、ほぼ入力信号INと同程
度の立ち上がり傾斜を持っているが、波形B、波形Cの
順に立ち上がりが緩やかになっている。波形Aは制御N
o. =3のとき(R3 )のもの、波形Bは制御No. =2
(又は1)のとき(R2 又はR1 )のもの、波形Cは制
御No. =0のとき(R0)のものである。プリント基板
の特性に対応した最適な制御No. を選択すればよい。
FIG. 5 is a correspondence diagram of the input signal IN and the output signal OUT. As the output signal OUT, three waveforms A, B, and
C is shown. The waveform A has almost the same rising slope as the input signal IN, but the rising is gentle in the order of the waveform B and the waveform C. Waveform A is control N
When o. = 3 (R 3 ), waveform B is control No. = 2
In the case of (or 1) (R 2 or R 1 ), the waveform C is in the case of control No. = 0 (R 0 ). It is sufficient to select the optimum control No. that corresponds to the characteristics of the printed circuit board.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の半導体集積回路にあっては、第1及び第2のイン
バータゲート5、6の電源電圧を加減することによっ
て、出力信号OUTの立ち上がりや立ち下がりの傾斜を
コントロールし、スルーレートを調節する構成となって
いたため、図5にも示すように、出力信号OUTの立ち
上がりや立ち下がりの傾斜が緩やかになるほど、信号遅
延が増えるという不都合があり、信号スキューを回避す
るために、半導体集積回路間の信号タイミングを微調整
しなければならないという問題点があった。
However, in such a conventional semiconductor integrated circuit, the rise and fall of the output signal OUT is controlled by adjusting the power supply voltage of the first and second inverter gates 5 and 6. Since the slew rate is controlled by adjusting the slope of the output signal OUT, there is a disadvantage that the signal delay increases as the rising or falling slope of the output signal OUT becomes gentle as shown in FIG. In order to avoid the skew, there is a problem that the signal timing between the semiconductor integrated circuits must be finely adjusted.

【0013】そこで、本発明は、スルーレート調節に伴
うタイミング調整を不要にすることを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to eliminate the need for timing adjustment associated with slew rate adjustment.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、インバータゲートの電源電圧を変更する
ことにより、該インバータゲートを介して出力される信
号の立ち上がりや立ち下がりの傾斜を調整するスルーレ
ート調節手段を有する半導体集積回路において、前記イ
ンバータゲートを2段構成とするとともに、前段のイン
バータゲートと後段のインバータゲートの双方の電源電
圧を同量、かつ、逆向きに変更し得る電源電圧変更手段
を備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention changes the power supply voltage of the inverter gate so that the slope of rising or falling of a signal output through the inverter gate is changed. In a semiconductor integrated circuit having a slew rate adjusting means for adjusting, the inverter gate has a two-stage configuration, and the power supply voltages of both the front-stage inverter gate and the second-stage inverter gate can be changed in the same amount and in opposite directions. A power supply voltage changing means is provided.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。図1は本発明に係る半導体集積回路の
一実施例を示す図である。なお、以下の説明において、
従来例と共通する構成要素には同一の符号を付すととも
に、その説明を省略する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a semiconductor integrated circuit according to the present invention. In the following description,
The same components as those of the conventional example are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

【0016】第1の経路2には、従来例と同様の第1の
インバータゲート5が設けられており、また、第2の経
路3にも、従来例と同様の第2のインバータゲート6が
設けられているが、本実施例では、さらに、第1のイン
バータゲート5の後段に第3のインバータゲート8を設
けると共に、第2のインバータゲート6の後段に第4の
インバータゲート9を設けている。すなわち、各経路毎
に、同一構成の2段のインバータゲートを設けている。
なお、本実施例でも、トランジスタの添え字の1番目は
第1〜第4のインバータゲートの符号を表している。例
えば、TN82 の添え字の1番目は「8」であるから、こ
のTN81 は第3のインバータゲート8のCMOSインバ
ータゲート部8aのNチャネルMOSトランジスタであ
ることを示している。
The first path 2 is provided with a first inverter gate 5 similar to the conventional example, and the second path 3 is also provided with a second inverter gate 6 similar to the conventional example. Although provided, in the present embodiment, a third inverter gate 8 is further provided after the first inverter gate 5 and a fourth inverter gate 9 is provided after the second inverter gate 6. There is. That is, two stages of inverter gates having the same structure are provided for each path.
Also in this embodiment, the first subscript of the transistor indicates the reference numeral of the first to fourth inverter gates. For example, since the first subscript of T N82 is "8", this indicates that T N81 is the N-channel MOS transistor of the CMOS inverter gate portion 8a of the third inverter gate 8.

【0017】ここで、第1のインバータゲート5と第3
のインバータゲート8に対する制御信号(TC1、TC2
C1バー、TC2バー)の与え方は逆である。同様に、第
2のインバータゲート6と第4のインバータゲート9に
対する同制御信号の与え方も逆である。例えば、第1の
インバータゲート5の高電位側の可変抵抗負荷部5bに
はTC1バーとTC2バーが与えられ、低電位側の可変抵抗
負荷部5cにはTC1とTC2が与えられているが、第3の
インバータゲート8の高電位側の可変抵抗負荷部8bに
はTC1とTC2が与えられ、低電位側の可変抵抗負荷部8
cにはTC1バーとTC2バーが与えられている。このよう
に逆論理の制御信号を与えることによって、前段のイン
バータゲートと後段のインバータゲートの双方の電源電
圧を同量、かつ、逆向きに変更できるようになる。した
がって、制御信号TC1、TC2、T C1バー、TC2バー、及
び、第1〜第4のインバータゲート5、6、8、9の各
可変抵抗負荷部5b、5c、6b、6c、8b、8c、
9b、9cは、一体として発明の要旨に記載の電源電圧
変更手段としての機能を有している。
Here, the first inverter gate 5 and the third inverter gate 5
Control signal (TC1, TC2,
TC1Bar, TC2The way of giving a bar is the opposite. Similarly, the
2 inverter gates 6 and 4th inverter gate 9
The method of giving the same control signal to the opposite is also the reverse. For example, the first
In the variable resistance load section 5b on the high potential side of the inverter gate 5,
Is TC1Bar and TC2Variable resistance on the low potential side given the bar
The load section 5c has a TC1And TC2Is given, but the third
In the variable resistance load section 8b on the high potential side of the inverter gate 8
Is TC1And TC2Variable resistance load unit 8 on the low potential side
T for cC1Bar and TC2A bar is given. like this
By applying an inverse logic control signal to the
Power supply for both the inverter gate and the inverter gate in the latter stage
The pressure can be changed in the same amount and in the opposite direction. did
Therefore, the control signal TC1, TC2, T C1Bar, TC2Bar and
And each of the first to fourth inverter gates 5, 6, 8, 9
Variable resistance load parts 5b, 5c, 6b, 6c, 8b, 8c,
9b and 9c are integrated as a power supply voltage described in the gist of the invention.
It has a function as a changing means.

【0018】次に、作用を説明する。前表1、2におい
て、制御No. =0にすると、第1のインバータゲート5
又は第2のインバータゲート6の出力に現れる信号の立
ち上がりや立ち下がりの傾斜が最も緩やかになるととも
に、その信号の遅延量が最大になり、また、制御No.=
3にすると、第1のインバータゲート5又は第2のイン
バータゲート6の出力に現れる信号の立ち上がりや立ち
下がりの傾斜が最も急になるとともに、その信号の遅延
量が最小になるが、第3のインバータゲート8や第4の
インバータゲート9の動作は全くこの逆になる。
Next, the operation will be described. In Tables 1 and 2 above, if control No. = 0, the first inverter gate 5
Alternatively, the slope of rising and falling of the signal appearing at the output of the second inverter gate 6 becomes the gentlest, and the delay amount of the signal becomes maximum, and the control No. =
When it is set to 3, the slope of the rising or falling of the signal appearing at the output of the first inverter gate 5 or the second inverter gate 6 becomes the steepest and the delay amount of the signal becomes the minimum. The operations of the inverter gate 8 and the fourth inverter gate 9 are completely opposite.

【0019】すなわち、制御No. =0のときには、第3
のインバータゲート8又は第4のインバータゲート9の
出力に現れる信号の立ち上がりや立ち下がりの傾斜が最
も急になるとともに、その信号の遅延量が最小になり、
また、制御No. =3にすると、第3のインバータゲート
8又は第4のインバータゲート9の出力に現れる信号の
立ち上がりや立ち下がりの傾斜が最も緩やかになるとと
もに、その信号の遅延量が最大になる。次表3は、制御
No. と遅延量との関係をまとめたものである。
That is, when the control No. = 0, the third
Of the signal appearing at the output of the inverter gate 8 or the fourth inverter gate 9 becomes steepest, and the amount of delay of the signal becomes the smallest,
Further, when the control No. = 3, the rising or falling slope of the signal appearing at the output of the third inverter gate 8 or the fourth inverter gate 9 becomes the gentlest, and the delay amount of the signal becomes maximum. Become. Table 3 below shows the control
This is a summary of the relationship between No. and delay amount.

【0020】 表3からも理解されるように、第1及び第2のインバー
タゲート(5,6)と、第3及び第4のインバータゲー
ト(8,9)との遅延量は、互いに補完しあう関係にあ
る。したがって、本実施例の出力信号OUTは、図2に
三つの波形A′、B′、C′で示すように、、制御No.
=1(2)のときの波形B′を基準に、それよりも前に
波形A′が位置し、それよりも後に波形C′が位置する
結果、波形の傾斜を変えてスルーレートを調節した場合
でも、遅延時間を一定にすることができ、タイミング調
整を不要にすることができるのである。
[0020] As can be seen from Table 3, the delay amounts of the first and second inverter gates (5, 6) and the third and fourth inverter gates (8, 9) are in a mutually complementary relationship. is there. Therefore, the output signal OUT of the present embodiment has the control No. as shown by the three waveforms A ', B', and C'in FIG.
With reference to the waveform B'when = 1 (2), the waveform A'is located before it and the waveform C'is located after it. As a result, the slew rate is adjusted by changing the slope of the waveform. Even in this case, the delay time can be made constant and the timing adjustment can be made unnecessary.

【0021】なお、上記実施例では、可変抵抗負荷部5
b、5c、6b、6c、8b、8c、9b、9cのトラ
ンジスタのチャネルオン抵抗の大きさを等しいものとし
て説明したが、これに限るものではない。チャネルオン
抵抗に適切な差を付けることにより、制御No. 分のスル
ーレート調整段数(No. が0〜3であれば4段)を得る
ことができる。
In the above embodiment, the variable resistance load unit 5
Although the transistors b, 5c, 6b, 6c, 8b, 8c, 9b, and 9c have the same channel on-resistance, they have the same magnitude, but the present invention is not limited to this. It is possible to obtain the number of slew rate adjustment stages corresponding to the control No. (4 stages if the No. is 0 to 3) by making an appropriate difference in the channel on resistance.

【0022】[0022]

【発明の効果】本発明によれば、前後段のインバータゲ
ートの遅延量が互いに補完しあう関係になり、したがっ
て、スルーレートを調節した場合でも、遅延時間を一定
にすることができ、タイミング調整を不要にすることが
できる。
According to the present invention, the delay amounts of the front and rear inverter gates complement each other. Therefore, even when the slew rate is adjusted, the delay time can be kept constant and the timing adjustment can be made. Can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】一実施例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of one embodiment.

【図2】一実施例の信号波形図である。FIG. 2 is a signal waveform diagram of an example.

【図3】従来例の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional example.

【図4】制御信号の生成回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of a control signal generation circuit.

【図5】従来例の信号波形図である。FIG. 5 is a signal waveform diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

5:第1のインバータゲート(スルーレート調節手段) 6:第2のインバータゲート(スルーレート調節手段) 5a、6a、8a、9a:CMOSインバータゲート部
(インバータゲート) 5b、5c、6b、6c、8b、8c、9b、9c:可
変抵抗負荷部(電源電圧変更手段)
5: 1st inverter gate (slew rate adjusting means) 6: 2nd inverter gate (slew rate adjusting means) 5a, 6a, 8a, 9a: CMOS inverter gate part (inverter gate) 5b, 5c, 6b, 6c, 8b, 8c, 9b, 9c: Variable resistance load section (power supply voltage changing means)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】インバータゲートの電源電圧を変更するこ
とにより、該インバータゲートを介して出力される信号
の立ち上がりや立ち下がりの傾斜を調整するスルーレー
ト調節手段を有する半導体集積回路において、前記イン
バータゲートを2段構成とするとともに、前段のインバ
ータゲートと後段のインバータゲートの双方の電源電圧
を同量、かつ、逆向きに変更し得る電源電圧変更手段を
備えたことを特徴とする半導体集積回路。
1. A semiconductor integrated circuit having slew rate adjusting means for adjusting the slope of rising or falling of a signal output via the inverter gate by changing the power supply voltage of the inverter gate. And a power supply voltage changing means capable of changing the power supply voltages of both the front-stage inverter gate and the rear-stage inverter gate by the same amount and in opposite directions.
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004114523A1 (en) * 2003-06-23 2004-12-29 Rohm Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit device
JP2005123666A (en) * 2003-10-14 2005-05-12 Nec Electronics Corp Output circuit
KR100487500B1 (en) * 1997-09-23 2005-09-02 삼성전자주식회사 Buffer circuit of semiconductor apparatus
US6958638B2 (en) 2002-10-10 2005-10-25 Elpida Memory, Inc. Slew rate controlling method and system for output data
US7295047B2 (en) 2004-12-28 2007-11-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Output buffer with improved slew rate and method thereof
WO2008114699A1 (en) * 2007-03-21 2008-09-25 Advantest Corporation Testing apparatus and measuring circuit
WO2010095378A1 (en) * 2009-02-18 2010-08-26 株式会社アドバンテスト Output device and testing device
DE102011077387A1 (en) * 2011-06-10 2012-07-12 Siemens Aktiengesellschaft Circuit arrangement for switching current in dependence of predeterminable switching signal, has semiconductor circuit breaker for controlling current intensity and driver circuit for receiving switching signal
JP2013017078A (en) * 2011-07-05 2013-01-24 Nippon Soken Inc Drive unit and driving method for switching element
JP2013131902A (en) * 2011-12-21 2013-07-04 Elpida Memory Inc Semiconductor device
JP2013187594A (en) * 2012-03-06 2013-09-19 Toshiba Corp Interface circuit
JP2013201667A (en) * 2012-03-26 2013-10-03 Toshiba Corp Output driver circuit and semiconductor storage device
CN103780112A (en) * 2012-10-22 2014-05-07 富士通半导体股份有限公司 Electronic circuit and semiconductor device
JP2016059108A (en) * 2014-09-05 2016-04-21 株式会社東芝 Gate driving circuit, semiconductor device, and power conversion device

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100487500B1 (en) * 1997-09-23 2005-09-02 삼성전자주식회사 Buffer circuit of semiconductor apparatus
US6958638B2 (en) 2002-10-10 2005-10-25 Elpida Memory, Inc. Slew rate controlling method and system for output data
WO2004114523A1 (en) * 2003-06-23 2004-12-29 Rohm Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit device
US7514963B2 (en) 2003-06-23 2009-04-07 Rohm Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit device
JP2005123666A (en) * 2003-10-14 2005-05-12 Nec Electronics Corp Output circuit
JP4502177B2 (en) * 2003-10-14 2010-07-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Output circuit
US7295047B2 (en) 2004-12-28 2007-11-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Output buffer with improved slew rate and method thereof
WO2008114699A1 (en) * 2007-03-21 2008-09-25 Advantest Corporation Testing apparatus and measuring circuit
JPWO2008114699A1 (en) * 2007-03-21 2010-07-01 株式会社アドバンテスト Test equipment and measurement circuit
US7756664B2 (en) 2007-03-21 2010-07-13 Advantest Corporation Test apparatus and measurement circuit
WO2010095378A1 (en) * 2009-02-18 2010-08-26 株式会社アドバンテスト Output device and testing device
JPWO2010095378A1 (en) * 2009-02-18 2012-08-23 株式会社アドバンテスト Output device and test device
US8324947B2 (en) 2009-02-18 2012-12-04 Advantest Corporation Output apparatus and test apparatus
DE102011077387A1 (en) * 2011-06-10 2012-07-12 Siemens Aktiengesellschaft Circuit arrangement for switching current in dependence of predeterminable switching signal, has semiconductor circuit breaker for controlling current intensity and driver circuit for receiving switching signal
JP2013017078A (en) * 2011-07-05 2013-01-24 Nippon Soken Inc Drive unit and driving method for switching element
US8754689B2 (en) 2011-07-05 2014-06-17 Denso Corporation Switching element driving device and method
JP2013131902A (en) * 2011-12-21 2013-07-04 Elpida Memory Inc Semiconductor device
JP2013187594A (en) * 2012-03-06 2013-09-19 Toshiba Corp Interface circuit
JP2013201667A (en) * 2012-03-26 2013-10-03 Toshiba Corp Output driver circuit and semiconductor storage device
US8811096B2 (en) 2012-03-26 2014-08-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Output driver circuit and semiconductor storage device
CN103780112A (en) * 2012-10-22 2014-05-07 富士通半导体股份有限公司 Electronic circuit and semiconductor device
JP2016059108A (en) * 2014-09-05 2016-04-21 株式会社東芝 Gate driving circuit, semiconductor device, and power conversion device
US9793824B2 (en) 2014-09-05 2017-10-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Gate driving circuit, semiconductor device, and power conversion device

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