JPH0972846A

JPH0972846A - フレーム原子吸光光度計およびフレーム原子吸光分析方法

Info

Publication number: JPH0972846A
Application number: JP22893995A
Authority: JP
Inventors: Yoshihiro Hirano; 義博平野; Tadafumi Kuroishi; 忠文黒石
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1995-09-06
Filing date: 1995-09-06
Publication date: 1997-03-18

Abstract

(57)【要約】【目的】試料に磁場をかけることによりゼーマン効果を
利用したバックグラウンド補正を行う場合においても、
より高濃度の目的元素の測定を正確に行うことが可能な
フレーム原子吸光光度計およびフレーム原子吸光分析方
法を提供する。【構成】バーナーヘッド１にはバーナーチャンバ８から
のガスにより平板状の炎２が形成される。永久磁石６
は、炎２の両面を挟んでＳ極６ａ、Ｎ極６ｂ、炎２が平
行に対向するように設置され、永久磁石６には両極を貫
通する直線状の通路７が設けてある。この通路７の軸は
平板状の炎２の面に対し角度θで交わる。また、永久磁
石６、バーナーヘッド１、バーナーチャンバ８を水平面
内で回転させる回転機構６Ａが設けられている。光源３
からの分析光３ｓは、通路７に導入され平板状の炎２を
通過し、さらに分光器４を通過し、検知器５に入射す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、試料を平板状の炎（フ
レーム）によって原子化し、その平板状の炎に当てた光
の吸光度より試料中の金属元素の定量を行なうフレーム
原子吸光光度計およびフレーム原子吸光分析方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】フレーム原子吸光光度計は原子吸光分析
装置の一つであり、一般に、バーナーに燃料ガスや助燃
ガスを供給して生成される炎に、霧状の試料を導入して
試料に含まれる金属元素の原子化を行い、光源より光を
当ててこのとき生じる光の吸収（以下、適宜、吸光度と
いう）を測定することにより試料中の金属元素の定量を
行うものである。

【０００３】図６に、フレーム原子吸光光度計の構成を
示す。光源１０３から発した光はバーナーヘッド１０１
上に形成される炎（フレーム）１０２の中を通過し、分
光器１０４において特定波長の光が選択され、検知器１
０５へ導かれる。炎１０２の温度は、供給されるガスや
その流量などの条件により異なるが、通常２０００℃か
ら３０００℃程度となる。この炎１０２に導入された試
料は加熱により分解し、原子蒸気となり、元素固有の波
長の光を吸収する。そのため、目的元素に対応する波長
を分光器１０４において選択し、その波長の光の吸収を
検知器１０５において測定することにより、目的元素の
定量分析を行うことができる。

【０００４】上記のようなフレーム原子吸光光度計に用
いられるバーナーヘッド１０１は通常、細長いスロット
を持ち、このスロットで形成される炎１０２は平板状と
なる。光源１０３からの光の光路はバーナーヘッド１０
１のスロットと平行に設定され、光は平板状の炎１０２
により形成される平面と平行に入射する。これは、炎１
０２中を通過する光の光路を長くとれば、より多くの原
子蒸気により光が吸収され、そのために単位濃度あたり
の吸光度が高くなり、より高感度の分析ができるためで
ある。

【０００５】このように光源１０１からの光は炎１０２
を通過する際にその一部が吸収され、これが検知器１０
５において検知されるが、その時の吸収は、原子蒸気と
なった目的元素だけでなく、分子状態の元素や、その他
の分子や化合物等による吸収も含まれ、これらの吸収が
大きな測定誤差を与えることがある。このような原子蒸
気の状態にある目的元素以外のものによる吸収は、一般
にバックグラウンド吸収と呼ばれている。このバックグ
ラウンド吸収による測定誤差を低減するため、フレーム
原子吸光光度計には、バックグラウンド補正の機能を備
えているものが多い。バックグラウンドを補正する方法
としては、様々な方法が用いられており、代表的なもの
として輝線スペクトルを用いる方法、連続光を用いる方
法、ゼーマン効果を利用する方法などがある。

【０００６】これらのバックグラウンド補正方法のう
ち、ゼーマン効果を用いる方法には、光源からの光に磁
場をかける方法、あるいは試料（炎）に磁場をかける方
法があり、用いる磁石としては電磁石や永久磁石があ
る。さらに試料に磁場をかける方法を採用した装置は、
原子化した試料の両側、すなわち平板状の炎の両面を挟
んでＳ極およびＮ極が向かい合うように磁石が配置され
た構成となっているのが一般的である。上記で述べたフ
レーム原子吸光光度計の構成やバックグラウンド補正方
法については、保田和雄および長谷川敬彦著「原子吸光
分析」（講談社、１９７２年）、高橋務および大道寺英
弘編「ファーネス原子吸光分析」（学会出版センター、
１９８４年）などに記載されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】前述したフレーム原子
吸光光度計は、光源からの光を平板状の炎と平行に入射
させることによってより高感度の分析を可能としている
ため、分析元素の濃度が低い場合の分析に適している。
一方、分析元素の濃度が高くなると正確な定量分析がで
きないという問題が生じる。この理由について以下に述
べる。

【０００８】前述の検知器において測定された特定波長
の吸収（吸光度）と、目的元素の濃度との関係は、ある
濃度範囲では直線関係が成り立ち、その濃度範囲では濃
度を増加するに従って吸光度も増加する。しかし、目的
元素の濃度が比較的高くなる範囲では、この直線関係が
成り立たなくなり、濃度の増加に対して、吸光度の増加
が少なくなる傾向が見られ、さらにある濃度範囲では濃
度の増加に対して吸光度が減少する場合もある。この原
因は、光源からの光（発光線）のスペクトルと試料の吸
収線のスペクトルの幅や裾の広がり方の違いによるため
である。このように目的元素が高濃度で吸光度と濃度の
直線関係が成り立たないような場合には正確な定量分析
が困難となる。

【０００９】このような問題に対し、バーナーヘッドを
水平面内で回転させ、炎により形成される平面に対して
光源からの光を斜めに入射させれば、炎中を通過する光
の光路が短くなり、単位濃度あたりの吸光度が低くなっ
てより高い濃度まで測定可能になると考えられる。しか
し、磁石を用いて試料に磁場をかけることによりバック
グラウンドを補正する方法を採用したフレーム原子吸光
光度計では、炎の両面を挟んで両極が向かい合うように
磁石が配置され、磁石の両極の間隙を光源からの光が通
過するため、平板状の炎に対して光源からの光を斜めに
入射させようとするとその光を磁石が遮ってしまうとい
う不都合が生じる場合がある。

【００１０】上記のように、試料に磁場をかけることに
よりバックグラウンドを補正する方法を採用した従来の
フレーム原子吸光光度計では、低濃度の目的元素の測定
は高感度の測定を行うことができるが、より高濃度の目
的元素の測定を正確に行なうことが困難であった。

【００１１】本発明の目的は、試料に磁場をかけること
によりバックグラウンドを補正する場合においても、よ
り高濃度の目的元素の測定を正確に行うことが可能なフ
レーム原子吸光光度計およびフレーム原子吸光分析方法
を提供することである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、試料を原子化する平板状の炎と、
上記平板状の炎の両面を挟んでＳ極およびＮ極が向かい
合うように配置された磁石と、上記平板状の炎に光を発
する光源とを有し、上記平板状の炎を通過した光の吸光
度より前記試料中の金属元素の定量を行なうフレーム原
子吸光光度計において、前記磁石の両極を貫通する直線
状の通路を設け、その直線状の通路に前記光源からの光
を導入しかつ前記平板状の炎を通過させることを特徴と
するフレーム原子吸光光度計が提供される。

【００１３】上記フレーム原子吸光光度計において、好
ましくは、前記直線状の通路を設ける方向が、平板状の
炎の表面に対して５°以上９０°以下の角度、または前
記磁石の両極間を結ぶ最短の直線の方向に対して０°以
上８５°以下の角度、または前記磁石のＳ極およびＮ極
の表面に対して５°以上９０°以下の角度で交わる。

【００１４】また、好ましくは、前記磁石および前記平
板状の炎は水平面内でそれぞれ回転可能であり、その磁
石および平板状の炎の回転により、前記光源からの光が
磁石に設けた直線状の通路を通過する配置に加え、前記
光源からの光が磁石の向かい合うＳ極およびＮ極の間を
通過する配置をとりうる。

【００１５】また、前記磁石に設けた直線状の通路は複
数あってもよい。

【００１６】また、前述の目的を達成するため、本発明
によれば、平板状の炎の両面を磁石のＳ極およびＮ極で
挟んだ状態で前記平板状の炎により試料を原子化し、上
記平板状の炎に光源からの光を当ててその光の吸光度よ
り前記試料中の金属元素の定量を行なうフレーム原子吸
光分析方法において、前記磁石の両極を貫通する直線状
の通路を設けておき、その直線状の通路に前記光源から
の光を導入して前記平板状の炎を通過させることを特徴
とするフレーム原子吸光分析方法が提供される。

【００１７】上記フレーム原子吸光分析方法において、
好ましくは、直線状の通路に前記光源からの光とは別の
バックグラウンド補正用の光をさらに導入して前記平板
状の炎を通過させる。

【００１８】また、好ましくは、前記磁石の両極を貫通
する直線状の通路を複数設けておき、その直線状の通路
の各々に複数の光源からの複数の光をそれぞれ導入して
上記平板状の炎を通過させ、同時に別の光源からの光を
前記磁石の向かい合うＳ極およびＮ極の間に導入し上記
平板状の炎に平行に入射させる。

【００１９】

【作用】上記のように構成した本発明においては、磁石
の両極を貫通する直線状の通路を設けるため、その直線
状の通路に光源からの光を導入させることができ、平板
状の炎に対し斜めに光を入射させることが可能となる。
これにより、光源からの光が磁石により遮られるという
不都合が生じることなく、平板状の炎中を通過する光路
を短くし、単位濃度あたりの吸光度を低くして、目的元
素をより高い濃度まで正確に測定することが可能とな
る。

【００２０】上記の場合、直線状の通路を設ける方向を
平板状の炎の表面に対して５°以上９０°以下の角度で
交わるようにすると、単位濃度あたりの吸光度が、後述
するように平板状の炎に平行に光を入射させる場合の１
／２から１／１０程度に低下するため、高濃度の目的元
素を正確に測定しやすい。また、直線状の通路を設ける
方向を磁石の両極間を結ぶ最短の直線の方向に対して０
°以上８５°以下の角度で交わるようにしたり、磁石の
Ｓ極およびＮ極の表面に対して５°以上９０°以下の角
度で交わるようにしてもほぼ同様である。

【００２１】また、磁石および平板状の炎を水平面内で
それぞれ回転可能とすることにより、光源からの光が磁
石における前述のような直線状の通路を通過する配置に
加え、光源からの光が磁石の向かい合う両極間を通過す
る配置をとることも可能となる。即ち、一台のフレーム
原子吸光光度計によって、平板状の炎に対し斜めに光を
入射させるような配置にして高い濃度の目的元素を正確
に測定することもできるし、平板状の炎に対し平行に光
を入射させるような配置にして低い濃度の目的元素を正
確に測定することもできる。

【００２２】また、磁石に設けた直線状の通路を複数に
することにより、同時に複数の光を入射させることが可
能となり、複数の目的元素の同時測定が可能となる。従
って、分析の能率が飛躍的に向上する。

【００２３】また、上記直線状の通路に光源からの光に
加え、別のバックグラウンド補正用の光をさらに導入し
て同時に平板状の炎を通過させることにより、試料に磁
場をかけるゼーマン効果を用いたバックグラウンド補正
方法を採用するのではなく、輝線スペクトルや連続光を
用いたバックグラウンド補正方法を採用することができ
る。

【００２４】また、前述の直線状の通路を複数設けた場
合において、その直線状の通路の各々に複数の光源から
の複数の光をそれぞれ導入して平板状の炎を通過させ、
同時に別の光源からの光を磁石の向かい合う両極間に導
入し平板状の炎に平行に入射させることにより、複数の
目的元素の同時測定が可能となるだけでなく、目的元素
が低濃度の場合の高感度な測定と、目的元素が高濃度の
場合の正確な測定とを同時に行うことが可能となる。従
って、低濃度域から高濃度域までの測定を、種類の異な
る多元素について、あるいは同一の目的元素について測
定可能となる。

【００２５】

【実施例】本発明によるフレーム原子吸光光度計および
フレーム原子吸光分析方法の第１の実施例について、図
１から図３を参照しながら説明する。

【００２６】図１に、本実施例のフレーム原子吸光光度
計の構成を示す。バーナーヘッド１はバーナーチャンバ
８の上に位置しており、バーナーチャンバ８から供給さ
れるガスによって、その上に平板状の炎２が形成され
る。炎２の両面を挟んで永久磁石６が設置されており、
さらに永久磁石６には両極を貫通する直線状の通路７が
設けてある。但し、永久磁石６は、Ｓ極６ａおよびＮ極
６ｂ、さらに炎２の面がそれぞれ平行に向かい合うよう
に設置されている。また、永久磁石６にはバーナーチャ
ンバ８が貫通しており、永久磁石６の下には永久磁石
６、バーナーヘッド１およびバーナーチャンバ８を水平
面内で回転させる回転機構６Ａが設けられている。この
回転機構６Ａにより、バーナーチャンバ８の軸を中心に
して永久磁石６およびバーナーヘッド１は水平面内で回
転することができる。通路７の軸、即ち通路７のあけら
れる方向は、平板状の炎２の面に対して所定の角度で斜
めに交わっている。

【００２７】光源３からは目的元素に対応した輝線スペ
クトルを有する分析光３ｓが発せられ、分析光３ｓは通
路７に導入され、平板状の炎２を通過し、通路７より出
て分光器４を通過し、検知器５に入射する。

【００２８】図２に、通路７の軸と平板状の炎２の面と
のなす角度θを変化させた場合の吸光度の変化を示す。
但し、図２は鉄（以下、Ｆｅと記す）についての測定例
であり、この時の測定条件は表１に示す通りである。

【００２９】

【表１】

【００３０】図２からわかるように、θが０°、即ち炎
２に平行に分析光３ｓを入射させる場合の吸光度に比べ
て、θを増加した場合の吸光度は急激に減少し、θが５
°において約１／２の吸光度に、θが４５°から９０°
において約１／１０の吸光度になっている。このことか
ら、通路７の軸と炎２の面とのなす角度θとしては、５
°から９０°の範囲において、平板状の炎２中を通過す
る分析光３ｓの光路を短くし、単位濃度あたりの吸光度
を１／２から１／１０程度に低下させることが可能とな
ることがわかる。

【００３１】図２では、通路７の軸と平板状の炎２の面
との角度をもとに吸光度の変化を評価したが、通路７の
軸を永久磁石６のＳ極６ａおよびＮ極６ｂ間を結ぶ最短
の直線の方向に対して０°以上８５°以下の角度で交わ
るようにしてもほぼ同様となる。なぜならば、永久磁石
６のＳ極６ａおよびＮ極６ｂ、さらに炎２の面がそれぞ
れ平行に対向しているために、両極６ａ，６ｂ間を結ぶ
最短の直線１１は無数に存在し、それらの直線１１のい
ずれもが両極６ａ，６ｂおよび炎２の面に対し垂直に交
わっているためである。つまり、通路７の軸を永久磁石
６のＳ極６ａおよびＮ極６ｂ間を結ぶ最短の直線１１の
方向に対して０°以上８５°以下の角度で交わるように
することは、通路７の軸と炎２の面とのなす角度θを５
°から９０°の範囲にすることと同等である。さらに、
通路７の軸を永久磁石６のＳ極６ａおよびＮ極６ｂの表
面に対して５°以上９０°以下の角度で交わるようにし
てもほぼ同様である。この理由も、永久磁石６のＳ極６
ａおよびＮ極６ｂ、さらに炎２の面がそれぞれ平行に対
向していることによる。

【００３２】図３に、通路７の軸と平板状の炎２の面と
のなす角度θを４５°に固定し、Ｆｅの濃度（ｐｐｍ）
を変えて測定を実施した場合の検量線を示す。ここに、
横軸がＦｅ濃度、縦軸が吸光度である。また、比較のた
めに、炎２に平行に分析光３ｓを入射させた場合の測定
結果を、比較例として付記した。炎２に平行に分析光３
ｓを入射させた比較例では、Ｆｅ濃度が０から２０ｐｐ
ｍ程度の低濃度域における検量線は立上りが急であり、
この濃度範囲において高感度な分析が可能であることを
示している。しかし、それよりも濃度が高くなるにつれ
検量線は横軸方向へ湾曲する。このため、約６０ｐｐｍ
以上の高濃度域における精度の高い測定は困難である。

【００３３】これに対し、本実施例では、Ｆｅ濃度が０
から５００ｐｐｍ以上の広い濃度範囲において検量線が
直線的になり、高濃度域においても精度の高い測定が可
能であることがわかる。これは、図１および図２で説明
したように、光源３から分析光３ｓを通路７に導入して
平板状の炎２を所定の角度θ（５°から９０°の範囲）
で斜めに通過させ、平板状の炎２中を通過する分析光３
ｓの光路を短くしているためであり、それによって単位
濃度あたりの吸光度が１／２から１／１０程度に低下
し、従って目的元素をより高い濃度まで正確に測定可能
にしている。

【００３４】また、回転機構６Ａによって永久磁石６お
よびバーナーヘッド１は水平面内で回転することができ
るため、光源３からの分析光３ｓが通路７を通過する配
置に加え、従来のように光源３からの分析光３ｓが永久
磁石６の両極６ａ，６ｂ間を通過する配置をとることも
可能となる。即ち、一台のフレーム原子吸光光度計によ
って、平板状の炎２に対し斜めに光を入射させるような
配置にして高い濃度、例えば０から５００ｐｐｍ程度の
目的元素を正確に測定することもできるし、平板状の炎
２に対し平行に分析光３ｓを入射させるような配置にし
て低い濃度、例えば０から６０ｐｐｍ程度の目的元素を
高感度にかつ正確に測定することもできる。

【００３５】以上のような本実施例によれば、永久磁石
６のＳ極６ａおよびＮ極６ｂを貫通する直線状の通路７
を設けるので、通路７に光源３からの分析光３ｓを導入
可能で、分析光３ｓが永久磁石６により遮られるという
不都合なく、炎２に対し斜めに分析光３ｓを入射させる
ことができる。これにより、炎２中を通過する光路を短
くし、単位濃度あたりの吸光度を低くして、目的元素を
より高い濃度まで正確に測定することができる。

【００３６】また、通路７の軸を炎２の表面に対して５
°以上９０°以下の角度で交わるようにしたり、通路７
の軸を永久磁石６の両極６ａ，６ｂ間を結ぶ最短の直線
１１の方向に対して０°以上８５°以下の角度で交わる
ようにしたり、永久磁石６の両極６ａ，６ｂの表面に対
して５°以上９０°以下の角度で交わるようにするの
で、単位濃度あたりの吸光度を、炎２に平行に分析光３
ｓを入射させる場合の１／２から１／１０程度に低下さ
せることができる。

【００３７】また、回転機構６Ａによって永久磁石６お
よびバーナーヘッド１を水平面内で回転可能とするの
で、一台のフレーム原子吸光光度計によって、炎２に対
し斜めに分析光３ｓを入射させるような配置にして高い
濃度の目的元素を正確に測定することもできるし、炎２
に対し平行に分析光３ｓを入射させるような配置にして
低い濃度の目的元素を正確に測定することもできる。そ
の結果として測定濃度範囲を拡大することができる。

【００３８】次に、本発明によるフレーム原子吸光光度
計およびフレーム原子吸光分析方法の第２の実施例につ
いて、図４により説明する。但し、図４において、図１
と同等の部材には同じ符号を付してある。

【００３９】本実施例では、目的元素の吸光度の測定の
ための光源３とは別に、バックグラウンド補正用の連続
光光源９を設ける。そして、光源３からの分析光３ｓ、
および連続光光源９からの連続光９ｓの両方を、ハーフ
ミラー１０を介して通路７に入射させる。分析光３ｓと
連続光９ｓが混合された光３ｔは通路７および炎２を通
過し、さらに分光器４を通過し、検知器５に入射する。
検知器５では分析光３ｓと連続光９ｓの両方の吸光度が
検知されるため、２つの光の吸光度を演算すること、即
ち分析光３ｓの吸光度から連続光９ｓの吸光度を差し引
くことにより、バックグラウンド補正された吸光度を算
出することができる。

【００４０】前述した第１の実施例では、永久磁石６
は、ゼーマン効果を利用したバックグラウンド補正のた
めの磁場を形成させるためのものであった。しかし本実
施例においては、永久磁石６でバックグラウンド補正を
行わずに、別の方法、即ち連続光９ｓを用いてバックグ
ラウンド補正を行う。なお、図４のように連続光光源９
を用いる代わりに、バックグラウンド補正用の輝線スペ
クトルを発する光源を用いてもよい。上記のような本実
施例によれば、試料に磁場をかけるゼーマン効果を用い
たバックグラウンド補正方法を採用するのではなく、連
続光９ｓまたは輝線スペクトルを用いたバックグラウン
ド補正方法を採用することができる。

【００４１】次に、本発明によるフレーム原子吸光光度
計およびフレーム原子吸光分析方法の第３の実施例につ
いて、図５により説明する。

【００４２】本実施例では、永久磁石６に複数の通路７
ａ，７ｂが設けてあり、それぞれ通路７ａ，７ｂに対応
して、分析光３ｘ，３ｙをそれぞれ発する光源３ａ，３
ｂ、分光器４ａ，４ｂ、検知器５ａ，５ｂが設置してあ
る。但し、通路７ａ，７ｂの軸、即ち通路７ａ，７ｂの
あけられる方向は、第１の実施例と同様に平板状の炎２
の面に対して前述のθで交わるようにする。さらに、光
源３ｃは、発せられる分析光３ｚが従来と同様に炎２に
対し平行に入射するような配置となっており、この光源
３ｃに対応して分光器４ｃおよび検知器５ｃが設置され
ている。

【００４３】そして、図５のように、光源３ａ，３ｂか
らの分析光３ｘ，３ｙは、それぞれ通路７ａ，７ｂに導
入され、平板状の炎２を通過し、通路７ａ，７ｂより出
て分光器４ａ，４ｂをそれぞれ通過し、検知器５ａ，５
ｂに入射する。また、光源３ｃからの分析光３ｚは永久
磁石６の両極６ａ，６ｂ間を通過して分光器４ｃを通過
し、検知器５ｃに入射する。光源３ａ，３ｂのように炎
２に斜めに光を入射させる光源は、３個以上設けること
ができる。但し、その場合は、対応する直線状の通路お
よび分光器や検知器を設けることが必要である。

【００４４】本実施例によれば、目的元素が高濃度の場
合に、光源３ａ，３ｂからの分析光３ｘ，３ｙ等により
多元素または多波長の同時測定ができるだけでなく、光
源３ｃからの分析光３ｚにより目的元素が低濃度の場合
の高感度な測定をも同時に行うことができる。従って、
低濃度域から高濃度域までの測定を、種類の異なる目的
元素について、あるいは同一の目的元素について測定可
能となる。

【００４５】

【発明の効果】本発明によれば、磁石の両極を貫通する
直線状の通路を設けるので、その通路に光源からの光を
導入させ、磁石により遮られることなく平板状の炎に対
し斜めに光を入射させることができる。これにより、平
板状の炎中を通過する光路を短くし、単位濃度あたりの
吸光度を低くして、目的元素をより高い濃度まで正確に
測定することができる。

【００４６】また、磁石および平板状の炎を水平面内で
それぞれ回転可能とするので、一台のフレーム原子吸光
光度計で、炎に斜めに光を入射させて高い濃度の目的元
素を正確に測定することもできるし、炎に平行に光を入
射させて低い濃度の目的元素を正確に測定することもで
きる。その結果として測定濃度範囲を拡大することがで
きる。

【００４７】また、磁石に設けた直線状の通路を複数に
することにより、同時に複数の光を入射させることが可
能となり、複数の目的元素の同時測定が可能となる。従
って、分析の能率が飛躍的に向上する。さらに、同時に
別の光源からの光を平板状の炎に平行に入射させるの
で、目的元素が低濃度の場合の高感度な測定と、目的元
素が高濃度の場合の正確な測定とを同時に行うことがで
き、従って、低濃度域から高濃度域までの測定を、種類
の異なる多元素について、あるいは同一の目的元素につ
いて測定可能となる。

【００４８】また、別のバックグラウンド補正用の光を
さらに導入して同時に平板状の炎を通過させるので、輝
線スペクトルや連続光を用いたバックグラウンド補正方
法を採用することもできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例によるフレーム原子吸光
光度計の構成を示す図である。

【図２】永久磁石に設けられた直線状の通路の軸と平板
状の炎の面とのなす角度θを変化させた場合の吸光度の
変化を示す図である。

【図３】永久磁石に設けられた直線状の通路の軸と平板
状の炎の面とのなす角度θを４５°に固定し、Ｆｅの濃
度を変えて測定を実施した結果を示す図である。

【図４】本発明の第２の実施例によるフレーム原子吸光
光度計の構成を示す図である。

【図５】本発明の第３の実施例によるフレーム原子吸光
光度計の構成を示す図である。

【図６】一般的なフレーム原子吸光光度計の構成図であ
る。

【符号の説明】

１バーナーヘッド２炎３，３ａ，３ｂ，３ｃ光源３ｓ，３ｘ，３ｙ，３ｚ分析光３ｔ分析光と連続光が混合された光４，４ａ，４ｂ，４ｃ分光器５，５ａ，５ｂ，５ｃ検知器６永久磁石６ａＳ極６ｂＮ極６Ａ回転機構７，７ａ，７ｂ通路８バーナーチャンバ９連続光光源９ｓ連続光１０ハーフミラー１１永久磁石の両極間を結ぶ最短の直線

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料を原子化する平板状の炎と、前記平
板状の炎の両面を挟んでＳ極およびＮ極が向かい合うよ
うに配置された磁石と、前記平板状の炎に光を発する光
源とを有し、前記平板状の炎を通過した光の吸光度より
前記試料中の金属元素の定量を行なうフレーム原子吸光
光度計において、前記磁石の両極を貫通する直線状の通
路を設け、その直線状の通路に前記光源からの光を導入
しかつ前記平板状の炎を通過させることを特徴とするフ
レーム原子吸光光度計。
【請求項２】請求項１記載のフレーム原子吸光光度計
において、前記直線状の通路を設ける方向は、前記平板
状の炎の表面に対して５°以上９０°以下の角度で交わ
ることを特徴とするフレーム原子吸光光度計。
【請求項３】請求項１記載のフレーム原子吸光光度計
において、前記直線状の通路を設ける方向は、前記磁石
の両極間を結ぶ最短の直線の方向に対して０°以上８５
°以下の角度で交わることを特徴とするフレーム原子吸
光光度計。
【請求項４】請求項１記載のフレーム原子吸光光度計
において、前記直線状の通路を設ける方向は、前記磁石
のＳ極およびＮ極の表面に対して５°以上９０°以下の
角度で交わることを特徴とするフレーム原子吸光光度
計。
【請求項５】請求項１から４のうちいずれか１項記載
のフレーム原子吸光光度計において、前記磁石および前
記平板状の炎は水平面内でそれぞれ回転可能であり、前
記磁石および前記平板状の炎の回転により、前記光源か
らの光が前記磁石に設けた前記直線状の通路を通過する
配置に加え、前記光源からの光が前記磁石の向かい合う
Ｓ極およびＮ極の間を通過する配置をとりうることを特
徴とするフレーム原子吸光光度計。
【請求項６】請求項１から５のうちいずれか１項記載
のフレーム原子吸光光度計において、前記磁石に設けた
前記直線状の通路は複数あることを特徴とするフレーム
原子吸光光度計。
【請求項７】平板状の炎の両面を磁石のＳ極およびＮ
極で挟んだ状態で前記平板状の炎により試料を原子化
し、前記平板状の炎に光源からの光を当ててその光の吸
光度より前記試料中の金属元素の定量を行なうフレーム
原子吸光分析方法において、前記磁石の両極を貫通する
直線状の通路を設けておき、その直線状の通路に前記光
源からの光を導入して前記平板状の炎を通過させること
を特徴とするフレーム原子吸光分析方法。
【請求項８】請求項７記載のフレーム原子吸光分析方
法において、前記直線状の通路に前記光源からの光とは
別のバックグラウンド補正用の光をさらに導入して前記
平板状の炎を通過させることを特徴とするフレーム原子
吸光分析方法。
【請求項９】請求項７または８記載のフレーム原子吸
光分析方法において、前記磁石の両極を貫通する直線状
の通路を複数設けておき、その直線状の通路の各々に複
数の光源からの複数の光をそれぞれ導入して前記平板状
の炎を通過させ、同時に別の光源からの光を前記磁石の
向かい合うＳ極およびＮ極の間に導入し前記平板状の炎
に平行に入射させることを特徴とするフレーム原子吸光
分析方法。