JPH0969503A - Board processing system - Google Patents

Board processing system

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JPH0969503A
JPH0969503A JP22310895A JP22310895A JPH0969503A JP H0969503 A JPH0969503 A JP H0969503A JP 22310895 A JP22310895 A JP 22310895A JP 22310895 A JP22310895 A JP 22310895A JP H0969503 A JPH0969503 A JP H0969503A
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JP
Japan
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carrier
substrates
group
wafer
substrate
Prior art date
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JP22310895A
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Japanese (ja)
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Kenji Sugimoto
賢司 杉本
Hisao Nishizawa
久雄 西澤
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the running cost while enhancing the quality of a processed wafer through a simple system by adjusting the relative position of a board at first and second delivery positions such that a second group of substrates are inserted into the gap of first group of substrates without touching. SOLUTION: A pair of slide cables 21, 22 can be moved reversely with respect to Y direction by means of a slide mechanism and an air cylinder for driving the slide mechanism provided for each slide table. First and second delivery positions are adjusted relatively by adjusting the relative position of carriers C for respective slide cables 21, 22. When a carrier CTR receives a first water group by means of a chuck 72 at the first delivery position and carries the first wafer group to the second delivery position, a second wafer group can be shifted to the second delivery position by means of a second elevating/ lowering member 22a and inserted into the gap of first wafer group.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板や液
晶ガラス基板などの薄板状基板(以下、単に基板と称す
る)を処理液に浸漬してこの表面に洗浄等の諸処理を施
す基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus in which a thin substrate (hereinafter simply referred to as a substrate) such as a semiconductor substrate or a liquid crystal glass substrate is immersed in a treatment liquid and various treatments such as cleaning are performed on its surface. Regarding

【0002】[0002]

【従来の技術】特開平5−175179号公報には、第
1ウェハ群の間に第2ウェハ群を挿入して半ピッチの第
3ウェハ群を形成する装置として、その図1、図4及び
図7に示すように、以下の3とおりのものが開示されて
いる。
2. Description of the Related Art Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 5-175179 discloses an apparatus for inserting a second wafer group between first wafer groups to form a half-pitch third wafer group, as shown in FIGS. As shown in FIG. 7, the following three types are disclosed.

【0003】上記公報の図1に開示の装置は、ウェハ
を収納する一対のキャリアをウェハ挿出入部へ移載する
キャリア搬送装置と、ウェハ挿出入部へ移載された各キ
ャリアからウェハを取り出してウェハピッチ変換部に移
載する第1搬送装置と、ウェハピッチ変換部で半ピッチ
に整列されているウェハをウェハ処理部に搬送する第2
搬送装置とを備える。
The apparatus disclosed in FIG. 1 of the above publication discloses a carrier transfer apparatus for transferring a pair of carriers for storing wafers to a wafer loading / unloading section, and taking out a wafer from each carrier transferred to the wafer loading / unloading section. And a second transfer device for transferring wafers aligned at a half pitch in the wafer pitch conversion unit to the wafer processing unit.
And a transport device.

【0004】上記公報の図4に開示の装置は、ウェハ
を収納する一対のキャリアをウェハ挿出入部へ移載する
キャリア搬送装置と、ウェハ挿出入部へ移載された一方
のキャリアからウェハを取り出してウェハピッチ変換部
に移載する第1搬送装置と、ウェハ挿出入部へ移載され
た他方のキャリアからウェハを取り出してウェハピッチ
変換部に移載するとともに、ウェハピッチ変換部で半ピ
ッチに整列されているウェハをウェハ処理部に搬送する
第2搬送装置とを備える。
The apparatus disclosed in FIG. 4 of the above publication discloses a carrier transfer device for transferring a pair of carriers for storing wafers to a wafer loading / unloading section, and a wafer from one carrier transferred to the wafer loading / unloading section. A first transfer device that takes out and transfers the wafer to the wafer pitch conversion unit, and a wafer that is taken out from the other carrier transferred to the wafer insertion / removal unit and transferred to the wafer pitch conversion unit, and is aligned at a half pitch in the wafer pitch conversion unit. And a second transfer device for transferring the existing wafer to the wafer processing section.

【0005】上記公報の図7に開示の装置は、ウェハ
を収納する一対のキャリアをウェハ挿出入部へ移載する
キャリア搬送装置と、ウェハ挿出入部へ移載された両キ
ャリアからのウェハを半ピッチに整列するとともに、半
ピッチに整列されているウェハをウェハ処理部に搬送す
るウェハ搬送装置とを備える。
The apparatus disclosed in FIG. 7 of the above publication discloses a carrier transfer device for transferring a pair of carriers for storing wafers to a wafer loading / unloading section and a wafer from both carriers transferred to the wafer loading / unloading section. And a wafer transfer device that transfers the wafers aligned in the half pitch to the wafer processing unit.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、これら3つの
技術には、それぞれ以下の課題がある。
However, each of these three techniques has the following problems.

【0007】上記公報の図1に開示の技術では、キャ
リア搬送装置、第1搬送装置、及び搬送装置の3つの搬
送装置が設けてあり、装置構成が複雑になる。さらに、
装置構成が複雑なため、ウェハのピッチ変換のために要
する動作も複雑なものとなってしまう。また、一旦ウェ
ハを半ピッチで整列させてから、該ウェハを第2搬送装
置が受け取るので搬送に要する時間が長くなり、スルー
プットが低下してしまう。
In the technique disclosed in FIG. 1 of the above publication, three carrier devices, that is, a carrier carrier device, a first carrier device, and a carrier device are provided, and the device configuration becomes complicated. further,
Since the device configuration is complicated, the operation required for wafer pitch conversion is also complicated. In addition, since the wafers are once aligned at a half pitch and then received by the second transfer device, the time required for the transfer becomes long and the throughput decreases.

【0008】上記公報の図3に開示の装置でも、キャ
リア搬送装置、第1搬送装置、第2搬送装置の3つの搬
送装置が設けてあり、装置構成が複雑になる。さらに、
装置構成が複雑なため、ウェハのピッチ変換のために要
する動作も複雑なものとなってしまう。また、一旦ウェ
ハを半ピッチで整列させてから、該ウェハを第2搬送装
置が受け取るので搬送に要する時間が長くなり、スルー
プットが低下してしまう。
The apparatus disclosed in FIG. 3 of the above publication also has three carrier apparatuses, ie, carrier carrier apparatus, first carrier apparatus, and second carrier apparatus, which complicates the apparatus configuration. further,
Since the device configuration is complicated, the operation required for wafer pitch conversion is also complicated. In addition, since the wafers are once aligned at a half pitch and then received by the second transfer device, the time required for the transfer becomes long and the throughput decreases.

【0009】上記公報の図7に開示の装置では、キャ
リア搬送装置及びウェハ搬送装置の2つの搬送装置で済
むが、ウェハ搬送装置のうちウェハを保持するチャック
が処理槽上を移動するので、これが処理槽内の処理液の
蒸気にさらされてしまう。ここで、ウェハを保持するチ
ャックはウェハを保持するために圧電素子等の部材を有
する。このような部材が処理液の蒸気にさらされると、
その劣化が速くなって頻繁に部品交換をする必要が生じ
るばかりでなく、ここからパーティクルが発生してしま
う。
In the apparatus disclosed in FIG. 7 of the above publication, only two transfer devices, a carrier transfer device and a wafer transfer device, are necessary. However, since the chuck for holding the wafer in the wafer transfer device moves on the processing tank, this is the case. It is exposed to the vapor of the treatment liquid in the treatment tank. Here, the chuck for holding the wafer has a member such as a piezoelectric element for holding the wafer. When such a member is exposed to the vapor of the processing liquid,
The deterioration becomes faster, and it becomes necessary to replace parts frequently, and particles are generated from here.

【0010】そこで、本発明は、簡素な装置構成で、ラ
ンニングコストを減少させることができ、そして、処理
後のウェハの品質を向上させることができる基板処理装
置を提供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus which can reduce running costs and improve the quality of processed wafers with a simple apparatus configuration.

【0011】また、本発明はスループットを低下させず
にランニングコストを減少させることができ、かつ処理
後のウェハの品質を向上させることができる基板処理装
置を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of reducing the running cost without lowering the throughput and improving the quality of processed wafers.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の基板処理装置は、キャリアステージに受
け取った一対のキャリア中にそれぞれ等ピッチで整立収
納された基板を半ピッチにピッチ変換して配列させ、半
ピッチで配列された基板を処理液で満たされた処理槽中
で浸漬処理する基板処理装置において、キャリアステー
ジから搬送される一対のキャリアを載置可能であるとと
もに、載置した一方のキャリア中に収納された第1群の
基板を等ピッチで配列された状態で一方のキャリア上の
第1受渡し位置に移動させる第1移動部材と、載置した
他方のキャリア中に収納された第2群の基板を等ピッチ
で配列された状態で他方のキャリア上の第2受渡し位置
に移動させる第2移動部材とを有するキャリア載置台
と、キャリアをキャリアステージからキャリア載置台に
移動させる際にキャリアを保持するキャリア保持部と、
第1移動部材によって第1受渡し位置に移動させられた
第1群の基板を等ピッチで配列された状態で保持可能な
第1基板保持部と、第2受渡し位置に移動させられた第
2群の基板を等ピッチで配列された状態で保持可能な第
2基板保持部とを設けたチャック機構を備える搬送手段
と、搬送手段が移動して第1基板保持部に保持された第
1群の基板が第2受渡し位置側に搬送された場合におい
て第2移動部材によって他方のキャリア中の第2群の基
板を第2受渡し位置に移動させたときに第2群の基板が
第1群の基板の隙間に接触しない状態で挿入されるよう
に、第1及び第2受渡し位置の基板並び方向における相
対的位置を調節する位置調節手段とを備えることを特徴
とする。
In order to solve the above problems, a substrate processing apparatus according to a first aspect of the present invention is a substrate processing apparatus, wherein a pair of carriers received by a carrier stage pitches the substrates, which are set up and stored at equal pitches, at a half pitch. In a substrate processing apparatus that performs conversion processing and arranges and arranges substrates arranged at a half pitch in a processing bath filled with a processing liquid, a pair of carriers conveyed from a carrier stage can be mounted and mounted. A first moving member for moving the first group of substrates housed in one placed carrier to a first delivery position on one carrier in a state of being arranged at an equal pitch; and in the other placed carrier. A carrier mounting table having a second moving member that moves the accommodated second group of substrates to the second delivery position on the other carrier in a state of being arranged at an equal pitch, and a carrier carrier. A carrier holding portion for holding the carrier when moving the carrier platforms from the stage,
A first substrate holding part capable of holding the first group of substrates moved to the first delivery position by the first moving member in a state of being arranged at an equal pitch, and the second group moved to the second delivery position. Of the first group held by the first substrate holding unit and the transporting unit having a chuck mechanism provided with a second substrate holding unit capable of holding the substrates in the same pitch. When the substrate is transported to the second delivery position side and the second group of substrates in the other carrier is moved to the second delivery position by the second moving member, the second group of substrates is the first group of substrates. Position adjusting means for adjusting the relative positions of the first and second transfer positions in the board alignment direction so that the first and second transfer positions are inserted without contacting the gap.

【0013】また、請求項2の基板処理装置は、位置調
節手段が、搬送手段によって搬送されてキャリア載置台
上に降下する一対のキャリアの下端をそれぞれ案内する
案内部と、一対のキャリアがキャリア載置台上に載置さ
れたときに一対のキャリアの下端がそれぞれ嵌り込む位
置決め部とを有することを特徴とする。
According to a second aspect of the substrate processing apparatus of the present invention, the position adjusting means guides the lower ends of the pair of carriers which are transported by the transport means and descend onto the carrier mounting table, and the pair of carriers are carriers. It is characterized in that it has a positioning portion into which the lower ends of the pair of carriers are respectively fitted when they are placed on the placing table.

【0014】また、請求項3の基板処理装置は、キャリ
アステージに受け取った一対のキャリア中にそれぞれ等
ピッチで整立収納された基板を半ピッチにピッチ変換し
て配列させ、半ピッチで配列された基板を処理液で満た
された処理槽中で浸漬処理する基板処理装置において、
キャリアを搬送するキャリア搬送手段と、キャリアステ
ージからキャリア搬送手段によって搬送された一対のキ
ャリアを受け取る第1ポジションと、受け取った一方の
キャリア中の第1群の基板がキャリア上に取り出される
第2ポジションと、受け取った他方のキャリア中の第2
群の基板がキャリア上に取り出されるとともに取り出さ
れた第2群の基板が第2ポジションで取り出されている
第1群の基板に対して基板の配列方向に関して半ピッチ
ずれた位置となる第3ポジションとの間で移動可能であ
り、第2ポジションにあるときに一方のキャリア中に収
納された第1群の基板を等ピッチで配列された状態で一
方のキャリア上に移動させる第1移動部材と、第3ポジ
ションにあるときに他方のキャリア中に収納された第2
群の基板を等ピッチで配列された状態で他方のキャリア
上に移動させる第2移動部材とを有するキャリア載置台
と、キャリア載置台が第2ポジションにあるときの一方
のキャリア上に固定され、一方のキャリア上に移動させ
られた第1群の基板を等ピッチで配列された状態で保持
可能な第1基板保持部と、キャリア載置台が第3ポジシ
ョンにあるときに第2移動部材によって第2群の基板が
第1群の基板の隙間に接触しない状態で挿入されるのを
許容する基板挿入部とを有する固定チャック手段とを備
え、第2移動部材が、第1基板保持部に保持された第1
群の基板と第1群の基板の隙間に接触しない状態で挿入
された第2群の基板とをチャック手段上方の基板受け渡
し位置に移動させることを特徴とする。
In the substrate processing apparatus according to a third aspect of the present invention, the substrates housed in a pair of carriers received by the carrier stage at equal pitches are arranged at a half pitch by pitch conversion and arranged at a half pitch. In a substrate processing apparatus for immersing a processed substrate in a processing tank filled with a processing liquid,
Carrier transfer means for transferring a carrier, a first position for receiving a pair of carriers transferred from the carrier stage by the carrier transfer means, and a second position for taking out a first group of substrates in one of the received carriers onto the carrier. And the second in the other carrier I received
The third position where the substrates of the group are taken out onto the carrier, and the taken-out substrates of the second group are displaced by a half pitch with respect to the substrate arrangement direction with respect to the substrates of the first group taken out at the second position. A first moving member that is movable between the first group and the second group of substrates accommodated in the one carrier in the second position and arranged on the one carrier in a state of being arranged at an equal pitch; , The second stored in the other carrier when in the third position
A carrier mounting table having a second moving member that moves the substrates of the group to the other carrier in a state where they are arranged at an equal pitch; and the carrier mounting table is fixed on one carrier when the carrier mounting table is in the second position, A first substrate holding part capable of holding the first group of substrates moved on one carrier in a state of being arranged at an equal pitch and a second moving member when the carrier mounting table is at the third position. Fixed chuck means having a substrate insertion part that allows the second group of substrates to be inserted without coming into contact with the gap between the first group of substrates, and the second moving member is held by the first substrate holding part. First done
It is characterized in that the substrates of the group and the substrates of the second group inserted without coming into contact with the gap between the substrates of the first group are moved to the substrate transfer position above the chuck means.

【0015】また、請求項4の基板処理装置は、固定チ
ャック手段上方の基板受け渡し位置に移動して第1及び
第2群の基板を受け取るとともに第1及び第2群の基板
を処理槽側に搬送する基板搬送手段をさらに備えること
を特徴とする。
Further, in the substrate processing apparatus of the fourth aspect, the substrate processing apparatus moves to a substrate transfer position above the fixed chuck means to receive the first and second groups of substrates and the first and second groups of substrates to the processing bath side. It is characterized by further comprising a substrate carrying means for carrying.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図1は、この発明に係る実施形態
1の基板処理装置である基板洗浄装置の平面構造を説明
する図である。
1 is a view for explaining a planar structure of a substrate cleaning apparatus which is a substrate processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.

【0017】図示のように、この基板洗浄装置は、ウェ
ハを収納する一対のキャリアを装置外部から受け取るキ
ャリアステージ10と、受け取ったキャリアを搬送する
搬送手段であるキャリア搬送装置CTRと、キャリアか
らウェハを取り出すとともに半ピッチにピッチ変換する
ウェハ挿出入部20と、ウェハ挿出入部20で半ピッチ
に整列されたウェハを一時的に保持するウェハリフタ3
0と、ウェハリフタ30にて半ピッチで保持されている
ウェハを受け取って搬送するウェハ搬送装置WTRと、
ウェハ搬送装置WTRによって搬送されてきた半ピッチ
のウェハを収納するとともに各種の薬液や純水を順次供
給することによってウェハに洗浄等の処理を行う単槽式
処理槽40と、処理後のウェハを乾燥する乾燥部50
と、その他メンテナンスエリア60とを備える。
As shown in the figure, this substrate cleaning apparatus has a carrier stage 10 for receiving a pair of carriers for accommodating wafers from the outside of the apparatus, a carrier transfer apparatus CTR as a transfer means for transferring the received carriers, and a wafer from the carrier. And a wafer lifter 3 for temporarily holding wafers aligned at a half pitch in the wafer insertion / removal section 20.
0, and a wafer transfer device WTR that receives and transfers a wafer held at a half pitch by the wafer lifter 30,
A single tank type processing tank 40 that stores wafers of a half pitch transferred by the wafer transfer device WTR and performs processing such as cleaning by sequentially supplying various chemicals and pure water, and a processed wafer. Drying section 50 for drying
And other maintenance area 60.

【0018】図2は、図1の基板処理装置の要部を拡大
した斜視図である。この部分では、キャリアステージ1
0に受け取った2つのキャリアC中にそれぞれ等ピッチ
で整立収納されたウェハWを半ピッチにピッチ変換して
整列させ、ウェハ搬送装置WTRに受け渡す。
FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main part of the substrate processing apparatus of FIG. In this part, career stage 1
The wafers W, which have been set up and stored at equal pitches in the two carriers C received at 0, are pitch-converted to a half pitch, aligned, and transferred to the wafer transfer device WTR.

【0019】キャリアステージ10上には、キャリアC
の下端のコーナに係合してキャリアCを位置決めする突
起11が設けられている。
The carrier C is placed on the carrier stage 10.
Is provided with a protrusion 11 which engages with a corner at the lower end of the carrier to position the carrier C.

【0020】キャリア搬送装置CTRは、上下のZ方向
と水平のX方向に往復動し、かつ水平面内で回転運動を
するヘッド70を備える。そして、このヘッド70は、
キャリアCを保持してこれをキャリアステージ10から
ウェハ挿出入部20に移動させるための一対のハンドか
らなるチャック72を備える。
The carrier transporting device CTR is provided with a head 70 which reciprocates in the vertical Z direction and the horizontal X direction, and makes a rotary motion in a horizontal plane. And this head 70
A chuck 72 including a pair of hands for holding the carrier C and moving it from the carrier stage 10 to the wafer loading / unloading section 20 is provided.

【0021】ウェハ挿出入部20は、第1スライドテー
ブル21と第2スライドテーブル22とを備え、各スラ
イドテーブル21、22は、キャリアCの下端のコーナ
に係合してキャリアCを位置決めする突起11をそれぞ
れ有している。第1スライドテーブル21中央には開口
21bが開けられている。また第1スライドテーブル2
1下方には移動部材として、上面にウェハ保持溝が刻設
された第1昇降部材21a(図1参照)が設けられてお
り、第1スライドテーブル21とY方向に一体的に移動
する。同様に第2スライドテーブル22中央にも開口2
2bが開けられており、また第2スライドテーブル22
下方には、移動部材として、ウェハ保持溝が刻設された
第2昇降部材22aが設けられており、Y方向に第2ス
ライドテーブルと一体的に移動する。第1昇降部材21
a(図1参照)は、適当なタイミングでZ方向に往復移
動して、第1スライドテーブル21上に載置したキャリ
アC中に収納された第1ウェハ群の下端を保持し、該第
1ウェハ群状態でキャリアC上方の第1受渡し位置に移
動させる。また、第2昇降部材22aも、適当なタイミ
ングでZ方向に往復移動して、第2スライドテーブル2
2上に載置したキャリアC中に収納された第2ウェハ群
をそのままの配列状態でキャリアC上方の第2受渡し位
置に移動させる。
The wafer loading / unloading section 20 is provided with a first slide table 21 and a second slide table 22, and each of the slide tables 21 and 22 is a protrusion that engages with a corner at the lower end of the carrier C and positions the carrier C. 11 respectively. An opening 21b is opened in the center of the first slide table 21. Also, the first slide table 2
A first elevating member 21a (see FIG. 1) having a wafer holding groove formed on the upper surface is provided below 1 as a moving member and moves integrally with the first slide table 21 in the Y direction. Similarly, the opening 2 is also formed in the center of the second slide table 22.
2b is open and the second slide table 22
A second elevating member 22a having a wafer holding groove formed therein is provided as a moving member below and moves integrally with the second slide table in the Y direction. First lifting member 21
a (see FIG. 1) reciprocates in the Z direction at an appropriate timing to hold the lower end of the first wafer group housed in the carrier C placed on the first slide table 21. The wafer group is moved to the first delivery position above the carrier C. Further, the second elevating member 22a also reciprocates in the Z direction at an appropriate timing to move the second slide table 2
The second wafer group housed in the carrier C placed on the carrier 2 is moved to the second delivery position above the carrier C in the array state as it is.

【0022】なお、図3に示す様にキャリア搬送装置C
TRに設けたチャック72には、縦方向に延びるウェハ
保持溝73aが形成されており、第1昇降部材21aに
よって第1受渡し位置に移動させられた第1ウェハ群を
等ピッチに配列された状態で第1受渡し位置に保持す
る。そして、このチャック72には、後に詳細に説明す
るが、第2受渡し位置に移動させられた第2ウェハ群を
等ピッチに配列された状態で第2受渡し位置に保持する
機構も設けられている。
Incidentally, as shown in FIG.
A wafer holding groove 73a extending in the vertical direction is formed in the chuck 72 provided on the TR, and the first wafer group moved to the first delivery position by the first elevating member 21a is arranged at an equal pitch. And hold at the first delivery position. As will be described later in detail, the chuck 72 is also provided with a mechanism for holding the second wafer group moved to the second delivery position at the second delivery position in a state of being arranged at an equal pitch. .

【0023】ここに、一対のスライドテーブル21、2
2は、それぞれに設けたスライド機構及びその駆動のた
めのエアシリンダ(図示を省略)によってY方向に関し
て逆方向に相対移動可能となっており、各スライドテー
ブル21、22上におけるキャリアCの相対的位置を調
節することによって前述の第1及び第2受渡し位置の相
対的位置を調節する。これにより、第1受渡し位置でチ
ャック72に第1ウェハ群を受け取ったキャリア搬送装
置CTRが移動してこれに保持された第1ウェハ群が第
2受渡し位置側に搬送された場合において、第2昇降部
材22aによって第2ウェハ群を第2受渡し位置に移動
させるならば、第2ウェハ群が第1ウェハ群の隙間に接
触しない状態で挿入されることとなる。このとき、キャ
リア搬送装置CTRに設けたチャック72には、ウェハ
通過溝73bが形成されており、第1受渡し位置に配列
された第1ウェハ群を等ピッチに配列された状態に保っ
たままで、第2ウェハ群を第1ウェハ群の隙間に接触し
ない状態で挿入される。そして、このチャック72に
は、上記のウェハ通過溝73bに進退自在に設けられた
進退部材15が設けられており、第1ウェハ群の隙間に
接触しない状態で挿入されて第2受渡し位置に移動させ
たれた第2ウェハ群を等ピッチに配列された状態で第2
受渡し位置に保持する。以上のようにして、一対のスラ
イドテーブル21、22上に載置された一対のキャリア
C中に等ピッチで収納された第1及び第2ウェハ群を半
ピッチで整列させた第3ウェハ群として得ることができ
る。
Here, a pair of slide tables 21, 2
2 is relatively movable in the opposite direction with respect to the Y direction by a slide mechanism provided for each and an air cylinder (not shown) for driving the slide mechanism. Adjusting the position adjusts the relative position of the first and second delivery positions. As a result, when the carrier transfer device CTR that has received the first wafer group is moved to the chuck 72 at the first transfer position and the first wafer group held by the carrier transfer device CTR is transferred to the second transfer position side, If the second wafer group is moved to the second delivery position by the elevating / lowering member 22a, the second wafer group is inserted without coming into contact with the gap between the first wafer group. At this time, a wafer passage groove 73b is formed in the chuck 72 provided in the carrier transfer device CTR, and the first wafer group arranged at the first delivery position is kept in the state of being arranged at an equal pitch, The second wafer group is inserted without contacting the gap between the first wafer group. The chuck 72 is provided with an advancing / retreating member 15 that is capable of advancing / retreating in the wafer passage groove 73b, and is inserted without contacting the gap of the first wafer group and moved to the second delivery position. The separated second wafer group is arranged in a second array in the state of being arranged at an equal pitch.
Hold in the delivery position. As described above, the first and second wafer groups housed in the pair of carriers C placed on the pair of slide tables 21 and 22 at equal pitches are arranged as a third wafer group in which they are aligned at a half pitch. Obtainable.

【0024】ウェハリフタ30は、半ピッチに整列され
たウェハを一時的に保持するウェハ保持溝が刻設された
第3昇降部材31を設けたターンテーブル32からな
り、半ピッチに整列された第3ウェハ群をキャリア搬送
装置CTRから第3昇降部材30に受け取った後、ター
ンテーブル32を90゜回転させて第3昇降部材31を
Z方向に上昇させ、ウェハ搬送装置WTR側に半ピッチ
の第3ウェハ群を受け渡す。なお、第3昇降部材31を
上昇させた後にターンテーブル32を90゜回転させ
て、ウェハ搬送装置WTR側に半ピッチの第3ウェハ群
を受け渡すことも当然可能である。
The wafer lifter 30 comprises a turntable 32 provided with a third elevating member 31 in which a wafer holding groove for temporarily holding the wafers arranged in a half pitch is provided. After receiving the wafer group from the carrier transfer device CTR to the third elevating / lowering member 30, the turntable 32 is rotated 90 ° to raise the third elevating / lowering member 31 in the Z direction, and the third half-pitch wafer transfer device WTR is provided. Transfer wafers. It is of course possible to rotate the turntable 32 by 90 ° after raising the third elevating member 31 to transfer the half-pitch third wafer group to the wafer transfer device WTR side.

【0025】ウェハ搬送装置WTRは、そのヘッド80
に、ウェハリフタ30の第3昇降部材31に保持された
第3ウェハ群を保持するチャック82を備える。チャッ
ク82に保持された第3ウェハ群は、単槽式処理槽40
(図1参照)側に搬送され、ここで所定の処理が施され
る。
The wafer transfer device WTR has its head 80.
In addition, a chuck 82 for holding the third wafer group held by the third elevating member 31 of the wafer lifter 30 is provided. The third wafer group held by the chuck 82 is the single-tank type processing tank 40.
(See FIG. 1) and is subjected to predetermined processing.

【0026】図3は、キャリア搬送装置CTRに設けた
チャック72の構造を説明する図である。チャック72
は、一対のハンド73、73からなり、これらのハンド
73、73は、ヘッド70内に収納されている駆動源に
接続された一対の回転軸74、74に固定されており、
これらの回転軸74、74の回転に伴って開閉動作す
る。一対のハンド73、73下端の内面には、水平方向
に延びる溝79、79が切ってあり、ハンド73、73
の開閉に伴って、キャリアC上端の突起部に係合してキ
ャリアCを保持する。また、一対のハンド73、73の
対向する内面には、等ピッチで多数のウェハ保持溝73
aが刻設されており、ハンド73、73の開閉に伴っ
て、図2のスライドテーブル21上のキャリアC上方の
第1受渡し位置に移動させられた第1ウェハ群を等ピッ
チに配列された状態で保持する。また、ウェハ保持溝7
3aの間には、等ピッチでウェハ通過溝73bが刻設さ
れており、ウェハ保持溝73aで第1ウェハ群を保持し
た状態のままで、第2ウェハ群を第1ウェハ群の下側か
らその隙間に挿入することができるようになっている。
しかも、一対のハンド73、73の対向する内面には、
それぞれ基板保持部材である進退部材75、75が形成
されており、これらの進退部材75、75の対向する面
には、ウェハ通過溝73bと位置合わせされたウェハ保
持溝75aが刻設されており、進退部材75、75の突
出に伴って、ウェハ保持溝73aに保持された第1ウェ
ハ群の隙間、すなわちウェハ通過溝73bに挿入された
第2ウェハ群を保持する。なお、進退部材75、75の
進退は、アクチュエータであるエアシリンダ76によっ
て調節される。
FIG. 3 is a view for explaining the structure of the chuck 72 provided in the carrier transfer device CTR. Chuck 72
Is composed of a pair of hands 73, 73, and these hands 73, 73 are fixed to a pair of rotary shafts 74, 74 connected to a drive source housed in the head 70,
The opening / closing operation is performed as the rotary shafts 74, 74 rotate. Grooves 79, 79 extending in the horizontal direction are cut on the inner surfaces of the lower ends of the pair of hands 73, 73.
With the opening and closing of the carrier C, the carrier C is held by being engaged with the protrusion at the upper end of the carrier C. Further, on the inner surfaces of the pair of hands 73, 73 facing each other, a large number of wafer holding grooves 73 are arranged at an equal pitch.
a is engraved, and the first wafer group moved to the first delivery position above the carrier C on the slide table 21 of FIG. 2 according to the opening and closing of the hands 73, 73 is arranged at an equal pitch. Hold in the state. Also, the wafer holding groove 7
Wafer passing grooves 73b are engraved at equal intervals between 3a, and the second wafer group is moved from the lower side of the first wafer group while the first wafer group is held by the wafer holding grooves 73a. It can be inserted into the gap.
Moreover, on the inner surfaces of the pair of hands 73, 73 facing each other,
Advancing / retreating members 75, 75, which are substrate holding members, are formed, and wafer holding grooves 75a aligned with the wafer passage groove 73b are engraved on the opposing surfaces of these advancing / retreating members 75, 75. With the protrusion of the advancing / retreating members 75, 75, the gap between the first wafer group held in the wafer holding groove 73a, that is, the second wafer group inserted in the wafer passage groove 73b is held. The forward / backward movement of the forward / backward members 75, 75 is adjusted by an air cylinder 76 which is an actuator.

【0027】図4は、ハンド73の構造を説明する部分
拡大断面図である。エアシリンダ76の動作に伴ってシ
ャフト等から構成された伝達部材77を介して進退部材
75がAB方向に往復動する。進退部材75がB方向の
限界まで移動すると、第2ウェハ群がウェハ通過溝73
bに進入することが許容される。進退部材75がA方向
の限界まで移動すると、ウェハ通過溝73b内にある第
2ウェハ群が進退部材75に刻設したウェハ保持溝75
aによって保持される。
FIG. 4 is a partially enlarged sectional view for explaining the structure of the hand 73. Along with the operation of the air cylinder 76, the advancing / retreating member 75 reciprocates in the AB direction via a transmission member 77 composed of a shaft or the like. When the advancing / retreating member 75 moves to the limit in the B direction, the second wafer group moves to the wafer passage groove 73.
Entry into b is allowed. When the advancing / retreating member 75 moves to the limit in the A direction, the second wafer group in the wafer passage groove 73b is cut into the advancing / retreating member 75 by the wafer holding groove 75.
held by a.

【0028】図5及び図6は、図1から図4に示した実
施形態1の変形例を説明する図である。この変形例は、
ウェハ挿出入部20において、図2に示す一対のスライ
ドテーブル21、22を固定式のテーブル25に変更し
たものである。この変形例では、固定式のテーブル25
上にキャリア搬送装置CTRによって搬送されてきた一
対のキャリアCをその自重によって自動的に位置合わせ
する。
FIGS. 5 and 6 are views for explaining modified examples of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 4. This variant is
In the wafer loading / unloading section 20, the pair of slide tables 21 and 22 shown in FIG. 2 are replaced with a fixed table 25. In this modification, the fixed table 25
The pair of carriers C carried by the carrier carrying device CTR is automatically aligned by its own weight.

【0029】固定式のテーブル25上には、一対のキャ
リアC、Cの下端のコーナに係合してキャリアCを位置
決めする第1及び第2の突起28、29が設けられてい
る。第1の突起28と第2の突起29とは、ウェハの並
び方向であるX方向に関して互いに半ピッチ(p/2)
ずらして設けられている。さらに、第1及び第2の突起
28、29の上部には案内部である斜面28a、29a
が形成されており、キャリアCがテーブル25上に載置
される際には、キャリアC下部がこの斜面28a、29
aに当たりながら下降する。こうして、両キャリアC、
Cがこの斜面28a、29aに案内されるので、両キャ
リアC、Cはそれぞれ、半ピッチ(p/2)ずれた状態
で位置決めされる。つまり、第1及び第2の突起28、
29の斜面の大きさを適宜設定することで、複雑な装置
構成をとらずとも一対のキャリアC、Cを相互に半ピッ
チ(p/2)ずらすことができる。ここで、通常のピッ
チpは6インチウェハの場合、4.76ミリメートル、
8インチウェハの場合、6.35ミリメートルとなって
おり、このピッチPにてウェハがキャリアに収納されて
いる。なお、図面では省略しているが、4つの第1の突
起28で囲まれる部分の中央には開口21bが開けら
れ、この開口21bを通じて第1昇降部材21a(図1
参照)が昇降する。また同様に4つの第2の突起29で
囲まれる部分の中央には、開口22bが開けられ、この
開口22bを通じて第2昇降部材22a(図1参照)が
昇降する。
On the fixed table 25, there are provided first and second projections 28 and 29 for positioning the carrier C by engaging the corners at the lower ends of the pair of carriers C and C. The first protrusion 28 and the second protrusion 29 have a half pitch (p / 2) with respect to each other in the X direction, which is the direction in which the wafers are arranged.
They are staggered. Further, slopes 28a, 29a, which are guide portions, are provided on the upper portions of the first and second protrusions 28, 29.
Is formed, and when the carrier C is placed on the table 25, the lower part of the carrier C has the slopes 28a, 29.
It descends while hitting a. In this way, both carriers C,
Since C is guided to the slopes 28a and 29a, both carriers C and C are positioned with a half pitch (p / 2) offset. That is, the first and second protrusions 28,
By appropriately setting the size of the inclined surface of 29, the pair of carriers C can be shifted from each other by a half pitch (p / 2) without a complicated device configuration. Here, the normal pitch p is 4.76 mm for a 6-inch wafer,
In the case of an 8-inch wafer, it is 6.35 mm, and the wafers are stored in the carrier at this pitch P. Although not shown in the drawing, an opening 21b is formed in the center of the portion surrounded by the four first protrusions 28, and the first elevating member 21a (see FIG. 1) is formed through the opening 21b.
(See) goes up and down. Similarly, an opening 22b is opened in the center of the portion surrounded by the four second protrusions 29, and the second elevating member 22a (see FIG. 1) moves up and down through the opening 22b.

【0030】図6は、第1の突起28の構造を説明する
側面図である。第1の突起28の上部に設けた案内部で
ある斜面28aは、キャリアCがテーブル25上に載置
される際に、キャリアC下部を案内する。第1の突起2
8の下部に設けた位置決め部である位置合わせ面28b
は、キャリアCがテーブル25上に載置された際に、キ
ャリアC下部を保持する。
FIG. 6 is a side view for explaining the structure of the first protrusion 28. The inclined surface 28a, which is a guide portion provided on the upper portion of the first protrusion 28, guides the lower portion of the carrier C when the carrier C is placed on the table 25. First protrusion 2
Positioning surface 28b which is a positioning portion provided in the lower portion of 8
Holds the lower part of the carrier C when the carrier C is placed on the table 25.

【0031】また、テーブル25上にキャリアCの下端
に当接する位置決め部材と、キャリアCを該位置決め部
材に向って押圧しキャリアCを位置決めするエアーシリ
ンダ等の押圧手段とを設けて、第1受渡し位置と第2受
渡し位置との相対的な位置を調節してもよい。
Further, a positioning member for contacting the lower end of the carrier C and a pressing means such as an air cylinder for pressing the carrier C toward the positioning member to position the carrier C are provided on the table 25, and the first delivery is performed. The relative position between the position and the second delivery position may be adjusted.

【0032】以上から明らかなように、実施形態1の基
板処理装置によれば、キャリアステージ10上に一対の
キャリアCを受け取ってこれらのキャリアC中に等ピッ
チで整立収納された基板を半ピッチにピッチ変換して配
列させるに際して、搬送手段として単一のキャリア搬送
装置CTRを必要とするのみである。したがって、ピッ
チ変換のための機構を簡素なものとすることができる。
つまり、従来のキャリア搬送装置CTRをほとんどその
まま利用してそのチャック72にピッチ変換のための進
退部材75等を設けるだけで足る。さらに、キャリア搬
送装置CTRのチャック72は単槽式処理槽40側に移
動しないので、このチャック72に設けた進退部材75
等が薬液に晒されて劣化の進行が早くなってランニング
コストが上昇するといった事態を防止できる。さらに、
キャリア搬送装置CTRを単槽式処理槽40側に移動さ
せないことにより、パーティクルが単槽式処理槽40に
入ってウェハに付着することを防止することができるの
で処理後のウェハの品質を向上させることができる。そ
の他、基板を半ピッチにピッチ変換して配列させる機能
がキャリア搬送装置CTRにほとんど集中しているの
で、他の部分の構造を簡素なものとすることができると
ともに、その仕様変更等が容易なものとなる。
As is apparent from the above, according to the substrate processing apparatus of the first embodiment, the pair of carriers C are received on the carrier stage 10 and the substrates C which have been set up and stored at equal pitches in these carriers C are half. A single carrier transporting device CTR is only required as a transporting device when the pitches are converted into pitches and arranged. Therefore, the mechanism for pitch conversion can be simplified.
That is, it suffices to use the conventional carrier transfer device CTR almost as it is and provide the chuck 72 with the advancing / retreating member 75 for pitch conversion. Further, since the chuck 72 of the carrier transfer device CTR does not move to the single tank type processing tank 40 side, the advancing / retreating member 75 provided on the chuck 72 is disposed.
It is possible to prevent a situation in which, for example, is exposed to a chemical solution and deterioration progresses rapidly, resulting in an increase in running cost. further,
By not moving the carrier transfer device CTR to the single-tank processing tank 40 side, it is possible to prevent particles from entering the single-tank processing tank 40 and adhering to the wafer, thus improving the quality of the processed wafer. be able to. In addition, since the function of arranging the substrates by converting them into a half-pitch and arranging them is mostly concentrated in the carrier transfer device CTR, it is possible to simplify the structure of other parts and easily change the specifications thereof. Will be things.

【0033】以下、実施形態2の基板処理装置について
説明する。この実施形態2は、実施形態1のウェハ挿出
入部20、ウェハリフタ30及びキャリア搬送装置CT
Rを変更したものである。したがって、他の部分につい
ては共通するので詳細な説明は省略する。
The substrate processing apparatus of the second embodiment will be described below. In the second embodiment, the wafer loading / unloading section 20, the wafer lifter 30, and the carrier transfer device CT of the first embodiment are used.
It is a modification of R. Therefore, other parts are common, and detailed description thereof will be omitted.

【0034】図7は、実施形態2の基板処理装置の構造
及び動作を説明する図である。ここで、図7(a)は、
実施形態2の基板処理装置の要部の平面構造を示し、図
7(b)は、一対のキャリアC中に等ピッチで整立収納
された基板を半ピッチにピッチ変換して配列させる方法
を説明する図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining the structure and operation of the substrate processing apparatus of the second embodiment. Here, FIG.
FIG. 7B shows a planar structure of a main part of the substrate processing apparatus according to the second embodiment, and FIG. 7B shows a method of arranging the substrates, which have been set up and stored in a pair of carriers C at equal pitches, by performing pitch conversion into a half pitch. It is a figure explaining.

【0035】図7(a)において、実施形態2の基板処
理装置のキャリア搬送装置CTRは、実施形態1の場合
と異なり、キャリアCのみを搬送する。したがって、図
示を省略するが、キャリア搬送装置CTRに設けたチャ
ックには、図3の場合と異なり、一対のハンド73、7
3下端の対向する内面に、キャリアC上部を保持するた
めの水平方向に延びる一対の溝79、79が切ってある
のみである。
In FIG. 7A, the carrier transfer device CTR of the substrate processing apparatus of the second embodiment transfers only the carrier C, unlike the case of the first embodiment. Therefore, although not shown, the chuck provided in the carrier transfer device CTR has a pair of hands 73, 7 unlike the case of FIG.
Only a pair of horizontally extending grooves 79, 79 for holding the upper portion of the carrier C are cut in the inner surfaces of the lower end 3 facing each other.

【0036】インターフェース部IFは、キャリアCか
らウェハを取り出して半ピッチにピッチ変換するととも
に、半ピッチにピッチ変換されたウェハをウェハ搬送装
置WTRに受け渡すための部分である。
The interface section IF is a section for taking out the wafer from the carrier C, converting the pitch to a half pitch, and transferring the wafer whose pitch has been converted to the half pitch to the wafer transfer device WTR.

【0037】インターフェース部IFに設けたスライド
テーブル90は、X方向に適宜移動可能で、キャリアス
テージ10からキャリア搬送装置CTRによって搬送さ
れた一対のキャリアCを受け取る第1ポジション(図中
の点線)と、受け取った一対のキャリアCの一方中の第
1ウェハ群がキャリアC上に取り出される第2ポジショ
ン(図中の一点鎖線)と、受け取った一対のキャリアC
の他方中の第2ウェハ群がキャリアC上に取り出される
第3ポジション(図中の実線)との間で移動する。な
お、この第3ポジションで取り出される第2ウェハ群
は、第2ポジションで取り出される第1ウェハ群に対し
てウェハの配列方向(X方向)に関して半ピッチずれた
位置となる。
The slide table 90 provided in the interface section IF is movable in the X direction as appropriate, and has a first position (a dotted line in the figure) for receiving the pair of carriers C transported from the carrier stage 10 by the carrier transport device CTR. , A second position (one-dot chain line in the figure) where the first wafer group in one of the pair of received carriers C is taken out onto the carrier C, and the pair of received carriers C
The second wafer group in the other one moves to and from the third position (solid line in the drawing) taken out onto the carrier C. The second wafer group taken out at the third position is a position shifted by a half pitch with respect to the wafer arrangement direction (X direction) with respect to the first wafer group taken out at the second position.

【0038】なお、スライドテーブル90は、一対のキ
ャリアCを載置して水平面内で回転する一対のターンテ
ーブル91、92を備える。キャリア搬送装置CTRに
よって、ウェハの配列方向がY方向である状態で両ター
ンテーブル91、92に載置されたキャリアCは、水平
面内で90゜回転して内部のウェハの配列方向を図示の
ようにY方向からX方向に変換する。
The slide table 90 includes a pair of turntables 91 and 92 on which a pair of carriers C are placed and which rotate in a horizontal plane. By the carrier transfer device CTR, the carriers C placed on both turntables 91 and 92 in a state where the wafers are arranged in the Y direction are rotated by 90 ° in the horizontal plane, and the arrangement direction of the internal wafers is shown in the figure. Convert from Y direction to X direction.

【0039】ターンテーブル91の中央には、ウェハ保
持溝が刻設されX方向にスライドテーブル90と一体的
に移動する第1昇降部材91aが設けられている。この
第1昇降部材91aは、スライドテーブル90が第2ポ
ジションにあるときにZ方向に上昇して、ターンテーブ
ル92上のキャリアC中に収納された第1ウェハ群を等
ピッチに配列された状態でキャリアC上方に移動させ
る。このとき、固定チャック手段としての固定チャック
95は、ターンテーブル92上のキャリアC上に移動さ
せられた第1ウェハ群を等ピッチに配列された状態で保
持する。なお、固定チャック95には、第1ウェハ群を
保持するため、図3のウェハ保持溝73aと同様のウェ
ハ保持溝が刻設されている。
At the center of the turntable 91, there is provided a first elevating member 91a which is provided with a wafer holding groove and which moves integrally with the slide table 90 in the X direction. The first elevating member 91a moves upward in the Z direction when the slide table 90 is in the second position, and the first wafer groups housed in the carrier C on the turntable 92 are arranged at equal pitches. The carrier C is moved above. At this time, the fixed chuck 95 as the fixed chuck means holds the first wafer group moved onto the carrier C on the turntable 92 in a state of being arranged at an equal pitch. The fixed chuck 95 is provided with a wafer holding groove similar to the wafer holding groove 73a in FIG. 3 for holding the first wafer group.

【0040】ターンテーブル92の中央には、ウェハ保
持溝が刻設されX方向にスライドテーブル90と一体的
に移動する第2昇降部材92aが設けられている。この
第2昇降部材92aは、スライドテーブル90が第3ポ
ジションにあるときにZ方向に上昇して、ターンテーブ
ル91上のキャリアC中に収納された第2ウェハ群を等
ピッチで配列された状態でキャリアC上方に移動させ
る。このとき、固定チャック95には、第1ウェハ群が
保持されているが、第2昇降部材92aによって第2ウ
ェハ群の基板が第1ウェハ群の基板の隙間に接触しない
状態で挿入されるのを許容するため、基板挿入部として
図3のウェハ通過溝73bと同様のウェハ通過溝が刻設
されている。
In the center of the turntable 92, a wafer holding groove is provided, and a second elevating member 92a is provided which moves integrally with the slide table 90 in the X direction. The second elevating member 92a moves up in the Z direction when the slide table 90 is in the third position, and the second wafer groups housed in the carrier C on the turntable 91 are arranged at an equal pitch. The carrier C is moved above. At this time, although the first wafer group is held on the fixed chuck 95, the second lifting member 92a inserts the substrate of the second wafer group in a state where the substrate of the second wafer group does not come into contact with the gap between the substrates of the first wafer group. In order to allow the above, a wafer passage groove similar to the wafer passage groove 73b of FIG. 3 is formed as a substrate insertion portion.

【0041】ここで、ターンテーブル92の中央に配置
された第2昇降部材92aは、半ピッチの間隔で刻設さ
れたウェハ保持溝を有する。したがって、第2昇降部材
92aが上昇を続けると、固定チャック95に保持され
た第1ウェハ群の隙間に第2ウェハ群の基板が接触しな
い状態で挿入され、これら第1及び第2ウェハ群は、互
い違いに半ピッチで整列させた第3ウェハ群として、第
2昇降部材92aとともに一体的に上昇する。
Here, the second elevating member 92a arranged in the center of the turntable 92 has a wafer holding groove formed at intervals of a half pitch. Therefore, when the second elevating member 92a continues to rise, the substrates of the second wafer group are inserted into the gaps of the first wafer group held by the fixed chuck 95 without contacting them, and the first and second wafer groups are As a third wafer group which is alternately arranged at a half pitch, the third wafer group is integrally lifted together with the second elevating member 92a.

【0042】図7(b)は、通常のピッチの第1及び第
2ウェハ群から半ピッチの第3ウェハ群を得るまでの工
程を説明する図である。スライドテーブル90が第3ポ
ジションにあるとき、固定チャック95には既に最初の
キャリアCからの第1ウェハ群WG1が保持されてい
る。第2昇降部材92aが上昇すると、キャリアC中の
第2ウェハ群WG2の基板が第1ウェハ群WG1の基板の
隙間に接触しない状態で挿入される。さらに第2昇降部
材92aが上昇すると、第1及び第2ウェハ群WG1、
WG2は、これらを互い違いに半ピッチで整列させた第
3ウェハ群WG3として一体的に上昇する。固定チャッ
ク95上方の基板受け渡し位置には、ウェハ搬送装置W
TRのチャック82が待機している。したがって、第2
昇降部材92aとともに上昇した第3ウェハ群WG3
は、このチャック82に保持され、処理槽側に搬送され
る。
FIG. 7 (b) is a diagram for explaining the steps from obtaining the first and second wafer groups having a normal pitch to obtaining the third wafer group having a half pitch. When the slide table 90 is in the third position, the fixed chuck 95 already holds the first wafer group WG1 from the first carrier C. When the second elevating member 92a moves up, the substrates of the second wafer group WG2 in the carrier C are inserted without coming into contact with the gaps between the substrates of the first wafer group WG1. When the second elevating member 92a further rises, the first and second wafer groups WG1,
WG2 rises integrally as a third wafer group WG3 in which these are alternately arranged at a half pitch. The wafer transfer device W is provided at the substrate transfer position above the fixed chuck 95.
The TR chuck 82 is on standby. Therefore, the second
Third wafer group WG3 raised together with the lifting member 92a
Is held by the chuck 82 and conveyed to the processing tank side.

【0043】以上から明らかなように、実施形態2の基
板処理装置によれば、キャリアステージ10に一対のキ
ャリアCを受け取ってこれらのキャリアC中に通常のピ
ッチで整立収納された基板を半ピッチにピッチ変換して
配列させるに際して、キャリア搬送装置CTR等の搬送
手段を用いない。したがって、ピッチ変換のための機構
と動作を簡易かつ正確なものとすることができる。
As is clear from the above, according to the substrate processing apparatus of the second embodiment, the pair of carriers C are received by the carrier stage 10 and the substrates C which are set up and stored at regular pitches in these carriers C are halved. When the pitch is converted into pitches and arranged, the carrier means such as the carrier carrier CTR is not used. Therefore, the mechanism and operation for pitch conversion can be made simple and accurate.

【0044】また、固定チャック95は水平面内におい
て回転、移動したり、垂直方向に昇降したりしないの
で、スライドテーブル90の位置決めを行うだけで確実
に固定チャック95のウェハ保持溝が第1ウェハ群WG
1を保持することができ、そして、第二ウェハ群WG2
を基板挿入部であるウェハ通過溝に通過させることがで
きる。従って、位置決めが容易であるとともに、機構、
動作を簡単にすることができる。
Further, since the fixed chuck 95 does not rotate, move, or vertically move up and down in the horizontal plane, the wafer holding groove of the fixed chuck 95 can be reliably positioned only by positioning the slide table 90. WG
1 and can hold the second wafer group WG2
Can be passed through the wafer passage groove which is the substrate insertion portion. Therefore, the positioning is easy, and the mechanism,
The operation can be simplified.

【0045】また、ウェハ搬送装置WTRが固定チャッ
ク95上方に移動するので、第1ウェハ群WG1を構成
するウェハとウェハとの隙間に第2ウェハ群WG2を挿
入する動作と、前記第1ウェハ群WG1と第2ウェハ群
WG2とから構成される、半ピッチで整列した第3ウェ
ハ群WG3をウェハ搬送装置WTRに渡す位置に移動さ
せる動作とが第2昇降部材92aによって一度に行われ
るので、ウェハの搬送に要する時間が長くなることを防
止できる。従って、スループットの低下を防止すること
ができる。
Since the wafer transfer device WTR moves above the fixed chuck 95, the operation of inserting the second wafer group WG2 into the gap between the wafers forming the first wafer group WG1 and the first wafer group Since the operation of moving the third wafer group WG3, which is composed of the WG1 and the second wafer group WG2 and aligned at a half pitch, to the position where the third wafer group WG3 is transferred to the wafer transfer device WTR is performed at once by the second elevating member 92a, the wafer It is possible to prevent an increase in the time required for the transportation. Therefore, it is possible to prevent a decrease in throughput.

【0046】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、この発明は、上記実施形態に限定されるものでは
ない。例えば、実施形態1において、キャリア搬送装置
CTRのチャック72に組み込んだ進退部材75、75
で第2ウェハ群のみならず第1ウェハ群を保持すること
としてもよい。
Although the present invention has been described with reference to the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the first embodiment, the advancing / retreating members 75, 75 incorporated in the chuck 72 of the carrier transfer device CTR.
Therefore, not only the second wafer group but also the first wafer group may be held.

【0047】また、図5に示す変形例では、第1及び第
2の突起28、29をキャリアCの4隅に対応させて設
置しているが、これに代えて、テーブル25上に載置さ
れた一対のキャリアCの下端において例えばキャリアC
の+X方向側から当接する位置決め部材と、一対のキャ
リアCを位置決め部材にそれぞれ押圧する押圧部材とを
用いることができる。この際、位置決め部材は、第1及
び第2の突起28、29に設けていた斜面28a、29
aを必要としない。
Further, in the modification shown in FIG. 5, the first and second protrusions 28 and 29 are installed so as to correspond to the four corners of the carrier C, but instead of this, they are placed on the table 25. At the lower ends of the paired carriers C, for example, the carrier C
It is possible to use a positioning member that abuts from the + X direction side and a pressing member that presses the pair of carriers C against the positioning member. At this time, the positioning member uses the slopes 28a, 29 provided on the first and second protrusions 28, 29.
does not need a.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1の基板処理装置によれば、キャリアステージに受け取
った一対のキャリア中にそれぞれ等ピッチで整立収納さ
れた基板を半ピッチにピッチ変換して配列させるに際し
て、単一の搬送手段を必要とするのみである。したがっ
て、ピッチ変換のための機構を簡素なものとすることが
できる。
As is apparent from the above description, according to the substrate processing apparatus of the first aspect, the substrates, which are set up and stored at equal pitches in the pair of carriers received by the carrier stage, are pitched at a half pitch. When converting and arranging, only a single conveying means is required. Therefore, the mechanism for pitch conversion can be simplified.

【0049】請求項2の基板処理装置によれば、位置調
節手段がキャリア下端を案内する案内部と、案内された
キャリアの下端が嵌り込む位置決め部とを有するので、
キャリアが自重で降下することによって位置決めが行わ
れる。従って、複雑な装置構成をとることなく第1及び
第2受け渡し位置の基板並び方向における相対位置を調
節することができる。
According to the substrate processing apparatus of the second aspect, the position adjusting means has the guide portion for guiding the lower end of the carrier and the positioning portion into which the lower end of the guided carrier is fitted.
Positioning is performed by lowering the carrier by its own weight. Therefore, the relative positions of the first and second transfer positions in the substrate arrangement direction can be adjusted without taking a complicated device configuration.

【0050】請求項3の基板処理装置によれば、キャリ
アステージに受け取った一対のキャリア中にそれぞれ等
ピッチで整立収納された基板を半ピッチにピッチ変換し
て配列させるに際して、単一の搬送手段を必要とするの
みである。しかも、第1群の基板の隙間に第2群の基板
を挿入する際の位置合わせをキャリア載置台の移動のみ
によって行うことができるので、位置決めが簡単で、ピ
ッチ変換のために要する機構及び動作が簡単なものとな
る。
According to the substrate processing apparatus of the third aspect, when a pair of carriers received in the carrier stage and arranged and stored in a set at equal pitches are arranged after being pitch-converted into a half pitch, a single transfer is performed. It just needs means. Moreover, since the positioning when inserting the second group of substrates into the gap between the first group of substrates can be performed only by moving the carrier mounting table, the positioning is simple and the mechanism and operation required for pitch conversion are provided. Will be easy.

【0051】請求項4の基板処理装置によれば、基板搬
送手段が固定チャック手段上方に移動するので、第1群
の基板を構成する基板と基板との隙間に第2群の基板を
挿入する動作と、前記第1群の基板と第2群の基板とか
ら構成される、半ピッチで整列した第3群の基板を基板
搬送手段に渡す位置に移動させる動作とが第2移動部材
によって一度に行われるので、基板の搬送に要する時間
が長くなることを防止できる。従って、スループットの
低下を防止することができる。
According to the substrate processing apparatus of the fourth aspect, since the substrate transfer means moves above the fixed chuck means, the second group of substrates is inserted into the gap between the substrates forming the first group of substrates. The operation and the operation of moving the third group of substrates, which are composed of the first group of substrates and the second group of substrates and are aligned at a half pitch, to the position where they are transferred to the substrate transfer means are performed once by the second moving member. Therefore, it is possible to prevent the time required for carrying the substrate from becoming long. Therefore, it is possible to prevent a decrease in throughput.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施形態1の基板処理装置の平面構造を説明す
る図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a planar structure of a substrate processing apparatus according to a first embodiment.

【図2】図1の基板処理装置の要部を説明する図であ
る。
FIG. 2 is a diagram illustrating a main part of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】図2に示すキャリア搬送装置CTRの要部を説
明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a main part of the carrier transport device CTR shown in FIG.

【図4】図3に示すハンド73の要部を説明する図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a main part of a hand 73 shown in FIG.

【図5】図1の基板処理装置の変形例を説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a modified example of the substrate processing apparatus of FIG.

【図6】図5の要部を説明する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a main part of FIG.

【図7】実施形態1の基板処理装置の構造及び動作を説
明する図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating the structure and operation of the substrate processing apparatus according to the first embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 キャリアステージ 11 突起 20 ウェハ挿出入部 21 キャリア載置部 21 スライドテーブル 30 ウェハリフタ 32 ターンテーブル 40 単槽式処理槽 50 乾燥部 70 ヘッド 72 チャック 73 ハンド 73a ウェハ保持溝 73b ウェハ通過溝 75 進退部材 75a ウェハ保持溝 76 エアシリンダ 77 伝達部材 79 溝 80 ヘッド 82 チャック C キャリア CTR キャリア搬送装置 W ウェハ WTR ウェハ搬送装置 10 Carrier Stage 11 Protrusion 20 Wafer Inserting / Removing Part 21 Carrier Placement Part 21 Slide Table 30 Wafer Lifter 32 Turntable 40 Single Tank Type Processing Tank 50 Drying Part 70 Head 72 Chuck 73 Hand 73a Wafer Holding Groove 73b Wafer Passing Groove 75 Advancing / Retracting Member 75a Wafer holding groove 76 Air cylinder 77 Transmission member 79 Groove 80 Head 82 Chuck C Carrier CTR Carrier transfer device W Wafer WTR Wafer transfer device

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キャリアステージに受け取った一対のキ
ャリア中にそれぞれ等ピッチで整立収納された基板を半
ピッチにピッチ変換して配列させ、当該半ピッチで配列
された基板を処理液で満たされた処理槽中で浸漬処理す
る基板処理装置において、 キャリアステージから搬送される一対のキャリアを載置
可能であるとともに、載置した一方のキャリア中に収納
された第1群の基板を等ピッチで配列された状態で当該
一方のキャリア上の第1受渡し位置に移動させる第1移
動部材と、載置した他方のキャリア中に収納された第2
群の基板を等ピッチで配列された状態で当該他方のキャ
リア上の第2受渡し位置に移動させる第2移動部材とを
有するキャリア載置台と、 前記キャリアを前記キャリアステージから前記キャリア
載置台に移動させる際に当該キャリアを保持するキャリ
ア保持部と、第1移動部材によって前記第1受渡し位置
に移動させられた前記第1群の基板を等ピッチで配列さ
れた状態で保持可能な第1基板保持部と、前記第2受渡
し位置に移動させられた前記第2群の基板を等ピッチで
配列された状態で保持可能な第2基板保持部とを設けた
チャック機構を備える搬送手段と、 前記搬送手段が移動して前記第1基板保持部に保持され
た前記第1群の基板が前記第2受渡し位置側に搬送され
た場合において前記第2移動部材によって前記他方のキ
ャリア中の前記第2群の基板を前記第2受渡し位置に移
動させたときに前記第2群の基板が前記第1群の基板の
隙間に接触しない状態で挿入されるように、前記第1及
び第2受渡し位置の基板並び方向における相対的位置を
調節する位置調節手段と、を備えることを特徴とする基
板処理装置。
1. A pair of carriers received on a carrier stage are arranged and arranged at equal pitches in a pair of carriers, and the substrates are arranged with a pitch converted into a half pitch, and the substrates arranged at the half pitch are filled with a processing liquid. In a substrate processing apparatus for immersion treatment in a processing tank, a pair of carriers conveyed from a carrier stage can be placed, and the first group of substrates stored in one of the placed carriers can be placed at an equal pitch. A first moving member that moves the first carrier to the first delivery position on the one carrier in the arranged state, and a second moving member housed in the other carrier that is placed.
A carrier mounting table having a second moving member that moves the substrates of the group to the second delivery position on the other carrier in a state of being arranged at an equal pitch; and moving the carrier from the carrier stage to the carrier mounting table. A first substrate holder capable of holding the carrier holding portion that holds the carrier when carrying out the operation, and the first group of substrates that have been moved to the first transfer position by the first moving member in a state of being arranged at an equal pitch. Means and a transfer mechanism including a chuck mechanism having a second substrate holding part capable of holding the second group of substrates moved to the second transfer position in a state of being arranged at an equal pitch; In the other carrier by the second moving member when the first group of substrates held by the first substrate holding part is transported to the second delivery position side by the moving means. The first and second substrates are arranged so that when the second group of substrates is moved to the second delivery position, the second group of substrates is inserted without contacting the gap between the first group of substrates. A substrate processing apparatus comprising: a position adjusting unit that adjusts a relative position of the transfer position in the substrate arrangement direction.
【請求項2】 前記位置調節手段は、前記搬送手段によ
って搬送されて前記キャリア載置台上に降下する前記一
対のキャリアの下端をそれぞれ案内する案内部と、前記
一対のキャリアが前記キャリア載置台上に載置されたと
きに前記一対のキャリアの下端がそれぞれ嵌り込む位置
決め部とを有することを特徴とする請求項1記載の基板
処理装置。
2. The position adjusting means guides the lower ends of the pair of carriers, which are conveyed by the conveying means and descend onto the carrier mounting table, and the pair of carriers on the carrier mounting table. 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a positioning portion into which the lower ends of the pair of carriers are fitted when mounted on the substrate.
【請求項3】 キャリアステージに受け取った一対のキ
ャリア中にそれぞれ等ピッチで整立収納された基板を半
ピッチにピッチ変換して配列させ、当該半ピッチで配列
された基板を処理液で満たされた処理槽中で浸漬処理す
る基板処理装置において、 前記キャリアを搬送するキャリア搬送手段と、 前記キャリアステージから前記キャリア搬送手段によっ
て搬送された前記一対のキャリアを受け取る第1ポジシ
ョンと、受け取った一方のキャリア中の第1群の基板が
キャリア上に取り出される第2ポジションと、受け取っ
た他方のキャリア中の第2群の基板がキャリア上に取り
出されるとともに当該取り出された第2群の基板が前記
第2ポジションで取り出されている前記第1群の基板に
対して基板の配列方向に関して半ピッチずれた位置とな
る第3ポジションとの間で移動可能であり、前記第2ポ
ジションにあるときに前記一方のキャリア中に収納され
た前記第1群の基板を等ピッチで配列された状態で当該
一方のキャリア上に移動させる第1移動部材と、前記第
3ポジションにあるときに前記他方のキャリア中に収納
された前記第2群の基板を等ピッチで配列された状態で
当該他方のキャリア上に移動させる第2移動部材とを有
するキャリア載置台と、 キャリア載置台が第2ポジションにあるときの前記一方
のキャリア上に固定され、前記一方のキャリア上に移動
させられた前記第1群の基板を等ピッチで配列された状
態で保持可能な第1基板保持部と、前記キャリア載置台
が前記第3ポジションにあるときに前記第2移動部材に
よって前記第2群の基板が前記第1群の基板の隙間に接
触しない状態で挿入されるのを許容する基板挿入部とを
有する固定チャック手段とを備え、 前記第2移動部材が、前記第1基板保持部に保持された
前記第1群の基板と当該第1群の基板の隙間に接触しな
い状態で挿入された前記第2群の基板とを前記チャック
手段上方の基板受け渡し位置に移動させることを特徴と
する基板処理装置。
3. A pair of carriers received on a carrier stage are arranged and arranged at equal pitches in a pair of carriers, and are arranged at a pitch converted into a half pitch, and the substrates arranged at the half pitch are filled with a treatment liquid. In a substrate processing apparatus for performing immersion treatment in a processing tank, a carrier transfer unit for transferring the carrier, a first position for receiving the pair of carriers transferred by the carrier transfer unit from the carrier stage, and one of the received positions. The second position in which the first group of substrates in the carrier is taken out onto the carrier, and the second group of substrates in the other received carrier are taken out onto the carrier and the taken out second group of substrates is the above-mentioned second position. The position is shifted by a half pitch with respect to the substrate arrangement direction with respect to the first group of substrates taken out in two positions. The substrate of the first group, which is movable between the third position and the second position and is accommodated in the one carrier, is arranged on the one carrier while being arranged at an equal pitch. A second moving member for moving the first moving member, and a second moving member for moving the second group of substrates housed in the other carrier on the other carrier in the third position while being arranged at equal pitches; A carrier mounting table having a moving member, and the first group of substrates fixed on the one carrier when the carrier mounting table is in the second position and moved to the one carrier at an equal pitch. A gap between the first group of substrates that can be held in an array state and the second group of substrates is separated from the first group of substrates by the second moving member when the carrier mounting table is in the third position. Fixed chuck means having a substrate insertion part that allows the substrate to be inserted in a state where the second moving member is held by the first substrate holding part and the first group of substrates. A substrate processing apparatus, wherein the second group of substrates inserted without contacting the gap between the first group of substrates is moved to a substrate transfer position above the chuck means.
【請求項4】 前記固定チャック手段上方の前記基板受
け渡し位置に移動して前記第1及び第2群の基板を受け
取るとともに前記第1及び第2群の基板を前記処理槽側
に搬送する基板搬送手段をさらに備えることを特徴とす
る請求項3記載の基板処理装置。
4. A substrate transfer that moves to the substrate transfer position above the fixed chuck means to receive the first and second groups of substrates and transfers the first and second groups of substrates to the processing bath side. The substrate processing apparatus according to claim 3, further comprising means.
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