JPH095630A - 光走査方法 - Google Patents

光走査方法

Info

Publication number
JPH095630A
JPH095630A JP7148597A JP14859795A JPH095630A JP H095630 A JPH095630 A JP H095630A JP 7148597 A JP7148597 A JP 7148597A JP 14859795 A JP14859795 A JP 14859795A JP H095630 A JPH095630 A JP H095630A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
scanning
lines
frame
images
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7148597A
Other languages
English (en)
Inventor
Kouji Yamagaki
浩司 山垣
Makoto Yamazaki
真 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP7148597A priority Critical patent/JPH095630A/ja
Publication of JPH095630A publication Critical patent/JPH095630A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 褪色を抑え、コントラストの良好な標本画像
を得る。 【構成】 共焦点レーザ走査顕微鏡における光走査方法
であって、画像取得条件の調整に際し、試料へのレーザ
光の照射を間歇的に行い、かつ、各フレームごとの走査
ラインを変更する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光走査方法に関する
ものである。さらに詳しくは、この発明は、褪色を抑
え、共焦点レーザ走査顕微鏡においてコントラストの良
好標本画像を得ることのできる改善された光走査方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】光走査装置を顕微鏡に組み込み、従来の
光学顕微鏡に比較して高い解像力をもたせたものとして
共焦点レーザ走査顕微鏡が知られている。この共焦点レ
ーザ走査顕微鏡は、主として光源、顕微鏡本体、制御・
解析を行うコンピュータ、そしてモニター等から構成さ
れている。たとえば図2に示したように、この顕微鏡で
は、光源から出射されたレーザ光(1)は対物レンズ
(2)により絞られ、試料のある一点の最小サイズのス
ポットとして照射される。スポット内の試料からの光は
再び対物レンズ(2)およびレンズ(3)を通過して細
く絞られる。共焦点が結ばれる位置にはピンホールフィ
ルタ(4)が置かれており、焦点面(5)からの光のみ
が光検出器(6)に達して像は電気信号化されるが、焦
点面(5)以外からの光は大部分がピンホールフィルタ
(4)を通過できないので、光検出器(6)に達しな
い。そのため、通常の光学顕微鏡で像がぼやける原因と
なっていた焦点面以外からの光は共通レーザ走査顕微鏡
では画像化されず、焦点面(5)の画像のみが得られる
ことになる。このスポットの位置を、図3に示すよう
に、移動すなわち走査(走査ライン数は例えば480本
で)することにより、XY平面のデータを読みとる。こ
のようにピンホールフィルタ(4)を置くことにより、
焦点面からの光のみを得ることができるため、深さ方向
の解像度が飛躍的に改良され、同時にコントラストが高
まる。
【0003】ただ、このような、共焦点レーザ走査顕微
鏡で観察し得る生物細胞等の標本はほとんど蛍光性を有
するものに限られており、この場合走査の繰り返しによ
る蛍光励起時間の延長に伴う試料の蛍光の褪色が最も問
題となる。特に、画像データの取得に先立ち行われる諸
条件(レーザパワー、光検出器など)の調節時に蛍光が
褪色してしまい、実際に必要となる画像データが得られ
なくなる恐れがある。そこで、これまで、画像取得条件
調節時に褪色を抑えるために2つの方法が用いられてい
る。第1の方法としては、試料へのレーザ光の照射を間
歇的に行い蛍光励起時間を短くする方法である。第2の
方法としては、図4に示すように1フレームあたりの走
査ライン数を(例えば480本から120本に)減ら
し、試料全体ではなく特定の部分のみを走査する方法で
ある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
上記第1の方法では、レーザ光の照射を試料全体に対し
て行っているので、照射を間歇的に行ったとしても、走
査ライン数を減らした粗い画像で実施することのできる
画像取得条件(レーザパワー、光検出器など)の調節時
に必要以上に多くの部分が褪色してしまうという問題が
ある。このため、画像取得条件調節時にこの方法を採用
すると、次に全走査ラインを使用して詳細な標本画像デ
ータを取得した場合、褪色がかなりあり、蛍光が非常に
弱くコントラストがきわめて悪い画像となる。
【0005】また上記第2の方法では、各フレームで試
料の同じ部分を走査しているので画像取得条件調節時に
走査された部分は褪色があり、走査されていない部分は
褪色がないという問題がある。画像取得条件調節時にこ
の方法を採用すると、次に全走査ラインを使用して詳細
な標本画像データを取得した場合、試料内で褪色の度合
いが不均一でありコントラストが悪い画像となる。
【0006】そこで、この発明は、以上の通りの従来の
問題点に鑑みてなされたものであって、画像取得条件
(レーザパワー、光検出器など)の調節時の褪色を最小
限に抑え、かつ試料内での褪色を均一にする光走査方法
を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決するために、光走査を空間的または時間的に間引
き、かつ各フレームごとの走査ラインを変更する光走査
方法を提供する。すなわち、この発明は、共焦点レーザ
走査顕微鏡における画像取得条件の調整に際し、試料へ
のレーザ光の照射を間歇的に行い、かつ、各フレームご
との走査ラインを変更することを特徴とする光走査方法
を提供する。
【0008】
【作用】図1は、この発明の光走査方法を示したもので
あるが、この図1に示したように、1フレーム目は図4
の従来方法と同様に走査ライン数を減らして光走査を行
い、次のフレームでは前のフレームで走査したラインと
は異なるラインを走査していき、これを1フレーム目で
走査したラインと重なるまで(たとえば4フレームごと
に)繰り返す。さらに、各フレームのレーザ照射を間歇
的に行う。このように走査する方法は、試料の1スポッ
トに対する励起光の照射時間を短縮し、かつ試料を均一
に照射しているので、褪色を最小限に押さえ、かつ試料
内での褪色を均一にすることができる。
【0009】
【実施例】以下、この発明の実施例を説明する。すなわ
ち、この実施例では、細胞をFITCにて染色した標本
を作製し、共焦点レーザ走査顕微鏡で観察した。まず図
1に例示した光走査方法で画像取得条件(レーザパワ
ー、光検出器など)を調節してから実際に必要となる詳
細な画像データを図3のように全走査ラインを使用して
取得した。具体的には、4フレームごとに走査したライ
ンが重なるように異なるラインを走査し、さらに、各フ
レームのレーザ照射を間歇的に行い、画像取得条件を調
整した。その後全画像ラインを使用して画像を得た。褪
色が最小限に押さえられ、かつ試料内での褪色が均一と
なったコントラストの良い画像が得られた。
【0010】なおこの実施例では染色のためにFITC
を用いたが、これ以外に BODIPY FL、 Rhodamine、 Tex
as Red、Propidium Iodidaなど、蛍光性を有するもので
あれば用いることができる。
【0011】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、画像
取得条件(レーザパワー、光検出器など)の調節時に褪
色を最小限に抑え、かつ試料内での褪色を均一にするこ
とができ、コントラストの良い標本画像を得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の光走査方法を示す説明図である。
【図2】共焦点レーザ走査顕微鏡の原理を示す説明図で
ある。
【図3】従来の光走査方法を示す説明図である。
【図4】従来の光走査方法を示す説明図である。
【符号の説明】
1 レーザ光 2 対物レンズ 3 レンズ 4 ピンホールフィルタ 5 焦点面 6 光検出器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 共焦点レーザ走査顕微鏡における光走査
    方法であって、画像取得条件の調整に際し、試料へのレ
    ーザ光の照射を間歇的に行い、かつ、各フレームごとの
    走査ラインを変更することを特徴とする光走査方法。
JP7148597A 1995-06-15 1995-06-15 光走査方法 Withdrawn JPH095630A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7148597A JPH095630A (ja) 1995-06-15 1995-06-15 光走査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7148597A JPH095630A (ja) 1995-06-15 1995-06-15 光走査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH095630A true JPH095630A (ja) 1997-01-10

Family

ID=15456324

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7148597A Withdrawn JPH095630A (ja) 1995-06-15 1995-06-15 光走査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH095630A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004138947A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Keyence Corp 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム
EP1617375A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes
EP1617254A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes mit linienförmiger Abtastung
JP2006313355A (ja) * 2005-05-03 2006-11-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh レーザ走査型顕微鏡
USRE49934E1 (en) 2016-08-31 2024-04-23 Servier Pharmaceuticals Llc Inhibitors of cellular metabolic processes

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004138947A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Keyence Corp 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム
EP1617375A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes
EP1617254A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes mit linienförmiger Abtastung
JP2006313355A (ja) * 2005-05-03 2006-11-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh レーザ走査型顕微鏡
JP2012098755A (ja) * 2005-05-03 2012-05-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh レーザ走査型顕微鏡
USRE49934E1 (en) 2016-08-31 2024-04-23 Servier Pharmaceuticals Llc Inhibitors of cellular metabolic processes

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7903247B2 (en) Method and microscope for high spatial resolution examination of samples
JP5738765B2 (ja) 構造化照明を備えた顕微鏡法のための改良された方法および装置
JP4932076B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
CN109001898B (zh) 一种小型化的多角度三维超分辨光片荧光显微镜
CN109632735B (zh) 光学超分辨显微成像系统及成像方法
US6248995B1 (en) Confocal microscopic equipment
JP3824135B2 (ja) バイオチップ読取り装置
US20200341253A1 (en) Method for imaging a sample using a fluorescence microscope with stimulated emission depletion
US20220019066A1 (en) Lattice light sheet microscope and method for tiling lattice light sheet in lattice light sheet microscope
CN112986237B (zh) 一种基于焦点扫描结构光照明的超分辨成像装置及方法
US20090185167A1 (en) Image scanning apparatus and method
CN110146473A (zh) 一种轴向超分辨的双光子荧光显微装置及方法
US20210003834A1 (en) Method and apparatus for optical confocal imaging, using a programmable array microscope
CN116754565A (zh) 一种光学元件全口径表面微缺陷光致荧光检测用自动对焦检测方法
JPH095630A (ja) 光走査方法
CN110664369B (zh) 一种自适应共焦线扫描谐波显微成像方法及装置
CN116841028A (zh) 一种基于镜面干涉增强的多焦点宽场超分辨显微成像方法及装置
CN111208635A (zh) 一种图像扫描显微成像系统及方法
Tang et al. Low‐photobleaching line‐scanning confocal microscopy using dual inclined beams
CN114740008A (zh) 一种超分辨晶圆缺陷检测系统
JP3896924B2 (ja) 生体試料の観察装置および観察方法
CN107121772A (zh) 简易光束聚焦增强方法与系统
JPH09329749A (ja) 光走査型顕微鏡
JP2003078823A (ja) 画像データ作成方法および装置
Wang et al. Light sheet and light field microscopy based on scanning Bessel beam illumination

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20020903