JPH0953919A - 幅測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、赤熱した被測定物のように先端部
分の急激な温度上昇がある場合でも、最適な走査周期を
有する自動利得制御を行うことができ、かつ、映像信号
の飽和を防止でき、さらに、先端部に輝度ムラに影響さ
れずに高速で安定した自動利得制御を行うことができる
幅測定装置を提供することにある。 【解決手段】 搬送中の赤熱した被測定物３に対して受
光器５を用いて光学的に幅方向に走査して被測定物３か
らの放射光を受光し、受光器５で受光した被測定物３の
先端部の映像信号から被測定物３の表面温度を被測定物
温度予測部２３で予測し、予測された被測定物３の表面
温度から次走査の走査周期Ｔ1 を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、幅測定装置に関
し、特に、搬送中の被測定物からの放射光を受光して被
測定物の幅寸法を連続的に測定することができる幅測定
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の幅測定装置としては、図４に示す
ものが知られている。このものは、基準的な幅寸法を有
する対象物に対して、例えば、鋼板の製造工程中におけ
る幅寸法がどの程度変化するかを連続的に測定するため
のものである。詳しくは、図４に示す幅測定装置におい
ては、赤熱物体である被測定物１０３から放射される放
射光に対し、受光器１０５で幅方向に走査して得られる
光学的信号を映像信号に変換し、次に、制御部１０７で
映像信号をＡ／Ｄ変換した後に、被測定物１０３の映像
データに対してエッジ検出を行い、検出されたエッジ位
置に基づいて被測定物１０３の幅演算を行うことで、幅
寸法を連続的に測定していた。ここで、制御部１０７は
走査周期を有する走査信号を発生させて受光器１０５に
出力して受光器１０５を制御していた。

【０００３】さらに詳しくは、制御部１０７では、図５
に示すフローチャートに基づいて自動利得制御を行って
いた。図５に示すように、まず、ステップＳ２００で
は、制御部１０７は走査周期の初期値Ｔ0 を設定し、走
査周期Ｔ0 を有する走査信号を受光器１０５に出力す
る。次に、ステップＳ２１０では、前記走査信号に対応
する被測定物１０３の映像信号を受光器１０５から受け
取り、映像データ中の波高値Ｖを検出する。ここで、検
出された波高値Ｖは被測定物１０３の先端部分の温度を
表している。

【０００４】次に、ステップＳ２２０では、波高値Ｖが
映像データの飽和限界を表わす上限アラーム値を越えた
か否かを判断する。ステップＳ２３０では、波高値Ｖが
上限アラーム値を越えた場合には、走査周期Ｔを、 Ｔ＝Ｔ／Ｎ……（数１） として、無条件に１／Ｎ（Ｎ＝自然数）に再設定するこ
とで、映像データが飽和限界に達しないようにする。

【０００５】一方、ステップＳ２４０では、波高値Ｖが
上限アラーム値を越えていない場合には、波高値を目標
とする目標波高値ＶS にするために、現在の走査周期Ｔ
と映像データの波高値Ｖから次の走査周期Ｔを、 Ｔ＝（ＶS ／Ｖ）Ｔ……（数２） として求め、以上の各ステップの繰り返しによって、波
高値を目標値にするために、各走査の波高値Ｖと、走査
周期Ｔとから次の走査周期を算出していた。なお、（数
２）が成立するためには、走査周期を再設定する間に被
測定物１０３の温度がほぼ一定な状態である必要があっ
た。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際の
赤熱物体である被測定物１０３の先端部分の温度分布は
急激に上昇しているので、従来の幅測定装置にあって
は、この温度上昇分だけ受光器１０５に余分に被測定物
１０３からの光学的信号が入り、その結果、映像信号が
飽和して、エッジ検出ができなくなるため、被測定物の
幅寸法を先端部を始めとして連続的に測定できないとい
った問題があった。また、赤熱物体である被測定物１０
３を幅方向に走査して得られる映像信号を一定レベルに
制御する場合、先端部には輝度ムラ等があるため安定し
た制御ができず、その結果、応答時間がかかるといった
問題があった。

【０００７】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的としては、赤熱した被測定物のように先端部分
の急激な温度上昇がある場合でも、最適な走査周期を有
する自動利得制御を行うことができ、かつ、映像信号の
飽和を防止でき、さらに、先端部に輝度ムラに影響され
ずに高速で安定した自動利得制御を行うことができる幅
測定装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
上記課題を解決するため、搬送中の被測定物に対して受
光器を用いて光学的に幅方向に走査して該被測定物から
の放射光を受光する一方、該受光器に走査信号を出力す
るとともに該被測定物の幅寸法を連続的に測定する幅測
定装置において、前記受光器で受光した前記被測定物の
先端部の映像信号から前記被測定物の表面温度を予測す
る温度予測手段と、予測された前記被測定物の表面温度
から次走査の走査周期を設定する次走査周期設定手段
と、を有することを要旨とする。請求項１記載の発明に
あっては、搬送中の被測定物に対して受光器を用いて光
学的に幅方向に走査して被測定物からの放射光を受光
し、受光器で受光した被測定物の先端部の映像信号から
被測定物の表面温度を予測し、予測された被測定物の表
面温度から次走査の走査周期を設定することで、設定さ
れた次走査の走査周期を有する走査信号を受光器に出力
するという作用を有する。

【０００９】請求項２記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記温度予測手段は、映像信号の波高値と表面
温度との相関を表す温度テーブルを有することを要旨と
する。請求項２記載の発明にあっては、映像信号の波高
値と表面温度との相関を表す温度テーブルを有すること
ことで、映像信号の波高値から被測定物の表面温度を予
測するという作用を有する。

【００１０】請求項３記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記次走査周期設定手段は、表面温度と走査周
期との相関を表す走査周期テーブルを有することを要旨
とする。請求項３記載の発明にあっては、表面温度と走
査周期との相関を表す走査周期テーブルを有すること
で、表面温度に対応する走査周期を設定するという作用
を有する。

【００１１】請求項４記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記走査周期テーブルは、前記表面温度に対応
する走査周期の上限値を有することを要旨とする。請求
項４記載の発明にあっては、表面温度に対応する走査周
期の上限値を有することで、表面温度に対応する走査周
期の上限値を設定するという作用を有する。

【００１２】請求項５記載の発明は、上記課題を解決す
るため、搬送中の被測定物に対して受光器を用いて光学
的に幅方向に走査して該被測定物からの放射光を受光す
る一方、該受光器に走査信号を出力するとともに該被測
定物の幅寸法を連続的に測定する幅測定装置において、
前記受光器で受光した前記被測定物の先端部の映像信号
から前記被測定物の表面温度を予測する温度予測手段
と、予測された前記被測定物の表面温度から次走査の走
査周期を設定する次走査周期設定手段と、設定された次
走査の走査周期の変化幅を制限する走査周期変化幅制限
手段と、前記映像信号の波高値が所定の目標値に対して
所定の範囲内に入った場合には、該走査周期変化幅制限
手段で制限された新たな走査周期に切替える走査周期切
替手段と、を有することを要旨とする。

【００１３】請求項５記載の発明にあっては、搬送中の
被測定物に対して受光器を用いて光学的に幅方向に走査
して該被測定物からの放射光を受光し、受光器で受光し
た被測定物の先端部の映像信号から被測定物の表面温度
を予測し、予測された被測定物の表面温度から次走査の
走査周期を設定し、次に、設定された次走査の走査周期
の変化幅を制限する。ここで、映像信号の波高値が所定
の目標値に対して所定の範囲内に入った場合には、制限
された新たな走査周期に切替えることで、制限された新
たな走査周期を有する走査信号を受光器に出力するとい
う作用を有する。

【００１４】請求項６記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記走査周期切替手段は、前記被測定物の測定
を開始してから所定時間経過した場合には、前記走査周
期変化幅制限手段から出力される新たな走査周期に切替
えることを要旨とする。請求項６記載の発明にあって
は、被測定物の測定を開始してから所定時間経過した場
合には、制限された新たな走査周期に切替えることで、
制限された新たな走査周期を有する走査信号を受光器に
出力するという作用を有する。

【００１５】請求項７記載の発明は、上記課題を解決す
るため、搬送中の被測定物に対して受光器を用いて光学
的に幅方向に走査して該被測定物からの放射光を受光す
る一方、該受光器に走査信号を出力するとともに該被測
定物の幅寸法を連続的に測定する幅測定装置において、
前記被測定物の先端部の表面温度を測定する温度測定手
段と、測定された前記被測定物の表面温度から次走査の
走査周期を設定する次走査周期設定手段と、を有するこ
とを要旨とする。請求項７記載の発明にあっては、搬送
中の被測定物に対して、被測定物の先端部の表面温度を
測定し、測定された被測定物の表面温度から次走査の走
査周期を設定するという作用を有する。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。図１は、本発明の第一の実施の形態
の構成を示す図である。図１に示すように、受光器５
は、走査周期コントロール部３９で制御される走査周期
を有する走査信号を用いて被測定物３を幅方向に走査
し、赤熱物体である被測定物３上の表面温度に応じて発
生される光エネルギーを電気信号に変換して映像信号を
出力する。

【００１７】Ｉ／Ｆ７は、制御部９との間で信号ケーブ
ルを介して走査信号や映像信号の入出力を行う。Ｉ／Ｆ
１１は、検出部１との間で信号ケーブルを介して走査信
号や映像信号の入出力を行う。Ａ／Ｄ変換部１３は、受
光器５から出力されたアナログ信号である映像信号をデ
ジタル信号としての映像データにアナログ／デジタル変
換する。エッジ検出部１５は、撮像された被測定物３や
被測定物３以外の暗部を含む映像信号から当該暗部の明
暗の立上りエッジや立下りエッジを検出する。詳しく
は、エッジ検出部１５は、Ａ／Ｄ変換後の映像データに
対して順次に前後データの差分値を算出し、この差分値
が基準値を越えた場合には立上りエッジや立下りエッジ
があったこととして検出するものである。

【００１８】幅演算部１７は、立上りエッジと立下りエ
ッジとの間である被測定物３の幅を演算する。詳しく
は、幅演算部１７は、エッジ検出部１５で検出された立
上りエッジと立下りエッジとの間の期間幅を有する幅信
号を生成し、まず、この幅信号中に特定周波数のクロッ
ク信号が幾つ入るかを計数する。次に、計数結果に対し
て、予め設定された計数値／板幅変換テーブルを参照
し、テーブル変換して板幅を求めるものである。

【００１９】波高最大値検出部１９は、初期走査周期設
定部３５で予め設定される初期走査周期による映像デー
タから波高最大値Ｖ0 を検出する。詳しくは、波高最大
値検出部１９は、Ａ／Ｄ変換後の映像データに対して初
期値０の波高レジスタ値ＶMと比較し、比較結果として
映像データの方が大きかった場合には、波高レジスタ値
ＶM をこの映像データに置き換え、順次に幅方向にこの
処理を繰り返すことで、波高最大値Ｖ0 を検出するもの
である。

【００２０】温度テーブル２１は、初期走査周期時にお
ける赤熱物体温度と映像信号の波高最大値Ｖ0 の関係を
温度テーブルとして保持しておく。これにより、１走査
目の波高値Ｖ0 から、赤熱物体の先端部の表面温度を予
測し制御することができる。また、温度テーブル２１
は、赤熱物体の先端部で、他の箇所より温度が低いと見
なして温度上昇分Δｔを含むようにする。従って、１走
査目の波高値Ｖ0 から予測される温度は、 ｔ0 ＋Δｔ ℃ となる。映像信号が制御目標値となる時の赤熱物体温度
と走査周期の関係も温度テーブル２１に保持することに
より、次走査周期の上限リミット値を設定し、急激な温
度変化による過剰制御を防止する。

【００２１】被測定物温度予測部２３では、温度テーブ
ル２１に記憶された波高値Ｖ0 に対応する表面温度ｔ1
を、 ｔ1 ＝ｔ0 ＋Δｔ と予測し、走査周期上限値Ｔ1 を設定する。

【００２２】走査周期上限リミット設定部２５は、被測
定物３の表面温度が実際にはΔｔ上昇するため、例えば
図２（ｂ）に示すように、受光器５では過剰に光エネル
ギーを受けて映像データが、飽和して波高値Ｖsat.
（ホ）となるので、走査周期に上限リミットを設定し
て、この飽和現象を防止する。

【００２３】次走査周期演算部２７は、被測定物３の先
端部はΔｔだけ温度が低いと見ているが、表面温度が一
様にｔ0 と判断された場合には、表面温度ｔ0 に対応す
る走査周期Ｔi を設定する。また、次走査周期演算部２
７は、波高値Ｖが上限アラーム値を越えた場合には、走
査周期Ｔを、 Ｔ＝Ｔ／Ｎ……（数３） として、無条件に１／Ｎ（Ｎ＝自然数）に再設定するこ
とで、映像データが飽和限界に達しないようにする。

【００２４】ダイミックレンジ判断部２９は、映像信号
波高値Ｖが目標値ＶS の±５％以内に入った場合、また
は、一定時間経過した場合か否かを判断する。スイッチ
３１は、ダイナミックレンジ判断部２９の判断結果に応
じて接点３１ａ，３１ｂを切替える。

【００２５】走査周期変化幅制限部３３は、さらに被測
定物３の先端部以外では、温度変化が少なくなって安定
するため、走査周期のダイナミックレンジを狭くして環
境的要因による過剰制御を防止する。初期走査周期設定
部３５は、走査周期Ｔ0 を設定してスイッチ３７の接点
３７ｂ側に出力する。

【００２６】スイッチ３７は、初期走査の場合にはスイ
ッチ３７の接点３７ｂ側からの走査周期Ｔ0 を出力する
一方、走査周期Ｔ1 以降はスイッチ３７の接点３７の側
からの走査周期Ｔ1 以降を出力する。走査周期コントロ
ール部３９は、設定させた走査周期に応じて受光器５に
出力する走査信号を発生するように制御する。

【００２７】次に、図２を用いて走査周期と出力映像信
号の対応関係を説明する。図２（ａ）において、走査周
期Ｔ0 を有する走査信号（イ）が受光器５に入力される
と、受光器５からは図２（ｂ）に示すような映像信号
（ロ）が出力される。次に、図２（ａ）において、走査
周期Ｔ1 を有する走査信号（ハ）が受光器５に入力され
ると、受光器５からは図２（ｂ）に示すような映像信号
（ニ）が出力される。このように、走査周期Ｔn に対応
する出力映像信号は、走査周期Ｔn+1 のタイミングに同
期されて受光器５から出力されるものである。

【００２８】次に、図２に示すタイミングチャートを用
いて幅測定装置の動作を説明する。まず、初期走査時点
において、初期走査周期設定部３５で走査周期Ｔ0 が設
定されると、スイッチ３７は接点３７ｂ側に接続されて
走査周期Ｔ0 が出力される。次に、走査周期コントロー
ル部３９は設定させた走査周期Ｔ0 に応じて走査信号
（イ）を発生し、Ｉ／Ｆ１１から信号ケーブルを介して
Ｉ／Ｆ７に至り、受光器５に出力する。

【００２９】一方、図２（ａ）のように、受光器５に走
査周期Ｔ0 を有する走査信号（イ）が入力されると、受
光器５は走査信号Ｔ0 を用いて被測定物３を幅方向に走
査し、赤熱物体である被測定物３上の表面温度に応じて
発生される光エネルギーを電気信号に変換し、図２
（ｂ）のように、波高最大値Ｖ0 を有する映像信号
（ロ）を出力する。次に、受光器５から出力された映像
信号（ロ）は、Ｉ／Ｆ７から信号ケーブルを介してＩ／
Ｆ１１に至り、Ａ／Ｄ変換部１３でデジタル信号として
の映像データに変換される。

【００３０】ここで、初期走査時点における被測定物３
の幅を求めるために、エッジ検出部１５では、Ａ／Ｄ変
換後の映像データに対して順次に前後データの差分値を
算出し、この差分値が基準値を越えた場合には立上りエ
ッジや立下りエッジがあったこととして被測定物３のエ
ッジを検出する。次に、幅演算部１７では、エッジ検出
部１５で検出された立上りエッジと立下りエッジとの間
の期間幅を有する幅信号を生成し、まず、この幅信号中
に特定周波数のクロック信号が幾つ入るかを計数する。
次に、計数結果に対して、予め設定された計数値／板幅
変換テーブルを参照してテーブル変換して板幅を求め
る。

【００３１】一方、初期走査時点における被測定物３の
波高最大値Ｖ0 を検出するために、波高最大値検出部１
９でＡ／Ｄ変換後の映像データに対して順次に初期値０
の波高レジスタ値ＶM と比較し、比較結果として映像デ
ータの方が大きかった場合には波高レジスタ値ＶM をこ
の映像データに置き換えることで、図２（ｂ）に示すよ
うに、波高最大値Ｖ0 （ロ）を検出する。次に、初期走
査時点における被測定物３の表面温度を求めるために、
図２（ｃ）に示すように、被測定物温度予測部２３で温
度テーブル２１に記憶された最大波高値Ｖ0 に対応する
表面温度ｔ1 を予測する。ここで、温度上昇分Δｔを加
味して１走査目の波高値から予測される表面温度ｔ1
は、 ｔ1 ＝ｔ0 ＋Δｔ となる。

【００３２】次に、次走査時点における走査周期を求め
るために、被測定物温度予測部２３では、温度テーブル
２１に記憶されたこの表面温度ｔ1 に対応する走査周期
上限値Ｔ1 を設定する。次に、次走査時点における映像
信号の飽和を防止するために、走査周期上限リミット設
定部２５で走査周期に上限リミットを設定する。ここ
で、被測定物３の先端部はΔｔだけ温度が低いと見なさ
れているが、表面温度が一様にｔ0 と判断された場合に
は、次走査周期演算部２７では走査周期Ｔ1 を設定す
る。

【００３３】ここで、ダイミックレンジ判断部２９で映
像信号波高値が目標値ＶS の±５％以内に入った場合、
または、一定時間経過した場合か否かを判断する。しか
し、現在、次走査時点における走査周期を求めた段階な
ので、スイッチ３１は接点３１ｂ側に接続されている。
従って、次走査周期演算部２７で設定された走査周期Ｔ
1 をスイッチ３７の接点３７ａ側から走査周期コントロ
ール部３９に出力する。

【００３４】次に、走査周期コントロール部３９から
は、設定させた走査周期Ｔ1 に応じて走査信号（ハ）が
発生され、Ｉ／Ｆ１１から信号ケーブルを介してＩ／Ｆ
７に至り、受光器５に出力される。一方、図２（ａ）の
ように、受光器５に走査周期Ｔ1 を有する走査信号
（ハ）が入力されると、受光器５は走査信号Ｔ1 を用い
て被測定物３を幅方向に走査し、赤熱物体である被測定
物３上の表面温度に応じて発生される光エネルギーを電
気信号に変換し、図２（ｂ）のように、波高最大値Ｖ1
を有する映像信号（ニ）を出力する。次に、受光器５か
ら出力された映像信号（ニ）は、Ｉ／Ｆ７から信号ケー
ブルを介してＩ／Ｆ１１に至り、Ａ／Ｄ変換部１３でデ
ジタル信号としての映像データに変換される。

【００３５】次に、図２（ｂ）に示すように、次走査時
点における被測定物３の波高最大値Ｖ1 （ニ）を波高最
大値検出部１９で検出する。この場合には、映像信号が
飽和することなく安定した幅測定を可能にすることがで
きる。

【００３６】このように、搬送中の赤熱した被測定物３
に対して受光器５を用いて光学的に幅方向に走査して被
測定物３からの放射光を受光し、受光器５で受光した被
測定物３の先端部の映像信号から被測定物３の表面温度
を被測定物温度予測部２３で予測し、予測された被測定
物３の表面温度から次走査の走査周期Ｔ1 を設定するこ
とで、設定された次走査の走査周期Ｔ1 を有する走査信
号を受光器５に出力するので、被測定物３の先端部にお
いて、１走査目から高速応答して受光器５から出力され
る映像信号を目標電圧に制御することができ、被測定物
の表面温度を予測することによって、映像信号が飽和す
ることなく安定した幅測定を可能にすることができる。
また、被測定物３が受光器５の直下に搬送される前に、
初期走査周期値で待機し、直下に先端部がかかり、得ら
れる１走査目の波高最大値から、赤熱物体３の温度を予
測し、映像信号の飽和を防止しつつ、次の最適な走査周
期を設定でき、これにより、高速応答で、過剰制御のな
い自動利得制御を行うことができる。

【００３７】また、このように、搬送中の赤熱した被測
定物３に対して受光器５を用いて光学的に幅方向に走査
して被測定物３からの放射光を受光し、受光器５で受光
した被測定物３の先端部の映像信号から被測定物３の表
面温度を被測定物温度予測部２３で予測し、予測された
被測定物３の表面温度から次走査の走査周期Ｔ1 を設定
し、次に、設定された次走査の走査周期Ｔ1 の変化幅を
制限する。ここで、映像信号の波高値が所定の目標値に
対して所定の範囲内に入った場合には、走査周期変化幅
制限部３３で制限された新たな走査周期に切替えること
で、制限された新たな走査周期を有する走査信号を受光
器５に出力することによって、被測定物３の急激な温度
変化がない場合には、走査周期の変化幅を切換え、赤熱
物体表面に不純物又は水等が付着することによる局部的
な温度低下による過剰制御を防止することができる。

【００３８】次に、図３は、本発明の第ニの実施の形態
の構成を示す図である。その特徴は、検出部１の上流側
に被測定物３の表面温度ｔ1 を測定する温度計４１を設
置するものである。このように、搬送ローラ４３によっ
て被測定物３が搬送される前に、検出部１の上流側にお
いて、温度計４１で被測定物３の表面温度ｔ1 を実測
し、被測定物温度予測部２３で温度テーブル２１に記憶
されたこの表面温度ｔ1 に対応する走査周期上限値Ｔ1
を設定する。次に、次走査時点における映像信号の飽和
を防止するために、走査周期上限リミット設定部２５で
走査周期に上限リミットを設定する。次に、次走査周期
演算部２７では走査周期Ｔ1 を設定することで、設定さ
れた次走査の走査周期Ｔ1 を有する走査信号を受光器５
に出力するので、被測定物３の先端部において、１走査
目から高速応答して受光器５から出力される映像信号を
目標電圧に制御することができ、映像信号が飽和するこ
となく安定した幅測定を可能にすることができる。

【００３９】

【発明の効果】以上、説明したように、請求項１の発明
によれば、搬送中の赤熱した被測定物に対して受光器を
用いて光学的に幅方向に走査して被測定物からの放射光
を受光し、受光器で受光した被測定物の先端部の映像信
号から被測定物の表面温度を予測し、予測された被測定
物の表面温度から次走査の走査周期を設定することで、
設定された次走査の走査周期を有する走査信号を受光器
に出力するすることで、被測定物の先端部において、１
走査目から高速応答して受光器から出力される映像信号
を目標電圧に制御することができ、被測定物の表面温度
を予測することによって、映像信号が飽和することなく
安定した幅測定を可能にすることができる。また、被測
定物が受光器の直下に搬送される前に、初期走査周期値
で待機し、直下に先端部がかかり、得られる１走査目の
波高最大値から、赤熱物体の温度を予測し、映像信号の
飽和を防止しつつ、次の最適な走査周期を設定でき、こ
れにより、高速応答で、過剰制御のない自動利得制御を
行うことができる。

【００４０】また、請求項７の発明によれば、搬送中の
赤熱した被測定物に対して、被測定物の先端部の表面温
度を測定し、測定された被測定物の表面温度から次走査
の走査周期を設定するので、被測定物の先端部におい
て、１走査目から高速応答して受光器から出力される映
像信号を目標電圧に制御することができ、映像信号が飽
和することなく安定した幅測定を可能にすることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施の形態の構成を示す図であ
る。

【図２】本発明の第一の実施の形態の走査周期と出力映
像信号の対応関係を説明するためのタイミングチャート
である。

【図３】本発明の第２の実施の形態の構成を示す図であ
る。

【図４】従来の幅測定装置のシステム構成を示す図であ
る。

【図５】従来の幅測定装置の動作を説明するためのフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

３ 被測定物 ５ 受光器 １３ Ａ／Ｄ変換部 １９ 波高最大値検出部 ２１ 温度テーブル ２３ 被測定物温度予測部 ２５ 走査周期上限リミット設定部 ２７ 次走査周期演算部 ２９ ダイミックレンジ判断部 ３３ 走査周期変化幅制限部 ３５ 初期走査周期設定部 ３９ 走査周期コントロール部

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 搬送中の被測定物に対して受光器を用い
   て光学的に幅方向に走査して該被測定物からの放射光を
   受光する一方、該受光器に走査信号を出力するとともに
   該被測定物の幅寸法を連続的に測定する幅測定装置にお
   いて、 前記受光器で受光した前記被測定物の先端部の映像信号
   から前記被測定物の表面温度を予測する温度予測手段
   と、 予測された前記被測定物の表面温度から次走査の走査周
   期を設定する次走査周期設定手段と、を有することを特
   徴とする幅測定装置。
2. 【請求項２】 前記温度予測手段は、 映像信号の波高値と表面温度との相関を表す温度テーブ
   ルを有することを特徴とする請求項１記載の幅測定装
   置。
3. 【請求項３】 前記次走査周期設定手段は、 表面温度と走査周期との相関を表す走査周期テーブルを
   有することを特徴とする請求項１記載の幅測定装置。
4. 【請求項４】 前記走査周期テーブルは、 前記表面温度に対応する走査周期の上限値を有すること
   を特徴とする請求項３記載の幅測定装置。
5. 【請求項５】 搬送中の被測定物に対して受光器を用い
   て光学的に幅方向に走査して該被測定物からの放射光を
   受光する一方、該受光器に走査信号を出力するとともに
   該被測定物の幅寸法を連続的に測定する幅測定装置にお
   いて、 前記受光器で受光した前記被測定物の先端部の映像信号
   から前記被測定物の表面温度を予測する温度予測手段
   と、 予測された前記被測定物の表面温度から次走査の走査周
   期を設定する次走査周期設定手段と、 設定された次走査の走査周期の変化幅を制限する走査周
   期変化幅制限手段と、 前記映像信号の波高値が所定の目標値に対して所定の範
   囲内に入った場合には、該走査周期変化幅制限手段で制
   限された新たな走査周期に切替える走査周期切替手段
   と、を有することを特徴とする幅測定装置。
6. 【請求項６】 前記走査周期切替手段は、 前記被測定物の測定を開始してから所定時間経過した場
   合には、前記走査周期変化幅制限手段から出力される新
   たな走査周期に切替えることを特徴とする請求項５記載
   の幅測定装置。
7. 【請求項７】 搬送中の被測定物に対して受光器を用い
   て光学的に幅方向に走査して該被測定物からの放射光を
   受光する一方、該受光器に走査信号を出力するとともに
   該被測定物の幅寸法を連続的に測定する幅測定装置にお
   いて、 前記被測定物の先端部の表面温度を測定する温度測定手
   段と、 測定された前記被測定物の表面温度から次走査の走査周
   期を設定する次走査周期設定手段と、を有することを特
   徴とする幅測定装置。