JPH09507709A - スマートファスナ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 腐食検出機能を有するスマートファスナ。ファスナの中には腐食検出アレイがあり、腐食検出アレイはその電極に形成された犠牲材料を腐食する電解物を受ける。その材料は、ファスナにより固定、固着又は装着される材料と同じである。毛管を経て腐食検出アレイの中へ導かれる電解物は固着される材料の環境の中にあるのと同じ電解物であるので、犠牲材料と装着材料は並行して腐食する。他の電極は電解物の様々な特性を感知する。アレイの腐食感知電極により感知される情報は非常に小さい電気信号の形態をとり、それらの電気信号は増幅されて、アナログ記憶メモリに記憶される。クロック及びアドレス指定装置は信号にタイムスタンプを付し且つ信号をアドレス指定する。ユーザは、インタフェース回路によって、腐食信号及び関連信号をファスナを取り外す又はどのような方法によっても分解することなく電子的にアクセスすることができる。

Description

【発明の詳細な説明】 スマートファスナ 発明の背景 本発明は腐食検出に関し、特に航空機構造の継ぎ目における金属腐食の検出に 関する。さらに特定すれば、本発明は航空機構造の継ぎ目における金属腐食のセ ンサに関する。 近年、出願人等は商用輸送機及び軍用航空機における腐食の影響を理解するこ とに多大の研究努力を専ら注いできた。出願人等は、航空機の腐食の非破壊検査 には、疲労亀裂のような構造の一体性の問題に関わる従来の非破壊評価（ＮＤＥ ）検査技法を越えるより一層の複雑さが伴うことを知った。疲労亀裂検査は、通 常、機体構造の継ぎ目や大きな応力が加わる場所に限定されている。外に現れな い腐食の影響はそのような場所ばかりでなく、航空機構造の至るところで起こり うる。図１は、航空機で起こる腐食の種類のいくつかを示す。腐食１１、１２、 １３、１４、１５及び１６は、それぞれ、ピッチング、粒間剥脱、応力腐食割れ 、粒間クラック、割目腐食及び電気化学的腐食、そして、均一微生物腐食の例で ある。 腐食は、機体の中でも過剰な湿気にさらされる領域又は水以外の液体でぬれる 領域で起こる。それらの領域としては輸送用航空機の機体のビルジの翼ファスナ 穴の周囲（主として剥脱）、燃料シェルフ領域、様々な航空機の車輪ウェルシェ ルフ／背壁、貨物出入口及び着陸装置用ドアを含む全てのドアなどである。 腐食を検出するために既存のいくつかの非破壊検査（ＮＤＩ）方法を利用でき るが、それぞれの方法は特定の１種類の腐食を検出するように最適化されている 。それらの検出方法は視覚検査、タップ試験、電気抵抗プローブ検査、電気化学 的解析、超音波検査、うず電流検査、Ｘ線撮影及び熱を伴う音波発射などである 。視覚検査はピッチング又は剥脱（ふくれ）などの表面状態を検査するのには適 しているが、重ね継ぎ目相互間に隠れている腐食の検査にはほとんで役に立たな い。音波放射ＮＤＥ（たとえば、水素バブル又は気体の音響検出）は重ね継ぎ目 相互間の材料損失による間隙や、構造の一体性の喪失を引き起こしかねない構造 亀裂を検出できるが、材料損失又は腐食生成物のパーセンテージを直接には定量 化しない。 本発明は、航空機構造において表に見えない腐食の影響を検出することを可能 にする。技術の上で必要とされる重大な条件は、航空機用ファスナの頭部のすぐ 下方で且つ重ね継ぎ目の間又は航空機の機体の内壁における航空機構造の内部腐 食の検出である。スマートファスナの概念は、能動的腐食の証拠を航空機の構造 の一体性をそこなわずに現場測定値として測定するために電気化学を利用するセ ンサを航空機構造の中に直接に組込むという新規な考えに焦点を合わせている。 発明の概要 本発明は、航空機構造において表に見えない腐食を検出することを可能にする 「現場」測定方式である。これは、腐食感知素子を具現化するように変形された 標準形航空機用ＨＩ−ＬＯＫファスナから構成されており、航空機の重ね継ぎ目 （又は隔壁）アセンブリの中に配置される。このセンサは、溶液中の腐食イオン の濃度を測定する多重素子マイクロ電極アレイ検出器と、将来の検索と航空機の 構造保守支援に備えて腐食データを読出し表示又は記録情報に変換するためのス マート電子回路モジュールとを含む。 本発明は現場腐食検出を実行する。ファスナシステムは、関心構造のすぐ内部 の隠れた腐食の影響を「現場」電気化学的測定値として測定する。画像処理（Ｉ Ｒ又は可視光を利用する）方法、抵抗プローブ方法、うず電流方法、音響放出（ ＡＥ）方法及びＸ線方法などの従来のＮＤＩ技法は、表面の（すなわち、腐食に よって起こる表面亀裂）ビルドアップ又は材料の損失を検出することができる。 ところが、それらの代替方法は、いずれも、重ね継ぎ目の境界面、隔壁と翼装着 部の境界面又は翼フェアリングにおける表に見えず、手がとどきにくい腐食を信 頼性をもって検出することができない。 もう１つの特徴は腐食の成長の追跡である。ファスナは自律長期間データロギ ングを実行するので、航空機構造の内部の腐食プロセスの追跡が容易になり、ま た、履歴結果を不揮発性アナログメモリ素子に記憶することも容易になる。出願 人の知るところでは、この能力と同じものは他のどこにも見られていない。 さらに別の特徴は腐食の予測である。マイクロ電極センサの各アレイ素子は、 特定の腐食関連イオンの有無を測定する。個々の素子の電位に基づくタイムベー ストレンドシグネチャは、腐食特性を予測するのに有用な方法であることがわか るであろう。 ファスナの構造は、標準形航空機ＨＩ−ＬＯＣファスナの内部の腐食の測定を 航空機の構造の一体性をそこなうことなく具現化する。この新たなパッケージン グ技法は、別の種類の感知（すなわち、音響放出及び気流）素子や構造制御（す なわち、気流偏向及び振動抑制）素子を組込める可能性を多く保っている。出願 人の知るところでは、この方法と同じものは関連技術の中には見られない。 図面の簡単な説明 図１は、腐食の例を示す。 図２は、ファスナ及びそのファスナと用途との関係を示す。 図３ａ及び図３ｂは、腐食の電気的な面を示す。 図４は、ファスナの切取り図である。 図５は、ファスナの本体を示す。 図６は、電子回路の線図である。 図７は、直接アナログ記憶メモリのブロック線図である。 図８は、メモリ記録フォーマットを示す。 図９は、多重素子腐食マイクロセンサのレイアウトである。 特定実施形態の説明 図２は、航空機２１の腐食を現場電気化学測定プロセスとして検出するように 構成されているスマート航空機用ファスナ１０を強調したスマートファスナ１０ の全体のシステムが示されている。システム１０は、広帯域音響放出変換器を組 込むことによって金属２０の疲労と亀裂に関連する構造の一体性を検出するため に２つの用途に適用可能である航空機ファスナ本体１９に感知素子１７と電子回 路１８を埋設することにより構成されている。エージング航空機プログラムは、 音響放出事象をエージング航空機構造の腐食反応プロセスにおける水素ガスの放 出と関連づけるものであろう。図３ａ及び図３ｂは、以下に論じる腐食プロセス を示す。 図４は、トルク感知ナット２２によって保持された重ね継ぎ目アセンブリ２０ の中に挿入されている直径０．５インチの頭部突出形ファスナ（ＨＬ６２０１又 はそれと同等のもの）であるスマートファスナ１０の切取り図であるが、重ね継 ぎ目アセンブリ２０は、ナット２２に形成された溝穴にあるアレンレンチなどに よって、ある量のトルクが加わったときに折れるように構成されたＨＩ−ＬＯＣ ファスナであっても良い。ファスナ本体１９の材料は、壁の厚さが０．０５０の 、強度の高い耐腐食性鋼（３００シリーズ）から形成されている。図示するよう に、スマートファスナ電子回路２３はファスナ本体１９の中に、密封パッケージ に入れて配置されている。センサアレイ１７と環境空洞２６は、セラミック基板 ２５によって電子回路１８から密封されている。電子回路１８を操作するときに は、アレンレンチ又は別のスロット形工具を使用してねじ２を外せば良い。 図３ａは、本発明が検出し、測定することになる腐食の原理を示す。真水又は 塩水、酸、気体又は他の同様の物質であると考えられる電解物５２が腐食環境を 形成する。金属５８の表面には、ごく小さな陽極５４と陰極５６が形成される。 時間の経過に伴って、陽極５４と陰極５６は腐食電位に分極し、絶えずその性質 を切替えることにより、一様な表面腐食６０を発生させる。図３ｂは、電子の流 れ６４及びイオンの流れ７８を有する腐食活動をより精密に示す図６２である。 両面セラミック基板２５には多重素子電気化学センサが取付けられ、ファスナ １０の頭部２４には一体の腐食感知環境チェンバが配置されている。多重素子ア レイ１７は、セラミック基板２５の中のガラスフェルールフィードスルー接続を 介して、センサ電子回路２３モジュールに電気的に接続している。腐食を検出す るためのファスナ１０の動作の原理は次の通りである：ファスナ１０の周囲環境 にある腐食性電解物５２（すなわち、Ｈ₂Ｏ）は、ファスナ本体１９の壁に放射 状に配置されている複数の０．０１０インチの電解物毛管２７を経て環境チェン バ２６の中にしみ込む。個々の毛管２７は、ファスナ１０のヒール２４に向かう か、、密封されていない表皮縁部に侵入する腐食剤を検出するために重ね継ぎ目 ２０の間に入るか、又は航空機２１の気体の内壁２０に沿って走るかという腐食 の感知場所の所望の位置に応じて、指定の長さを有する。関心腐食イオンを含有 する電解物５２は、毛管２７の毛管作用によってファスナの壁１９に沿って上昇 し、ファスナの環境チェンバ２６の中に入る。そこで、電気化学センサは電解物 の独特の電気化学的特性を検出し、航空機保守スタッフによる詳細な解析とデー タ検索に備えて、それらの特性をサンプリングし、記録し且つアナログメモリ４ １に記憶する。 マイクロアレイ７１感知素子７５は、たとえば、図３ｂ及び図９に示すように イオン電流流れ７８を発生する「局部的な」腐食セルを形成する陽極５４と陰極 ５６から成る極微領域を含む。基準電極７７は局部的腐食反応に起因するそれ自 体とマイクロアレイ素子との電位差を感知し、基準電極７７は温度測定平衡状態 にある。マイクロアレイ素子の電気入力端子では、１０の１２乗の入力インピー ダンスを維持しなければならない。マイクロセンサアレイ１７はセンサ（電極） 表面で起こる反応を検出する。多くの場合、感知面２５は金属であるが、金属を 覆うガラス、セラミック又はポリマー層であっても良く、あるいは、金属を覆う 化学被膜であっても良い。マイクロセンサ１７は、通常、試験すべき環境、普通 は水の中に浸されている。検出すべき化学物又はイオンはその水に溶解して、セ ンサ表面と接触している。通常、感知反応は関心化合物への電子の追加又は関心 化合物からの電子の離脱を含む。電位差測定型の測定の場合、イオンの相互作用 によって、基準電極と感知素子との間に特有の電位が発生する。典型的な電極構 造はイオン選択電極であり、Ｃｌ−イオン選択電極を製造するために銀基板の中 にＣｌ＋がインプラントされている。通常、シリコン基板にはＩｒＯ₂（陽極酸 化イリジウム）をスパッタリングして、ｐＨ感知マイクロセンサ素子７３を形成 する。 図５は、ナット２２を除いたファスナ１０を示し、電解物５２が通る毛管２７ は長さが異なり、半径方向に４５度の間隔をおいて位置している。希望に応じて 、ファスナの柄１９に沿って複数の特定の場所で腐食効果を測定するために、様 々なファスナ１０の構造を製造できる。このパッケージング構成方式の重大な利 点は、既存の航空機用ファスナの保守手順と全く矛盾せず、挿入により航空機構 造の一体性がそこなわれることはなく、電子回路の修理と交換が容易になり、毛 管２７の長さに沿った腐食測定の選択性にすぐれ且つ低価格の製造が可能になる というすぐれた利点がある。 ファスナ１０の機械的構造の解析を行った。航空機トルク仕様によれば、ファ スナ１０は約５０ｆｔ−１ｂｓまでの長手方向トルクを維持できなければならな い。中心に穴のあるファスナの引張り強さは、中実のファスナより劣る。中空の ファスナにより支持される最大引張り荷重は次の式を使用してほぼ計算できる： Ｐ_T＝（Ａ_T−Ａ_H）・Ｔ_S 式中、Ｐ_T＝引張り荷重（ポンド） Ａ_T＝引張り面積（平方インチ） Ａ_H＝穴面積（平方インチ）及び Ｔ_S＝引張り強さ（ｐｓｉ） ファスナ１０の特徴は、図４に示すようなドライシールアクセスねじ又はプラ グ２９である。プラグ２９は、航空機２１の構造からファスナ１０を取り外さず に電子回路モジュール２３の取り外しと交換を容易にするために、市販のステン レス鋼１／１６ＮＰＴドライシールプラグである。電子回路の取り外しを容易に するために、プラグ２９の中心に六角形のキースロットが配置されている。この 種の保守行動は、多重素子電気化学センサが汚染したか又は電子回路バッテリ３ ０の交換が必要になった場合に実行可能である。トルクが加わったために起こる 引張り荷重は最大限界を越えてはならない。強度の高い鋼（すなわち、ＡＩＳＩ ４３４０又はそれと同等のもの）の選択は、ファスナ本体１９に穴があるために 起こる強度の劣化を補償するために必要であろう。ファスナ１０の製造に際して は、カドミウムめっき鋼鉄、ステンレス鋼又はチタンなどの様々な材料を使用で きるであろう。ファスナ１０の構造それ自体は腐食を受けるべきではない。 図６に示すようなファスナ１０の電子回路システムは機能の上ではアナログ変 換器ユニット（ＡＴＵ）３１と、共通電子回路ユニット（ＣＥＵ）３２と、航空 機通信ユニット（ＡＣＵ）３３という３つのモジュールに分割される。ＡＴＵ３ １は電気化学マイクロセンサアレイ１７と、アナログマルチプレクサ３４と、信 号増幅器３５とを含む。ＣＥＵ３２は、固体アナログメモリ記憶装置４０と、状 態機械シーケンス論理３７と、一体形再充電可能リチウムポリマーバッテリ電池 ３０とを含む「共通電子回路」デジタルコアを組込んでいる。ＡＣＵ３３は、構 造保守データの検索と収集を容易にするために、低電力送信機３８／受信機３９ 回路を含む。 ファスナ１０のもう１つの特徴は、直接アナログ記憶テクノロジーメモリ（Ｄ ＡＳＭ）４０である。ファスナ１０の電子回路に現場構造ヘルス監視腐食データ を記憶する能力は、時間関連腐食事象を記録し且つ構造材料の損失を追跡するた めには不可欠である。ＤＡＳＭ４０は、アナログ形態の腐食データをＤＡＳＭ記 憶装置４１に直接に記憶し且つＤＡＳＭ記憶装置４１から直接に読取るための手 段を構成する。ＤＡＳＭ４０はアナログ電気的消去可能なプログラム可能読取り 専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）デバイスである。ＤＡＳＭ４０は、出力端子がエイ リアス防止フィルタ４３に接続されている入力増幅器４２を有する。エイリアス 防止フィルタ４３の出力は、セル１２８，０００個の不揮発性アナログ記憶アレ イ４１に至る。アレイ４１の出力は平滑化フィルタ４４に至る。フィルタ４４か らの信号は出力増幅器４５に至る。また、アレイ４１には、サンプリングクロッ ク４６からのクロック信号と、アドレスバッファ４７からのアドレス制御論理信 号も供給される。ＤＡＳＭ４０ＥＥＰＲＯＭは、記憶前にデジタルフォーマット を必要とせずにアナログデータを直接に記憶する低パワー１２８Ｋアナログ記憶 アレイ４１として編成されている。発生器４７は、レコードがアドレスであり且 つ再検討のためにアナログアレイ４１から引き出せるようにアドレスを生成する ２進カウンタを有する状態機械である。ところが、レコードが引き出されると、 新たな記録のために、メモリのその部分はクリアされる。レコードが引き出され ず、全てのメモリスペースが一杯である場合には、新たなデータを最も古いレコ ードの上に書込む。レコードは、ファスナ１０を分解又は取り外しせずに、直列 データリンク８０に結合するコンデンサを介してＡＣＵ３３から引き出される。 あるいは、電子回路１８を取り出し、次にレコードを引き出しても良い。 ＤＡＳＭ装置４０は、単位ボリューム当たりの記憶密度がより高く、ゼロパワ ー記憶能力をもち、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器支援がなく、１０年間 にわたりデータを保持するなど、従来のデジタルメモリ技術と比べていくつかの 重大な利点を示す。ＤＡＳＭアナログアレイ４１は１メガビットのデジタル記憶 装置に相当する１２８，０００個のセルから構成されている。すなわち、従来の デジタルデータ記憶装置と比べて８：１の改善が見られる。デジタル技術におい ては、各メモリセルに２つの電圧レベルの一方（すなわち、ビット）を記憶させ るが、ＤＡＳＭ技術は現在では２３０の電圧レベルの中の１つを記憶する。ファ スナ１０の自律動作においては、航空機用ファスナの形状係数の制限があるため に、電力消費は最小であり且つパッケージサイズも制約されるので、ＤＡＳＭア ナログアレイ４１が好ましい。ＤＡＳＭ４０は不揮発性ＥＥＰＲＯＭ技術を特徴 としており、１０年までの期間にわたり構造腐食データを記憶するためにパワー を必要としない。ＤＡＳＭの構造では、デジタルデータ変換器、変調器及びバッ テリバックアップ回路は不要であり、ファスナ１０の部品の数は二分の一に減る 。 図８は、ファスナ１０のデータ記録フォーマット４８を示す。図示するように 、ＤＡＳＭアナログアレイ４８は２０のデータレコード（ＤＲ）セグメント４９ として編成されており、総データベース容量は合わせて１メガバイトとなる。マ イクロセンサ素子データの各データレコード４９は８つのサブレコードセグメン ト５０に分割されており、腐食マイクロ電極アレイ１７の素子ごとにアナログ情 報（すなわち、腐食生成物）を含む。図８に示すようなサンプルホールド回路６ ８を有する８つのサブレコードセグメント５０は、それぞれ、８００バイト（８ ビット２進数の１語に相当する）の腐食データを記憶し、データレコードごとの 総バイト数は６４００である。素子６８は、カリフォルニア州サンホセ、２８４ １Ｊｕｎｃｔｉｏｎ ＡｖｅｎｕｅにあるＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｔｏｒａ ｇｅ Ｄｅｖｉｃｅｓ Ｉｎｃ．が製造しているＩＳＤ１０１６不揮発性アナロ グメモリチップであるＤＡＳＭアレイ４１を構成する。メモリ４０は、Ｆｒａｎ ｋ Ｇｏｏｄｅｎｏｕｇｈ著の論文「Ｎｏｎｖｏｌａｔｉｌｅ Ａｎａｌｏｇ Ｍｅｍｏｒｙ Ｃｈｉｐ」（１９９１年１月３１日刊Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｄ ｅｓｉｇｎ に掲載）の中で説明されている。ファスナ１０の電子回路３６は、１ 日から１週間接続するプログラム可能時間間隔をおいて行われるパワーアップシ ーケンスが終了するたびに腐食情報の１つのＤＲを記憶する。ファスナ１０シス テムの総メモリ記憶容量は、データデブリーフィングの実行が必要になるまでに ２０週間、すなわち、５ケ月に至る。ファスナ１０システムを５ケ月より長い期 間にわたり航空機構造に放置すると、ファスナ１０のメモリ２８はメモリの初め （アドレス０）にラップアラウンドし、既存のデータレコードにオーバライトす る。 アレイ１７の電気化学マイクロセンサ７２〜７６は、センサ（電極）表面で起 こる反応を検出する。多くの場合、感知面は金属であるが、ガラス、セラミック 、 金属を被覆するポリマー膜又はポリマー層、あるいは金属を覆う他の化学被覆膜 であっても良いであろう。マイクロセンサ７１〜７６は、通常、試験すべき環境 、普通は水の中に浸されるか、又はかなり高い湿度を有する環境の中に配置され る。検出すべき化合物又はイオンはその水に溶解して、センサ１７の表面と接触 している。感知反応は、通常、関心化合物への電子の追加又は関心化合物からの 電子の離脱を含むが、センサ表面（層）における（又はその内部への）化合物の 吸収も検出できる。多くの場合、感知反応を誘起するために、又はより急速に進 行させるために、電極（７１〜７６）に電位を印加する。電気化学反応の結果、 電極表面と溶液との境界（電気化学境界面とも呼ばれる）を通って電荷が通過し 、外部回路を使用してこの電流の流れを検出することができる。電極に印加され る電位と電流の流れとの関係を使用して、腐食生成物と材料損失を検出できる。 この解析方法を一般にはボルタンメトリという。 ファスナ１０の腐食マイクロセンサアレイ１７のレイアウトを図９に示す。感 知電極７１〜７６は内側の円の「スポーク」の端部に配列されている。アレイご とに６つのマイクロ電極（全て異なる材料であっても良い）、各々のマイクロ電 極は直径５０μｍの円板である。センサへの電気接点は上面の接点パッドを介し て形成される。 マイクロセンサ素子７１〜７６は有害陰イオン、ｐＨ及び腐食生成物に対して 専用のものであるように選択されている。素子は、電解物の中に存在するイオン のイオン選択定量測定を行うために設計されている。たとえば、素子７３はｐＨ 係数を評価し；素子７２は硫化物陰イオン（Ｓ^-2）の有無を検出し；素子７１は 塩化物陰イオン（Ｃｌ^-）を検出し；素子７４は銅イオン、鉛イオン又はアルミ ニウムイオンの有無を感知し；素子７５及び７６は腐食パラメータを確定する対 象である関心構造材料（たとえば、２０２４又は７０７５アルミニウム）から製 造されている。感知電極に加えて、基準電極７７は腐食測定を実施する上で不可 欠である。基準電極７７は個々の感知素子の周囲の同心リングである。素子７１ 〜７７はセラミック基板２５の上に配置されている。たとえば、素子７４、７５ 及び７６は犠牲金属を有し、選択される各々の金属は腐食を測定する対象と同じ 金属である。各金属はそれぞれ対応するセンサ素子の先端に配置されている。セ ンサ内部の腐食は測定すべき継ぎ目又は構造の実際の腐食と並行している。その 類似性は、双方の腐食が同じ電解物を有することである。ファスナ１０の環境の 中に存在する水分又は気体（構造２０の環境の中の空気又は大気の６０パーセン ト以上の単なる湿度など）は、非常に狭い部分で、毛管２７を経て環境チャンバ ２６内の素子７４〜７６の犠牲金属にしみ込み、図３ａ及び図３ｂに示すように 腐食は開始し、そこで、陰極５６から陽極５４へとイオン７８は運ばれて行く。 これによって発生する電気化学的効果の結果、電位は基準素子７７に対して各々 のセンサ素子にごく小さな電流（すなわち、ナノアンペア範囲）を発生させる。 素子７１〜７６は基準素子７７にごく近接しているが、物理的には基準素子７７ から離間している。センサアレイ１７の出力は、各出力が増幅器３５及び４２に よりＤＡＳＭ４１に記憶するための認識可能及び数量化可能な信号に増幅される ように、装置３４でマルチプレクシングされる。センサ素子における所定の金属 についてファスナ１０により測定されるチャンバ２６内の腐食の量は、図２の構 造２０にあるその金属の腐食の量を示す。

【手続補正書】特許法第１８４条の８ 【提出日】１９９６年１月４日 【補正内容】 補正明細書 スマートファスナ 発明の背景 本発明は腐食検出に関し、特に航空機構造の継ぎ目における金属腐食の検出に 関する。さらに特定すれば、本発明は航空機構の造継ぎ目における金属腐食のセ ンサに関する。 近年、出願人等は商用輸送機及び軍用航空機における腐食の影響を理解するこ とに多大の研究努力を専ら注いできた。出願人等は、航空機の腐食の非破壊検査 には、疲労亀裂のような構造の一体性の問題に関わる従来の非破壊評価（ＮＤＥ ）検査技法を越えるより一層の複雑さが伴うことを知った。疲労亀裂検査は、通 常、機体構造の継ぎ目や大きな応力が加わる場所に限定されている。外に現れな い腐食の影響はそのような場所ばかりでなく、航空機構造の至るところで起こり うる。図１は、航空機で起こる腐食の種類のいくつかを示す。腐食１１、１２、 １３、１４、１５及び１６は、それぞれ、ピッチング、粒間剥脱、応力腐食割れ 、粒間クラック、割目腐食及び電気化学的腐食、そして、均一微生物腐食の例で ある。 腐食は、機体の中でも過剰な湿気にさらされる領域又は水以外の液体でぬれる 領域で起こる。それらの領域としては輸送用航空機の機体のビルジの翼ファスナ 穴の周囲（主として剥脱）、燃料シェルフ領域、様々な航空機の車輪ウェルシェ ルフ／背壁、貨物出入口及び着陸装置用ドアを含む全てのドアなどである。 腐食を検出するために既存のいくつかの非破壊検査（ＮＤＩ）方法を利用でき るが、それぞれの方法は特定の１種類の腐食を検出するように最適化されている 。それらの検出方法は視覚検査、タップ試験、電気抵抗プローブ検査、電気化学 的解析、超音波検査、うず電流検査、Ｘ線撮影及び熱を伴う音波発射などである 。視覚検査はピッチング又は剥脱（ふくれ）などの表面状態を検査するのには適 しているが、重ね継ぎ目相互間に隠れている腐食の検査にはほとんで役に立たな い。音波放射ＮＤＥ（たとえば、水素バブル又は気体の音響検出）は重ね継ぎ目 相互間の材料損失による間隙や、構造の一体性の喪失を引き起こしかねない構造 亀裂を検出できるが、材料損失又は腐食生成物のパーセンテージを直接には定量 化しない。 １９９２年１２月１６日 Ｈｕｇｈｅｓ Ａｉｒｃｒａｆｔ Ｃｏ．により公 告された欧州特許文書第０５１８５０８Ａ１号は、三角形を成すようにして隣接 する３つの音響センサを有するスマートセンサパッチを使用して構造における材 料疲労の場所を確定するシステム及び方法を開示する。このスマートセンサパッ チは、疲労点の場所を三角測量するローカルプロセッサを有する。１９８１年１ ０月２０日発行のＪ、Ｃｏｕｃｈｍａｎによる米国特許第４、２９５、３７７号 は、きず又は亀裂を検出し且つ監視を行うことを目的として予荷重測定並びに後 続測定を得るために着脱自在の音波変換器を有するねじ付きファスナを開示して いる。Ｊ．Ｇｅｒａｒｄ他による論文「Ｈｅａｌｔｈ ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ ａｉｒｃｒａｆｔ」（１９９１年１１月４日〜８日にバ ージニア州アレキサンドリアて開催されたＡＤＰＡ／ＡＩＡＡ／ＡＳＭＥ／ＳＰ ＩＥの会報の中のＡｃｔｉｖｅ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ ａｎｄ Ａｄａｐｔｉｖ ｅ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅｓ に掲載）は、構造の異常を確定するために航空機の構 造の中にセンサシステムを組込んだ構造一体性監視システムを開示しており、こ の場合、構造の異常は、能動センサモジュールのネットワークを使用して振動シ グネチャを監視することによって連続的に確定される。 本発明は、航空機構造において表に見えない腐食の影響を検出することを可能 にする。技術の上で必要とされる重大な条件は、航空機用ファスナの頭部のすぐ 下方で且つ重ね継ぎ目の間又は航空機の機体の内壁における航空機構造の内部腐 食の検出である。スマートファスナの概念は、能動的腐食の証拠を航空機の構造 の一体性をそこなわずに現場測定値として測定するために電気化学を利用するセ ンサを航空機構造の中に直接に組込むという新規な考えに焦点を合わせている。 発明の概要 本発明は、航空機構造において表に見えない腐食を検出することを可能にする 「現場」測定方式である。これは、腐食感知素子を具現化するように変形された 標準形航空機用ＨＩ−ＬＯＫファスナから構成されており、航空機の重ね継ぎ目 （又は隔壁）アセンブリの中に配置される。このセンサは、溶液中の腐食イオン の濃度を測定する多重素子マイクロ電極アレイ検出器と、将来の検索と航空機の 構造保守支援に備えて腐食データを読出し表示又は記録情報に変換するためのス マート電子回路モジュールとを含む。 本発明は現場腐食検出を実行する。ファスナシステムは、関心構造のすぐ内部 の隠れた腐食の影響を「現場」電気化学的測定値として測定する。画像処理（Ｉ Ｒ又は可視光を利用する）方法、抵抗プローブ方法、うず電流方法、音響放出（ ＡＥ）方法及びＸ線方法などの従来のＮＤＩ技法は、表面の（すなわち、腐食に よって起こる表面亀裂）ビルドアップ又は材料の損失を検出することができる。 ところが、それらの代替方法は、いずれも、重ね継ぎ目の境界面、隔壁と翼装着 部の境界面又は翼フェアリングにおける表に見えず、手がとどきにくい腐食を信 頼性をもって検出することができない。 もう１つの特徴は腐食の成長の追跡である。ファスナは自律長期間データロギ ングを実行するので、航空機構造の内部の腐食プロセスの追跡が容易になり、ま た、履歴結果を不揮発性アナログメモリ素子に記憶することも容易になる。出願 人の知るところでは、この能力と同じものは他のどこにも見られていない。 さらに別の特徴は腐食の予測である。マイクロ電極センサの各アレイ素子は、 特定の腐食関連イオンの有無を測定する。個々の素子の電位に基づくタイムベー ストレンドシグネチャは、腐食特性を予測するのに有用な方法であることがわか るであろう。 ファスナの構造は、標準形航空機ＨＩ−ＬＯＣファスナの内部の腐食の測定を 航空機の構造の一体性をそこなうことなく具現化する。この新たなパッケージン グ技法は、別の種類の感知（すなわち、音響放出及び気流）素子や構造制御（す なわち、気流偏向及び振動抑制）素子を組込める可能性を多く保っている。出願 人の知るところでは、この方法と同じものは関連技術の中には見られない。 図面の簡単な説明 図１は、腐食の例を示す。 図２は、ファスナ及びそのファスナと用途との関係を示す。 図３ａ及び図３ｂは、腐食の電気的な面を示す。 図４は、ファスナの切取り図である。 図５は、ファスナの本体を示す。 図６は、電子回路の線図である。 図７は、直接アナログ記憶メモリのブロック線図である。 図８は、メモリ記録フォーマットを示す。 図９は、多重素子腐食マイクロセンサのレイアウトである。 特定実施形態の説明 図２は、航空機２１の腐食を現場電気化学測定プロセスとして検出するように 構成されているスマート航空機用ファスナ１０を強調したスマートファスナ１０ の全体のシステムが示されている。システム１０は、広帯域音響放出変換器を組 込むことによって金属２０の疲労と亀裂に関連する構造の一体性を検出するため に２つの用途に適用可能である航空機ファスナ本体１９に感知素子１７と電子回 路１８を埋設することにより構成されている。エージング航空機プログラムは、 音響放出事象をエージング航空機構造の腐食反応プロセスにおける水素ガスの放 出と関連づけるものであろう。図３ａ及び図３ｂは、以下に論じる腐食プロセス を示す。 図４は、重ね継ぎ目アセンブリ２０の中に挿入されて、トルク感知ナット２２ によって保持されている直径０．５インチの頭部突出形ファスナ（ＨＬ６２０１ 又はそれと同等のもの）であるスマートファスナ１０の切取り図てある。ナット は２２は、ナット２２に形成された溝穴のアレンレンチなどによってある量のト ルクが加わったときに折れるように構成されたＨＩ−ＬＯＣファスナであっても 良い。ファスナ本体１９の材料は、壁の厚さが０．０５０の、強度の高い耐腐食 性鋼（３００シリーズ）から形成されている。図示するように、スマートファス ナ電子回路２３はファスナ本体１９の中に、密封パッケージに入れて配置されて いる。センサアレイ１７と環境空洞２６は、セラミック基板２５によって電子回 路１８から密封されている。電子回路１８を操作するときには、アレンレンチ又 は別のスロット形工具を使用してねじ２を外せば良い。 図３ａは、本発明が検出し、測定することになる腐食の原理を示す。真水又は 塩水、酸、気体又は他の同様の物質であると考えられる電解物５２が腐食環境を 形成する。金属５８の表面には、ごく小さな陽極５４と陰極５６が形成される。 時間の経過に伴って、陽極５４と陰極５６は腐食電位に分極し、絶えずその性質 を切替えることにより、一様な表面腐食６０を発生させる。図３ｂは、電子の流 れ６４及びイオンの流れ７８を有する腐食活動をより精密に示す図（６２）であ る。両面セラミック基板２５には多重素子電気化学センサが取付けられ、ファス ナ１０の頭部２４には一体の腐食感知環境チェンバが配置されている。多重素子 アレイ１７は、セラミック基板２５の中のガラスフェルールフィードスルー接続 を介して、センサ電子回路２３モジュールに電気的に接続している。腐食を検出 するためのファスナ１０の動作の原理は次の通りである。ファスナ１０の周囲環 境にある腐食性電解物５２（すなわち、Ｈ₂Ｏ）は、ファスナ本体１９の壁に放 射状に配置されている複数の０．０１０インチの電解物毛管２７を経て環境チェ ンバ２６の中にしみ込む。個々の毛管２７は、ファスナ１０のヒール２４に向か うか、密封されていない表皮縁部に侵入する腐食剤を検出するために重ね継ぎ目 ２０の間に入るか、又は航空機２１の気体の内壁２０に沿って走るかという腐食 の感知場所の所望の位置に応じて、指定の長さを有する。関心腐食イオンを含有 する電解物５２は、毛管２７の毛管作用によってファスナの壁１９に沿って上昇 し、ファスナの環境チェンバ２６の中に入る。そこで、電気化学センサは電解物 の独特の電気化学的特性を検出し、航空機保守スタッフによる詳細な解析とデー タ検索に備えて、それらの特性をサンプリングし、記録し、アナログメモリ４１ に記憶する。 マイクロアレイ１７感知素子は、たとえば、図３ｂ及び図９に示すようにイオ ン電流流れ７８を発生する「局部的な」腐食セルを形成する陽極５４と陰極５６ から成る極微領域を含む。温度測定平衡状態にある基準電極７７は局部的腐食反 応に起因するそれ自体とマイクロアレイ素子との電位差を感知する。マイクロア レイ素子の電気入力端子では、１０の１２乗の入力インピーダンスを維持しなけ ればならない。マイクロセンサアレイ１７はセンサ（電極）表面で起こる反応を 検出する。多くの場合、感知面２５は金属であるが、金属を覆うガラス、セラミ ック又はポリマー層であっても良く、あるいは、金属を覆う化学被膜であっても 良い。マイクロセンサ１７は、通常、試験すべき環境、普通は水の中に浸されて いる。検出すべき化学物又はイオンはその水に溶解して、センサ表面と接触して いる。通常、感知反応は関心化合物への電子の追加又は関心化合物からの電子の 離脱を含む。電位差測定型の測定の場合、イオンの相互作用によって、基準電極 と感知素子との間に特有の電位が発生する。典型的な電極構造はイオン選択電極 であり、Ｃｌ−イオン選択電極を製造するために銀基板の中にＣｌ＋がインプラ ントされている。通常、シリコン基板にはＩｒＯ₂（陽極酸化イリジウム）をス パッタリングして、ｐＨ感知マイクロセンサ素子７３を形成する。 図５は、ナット２２を除いたファスナ１０を示し、電解物５２が通る毛管２７ は長さが異なり、半径方向に４５度の間隔をおいて位置している。希望に応じて 、ファスナの柄１９に沿って複数の特定の場所で腐食効果を測定するために、様 々なファスナ１０の構造を製造できる。このパッケージング構成方式の重大な利 点は、既存の航空機用ファスナの保守手順と全く矛盾せず、挿入により航空機構 造の一体性がそこなわれることはなく、電子回路の修理と交換が容易になり、毛 管２７の長さに沿った腐食測定の選択性にすぐれ且つ低価格の製造が可能になる というすぐれた利点がある。 ファスナ１０の機械的構造の解析を行った。航空機トルク仕様によれば、ファ スナ１０は約５０ｆｔ−１ｂｓまでの長手方向トルクを維持できなければならな い。中心に穴のあるファスナの引張り強さは、中実のファスナより劣る。中空の ファスナにより支持される最大引張り荷重は次の式を使用してほぼ計算できる。 Ｐ_T＝（Ａ_T−Ａ_H）・Ｔ_S 式中、Ｐ_T＝引張り荷重（ポンド） Ａ_T＝引張り面積（平方インチ） Ａ_H＝穴面積（平方インチ）及び Ｔ_s＝引張り強さ（ｐｓｉ） ファスナ１０の特徴は、図４に示すようなドライシールアクセスねじ又はプラ グ２９である。プラグ２９は、航空機２１の構造からファスナ１０を取り外さず に電子回路モジュール２３の取り外しと交換を容易にするために、市販のステン レス鋼１／１６ＮＰＴドライシールプラグである。電子回路の取り外しを容易に するために、プラグ２９の中心に六角形のキースロットが配置されている。この 種の保守行動は、多重素子電気化学センサが汚染したか又は電子回路バッテリ３ ０の交換が必要になった場合に実行可能である。トルクが加わったために起こる 引張り荷重は最大限界を越えてはならない。強度の高い鋼（すなわち、ＡＩＳＩ ４３４０又はそれと同等のもの）の選択は、ファスナ本体１９に穴があるために 起こる強度の劣化を補償するために必要であろう。ファスナ１０の製造に際して は、カドミウムめっき鋼鉄、ステンレス鋼又はチタンなどの様々な材料を使用で きるであろう。ファスナ１０の構造それ自体は腐食を受けるべきではない。 図６に示すようなファスナ１０の電子回路システムは機能の上ではアナログ変 換器ユニット（ＡＴＵ）３１と、共通電子回路ユニット（ＣＥＵ）３２と、航空 機通信ユニット（ＡＣＵ）３３という３つのモジュールに分割される。ＡＴＵ３ １は電気化学マイクロセンサアレイ１７と、アナログマルチプレクサ３４と、信 号増幅器３５とを含む。ＣＥＵ３２は、固体アナログメモリ記憶装置４０と、状 態機械シーケンス論理３７と、一体形再充電可能リチウムポリマーバッテリ電池 ３０とを含む「共通電子回路」デジタルコアを組込んでいる。ＡＣＵ３３は、構 造保守データの検索と収集を容易にするために、低電力送信機３８／受信機３９ 回路を含む。 ファスナ１０のもう１つの特徴は、直接アナログ記憶テクノロジーメモリ（Ｄ ＡＳＭ）４０である。ファスナ１０の電子回路に現場構造ヘルス監視腐食データ を記憶する能力は、時間関連腐食事象を記録し且つ構造材料の損失を追跡するた めには不可欠である。ＤＡＳＭ４０は、アナログ形態の腐食データをＤＡＳＭ記 憶装置４１に直接に記憶し且つＤＡＳＭ記憶装置４１から直接に読取るための手 段を備えている。ＤＡＳＭ４０はアナログ電気的消去可能なプログラム可能読取 り専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）デバイスである。ＤＡＳＭ４０は、出力端子がエ イリアス防止フィルタ４３に接続されている入力増幅器４２を有する。エイリア ス防止フィルタ４３の出力は、セル１２８，０００個の不揮発性アナログ記憶ア レイ４１に至る。アレイ４１の出力は平滑化フィルタ４４に至る。フィルタ４４ からの信号は出力増幅器４５に至る。また、アレイ４１には、サンプリングクロ ック４６からのクロック信号と、アドレスバッファ４７からのアドレス制御論理 信号も供給される。ＤＡＳＭ４０ＥＥＰＲＯＭは、記憶前にデジタルフォーマッ トを必要とせずにアナログデータを直接に記憶する低パワー１２８Ｋアナログ記 憶アレイ４１として編成されている。発生器４７は、レコードがアドレスであり 且つ再検討のためにアナログアレイ４１から引き出せるようにアドレスを生成す る２進カウンタを有する状態機械である。ところが、レコードが引き出されると 、新たな記録のために、メモリのその部分はクリアされる。レコードが引き出さ れず、全てのメモリスペースが一杯である場合には、新たなデータを最も古いレ コードの上に書込む。レコードは、ファスナ１０を分解又は取り外しせずに、直 列データリンク８０に結合するコンデンサを介してＡＣＵ３３から引き出される 。あるいは、電子回路１８を取り出し、次にレコードを引き出しても良い。 ＤＡＳＭ装置４０は、単位ボリューム当たりの記憶密度がより高く、ゼロパワ ー記憶能力をもち、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器支援がなく、１０年間 にわたりデータを保持するなど、従来のデジタルメモリ技術と比べていくつかの 重大な利点を示す。ＤＡＳＭアナログアレイ４１は１メガビットのデジタル記憶 装置に相当する１２８，０００個のセルから構成されている。すなわち、従来の デジタルデータ記憶装置と比べて８：１の改善が見られる。デジタル技術におい ては、各メモリセルに２つの電圧レベルの一方（すなわち、ビット）を記憶させ るが、ＤＡＳＭ技術は現在では２３０の電圧レベルの中の１つを記憶する。ファ スナ１０の自律動作においては、航空機用ファスナの形状係数の制限があるため に、電力消費は最小であり且つパッケージサイズも制約されるので、ＤＡＳＭア ナログアレイ４１が好ましい。ＤＡＳＭ４０は不揮発性ＥＥＰＲＯＭ技術を特徴 としており、１０年までの期間にわたり構造腐食データを記憶するためにパワー を必要としない。ＤＡＳＭの構造では、デジタルデータ変換器、変調器及びバッ テリバックアップ回路は不要であり、ファスナ１０の部品の数は二分の一に減る 。 図８は、ファスナ１０のデータ記録フォーマット４８を示す。図示するように 、ＤＡＳＭアナログアレイ４８は２０のデータレコード（ＤＲ）セグメント４９ として編成されており、総データベース容量は合わせて１メガバイトとなる。マ イクロセンサ素子データの各データレコード４９は８つのサブレコードセグメン ト５０に分割されており、腐食マイクロ電極アレイ１７の素子ごとにアナログ情 報（すなわち、腐食生成物）を含む。図８に示すようなサンプルホールド回路６ ８を有する８つのサブレコードセグメント５０は、それぞれ、８００バイト（８ ビット２進数の１語に相当する）の腐食データを記憶し、データレコードごとの 総バイト数は６４００である。素子６８は、カリフォルニア州サンホセ、２８４ １ Ｊｕｎｃｔｉｏｎ ＡｖｅｎｕｅにあるＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｔｏｒａｇ ｅ Ｄｅｖｉｃｅｓ Ｉｎｃ．が製造しているＩＳＤ１０１６不揮発性アナログ メモリチップであるＤＡＳＭアレイ４１を構成する。メモリ４０は、Ｆｒａｎｋ Ｇｏｏｄｅｎｏｕｇｈ著の論文「Ｎｏｎｖｏｌａｔｉｌｅ Ａｎａｌｏｇ Ｍ ｅｍｏｒｙ Ｃｈｉｐ」（１９９１年１月３１日刊Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｄｅ ｓｉｇｎ に掲載）の中で説明されている。ファスナ１０の電子回路３６は、１日 から１週間接続するプログラム可能時間間隔をおいて行われるパワーアップシー ケンスが終了するたびに腐食情報の１つのＤＲを記憶する。ファスナ１０システ ムの総メモリ記憶容量は、データデブリーフィングの実行が必要になるまでに２ ０週間、すなわち、５ケ月に至る。ファスナ１０システムを５ケ月より長い期間 にわたり航空機構造に放置すると、ファスナ１０のメモリ２８はメモリの初め（ アドレス０）にラップアラウンドし、既存のデータレコードにオーバライトする 。 アレイ１７の電気化学マイクロセンサ７１〜７６は、センサ（電極）表面で起 こる反応を検出する。多くの場合、感知面は金属であるが、ガラス、セラミック 、金属を被覆するポリマー膜又はポリマー層、あるいは金属を覆う他の化学被覆 膜であっても良いであろう。マイクロセンサ７１〜７６は、通常、試験すべき環 境、普通は水の中に浸されるか、又はかなり高い湿度を有する環境の中に配置さ れる。検出すべき化合物又はイオンはその水に溶解して、センサ１７の表面と接 触している。感知反応は、通常、関心化合物への電子の追加又は関心化合物から の電子の離脱を含むか、センサ表面（層）における（又はその内部への）化合物 の吸収も検出できる。多くの場合、感知反応を誘起するために、又はより急速に 進行させるために、電極（７１〜７６）に電位を印加する。電気化学反応の結果 、電極表面と溶液との境界（電気化学境界面とも呼ばれる）を通って電荷が通過 し、外部回路を使用してこの電流の流れを検出することができる。電極に印加さ れる電位と電流の流れとの関係を使用して、腐食生成物と材料損失を検出できる 。この解析方法を一般にはボルタンメトリという。 ファスナ１０の腐食マイクロセンサアレイ１７のレイアウトを図９に示す。感 知電極７１〜７６は内側の円の「スポーク」の端部に配列されている。アレイご とに６つのマイクロ電極（全て異なる材料であっても良い）、各々のマイクロ電 極は直径５０μｍの円板である。センサへの電気接点は上面の接点パッドを介し て形成される。 マイクロセンサ素子７１〜７６は有害陰イオン、ｐＨ及び腐食生成物に対して 専用のものであるように選択されている。素子は、電解物の中に存在するイオン のイオン選択定量測定を行うために設計されている。たとえば、素子７３はｐＨ 係数を評価し；素子７２は硫化物陰イオン（Ｓ^-2）の有無を検出し；素子７１は 塩化物陰イオン（Ｃｌ^-）を検出し；素子７４は銅イオン、鉛イオン又はアルミ ニウムイオンの有無を感知し；素子７５及び７６は腐食パラメータを確定する対 象である関心構造材料（たとえば、２０２４又は７０７５アルミニウム）から製 造されている。感知電極に加えて、基準電極７７は腐食測定を実施する上で不可 欠である。基準電極７７は個々の感知素子の周囲の同心リングである。素子７１ 〜７７はセラミック基板２５の上に配置されている。たとえば、素子７４、７５ 及び７６は犠牲金属を有し、選択される各々の金属は腐食を測定する対象と同じ 金属である。各金属はそれぞれ対応するセンサ素子の先端に配置されている。セ ンサ内部の腐食は測定すべき継き目又は構造の実際の腐食と並行している。その 類似性は、双方の腐食が同じ電解物を有することである。ファスナ１０の環境の 中に存在する水分又は気体（構造２０の環境の中の空気又は大気の６０パーセン ト以上の単なる湿度など）は、非常に狭い部分で、毛管２７を経て環境チャンバ ２６内の素子７４〜７６の犠牲金属にしみ込み、図３ａ及び図３ｂに示すように 腐食は開始し、そこで、陰極５６から陽極５４へとイオン７８は運ばれて行く。 これによって発生する電気化学的効果の結果、電位は基準素子７７に対して各々 のセンサ素子にごく小さな電流（すなわち、ナノアンペア範囲）を発生させる。 素子７１〜７６は基準素子７７にごく近接しているが、物理的には基準素子７７ から離間している。センサアレイ１７の出力は、各出力が増幅器３５及び４２に よりＤＡＳＭ４１に記憶するための認識可能及び数量化可能な信号に増幅される ように、装置３４でマルチプレクシングされる。センサ素子における所定の金属 についてファスナ１０により測定されるチャンバ２６内の腐食の量は、図２の構 造２０にあるその金属の腐食の量を示す。 補正請求の範囲 １．第１及び第２の端部を有し且つ第１の端部に開口を有するボルトと； 前記ボルトの中に、開口に続いて配置された内部空洞と； 前記内部空洞の中に配置されて、構造の腐食を化学的に感知する少なくとも１ つの腐食センサと； 前記内部空洞の中に配置され、前記腐食感知素子に接続する電子回路モジュー ルと； 前記ボルトの第１の端部にある開口に配置されて、前記腐食センサを前記内部 空洞の中に封入するプラグと； 前記ボルトの第２の端部にあるナットとを具備する、 構造に装着される腐食感知装置であって、 前記ボルトは、前記腐食センサに近接する第１の端部と、前記ボルトの外部の 環境に近接する第２の端部とを有する少なくとも１本の毛管を有することを特徴 とする腐食感知装置。 ２．前記腐食センサは環境から毛管を経て液体又は気体を受け取り、その気体 を有する環境の中の所定の材料について腐食の速度を指示する請求項１記載の腐 食感知装置。 ３．前記電子回路モジュールは、 腐食の速度を指示する信号を記憶する記憶装置と； 前記記憶装置に接続する電源とを具備する請求項２記載の腐食感知装置。 ４．前記記憶装置は直接アナログ記憶装置である請求項３記載の腐食感知装置 。 ５．前記記憶装置は現場測定の腐食の速度を示す感知・記憶信号の日付を指示 する請求項４記載の腐食感知装置。 ６．前記腐食センサは、 前記少なくとも１つの腐食センサの少なくとも１つの感知電極にあり、監視す べき腐食感知装置の周囲の装着材料と同じである犠牲材料をさらに具備し、電極 は、その犠牲材料の腐食を指示する信号を前記電子回路モジュールに供給し、 前記少なくとも１本の毛管は複数の感知電極の各々の感知電極に通じ、前記腐 食感知装置の周囲の周囲大気を各感知電極へ運ぶ請求項５記載の腐食感知装置。 ７．第１の端部に頭部を有し、第２の端部に着脱自在のナットを有するファス ナ本体と； 前記ファスナ本体の中に配置された環境チャンバとを具備する組合わせファス ナ本体／腐食センサであって、 前記チャンバは、前記ファスナ本体を貫通して、前記ファスナ本体の周囲及び その外部の電解物を前記チャンバへ運ぶ少なくとも１本の毛管を有し、 前記環境チャンバの中には腐食感知アレイがあり、前記腐食感知アレイは、 基準電極と； 前記基準ダイオードに近接し且つ少量の第１の材料が形成されており、第１の 材料は毛管からの電解液にさらされ、第１の材料は電解液のために腐食を受け、 腐食が起こった場合、腐食を指示する腐食信号が発生される少なくとも１つの感 知電極とを具備し、； 前記ファスナ本体の中には、前記腐食感知アレイに接続する電子回路が配置さ れ、前記電子回路は、 前記腐食感知アレイに接続して、第１の材料の腐食を指示し、ひいては前記フ ァスナにより装着される第２の材料の並行する腐食を指示する、前記感知アレイ からの腐食信号を記憶するアナログ記憶アレイと； 前記アナログ記憶アレイに接続し、腐食信号の時間を指示するクロックと； 前記アナログ記憶アレイに接続し、前記ファスナの外部から、前記アナログ記 憶アレイに記憶されている腐食信号及びそれぞれの信号へのアクセスを実行する インタフェースと を具備することを特徴とする組合わせファスナ本体／腐食センサ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．１つの物品を別の物品に装着する固着手段と； 前記固着手段の中に配置され、前記固着手段の周囲の周囲環境の複数の腐食効 果を現場で同時に感知し且つそれらの腐食効果を指示する信号を出力する腐食感 知手段と； 前記固着手段の中に配置され且つ前記腐食感知手段に接続しており、前記腐食 感知手段からの信号を処理し且つ検索のために信号を記憶する電子回路手段とを 具備するスマート腐食感知ファスナ。 ２．前記腐食感知手段は、 基板と； 前記基板の上に形成された基準電極と； 前記基板の上に形成され、前記基準感知電極に近接して、周囲環境の中で腐食 を測定すべき監視材料と同じ材料である犠牲材料が形成されている少なくとも１ つの電極とを具備し、 前記固着手段の周囲で且つ前記周囲環境からの電解物質が前記電極の犠牲材料 と接触すると、腐食プロセスが始まり、その結果、前記感知電極と基準電極との 間にある量の電流を通過させる電気化学的効果を発生させ； その電流量は犠牲材料における腐食量を指示し、その量は監視材料の腐食量を 指示する請求項１記載の感知ファスナ。 ３．前記電子回路手段は、 前記感知電極及び基準電極に接続する入力端子を有し且つ出力端子を有する増 幅器と； 前記増幅器に接続する入力端子を有し且つ出力端子を有し、時間の経過に伴う 監視材料における腐食量を指示する出力信号を記憶する記憶手段と； 前記記憶手段の出力端子に接続する入力端子を有し且つ出力端子を有し、腐食 量を指示する出力信号を前記固着手段の外部で利用可能にするインタフェース手 段とを具備する請求項２記載の感知ファスナ。 ４．前記電子回路手段はバッテリ式電源をさらに具備する請求項３記載の感知 ファスナ。 ５．前記固着手段は、前記電子回路手段を前記固着手段から取り外すための着 脱自在のプラグを有する請求項４記載の感知ファスナ。 ６．前記固着手段は、現場腐食検出のために周囲環境から前記感知電極へ電解 物質を運ぶ請求項５記載の感知ファスナ。 ７．前記記憶手段は直接アナログ記憶を実行する請求項６記載の感知ファスナ 。 ８．第１及び第２の端部を有し且つ第１の端部に開口を有するボルトと； 前記ボルトの中に、開口に近接して配置された内部空洞と； 前記内部空洞の中に配置された少なくとも１つの腐食センサと； 前記内部空洞の中に配置され、前記腐食感知素子に接続する電子回路モジュー ルとを具備するスマートファスナ。 ９．前記ボルトの第１の端部にある開口に配置され、前記腐食センサを前記内 部空洞の中に封入するプラグと； 前記ボルトの第２の端部にあるナットとをさらに具備する請求項８記載のスマ ートファスナ。 １０．前記ボルトは、前記腐食センサに近接する第１の端部と、前記ボルトの 外部の環境に近接する第２の端部とを有する少なくとも１本の毛管を有する請求 項９記載のスマートファスナ。 １１．前記腐食センサは環境から毛管を経て液体または気体を受け取り、その 気体を有する環境における所定の材料について腐食の速度を指示する請求項１０ 記載のスマートファスナ。 １２．前記電子回路モジュールは、 腐食の速度を指示する信号を記憶する記憶装置と； 前記記憶装置に接続する電源とを具備する請求項１１記載のスマートファスナ 。 １３．前記記憶装置は直接アナログ記憶装置である請求項１２記載のスマート ファスナ。 １４．前記記憶装置は、現場測定の腐食の速度を指示する感知・記憶信号の日 付を指示する請求項１３記載のスマートファスナ。 １５．ファスナと； 前記ファスナの内部に配置された腐食感知モジュールと； 前記ファスナの内部に配置され、前記腐食感知モジュールに接続する電子回路 モジュールとを具備する腐食検出ファスナ。 １６．前記腐食感知モジュールは、 複数の感知電極と； 前記複数の感知電極に近接する基準電極とを具備する請求項１５記載の腐食検 出ファスナ。 １７．前記電子回路モジュールは、 前記腐食感知モジュールに接続する増幅器と； 前記増幅器に接続する記憶アレイと； 前記記憶アレイに接続する読出し回路とを請求項１６記載の腐食検出ファスナ 。 １８．前記記憶アレイはアナログメモリである請求項７記載の腐食検出ファス ナ。 １９．前記腐食感知モジュールは、 少なくとも１つの感知電極にあり、監視すべきファスナの周囲の装着材料と同 じ材料である犠牲材料であって、電極が犠牲材料の腐食を指示する信号を前記増 幅器に供給するような犠牲材料と； 前記複数の感知電極の各々の感知電極に至り、前記ファスナの周囲の周囲大気 を各々の感知電極へ運ぶ少なくとも１本の毛管とをさらに具備する請求項１８記 載の腐食検出ファスナ。 ２０．第１の端部にある頭部と、第２の端部にある着脱自在のナットとを有す るファスナ本体と； 前記ファスナ本体の内部に配置され、前記ファスナ本体を貫通して、前記ファ スナ本体の周囲及びその外部の電解液をチャンバへ導く少なくとも１本の毛管を 有する環境チャンバと； 前記環境チャンバの中に配置される腐食感知アレイであって、 基準電極と； 前記基準ダイオードに近接し、少量の第１の材料が形成されており、第１の 材料は毛管からの電解液にさらされ、電解液のために腐食を受け、腐食が起こる と、腐食を指示する腐食信号が発生されるような少なくとも１つの感知電極とを 具備する腐食感知アレイと； 前記ファスナ本体の中に配置され、前記腐食感知アレイに接続する電子回路で あって、 前記腐食感知アレイに接続し、第１の材料の腐食を指示し、ひいては前記ファ スナにより装着される第２の材料における並行する腐食を指示する、前記腐食感 知アレイからの腐食信号を記憶するアナログ記憶アレイと； 前記アナログ記憶アレイに接続し、腐食信号の時間を指示するクロックと； 前記アナログ記憶アレイに接続し、前記ファスナの外部から、前記アナログ 記憶アレイに記憶されている腐食信号及びそれぞれの時間へのアクセスを実行す るインタフェースとを具備する電子回路とを具備する組合わせファスナ／腐食セ ンサ。