JPH09330953A - 混成要素を基板に混成化する方法と装置 - Google Patents

混成要素を基板に混成化する方法と装置

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JPH09330953A
JPH09330953A JP9060441A JP6044197A JPH09330953A JP H09330953 A JPH09330953 A JP H09330953A JP 9060441 A JP9060441 A JP 9060441A JP 6044197 A JP6044197 A JP 6044197A JP H09330953 A JPH09330953 A JP H09330953A
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heating
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Francois Marion
マリオン フランソワ
Jean Marc Debono
− マルク ドボノ ジャン
Jean Louis Pornin
− ルイ ポルナン ジャン
Bernard Tucek
チュセク ベルナール
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 混成すべき要素を基板に混成化する方法であ
って、はんだ付けに要する時間を短縮し、かつはんだ付
け温度の均一性を向上する方法と装置を提供する。 【解決手段】 加熱要素を含む炉を用いてはんだビード
により基板に混成要素を混成化する方法で、基板あるい
は混成要素と接触することなく加熱要素の温度を上げる
段階と、ある時間Δt基板を加熱要素に熱接触させる段
階と、その時間Δtの終りに基板と加熱要素を解放する
段階を含む方法と、それを実行する装置とによって目的
を達成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は「フリップフロッ
プ」の混成化(hybridization)技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】はんだビードを用いて、例えば基板上に
要素、すなわちチップを混成化する技術には大きく二種
類がある。 −第1の種類は所謂「融着」技術である。(例えば錫と
鉛の合金あるいはインジウムのような)融着材料のビー
ドが、接続すべきチップの上に形成された「湿潤性」パ
ッドと接触した状態に保たれながら、その融点あるいは
それ以上まで加熱される。 −第2の種類は所謂「加圧」技術である。(錫と鉛との
合金あるいはインジウムのような)融着材料のビードが
接続すべき面上に加圧され、接続すべき材料の融点以下
で熱圧着により接着される。
【0003】本発明は第1の種類の技術、すなわち融着
技術に関する。
【0004】前記技術を実行する上で2つのパラメータ
が極めて重要である。それらは、 融着時間:混成化は所定時間に対してTmin 温度以上の
温度サイクルを特徴とする。 温度均一性:少なくとも1個のチップ、すなわち少なく
とも1個の要素が少なくとも1個の基板の上で混成化さ
れ、温度サイクル全体にわたって基板の温度の均一性は
ある限度内に留まる必要があり、その許容限度は典型的
には基板の平均温度の±2%である。
【0005】温度サイクルは長さが限定される。もしサ
イクルが長すぎると、以下を誘発する。 −はんだ付けすべき材料、すなわち湿潤性の面において
はんだ付け材料が適度に拡散すること、 −使用されるはんだ付け溶剤の非揮発性残留物が固まり
掃除を不可能にすること、 −混成化した要素を破壊させ長時間の高温サイクルに耐
ええなくすることである。
【0006】従って、温度がTmin 温度以上である時間
を最小値まで下げることが重要である。
【0007】詳しくは、最大サイクル温度Tmax に達す
るまでの昇温時間tm
【数1】 で表わされ、Wは(一般に赤外線源である)加熱装置に
加えられる電気エネルギであり、ηは加熱源で加えられ
るエネルギと加熱要素によって集められるカロリーエネ
ルギとの間のエネルギ移動の昇率を表わす定数であり、
Cは加熱要素、基板および混成すべきチップとからなる
ユニットの熱容量である。
【0008】短い昇温時間を要する場合は、低熱容量
C、高エネルギWおよび高定数ηが得られることが必要
である。
【0009】また、降温時間は加熱された要素に捕捉さ
れたエネルギに比例し、前記要素を冷却する手段(例え
ば、強制噴射空気)の冷却力に逆比例する。
【0010】Tm(t)およびTM(t)がそれぞれ、加熱要素
の最小空間温度と最大空間温度とを指示する場合、温度
の均一性は常に、
【数2】 によって測定しうる。
【0011】加熱源は一般に、それぞれが制限された非
均一性放射線を放射するランプ傾斜からなる赤外線源で
ある。加熱要素は、該加熱要素の平面における伝熱によ
り吸収されたエネルギを分配することによって初めて均
一性を回復しうる。しかしながら、加熱要素における横
方向の伝熱は加熱要素の厚さに比例する。均一性Uは加
熱要素の厚さと、横方向伝熱とに逆比例するので、良好
な均一性を得るには加熱要素の厚さが熱く熱容量Cが大
きいことを要する。前述のように、熱容量が大きいこと
は昇温時間が長くなることに、その結果、長い温度サイ
クルに帰着する。
【0012】例えば、2%の領域の極めて良好な均一性
が必要とされる場合、これは
【数3】 のように表現され、最大昇温時間t0 が強調される場
合、
【数4】 となる。
【0013】その結果、良好な均一性と最小昇温時間と
の双方を達成するためには、加熱力を増す必要がある。
高い加熱力は逆に熱損失を増大させ、この喪失された加
熱力は、精密に調整された機械である当該機械の残りの
部分を加熱することに向けられる。従って、加熱要素に
貯えられたエネルギのみならず、当該機械の残りの部分
にわたって分配されたエネルギも排出するために冷却手
段を設ける必要があり、これは当該機械を著しく複雑に
し、かつその生産コストを著しく増加させることにな
る。また、対流による加熱要素冷却方法は不十分であ
り、液体によって冷却する必要があるが、これはさらに
当該機械のコスト上昇に帰着する。
【0014】最後に、著しい加熱力が必要とされる場
合、加熱要素の温度は、一旦、当該装置すなわち加熱ラ
ンプが切られると慣性により上昇し続けるが、このこと
はピーク温度の再現が容易でない(視察された典型的な
再現性は±2%である)ことを意味する。
【0015】従来技術による方法の一実施例によれば、
チップの多数混成化は、直径が150ミリで厚さが60
0ミリのシリコン基板において実行され、混成化は −40秒以下のサイクル時間tm であって、Tmin とT
max がそれぞれ150℃および320℃で、 −サイクル中の温度均一性が5%で行なわねばならな
い。
【0016】これらの仕様では、加熱要素のサイズがラ
ンプ制御に対して4500ワットの電力を要するものが
必要とされる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、はん
だ付けに必要な時間、従って、混成すべき要素と基板と
が受ける温度サイクルの長さを短くする要領で、かつ混
成された要素に対するはんだ付け温度、特に所謂多数混
成化におけるはんだ付け温度の均一性を向上させる要領
で融着技術を改良することである。最終的に、はんだ付
け温度サイクルに対する技術仕様を保ち、あるいは向上
させながら、混成機械の生産コストと複雑さを低減する
必要がある。
【0018】詳しくは、本発明の目的は、炉を用いて基
板上にはんだビードによりチップ要素を混成化する方法
であって、 −基板あるいは混成すべき要素のいずれかと接触するこ
となく炉の加熱要素の温度を上げる段階と、 −Δtの時間、基板を加熱要素と接触させ段階と、 −時間Δtの終りに基板と加熱要素とを解放する段階と
を含むチップ要素を混成化する方法である。
【0019】
【課題を解決するための手段】この方法は昇温の間炉の
加熱要素に基板が接合されることがないようにする。接
触時間が十分規制されており、混成化を短い接触時間
で、典型的には10秒以下で実行することができる。従
って、この方法は特に温度差に対して極めて敏感な要素
に対しては重要である。
【0020】また、基板が加熱要素と熱接触される前
に、前記加熱要素の良好な均一性を達成することができ
る。
【0021】前記要素の温度上昇が止ったときに、基板
と加熱要素とを接触させればよく、そのためピーク温度
の再現性が向上する。
【0022】最終的に、炉の加熱要素のための冷却系は
厳格でなくなる。
【0023】本発明の方法は、まず温度サイクルの長さ
に関して、第2に温度の均一性に関する制限を克服する
ことができるので、加熱要素に対して用いる加熱手段は
従来技術の装置によって用いられる加熱手段程強力でな
くてもよい。
【0024】基板を加熱要素上へ降下させることにより
基板を熱接触させることができる。このような形の運動
により混成要素の基板に対する不整合の原因を制限す
る。
【0025】また、基板と混成すべき要素とを可動加熱
プレート上に載置させればよく、加熱要素に対する前記
可動加熱プレートの接触により基板と加熱要素との間の
熱接触を提供する。
【0026】従って、基板に対する昇温傾斜を制御する
ことができる(可動加熱プレートの熱容量は周知であ
る)。
【0027】可動加熱プレート手段を用いることは、そ
の上に種々サイズの基板を載置しうることを意味する。
【0028】本方法はまた、以下の基本的な段階を含
む。 −はんだビードの融点より低い温度に保たれている加熱
要素あるいは該加熱要素に載置された可動の加熱要素上
に基板を位置させる段階、 −混成すべき要素を基板上に整合させる段階、 −加熱要素の昇温の前に、(a)混成すべき要素と、基
板と、可能なら可動加熱プレートとからなるユニット
と、(b)加熱要素とを解放する段階。
【0029】この場合、基板と混成要素とを位置させ、
かつ整合させることは加熱要素自体の上で行われる。
【0030】混成要素と、基板と、可能なら可動加熱プ
レートとからなるユニットとを解放することは、加熱要
素より上方への持ち上げ運動によって行うことができ
る。
【0031】前記の持上げ運動も不整合の原因を制限す
ることができる。
【0032】混成要素の基本的な整合段階は第1の所謂
整合ステーションにおいて、次に基本的な解放段階は第
2の所謂解放ステーションにおいて実行することが可能
で、加熱要素は、整合と解放という二種類の基本的段階
の間で第1のステーションから第2のステーションまで
動かされる。
【0033】従って、基板と混成要素とからなるユニッ
トは整合の後初めて加熱要素に対して垂直運動させられ
るので、2種類のステーションの間を動くのは前記要素
である。その結果、基板の運動は範囲が限定されている
ので、基板が加熱要素に対して動く場合、発生する基板
に対するノッキング、振動あるいは不整合の問題を排除
する。
【0034】本発明の別の実施例によれば、基板は、そ
れ自体加熱要素と接触していないサポート上に位置さ
れ、次に混成すべき要素は基板上に整合される。従っ
て、本方法では、加熱要素と、基板と、混成要素とから
なるユニットとの間の熱接触は基板に対する混成要素の
整合の後に行われるので加熱要素のための冷却装置は何
ら必要としない。
【0035】基板と、混成すべき要素と、可能なら可動
加熱プレートとの持上げ段階を設けてもよい。
【0036】この段階は基板、混成要素および加熱プレ
ートが上昇および降下ステーションまで移送されてきた
後に行えばよい。
【0037】本発明のこの第2の実施例においては、加
熱要素に対する基板の熱接触は加熱要素を上昇および降
下ステーションに向かって運動させることにより行えば
よく、次に加熱要素の温度が上昇した後、混成要素と、
基板と、可能なら可動加熱プレートとからなるユニット
を降下させる。
【0038】従って、ここでも、運動あるいは上昇させ
ることにより行われるのは基板および混成要素の垂直運
動のみであって、加熱要素に対して基板が動く場合に発
生する不整合の問題を制限する。
【0039】実施例の形態とは無関係に、上昇および
(または)降下運動は、その内部での雰囲気が制御され
ているガラス鐘を用いて行うことができる。
【0040】基板と加熱要素を解放することに続いて、
混成化ビードを構成している材料を融着した後、例えば
基板あるいは可動加熱プレートを冷却面で接触させるこ
とにより基板冷却段階を実行することができる。
【0041】本発明の別の目的は、基板上で混成要素を
混成化する装置であって、 −加熱要素を含む炉と、 −加熱要素がある融点に達した後、基板を加熱要素と熱
接触させる手段と、 −基板が加熱された後基板と加熱要素とを解放する手段
とを含む混成化装置である。
【0042】この装置を用いて、本発明の方法を本発明
の方法に係わる利点を提供しながら作動させることがで
きる。
【0043】基板を加熱要素と接触させる手段および
(または)基板と加熱要素とを解放する手段は、垂直運
動が可能な形式のもの、例えばガラス鐘や、前記ガラス
鐘内の雰囲気を制御する手段でよい。
【0044】また、例えば加熱要素が装着されている可
動トロリーのような、ある平面において加熱要素を運動
させる手段を設けることができる。従って、横方向に動
くのは加熱要素であって、加熱要素に対する基板の運動
を制限し、従って生産過程の間に生じる不整合の危険性
を低下させる。
【0045】本発明の別の実施例によれば、前記装置は
また、加熱要素と接触することなくその上に基板を位置
させることができるサポートを含めてもよい。
【0046】全ての場合に、例えば冷却プレートを含
む、基板を冷却する手段を設けることができる。
【0047】いずれにしても、本発明の特徴や利点は以
下の説明によりさらに明確に理解される。以下の説明
は、非限定的であり、添付図面を参照し、説明の目的の
ために提供した実施例に関わるものである。
【0048】
【発明の実施の形態】第1の実施例を図1に参照して説
明する。図1において、参照番号2は炉の加熱要素を示
し、炉の他の部分、特に加熱手段については示していな
い。前記加熱手段は加熱抵抗あるいは加熱パイプ型のも
のでよいが、従来技術の装置に対して用いられる手段
(例えば赤外線ランプ型)より強力ではない。要素4
は、例えば錫・鉛あるいはインジウムビードのようなマ
イクロビード8を用いて基板6の上に混成化される。達
成すべき最低融着温度はこれらマイクロビード8の種類
によって変わる。
【0049】ビードを備えた混成要素4と基板6は、前
以って相互に対して整合され、次に相互に接触される。
【0050】基板6を加熱要素2と接触させる前に、加
熱要素は、ビード8の融着を可能にする温度に達するま
で昇温される。加熱要素2の温度と熱均一性は、加熱要
素に位置した(例えば、プラチナあるいは熱電対プロー
ブのような)熱センサを用いて制御することができる。
加熱要素2の昇温後、基板6と混成要素4は加熱要素2
と熱接触させられる。このような接触を図1において矢
印1で示す。この接触は所定の時間Δt保持される。こ
れは、例えば混成要素4と対向する湿潤性面上の全ての
接着ビードをはんだ付けするのに要する最短時間として
経験的に決められる。
【0051】時間Δtの経過後、基板6と混成要素4と
からなるユニットは加熱要素2から外される。このよう
に解放されることは図1において矢印IIで示されてい
る。
【0052】室温あるいはビート8の最低融点以下の温
度に保たれた加熱要素2上に前以って基板6と混成要素
4を準備しておいてもよい。従って、第1の基本的段階
(図2A)の間、ビードを備えた基板6が加熱要素2上
に置かれ、混成要素4が整合され、加熱要素2は前述の
温度に常に保たれている(図2B)。最後に、第3の基
本的段階の間、基板6と混成要素とからなるユニット
は、加熱要素の温度を上げる前に加熱要素2から離され
る、すなわち外される。次に温度が上げられ、図1に関
して前述した段階が実行される。
【0053】加熱要素に対する基板の熱接触や、基板と
加熱要素との解放とは加熱要素2に対して基板と混成要
素とからなるユニットを昇降することによって行うこと
が好ましい。図3に示す別の実施例によれば、基板6は
加熱要素2に対して横方向に動かされる。従って、整合
された後、基板は加熱要素2から熱的に解放されている
サポート10まで移送される。次に加熱要素の温度が上
げられ、その後基板6と混成要素4とからなるユニット
がサポート10から加熱要素2に向かって動かされる
(図3の点線の矢印)。この種の運動は可能であるが、
精々数ミリの範囲の運動範囲を必要とする垂直軸線に沿
って運動がなされるときよりも、混成要素と基板とから
なるユニットに対してノッキングや、振動、あるいは不
整合に対する問題を増大させうる。垂直軸線に沿ったこ
の種の運動は、その内部では雰囲気の制御が可能であり
基板6と接触するようになるガラス鐘によって行うこと
ができる。図2Cにおける参照番号12は、雰囲気が制
御されたガラス鐘の壁の下部分を示し、ガラス鐘内の雰
囲気を制御する手段はこの図には示されていない。基板
6と壁12の端部との間のシールは基板の周囲14の周
りの数個所において設けられた中空の領域によって保た
れている。はんだ付け材の融点以上に予熱されている加
熱要素2に対する接触位置に基板6があると、基板6の
ビードを混成要素4の湿潤性面にはんだ付けしうる要領
でガラス鐘内に制御された雰囲気が保たれる。
【0054】本発明の方法は、炉の加熱要素が十分な温
度と温度均一性に達したときに初めて基板と前記加熱要
素とが結合しうることを提案している。
【0055】吹込み型あるいは伝熱流体循環型の、加熱
要素を冷却する手段を設けることができる。しかしなが
ら、そのような手段は従来技術の装置で使用されている
ものと比較して小型化されている。ある場合には、前記
手段は、下記するように、基板と混成要素との整合が加
熱要素2上で行われない場合特に省略することすら可能
である。熱膨張に対して敏感な装置(例えば整合に用い
られる光学装置)の部分に関して、基板は加熱要素の昇
温の後初めて加熱要素と接触されるので、それらの温度
調整装置はもはや必要でない。従って、整合段階および
光学的制御段階は全て基板と混成要素が高温の加熱要素
と熱接触する前に行われる。
【0056】図4に示す変形実施例によれば、基板6と
混成要素4は前以ってサポート16、例えば、その上で
整合が行われる加熱プレート上に置かれる。例えば真空
ガラス鐘を用いて図4に示すように垂直軸線に沿って、
あるいは図3に関して前述したように加熱要素2の平面
において運動するのはこの加熱プレートである。従っ
て、加熱プレート16は基板6の代りに移送される。加
熱プレート16の厚さは、該加熱プレート16が前以っ
て加熱されている加熱要素2と接触するようにされる
と、その熱容量を決め、かつ基板6と混成要素4の温度
上昇の制御を可能とする。また、可動サポートあるいは
可動加熱プレート16を用いることにより種々サイズの
基板6の搬送および(または)運動を可能にする。
【0057】本発明の別の実施例を図5Aから図5Eま
でを参照して以下説明する。これらの図において、参照
番号2は炉の加熱要素すなわち加熱プレートを示す。こ
の加熱要素すなわち加熱プレートは、例えば、固定フレ
ーム20に対して動きうる可動トロリーのような手段1
8に載置されている。従って、加熱要素2は第1の所謂
整合ステーション22と、第2の所謂解放ステーション
24との間を運動しうる。前記ステーション24の高さ
において、垂直軸線にわたって基板および混成要素の上
下運動を可能とする、雰囲気が制御されたガラス鐘のよ
うな手段28が設けられている。
【0058】基板4が、整合領域22へ持って来られた
加熱要素2上に前以って位置される。ここで、混成要素
6が、当該技術分野の専門家には周知の手段を用いて、
ビードを設けた基板4に対して整合される。次に、前記
要素6は基板4上に置かれる。
【0059】次に加熱要素2は解放ステーション24
(図5B)に向かって動かされ、そこで雰囲気が制御さ
れたガラス鐘28は加熱要素2の温度が上がる前に基板
と混成要素とからなるユニットを持ち上げる。次に(図
5C)、昇温および温度が安定した後、基板と混成要素
とからなるユニットが加熱要素2と熱接触するように降
下されマイクロビードを溶解する。前記装置28の内部
の制御された雰囲気は阻害されないし、変化することも
ない。
【0060】ビードを溶解し、はんだ付けした後、基板
と混成要素からなるユニットは前記装置28により上位
置まで戻される(図5D)。次に、基板と混成要素から
なるユニットは、混成化金属が冷却されるまでこの位置
に保持されるか、あるいは冷却領域まで移送させればよ
い。同時に加熱要素2は可動トロリー18によって積込
み領域まで戻され、別の基板を収集することができ、別
の基板は別の混成要素6を乗せるために位置決めおよび
整合ステーション22まで持って来られる。変形実施例
によれば、冷却プレート26が可動トロリー18上で加
熱要素2の次に位置し、基板4と加熱要素2を解放した
後(図5D)、加熱要素と冷却プレートからなるユニッ
トはトロリー18によって動かされ、冷却プレート26
を解放ステーション24と対向させる。ここで、基板4
は冷却プレート26と接触させる(図5E)ことができ
る。
【0061】図5Aから図5Eまでを参照して前述した
全ての段階は、図4に示すように基板4を可動プレート
16上に位置させて実行してもよい。従って、基板と混
成要素を動かすために搬送されるのは可動加熱プレート
である。
【0062】炉2と、可能なら冷却プレート26とを動
かすために可動トロリー18を使用するということは、
基板と混成要素は単に限定された範囲を運動すればよい
ということを意味し、これらの運動は垂直軸線に沿った
数ミリ、あるいは数マイクロメータの運動からなり、全
ての側方運動は可動トロリーによって行われる。
【0063】別の実施例を図6Aから図6Dまでを参照
して以下説明する。これらの図において、加熱要素2は
固定された基板20に対して可動トロリー18に装着さ
れている。加熱要素2の次に、装てんおよび整合サポー
ト30も可動トロリーに位置している。
【0064】基板6(あるいは可動加熱プレート16)
は前以ってサポート30に位置されている。次に、トロ
リーは前記サポートを位置決め領域22へ持ってくるよ
うに動かされ、前記位置決め領域において、混成要素4
は基板6に対して位置する(図6A)。次に、トロリー
は、混成要素4と、基板と、可能なら中間加熱プレート
16とからなるユニットを真空ガラス鐘28と対向する
ところへ導く。前記ガラス鐘が降下され、混成要素、基
板および加熱プレートからなるユニットを解放し、該ユ
ニットを上位置まで持ち上げる(図6B)。同時に、加
熱要素2の温度が上げられ、温度均一性が得られた後、
加熱要素2はガラス鐘28の下方に持ってこられ、その
ためガラス鐘が加熱要素の上に混成要素、基板および中
間加熱プレートからなるユニットを置くことができる。
次に、前記ユニットは融着サイクルを実行する。前記サ
イクルの後、ガラス鐘は混成要素、基板および中間加熱
プレートからなるユニットを上位置まで持ち上げて戻
し、加熱要素2が可動トロリー18により外される。ガ
ラス鐘28はサポート30上の下位置まで戻され、混成
要素、基板および中間加熱プレートからなるユニットを
サポート30上に置く。サポート28はサポートあるい
は冷却プレートでよい。
【0065】本実施例においても、基板と混成要素の運
動は数ミリあるいは数マイクロメータの範囲にわたって
の垂直軸線に沿った運動に限定され、全ての横方向運動
は可動トロリー18によるものである。
【0066】前述の全ての実施例において、ガラス鐘2
8は、該鐘の下面と、この下面が接触するようにされる
中間加熱プレート16との間の平行度のずれを直すこと
ができる可撓性のあるすなわち調整可能な関節接続部に
接続しうる。
【0067】前述の各種実施例の全ての作動は、温度、
位置決め、および整合についてのデータを収集し、例え
ば可動トロリー18のような搬送手段の運動や、ガラス
鐘28の昇降、ガラス鐘の内部での制御された雰囲気の
設定について決定するマイクロコンピュータにより制御
しうる。当該技術分野の専門家には理解されるように、
諸々の段階は従来のマイクロコンピュータにおいてプロ
グラム化可能であって、適当なプログラム指令が磁気デ
ィスク、従来のRAMあるいはROM記憶装置において
記憶される。
【0068】いずれの実施例が選択されたとしても、本
発明による方法は基板と加熱要素との間の接触時間を短
くし、直径が200ミリ以上の基板に対してさえも大き
な面にわたって極めて良好な均一性が得られるようにし
うる。
【0069】電力供給源、炉冷却装置を小さくでき、
(例えば光学部材あるいは整合装置のような)熱膨張に
対して敏感な部分に対する温度調整装置は省略すること
ができ、かつ炉の昇温装置を、より均一で、簡単である
が慣性が大きく、より安価になる装置に適合するように
修正することが可能なので、本発明による方法を実施す
るに使用する装置の製造コストは著しく低下される。基
板を冷却テーブルに位置させて整合を行うことができる
ため、調整のしやすい簡単な整合テーブルを提供し、必
要に応じて炉を一定温度に永続的に保つことができるよ
うにし、当該機械の効率を向上させる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による方法の第1の実施例を示す図。
【図2】Aは本発明による方法の基本段階を示す図。B
は本発明による方法の基本段階を示す図。Cは本発明に
よる方法の基本段階を示す図。
【図3】本発明による方法において、加熱要素に対する
基板の運動の変形を示す図。
【図4】本発明の変形実施例を示す図。
【図5】Aは別の実施例の作動における設定段階を示す
図。Bは別の実施例の作動における設定段階を示す図。
Cは別の実施例の作動における設定段階を示す図。Dは
別の実施例の作動における設定段階を示す図。Eは別の
実施例の作動における設定段階を示す図。
【図6】Aは本発明のさらに別の実施例の作動における
設定を示す図。Bは本発明のさらに別の実施例の作動に
おける設定を示す図。Cは本発明のさらに別の実施例の
作動における設定を示す図。Dは本発明のさらに別の実
施例の作動における設定を示す図。
【符号の説明】
2 加熱要素 4 混成要素 6 基板 8 ビード 10 サポート 16 サポート 18 可動トロリー 22 整合ステーション 24 解放ステーション 26 冷却プレート 28 ガラス鐘 30 整合サポート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジャン − ルイ ポルナン フランス国クロル,リュ デ アイル,63 (72)発明者 ベルナール チュセク フランス国モネスティエ ド クレルモ ン,ロワサール,ル フォ,ビラ ベルジ ャック(番地なし)

Claims (32)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 炉を用いてはんだビードにより基板上に
    混成要素を混成化する方法において、 −基板あるいは混成化すべき要素と何ら接触することな
    く炉の加熱要素の温度を上げる段階と、 −Δtの時間基板を加熱要素と熱接触させる段階と、 −Δtの時間の終りにおいて基板と加熱要素とを解放す
    る段階とを含むことを特徴とする混成化する方法。
  2. 【請求項2】 前記基板を前記加熱要素上に降下させる
    ことにより前記基板が熱接触されることを特徴とする請
    求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 前記基板と混成化すべき要素とが可動加
    熱プレート上に載置され、前記可動加熱プレートと加熱
    要素との間の接触により前記基板と前記加熱要素との間
    の熱接触を提供することを特徴とする請求項1または2
    に記載の方法。
  4. 【請求項4】 炉を用いてはんだビードにより基板上に
    混成要素を混成化する方法において、 −前記はんだビードの融点以下の温度に保たれた炉の加
    熱要素の上に前記基板を位置させる段階と、 −混成化すべき要素を基板の上で整合させる段階と、 −混成化すべき要素と基板とからなるユニットと前記加
    熱要素とを、前記加熱要素の温度が上がる前に解放する
    段階と、 −前記基板あるいは混成化すべき要素と何ら接触するこ
    となく前記炉の加熱要素の温度を上げる段階と、 −前記基板をΔtの時間だけ加熱要素と熱接触させる段
    階と、 −前記時間Δtの終りに前記基板と前記加熱要素とを解
    放する段階とを含むことを特徴とする混成化する方法。
  5. 【請求項5】 炉を用いてはんだビードにより基板上に
    混成要素を混成化する方法において、順次に、 −前記はんだビードの融点以下の温度に保たれた炉の加
    熱要素に載置された可動加熱プレート上に前記基板を位
    置させる段階と、 −混成化すべき要素を前記基板上で整合する段階と、 −混成化すべき要素と、基板と、可動加熱プレートとか
    らなるユニットと加熱要素とを、前記加熱要素の温度が
    上がる前に解放する段階と、 −前記基板あるいは混成化すべき要素と何ら接触するこ
    となく前記炉の加熱要素の温度を上げる段階と、 −Δtの時間、前記基板を前記加熱要素と熱接触させる
    段階と、 −Δtの時間の終りに前記基板と加熱要素とを解放する
    段階とを含むことを特徴とする混成化する方法。
  6. 【請求項6】 前記基板は、該基板を加熱要素の上に降
    下させることにより熱接触されることを特徴とする請求
    項4または5に記載の方法。
  7. 【請求項7】 前記基板と混成化すべき要素とが可動加
    熱プレート上に載置され、前記可動加熱プレートと加熱
    要素との間の接触が前記基板と加熱要素との間の熱接触
    を提供することを特徴とする請求項5または6に記載の
    方法。
  8. 【請求項8】 前記混成要素と、基板と、可能なら可動
    加熱プレートとからなるユニットを解放する基本段階
    が、前記基板と、前記混成要素と、可能なら可動加熱要
    素とを加熱要素から持ち上げることにより実行されるこ
    とを特徴とする請求項4または5に記載の方法。
  9. 【請求項9】 混成化すべき要素を基板上で整合させる
    基本的段階が第1の所謂整合ステーションにおいて行わ
    れ、前記の解放を行う基本段階が第2の所謂解放ステー
    ションで行われ、前記加熱要素が前記整合および解放の
    2つの基本段階の間で前記第1のステーションから前記
    第2のステーションまで動かされることを特徴とする請
    求項4または5に記載の方法。
  10. 【請求項10】 加熱要素を含む炉を用いてはんだビー
    ドにより基板に混成要素を混成化する方法において、 −加熱要素と接触していないサポートに前記基板を位置
    させる段階と、 −混成化すべき要素を基板上で整合する段階と、 −基板あるいは混成化すべき要素と何ら接触することな
    く炉の加熱要素の温度を上げる段階と、 −Δtの時間基板を加熱要素に熱接触させる段階と、 −Δtの時間の終りに基板と加熱要素とを解放する段階
    とを含むことを特徴とする混成化する方法。
  11. 【請求項11】 基板が、該基板を加熱要素上に降下さ
    せることにより加熱要素と熱接触されることを特徴とす
    る請求項10に記載の方法。
  12. 【請求項12】 基板と混成化すべき要素とが可動加熱
    プレート上に載置され、前記可動加熱プレートと加熱要
    素との間の接触により前記基板と加熱要素との間の熱接
    触を提供することを特徴とする請求項10または11に
    記載の方法。
  13. 【請求項13】 基板と混成化すべき要素とを上昇させ
    る段階をさらに含むことを特徴とする請求項10または
    13に記載の方法。
  14. 【請求項14】 基板と混成要素とを持ち上げる段階
    が、基板と混成要素とからなるユニットを昇降ステーシ
    ョンまで移送した後に行われることを特徴とする請求項
    13に記載の方法。
  15. 【請求項15】 前記加熱要素を昇降ステーションに向
    かって動かし、混成要素と基板とからなるユニットを、
    前記加熱要素の温度が上った後降下させることにより、
    基板が加熱要素と熱接触させることを特徴とする請求項
    14に記載の方法。
  16. 【請求項16】 基板と、混成化すべき要素と、可動加
    熱プレートとを持ち上げる段階をさらに含むことを特徴
    とする請求項12に記載の方法。
  17. 【請求項17】 基板と、混成要素と、加熱プレートと
    を持ち上げる段階が、基板と、混成するべき要素と可動
    加熱プレートとからなるユニットを昇降ステーションに
    向かって移送した後に行われることを特徴とする請求項
    16に記載の方法。
  18. 【請求項18】 加熱要素を昇降ステーションに向かっ
    て動かし、加熱要素の温度が上げられた後混成要素と、
    基板と、可動加熱プレートとからなるユニットを降下さ
    せることにより基板が加熱要素と熱接触されることを特
    徴とする請求項17に記載の方法。
  19. 【請求項19】 前記の降下が、内部の雰囲気が制御さ
    れているガラス鐘によって行われることを特徴とする請
    求項2に記載の方法。
  20. 【請求項20】 前記の降下が、雰囲気が制御されてい
    るガラス鐘によって行われることを特徴とする請求項6
    に記載の方法。
  21. 【請求項21】 前記の降下が、内部の雰囲気が制御さ
    れているガラス鐘によって行われることを特徴とする請
    求項8に記載の方法。
  22. 【請求項22】 基板と加熱要素とを解放した後基板を
    冷却する段階を含むことを特徴とする請求項1、4、
    5、10のいずれか1項に記載の方法。
  23. 【請求項23】 冷却が、基板あるいは可動加熱プレー
    トを冷却面と接触させることにより行われることを特徴
    とする請求項22に記載の方法。
  24. 【請求項24】 基板がその上に位置されるサポートが
    冷却面から構成されることを特徴とする請求項10およ
    び23に記載の方法。
  25. 【請求項25】 基板上ではんだビードにより混成要素
    を混成化する装置において、 −加熱要素を含む炉と、 −加熱要素がある融点に達した後基板を加熱要素と熱接
    触させる手段と、 −基板を加熱した後基板と加熱要素とを解放する手段と
    を含むこと特徴とする混成化装置。
  26. 【請求項26】 基板を加熱要素と熱接触させる手段お
    よび(または)加熱後基板を解放する手段が垂直運動可
    能な手段であることを特徴とする請求項25に記載の方
    法。
  27. 【請求項27】 基板を加熱要素と接触させる手段およ
    び(または)加熱後基板を解放する手段がガラス鐘と、
    前記ガラス鐘内で雰囲気を制御する手段とを含むことを
    特徴とする請求項26に記載の装置。
  28. 【請求項28】 加熱要素をある平面で運動させる手段
    をさらに含むことを特徴とする請求項25から27まで
    のいずれか1項に記載の装置。
  29. 【請求項29】 前記加熱要素を運動させる手段が、そ
    の上に加熱要素が装着される可動トロリーを含むことを
    特徴とする請求項28に記載の装置。
  30. 【請求項30】 加熱要素と接触することなく、その上
    に基板を位置させることのできるサポートをさらに含む
    ことを特徴とする請求項25から27までのいずれか1
    項に記載の装置。
  31. 【請求項31】 基板冷却手段をさらに含むことを特徴
    とする請求項25から27までのいずれか1項に記載の
    装置。
  32. 【請求項32】 冷却プレートを含むことを特徴とする
    請求項25から27までのいずれか1項に記載の装置。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2782840B1 (fr) * 1998-08-25 2003-09-05 Commissariat Energie Atomique Circuit electronique et procede de realisation d'un circuit electronique integre comprenant au moins un composant electronique de puissance dans une plaque de substrat
US20060289523A1 (en) * 2005-06-21 2006-12-28 Neeraj Saxena Solder process system
US20080006294A1 (en) * 2006-06-27 2008-01-10 Neeraj Saxena Solder cooling system
FR2943751B1 (fr) 2009-03-30 2012-03-09 Commissariat Energie Atomique Joint metallique a levre et machine equipee d'un tel joint

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3724068A (en) * 1971-02-25 1973-04-03 Du Pont Semiconductor chip packaging apparatus and method
JPS5720441A (en) * 1980-07-11 1982-02-02 Hitachi Ltd Exchanging device for semiconductor element
JPS60126843A (ja) * 1983-12-13 1985-07-06 Fujitsu Ltd ハイブリッドicの半田付け方法
DE3517090A1 (de) * 1985-05-11 1986-11-13 SMS Schloemann-Siemag AG, 4000 Düsseldorf Verfahren zum walzen von vorband zu warmbreitband
EP0260490A1 (en) * 1986-08-27 1988-03-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Bonding sheet for electronic component and method of bonding electronic component using the same
JPS6376279A (ja) * 1986-09-19 1988-04-06 株式会社日立製作所 コネクタ及びそれを用いた半導体素子実装構造
US4954453A (en) * 1989-02-24 1990-09-04 At&T Bell Laboratories Method of producing an article comprising a multichip assembly
FR2646558B1 (fr) * 1989-04-26 1994-04-01 Commissariat A Energie Atomique Procede et machine d'interconnexion de composants electriques par elements de soudure
US5090609A (en) * 1989-04-28 1992-02-25 Hitachi, Ltd. Method of bonding metals, and method and apparatus for producing semiconductor integrated circuit device using said method of bonding metals
US5186378A (en) * 1991-09-30 1993-02-16 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for transducer heating in low temperature bonding
JPH0786336A (ja) * 1993-09-10 1995-03-31 Fujitsu Ltd ボンディング装置
FR2716302B1 (fr) * 1994-02-17 1996-04-05 Commissariat Energie Atomique Dispositif de chauffage pour la réalisation de connexions par un matériau fusible.

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