JPH09329545A - 分光分析計における温度補正手段 - Google Patents
分光分析計における温度補正手段Info
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- JPH09329545A JPH09329545A JP17307096A JP17307096A JPH09329545A JP H09329545 A JPH09329545 A JP H09329545A JP 17307096 A JP17307096 A JP 17307096A JP 17307096 A JP17307096 A JP 17307096A JP H09329545 A JPH09329545 A JP H09329545A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 バンドパスフィルタの温度変化を考慮して成
分計算式に温度補正を行い、特定成分値または食味値の
検出精度を向上させるとともに、バンドパスフィルタの
寿命の向上及び測定時のウォーミングアップ時間の短縮
を図る。 【構成】 バンドパスフィルタ４の近傍には、該バンド
パスフィルタ４の雰囲気温度を検出するフィルタ温度検
出器１６を設け、成分計算式には、前記フィルタ温度検
出器１６の検出値に基づいて温度補正を行うフィルタ温
度補正項を設ける。
分計算式に温度補正を行い、特定成分値または食味値の
検出精度を向上させるとともに、バンドパスフィルタの
寿命の向上及び測定時のウォーミングアップ時間の短縮
を図る。 【構成】 バンドパスフィルタ４の近傍には、該バンド
パスフィルタ４の雰囲気温度を検出するフィルタ温度検
出器１６を設け、成分計算式には、前記フィルタ温度検
出器１６の検出値に基づいて温度補正を行うフィルタ温
度補正項を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、バンドパスフィルタを
用いた分光分析計に関し、特に、バンドパスフィルタの
温度特性を考慮して成分計算式を補正する温度補正手段
に関する。
用いた分光分析計に関し、特に、バンドパスフィルタの
温度特性を考慮して成分計算式を補正する温度補正手段
に関する。
【０００２】
【従来の技術】バンドパスフィルタを用いた分光分析計
の一例として、米に含有されるタンパク質などの成分を
測定したり、その測定結果に基づいて米の食味値を求め
る成分分析装置が知られている。
の一例として、米に含有されるタンパク質などの成分を
測定したり、その測定結果に基づいて米の食味値を求め
る成分分析装置が知られている。
【０００３】この成分分析装置の構成を簡単に述べる
と、例えば、試料となる米に近赤外線を照射し、その透
過光または反射光からタンパク質やアミロースに関係す
る複数の波長の吸光度を検出し、その検出吸光度から予
め求めた検量線から成る成分算出式を使用してタンパク
質などの特定成分値や食味値を求めるものである。
と、例えば、試料となる米に近赤外線を照射し、その透
過光または反射光からタンパク質やアミロースに関係す
る複数の波長の吸光度を検出し、その検出吸光度から予
め求めた検量線から成る成分算出式を使用してタンパク
質などの特定成分値や食味値を求めるものである。
【０００４】この種の成分分析装置には試料温度の影響
を受けることから様々な対策が講じられている。例え
ば、特開平６ー３１３７５４号公報に開示されたもの
は、試料測定部に放射温度計等の非接触の温度検出手段
を設けて、分光分析前の試料温度と分光分析後の試料温
度とを測定し、スペクトル分布により求めた試料の化学
的成分の定量値を求める定量式に、温度検出手段の検出
結果により補正を行う温度補正項が設けられている。ま
た、特開平４ー３６１１３８号公報に開示されたもの
は、試料測定部の近傍に設けた外気温度を検出する外気
温度センサと、その外気温度センサの検出温度に基づい
て検量線の係数を所定値に設定する係数設定手段とが設
けられている。
を受けることから様々な対策が講じられている。例え
ば、特開平６ー３１３７５４号公報に開示されたもの
は、試料測定部に放射温度計等の非接触の温度検出手段
を設けて、分光分析前の試料温度と分光分析後の試料温
度とを測定し、スペクトル分布により求めた試料の化学
的成分の定量値を求める定量式に、温度検出手段の検出
結果により補正を行う温度補正項が設けられている。ま
た、特開平４ー３６１１３８号公報に開示されたもの
は、試料測定部の近傍に設けた外気温度を検出する外気
温度センサと、その外気温度センサの検出温度に基づい
て検量線の係数を所定値に設定する係数設定手段とが設
けられている。
【０００５】更に、特開昭６３ー１６７２４４号公報に
開示されたものは、温度検出器、温度設定器及び測定装
置自体を恒温となして測定する設定温度に対応する温度
調節器を有するものである。
開示されたものは、温度検出器、温度設定器及び測定装
置自体を恒温となして測定する設定温度に対応する温度
調節器を有するものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記の温度補正項及び
係数設定手段を設けた成分分析装置は、試料の温度変化
に起因した前記検出吸光度の変化を、定量式及び検量式
による算出時に温度補正を行い、安定した特定成分値ま
たは食味値が得られるようにしたものである。
係数設定手段を設けた成分分析装置は、試料の温度変化
に起因した前記検出吸光度の変化を、定量式及び検量式
による算出時に温度補正を行い、安定した特定成分値ま
たは食味値が得られるようにしたものである。
【０００７】しかしながら、上記従来の成分分析装置で
は、照射する光を狭帯域に限定したり、受光する光を狭
帯域に限定するバンドパスフィルタの温度変化に起因し
て検出吸光度が変化することが考慮されていなかった。
つまり、バンドパスフィルタは、周囲の温度変化により
分光特性に変化が生じ、温度が高くなるにつれて波長の
透過帯域が長波長方向にシフトすることが知られている
（図４参照）。これにより、バンドパスフィルタの透過
波長が変化して検出吸光度に変化が生じ、定量式及び検
量式によって得られる特定成分値及び食味値の精度に影
響を及ぼす恐れがあった。
は、照射する光を狭帯域に限定したり、受光する光を狭
帯域に限定するバンドパスフィルタの温度変化に起因し
て検出吸光度が変化することが考慮されていなかった。
つまり、バンドパスフィルタは、周囲の温度変化により
分光特性に変化が生じ、温度が高くなるにつれて波長の
透過帯域が長波長方向にシフトすることが知られている
（図４参照）。これにより、バンドパスフィルタの透過
波長が変化して検出吸光度に変化が生じ、定量式及び検
量式によって得られる特定成分値及び食味値の精度に影
響を及ぼす恐れがあった。
【０００８】このため、測定装置に温度調節器を設けて
測定装置自体を恒温槽に形成したものは、温度調節器と
してヒータを用い、例えば、外気温＋２０（℃）の雰囲
気温度に測定装置内を保持して分光分析を開始する。し
かしながら、ヒータには冷却作用がないため高温状態が
続き、熱によるフィルタの劣化からバンドパスフィルタ
の寿命が短くなっていた。また、このようにヒータを使
用したものは測定開始までのウォーミングアップに長時
間を要するという欠点があった。
測定装置自体を恒温槽に形成したものは、温度調節器と
してヒータを用い、例えば、外気温＋２０（℃）の雰囲
気温度に測定装置内を保持して分光分析を開始する。し
かしながら、ヒータには冷却作用がないため高温状態が
続き、熱によるフィルタの劣化からバンドパスフィルタ
の寿命が短くなっていた。また、このようにヒータを使
用したものは測定開始までのウォーミングアップに長時
間を要するという欠点があった。
【０００９】本発明は上記問題点にかんがみ、バンドパ
スフィルタの温度変化を考慮して、検量式から成る成分
算出式に温度補正を行って特定成分値または食味値の検
出精度を向上させるとともに、バンドパスフィルタの寿
命の向上及びウォーミングアップ時間の短縮を図ること
を技術的課題とする。
スフィルタの温度変化を考慮して、検量式から成る成分
算出式に温度補正を行って特定成分値または食味値の検
出精度を向上させるとともに、バンドパスフィルタの寿
命の向上及びウォーミングアップ時間の短縮を図ること
を技術的課題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明は、試料に近赤外線を照射する光源と、近赤外線
を狭帯域の波長に限定する複数種のバンドパスフィルタ
と、試料に照射して得られた透過光または反射光により
試料の含有成分に関係する複数の波長の吸光度を検出す
る受光手段と、その検出吸光度から、予め求めてある成
分計算式を使用して前記試料の特定成分値を求める演算
回路とからなる分光分析計であって、前記バンドパスフ
ィルタの近傍には、該バンドパスフィルタの雰囲気温度
を検出するフィルタ温度検出器を設け、前記成分計算式
には、前記フィルタ温度検出器の検出値に基づいて温度
補正を行うフィルタ温度補正項を設ける、という技術的
手段を講じた。
本発明は、試料に近赤外線を照射する光源と、近赤外線
を狭帯域の波長に限定する複数種のバンドパスフィルタ
と、試料に照射して得られた透過光または反射光により
試料の含有成分に関係する複数の波長の吸光度を検出す
る受光手段と、その検出吸光度から、予め求めてある成
分計算式を使用して前記試料の特定成分値を求める演算
回路とからなる分光分析計であって、前記バンドパスフ
ィルタの近傍には、該バンドパスフィルタの雰囲気温度
を検出するフィルタ温度検出器を設け、前記成分計算式
には、前記フィルタ温度検出器の検出値に基づいて温度
補正を行うフィルタ温度補正項を設ける、という技術的
手段を講じた。
【００１１】
【作用】フィルタ温度検出器によりバンドパスフィルタ
近傍の雰囲気温度を検出し、この検出値に基づいてフィ
ルタ温度補正項が成分計算式の温度補正を行うので、バ
ンドパスフィルタの温度変化に伴って透過波長が変化
し、更に、検出吸光度に変化が生じても、バンドパスフ
ィルタの温度変化に影響を受けることなく特定成分値が
正確に算出される。
近傍の雰囲気温度を検出し、この検出値に基づいてフィ
ルタ温度補正項が成分計算式の温度補正を行うので、バ
ンドパスフィルタの温度変化に伴って透過波長が変化
し、更に、検出吸光度に変化が生じても、バンドパスフ
ィルタの温度変化に影響を受けることなく特定成分値が
正確に算出される。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図１に示す分光分析装置１のキャビネット２の上部に
は、近赤外線を照射する光源３を設け、該光源３の照射
面には、複数個のバンドパスフィルタ４により構成して
複数の特定波長を透過させる円板状のフィルタ５を設け
る。該フィルタ５は、駆動モータ６を連結し、駆動モー
タ６の回転により任意のバンドパスフィルタ４を選択し
て光源３からの光を透過可能に設定している。光源３か
らの照射光は積分球７に取り込むように構成し、該積分
球７の上部にはスリット８の間隙を通過した特定波長の
近赤外線を取り入れる窓９を設けてある。積分球７の内
部には、反射光量検出器１０Ａ，１０Ｂを対称な位置に
設け、積分球７の底部は開口して測定部１１となし、測
定部１１の下部に透明板１２を設け、その下方には透過
光量検出器１０Ｃを配設してある。これら反射光量検出
器１０Ａ，１０Ｂ及び透過光量検出器１０Ｃは試料に照
射された後の近赤外線を受光し、これを電気量に変換す
ると共に、その吸光度を出力する受光手段となる。ま
た、上記受光手段とは別にキャビネット２内には試料供
給装置１３を配設する。
図１に示す分光分析装置１のキャビネット２の上部に
は、近赤外線を照射する光源３を設け、該光源３の照射
面には、複数個のバンドパスフィルタ４により構成して
複数の特定波長を透過させる円板状のフィルタ５を設け
る。該フィルタ５は、駆動モータ６を連結し、駆動モー
タ６の回転により任意のバンドパスフィルタ４を選択し
て光源３からの光を透過可能に設定している。光源３か
らの照射光は積分球７に取り込むように構成し、該積分
球７の上部にはスリット８の間隙を通過した特定波長の
近赤外線を取り入れる窓９を設けてある。積分球７の内
部には、反射光量検出器１０Ａ，１０Ｂを対称な位置に
設け、積分球７の底部は開口して測定部１１となし、測
定部１１の下部に透明板１２を設け、その下方には透過
光量検出器１０Ｃを配設してある。これら反射光量検出
器１０Ａ，１０Ｂ及び透過光量検出器１０Ｃは試料に照
射された後の近赤外線を受光し、これを電気量に変換す
ると共に、その吸光度を出力する受光手段となる。ま
た、上記受光手段とは別にキャビネット２内には試料供
給装置１３を配設する。
【００１３】積分球７の底部に設けた前記測定部１１に
は、粉砕試料を充填する試料容器１４を載置するのであ
るが、前記測定部１１の凹部側壁には試料温度を検出す
るサーミスタ等の試料温度検出器１５を埋設する。ま
た、キャビネット２の所定箇所、すなわち、円板状のフ
ィルタ５近傍にフィルタ５の温度を検出するフィルタ温
度検出器１６を設ける。このフィルタ温度検出器１６
は、例えば、非接触の放射温度計を使用するとフィルタ
の表面温度が精度よく検出できる。
は、粉砕試料を充填する試料容器１４を載置するのであ
るが、前記測定部１１の凹部側壁には試料温度を検出す
るサーミスタ等の試料温度検出器１５を埋設する。ま
た、キャビネット２の所定箇所、すなわち、円板状のフ
ィルタ５近傍にフィルタ５の温度を検出するフィルタ温
度検出器１６を設ける。このフィルタ温度検出器１６
は、例えば、非接触の放射温度計を使用するとフィルタ
の表面温度が精度よく検出できる。
【００１４】次に、上記のように構成される分光分析装
置１の制御系について、図２を参照して説明する。
置１の制御系について、図２を参照して説明する。
【００１５】制御装置１７は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ
などからなり、その入力側に入力インターフェース１８
を介して操作キーボード１９、試料温度検出器１５、フ
ィルタ温度検出器１６、反射光量検出器１０Ａ，１０Ｂ
及び透過光量検出器１０Ｃなどを接続する。更に、制御
装置１７の出力側には、出力インターフェース２４を介
して表示器２０、プリンタ２１などの出力手段と光源
３、駆動モータ６を接続する。
などからなり、その入力側に入力インターフェース１８
を介して操作キーボード１９、試料温度検出器１５、フ
ィルタ温度検出器１６、反射光量検出器１０Ａ，１０Ｂ
及び透過光量検出器１０Ｃなどを接続する。更に、制御
装置１７の出力側には、出力インターフェース２４を介
して表示器２０、プリンタ２１などの出力手段と光源
３、駆動モータ６を接続する。
【００１６】次に、上記構成の分光分析装置１の動作の
一例を説明する。まず、試料供給装置１３に試料を投入
し、その下部に設けた一対の粉砕ローラ２２，２２によ
り試料（例えば米）を粉砕する。そして、その試料を試
料容器１４に充填した後、ハンドル２３により試料容器
１４を図１の矢印左方向に押し込み、試料容器１４を測
定部１１の凹部に載置する。次に、分光分析装置１を作
動状態にする。つまり、光源３を点灯すると共に、駆動
モータ６を駆動してフィルタ５のうちの任意のバンドパ
スフィルタ４を選択する。すると、光源３から照射した
近赤外線は、任意のバンドパスフィルタ４及びスリット
８を透過して積分球７に入射し、該積分球７底部に設け
た測定部１１の試料を透過し、その透過光が透過光量検
出器１０Ｃで検出される。また、試料の反射光は、積分
球７内を乱反射して反射光量検出器１０Ａ，１０Ｂによ
り検出される。
一例を説明する。まず、試料供給装置１３に試料を投入
し、その下部に設けた一対の粉砕ローラ２２，２２によ
り試料（例えば米）を粉砕する。そして、その試料を試
料容器１４に充填した後、ハンドル２３により試料容器
１４を図１の矢印左方向に押し込み、試料容器１４を測
定部１１の凹部に載置する。次に、分光分析装置１を作
動状態にする。つまり、光源３を点灯すると共に、駆動
モータ６を駆動してフィルタ５のうちの任意のバンドパ
スフィルタ４を選択する。すると、光源３から照射した
近赤外線は、任意のバンドパスフィルタ４及びスリット
８を透過して積分球７に入射し、該積分球７底部に設け
た測定部１１の試料を透過し、その透過光が透過光量検
出器１０Ｃで検出される。また、試料の反射光は、積分
球７内を乱反射して反射光量検出器１０Ａ，１０Ｂによ
り検出される。
【００１７】ところで、フィルタ５が回転すると任意の
バンドパスフィルタ４が選択され、試料に到達する近赤
外線の波長が変わるので、反射光量検出器１０Ａ，１０
Ｂ及び透過光量検出器１０Ｃには波長に応じた信号が検
出される。例えば、フィルタ５にアミロースの含有量の
指標となる２３１０ｎｍ，２２８０ｎｍ，２２３０ｎ
ｍ，２１８０ｎｍ，２１００ｎｍ用の５種類のバンドパ
スフィルタを用い、各波長に対する吸光度Ａ１，Ａ２，
Ａ３，Ａ４，Ａ５を算出する。そして、（１）式で示す
ように予め求めてある成分計算式に吸光度Ａを代入して
アミロースの含有量％0 を得る。
バンドパスフィルタ４が選択され、試料に到達する近赤
外線の波長が変わるので、反射光量検出器１０Ａ，１０
Ｂ及び透過光量検出器１０Ｃには波長に応じた信号が検
出される。例えば、フィルタ５にアミロースの含有量の
指標となる２３１０ｎｍ，２２８０ｎｍ，２２３０ｎ
ｍ，２１８０ｎｍ，２１００ｎｍ用の５種類のバンドパ
スフィルタを用い、各波長に対する吸光度Ａ１，Ａ２，
Ａ３，Ａ４，Ａ５を算出する。そして、（１）式で示す
ように予め求めてある成分計算式に吸光度Ａを代入して
アミロースの含有量％0 を得る。
【００１８】
【数１】 そして、上記（１）式の成分計算式でアミロース含有量
を求める際に、試料温度検出器１５により試料温度
（℃）を制御装置１７に読み込み、（１）式に試料温度
補正項を加える。例えば、試料温度検出器１５の検出温
度が１０℃では１．０％、１８℃では０．２％だけアミ
ロースの含有量を増加するように補正項を決定すればよ
い。以上のようにして試料温度補正した成分値を％1 と
する。
を求める際に、試料温度検出器１５により試料温度
（℃）を制御装置１７に読み込み、（１）式に試料温度
補正項を加える。例えば、試料温度検出器１５の検出温
度が１０℃では１．０％、１８℃では０．２％だけアミ
ロースの含有量を増加するように補正項を決定すればよ
い。以上のようにして試料温度補正した成分値を％1 と
する。
【００１９】次に、フィルタ温度検出器１６によりフィ
ルタ温度（℃）を制御装置１７に読み込み、フィルタ温
度補正項により更にフィルタの温度補正を行う。これを
図３及び図４を参照して以下詳細に説明する。
ルタ温度（℃）を制御装置１７に読み込み、フィルタ温
度補正項により更にフィルタの温度補正を行う。これを
図３及び図４を参照して以下詳細に説明する。
【００２０】図３はある物質（例えば米）の波長帯域に
おける吸光度を示すものであり、図４は温度変化による
バンドパスフィルタの分光特性の変化を示すものであ
る。図４において、特定のバンドパスフィルタの温度が
３０℃のときの中心波長（透過率が最大である波長）を
λ1 (t1=30℃) とする。また、同様のバンドパスフィル
タを用いたときの温度が４０℃のときの中心波長（透過
率が最大である波長）をλ2 (t2=40℃) とする。次に、
図３において、波長λ1 (t1=30℃) における吸光度がＡ
1 (t1=30℃) であり、波長λ2 (t2=40℃) における吸光
度がＡ2 (t2=40℃) であるとする。このとき、波長λ1
(t1=30℃) から波長λ2 (t2=40℃) までの吸光度変化は
狭い範囲内であるから直線として近似することができ
る。
おける吸光度を示すものであり、図４は温度変化による
バンドパスフィルタの分光特性の変化を示すものであ
る。図４において、特定のバンドパスフィルタの温度が
３０℃のときの中心波長（透過率が最大である波長）を
λ1 (t1=30℃) とする。また、同様のバンドパスフィル
タを用いたときの温度が４０℃のときの中心波長（透過
率が最大である波長）をλ2 (t2=40℃) とする。次に、
図３において、波長λ1 (t1=30℃) における吸光度がＡ
1 (t1=30℃) であり、波長λ2 (t2=40℃) における吸光
度がＡ2 (t2=40℃) であるとする。このとき、波長λ1
(t1=30℃) から波長λ2 (t2=40℃) までの吸光度変化は
狭い範囲内であるから直線として近似することができ
る。
【００２１】一方、アミロース等の成分値を算出する式
は、（２）式により一般的に知られている。
は、（２）式により一般的に知られている。
【００２２】
【数２】 （２）式から温度がｔ1 のときの波長の吸光度をＡλ1
とすると、そのときの成分値は
とすると、そのときの成分値は
【００２３】
【数３】 であり、温度がｔ2 のときの波長の吸光度をＡλ2 とす
ると、そのときの成分値は
ると、そのときの成分値は
【００２４】
【数４】 となる。そして、（４）式と（３）式とを減算すると、
【００２５】
【数５】 となるが、図３において波長と波長の幅が狭い範囲で
は、吸光度差（Ａλ2 ーＡλ1 ）が温度差（ｔ2 ーｔ1
）と比例するので、
は、吸光度差（Ａλ2 ーＡλ1 ）が温度差（ｔ2 ーｔ1
）と比例するので、
【００２６】
【数６】 となる。ゆえに、（４）式は、
【００２７】
【数７】 となり、第１項目の試料温度補正を行った成分値％1
と、第２項目のフィルタ温度がｔ1 からｔ2 に変化する
ときのフィルタ温度補正項とを加算することにより成分
値％2 が算出される。これにより、試料の温度変化とバ
ンドパスフィルタの温度変化とを考慮して温度補正が行
わるので、特定成分値の検出精度を向上させることが可
能となる。
と、第２項目のフィルタ温度がｔ1 からｔ2 に変化する
ときのフィルタ温度補正項とを加算することにより成分
値％2 が算出される。これにより、試料の温度変化とバ
ンドパスフィルタの温度変化とを考慮して温度補正が行
わるので、特定成分値の検出精度を向上させることが可
能となる。
【００２８】なお、上述の実施例では、バンドパスフィ
ルタ４を光源３の照射面に設けて、光源３からの照射光
を狭帯域の波長に限定して試料に照射する構成としてあ
るが、本発明はこれに限定されるものではなく、バンド
パスフィルタ４を受光手段１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃの近
傍に配設して、近赤外線を試料に照射して得られた透過
光または反射光を狭帯域の波長に限定し、この狭帯域の
波長が受光手段１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃに検出される構
成としてもよい。
ルタ４を光源３の照射面に設けて、光源３からの照射光
を狭帯域の波長に限定して試料に照射する構成としてあ
るが、本発明はこれに限定されるものではなく、バンド
パスフィルタ４を受光手段１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃの近
傍に配設して、近赤外線を試料に照射して得られた透過
光または反射光を狭帯域の波長に限定し、この狭帯域の
波長が受光手段１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃに検出される構
成としてもよい。
【００２９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、前記バン
ドパスフィルタの近傍には、該バンドパスフィルタの雰
囲気温度を検出するフィルタ温度検出器を設け、前記成
分計算式には、前記フィルタ温度検出器の検出値に基づ
いて温度補正を行うフィルタ温度補正項を設けたので、
試料温度の検出値に基づいて成分計算式の温度補正を行
うだけでなく、バンドパスフィルタの温度変化も考慮し
て成分計算式に温度補正を行うため、特定成分値の検出
精度を向上させることが可能となった。
ドパスフィルタの近傍には、該バンドパスフィルタの雰
囲気温度を検出するフィルタ温度検出器を設け、前記成
分計算式には、前記フィルタ温度検出器の検出値に基づ
いて温度補正を行うフィルタ温度補正項を設けたので、
試料温度の検出値に基づいて成分計算式の温度補正を行
うだけでなく、バンドパスフィルタの温度変化も考慮し
て成分計算式に温度補正を行うため、特定成分値の検出
精度を向上させることが可能となった。
【００３０】更に、測定装置にヒータを設けて測定装置
自体を恒温槽に形成する必要がないので、バンドパスフ
ィルタの寿命の向上及びウォーミングアップ時間の短縮
を図ることが可能となった。
自体を恒温槽に形成する必要がないので、バンドパスフ
ィルタの寿命の向上及びウォーミングアップ時間の短縮
を図ることが可能となった。
【図１】本発明の分光分析装置を示す概略縦断面図であ
る。
る。
【図２】本発明の分光分析装置の制御系を示すブロック
図である。
図である。
【図３】ある物質（例えば米）の波長帯域における吸光
度を示した図である。
度を示した図である。
【図４】温度変化によるバンドパスフィルタの分光特性
の変化を示した図である。
の変化を示した図である。
１ 分光分析装置 ２ キャビネット ３ 光源 ４ バンドパスフィルタ ５ フィルタ ６ 駆動モータ ７ 積分球 ８ スリット ９ 窓 １０Ａ 反射光量検出器 １０Ｂ 反射光量検出器 １０Ｃ 透過光量検出器 １１ 測定部 １２ 透明板 １３ 試料供給装置 １４ 試料容器 １５ 試料温度検出器 １６ フィルタ温度検出器 １７ 制御装置 １８ 入力インターフェース １９ 操作キーボード ２０ 表示器 ２１ プリンタ ２２ 粉砕ローラ ２３ ハンドル ２４ 出力インターフェース
Claims (1)
- 【請求項１】 試料に近赤外線を照射する光源と、近赤
外線を狭帯域の波長に限定する複数種のバンドパスフィ
ルタと、試料に照射して得られた透過光または反射光に
より試料の含有成分に関係する複数の波長の吸光度を検
出する受光手段と、その検出吸光度から、予め求めてあ
る成分計算式を使用して前記試料の特定成分値を求める
演算回路とからなる分光分析計であって、前記バンドパ
スフィルタの近傍には、該バンドパスフィルタの雰囲気
温度を検出するフィルタ温度検出器を設け、前記成分計
算式には、前記フィルタ温度検出器の検出値に基づいて
温度補正を行うフィルタ温度補正項を設けたことを特徴
とする分光分析計における温度補正手段。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17307096A JPH09329545A (ja) | 1996-06-11 | 1996-06-11 | 分光分析計における温度補正手段 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17307096A JPH09329545A (ja) | 1996-06-11 | 1996-06-11 | 分光分析計における温度補正手段 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09329545A true JPH09329545A (ja) | 1997-12-22 |
Family
ID=15953655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17307096A Pending JPH09329545A (ja) | 1996-06-11 | 1996-06-11 | 分光分析計における温度補正手段 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09329545A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102890063A (zh) * | 2012-10-10 | 2013-01-23 | 长春理工大学 | 多参数便携式自动食品安全检测仪 |
-
1996
- 1996-06-11 JP JP17307096A patent/JPH09329545A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102890063A (zh) * | 2012-10-10 | 2013-01-23 | 长春理工大学 | 多参数便携式自动食品安全检测仪 |
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