JPH09304024A - Shape measuring apparatus - Google Patents
Shape measuring apparatusInfo
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- JPH09304024A JPH09304024A JP12460896A JP12460896A JPH09304024A JP H09304024 A JPH09304024 A JP H09304024A JP 12460896 A JP12460896 A JP 12460896A JP 12460896 A JP12460896 A JP 12460896A JP H09304024 A JPH09304024 A JP H09304024A
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- Japan
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- laser displacement
- measurement
- axis
- axis actuator
- actuator
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、薄板状製品の幅、
厚み等の形状を測定する装置に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a width of a thin plate product,
The present invention relates to a device for measuring a shape such as a thickness.
【0002】[0002]
【従来の技術】薄板状製品のように厚みが薄く、その
上、強度が低い材料でできた製品の寸法を測定する場
合、ノギス、マイクロメータ等による接触測定では、接
触圧によって製品が変形したり、破壊したりするので測
定が困難である。そこで、非接触的測定法として測定顕
微鏡、拡大投影器などを使用する方法が行われている
が、位置合せ、目盛の読取りなど極めて繁雑な操作を要
し、能率が低い。2. Description of the Related Art When measuring the size of a product such as a thin plate-like product that is thin and has low strength, contact measurement with a caliper or a micrometer causes the product to deform due to contact pressure. It is difficult to measure because it is damaged or destroyed. Therefore, as a non-contact measuring method, a method using a measuring microscope, a magnifying projector, or the like has been performed, but it requires extremely complicated operations such as alignment and reading of a scale, which is low in efficiency.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の現状
に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、薄
板状製品の幅、厚み等の形状を正確にかつ高能率に測定
する装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to accurately and efficiently measure the shape such as the width and thickness of a thin plate product. To provide a device.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の形状測定装置は、次の構成要素(a)(b)(c)
(d)(e)(f)(g) を含むことを特徴とする。 (a) 位置制御装置によって位置制御されるx−y軸アク
チュエータを備える。 (b) 前記x−y軸アクチュエータによって搬送されるセ
ンサユニットを備える。In order to achieve the above object, the shape measuring apparatus of the present invention comprises the following constituent elements (a) (b) (c):
It is characterized by including (d) (e) (f) (g). (a) An xy-axis actuator position-controlled by a position controller is provided. (b) A sensor unit conveyed by the xy axis actuator is provided.
【0005】(c) 前記センサユニットは、センサブラケ
ットと、該センサブラケットの一端に設ける支持回動機
構と、該センサブラケットに設ける一対のレーザ変位計
を備える。 (d) 前記支持回動機構は、該支持回動機構が備える回動
軸の中心軸と前記x−y軸アクチュエータの移動平面と
が直交するように前記x−y軸アクチュエータに結合さ
れている。(C) The sensor unit includes a sensor bracket, a supporting and rotating mechanism provided at one end of the sensor bracket, and a pair of laser displacement gauges provided on the sensor bracket. (d) The support rotation mechanism is coupled to the xy axis actuator such that a central axis of a rotation shaft included in the support rotation mechanism and a moving plane of the xy axis actuator are orthogonal to each other. .
【0006】(e) 前記レーザ変位計は、互に対向し、か
つ、該レーザ変位計の照射光軸と前記支持回動機構が備
える回動軸の中心軸とが一致するように配置されてい
る。 (f) 前記一対のレーザ変位計の中間に、前記x−y軸ア
クチュエータの移動平面と平行な基準面を有するワーク
台を備える。 (g) 前記ワーク台は、基準面に直交して貫通する測定孔
を備える。(E) The laser displacement gauges are arranged so as to face each other and the irradiation optical axis of the laser displacement gauges and the central axis of the rotation axis of the support rotation mechanism are aligned with each other. There is. (f) A work table having a reference plane parallel to the moving plane of the xy axis actuator is provided in the middle of the pair of laser displacement meters. (g) The work table has a measurement hole penetrating perpendicularly to the reference plane.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】本発明の形状測定装置において、
x−y軸アクチュエータは、センサユニットを所定の位
置に運ぶためのものである。該x−y軸アクチュエータ
の動きは、位置制御装置によって制御される。連続測定
のときには、予め設定された順路に従ってセンサユニッ
トが移動するように制御することができる。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In the shape measuring apparatus of the present invention,
The xy axis actuator is for bringing the sensor unit to a predetermined position. The movement of the x-y axis actuator is controlled by a position controller. At the time of continuous measurement, the sensor unit can be controlled to move according to a preset route.
【0008】センサユニットが備える支持回動機構は、
センサブラケットの一端に設けられていて、該センサブ
ラケットを、レーザ変位計の照射光線軸の周りに回動自
在に支持するとともに、x−y軸アクチュエータに連結
する。前記センサブラケットには、一対のレーザ変位計
を備える。レーザ変位計は、投光レンズによって集光し
たレーザ光線を測定点に照射し、該測定点から拡散反射
されたレーザ光線を光位置検出素子で捉えることによ
り、三角測量方式によって、照射光線方向(z軸方向と
する)の測定点の変位量を求めるためのものである。す
なわち、測定対象物を横切って測定点を移動したとき、
測定対象物の端末部ではz軸方向の変位量が急変するの
で、前記変位量が予め設けたしきい値を超えたときの両
端末部のx−y座標値を求めることにより前記両端末間
の距離を知ることができる。The supporting and rotating mechanism of the sensor unit is
The sensor bracket is provided at one end of the sensor bracket, supports the sensor bracket rotatably around the irradiation ray axis of the laser displacement meter, and is connected to the xy axis actuator. The sensor bracket includes a pair of laser displacement meters. The laser displacement meter irradiates a measurement point with a laser beam condensed by a light projecting lens, and captures the laser beam diffused and reflected from the measurement point with an optical position detection element. This is for obtaining the amount of displacement of the measurement point (in the z-axis direction). That is, when the measurement point is moved across the measurement object,
Since the displacement amount in the z-axis direction at the terminal portion of the measurement object changes abruptly, the distance between the both terminals is obtained by obtaining the xy coordinate values of the both terminal portions when the displacement amount exceeds a threshold value set in advance. You can know the distance.
【0009】上記の操作において、測定対象物の端末部
の段差等により反射光線が遮蔽されると、測定に誤差を
生じるおそれがある。このときには、前記支持回動機構
によってセンサブラケットを回転し、レーザ変位計の受
光部を段差の方向と平行とすることにより、段差等によ
る反射光線の遮蔽の影響を軽減することができる。本発
明の形状測定装置は、測定対象物である薄板の厚みおよ
びそりを測定するために、測定対象物の厚み方向に対向
して、一対のレーザ変位計を備える。すなわち、第1の
レーザ変位計によって、所定の測定基準面から測定対象
物の表面までの距離L1を測定し、第2のレーザ変位計
によって、前記測定基準面から測定対象物の裏面までの
距離L2を測定する。L1とL2の差を求めることによ
り測定位置における厚みを知ることができる。測定対象
物の表裏によって測定点のx−y座標値が異なることを
防ぐため、一対のレーザ変位計は、その照射光軸が互に
一致し、かつ該照射光軸と前記x−y軸アクチュエータ
の移動平面とが直交するように配置される。In the above operation, if the reflected light beam is blocked by a step or the like at the terminal portion of the object to be measured, an error may occur in the measurement. At this time, by rotating the sensor bracket by the supporting and rotating mechanism so that the light receiving portion of the laser displacement meter is parallel to the direction of the step, it is possible to reduce the influence of the shield of the reflected light beam due to the step or the like. The shape measuring device of the present invention includes a pair of laser displacement meters facing each other in the thickness direction of the measurement target in order to measure the thickness and warpage of the thin plate that is the measurement target. That is, the first laser displacement meter measures the distance L1 from the predetermined measurement reference plane to the front surface of the measurement object, and the second laser displacement meter measures the distance L1 from the measurement reference surface to the back surface of the measurement object. Measure L2. The thickness at the measurement position can be known by obtaining the difference between L1 and L2. In order to prevent the xy coordinate values of the measurement points from being different depending on the front and back of the measurement object, the pair of laser displacement meters have their irradiation optical axes coincident with each other, and the irradiation optical axes and the xy axis actuator are the same. Are arranged so as to be orthogonal to the moving plane of.
【0010】また、測定対象面を測定基準面に接して装
着したとき、接触点以外の位置において、該測定対象面
と該測定基準面との距離を測定することによってそりを
求めることができる。多くの測定位置において厚み、そ
りを同時に測定するときは、複数対のレーザ変位計を設
けてもよい。ワーク台は、測定対象物を所定の位置に保
持するとともに、z軸方向の変位量測定の基準面を与え
る。該基準面に直交し、貫通して設ける測定孔は、ワー
ク台の背面側のレーザ変位計による測定の際に、レーザ
変位計の照射光線および反射光線を通過するためのもの
である。When the measurement target surface is mounted in contact with the measurement reference surface, the warpage can be obtained by measuring the distance between the measurement target surface and the measurement reference surface at a position other than the contact point. When simultaneously measuring the thickness and the warp at many measurement positions, a plurality of pairs of laser displacement gauges may be provided. The work table holds the object to be measured at a predetermined position, and also provides a reference surface for displacement measurement in the z-axis direction. The measurement hole orthogonal to the reference plane and penetrating therethrough is for passing the irradiation light and the reflected light of the laser displacement meter at the time of measurement by the laser displacement meter on the back surface side of the work table.
【0011】[0011]
【実施例】以下、本発明の形状測定装置の実施例を図1
に示す。形状測定装置1は、主にx−y軸アクチュエー
タ10、センサユニット20およびワーク台30から構
成されている。水平に設置された光学実験台上面2にベ
ース3および4を立設し、ベース3上には、ブラケット
5によって、水平にx軸アクチュエータ11を設ける。
またベース4上には、x軸アクチュエータ11と平行に
ガイドモジュール13を設ける。x軸アクチュエータ1
1およびガイドモジュール13に直交してy軸アクチュ
エータ12を懸架し、y軸アクチュエータ12の一端を
ブラケット14によってx軸アクチュエータ11に結合
する。x−y軸アクチュエータ10の移動平面が光学実
験台上面2と平行となるように調整する。EXAMPLE An example of the shape measuring apparatus of the present invention is shown in FIG.
Shown in The shape measuring apparatus 1 mainly includes an xy axis actuator 10, a sensor unit 20, and a work table 30. Bases 3 and 4 are erected on an upper surface 2 of an optical laboratory table installed horizontally, and an x-axis actuator 11 is provided horizontally on the base 3 by a bracket 5.
A guide module 13 is provided on the base 4 in parallel with the x-axis actuator 11. x-axis actuator 1
1 and the guide module 13, the y-axis actuator 12 is suspended, and one end of the y-axis actuator 12 is connected to the x-axis actuator 11 by a bracket 14. The movement plane of the xy axis actuator 10 is adjusted so as to be parallel to the upper surface 2 of the optical laboratory table.
【0012】x−y軸アクチュエータ10は、ケーブル
15、16を通じて、図には示さない位置制御装置から
送られる電流によって制御して駆動される。センサユニ
ット20は、主にセンサブラケット21、支持回動機構
22、一対のレーザ変位計23からなる。センサブラケ
ット21はV形とし、該V形開口部に上部レーザ変位計
231と下部レーザ変位計232とを対向して設ける。
x−yステージ25およびzステージ26を調整して上
部レーザ変位計231と下部レーザ変位計232の照射
光軸を互に一致させる。The x-y axis actuator 10 is controlled and driven by a current sent from a position control device (not shown) through the cables 15 and 16. The sensor unit 20 mainly includes a sensor bracket 21, a support rotation mechanism 22, and a pair of laser displacement meters 23. The sensor bracket 21 is V-shaped, and an upper laser displacement meter 231 and a lower laser displacement meter 232 are provided to face each other in the V-shaped opening.
The xy stage 25 and the z stage 26 are adjusted so that the irradiation optical axes of the upper laser displacement meter 231 and the lower laser displacement meter 232 coincide with each other.
【0013】支持回動機構22を、ブランケット18に
よってy軸アクチュエータ12に結合する。このとき、
支持回動機構22が備える回動軸221の中心軸がx−
y軸アクチュエータ10の移動平面に対して垂直となる
ようにする。回動軸221の先端部には、センサブラケ
ット21の端部211を結合する。このとき、センサブ
ラケット21に設けたレーザ変位計23の照射光軸と、
前記支持回動機構が備える回動軸の中心軸とが一致する
ように配置する。A support pivot mechanism 22 is coupled to the y-axis actuator 12 by a blanket 18. At this time,
The central axis of the rotation shaft 221 included in the support rotation mechanism 22 is x−.
It should be perpendicular to the plane of movement of the y-axis actuator 10. The end 211 of the sensor bracket 21 is coupled to the tip of the rotating shaft 221. At this time, the irradiation optical axis of the laser displacement meter 23 provided on the sensor bracket 21,
The support rotation mechanism is arranged so that the center axis of the rotation axis is the same.
【0014】支持回動機構は、図には示さない位置制御
装置から、ケーブル16を通じて、送られる電流によっ
て制御して駆動される。ケーブル18はレーザ変位計2
3の制御および計測データの伝送のためのものである。
ワーク台30は、主に回転ステージ31、フレーム3
2、検査ステージ33よりなる。L形のフレーム32の
底面には回転ステージ31を設け、L形のフレーム32
の上端には検査ステージ33を設ける。ワーク台30
は、x−y軸アクチュエータ10の走査範囲内の光学実
験台上面2に設置する。The supporting and rotating mechanism is driven by being controlled by an electric current sent from a position control device (not shown) through the cable 16. The cable 18 is a laser displacement meter 2
3 for control and transmission of measurement data.
The work table 30 mainly includes a rotary stage 31 and a frame 3.
2. The inspection stage 33. The rotary stage 31 is provided on the bottom surface of the L-shaped frame 32, and
An inspection stage 33 is provided at the upper end of the. Work table 30
Is installed on the upper surface 2 of the optical laboratory table within the scanning range of the xy axis actuator 10.
【0015】検査ステージ33の上面は、平滑な平面に
仕上げて、これを基準面331とする。基準面331
は、x−y軸アクチュエータ10の移動平面に平行で、
かつ、レーザ変位計23、24の中間に位置するように
調整する。基準面331には、測定対象物の位置を固定
するための2個の押えブロック34、4本のパイロット
ピン35を設ける。また、基準面331に直交して検査
ステージ33を貫通する9個の測定孔36を設ける。The upper surface of the inspection stage 33 is finished into a smooth flat surface, which is used as a reference surface 331. Reference plane 331
Is parallel to the plane of movement of the xy axis actuator 10,
In addition, the laser displacement gauges 23 and 24 are adjusted so as to be positioned in the middle thereof. On the reference surface 331, two holding blocks 34 and four pilot pins 35 for fixing the position of the measuring object are provided. In addition, nine measurement holes 36 that are orthogonal to the reference surface 331 and penetrate the inspection stage 33 are provided.
【0016】測定孔36は、後述する被檢体の厚み測定
箇所に合致するように設ける。パイロットピン35は、
後述する被檢体を指定の測定位置に置いたときに、被檢
体の相隣る辺にそれぞれ2本づつ当接するように設け
る。押えブロック34は、被檢体を指定の測定位置に置
いたときに、パイロットピン35に当接しない被檢体の
辺に沿って設ける。The measurement hole 36 is provided so as to coincide with the thickness measurement location of the substrate to be described later. The pilot pin 35 is
When the objects to be described later are placed at specified measurement positions, two pieces are provided so as to abut each two adjacent sides of the objects to be extracted. The pressing block 34 is provided along the side of the object to be pressed that does not contact the pilot pin 35 when the object to be pressed is placed at a specified measurement position.
【0017】上記の形状測定装置を用いて、表1に示す
基準寸法および許容差を有する固体活性炭の電極板を被
檢体40とし、各部の寸法を測定して合否判定を行っ
た。長さおよび幅の測定箇所は、各辺から7mm内側の
位置と各辺の中央との各々3箇所とし、厚みの測定箇所
は、前記長さおよび幅の測定線の交点9箇所とする。Using the above-mentioned shape measuring apparatus, the electrode plate of the solid activated carbon having the standard dimensions and the tolerances shown in Table 1 was used as the object 40, and the dimensions of each part were measured to make a pass / fail judgment. The length and width are measured at three positions, each being 7 mm inside from each side and the center of each side, and the thickness is measured at nine intersections of the length and width measurement lines.
【0018】[0018]
【表1】 [Table 1]
【0019】基準面331とx−y軸アクチュエータ1
0の移動平面とは必ずしも平行であるとは限らないの
で、予め測定位置における基準面331の位置を測定し
ておく。厚み測定位置には、ワーク台30に測定孔36
が明いているため、直接に基準面331の位置を測定す
ることができない。そのため、基準面331の測定を次
のようにして行った。Reference plane 331 and xy axis actuator 1
Since it is not always parallel to the moving plane of 0, the position of the reference plane 331 at the measurement position is measured in advance. At the thickness measurement position, the measurement hole 36 is provided on the work table 30.
, It is not possible to directly measure the position of the reference plane 331. Therefore, the measurement of the reference surface 331 was performed as follows.
【0020】上部レーザ変位計231によって、測定位
置aを跨ぐ直線上にある基準面331上の2点b、cに
ついて位置を計測し、b、cの位置情報から内挿してa
の位置を計算した。また、基準面331に平板を置き、
ワーク台30の下方から、該平板上の測定位置aを下部
レーザ変位計232によって測定した。以上の基準面位
置測定を前記9箇所のの厚み測定箇所について行った。The upper laser displacement meter 231 measures the positions of two points b and c on the reference plane 331 which is on a straight line crossing the measurement position a and interpolates a from the position information of b and c.
The position of was calculated. In addition, a flat plate is placed on the reference surface 331,
The measurement position a on the flat plate was measured by the lower laser displacement meter 232 from below the work table 30. The above-mentioned measurement of the reference plane position was performed at the above-mentioned nine thickness measurement points.
【0021】被檢体40の寸法測定は次のようにして行
った。まず、4本のパイロットピン35のうち少なくと
も3本に被檢体40の2辺が当接するように、被檢体4
0を基準面331上に置き、押えブロック34で押え
る。つぎに、x−y軸アクチュエータ10を稼働して、
長さおよび幅の測定箇所の線上にレーザ変位計23を移
動し、各位置における変位量を測定する。このとき、支
持回動機構22を操作して、上部レーザ変位計231の
反射光取入れ窓が測定線と直交する方向にあるように調
整した。The dimensions of the object 40 to be processed were measured as follows. First, the to-be-rotated object 4 is made so that at least three out of the four pilot pins 35 come into contact with two sides of the to-be-rotated object 40.
0 is placed on the reference surface 331 and pressed by the pressing block 34. Next, by operating the xy axis actuator 10,
The laser displacement meter 23 is moved on the line of the measurement point of the length and the width, and the displacement amount at each position is measured. At this time, the support rotation mechanism 22 was operated to adjust the reflected light intake window of the upper laser displacement meter 231 to be in the direction orthogonal to the measurement line.
【0022】上記の計測において、プログラム制御によ
って、図5に示すようにs点から出発して矢印方向へ順
次レーザ変位計23の照射位置を移動し、その間におけ
るレーザ変位計23の変位量とx−y軸アクチュエータ
10の位置情報をコンピュータに取込み、計算によって
前記の所定位置における長さ、幅、厚みおよびそりを求
めた。In the above measurement, the irradiation position of the laser displacement meter 23 is sequentially moved in the arrow direction starting from the point s as shown in FIG. 5 by program control, and the displacement amount of the laser displacement meter 23 and x during that time. -The position information of the y-axis actuator 10 was loaded into a computer, and the length, width, thickness, and warpage at the predetermined positions were calculated.
【0023】測定は1枚当り約10秒で行うことができ
た。また、測定精度は、長さおよび幅については±50
μm、厚みについては±5μmであった。The measurement could be carried out in about 10 seconds per sheet. The measurement accuracy is ± 50 for the length and width.
The thickness was ± 5 μm.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、薄板状
製品の幅、厚み等の形状を正確にかつ高能率に測定する
形状測定装置を提供することができる。As described above, according to the present invention, it is possible to provide a shape measuring device for accurately and efficiently measuring the shape such as width and thickness of a thin plate product.
【図1】本発明の実施例における形状測定装置の正面図
である。FIG. 1 is a front view of a shape measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施例におけるセンサユニットの側面
図である。FIG. 2 is a side view of the sensor unit according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施例におけるワーク台の正面図であ
る。FIG. 3 is a front view of the work table according to the embodiment of the present invention.
【図4】本発明の実施例における検査ステージの平面図
である。FIG. 4 is a plan view of an inspection stage according to an embodiment of the present invention.
【図5】本発明の実施例における測定経路を示す説明図
である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a measurement path in the example of the present invention.
1 形状測定装置 2 光学実験台上面2 3 ベース 4 ベース 5 ブラケット 10 x−y軸アクチュエータ 11 x軸アクチュエータ 13 ガイドモジュール 12 y軸アクチュエータ 14 ブラケット 15 ケーブル 16 ケーブル 17 ケーブル 18 ブランケット 20 センサユニット 21 センサブラケット 211 センサブラケット端部 22 支持回動機構 221 回動軸 23 レーザ変位計 231 上部レーザ変位計 232 下部レーザ変位計 25 x−yステージ 26 zステージ 30 ワーク台 31 回転ステージ 32 フレーム 33 検査ステージ 331 基準面 34 押えブロック 35 パイロットピン 36 測定孔 40 被檢体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Shape measuring device 2 Optical test bench upper surface 2 3 Base 4 Base 5 Bracket 10 x-y-axis actuator 11 x-axis actuator 13 Guide module 12 y-axis actuator 14 Bracket 15 Cable 16 Cable 17 Cable 18 Blanket 20 Sensor unit 21 Sensor bracket 211 Sensor bracket end 22 Support rotation mechanism 221 Rotation axis 23 Laser displacement meter 231 Upper laser displacement meter 232 Lower laser displacement meter 25 xy stage 26 z stage 30 Work table 31 Rotation stage 32 Frame 33 Inspection stage 331 Reference plane 34 Presser block 35 Pilot pin 36 Measuring hole 40 Target object
Claims (1)
(c)(d)(e)(f)(g) を含むことを特徴とする。 (a) 位置制御装置によって位置制御されるx−y軸アク
チュエータを備える。 (b) 前記x−y軸アクチュエータによって搬送されるセ
ンサユニットを備える。 (c) 前記センサユニットは、センサブラケットと、該セ
ンサブラケットの一端に設ける支持回動機構と、該セン
サブラケットに設ける一対のレーザ変位計を備える。 (d) 前記支持回動機構は、該支持回動機構が備える回動
軸の中心軸と前記x−y軸アクチュエータの移動平面と
が直交するように前記x−y軸アクチュエータに結合さ
れている。 (e) 前記レーザ変位計は、互に対向し、かつ、該レーザ
変位計の照射光軸と前記支持回動機構が備える回動軸の
中心軸とが一致するように配置されている。 (f) 前記一対のレーザ変位計の中間に、前記x−y軸ア
クチュエータの移動平面と平行な基準面を有するワーク
台を備える。 (g) 前記ワーク台は、基準面に直交して貫通する測定孔
を備える。1. A shape measuring device comprising the following components (a) and (b):
It is characterized by including (c) (d) (e) (f) (g). (a) An xy-axis actuator position-controlled by a position controller is provided. (b) A sensor unit conveyed by the xy axis actuator is provided. (c) The sensor unit includes a sensor bracket, a support rotation mechanism provided at one end of the sensor bracket, and a pair of laser displacement gauges provided on the sensor bracket. (d) The support rotation mechanism is coupled to the xy axis actuator such that a central axis of a rotation shaft included in the support rotation mechanism and a moving plane of the xy axis actuator are orthogonal to each other. . (e) The laser displacement gauges are arranged so as to face each other, and the irradiation optical axis of the laser displacement gauges and the central axis of the rotation axis of the support rotation mechanism are aligned with each other. (f) A work table having a reference plane parallel to the moving plane of the xy axis actuator is provided in the middle of the pair of laser displacement meters. (g) The work table has a measurement hole penetrating perpendicularly to the reference plane.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12460896A JPH09304024A (en) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | Shape measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12460896A JPH09304024A (en) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | Shape measuring apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09304024A true JPH09304024A (en) | 1997-11-28 |
Family
ID=14889650
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12460896A Pending JPH09304024A (en) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | Shape measuring apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09304024A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102322796A (en) * | 2011-07-20 | 2012-01-18 | 唐大春 | Laser detection device and method for gear parameters |
CN113533081A (en) * | 2020-04-15 | 2021-10-22 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | Intensity detection device and method and computer storage medium |
-
1996
- 1996-05-20 JP JP12460896A patent/JPH09304024A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102322796A (en) * | 2011-07-20 | 2012-01-18 | 唐大春 | Laser detection device and method for gear parameters |
CN113533081A (en) * | 2020-04-15 | 2021-10-22 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | Intensity detection device and method and computer storage medium |
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