JPH09297125A - 超音波臨界角探傷装置 - Google Patents
超音波臨界角探傷装置Info
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- JPH09297125A JPH09297125A JP52097A JP52097A JPH09297125A JP H09297125 A JPH09297125 A JP H09297125A JP 52097 A JP52097 A JP 52097A JP 52097 A JP52097 A JP 52097A JP H09297125 A JPH09297125 A JP H09297125A
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- probe
- probes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】超音波臨界角探傷法の精度を完全なものとする
ことは困難であり、且つ装置が複雑である。 【解決手段】集束型超音波探触子から成る送信側探触子
１及び受信側探触子２を、両者の音軸の交点６がそれぞ
れの探触子の焦点と重なるように台座９に配置する。測
定に際しては、該音軸の交点６を測定対象の測定面７上
に来るように、且つ測定面の法線８と両探触子の音軸が
なす角が等しくなるように台座９を設置する。そして、
一部の超音波ビームのみを通過させる超音波マスク３を
台座９と測定対象との間で上下させることで、所望の入
射角の超音波ビームを抽出し、その反射ビームを検出す
る。
ことは困難であり、且つ装置が複雑である。 【解決手段】集束型超音波探触子から成る送信側探触子
１及び受信側探触子２を、両者の音軸の交点６がそれぞ
れの探触子の焦点と重なるように台座９に配置する。測
定に際しては、該音軸の交点６を測定対象の測定面７上
に来るように、且つ測定面の法線８と両探触子の音軸が
なす角が等しくなるように台座９を設置する。そして、
一部の超音波ビームのみを通過させる超音波マスク３を
台座９と測定対象との間で上下させることで、所望の入
射角の超音波ビームを抽出し、その反射ビームを検出す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波探傷の分野
に関する。
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４に示すように、超音波ビーム９を液
体−固体境界面に入射すると、該ビーム９のエネルギー
の一部は固体内へ伝播するが、その大部分は境界面で入
射角と等しい角度を以て反対側に反射する。このとき、
反射ビーム１０の強さはほとんど入射角に依存しない
が、ある特定の入射角θでは急激に強度低下が生じ、強
度は最小となる。これは、この特定な角度θで入射した
超音波ビーム９のエネルギーの多くが境界面で固体表面
波１１に変換されるために起こる現象であり、このとき
のθを超音波臨界角という。そして、液体における超音
波ビーム９の音速をＶL 、固体表面波１１の音速をＶSW
とすると、超音波臨界角θは次の式で表される。 θ ＝ Ｓｉｎ-1（ＶL ／ＶSW） （１）
体−固体境界面に入射すると、該ビーム９のエネルギー
の一部は固体内へ伝播するが、その大部分は境界面で入
射角と等しい角度を以て反対側に反射する。このとき、
反射ビーム１０の強さはほとんど入射角に依存しない
が、ある特定の入射角θでは急激に強度低下が生じ、強
度は最小となる。これは、この特定な角度θで入射した
超音波ビーム９のエネルギーの多くが境界面で固体表面
波１１に変換されるために起こる現象であり、このとき
のθを超音波臨界角という。そして、液体における超音
波ビーム９の音速をＶL 、固体表面波１１の音速をＶSW
とすると、超音波臨界角θは次の式で表される。 θ ＝ Ｓｉｎ-1（ＶL ／ＶSW） （１）
【０００３】また、固体中の音速をＶt 、ポアソン比を
νとすると、次の式が成立する。 ＶSW ＝ （（０．８７４＋１．１２ν）／（１＋ν））Ｖt （２） そして、固体の剛性率をＧ、密度をρとすると、次の式
が成り立つ。 Ｖt ＝ √（Ｇ／ρ） （３）
νとすると、次の式が成立する。 ＶSW ＝ （（０．８７４＋１．１２ν）／（１＋ν））Ｖt （２） そして、固体の剛性率をＧ、密度をρとすると、次の式
が成り立つ。 Ｖt ＝ √（Ｇ／ρ） （３）
【０００４】上記のように、超音波臨界角θは固体の剛
性率Ｇ及び密度ρから一意に決まる量であることから、
その値を測定することによって固体の材質が変化したか
否かを検査することができる。なお、この場合の材質の
変化は、例えば、疲労やクリープによる損傷の蓄積や脆
化の進行によって引き起こされる。このように超音波臨
界角θの値によって固体材質の変化を検査する方法を超
音波臨界角探傷法という。
性率Ｇ及び密度ρから一意に決まる量であることから、
その値を測定することによって固体の材質が変化したか
否かを検査することができる。なお、この場合の材質の
変化は、例えば、疲労やクリープによる損傷の蓄積や脆
化の進行によって引き起こされる。このように超音波臨
界角θの値によって固体材質の変化を検査する方法を超
音波臨界角探傷法という。
【０００５】図５は、超音波臨界角探傷法を行うための
従来技術を示している。同図において、送信側探触子１
２及び受信側探触子１３は超音波を平行ビームとするた
めの平面探触子である。そして、両探触子は、音軸（超
音波が伝播する方向の中心）の交点６が液体−固体境界
面上にくるよう配置され、該交点６を通る境界面の法線
８に対して対称となる向きを維持しながら走査される。
従来技術を示している。同図において、送信側探触子１
２及び受信側探触子１３は超音波を平行ビームとするた
めの平面探触子である。そして、両探触子は、音軸（超
音波が伝播する方向の中心）の交点６が液体−固体境界
面上にくるよう配置され、該交点６を通る境界面の法線
８に対して対称となる向きを維持しながら走査される。
【０００６】超音波探傷器１４及びＸＹレコーダ１５
は、送信側探触子１２及び受信側探触子１３の向きと受
信側探触子１３にて測定された反射波強度との関係を求
め、該反射波強度が最小となるときの超音波ビームの入
射角度を検出する装置である。
は、送信側探触子１２及び受信側探触子１３の向きと受
信側探触子１３にて測定された反射波強度との関係を求
め、該反射波強度が最小となるときの超音波ビームの入
射角度を検出する装置である。
【０００７】上記のように、超音波臨界角探傷法を行う
に際しては、（イ）送信側探触子１２と受信側探触子１
３との音軸の交点６を液体−固体境界面に一致させるこ
と、（ロ）上記（イ）の条件を保ちながら、液体−固体
境界面の法線８に対して送信側探触子１２の向き（入射
角）と受信側探触子１３の向き（反射角）が等角度とな
るように走査することが必要となる。
に際しては、（イ）送信側探触子１２と受信側探触子１
３との音軸の交点６を液体−固体境界面に一致させるこ
と、（ロ）上記（イ）の条件を保ちながら、液体−固体
境界面の法線８に対して送信側探触子１２の向き（入射
角）と受信側探触子１３の向き（反射角）が等角度とな
るように走査することが必要となる。
【０００８】図６（ａ）は音軸の交点６の位置と反射波
強度の関係を、同図（ｂ）は両探触子１２、１３の向き
と反射波強度の関係を、超音波臨界角θ＝約３０．７°
である場合を例にとって示したグラフである。同図
（ａ）において、音軸の交点６が液体−固体境界面に一
致している場合、即ちｄ＝０の場合には、超音波臨界角
θの位置で入射波強度が急激に低下し、他の入射角にお
ける強度に比べて極端に低い値となっているが、音軸の
交点６が液体−固体境界面から離れるに従って、その程
度は鈍くなっている。
強度の関係を、同図（ｂ）は両探触子１２、１３の向き
と反射波強度の関係を、超音波臨界角θ＝約３０．７°
である場合を例にとって示したグラフである。同図
（ａ）において、音軸の交点６が液体−固体境界面に一
致している場合、即ちｄ＝０の場合には、超音波臨界角
θの位置で入射波強度が急激に低下し、他の入射角にお
ける強度に比べて極端に低い値となっているが、音軸の
交点６が液体−固体境界面から離れるに従って、その程
度は鈍くなっている。
【０００９】また、同図（ｂ）には、液体−固体境界面
の法線８に対する送信側探触子１２の向きと受信側探触
子１３の向きがずれてくると、超音波臨界角θにおける
入射波強度の低下の度合いが悪くなっていることが示さ
れている。これらの結果から、正確な測定のためには、
上記（イ）及び（ロ）の条件が必要であることが分か
る。
の法線８に対する送信側探触子１２の向きと受信側探触
子１３の向きがずれてくると、超音波臨界角θにおける
入射波強度の低下の度合いが悪くなっていることが示さ
れている。これらの結果から、正確な測定のためには、
上記（イ）及び（ロ）の条件が必要であることが分か
る。
【００１０】なお、図５（ａ）において、ｄがプラスと
なっているとき、即ち送信側探触子１２及び受信側探触
子１３が液体−固体境界面に近付いたときに反射波強度
が大きくなっているのは、液体中での超音波の伝播距離
が短くなって減衰が少なくなることによるものである。
なっているとき、即ち送信側探触子１２及び受信側探触
子１３が液体−固体境界面に近付いたときに反射波強度
が大きくなっているのは、液体中での超音波の伝播距離
が短くなって減衰が少なくなることによるものである。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、正確な
測定のためには、上記（イ）及び（ロ）の条件を備えて
いる必要があるが、音軸の交点６は送信側探触子１２及
び受信側探触子１３の幾何学的配置から決定されるもの
であるため、その精度を完全なものとすることは非常に
困難であった。また、該探触子１２、１３は液体−固体
境界面を回転の中心として走査させる必要があるため、
その機構は非常に複雑であった。さらに、送信側探触子
１２及び受信側探触子１３に用いている平面探触子はそ
のビーム径（発信される超音波ビームの直交断面寸法
で、振動子寸法にほぼ等しい）が大きく、最小のもので
も１０ｍｍ程度であることから、該ビームの入射領域よ
りも小さい面積部分の測定においては対象部分の周辺領
域の情報も重畳されて測定されるため精度のよい測定が
困難であった。
測定のためには、上記（イ）及び（ロ）の条件を備えて
いる必要があるが、音軸の交点６は送信側探触子１２及
び受信側探触子１３の幾何学的配置から決定されるもの
であるため、その精度を完全なものとすることは非常に
困難であった。また、該探触子１２、１３は液体−固体
境界面を回転の中心として走査させる必要があるため、
その機構は非常に複雑であった。さらに、送信側探触子
１２及び受信側探触子１３に用いている平面探触子はそ
のビーム径（発信される超音波ビームの直交断面寸法
で、振動子寸法にほぼ等しい）が大きく、最小のもので
も１０ｍｍ程度であることから、該ビームの入射領域よ
りも小さい面積部分の測定においては対象部分の周辺領
域の情報も重畳されて測定されるため精度のよい測定が
困難であった。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め，本発明は，（ａ）集束型超音波探触子よりなる送信
側探触子及び受信側探触子と、（ｂ）両探触子の音軸の
交点と両探触子の焦点を一致させる位置及び方向で両探
触子を設置し、該音軸の交点を測定対象の測定面上に定
め、かつ該測定面の法線に対して両探触子の音軸が等角
度をなすように配置される台座と、（ｃ）該台座と測定
対象との間を前記測定面の法線方向に移動し、送信側探
触子から測定対象に入射される超音波の一部のビームと
該ビームが測定対象面で反射したビームのみを通過させ
る超音波マスクとを備えたことを特徴とする。
め，本発明は，（ａ）集束型超音波探触子よりなる送信
側探触子及び受信側探触子と、（ｂ）両探触子の音軸の
交点と両探触子の焦点を一致させる位置及び方向で両探
触子を設置し、該音軸の交点を測定対象の測定面上に定
め、かつ該測定面の法線に対して両探触子の音軸が等角
度をなすように配置される台座と、（ｃ）該台座と測定
対象との間を前記測定面の法線方向に移動し、送信側探
触子から測定対象に入射される超音波の一部のビームと
該ビームが測定対象面で反射したビームのみを通過させ
る超音波マスクとを備えたことを特徴とする。
【００１３】上記のように、送信側探触子及び受信側探
触子に集束型超音波探触子を用い、それぞれの音軸の交
点と両探触子の焦点を一致させるように両探触子を台座
に設置し、測定面の法線に対して超音波ビームの入射角
と反射角が等しいように構成することにより、超音波の
受信感度の最も良好な状態で測定が行われることとな
る。さらに、超音波マスクを移動させることにより、両
探触子の位置及び向きを変えることなく、所望の入射角
及び反射角の超音波ビームを抽出し得るようになる。な
お、集束型超音波探触子とは、弧状の振動子または音響
レンズから構成され、超音波を音軸に対して平行ではな
く、音軸に対してある角度をもって集束させる機能をも
つものである。通常、集束型超音波探触子の焦点寸法は
平面探触子のビーム径よりも小さく、直径１ｍｍ以下の
ものも存在する。
触子に集束型超音波探触子を用い、それぞれの音軸の交
点と両探触子の焦点を一致させるように両探触子を台座
に設置し、測定面の法線に対して超音波ビームの入射角
と反射角が等しいように構成することにより、超音波の
受信感度の最も良好な状態で測定が行われることとな
る。さらに、超音波マスクを移動させることにより、両
探触子の位置及び向きを変えることなく、所望の入射角
及び反射角の超音波ビームを抽出し得るようになる。な
お、集束型超音波探触子とは、弧状の振動子または音響
レンズから構成され、超音波を音軸に対して平行ではな
く、音軸に対してある角度をもって集束させる機能をも
つものである。通常、集束型超音波探触子の焦点寸法は
平面探触子のビーム径よりも小さく、直径１ｍｍ以下の
ものも存在する。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の超音波臨界角探
触装置の一実施形態の構成図である。同図において、送
信側探触子１及び受信側探触子２は円弧状の凹面を持
ち、その輪郭は円形をなしている。送信側探触子１の中
心を通り該探触子１の面に垂直な線が送信側音軸４であ
り、同様に受信側探触子２の中心を通り該探触子２の面
に垂直な線が受信側音軸５である。そして、送信側探触
子１は送信側音軸４上に、受信側探触子２は受信側音軸
５上にそれぞれ焦点を結ぶようになっている。
触装置の一実施形態の構成図である。同図において、送
信側探触子１及び受信側探触子２は円弧状の凹面を持
ち、その輪郭は円形をなしている。送信側探触子１の中
心を通り該探触子１の面に垂直な線が送信側音軸４であ
り、同様に受信側探触子２の中心を通り該探触子２の面
に垂直な線が受信側音軸５である。そして、送信側探触
子１は送信側音軸４上に、受信側探触子２は受信側音軸
５上にそれぞれ焦点を結ぶようになっている。
【００１５】送信側探触子１及び受信側探触子２は台座
１６に固定して設けられているが、その位置及び向きは
下記の（Ａ）乃至（Ｄ）の条件すべてを満たすように調
整されている。 （Ａ）送信側音軸４と受信側音軸５は交点６で交わって
いる。 （Ｂ）上記音軸の交点６は、送信側探触子１の焦点であ
り、且つ受信側探触子２の焦点である。 （Ｃ）音軸の交点６は測定対象の境界面（以下、測定面
という）７上に位置する。 （Ｄ）音軸の交点６を通る測定面７の法線８と上記２種
類の音軸４及び５とのなす角θは等しい。
１６に固定して設けられているが、その位置及び向きは
下記の（Ａ）乃至（Ｄ）の条件すべてを満たすように調
整されている。 （Ａ）送信側音軸４と受信側音軸５は交点６で交わって
いる。 （Ｂ）上記音軸の交点６は、送信側探触子１の焦点であ
り、且つ受信側探触子２の焦点である。 （Ｃ）音軸の交点６は測定対象の境界面（以下、測定面
という）７上に位置する。 （Ｄ）音軸の交点６を通る測定面７の法線８と上記２種
類の音軸４及び５とのなす角θは等しい。
【００１６】台座１６と測定対象の測定面７との間に
は、図２に示すように、超音波遮蔽板から成る超音波マ
スク３が設けられている。そして、該超音波マスク３
は、送信側探触子１からの超音波ビームの一部と、測定
面７にて反射した該ビームの反射ビームのみを通過させ
る窓３’を備えている。この超音波マスク３を図示しな
い移動手段により法線８の方向に移動させることによ
り、所望の角度で測定面に入射する超音波のみを抽出す
ることが可能となる。具体的には、超音波マスク３を測
定面７側へ移動させると入射角及び反射角の大きな超音
波ビームが抽出されるようになり、逆に超音波マスク３
を測定面７から遠ざけると入射角及び反射角の小さな超
音波ビームが抽出される。
は、図２に示すように、超音波遮蔽板から成る超音波マ
スク３が設けられている。そして、該超音波マスク３
は、送信側探触子１からの超音波ビームの一部と、測定
面７にて反射した該ビームの反射ビームのみを通過させ
る窓３’を備えている。この超音波マスク３を図示しな
い移動手段により法線８の方向に移動させることによ
り、所望の角度で測定面に入射する超音波のみを抽出す
ることが可能となる。具体的には、超音波マスク３を測
定面７側へ移動させると入射角及び反射角の大きな超音
波ビームが抽出されるようになり、逆に超音波マスク３
を測定面７から遠ざけると入射角及び反射角の小さな超
音波ビームが抽出される。
【００１７】次に、上記装置にて超音波臨界角探傷を行
う手順について述べる。上記のように、超音波臨界角探
傷法は、材質が既知の基準材（例えば、測定対象材と同
一組成で材質変化の生じていないもの）と測定対象材と
の超音波臨界角の違いから測定対象材の材質の変化を評
価するものであるため、測定に際して測定対象材の超音
波臨界角を把握できていないのが通常である。そこで、
本装置で超音波臨界角探傷を行う場合には、測定対象材
の超音波臨界角θC が基準材の超音波臨界角θC0と等し
いと仮定して測定する。具体的には、図３に示すように
測定側音軸４及び受信側音軸５と測定面の法線８とのな
す角が基準材の超音波臨界角θC0となるように送信側探
触子１及び受信側探触子２並びに台座１６を設定する。
う手順について述べる。上記のように、超音波臨界角探
傷法は、材質が既知の基準材（例えば、測定対象材と同
一組成で材質変化の生じていないもの）と測定対象材と
の超音波臨界角の違いから測定対象材の材質の変化を評
価するものであるため、測定に際して測定対象材の超音
波臨界角を把握できていないのが通常である。そこで、
本装置で超音波臨界角探傷を行う場合には、測定対象材
の超音波臨界角θC が基準材の超音波臨界角θC0と等し
いと仮定して測定する。具体的には、図３に示すように
測定側音軸４及び受信側音軸５と測定面の法線８とのな
す角が基準材の超音波臨界角θC0となるように送信側探
触子１及び受信側探触子２並びに台座１６を設定する。
【００１８】上記のように基準材の超音波臨界角θC0に
基づいて送信側探触子１及び受信側探触子２の位置等を
設定しても、本装置では、超音波マスク３を法線８に沿
って移動させ送信側探触子１からの入射ビームの角度を
θC0−α乃至θC0＋αに変化させることができるため、
θC0−α≦θC ≦θC0＋αであれば測定対象材の超音波
臨界角θC を検出することが可能となる。
基づいて送信側探触子１及び受信側探触子２の位置等を
設定しても、本装置では、超音波マスク３を法線８に沿
って移動させ送信側探触子１からの入射ビームの角度を
θC0−α乃至θC0＋αに変化させることができるため、
θC0−α≦θC ≦θC0＋αであれば測定対象材の超音波
臨界角θC を検出することが可能となる。
【００１９】なお、測定対象材の超音波臨界角θC がθ
C0−α乃至θC0＋αの範囲内にない場合はその角度を検
出することができなくなるため、予め寸法の大きな送信
側探触子１及び受信側探触子２を使用しαを大きめに設
定しておくとよい。αは、送信側探触子１及び受信側探
触子２の直径Ｄと焦点距離Ｌとから次の式にて求めるこ
とができる。 α（度） ＝ Ｔａｎ-1（Ｄ／２Ｌ） （４）
C0−α乃至θC0＋αの範囲内にない場合はその角度を検
出することができなくなるため、予め寸法の大きな送信
側探触子１及び受信側探触子２を使用しαを大きめに設
定しておくとよい。αは、送信側探触子１及び受信側探
触子２の直径Ｄと焦点距離Ｌとから次の式にて求めるこ
とができる。 α（度） ＝ Ｔａｎ-1（Ｄ／２Ｌ） （４）
【００２０】
【発明の効果】本発明では、探触子を予め適正な位置及
び方向に設置していることから、超音波の受信感度の最
も良好な状態を容易に作りだすことができ、測定の精度
を完全なものとすることが可能になる。また、上記構成
に加え、超音波マスクを採用したことにより、探触子の
位置及び向きを変えることなく所望の入射角及び反射角
の超音波ビームを抽出し得るようになるため、複雑な走
査機構が不要になる。さらに、集束型超音波探触子を採
用したことにより、ビーム径の小さい超音波ビームを入
射することが可能となるため、微小領域に対しても精度
の高い測定ができるようになる。
び方向に設置していることから、超音波の受信感度の最
も良好な状態を容易に作りだすことができ、測定の精度
を完全なものとすることが可能になる。また、上記構成
に加え、超音波マスクを採用したことにより、探触子の
位置及び向きを変えることなく所望の入射角及び反射角
の超音波ビームを抽出し得るようになるため、複雑な走
査機構が不要になる。さらに、集束型超音波探触子を採
用したことにより、ビーム径の小さい超音波ビームを入
射することが可能となるため、微小領域に対しても精度
の高い測定ができるようになる。
【図１】本発明の一実施形態にかかる送信側探触子及び
受信側探触子並びに台座の構成図。
受信側探触子並びに台座の構成図。
【図２】本発明の一実施形態にかかる超音波マスクの移
動状態を示す図。
動状態を示す図。
【図３】本発明の一実施形態にかかる超音波臨界角の検
出に関する説明図。
出に関する説明図。
【図４】超音波臨界角探傷法の概念を示す図。
【図５】超音波臨界角探傷を行うための従来装置の構成
図。
図。
【図６】超音波臨界角探傷法における測定状態と反射波
強度との関係を示すグラフ。
強度との関係を示すグラフ。
１，１２ 送信側探触子 ２，１３ 受信側探触子 ３ 超音波マスク ３’ 超音波マスクの窓 ４ 送信側音軸 ５ 受信があ音軸 ６ 音軸の交点 ７ 測定対象の測定面 ８ 測定面の法線 ９ 入射ビーム １０ 反射ビーム １１ 固体表面波 １４ 超音波探傷器 １５ ＸＹレコーダー １６ 台座
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木田 泰夫 兵庫県神戸市兵庫区和田崎超１丁目１番１ 号 三菱重工業株式会社神戸造船所内
Claims (1)
- 【請求項１】（ａ）集束型超音波探触子よりなる送信側
探触子及び受信側探触子と、（ｂ）両探触子の音軸の交
点と両探触子の焦点を一致させる位置及び方向で両探触
子を設置し、該音軸の交点を測定対象の測定面上に定
め、かつ該測定面の法線に対して両探触子の音軸が等角
度をなすように配置される台座と、（ｃ）該台座と測定
対象との間を前記測定面の法線方向に移動し、送信側探
触子から測定対象に入射される超音波の一部のビームと
該ビームが測定対象面で反射したビームのみを通過させ
る超音波マスクとを備えたことを特徴とする超音波臨界
角探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52097A JP2883051B2 (ja) | 1997-01-07 | 1997-01-07 | 超音波臨界角探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52097A JP2883051B2 (ja) | 1997-01-07 | 1997-01-07 | 超音波臨界角探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09297125A true JPH09297125A (ja) | 1997-11-18 |
| JP2883051B2 JP2883051B2 (ja) | 1999-04-19 |
Family
ID=11476055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52097A Expired - Lifetime JP2883051B2 (ja) | 1997-01-07 | 1997-01-07 | 超音波臨界角探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2883051B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10877002B2 (en) | 2016-02-10 | 2020-12-29 | Ihi Corporation | Ultrasonic flaw detection device and ultrasonic flaw detection method |
-
1997
- 1997-01-07 JP JP52097A patent/JP2883051B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10877002B2 (en) | 2016-02-10 | 2020-12-29 | Ihi Corporation | Ultrasonic flaw detection device and ultrasonic flaw detection method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2883051B2 (ja) | 1999-04-19 |
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