JPH0929633A - Dressing tool for polishing cloth - Google Patents

Dressing tool for polishing cloth

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JPH0929633A
JPH0929633A JP18175095A JP18175095A JPH0929633A JP H0929633 A JPH0929633 A JP H0929633A JP 18175095 A JP18175095 A JP 18175095A JP 18175095 A JP18175095 A JP 18175095A JP H0929633 A JPH0929633 A JP H0929633A
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JP
Japan
Prior art keywords
polishing
dressing tool
diamond
substrate
dressing
Prior art date
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Pending
Application number
JP18175095A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Oishi
俊夫 大石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
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Publication of JPH0929633A publication Critical patent/JPH0929633A/en
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dressing tool for polishing, which can effectively dress a polishing cloth without falling the diamond abrasive grains. SOLUTION: A dressing tool 10 has a circular board 12 and diamond pellets 14 formed into a disk-shape smaller than this board 12. The diamond pellets 14 are respectively formed by filling the mixture of the diamond powder and the resin in a die and compressing it. The surface of this diamond pellet 14 is formed with the file-like fine projecting and recessed parts. The diamond pellets 14 are arranged with an equal space, and adhered to the base board 12 by an adhesive agent. When this dressing tool 10 is used for dressing a polishing cloth, the polishing cloth is evenly dressed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば半導体デ
バイス製造工程におけるポリッシング工程で使用される
研磨布を目立てするドレッシング工具に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dressing tool for dressing a polishing cloth used, for example, in a polishing process in a semiconductor device manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体デバイスの平坦化技術とし
て、一般に、化学的機械研磨(以下、CMPと称する)
と呼ばれる研磨技術が実用化されている。このCMP
は、シリコン基板のミラー加工に利用されてきた研磨技
術が応用されたものであり、シリコン基板上に形成され
た各種の膜を平坦化するための技術である。
2. Description of the Related Art In recent years, chemical mechanical polishing (hereinafter referred to as CMP) is generally used as a planarization technique for semiconductor devices.
The so-called polishing technique has been put to practical use. This CMP
Is an application of the polishing technique used for mirror processing of a silicon substrate, and is a technique for flattening various films formed on a silicon substrate.

【0003】半導体ウェーハにおいて、シリコン基板上
には多層にわたって膜が形成されるため、膜表面の形状
には凹凸がある。このウェーハを平坦に研磨するため
に、凹凸のある表面にスラリーと呼ばれる研磨液を注入
しながら研磨布を押し付けて加工する。この時、比較的
軟質な研磨布を使用して研磨すると、表面の凹凸に倣っ
て加工される傾向がある。最近では、例えば、硬質ポリ
ウレタン系の樹脂からなる研磨布が使用され、表面の凹
凸に関係なくウェーハ全面を平坦化することが可能とな
っている。
In a semiconductor wafer, since a film is formed in multiple layers on a silicon substrate, the surface of the film has irregularities. In order to polish this wafer flat, a polishing cloth is pressed against the surface having irregularities while injecting a polishing liquid called slurry to process the wafer. At this time, if a relatively soft polishing cloth is used for polishing, the surface tends to be processed according to the unevenness of the surface. Recently, for example, a polishing cloth made of a hard polyurethane resin has been used, and it is possible to flatten the entire surface of the wafer regardless of the unevenness of the surface.

【0004】しかしながら、硬質の研磨布は研磨液の保
持効果が悪く、そのまま使用しても均一に加工できない
ため、ドレッシング工具を用いて、研磨布表面を軽く加
工するドレッシング工程を必要とする。また、このよう
な硬質の研磨布を使用した研磨工程が繰り返されるにし
たがって、研磨液や研磨されたパーティクルによる研磨
布への目詰まりが発生し、加工均一性が低下するため
に、適宜、このドレッシング工程が実行される。
However, since a hard polishing cloth has a poor effect of retaining a polishing liquid and cannot be uniformly processed even when used as it is, a dressing step of lightly processing the surface of the polishing cloth with a dressing tool is required. Further, as the polishing step using such a hard polishing cloth is repeated, clogging of the polishing cloth by the polishing liquid or the polished particles occurs, and the processing uniformity is lowered. The dressing process is performed.

【0005】このドレッシング工程で使用されるドレッ
シング工具の一例を図9に示す。図9の(a)は、ドレ
ッシング工具100の加工面の平面図であり、(b)
は、(a)に示したドレッシング工具をA−A線で切断
した断面図である。図9に示すように、ドレッシング工
具100は、円形の金属板102、及びダイヤモンド粉
末の層104を有し、金属板102の一方の面にダイヤ
モンド粉末の層104がリング状に電着されている。
An example of a dressing tool used in this dressing process is shown in FIG. FIG. 9A is a plan view of the processed surface of the dressing tool 100, and FIG.
[Fig. 4] is a sectional view of the dressing tool shown in (a) taken along the line AA. As shown in FIG. 9, the dressing tool 100 has a circular metal plate 102 and a layer 104 of diamond powder, and the layer 104 of diamond powder is electrodeposited in a ring shape on one surface of the metal plate 102. .

【0006】しかし、このドレッシング工具を使用する
と、電着したダイヤモンド粉末が欠落するおそれがあ
る。この欠落したダイヤモンド粉末が研磨布に混入し、
この研磨布を用いてウェーハを研磨するとウェーハの被
膜面を傷付ける問題が発生する。また、ダイヤモンド粉
末を電着するために基板が金属である必要があり、この
ためウェーハ面への金属汚染の問題も発生する。
However, when this dressing tool is used, there is a possibility that the electrodeposited diamond powder may be lost. This missing diamond powder mixes into the polishing cloth,
When a wafer is polished using this polishing cloth, there arises a problem that the coating surface of the wafer is damaged. In addition, the substrate needs to be a metal in order to electrodeposit the diamond powder, which causes a problem of metal contamination on the wafer surface.

【0007】この問題を解決するために、図10に示す
ようなドレッシング工具が提案されている。図10の
(a)は、ドレッシング工具110の加工面の平面図で
あり、(b)は、(a)に示したドレッシング工具をB
−B線で切断した断面図である。ドレッシング工具11
0は、円形の基板112、及びダイヤモンド粉末を含む
樹脂を固めて円板状に成形したダイヤモンドペレット1
14を有する。このダイヤモンドペレット114は、基
板112の一方の面に接着剤で接着されている。図10
に示したドレッシング工具110は、基板112にダイ
ヤモンドペレットを接着させて製造されるため、基板1
12の素材は特定されない。一般に、基板112は、プ
ラスチック製、或いはセラミックス製である。したがっ
て、金属基板によるウェーハ面への金属汚染は防止され
る。しかし、このドレッシング工具112は、柔軟な研
磨布に対しては研磨液の保持能力が向上され、効果的に
加工できるが、硬質の研磨布に対しては、効果が低いと
いう欠点がある。
To solve this problem, a dressing tool as shown in FIG. 10 has been proposed. 10A is a plan view of the processed surface of the dressing tool 110, and FIG. 10B is a plan view of the dressing tool shown in FIG.
It is sectional drawing cut | disconnected by the -B line. Dressing tool 11
0 is a circular substrate 112 and a diamond pellet 1 obtained by solidifying a resin containing diamond powder into a disk shape.
It has 14. The diamond pellet 114 is bonded to one surface of the substrate 112 with an adhesive. FIG.
The dressing tool 110 shown in FIG. 1 is manufactured by bonding diamond pellets to the substrate 112.
The 12 materials are not specified. Generally, the substrate 112 is made of plastic or ceramics. Therefore, metal contamination of the wafer surface by the metal substrate is prevented. However, the dressing tool 112 has an improved ability to retain a polishing liquid for a soft polishing cloth and can be effectively processed, but has a drawback that it is less effective for a hard polishing cloth.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】このように、シリコン
基板上に多層にわたって被膜が形成された半導体ウェー
ハにおいて、このウェーハ表面の凹凸を平坦化するため
に、硬質の研磨布を用いたポリッシング工程が必要とな
る。この硬質の研磨布の加工均一性を向上させるため
に、研磨布表面を軽く加工して目立てするドレッシング
工程が必要となる。このドレッシング工程では、加工面
にダイヤモンド粉末を含んだドレッシング工具が使用さ
れるが、目立ての際に、このダイヤモンド粉末が欠落す
るおそれがある。このため、欠落したダイヤモンド粉末
が研磨布に混入し、この研磨布を用いてウェーハをポリ
ッシングするとウェーハ面を傷付ける問題が発生する。
As described above, in a semiconductor wafer in which a coating is formed over multiple layers on a silicon substrate, a polishing process using a hard polishing cloth is performed in order to flatten the unevenness of the wafer surface. Will be needed. In order to improve the processing uniformity of this hard polishing cloth, a dressing step of lightly processing the surface of the polishing cloth to make it sharp is necessary. In this dressing step, a dressing tool containing diamond powder on the processed surface is used, but this diamond powder may be missing during dressing. For this reason, the diamond powder that has been omitted mixes into the polishing cloth, and polishing the wafer using this polishing cloth causes a problem of damaging the wafer surface.

【0009】また、硬質の研磨布に対して効果的に目立
てできないという問題も生ずる。従って、この発明の目
的は、上述したような事情に鑑み成されたものであっ
て、ダイヤモンド粉末の欠落がなく、ドレッシング効果
の高いポリッシング研磨布用ドレッシング工具を提供す
ることにある。
There is also a problem that the hard polishing cloth cannot be effectively noticed. Therefore, an object of the present invention is to provide a dressing tool for a polishing abrasive cloth, which has been made in view of the above-mentioned circumstances and has no diamond powder loss and a high dressing effect.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この発明は、上記問題点
に基づきなされたもので、ポリッシング研磨布の目立て
用ドレッシング工具において、基板と、やすり状の加工
端面を有し、この加工端面を露出するように前記基板上
に接着される加工部材と、を備えたポリッシング研磨布
用ドレッシング工具を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made based on the above problems, and in a dressing tool for dressing a polishing abrasive cloth, it has a substrate and a filed processed end surface, and the processed end surface is exposed. A dressing tool for polishing abrasive cloth is provided, which includes a processed member adhered onto the substrate as described above.

【0011】また、この発明によれば、ポリッシング研
磨布の目立て用ドレッシング工具において、基板と、ダ
イヤモンド粉末を樹脂で固めて成形して少なくとも一方
の面がやすり状に形成された加工端面を有し、この加工
面を露出するように前記基板上に接着されるダイヤモン
ドペレットと、を備えたポリッシング研磨布用ドレッシ
ング工具が提供される。
Further, according to the present invention, in a dressing tool for dressing a polishing abrasive cloth, it has a substrate and a processed end surface in which at least one surface is formed by solidifying and molding diamond powder with a resin. There is provided a dressing tool for polishing abrasive cloth, comprising: a diamond pellet adhered onto the substrate so as to expose the processed surface.

【0012】この発明によれば、やすり状の加工端面を
有する加工部材がその加工端面を露出するように基板上
に接着されている。このため、硬質の研磨布に対しても
効果的に目立てができるポリッシング研磨布用ドレッシ
ング工具が提供される。したがって、このドレッシング
工具でドレッシングされた研磨布を用いて半導体ウェー
ハをポリッシングすることにより、ウェーハ表面が均一
に平坦化される。
According to this invention, the processed member having the file-shaped processed end surface is adhered onto the substrate so that the processed end surface is exposed. Therefore, there is provided a dressing tool for polishing abrasive cloth, which can effectively sharpen even a hard abrasive cloth. Therefore, by polishing the semiconductor wafer using the polishing cloth dressed with this dressing tool, the wafer surface is uniformly flattened.

【0013】また、この発明によれば、ダイヤモンド粉
末を樹脂で固めて成形したダイヤモンドペレットが、や
すり状に形成された加工端面を露出するように基板上に
接着されている。このため、ポリッシング研磨布を目立
てする際にダイヤモンド粉末が欠落すること無く、研磨
布中に欠落したダイヤモンド粉末が混入することもな
い。したがって、このポリッシング研磨布を用いて半導
体ウェーハをポリッシングするときに、ウェーハ膜面が
欠落したダイヤモンド粉末によって傷付けられることが
ない。
Further, according to the present invention, the diamond pellets formed by solidifying diamond powder with a resin are adhered onto the substrate so as to expose the processed end face formed in a file shape. Therefore, the diamond powder does not drop when the polishing pad is sharpened, and the diamond powder that has been dropped does not mix into the polishing pad. Therefore, when a semiconductor wafer is polished using this polishing polishing cloth, the wafer film surface is not damaged by the missing diamond powder.

【0014】さらに、この発明によれば、硬質のポリッ
シング研磨布であっても効率的に目立てできるので、研
磨布の研磨液保持能力が向上される。このため、ポリッ
シング工程において、研磨液が十分に、且つ均一に研磨
布と半導体ウェーハとの間に保持される。したがって、
半導体ウェーハは、このポリッシング工程において均一
にポリッシングされる。
Further, according to the present invention, even a hard polishing polishing cloth can be efficiently dressed, so that the polishing liquid holding ability of the polishing cloth is improved. Therefore, in the polishing step, the polishing liquid is sufficiently and uniformly held between the polishing cloth and the semiconductor wafer. Therefore,
The semiconductor wafer is uniformly polished in this polishing step.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
ポリッシング研磨布用ドレッシング工具の実施の形態に
ついて詳細に説明する。図4は、この発明のドレッシン
グ工具を示す図であり、(a)は加工面を示す平面図、
(b)は(a)に示したC−C線で切断した断面図であ
る。図4に示すように、ドレッシング工具10は、円形
の基板12、及びこの基板12より小さい円板状に成形
されたダイヤモンドペレット14を有する。円形の基板
12は、例えばプラスチック、セラミックスなどからな
るが、金属以外の材質であれば特に限定されない。ダイ
ヤモンドペレット14は、ダイヤモンド粉末と樹脂とを
混ぜた混合物を型に注入し、圧縮して成形される。この
ダイヤモンドペレット14は、例えば図4に示すような
配置で等間隔に、接着剤を用いて基板12に接着されて
いる。このため、このドレッシング工具10を用いてポ
リッシング研磨布を目立てすると、研磨布は、均一に目
立てされる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a dressing tool for polishing abrasive cloth of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 4 is a view showing a dressing tool of the present invention, (a) is a plan view showing a processed surface,
(B) is sectional drawing cut | disconnected by the CC line shown in (a). As shown in FIG. 4, the dressing tool 10 has a circular substrate 12 and a diamond pellet 14 formed into a disk shape smaller than the substrate 12. The circular substrate 12 is made of, for example, plastic or ceramics, but is not particularly limited as long as it is a material other than metal. The diamond pellet 14 is formed by injecting a mixture of diamond powder and resin into a mold and compressing the mixture. The diamond pellets 14 are adhered to the substrate 12 with an adhesive at equal intervals, for example, as shown in FIG. Therefore, when the dressing tool 10 is used to dress the polishing cloth, the polishing cloth is evenly dressed.

【0016】図1は、この発明のドレッシング工具に取
り付けられる円板状のダイヤモンドペレットを概略的に
示す斜視図である。ダイヤモンドペレット14の表面1
5は、やすり状の微細な凹凸が形成されている。このダ
イヤモンドペレット14は、直径が約10乃至20m
m、厚さが約3mmの円板である。この表面15の凹凸
部の目の大きさは、約0.1乃至0.5mm程度であ
る。このやすり状の凹凸を有する表面15が加工面とな
る。図4に示すように、このようなダイヤモンドペレッ
ト14は、所定の配置で加工面が露出するように裏面が
基板12に接着される。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing a disk-shaped diamond pellet attached to the dressing tool of the present invention. Surface 1 of diamond pellet 14
No. 5 has file-like fine irregularities. The diamond pellet 14 has a diameter of about 10 to 20 m.
It is a disc having a thickness of m and a thickness of about 3 mm. The mesh size of the irregularities on the surface 15 is about 0.1 to 0.5 mm. The surface 15 having the file-like irregularities serves as a processed surface. As shown in FIG. 4, the back surface of such a diamond pellet 14 is bonded to the substrate 12 so that the processed surface is exposed in a predetermined arrangement.

【0017】図2は、図1に示したダイヤモンドペレッ
トのやすり状に形成された凸部の一部を拡大した拡大図
である。凸部の形状は、加工中に破損などによる欠落の
ないように、例えば図2に示したような三角錐形に形成
される。また、ダイヤモンドペレット14の凸部は、図
3に示したような形状であってもよい。
FIG. 2 is an enlarged view in which a part of the file-shaped convex portion of the diamond pellet shown in FIG. 1 is enlarged. The shape of the convex portion is formed, for example, in a triangular pyramid shape as shown in FIG. Further, the convex portion of the diamond pellet 14 may have a shape as shown in FIG.

【0018】このように表面がやすり状の凹凸を有する
ダイヤモンドペレットを基板上に接着したドレッシング
工具を用いて研磨布をドレッシングすることにより、研
磨布が硬質であっても効率的に目立てできる。勿論、柔
軟な研磨布に対しても効率的に目立てできる。このよう
に、この実施の形態におけるドレッシング工具は、従来
のドレッシング工具に比べて、研磨布の柔硬にかかわら
ず、より高いドレッシング効果をもたらすことができ
る。このため、研磨布における研磨液の保持効果が良好
となり、この研磨布による半導体ウェーハなどの被加工
部材に対する加工均一性が向上される。
As described above, by dressing the polishing cloth with the dressing tool in which the diamond pellets having the surface of file-like irregularities are adhered on the substrate, even if the polishing cloth is hard, it can be efficiently dressed. Of course, even a soft polishing cloth can be efficiently dressed. As described above, the dressing tool according to this embodiment can provide a higher dressing effect than the conventional dressing tool regardless of the softness of the polishing pad. Therefore, the effect of holding the polishing liquid on the polishing cloth is improved, and the processing uniformity of the member to be processed such as a semiconductor wafer by the polishing cloth is improved.

【0019】また、ドレッシング工具の基板上に接着さ
れるダイヤモンドペレットは、必ずしも図4に示したよ
うな配置である必要はない。図5乃至図8は、基板に取
り付けられるダイヤモンドペレットの他の配置例を示す
図である。
Further, the diamond pellets adhered on the substrate of the dressing tool do not necessarily have to be arranged as shown in FIG. 5 to 8 are diagrams showing other arrangement examples of diamond pellets attached to the substrate.

【0020】図5に示すドレッシング工具20では、円
形の基板12上の外周付近のみに円板状のダイヤモンド
ペレット14が配置されて接着されている。図6に示す
ドレッシング工具30では、長方形状に成形されたダイ
ヤモンドペレット32が円形の基板12の中心部から放
射状に配置されて接着されている。
In the dressing tool 20 shown in FIG. 5, the disc-shaped diamond pellets 14 are arranged and bonded only on the periphery of the circular substrate 12. In the dressing tool 30 shown in FIG. 6, rectangular diamond pellets 32 are radially arranged from the center of the circular substrate 12 and bonded.

【0021】図7に示すドレッシング工具40では、多
角形状、この実施の形態では六角形状に成形されたダイ
ヤモンドペレット42が円形の基板12上に図示したよ
うな配置で配置されて接着されている。
In the dressing tool 40 shown in FIG. 7, the polygonal, in this embodiment, hexagonal shaped diamond pellets 42 are arranged and adhered on the circular substrate 12 in the arrangement as shown.

【0022】図8に示すドレッシング工具50では、円
形の基板全面がダイヤモンドペレット52で覆われてい
る。図5乃至図8に示したドレッシング工具20、3
0、40、及び50は、図4に示したドレッシング工具
10と同様に、ダイヤモンドペレットの表面が図2及び
図3に示したようなやすり状の凹凸形状に形成されてい
る。したがって、これらのドレッシング工具20、3
0、40、及び50も、柔軟な研磨布のみならず硬質な
研磨布に対しても効率的にドレッシングできる。
In the dressing tool 50 shown in FIG. 8, the entire surface of the circular substrate is covered with diamond pellets 52. Dressing tools 20, 3 shown in FIGS.
Like No. 0, 40, and 50, like the dressing tool 10 shown in FIG. 4, the surface of the diamond pellet is formed into a file-like concavo-convex shape as shown in FIGS. Therefore, these dressing tools 20, 3
Nos. 0, 40, and 50 can be efficiently dressed not only on a soft polishing cloth but also on a hard polishing cloth.

【0023】次に、このドレッシング工具を用いた研磨
布のドレッシング工程について説明する。このドレッシ
ング工程は、使用前の研磨布を目立てしてスラリー(研
磨液)の保持効果を向上させる場合、及び、使用中の研
磨布へのスラリー粒子の付着による目詰まりが生じた場
合に、適宜、実行される。
Next, the dressing process of the polishing cloth using this dressing tool will be described. This dressing step is appropriately performed when the polishing cloth before use is sharpened to improve the effect of retaining the slurry (polishing liquid), and when clogging due to adhesion of slurry particles to the polishing cloth in use occurs. Is executed.

【0024】まず、定盤上に貼られた研磨布に、図4乃
至図8のいづれか1つに示されたドレッシング工具を押
し付ける。次に、定盤及びドレッシング工具の少なくと
も一方を回転させ、研磨布を目立てする。この時、ドレ
ッシング工具の押し付け圧力は、柔軟な研磨布をドレッ
シングする場合、研磨布との単位接触面積当たり80g
程度の低圧力で目立てされる。一方、硬質な研磨布をド
レッシングする場合には、200g/cm2 程度の高圧
力で目立てされる。
First, the dressing tool shown in any one of FIGS. 4 to 8 is pressed against the polishing cloth attached to the surface plate. Next, at least one of the surface plate and the dressing tool is rotated to sharpen the polishing cloth. At this time, the pressing pressure of the dressing tool is 80 g per unit contact area with the polishing cloth when dressing a soft polishing cloth.
It is noticeable at low pressure. On the other hand, when dressing a hard polishing cloth, it is dressed at a high pressure of about 200 g / cm 2 .

【0025】上述したように、このドレッシング工程で
は、研磨布の硬さに応じて研磨布に押し当てられるドレ
ッシング工具の押圧力が設定される。このため、研磨布
は、その硬さに応じて効率的にドレッシングされる。
As described above, in this dressing step, the pressing force of the dressing tool pressed against the polishing cloth is set according to the hardness of the polishing cloth. Therefore, the polishing cloth is efficiently dressed according to its hardness.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、やすり状の加工端面を有するダイヤモンドペレット
がその加工端面を露出するように基板上に接着されてい
る。このため、硬質の研磨布に対しても効果的に目立て
ができるポリッシング研磨布用ドレッシング工具が提供
される。したがって、このドレッシング工具でドレッシ
ングされた研磨布を用いて半導体ウェーハをポリッシン
グすることにより、ウェーハ表面が均一に平坦化され
る。
As described above, according to the present invention, the diamond pellet having the filed processed end surface is bonded onto the substrate so that the processed end surface is exposed. Therefore, there is provided a dressing tool for polishing abrasive cloth, which can effectively sharpen even a hard abrasive cloth. Therefore, by polishing the semiconductor wafer using the polishing cloth dressed with this dressing tool, the wafer surface is uniformly flattened.

【0027】また、この発明によれば、ダイヤモンド粉
末を樹脂で固めて成形したダイヤモンドペレットが、や
すり状に形成された加工端面を露出するように基板上に
接着されている。このため、ポリッシング研磨布を目立
てする際にダイヤモンド粉末が欠落すること無く、研磨
布中に欠落したダイヤモンド粉末が混入することもな
い。したがって、このポリッシング研磨布を用いて半導
体ウェーハをポリッシングするときに、ウェーハ膜面が
欠落したダイヤモンド粉末によって傷付けられることが
ない。
Further, according to the present invention, the diamond pellets formed by hardening the diamond powder with the resin are adhered onto the substrate so that the processed end face formed in a file shape is exposed. Therefore, the diamond powder does not drop when the polishing pad is sharpened, and the diamond powder that has been dropped does not mix into the polishing pad. Therefore, when a semiconductor wafer is polished using this polishing polishing cloth, the wafer film surface is not damaged by the missing diamond powder.

【0028】さらに、この発明によれば、硬質のポリッ
シング研磨布であっても均一に、且つ効率的に目立てで
きるので、研磨布の研磨液保持能力が向上される。この
ため、ポリッシング工程において、研磨液が十分に、且
つ均一に研磨布と半導体ウェーハとの間に保持される。
したがって、半導体ウェーハは、このポリッシング工程
において均一にポリッシングされる。
Furthermore, according to the present invention, even a hard polishing polishing cloth can be dressed uniformly and efficiently, so that the polishing liquid holding ability of the polishing cloth is improved. Therefore, in the polishing step, the polishing liquid is sufficiently and uniformly held between the polishing cloth and the semiconductor wafer.
Therefore, the semiconductor wafer is uniformly polished in this polishing step.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明のドレッシング工具に取り付
けられるダイヤモンドペレットの斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a diamond pellet attached to a dressing tool of the present invention.

【図2】図2は、図1に示したダイヤモンドペレットの
凸部の拡大図である。
FIG. 2 is an enlarged view of a convex portion of the diamond pellet shown in FIG.

【図3】図3は、ダイヤモンドペレットの別の凸部の拡
大図である。
FIG. 3 is an enlarged view of another convex portion of the diamond pellet.

【図4】図4は、この発明のドレッシング工具を示す図
であり、(a)は加工面を示す平面図、(b)は断面図
である。
FIG. 4 is a view showing a dressing tool of the present invention, (a) is a plan view showing a processed surface, and (b) is a sectional view.

【図5】図5は、基板に取り付けられるダイヤモンドペ
レットの他の配置例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing another arrangement example of diamond pellets attached to a substrate.

【図6】図6は、基板に取り付けられるダイヤモンドペ
レットの他の配置例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing another arrangement example of diamond pellets attached to a substrate.

【図7】図7は、基板に取り付けられるダイヤモンドペ
レットの他の配置例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing another arrangement example of diamond pellets attached to a substrate.

【図8】図8は、基板に取り付けられるダイヤモンドペ
レットの他の配置例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing another arrangement example of diamond pellets attached to a substrate.

【図9】図9は、従来のドレッシング工具を示す図であ
り、(a)は加工面の平面図、(b)は断面図である。
9A and 9B are views showing a conventional dressing tool, wherein FIG. 9A is a plan view of a processed surface, and FIG. 9B is a sectional view.

【図10】図10は、従来のドレッシング工具を示す図
であり、(a)は加工面の平面図、(b)は断面図であ
る。
FIG. 10 is a view showing a conventional dressing tool, (a) is a plan view of a processed surface, and (b) is a sectional view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ドレッシング工具 12…基板 14…ダイヤモンドペレット 20…ドレッシン
グ工具 30…ドレッシング工具 32…ダイヤモン
ドペレット 40…ドレッシング工具 42…ダイヤモン
ドペレット 50…ドレッシング工具 52…ダイヤモン
ドペレット 100…ドレッシング工具 102…金属基板 104…ダイヤモンド粉末層 110…ドレッシ
ング工具 112…基板 114…ダイヤモ
ンドペレット
10 ... Dressing tool 12 ... Substrate 14 ... Diamond pellet 20 ... Dressing tool 30 ... Dressing tool 32 ... Diamond pellet 40 ... Dressing tool 42 ... Diamond pellet 50 ... Dressing tool 52 ... Diamond pellet 100 ... Dressing tool 102 ... Metal substrate 104 ... Diamond Powder layer 110 ... Dressing tool 112 ... Substrate 114 ... Diamond pellet

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ポリッシング研磨布の目立て用ドレッシン
グ工具において、 基板と、 やすり状の加工端面を有し、この加工端面を露出するよ
うに前記基板上に接着される加工部材と、 を備えたことを特徴とするポリッシング研磨布用ドレッ
シング工具。
1. A dressing tool for dressing a polishing abrasive cloth, comprising: a substrate; and a processing member having a processed end face in the shape of a file and being bonded to the substrate so as to expose the processed end face. A dressing tool for polishing polishing cloth.
【請求項2】ポリッシング研磨布の目立て用ドレッシン
グ工具において、 基板と、 ダイヤモンド粉末を樹脂で固めて成形して少なくとも一
方の面がやすり状に形成された加工端面を有し、この加
工面を露出するように前記基板上に接着されるダイヤモ
ンドペレットと、 を備えたことを特徴とするポリッシング研磨布用ドレッ
シング工具。
2. A dressing tool for dressing a polishing abrasive cloth, which has a substrate and a processed end surface in which at least one surface is formed into a file shape by solidifying diamond powder with a resin and exposes the processed surface. And a diamond pellet adhered onto the substrate as described above, and a dressing tool for a polishing abrasive cloth.
【請求項3】前記ダイヤモンドペレットは、前記基板よ
り小さい平板状に形成され、前記基板上に等間隔で配置
されていることを特徴とする請求項2に記載のポリッシ
ング研磨布用ドレッシング工具。
3. The dressing tool for a polishing abrasive cloth according to claim 2, wherein the diamond pellets are formed in a flat plate shape smaller than the substrate, and are arranged on the substrate at equal intervals.
【請求項4】前記ダイヤモンドペレットは、前記基板よ
り小さい平板状に形成され、前記基板の中心部から放射
状に配置されていることを特徴とする請求項2に記載の
ポリッシング研磨布用ドレッシング工具。
4. The dressing tool for polishing abrasive cloth according to claim 2, wherein the diamond pellets are formed in a flat plate shape smaller than the substrate, and are arranged radially from a central portion of the substrate.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001347450A (en) * 2000-06-08 2001-12-18 Promos Technologies Inc Chemical machinery polishing device
US6640795B1 (en) 1999-09-29 2003-11-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Dresser, polishing apparatus and method for producing an article

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US6640795B1 (en) 1999-09-29 2003-11-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Dresser, polishing apparatus and method for producing an article
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