JPH09289479A - コネクタの伝送特性解析方法 - Google Patents

コネクタの伝送特性解析方法

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JPH09289479A
JPH09289479A JP10022096A JP10022096A JPH09289479A JP H09289479 A JPH09289479 A JP H09289479A JP 10022096 A JP10022096 A JP 10022096A JP 10022096 A JP10022096 A JP 10022096A JP H09289479 A JPH09289479 A JP H09289479A
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宏規 岡
Nobuaki Sugiura
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の課題は、コネクタのアース端子と信号
端子の位置を意識せず、コネクタを含む伝送回路の伝送
特性解析等を行う方法を提供することにある。 【解決手段】本発明は、コネクタの構造寸法を抽出する
工程1と、コネクタを信号伝送方向に垂直な断面で区分
し、コネクタ構造入力情報を作成する工程2と、断面構
造情報を基に、区分毎の電磁界解析を行い、線路定数
を、コネクタ端子間距離情報を変数にしてまとめ、線路
定数決定のための関係式もしくは表を作成する工程3
と、コネクタ端子間距離情報を、前記関係式に入力し、
区分ごとの線路定数を決定し、端子数情報及び区分間長
さ情報を基に、各区分毎の伝送回路を作成する工程4
と、区分された伝送回路の接続情報を使い、区分毎の伝
送回路を接続する工程5と、コネクタの伝送特性を解析
するための簡易回路を出力する工程6とからなることを
特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号伝送回路間の
接続に用いるコネクタを含む伝送回路の伝送特性解析等
を行う方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】コネクタを含む伝送回路の伝送特性解析
は、高速信号伝送と高密度な実装を必要とする装置を実
現する場合に、設計段階で必要である。従来のコネクタ
の伝送特性の評価は、測定評価基板を作成し、実測によ
りコネクタごとの反射雑音量や誘導雑音量等を求め、結
果を外挿及び内挿し予想する事が主であった。解析によ
り伝送特性評価をする場合もあるが、その場合は、コネ
クタの特性解析評価回路は、信号端子を特性インピーダ
ンスの均一な並行線路が一個もしくは数個接続したもの
を用いて行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のコネクタの伝送
特性解析は、コネクタのアース端子と信号端子の位置を
前もって固定し、端子の位置をそれ以後任意に選択でき
ない方法であった。また、アース端子のインピーダンス
を無視し、ゼロオームと仮定する解析方法であった。さ
らに、コネクタの端子数が数端子の解析方法であった。
【0004】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、コネクタのアース端子と信号端子の位置を意識せ
ず、また必要な端子数規模に合わせて各端子の線路定数
すべてを求め、コネクタを含む伝送回路の伝送特性解析
等を行うコネクタの伝送特性解析方法を提供することを
目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のコネクタ伝送特性解析方法は、信号伝送回路
間の接続に用いるコネクタを含む伝送特性の解析方法で
あって、コネクタの構造寸法を抽出する工程1と、コネ
クタを信号伝送方向に垂直な断面で区分し、コネクタ構
造入力情報を作成する工程2と、前記作成したコネクタ
構造入力情報の断面構造情報を基に、区分ごとの電磁界
解析を行い、導出した線路定数または実測を行い導出を
した線路定数を、コネクタ構造入力情報のコネクタ端子
間距離情報を変数にしてまとめ、その結果を内挿、外挿
し、相関を求めることにより、線路定数決定のための関
係式もしくは表を作成する工程3と、コネクタ構造入力
情報のコネクタ端子間距離情報を、前記作成した関係式
に入力し、区分ごとの線路定数を決定し、決定された線
路定数と端子数情報および区分間長さ情報を基に、各区
分ごとの伝送回路を作成する工程4と、さらに区分され
た伝送回路の接続情報を使い、区分ごとの伝送回路を接
続する工程5と、コネクタの伝送特性を解析するための
簡易回路を作成する工程6とからなることを特徴とす
る。
【0006】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態例を詳細に説明する。図1は本発明の一実施形態
例を示すフローチャートである。即ち、信号伝送回路間
の接続に用いるコネクタを含む伝送特性の解析方法であ
って、コネクタの構造寸法を抽出する工程1と、コネク
タを信号伝送方向に垂直な断面で区分する工程2によ
り、コネクタ構造入力情報10を作成し、線路定数解析
と線路定数決定のための関係式もしくは表を作成する工
程3により、前記作成したコネクタ構造入力情報10の
断面構造情報11を基に、区分ごとの電磁界解析を行
い、導出した線路定数または実測を行い導出をした線路
定数を、コネクタ構造入力情報10のコネクタ端子間距
離情報12を変数にしてまとめ、その結果を内挿、外挿
し、相関を求めることにより、線路定数決定のための関
係式もしくは表を作成し、コネクタ構造入力情報10の
コネクタ端子間距離情報12を、前記作成した関係式に
入力し、区分ごとの線路定数を決定し、各区分ごとの伝
送回路を作成する工程4により、決定された線路定数と
端子数情報13および区分間長さ情報14を基に、各区
分ごとの伝送回路を作成し、さらに区分された伝送回路
の接続情報15を使い、区分ごとの伝送回路を接続する
工程5により、区分ごとの伝送回路を接続し、コネクタ
の伝送特性を解析するための簡易回路を出力する工程6
とからなることを特徴とするコネクタ伝送特性解析方法
である。
【0007】即ち、前記コネクタ構造入力情報10は、
コネクタの構造寸法を抽出する工程1とコネクタを信号
伝送方向に垂直な断面で区分する工程2の中で作成す
る。コネクタ構造入力情報10は、断面構造情報11と
コネクタ端子間距離情報12および、端子数情報13、
区分間長さ情報14、区分された伝送回路の接続情報1
5である。断面構造情報11の区分方法は、誘電率の均
一な部分や構造の均一な部分等で区切ることを特徴とし
ている。
【0008】上記したコネクタ構造入力情報10の断面
構造情報11を基に区分ごとの線路定数を解析する工程
3では、解析を行うに当たって必要な基準である理想的
なゼロ電位点をコネクタのアース端子にするのではな
く、無限遠点にあるとすることで、各端子間および端子
ごとの線路定数を求めることを特徴としている。さら
に、この工程3により作成した区分ごとの線路定数決定
関係式は、コネクタ構造入力情報10のコネクタ端子間
距離情報12を変数としているため、解析に必要である
端子数情報13に対して、それぞれのコネクタ端子間距
離情報12等を代入することで線路定数を求めることを
特徴としている。
【0009】コネクタの特性解析評価回路は、コネクタ
構造入力情報10である断面構造情報11とコネクタ端
子間距離情報12で決定しているため、3次元の解析に
比べて、比較的簡易に解析できる。
【0010】区分ごとの線路定数決定関係式を用いてい
るため、伝送特性解析に必要なコネクタの端子数と位置
を自由に設定でき、その端子数規模に応じて線路定数を
求めることができる。
【0011】また、区分ごとの伝送回路を接続する工程
5を用いて作成したコネクタの伝送特性を解析する簡易
回路は、コネクタの端子収容を作成段階で決定していな
い。従って、伝送特性を解析する伝送回路系に組み込む
際に端子収容を任意に決定することができる。同様に、
コネクタの特性解析に必要なすべての端子の特性インピ
ーダンスを考慮しているため、アース端子から受ける信
号伝送特性を解析できる。
【0012】図2(a)、(b)は、本発明に係るコネ
クタを含む伝送特性評価のための伝送回路測定系の一例
を示す構成図である。即ち、パルスジェネレータ30か
ら出力された信号は、50Ω系同軸ケーブル26を通
り、プリント基板21内の配線(50Ω)22を伝搬
し、コネクタ20に入力される。さらに、信号はコネク
タ20から出力され配線(50Ω)23を通り、50Ω
の終端器27で終端され、プリント基板21のアース層
に流れ込む。信号が伝送される信号線24に隣接する誘
導線25には、コネクタ20の伝送特性に含まれるコネ
クタ20内で誘導された誘導雑音及びアース雑音等が現
れる。その結果は、誘導線25に接続したオシロスコー
プ31により観測できる。この結果の例が、図3の測定
点の実測波形である。この結果は、コネクタ20の端子
収容や入力信号の波形形状、信号線の動作数等の違いで
異なる。28は出力抵抗(50Ω)、29は入力抵抗
(50Ω)、32は測定点である。
【0013】図4及び図5は、図1の作成したコネクタ
構造入力情報10の一例であり、図4はコネクタを信号
伝送方向に平行な断面で表したコネクタ構造例、図5は
コネクタを信号伝送方向に垂直な断面で表した例であ
る。40はケーブルコネクタピン部であり、図5(a)
に対応する。41は打ち込みピン部であり、図5(b)
に対応する。43はリード部であり、図5(e)に対応
する。44は半田づけ部のPTHであり、図5(f)に
対応する。45はプリント基板(バックプレーン)のパ
ッケージである。46はプリント基板のパッケージであ
る。47はモールドである。48はコネクタモールド部
であり、図5(c)、(d)に対応する。これを基に、
抽出した垂直断面の構造寸法である断面構造情報11
と、コネクタ端子の中心間距離であるコネクタ端子間距
離情報12、端子数情報13、区分した垂直断面間の距
離である区分間長さ情報14、および区分された伝送回
路の接続情報15を求める。
【0014】図6は、本発明に係る線路定数決定のため
の関係式もしくは表の一例である。即ち、コネクタ構造
入力情報10を基に電磁界解析を行い、それぞれ端子ご
との線路定数を求め、端子ごとの導出した線路定数の結
果の相関を取り求めた線路定数決定のための関係式であ
る。実測により関係式や表を求める場合には、図2の測
定系中のパルスジェネレータ30を、インパルス波形を
入力し透過波の振幅に対する反射波の振幅の比である反
射係数を測定するTDR測定器に置き換えて、区分ごと
に端子の線路定数を実測で求め、それぞれ端子ごとの線
路定数の相関を取り、関係式を作成する。この関係式か
ら断面構造情報11と端子数情報13により各端子及び
端子間の線路定数である単位長さ当たりの抵抗、インダ
クタンス、キャパシタンス、コンダクタンス等を求め
る。また、区分ごとの伝送回路を作成する際、さらに精
度を向上させる場合には、端子ごとの区分間長さと、各
端子及び端子間の線路定数との相関関数を求め、定数に
重み付けをし、区分ごとの伝送回路の抵抗、インダクタ
ンス、キャパシタンス、コンダクタンスを決定する。
【0015】図7〜図9は本発明に係るコネクタ伝送特
性を解析する簡易回路の一例を示し、図7はコネクタの
構造例、図8はコネクタ簡易回路、図9は解析のための
伝送回路例を示す。図中、図4および図5と同一部分は
同一符号を付してその説明を省略する。即ち、決定した
線路定数を基に、区分ごとの伝送回路56を作成し、そ
れぞれの伝送回路を区分伝送回路接続情報15を基に接
続することにより出力したコネクタ簡易回路例(図8)
である。図8のコネクタ簡易回路は、区分した伝送回路
の一例であり、ケーブルコネクタピン部40、打ち込み
ピン部41、コネクタモールド部48、リード部43、
半田付け部のPTH44で区分した。区分した伝送回路
56の入出力端子は、決定した端子数分ある。解析精度
向上のためには、区分した伝送回路内でもさらにいくつ
かの区分を行う。区分された一つの伝送回路56は、図
9の解析のための伝送回路例に示すとおり、一つは、線
路定数R,L,Cを用いたラダー回路で表すことができ
る。また、端子位置や区間長さ当たりのR,L,G,C
のマトリックスで表すこともできる。その他にも、散乱
マトリックスで表す方法もある。
【0016】図10は、図8のコネクタの伝送特性を解
析する簡易回路を用いて伝送系の特性評価を行うために
必要な伝送回路評価系を作成した例である。即ち、コネ
クタ60のアース端子64は、バックプレーン61及び
パッケージ62のプリント基板のアース層の特性を表す
アース基板モデル72に接続し、理想グランドへ接続す
る。信号端子63は、両プリント基板上の配線である伝
送線路65および66にそれぞれ接続し、伝送線路65
および66のもう一方の端に終端抵抗67、69や信号
源等を接続し、アース基板モデル72に接続する。端子
の開放端は、高抵抗70や容量等を接続する。68は出
力抵抗(50Ω)であり、71は測定点である。
【0017】図11及び図12は、コネクタ伝送特性評
価結果を比較した図である。即ち、図11の誘導雑音波
形の解析結果の比較例は、(a)の従来の解析方法で得
られた誘導線の雑音波形と、(b)の本発明によって得
られた解析波形の比較である。(a)の従来の解析方法
で得られた結果に比べて、(b)の本発明によって得ら
れた結果は、アース端子のインピーダンスの影響で波形
の不安定な特性を表すことができる。また、図12の誘
導雑音量の実測結果と解析結果の比較例の傾向からも判
る通り、端子収容比に対する誘導雑音量は、測定結果8
4の傾向と本発明によって得られた解析結果85の傾向
が一致している。
【0018】以上の結果から明らかなように、従来の方
法に比べて、本発明によって得られたコネクタの伝送特
性を解析する簡易回路を用いることで、コネクタを含む
伝送回路の高精度な特性を解析できるという効果が得ら
れる。
【0019】なお、本実施形態例では、端子構造が、ピ
ン型のコネクタを用いているが、エッジ型、ナイフ型等
あらゆる構造のコネクタについても同様の効果が得られ
る。さらに、光コネクタについても同様である。
【0020】以上説明したように、本発明によって得ら
れたコネクタの伝送特性を解析する簡易回路を用いて伝
送特性を解析し、評価すればコネクタ解析回路作成時に
信号端子とアース端子の区別をすることなく、すべての
端子のインピーダンスを考慮し、さらに、線路定数決定
のための関係式もしくは表を用いることで任意に端子数
を設定できるため、装置の規模を問わず、また、シリア
ル伝送から任意のパラレル伝送までの伝送特性解析がで
きる。したがって、装置を設計する段階で必要な伝送回
路の雑音余裕条件を精度良く決定できるという効果があ
る。
【0021】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、コネ
クタのアース端子と信号端子の位置を意識せず、また必
要な端子数規模に合わせて各端子の線路定数すべてを求
め、コネクタを含む伝送回路の伝送特性解析等を行うコ
ネクタの伝送特性解析方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態例を示すフローチャートで
ある。
【図2】本発明に係るコネクタを含む伝送特性評価のた
めの伝送回路測定系の一例を示す構成図である。
【図3】図2の測定点の実測波形である。
【図4】本発明に係るコネクタを信号伝送方向に平行な
断面で表したコネクタ構造例を示す構成図である。
【図5】本発明に係るコネクタを信号伝送方向に垂直な
断面で表した例の断面図である。
【図6】本発明に係る線路定数決定のための関係式もし
くは表の一例を示す特性図である。
【図7】本発明に係るコネクタの構造例を示す構成図で
ある。
【図8】本発明に係るコネクタ簡易回路例を示す構成図
である。
【図9】本発明に係る解析のための伝送回路例を示す構
成図である。
【図10】本発明に係るコネクタ伝送特性解析評価系の
一例を示す構成図である。
【図11】本発明に係る誘導雑音波形の解析結果の比較
例を示す特性図である。
【図12】本発明に係る誘導雑音量の実測結果と解析結
果の比較例を示す特性図である。
【符号の説明】
1:コネクタの構造寸法抽出工程 2:コネクタの垂直断面区分工程 3:線路定数解析と線路定数決定関係式及び表作成工程 4:伝送回路作成工程 5:伝送回路接続工程 6:コネクタ伝送特性解析回路出力工程 10:コネクタ構造入力情報 11:断面構造情報 12:コネクタ端子間距離情報 13:端子数情報 14:区分間長さ情報 15:区分伝送回路接続情報 20:コネクタ 21:プリント基板 22:配線(50Ω) 23:配線(50Ω) 24:信号線 25:誘導線 26:同軸ケーブル(50Ω) 27:終端器(50Ω) 28:出力抵抗(50Ω) 29:入力抵抗(50Ω) 30:パルスジェネレータ 31:オシロスコープ 32:測定点 40:ケーブルコネクタピン部 41:打ち込みピン部 43:リード部 44:半田付け部のPTH 45:プリント基板(バックプレーン) 46:プリント基板(パッケージ) 48:コネクタモールド部 56:伝送回路 60:コネクタ 61:バックプレーン 62:パッケージ 63:信号端子 64:アース端子 65:伝送線路 66:伝送線路 67:終端抵抗(50Ω) 68:出力抵抗(50Ω) 69:終端抵抗(50Ω) 70:開放状態相当の高抵抗 71:測定点 72:アース基板のモデル 84:測定結果 85:解析結果

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 信号伝送回路間の接続に用いるコネクタ
    を含む伝送特性の解析方法であって、 コネクタの構造寸法を抽出する工程1と、 コネクタを信号伝送方向に垂直な断面で区分し、コネク
    タ構造入力情報を作成する工程2と、 前記作成したコネクタ構造入力情報の断面構造情報を基
    に、区分ごとの電磁界解析を行い、導出した線路定数ま
    たは実測を行い導出をした線路定数を、コネクタ構造入
    力情報のコネクタ端子間距離情報を変数にしてまとめ、
    その結果を内挿、外挿し、相関を求めることにより、線
    路定数決定のための関係式もしくは表を作成する工程3
    と、 コネクタ構造入力情報のコネクタ端子間距離情報を、前
    記作成した関係式に入力し、区分ごとの線路定数を決定
    し、決定された線路定数と端子数情報および区分間長さ
    情報を基に、各区分ごとの伝送回路を作成する工程4
    と、 さらに区分された伝送回路の接続情報を使い、区分ごと
    の伝送回路を接続する工程5と、 コネクタの伝送特性を解析するための簡易回路を作成す
    る工程6とからなることを特徴とするコネクタ伝送特性
    解析方法。
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