JPH0927972A - フラット・パネル・ディスプレイおよびインタフェース・ハードウェアの評価方法およびシステム - Google Patents

フラット・パネル・ディスプレイおよびインタフェース・ハードウェアの評価方法およびシステム

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JPH0927972A
JPH0927972A JP7344390A JP34439095A JPH0927972A JP H0927972 A JPH0927972 A JP H0927972A JP 7344390 A JP7344390 A JP 7344390A JP 34439095 A JP34439095 A JP 34439095A JP H0927972 A JPH0927972 A JP H0927972A
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video
pattern
display device
display
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JP7344390A
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Joseph V Miseli
ジョセフ・ブイ・マイセリ
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Sun Microsystems Inc
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Sun Microsystems Inc
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    • G—PHYSICS
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    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 特に平面パネル状の表示装置の欠陥を正しく
判定できるようにする。 【解決手段】 テストパターンを動的に変更できるよう
にした。たとえば、図８Ａのパターンを生成して、その
パターンを同図Ｂのように動的に動かすことができるよ
うにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は表示装置のテスト・
システムに関する。詳細にいえば、本発明は動的に変更
可能なコンピュータ生成グラフィック・パターンによっ
て表示装置およびこれに関連した表示装置駆動回路をテ
ストし、評価するシステムおよび方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】この１０年の間、陰極線管（ＣＲＴ）表
示装置などの２次元の蛍光体がコーティングされたラス
タ・スキャン表示画面にグラフィック・テスト・パター
ン、すなわち特に選択されたコンピュータで生成したオ
ブジェクト（たとえば、垂直または水平のバー、静止し
た方形など）を生成するための各種の従来のシステムが
開発されてきた。ＣＲＴが異常ビデオ動作（たとえば、
幾何学ひずみ、照度の変動、およびピクセルの不安定
性）と定義される時間に関係したビデオ・アーティファ
クトが現れる「一時的な」表示装置であるから、従来の
これらのシステムは各種の静的な（すなわち、空間的に
固定された）グラフィック・テスト・パターンを生成
し、次いで、これらのテスト・パターンをＣＲＴに伝送
する。従来のこれらのシステムはある種のビデオ・アー
ティファクトを検出するのに有効なものではあるが、フ
ラット・パネル・ディスプレイ、たとえば、薄膜トラン
ジスタＬＣＤ（ＴＦＴ ＬＣＤ）およびスーパー・ネマ
ティックＬＣＤ（ＳＴＮ ＬＣＤ）などの液晶ディスプ
レイ（ＬＣＤ）をテストするのには有効なものではな
い。
【０００３】その主な理由は、従来のテスト・プロセス
が静的なテスト・パターンを利用しており、そのためテ
スト操作員がその主観的な観察あるいはテスト機器によ
る客観的な観察に基づいてそのテスト・パターンを動的
に変更できないことである。たとえば、フラット・パネ
ル・ディスプレイ装置に従来の変更不能なテスト・パタ
ーンによってはビデオ・アーティファクトがまったくな
いと思われても、これらのテスト・パターンに対して若
干の変更を行うと、従来のテスト・システムでは検出さ
れることがない多くのビデオ・アーティファクトを明ら
かにすることが判明している。
【０００４】フラット・パネル・ディスプレイのテスト
で明らかな他の欠点は、これらのディスプレイが所定の
ピクセル形状（ピクセルのサイズ、ピクセルの数、走査
線のサイズなど）およびピクセルを駆動する特定の態様
をサポートするように構成されていることである。フラ
ット・パネル・ディスプレイの構成が製造業者ごとに、
また１つの製造業者の製品ラインごとにかなり変化する
ものであるため、従来のテスト・パターン生成システム
のテスト・パターンを使用したこれらのフラット・パネ
ル・ディスプレイのテストは、きわめて信頼性に欠ける
ものであった。
【０００５】フラット・パネル・ディスプレイに対して
静的なテスト・パターンを使用することに関連するさら
に他の欠点は、テスト操作員に利用できるのが限定され
た数のグラフィック・テスト・パターンだけだというこ
とである。結果として、テスト操作には通常、潜在的な
エラーをさらに検討するために、ディスプレイのある領
域に対してテスト・パターンを局所化できない。これを
行うには、テスト操作員が新しいソフトウェア・プログ
ラムを作成する必要があるが、これはその位置が上述し
たようにディスプレイごとに異なるため、時間がかか
り、費用効果が悪いものである。
【０００６】従来のテスト・プロセスに関連した他の欠
点は、欠陥が検出され、修正されても、ある種の条件が
生じた場合に、欠陥が再発するという最悪の事態が依然
存在している可能性があることである。残念ながら、従
来のシステムでは最悪の事態を検出するためにテスト・
パターンを若干変更することができない。
【０００７】他の欠点はビデオ信号がオシロスコープな
どのテスト機器によって同期を取るのが困難な複雑な波
形であるため、表示装置駆動回路を分析するのが困難な
ことである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】それ故、表示装置、特
にフラット・パネル・ディスプレイおよびその駆動回路
のための、テスト操作員がビデオ・テスト・パターンを
動的に変更し、他の測定を主観的または客観的な観察に
基づいて行うことができるようにするシステムおよび方
法を開発することが望ましい。
【０００９】上記したところに照らして、テスト操作員
による主観的観察または光学または信号テスト装置によ
る結果に基づいて、テスト操作員が動的に変更すること
のできるビデオ・テスト・パターンによって画面の表
示、特にフラット・パネル画面の表示を高い信頼性でテ
ストし、評価するためのシステムおよび方法が必要とさ
れていることは明らかである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は表示装置の表示
のための動的に変更可能なテスト・パターンを生成する
ためのシステムに関する。このシステムはテスト・パタ
ーンを表示するための表示装置、動的に変更可能である
テスト・パターンを形成するデータ信号を生成するため
のコンピュータ、およびコンピュータと表示装置を結合
して、コンピュータがこれらのデータ信号を表示装置へ
伝送できるようにする通信回線を含んでいる。第２の代
替策はオシロスコープ、スペクトル・アナライザまたは
論理解析器などの信号解析装置を介してコンピュータに
よって生成された信号を監視するものであり、その場
合、表示装置を外してもよい。第３の代替策は電気光学
的表示装置の性能を検出する際に光テスト装置の自動解
析を可能とするものである。
【００１１】表示装置のテスト方法は次のステップから
なっている。第１のステップではテスト操作員がコマン
ドを入力して、表示装置に対する多数のテスト・パター
ンを生成するためのプログラムを実行する。多数のスイ
ッチをコマンドとともに実行時に入力して、任意選択の
操作を実行したり、デフォルト値（たとえば、表示画面
のピクセルの長さ）を変更できるようにすることが考え
られる。次に、コンピュータ・システムのホスト・プロ
セッサがシステム・メモリに記憶されている構成ファイ
ルを読み取って、表示装置に関する形状情報を取得す
る。
【００１２】初期化後に、コンピュータ・システムは
「グローバル」モードに入る。このモードにおいて、ホ
スト・プロセッサはテスト・パターンの各々に対するア
イコンのリストを生成する。次いで、テスト操作員はテ
スト・プロセスのタイプ、すなわち自動または手動テス
ト・プロセスを選択する。自動テスト・プロセスは、た
とえば、複数の表示装置を調べる生産環境において迅速
に観察するのに役立つ多数のテスト・パターンを生成す
る。この態様で作成されるパターンは特定の表示装置に
共通したビデオ・アーティファクトを示すように予め定
めることができる。手動テスト・プロセスはテスト操作
員が、たとえば、単一の装置の慎重な解析が行われる技
術環境などにおいて、表示装置の詳細な観察および解析
のために特定のテスト・パターンを個別に選択できるよ
うにする。テスト・パターンが手動操作で選択される
と、各パターンのローカル処理のために英数字キーボー
ドが再マップされ、コンピュータは「ローカル」モード
になる。ローカル・モードにおいて、テスト・パターン
のいくつかの一般的な特性（たとえば、サイズ、位置決
めなど）を、英数字キーボードの特定の所定のキーを押
すことによって動的に変更することができる。
【００１３】ビデオ・アーティファクトが検出された
り、テスト・パターンが疑わしいと思われた場合には、
テスト操作員が取ることのできる処置には２つのコース
があるが、これらのコースは排他的なものではない。第
１のコースはテスト・パターンのパラメータをさらに変
更して、境界条件の範囲を突き止めるためにビデオ・ア
ーティファクトの境界条件を定義することである。第２
のコースの処置は外部ファイルに書き込むことによって
パターンの状態を構成ファイルにグローバルに、あるい
はローカルに格納するか、またはパターンの状態を記憶
要素に格納して、同一の構成を有している他の装置の状
態を確認するのに使用するために、同一のパターンを後
で呼び出すことである。
【００１４】本発明の特徴および利点は本発明の以下の
詳細な説明から明らかとなろう。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下の詳細な説明は主として、動
的に変更可能なビデオ・テスト・パターンを生成し、表
示することによって、コンピュータ・システムの表示装
置、好ましくはフラット・パネル・ディスプレイをテス
トするためのシステムおよび方法が示されている。その
方法は総括的に、表示装置の物理的特性、ならびに表示
装置の駆動回路に関連した何らかのビデオ・アーティフ
ァクトが存在しているかどうかの判定にいたる一連のス
テップと考えられる。これらのステップは電気、電磁、
赤外線その他のタイプの信号の生成と伝送を必要とする
ことがあり、これらの信号はコンピュータ・システム内
で格納、転送、比較、組合せ、あるいは操作することが
できる。さらに、これらのステップは本発明の本質を当
分野の技術者に伝える最も有効な態様を表すものであ
る。
【００１６】さらに、以下の詳細な説明において、（ビ
デオ）テスト・パターンとは、表示装置（たとえば、Ｃ
ＲＴまたはフラット・パネル・ディスプレイ）で表示さ
れるコンピュータで生成されたオブジェクトまたはコン
ピュータで生成されたオブジェクトの集まりと定義され
る。さらに、システムが本発明を従来のテスト・プロセ
スと区別するため、これに関連した上記に列挙した欠点
をシステムが解決する方法を説明するためだけに、特定
のテスト・パターンを説明する。それ故、この例を本発
明の範囲を限定するものと解釈すべきではない。
【００１７】図１を参照すると、本発明を利用するコン
ピュータ・システム１００の実施例が示されている。コ
ンピュータ・システム１００は総括的に、メモリ・サブ
システム１０５、処理サブシステム１１０、ビデオ・サ
ブシステム１１５および入出力サブシステム１２０から
なっており、これらはすべてシステム・バス１３０によ
って結合されている。これらのサブシステムは通常、カ
リフォルニア州Ｍｏｕｎｔａｉｎ ＶｉｅｗのＳｕｎ
Ｍｉｃｒｏｓｙｓｔｅｍｓ， Ｉｎｃ．製のものを初め
とするほとんどの汎用コンピュータおよびワークステー
ションで用いられているものである。たとえば、Ｓｏｌ
ａｒｉｓTM５．３、ＵＮＩＸ(R) ４．１Ｘまたは任意の
ディレクトリ指向オペレーティング・システムで動作す
るＶｏｙａｇｅｒTMシステムである。
【００１８】メモリ・サブシステム１０５は情報の一時
および永続記憶域を形成するもので、たとえば、ダイナ
ミック・ランダム・アクセス・メモリ（ＤＲＡＭ）、読
取り専用メモリ（ＲＯＭ）、スタティック・ランダム・
アクセス・メモリ（ＳＲＡＭ）、ビデオ・ランダム・ア
クセス・メモリ（ＶＲＡＭ）などの任意のタイプのメモ
リでかまわない記憶要素１０６を含んでいる。記憶要素
１０６は処理サブシステム１１０によって実行可能なテ
スト・プログラムおよび、必要に応じてその他の情報を
格納するようになされている。処理サブシステム１１０
はホスト・プロセッサ１１１を含んでいるが、複数のホ
スト・プロセッサを用いることも考えられる。ホスト・
プロセッサ１１１は記憶要素１０６に格納されているテ
スト・プログラムの実行を初めとする各種の操作を実行
して、全体としてビデオ・テスト・パターンを形成する
多くのデータ信号を生成する。しかしながら、ホスト・
プロセッサ１１１が、記憶要素１０６の代わりに入出力
サブシステム１２０の大容量データ記憶装置１２５から
直接テスト・プログラムを実行することも考えられる。
【００１９】ビデオ・サブシステム１１５はシステム・
バス１３０に結合されたビデオ・コントローラ１１６を
含んでおり、ホスト・プロセッサ１１１で生成されたデ
ータ信号を入力として受け取り、フレーム・バッファ１
１７が利用する特定のフォーマットに変換する。ビデオ
・コントローラ１１６は次いで、これらの変換されたデ
ータ信号をフレーム・バッファ１１７に入力する。フレ
ーム・バッファ１１７は変換されたデータ信号を一貫し
たタイミング関係を有する対応するビデオ信号に変換し
て、単一方向データ表示バス１３６を介して結合されて
いる表示装置１３５を駆動する。オシロスコープ、スペ
クトル・アナライザ、論理解析器などの信号テスト装置
によって信号特性を解析する場合、同期が不適正であっ
たり、任意のビデオ・ピクセル・データを含んでいると
これらのビデオ信号の解析が本質的に困難となるため、
ビデオ信号が一貫したタイミングを発生するデータを含
んでいることが重要である。そうすれば、任意のデータ
を含んでいるビデオ・パターンを解析するよりも精密な
測定を行えるようになる。
【００２０】入出力サブシステム１２０はシステム・バ
ス１３０と入出力バス１２２の間のインタフェースとし
て作動する入出力コントローラ１２１を備えている。入
出力コントローラ１２１はコンピュータ・システム１０
０内に通信経路をもたらすので、入出力バス１２２に結
合された複数の周辺装置のうち少なくとも一つがメモり
・サブシステム１０５、処理サブシステム１１０および
ビデオ・サブシステム１１５との間で情報の授受を行え
るようになる。複数の周辺装置としては、情報およびコ
マンドをホスト・プロセッサ１１１に伝送するための英
数字入力装置（たとえば、英数字キーボードなど）、テ
スト・パターンの配置を変更するようホスト・プロセッ
サ１１１に指示するためのカーソル制御装置１２４（た
とえば、マウス、トラック・ボール、タッチ・パッドな
ど）、情報および命令を格納するための大容量データ記
憶装置１２５（たとえば、磁気テープ、ハード・ディス
ク装置、フロッピー・ディスク装置、など）、情報を具
体的に視覚的に表示するためのハード・コピー装置１２
６（たとえば、プロッタ、プリンタ、ファクシミリ装置
など）などがあるが、これらに限定されるものではな
い。図１に示すコンピュータ・システムがこれらの構成
要素のいくつかあるいはすべて、または図示のもの以外
の構成要素を用いることができると考えられる。
【００２１】表示装置のテストおよび評価は視覚的評
価、光学的評価、または信号評価によって達成すること
ができる。テスト操作員による視覚的評価は図１に開示
したようなコンピュータ・システム１００を必要とする
が、信号および光学的評価には、コンピュータ・システ
ムとは異なる付加的な外部測定装置が図２および図３に
示すように用いられることとなる。たとえば、光学的評
価の場合、外部光学テスト装置１２７（たとえば、比色
計、光検出器、分光放射計）を表示装置１３５の表示画
面に向け、領域ないしピクセルの照度、色度、シャドウ
イング、および光放射線の矢印とともに方向の矢印１３
１によって表すような表示装置１３５の光に関連するそ
の他の特性を測定することができる。光学テスト装置１
２７はこのような測定値を第１の通信リンク１３２を介
して入出力バス１２２へ転送する。これらの測定値を希
望に応じホスト・プロセッサ１１１でさらに読み取って
もかまわない。
【００２２】図３に示すような信号評価の場合、外部信
号テスト装置（たとえば、オシロスコープ、スペクトル
・アナライザ、論理解析器など）１２８をバス・ライン
１３３を介して単一方向データ表示バス１３６に結合し
て、ビデオ信号入力を受け取って、これらのビデオ信号
の特性を評価することができる。しかしながら、信号評
価の場合、表示装置１３５をコンピュータ・システム１
００との結合から解除し、フレーム・バッファ１１７が
生成したビデオ信号だけが信号テスト装置１２８に入力
されるようにすることも考えられる。
【００２３】図４を参照すると、ビデオ信号をフレーム
・バッファ１１７から単一方向データ表示バス１３６を
介して表示装置１３５の列および行表示装置ドライバ１
３７および１３８に入力させることもできる。表示装置
ドライバ１３７および１３８は、ビデオ信号をフォーマ
ット化して、表示画面１４０内の複数の行および列駆動
ライン１３９のうちのどれをアクティブにするかを確認
し、その結果、ピクセルを駆動する。さらに、ＴＦＴ
ＬＣＤなどのもっと複雑なピクセルアドレス指定構成も
ある。生じる可能性のあるビデオ・アーティファクトの
タイプの１つを「スミヤ効果」といい、この場合、表示
駆動ラインの１本１４１からの電流が隣接する表示駆動
ライン１４２に漏れ、これによって隣接する表示駆動ラ
イン１４２を駆動する。このスミヤ効果を検出できるの
は、駆動ライン１４１をアクティブにし、駆動ライン１
４２を不アクティブにしたときだけであることがある
が、この状態は静的なテスト・パターンが駆動ライン１
４１を特にアクティブにし、駆動ライン１４２を駆動し
ないというありそうもない態様でない限り、静的なテス
ト・パターンでは生じないものである。これは本システ
ムによって検出されるビデオ・アーティファクトの１例
にすぎない。
【００２４】図５および図６を参照すると、視覚的評価
が行われる本発明の作動の流れ図が示されている。ステ
ップ１００において、テスト操作員はコマンド（以下、
「Ｒｕｎ」コマンドと呼ぶ）を、通常は英数字キーボー
ドによってコンピュータ・システムに転送し、少なくと
も１つのテスト・パターンを生成するプログラムを実行
する。プログラムの初期化中に、通常は大容量記憶装置
に格納されている構成ファイルがホスト・プロセッサに
よって読み取られ、表示装置のいくつかの特性に関する
情報を取得する（ステップ１０５）。「構成」ファイル
は多数表示装置の特性を格納するためにＡＳＣＩＩフォ
ーマットのファイルとして定義されており、ホスト・プ
ロセッサが特定の表示装置に合わせて調整されたテスト
・パターンを生成できるようにし、またユーザによる編
集を容易とする。このような特性は表示画面の水平およ
び垂直の大きさ（ピクセル単位の）表示装置がサポート
している総色数、グレー・スケール・レベルおよびピク
セルに関する輝度レベル（仕様および公差を含む）を含
んでいる。さらに、ステップ１１０において、ホスト・
プロセッサは大容量規則装置に格納されている指定され
たテスト・パターン・ファイルを読み取って、テスト・
パターンに関連したデータ信号を生成する。テスト・パ
ターン・ファイルは特定の表示装置を評価し、解析する
際にもっとも有用なものとなるように予め決定されたデ
フォルト条件である。
【００２５】Ｒｕｎコマンドに加えて、多数のスイッチ
をＲｕｎコマンドと並行に伝送して、表示特性、格納場
所およびプログラムのその他の機能を修正することもで
きる（ステップ１１５）。これらのスイッチは特定の機
能を使用可能としたり、あるいはいくつかのパラメータ
（ディレクトリの宛先、特定の表示特性など）を修正す
る。少なくとも一つのスイッチが伝送されたことをホス
ト・プロセッサが検出すると、ホスト・プロセッサは通
常、そのスイッチを表すサブルーチンを実行して、その
機能または修正を実施し、実行の流れを継続する（ステ
ップ１２０）。たとえば、スイッチを使用して、ピクセ
ル単位での表示画面の水平および垂直幅などの表示特性
を変更し、実行時に表示装置に対してテスト・プログラ
ムを構成することが考えられる。他の例はスイッチを使
用して、選択したファイルを読み取ったり、書き込んだ
りすることである。実施される典型的なスイッチのリス
トの一部を、次の表Ａに示す。
【００２６】 表Ａ−実行時スイッチの典型的なインプリメンテーション スイッチ 機能 -d/dev/device 表示装置を選択する −Ｘ又は−ｘｄｄ 表示画面のＸ方向のピクセル数（幅）を選択する −Ｙ又は−ｙｄｄ 表示画面のＹ方向のピクセル数（幅）を選択する −Ｇｄｄ パターンに対するグレーの明度数を指定する −ｒ テスト・プロセスの終了時に特定のビデオ・パターンの 動的に書き込まれるファイルのセーブを抑制する -f/pathname/filename 選択した名前の初期化ファイルを読み取る -fw/pathname/filename テスト・プロセスの終了時に特定のファイルに書き込む -z/pathname/filename 表示装置固有の構成ファイルを読み取る −ｌｄｄ 自動テスト・プロセスで表示すべきテスト・パターンを 選択する −Ｌｄｄ 自動テスト・プロセスで表示すべき最後のテスト・パタ ーンを選択する
【００２７】初期化後、コンピュータ・システムはホス
ト・プロセッサがテスト操作員に利用できるオプション
のメイン・メニューを生成する「グローバル」モードと
なる（ステップ１２５）。このようなオプションの１つ
は実行するテスト・プロセスのタイプ、すなわち、自動
テスト・プロセスか手動テスト・プロセスかを選択する
ものである（ステップ１３５）。自動テスト・プロセス
を選択し、終了コマンドを開始しない場合（ステップ１
３０および１４０）、コンピュータ・システムは表示装
置に各種のオブジェクトを表示するための複数の選択し
たテスト・パターンを生成して、何らかの識別可能なビ
デオ・アーティファクトが存在しているかどうかをまず
特定する（ステップ１４５）。この自動テスト・プロセ
スは連続ループで作動するように構成することもできる
（ステップ１５５）。選択したテスト・パターンの完了
時に、コンピュータ・システムは他のテスト・パターン
の選択を待機する。通常は英数字キーボードの「Ｅｓ
ｃ」キーを押すことである「Ｅｘｉｔ」コマンドが、自
動テスト・プロセス中に伝送されると（ステップ１５
０）、テスト・パターンを生成するプログラムがグロー
バル・モードに戻り（ステップ１３０）、希望する場合
に、プログラムを終了することが可能となる。
【００２８】あるいは、テスト操作員が英数字キーボー
ドのカーソル制御キーや代表的なキーによって特定のテ
スト・パターンを選択して、表示装置のより完全なテス
トを行うことを可能とするためには、通常、手動テスト
・プロセスが選択される。手動テスト・プロセスを選択
した場合（ステップ１６０）、テスト操作員はコンピュ
ータ・システムが生成する特定のビデオ・テスト・パタ
ーンを選択する必要がある（ステップ１６５）。その
後、特定のビデオ・テスト・パターンのローカル処理を
行うために英数字キーボードを再マップすると（ステッ
プ１７０）、コンピュータ・システムは「ローカル」モ
ードとなり、特定のビデオ・テスト・パターンがビデオ
・アーティファクトに関して評価される（ステップ１７
５）。ローカル・モードにおいては、ビデオ・テスト・
パターンを動的に変更し、大きさや配置位置を変えた
り、さらには英数字キーボードの特定の所定キーを押し
たり、あるいはほぼリアルタイムに情報を転送する際の
何らかの他の手段によって終了したりすることができる
（ステップ１８０−１９５）。たとえば、矢印キーのあ
る英数字キーボードの場合、このようなキーを構成し
て、パターンをピクセルごとに上下左右に移動させるこ
ともできる。テスト・パターンのローカル制御のための
これらの英数字キーの典型的な構成を、説明のために、
表Ｂおよび表Ｃに示す。「ｄｄ」という用語はスイッチ
と組み合わせて入力される整数値であり、それ以外の場
合には、デフォルト値と解釈されるものである。
【００２９】 表Ｂ−典型的なパターン移動キーストローク キーストローク 機能 ”ｌ”，”ｃ”， テスト・パターンを１ピクセル上、下、左または右に ”ｕ”，”ｄ”， 移動する ”↓”，”↑”， ”←”，”→” ”Ｌ”，”Ｒ”， テスト・パターンを１０ピクセル上、下、左または右 ”Ｕ”，”Ｄ” に移動する ”１”（キーパッド） テスト・パターンを南西方向へ斜めに移動する ”３”（キーパッド） テスト・パターンを南東方向へ斜めに移動する ”７”（キーパッド） テスト・パターンを北西方向へ斜めに移動する ”９”（キーパッド） テスト・パターンを南東方向へ斜めに移動する ”０”（キーパッド） テスト・パターンを最後に移動した方向へ自動的に移 動する ”Ｄｅｌｅｔｅ” テスト・パターンの自動運動を停止する ”＋”（キーパッド） テスト・パターンの移動速度を速くする ”−”（キーパッド） テスト・パターンの移動速度を遅くする ”＊”（キーパッド） テスト・パターンをランダムな方向へ移動する ”ｇ（数値ｘ，数値ｙ）”テスト・パターンを表示画面の（ｘ，ｙ）座標位置に 表示する ”ｈ” テスト・パターンをホーム・ポジションへ戻す ”−” テスト・パターンを最後の位置へ戻す ”＋” テスト・パターンを次の位置に表示する
【００３０】 表Ｃ−典型的なインプリメンテーションのパターン・サイズ変更キーストローク キーストローク 機能 ”ｂ” テスト・パターンを１ピクセル大きくする ”Ｂ” テスト・パターンを１０ピクセル大きくする ”ｓ” テスト・パターンを１ピクセル小さくする ”Ｓ” テスト・パターンを１０ピクセル小さくする ”Ａ” テスト・パターンのアスペクト比（幅／高さ）を変更する ”Ｗ” テスト・パターンの幅と高さを変更する ”ｘ” テスト・パターンの「ｘ」軸の大きさを変更する ”ｙ” テスト・パターンの「ｙ」軸の大きさを変更する
【００３１】表示画面または関連する表示駆動回路で欠
陥が検出された場合には、テスト・パターンを構成ファ
イルにグローバルに格納して、ホスト・プロセッサにプ
ロンプトを出して構成ファイルを更新するか（ステップ
２００−２１０）、テスト・パターンを外部ファイルま
たはローカル記憶レジスタにローカルに格納する（ステ
ップ２１５）。ローカル記憶レジスタはいくつかのキー
（たとえば、機能キーまたは英数字キーボードの数字キ
ー）によってアドレスされる。いずれの場合でも、テス
ト・パターンは完了するか、早期終了され（ステップ２
２０−２５０）、これによってテスト操作員に対して他
のテスト・パターンを選択するようにとのプロンプトが
出されるまで継続する。
【００３２】自動テスト・プロセスも手動テスト・プロ
セスも選択されず、終了コマンドが検出されない場合に
は、評価プロセスはステップ１３０へ戻って、いずれの
プロセスを希望するのかを検出する（ステップ２２
５）。
【００３３】図７を参照すると、光学的評価または信号
評価を受ける本発明の作動の流れ図が示されている。光
学的評価または信号評価にしたがって行われる作動は、
上述の視覚的評価手順のステップ１００−１３０および
ステップ１６５−２２５を組み込んだものであるが、自
動テスト・プロセスの選択および操作に関連したステッ
プ（ステップ１３５−１６０）は組み込まれていない。
これらのステップが一般に必要とされないのは、光学的
評価または信号評価を安定したビデオ・パターンまたは
信号によって行わないからである。
【００３４】図８Ａを参照すると、本明細書ですでに述
べたように、本発明を説明するために、動的に変更可能
な特性を有するテスト・パターンが表示画面２００上の
操作で示されている。テスト・パターンは「ロケータ」
パターン２０５であり、移動可能で、大きさの変えられ
る正方形２１０からなっており、この正方形２１０はそ
の頂点２２０ａ−２２０ｄに係止されているようになっ
ている第１の複数のロケータ・ライン２１５ａ−２１５
ｄと、頂点２２０ａ−２２０ｄの間で同距離のの位置で
係止されている第２の複数のロケータ・ライン２２５ａ
−２２５ｄを有している。第１の複数のロケータ・ライ
ン２１５ａ−２１５ｄとは異なり、第２の複数のロケー
タ・ライン２２５ａ−２２５ｄは、正方形２１０の周囲
だけに係止されるようになっており、正方形２１０の調
節に応じて垂直および水平方向に調節される。ロケータ
・パターン２０５はさらに正方形２１０の原点にあるタ
ーゲット・ピクセル２３０を有しており、原点はターゲ
ット・ピクセル２３０と整合するオブジェクトの任意の
ピクセルまたは頂点の絶対位置（すなわち、ピクセル単
位の水平および垂直座標）を示す。
【００３５】たとえば、表示画面２００が長さと幅が通
常６４０×４８０ピクセルであるＶＧＡグラフィックス
・ディスプレイで、（４００，２８０）に「Ｐ」２３５
という照度が不適正なピクセルがあると想定する。従来
は、絶対ピクセル座標を使用せずに位置を推定しなけれ
ばならなかった。ロケータ・テスト・パターンの場合、
上記の操作を行って、システムが表示装置をＶＧＡディ
スプレイであると認識するようにした後、ターゲット・
ピクセル２３０を照度が不適正なピクセル２３５に合わ
せ、図８Ｂに示すように（４００，２８０）に照度欠陥
があることを示す。その後、照度が不適正なピクセルの
絶対位置および選択した正方形の大きさを、構成ファイ
ルにグローバルに格納したり、あるいは既存のファイル
に書き込むか、パターンの状態を記憶要素に格納するこ
とによってローカルに格納することができる。
【００３６】上述の各種の手順を遂行するための特定の
プログラミング言語は示されていない。これは一部は異
なるコンピュータ・システムには異なるコンピュータ言
語が適していることがあるためである。上述し、流れ図
で説明した手順が電子表示装置の技術分野の技術が本発
明を実施できるようにするのに十分なものであると考え
られる。本明細書に記載した本発明が多くの異なる方法
で、かつ多くの異なる構成を使用して設計できることは
明らかである。本発明を各種の実施例によって説明した
が、他の実施例が本発明の精神および範囲を逸脱するこ
となく当分野の技術者に想起できよう。本発明はしたが
って、首記の特許請求の範囲によって判断すべきもので
ある。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明で概略を述べるテスト手順を受ける表
示装置の視覚的評価のために使用されるコンピュータ・
システムのブロック図である。
【図２】 ビデオ・テスト・パターンの評価のために光
学テスト装置を用いているコンピュータ・システムのブ
ロック図である。
【図３】 特定のビデオ・パターンを表示するためにコ
ンピュータ・システムによって生成されるビデオ波形の
ビデオ・テスト・パターンの評価のために信号テスト装
置を用いているコンピュータ・システムのブロック図で
ある。
【図４】 表示装置の表示画面にビデオ・テスト・パタ
ーンを生成せずに表示装置の駆動回路をテストするため
のシステムの斜視図である。
【図５】 視覚的評価に依存しているシステムに使用さ
れる動的に変更可能なテスト・プログラムの操作ステッ
プの概要を示す流れ図である。
【図６】 視覚的評価に依存しているシステムに使用さ
れる動的に変更可能なテスト・プログラムの操作ステッ
プの概要を示す流れ図である。
【図７】 ほとんどの光学的および信号評価システムで
使用される動的に変更可能なテスト・パターンの操作ス
テップの概要を示す流れ図である。
【図８】 表示装置の特定の照度欠陥のあるビデオ・ア
ーティファクトのテストのためにプログラムによって生
成された特定のテスト・パターンの平面図（Ａ）と欠陥
のある画面ピクセルの位置を取得するために動的に変更
された特定のテスト・パターンの図である（Ｂ）。
【符号の説明】
１００ コンピュータ・システム １０５ メモリ・サブシステム １０６ 記憶要素 １１０ 処理サブシステム １１１ ホスト・プロセッサ １１５ ビデオ・サブシステム １１６ ビデオ・コントローラ １１７ フレーム・バッファ １２０ 入出力サブシステム １２１ 入出力コントローラ １２２ 入出力バス １２５ 大容量データ記憶装置 １２６ ハード・コピー装置 １２７ 外部光学テスト装置 １２８ 外部信号テスト装置 １３０ システム・バス １３２ 入出力バス １３３ バス・ライン １３５ 表示装置 １３６ 単一方向データ表示バス １３７ 列表示装置 １３８ 行表示装置 １３９ 行および列駆動ライン １４０ 表示画面 １４１、１４２ 表示駆動ライン

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 プロセッサ、記憶要素、ビデオ記憶およ
    び変換要素、ならびに入力装置を備えるコンピュータ・
    システムで用いられる表示装置および表示駆動回路のビ
    デオ・アーティファクトを評価し、検出する方法におい
    て、 複数のテスト・パターンを生成することのできるテスト
    ・プログラムを記憶要素内に格納するステップと、 プロセッサによって前記テスト・プログラムを実行し
    て、少なくとも複数個のデータ信号を生成するステップ
    と、 前記の複数のデータ信号をビデオ記憶および変換要素に
    よって、前記の複数のテスト・パターンの特定のテスト
    ・パターンであって、入力装置によってプロセッサに転
    送された情報に基づいて動的に変更可能なテスト・パタ
    ーンを全体として形成する対応するビデオ信号に変換
    し、かつその複数のビデオ信号を表示駆動回路を通して
    表示装置に転送するステップと、 手動テスト・プロセスを含んでいるテスト・プロセスを
    選択するステップとからなっており、前記手動テスト・
    プロセスが表示装置を評価するために前記の特定のテス
    ト・パターンを選択するステップと、 前記の特定のテスト・パターンを評価して、ビデオ・ア
    ーティファクトが表示装置および表示駆動回路に関連し
    ているかどうかを判定するステップとを含んでいる前記
    方法。
  2. 【請求項２】 プロセッサ、記憶要素、ビデオ記憶およ
    び変換要素、ならびに入力装置を備えるコンピュータ・
    システムで用いられる表示装置および表示駆動回路のビ
    デオ・アーティファクトを測定装置によって評価し、検
    出するための方法において、 複数のテスト・パターンを生成することのできるテスト
    ・プログラムを記憶要素に格納するステップと、 プロセッサによって前記テスト・プログラムを実行し
    て、少なくとも複数個のデータ信号を生成するステップ
    と、 前記の複数のデータ信号をビデオ記憶および変換要素に
    よって、前記の複数のテスト・パターンの特定のテスト
    ・パターンを全体として形成する対応するビデオ信号に
    変換し、かつその複数のビデオ信号を表示駆動回路を通
    して表示装置に転送するステップと、 前記テスト・プログラムをプロセッサによって実行し
    て、入力装置によってプロセッサに転送された情報に基
    づいて動的に変更可能な前記の特定のテスト・パターン
    を全体として形成する少なくとも複数のビデオ信号を生
    成し、かつその複数のビデオ信号を表示駆動回路を通し
    て表示装置に転送するステップと、 測定装置による測定値に基づいて表示装置および表示駆
    動回路の特性を評価するステップとを備えている前記方
    法。
  3. 【請求項３】 表示装置と表示駆動回路のビデオ・アー
    ティファクトを評価し、検出するシステムにおいて、 少なくともテスト・プログラムの一時記憶域および永続
    記憶域を行うメモリ・サブシステムと、 前記メモリ・サブシステムに格納されている前記テスト
    ・プログラムを実行して、複数のデータ信号を生成する
    プロセッサ・サブシステムと、 前記プロセッサ・サブシステムによって生成された前記
    複数のデータ信号を、全体としてビデオ・テスト・パタ
    ーンを形成する対応するビデオ信号に変換し、ビデオ・
    サブシステムに結合されている表示装置を駆動するビデ
    オ・サブシステムと、 入出力サブシステムから前記プロセッサ・サブシステム
    に転送された情報に基づいて、前記ビデオ・テスト・パ
    ターンを動的に変更させる入出力サブシステムと、 前記メモリ・サブシステム、前記プロセッサ・サブシス
    テム、前記ビデオ・サブシステムおよび前記入出力サブ
    システムを結合するためのバスとを備えている前記シス
    テム。
JP7344390A 1994-12-06 1995-12-06 フラット・パネル・ディスプレイおよびインタフェース・ハードウェアの評価方法およびシステム Withdrawn JPH0927972A (ja)

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