JPH0927895A - 画像合成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 予めマークなどを原稿に付与することなく、
分割して読み取られた画像を合成する画像合成装置を提
供すること。 【課題解決手段】 一致判定に用いる参照領域の位置を
指示する第１アドレス発生回路１と、参照領域と対照さ
れる対照領域の位置を指示する第２アドレス発生回路２
と、２つの分割読み取りされた画像を記憶する第１画像
メモリー３と第２画像メモリー４と、参照領域がパター
ンマッチングに適する画像かどうかを判定するチェック
回路５と、２つの分割画像の一致する位置を探す一致判
定回路６と、２つの分割画像を１つの画像に合成する合
成回路７と、合成画像を記憶する第３画像メモリー８と
を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画像合成装置、特
に複数の画像の重複する部分を照合することにより、複
数の画像間のずれ量を検出して１つの画像に合成する画
像合成装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、イメージスキャナーとプリンター
とで構成されたデジタル複写機が実用化され、アナログ
複写機では実現できない機能として、イメージスキャナ
ーの読みとり範囲よりも大きな原稿を２回に分けて読み
とった後合成して１つの画像として出力する機能が提案
されている。（例えば、特開平５ー１２２５０１号公報
参照） 以下に、従来の画像合成装置について説明する。

【０００３】図６は、従来の画像合成装置の構成を示す
ブロック図である。図６において、４１は第１の画像を
記憶する第１画像メモリー、４２は第２の画像を記憶す
る第２画像メモリー、４３は第１の画像と第２の画像と
の合成位置をパターンマッチング方式で検出する一致判
定回路、４４は第１画像メモリー４１に記憶された第１
の画像と第２画像メモリー４２に記憶された第２の画像
とを一致判定回路４３で指定された合成位置で合成する
合成回路、４５は合成した画像を記憶する合成画像メモ
リーである。また、図７は図６で示される従来の画像合
成装置で処理される原稿画像、分割画像、合成画像それ
ぞれの具体例を示す図である。図７において４６は原稿
画像、４７、４８はそれぞれ分割画像、４９は合成画
像、５０は共通領域を指示するマークである。

【０００４】以上のように構成された図６の画像合成装
置について、以下にその動作を図７を参照して説明す
る。

【０００５】まず、図示していない画像入力装置で２回
に分けて原稿４６を共通領域が存在する様に読み取り、
２つの分割画像４７、４８をそれぞれ第１画像メモリー
４１と第２画像メモリー４２とに記憶させる。一致判定
回路４３はパターンマッチングによって、第１画像メモ
リー４１と第２画像メモリー４２とにそれぞれ記憶され
た２つの分割画像４７、４８からマーク５０で指示され
た共通領域が一致する位置を検出する。次に、合成回路
４４は一致判定回路４３で検出された一致する位置で２
つの画像を合成して１つの合成画像４９とし、合成画像
メモリー４５に記憶させる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の構成では、一致判定に用いる領域をマーク
によって切り出すために原稿にマークを記入しなければ
ならず、原稿を汚してしまうという課題と、パターンマ
ッチングでは一様な画素データで構成された領域や同じ
パターンの繰り返しで構成される領域を一致判定に用い
た場合では一致する位置を正しく検出できないので、マ
ークで囲まれる領域には必ずパターンマッチングに適す
る画像が存在するようにオペレーターが適切な位置を選
んでマークを記入しなければならないという課題があ
る。

【０００７】本発明は、従来の画像合成装置のこのよう
な課題を考慮し、分割読み取りされた画像をパターンマ
ッチングに適する画像を含む領域にマークを付与する必
要がなく、一致判定に用いる領域を自動的に設定するこ
とのできる画像合成装置を提供することを目的とするも
のである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、互いに重複す
る部分を有する画像を記憶する第１、第２の記憶手段
と、第１、第２の記憶手段に記憶された第１の画像と第
２の画像を照合する際に基準となる第１の画像中の参照
領域が照合に適するかを評価する評価手段と、評価手段
で照合に適すると評価された参照領域の位置を指定する
参照領域指定手段と、参照領域と照合を行なう第２の画
像中の対照領域の位置を指定する対照領域指定手段と、
参照領域指定手段で指定された参照領域と対照領域指定
手段で設定された対照領域とを照合して第１の画像と第
２の画像のずれ量を検出するずれ量検出手段と、ずれ量
検出手段で得たずれ量に基づいて第１の画像と第２の画
像とを合成して１つの画像とする合成手段とを有する画
像合成装置で構成して前記課題を解決している。

【０００９】本発明は、第１、第２の記憶手段が互いに
重複する部分を有する画像を記憶し、評価手段が第１、
第２の記憶手段に記憶された第１の画像と第２の画像を
照合する際に基準となる第１の画像中の参照領域が照合
に適するかを評価し、参照領域指定手段が評価手段で照
合に適すると評価された参照領域の位置を指定し、対照
領域指定手段は参照領域と照合を行なう第２の画像中の
対照領域の位置を指定し、ずれ量検出手段が参照領域と
対照領域とを照合して第１の画像と第２の画像のずれ量
を検出し、合成手段がずれ量検出手段で得たずれ量に基
づいて第１の画像と第２の記憶手段に記憶された画像と
を合成して１つの画像とする。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下に、本発明をその実施例を示
す図面に基づいて説明する。

【００１１】図１は、本発明の第１の実施例に係る画像
合成装置の構成を示すブロック図である。図１におい
て、１は参照領域の位置を指示する第１アドレス発生回
路（請求項に言う参照領域指定手段）、２は対照領域の
位置を指示する第２アドレス発生回路（請求項に言う対
照領域指定手段）、３は第１の分割画像を記憶する第１
画像メモリー、４は第２の分割画像を記憶する第２画像
メモリー、５は参照領域中の画素データの最大値と最小
値とを求めその差が予め決められた閾値より大きいかを
判定するチェック回路（請求項に言う評価手段）、６は
パターンマッチングによって一致する位置を検索する一
致判定回路（請求項に言うずれ量検出手段）、７は第１
画像メモリー３と第２画像メモリー４とにそれぞれ記憶
されている２つの分割画像を一致判定回路６で検索され
た一致する位置で合成して１つの合成画像とする合成回
路、８は合成された画像を記憶する合成画像メモリー
（第３画像メモリー）である。

【００１２】ここで、チェック回路５の構成について図
２を参照して説明する。

【００１３】図２において、２１は画素データの最大値
を記憶する最大値レジスター、２２は入力された画素デ
ータと最大値レジスター２１に記憶された最大値とを比
較する最大値比較回路、２４は画素データの最小値を記
憶する最小値レジスター、２３は入力された画素データ
と最小値レジスター２４に記憶された最小値とを比較す
る最小値比較回路、２５は最大値レジスター２１に記憶
された最大値と最小値レジスター２４に記憶された最小
値との差を求める減算回路、２６は減算回路２５で求め
た差を評価するための閾値を記憶する閾値レジスター、
２７は減算回路２５で求めた差と閾値レジスター２６に
記憶された閾値とを比較する閾値比較回路である。

【００１４】上記構成の本発明の画像合成装置において
は、第１画像メモリー３に第１分割画像を記憶させ、第
２画像メモリー４に第２の分割画像を記憶させ、チェッ
ク回路５で前記両画像メモリー３，４にそれぞれ記憶さ
れている第１の分割画像と第２の分割画像とを照合する
際に、第１の分割画像の中の参照領域が照合に適するか
を評価させ、チェック回路５で照合に適すると評価され
た参照領域の位置を第１アドレス発生回路１で指定し、
また、この参照領域と照合を行う第２の分割画像の中の
対照領域を第２アドレス発生回路２で指定し、一致判定
回路６においては第１のアドレス発生回路１で指定され
た参照領域と、第２アドレス発生回路２で指定された対
照領域とを照合し、前記両分割画像のずれ量を検出し、
合成回路７ではこのずれ量に基づいて前記両分割画像を
照合して１つの画像に合成するのである。 次に、図１
および図２で構成される上記第１の実施例の画像合成装
置の動作について図３を参照しながら説明する。

【００１５】まず、図示していない画像読み取り部で原
稿の一部を読み取ったうえで、その読み取った原稿の一
部の画像を第１画像メモリー３に対して図３の左側で示
される第１分割画像１１として記憶させる。ここで、１
３は第１分割画像１１における共通領域とされる。ま
た、同様に第１分割画像１１の共通領域１３と共通する
共通領域１４があるように原稿の他の一部を読み取った
うえで、図３の右側で示されるこの読み取った原稿の他
の一部の画像を第２分割画像１２として第２画像メモリ
ー４に記憶させる。

【００１６】次に、図３で示すように、第１アドレス発
生回路１に対してパターンマッチングに用いるため第１
分割画像１１における共通領域内１３内にある参照領域
１５の初期位置を共通領域１３内の基準座標として設定
する。第１アドレス発生回路１は基準座標を１つの頂点
とする矩形領域である参照領域１５に含まれる各画素に
対応する第１画像メモリー３内のアドレスを順次発生し
て第１画像メモリー３から各画素のデータを読み出し、
チェック回路５に出力する。ここにいう画素データとは
画素単位に量子化された画像データのことである。

【００１７】チェック回路５は、順次入力される画素デ
ータと、最大値レジスター２１に記憶されているその時
点までの参照領域１５に含まれる画素の最も濃い量子化
された値である最大値とを、また順次入力される画素デ
ータと最小値レジスター２４に記憶されているその時点
までの参照領域１５に含まれる画素の最も薄い量子化さ
れた値である最小値とを、チェック回路５に入力された
画素データの中の最も濃い画素及び最も薄い画素の値を
得るために、最大値比較回路２２及び最小値比較回路２
３でそれぞれ比較する。

【００１８】この比較の結果、チェック回路５は、それ
ぞれ入力された画素データが（１）最大値よりも大きい
場合はその最大値よりも大きい画素データを最大値レジ
スター２１に最大値として更新して記憶させ、あるいは
（２）最小値よりも小さい場合はその最小値よりも小さ
い画素データを最小値レジスター２４に最小値として更
新して記憶させる一方、（３）その他の場合は、最大値
レジスター２１のそれまでの最大値、最小値レジスター
２４のそれまでの最小値を更新することなく維持する。

【００１９】チェック回路５においては、さらに参照領
域１５に含まれる全ての画素データについて上述した最
大値、最小値の比較が終了した後、減算回路２５におい
て最大値レジスター２１に記憶されている参照領域１５
に含まれる画素データの最大値と、最小値レジスター２
４に記憶されている参照領域１５に含まれる画素データ
の最小値との差を計算して、参照領域１５に含まれる画
素の最も濃い画素と最も薄い画素との画素データの差を
求める。次に、閾値比較回路２７が閾値レジスター２６
に記憶されているあらかじめ定められている閾値と減算
回路２５で求めた最大値と最小値との差とを比較し、閾
値より最大値と最小値との差が小さい場合は、参照領域
１５が画素データの差が小さい即ち濃淡の差が小さく画
像の濃淡パターンで２つの画像の一致不一致を判定する
パターンマッチングには適さない領域であると判断して
第１アドレス発生回路１の基準座標を移動させ、上記チ
ェック回路５の処理を繰り返す。ここで、減算回路２５
で最大値と最小値との差を計算するのは、パターンマッ
チングでは２つの画像が一致するか否かを濃淡パターン
が一致するか否かで判定するため、パターンマッチング
に用いる領域は、ある程度の濃淡がある領域である必要
があるので参照領域１５に含まれる画素データの最大値
と最小値との差を求めることにより、参照領域１５の濃
淡の差を求めるのである。また、上記閾値とはパターン
マッチングに用いることができる程度の濃淡があるかを
判定するための基準とする値であり、システム設計時に
パターンマッチングの精度を考慮してこの値より最大値
と最小値との差が小さいとパターンマッチングに適さな
いと判断すると決められた値のことである。また、閾値
と、最大値と最小値との差とを比較するのは、参照領域
１５の濃淡の差があらかじめ決められた閾値より大きい
かを判断するためである。さらに、上記閾値より最大値
と最小値との差が小さいとパターンマッチングに適さな
いのは、パターンマッチングでは２つの画像が一致する
か否かを濃淡パターンが一致するか否かで判定するた
め、パターンマッチングに用いる領域は、ある程度の濃
淡がある領域であることが必要なためである。

【００２０】前記閾値よりも最大値と最小値との差が大
きい場合には、第２アドレス発生回路２に参照領域１５
の基準座標を与えることにより、第２アドレス発生回路
２はパターンマッチングに用いる対照領域１６として、
共通領域１３における参照領域１５に対応する共通領域
１４内の領域を中心とする参照領域１５より広い領域に
含まれる各画素に対応する第２画像メモリー４内のアド
レスを順次発生して第２画像メモリー４から各画素のデ
ータを読み出す。次に一致判定回路６では対照領域１６
の中の参照領域１５と同じ大きさの部分領域を切り出し
て、参照領域１５に含まれる各画素について部分領域の
対応する画素の画素データとの差の総和を求める計算を
対照領域１６内で設定することのできる全ての部分領域
について行い、差の総和が最小であった部分領域の位置
を参照領域１５に一致する位置とし、求めた一致する位
置と対照領域１６の中心に設定された領域の位置とのず
れ量を算出する。最後に合成回路７でずれ量に応じて第
２分割画像１２をずらしながら、第１分割画像１１と第
２分割画像１２とを合成し、合成画像を第３画像メモリ
ー８に記憶させる。

【００２１】なお、第２アドレス発生回路２に参照領域
１５の基準座標を与えることによりパターンマッチング
が可能な理由は、参照領域１５の基準座標から一致判定
回路６で一致判定に利用する領域を限定し、対照領域１
６をパターンマッチングにおいて参照領域１５に一致す
る領域を探索する対照となる領域とするからである。ま
た、参照領域１５の基準座標を与えてパターンマッチン
グに用いる対照領域１６の基準座標を設定するのは、参
照領域１５の基準座標を与えることにより、第２アドレ
ス発生回路２はパターンマッチングに用いる対照領域１
６として、共通領域１３における参照領域１５に対応す
る共通領域１４内の領域を中心とする参照領域１５より
広い領域に含まれる各画素に対応する第２画像メモリー
４内のアドレスを順次発生して第２画像メモリー４から
各画素のデータを読み出すためである。

【００２２】ここで、パターンマッチングについて説明
する。対照領域１６の中の参照領域１５と同じ大きさの
部分領域を切り出して、参照領域１５に含まれる各画素
について部分領域の対応する画素の画素データとの差の
総和を求める計算を対照領域１６内で設定することので
きる全ての部分領域について行い、差の総和が最小であ
った部分領域の位置を参照領域１５に一致する位置とす
る。これを数式であらわすと、参照領域１５を１辺の画
素数がｍの正方形で参照領域１５に含まれる各画素の画
素データをＸとし、対照領域１６を１辺の画素数がｎの
正方形で、対照領域１６に含まれる各画素の画素データ
をＹとしたとき、まず、０≦ｋ＜ｎーｍ，０≦ｌ＜ｎー
ｍであるｋ，ｌに対して

【００２３】

【数１】

【００２４】を求め、Ｓｋ，ｌが最小となるｋとｌとを
求め、Ｋ，Ｌとする。（Ｋ，Ｌ）と（Ｋ＋ｍ，Ｌ＋ｍ）
とを対角とする領域が参照領域１５と一致する領域とな
る。

【００２５】以上のように本実施例によれば、第１アド
レス発生回路１と、第２アドレス発生路２と、第１画像
メモリー３と、第２画像メモリー４と、チェック回路５
と、一致判定路６と、合成回路７と、第３画像メモリー
８とを設け、第１アドレス発生回路１で指定された参照
領域１５がパターンマッチングに適する領域かを判定す
るチェック回路５でパターンマッチングに適すると判定
された参照領域１５と対照領域１６とを用いて一致判定
回路６でパターンマッチングによって一致する位置を検
出し、合成回路７で１つの画像に合成して第３画像メモ
リー８に記憶させることによって、参照領域１５がパタ
ーンマッチングに適する領域であるように原稿にマーク
をつけるなどオペレーターが指示しなくても共通領域１
３からパターンマッチングに適する領域を自動的に検出
して参照領域１５とし、対照領域１６とパターンマッチ
ングを行なって画像を合成することができる。

【００２６】本実施例のチェック回路５は参照領域１５
に含まれる画素データの最大値と最小値との差で評価し
ているので、参照領域１５が一様に白や黒など同じ色で
構成されていたり、画素データの変動が小さく特徴がな
い領域である場合は、パターンマッチングに適さない領
域であると判定することができる。

【００２７】なお、上述の合成について具体的に説明す
ると、第３画像メモリーである合成画像メモリー８に第
１分割画像１１を記憶させ、次に一致判定回路６で算出
した一致する領域と対照領域１６の中心に設定された領
域とのずれ量に応じて第２分割画像１２を平行移動し、
参照領域１５と、参照領域１５と一致する対照領域１６
中の領域とが重なるように合成画像メモリー８に記憶さ
せることで合成されることになる。

【００２８】図４は本発明の第２の実施例に係るチェッ
ク回路のブロック図である。図４において、３１は画素
データを行方向あるいは列方向に１行あるいは１列分加
算する１行加算回路、２１は１行加算回路３１で計算さ
れた値の最大値を記憶する最大値レジスター、２２は最
大値レジスター２１に記憶されている最大値と１行加算
回路３１で計算された値とを比較する最大値比較回路、
２４は１行加算回路３１で計算された値の最小値を記憶
する最小値レジスター、２３は最小値レジスター２４に
記憶された最小値と１行加算回路３１で計算された値と
を比較する最小値比較回路、２５は最大値レジスター２
１に記憶された最大値と最小値レジスター２４に記憶さ
れた最小値との差を求める減算回路、２６は減算回路２
５で求めた差を評価するための閾値を記憶する閾値レジ
スター、２７は減算回路２５で求めた差と閾値レジスタ
ー２６に記憶された閾値とを比較する閾値比較回路、３
２と３３は行方向および列方向について閾値比較回路２
６で比較した結果を記憶する行方向比較結果記憶回路と
列方向比較結果記憶回路、３４は行方向比較結果記憶回
路３２と列方向比較結果記憶回路３３が記憶している比
較結果がいずれも最大値と最小値の差が閾値より大きい
かを判定する比較結果判定回路である。

【００２９】本実施例においてはチェック回路以外は第
１の実施例で用いた図１と同じである。

【００３０】次に、上記第２の実施例のチェック回路の
動作について、図１、図３、図４、図５を参照しながら
説明する。

【００３１】本実施例はチェック回路以外の部分は第１
の実施例と同じであるので、第１の実施例の図を参照す
るが、説明は省略する。本実施例のチェック回路ではま
ず、参照領域１５の画素データに対して各行毎に１行加
算回路３１で和を求め、１行加算回路３１で求めた和を
最大値比較回路２２および最小値比較回路２３で最大値
レジスター２１及び最小値レジスター２４に記憶されて
いる最大値及び最小値と比較し、和が最大値より大きい
場合は最大値レジスター２１に和を記憶させ、和が最小
値より小さい場合は最小値レジスター２４に和を記憶さ
せる。

【００３２】ここまでの処理を参照領域１５の全ての行
について繰り返した後、最大値レジスター２１に記憶さ
れている最大値と最小値レジスター２４に記憶されてい
る最小値との差を減算回路２５で求める。こうして減算
回路２５で求めた最大値と最小値との差を閾値比較回路
２７で閾値レジスター２６に記憶されている閾値と比較
し、比較結果を行方向比較結果記憶回路３２に記憶させ
る。

【００３３】次に、参照領域１５の列方向についても上
記の処理を行ない、比較結果を列方向比較結果記憶回路
３３に記憶させ、行方向比較結果記憶回路３２と列方向
比較結果記憶回路３３に記憶されている比較結果のどち
らかが最大値と最小値の差が閾値より小さい場合には参
照領域１５がパターンマッチングに適さない領域である
と判断して第１アドレス発生回路１の基準座標を移動さ
せ、上記チェック回路５の処理を繰り返す。

【００３４】行方向比較結果記憶回路３２と列方向比較
結果記憶回路３３とのそれぞれに記憶されている比較結
果が共に閾値よりも最大値と最小値の差の方が大きい場
合には第２アドレス発生回路２に参照領域１５の基準座
標を与えることにより、対照領域１６の基準座標を設定
し、一致判定回路６で対照領域１６中から参照領域１５
に一致する位置をパターンマッチングで求める。この後
の動作は第１の実施例と同じである。

【００３５】以上のように、参照領域１５の各行毎、各
列毎にそれぞれ画素データの和を求め、それぞれの最大
値と最小値との差が閾値と比較して大きい場合にはパタ
ーンマッチングに適した領域であると判定することによ
り、参照領域１５が一様に白や黒の画素で構成されてい
たり、画素データの変動が少ない特徴のない場合だけで
なく、周期的パターンで構成されている場合もパターン
マッチングに適さない領域として排除することができ
る。

【００３６】図５は参照領域１５の大きさを行方向列方
向それぞれ４画素とした時の例で白を０、黒を２５５と
した２５６階調の多値画像を示している。図５（ａ）
は、パターンが周期的であるので、パターンマッチング
を行なった場合一致する位置を左右方向あるいは上下方
向に誤る可能性があるが、本実施例のチェック回路５を
用いると列方向及び行方向とも画素データの和は５１２
で最大値と最小値の差は０となり、パターンマッチング
に適さない領域であると判定される。また、図５（ｂ）
は、横方向に周期的なパターンであるので、一致する位
置を誤る可能性があるが、チェック回路５を用いると、
画素データの行方向の和は最大値が１０２０、最小値が
０である一方、画素データの列方向の和が２５５で最大
値と最小値の差が０となるためパターンマッチングに適
さない領域であると判定できる。図５（ａ）、（ｂ）共
に第１の実施例のチェック回路では画素データの最大値
は１９２および２５５、最小値は６４および０であるの
で、いずれの場合もパターンマッチングに適さないとは
判定されないパターンである。

【００３７】

【発明の効果】以上述べたところから明らかなように本
発明は、第１の画像と第２の画像を照合する際に基準と
なる第１の画像中の参照領域が照合に適するかを評価す
る評価手段と、評価手段で照合に適すると評価された参
照領域の位置を指定する参照領域指定手段とを備えてい
るので、一致判定に用いる参照領域を一致判定に適する
位置に自動的に設定することができ、確実にずれ量の検
出を行なって複数の画像を合成することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかる第１の実施例の画像合成装置の
ブロック図である。

【図２】同第１の実施例におけるチェック回路のブロッ
ク図である。

【図３】同第１の実施例における動作説明のための処理
画像の概略を示す図である。

【図４】本発明にかかる第２の実施例のチェック回路の
ブロック図である。

【図５】同第２の実施例における動作説明のための参照
領域の概略を示す図である。

【図６】従来の画像合成装置のブロック図である。

【図７】従来の画像合成装置での動作説明のための処理
画像の概略を示す図である。

【符合の説明】

１ 第１アドレス発生回路 ２ 第２アドレス発生回路 ３ 第１画像メモリー ４ 第２画像メモリー ５ チェック回路 ６ 一致判定回路 ７ 合成回路 ８ 第３画像メモリー ２６ 閾値レジスター ２７ 閾値比較回路 ３１ １行加算回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 互いに重複する部分を有する画像を記憶
   する第１、第２の記憶手段と、前記両記憶手段にそれぞ
   れ記憶された第１の画像と第２の画像とを照合する際に
   基準となる前記第１の画像中の参照領域が照合に適する
   かを評価する評価手段と、前記評価手段で照合に適する
   と評価された参照領域の位置を指定する参照領域指定手
   段と、前記参照領域と照合を行なう第２の画像中の対照
   領域の位置を指定する対照領域指定手段と、前記参照領
   域指定手段で指定された参照領域と前記対照領域指定手
   段で設定された対照領域とを照合して前記第１の画像と
   前記第２の画像のずれ量を検出するずれ量検出手段と、
   前記ずれ量検出手段で得た前記ずれ量に基づいて前記第
   １の画像と前記第２の画像とを合成して１つの画像とす
   る合成手段とを具備したことを特徴とする画像合成装
   置。
2. 【請求項２】 前記評価手段が、参照領域に含まれる画
   素データの最大値と最小値との差で評価することを特徴
   とする請求項１記載の画像合成装置。
3. 【請求項３】 前記評価手段が２次元配列に記憶された
   参照領域の画素データに対して、各行及び列毎に画素デ
   ータの和を計算する加算手段と、前記加算手段で計算さ
   れた画素データの和の最大値と最小値とを行及び列それ
   ぞれに求める最大値最小値検出手段と、最大値と最小値
   の差とあらかじめ設定された閾値との比較を行及び列そ
   れぞれに行なう比較手段とを有することを特徴とする請
   求項１記載の画像合成装置。