JPH09260842A - Multilayerd printed wiring board manufacturing method - Google Patents

Multilayerd printed wiring board manufacturing method

Info

Publication number
JPH09260842A
JPH09260842A JP7069996A JP7069996A JPH09260842A JP H09260842 A JPH09260842 A JP H09260842A JP 7069996 A JP7069996 A JP 7069996A JP 7069996 A JP7069996 A JP 7069996A JP H09260842 A JPH09260842 A JP H09260842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermosetting resin
resin layer
layer
plating
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7069996A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuhiko Ito
克彦 伊藤
Masayuki Ishihara
政行 石原
Shuji Maeda
修二 前田
Shingo Yoshioka
愼悟 吉岡
Hajime Sugiyama
肇 杉山
Koji Takagi
光司 高木
Shinichi Iketani
晋一 池谷
Hiroaki Fujiwara
弘明 藤原
Kiyoaki Ihara
清暁 井原
Satoru Ogawa
悟 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP7069996A priority Critical patent/JPH09260842A/en
Publication of JPH09260842A publication Critical patent/JPH09260842A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayered printed wiring board manufacturing method enabling the high-strength adhesion of a metal layer to a thermosetting resin layer. SOLUTION: On the surface of an inner layer circuit board with a wiring pattern 1 formed thereon a thermosetting resin layer 4 having a rough surface 3 is formed and the surface of this layer 4 is plated with a metal to form a metal layer 5 for forming a conductor circuit 6, thereby manufacturing a multilayer printed wiring board wherein the resin layer 4 is formed with a semicured resin and its curing deg. is raised after the metal plating on the surface of this layer 4. This increases the adhesion strength of the metal layer 5 to the resin layer 4, compared with that is the case of plating the metal layer 5 on the completely cured thermosetting resin layer 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高密度実装に適し
た多層プリント配線板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board suitable for high density mounting.

【0002】[0002]

【従来の技術】多層プリント配線板を製造する方法の一
つとして、配線パターンを形成した内層用回路基板の表
面に熱硬化性樹脂を塗布等して硬化させることによって
熱硬化性樹脂層を設け、この熱硬化性樹脂層の表面に金
属メッキを施して金属層を形成し、そしてこの金属層を
エッチング加工等することによって導体回路を形成する
ことによって行なう方法がある。
2. Description of the Related Art As one of methods for manufacturing a multilayer printed wiring board, a thermosetting resin layer is provided by applying a thermosetting resin to the surface of an inner layer circuit board on which a wiring pattern is formed and curing the resin. There is a method in which the surface of the thermosetting resin layer is plated with metal to form a metal layer, and the conductor layer is formed by etching the metal layer.

【0003】このように、熱硬化性樹脂層の表面にメッ
キされる金属層によって導体回路が形成されることが多
いために、熱硬化性樹脂層への金属層の密着強度が高い
ことが要求される。そこで従来から、十分に硬化させた
熱硬化性樹脂層の表面を粗面に形成し、この粗面となっ
た熱硬化性樹脂層の表面に金属メッキを施すことによっ
て、粗面によるアンカー効果で熱硬化性樹脂層に金属層
を高い強度で密着させるようにしている。
As described above, since the conductor circuit is often formed by the metal layer plated on the surface of the thermosetting resin layer, it is required that the adhesion strength of the metal layer to the thermosetting resin layer is high. To be done. Therefore, conventionally, the surface of the thermosetting resin layer that has been sufficiently cured is formed into a rough surface, and metal plating is applied to the surface of the thermosetting resin layer that has become the rough surface. The metal layer is adhered to the thermosetting resin layer with high strength.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、高密度実装に
伴って細線化している導体回路を熱硬化性樹脂層に高い
強度で密着させるという点では、熱硬化性樹脂層に対す
る金属層の密着強度はまだ十分とはいえないものであっ
た。本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、熱
硬化性樹脂層に金属層を高い強度で密着させることがで
きる多層プリント配線板の製造方法を提供することを目
的とするものである。
However, in terms of adhering the conductor circuit, which is thinned due to high-density mounting, to the thermosetting resin layer with high strength, the adhesion strength of the metal layer to the thermosetting resin layer is high. Was still not enough. The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a multilayer printed wiring board capable of closely adhering a metal layer to a thermosetting resin layer with high strength. .

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明に係る多層プリン
ト配線板の製造方法は、配線パターン1を形成済みの内
層用回路基板2の表面に、表面が粗面3に形成された熱
硬化性樹脂層4を設け、この熱硬化性樹脂層4の表面に
金属メッキを施して導体回路6形成用の金属層5を設け
る工程を有して多層プリント配線板を製造するにあたっ
て、熱硬化性樹脂層4を半硬化状態の樹脂で形成すると
共にこの熱硬化性樹脂層4の表面に金属メッキを行なっ
た後に、熱硬化性樹脂層4の樹脂の硬化度を高めること
を特徴とするものである。
A method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is a thermosetting method in which a roughened surface 3 is formed on the surface of an inner layer circuit board 2 on which a wiring pattern 1 has been formed. When a multilayer printed wiring board is manufactured by a step of providing a resin layer 4 and plating the surface of the thermosetting resin layer 4 with a metal to form a metal layer 5 for forming a conductor circuit 6, a thermosetting resin is used. The layer 4 is formed of a semi-cured resin, and after the surface of the thermosetting resin layer 4 is plated with metal, the degree of curing of the resin of the thermosetting resin layer 4 is increased. .

【0006】また請求項2の発明は、半硬化状態の熱硬
化性樹脂層4の樹脂のガラス転移温度が、硬化度を高め
た後に到達する最高ガラス転移温度よりも20℃以上低
い温度であることを特徴とするものである。また請求項
3の発明は、熱硬化性樹脂層4に金属メッキを施す前
に、熱硬化性樹脂層4を室温下で乾燥することを特徴と
するものである。
Further, in the invention of claim 2, the glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state is a temperature lower by 20 ° C. or more than the maximum glass transition temperature reached after increasing the curing degree. It is characterized by that. Further, the invention of claim 3 is characterized in that the thermosetting resin layer 4 is dried at room temperature before metal plating is applied to the thermosetting resin layer 4.

【0007】また請求項4の発明は、熱硬化性樹脂層4
に金属メッキを施す前に、熱硬化性樹脂層4の樹脂のガ
ラス転移温度よりも低い温度で加熱して熱硬化性樹脂層
4を乾燥することを特徴とするものである。また請求項
5の発明は、熱硬化性樹脂層4に金属メッキを施す前
に、熱硬化性樹脂層4を減圧乾燥することを特徴とする
ものである。
Further, the invention of claim 4 is the thermosetting resin layer 4
Before the metal plating is applied to the thermosetting resin layer 4, the thermosetting resin layer 4 is dried by heating at a temperature lower than the glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer 4. The invention of claim 5 is characterized in that the thermosetting resin layer 4 is dried under reduced pressure before the metal plating is applied to the thermosetting resin layer 4.

【0008】また請求項6の発明は、熱硬化性樹脂層4
に金属メッキを施す前に、遠心脱水して熱硬化性樹脂層
4を乾燥することを特徴とするものである。また請求項
7の発明は、金属メッキを無電解メッキ及び無電解メッ
キに続く電解メッキで行なうにあたって、無電解メッキ
を行なった後に熱硬化性樹脂層4を乾燥することを特徴
とするものである。
Further, the invention of claim 6 is the thermosetting resin layer 4
It is characterized in that the thermosetting resin layer 4 is dried by centrifugal dehydration before the metal plating is applied to. Further, the invention of claim 7 is characterized in that when the metal plating is performed by electroless plating and electrolytic plating subsequent to electroless plating, the thermosetting resin layer 4 is dried after the electroless plating. .

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。内層用回路基板2としては特に制限されることな
く任意のものを使用することができ、例えば、ガラス布
基材エポキシ樹脂積層板の表面に銅箔等で配線パターン
1が形成されたものを例示することができる。この配線
パターン1の表面には黒化処理と一般に呼ばれる酸化処
理を施し、配線パターン1の表面を粗面化処理しておく
のが好ましい。
Embodiments of the present invention will be described below. The inner layer circuit board 2 is not particularly limited, and any one can be used. For example, the one in which the wiring pattern 1 is formed by a copper foil or the like on the surface of the glass cloth base material epoxy resin laminated plate is exemplified. can do. It is preferable that the surface of the wiring pattern 1 is subjected to an oxidation treatment generally called blackening treatment so that the surface of the wiring pattern 1 is roughened.

【0010】そしてこの内層用回路基板2の表面に図1
(b)のように熱硬化性樹脂層4を設ける。熱硬化性樹
脂層4の樹脂としては、特に限定されるものではない
が、エポキシ樹脂やポリイミド樹脂などを用いることが
できる。内層用回路基板2の表面に熱硬化性樹脂層4を
設ける方法も特に限定されるものではないが、次のよう
な各種の方法がある。
The surface of the inner-layer circuit board 2 is shown in FIG.
The thermosetting resin layer 4 is provided as in (b). The resin of the thermosetting resin layer 4 is not particularly limited, but an epoxy resin, a polyimide resin, or the like can be used. The method for providing the thermosetting resin layer 4 on the surface of the inner layer circuit board 2 is not particularly limited, but there are various methods as follows.

【0011】まず、銅箔等の金属箔の表面に熱硬化性樹
脂を塗布した樹脂付き金属箔を用い、この樹脂付き金属
箔を樹脂の側で内層用回路基板2に重ね、加熱加圧して
樹脂を内層用回路基板2の表面に積層接着させた後、金
属箔をエッチングして除去することによって、内層用回
路基板2の表面に熱硬化性樹脂層4を設ける方法があ
る。この場合、積層時の加熱温度は150℃、加熱時間
は60〜120分程度が好ましい。
First, using a resin-coated metal foil in which a thermosetting resin is applied to the surface of a metal foil such as a copper foil, the resin-coated metal foil is placed on the inner layer circuit board 2 on the resin side and heated and pressed. There is a method in which the thermosetting resin layer 4 is provided on the surface of the inner layer circuit board 2 by etching and removing the metal foil after the resin is laminated and adhered to the surface of the inner layer circuit board 2. In this case, the heating temperature at the time of stacking is preferably 150 ° C., and the heating time is preferably about 60 to 120 minutes.

【0012】また、内層用回路基板2の表面に熱硬化性
樹脂のフィルムを重ね、加熱加圧して熱硬化性樹脂フィ
ルムを内層用回路基板2の表面に積層接着させることに
よって、内層用回路基板2の表面に熱硬化性樹脂層4を
設ける方法がある。この場合、積層時の加熱温度は15
0℃、加熱時間は60〜120分程度が好ましい。さら
に、熱硬化性樹脂を溶剤に溶かした組成物を内層用回路
基板2の表面にコーティングし、乾燥させて内層用回路
基板2の表面に熱硬化性樹脂層4を設ける方法がある。
この場合、溶剤除去のために110℃、30分程度の加
熱処理を施し、樹脂の硬化を進めるために150℃で6
0〜120分程度の加熱処理を行なうのが好ましい。
Further, by laminating a thermosetting resin film on the surface of the inner layer circuit board 2 and applying heat and pressure to laminate the thermosetting resin film on the surface of the inner layer circuit board 2, the inner layer circuit board 2 is adhered. There is a method of providing the thermosetting resin layer 4 on the surface of 2. In this case, the heating temperature during stacking is 15
The heating time at 0 ° C. is preferably about 60 to 120 minutes. Furthermore, there is a method in which a composition obtained by dissolving a thermosetting resin in a solvent is coated on the surface of the inner layer circuit board 2 and dried to form the thermosetting resin layer 4 on the surface of the inner layer circuit board 2.
In this case, heat treatment is performed at 110 ° C. for about 30 minutes to remove the solvent, and 6 ° C. at 150 ° C. to accelerate the resin curing.
It is preferable to perform heat treatment for about 0 to 120 minutes.

【0013】上記のようにして内層用回路基板2の表面
に熱硬化性樹脂層4を設けることができるが、本発明で
は半硬化状態の熱硬化性樹脂で熱硬化性樹脂層4を形成
するものである。ここで半硬化状態とはいわゆるBステ
ージ状態のことであり、加熱により流動状態を経て十分
な硬化(ゲル化を含む)に至ることのできる状態をい
う。熱硬化性樹脂層4の半硬化状態の目安は、熱硬化性
樹脂層4の樹脂を十分に硬化させたときに到達する最高
のガラス転移温度に比べて、樹脂のガラス転移温度が2
0℃以上低い状態であることが好ましい。熱硬化性樹脂
層4の半硬化状態の目安の下限は特に設定されないが、
最高のガラス転移温度に比べて熱硬化性樹脂層4の樹脂
のガラス転移温度が80℃程度低い状態を下限に設定す
るのが好ましい。このように本発明では、内層用回路基
板2に熱硬化性樹脂層4を積層するために、熱硬化性樹
脂層4の樹脂を硬化反応をある程度進めて内層用回路基
板2に接着させるが、熱硬化性樹脂層4の樹脂の硬化度
は最高のガラス転移温度よりも20℃以上低いガラス転
移温度の低いレベルに抑えるようにしている。
Although the thermosetting resin layer 4 can be provided on the surface of the inner layer circuit board 2 as described above, the thermosetting resin layer 4 is formed of a semi-cured thermosetting resin in the present invention. It is a thing. Here, the semi-cured state is a so-called B-stage state, and is a state in which the material can be sufficiently cured (including gelation) through heating in a fluidized state. The standard of the semi-cured state of the thermosetting resin layer 4 is that the glass transition temperature of the resin is 2 compared to the maximum glass transition temperature reached when the resin of the thermosetting resin layer 4 is sufficiently cured.
It is preferable that the temperature is lower than 0 ° C. Although the lower limit of the semi-cured state of the thermosetting resin layer 4 is not particularly set,
It is preferable to set the lower limit to a state where the glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer 4 is about 80 ° C. lower than the highest glass transition temperature. As described above, in the present invention, in order to stack the thermosetting resin layer 4 on the circuit board 2 for inner layer, the resin of the thermosetting resin layer 4 is bonded to the circuit board 2 for inner layer by advancing the curing reaction to some extent. The degree of cure of the resin of the thermosetting resin layer 4 is controlled to a low level of the glass transition temperature which is lower than the maximum glass transition temperature by 20 ° C. or more.

【0014】尚、本発明においてガラス転移温度は、昇
温速度10℃/分、サンプル量10mgの条件でDSC
(Differential Scanning Ca
lorimeter;差動走査熱量計)法で測定した。
また樹脂を十分に硬化させたときに到達する最高のガラ
ス転移温度とは、熱硬化性樹脂層4に用いる熱硬化性樹
脂の硬化条件(加熱温度、加熱時間)を変動させてガラ
ス転移温度を測定し、その際に得られる最も高いガラス
転移温度であり、±5℃程度の誤差は見込まれるもの
の、その熱硬化性樹脂毎に固有の温度である。熱硬化性
樹脂層4の樹脂がエポキシ樹脂の場合には、170℃以
上の温度で60分間以上加熱して硬化を進めることによ
って、この最高のガラス転移温度に到達する。
In the present invention, the glass transition temperature is DSC under the conditions of a heating rate of 10 ° C./min and a sample amount of 10 mg.
(Differential Scanning Ca
lorimeter; differential scanning calorimeter) method.
Further, the maximum glass transition temperature reached when the resin is sufficiently cured means the glass transition temperature by varying the curing conditions (heating temperature, heating time) of the thermosetting resin used for the thermosetting resin layer 4. It is the highest glass transition temperature obtained at the time of measurement, and an error of about ± 5 ° C. is expected, but it is a temperature unique to each thermosetting resin. When the resin of the thermosetting resin layer 4 is an epoxy resin, this maximum glass transition temperature is reached by heating at a temperature of 170 ° C. or more for 60 minutes or more to proceed with curing.

【0015】また、上記のように内層用回路基板2の表
面に設けた半硬化状態の熱硬化性樹脂層4の表面に任意
の粗度の粗面3を図1(c)のように形成する。熱硬化
性樹脂層4の表面に粗面3を形成するにあたっては、ケ
ミカルエッチングなどで行なうことができる。ケミカル
エッチングとしては例えば、ジエチレングリコール系水
溶液等の膨潤剤を用い、この膨潤剤を加温しながら熱硬
化性樹脂層4を設けた内層用回路基板2を膨潤剤に浸漬
することによって熱硬化性樹脂層4を膨潤処理し、この
後に過マンガン酸カリウム溶液等の酸化分解剤を用いて
熱硬化性樹脂層4の表面を酸化分解処理する2段階処理
法が知られている。このようにケミカルエッチング等を
行なうことによって、内層用回路基板2に熱硬化性樹脂
層4を設けた後に粗面3を形成することができる。ま
た、樹脂付き金属箔を用いて内層用回路基板2の表面に
熱硬化性樹脂層4を設ける場合に、金属箔のマット面の
粗面が熱硬化性樹脂層4の表面に転写されているときに
は、熱硬化性樹脂層4の表面は粗面になっているので、
改めて粗面化の処理を行なう必要はない。
A rough surface 3 having an arbitrary roughness is formed on the surface of the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state provided on the surface of the inner layer circuit board 2 as shown in FIG. 1 (c). To do. The rough surface 3 can be formed on the surface of the thermosetting resin layer 4 by chemical etching or the like. As the chemical etching, for example, a swelling agent such as a diethylene glycol-based aqueous solution is used, and the inner layer circuit board 2 provided with the thermosetting resin layer 4 is immersed in the swelling agent while heating the swelling agent. A two-step treatment method is known in which the layer 4 is swollen and then the surface of the thermosetting resin layer 4 is subjected to oxidative decomposition using an oxidative decomposer such as a potassium permanganate solution. By performing chemical etching or the like in this manner, the roughened surface 3 can be formed after the thermosetting resin layer 4 is provided on the inner layer circuit board 2. Further, when the thermosetting resin layer 4 is provided on the surface of the circuit board 2 for inner layer using the resin-coated metal foil, the rough surface of the matte surface of the metal foil is transferred to the surface of the thermosetting resin layer 4. At times, since the surface of the thermosetting resin layer 4 is a rough surface,
There is no need to perform the roughening process again.

【0016】次に、熱硬化性樹脂層4の表面をケミカル
エッチングで粗面化処理している場合には、ケミカルエ
ッチングの処理水溶液中の水分が熱硬化性樹脂層4に吸
収される。従ってこのまま金属メッキして熱硬化性樹脂
層4の表面に後述のように金属層5を設け、そして熱硬
化性樹脂層4の硬化を進めるために熱硬化性樹脂層4を
加熱すると、熱硬化性樹脂層4に吸収されている水分が
蒸発し、熱硬化性樹脂層4の表面の金属層5に膨れ不良
が発生するなど、耐熱性が低下するおそれがある。この
ために、ケミカルエッチングなど処理水溶液を用いて熱
硬化性樹脂層4の表面を粗面化処理した場合には、熱硬
化性樹脂層4に金属メッキを施す前に、熱硬化性樹脂層
4を乾燥して熱硬化性樹脂層4に吸収された水分を予め
蒸発させておくのが、耐熱性を向上させる上で好まし
い。乾燥は、熱硬化性樹脂層4中の水分の含有率が1重
量%以下になるように行なうのが好ましい。
Next, when the surface of the thermosetting resin layer 4 is roughened by chemical etching, the thermosetting resin layer 4 absorbs water in the chemical etching aqueous solution. Therefore, if the metal layer 5 is directly plated with metal to provide the metal layer 5 on the surface of the thermosetting resin layer 4 as described below, and the thermosetting resin layer 4 is heated to accelerate the curing of the thermosetting resin layer 4, the thermosetting resin layer 4 is thermally cured. There is a possibility that the heat resistance may be deteriorated, for example, the moisture absorbed in the thermosetting resin layer 4 may be evaporated and the metal layer 5 on the surface of the thermosetting resin layer 4 may be swollen and defective. For this reason, when the surface of the thermosetting resin layer 4 is roughened by using a treatment aqueous solution such as chemical etching, before the thermosetting resin layer 4 is plated with metal, the thermosetting resin layer 4 is subjected to metal plating. In order to improve heat resistance, it is preferable to dry and dry the water absorbed in the thermosetting resin layer 4 in advance. The drying is preferably performed so that the content of water in the thermosetting resin layer 4 is 1% by weight or less.

【0017】熱硬化性樹脂層4を乾燥する方法は特に限
定されないが、例えば次のような方法がある。 熱硬化性樹脂層4を設けた内層用回路基板2を室温で
室内に長時間放置したり(例えば温度25℃、相対湿度
80%の雰囲気に48時間放置)、室温で低湿度の乾燥
室に放置したり(例えば温度25℃、相対湿度30%の
雰囲気に10時間放置)して、室温で乾燥する方法。
The method of drying the thermosetting resin layer 4 is not particularly limited, but for example, the following method is available. The inner-layer circuit board 2 provided with the thermosetting resin layer 4 may be left indoors at room temperature for a long time (for example, left in an atmosphere having a temperature of 25 ° C. and a relative humidity of 80% for 48 hours), or in a drying room having a low humidity at room temperature. A method in which it is left standing (for example, left in an atmosphere having a temperature of 25 ° C. and a relative humidity of 30% for 10 hours) and dried at room temperature.

【0018】熱硬化性樹脂層4の樹脂の硬化度をあま
り進行させないように、樹脂のガラス転移温度より低い
温度で加熱して、熱硬化性樹脂層4を乾燥させる方法。
例えば、熱硬化性樹脂層4がエポキシ樹脂の場合、60
℃程度の温度で3時間程度、熱硬化性樹脂層4を設けた
内層用回路基板2を加熱することによって、熱硬化性樹
脂層4を乾燥させることができる。
A method of drying the thermosetting resin layer 4 by heating it at a temperature lower than the glass transition temperature of the resin so that the degree of curing of the resin of the thermosetting resin layer 4 does not proceed so much.
For example, when the thermosetting resin layer 4 is an epoxy resin, 60
The thermosetting resin layer 4 can be dried by heating the inner-layer circuit board 2 provided with the thermosetting resin layer 4 at a temperature of about C for about 3 hours.

【0019】熱硬化性樹脂層4を設けた内層用回路基
板2を減圧チャンバー等に入れて減圧することによっ
て、熱硬化性樹脂層4を乾燥させる方法。例えば、50
〜100torrの減圧条件のチャンバーに5時間入れ
ることによって、熱硬化性樹脂層4を乾燥させることが
できる。 熱硬化性樹脂層4を設けた内層用回路基板2を遠心脱
水機にかけて遠心脱水することによって、熱硬化性樹脂
層4を乾燥させる方法。例えば、500rpmの回転数
で3時間遠心脱水を行なうことによって、熱硬化性樹脂
層4を乾燥させることができる。
A method of drying the thermosetting resin layer 4 by placing the inner layer circuit board 2 provided with the thermosetting resin layer 4 in a decompression chamber or the like to reduce the pressure. For example, 50
The thermosetting resin layer 4 can be dried by putting it in a chamber under a reduced pressure condition of -100 torr for 5 hours. A method of drying the thermosetting resin layer 4 by centrifuging and dehydrating the inner layer circuit board 2 provided with the thermosetting resin layer 4 with a centrifugal dehydrator. For example, the thermosetting resin layer 4 can be dried by performing centrifugal dehydration at a rotation speed of 500 rpm for 3 hours.

【0020】勿論、これらの〜の方法のいくつかを
組み合わせて熱硬化性樹脂層4を乾燥するようにしても
よい。また、樹脂付き金属箔を用いて内層用回路基板2
の表面に熱硬化性樹脂層4を設ける場合のように、熱硬
化性樹脂層4をケミカルエッチングなど処理水溶液を用
いて粗面化処理する必要がないときには、熱硬化性樹脂
層4に水分は吸収されていないので、乾燥の処理を行な
う必要はない。
Of course, the thermosetting resin layer 4 may be dried by combining some of these methods. In addition, the inner layer circuit board 2 is formed by using a metal foil with resin.
When it is not necessary to roughen the thermosetting resin layer 4 using a treatment aqueous solution such as chemical etching as in the case where the thermosetting resin layer 4 is provided on the surface of Since it is not absorbed, it is not necessary to carry out a drying treatment.

【0021】上記のように必要に応じて熱硬化性樹脂層
4を乾燥させた後、金属メッキを行なって熱硬化性樹脂
層4の表面に図1(d)のように金属層5を設ける。金
属メッキは無電解銅メッキなど無電解メッキと電解銅メ
ッキなど電解メッキの2段階で行なうことができる。す
なわちまず熱硬化性樹脂層4の表面に無電解メッキで厚
み0.5μm程度の薄い無電解膜を設けた後、この無電
解膜に通電することによって電解メッキを行なって電解
膜を設け、トータル厚みで20μm程度の金属層5を形
成することができるものである。
After the thermosetting resin layer 4 is dried as necessary as described above, metal plating is performed to form a metal layer 5 on the surface of the thermosetting resin layer 4 as shown in FIG. 1 (d). . The metal plating can be performed in two steps: electroless plating such as electroless copper plating and electrolytic plating such as electrolytic copper plating. That is, first, a thin electroless film having a thickness of about 0.5 μm is provided on the surface of the thermosetting resin layer 4 by electroless plating, and then electroplating is performed by energizing the electroless film to form an electrolytic film. The metal layer 5 having a thickness of about 20 μm can be formed.

【0022】ここで、無電解メッキを行なう際に熱硬化
性樹脂層4を設けた内層用回路基板2を無電解メッキ浴
に浸漬すると、熱硬化性樹脂層4に水分が吸収される。
従って上記と同様に耐熱性を高めるために、無電解メッ
キを行なった後に、熱硬化性樹脂層4を乾燥することが
好ましい。乾燥は上記の〜の方法やこれらの方法の
組み合わせで行なうことができ、熱硬化性樹脂層4がエ
ポキシ樹脂の場合には例えばガラス転移温度よりも低い
60〜100℃の温度で30分〜1時間加熱することに
よって、熱硬化性樹脂層4を乾燥することができる。
Here, when the inner-layer circuit board 2 provided with the thermosetting resin layer 4 is immersed in the electroless plating bath during electroless plating, the thermosetting resin layer 4 absorbs moisture.
Therefore, it is preferable to dry the thermosetting resin layer 4 after performing electroless plating in order to improve heat resistance as in the above. The drying can be carried out by the above-mentioned method (1) or a combination of these methods. When the thermosetting resin layer 4 is an epoxy resin, for example, it is at a temperature of 60 to 100 ° C. lower than the glass transition temperature for 30 minutes to 1 minute. The thermosetting resin layer 4 can be dried by heating for a time.

【0023】上記のように熱硬化性樹脂4の表面に金属
層5を設けた後に、加熱して熱硬化性樹脂層4の樹脂の
硬化を十分に進め、硬化度を高める。硬化度を高める程
度は、熱硬化性樹脂層4の樹脂のガラス転移温度が最高
ガラス転移温度に達するように行なうのが好ましい。従
って熱硬化性樹脂層4がエポキシ樹脂の場合には、17
0℃以上の温度で60分間以上加熱して硬化を進めるよ
うにするのが好ましい。
After the metal layer 5 is provided on the surface of the thermosetting resin 4 as described above, it is heated to sufficiently cure the resin of the thermosetting resin layer 4 to enhance the degree of curing. It is preferable to increase the degree of curing so that the glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer 4 reaches the maximum glass transition temperature. Therefore, when the thermosetting resin layer 4 is an epoxy resin, 17
It is preferable to heat at a temperature of 0 ° C. or more for 60 minutes or more to promote curing.

【0024】このように本発明では、半硬化状態の熱硬
化性樹脂層4の表面に金属層5をメッキで設けた後に、
熱硬化性樹脂層4の硬化を十分に進行させるようにして
いるために、従来のように十分に硬化させて形成した熱
硬化性樹脂層4に金属層5をメッキして設ける場合に比
べて、熱硬化性樹脂層4に対する金属層5の密着強度を
高めることができるものである。そしてこのように熱硬
化性樹脂層4に対する金属層5の密着強度を高めるため
には、金属層5をメッキする時点での熱硬化性樹脂層4
の半硬化状態の程度は、既述のように、その樹脂のガラ
ス転移温度が硬化度を高めた後に到達する最高ガラス転
移温度よりも20℃以上低い温度であることが好まし
く、半硬化状態の硬化がこれよりも進行していれば、熱
硬化性樹脂層4に対する金属層5の密着強度の向上は不
十分になるおそれがある。
As described above, according to the present invention, after the metal layer 5 is provided on the surface of the semi-cured thermosetting resin layer 4 by plating,
Since the thermosetting resin layer 4 is sufficiently cured, compared with the conventional case where the metal layer 5 is plated on the thermosetting resin layer 4 which is sufficiently cured. The adhesive strength of the metal layer 5 to the thermosetting resin layer 4 can be increased. In order to increase the adhesion strength of the metal layer 5 to the thermosetting resin layer 4 as described above, the thermosetting resin layer 4 at the time of plating the metal layer 5
As described above, the degree of the semi-cured state of the resin is preferably 20 ° C. or more lower than the maximum glass transition temperature that the glass transition temperature of the resin reaches after increasing the degree of curing, If the curing proceeds further than this, there is a possibility that the improvement in the adhesion strength of the metal layer 5 to the thermosetting resin layer 4 will be insufficient.

【0025】上記のようにして熱硬化性樹脂層4の表面
に金属層5を設け、さらに熱硬化性樹脂層4を硬化させ
た後に、露光・現像・エッチング等のプリント配線加工
を金属層5に施すことによって、図1(e)のように外
層の導体回路6を形成して多層プリント配線板として仕
上げることができるものである。尚、図1には内層用回
路基板2の片面にのみ熱硬化性樹脂層4を設けると共に
金属層5を設けるようにした例を示すが、内層用回路基
板2の両面にそれぞれ熱硬化性樹脂層4を設けると共に
金属層5を設けるようにしてもよいのはいうまでもな
い。
After the metal layer 5 is provided on the surface of the thermosetting resin layer 4 as described above and the thermosetting resin layer 4 is further cured, printed wiring processing such as exposure, development and etching is performed on the metal layer 5. By doing so, it is possible to form the conductor circuit 6 of the outer layer as shown in FIG. 1 (e) and finish it as a multilayer printed wiring board. Although FIG. 1 shows an example in which the thermosetting resin layer 4 and the metal layer 5 are provided only on one side of the inner layer circuit board 2, the thermosetting resin is provided on both sides of the inner layer circuit board 2. It goes without saying that the metal layer 5 may be provided together with the layer 4.

【0026】[0026]

【実施例】次に、本発明を実施例によって具体的に説明
する。 (実施例1)FR−4タイプの両面銅箔張りエポキシ樹
脂積層板(積層板の厚み1.0mm、銅箔の厚み18μ
m)を用い、一方の面の銅箔をエッチング加工して配線
パターン1を設けると共に他方の面の銅箔は全面に亘っ
てエッチング除去することによって、内層用回路基板2
を作製し、配線パターン1の表面を黒化処理した(図1
(a)参照)。
EXAMPLES Next, the present invention will be specifically described with reference to examples. (Example 1) FR-4 type double-sided copper foil-clad epoxy resin laminate (laminate thickness 1.0 mm, copper foil thickness 18 μ)
m), the copper foil on one surface is etched to provide the wiring pattern 1, and the copper foil on the other surface is removed by etching over the entire surface.
And the surface of the wiring pattern 1 was blackened (see FIG. 1).
(A)).

【0027】次に、ビスフェノールA型エポキシ樹脂
(硬化剤ジシアンジアミド)を銅箔のマット面に塗布し
た樹脂付き銅箔(樹脂厚み80μm、銅箔厚み18μ
m)を用い、この樹脂付き銅箔を樹脂の側で内層用回路
基板2の配線パターン1を設けた側の表面に重ね、15
0℃、40kg/cm2 、60分の条件で加熱加圧した
後に、銅箔をエッチングして剥離することによって、内
層用回路基板2の表面に半硬化状態の厚み70μmの熱
硬化性樹脂層4を形成した。この熱硬化性樹脂層4の一
部を採取し、デュポン社製DSC装置「910DSC」
を用い、昇温速度10℃/分、サンプル量10mgの条
件でガラス転移温度を測定したところ、70℃であっ
た。またこの熱硬化性樹脂層4の表面は銅箔のマット面
の粗面が転写された粗面3であった(図1(c)参
照)。
Next, a bisphenol A type epoxy resin (hardening agent dicyandiamide) is applied to the matte surface of the copper foil to form a resin-coated copper foil (resin thickness 80 μm, copper foil thickness 18 μm).
m), the resin-coated copper foil is overlaid on the surface of the inner layer circuit board 2 on which the wiring pattern 1 is provided on the resin side.
After being heated and pressed under the conditions of 0 ° C., 40 kg / cm 2 , and 60 minutes, the copper foil is etched and peeled off to form a semi-cured thermosetting resin layer having a thickness of 70 μm on the surface of the inner layer circuit board 2. 4 was formed. A part of the thermosetting resin layer 4 is sampled, and a DSC device “910DSC” manufactured by DuPont.
The glass transition temperature was 70 ° C. when the glass transition temperature was measured under conditions of a heating rate of 10 ° C./min and a sample amount of 10 mg. The surface of the thermosetting resin layer 4 was the rough surface 3 to which the rough surface of the matte surface of the copper foil was transferred (see FIG. 1 (c)).

【0028】次に、シップレイ・ファーイースト社製無
電解銅メッキ液「キューポジット253」に36℃で2
0分間浸漬して無電解銅メッキを行なうことによって、
熱硬化性樹脂層4の表面に厚み0.5μmの無電解銅膜
を設けた。そして、無電解銅メッキを終了した時点で、
60℃の温度で1時間加熱することによって、熱硬化性
樹脂層4を乾燥させた後、さらに無電解銅膜に2A/d
2 の条件で通電しながら電解銅メッキ浴に50分間浸
漬することによって電解銅メッキを行ない、トータル厚
みが20μmの金属層5を熱硬化性樹脂層4の表面に設
けた(図1(d)参照)。
Next, the electroless copper plating solution "Chipposit 253" manufactured by Shipley Far East Co., Ltd.
By soaking for 0 minutes and performing electroless copper plating,
An electroless copper film having a thickness of 0.5 μm was provided on the surface of the thermosetting resin layer 4. And when the electroless copper plating is completed,
After the thermosetting resin layer 4 is dried by heating at a temperature of 60 ° C. for 1 hour, 2 A / d is further applied to the electroless copper film.
Electrolytic copper plating was performed by immersing in an electrolytic copper plating bath for 50 minutes while energizing under the condition of m 2 to provide a metal layer 5 having a total thickness of 20 μm on the surface of the thermosetting resin layer 4 (see FIG. 1 (d )reference).

【0029】このようにして金属層5を設けた後、17
5℃で90分間加熱処理することによって、熱硬化性樹
脂層4の硬化を十分に進行させ、多層プリント配線板用
の多層板を得た。硬化後の熱硬化性樹脂層4の一部を採
取してガラス転移温度を測定したところ140℃であ
り、これは最高ガラス転移温度であった。 (実施例2)樹脂付き銅箔を内層用回路基板2に重ねて
半硬化状態の熱硬化性樹脂層4を設ける際の加熱加圧条
件を、150℃、40kg/cm2 、90分に設定する
ようにした他は、実施例1と同様にして多層板を得た。
実施例2において無電解銅メッキを行なう前の半硬化状
態の熱硬化性樹脂層4のガラス転移温度は90℃であっ
た。
After providing the metal layer 5 in this manner, 17
By heat treatment at 5 ° C. for 90 minutes, the thermosetting resin layer 4 was sufficiently cured to obtain a multilayer board for a multilayer printed wiring board. A part of the thermosetting resin layer 4 after curing was sampled and the glass transition temperature was measured to be 140 ° C., which was the maximum glass transition temperature. (Example 2) The heating and pressurizing conditions when the resin-coated copper foil is placed on the inner-layer circuit board 2 to form the semi-cured thermosetting resin layer 4 are set to 150 ° C, 40 kg / cm 2 , and 90 minutes. A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the above procedure was performed.
In Example 2, the glass transition temperature of the semi-cured thermosetting resin layer 4 before the electroless copper plating was 90 ° C.

【0030】(実施例3)樹脂付き銅箔を内層用回路基
板2に重ねて半硬化状態の熱硬化性樹脂層4を設ける際
の加熱加圧条件を、150℃、40kg/cm2 、12
0分に設定するようにした他は、実施例1と同様にして
多層板を得た。実施例3において半硬化状態の熱硬化性
樹脂層4のガラス転移温度は110℃であった。
(Embodiment 3) When the resin-coated copper foil is placed on the inner layer circuit board 2 to form the semi-cured thermosetting resin layer 4, the heating and pressurizing conditions are 150 ° C., 40 kg / cm 2 , 12
A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 1 except that it was set to 0 minutes. In Example 3, the glass transition temperature of the semi-cured thermosetting resin layer 4 was 110 ° C.

【0031】(実施例4)無電解銅メッキを終了した時
点での乾燥を行なわない他は、実施例3と同様にして多
層板を得た。 (比較例1)実施例1と同じ内層用回路基板2を用いる
と共に実施例1と同じ樹脂付き銅箔を用い、樹脂付き銅
箔を樹脂の側で内層用回路基板2の配線パターン1を設
けた側の表面に重ね、170℃、40kg/cm2 、9
0分の条件で加熱加圧した後に、銅箔をエッチングして
剥離することによって、内層用回路基板2の表面に厚み
70μmの熱硬化性樹脂層4を形成した。この熱硬化性
樹脂層4のガラス転移温度を測定したところ140℃で
あり、最高ガラス転移温度に達するまで熱硬化性樹脂層
4はほぼ完全に硬化していた。後は実施例1と同様にし
て熱硬化性樹脂層4の表面に無電解銅メッキを行なうと
共に無電解銅メッキを終了した時点で加熱乾燥を行な
い、さらに電解銅メッキをおこなって金属層5を形成
し、多層板を得た。尚、金属層5を形成した後の加熱は
行なわなかった。
Example 4 A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 3 except that the drying was not carried out at the time when the electroless copper plating was completed. (Comparative Example 1) The same inner layer circuit board 2 as in Example 1 is used, and the same resin-coated copper foil as in Example 1 is used, and the resin-coated copper foil is provided with the wiring pattern 1 of the inner layer circuit board 2 on the resin side. Layered on the exposed surface, 170 ℃, 40kg / cm 2 , 9
After heating and pressing under the condition of 0 minutes, the copper foil was etched and peeled off to form the thermosetting resin layer 4 having a thickness of 70 μm on the surface of the inner layer circuit board 2. The glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 was measured to be 140 ° C., and the thermosetting resin layer 4 was almost completely cured until the maximum glass transition temperature was reached. After that, electroless copper plating is performed on the surface of the thermosetting resin layer 4 in the same manner as in Example 1, and heat drying is performed at the time when the electroless copper plating is completed. Further, electrolytic copper plating is performed to form the metal layer 5. It formed and the multilayer board was obtained. The heating after forming the metal layer 5 was not performed.

【0032】(比較例2)無電解銅メッキを終了した時
点での加熱乾燥を行なわないようにした他は、比較例1
と同様にして多層板を得た。上記実施例1〜4及び比較
例1〜2において得た多層板について、金属層5の密着
強度をJIS C 6481に基づいて引き剥がし強度
として測定し、また230℃で30分間加熱したときの
耐熱性を測定した。結果を表1に示す。尚、耐熱性の評
価は、目視によるフクレが観察されないときを「○」、
5cm×5cmの範囲内に直径1mm未満のフクレが3
個以内観察されたときを「△」、5cm×5cmの範囲
内に直径1mm未満のフクレが4個以上観察されたと
き、あるいは直径1mm以上のフクレが発生したことが
観察されたときを「×」として判定して行なった。
(Comparative Example 2) Comparative Example 1 except that heating and drying were not carried out at the time of completion of electroless copper plating.
A multilayer board was obtained in the same manner as in. About the multilayer boards obtained in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 2, the adhesion strength of the metal layer 5 was measured as the peel strength based on JIS C 6481, and the heat resistance when heated at 230 ° C. for 30 minutes. The sex was measured. The results are shown in Table 1. The evaluation of heat resistance is "○" when no blisters are visually observed,
There are 3 blisters with a diameter of less than 1 mm within the range of 5 cm x 5 cm.
"△" when observed within 5 pieces, when 4 or more blisters with a diameter of less than 1 mm were observed within a range of 5 cm x 5 cm, or when it was observed that blisters with a diameter of 1 mm or more were observed. It was judged as ".

【0033】[0033]

【表1】 [Table 1]

【0034】表1にみられるように、半硬化状態の熱硬
化性樹脂層4にメッキして金属層5を形成するようした
各実施例のものは、十分に硬化させた熱硬化性樹脂層4
にメッキして金属層5を形成するようした各比較例のも
のに比べて、金属層5の密着強度が高まっていることが
確認される。また実施例1〜3と実施例4、比較例1と
比較例2の比較から明らかなように、無電解銅メッキの
後に乾燥を行なうことによって、耐熱性が高まることが
確認される。
As shown in Table 1, each of the examples in which the metal layer 5 is formed by plating the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state is a fully cured thermosetting resin layer. Four
It is confirmed that the adhesion strength of the metal layer 5 is higher than that of each comparative example in which the metal layer 5 is formed by plating. Further, as is clear from the comparison between Examples 1 to 3 and Example 4, and Comparative Example 1 and Comparative Example 2, it is confirmed that heat resistance is enhanced by performing drying after electroless copper plating.

【0035】(実施例5)FR−4タイプの厚み80μ
mのエポキシ樹脂フィルムを実施例1と同じ内層用回路
基板2の配線パターン1を設けた側の表面に重ね、15
0℃、40kg/cm2 、60分の条件で加熱加圧する
ことによって、内層用回路基板2の表面に厚み70μm
の半硬化状態の熱硬化性樹脂層4を形成した。
Example 5 FR-4 type having a thickness of 80 μm
The epoxy resin film of m was laid over the surface of the same inner layer circuit board 2 as in Example 1 on the side where the wiring pattern 1 was provided.
By applying heat and pressure under the conditions of 0 ° C., 40 kg / cm 2 , and 60 minutes, the inner layer circuit board 2 has a thickness of 70 μm.
The thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state was formed.

【0036】次にこの内層用回路基板2をケミカルエッ
チング処理して熱硬化性樹脂層4の表面を粗面化した。
ケミカルエッチング処理は、ジエチレングリコール系水
溶液であるシプレイ社製「MLB211」液に80℃、
30分間の条件で内層用回路基板2を浸漬して膨潤処理
した後、過マンガン酸カリウムを含有するシプレイ社製
「MLB213」液に80℃、30分間の条件で内層用
回路基板2を浸漬して酸化分解処理し、次いで水洗した
後に10%硫酸水溶液に5分間浸漬して処理液残さを中
和処理し、さらに水洗するという方法で行なった。
Next, the inner layer circuit board 2 was subjected to a chemical etching treatment to roughen the surface of the thermosetting resin layer 4.
The chemical etching treatment is performed at 80 ° C. with a “MLB211” solution manufactured by Shipley Co., which is a diethylene glycol-based aqueous solution.
After dipping the inner layer circuit board 2 under the condition of 30 minutes for swelling treatment, the inner layer circuit board 2 is immersed under the condition of 80 ° C. for 30 minutes in the “MLB213” liquid manufactured by Shipley Co. containing potassium permanganate. It was subjected to oxidative decomposition treatment, washed with water, immersed in a 10% sulfuric acid aqueous solution for 5 minutes to neutralize the treatment liquid residue, and further washed with water.

【0037】このようにケミカルエッチング処理した
後、銅メッキを行なう前に、内層用回路基板2を室温2
5℃、相対湿度80%の雰囲気に48時間放置すること
によって、内層用回路基板2の熱硬化性樹脂層4を乾燥
した。乾燥を終わった後に半硬化状態の熱硬化性樹脂層
4のガラス転移温度を測定したところ、70℃であっ
た。
After the chemical etching treatment as described above, the inner layer circuit board 2 is kept at room temperature 2 before copper plating.
The thermosetting resin layer 4 of the inner layer circuit board 2 was dried by leaving it in an atmosphere of 5 ° C. and a relative humidity of 80% for 48 hours. After drying, the glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state was measured and found to be 70 ° C.

【0038】次に、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂
層4の表面に無電解銅メッキを行なうと共に無電解銅メ
ッキを終了した時点で加熱乾燥を行ない、さらに電解銅
メッキをおこなって金属層5を形成した。後は実施例1
と同様に加熱処理することによって熱硬化性樹脂層4の
硬化を十分に進行させ、多層プリント配線板用の多層板
を得た。硬化後の熱硬化性樹脂層4のガラス転移温度を
測定したところ140℃であり、これは最高ガラス転移
温度であった。
Next, in the same manner as in Example 1, electroless copper plating is performed on the surface of the thermosetting resin layer 4, and heat drying is performed when the electroless copper plating is completed, and electrolytic copper plating is further performed. The metal layer 5 was formed. After that, Example 1
The thermosetting resin layer 4 was sufficiently cured by heat treatment in the same manner as described above to obtain a multilayer board for a multilayer printed wiring board. When the glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 after curing was measured, it was 140 ° C., which was the maximum glass transition temperature.

【0039】(実施例6)ケミカルエッチング処理した
後(銅メッキ前)の乾燥を行なわない他は、実施例5と
同様にして多層板を得た。 (実施例7)無電解銅メッキを終了した時点での乾燥を
行なわない他は、実施例5と同様にして多層板を得た。
Example 6 A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 5 except that after the chemical etching treatment (before copper plating), the drying was not carried out. (Example 7) A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 5 except that the drying was not performed at the time when the electroless copper plating was completed.

【0040】(実施例8)ケミカルエッチング処理した
後(銅メッキ前)の乾燥を行なわず、また無電解銅メッ
キを終了した時点での乾燥を行なわない他は、実施例5
と同様にして多層板を得た。 (実施例9)エポキシ樹脂フィルムを内層用回路基板2
に重ねて半硬化状態の熱硬化性樹脂層4を設ける際の加
熱加圧条件を、150℃、40kg/cm2 、120分
に設定するようにした他は、実施例5と同様にして多層
板を得た。実施例9において無電解銅メッキを行なう前
の半硬化状態の熱硬化性樹脂層4のガラス転移温度は9
0℃であった。
Example 8 Example 5 was repeated except that after the chemical etching treatment (before the copper plating), the drying was not performed, and the drying at the time when the electroless copper plating was completed was not performed.
A multilayer board was obtained in the same manner as in. (Example 9) Circuit board 2 for inner layer made of epoxy resin film
In the same manner as in Example 5 except that the heating and pressurizing conditions when the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state is provided by overlapping the layers with each other are set to 150 ° C., 40 kg / cm 2 , and 120 minutes. I got a plate. In Example 9, the glass transition temperature of the semi-cured thermosetting resin layer 4 before electroless copper plating is 9
It was 0 ° C.

【0041】(実施例10)エポキシ樹脂フィルムを内
層用回路基板2に重ねて半硬化状態の熱硬化性樹脂層4
を設ける際の加熱加圧条件を、150℃、40kg/c
2 、120分に設定するようにし、またケミカルエッ
チング処理した後(銅メッキ前)の乾燥を60℃で3時
間加熱して行なうようにした他は、実施例5と同様にし
て多層板を得た。実施例10において無電解銅メッキを
行なう前の半硬化状態の熱硬化性樹脂層4のガラス転移
温度は110℃であった。
(Embodiment 10) An epoxy resin film is laid on the circuit board 2 for the inner layer and the thermosetting resin layer 4 in a semi-cured state.
The heating and pressurizing conditions for the installation are 150 ° C., 40 kg / c
m 2 was set to 120 minutes, and a multilayer board was prepared in the same manner as in Example 5 except that after chemical etching (before copper plating), drying was performed at 60 ° C. for 3 hours. Obtained. In Example 10, the glass transition temperature of the semi-cured thermosetting resin layer 4 before the electroless copper plating was 110 ° C.

【0042】(比較例3)実施例1と同じ内層用回路基
板2を用いると共に実施例5と同じエポキシ樹脂フィル
ムを用い、エポキシ樹脂フィルムを内層用回路基板2の
配線パターン1を設けた側の表面に重ね、170℃、4
0kg/cm2 、90分の条件で加熱加圧することによ
って、内層用回路基板2の表面に厚み70μmの熱硬化
性樹脂層4を形成した。この熱硬化性樹脂層4のガラス
転移温度を測定したところ140℃であり、最高ガラス
転移温度に達するまで熱硬化性樹脂層4はほぼ完全に硬
化していた。後は実施例5と同様にしてケミカルエッチ
ングによる熱硬化性樹脂層4の粗面化処理を行なった後
に、実施例5と同様に内層用回路基板2を室温25℃、
相対湿度80%の雰囲気に48時間放置して乾燥し、そ
して実施例5と同様にして熱硬化性樹脂層4の表面に無
電解銅メッキを行なうと共に無電解銅メッキを終了した
時点で加熱乾燥を行ない、さらに電解銅メッキをおこな
って金属層5を形成し、多層板を得た。尚、金属層5を
形成した後の加熱は行なわなかった。
Comparative Example 3 The same inner layer circuit board 2 as in Example 1 is used, and the same epoxy resin film as in Example 5 is used, and the epoxy resin film is provided on the side of the inner layer circuit board 2 on which the wiring pattern 1 is provided. Layered on the surface, 170 ℃, 4
The thermosetting resin layer 4 having a thickness of 70 μm was formed on the surface of the inner layer circuit board 2 by applying heat and pressure under the conditions of 0 kg / cm 2 and 90 minutes. The glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 was measured to be 140 ° C., and the thermosetting resin layer 4 was almost completely cured until the maximum glass transition temperature was reached. Thereafter, the thermosetting resin layer 4 is roughened by chemical etching in the same manner as in Example 5, and then the inner layer circuit board 2 is placed at room temperature of 25 ° C. in the same manner as in Example 5.
It is left to dry in an atmosphere of 80% relative humidity for 48 hours, and electroless copper plating is performed on the surface of the thermosetting resin layer 4 in the same manner as in Example 5 and heat drying is performed when the electroless copper plating is completed. Then, electrolytic copper plating was performed to form a metal layer 5 to obtain a multilayer board. The heating after forming the metal layer 5 was not performed.

【0043】(比較例4)ケミカルエッチング処理した
後(銅メッキ前)の乾燥を行なわない他は、比較例3と
同様にして多層板を得た。 (比較例5)無電解銅メッキを終了した時点での乾燥を
行なわない他は、比較例3と同様にして多層板を得た。
(Comparative Example 4) A multilayer board was obtained in the same manner as in Comparative Example 3 except that after the chemical etching treatment (before copper plating), the drying was not carried out. (Comparative Example 5) A multilayer board was obtained in the same manner as in Comparative Example 3 except that the drying was not performed at the time of finishing the electroless copper plating.

【0044】(比較例6)ケミカルエッチング処理した
後(銅メッキ前)の乾燥を行なわず、また無電解銅メッ
キを終了した時点での乾燥を行なわない他は、比較例3
と同様にして多層板を得た。上記実施例5〜10及び比
較例3〜6において得た多層板について、金属層5の密
着強度と耐熱性を測定した。結果を表2に示す。
(Comparative Example 6) Comparative Example 3 except that the drying after the chemical etching treatment (before the copper plating) is not performed and the drying is not performed at the time when the electroless copper plating is completed.
A multilayer board was obtained in the same manner as in. With respect to the multilayer plates obtained in Examples 5 to 10 and Comparative Examples 3 to 6, the adhesion strength and heat resistance of the metal layer 5 were measured. Table 2 shows the results.

【0045】[0045]

【表2】 [Table 2]

【0046】表2にみられるように、半硬化状態の熱硬
化性樹脂層4にメッキして金属層5を形成するようした
各実施例のものは、十分に硬化させた熱硬化性樹脂層4
にメッキして金属層5を形成するようした各比較例のも
のに比べて、金属層5の密着強度が高まっていることが
確認される。また実施例5,9,10と実施例6〜8、
比較例3と比較例4〜6の比較から明らかなように、ケ
ミカルエッチング処理した後(銅メッキ前)の乾燥や無
電解銅メッキの後の乾燥を行なうことによって、耐熱性
が高まることが確認される。
As shown in Table 2, each of the examples in which the metal layer 5 is formed by plating the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state is a fully cured thermosetting resin layer. Four
It is confirmed that the adhesion strength of the metal layer 5 is higher than that of each comparative example in which the metal layer 5 is formed by plating. Further, Examples 5, 9, 10 and Examples 6-8,
As is clear from the comparison between Comparative Example 3 and Comparative Examples 4 to 6, it was confirmed that heat resistance is enhanced by performing drying after chemical etching (before copper plating) or after electroless copper plating. To be done.

【0047】(実施例11)FR−4タイプのエポキシ
樹脂(東邦化成社製ビスフェノールA型エポキシ樹脂)
をMEKとDMFの2:1の混合溶媒に溶解して40重
量%濃度のエポキシ樹脂ワニスを調製し、このエポキシ
樹脂ワニスを実施例1と同じ内層用回路基板2の配線パ
ターン1を設けた側の表面にカーテンコーターを用いて
塗布した。そして溶剤除去のために110℃で30分間
加熱した後、硬化を進めるために150℃、60分の条
件で加熱することによって、内層用回路基板2の表面に
厚み70μmの半硬化状態の熱硬化性樹脂層4を形成し
た。
(Example 11) FR-4 type epoxy resin (bisphenol A type epoxy resin manufactured by Toho Kasei Co., Ltd.)
Was dissolved in a mixed solvent of MEK and DMF at a ratio of 2: 1 to prepare an epoxy resin varnish having a concentration of 40% by weight, and the epoxy resin varnish was provided on the side where the wiring pattern 1 of the same inner layer circuit board 2 as in Example 1 was provided. It was applied to the surface of using a curtain coater. Then, after heating at 110 ° C. for 30 minutes to remove the solvent, by heating at 150 ° C. for 60 minutes to proceed with curing, the surface of the inner layer circuit board 2 is thermally cured in a semi-cured state with a thickness of 70 μm. The resin layer 4 was formed.

【0048】次にこの内層用回路基板2を実施例5と同
様にしてケミカルエッチング処理して熱硬化性樹脂層4
の表面を粗面化した。ケミカルエッチング処理した後
に、内層用回路基板2を室温25℃、相対湿度80%の
雰囲気に48時間放置することによって、内層用回路基
板2の熱硬化性樹脂層4を乾燥した。乾燥を終わった後
に半硬化状態の熱硬化性樹脂層4のガラス転移温度を測
定したところ、70℃であった。
Next, this inner layer circuit board 2 is subjected to a chemical etching treatment in the same manner as in Example 5 to perform thermosetting resin layer 4.
The surface of was roughened. After the chemical etching treatment, the thermosetting resin layer 4 of the inner layer circuit board 2 was dried by allowing the inner layer circuit board 2 to stand in an atmosphere of room temperature of 25 ° C. and relative humidity of 80% for 48 hours. After drying, the glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state was measured and found to be 70 ° C.

【0049】次に、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂
層4の表面に無電解銅メッキを行なうと共に無電解銅メ
ッキを終了した時点で加熱乾燥を行ない、さらに電解銅
メッキをおこなって金属層5を形成した。後は実施例1
と同様に加熱処理することによって熱硬化性樹脂層4の
硬化を十分に進行させ、多層プリント配線板用の多層板
を得た。硬化後の熱硬化性樹脂層4のガラス転移温度を
測定したところ140℃であり、これは最高ガラス転移
温度であった。
Next, in the same manner as in Example 1, electroless copper plating is performed on the surface of the thermosetting resin layer 4, and when the electroless copper plating is completed, heat drying is performed, and electrolytic copper plating is further performed. The metal layer 5 was formed. After that, Example 1
The thermosetting resin layer 4 was sufficiently cured by heat treatment in the same manner as described above to obtain a multilayer board for a multilayer printed wiring board. When the glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 after curing was measured, it was 140 ° C., which was the maximum glass transition temperature.

【0050】(実施例12)内層用回路基板2の表面に
エポキシ樹脂ワニスを塗布した後の硬化を進めるための
加熱条件を150℃、90分に変更し、またケミカルエ
ッチング処理した後(銅メッキ前)の乾燥を、50to
rr、5時間の条件で減圧して行なうようにした他は、
実施例11と同様にして多層板を得た。実施例12にお
いて無電解銅メッキを行なう前の半硬化状態の熱硬化性
樹脂層4のガラス転移温度は90℃であった。
(Embodiment 12) After heating the epoxy resin varnish on the surface of the inner layer circuit board 2, the heating conditions for proceeding the curing were changed to 150 ° C. for 90 minutes, and after chemical etching treatment (copper plating). Before drying, 50 to
rr, except that the pressure was reduced under the condition of 5 hours,
A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 11. In Example 12, the glass transition temperature of the semi-cured thermosetting resin layer 4 before the electroless copper plating was 90 ° C.

【0051】(実施例13)内層用回路基板2の表面に
エポキシ樹脂ワニスを塗布した後の硬化を進めるための
加熱条件を150℃、120分に変更し、またケミカル
エッチング処理した後(銅メッキ前)の乾燥を、遠心脱
水機を用いて500rpm、3時間の条件で遠心脱水す
ることによって行なうようにした他は、実施例11と同
様にして多層板を得た。実施例13において無電解銅メ
ッキを行なう前の半硬化状態の熱硬化性樹脂層4のガラ
ス転移温度は110℃であった。
(Embodiment 13) After heating the epoxy resin varnish on the surface of the inner layer circuit board 2, the heating conditions for curing are changed to 150 ° C. for 120 minutes, and after chemical etching treatment (copper plating). A multilayer board was obtained in the same manner as in Example 11 except that the drying in (1) above was performed by centrifugal dehydration under the conditions of 500 rpm and 3 hours using a centrifugal dehydrator. The glass transition temperature of the semi-cured thermosetting resin layer 4 before electroless copper plating in Example 13 was 110 ° C.

【0052】(比較例7)実施例1と同じ内層用回路基
板2を用いると共に実施例11と同じエポキシ樹脂ワニ
ス用い、このエポキシ樹脂ワニスを内層用回路基板2の
配線パターン1を設けた側の表面にカーテンコーターを
用いて塗布した。そして溶剤除去のために110℃で3
0分間加熱した後、硬化を進めるために170℃、90
分の条件で加熱することによって、内層用回路基板2の
表面に厚み70μmの熱硬化性樹脂層4を形成した。こ
の熱硬化性樹脂層4のガラス転移温度を測定したところ
140℃であり、最高ガラス転移温度に達するまで熱硬
化性樹脂層4はほぼ完全に硬化していた。後は、ケミカ
ルエッチング処理した後(銅メッキ前)の乾燥を行なわ
ず、また無電解銅メッキを終了した時点での乾燥を行な
わない他は、実施例11と同様にして多層板を得た。
尚、金属層5を形成した後の加熱は行なわなかった。
(Comparative Example 7) The same inner layer circuit board 2 as in Example 1 was used, and the same epoxy resin varnish as in Example 11 was used. This epoxy resin varnish was applied to the inner layer circuit board 2 on which the wiring pattern 1 was provided. The surface was coated with a curtain coater. And 3 at 110 ° C for solvent removal
After heating for 0 minutes, 170 ° C. and 90 ° C. for curing.
By heating under the condition of minutes, the thermosetting resin layer 4 having a thickness of 70 μm was formed on the surface of the inner layer circuit board 2. The glass transition temperature of the thermosetting resin layer 4 was measured to be 140 ° C., and the thermosetting resin layer 4 was almost completely cured until the maximum glass transition temperature was reached. After that, a multilayer board was obtained in the same manner as in Example 11 except that after the chemical etching treatment (before copper plating), the drying was not performed, and the drying at the time when the electroless copper plating was completed was not performed.
The heating after forming the metal layer 5 was not performed.

【0053】上記実施例11〜13及び比較例7におい
て得た多層板について、金属層5の密着強度と耐熱性を
測定した。結果を表3に示す。
With respect to the multilayer boards obtained in Examples 11 to 13 and Comparative Example 7, the adhesion strength and heat resistance of the metal layer 5 were measured. The results are shown in Table 3.

【0054】[0054]

【表3】 [Table 3]

【0055】表3にみられるように、半硬化状態の熱硬
化性樹脂層4にメッキして金属層5を形成するようした
各実施例のものは、十分に硬化させた熱硬化性樹脂層4
にメッキして金属層5を形成するようした比較例7のも
のに比べて、金属層5の密着強度が高まっていることが
確認される。また各実施例と比較例7の比較から明らか
なように、ケミカルエッチング処理した後(銅メッキ
前)の乾燥や無電解銅メッキの後の乾燥を行なうことに
よって、耐熱性が高まることが確認される。
As shown in Table 3, each of the examples in which the thermosetting resin layer 4 in the semi-cured state is plated to form the metal layer 5 is a fully cured thermosetting resin layer. Four
It is confirmed that the adhesion strength of the metal layer 5 is higher than that of Comparative Example 7 in which the metal layer 5 is formed by plating. Further, as is clear from the comparison between each Example and Comparative Example 7, it was confirmed that heat resistance is enhanced by performing drying after chemical etching (before copper plating) or after electroless copper plating. It

【0056】[0056]

【発明の効果】上記のように本発明は、配線パターンを
形成済みの内層用回路基板の表面に、表面が粗面に形成
された熱硬化性樹脂層を設け、この熱硬化性樹脂層の表
面に金属メッキを施して導体回路形成用の金属層を設け
る工程を有して多層プリント配線板を製造するにあたっ
て、熱硬化性樹脂層を半硬化状態の樹脂で形成すると共
にこの熱硬化性樹脂層の表面に金属メッキを行なった後
に、熱硬化性樹脂層の樹脂の硬化度を高めるようにした
ので、十分に硬化させて形成した熱硬化性樹脂層に金属
層をメッキする場合に比べて、熱硬化性樹脂層に対する
金属層の密着強度を高めることができるものである。
As described above, according to the present invention, a thermosetting resin layer having a rough surface is provided on the surface of an inner layer circuit board on which a wiring pattern has been formed. When manufacturing a multilayer printed wiring board having a step of plating the surface with a metal layer for forming a conductor circuit, the thermosetting resin layer is formed of a semi-cured resin and the thermosetting resin is used. Since the degree of curing of the resin of the thermosetting resin layer is increased after metal plating is performed on the surface of the layer, compared with the case of plating the metal layer on the thermosetting resin layer formed by sufficient curing. The adhesive strength of the metal layer to the thermosetting resin layer can be increased.

【0057】また請求項2の発明は、半硬化状態の熱硬
化性樹脂層の樹脂のガラス転移温度が、硬化度を高めた
後に到達する最高ガラス転移温度よりも20℃以上低い
温度であることを特徴とするものであり、熱硬化性樹脂
層の半硬化状態をこのように設定することによって、熱
硬化性樹脂層に対する金属層の密着強度の向上を十分に
得ることができるものである。
Further, in the invention of claim 2, the glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer in the semi-cured state is a temperature lower by 20 ° C. or more than the maximum glass transition temperature reached after increasing the curing degree. By setting the semi-cured state of the thermosetting resin layer in this way, it is possible to sufficiently improve the adhesion strength of the metal layer to the thermosetting resin layer.

【0058】また、請求項3乃至6の発明は、熱硬化性
樹脂層に金属メッキを施す前に、熱硬化性樹脂層を室温
下で乾燥し、あるいは熱硬化性樹脂層の樹脂のガラス転
移温度よりも低い温度で加熱して熱硬化性樹脂層を乾燥
し、あるいは熱硬化性樹脂層を減圧乾燥し、あるいは遠
心脱水して熱硬化性樹脂層を乾燥することを特徴とする
ものであり、熱硬化性樹脂層の表面を粗面化処理する際
に水分が熱硬化性樹脂層に吸収されてもこれらの乾燥に
よって熱硬化性樹脂層の水分を除去することができ、熱
硬化性樹脂層に吸収されている水分による金属層の膨れ
不良等を防止して耐熱性を高めることができるものであ
る。
Further, according to the invention of claims 3 to 6, the thermosetting resin layer is dried at room temperature before the thermosetting resin layer is plated with metal, or the glass transition of the resin of the thermosetting resin layer is performed. It is characterized by heating at a temperature lower than the temperature to dry the thermosetting resin layer, or drying the thermosetting resin layer under reduced pressure, or centrifugal dehydration to dry the thermosetting resin layer. When the surface of the thermosetting resin layer is roughened, the water of the thermosetting resin layer can be removed by drying these even if the water is absorbed by the thermosetting resin layer. The heat resistance can be improved by preventing swelling of the metal layer due to moisture absorbed in the layer and the like.

【0059】また請求項7の発明は、金属メッキを無電
解メッキ及び無電解メッキに続く電解メッキで行なうに
あたって、無電解メッキを行なった後に熱硬化性樹脂層
を乾燥することを特徴とするものであり、無電解メッキ
をする際に水分が熱硬化性樹脂層に吸収されても乾燥に
よって熱硬化性樹脂層の水分を除去することができ、熱
硬化性樹脂層に吸収されている水分による金属層の膨れ
不良等を防止して耐熱性を高めることができるものであ
る。
The invention according to claim 7 is characterized in that, when the metal plating is carried out by electroless plating and electrolytic plating subsequent to electroless plating, the thermosetting resin layer is dried after the electroless plating is carried out. That is, even when moisture is absorbed by the thermosetting resin layer during electroless plating, the moisture of the thermosetting resin layer can be removed by drying, and the moisture absorbed by the thermosetting resin layer The heat resistance can be improved by preventing swelling of the metal layer and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a)乃至(e)はぞれぞれ概略正面図である。
FIG. 1 shows an example of an embodiment of the present invention,
(A) thru | or (e) are each a schematic front view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 配線パターン 2 内層用回路板 3 粗面 4 熱硬化性樹脂層 5 金属層 6 導体回路 1 Wiring Pattern 2 Inner Layer Circuit Board 3 Rough Surface 4 Thermosetting Resin Layer 5 Metal Layer 6 Conductor Circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉岡 愼悟 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 杉山 肇 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 高木 光司 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 池谷 晋一 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 藤原 弘明 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 井原 清暁 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 小川 悟 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Shingo Yoshioka 1048 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor Hajime Sugiyama 1048, Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Works Co. 72) Inventor Koji Takagi 1048 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor Shinichi Iketani 1048 Kadoma, Kadoma City Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor Hiroaki Fujiwara Osaka 1048 Kadoma, Kadoma City, Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor, Kiyoaki Ihara, 1048 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Osaka, Ltd. (72), Satoru Ogawa, 1048 Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Denko stock company

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 配線パターンを形成済みの内層用回路基
板の表面に、表面が粗面に形成された熱硬化性樹脂層を
設け、この熱硬化性樹脂層の表面に金属メッキを施して
導体回路形成用の金属層を設ける工程を有して多層プリ
ント配線板を製造するにあたって、熱硬化性樹脂層を半
硬化状態の樹脂で形成すると共にこの熱硬化性樹脂層の
表面に金属メッキを行なった後に、熱硬化性樹脂層の樹
脂の硬化度を高めることを特徴とする多層プリント配線
板の製造方法。
1. A thermosetting resin layer having a rough surface is provided on the surface of an inner layer circuit board on which a wiring pattern has been formed, and a metal plating is applied to the surface of the thermosetting resin layer to form a conductor. When manufacturing a multilayer printed wiring board having a step of providing a metal layer for forming a circuit, a thermosetting resin layer is formed of a semi-cured resin, and the surface of the thermosetting resin layer is plated with metal. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising increasing the degree of curing of the resin of the thermosetting resin layer after curing.
【請求項2】 半硬化状態の熱硬化性樹脂層の樹脂のガ
ラス転移温度が、硬化度を高めた後に到達する最高ガラ
ス転移温度よりも20℃以上低い温度であることを特徴
とする請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方
法。
2. The glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer in the semi-cured state is 20 ° C. or more lower than the maximum glass transition temperature reached after increasing the curing degree. 1. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to 1.
【請求項3】 熱硬化性樹脂層に金属メッキを施す前
に、熱硬化性樹脂層を室温下で乾燥することを特徴とす
る請求項1又は2に記載の多層プリント配線板の製造方
法。
3. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the thermosetting resin layer is dried at room temperature before metal plating is applied to the thermosetting resin layer.
【請求項4】 熱硬化性樹脂層に金属メッキを施す前
に、熱硬化性樹脂層の樹脂のガラス転移温度よりも低い
温度で加熱して熱硬化性樹脂層を乾燥することを特徴と
する請求項1又は2に記載の多層プリント配線板の製造
方法。
4. The thermosetting resin layer is dried by heating at a temperature lower than the glass transition temperature of the resin of the thermosetting resin layer before metal plating the thermosetting resin layer. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1.
【請求項5】 熱硬化性樹脂層に金属メッキを施す前
に、熱硬化性樹脂層を減圧乾燥することを特徴とする請
求項1又は2に記載の多層プリント配線板の製造方法。
5. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the thermosetting resin layer is dried under reduced pressure before metal plating is applied to the thermosetting resin layer.
【請求項6】 熱硬化性樹脂層に金属メッキを施す前
に、遠心脱水して熱硬化性樹脂層を乾燥することを特徴
とする請求項1又は2に記載の多層プリント配線板の製
造方法。
6. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the thermosetting resin layer is dried by centrifugation before the metal plating is applied to the thermosetting resin layer to dry the thermosetting resin layer. .
【請求項7】 金属メッキを無電解メッキ及び無電解メ
ッキに続く電解メッキで行なうにあたって、無電解メッ
キを行なった後に熱硬化性樹脂層を乾燥することを特徴
とする請求項1乃至6のいずれかに記載の多層プリント
配線板の製造方法。
7. The thermosetting resin layer is dried after performing electroless plating when performing metal plating by electroless plating and electrolytic plating subsequent to electroless plating. A method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1.
JP7069996A 1996-03-26 1996-03-26 Multilayerd printed wiring board manufacturing method Withdrawn JPH09260842A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7069996A JPH09260842A (en) 1996-03-26 1996-03-26 Multilayerd printed wiring board manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7069996A JPH09260842A (en) 1996-03-26 1996-03-26 Multilayerd printed wiring board manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09260842A true JPH09260842A (en) 1997-10-03

Family

ID=13439132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7069996A Withdrawn JPH09260842A (en) 1996-03-26 1996-03-26 Multilayerd printed wiring board manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09260842A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7059049B2 (en) 1999-07-02 2006-06-13 International Business Machines Corporation Electronic package with optimized lamination process
JP2007317749A (en) * 2006-05-23 2007-12-06 Matsushita Electric Works Ltd Printed wiring board material and method of manufacturing the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7059049B2 (en) 1999-07-02 2006-06-13 International Business Machines Corporation Electronic package with optimized lamination process
JP2007317749A (en) * 2006-05-23 2007-12-06 Matsushita Electric Works Ltd Printed wiring board material and method of manufacturing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW507510B (en) Method of manufacturing multi layered printed circuit board using adhesive film
JP3344017B2 (en) Method for joining metal and organic matter and method for manufacturing wiring board
JP2004055618A (en) Process for producing multilayer printed wiring board
JPH09260842A (en) Multilayerd printed wiring board manufacturing method
JP2001024323A (en) Method for filling conductive paste and manufacture of single sided circuit board for multilayer printed wiring board
JP2000340948A (en) Method of improving adhesion between copper and resin, and multilayered wiring board manufactured using the same
JP2000151047A (en) Double-sided flexible wiring board and manufacture thereof
JP2000286546A (en) Production of printed wiring board
JP2010028036A (en) Production method of multilayer printed wiring board
JP3698863B2 (en) Bonding material for single-sided metal-clad laminate production
JPS6113400B2 (en)
JP2004349693A (en) Resin adhesive layer on surface of copper
JP2004031583A (en) Method of manufacturing printed wiring board
JP2008251970A (en) Process for producing multilayer printed wiring board
JP2000049440A (en) Manufacture of printed wiring multilayer board
JPH0359596B2 (en)
JPH07273466A (en) Manufacturing method of multilayer-wiring board
JP2004241427A (en) Method of manufacturing wiring board
WO2003032701A1 (en) Method for manufacturing multilayer wiring board, and multilayer wiring board manufactured by the same
JP2966678B2 (en) Method for producing composite of metal copper and resin
JPH08148836A (en) Multilayered flexrigid wiring board
JP3237315B2 (en) Prepreg and method for producing multilayer laminate using this prepreg
JP2004237447A (en) Adhesive film, and method for manufacturing multilayered printed wiring board using the film
JP2000345119A (en) Adhesive film and production of multilayered printed circuit board by using the same
JPH09283923A (en) Manufacture of multilayer printed-wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030603